TWI285769B - Regeneration method of liquid crystal display device - Google Patents
Regeneration method of liquid crystal display device Download PDFInfo
- Publication number
- TWI285769B TWI285769B TW092100647A TW92100647A TWI285769B TW I285769 B TWI285769 B TW I285769B TW 092100647 A TW092100647 A TW 092100647A TW 92100647 A TW92100647 A TW 92100647A TW I285769 B TWI285769 B TW I285769B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- film
- acid
- glass substrate
- aqueous solution
- group
- Prior art date
Links
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 title abstract description 38
- 238000011069 regeneration method Methods 0.000 title abstract 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 239
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims abstract description 212
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 55
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 19
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 19
- 239000000565 sealant Substances 0.000 claims abstract description 15
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims abstract description 12
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims abstract description 12
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 claims abstract description 12
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 claims abstract description 10
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims abstract description 7
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims abstract description 7
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims abstract description 7
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical compound CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 54
- MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N Oxalic acid Chemical compound OC(=O)C(O)=O MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 54
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 claims description 51
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 39
- BDAGIHXWWSANSR-UHFFFAOYSA-N methanoic acid Natural products OC=O BDAGIHXWWSANSR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 36
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical compound OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 28
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 22
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 20
- OSWFIVFLDKOXQC-UHFFFAOYSA-N 4-(3-methoxyphenyl)aniline Chemical compound COC1=CC=CC(C=2C=CC(N)=CC=2)=C1 OSWFIVFLDKOXQC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 18
- 235000019253 formic acid Nutrition 0.000 claims description 18
- 235000006408 oxalic acid Nutrition 0.000 claims description 18
- 235000011054 acetic acid Nutrition 0.000 claims description 17
- KEQGZUUPPQEDPF-UHFFFAOYSA-N 1,3-dichloro-5,5-dimethylimidazolidine-2,4-dione Chemical compound CC1(C)N(Cl)C(=O)N(Cl)C1=O KEQGZUUPPQEDPF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- XTHPWXDJESJLNJ-UHFFFAOYSA-N chlorosulfonic acid Substances OS(Cl)(=O)=O XTHPWXDJESJLNJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 claims description 15
- 150000007524 organic acids Chemical class 0.000 claims description 15
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 claims description 15
