JPH1119773A - スタッド溶接の引き上げ期間短絡管理方法 - Google Patents
スタッド溶接の引き上げ期間短絡管理方法Info
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- JPH1119773A JPH1119773A JP19064397A JP19064397A JPH1119773A JP H1119773 A JPH1119773 A JP H1119773A JP 19064397 A JP19064397 A JP 19064397A JP 19064397 A JP19064397 A JP 19064397A JP H1119773 A JPH1119773 A JP H1119773A
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Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【課題】 引き上げ期間中の短絡を検出して溶込量を管
理するスタッド溶接の品質管理方法を提供する。 【解決手段】 基準にするスタッドを被溶接材から引き
上げてアーク発生した後、スタッドを被溶接材に押し込
んで、短絡電流通電中に検出した溶接電圧平均値V2aを
溶接電流平均値I2aで除算した基準抵抗値Ravを算出し
ておき、判定したいスタッドを被溶接材から引き上げて
アーク発生中の時刻tの溶接電圧値V1(t)と溶接電流値
I1(t)を検出し、基準抵抗値と各時刻tの溶接電流値と
の積の電圧降下Vrtを算出し、溶接電圧値V1(t)から算
出した時刻tの電圧降下Vrtを減算したときにおける時
刻tの算出アーク電圧値Va(t)が、予め定めた算出アー
ク電圧判別値Vadよりも小になる1回の短絡継続時間T
s(t)を積算した短絡合計時間Tstを算出して、それを予
め定めた短絡合計時間Tsrと比較し、表示、警報、品質
判定、入熱制御等に使用する。
理するスタッド溶接の品質管理方法を提供する。 【解決手段】 基準にするスタッドを被溶接材から引き
上げてアーク発生した後、スタッドを被溶接材に押し込
んで、短絡電流通電中に検出した溶接電圧平均値V2aを
溶接電流平均値I2aで除算した基準抵抗値Ravを算出し
ておき、判定したいスタッドを被溶接材から引き上げて
アーク発生中の時刻tの溶接電圧値V1(t)と溶接電流値
I1(t)を検出し、基準抵抗値と各時刻tの溶接電流値と
の積の電圧降下Vrtを算出し、溶接電圧値V1(t)から算
出した時刻tの電圧降下Vrtを減算したときにおける時
刻tの算出アーク電圧値Va(t)が、予め定めた算出アー
ク電圧判別値Vadよりも小になる1回の短絡継続時間T
s(t)を積算した短絡合計時間Tstを算出して、それを予
め定めた短絡合計時間Tsrと比較し、表示、警報、品質
判定、入熱制御等に使用する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、スタッド溶接の引
き上げ期間中の短絡を検出してスタッドの溶込量を管理
するスタッド溶接の品質管理方法に関するものである。
き上げ期間中の短絡を検出してスタッドの溶込量を管理
するスタッド溶接の品質管理方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】スタッド溶接において、スタッドを被溶
接材から引き上げ、次にスタッドを被溶接材に所定の押
し込み量だけ押し込んで、溶接品質を確保するために
は、予め定めた必要入熱(以下、所要の入熱という)Q
rを得ることが重要であり、もし溶接条件が適正でなく
所要の入熱Qrを得ることができない場合、例えば、溶
接電流値が適正値よりも低い場合、引き上げ距離が短い
場合又は溶接姿勢が不良の場合は、引き上げ期間中にス
タッドの溶融面が被溶接材の溶融プールに接触して短絡
が発生する。この短絡が発生すると、ア−ク電圧値Va
が十分に継続しないために入熱不足となって、押し込み
中に所要の押し込み量だけ押し込むことができなくなり
溶接不良となる。
接材から引き上げ、次にスタッドを被溶接材に所定の押
し込み量だけ押し込んで、溶接品質を確保するために
は、予め定めた必要入熱(以下、所要の入熱という)Q
rを得ることが重要であり、もし溶接条件が適正でなく
所要の入熱Qrを得ることができない場合、例えば、溶
接電流値が適正値よりも低い場合、引き上げ距離が短い
場合又は溶接姿勢が不良の場合は、引き上げ期間中にス
タッドの溶融面が被溶接材の溶融プールに接触して短絡
が発生する。この短絡が発生すると、ア−ク電圧値Va
が十分に継続しないために入熱不足となって、押し込み
中に所要の押し込み量だけ押し込むことができなくなり
溶接不良となる。
【0004】そこで、所要の入熱Qrが得られているか
どうかを確認するために、スタッド保持期間中、特に引
き上げ期間中の溶接電流値と溶接電圧値とを連続して監
視している。この場合、サイリスタ等で構成される略定
電流特性電源の場合、溶接電流は略一定値に制御された
電流を通電しているので、溶接電圧値だけを監視してい
る。
どうかを確認するために、スタッド保持期間中、特に引
き上げ期間中の溶接電流値と溶接電圧値とを連続して監
視している。この場合、サイリスタ等で構成される略定
電流特性電源の場合、溶接電流は略一定値に制御された
電流を通電しているので、溶接電圧値だけを監視してい
る。
【0005】図1は、溶接電圧、溶接電流及び主アーク
電流期間を監視する従来方法を実施するスタッド溶接装
置のブロック図である。同図は、三相電源30を入力と
してサイリスタ等で構成される略定電流特性の溶接電源
装置1と、溶接ガン2と、溶接電源装置1の出力端子の
「−」端子と溶接ガン2との間に接続された2次ケーブ
ル17と、スタッドを溶接する鉄骨構造物等の被溶接材
14と、溶接電源装置1の出力端子の「+」端子と被溶
接材14とを接続する接続線42、43等で形成される
スタッド溶接装置のブロック図である。
電流期間を監視する従来方法を実施するスタッド溶接装
置のブロック図である。同図は、三相電源30を入力と
してサイリスタ等で構成される略定電流特性の溶接電源
装置1と、溶接ガン2と、溶接電源装置1の出力端子の
「−」端子と溶接ガン2との間に接続された2次ケーブ
ル17と、スタッドを溶接する鉄骨構造物等の被溶接材
14と、溶接電源装置1の出力端子の「+」端子と被溶
接材14とを接続する接続線42、43等で形成される
スタッド溶接装置のブロック図である。
【0006】同図において、溶接電源装置1の出力端子
に接続された溶接電圧検出回路VCによって検出された
出力端子電圧Vdをフィルタ回路36によって平均値化
し、増幅回路37によって増幅して表示回路12によっ
て表示する。また同時に、増幅回路37の出力信号と基
準溶接電圧設定回路39によって予め設定された適正な
溶接電圧が得られたときの溶接電圧平均値Veとを比較
器40で比較してその差の絶対値が許容範囲の値△Ve
から外れる場合は、警報器41を作動させて警報を発す
る。
に接続された溶接電圧検出回路VCによって検出された
出力端子電圧Vdをフィルタ回路36によって平均値化
し、増幅回路37によって増幅して表示回路12によっ
て表示する。また同時に、増幅回路37の出力信号と基
準溶接電圧設定回路39によって予め設定された適正な
溶接電圧が得られたときの溶接電圧平均値Veとを比較
器40で比較してその差の絶対値が許容範囲の値△Ve
から外れる場合は、警報器41を作動させて警報を発す
る。
【0007】さらに、溶接電源装置1において、2次ケ
ーブル17を通ってスタッド18に出力される出力電流
Ioを溶接電流検出回路ICが検出して溶接電流検出信
号Icを出力する。この溶接電流検出信号Icをフィル
タ回路44によって平均値化し、増幅回路45によって
増幅して表示回路12によって表示する。上記の溶接電
源装置1において、引き上げ期間中の所要の入熱Qrを
監視するために、引き上げ期間中の溶接電源装置の出力
端子電圧値Vdと出力電流値Ioと主アーク電流期間T
aを表示回路12に表示している。
ーブル17を通ってスタッド18に出力される出力電流
Ioを溶接電流検出回路ICが検出して溶接電流検出信
号Icを出力する。この溶接電流検出信号Icをフィル
タ回路44によって平均値化し、増幅回路45によって
増幅して表示回路12によって表示する。上記の溶接電
源装置1において、引き上げ期間中の所要の入熱Qrを
監視するために、引き上げ期間中の溶接電源装置の出力
端子電圧値Vdと出力電流値Ioと主アーク電流期間T
aを表示回路12に表示している。
【0008】上記の引き上げ期間中の溶接電流値と溶接
電圧値とを監視する方法は、引き上げ期間中の溶接電源
装置の出力端子電圧値Vdと出力電流値Ioと主アーク
電流期間Taとの積の溶接電源装置の出力電力量Pd=
Vd・Io・Taを監視している。 この出力端子電圧
Vdは、所要の入熱Qrに直接関係するアーク電圧Va
の他に、所要の入熱Qrに関係のない電圧降下が含まれ
ている。なお、この電圧降下は、図1に示す溶接電源装
置1の出力端子からスタッド18の先端までの2次ケー
ブル及び被溶接材までの往復電流通電経路の電圧降下で
ある。
電圧値とを監視する方法は、引き上げ期間中の溶接電源
装置の出力端子電圧値Vdと出力電流値Ioと主アーク
電流期間Taとの積の溶接電源装置の出力電力量Pd=
Vd・Io・Taを監視している。 この出力端子電圧
Vdは、所要の入熱Qrに直接関係するアーク電圧Va
の他に、所要の入熱Qrに関係のない電圧降下が含まれ
ている。なお、この電圧降下は、図1に示す溶接電源装
置1の出力端子からスタッド18の先端までの2次ケー
ブル及び被溶接材までの往復電流通電経路の電圧降下で
ある。
【0009】それに対して、引き上げ期間中の所要の入
熱Qrは、アーク電圧値Vaと出力電流値Ioと主アー
ク電流期間Taとの積であるので、上記の引き上げ期間
中の溶接電流値と溶接電圧値とを監視する方法は、引き
上げ期間中の所要の入熱Qrを監視したことにはなって
いない。
熱Qrは、アーク電圧値Vaと出力電流値Ioと主アー
ク電流期間Taとの積であるので、上記の引き上げ期間
中の溶接電流値と溶接電圧値とを監視する方法は、引き
上げ期間中の所要の入熱Qrを監視したことにはなって
いない。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】現場作業では、通常、
溶接電源装置が重量物であるために移動が困難であるの
で、溶接電源装置を頻繁に移動させないで、ある位置に
設置してその出力端子の「+」端子を溶接電源装置付近
の被溶接材に接続し、「−」端子を溶接可能な範囲内で
2次ケーブルに接続して2次ケーブルを溶接箇所まで延
長する。したがって、2次ケーブル、被溶接材等の抵抗
値が溶接場所によって変化するために、2次ケーブル、
被溶接材等の抵抗による電圧降下Vrも変化する。
溶接電源装置が重量物であるために移動が困難であるの
で、溶接電源装置を頻繁に移動させないで、ある位置に
設置してその出力端子の「+」端子を溶接電源装置付近
の被溶接材に接続し、「−」端子を溶接可能な範囲内で
2次ケーブルに接続して2次ケーブルを溶接箇所まで延
長する。したがって、2次ケーブル、被溶接材等の抵抗
値が溶接場所によって変化するために、2次ケーブル、
被溶接材等の抵抗による電圧降下Vrも変化する。
【0012】溶接電源装置の出力端子間で出力電圧値を
検出する場合、2次ケーブル長が短いときは、検出した
出力端子電圧値Vdとアーク電圧値Vaとの誤差は少な
いが、2次ケーブルが長くなり、16φ、19φ、22
φ等の太径のスタッドを溶接するときは1000〜20
00A程度の大電流を通電するので、検出した出力端子
電圧値Vdとアーク電圧値Vaとの誤差が大になる。ま
た、溶接電源装置の出力電流容量では、2次ケーブル長
を溶接箇所まで最長往復200[m]延長して溶接する
ことが可能であるが、往復200[m]延長して溶接す
ると、2次ケーブル、被溶接材等の電圧降下Vrは数十
Vになり、この電圧降下Vrは、溶接電源装置から溶接
箇所までの距離に関係する2次ケーブルの長さ、2次ケ
ーブルの直径等の違いによって大きく変化する。
検出する場合、2次ケーブル長が短いときは、検出した
出力端子電圧値Vdとアーク電圧値Vaとの誤差は少な
いが、2次ケーブルが長くなり、16φ、19φ、22
φ等の太径のスタッドを溶接するときは1000〜20
00A程度の大電流を通電するので、検出した出力端子
電圧値Vdとアーク電圧値Vaとの誤差が大になる。ま
た、溶接電源装置の出力電流容量では、2次ケーブル長
を溶接箇所まで最長往復200[m]延長して溶接する
ことが可能であるが、往復200[m]延長して溶接す
ると、2次ケーブル、被溶接材等の電圧降下Vrは数十
Vになり、この電圧降下Vrは、溶接電源装置から溶接
箇所までの距離に関係する2次ケーブルの長さ、2次ケ
ーブルの直径等の違いによって大きく変化する。
【0014】上記の監視方法においては、引き上げ期間
中の(溶接電源装置の)出力電力量Pdは、Vd・Io
・Ta=(Va+Vr)・Io・Taであるので、2次
ケーブルの電圧降下Vr、出力電流Io及び主アーク電
流期間Taが変化するごとに適正値が変化する。さら
に、上記の電圧降下Vrは2次ケーブルの長さによって
変化するので、出力電流Io及び主アーク電流期間Ta
を同一の設定値にしておいても、引き上げ期間中の出力
電力量Pdの適正値が変化してしまう。
中の(溶接電源装置の)出力電力量Pdは、Vd・Io
・Ta=(Va+Vr)・Io・Taであるので、2次
ケーブルの電圧降下Vr、出力電流Io及び主アーク電
流期間Taが変化するごとに適正値が変化する。さら
に、上記の電圧降下Vrは2次ケーブルの長さによって
変化するので、出力電流Io及び主アーク電流期間Ta
を同一の設定値にしておいても、引き上げ期間中の出力
電力量Pdの適正値が変化してしまう。
【0016】したがって、溶接作業者は、2次ケーブル
の長さ、出力電流Io又は主アーク電流期間Taが変化
するごとに、引き上げ期間中の出力電力量Pdの適正値
を判断するための予め定めた必要電力量Prを把握しな
ければならなかったので、この必要電力量Prの適正値
を把握することが非常に困難であった。
の長さ、出力電流Io又は主アーク電流期間Taが変化
するごとに、引き上げ期間中の出力電力量Pdの適正値
を判断するための予め定めた必要電力量Prを把握しな
ければならなかったので、この必要電力量Prの適正値
を把握することが非常に困難であった。
【0018】図2(A)は、スタッド引き上げ期間中に
短絡が発生した場合の出力電流Ioの波形を示す溶接電
流波形図であり、同図(B)は、2次ケーブル及び被溶
接材の抵抗値による電圧降下Vrを有しているときのス
タッド引き上げ期間中に短絡が発生した場合の出力端子
電圧Vdの波形を示す図である。同図(B)に示すよう
に、パイロット電流通電開始時点t0において、パイロ
ット電流Ipの通電を開始するとともに、スタッド18
を被溶接材14から引き上げてパイロットアークを発生
させる。
短絡が発生した場合の出力電流Ioの波形を示す溶接電
流波形図であり、同図(B)は、2次ケーブル及び被溶
接材の抵抗値による電圧降下Vrを有しているときのス
タッド引き上げ期間中に短絡が発生した場合の出力端子
電圧Vdの波形を示す図である。同図(B)に示すよう
に、パイロット電流通電開始時点t0において、パイロ
ット電流Ipの通電を開始するとともに、スタッド18
を被溶接材14から引き上げてパイロットアークを発生
させる。
【0020】次に、主ア−ク電流通電開始時点t1にお
いて、パイロット電流Ipから主ア−ク電流Iaに切り
換える。主ア−ク電流期間Ta即ち引き上げ期間の溶接
電圧平均値V1bを算出する。主ア−ク電流期間Taの終
了時において、スタッド18を被溶接材14の溶融池に
押し込むと、短絡電流Isが流れる。
いて、パイロット電流Ipから主ア−ク電流Iaに切り
