TW202129816A

TW202129816A - 處理晶圓之設備及處理生產晶圓之方法

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Publication number: TW202129816A
Application number: TW109127035A
Authority: TW
Inventors: 西奧多羅斯ＧＭ烏斯特雷肯
Original assignee: 荷蘭商ＡｓｍＩｐ私人控股有限公司
Priority date: 2019-08-14
Filing date: 2020-08-10
Publication date: 2021-08-01
Also published as: CN112397428A; JP2021034728A; KR20210021266A; US20210050231A1; US12512350B2

Abstract

本揭露係關於一種處理晶圓之設備，此設備具有一製程室、一卡匣搬運機室以及一晶圓搬運機室。製程室處理固持在一晶舟中的晶圓。卡匣搬運機室搬運晶圓卡匣。晶圓搬運機室具備一晶圓搬運機，以從晶圓卡匣將晶圓傳遞至晶舟。晶圓搬運機係構成及佈置以在一晶圓儲存、晶舟、及晶圓卡匣之間傳遞晶圓。

Description

處理晶圓之設備及處理生產晶圓之方法

本揭露係關於用以處理晶圓之設備。此設備包括：一製程室，其用以處理填以晶圓之晶舟；一卡匣搬運機，其用以搬運晶圓卡匣；及一晶圓搬運機室，其具備晶圓搬運機以從晶圓卡匣傳遞晶圓，以用於在製程室中處理。本發明亦關於用以處理晶圓之方法。

用以處理晶圓之設備可包括卡匣搬運機室，以搬運晶圓卡匣。卡匣搬運機室可容納用於儲存晶圓的卡匣。卡匣可係用於具有300 毫米直徑的晶圓之標準化前開式晶圓傳送盒(Front Opening Unified Pod，FOUP)晶圓儲存卡匣，或者用於具有200 毫米直徑的晶圓之其他類型的標準化卡匣，其等可具有25個狹槽以用於容納25個晶圓。

卡匣搬運機室可具備晶圓卡匣搬運機，其可在輸入/輸出站、晶圓傳遞站、及/或卡匣儲存之間傳遞卡匣。此設備亦可包括晶圓搬運機，經由晶圓搬運機，晶圓可從放置在晶圓傳遞站處的卡匣取出，並可放置在晶舟中以用於在設備的製程室內進行處理。

在晶圓於批式熔爐的處理室內進行處理期間，對製程而言可係有利的是在經填充的晶舟中具有閒置空間。填料晶圓可用以填充生產晶圓之間的閒置空間。當放置在晶舟中之晶圓堆疊的頂部及/或底部上時，填料晶圓可用作側填料(side fillers)，以針對放置在側填料之間的生產晶圓改善反應性質。大致上，填料晶圓可再使用，並可留在設備中直到需要清潔。

亦可使用可用以測試製程室中之製程的測試晶圓。測試晶圓可位於晶舟中的生產晶圓或填料晶圓之間，並可在其等可儲存或用於測試之前，穿行通過製程室一次。

當在設備中使用填料及/或測試晶圓時，儲存在卡匣搬運機室的卡匣中之填料及/或測試晶圓減少用於生產晶圓的儲存容量。對需要大量填料及/或測試晶圓的製程而言，此可導致卡匣儲存的問題。針對此問題的明顯解決方案係增加卡匣搬運機室中之卡匣收納位點的數目。然而，此一解決方案需要設備中的額外空間，額外空間可能是不可得的及/或可能是昂貴的。

在各裝載期間從卡匣搬運機室中的卡匣將填料及/或測試晶圓傳遞至晶圓搬運機室亦可以是耗時的。用於填料及/或測試晶圓之晶圓卡匣可能需要專門傳遞至開門器，並由開門器開啟，然而或許可能只有少數來自卡匣之填料及/或測試晶圓係必要的，其卻可耗費許多時間。在傳遞及門開啟期間，開門器無法用於生產晶圓，降低了設備的產出量。

可以是想要的是提供一種改善的方法及設備，其用以供應填料及/或測試晶圓。

因此，可提供一種設備，其用以處理晶圓。此設備可包括一製程室，其用以處理填以晶圓的一晶舟；一卡匣搬運機室，其用以搬運晶圓卡匣；及一晶圓搬運機室，其具備一晶圓搬運機以從晶圓卡匣將晶圓傳遞至晶舟，以用於在製程室中進行處理。晶圓搬運機室可具備一晶圓儲存，且晶圓搬運機可構成及佈置以在晶圓儲存、晶舟、及/或晶圓卡匣之間傳遞晶圓。