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- 229910000147 aluminium phosphate Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 150000007522 mineralic acids Chemical class 0.000 claims description 14
- 239000000243 solution Substances 0.000 claims description 14
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 claims description 12
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 claims description 10
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M Potassium hydroxide Chemical compound [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 9
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 9
- -1 cyclic ester Chemical class 0.000 claims description 9
- XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N hydrogen iodide Chemical compound I XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N Ruthenium Chemical compound [Ru] KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- HKVFISRIUUGTIB-UHFFFAOYSA-O azanium;cerium;nitrate Chemical compound [NH4+].[Ce].[O-][N+]([O-])=O HKVFISRIUUGTIB-UHFFFAOYSA-O 0.000 claims description 8
- 229920005862 polyol Polymers 0.000 claims description 8
- 150000003077 polyols Chemical class 0.000 claims description 8
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 claims description 8
- WGTYBPLFGIVFAS-UHFFFAOYSA-M tetramethylammonium hydroxide Chemical compound [OH-].C[N+](C)(C)C WGTYBPLFGIVFAS-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 8
- BMYNFMYTOJXKLE-UHFFFAOYSA-N 3-azaniumyl-2-hydroxypropanoate Chemical compound NCC(O)C(O)=O BMYNFMYTOJXKLE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 239000002253 acid Substances 0.000 claims description 7
- 229940071870 hydroiodic acid Drugs 0.000 claims description 7
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 7
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 claims description 7
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims description 6
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 claims description 5
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 claims description 5
- XNWFRZJHXBZDAG-UHFFFAOYSA-N 2-METHOXYETHANOL Chemical compound COCCO XNWFRZJHXBZDAG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- XMPZTFVPEKAKFH-UHFFFAOYSA-P ceric ammonium nitrate Chemical compound [NH4+].[NH4+].[Ce+4].[O-][N+]([O-])=O.[O-][N+]([O-])=O.[O-][N+]([O-])=O.[O-][N+]([O-])=O.[O-][N+]([O-])=O.[O-][N+]([O-])=O XMPZTFVPEKAKFH-UHFFFAOYSA-P 0.000 claims description 4
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N ether Substances CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052792 caesium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N caesium atom Chemical compound [Cs] TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052500 inorganic mineral Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000011707 mineral Substances 0.000 claims description 3
- 235000005985 organic acids Nutrition 0.000 claims description 3
- 150000005846 sugar alcohols Polymers 0.000 claims description 3
- 239000012528 membrane Substances 0.000 claims description 2
- OAKJQQAXSVQMHS-UHFFFAOYSA-N Hydrazine Chemical group NN OAKJQQAXSVQMHS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 claims 1