換える。主ア−ク電流期間Ta即ち引き上げ期間の溶接
電圧平均値V1bを算出する。主ア−ク電流期間Taの終
了時において、スタッド18を被溶接材14の溶融池に
押し込むと、短絡電流Isが流れる。
【0022】ここで、従来技術の引き上げ期間中に短絡
が発生したときに、引き上げ期間中の入熱Q1a=Va・
Io・Taの代用として、引き上げ期間中の溶接電源装
置の出力Vd・Ioを算出して溶接結果を管理する場合
において、出力端子電圧Vdが電圧降下Vrの影響を受
けて、出力端子電圧Vdの変化検出感度が異なる。
が発生したときに、引き上げ期間中の入熱Q1a=Va・
Io・Taの代用として、引き上げ期間中の溶接電源装
置の出力Vd・Ioを算出して溶接結果を管理する場合
において、出力端子電圧Vdが電圧降下Vrの影響を受
けて、出力端子電圧Vdの変化検出感度が異なる。
【0030】図3(A)は、図2の全溶接期間のうちの
主ア−ク電流期間Taだけを抽出した電圧降下Vrが小
さいときの出力端子電圧Vdの波形を示す図であり、同
図(B)は、図2の全溶接期間のうちの主ア−ク電流期
間Taだけを抽出した電圧降下Vr1が大きいときの出力
端子電圧Vdの波形を示す図である。電圧降下Vrが小
さいときの図3(A)の出力端子電圧Vdの変化検出感
度と電圧降下Vr1が大きいときの同図(B)の出力端子
電圧Vdの変化検出感度とを対比検討する。
主ア−ク電流期間Taだけを抽出した電圧降下Vrが小
さいときの出力端子電圧Vdの波形を示す図であり、同
図(B)は、図2の全溶接期間のうちの主ア−ク電流期
間Taだけを抽出した電圧降下Vr1が大きいときの出力
端子電圧Vdの波形を示す図である。電圧降下Vrが小
さいときの図3(A)の出力端子電圧Vdの変化検出感
度と電圧降下Vr1が大きいときの同図(B)の出力端子
電圧Vdの変化検出感度とを対比検討する。
【0032】図3(A)及び同図(B)において、短絡
が発生したときのアーク電圧値の変化ΔVaは、数11
のとおりである。 ΔVa=Va2・Ts2+Va3・Ts3 (数11) ただし、Ts2、Ts3は引き上げ期間中の短絡継続時間で
あり、Va2、Va3は短絡発生時の低下アーク電圧値であ
る。
が発生したときのアーク電圧値の変化ΔVaは、数11
のとおりである。 ΔVa=Va2・Ts2+Va3・Ts3 (数11) ただし、Ts2、Ts3は引き上げ期間中の短絡継続時間で
あり、Va2、Va3は短絡発生時の低下アーク電圧値であ
る。
【0034】図3(A)の溶接電圧の積算値ΣVaは、
数12のとおりである。 ΣVa=Vr・Ta+Va・Ta−ΔVa (数12) であり、出力端子電圧Vdの変化検出感度K1は、数1
3のとおりである。 K1=ΔVa/ΣVa=ΔVa/(Vr・Ta+Va・Ta−ΔVa) (数13) ただし、Vrはケーブルが短いときの2次ケーブルの電
圧降下であり、Taは主ア−ク電流期間である。
数12のとおりである。 ΣVa=Vr・Ta+Va・Ta−ΔVa (数12) であり、出力端子電圧Vdの変化検出感度K1は、数1
3のとおりである。 K1=ΔVa/ΣVa=ΔVa/(Vr・Ta+Va・Ta−ΔVa) (数13) ただし、Vrはケーブルが短いときの2次ケーブルの電
圧降下であり、Taは主ア−ク電流期間である。
【0036】図3(B)の溶接電圧の積算値ΣVa1は、
数14のとおりである。 ΣVa1=Vr1・Ta+Va・Ta−ΔVa (数14) であり、出力端子電圧Vdの変化検出感度K2は、数1
5のとおりである。 K2=ΔVa/ΣVa1=ΔVa/(Vr1・Ta+Va・Ta−ΔVa) (数15) ただし、Vr1はケーブルが長いときの2次ケーブルの電
圧降下である。
数14のとおりである。 ΣVa1=Vr1・Ta+Va・Ta−ΔVa (数14) であり、出力端子電圧Vdの変化検出感度K2は、数1
5のとおりである。 K2=ΔVa/ΣVa1=ΔVa/(Vr1・Ta+Va・Ta−ΔVa) (数15) ただし、Vr1はケーブルが長いときの2次ケーブルの電
圧降下である。
【0038】ここで、対比を容易にするために、Vr1=
2Vrとし、また2Vr=Vaと仮定すると、K1及び
K2は、それぞれ数13a及び数15aのとおりにな
る。 K1=ΔVa/(3Vr・Ta−ΔVa) (数13a) K2=ΔVa/(4Vr・Ta−ΔVa) (数15a)
2Vrとし、また2Vr=Vaと仮定すると、K1及び
K2は、それぞれ数13a及び数15aのとおりにな
る。 K1=ΔVa/(3Vr・Ta−ΔVa) (数13a) K2=ΔVa/(4Vr・Ta−ΔVa) (数15a)
【0040】以上のように、電圧降下Vr1が大きいとき
の同図(B)の出力端子電圧Vdの変化検出感度は、電
圧降下Vrが小さいときの図3(A)の出力端子電圧V
dの変化検出感度よりも低下している。このように、従
来技術の出力Vd・Ioを算出して溶接結果を管理する
方法は、2次ケーブルを延長して、電圧降下Vr1が大き
くなると、アーク電圧値Vaが変化しても、出力端子電
圧値Vdの変化が小さくなるので、溶接結果を精度よく
判定することができなかった。
の同図(B)の出力端子電圧Vdの変化検出感度は、電
圧降下Vrが小さいときの図3(A)の出力端子電圧V
dの変化検出感度よりも低下している。このように、従
来技術の出力Vd・Ioを算出して溶接結果を管理する
方法は、2次ケーブルを延長して、電圧降下Vr1が大き
くなると、アーク電圧値Vaが変化しても、出力端子電
圧値Vdの変化が小さくなるので、溶接結果を精度よく
判定することができなかった。
【0051】
【課題を解決するための手段】請求項1の方法は、スタ
ッド溶接の入熱管理方法において、判定したいスタッド
を被溶接材から引き上げてアーク発生期間中に繰り返し
て検出した各時刻tの溶接電圧値V1(t)が、電圧降下を
含んだ短絡判別電圧値Vfよりも低下する短絡回数N1
を計数して、予め定めた回数Nrと比較するスタッド溶
接の引き上げ期間中の短絡管理方法である。
ッド溶接の入熱管理方法において、判定したいスタッド
を被溶接材から引き上げてアーク発生期間中に繰り返し
て検出した各時刻tの溶接電圧値V1(t)が、電圧降下を
含んだ短絡判別電圧値Vfよりも低下する短絡回数N1
を計数して、予め定めた回数Nrと比較するスタッド溶
接の引き上げ期間中の短絡管理方法である。
【0052】請求項2の方法は、スタッド溶接の入熱管
理方法において、基準にするスタッドを被溶接材から引
き上げてアーク発生期間中に溶接電圧平均値V1aを検出
し、次に判定したいスタッドを被溶接材から引き上げて
アーク発生期間中に繰り返して検出した各時刻tの溶接
電圧値V1(t)が、この溶接電圧平均値V1aから予め定め
た端子電圧降下判別電圧値Vgを減算した算出短絡判別
電圧値(V1a−Vg)よりも低下する短絡回数N1を計
数して、予め定めた回数Nrと比較するスタッド溶接の
引き上げ期間中の短絡管理方法である。
理方法において、基準にするスタッドを被溶接材から引
き上げてアーク発生期間中に溶接電圧平均値V1aを検出
し、次に判定したいスタッドを被溶接材から引き上げて
アーク発生期間中に繰り返して検出した各時刻tの溶接
電圧値V1(t)が、この溶接電圧平均値V1aから予め定め
た端子電圧降下判別電圧値Vgを減算した算出短絡判別
電圧値(V1a−Vg)よりも低下する短絡回数N1を計
数して、予め定めた回数Nrと比較するスタッド溶接の
引き上げ期間中の短絡管理方法である。
【0053】請求項3の方法は、スタッド溶接の入熱管
理方法において、判定したいスタッドを被溶接材から引
き上げてアーク発生期間中に繰り返して検出した各時刻
tの溶接電圧値V1(t)が、電圧降下を含んだ短絡判別電
圧値Vfよりも低下する1回の短絡継続時間Ts(t)を積
算した短絡合計時間Tstを算出して、予め定めた短絡合
計時間Tsrと比較するスタッド溶接の引き上げ期間中の
短絡管理方法である。
理方法において、判定したいスタッドを被溶接材から引
き上げてアーク発生期間中に繰り返して検出した各時刻
tの溶接電圧値V1(t)が、電圧降下を含んだ短絡判別電
圧値Vfよりも低下する1回の短絡継続時間Ts(t)を積
算した短絡合計時間Tstを算出して、予め定めた短絡合
計時間Tsrと比較するスタッド溶接の引き上げ期間中の
短絡管理方法である。
【0054】請求項4の方法は、スタッド溶接の入熱管
理方法において、基準にするスタッドを被溶接材から引
き上げてアーク発生期間中に溶接電圧平均値V1aを検出
し、次に判定したいスタッドを被溶接材から引き上げて
アーク発生期間中に繰り返して検出した各時刻tの溶接
電圧値V1(t)が、この溶接電圧平均値V1aから予め定め
た端子電圧降下判別電圧値Vgを減算した算出短絡判別
電圧値(V1a−Vg)よりも低下する1回の短絡継続時
間Ts(t)を積算した短絡合計時間Tstを算出して、予め
定めた短絡合計時間Tsrと比較するスタッド溶接の引き
上げ期間中の短絡管理方法である。
理方法において、基準にするスタッドを被溶接材から引
き上げてアーク発生期間中に溶接電圧平均値V1aを検出
し、次に判定したいスタッドを被溶接材から引き上げて
アーク発生期間中に繰り返して検出した各時刻tの溶接
電圧値V1(t)が、この溶接電圧平均値V1aから予め定め
た端子電圧降下判別電圧値Vgを減算した算出短絡判別
電圧値(V1a−Vg)よりも低下する1回の短絡継続時
間Ts(t)を積算した短絡合計時間Tstを算出して、予め
定めた短絡合計時間Tsrと比較するスタッド溶接の引き
上げ期間中の短絡管理方法である。
【0055】請求項5の方法は、スタッド溶接の入熱管
理方法において、判定したいスタッドを被溶接材から引
き上げてアーク発生中の各時刻tの溶接電圧値V1(t)を
繰り返して検出し、この各時刻tの溶接電圧値V1(t)か
ら基準にする電圧降下Vrを減算したときにおける各時
刻tの引き上げ期間中の算出アーク電圧値Va(t)が、予
め定めた算出アーク電圧判別値Vadよりも小になる短絡
回数N1を計数して、予め定めた回数Nrと比較するス
タッド溶接の引き上げ期間中の短絡管理方法である。
理方法において、判定したいスタッドを被溶接材から引
き上げてアーク発生中の各時刻tの溶接電圧値V1(t)を
繰り返して検出し、この各時刻tの溶接電圧値V1(t)か
ら基準にする電圧降下Vrを減算したときにおける各時
刻tの引き上げ期間中の算出アーク電圧値Va(t)が、予
め定めた算出アーク電圧判別値Vadよりも小になる短絡
回数N1を計数して、予め定めた回数Nrと比較するス
タッド溶接の引き上げ期間中の短絡管理方法である。
【0056】請求項6の方法は、スタッド溶接の入熱管
理方法において、判定したいスタッドを被溶接材から引
き上げてアーク発生中の各時刻tの溶接電圧値V1(t)を
繰り返して検出し、この各時刻tの溶接電圧値V1(t)か
ら基準にする電圧降下Vrを減算したときにおける各時
刻tの引き上げ期間中の算出アーク電圧値Va(t)が、予
め定めた算出アーク電圧判別値Vadよりも小になる1回
の短絡継続時間Ts(t)を積算した短絡合計時間Tstを算
出して、予め定めた短絡合計時間Tsrと比較するスタッ
ド溶接の引き上げ期間中の短絡管理方法である。
理方法において、判定したいスタッドを被溶接材から引
き上げてアーク発生中の各時刻tの溶接電圧値V1(t)を
繰り返して検出し、この各時刻tの溶接電圧値V1(t)か
ら基準にする電圧降下Vrを減算したときにおける各時
刻tの引き上げ期間中の算出アーク電圧値Va(t)が、予
め定めた算出アーク電圧判別値Vadよりも小になる1回
の短絡継続時間Ts(t)を積算した短絡合計時間Tstを算
出して、予め定めた短絡合計時間Tsrと比較するスタッ
ド溶接の引き上げ期間中の短絡管理方法である。
【0057】請求項7の方法は、スタッド溶接の入熱管
理方法において、請求項5又は請求項6の方法の基準に
する電圧降下Vrが、基準にするスタッドを被溶接材か
ら引き上げてアーク発生期間中に溶接電流平均値I1aを
検出しておき、判定したいスタッドの各時刻tの引き上
げ期間中の溶接電圧値V1(t)から基準にする抵抗値Rav
とアーク発生期間中に検出した溶接電流平均値I1aとの
積を減算したときにおける各時刻tの電圧降下Vrであ
るスタッド溶接の引き上げ期間中の短絡管理方法であ
る。
理方法において、請求項5又は請求項6の方法の基準に
する電圧降下Vrが、基準にするスタッドを被溶接材か
ら引き上げてアーク発生期間中に溶接電流平均値I1aを
検出しておき、判定したいスタッドの各時刻tの引き上
げ期間中の溶接電圧値V1(t)から基準にする抵抗値Rav
とアーク発生期間中に検出した溶接電流平均値I1aとの
積を減算したときにおける各時刻tの電圧降下Vrであ
るスタッド溶接の引き上げ期間中の短絡管理方法であ
る。
【0058】請求項8の方法は、スタッド溶接の入熱管
理方法において、請求項5又は請求項6の方法の基準に
する電圧降下Vrが、判定したい各時刻tの引き上げ期
間中の溶接電圧値V1(t)から基準にする抵抗値Ravと各
時刻tの引き上げ期間中の溶接電流値I1(t)との積を減
算したときにおける各時刻tの電圧降下Vrtであるスタ
ッド溶接の引き上げ期間中の短絡管理方法である。
理方法において、請求項5又は請求項6の方法の基準に
する電圧降下Vrが、判定したい各時刻tの引き上げ期
間中の溶接電圧値V1(t)から基準にする抵抗値Ravと各
時刻tの引き上げ期間中の溶接電流値I1(t)との積を減
算したときにおける各時刻tの電圧降下Vrtであるスタ
ッド溶接の引き上げ期間中の短絡管理方法である。
【0059】請求項9の方法は、スタッド溶接の入熱管
理方法において、請求項7又は請求項8の方法の基準に
する抵抗値Ravが、基準にするスタッドを被溶接材から
引き上げてアークを発生し、次にスタッドを被溶接材に
押し込んで短絡させて短絡電流通電中に溶接電圧平均値
V2aと溶接電流平均値I2aとを検出した後で、短絡電流
通電中に検出した溶接電圧平均値V2aを溶接電流平均値
I2aで除算した抵抗値であるスタッド溶接の引き上げ期
間中の短絡管理方法である。
理方法において、請求項7又は請求項8の方法の基準に
する抵抗値Ravが、基準にするスタッドを被溶接材から
引き上げてアークを発生し、次にスタッドを被溶接材に
押し込んで短絡させて短絡電流通電中に溶接電圧平均値
V2aと溶接電流平均値I2aとを検出した後で、短絡電流
通電中に検出した溶接電圧平均値V2aを溶接電流平均値
I2aで除算した抵抗値であるスタッド溶接の引き上げ期
間中の短絡管理方法である。
【0060】
【発明の実施の形態】本発明のスタッド溶接の引き上げ
期間中の短絡管理方法は、基準にするスタッドを被溶接
材から引き上げてアークを発生させた後、スタッドを被
溶接材に押し込んで短絡させて短絡電流通電中に溶接電
圧平均値V2aと溶接電流平均値I2aとを検出するステッ
プと、短絡電流通電中に検出した溶接電圧平均値V2aを
溶接電流平均値I2aで除算した基準にする抵抗値Ravを
算出するステップと、判定したいスタッドを被溶接材か
ら引き上げてアーク発生中の各時刻tの溶接電圧値V1
(t)及び溶接電流値I1(t)を検出するステップと、基準
にする抵抗値Ravと各時刻tの引き上げ期間中の溶接電
流値I1(t)との積の各時刻tの電圧降下Vrtを算出する
ステップと、この各時刻tの溶接電圧値V1(t)から各時
刻tの電圧降下Vrtを減算したときにおける各時刻tの
引き上げ期間中の算出アーク電圧値Va(t)を算出するス
テップと、算出アーク電圧値Va(t)が、予め定めた算出
アーク電圧判別値Vadよりも小になる短絡回数N1を計
数して、予め定めた回数Nrと比較するステップ又はこ
の各時刻tの溶接電圧値V1(t)から各時刻tの電圧降下
Vrtを減算したときにおける各時刻tの引き上げ期間中
の算出アーク電圧値Va(t)が、予め定めた算出アーク電
圧判別値Vadよりも小になる1回の短絡継続時間Ts(t)
を積算した短絡合計時間Tstを算出して、短絡合計時間
