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JP6372361B2 - 複合センサ - Google Patents

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Description

本発明は、検出対象の異なる第1、第2センサが共通の被搭載部材に搭載された複合センサに関するものである。
従来より、この種の複合センサとして、例えば、特許文献1に、加速度に応じたセンサ信号を出力する加速度センサと角速度に応じたセンサ信号を出力する角速度センサとを共通の被搭載部材の一面に搭載したものが提案されている。具体的には、この複合センサでは、加速度センサおよび角速度センサは、共に被搭載部材の一面に導電性部材等で構成される接続部材を介して接続されている。そして、角速度センサと被搭載部材の一面とを接続する接続部材の高さが加速度センサと被搭載部材の一面とを接続する接続部材の高さより高くされている。なお、角速度センサは、例えば、圧電体の圧電効果を利用した圧電式のものとされ、駆動振動片を振動させた状態で角速度が印加されると、角速度に応じたセンサ信号(電荷)を出力する。
これによれば、角速度センサと被搭載部材とを接続する接続部材の高さを加速度センサと被搭載部材とを接続する接続部材の高さよりも高くしているため、角速度センサの振動が加速度センサに伝達されることを抑制できる。このため、角速度センサの振動が加速度センサに対するノイズとなることを抑制できる。
特開2014−13207号公報
しかしながら、上記特許文献1の複合センサでは、角速度センサの振動が加速度センサに対するノイズとなることを抑制できるものの、加速度センサおよび角速度センサの配置関係に関しては考慮されておらず、電気的なノイズによって検出精度が低下することがある。
例えば、容量式の加速度センサは、可動電極と当該可動電極と対向する固定電極を有し、可動電極および固定電極の一方の電極に所定の振幅、周波数を有する入力信号(搬送波)が印加され、他方の電極に発生する電荷(センサ信号)に基づいて加速度の検出が行われる。また、圧電式の角速度センサは、駆動振動片と検出振動片とを有し、駆動振動片に所定の振幅、周波数を有する入力信号(搬送波)が印加され、検出振動片に発生する電荷(センサ信号)に基づいて角速度の検出が行われる。
この場合、加速度センサの他方の電極に発生した電荷や角速度センサの検出振動片に発生した電荷は、外部からの干渉を受け易く、加速度センサおよび角速度センサに入力される入力信号はノイズ源となり易い。このため、加速度センサの入力信号が入力される部分と、角速度センサのセンサ信号が出力される部分が近接して配置されていたり、加速度センサのセンサ信号が出力される部分と角速度センサの入力信号が入力される部分とが近接して配置されていたりすると、入力信号によって検出精度が低下することがある。
本発明は上記点に鑑みて、電気的なノイズによって検出精度が低下することを抑制できる複合センサを提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、請求項1に記載の発明では、検出対象に応じた第1センサ信号を出力する第1センサ(100)と、第1センサの検出対象と異なる検出対象に応じた第2センサ信号を出力する第2センサ(200)と、第1、第2センサと電気的に接続される回路基板(300)と、一面(33a)を有し、一面上に第1、第2センサおよび回路基板が配置される被搭載部材(10)と、を有し、第1、第2センサは、所定の振幅および周波数を有する入力信号が入力されるための入力端子(161、244a)および第1、第2センサ信号を出力するための出力端子(162、163、241a〜243a)をそれぞれ有する複合センサにおいて、以下の点を特徴としている。
すなわち、一面に対する法線方向から視たとき、第1、第2センサは、並べて配置されており、第1、第2センサの配列方向に沿った方向であって、第1、第2センサの中心を通る直線を仮想線(K)としたとき、入力端子が仮想線に対して分割される一方の同じ領域側に位置し、出力端子が仮想線に対して分割される他方の同じ領域側に位置していることを特徴としている。
これによれば、加速度センサおよび角速度センサは、所定の振幅および周波数を有する入力信号が入力される入力端子と、センサ信号を出力する出力端子とがそれぞれ同じ側に配置されている。言い換えると、ノイズ源となる入力信号が入力される入力端子と、ノイズの影響を受け易いセンサ信号が出力される出力端子とがそれぞれ同じ側に配置されている。つまり、ノイズ源となる入力信号が入力される入力端子と、ノイズの影響を受け易いセンサ信号が出力される出力端子とが離間して配置されている。このため、入力端子に入力される入力信号が出力端子から出力されるセンサ信号に影響することを抑制でき、検出精度が低下することを抑制できる。
なお、この欄および特許請求の範囲で記載した各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものである。
本発明の第1実施形態における複合センサの平面図である。 図1に示すII−II線に沿った断面図である。 図1に示すIII−III線に沿った断面図である。 加速度センサにおけるセンサ部の平面図である。 図4中のV−V線に沿った断面図である。 角速度センサにおけるセンサ部の平面図である。 角速度センサにおける支持部の平面図である。 図7中のVIII−VIII線に沿った断面図である。 本発明の第2実施形態における複合センサの平面図である。 本発明の第3実施形態における複合センサの平面図である。 本発明の第4実施形態における複合センサの平面図である。
以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。なお、以下の各実施形態相互において、互いに同一もしくは均等である部分には、同一符号を付して説明を行う。
(第1実施形態)