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 claims 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 2
- 238000004088 simulation Methods 0.000 abstract description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 315
- 238000011282 treatment Methods 0.000 description 14
- 230000003628 erosive effect Effects 0.000 description 9
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 9
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 9
- SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N N-Methylpyrrolidone Chemical compound CN1CCCC1=O SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052770 Uranium Inorganic materials 0.000 description 6
- JFALSRSLKYAFGM-UHFFFAOYSA-N uranium(0) Chemical compound [U] JFALSRSLKYAFGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 239000012046 mixed solvent Substances 0.000 description 4
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 4
- LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N Ethylene glycol Chemical compound OCCO LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 3
- YEJRWHAVMIAJKC-UHFFFAOYSA-N gamma-butyrolactone Natural products O=C1CCCO1 YEJRWHAVMIAJKC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 3
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 3
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 3
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 3
- PAWQVTBBRAZDMG-UHFFFAOYSA-N 2-(3-bromo-2-fluorophenyl)acetic acid Chemical compound OC(=O)CC1=CC=CC(Br)=C1F PAWQVTBBRAZDMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000001931 aliphatic group Chemical group 0.000 description 2
- 125000000484 butyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 2
- 229930188620 butyrolactone Natural products 0.000 description 2
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000001721 carbon Chemical group 0.000 description 2
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 2
- VLTRZXGMWDSKGL-UHFFFAOYSA-N perchloric acid Chemical compound OCl(=O)(=O)=O VLTRZXGMWDSKGL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000005010 perfluoroalkyl group Chemical group 0.000 description 2
- 230000001172 regenerating effect Effects 0.000 description 2
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- ZNQVEEAIQZEUHB-UHFFFAOYSA-N 2-ethoxyethanol Chemical compound CCOCCO ZNQVEEAIQZEUHB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021578 Iron(III) chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910004205 SiNX Inorganic materials 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920006243 acrylic copolymer Polymers 0.000 description 1
- 239000012670 alkaline solution Substances 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-N carbonic acid Chemical compound OC(O)=O BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004040 coloring Methods 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 210000003298 dental enamel Anatomy 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 125000002917 halogen containing inorganic group Chemical group 0.000 description 1
- 229910000043 hydrogen iodide Inorganic materials 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RBTARNINKXHZNM-UHFFFAOYSA-K iron trichloride Chemical compound Cl[Fe](Cl)Cl RBTARNINKXHZNM-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 239000005001 laminate film Substances 0.000 description 1