藉由使晶圓儲存可由晶圓搬運機存取，填料及/或測試晶圓的供應可能得到改善。

因此，可提供一種用於處理晶圓之方法。此方法可包括：使用一晶圓搬運機從一晶圓卡匣將生產晶圓裝載至一晶舟；使用晶圓搬運機從一晶圓儲存將填料及/或測試晶圓裝載至晶舟；使晶舟移動至製程室中；在製程室中處理晶舟中之生產晶圓、填料晶圓、及/或測試晶圓；使晶舟移出製程室；及使用晶圓搬運機從晶舟將生產晶圓卸載至晶圓卡匣。

所屬技術領域中具有通常知識者將從下文參照附圖詳細描述的某些實施例輕易地明白這些及其他實施例，本發明並未受限於所揭示的任何特定實施例。

第1圖係本揭露之設備之一例示性實施的立體圖，其用以處理晶圓。設備1具備兩個製程室30、31，其等可從底部側而裝載有晶舟34，可將一些晶圓饋送至其等之中。晶舟34係佈置在晶舟旋轉料架32上，晶舟34可經由晶舟旋轉料架從卸載及/或裝載位置35(其可在第2圖中清楚見到)帶動至第一製程室30或第二製程室31下方的處理位置。在兩製程室30、31下方，提供升降機33，具有晶圓的晶舟可經由升降機升降，以便將此晶舟帶動至製程室30、31中。此外，相對於卸載及/或裝載位置35，冷卻位置36可以是可用的，在製程室30、31中進行處理之後，安座於旋轉料架32上之具有晶圓的晶舟34可在冷卻位置36冷卻。

製程室30、31、及具有晶舟升降機33之晶舟旋轉料架32係位在設備的後部室39中。壁38、43可在設備中創建晶圓搬運室44。此晶圓搬運機室44中可佈置晶圓搬運機13，晶圓可經由晶圓搬運機而放入晶舟34中。晶舟34可經由晶舟搬運設備12而帶動經過壁38中的門至裝載及/或卸載位置35，並可由此處移除，且放入晶圓裝載及/或卸載位置46中。

壁43的一部分含有一些門開口(door openings)，由所謂的開門器18、19定界限。在本例示性實施例中，開門器18、19可以兩種位準而使用。使用此一開門器18、19，可開啟及關閉晶圓卡匣(在所屬技術領域中亦稱為前開式晶圓傳送盒)的門。請參照WO 99/38199取得準確描述，其內容係以引用方式併入本文中。

卡匣搬運機室可位於開門器18、19之背離晶圓搬運機室44的側上。卡匣搬運機10及大量晶圓卡匣4可饋入其中之晶圓卡匣儲存系統2。同樣可用在卡匣搬運機室45中的是兩個轉台15、16，可藉由晶圓卡匣搬運機10將晶圓卡匣4放置在轉台之上。可藉由轉台15、16將晶圓卡匣4帶動至開門器18、19前面的晶圓傳遞站。晶圓卡匣4可按壓緊靠開門器18、19。開門器18、19可在晶圓傳遞站處開啟晶圓卡匣，且晶圓搬運機13可藉由晶舟34與晶圓卡匣之間的門開口傳遞晶圓。

晶圓卡匣搬運機10亦可定位，使得其可從輸入/輸出站21取得晶圓卡匣4，以便將此晶圓卡匣放置於儲存系統2中或者在轉台15或16上。輸入/輸出站21可用以在設備與在其中放置設備的半導體廠中的其他晶圓處理設備之間傳遞卡匣4。此外，操作面板20係可見的，操作員可經由操作面板20操作設備。

第3圖顯示第1圖及第2圖所示之第一例示性實施例的部分開放側視圖，在其中提供晶圓儲存晶圓40以用於儲存填料及/或測試晶圓。可在第2圖之晶圓搬運機室44中提供晶圓儲存40。

晶圓搬運機室44可具備壁38、43。晶圓儲存40可以是晶圓儲存盒，其在晶圓搬運機13的方向上於壁43中具備盒開口。例如，晶圓儲存盒可位於開門器18、19上方之壁43的部分中。開門器18、19可構成及佈置以開啟晶圓卡匣4的門。