本発明の第1実施形態について図面を参照しつつ説明する。本実施形態では、図1〜図3に示されるように、複合センサは、被搭載部材としてのパッケージ10に、加速度センサ100、角速度センサ200、加速度センサ100および角速度センサ200に対して所定の処理を行う回路基板300が搭載されて構成されている。なお、本実施形態では、加速度センサ100が本発明の第1センサに相当し、角速度センサ200が本発明の第2センサに相当している。また、図1では、後述するリッド60を省略して示してある。
まず、本実施形態の加速度センサ100の構成について説明する。本実施形態の加速度センサ100は、いわゆる容量式のものであり、本発明の第1センサ信号を出力するものである。本実施形態では、加速度センサ100は、図4および図5に示されるように、支持基板111上に絶縁膜112を介して半導体層113が積層され、平面形状が矩形状とされたSOI(Silicon on Insulator)基板114を用いて構成されている。なお、支持基板111は、例えば、シリコン基板等が用いられ、絶縁膜112はSiOやSiN等が用いられ、半導体層113はシリコン基板やポリシリコン等が用いられる。
そして、SOI基板214には、周知のマイクロマシン加工が施されてセンシング部115が形成されている。具体的には、半導体層113には、溝部116が形成されることによって櫛歯形状の梁構造体を有する可動部120および第1、第2固定部130、140が形成されており、この梁構造体によって加速度に応じたセンサ信号を出力するセンシング部115が形成されている。なお、半導体層113のうちの溝部116を介して可動部120、および第1、第2固定部130、140を取り囲む部分は周辺部150とされている。
絶縁膜112には、梁構造体120〜140の形成領域に対応した部位に開口部117が形成されている。これにより、半導体層113のうち可動部120および第1、第2固定部130、140の所定領域が支持基板111からリリースされた状態となっている。
可動部120は、開口部117を横断するように配置されており、矩形状の錘部121における長手方向の両端が梁部122を介してアンカー部123a、123bに一体に連結された構成とされている。アンカー部123a、123bは、開口部117の開口縁部で絶縁膜112を介して支持基板111に支持されている。これにより、錘部121および梁部122は、開口部117に臨んだ状態となっている。
梁部122は、平行な2本の梁がその両端で連結された矩形枠状とされており、2本の梁の長手方向と直交する方向に変位するバネ機能を有している。具体的には、梁部122は、錘部121の長手方向に沿った方向の成分を含む加速度を受けたとき、錘部121を長手方向へ変位させると共に、加速度の消失に応じて元の状態に復元させるようになっている。したがって、このような梁部122を介して支持基板111に連結された錘部121は、加速度が印加されると梁部122の変位方向へ変位する。
また、可動部120は、錘部121の長手方向と直交した方向に、錘部121の両側面から互いに反対方向へ一体的に突出形成された複数個の可動電極124を備えている。図4では、可動電極124は、錘部121の左側および右側に各々6個ずつ突出して形成されており、開口部117に臨んだ状態となっている。また、各可動電極124は、錘部121および梁部122と一体的に形成されており、梁部122が変位することによって錘部121と共に錘部121の長手方向に変位可能となっている。
第1、第2固定部130、140は、開口部117の開口縁部のうちのアンカー部123a、123bが支持されていない対向辺部において、絶縁膜112を介して支持基板111に支持されている。すなわち、第1、第2固定部130、140は、可動部120を挟むように配置されている。図4では、第1固定部130が可動部120に対して紙面左側に配置され、第2固定部140が可動部120に対して紙面右側に配置されている。そして、第1、第2固定部130、140は互いに電気的に独立している。
また、第1、第2固定部130、140は、可動電極124の側面と所定の検出間隔を有するように平行した状態で対向配置された複数個の第1、第2固定電極131、141と、絶縁膜112を介して支持基板111に支持された第1、第2配線部132、142とを有している。
本実施形態では、第1、第2固定電極131、141は、図4に示されるように6個ずつ形成されており、可動電極124における櫛歯の隙間に噛み合うように櫛歯状に配列されている。そして、各配線部132、142に片持ち状に支持されることにより、開口部117に臨んだ状態となっている。
また、可動部120および第1、第2固定部130、140には、後述する回路基板300に形成されたパッド301と電気的に接続される可動電極用パッド161、第1、第2固定電極用パッド162、163が形成されている。具体的には、可動電極用パッド161および第1、第2固定電極用パッド162、163は、それぞれの形成領域が反対側となるように配置されている。詳述すると、可動電極用パッド161は、SOI基板114(半導体層113)における相対する1組の一辺のうちの一方の一辺(図4中紙面上側の一辺)の近傍に位置するアンカー部123aに形成され、第1、第2固定電極用パッド162、163は、他方の一辺(図4中紙面下側の一辺)の近傍に位置する第1、第2配線部132、142の所定箇所に形成されている。
さらに、本実施形態では、周辺部150の所定箇所に後述する回路基板300に形成されたパッド301と電気的に接続される周辺部用パッド164が形成されている。
以上が本実施形態における加速度センサ100の構成である。次に、上記加速度センサ100の作動について説明する。上記加速度センサ100は、図4中のコンデンサ記号で示されるように、可動電極124と第1固定電極131との間に第1容量Cs1が構成され、可動電極124と第2固定電極141との間に第2容量Cs2が構成される。そして、加速度を検出する際、可動電極124(可動電極用パッド161)に回路基板300から所定の振幅、周波数を有するパルス状の入力信号(搬送波)が印加される。そして、錘部121の長手方向(可動電極124および第1、第2固定電極131、141の配列方向)に沿った方向の加速度が印加されると、可動電極124の変位に伴って第1、第2容量Cs1、Cs2が変化する。したがって、第1、第2容量Cs1、Cs2の差(第1、第2固定電極用パッド162、163の電位)に基づいて加速度が検出される。