Tstを予め定めた短絡合計時間Tsrと比較するステップ
とから形成される。
期間中の短絡管理方法は、基準にするスタッドを被溶接
材から引き上げてアークを発生させた後、スタッドを被
溶接材に押し込んで短絡させて短絡電流通電中に溶接電
圧平均値V2aと溶接電流平均値I2aとを検出するステッ
プと、短絡電流通電中に検出した溶接電圧平均値V2aを
溶接電流平均値I2aで除算した基準にする抵抗値Ravを
算出するステップと、判定したいスタッドを被溶接材か
ら引き上げてアーク発生中の各時刻tの溶接電圧値V1
(t)及び溶接電流値I1(t)を検出するステップと、基準
にする抵抗値Ravと各時刻tの引き上げ期間中の溶接電
流値I1(t)との積の各時刻tの電圧降下Vrtを算出する
ステップと、この各時刻tの溶接電圧値V1(t)から各時
刻tの電圧降下Vrtを減算したときにおける各時刻tの
引き上げ期間中の算出アーク電圧値Va(t)を算出するス
テップと、算出アーク電圧値Va(t)が、予め定めた算出
アーク電圧判別値Vadよりも小になる短絡回数N1を計
数して、予め定めた回数Nrと比較するステップ又はこ
の各時刻tの溶接電圧値V1(t)から各時刻tの電圧降下
Vrtを減算したときにおける各時刻tの引き上げ期間中
の算出アーク電圧値Va(t)が、予め定めた算出アーク電
圧判別値Vadよりも小になる1回の短絡継続時間Ts(t)
を積算した短絡合計時間Tstを算出して、短絡合計時間
Tstを予め定めた短絡合計時間Tsrと比較するステップ
とから形成される。
【0061】ここで、本出願に使用する用語の一部につ
いて説明する。「短絡電流通電中」とは、前述した「短
絡電流期間Ts」又は後述する「押し込み中の検出期間
T2」のうちの定常の短絡電流が流れる期間をいう。判
定したいスタッドとは、今溶接しようとしているスタッ
ドの検出値又は算出データを入熱管理に使用するスタッ
ドをいう。基準にするスタッドとは、判定したいスタッ
ドを溶接する前に、正常な溶接が行われたときの検出値
又は算出データを収集するスタッドであって、収集した
データを後の判定したいスタッドの入熱管理に使用する
スタッドをいう。この基準にするスタッドは、正常な溶
接が行われたときのスタッドであればよいので、必ずし
も、データを収集する目的だけのスタッドでなくても、
現在、判定しようとしているスタッドよりも前に溶接さ
れた判定したいスタッドであればよい。
いて説明する。「短絡電流通電中」とは、前述した「短
絡電流期間Ts」又は後述する「押し込み中の検出期間
T2」のうちの定常の短絡電流が流れる期間をいう。判
定したいスタッドとは、今溶接しようとしているスタッ
ドの検出値又は算出データを入熱管理に使用するスタッ
ドをいう。基準にするスタッドとは、判定したいスタッ
ドを溶接する前に、正常な溶接が行われたときの検出値
又は算出データを収集するスタッドであって、収集した
データを後の判定したいスタッドの入熱管理に使用する
スタッドをいう。この基準にするスタッドは、正常な溶
接が行われたときのスタッドであればよいので、必ずし
も、データを収集する目的だけのスタッドでなくても、
現在、判定しようとしているスタッドよりも前に溶接さ
れた判定したいスタッドであればよい。
【0062】
【実施例】以下、図4及び図5を参照して、引き上げ期
間中に短絡が発生しない場合で電圧降下が大になると、
検出した出力端子電圧値Vdとアーク電圧値Vaとの誤
差が大になることを説明する。図4(A)は、スタッド
引き上げ期間中に短絡が発生しない正常な溶接が行われ
た場合の溶接ガンと溶接箇所付近の被溶接材との出力電
流Ioの波形を示す出力電流波形図であり、同図(B)
は、2次ケーブル及び被溶接材の抵抗値による電圧降下
Vrが小さいときに正常な溶接が行われた場合の出力端
子電圧Vdの波形を示す図である。
間中に短絡が発生しない場合で電圧降下が大になると、
検出した出力端子電圧値Vdとアーク電圧値Vaとの誤
差が大になることを説明する。図4(A)は、スタッド
引き上げ期間中に短絡が発生しない正常な溶接が行われ
た場合の溶接ガンと溶接箇所付近の被溶接材との出力電
流Ioの波形を示す出力電流波形図であり、同図(B)
は、2次ケーブル及び被溶接材の抵抗値による電圧降下
Vrが小さいときに正常な溶接が行われた場合の出力端
子電圧Vdの波形を示す図である。
【0064】同図(A)に示すように、パイロット電流
通電開始時点t0において、後述する図14に示す溶接
ガン2の起動スイッチ13を押してパイロット電流Ip
の通電を開始するとともに、スタッド18を被溶接材1
4から引き上げてパイロットアークを発生させる。
通電開始時点t0において、後述する図14に示す溶接
ガン2の起動スイッチ13を押してパイロット電流Ip
の通電を開始するとともに、スタッド18を被溶接材1
4から引き上げてパイロットアークを発生させる。
【0066】次に、主ア−ク電流通電開始時点t1にお
いて、パイロット電流Ipから主ア−ク電流Iaに切り
換える。ア−ク発生期間中の溶接電圧検出開始時点t11
からア−ク発生期間中の溶接電圧検出終了時点t12まで
の引き上げ期間中の検出期間T1に、各時刻tの引き上
げ期間中の溶接電流I1(t)を検出して数1において、短
絡が発生しないときの引き上げ期間の溶接電流平均値I
1aを算出する。
いて、パイロット電流Ipから主ア−ク電流Iaに切り
換える。ア−ク発生期間中の溶接電圧検出開始時点t11
からア−ク発生期間中の溶接電圧検出終了時点t12まで
の引き上げ期間中の検出期間T1に、各時刻tの引き上
げ期間中の溶接電流I1(t)を検出して数1において、短
絡が発生しないときの引き上げ期間の溶接電流平均値I
1aを算出する。
【数1】
【0068】ア−ク発生期間中の溶接電圧検出終了時点
t12において、スタッド18を被溶接材14の溶融池に
押し込むと、短絡電流Isが流れる。短絡中の溶接電圧
検出開始時点t21から短絡の溶接電圧検出終了時点t22
までの押し込み中の検出期間T2に、各時刻tの押し込
み中の溶接電流I2(t)を検出して数2において、押し込
み期間の溶接電流平均値I2aを算出する。
t12において、スタッド18を被溶接材14の溶融池に
押し込むと、短絡電流Isが流れる。短絡中の溶接電圧
検出開始時点t21から短絡の溶接電圧検出終了時点t22
までの押し込み中の検出期間T2に、各時刻tの押し込
み中の溶接電流I2(t)を検出して数2において、押し込
み期間の溶接電流平均値I2aを算出する。
【数2】
【0070】パイロット電流Ipから主ア−ク電流Ia
に切り換わると、同図(B)に示すように、ア−ク発生
期間中の溶接電圧検出開始時点t11からア−ク発生期間
中の溶接電圧検出終了時点t12までの引き上げ期間中の
検出期間T1に、各時刻tの引き上げ期間中の溶接電圧
V1(t)を繰り返して検出して数3において、短絡が発生
しないときの引き上げ期間の溶接電圧平均値V1aを算出
する。
に切り換わると、同図(B)に示すように、ア−ク発生
期間中の溶接電圧検出開始時点t11からア−ク発生期間
中の溶接電圧検出終了時点t12までの引き上げ期間中の
検出期間T1に、各時刻tの引き上げ期間中の溶接電圧
V1(t)を繰り返して検出して数3において、短絡が発生
しないときの引き上げ期間の溶接電圧平均値V1aを算出
する。
【数3】
【0072】ア−ク発生期間中の溶接電圧検出終了時点
t12において、スタッド18を被溶接材14の溶融池に
押し込むと、短絡電流Isが流れる。短絡中の溶接電圧
検出開始時点t21から短絡の溶接電圧検出終了時点t22
までの押し込み中の検出期間T2に、各時刻tの押し込
み中の溶接電圧V2(t)を検出して数4において、押し込
み期間の溶接電圧平均値V2aを算出する。
t12において、スタッド18を被溶接材14の溶融池に
押し込むと、短絡電流Isが流れる。短絡中の溶接電圧
検出開始時点t21から短絡の溶接電圧検出終了時点t22
までの押し込み中の検出期間T2に、各時刻tの押し込
み中の溶接電圧V2(t)を検出して数4において、押し込
み期間の溶接電圧平均値V2aを算出する。
【数4】
【0074】図4(A)において、引き上げ期間中の
(溶接電源装置の)出力電力量Pdは、 Pd=Vd・Io・Ta=(Va+Vr)・Io・Ta ただし、Vdは出力端子電圧値であり、Ioは出力電流
値であり、Vaはアーク電圧値であり、Vrは電圧降下
であり、Taは主ア−ク電流期間である。
(溶接電源装置の)出力電力量Pdは、 Pd=Vd・Io・Ta=(Va+Vr)・Io・Ta ただし、Vdは出力端子電圧値であり、Ioは出力電流
値であり、Vaはアーク電圧値であり、Vrは電圧降下
であり、Taは主ア−ク電流期間である。
【0080】図5(A)は、スタッド引き上げ期間中に
短絡が発生しない正常な溶接が行われた場合の溶接ガン
と溶接箇所付近の被溶接材との出力電流Ioの波形を示
す出力電流波形図であり、同図(B)は、2次ケーブル
及び被溶接材の抵抗値による電圧降下Vr1が大きいとき
に正常な溶接が行われた場合の出力端子電圧Vdの波形
を示す図である。
短絡が発生しない正常な溶接が行われた場合の溶接ガン
と溶接箇所付近の被溶接材との出力電流Ioの波形を示
す出力電流波形図であり、同図(B)は、2次ケーブル
及び被溶接材の抵抗値による電圧降下Vr1が大きいとき
に正常な溶接が行われた場合の出力端子電圧Vdの波形
を示す図である。
【0082】図5(A)は、図4(A)と同様であるの
で説明を省略する。パイロット電流Ipから主ア−ク電
流Iaに切り換わると、同図(B)に示すように、ア−
ク発生期間中の溶接電圧検出開始時点t11からア−ク発
生期間中の溶接電圧検出終了時点t12までの引き上げ期
間中の検出期間T1に、各時刻tの引き上げ期間中の溶
接電圧V1(t)を繰り返して検出して数3において、短絡
が発生しないときの引き上げ期間の溶接電圧平均値V1a
1を算出する。
で説明を省略する。パイロット電流Ipから主ア−ク電
流Iaに切り換わると、同図(B)に示すように、ア−
ク発生期間中の溶接電圧検出開始時点t11からア−ク発
生期間中の溶接電圧検出終了時点t12までの引き上げ期
間中の検出期間T1に、各時刻tの引き上げ期間中の溶
接電圧V1(t)を繰り返して検出して数3において、短絡
が発生しないときの引き上げ期間の溶接電圧平均値V1a
1を算出する。
【0084】ア−ク発生期間中の溶接電圧検出終了時点
t12において、スタッド18を被溶接材14の溶融池に
押し込むと、短絡電流Isが流れる。短絡中の溶接電圧
検出開始時点t21から短絡の溶接電圧検出終了時点t22
までの押し込み中の検出期間T2に、各時刻tの押し込
み中の溶接電圧V2(t)を検出して数4において、押し込
み期間の溶接電圧平均値V2a1を算出する。
t12において、スタッド18を被溶接材14の溶融池に
押し込むと、短絡電流Isが流れる。短絡中の溶接電圧
検出開始時点t21から短絡の溶接電圧検出終了時点t22
までの押し込み中の検出期間T2に、各時刻tの押し込
み中の溶接電圧V2(t)を検出して数4において、押し込
み期間の溶接電圧平均値V2a1を算出する。
【0086】ケーブルが短くて電圧降下Vrのときの図
4(B)とケーブルが長くて電圧降下Vr1のときの図5
(B)とを比較すると、引き上げ期間中の入熱Q1a=V
a・Io・Taは両者同一であるにもかかわらず、引き
上げ期間中の(溶接電源装置の)出力電力量Pdが相違
する。
4(B)とケーブルが長くて電圧降下Vr1のときの図5
(B)とを比較すると、引き上げ期間中の入熱Q1a=V
a・Io・Taは両者同一であるにもかかわらず、引き
上げ期間中の(溶接電源装置の)出力電力量Pdが相違
する。
【0088】図4(B)においては、出力端子電圧値V
dはV1aであるのに対して、図5(B)においては、出
力端子電圧値VdはV1a1であるので、図4(B)の引
き上げ期間中の(溶接電源装置の)出力電力量Pdは、
Pd=V1a・Io・Ta=(Va+Vr)・Io・Ta
であり、図5(B)の引き上げ期間中の(溶接電源装置
の)出力電力量Pd1は、Pd1=V1a1・Io・Ta
=(Va+Vr1)・Io・Taである。
dはV1aであるのに対して、図5(B)においては、出
力端子電圧値VdはV1a1であるので、図4(B)の引
き上げ期間中の(溶接電源装置の)出力電力量Pdは、
Pd=V1a・Io・Ta=(Va+Vr)・Io・Ta
であり、図5(B)の引き上げ期間中の(溶接電源装置
の)出力電力量Pd1は、Pd1=V1a1・Io・Ta
=(Va+Vr1)・Io・Taである。
【0090】したがって、ケーブルが短くて電圧降下V
rのときの図4(B)の場合は、予め定めた必要電力量
Prを把握しなければならないのに対して、ケーブルが
長くて電圧降下Vr1のときの図5(B)の場合は、Pr
よりも(Vr1−Vr)・Io・Taだけ多い必要電力量
Prを把握しなければならない。
rのときの図4(B)の場合は、予め定めた必要電力量
Prを把握しなければならないのに対して、ケーブルが
長くて電圧降下Vr1のときの図5(B)の場合は、Pr
よりも(Vr1−Vr)・Io・Taだけ多い必要電力量
Prを把握しなければならない。
【0092】以上の結果、前述したように、溶接作業者
は、2次ケーブルの長さ、出力電流Io又は主アーク電
流期間Taが変化するごとに、引き上げ期間中の出力電
力量Pdの適正値を選定するための予め定めた必要電力
量Prを把握しなければならなかったので、この必要電
力量Prの適正値を把握することが非常に困難であっ
た。
は、2次ケーブルの長さ、出力電流Io又は主アーク電
流期間Taが変化するごとに、引き上げ期間中の出力電
力量Pdの適正値を選定するための予め定めた必要電力
量Prを把握しなければならなかったので、この必要電
力量Prの適正値を把握することが非常に困難であっ
た。
【0094】図6(A)は、出力電流Ioの波形を示す
溶接電流波形図であり、同図(B)は、引き上げ期間中
の検出期間T1の間に、時刻t1sにおいてスタッド18
が溶融プールに1回短絡した場合の出力端子電圧Vdの
波形を示す図である。同図(B)において、スタッド1
8が時刻t1sで後述する図7の短絡期間よりも長い短絡
継続時間Ts1の間、溶融プールに1回短絡して、出力端
子電圧値VdがVd4に低下している。上記以外は、図5
と同様である。この低下した出力端子電圧値Vd4を、予
め定めた電圧降下を含んだ短絡判別電圧値Vfと比較し
て、Vd4がVfよりも低下しているので、短絡が1回発
生したことを判別する。
溶接電流波形図であり、同図(B)は、引き上げ期間中
の検出期間T1の間に、時刻t1sにおいてスタッド18
が溶融プールに1回短絡した場合の出力端子電圧Vdの
波形を示す図である。同図(B)において、スタッド1
8が時刻t1sで後述する図7の短絡期間よりも長い短絡
継続時間Ts1の間、溶融プールに1回短絡して、出力端
子電圧値VdがVd4に低下している。上記以外は、図5
と同様である。この低下した出力端子電圧値Vd4を、予
め定めた電圧降下を含んだ短絡判別電圧値Vfと比較し
て、Vd4がVfよりも低下しているので、短絡が1回発
生したことを判別する。
【0100】図7(A)は出力電流Ioの波形を示す溶
接電流波形図であり、同図(B)は引き上げ期間中の検
出期間T1の間に、時刻t2s及びt3sにおいてスタッド
18が溶融プールに短絡した場合の出力端子電圧Vdの
波形を示す図である。同図(B)において、引き上げ期
間中の検出期間T1の間に、時刻t2s及びt3sにおいて
スタッド18が前述した図8(B)の場合よりも短い短
絡継続時間Ts2及びTs3の間、溶融プールに2回短絡し
て、出力端子電圧値VdがVd5に低下している。上記以
外は、図5と同様である。この低下した出力端子電圧値
Vd5を、予め定めた電圧降下を含んだ短絡判別電圧値V
fと比較して、Vd5がVfよりも低下しているので、短
絡が2回発生したことを判別する。
接電流波形図であり、同図(B)は引き上げ期間中の検