晶圓搬運機13可構成及佈置以在晶圓儲存40、晶舟34、及/或晶圓卡匣4之間傳遞晶圓。晶圓搬運機13可具備可移動晶圓支撐，以用於支撐晶圓。晶圓搬運機13可具備水平驅動，以在水平平面中移動晶圓支撐。晶圓搬運機13可具備Z型驅動，以在實質上垂直於水平平面之垂直Z方向上，從最小可達高度至最大可達高度上下移動晶圓支撐。

最小可達高度與最大可達高度之間的距離實質上可等於晶舟34的長度。最小高度與最大高度之間的距離可以是至少開門器之門開口的高度加上晶圓儲存40的開口高度。

可在開門器18、19上方於晶圓搬運機室44中提供晶圓儲存40。在此一情況下，晶圓儲存40的頂部可等於或低於晶圓支撐的最大可達高度，使得晶圓搬運機13可用於晶圓儲存40中的所有儲存位置。

替代地，晶圓儲存40可提供在開門器18、19之下方。在此一情況下，晶圓儲存40之底部可等於或高於晶圓支撐的最小可達高度，使得晶圓搬運機13可用於晶圓儲存40中的所有儲存位置。

替代地，晶圓儲存40亦可提供在兩開門器18、19之間。在此一情況下，下部開門器之門開口的底部可等於或高於晶圓支撐的最小可達高度。頂部開門器之門開口的頂部可等於或低於晶圓支撐的最大可達高度。在此配置中，晶圓搬運機13可用於兩開門器18、19及晶圓儲存中的所有儲存位置。

晶圓儲存可包括2個至50個、較佳地3個至30個、且最佳地4個至25個晶圓固持器以固持晶圓。晶圓固持器可包括平坦表面以支撐晶圓。

晶圓儲存40之晶圓固持器可包括狹槽以支撐晶圓。晶圓儲存40的盒高度可小於、等於、或高於晶圓卡匣4的高度。晶圓儲存40中之狹槽的節距(pitch)可小於晶圓卡匣4中之狹槽的節距，使得晶圓儲存可儲存的晶圓多於晶圓卡匣。對用於儲存具有300 毫米直徑之晶圓的卡匣4而言，標準化晶圓卡匣4中之晶圓狹槽的節距可以是10 毫米。晶圓儲存40之晶圓狹槽的節距可以是例如介於3毫米至9毫米、較佳地4毫米至8毫米、最佳地5毫米至7 毫米之間。

用於標準化晶圓卡匣4中之晶圓狹槽的10 毫米節距係經選擇，以便確保標準化晶圓卡匣4內的晶圓(此晶圓係用於生產)可在半導體廠中，藉由任何晶圓搬運工具來搬運。對傳遞至晶圓儲存40的填料及測試晶圓而言，此要求可無須如此嚴格，因為其等可僅藉由一個專用的晶圓搬運機13來搬運，晶圓搬運機亦可將其等傳遞至標準卡匣4。晶圓儲存40之晶圓狹槽的較小節距可使得在晶圓儲存40內可相對於標準化晶圓卡匣4而具有更多晶圓狹槽，以儲存更多晶圓或在晶圓搬運室44中佔據較少空間。

以填料及/或測試晶圓填充晶圓儲存40可實行如下。可將具有填料及/或測試晶圓之晶圓卡匣4引入輸入/輸出站21上。具有填料及/或測試晶圓之晶圓卡匣4可在卡匣搬運機10的協助下從輸入/輸出站21傳遞至儲存系統2中及/或至轉台15、16。一旦轉台15、16旋轉，具有填料及/或測試晶圓之卡匣即可抵靠開門器18、19放置。在以開門器18、19移除晶圓卡匣4的門之後，可直接藉由晶圓搬運機13將填料及/或測試晶圓傳遞至晶圓儲存40。而且，一部分的填料及/或測試晶圓可直接裝載於晶舟34中，在反應室6、7中進行處理，並接著卸載至晶圓儲存40。藉由將大部分的填料及/或測試晶圓傳遞至晶圓儲存40，可藉由晶圓搬運機13卸載具有至多25個填料及/或測試晶圓之充滿的晶圓卡匣4。由於至多25個測試及或填料晶圓可完全填充晶圓卡匣4，以此方式可達成卡匣開口及傳遞能力的有效率使用。