つまり、本実施形態では、可動電極用パッド161が本発明の入力端子に相当すると共に第1、第2固定電極用パッド162、163が本発明の出力端子に相当している。以下では、可動電極用パッド161を加速度センサ100の入力端子161とし、第1、第2固定電極用パッド162、163を加速度センサ100の出力端子162、163として説明する。なお、周辺部用パッド164には、支持基板111や周辺部150の電位が変動することが抑制されるように、一定の電位が印加される。
次に、角速度センサ200の構成について説明する。本実施形態の角速度センサ200は、いわゆる圧電式のものであり、角速度に応じた本発明の第2センサ信号を出力するものである。角速度センサ200は、図6に示されるセンサ部210と、図7および図8に示され、センサ部210を支持する支持部220とによって構成されている。
まず、センサ部210の構成について説明する。センサ部210は、図6に示されるように、圧電材料としての水晶等の基板211に周知のマイクロマシン加工が施されて構成されている。図6中では、x軸方向を図6中紙面左右方向とし、y軸方向を基板211の面方向においてx軸方向と直交する方向とし、z軸方向をx軸方向およびy軸方向と直交する方向としている。
センサ部210は、基板211を構成する水晶の結晶軸に合わせてxy平面に形成され、中心に対して点対称の形状とされている。具体的には、センサ部210は、矩形状の基部212を有している。そして、基部212には、xz平面に平行な2つの端面の略中央部からそれぞれy軸方向に沿って延設された第1、第2連結部213a、213bと、yz平面に平行な2つの端面の略中央部からそれぞれx軸方向に沿って延設された第1、第2検出振動片214a、214bが備えられている。なお、第1、第2連結部213a、213bはそれぞれ基部212に対して反対方向となるようにy軸方向に沿って延設されている。また、第1、第2検出振動片214a、214bは、それぞれ基部212に対して反対方向となるようにx軸方向に沿って延設されている。
第1、第2連結部213a、213bには、基部212側と反対側の先端部に、それぞれ第1、第2駆動振動片215a、215bがx軸方向に沿うように備えられている。なお、第1、第2駆動振動片215a、215bは、延設方向の略中央部にてそれぞれ第1、第2連結部213a、213bと連結されている。
また、第1、第2検出振動片214a、214bおよび第1、第2駆動振動片215a、215bには、それぞれ図示しない電極が形成されている。具体的には、第1、第2検出振動片214a、214bには、それぞれ図示しない第1、第2検出電極が形成されている。第1、第2駆動振動片215a、215bには、それぞれ図示しない第1、第2駆電極が形成されている。
さらに、基部212には、支持部220にて支持される側の面に図示しない6つのランド(電極パターン)が形成されている。具体的には、基部212には、第1検出振動片214aに形成された第1検出電極と接続される第1検出ランド、第2検出振動片214bに形成された第2検出電極と接続される第2検出ランドが形成されている。また、第1駆動振動片215aに形成された第1駆動電極と接続される第1駆動ランド、第2駆動振動片215bに形成された第2駆動電極と接続される第2駆動ランドが形成されている。さらに、第1、第2検出ランドおよび第1、第2駆動ランドの間に配置され、グランド電位が印加されることによって第1、第2検出ランドおよび第1、第2駆動ランドの間に発生する浮遊容量を減少させる第1、第2グランドランドが形成されている。そして、これら第1、第2検出ランド、第1、第2駆動ランド、第1、第2グランドランドは、支持部220の後述する第1〜第6リード241〜246を介して回路基板300と電気的に接続されている。
以上が本実施形態における角速度センサ200のセンサ部210の構成である。次に、支持部220について説明する。
支持部220は、図7および図8に示されるように、ポリイミド樹脂等で形成された絶縁部材230に銅箔等で形成された第1〜第6リード241〜246が備えられたいわゆるTAB(Tape Automated Bonding)テープである。具体的には、絶縁部材230は、平面形状が略矩形状とされており、略中央部にデバイスホール231が形成されている。第1〜第6リード241〜246は、一端部241a〜246aが絶縁部材230の裏面230b側におけるデバイスホール231の周辺に配置され、他端部241b〜246bがデバイスホール231内から絶縁部材230の表面230a側に突出するように折り曲げられている。
そして、第1〜第6リード241〜246は、一端部241a〜246aが後述するケース20に形成された接続端子41〜46と電気的に接続される。また、第1、第2リード241、242は、他端部がそれぞれ第1、第2検出ランドと接続されている。第3、第4リード243、244は、他端部がそれぞれ第1、第2駆動ランドと接続されている。第5、第6リード245、246は、他端部がそれぞれ第1、第2グランドランドと接続されている。これにより、センサ部210が絶縁部材230から離間した状態で保持される。
ここで、第1〜第6リード241〜246の一端部241a〜246aの配置関係について説明する。本実施形態では、図7に示されるように、第1〜第3リード241〜243の一端部241a〜243aと第4〜第6リード244〜246の一端部244a〜246aとは、絶縁部材230の表面230aに対する法線方向から視たとき、反対側の端部に形成されている。