- 150000002736 metal compounds Chemical class 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 235000011007 phosphoric acid Nutrition 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 238000002791 soaking Methods 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
- C03B29/00—Reheating glass products for softening or fusing their surfaces; Fire-polishing; Fusing of margins
- C03B29/04—Reheating glass products for softening or fusing their surfaces; Fire-polishing; Fusing of margins in a continuous way
- C03B29/06—Reheating glass products for softening or fusing their surfaces; Fire-polishing; Fusing of margins in a continuous way with horizontal displacement of the products
- C03B29/08—Glass sheets
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02W—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO WASTEWATER TREATMENT OR WASTE MANAGEMENT
- Y02W30/00—Technologies for solid waste management
- Y02W30/50—Reuse, recycling or recovery technologies
- Y02W30/60—Glass recycling
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Optical Filters (AREA)
Description
1285769 (1) 玖、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關液晶顯示裝置之玻璃基板的再現方法, 其特徵爲··從其表面上依序形成有選自黑格陣膜、濾色膜 、表塗膜、ITO膜、聚醯亞胺膜、金屬膜、合金膜、氧化 膜、氮化膜及密封劑膜之至少一以上的玻璃基板,選擇性 去除一或多數之膜。 【先前技術】 液晶顯示裝置具配置有透明電極、偏光板等之二以上 玻璃板,該玻璃板間夾置液晶物質。於是,賦予該透明電 極電荷,即可因該液晶物質之轉向,穿透光之偏光方向亦 變動,利用偏光板,控制光之穿透/非穿透。於細分化之 區域作上述控制,即可作文字、影像之顯示。液晶顯示裝 置更具有,用以作電荷控制之薄膜電晶體(TFT),用以使 文字、影像著色之彩色濾光片等。 第1 2圖係呈示液晶顯示裝置之一例的構造之剖視圖。 該例中,位於光之射入側的玻璃基板1 1,及位於光之 射出側的玻璃基板1係相向配置。 於玻璃基板1之一面係形成有格子狀或帶狀之黑格陣 膜(下稱BM膜)2,該BM膜2之格子上或帶上形成具紅(R)、 綠(G)、藍(B)各色之濾色膜(下稱CF膜)3。並且,CF膜3之 上形成有透明樹脂所成之表塗膜(下稱0C膜)4。而BM膜2 通常係由金屬及/或金屬氧化物或合成樹脂所成’ CF膜3係 -6- (2) (2)1285769 由例如丙烯酸共聚物系彩色樹脂所成。而該0C膜4表面上 依序形成有,透明電極ITO膜(銦錫氧化物)5,及用以排列 液晶分子群於一定方向之定向膜聚醯亞胺膜(下稱PI膜)6 。玻璃基板1之另一側形成有偏光膜7。如該玻璃基板1, 依序形成一或多數BM膜2 、CF膜3 、0C膜4 、:[TO膜5 及PI膜6之玻璃基板,在以下之本說明書中稱作彩色濾光 片側玻璃基板。 於玻璃基板1 1之一面,隔特定間隔形成有TFT元件12 。TFT元件12之表面上依序形成有ITO膜15及PI膜16。該 TFT元件12多採用反交錯a-Si TFT,而反交錯^8丨TFT有 通道保護型及通道邊緣型二類。 玻璃基板1 1之另一面形成有偏光膜1 7。 如該玻璃基板11,依序形成一或多數TFT元件12, IT 0膜1 5及PI膜16之玻璃基板,在以下之本說明書中稱作 TFT元件側玻璃基板。 PI膜6與16之間封入有液晶8,爲調整、維持該PI膜6 與16之間隔,於PI膜6與16之間配置有間隔物9。 液晶顯示裝置中,通常在從該玻璃基板11之液晶8側 之反側以持光照射之狀態下,ITO膜5及15之間對應於影像 施加電壓變化液晶8之排列,藉光的穿透/非穿透之控制’ 即可顯示影像。 上述之彩色濾光片側玻璃基板及TFT側玻璃基板,惟 有符合特定品質標準者方才採用於液晶顯示裝置。該品質 標準高,無法符合品質標準即無法用於液晶顯示裝置,經 (3) 1285769 廢棄處置者所在多有。因而,由該廢棄處置物全部去除形 成在玻璃基板上之各膜,或僅去除不符品質標準之部份, 將玻璃基板再現,將該再現物再度利用於彩色濾光片側玻 璃基板及TFT側玻璃基板等之製造。 又,對T F T側玻璃基板,爲製造裝置之維修等停止製 造後,再開始連續製造之前,首先使用成膜條件設定用玻 璃基板(下稱模擬基板)作製造,確認製造裝置之各設定條 件。該模擬基板係使用,於玻璃基板全面形成金屬膜及合 金膜(Ta、Mo、W、Ti、Cr、A1等,及其合金)、氧化膜 (SiOx、Ta205、Al2〇3、ITO)、氮化膜(SiNx)等所成之單層 膜或層合膜,PI膜等,或以密封劑沿圖型塗布者。通常, 該模擬基板不成爲產品,多係用於同目的一或多次後廢棄 。因而,須由該廢棄之模擬基板全部或部份去除所形成之 各種膜等,再現玻璃基板。 發明所欲解決之課題 向來,由玻璃基板去除各種膜等,係使用剝離液。例 如,由Cr製之BM膜、CF膜及ITO膜3者之彩色濾光片側玻 璃基板’全部或部份去除此等膜時,係將該彩色濾光片側 玻璃基板浸浸於表1所示之剝離液槽。 (4) (4)1285769 表1 膜之種類 剝 離 液 硝 酸 姉 銨 與 硝 酸 之 混 合 液 Ci*製BM膜 硝 酸 鈽 銨 與 過 氯 酸 之 混 合水 溶液 含 全 氟 燒 基 酸 之 王 水 CF膜 驗 性 水 溶 液 含 全 氟 烷 基 酸 之 可 性 鈉 水溶 液 鹽 酸 與 硝 酸 之 混 合 液 氯 化 鐵 與 鹽 酸 之 混 合 液 ITO膜 稀 鹽 酸 含 鋅 粉 之 鹽 酸 碘 化 氫 與 磷 酸 之 混 合 液 但以該方法去除種種膜時,有例如下述之問題。 (1) 僅只ITO膜之品質不符時,無法不損傷CF膜而僅 去除ITO膜。 (2) 同時去除CF膜及ITO膜時,無法壓低BM膜及玻璃 基板之侵蝕量,例如使一次之處理中,玻璃基板之侵刻量 在5奈米(50埃)以下。 於是,上述三膜以外,對形成有〇C膜及PI膜之彩色濾 光片側玻璃基板,亦去除品質不符標準之部份的膜或全部 膜,以謀玻璃基板之再現,可不損傷應予保留之膜,玻璃 基板,再現玻璃基板之剝離液尙未得見。 