出期間T1の間に、時刻t2s及びt3sにおいてスタッド
18が溶融プールに短絡した場合の出力端子電圧Vdの
波形を示す図である。同図(B)において、引き上げ期
間中の検出期間T1の間に、時刻t2s及びt3sにおいて
スタッド18が前述した図8(B)の場合よりも短い短
絡継続時間Ts2及びTs3の間、溶融プールに2回短絡し
て、出力端子電圧値VdがVd5に低下している。上記以
外は、図5と同様である。この低下した出力端子電圧値
Vd5を、予め定めた電圧降下を含んだ短絡判別電圧値V
fと比較して、Vd5がVfよりも低下しているので、短
絡が2回発生したことを判別する。
【0102】図7(B)において、前述した図6(B)
の場合よりも短い短絡継続時間Ts2及びTs3の2回の短
絡が発生しているが、これら2回を積算した短絡継続時
間(Ts2+Ts3)が、前述した図6(B)の短絡継続時
間Ts1よりも短くなっている。したがって、図6(B)
の短絡継続時間Ts1の1回の短絡であっても、品質の低
下であると判断し、逆に、図7(B)の積算した2回の
短絡継続時間(Ts2+Ts3)の短絡であっても、品質の
低下でないと判断することが可能である。
の場合よりも短い短絡継続時間Ts2及びTs3の2回の短
絡が発生しているが、これら2回を積算した短絡継続時
間(Ts2+Ts3)が、前述した図6(B)の短絡継続時
間Ts1よりも短くなっている。したがって、図6(B)
の短絡継続時間Ts1の1回の短絡であっても、品質の低
下であると判断し、逆に、図7(B)の積算した2回の
短絡継続時間(Ts2+Ts3)の短絡であっても、品質の
低下でないと判断することが可能である。
【0110】図8(A)は出力電流Ioの波形を示す溶
接電流波形図であり、同図(B)は引き上げ期間中の検
出期間T1の間に、時刻t4s及びt5sにおいてスタッド
18が溶融プールに短絡した場合の出力端子電圧Vdの
波形を示す図である。同図(B)において、引き上げ期
間中の検出期間T1の間に、時刻t4s及びt5sにおいて
スタッド18が前述した図7(B)の場合よりも長い短
絡継続時間Ts4及びTs5の間、溶融プールに2回短絡し
て、出力端子電圧値VdがVd6に低下している。上記以
外は、図5と同様である。この低下した出力端子電圧値
Vd6を、予め定めた電圧降下を含んだ短絡判別電圧値V
fと比較して、Vd6がVfよりも低下しているので、短
絡が2回発生したことを判別する。
接電流波形図であり、同図(B)は引き上げ期間中の検
出期間T1の間に、時刻t4s及びt5sにおいてスタッド
18が溶融プールに短絡した場合の出力端子電圧Vdの
波形を示す図である。同図(B)において、引き上げ期
間中の検出期間T1の間に、時刻t4s及びt5sにおいて
スタッド18が前述した図7(B)の場合よりも長い短
絡継続時間Ts4及びTs5の間、溶融プールに2回短絡し
て、出力端子電圧値VdがVd6に低下している。上記以
外は、図5と同様である。この低下した出力端子電圧値
Vd6を、予め定めた電圧降下を含んだ短絡判別電圧値V
fと比較して、Vd6がVfよりも低下しているので、短
絡が2回発生したことを判別する。
【0112】図8(B)において、前述した図7(B)
の場合よりも長い短絡継続時間Ts4及びTs5の2回の短
絡が発生し、これら2回の短絡継続時間を積算した短絡
継続時間(Ts4+Ts5)が、前述した図7(B)の2回
の短絡継続時間を積算した短絡継続時間(Ts2+Ts3)
よりも長くなっている。したがって、図7(B)の2回
を積算した短絡継続時間(Ts2+Ts3)を品質の低下で
ないと判断し、図8(B)の積算した同じ2回の短絡継
続時間(Ts4+Ts5)のであっても、品質の低下である
と判別することが可能である。
の場合よりも長い短絡継続時間Ts4及びTs5の2回の短
絡が発生し、これら2回の短絡継続時間を積算した短絡
継続時間(Ts4+Ts5)が、前述した図7(B)の2回
の短絡継続時間を積算した短絡継続時間(Ts2+Ts3)
よりも長くなっている。したがって、図7(B)の2回
を積算した短絡継続時間(Ts2+Ts3)を品質の低下で
ないと判断し、図8(B)の積算した同じ2回の短絡継
続時間(Ts4+Ts5)のであっても、品質の低下である
と判別することが可能である。
【0114】これらの図6乃至図8の短絡合計時間によ
って品質の低下を判別する方法は、請求項3及び請求項
6の実施例である。
って品質の低下を判別する方法は、請求項3及び請求項
6の実施例である。
【0116】この予め定めた電圧降下を含んだ短絡判別
電圧値Vfよりも低下する1回の短絡継続時間Ts(t)を
積算した短絡合計時間Tstは、数5によって算出する。
電圧値Vfよりも低下する1回の短絡継続時間Ts(t)を
積算した短絡合計時間Tstは、数5によって算出する。
【数5】
【0118】また、基準にする抵抗値Ravは、前述した
数2及び数4から数6によって算出するか、又は数7と
数8とから算出する。 Rav=V2a/I2a (数6) R(t)=V2(t)/I2(t) (数7)
数2及び数4から数6によって算出するか、又は数7と
数8とから算出する。 Rav=V2a/I2a (数6) R(t)=V2(t)/I2(t) (数7)
【数8】
【0120】次に、請求項6の方法に使用する各時刻t
の引き上げ期間中の算出アーク電圧値Va(t)は、数9に
よって算出する。 Va(t)=V1(t)−Rav・I(t) =V1(t)−Vr (数9) ただし、I1(t)は各時刻tの引き上げ期間中の溶接電流
値であり、I2(t)は各時刻tの押し込み中の溶接電流値
であり、V1(t) は各時刻tの引き上げ期間中の溶接電
圧値であり、V2(t)は各時刻tの押し込み中の溶接電圧
値である。
の引き上げ期間中の算出アーク電圧値Va(t)は、数9に
よって算出する。 Va(t)=V1(t)−Rav・I(t) =V1(t)−Vr (数9) ただし、I1(t)は各時刻tの引き上げ期間中の溶接電流
値であり、I2(t)は各時刻tの押し込み中の溶接電流値
であり、V1(t) は各時刻tの引き上げ期間中の溶接電
圧値であり、V2(t)は各時刻tの押し込み中の溶接電圧
値である。
【0130】図9(A)及び(B)は、それぞれ、アー
ク発生期間中に繰り返して検出した各時刻tの溶接電圧
値V1(t)が、電圧降下Vr又はVr1を含んだ短絡判別電
圧値Vf又はVf1よりも低下したとき、短絡が発生した
と判別する短絡判別説明図である。
ク発生期間中に繰り返して検出した各時刻tの溶接電圧
値V1(t)が、電圧降下Vr又はVr1を含んだ短絡判別電
圧値Vf又はVf1よりも低下したとき、短絡が発生した
と判別する短絡判別説明図である。
【0132】同図(A)は、請求項1及び請求項3の方
法の説明図であって、図2の全溶接期間のうちの主ア−
ク電流期間Taだけを抽出した電圧降下Vrが小さいと
きの短絡判別説明図であり、判定したいスタッドを被溶
接材から引き上げてアーク発生期間中に繰り返して検出
した各時刻tの溶接電圧値V1(t)が、電圧降下を含んだ
短絡判別電圧値Vfよりも低下したとき、短絡が発生し
たと判別する。
法の説明図であって、図2の全溶接期間のうちの主ア−
ク電流期間Taだけを抽出した電圧降下Vrが小さいと
きの短絡判別説明図であり、判定したいスタッドを被溶
接材から引き上げてアーク発生期間中に繰り返して検出
した各時刻tの溶接電圧値V1(t)が、電圧降下を含んだ
短絡判別電圧値Vfよりも低下したとき、短絡が発生し
たと判別する。
【0134】同図において、電圧降下Vrを含んだアー
ク発生期間中の短絡が発生していないときの出力端子電
圧値V1(t)はVh1であり、Ts1、Ts2及びTs3の短絡継
続時間が異なる短絡が3回発生したとき、短絡継続時間
がTs1の短絡電圧値は、電圧降下Vrを含んだ短絡判別
電圧値Vfよりも低下していないので、短絡として計数
しないが、短絡継続時間がTs2及びTs3の2回の短絡電
圧値は、電圧降下Vrを含んだ短絡判別電圧値Vfより
も低下しているので、短絡として計数する。
ク発生期間中の短絡が発生していないときの出力端子電
圧値V1(t)はVh1であり、Ts1、Ts2及びTs3の短絡継
続時間が異なる短絡が3回発生したとき、短絡継続時間
がTs1の短絡電圧値は、電圧降下Vrを含んだ短絡判別
電圧値Vfよりも低下していないので、短絡として計数
しないが、短絡継続時間がTs2及びTs3の2回の短絡電
圧値は、電圧降下Vrを含んだ短絡判別電圧値Vfより
も低下しているので、短絡として計数する。
【0136】同図(B)は、同図(A)よりも電圧降下
Vr1が大きいときの短絡判別説明図であり、判定したい
スタッドを被溶接材から引き上げてアーク発生期間中に
繰り返して検出した各時刻tの溶接電圧値V1(t)が、予
め定めた電圧降下Vr1を含んだ短絡判別電圧値Vf1より
も低下したとき、短絡が発生したと判別する。
Vr1が大きいときの短絡判別説明図であり、判定したい
スタッドを被溶接材から引き上げてアーク発生期間中に
繰り返して検出した各時刻tの溶接電圧値V1(t)が、予
め定めた電圧降下Vr1を含んだ短絡判別電圧値Vf1より
も低下したとき、短絡が発生したと判別する。
【0138】同図(B)において、同図(A)よりも大
きい電圧降下Vr1を含んだアーク発生期間中の短絡が発
生していないときの出力端子電圧値V1(t)は、同図
(A)のVh1よりも大きいVh2になるために、予め定め
た電圧降下Vr1を含んだ短絡判別電圧値は、同図(A)
の短絡判別電圧値Vfよりも大きい値のVf1を設定す
る。
きい電圧降下Vr1を含んだアーク発生期間中の短絡が発
生していないときの出力端子電圧値V1(t)は、同図
(A)のVh1よりも大きいVh2になるために、予め定め
た電圧降下Vr1を含んだ短絡判別電圧値は、同図(A)
の短絡判別電圧値Vfよりも大きい値のVf1を設定す
る。
【0140】この大きい値のVf1を設定すれば、Ts1、
Ts2及びTs3の短絡継続時間が異なる短絡が3回発生し
た場合、短絡継続時間がTs1の短絡電圧値は、電圧降下
Vr1を含んだ短絡判別電圧値Vf1よりも低下していない
ので、短絡として計数しないが、短絡継続時間がTs2及
びTs3の2回の短絡電圧値は、電圧降下Vr1を含んだ短
絡判別電圧値Vf1よりも低下するので、短絡として計数
する。
Ts2及びTs3の短絡継続時間が異なる短絡が3回発生し
た場合、短絡継続時間がTs1の短絡電圧値は、電圧降下
Vr1を含んだ短絡判別電圧値Vf1よりも低下していない
ので、短絡として計数しないが、短絡継続時間がTs2及
びTs3の2回の短絡電圧値は、電圧降下Vr1を含んだ短
絡判別電圧値Vf1よりも低下するので、短絡として計数
する。
【0142】このように、請求項1及び請求項3の方法
は、同図(B)に示すように、電圧降下Vr1が大になっ
ても、予め定めた(電圧降下Vr1を含んだ)短絡判別電
圧値を、同図(A)のVfよりも大きい値のVf1を設定
して短絡の発生を判別することによって品質の低下を判
定する方法であるので、前述した図3の従来技術の溶接
電源装置の出力電力量によって品質の低下を判定する方
法のように、出力検出感度が低下する問題がない。
は、同図(B)に示すように、電圧降下Vr1が大になっ
ても、予め定めた(電圧降下Vr1を含んだ)短絡判別電
圧値を、同図(A)のVfよりも大きい値のVf1を設定
して短絡の発生を判別することによって品質の低下を判
定する方法であるので、前述した図3の従来技術の溶接
電源装置の出力電力量によって品質の低下を判定する方
法のように、出力検出感度が低下する問題がない。
【0146】上記の図9に示す請求項1及び請求項3の
方法は、図3の従来技術よりも精度よく品質管理をする
ことができるが、電圧降下の大小に応じて、予め定めた
電圧降下を含んだ短絡判別電圧値の設定を変更する必要
がある。そこで、電圧降下が変化しても、予め定めた電
圧降下を含んだ短絡判別電圧値の設定を変更する必要が
ない請求項2及び請求項4の方法に使用する短絡判別方
法について説明する。
方法は、図3の従来技術よりも精度よく品質管理をする
ことができるが、電圧降下の大小に応じて、予め定めた
電圧降下を含んだ短絡判別電圧値の設定を変更する必要
がある。そこで、電圧降下が変化しても、予め定めた電
圧降下を含んだ短絡判別電圧値の設定を変更する必要が
ない請求項2及び請求項4の方法に使用する短絡判別方
法について説明する。
【0150】図10は、アーク発生期間中に繰り返して
検出した各時刻tの溶接電圧値V1(t)が、算出短絡判別
電圧値(V1a−Vg)よりも低下したとき、短絡が発生
したと判別する短絡判別説明図である。
検出した各時刻tの溶接電圧値V1(t)が、算出短絡判別
電圧値(V1a−Vg)よりも低下したとき、短絡が発生
したと判別する短絡判別説明図である。
【0152】同図(A)は、請求項2及び請求項4の方
法の説明図であって、図2の全溶接期間のうちの主ア−
ク電流期間Taだけを抽出した電圧降下Vrが小さいと
きの短絡判別説明図であり、判定したいスタッドを被溶
接材から引き上げてアーク発生期間中に繰り返して検出
した各時刻tの溶接電圧値V1(t)が、算出短絡判別電圧
値(V1a−Vg)よりも低下したとき、短絡が発生した
と判別する。
法の説明図であって、図2の全溶接期間のうちの主ア−
ク電流期間Taだけを抽出した電圧降下Vrが小さいと
きの短絡判別説明図であり、判定したいスタッドを被溶
接材から引き上げてアーク発生期間中に繰り返して検出
した各時刻tの溶接電圧値V1(t)が、算出短絡判別電圧
値(V1a−Vg)よりも低下したとき、短絡が発生した
と判別する。
【0154】同図において、基準にするスタッドのアー
ク発生期間中に検出した溶接電圧平均値V1aから予め定
めた端子電圧降下判別電圧値Vgを減算した算出短絡判
別電圧値(V1a−Vg=V11−Vg)を算出しておく。
ただし、V11は、電圧降下Vrを含んだアーク発生期間
中の短絡が発生していないときの溶接電圧平均値であ
る。次に、電圧降下Vrを含んだアーク発生期間中にT
s1、Ts2及びTs3の短絡継続時間が異なる短絡が3回発
生して検出される各時刻tの溶接電圧値V1(t)は、それ
ぞれ、Vd1、Vd2及びVd3とする。上記の短絡継続時間
がTs1の溶接電圧値V1(t)=Vd1は、算出短絡判別電圧
値(V1a−Vg)よりも低下していないので、短絡とし
て計数しないが、短絡継続時間がTs2及びTs3の2回の
短絡電圧値は、算出短絡判別電圧値(V1a−Vg=V11
−Vg)よりも低下しているので、短絡として計数す
る。
ク発生期間中に検出した溶接電圧平均値V1aから予め定
めた端子電圧降下判別電圧値Vgを減算した算出短絡判
別電圧値(V1a−Vg=V11−Vg)を算出しておく。
ただし、V11は、電圧降下Vrを含んだアーク発生期間
中の短絡が発生していないときの溶接電圧平均値であ
る。次に、電圧降下Vrを含んだアーク発生期間中にT
s1、Ts2及びTs3の短絡継続時間が異なる短絡が3回発
生して検出される各時刻tの溶接電圧値V1(t)は、それ
ぞれ、Vd1、Vd2及びVd3とする。上記の短絡継続時間
がTs1の溶接電圧値V1(t)=Vd1は、算出短絡判別電圧
値(V1a−Vg)よりも低下していないので、短絡とし
て計数しないが、短絡継続時間がTs2及びTs3の2回の
短絡電圧値は、算出短絡判別電圧値(V1a−Vg=V11
−Vg)よりも低下しているので、短絡として計数す
る。
【0156】同図(B)は、同図(A)よりも電圧降下
Vr1が大きいときの短絡判別説明図であり、判定したい
スタッドを被溶接材から引き上げてアーク発生期間中に
繰り返して検出した各時刻tの溶接電圧値V1(t)が、算
出短絡判別電圧値(V1a−Vg)よりも低下したとき、
短絡が発生したと判別する。
Vr1が大きいときの短絡判別説明図であり、判定したい
スタッドを被溶接材から引き上げてアーク発生期間中に
繰り返して検出した各時刻tの溶接電圧値V1(t)が、算