具体的には、第1〜第3リード241〜243の一端部241a〜243aは、絶縁部材230における相対する1組の一辺のうちの一方の一辺(図7中紙面上側の一辺)の近傍に配置され、第4〜第6リード244〜246の一端部244a〜246aは、他方の一辺(図8中紙面上側の一辺)の近傍に配置されている。言い換えると、第1〜第3リード241〜243の一端部241a〜246aと第4〜第6リード244〜246の一端部244a〜246aとは、デバイスホール231を挟んだ2つの領域に配置されているともいえる。
以上が本実施形態における角速度センサ200の構成である。なお、図1では、支持部220における絶縁部材230を省略して示してある。
次に、上記角速度センサ200の作動について説明する。上記角速度センサ200は、角速度を検出する際、第2駆動振動片215b(第4リード244の一端部244a)に所定の振幅、周波数を有するパルス状の入力信号(搬送波)が印加される。これにより、第1、第2駆動振動片215a、215bが図6中のy軸方向に沿って逆向きに駆動振動する。つまり、第1、第2駆動振動片215a、215bが互いに開閉するように駆動振動する。
なお、角速度が印加されていない状態では、第1、第2検出振動片214a、214bに第1、第2駆動振動片215a、215bから印加されるモーメントは逆向きであって相殺されるため、第1、第2検出振動片214a、214bはほぼ静止した状態となる。また、本実施形態では、第2駆動振動片215b(第4リード244の一端部244a)に入力される入力信号は、加速度センサ100に入力される入力信号と5次高調波以上まで結びつかない周波数とされ、互いの入力信号が共振し難くなるようにされている。
そして、第1駆動振動片215a(第3リード243の一端部243a)に発生した電荷が回路基板300に出力されると、回路基板300に形成されたチャージアンプや同期検波回路によって第2駆動振動片215bに入力される入力信号が調整される。つまり、第2駆動振動片215bと接続される第4リード244は入力信号が入力される入力部となり、第4リード244の一端部244aは入力端子となる。また、第1駆動振動片215aと接続される第3リード243は回路基板300に電荷を出力する出力部となり、第3リード243の一端部243aは出力端子となる。以下では、第3リード243の一端部243aを出力端子243aとし、第4リード244の一端部244aを入力端子として説明する。
そして、この状態において、z軸方向周りに角速度ωが印加されると、コリオリ力によって第1、第2駆動振動片215a、215bはx軸方向に逆向きに振動する。これにより、第1、第2検出振動片214a、214bは、z軸方向を軸とする周方向反対向きの振動を行う。そして、第1、第2検出振動片214a、214bに形成された図示しない第1、第2検出電極(第1、第2リード241の一端部241a、242a)に振動に応じた電荷が発生し、当該電荷が回路基板300に出力されることによって角速度の検出が行われる。つまり、第1、第2検出振動片214a、214bと接続される第1、第2リード241、242の一端部241a、242aは出力端子となる。以下では、第1、第2リード241、242の一端部241a、242aを出力端子241a、242aとして説明する。
回路基板300は、加速度センサ100および角速度センサ200に対して所定の処理を行う増幅回路、チャージアンプ、同期検波回路、コンパレータ等の各種回路が形成されたものであり、図1に示されるように、複数のパッド301を有している。なお、本実施形態では、回路基板300は、加速度センサ100の出力端子162、163および角速度センサ200の出力端子241a、242aから出力された信号に基づいたアナログ信号を外部回路に出力するようになっている。
次に、パッケージ10の構造について説明する。
パッケージ10は、図2、図3に示されるように、ケース20とリッド60とを有する構成とされている。ケース20は、アルミナ等のセラミック層が複数積層された積層基板を用いて構成されており、一面20aに凹部30が形成された箱形状とされている。本実施形態では、凹部30は、第1凹部31、第1凹部31の底面に形成された第2凹部32、第2凹部32の底面に形成された第3凹部33によって構成されている。そして、ケース20には、図1、図3に示されるように、第1凹部31の底面に第1〜第6接続端子41〜46が設けられている。また、第2凹部32の底面には、図1、図2に示されるように、複数の接続端子51が形成されている。そして、ケース20の内部および第1〜第3凹部31〜33の壁面等に形成された図示しない配線層を介して第1〜第6接続端子41〜46と複数の接続端子51とは適宜電気的に接続されている。
また、ケース20の外部には、複数の接続端子51と図示しない配線層を介して接続される外部接続端子が形成されており、これにより外部回路との接続が図れるようになっている。
リッド60は、金属等を用いて構成されており、ケース20の一面20aと溶接等されて接合されている。これにより、ケース20が閉塞され、ケース20内が気密封止されている。本実施形態では、ケース20内は、真空圧とされている。
そして、このようなパッケージ10に、上記加速度センサ100、角速度センサ200、回路基板300が収容されている。具体的には、図1〜図3に示されるように、第3凹部33の底面33aに、接着剤71を介して回路基板300が搭載されている。そして、加速度センサ100および角速度センサ200は、第3凹部33の底面33aに対する法線方向(以下では、単に法線方向という)から視たとき、回路基板300上(ケース20内)に並べて配置されている。詳述すると、加速度センサ100は、図1および図2に示されるように、回路基板300上に接着剤72を介して搭載され、入力端子161および出力端子162、163、周辺部用パッド164が回路基板300のパッド301と適宜ワイヤ81を介して電気的に接続されている。角速度センサ200は、第2凹部32の底面に形成された第1〜第6接続端子41〜46に第1〜第6リード241〜246の一端部241a〜246aが図示しないはんだ等の導電性部材を介して電気的、機械的に接続され、ケース20内の空間にセンサ部210が中空保持された状態となっている。つまり、角速度センサ200は、回路基板300と離間する状態で、ケース20内に収容されている。なお、本実施形態では、第3凹部33の底面33aが本発明の被搭載部材の一面に相当しており、被搭載部材の一面上に加速度センサ100と角速度センサ200とが位置しているといえる。