又,於TFT側玻璃基板及模擬基板,一般亦浸入剝離 -9- (5) (5)1285769 液槽以去除TFT元件,特定膜或密封劑,但使用習知剝離 液時,如同彩色濾光片側玻璃基板,有傷及欲予保留之膜 ,侵蝕玻璃基板等之問題。 【發明內容】 本發明係鑑於以上實情,其目的在提供,使用特定之 剝離液,可僅選擇性去除不符品質標準之一或多數膜,不 傷及應予保留之膜,無侵蝕玻璃基板等問題的液晶顯示用 彩色濾光片側玻璃基板,TFT側玻璃基板及模擬基板等之 玻璃基板的再現方法。 更具體而言,本發明之目的在提供以下(1)至(7)之玻 璃基板的再現方法。 (1) 玻璃基板正面有PI膜,其下有ITO膜形成時,用 含中性有機溶劑,或中性有機溶劑及多元醇及/或水之溶 液,可不損傷ITO膜底下之膜,僅去除PI膜之彩色濾光片 側玻璃基板及TFT側玻璃基板的再現方法。 (2) 玻璃基板正面有ITO膜,其下有0C膜及/或CF膜 形成時,用含鹵素系無機酸或有機酸,或此等及多元醇之 水溶液,可不傷及0C膜底下之膜,僅去除IT 0膜的彩色濾 光片側玻璃基板之再現方法。 (3) 玻璃基板正面有0C膜,其下有CF膜及BM膜形成 時,用含無機酸之水溶液,有機或無機鹼性水溶液,可不 傷及BM膜及玻璃基板,去除0C膜及CF膜之彩色濾光片側 玻璃基板的再現方法。 -10- (6) (6)1285769 (4) 於玻璃基板形成有金屬及/或金屬化合物製之BM 膜時,使用無機酸、有機酸或含硝酸鈽銨之水溶液,可不 侵蝕玻璃基板,去除BM膜之彩色濾光片側玻璃基板的再 現方法。 (5) 形成有ITO膜,TFT元件時,使用無機酸、有機 酸或含硝酸鈽銨之水溶液,可完全去除形成之膜的TFT側 玻璃基板之再現方法。 (6) 其特徵爲:玻璃基板上形成有PI膜、ITO膜、金 屬膜、合金膜、氧化膜及氮化膜之一或多數時,利用中性 有機溶劑,或含中性有機溶劑及多元醇及/或水之溶液浸 泡玻璃基板去除PI膜,利用鹵素系無機酸或有機酸,或含 此等及多元醇之水溶液浸泡玻璃基板去除ITO膜,以無機 酸、有機酸或含硝酸鈽銨之水溶液浸泡基板,去除PI膜及 ITO膜以外之膜,可不侵蝕玻璃基板去除所有膜的模擬基 板之再現方法。 (7) 於玻璃基板形成有密封劑膜時,用含無機酸或有 機酸之水溶液,可不侵蝕玻璃基板,僅去除密封劑的模擬 基板之再現方法。 用以解決課題之手段 第一發明係在提供其特徵爲:從依序形成有BM膜、 CF膜、〇C膜' ITO膜及PI膜之一或多數的玻璃基板之形成 膜側的外層側,用特定剝離液選擇性去除該膜之一或多數 的玻璃基板之再現方法。在此,BM膜係用以作彩色濾光 -11 - (7) (7)1285769 片間各色之遮光,通常係形成格子狀或帶狀,但不限於此 。CF膜係由R、B、G各色之濾色膜所成,係形成於玻璃基 板上以顯示特定色,爲落實各色濾色膜間之遮光,以如第 12圖所示,搭於BM膜而形成爲佳。0C膜係爲被覆該CF膜 之表面而設,ITO膜係爲用作透明電極,PI膜係爲使液晶 定向而設之定向膜。第一發明之玻璃基板,可係通常之液 晶顯示裝置用彩色濾光片側玻璃基板。第一發明之玻璃基 板可僅形成有選自BM膜、CF膜、0C膜、ITO膜及PI膜之 一,亦可依序形成有多數膜。或亦可依序形成所有之BM 膜、CF膜、0C膜、ITO膜及PI膜。 從第一發明中如此形成之膜的外層側膜,選擇性去除 一或多數膜。結果可僅去除不符品質標準之一或多數膜, 在保留合乎品質標準之膜的狀態下可再現玻璃基板,故可 有效再利用於液晶顯示裝置用玻璃基板之製造等。 第二發明係其特徵爲:將外層側爲PI膜之形成有PI膜 及ITO膜之玻璃基板,浸泡於含選自碳原子數4至10之環酯 及碳原子數3至1 0之羥基經取代之脂族醚的至少其一之有 機溶劑,或含該有機溶劑及多元醇及/或水之溶劑,選擇 性去除該PI膜的該玻璃基板之再現方法。藉該第二發明之 再現方法,可對ITO膜不產生造成電阻値變化之損傷及污 染,而僅選擇性去除PI膜。該第二發明適用之玻璃基板有 ,液晶顯示裝置用彩色濾光片側玻璃基板及TFT側玻璃基 板,若外層側係PI膜時,具有PI膜、ITO膜以外之膜或元 件者亦可。 -12- (8) (8)1285769 碳原子數4至10之環狀酯及碳原子數3至10之羥基經取 代之脂族醚係中性有機溶劑,其例如r - 丁內酯、甲基溶 纖劑等。浸泡玻璃基板之溶劑係以r - 丁內酯、甲基溶纖 劑及此等之混合溶劑爲佳,尤以含τ -丁內酯50重量%以 上之溶劑爲佳。 第三發明係其特徵爲:將外層側爲ITO膜之形成有ITO 膜及〇C膜及/或CF膜之玻璃基板,浸泡於(1)含一以上選自 氫溴酸、氫碘酸及氯磺酸之鹵素系無機酸之水溶液,(2) 含一以上選自草酸、乙酸及甲酸之有機酸之水溶液,或 (3)含該鹵素系無機酸或有機酸及多元醇之水溶液,選擇 性去除該ITO膜之玻璃基板的再生方法。 藉該第三發明之再現方法,可於CF膜無造成穿透率及 色度變化等之損傷,僅選擇性去除ITO膜。該第三發明適 用之玻璃基板有液晶顯示裝置用彩色濾光片側玻璃基板, 若係外層側爲1丁〇膜者,則具CF膜、ITO膜、OC膜以外之 膜亦可。 第四發明係其特徵爲:將外層側係OC膜,形成有OC 膜、CF膜以及含金屬及/或金屬氧化物之BM膜之玻璃基板 浸泡於(1)含選自鹽酸、硝酸、硫酸及磷酸之一以上的無 機酸水溶液,或(2)含選自N-甲基-2-吡咯烷酮、氫氧化四 甲銨、氫氧化鉀、氫氧化鈉及肼之一以上的鹼性水溶液’ 去除該BM膜以外之例如OC膜、CF膜之玻璃基板的再現方 法。 藉第四發明之再現方法,可不損傷該BM膜及玻璃基 -13- (9) (9)1285769 板,去除0C膜、CF膜等其它膜。該第四發明適用之玻璃 基板有液晶顯示裝置用彩色濾光片側玻璃基板。 第五發明係其特徵爲:將僅形成有含金屬及/或金屬 氧化物的BM膜之玻璃基板浸泡於(1)含選自鹽酸、硝酸、 硫酸、磷酸、氯磺酸、草酸、乙酸及甲酸之至少其一的水 溶液,或(2)含硝酸鈽銨液之水溶液,去除該BM膜之玻璃 基板的再現方法。 藉第五發明之再現方法,可不侵蝕玻璃基板,僅去除 BM膜。該第五發明適用之玻璃基板有液晶顯示裝置用彩 色濾光片側玻璃基板。 第六發明係在提供,其特徵爲:從依序形成有TFT元 件、IT〇膜及PI膜之一或多數之玻璃基板,形成膜及元件 之側的外層側,用特定剝離液,選擇性去除該膜或元件之 一或多數的玻璃基板之再現方法。在此,TFT元件可係通 常用於液晶顯示裝置等之薄膜電晶體,ITO膜及PI膜係各 同於上述第一發明中之ITO膜及PI膜。 第六發明之玻璃基板,係通常用作液晶顯示裝置用之 TFT側玻璃基板者。 第六發明中係由如此形成之膜的外層側,選擇性去除 其一或多數。結果,可僅去除品質不符標準之一或多數膜 ’在保留品質合乎標準之膜或元件的狀態下,再現玻璃基 板’故可有效再利用於液晶顯示裝置用玻璃基板之製造等 〇 第七發明係其特徵爲:將外層側係IT〇膜,形成有IT〇 -14 - (10) (10)1285769 膜及TFT元件之玻璃基板,或外層側爲ITO膜,形成有1丁〇 膜,TFT元件以及選自金屬膜、合金膜、氧化膜及氮化膜 之一以上的玻璃基板,浸泡於(1)含選自鹽酸、氫溴酸、 氫碘酸、硝酸、硫酸、磷酸、氯磺酸、草酸、乙酸及甲酸 之至少其一的水溶液,或(2)含硝酸鈽銨之水溶液之玻璃 基板的再現方法。 藉該第七發明之再現方法,可不侵蝕玻璃基板,去除 所有上述之膜。該第七發明適用之玻璃基板有,液晶顯示 裝置用TFT側玻璃基板。 第八發明係在提供,其特徵爲:從依序形成有PI膜、 ITO膜、金屬膜、合金膜、氧化膜、氮化膜及密封劑膜之 一或多數的玻璃基板之形成膜之側的外層側,用特定剝離 液,選擇性去除該膜之一或多數的玻璃基板之再現方法。 