出短絡判別電圧値(V1a−Vg)よりも低下したとき、
短絡が発生したと判別する。
【0158】同図(B)において、同図(A)よりも大
きい電圧降下Vr1を含んだスタッドの溶接電圧平均値V
1aから予め定めた端子電圧降下判別電圧値Vgを減算し
た算出短絡判別電圧値(V1a−Vg=V12−Vg)を算
出しておく。ただし、V12は電圧降下Vr1を含んだアー
ク発生期間中の短絡が発生していないときの溶接電圧平
均値である。次に、電圧降下Vr1を含んだアーク発生期
間中にTs1、Ts2及びTs3の短絡継続時間が異なる短絡
が3回発生し、検出される各時刻tの溶接電圧値V1(t)
は、それぞれ、Vd11 、Vd12 及びVd13 となる。上記
の短絡継続時間がTs1の溶接電圧値V1(t)=Vd11は、
算出短絡判別電圧値(V1a−Vg=V12−Vg)よりも
低下していないので、短絡として計数しないが、短絡継
続時間がTs2及びTs3の2回の溶接電圧値V1(t)=Vd
12及びVd13は、算出短絡判別電圧値(V1a−Vg=V
12−Vg)よりも低下しているので、短絡として計数す
る。
きい電圧降下Vr1を含んだスタッドの溶接電圧平均値V
1aから予め定めた端子電圧降下判別電圧値Vgを減算し
た算出短絡判別電圧値(V1a−Vg=V12−Vg)を算
出しておく。ただし、V12は電圧降下Vr1を含んだアー
ク発生期間中の短絡が発生していないときの溶接電圧平
均値である。次に、電圧降下Vr1を含んだアーク発生期
間中にTs1、Ts2及びTs3の短絡継続時間が異なる短絡
が3回発生し、検出される各時刻tの溶接電圧値V1(t)
は、それぞれ、Vd11 、Vd12 及びVd13 となる。上記
の短絡継続時間がTs1の溶接電圧値V1(t)=Vd11は、
算出短絡判別電圧値(V1a−Vg=V12−Vg)よりも
低下していないので、短絡として計数しないが、短絡継
続時間がTs2及びTs3の2回の溶接電圧値V1(t)=Vd
12及びVd13は、算出短絡判別電圧値(V1a−Vg=V
12−Vg)よりも低下しているので、短絡として計数す
る。
【0160】このように、同じ算出短絡判別電圧値(V
1a−Vg=V12−Vg)のままで、Ts1、Ts2及びTs3
の短絡継続時間が異なる短絡が3回発生したとき、短絡
継続時間がTs1の短絡電圧値は、算出短絡判別電圧値
(V1a−Vg=V12−Vg)よりも低下していないの
で、短絡として計数しないが、短絡継続時間がTs2及び
Ts3の2回の短絡電圧値は、算出短絡判別電圧値(V1a
−Vg=V12−Vg)よりも低下するので、短絡として
計数する。
1a−Vg=V12−Vg)のままで、Ts1、Ts2及びTs3
の短絡継続時間が異なる短絡が3回発生したとき、短絡
継続時間がTs1の短絡電圧値は、算出短絡判別電圧値
(V1a−Vg=V12−Vg)よりも低下していないの
で、短絡として計数しないが、短絡継続時間がTs2及び
Ts3の2回の短絡電圧値は、算出短絡判別電圧値(V1a
−Vg=V12−Vg)よりも低下するので、短絡として
計数する。
【0162】したがって、請求項2及び請求項4の方法
は、図10(B)に示すように、電圧降下Vr1が大にな
っても、予め定めた端子電圧降下判別電圧値Vgを設定
すれば、予め定めた溶接電圧平均値V1aから予め定めた
端子電圧降下判別電圧値Vgを減算した算出短絡判別電
圧値(V1a−Vg)を自動的に算出することによって、
前述した図9のように、電圧降下を含んだ短絡判別電圧
値Vfの設定を変更することなく、確実に短絡を判別す
ることによって精度よく品質管理をすることができる。
は、図10(B)に示すように、電圧降下Vr1が大にな
っても、予め定めた端子電圧降下判別電圧値Vgを設定
すれば、予め定めた溶接電圧平均値V1aから予め定めた
端子電圧降下判別電圧値Vgを減算した算出短絡判別電
圧値(V1a−Vg)を自動的に算出することによって、
前述した図9のように、電圧降下を含んだ短絡判別電圧
値Vfの設定を変更することなく、確実に短絡を判別す
ることによって精度よく品質管理をすることができる。
【0170】図11は、アーク発生期間中に繰り返して
検出した各時刻tの溶接電圧値V1(t)から基準にする電
圧降下Vrを減算したときにおける各時刻tの引き上げ
期間中の算出アーク電圧値Va(t)が、算出アーク電圧判
別値Vadよりも小になったとき、短絡が発生したと判別
する短絡判別説明図である。
検出した各時刻tの溶接電圧値V1(t)から基準にする電
圧降下Vrを減算したときにおける各時刻tの引き上げ
期間中の算出アーク電圧値Va(t)が、算出アーク電圧判
別値Vadよりも小になったとき、短絡が発生したと判別
する短絡判別説明図である。
【0172】同図(A)は、請求項5乃至請求項9の方
法の説明図であって、図2の全溶接期間のうちの主ア−
ク電流期間Taだけを抽出した電圧降下Vrが小さいと
きの短絡判別説明図であり、判定したいスタッドを被溶
接材から引き上げてアーク発生期間中の各時刻tの溶接
電圧値V1(t)を繰り返して検出し、この各時刻tの溶接
電圧値V1(t)から基準にする電圧降下Vrを減算したと
きにおける各時刻tの引き上げ期間中の算出アーク電圧
値Va(t)が、算出アーク電圧判別値Vadよりも小になっ
たとき、短絡が発生したと判別する。
法の説明図であって、図2の全溶接期間のうちの主ア−
ク電流期間Taだけを抽出した電圧降下Vrが小さいと
きの短絡判別説明図であり、判定したいスタッドを被溶
接材から引き上げてアーク発生期間中の各時刻tの溶接
電圧値V1(t)を繰り返して検出し、この各時刻tの溶接
電圧値V1(t)から基準にする電圧降下Vrを減算したと
きにおける各時刻tの引き上げ期間中の算出アーク電圧
値Va(t)が、算出アーク電圧判別値Vadよりも小になっ
たとき、短絡が発生したと判別する。
【0178】同図(A)において、電圧降下Vrを含ん
だアーク発生期間中にTs1、Ts2及びTs3の短絡継続時
間が異なる短絡が3回発生し、検出される各時刻tの溶
接電圧値V1(t)は、それぞれ、Vd1、Vd2及びVd3とな
る。これらの電圧降下Vrを含んだ出力端子電圧値Vd
1、Vd2及びVd3から基準にする電圧降下Vrを減算す
ると、減算したときにおける各時刻tの引き上げ期間中
の算出アーク電圧値Va(t)は、それぞれ、短絡発生時の
低下アーク電圧値Va1、Va2及びVa3となる。算出アー
ク電圧値Va(t)=Va1の短絡は、予め定めた算出アーク
電圧判別値Vadよりも低下していないので、短絡として
計数しないが、算出アーク電圧値Va(t)=Va2及びVa3
の2回の短絡は、予め定めた算出アーク電圧判別値Vad
よりも低下しているので、短絡として計数する。
だアーク発生期間中にTs1、Ts2及びTs3の短絡継続時
間が異なる短絡が3回発生し、検出される各時刻tの溶
接電圧値V1(t)は、それぞれ、Vd1、Vd2及びVd3とな
る。これらの電圧降下Vrを含んだ出力端子電圧値Vd
1、Vd2及びVd3から基準にする電圧降下Vrを減算す
ると、減算したときにおける各時刻tの引き上げ期間中
の算出アーク電圧値Va(t)は、それぞれ、短絡発生時の
低下アーク電圧値Va1、Va2及びVa3となる。算出アー
ク電圧値Va(t)=Va1の短絡は、予め定めた算出アーク
電圧判別値Vadよりも低下していないので、短絡として
計数しないが、算出アーク電圧値Va(t)=Va2及びVa3
の2回の短絡は、予め定めた算出アーク電圧判別値Vad
よりも低下しているので、短絡として計数する。
【0180】同図(B)は、同図(A)よりも電圧降下
Vr1が大きいときの短絡判別説明図であり、判定したい
スタッドを被溶接材から引き上げてアーク発生期間中の
各時刻tの溶接電圧値V1(t)を繰り返して検出し、この
各時刻tの溶接電圧値V1(t)から基準にする電圧降下V
r1を減算したときにおける各時刻tの引き上げ期間中の
算出アーク電圧値Va(t)が、算出アーク電圧判別値Vad
よりも小になったとき、短絡が発生したと判別する。
Vr1が大きいときの短絡判別説明図であり、判定したい
スタッドを被溶接材から引き上げてアーク発生期間中の
各時刻tの溶接電圧値V1(t)を繰り返して検出し、この
各時刻tの溶接電圧値V1(t)から基準にする電圧降下V
r1を減算したときにおける各時刻tの引き上げ期間中の
算出アーク電圧値Va(t)が、算出アーク電圧判別値Vad
よりも小になったとき、短絡が発生したと判別する。
【0182】同図(B)において、同図(A)よりも大
きい電圧降下Vr1を含んだアーク発生期間中に、Ts1、
Ts2及びTs3の短絡継続時間が異なる短絡が3回発生し
て検出される各時刻tの溶接電圧値V1(t)は、それぞ
れ、Vd11 、Vd12 及びVd13とする。これらの電圧降
下Vr1を含んだ出力端子電圧値Vd11 、Vd12 及びVd1
3 から基準にする電圧降下Vr1を減算すると、減算した
ときにおける各時刻tの引き上げ期間中の算出アーク電
圧値Va(t)は、それぞれ、同図(A)と同じ短絡発生時
の低下アーク電圧値Va1、Va2及びVa3となる。算出ア
ーク電圧値Va(t)=Va1の短絡は、予め定めた算出アー
ク電圧判別値Vadよりも低下していないので、短絡とし
て計数しないが、算出アーク電圧値Va(t)=Va1及びV
a2の2回の短絡は、予め定めた算出アーク電圧判別値V
adよりも低下しているので、短絡として計数する。
きい電圧降下Vr1を含んだアーク発生期間中に、Ts1、
Ts2及びTs3の短絡継続時間が異なる短絡が3回発生し
て検出される各時刻tの溶接電圧値V1(t)は、それぞ
れ、Vd11 、Vd12 及びVd13とする。これらの電圧降
下Vr1を含んだ出力端子電圧値Vd11 、Vd12 及びVd1
3 から基準にする電圧降下Vr1を減算すると、減算した
ときにおける各時刻tの引き上げ期間中の算出アーク電
圧値Va(t)は、それぞれ、同図(A)と同じ短絡発生時
の低下アーク電圧値Va1、Va2及びVa3となる。算出ア
ーク電圧値Va(t)=Va1の短絡は、予め定めた算出アー
ク電圧判別値Vadよりも低下していないので、短絡とし
て計数しないが、算出アーク電圧値Va(t)=Va1及びV
a2の2回の短絡は、予め定めた算出アーク電圧判別値V
adよりも低下しているので、短絡として計数する。
【0184】請求項5又は請求項6の構成においては、
出力電流Io又は主アーク電流期間Taの設定値を変化
させないときは、溶接作業者は、2次ケーブルの長さを
延長したときでも、延長2次ケーブルの長さごとに予め
定めた基準にする電圧降下Vrの設定値を、手動で又は
自動的に切り換えるだけでよいので、従来技術では適正
値の把握が非常に困難であった溶接電源装置の出力電力
Vd・Io又は出力端子電圧値Vdの適正値を把握する
必要がない。
出力電流Io又は主アーク電流期間Taの設定値を変化
させないときは、溶接作業者は、2次ケーブルの長さを
延長したときでも、延長2次ケーブルの長さごとに予め
定めた基準にする電圧降下Vrの設定値を、手動で又は
自動的に切り換えるだけでよいので、従来技術では適正
値の把握が非常に困難であった溶接電源装置の出力電力
Vd・Io又は出力端子電圧値Vdの適正値を把握する
必要がない。
【0186】また、請求項7の構成においては、請求項
5又は請求項6の構成の効果に加えて、溶接作業者が、
出力電流Io又は主アーク電流期間Taの設定値を変化
させても、また2次ケーブルを延長しても、基準にする
スタッドと同じ溶接電流設定値で判定したいスタッドを
溶接するときは、適切な溶接結果が得られた基準にする
スタッドの適切な溶接電流平均値I1aを使用して、予め
定めた設定値に手動で切り換えることができるので、従
来技術では適正値の把握が非常に困難であった溶接電源
装置の出力電力Vd・Io又は出力端子電圧値Vdの適
正値を把握する必要がない。
5又は請求項6の構成の効果に加えて、溶接作業者が、
出力電流Io又は主アーク電流期間Taの設定値を変化
させても、また2次ケーブルを延長しても、基準にする
スタッドと同じ溶接電流設定値で判定したいスタッドを
溶接するときは、適切な溶接結果が得られた基準にする
スタッドの適切な溶接電流平均値I1aを使用して、予め
定めた設定値に手動で切り換えることができるので、従
来技術では適正値の把握が非常に困難であった溶接電源
装置の出力電力Vd・Io又は出力端子電圧値Vdの適
正値を把握する必要がない。
【0190】また、請求項8の構成においては、請求項
5又は請求項6の構成の効果に加えて、溶接作業者が、
出力電流Io又は主アーク電流期間Taの設定値を変化
させたときであっても、また2次ケーブルを延長したと
きであっても、さらに基準にするスタッドと異なる溶接
電流設定値で判定したいスタッドを溶接するときであっ
ても、判定したいスタッドの溶接電流値I1(t)を使用し
て、予め定めた設定値に手動で切り換えることができる
ので、従来技術では適正値の把握が非常に困難であった
溶接電源装置の出力電力Vd・Io又は出力端子電圧値
Vdの適正値を把握する必要がない。
5又は請求項6の構成の効果に加えて、溶接作業者が、
出力電流Io又は主アーク電流期間Taの設定値を変化
させたときであっても、また2次ケーブルを延長したと
きであっても、さらに基準にするスタッドと異なる溶接
電流設定値で判定したいスタッドを溶接するときであっ
ても、判定したいスタッドの溶接電流値I1(t)を使用し
て、予め定めた設定値に手動で切り換えることができる
ので、従来技術では適正値の把握が非常に困難であった
溶接電源装置の出力電力Vd・Io又は出力端子電圧値
Vdの適正値を把握する必要がない。
【0192】さらに、請求項9の構成においては、請求
項5又は請求項6の構成の効果に加えて、溶接作業者
が、出力電流Io又は主アーク電流期間Taの設定値を
変化させても、さらに2次ケーブルを延長しても、予め
定めた設定値に自動的に切り換えることができるので、
従来技術では適正値の把握が非常に困難であった溶接電
源装置の出力電力Vd・Io又は出力端子電圧値Vdの
適正値を把握する必要がなく、予め定めた設定値の選定
を誤ることがない。
項5又は請求項6の構成の効果に加えて、溶接作業者
が、出力電流Io又は主アーク電流期間Taの設定値を
変化させても、さらに2次ケーブルを延長しても、予め
定めた設定値に自動的に切り換えることができるので、
従来技術では適正値の把握が非常に困難であった溶接電
源装置の出力電力Vd・Io又は出力端子電圧値Vdの
適正値を把握する必要がなく、予め定めた設定値の選定
を誤ることがない。
【0200】図12は、判定したいスタッドの算出アー
ク電圧値Va 1(t) が、予め定めた算出アーク電圧判別
値Vadよりも小になる短絡を計数した短絡回数N1を、
予め定めた回数Nrと比較するスタッド溶接の引き上げ
期間の短絡を管理する方法のフローチャートである。こ
の図12のフローチャートは、請求項5及び請求項7及
び請求項9の方法を同時に実施する実施例である。
ク電圧値Va 1(t) が、予め定めた算出アーク電圧判別
値Vadよりも小になる短絡を計数した短絡回数N1を、
予め定めた回数Nrと比較するスタッド溶接の引き上げ
期間の短絡を管理する方法のフローチャートである。こ
の図12のフローチャートは、請求項5及び請求項7及
び請求項9の方法を同時に実施する実施例である。
【0202】ステップST1は、基準にするスタッドを
被溶接材から引き上げてアークを発生させた後、スタッ
ドを被溶接材に押し込んで短絡させて短絡電流通電中に
溶接電圧平均値V2aと溶接電流平均値I2aとを検出する
ステップである。ステップST2は、短絡電流通電中に
検出した溶接電圧平均値V2aを溶接電流平均値I2aで除
算した基準にする抵抗値Ravを算出するステップであ
る。
被溶接材から引き上げてアークを発生させた後、スタッ
ドを被溶接材に押し込んで短絡させて短絡電流通電中に
溶接電圧平均値V2aと溶接電流平均値I2aとを検出する
ステップである。ステップST2は、短絡電流通電中に