大量生產晶圓的處理可實行如下。一些晶圓卡匣4可引入輸入/輸出站21上。晶圓卡匣4之各者可在卡匣搬運機10的協助下從輸入/輸出站21傳遞至儲存系統2中及/或轉台15、16。一旦轉台15、16旋轉，晶圓卡匣即可抵靠開門器18、19放置。在以開門器18、19移除晶圓卡匣4的門之後，可藉由晶圓搬運機13將生產晶圓傳遞至晶舟34。

在以晶圓填充晶舟34期間，晶圓搬運機可將填料及/或測試晶圓從晶圓儲存40傳遞至晶舟34。填料及/或測試晶圓可例如插入晶舟34的頂部及底部中。測試晶圓可均等地散佈在晶舟34上方。

在以生產晶圓以及填料及/或測試晶圓填充基材晶舟34之後，可使用晶舟搬運設備12將基材晶舟34放置在晶舟旋轉料架32上。晶舟旋轉料架32接著可將基材晶舟34移動至欲裝載之製程室6、7下方的位置。之後，升降機33可將晶舟34移動至製程室6、7中。

經處理之基材可執行與上述相反的移動。填料及/或測試晶圓可從生產晶圓(production wafers)選出，並藉由晶圓搬運機13來裝載在晶圓儲存40中。

填料晶圓可從晶圓儲存40再使用。填料晶圓可儲存在晶圓儲存40中以供後續清潔。當晶圓儲存40中存在合理數目之使用過的填料晶圓(例如10個至25個)時，可將其等傳遞至用於清潔的卡匣。由於25個填料晶圓可完全填充卡匣4，以此方式可達成卡匣開口及傳遞能力的有效率使用。

測試晶圓僅可使用一次。由於每次製程運行僅將有限數目的測試晶圓插入晶舟中，暫時將大量測試晶圓儲存在晶圓儲存中可節省空間及時間。當晶圓儲存40中存在合理數目之使用過的測試晶圓(例如10個至25個)時，可將其等傳遞至用於進一步處理的卡匣。由於25個測試晶圓可完全填充卡匣4，以此方式可達成卡匣開口及傳遞能力的有效率使用。

應瞭解，本文所述之配置及/或方法本質上係例示性，且這些特定實施例或實例不應視為限制意義，因為可有眾多變化。本文所述之特定例行程序或方法可表示任何數目的處理策略之一或多者。因此，所說明之各種動作可以所說明之序列施行、以其他序列施行、或在一些情況下省略。

本揭露之主題包括各種製程、系統、及配置、及本文所揭示之其他特徵、功能、動作、及/或性質的所有新穎且非顯而易見的組合及子組合、以及其任何及所有均等物。

1:設備 2:晶圓卡匣儲存系統 4:晶圓卡匣,卡匣 6:反應室,製程室 7:反應室,製程室 10:卡匣搬運機 12:晶舟搬運設備 13:晶圓搬運機 15:轉台 16:轉台 18:開門器 19:開門器 20:操作面板 21:站 30:製程室 31:製程室 32:晶舟旋轉料架 33:升降機 34:晶舟 35:位置 36:冷卻位置 38:壁 39:室 40:晶圓儲存 43:壁 44:晶圓搬運室 45:卡匣搬運機室 46:位置

應明白，圖式中的元件是為了簡化和清楚而示意說明，且不必然按比例繪出。例如，圖式中的一些元件之尺寸可相對於其他元件誇大，以幫助提升對本揭露所繪示之實施例的瞭解。

第1圖係本揭露之設備之一第一例示性實施的立體圖。

第2圖係第1圖所示之第一例示性實施例的上視圖。

第3圖係第1圖及第2圖所示之第一例示性實施例的部分開放側視圖，在其中提供晶圓儲存。

圖式並未按比例繪製，且具體地，為了清楚起見，尺寸及厚度方向係誇大。對應的區域在任何可行之處具有相同的參考數字。

1:設備

2:晶圓卡匣儲存系統

4:晶圓卡匣

10:卡匣搬運機

12:晶舟搬運設備

13:晶圓搬運機

15:轉台

16:轉台

18:開門器

19:開門器

20:操作面板

32:晶舟旋轉料架

33:升降機

34:晶舟

35:位置

36:冷卻位置

38:壁

39:室

43:壁

44:晶圓搬運室

45:卡匣搬運機室

46:位置

Claims

一種處理晶圓之設備，包括：一製程室，構成及佈置以處理填以複數個晶圓之一晶舟；一卡匣搬運機室，搬運具有該等晶圓之複數個晶圓卡匣；以及一晶圓搬運機室，具備一晶圓搬運機，以從該等晶圓卡匣將該等晶圓傳遞至該晶舟，其中該晶圓搬運機室具備一晶圓儲存，且該晶圓搬運機構成及佈置以在該晶圓儲存、該晶舟、及/或該等晶圓卡匣之間傳遞該等晶圓。
如請求項1之設備，其中該晶圓搬運機室具備一壁，且該晶圓儲存係固定在該壁中或固定至該壁。
如請求項2之設備，其中該晶圓儲存係作為一盒提供，該盒在該晶圓搬運機的方向上於該壁中具有一盒開口。
如請求項3之設備，其中該盒開口係提供在分開該卡匣搬運機室與該晶圓搬運機室之該壁的一部分中。
如請求項4之設備，其中開啟一晶圓卡匣之一晶圓卡匣開門器的一門開口係在分開該卡匣搬運機室與該晶圓搬運機室之該壁的該部分中提供，且該盒開口係定位在該卡匣門開口的上方或下方，且該晶圓搬運機係構成及佈置以藉由該門開口及該盒開口在該晶圓儲存、該晶舟、及/或一晶圓卡匣之間傳遞晶圓。
如請求項1之設備，其中該晶圓儲存包括2個至50個、較佳地3個至30個、且最佳地4個至20個晶圓固持器，以用於固持該等晶圓。
如請求項6之設備，其中該晶圓儲存包括複數個狹槽，以支撐該晶圓。
如請求項1項之設備，其中該卡匣搬運機室具備一晶圓卡匣搬運機，以在一輸入/輸出站、一晶圓傳遞、及/或一卡匣儲存之間傳遞卡匣。
如請求項1項之設備，其中該晶圓搬運機可具備：一可移動晶圓支撐，以支撐一晶圓；一水平驅動，以在一水平平面中移動該晶圓支撐；以及一Z型驅動，以在實質上垂直於該水平平面的一垂直Z方向上，從一最小可達高度至一最大可達高度上下移動該晶圓支撐。
如請求項9之設備，其中該最小可達高度與該最大可達高度之間的距離實質上等於該晶舟的長度。
如請求項9之設備，其中該晶圓儲存具有在其上方可儲存該等晶圓之一晶圓儲存高度，且該晶圓搬運機室具備一或多個門開口，該一或多個門開口具備一晶圓卡匣開門器，以開啟一晶圓卡匣，且該晶圓儲存係定位在該一或多個卡匣開門器的上方及/或下方，且該晶圓搬運機之該最小高度與該最大高度之間的距離可以是至少該一或多個卡匣開門器之該一或多個門開口的高度加上該晶圓儲存的高度。
如請求項1之設備，其中該填料晶圓及/或該測試晶圓儲存係固定至該晶圓搬運機室之該壁。
一種處理生產晶圓之方法，包括：使用一晶圓搬運機從一晶圓卡匣將複數個生產晶圓裝載至一晶舟；使用該晶圓搬運機從一晶圓儲存將複數個填料晶圓及/或複數個測試晶圓裝載至該晶舟；使該晶舟移動至該製程室中；在該製程室中處理該晶舟中之該等生產晶圓、該等填料晶圓及/或該等測試晶圓；使該晶舟移出該製程室；以及使用該晶圓搬運機從該晶舟將該等生產晶圓卸載至該晶圓卡匣。
如請求項13之方法，更包括在使用該晶圓搬運機從該晶圓儲存將該等填料晶圓及/或該等測試晶圓裝載至該晶舟之前，使用該晶圓搬運機從填以該等填料晶圓及/或該等測試晶圓的一晶圓卡匣將該等填料晶圓及/或該等測試晶圓裝載至該晶圓儲存。
如請求項13之方法，更包括將該等填料晶圓插入該晶舟的頂部及底部中。
如請求項13之方法，更包括使用該晶圓搬運機從該晶舟將該等填料晶圓及/或該等測試晶圓卸載至該晶圓儲存。