さらに詳述すると、加速度センサ100は、上記のように、入力端子161と出力端子162、163とが反対側に(離間して)配置されている。同様に、角速度センサ200は、上記のように、入力端子244aと出力端子241a〜243aとが反対側に(離間して)配置されている。そして、図1に示されるように、加速度センサ100の入力端子161および角速度センサ200の入力端子244aが同じ側となるように配置され、加速度センサ100の出力端子162、163および角速度センサ200の出力端子241a〜243aが同じ側となるように配置されている。つまり、加速度センサ100と角速度センサ200の配列方向に沿った方向であり、加速度センサ100および角速度センサ200の中心を通る直線を仮想線Kとしたとき、加速度センサ100の入力端子161および角速度センサ200の入力端子244aは仮想線Kに対して分割される一方の領域側(図1中では仮想線Kより紙面下側)に配置され、加速度センサ100の出力端子162、163および角速度センサ200の出力端子241a〜243aは他方の領域側(図1中では仮想線Kより紙面上側)に配置されている。言い換えると、加速度センサ100の入力インピーダンスの低い端子161および角速度センサ200の入力インピーダンスの低い端子244aが仮想線Kに対して分割される一方の領域側(図1中では仮想線Kより紙面下側)に配置され、加速度センサ100の出力インピーダンスの高い端子162、163および角速度センサ200の出力インピーダンスの高い端子241a〜243aが仮想線Kに対して分割される他方の領域側(図1中では仮想線Kより紙面上側)に配置されている。
また、回路基板300に形成され、加速度センサ100の各パッド161〜164と接続されないパッド301は、第2凹部32の底面に形成された接続端子51と適宜ワイヤ82を介して電気的に接続されている。なお、ワイヤ82は、図2に示されるように、撓んだ状態でパッド301と接続端子51との間に配置されているが、最も第3凹部33の底面33aから離間している部分が加速度センサ100のうちの回路基板300側と反対側に位置する部分(図5に示される半導体層113のうちの絶縁膜112側と反対側の一面)よりも第3凹部33の底面33a側に位置するように配置されている。
以上説明したように、本実施形態では、加速度センサ100の入力端子161および角速度センサ200の入力端子244aは仮想線Kに対して分割される一方の領域側に配置され、加速度センサ100の出力端子162、163および角速度センサ200の出力端子241a〜243aは仮想線Kに対して分割される他方の領域側に配置されている。つまり、ノイズ源となり易い信号が入力される入力端子161、244aと、ノイズの影響を受け易い出力端子162、163、241a〜243aとが離間して配置されている。このため、入力端子161、244aに入力される信号が出力端子162、163、241a〜243aから出力される信号に影響することを抑制でき、検出精度が低下することを抑制できる。
また、上記のように加速度センサ100および角速度センサ200の入力端子161、244aおよび出力端子162、163、241a〜243aが同じ側にまとめて配置されているため、ケース20の内部および第1〜第3凹部31〜33の壁面等に形成される配線層の設計(引き回し)を容易にできる。
そして、ワイヤ82は、最も第3凹部33の底面33aから離間している部分が加速度センサ100のうちの回路基板300側と反対側に位置する部分(半導体層113のうちの絶縁膜112側と反対側の一面)よりも第3凹部33の底面側に位置するように配置されている。つまり、ワイヤ82を短くするようにしている。これによれば、ワイヤ82に発生する寄生容量を低減でき、当該寄生容量が検出精度に影響することを抑制できる。
さらに、本実施形態では、加速度センサ100が容量式とされ、角速度センサ200が圧電式とされている。このため、角速度センサ200としては、共振周波数の範囲が狭くなり、感度を高くできる。また、加速度センサ100としては、Q値を高くでき、角速度センサ200の振動によって検出精度が低下することを抑制できる。
また、加速度センサ100は第3凹部33の底面33aに回路基板300を介して搭載され、角速度センサ200は第1凹部31の底面に形成された第1〜第6接続端子41〜46と接続されている。つまり、加速度センサ100と角速度センサ200とが接合される領域が異なっている。このため、角速度センサ200の振動が加速度センサ100に伝達されることを抑制でき、機械的なノイズ(角速度センサ200の振動)によって加速度センサ100の検出精度が低下することも抑制できる。
(第2実施形態)
本発明の第2実施形態について説明する。本実施形態は、第1実施形態に対して第1基準電位端子を形成したものであり、その他に関しては第1実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
本実施形態では、図9に示されるように、回路基板300には、法線方向から視たとき、加速度センサ100および角速度センサ200と重複する部分と異なる部分に第1基準電位端子302が形成されている。具体的には、第1基準電位端子302は、法線方向から視たとき、加速度センサ100の出力端子162、163と、角速度センサ200の出力端子241a〜243aとの間に形成されている。さらに詳述すると、第1基準電位端子302は、加速度センサ100の出力端子162、163と接続される回路基板300のパッド301より角速度センサ200側に配置されている。