検出した溶接電圧平均値V2aを溶接電流平均値I2aで除
算した基準にする抵抗値Ravを算出するステップであ
る。
【0204】ステップST11は、判定したいスタッド
を被溶接材から引き上げてアーク発生中の各時刻tの溶
接電圧値V1(t)及び溶接電流値I1(t)を検出するステッ
プである。ステップST12は、基準にする抵抗値Rav
と各時刻tの引き上げ期間中の溶接電流値I1(t)との積
の各時刻tの電圧降下Vrtを算出するステップである。
ステップST13は、この各時刻tの溶接電圧値V1(t)
から各時刻tの電圧降下Vrtを減算したときにおける各
時刻tの引き上げ期間中の算出アーク電圧値Va(t)を算
出するステップである。ステップST14は、算出アー
ク電圧値Va(t)が、予め定めた算出アーク電圧判別値V
adよりも小になる短絡回数N1を計数して、予め定めた
回数Nrと比較するステップである。
を被溶接材から引き上げてアーク発生中の各時刻tの溶
接電圧値V1(t)及び溶接電流値I1(t)を検出するステッ
プである。ステップST12は、基準にする抵抗値Rav
と各時刻tの引き上げ期間中の溶接電流値I1(t)との積
の各時刻tの電圧降下Vrtを算出するステップである。
ステップST13は、この各時刻tの溶接電圧値V1(t)
から各時刻tの電圧降下Vrtを減算したときにおける各
時刻tの引き上げ期間中の算出アーク電圧値Va(t)を算
出するステップである。ステップST14は、算出アー
ク電圧値Va(t)が、予め定めた算出アーク電圧判別値V
adよりも小になる短絡回数N1を計数して、予め定めた
回数Nrと比較するステップである。
【0210】図13は、判定したいスタッドの算出アー
ク電圧値Va 1(t) が、予め定めた算出アーク電圧判別
値Vadよりも小になる1回の短絡継続時間Ts(t)を積算
した短絡合計時間Tstを、予め定めた短絡合計時間Tsr
と比較するスタッド溶接の引き上げ期間の短絡を管理す
る方法のフローチャートである。この図13のフローチ
ャートは、請求項6及び請求項7及び請求項9の方法を
同時に実施する実施例である。
ク電圧値Va 1(t) が、予め定めた算出アーク電圧判別
値Vadよりも小になる1回の短絡継続時間Ts(t)を積算
した短絡合計時間Tstを、予め定めた短絡合計時間Tsr
と比較するスタッド溶接の引き上げ期間の短絡を管理す
る方法のフローチャートである。この図13のフローチ
ャートは、請求項6及び請求項7及び請求項9の方法を
同時に実施する実施例である。
【0212】ステップST1は、基準にするスタッドを
被溶接材から引き上げてアークを発生させた後、スタッ
ドを被溶接材に押し込んで短絡させて短絡電流通電中に
溶接電圧平均値V2aと溶接電流平均値I2aとを検出する
ステップである。ステップST2は、短絡電流通電中に
検出した溶接電圧平均値V2aを溶接電流平均値I2aで除
算した基準にする抵抗値Ravを算出するステップであ
る。
被溶接材から引き上げてアークを発生させた後、スタッ
ドを被溶接材に押し込んで短絡させて短絡電流通電中に
溶接電圧平均値V2aと溶接電流平均値I2aとを検出する
ステップである。ステップST2は、短絡電流通電中に
検出した溶接電圧平均値V2aを溶接電流平均値I2aで除
算した基準にする抵抗値Ravを算出するステップであ
る。
【0214】ステップST11は、判定したいスタッド
を被溶接材から引き上げてアーク発生中の各時刻tの溶
接電圧値V1(t)及び溶接電流値I1(t)を検出するステッ
プである。ステップST12は、基準にする抵抗値Rav
と各時刻tの引き上げ期間中の溶接電流値I1(t)との積
の各時刻tの電圧降下Vrtを算出するステップである。
ステップST13は、この各時刻tの溶接電圧値V1(t)
から各時刻tの電圧降下Vrtを減算したときにおける各
時刻tの引き上げ期間中の算出アーク電圧値Va(t)を算
出するステップである。ステップST14は、この算出
アーク電圧値Va(t)が、予め定めた算出アーク電圧判別
値Vadよりも小になる1回の短絡継続時間Ts(t)を積算
した短絡合計時間Tstを算出するステップである。
を被溶接材から引き上げてアーク発生中の各時刻tの溶
接電圧値V1(t)及び溶接電流値I1(t)を検出するステッ
プである。ステップST12は、基準にする抵抗値Rav
と各時刻tの引き上げ期間中の溶接電流値I1(t)との積
の各時刻tの電圧降下Vrtを算出するステップである。
ステップST13は、この各時刻tの溶接電圧値V1(t)
から各時刻tの電圧降下Vrtを減算したときにおける各
時刻tの引き上げ期間中の算出アーク電圧値Va(t)を算
出するステップである。ステップST14は、この算出
アーク電圧値Va(t)が、予め定めた算出アーク電圧判別
値Vadよりも小になる1回の短絡継続時間Ts(t)を積算
した短絡合計時間Tstを算出するステップである。
【0216】ステップST20は、短絡合計時間Tstを
予め定めた短絡合計時間Tsrと比較するステップであ
る。
予め定めた短絡合計時間Tsrと比較するステップであ
る。
【0220】図14は、各請求項の発明の方法を実施す
るスタッド溶接装置の実施例を示す図である。同図のス
タッド溶接装置は、溶接電源装置1と溶接ガン2と溶接
制御装置3とから形成される。この溶接電源装置1は、
溶接ガン2にパイロット電流Ipと主ア−ク電流Iaと
から成る溶接電流を出力し、後述する溶接制御装置3か
ら出力されるアナログ信号に応じて、出力電流Ioを制
御する電流指令出力回路5と、その電流指令に基づいて
溶接電流を制御するサイリスタ等の半導体スイッチング
素子からなる溶接電流出力回路15と、2次ケーブル1
7を通ってスタッド18に出力される出力電流Ioを検
出して溶接電流検出信号Icを出力する溶接電流検出回
路ICと、出力端子電圧値Vdを検出して溶接電圧検出
信号Vcを出力する溶接電圧検出回路VCとから形成さ
れる。
るスタッド溶接装置の実施例を示す図である。同図のス
タッド溶接装置は、溶接電源装置1と溶接ガン2と溶接
制御装置3とから形成される。この溶接電源装置1は、
溶接ガン2にパイロット電流Ipと主ア−ク電流Iaと
から成る溶接電流を出力し、後述する溶接制御装置3か
ら出力されるアナログ信号に応じて、出力電流Ioを制
御する電流指令出力回路5と、その電流指令に基づいて
溶接電流を制御するサイリスタ等の半導体スイッチング
素子からなる溶接電流出力回路15と、2次ケーブル1
7を通ってスタッド18に出力される出力電流Ioを検
出して溶接電流検出信号Icを出力する溶接電流検出回
路ICと、出力端子電圧値Vdを検出して溶接電圧検出
信号Vcを出力する溶接電圧検出回路VCとから形成さ
れる。
【0222】溶接制御装置3は、溶接電流検出信号Ic
をディジタル溶接電流検出信号Iddに変換して演算処理
回路CPUに出力するA/D変換器7と、溶接電圧検出
信号Vcをディジタル溶接電圧検出信号Vddに変換して
演算処理回路CPUに出力するA/D変換器8と、ディ
ジタル溶接電流検出信号Iddとディジタル溶接電圧検出
信号Vddとを入力して後述するディジタル出力信号を出
力する演算処理回路CPUと、演算処理回路CPUのデ
ィジタル出力信号Iodをアナログ出力信号Ioaに変換し
て電流指令出力回路5に出力するD/A変換器6と、検
出値、演算値、溶接結果のデータ等を記憶する記憶回路
11と、これらを表示するディジタルパネル等の表示回
路12とからなる。この演算処理回路CPUは、前述し
た図12及び図13の機能を、ディジタル信号によって
実行する。このD/A変換器6、A/D変換器7及びA
/D変換器8は演算処理回路CPUに内蔵してもよい。
をディジタル溶接電流検出信号Iddに変換して演算処理
回路CPUに出力するA/D変換器7と、溶接電圧検出
信号Vcをディジタル溶接電圧検出信号Vddに変換して
演算処理回路CPUに出力するA/D変換器8と、ディ
ジタル溶接電流検出信号Iddとディジタル溶接電圧検出
信号Vddとを入力して後述するディジタル出力信号を出
力する演算処理回路CPUと、演算処理回路CPUのデ
ィジタル出力信号Iodをアナログ出力信号Ioaに変換し
て電流指令出力回路5に出力するD/A変換器6と、検
出値、演算値、溶接結果のデータ等を記憶する記憶回路
11と、これらを表示するディジタルパネル等の表示回
路12とからなる。この演算処理回路CPUは、前述し
た図12及び図13の機能を、ディジタル信号によって
実行する。このD/A変換器6、A/D変換器7及びA
/D変換器8は演算処理回路CPUに内蔵してもよい。
【0224】以下、図14の実施例のスタッド溶接装置
の図12及び図13の動作について説明する。 (1)基準にするスタッドの通電 基準にするスタッド先端を被溶接材14に当接した位置
まで押し当て、パイロット電流通電開始時点t0におい
て、溶接ガン2に配設されている起動スイッチ13を押
すと、当接位置にあったスタッド18は予め設定された
位置まで引き上げられ、続いて予め設定されたパイロッ
ト電流Ipを通電する。スタッドが引き上げられてパイ
ロットアークが発生すると、予め設定した主ア−ク電流
通電開始時点t1において、パイロット電流Ipを主ア
−ク電流Iaに切り換える。続いて、主ア−ク電流期間
Taの間、主ア−ク電流Iaを通電した後、スタッドを
被溶接材に押し込んで短絡させ、予め定めた押し込み期
間中の検出期間T2の間、各時刻tの押し込み期間中の
溶接電圧値V2(t)と各時刻tの押し込み期間中の溶接電
流I2(t)とを、溶接電圧検出信号Vc及び溶接電流検出
回路ICによって検出する。
の図12及び図13の動作について説明する。 (1)基準にするスタッドの通電 基準にするスタッド先端を被溶接材14に当接した位置
まで押し当て、パイロット電流通電開始時点t0におい
て、溶接ガン2に配設されている起動スイッチ13を押
すと、当接位置にあったスタッド18は予め設定された
位置まで引き上げられ、続いて予め設定されたパイロッ
ト電流Ipを通電する。スタッドが引き上げられてパイ
ロットアークが発生すると、予め設定した主ア−ク電流
通電開始時点t1において、パイロット電流Ipを主ア
−ク電流Iaに切り換える。続いて、主ア−ク電流期間
Taの間、主ア−ク電流Iaを通電した後、スタッドを
被溶接材に押し込んで短絡させ、予め定めた押し込み期
間中の検出期間T2の間、各時刻tの押し込み期間中の
溶接電圧値V2(t)と各時刻tの押し込み期間中の溶接電
流I2(t)とを、溶接電圧検出信号Vc及び溶接電流検出
回路ICによって検出する。
【0226】検出した溶接電圧検出信号Vc及び溶接電
流検出信号IcをそれぞれA/D変換器7、8に入力し
て、ディジタル溶接電圧検出信号Vdd及びディジタル溶
接電流検出信号Iddに変換して演算処理回路CPUに出
力する。演算処理回路CPUは、ディジタル溶接電圧検
出信号Vdd及びディジタル溶接電流検出信号Iddを入力
して、押し込み期間中の溶接電圧平均値V2aと溶接電流
平均値I2aとを演算する。さらに、演算処理回路CPU
は、演算した溶接電圧平均値V2aを溶接電流平均値I2a
で除算した基準にする抵抗値Ravを算出して記憶回路1
1に記憶する。
流検出信号IcをそれぞれA/D変換器7、8に入力し
て、ディジタル溶接電圧検出信号Vdd及びディジタル溶
接電流検出信号Iddに変換して演算処理回路CPUに出
力する。演算処理回路CPUは、ディジタル溶接電圧検
出信号Vdd及びディジタル溶接電流検出信号Iddを入力
して、押し込み期間中の溶接電圧平均値V2aと溶接電流
平均値I2aとを演算する。さらに、演算処理回路CPU
は、演算した溶接電圧平均値V2aを溶接電流平均値I2a
で除算した基準にする抵抗値Ravを算出して記憶回路1
1に記憶する。
【0230】(2)判定したいスタッドの通電 判定したいスタッド先端を被溶接材14に当接した位置
まで押し当て、パイロット電流通電開始時点t0におい
て、溶接ガン2に配設されている起動スイッチ13を押
すと、当接位置にあったスタッド18は予め設定された
位置まで引き上げられ、続いて予め設定されたパイロッ
ト電流Ipを通電する。スタッドが引き上げられてパイ
ロットアークが発生すると、予め設定した主ア−ク電流
通電開始時点t1において、パイロット電流Ipを主ア
−ク電流Iaに切り換える。続いて、主ア−ク電流Ia
が安定するまでに十分な時間が経過したア−ク発生期間
中の溶接電圧検出開始時点t11から、予め定めた引き上
げ期間中の検出期間T1の間、各時刻tの引き上げ期間
中の溶接電圧値V1(t)と各時刻tの引き上げ期間中の溶
接電流I1(t)とを、溶接電圧検出回路VC及び溶接電流
検出回路ICによって検出する。
まで押し当て、パイロット電流通電開始時点t0におい
て、溶接ガン2に配設されている起動スイッチ13を押
すと、当接位置にあったスタッド18は予め設定された
位置まで引き上げられ、続いて予め設定されたパイロッ
ト電流Ipを通電する。スタッドが引き上げられてパイ
ロットアークが発生すると、予め設定した主ア−ク電流
通電開始時点t1において、パイロット電流Ipを主ア
−ク電流Iaに切り換える。続いて、主ア−ク電流Ia
が安定するまでに十分な時間が経過したア−ク発生期間
中の溶接電圧検出開始時点t11から、予め定めた引き上
げ期間中の検出期間T1の間、各時刻tの引き上げ期間
中の溶接電圧値V1(t)と各時刻tの引き上げ期間中の溶
接電流I1(t)とを、溶接電圧検出回路VC及び溶接電流
検出回路ICによって検出する。
【0232】検出した各時刻tの引き上げ期間中の溶接
電圧値V1(t)と各時刻tの引き上げ期間中の溶接電流I
1(t)とをそれぞれA/D変換器7、8に入力して、ディ
ジタル溶接電圧検出信号Vdd及びディジタル溶接電流検
出信号Iddに変換して演算処理回路CPUに出力する。
電圧値V1(t)と各時刻tの引き上げ期間中の溶接電流I
1(t)とをそれぞれA/D変換器7、8に入力して、ディ
ジタル溶接電圧検出信号Vdd及びディジタル溶接電流検
出信号Iddに変換して演算処理回路CPUに出力する。
【0234】演算処理回路CPUは、記憶している基準
にする抵抗値Ravと各時刻tの引き上げ期間中の溶接電
流I1(t)のディジタル溶接電流検出信号Vddとを入力し
て、これらの積の各時刻tの引き上げ期間中の電圧降下
Vrtを算出して記憶回路11に記憶する。次に、演算処
理回路CPUは、記憶している各時刻tの引き上げ期間
中の溶接電圧値V1(t)のディジタル溶接電圧検出信号V
ddから各時刻tの引き上げ期間中の電圧降下Vrtを減算
したときにおける各時刻tの引き上げ期間中の算出アー
ク電圧値Va(t)を算出して記憶回路11に記憶する。
にする抵抗値Ravと各時刻tの引き上げ期間中の溶接電
流I1(t)のディジタル溶接電流検出信号Vddとを入力し
て、これらの積の各時刻tの引き上げ期間中の電圧降下
Vrtを算出して記憶回路11に記憶する。次に、演算処
理回路CPUは、記憶している各時刻tの引き上げ期間
中の溶接電圧値V1(t)のディジタル溶接電圧検出信号V
ddから各時刻tの引き上げ期間中の電圧降下Vrtを減算
したときにおける各時刻tの引き上げ期間中の算出アー
ク電圧値Va(t)を算出して記憶回路11に記憶する。
【0238】さらに、演算処理回路CPUは、記憶して
いる各時刻tの引き上げ期間中の算出アーク電圧値Va
(t)が、予め定めた算出アーク電圧判別値Vadよりも小
になる短絡回数N1を計数するか又は予め定めた電圧降
下を含んだ短絡判別電圧値Vfよりも小になる1回の短
絡継続時間Ts(t)を積算した短絡合計時間Tstを算出し
て記憶回路11に記憶する。
いる各時刻tの引き上げ期間中の算出アーク電圧値Va
(t)が、予め定めた算出アーク電圧判別値Vadよりも小
になる短絡回数N1を計数するか又は予め定めた電圧降
下を含んだ短絡判別電圧値Vfよりも小になる1回の短
絡継続時間Ts(t)を積算した短絡合計時間Tstを算出し
て記憶回路11に記憶する。