在此,ΙΤΟ膜及ΡΙ膜各係同於上述第一發明之ΙΤΟ膜及ΡΙ膜 〇 第八發明之玻璃基板係通常用作液晶顯示裝置之製造 用的模擬基板者。 第八發明中,從如此形成之膜的外層側,選擇性去除 其一或多數。結果,可僅選擇性去除品質不符標準之一或 多數之膜,在保留品質合乎標準之膜的狀態下再現模擬基 板,故可有效再利用作模擬基板。 第九發明係形成有ΡΙ膜、ΙΤΟ膜、金屬膜、合金膜、 氧化膜及氮化膜之一或多數的玻璃基板之再現方法,其特 徵爲:包括(1)浸泡該玻璃基板於含選自碳原子數4至10之 -15- (11) (11)1285769 環酯及碳原子數3至10之羥基經取代之脂族醚之至少其一 之有機溶劑,或含該有機溶劑及多元醇及/或水之溶劑, 以去除PI膜之過程,(2)浸泡該玻璃基板於含選自鹽酸、氫 溴酸、氫碘酸及氯磺酸之一以上的鹵素系無機酸之水溶液 ,含選自草酸、乙酸及甲酸之一以上的有機酸之水溶液, 或含該鹵素系無機酸或該有機酸,及多元醇之水溶液,去 除ITO膜之過程,以及(3)浸泡該玻璃基板於含選自鹽酸、 硝酸、磷酸、氯磺酸、草酸、乙酸及甲酸之至少其一的水 溶液,或含硝酸鈽銨之水溶液,去除PI膜及ITO膜以外之 膜的過程之至少一過程。 第九發明之玻璃基板通常係用作液晶顯示裝置製造用 之模擬基板者。 第九發明中,可不侵蝕玻璃基板,去除所有不符品質 標準之膜。 第十發明係其特徵爲:將僅形成有密封劑之玻璃基板 ,浸泡於含選自鹽酸、硝酸、硫酸、磷酸、氯磺酸、草酸 、乙酸及甲酸之至少其一的水溶液,去除該密封劑之該玻 璃基板的再生方法。 第十發明之玻璃基板係通常用作液晶顯示裝置之製造 用的模擬基板者。 第十發明中,可不侵蝕玻璃基板,僅去除密封劑。 【實施方式】 發明之實施形態 -16- (12) (12)1285769 以下藉實施例及圖面具體說明本發明。但實施例並非 用以限定本發明之範圍。 實施例1 第1圖及第2圖係例示液晶顯示裝置之彩色濾光片側玻 璃基板之剖視圖。第1圖係施行本實施例之再現處理前, 彩色濾光片側玻璃基板之剖視圖。而第1圖及第2圖係藉顯 微鏡相片確認之示意圖。此於第3至6圖,及第9至11圖亦 馨 同。 如第1圖,處理前之玻璃基板1,依序形成有BM膜2, CF膜3,〇C膜4, ITO膜5及厚2微米之PI膜6。 將該玻璃基板1,以60 °C、2小時浸泡於注有r -丁 內酯100%)所成之剝離液槽後提起、水洗。然後投入單片 或淸洗機作純水淸洗,及氣刀乾燥。 第2圖係作以上處理後的彩色濾光片側玻璃基板之剖 視圖。第1圖不有PI膜6 ’而% 2圖不無PI膜6 ’僅選擇性去 除PI膜6。並且確認,於ITO膜5無造成電阻値之變化及污 染等之損傷發生。並確認玻璃基板1未受侵蝕。 實施例2 第3圖及第4圖係例示液晶顯示裝置之彩色濾光片側玻 璃基板之剖視圖。第3圖係施行本實施例之再現處理前彩 色濾光片側玻璃基板之剖視圖。 如第3圖,處理前之玻璃基板I,依序形成有B Μ膜2 -17- (13) (13)1285769 、(:?膜3 、〇C膜4及厚度1000埃之ITO膜5。以40 °C,2 小時浸泡該玻璃基板1於注入氫碘酸、乙二醇及水的重量 比30 /3 0 /40之混合溶劑所成之剝離液槽後提起、水洗。 然後,投入單片式淸洗機作純水淸洗及氣刀乾燥。 第4圖係施行以上處理後之彩色濾光片側玻璃基板之 剖視圖及表面狀態之相片。第3圖示有IT〇膜5,第4圖示無 ITO膜5,僅選擇性去除ITO膜5。並確認,於CF膜3無造成 穿透率及色度變化等之損傷發生。並確認,玻璃基板1未 受侵鈾。 而本實施例之剝離液,亦可取代上述,改用含草酸、 乙酸及甲酸之一或多數及多元醇的水溶液。 實施例3 第5圖及第6圖係例示液晶顯示裝置之彩色濾光片側玻 璃基板之剖視圖。第5圖係施行本實施例之再現處理前的 彩色濾光片側玻璃基板之剖視圖。 如第5圖,處理前之玻璃基板1,依序形成有厚度2000 埃之Ch•製BM膜2,厚度1.5微米之CF膜3及厚度1微米之〇C 膜4 〇 以60 °C,2小時浸泡該玻璃基板1於注入N-甲基-2-吡咯烷酮(NMP)、氫氧化四甲銨(TMAH)及水之重量比30 /3 0 /40的混合溶劑所成之剝離液之儲槽後提起、水洗。然 後投入單片式淸洗機作純水淸洗及氣刀乾燥。 第6圖係施行以上處理後的彩色濾光片側玻璃基板之 -18- (14) (14)1285769 剖視圖。第5圖中可確認BM膜2 、0?膜3及0C膜4 ;第6圖 僅示BM膜2,CF膜3及0C膜4已去除。而玻璃基板1亦確認 未受侵蝕。 第7圖示,附有三種厚度之BM膜2,各重複多次實施 例3之再現處理(以實施例3之剝離液處理)時,BM膜2之厚 度與處理次數之關係。厚度乃從玻璃基板1的BM膜2於特 定位置之厚度以探針式表面粗度計測出之厚度。 第8圖示,多次重複實施例3之再現處理時,BM膜2之 〇D値(光學濃度)與處理次數之關係。0D値係以光穿透濃 度計測定之値。 由第7圖及第8圖知,即使處理次數增加,BM膜2之厚 度及0D値大略固定。由0D値之係固定,知BM膜2未受侵 蝕,由BM膜2自玻璃基板1之厚度係固定,知玻璃基板1未 受侵蝕。 而本實施例之剝離液,可取代上述,改用含選自鹽酸 、硝酸、碳酸、磷酸及氯磺酸之一或多數的水溶液,或含 選自氫氧化鉀、氫氧化鈉及肼之一或多數的水溶液。 又,當BM膜2非Cr製而係樹脂製時,藉上述本實施例 之處理,BM膜2連同CF膜3及0C膜4均可去除。此時,玻璃 基板1可再利用作母玻璃。 形成於玻璃基板1之Ci·製BM膜,可藉浸泡該玻璃基板 1於含選自鹽酸、硝酸、硫酸、磷酸、草酸、乙酸及甲酸 之一或多數之水溶液,或含硝酸鈽銨之水溶液予以去除。 如上示,施行實施例1至3之所有處理,可將第1圖所 -19- (15) 1285769 示之彩色濾光片側玻璃基板之所有膜完全去除。並且, BM膜2及玻璃基板1幾無侵蝕,該玻璃基板1可有效再利用 實施例4 第9圖係液晶顯示裝置的TFT側玻璃基板之一例,係施 行本實施例之再現處理前的剖視圖。 如第9圖,處理前之玻璃基板11依序形成有TFT元件12 ,厚1 000埃之ITO膜15及厚2微米之PI膜16。 如同實施例1選擇性去除PI膜16(此時ITO膜未見受損) ,如同實施例2選擇性去除ITO膜15後,浸泡於80 °C之硫 酸2小時,然後80 °C之磷酸2小時,以剝離TFT元件12 。藉該處理,TFT元件12,ITO膜15及PI膜16即完全由玻璃 基板11去除。並確認基板11未受到侵鈾。 亦即,由本實施例可知,從TFT側玻璃基板,TFT元 件12,ITO膜15及PI膜16均可去除,並且玻璃基板11幾乎 不受侵蝕,故該玻璃基板1 1可有效再利用。 實施例5 第1 0圖係模擬基板之一例,於玻璃基板2 1上形成有金 屬膜1 8。 浸泡該模擬基板於80 °C之硫酸2小時,然後80 °C 之磷酸2小時,可完全去除金膜1 8。並可確認玻璃基板2 1 未受侵蝕。 -20- (16) (16)1285769 而本實施例之剝離液可取代上述,改用含選自草酸、 乙酸及甲酸之一或多數的水溶液,或硝酸鈽銨。 實施例6 第1 1圖係模擬基板之一例,其於玻璃基板2 1上塗布有 經圖型化之密封劑1 9。 浸泡該模擬基板於80 °C之硫酸2小時,然後於80 °C之磷酸2小時,可完全去除密封劑1 9。並確認玻璃基板 2 1未受侵蝕。 而本實施例之剝離液可取代上述,改用含選自草酸、 乙酸及甲酸之一或多數的水溶液。 由上述第九發明之說明可知,於模擬基板形成有PI膜 、ITO膜、金屬膜、合金膜、氧化膜及氮化膜之一或多數 時,例如PI膜可藉浸泡上述玻璃基板於含r -丁內酯及/或 甲基溶纖劑之有機溶劑,或該有機溶劑與水之混合溶劑去 除,ITO膜可藉浸泡於含選自鹽酸、氫溴酸、氫碘酸及氯 磺酸之一以上鹵素系無機酸之水溶液,或含選自草酸、乙 酸及甲酸之一以上有機酸的水溶液去除,PI膜及ITO膜以 外之膜,可藉浸泡於含選自鹽酸、硝酸、硫酸、磷酸、氯 磺酸、草酸、乙酸及甲酸之至少其一的水溶液,或含硝酸 鈽銨之水溶液去除,所有膜均可從該玻璃基板去除。 