そして、第1基準電位端子302は、第2凹部32の底面に形成された接続端子51の1つとワイヤ83を介して電気的に接続されることにより、所定の電位に固定されている。つまり、ワイヤ83は、加速度センサ100の出力端子162、163と回路基板300のパッド301とを接続するワイヤ81と、角速度センサ200の出力端子241a〜243aと第1凹部31の底面に形成された第1〜第3接続端子41〜43との接続部との間に形成されている。
これによれば、ワイヤ83が所定の電位に固定されているため、当該ワイヤ83が干渉抑制体(ガードリング)として機能する。このため、加速度センサ100と角速度センサ200との間で互いの電気信号がノイズとなることを抑制でき、検出精度が低下することを抑制できる。特に、本実施形態では、ノイズの影響を受け易い加速度センサ100の出力端子162、163と角速度センサ200の出力端子241a〜243aとの間にワイヤ83が配置されているため、より検出精度の低下を抑制できる。
(第3実施形態)
本発明の第3実施形態について説明する。本実施形態は、第1実施形態に対して回路基板300からデジタル信号を出力するものであり、その他に関しては第1実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
本実施形態では、回路基板300は、図10に示されるように、外部回路と接続される通信端子303を有している。そして、通信端子303を介して外部回路から入力されるパルス信号に基づき、加速度センサ100および角速度センサ200から出力されたアナログ信号(センサ信号)をデジタル信号に変換して出力するようになっている。
通信端子303は、仮想線Kにて分割される領域のうち、加速度センサ100の入力端子161および角速度センサ200の入力端子244aが配置される領域(図10中仮想線Kより紙面下側の領域)側に配置されている。具体的には、通信端子303は、法線方向から視たとき、加速度センサ100の入力端子161と、角速度センサ200の入力端子244aとの間に形成されている。さらに詳述すると、通信端子303は、加速度センサ100の入力端子161と接続される回路基板300のパッド301より角速度センサ200側に配置されている。そして、通信端子303は、第2凹部32の底面に形成された接続端子51の1つとワイヤ84を介して電気的に接続されている。
これによれば、回路基板300は、外部回路からのパルス信号に基づいてデジタル信号を出力するようになっており、当該パルス信号がノイズ源となる。このため、仮想線Kで分割される領域のうち、ノイズ源が入力される通信端子303を加速度センサ100の入力端子161および角速度センサ200の入力端子244aと同じ領域側に配置することにより、パルス信号が出力端子162、163、241a〜243aから出力される信号に影響することを抑制でき、検出精度が低下することを抑制できる。
(第4実施形態)
本発明の第4実施形態について説明する。本実施形態は、第3実施形態に対して回路基板300に第2基準電位端子を形成したものであり、その他に関しては第1実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
本実施形態は、図11に示されるように、回路基板300には、積層方向から視たとき、通信端子303を挟むように、第2基準電位端子304が形成されている。そして、各第2基準電位端子304は、第2凹部32の底面に形成された接続端子51の1つとワイヤ85を介してそれぞれ電気的に接続されることにより、所定の電位に固定されている。つまり、ワイヤ85は、通信端子303と接続端子51とを接続するワイヤ84を挟むように形成されている。
これによれば、第2基準電位端子304と電気的に接続されるワイヤ85が干渉抑制体として機能するため、通信端子303に入力されるパルス信号がノイズ源となって伝播することを抑制できる。
(他の実施形態)
本発明は上記した実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載した範囲内において適宜変更が可能である。
例えば、上記各実施形態において、加速度センサ100は、所定の一方向の加速度のみを検出するものでもよい。また、上記各実施形態において、第1、第2センサの組み合わせは適宜変更可能であり、第1、第2センサは検出対象が異なっていればよい。例えば、第1センサを所定の一方向の加速度のみを検出する加速度センサ100とし、第2センサを当該一方向と直交する一方向の加速度のみを検出する加速度センサ100としてもよい。
また、上記各実施形態において、加速度センサ100には、加速度を検出する際、第1、第2固定電極131、141(第1、第2固定電極用パッド162、163)に回路基板300から所定の振幅、周波数を有するパルス状の入力信号(搬送波)が印加されるようにしてもよい。このような加速度センサとした場合には、第1、第2固定電極用パッド162、163が入力端子となり、可動電極用パッド161が出力端子となる。
さらに、上記各実施形態において、角速度センサ200は、いわゆる容量型のものであってもよい。
そして、上記第2実施形態において、例えば、加速度センサ100の入力端子161と角速度センサ200の入力端子244aとの間(図10中の通信端子303近傍)に第1基準電位端子302が形成されていてもよい。また、加速度センサ100の出力端子162、163と入力端子161との間(図9中の加速度センサ100より紙面右側のパッド301近傍)に第1基準電位端子302が形成されていてもよい。このように第1基準電位端子302を形成したとしても、第1基準電位端子302と接続されるワイヤ82が干渉抑制体として機能するため、検出精度が低下することを抑制できる。さらに、第1基準電位端子302は、複数備えられ、それぞれ接続端子51とワイヤ82を介して電気的に接続されるようにしてもよい。
また、上記各実施形態を適宜組み合わせてもよい。例えば、上記第2実施形態を上記第3、第4実施形態に組み合わせ、第1基準電位端子302と通信端子303とを有する構成としてもよい。
33a 一面
100 加速度センサ
161 入力端子
162、163 出力端子