【0240】計数した短絡回数N1と予め記憶させてい
る予め定めた回数Nrとを比較するか又は短絡合計時間
Tstと予め定めた短絡合計時間Tsrとを比較して記憶回
路11に記憶する。
る予め定めた回数Nrとを比較するか又は短絡合計時間
Tstと予め定めた短絡合計時間Tsrとを比較して記憶回
路11に記憶する。
【0242】また演算処理回路CPUは、入力され、演
算し又は記憶している各ディジタル出力信号Iodを表示
回路12に出力し、又はD/A変換器6によってアナロ
グ出力信号Ioaに変換して電流指令出力回路5に出力す
る。演算処理回路CPUに入力され、演算処理回路CP
Uで演算し又は記憶している各ディジタル出力信号Iod
又はD/A変換器6によって変換されたアナログ出力信
号Ioaは、表示、警報、品質判定、入熱制御等に使用す
る。
算し又は記憶している各ディジタル出力信号Iodを表示
回路12に出力し、又はD/A変換器6によってアナロ
グ出力信号Ioaに変換して電流指令出力回路5に出力す
る。演算処理回路CPUに入力され、演算処理回路CP
Uで演算し又は記憶している各ディジタル出力信号Iod
又はD/A変換器6によって変換されたアナログ出力信
号Ioaは、表示、警報、品質判定、入熱制御等に使用す
る。
【1000】
【発明の効果】本発明の共通の効果は次のとおりであ
る。従来技術の溶接電源装置の出力電力Vd・Io又は
出力端子電圧Vdによって溶接結果を管理する方法は、
2次ケーブルを延長して、電圧降下Vr1が大きくなる
と、アーク電圧値Vaが変化しても、出力端子電圧Vd
の変化が小さくなるので、溶接結果を精度よく判定する
ことができなかったが、請求項1乃至請求項9の構成に
おいては、2次ケーブルを延長して、電圧降下Vr1が大
きくなっても、短絡を検出しているので、溶接結果を精
度よく判定することができる。
る。従来技術の溶接電源装置の出力電力Vd・Io又は
出力端子電圧Vdによって溶接結果を管理する方法は、
2次ケーブルを延長して、電圧降下Vr1が大きくなる
と、アーク電圧値Vaが変化しても、出力端子電圧Vd
の変化が小さくなるので、溶接結果を精度よく判定する
ことができなかったが、請求項1乃至請求項9の構成に
おいては、2次ケーブルを延長して、電圧降下Vr1が大
きくなっても、短絡を検出しているので、溶接結果を精
度よく判定することができる。
【1001】請求項1及び請求項3の構成においては、
図9(B)に示すように、電圧降下Vr1が大になって
も、予め定めた(電圧降下Vr1を含んだ)短絡判別電圧
値を、同図(A)のVfよりも大きい値のVf1を設定し
て短絡の発生を判別することによって品質の低下を判定
する方法であるので、前述した図3の従来技術の溶接電
源装置の出力電力量によって品質の低下を判定する方法
のように、出力検出感度が低下する問題がない。
図9(B)に示すように、電圧降下Vr1が大になって
も、予め定めた(電圧降下Vr1を含んだ)短絡判別電圧
値を、同図(A)のVfよりも大きい値のVf1を設定し
て短絡の発生を判別することによって品質の低下を判定
する方法であるので、前述した図3の従来技術の溶接電
源装置の出力電力量によって品質の低下を判定する方法
のように、出力検出感度が低下する問題がない。
【1002】請求項2及び請求項4の構成においては、
図10(B)に示すように、電圧降下Vr1が大になって
も、予め定めた端子電圧降下判別電圧値Vgを設定すれ
ば、予め定めた溶接電圧平均値V1aから予め定めた端子
電圧降下判別電圧値Vgを減算した算出短絡判別電圧値
(V1a−Vg)を自動的に算出することによって、前述
した図9のように、電圧降下を含んだ短絡判別電圧値V
fの設定を変更することなく、確実に短絡を判別するこ
とによって精度よく品質管理をすることができる。
図10(B)に示すように、電圧降下Vr1が大になって
も、予め定めた端子電圧降下判別電圧値Vgを設定すれ
ば、予め定めた溶接電圧平均値V1aから予め定めた端子
電圧降下判別電圧値Vgを減算した算出短絡判別電圧値
(V1a−Vg)を自動的に算出することによって、前述
した図9のように、電圧降下を含んだ短絡判別電圧値V
fの設定を変更することなく、確実に短絡を判別するこ
とによって精度よく品質管理をすることができる。
【1003】請求項3又は請求項4又は請求項6の構成
においては、短時間の短絡が複数回発生して合計の入熱
が減少したときも、長時間の短絡が1回発生して入熱が
減少したときと同様に品質の低下を判断することができ
る。
においては、短時間の短絡が複数回発生して合計の入熱
が減少したときも、長時間の短絡が1回発生して入熱が
減少したときと同様に品質の低下を判断することができ
る。
【1004】請求項5又は請求項6の構成においては、
出力電流Io又は主アーク電流期間Taの設定値を変化
させないときは、溶接作業者は、2次ケーブルの長さを
延長したときでも、延長2次ケーブルの長さごとに予め
定めた基準にする電圧降下Vrの設定値を、手動で又は
自動的に切り換えるだけでよいので、従来技術では適正
値の把握が非常に困難であった溶接電源装置の出力電力
Vd・Io又は出力端子電圧値Vdの適正値を選定する
必要がない。
出力電流Io又は主アーク電流期間Taの設定値を変化
させないときは、溶接作業者は、2次ケーブルの長さを
延長したときでも、延長2次ケーブルの長さごとに予め
定めた基準にする電圧降下Vrの設定値を、手動で又は
自動的に切り換えるだけでよいので、従来技術では適正
値の把握が非常に困難であった溶接電源装置の出力電力
Vd・Io又は出力端子電圧値Vdの適正値を選定する
必要がない。
【1005】請求項7の構成においては、請求項5又は
請求項6の構成の効果に加えて、溶接作業者が、出力電
流Io又は主アーク電流期間Taの設定値を変化させた
ときであっても、また2次ケーブルを延長したときあっ
ても、基準にするスタッドと同じ溶接電流設定値で判定
したいスタッドを溶接するときは、適切な溶接結果が得
られた基準にするスタッドの適切な溶接電流平均値I1a
を使用して、予め定めた設定値に手動で切り換えること
ができるので、従来技術では適正値の把握が非常に困難
であった溶接電源装置の出力電力Vd・Io又は出力端
子電圧値Vdの適正値を選定する必要がない。
請求項6の構成の効果に加えて、溶接作業者が、出力電
流Io又は主アーク電流期間Taの設定値を変化させた
ときであっても、また2次ケーブルを延長したときあっ
ても、基準にするスタッドと同じ溶接電流設定値で判定
したいスタッドを溶接するときは、適切な溶接結果が得
られた基準にするスタッドの適切な溶接電流平均値I1a
を使用して、予め定めた設定値に手動で切り換えること
ができるので、従来技術では適正値の把握が非常に困難
であった溶接電源装置の出力電力Vd・Io又は出力端
子電圧値Vdの適正値を選定する必要がない。
【1006】請求項8の構成においては、請求項5又は
請求項6の構成の効果に加えて、溶接作業者が、出力電
流Io又は主アーク電流期間Taの設定値を変化させた
ときであっても、また2次ケーブルを延長したときであ
っても、さらに基準にするスタッドと異なる溶接電流設
定値で判定したいスタッドを溶接するときでも、判定し
たいスタッドの溶接電流値I1(t)を使用して、予め定め
た設定値に手動で切り換えることができるので、従来技
術では適正値の把握が非常に困難であった溶接電源装置
の出力電力Vd・Io又は出力端子電圧値Vdの適正値
を選定する必要がない。
請求項6の構成の効果に加えて、溶接作業者が、出力電
流Io又は主アーク電流期間Taの設定値を変化させた
ときであっても、また2次ケーブルを延長したときであ
っても、さらに基準にするスタッドと異なる溶接電流設
定値で判定したいスタッドを溶接するときでも、判定し
たいスタッドの溶接電流値I1(t)を使用して、予め定め
た設定値に手動で切り換えることができるので、従来技
術では適正値の把握が非常に困難であった溶接電源装置
の出力電力Vd・Io又は出力端子電圧値Vdの適正値
を選定する必要がない。
【1007】請求項9の構成においては、請求項8の効
果に加えて、溶接作業者が出力電流Io又は主アーク電
流期間Taの設定値を変化させても、さらに2次ケーブ
ルを延長したときでも、予め定めた設定値に自動的に切
り換えることができるので、従来技術では適正値の把握
が非常に困難であった溶接電源装置の出力電力Vd・I
o又は出力端子電圧値Vdの適正値を把握する必要がな
く、予め定めた設定値の選定を誤ることがない。
果に加えて、溶接作業者が出力電流Io又は主アーク電
流期間Taの設定値を変化させても、さらに2次ケーブ
ルを延長したときでも、予め定めた設定値に自動的に切
り換えることができるので、従来技術では適正値の把握
が非常に困難であった溶接電源装置の出力電力Vd・I
o又は出力端子電圧値Vdの適正値を把握する必要がな
く、予め定めた設定値の選定を誤ることがない。
【図1】図1は、溶接電圧、溶接電流及び主アーク電流
期間を監視する従来方法を実施するスタッド溶接装置の
ブロック図である。
期間を監視する従来方法を実施するスタッド溶接装置の
ブロック図である。
【図2】図2(A)は、スタッド引き上げ期間中に短絡
が発生した場合の出力電流Ioの波形を示す溶接電流波
形図であり、同図(B)は、2次ケーブル及び被溶接材
の抵抗値による電圧降下Vrを有したスタッド引き上げ
期間中に短絡が発生した場合の出力端子電圧Vdの波形
を示す図である。
が発生した場合の出力電流Ioの波形を示す溶接電流波
形図であり、同図(B)は、2次ケーブル及び被溶接材
の抵抗値による電圧降下Vrを有したスタッド引き上げ
期間中に短絡が発生した場合の出力端子電圧Vdの波形
を示す図である。
【図3】図3(A)は、図2の全溶接期間のうちの主ア
−ク電流期間Taだけを抽出した電圧降下Vrが小さい
ときの出力端子電圧Vdの波形を示す図であり、同図
(B)は、図2の全溶接期間のうちの主ア−ク電流期間
Taだけを抽出した電圧降下Vr1が大きいときの出力端
子電圧Vdの波形を示す図である。
−ク電流期間Taだけを抽出した電圧降下Vrが小さい
ときの出力端子電圧Vdの波形を示す図であり、同図
(B)は、図2の全溶接期間のうちの主ア−ク電流期間
Taだけを抽出した電圧降下Vr1が大きいときの出力端
子電圧Vdの波形を示す図である。
【図4】図4(A)は、スタッド引き上げ期間中に短絡
が発生しない場合の出力電流Ioの波形を示す溶接電流
波形図であり、同図(B)は、2次ケーブル及び被溶接
材の抵抗値による電圧降下Vrが小さいときに正常な溶
接が行われた場合の出力端子電圧Vdの波形を示す図で
ある。
が発生しない場合の出力電流Ioの波形を示す溶接電流
波形図であり、同図(B)は、2次ケーブル及び被溶接
材の抵抗値による電圧降下Vrが小さいときに正常な溶
接が行われた場合の出力端子電圧Vdの波形を示す図で
ある。
【図5】図5(A)は、スタッド引き上げ期間中に短絡
が発生しない場合の出力電流Ioの波形を示す溶接電流
波形図であり、同図(B)は、2次ケーブル及び被溶接
材の抵抗値による電圧降下Vrが大きいときに正常な溶
接が行われた場合の出力端子電圧Vdの波形を示す図で
ある。
が発生しない場合の出力電流Ioの波形を示す溶接電流
波形図であり、同図(B)は、2次ケーブル及び被溶接
材の抵抗値による電圧降下Vrが大きいときに正常な溶
接が行われた場合の出力端子電圧Vdの波形を示す図で
ある。
【図6】図6(A)は、出力電流Ioの波形を示す溶接
電流波形図であり、同図(B)は、引き上げ期間中の検
出期間T1の間に、時刻t1sにおいてスタッド18が溶
融プールに1回短絡した場合の出力端子電圧Vdの波形
を示す図である。
電流波形図であり、同図(B)は、引き上げ期間中の検
出期間T1の間に、時刻t1sにおいてスタッド18が溶
融プールに1回短絡した場合の出力端子電圧Vdの波形
を示す図である。
【図7】図7(A)は、出力電流Ioの波形を示す溶接
電流波形図であり、同図(B)は、引き上げ期間中の検
出期間T1の間に、時刻t2s及びt3sにおいてスタッド
18が溶融プールに短絡した場合の出力端子電圧Vdの
波形を示す図である。
電流波形図であり、同図(B)は、引き上げ期間中の検
出期間T1の間に、時刻t2s及びt3sにおいてスタッド
18が溶融プールに短絡した場合の出力端子電圧Vdの
波形を示す図である。
【図8】図8(A)は、出力電流Ioの波形を示す溶接
電流波形図であり、同図(B)は、引き上げ期間中の検
出期間T1の間に、時刻t4s及びt5sにおいてスタッド
18が溶融プールに短絡した場合の出力端子電圧Vdの
波形を示す図である。
電流波形図であり、同図(B)は、引き上げ期間中の検
出期間T1の間に、時刻t4s及びt5sにおいてスタッド
18が溶融プールに短絡した場合の出力端子電圧Vdの
波形を示す図である。
【図9】図9(A)及び(B)は、それぞれ、アーク発
生期間中に繰り返して検出した各時刻tの溶接電圧値V
1(t)が、電圧降下Vr又はVr1を含んだ短絡判別電圧値
Vf又はVf1よりも低下したとき、短絡が発生したと判
別する短絡判別説明図である。
生期間中に繰り返して検出した各時刻tの溶接電圧値V
1(t)が、電圧降下Vr又はVr1を含んだ短絡判別電圧値
Vf又はVf1よりも低下したとき、短絡が発生したと判
別する短絡判別説明図である。
【図10】図10は、アーク発生期間中に繰り返して検
出した各時刻tの溶接電圧値V1(t)が、算出短絡判別電
圧値(V1a−Vg)よりも低下したとき、短絡が発生し
たと判別する短絡判別説明図である。
出した各時刻tの溶接電圧値V1(t)が、算出短絡判別電
圧値(V1a−Vg)よりも低下したとき、短絡が発生し
たと判別する短絡判別説明図である。
【図11】図11は、アーク発生期間中に繰り返して検
出した各時刻tの溶接電圧値V1(t)から基準にする電圧
降下Vrを減算したときにおける各時刻tの引き上げ期
間中の算出アーク電圧値Va(t)が、算出アーク電圧判別
値Vadよりも小になったとき、短絡が発生したと判別す
る短絡判別説明図である。
出した各時刻tの溶接電圧値V1(t)から基準にする電圧
降下Vrを減算したときにおける各時刻tの引き上げ期
間中の算出アーク電圧値Va(t)が、算出アーク電圧判別
値Vadよりも小になったとき、短絡が発生したと判別す
る短絡判別説明図である。
【図12】図12は、判定したいスタッドの算出アーク
電圧値Va 1(t) が、予め定めた算出アーク電圧判別値
Vadよりも小になる短絡を計数した短絡回数N1を、予
め定めた回数Nrと比較するスタッド溶接の引き上げ期
間の短絡を管理する方法のフローチャートである。
電圧値Va 1(t) が、予め定めた算出アーク電圧判別値
Vadよりも小になる短絡を計数した短絡回数N1を、予
め定めた回数Nrと比較するスタッド溶接の引き上げ期
間の短絡を管理する方法のフローチャートである。
【図13】図13は、判定したいスタッドの算出アーク
電圧値Va 1(t) が、予め定めた算出アーク電圧判別値
Vadよりも小になる1回の短絡継続時間Ts(t)を積算し
た短絡合計時間Tstを、予め定めた短絡合計時間Tsrと
比較するスタッド溶接の引き上げ期間の短絡を管理する
方法のフローチャートである。
電圧値Va 1(t) が、予め定めた算出アーク電圧判別値
Vadよりも小になる1回の短絡継続時間Ts(t)を積算し
た短絡合計時間Tstを、予め定めた短絡合計時間Tsrと
比較するスタッド溶接の引き上げ期間の短絡を管理する
方法のフローチャートである。
【図14】図14は、請求項の発明の方法を実施するス
タッド溶接装置の実施例を示す図である。
タッド溶接装置の実施例を示す図である。
1 溶接電源装置 2 溶接ガン 3 溶接制御装置 5 電流指令出力回路 6 D/A変換器 7、8 A/D変換器 11 記憶回路 12 表示回路 13 起動スイッチ 14 被溶接材 15 溶接電流出力回路 16 制御ケーブル 17 2次ケーブル 18 スタッド 30 三相電源 36、44 フィルタ回路 37、45 増幅回路 39 基準溶接電圧設定回路 40 比較器 41 警報器 42、43 溶接電源装置1の出力端子の「+」端子と
被溶接材14とを接続する接続線 CPU 演算処理回路 I1a 短絡が発生しないときの引き上げ期間の溶接電
流平均値/基準にする引き上げ期間中の溶接電流平均値 I2a 押し込み期間の短絡電流通電中に検出した溶接
電流平均値 I1(t) 各時刻tの引き上げ期間中の溶接電流(値) I2(t) 各時刻tの押し込み中の溶接電流(値) Ia 主ア−ク電流 IC 溶接電流検出回路 Ic 溶接電流検出信号 Io 出力電流(値) Ip パイロット電流 Is 短絡電流 N1 Va(t)<Vfとなる短絡回数N1 Nr Va(t)<Vfとなる予め定めた短絡回数Nr Pd 電圧降下がVrのときの引き上げ期間中の(溶
接電源装置の)電力量 Pd=Vd・Io・Ta=(Va+Vr)・Io・Ta Pd1 電圧降下がVr1のときの引き上げ期間中の(溶
接電源装置の)電力量 Pd1=Vd1・Io・Ta=(Va+Vr1)・Io・Ta Pr 予め定めた(溶接電源装置の)必要電力量 Q1a 引き上げ期間中の入熱Q1a=Va・Io・Ta Qr 予め定めた必要入熱 R(t) 各時刻tの抵抗値R(t) Rav 溶接電圧平均値V2aを溶接電流平均値I2aで除
算した抵抗値/基準にする抵抗値Rav=V2a/I2a Rav1 溶接電圧平均値V2bを溶接電流平均値I2bで除
算した抵抗値/判定の抵抗値 T1 引き上げ期間中の検出期間 T2 押し込み中の検出期間 t0 パイロット電流通電開始時点 t1 主ア−ク電流通電開始時点 t1s、t2s、、t3s、t4s、t5s (短絡が発生し
た)時刻 t11 ア−ク発生期間中の溶接電圧検出開始時点 t12 ア−ク発生期間中の溶接電圧検出終了時点 t21 短絡中の溶接電圧検出開始時点 t22 短絡中の溶接電圧検出終了時点 Ta 主ア−ク電流期間 Tp パイロット電流期間 Ts 押し込み期間中の短絡電流通電期間 Ts1、Ts2、Ts3、Ts4、Ts5 引き上げ期間中の短
絡継続時間 Tsr 予め定めた短絡合計時間Tsr Ts(t) Va(t)<Vfとなる1回の短絡継続時間 Tst Ts(t)を積算した短絡合計時間 V11 電圧降下Vrを含んだアーク発生期間中の短絡
が発生していないときの溶接電圧平均値 V12 電圧降下Vr1を含んだアーク発生期間中の短絡
が発生していないときの溶接電圧平均値 V1(t) 各時刻tの引き上げ期間中の溶接電圧(値) V2(t) 各時刻tの押し込み中の溶接電圧(値) V1a 短絡が発生しないときの引き上げ期間中の溶接
電圧平均値(正の検出期間T1の溶接電圧平均値)/ス
タッド近傍のアーク電圧特性 V1a、V1b 短絡が発生するときの引き上げ期間中の
検出期間T1の溶接電圧平均値 V2a (基準にする)押し込み中の溶接電圧平均値
(正常動作時の検出期間T2の溶接電圧平均値) Va アーク電圧値 Va1、Va2、Va3 短絡発生時の低下アーク電圧値 Vad 算出アーク電圧判別値 Va(t) 各時刻tの引き上げ期間中の算出アーク電圧値
/Va(t)=V1(t)−Rav・1(t)=V1(t)−Vr V1b アーク発生中に短絡が発生したときの平均ア−
ク電圧 VC 溶接電圧検出回路 Vc 溶接電圧検出信号 Vd 出力端子電圧(値)/溶接電圧平均値 Vd1、Vd2、Vd3、Vd4、Vd5、Vd6 アーク発生中
に短絡が発生したときの出力端子電圧(値) Vf 予め定めた電圧降下Vrを含んだ短絡判別電圧
値 Vf1 予め定めた電圧降下Vr1を含んだ短絡判別電圧
値 Vg 予め定めた端子電圧降下判別電圧値 (V1a−Vg) 算出短絡判別電圧値 Vh1、Vh2 アーク発生期間中の短絡が発生していな
いときの出力端子電圧 Vr アーク発生中に検出した溶接電流平均値I1aと
抵抗値Ravとの積の電圧降下/基準にする電圧降下/ケ
ーブルが短いときの2次ケーブルの電圧降下 Vr1 アーク発生中に検出した溶接電流平均値I1bと
抵抗値Rav1との積の電圧降下/判定したい電圧降下/
ケーブルが長いときの2次ケーブルの電圧降下 Vrt 各時刻tの電圧降下Vrt=Rav・I1(t)
被溶接材14とを接続する接続線 CPU 演算処理回路 I1a 短絡が発生しないときの引き上げ期間の溶接電
流平均値/基準にする引き上げ期間中の溶接電流平均値 I2a 押し込み期間の短絡電流通電中に検出した溶接
電流平均値 I1(t) 各時刻tの引き上げ期間中の溶接電流(値) I2(t) 各時刻tの押し込み中の溶接電流(値) Ia 主ア−ク電流 IC 溶接電流検出回路 Ic 溶接電流検出信号 Io 出力電流(値) Ip パイロット電流 Is 短絡電流 N1 Va(t)<Vfとなる短絡回数N1 Nr Va(t)<Vfとなる予め定めた短絡回数Nr Pd 電圧降下がVrのときの引き上げ期間中の(溶
接電源装置の)電力量 Pd=Vd・Io・Ta=(Va+Vr)・Io・Ta Pd1 電圧降下がVr1のときの引き上げ期間中の(溶
接電源装置の)電力量 Pd1=Vd1・Io・Ta=(Va+Vr1)・Io・Ta Pr 予め定めた(溶接電源装置の)必要電力量 Q1a 引き上げ期間中の入熱Q1a=Va・Io・Ta Qr 予め定めた必要入熱 R(t) 各時刻tの抵抗値R(t) Rav 溶接電圧平均値V2aを溶接電流平均値I2aで除
算した抵抗値/基準にする抵抗値Rav=V2a/I2a Rav1 溶接電圧平均値V2bを溶接電流平均値I2bで除
算した抵抗値/判定の抵抗値 T1 引き上げ期間中の検出期間 T2 押し込み中の検出期間 t0 パイロット電流通電開始時点 t1 主ア−ク電流通電開始時点 t1s、t2s、、t3s、t4s、t5s (短絡が発生し
た)時刻 t11 ア−ク発生期間中の溶接電圧検出開始時点 t12 ア−ク発生期間中の溶接電圧検出終了時点 t21 短絡中の溶接電圧検出開始時点 t22 短絡中の溶接電圧検出終了時点 Ta 主ア−ク電流期間 Tp パイロット電流期間 Ts 押し込み期間中の短絡電流通電期間 Ts1、Ts2、Ts3、Ts4、Ts5 引き上げ期間中の短
絡継続時間 Tsr 予め定めた短絡合計時間Tsr Ts(t) Va(t)<Vfとなる1回の短絡継続時間 Tst Ts(t)を積算した短絡合計時間 V11 電圧降下Vrを含んだアーク発生期間中の短絡
が発生していないときの溶接電圧平均値 V12 電圧降下Vr1を含んだアーク発生期間中の短絡
が発生していないときの溶接電圧平均値 V1(t) 各時刻tの引き上げ期間中の溶接電圧(値) V2(t) 各時刻tの押し込み中の溶接電圧(値) V1a 短絡が発生しないときの引き上げ期間中の溶接
電圧平均値(正の検出期間T1の溶接電圧平均値)/ス
タッド近傍のアーク電圧特性 V1a、V1b 短絡が発生するときの引き上げ期間中の
検出期間T1の溶接電圧平均値 V2a (基準にする)押し込み中の溶接電圧平均値
(正常動作時の検出期間T2の溶接電圧平均値) Va アーク電圧値 Va1、Va2、Va3 短絡発生時の低下アーク電圧値 Vad 算出アーク電圧判別値 Va(t) 各時刻tの引き上げ期間中の算出アーク電圧値
/Va(t)=V1(t)−Rav・1(t)=V1(t)−Vr V1b アーク発生中に短絡が発生したときの平均ア−
ク電圧 VC 溶接電圧検出回路 Vc 溶接電圧検出信号 Vd 出力端子電圧(値)/溶接電圧平均値 Vd1、Vd2、Vd3、Vd4、Vd5、Vd6 アーク発生中
に短絡が発生したときの出力端子電圧(値) Vf 予め定めた電圧降下Vrを含んだ短絡判別電圧
値 Vf1 予め定めた電圧降下Vr1を含んだ短絡判別電圧
値 Vg 予め定めた端子電圧降下判別電圧値 (V1a−Vg) 算出短絡判別電圧値 Vh1、Vh2 アーク発生期間中の短絡が発生していな
いときの出力端子電圧 Vr アーク発生中に検出した溶接電流平均値I1aと
抵抗値Ravとの積の電圧降下/基準にする電圧降下/ケ
ーブルが短いときの2次ケーブルの電圧降下 Vr1 アーク発生中に検出した溶接電流平均値I1bと
抵抗値Rav1との積の電圧降下/判定したい電圧降下/
ケーブルが長いときの2次ケーブルの電圧降下 Vrt 各時刻tの電圧降下Vrt=Rav・I1(t)
Claims (9)
- 【請求項1】 スタッド溶接の入熱管理方法において、
判定したいスタッドを被溶接材から引き上げてアーク発
生期間中に繰り返して検出した各時刻の溶接電圧値が、
電圧降下を含んだ短絡判別電圧値よりも低下する短絡回
数を計数して、予め定めた回数と比較するスタッド溶接
の引き上げ期間短絡管理方法。 - 【請求項2】 請求項2の方法は、スタッド溶接の入熱
管理方法において、基準にするスタッドを被溶接材から
引き上げてアーク発生期間中に溶接電圧平均値を検出
し、次に判定したいスタッドを被溶接材から引き上げて
アーク発生期間中に繰り返して検出した各時刻の溶接電
圧値が、前記溶接電圧平均値から予め定めた端子電圧降
下判別電圧値を減算した算出短絡判別電圧値よりも低下
する短絡回数を計数して、予め定めた回数と比較するス
タッド溶接の引き上げ期間短絡管理方法。 - 【請求項3】 スタッド溶接の入熱管理方法において、
判定したいスタッドを被溶接材から引き上げてアーク発
生期間中に繰り返して検出した各時刻の溶接電圧値が、
電圧降下を含んだ短絡判別電圧値よりも低下する1回の
短絡継続時間を積算した短絡合計時間を算出して、予め
定めた短絡合計時間と比較するスタッド溶接の引き上げ
期間短絡管理方法。 - 【請求項4】 スタッド溶接の入熱管理方法において、
基準にするスタッドを被溶接材から引き上げてアーク発
生期間中に溶接電圧平均値を検出し、次に判定したいス
タッドを被溶接材から引き上げてアーク発生期間中に繰
り返して検出した各時刻の溶接電圧値が、前記溶接電圧
平均値から予め定めた端子電圧降下判別電圧値を減算し
た算出短絡判別電圧値よりも低下する1回の短絡継続時
間を積算した短絡合計時間を算出して、予め定めた短絡
合計時間と比較するスタッド溶接の引き上げ期間中の短
絡管理方法。 - 【請求項5】 スタッド溶接の入熱管理方法において、
判定したいスタッドを被溶接材から引き上げてアーク発
生中の各時刻の溶接電圧値を繰り返して検出し、前記各
時刻の溶接電圧値から基準にする電圧降下を減算したと
きにおける各時刻の引き上げ期間中の算出アーク電圧値
が、予め定めた算出アーク電圧判別値よりも小になる短
絡回数を計数して、予め定めた回数と比較するスタッド
溶接の引き上げ期間短絡管理方法。 - 【請求項6】 スタッド溶接の入熱管理方法において、
判定したいスタッドを被溶接材から引き上げてアーク発
生中の各時刻の溶接電圧値を繰り返して検出し、前記各
時刻の溶接電圧値から基準にする電圧降下を減算したと
きにおける各時刻の引き上げ期間中の算出アーク電圧値
が、予め定めた算出アーク電圧判別値よりも小になる1
回の短絡継続時間を積算した短絡合計時間を算出して、
予め定めた短絡合計時間と比較するスタッド溶接の引き
上げ期間短絡管理方法。 - 【請求項7】 スタッド溶接の入熱管理方法において、
請求項5又は請求項6の方法の基準にする電圧降下が、
基準にするスタッドを被溶接材から引き上げてアーク発
生期間中に溶接電流平均値を検出しておき、判定したい
スタッドの各時刻の引き上げ期間中の溶接電圧値から基
準にする抵抗値と前記溶接電流平均値との積を減算した
ときにおける各時刻の電圧降下であるスタッド溶接の引
き上げ期間短絡管理方法。 - 【請求項8】 スタッド溶接の入熱管理方法において、
請求項5又は請求項6の方法の基準にする電圧降下が、
判定したいスタッドの各時刻の引き上げ期間中の溶接電
圧値から基準にする抵抗値と各時刻の引き上げ期間中の
溶接電流値との積を減算したときにおける各時刻の電圧
降下であるスタッド溶接の引き上げ期間短絡管理方法。 - 【請求項9】 スタッド溶接の入熱管理方法において、
請求項7又は請求項8の方法の基準にする抵抗値が、基
準にするスタッドを被溶接材から引き上げてアークを発
生し、次にスタッドを被溶接材に押し込んで短絡させて
短絡電流通電中に溶接電圧平均値と溶接電流平均値とを
検出した後で、前記短絡電流通電中に検出した溶接電圧
平均値を前記溶接電流平均値で除算した抵抗値であるス
タッド溶接の引き上げ期間中の短絡管理方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19064397A JPH1119773A (ja) | 1997-06-30 | 1997-06-30 | スタッド溶接の引き上げ期間短絡管理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19064397A JPH1119773A (ja) | 1997-06-30 | 1997-06-30 | スタッド溶接の引き上げ期間短絡管理方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1119773A true JPH1119773A (ja) | 1999-01-26 |
Family
ID=16261497
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19064397A Pending JPH1119773A (ja) | 1997-06-30 | 1997-06-30 | スタッド溶接の引き上げ期間短絡管理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1119773A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006198674A (ja) * | 2005-01-24 | 2006-08-03 | Toyota Motor Corp | 溶接監視装置と溶接監視方法 |
| JP2009045662A (ja) * | 2007-08-22 | 2009-03-05 | Daihen Corp | 溶接電源 |
| JP2015100795A (ja) * | 2013-11-21 | 2015-06-04 | 株式会社大谷工業 | スタッド溶接のモニタリング方法 |
| CN114364480A (zh) * | 2019-09-04 | 2022-04-15 | 松下知识产权经营株式会社 | 焊接机以及具备其的焊接系统 |
| CN115365622A (zh) * | 2021-05-18 | 2022-11-22 | 丰田自动车株式会社 | 电弧螺柱焊接装置及电弧螺柱焊接方法 |
-
1997
- 1997-06-30 JP JP19064397A patent/JPH1119773A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006198674A (ja) * | 2005-01-24 | 2006-08-03 | Toyota Motor Corp | 溶接監視装置と溶接監視方法 |
| JP2009045662A (ja) * | 2007-08-22 | 2009-03-05 | Daihen Corp | 溶接電源 |
| JP2015100795A (ja) * | 2013-11-21 | 2015-06-04 | 株式会社大谷工業 | スタッド溶接のモニタリング方法 |
| CN114364480A (zh) * | 2019-09-04 | 2022-04-15 | 松下知识产权经营株式会社 | 焊接机以及具备其的焊接系统 |
| CN115365622A (zh) * | 2021-05-18 | 2022-11-22 | 丰田自动车株式会社 | 电弧螺柱焊接装置及电弧螺柱焊接方法 |
| CN115365622B (zh) * | 2021-05-18 | 2024-04-30 | 丰田自动车株式会社 | 电弧螺柱焊接装置 |
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