亦即,如由以上實施例可知,由模擬基板,金屬膜1 8 、合金膜、氧化膜、氮化膜、ITO膜、聚醯亞胺膜及密封 劑1 9均可去除,且因可幾無玻璃基板2 1之侵鈾,可將該玻 ~ 21 - (17) (17)1285769 璃基板2 1有效再利用。 發明效果 如以上之說明,根據本發明,可將形成於液晶顯示裝 置用之彩色濾光片側玻璃基板,TFT側玻璃基板及模擬基 板之所有膜、元件去除。並且,可僅選擇性去除製程中品 質標準不符之膜及形成之膜,而保留品質合乎標準之膜, 可有效再現液晶顯示裝置用之彩色濾光片側玻璃基板、 TF丁側玻璃基板及模擬基板。 亦即,利用本發明之再現方法,可由製造中之不良彩 色濾光片側玻璃基板、TFT側玻璃基板及模擬基板,僅去 除品質不符標準之膜、元件,加以再利用。並且可由判定 作廢之上述玻璃基板去除所有膜,予以再利用。 更具體之例有,根據第一、第六及第八發明,可僅選 擇性去除不符品質標準之一或多數膜,可在保留品質合乎 標準之膜等的狀態下,有效再利用玻璃基板。 根據第二發明,可不於ITO膜產生造成電阻値變化之 損傷及污染,僅選擇性去除PI膜,亦無玻璃基板之侵蝕。 根據第三發明,可不對彩色濾光片側玻璃基板等之CF 膜有造成穿透率及色度變化之損傷,僅選擇性去除IT〇膜 ,亦幾無玻璃基板之侵蝕。 根據第四發明,玻璃基板幾無侵蝕,可去除品質不符 標準的ΒΜ膜以外之膜。 根據第五發明,玻璃基板幾無侵蝕,可僅去除ΒΜ膜 -22- (18) (18)1285769 根據第七發明,由TFT側玻璃基板,可對玻璃基板幾 無侵蝕,去除所有品質不符標準之膜。 根據第九發明,可幾無玻璃基板之侵鈾,由模擬基板 去除所有品質不符標準之膜。 根據弟十發明,可幾無玻璃基板之侵鈾,僅去除密封 劑。 【圖面之簡單說明】 第1圖本發明實施例1中,再現處理前的彩色濾光片 側玻璃基板之剖視圖。 第2圖本發明實施例1中,再現處理後的彩色濾光片 側玻璃基板之剖視圖。 第3圖本發明實施例2中,再現處理前的彩色濾光片 側玻璃基板之剖視圖。 第4圖本發明實施例2中,再現處理後的彩色濾光片 側玻璃基板之剖視圖。 第5圖本發明實施例3中,再現處理前彩色濾光片側 玻璃基板之剖視圖。 第6圖本發明實施例3中,再現處理後彩色濾光片側 玻璃基板之剖視圖。 第7圖 BM膜厚與處理次數之關係圖。 第8圖 BM膜0D値與處理次數之關係圖。 第9圖本發明實施例4中,再現處理前TFT側玻璃基 -23- (19) (19)1285769 板之剖視圖。 第1 0圖本發明實施例5中模擬基板之剖視圖。 第1 1圖本發明實施例6中模擬基板之剖視圖。 第1 2圖液晶顯示裝置之一例的構造剖視圖。 【符號說明】 1 、11 、21 玻璃基板 2 BM膜 3 CF膜 4 〇C膜 5 、15 IT〇膜 6 、 16 ΡΙ膜 7 偏光膜 8 液晶 9 間隔物 10 光 12 TFT元件 18 金屬膜 19 密封劑 -24-
Claims (1)
1285769 拾、申請專利範圍 第92 1 00647號專利申請案 中文申請專利範圍修正本 民國96年3月29日修正 1 . 一種玻璃基板的再現方法,其特徵爲:依序形成 有黑格陣膜、濾色膜、表塗膜、IT Ο膜及聚醯亞胺膜之一 或多數之玻璃基板,由其形成膜側之外層側,使用不傷及 應予保留之膜及玻璃基板之特定剝離液,選擇性去除該膜 之一或多數, 其中於玻璃基板至少形成有聚醯亞胺膜及ITO膜並使 聚醯亞胺膜在外層側,特定剝離液係含選自碳原子數4至 1 〇之環酯及碳原子數3至1 0之羥基經取代之脂族醚之至少 其一之有機溶劑,或含該有機溶劑及多元醇及/或水之溶 劑,浸泡該玻璃基板於該剝離液,選擇性去除該聚醯亞胺 膜。 2. 如申請專利範圍第1項之玻璃基板的再現方法,其 中碳原子數4至10之環酯及碳原子數3至10之羥基經取代之 脂族醚,係選自r -丁內酯及甲基溶纖劑之一以上。 3. 如申請專利範圍第1項之玻璃基板的再現方法,其 中於玻璃基板至少形成有IT0膜及表塗膜及/或濾色膜而使 ITO膜在外層側,特定剝離液係(1)含一以上選自鹽酸、氫 溴酸、氫碘酸及氯磺酸之鹵素系無機酸之水溶液,(2)含 一以上選自草酸、乙酸及甲酸之有機酸之水溶液,或(3) 含該鹵素系無機酸或該有機酸、及多元醇之水溶液,浸泡 1285769 該玻璃基板於該剝離液,選擇性去除該ITO膜。 4 .如申請專利範圍第1項之玻璃基板的再現方法,其 中於玻璃基板至少形成有表塗膜、濾色膜,以及,含金屬 及/或金屬氧化物之黑格陣膜,並使表塗膜在外層側,特 定剝離液係(1 )含選自鹽酸、硝酸、硫酸及磷酸之一以上 的無機酸之水溶液,或(2 )含選自Ν -甲基-2 -吡略烷酮、氫 氧化四甲銨、氫氧化鉀、氫氧化鈉及哄之一以上的鹼性水 溶液,浸泡該基板於該剝離液,去除該黑格陣膜以外之膜 〇 5 .如申請專利範圍第1項之玻璃基板的再現方法,其 中於玻璃基板僅形成含金屬及/或金屬氧化物之黑格陣膜 ,特定剝離液係(1)含選自鹽酸、硝酸、硫酸、磷酸、氯 磺酸、草酸、乙酸及甲酸之至少其一之水溶液,或(2)含 硝酸鈽銨之水溶液,浸泡該玻璃基板於該剝離液,去除該 黑格陣膜。 6. —種玻璃基板的再現方法,其特徵爲:由依序形 成有TFT元件、ΙΤΟ膜及聚醯亞胺膜之一或多數之玻璃基 板形成有膜及元件側之外層側,使用不傷及應予保留之膜 及玻璃基板之特定剝離液,選擇性去除該膜或元件之一或 多數, 其中於玻璃基板至少形成有ITO膜及TFT元件而ITO膜 在外層側,或形成有ITO膜、TFT元件以及選自金屬膜、 合金膜、氧化膜及氮化膜之一以上而ITO膜在外層側,特 定剝離液係(1 )含選自鹽酸、氫溴酸、氫碘酸、硝酸、硫 -2- 1285769 酸、磷酸、氯磺酸、草酸、乙酸及甲酸之至少其一之水溶 液,或(2)含硝酸鈽銨之水溶液,浸泡該玻璃基板於該剝 離液。 7 . —種玻璃基板的再現方法,其特徵爲:由依序形 成有聚醯亞胺膜、ITO膜、金屬膜、合金膜、氧化膜、氮 化膜及密封劑膜之一或多數之玻璃基板,形成有膜之側之 外層側,使用不傷及應予保留之膜及玻璃基板之特定剝離 液,選擇性去除該膜之一或多數, 其中包括(1)浸泡該玻璃基板於含選自碳原子數4至10 之環酯及碳原子數3至1 0之羥基經取代之脂族醚的至少其 一之有機溶劑,或含該有機溶劑及多元醇及/或水之溶劑 ,去除聚醯亞胺膜之過程,(2)浸泡該玻璃基板於含一種 以上選自鹽酸、氫溴酸、氫碘酸及氯磺酸等鹵素系無機酸 之水溶液,含一以上選自草酸、乙酸及甲酸等有機酸之水 溶液,或含該鹵素系無機酸或該有機酸,及多元醇之水溶 液,去除ITO膜之過程,以及(3)浸泡該玻璃基板於含選自 鹽酸、硝酸、硫酸、磷酸、氯磺酸、草酸、乙酸及甲酸之 至少其一之水溶液,或含硝酸鈽銨液之水溶液,去除聚醯 亞胺膜及ITO膜以外之膜的過程中至少其一過程。 8 .如申請專利範圍第7項之玻璃基板的再現方法,其 中碳原子數4至10之環酯及碳原子數3至10之羥基經取代之 脂族醚,係選自T -丁內酯及甲基溶纖劑之一以上。 9.如申請專利範圍第7項之玻璃基板的再現方法,其 中於玻璃基板僅形成有密封劑,特定剝離液係含選自鹽酸 -3- 1285769 、硝酸、硫酸、磷酸、氯磺酸、草酸、乙酸及甲酸之至少 其一之水溶液,浸泡該玻璃基板於該剝離液,去除該密封 劑。 -4 -