200 角速度センサ
244a 入力端子
241a〜243a 出力端子
300 回路基板
K 仮想線

Claims (7)

  1. 検出対象に応じた第1センサ信号を出力する第1センサ(100)と、
    前記第1センサの検出対象と異なる検出対象に応じた第2センサ信号を出力する第2センサ(200)と、
    前記第1、第2センサと電気的に接続される回路基板(300)と、
    一面(33a)を有し、前記一面上に前記第1、第2センサおよび前記回路基板が配置される被搭載部材(10)と、を有し、
    前記第1、第2センサは、所定の振幅および周波数を有する入力信号が入力されるための入力端子(161、244a)および前記第1、第2センサ信号を出力するための出力端子(162、163、241a〜243a)をそれぞれ有する複合センサにおいて、
    前記一面に対する法線方向から視たとき、前記第1、第2センサは、並べて配置されており、前記第1、第2センサの配列方向に沿った方向であって、前記第1、第2センサの中心を通る直線を仮想線(K)としたとき、前記入力端子が前記仮想線に対して分割される一方の同じ領域側に位置し、前記出力端子が前記仮想線に対して分割される他方の同じ領域側に位置していることを特徴とする複合センサ。
  2. 前記被搭載部材は、接続端子(51)を有しており、
    前記回路基板には、前記一面に対する法線方向から視たとき、前記第1、第2センサと重複する部分と異なる部分に第1基準電位端子(302)が形成され、
    前記第1基準電位端子は、前記被搭載部材に形成された接続端子とワイヤ(83)を介して電気的に接続されることによって所定の電位に固定されていることを特徴とする請求項1に記載の複合センサ。
  3. 前記第1基準電位端子は、前記一面に対する法線方向から視たとき、前記第1センサの入力端子と前記第2センサの入力端子との間、前記第1センサの出力端子と前記第2センサの出力端子との間の少なくともいずれか一方に配置されており、
    前記第1基準電位端子と前記接続端子とを接続するワイヤは、前記第1センサと前記第2センサとの間の干渉抑制体として機能することを特徴とする請求項2に記載の複合センサ。
  4. 前記第1、第2センサは、前記第1、第2センサ信号として前記回路基板にアナログ信号を出力し、
    前記回路基板は、前記第1、第2センサ信号をデジタル信号に変換すると共に、外部回路からのパルス信号に基づいて前記デジタル信号を出力する通信端子(303)を有しており、
    前記通信端子は、前記一面に対する法線方向から視たとき、前記第1、第2センサの入力端子が配置される前記一方の領域側に配置されていることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1つに記載の複合センサ。
  5. 前記回路基板には、前記通信端子を挟む2つの第2基準電位端子(304)が形成されており、
    前記第2基準電位端子は、前記接続端子とワイヤ(85)を介して電気的に接続されることによって所定の電位に固定されており、
    前記第2基準電位端子と前記接続端子とを接続するワイヤは、前記通信端子と前記第1、第2センサとの間の干渉抑制体として機能することを特徴とする請求項4に記載の複合センサ。
  6. 前記第1センサは、前記回路基板に搭載され、
    前記回路基板は、前記接続端子とワイヤ(82)を介して電気的に接続される複数のパッド(301)を有しており、
    前記ワイヤは、撓んだ状態で前記パッドと前記接続端子との間に配置され、最も前記一面から離間している部分が前記第1センサのうちの前記回路基板側と反対側に位置する部分より前記一面側に位置していることを特徴とする請求項1ないし5のいずれか1つに記載の複合センサ。
  7. 前記第1センサは、加速度に応じて変位可能とされた可動電極(124)と、前記可動電極と対向して配置された固定電極(131、141)とを有し、前記可動電極と前記固定電極との間の容量に応じて前記第1センサ信号を出力する加速度センサであり、
    前記第2センサは、圧電材料を用いて構成されるセンサ部(210)と、一方の端部(241b〜246b)にて前記センサ部を中空保持する複数のリード(241〜246)を有する支持部(220)と、を有し、前記入力端子および前記出力端子は、前記リードのうちの前記センサ部側と反対側の端部(241a〜246a)にて構成され、前記センサ部を振動させた状態で角速度が印加されると当該角速度に応じた第2センサ信号を出力する角速度センサであることを特徴とする請求項1ないし6のいずれか1つに記載の複合センサ。


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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017022473A (ja) * 2015-07-08 2017-01-26 セイコーエプソン株式会社 振動子及びその製造方法、発振器、電子機器、並びに、移動体
JP6372450B2 (ja) 2015-08-21 2018-08-15 株式会社デンソー 複合センサ
US10259402B2 (en) 2016-07-05 2019-04-16 Nishikawa Rubber Co., Ltd. Noise reduction members for motor vehicle fenders
JP7104680B2 (ja) * 2019-10-10 2022-07-21 株式会社鷺宮製作所 Mems素子および振動発電デバイス
JP2021071294A (ja) * 2019-10-29 2021-05-06 セイコーエプソン株式会社 振動デバイス、電子機器および移動体
JP7310598B2 (ja) * 2019-12-25 2023-07-19 株式会社デンソー 電子装置

Family Cites Families (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5886259A (en) * 1996-04-01 1999-03-23 Alliedsignal Inc. Axis aligned rate and acceleration sensor
JP2003014777A (ja) * 2001-06-29 2003-01-15 Denso Corp 力学量センサ
JP2004258019A (ja) * 2003-02-06 2004-09-16 Denso Corp 物理量センサ
KR20050059273A (ko) * 2003-08-26 2005-06-17 마츠시다 덴코 가부시키가이샤 센서장치
JP3985796B2 (ja) * 2004-03-30 2007-10-03 株式会社デンソー 力学量センサ装置
JP4543816B2 (ja) 2004-05-19 2010-09-15 セイコーエプソン株式会社 圧電振動片、振動型ジャイロスコープ
US7157836B2 (en) 2004-10-19 2007-01-02 Seiko Epson Corporation Piezoelectric device
CN101189489B (zh) * 2005-06-09 2011-12-07 松下电器产业株式会社 复合传感器
US7562573B2 (en) * 2005-07-21 2009-07-21 Evigia Systems, Inc. Integrated sensor and circuitry and process therefor
JP4929918B2 (ja) * 2006-08-21 2012-05-09 パナソニック株式会社 複合センサ
JP2008096146A (ja) * 2006-10-06 2008-04-24 Denso Corp センサ装置
JP2008190931A (ja) * 2007-02-02 2008-08-21 Wacoh Corp 加速度と角速度との双方を検出するセンサ
US20080257045A1 (en) * 2007-04-18 2008-10-23 Denso Corporation Sensor device for detecting physical quantity
CN101796374A (zh) * 2007-09-03 2010-08-04 松下电器产业株式会社 惯性力传感器
JP2009092545A (ja) * 2007-10-10 2009-04-30 Panasonic Corp 角速度および加速度検出用複合センサ
JP5319122B2 (ja) * 2008-01-21 2013-10-16 日立オートモティブシステムズ株式会社 慣性センサ
JP4245081B1 (ja) * 2008-10-16 2009-03-25 パナソニック株式会社 センサ装置
US8256288B2 (en) * 2008-12-16 2012-09-04 Seiko Epson Corporation Sensor device
JP4868027B2 (ja) * 2009-05-26 2012-02-01 株式会社デンソー 加速度角速度センサ
JP5298047B2 (ja) * 2010-02-26 2013-09-25 日立オートモティブシステムズ株式会社 複合センサの製造方法
JP5425824B2 (ja) * 2011-02-16 2014-02-26 日立オートモティブシステムズ株式会社 複合センサ
JP2013030850A (ja) * 2011-07-26 2013-02-07 Seiko Epson Corp 振動デバイスおよび電子機器
US20140260612A1 (en) * 2011-11-28 2014-09-18 Hitachi Automotive Systems, Ltd. Composite Sensor and Method for Manufacturing The Same
JP6010968B2 (ja) * 2012-03-29 2016-10-19 セイコーエプソン株式会社 振動デバイス及び振動デバイスの製造方法
JP2013210215A (ja) * 2012-03-30 2013-10-10 Hitachi Automotive Systems Ltd 慣性センサモジュール
JP6020793B2 (ja) * 2012-04-02 2016-11-02 セイコーエプソン株式会社 物理量センサーおよび電子機器
JP6167474B2 (ja) * 2012-04-11 2017-07-26 セイコーエプソン株式会社 センサーデバイスおよび電子機器
JP5963567B2 (ja) * 2012-06-26 2016-08-03 日立オートモティブシステムズ株式会社 慣性センサ
JP2014013207A (ja) 2012-07-05 2014-01-23 Panasonic Corp 複合センサ
JP2015005597A (ja) * 2013-06-20 2015-01-08 日立オートモティブシステムズ株式会社 樹脂封止型センサ装置
JP6194372B2 (ja) * 2014-01-22 2017-09-06 アルプス電気株式会社 センサモジュール、並びに、これに用いるセンサチップ及び処理回路チップ
JP6331535B2 (ja) * 2014-03-18 2018-05-30 セイコーエプソン株式会社 電子デバイス、電子機器および移動体
KR20150141418A (ko) * 2014-06-10 2015-12-18 삼성전기주식회사 금속의 허메틱 실을 갖는 관성센서모듈 및 그를 사용한 다축센서
JP6372450B2 (ja) * 2015-08-21 2018-08-15 株式会社デンソー 複合センサ
JP6641878B2 (ja) * 2015-10-21 2020-02-05 セイコーエプソン株式会社 物理量センサー、電子機器および移動体

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