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002007817 | 2002-01-16 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TW200304568A TW200304568A (en) | 2003-10-01 |
| TWI285769B true TWI285769B (en) | 2007-08-21 |
Family
ID=27646233
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW092100647A TWI285769B (en) | 2002-01-16 | 2003-01-10 | Regeneration method of liquid crystal display device |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR20030062248A (zh) |
| CN (1) | CN1332249C (zh) |
| SG (1) | SG132496A1 (zh) |
| TW (1) | TWI285769B (zh) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4682575B2 (ja) * | 2004-09-30 | 2011-05-11 | ソニー株式会社 | 液晶表示装置 |
| CN110015852A (zh) * | 2019-04-08 | 2019-07-16 | 信义玻璃工程(东莞)有限公司 | 镀膜玻璃的回收再利用方法 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05341118A (ja) * | 1992-04-07 | 1993-12-24 | Toshiba Corp | カラ−フィルタの製造方法及び製造装置 |
| JPH06110069A (ja) * | 1992-09-29 | 1994-04-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電子部品の欠陥修復方法および欠陥修復装置 |
| JP3254798B2 (ja) * | 1993-04-02 | 2002-02-12 | 東レ株式会社 | カラーフィルタ遮光膜の再生方法 |
| JP2538500B2 (ja) * | 1993-05-17 | 1996-09-25 | 西山ステンレスケミカル株式会社 | 液晶パネル用ガラス板の再生方法 |
| JP3353075B2 (ja) * | 1994-01-18 | 2002-12-03 | 西山ステンレスケミカル株式会社 | ガラス板の再生方法及びその装置 |
| JP2001124916A (ja) * | 1999-10-27 | 2001-05-11 | Toray Ind Inc | カラーフィルター用ガラス基板の再生方法 |
| JP2001124913A (ja) * | 1999-10-27 | 2001-05-11 | Toray Ind Inc | カラーフィルター用ガラス基板の再生方法 |
-
2003
- 2003-01-03 SG SG200300027-0A patent/SG132496A1/en unknown
- 2003-01-09 KR KR10-2003-0001299A patent/KR20030062248A/ko not_active Ceased
- 2003-01-10 TW TW092100647A patent/TWI285769B/zh not_active IP Right Cessation
- 2003-01-14 CN CNB031016804A patent/CN1332249C/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN1432849A (zh) | 2003-07-30 |
| HK1057615A1 (zh) | 2004-04-08 |
| CN1332249C (zh) | 2007-08-15 |
| KR20030062248A (ko) | 2003-07-23 |
| TW200304568A (en) | 2003-10-01 |
| SG132496A1 (en) | 2007-06-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP2720079B1 (en) | Liquid crystal display device and manufacturing method thereof | |
| US20160342082A1 (en) | Ultraviolet mask and method of manufacturing the same | |
| CN104570486A (zh) | 一种配向膜的制作方法 | |
| CN201072477Y (zh) | 用于制作显示器的面板结构 | |
| TW296536B (zh) | ||
| TWI285769B (en) | Regeneration method of liquid crystal display device | |
| TW201107907A (en) | Composition for stripping color filter and regeneration method of color filter using the same | |
| JP2009086296A (ja) | 液晶表示パネルの製造方法 | |
| JP4056383B2 (ja) | ガラス基板の再生方法 | |
| JP2538500B2 (ja) | 液晶パネル用ガラス板の再生方法 | |
| HK1057615B (zh) | 液晶显示装置的再生方法 | |
| JPH11218763A (ja) | 液晶表示素子の製造方法 | |
| JPH07152038A (ja) | 液晶パネル用スペーサーの形成方法 | |
| JPH10268285A (ja) | 液晶表示装置 | |
| JP4500734B2 (ja) | 基板の再生方法 | |
| JP2003107481A (ja) | 液晶表示パネルの製造方法 | |
| US20090141218A1 (en) | Methods and apparatus for curing pixel matrix filter materials | |
| JP3464473B2 (ja) | 表示装置 | |
| CN101303426A (zh) | 除去彩色滤光片保护层的方法 | |
| JP2004125950A (ja) | カラーフィルター用ガラス基板の再生方法 | |
| JPS60244932A (ja) | カラ−液晶表示装置 | |
| JPH08327990A (ja) | 液晶表示素子用電極基板およびその製造方法 | |
| CN101191940A (zh) | 玻璃基板重复使用的方法 | |
| JP4821061B2 (ja) | 光学用フィルムシート及びこれを用いた表示装置の製造方法 | |
| TW546265B (en) | Recycle manufacturing in glass substrate of color filter |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |