JP5428751B2 - 画像処理装置及び画像処理システム - Google Patents
画像処理装置及び画像処理システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP5428751B2 JP5428751B2 JP2009244089A JP2009244089A JP5428751B2 JP 5428751 B2 JP5428751 B2 JP 5428751B2 JP 2009244089 A JP2009244089 A JP 2009244089A JP 2009244089 A JP2009244089 A JP 2009244089A JP 5428751 B2 JP5428751 B2 JP 5428751B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- radiation
- forming apparatus
- image forming
- charge accumulation
- map
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims description 43
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 164
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 85
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 claims description 70
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 30
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 29
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 17
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 15
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 9
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 4
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 4
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 37
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 15
- 230000006870 function Effects 0.000 description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 description 14
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 12
- 238000013523 data management Methods 0.000 description 8
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 5
- HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N Lithium ion Chemical compound [Li+] HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 229910001416 lithium ion Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000004397 blinking Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052688 Gadolinium Inorganic materials 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 210000002159 anterior chamber Anatomy 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- OJIJEKBXJYRIBZ-UHFFFAOYSA-N cadmium nickel Chemical compound [Ni].[Cd] OJIJEKBXJYRIBZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 229910052987 metal hydride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N nickel Substances [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- -1 nickel metal hydride Chemical class 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 229910052716 thallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Facsimile Image Signal Circuits (AREA)
Description
そこで、従来、欠陥画素を有するセンサパネルを用いて撮影が行われた場合には、当該欠陥画素の近傍の正常画素の画素値を用いて単純平均補間を行ったり、重み付け平均補間を行う等の手法により欠陥画素の画素値を補間する補間処理が行われてきた。
また、このような欠陥画素の位置を予め登録して欠陥画素マップを生成し、このマップを用いて補正対象画素の位置を特定し、補正処理を行うことも考えられている。
他方で、電荷蓄積時間が長くなると不安定な挙動を示す画素を補正するために、電荷蓄積時間の長短にかかわらず電荷蓄積時間の長い場合に対応した欠陥画素マップを用いると、電荷蓄積時間が短いときには正常な画素まで補正することとなり、画像品質が劣化するとともに、補正速度が低下してしまうという問題がある。
画素を構成する放射線検出素子が2次元マトリクス状に複数配列された検出部を備え前記放射線検出素子内に蓄積された電荷を読み出してこの蓄積された電荷量に応じた画像を形成する放射線画像形成装置における欠陥画素を補正する画像処理装置であって、
電荷蓄積時間に応じた複数種類の欠陥画素マップを記憶するマップ記憶手段と、
前記マップ記憶手段の中から、前記放射線画像形成装置の電荷蓄積時間に応じた前記欠陥画素マップを抽出するマップ抽出手段と、
前記マップ抽出手段により抽出された前記欠陥画素マップを用いて前記放射線画像形成装置における欠陥画素を補正する欠陥画素補正手段と、
を備えており、
少なくとも前記放射線画像形成装置が放射線を発生させる放射線発生装置と同期を取って動作する同期モードと、前記放射線画像形成装置が前記放射線発生装置と同期を取らずに動作する非同期モードとを設定可能であり、
前記非同期モードは、前記同期モードよりも前記放射線画像形成装置の電荷蓄積時間を長く設定することを特徴とする。
画素を構成する放射線検出素子が2次元マトリクス状に複数配列された検出部を備え前記放射線検出素子内に蓄積された電荷を読み出してこの蓄積された電荷量に応じた画像を形成する放射線画像形成装置と、
複数種類の欠陥画素マップを記憶するマップ記憶手段と、
前記マップ記憶手段の中から、前記放射線画像形成装置の電荷蓄積時間に応じた前記欠陥画素マップを抽出するマップ抽出手段と、
前記マップ抽出手段により抽出された前記欠陥画素マップを用いて前記放射線画像形成装置における欠陥画素を補正する欠陥画素補正手段と、
を備えており、
前記放射線画像形成装置は、放射線の曝射の開始を検知して電荷蓄積状態に遷移し、放射線の曝射の終了を検知して電荷読み出し状態に遷移し、
当該曝射の開始から曝射の終了までの時間により前記放射線画像形成装置の電荷蓄積時間を算出する算出手段を備えていることを特徴とする。
画像処理システムは、病院内で行われる放射線画像撮影において適用されるシステムであり、放射線画像データ(以下、単に「画像データ」と称する。)を得る放射線画像形成装置2と、この放射線画像形成装置2と通信可能な画像処理装置としてのコンソール5とを備えている。
コンソール5は、無線LAN(Local Area Network)8と接続されており、同様に無線LAN8と接続された無線アクセスポイント113(後述)や、信号中継器116、PACS等のデータ管理サーバ7(後述)等との間で無線方式にて情報の送受信が可能となっている。
なお、本実施形態においては、画像処理システム内に1つの撮影室R1が設けられており、撮影室R1内に1つの放射線画像形成装置2が配置されている場合を例として説明するが、撮影室の数、各撮影室に設けられる放射線画像形成装置2の数は図示例に限定されない。
また、撮影室R1が複数ある場合に、コンソール5は各撮影室R1に対応して設けられていなくてもよく、複数の撮影室R1に対して1台のコンソール5が対応付けられていてもよい。
なお、図1には撮影室R1内に立位撮影用のブッキー装置110が1つ設けられている場合を例示しているが、撮影室R1内に設けられるブッキー装置110の数や種類は特に限定されない。例えばブッキー装置110は、臥位撮影用のブッキー装置であってもよいし、立位撮影用のブッキー装置と臥位撮影用のブッキー装置とがそれぞれ設けられていてもよい。また、ブッキー装置110が複数ある場合には、各ブッキー装置110に対応して1つずつ放射線発生装置112が設けられていてもよいし、撮影室R1内に放射線発生装置112を1つ備え、複数のブッキー装置110に対して1つの放射線発生装置112が対応し、適宜位置を移動させたり、放射線照射方向を変更する等して使用するようになっていてもよい。
無線アクセスポイント113は、LANケーブル等により、施設内の無線LAN(Local Area Network)8と接続されており、撮影室R1外に設けられている各機器との間で通信可能となっている。
信号中継器116は、例えば放射線発生装置112から出力される信号を一般的なHUB等に適合するLAN通信用の信号に変換する変換装置として機能する。放射線画像形成装置2やコンソール5と放射線発生装置112とは、この信号中継器116を介して信号の送受信が可能となっており、例えば曝射タイミングと放射線画像形成装置2のリセットタイミングとを連動させたり、撮影に応じて照射野や管球位置等を連動させることができるようになっている。
なお、以下では、放射線画像形成装置2として、シンチレータ等を備え、放射された放射線を可視光等の他の波長の電磁波に変換して電気信号を得るいわゆる間接型の放射線画像形成装置について説明するが、本発明は、シンチレータ等を介さずに放射線を放射線検出素子で直接検出する、いわゆる直接型の放射線画像形成装置に対しても適用することができる。
放射線画像形成装置2は、図2に示すように、内部を保護する筐体21を備えている。筐体21は、少なくとも放射線の照射を受ける側の面X(以下、放射線入射面Xという。)が、放射線を透過するカーボン板やプラスチック等の材料で形成されている。なお、図2では、筐体21がフロント部材21aとバック部材21bとで形成されている場合が示されているが、その形状、構成は特に限定されず、この他にも、筐体21を筒状のいわゆるモノコック状に形成することも可能である。
本実施形態においては、例えば、リセットが完了すると点滅する等によりリセット動作の完了を操作者に報知する機能を果たすものである。
バッテリは、充電可能なものであり、例えばニッカド電池、ニッケル水素電池、リチウムイオン電池、小型シール鉛電池、鉛蓄電池等の充電自在な二次電池や、電気二重層コンデンサ、リチウムイオンキャパシタ(LIC)等の蓄電素子等を適用することができる。
このうち、特に、リチウムイオンキャパシタは、蓄電効率に優れるとともに、大電流(例えば5〜10A)による高速充電が可能であり、充電時間を大幅に短縮することができるため、好ましい。
図3に示すように、センサパネル部24の各光電変換素子23の一方の電極にはそれぞれ信号読出し用のスイッチ素子であるTFT46のソース電極が接続されている。また、各光電変換素子23の他方の電極にはバイアス線Lbが接続されており、バイアス線Lbはバイアス電源36に接続されていて、バイアス電源36から各光電変換素子23に逆バイアス電圧が印加されるようになっている。
制御部30は、ROMに格納された所定のプログラムを読み出してRAMの作業領域に展開し、当該プログラムに従ってCPUが各種処理を実行するようになっている。
制御部30は、放射線画像形成装置2のリセット処理が完了すると、その旨のリセット完了信号を対応するコンソール5に送信するようになっている。
また、通信部は、読取部45によって読み取られA/D変換部40においてアナログ信号からデジタル信号に変換された画像信号に基づく画像データを外部機器であるコンソール5に送信するとともにコンソール5等から撮影オーダ情報等を受信可能となっている。
ROMは、例えばHDD(Hard Disk Drive)や半導体の不揮発性メモリ等で構成されており、ROMには、患部を検出するための自動部位認識に基づく階調処理・周波数処理等の画像処理を行うためのプログラム等、各種のプログラムが記憶されているほか、撮影画像の画像データを診断に適した画質に調整するための画像処理パラメータ(階調処理に用いる階調曲線を定義したルックアップテーブル、周波数処理の強調度等)等が記憶されている。
RAMは、制御部51により実行制御される各種処理において、ROMから読み出されて制御部51で実行可能な各種プログラム、入力若しくは出力データ、及びパラメータ等を一時的に記憶するワークエリアを形成する。本実施形態において、RAMは、放射線画像形成装置2から受信した画像データや患者情報等を一時的に格納するようになっている。
本実施形態では、記憶部52は、撮影オーダ情報等を記憶している。また、記憶部52は、放射線画像形成装置2から送信された画像データを一時的に保存する画像データ保存手段として機能する。さらに、記憶部52は、撮影に使用された放射線画像形成装置2のオフセット補正値情報やゲイン補正値情報を取得したときに、これを記憶しておく記憶手段としても機能する。
欠陥画素の補正処理を行うためには、予め欠陥画素の画素位置が分かっていなければならない。このような欠陥画素は、製造後の出荷検査や、定期的なキャリブレーション時に放射線照射を伴う検査を実施することで検出され、検出された欠陥画素の画素位置が欠陥画素マップに登録される。なお、コンソール5が複数の放射線画像形成装置2と対応付けられている場合、欠陥画素マップは各放射線画像形成装置2ごとに構築され、以後、個々の放射線画像形成装置2と対応付けて運用、管理される。
すなわち、例えば同期モードの場合には、放射線画像形成装置2によるリセット動作と放射線発生装置112による放射線の曝射の開始とのタイミングを合わせるとともに、放射線画像形成装置2は、放射線発生装置112による放射線の曝射の開始及び終了のタイミングに合わせて電荷を蓄積することができる。このため、この場合には、放射線画像形成装置2は、リセット動作の終了後、放射線発生装置112による曝射開始時から曝射終了時までの間が電荷蓄積時間となり、例えば、1秒又はそれ以下のごく短い時間となる。そこで、同期モードに対応した欠陥画素マップは、例えば、1秒又はそれ以下の時間において検出される欠陥画素を記録・登録したものとなっている。
これに対して、非同期モードの場合には、放射線発生装置112による放射線の曝射の開始及び終了のタイミングが分からないため、同期モードよりも電荷蓄積時間が長く設定されている。非同期モードのうちの長時間モードの場合には、例えば電荷蓄積時間が5秒程度に設定されており、短時間モードの場合には、例えば電荷蓄積時間が2秒程度に設定されている。そこで、非同期モードのうちの長時間モードに対応した欠陥画素マップは、例えば、5秒間の電荷蓄積時間で検出される欠陥画素を記録・登録したものとなっており、短時間モードに対応した欠陥画素マップは、例えば、2秒間の電荷蓄積時間で検出される欠陥画素を記録・登録したものとなっている。
なお、各電荷蓄積時間は例示であり、この時間に限定されない。また、選択可能な撮影モードはここに例示したものに限定されず、さらに複数の撮影モードが選択可能となっていてもよいし、同期モード、非同期モードの2種類のみが選択できるものでもよい。各撮影モードに応じた電荷蓄積時間に対応してそれぞれ欠陥画素マップa,b,c・・・が用意される。
また、制御部51は、抽出した欠陥画素マップa,b,c・・・を用いて放射線画像形成装置における欠陥画素を補正する欠陥画素補正手段として機能する。
また、制御部51は、放射線画像形成装置2から送られた画像データに基づく画像を表示するように表示部54の表示を制御する。
具体的には、放射線画像形成装置2からリセット処理が完了した旨のリセット完了信号を受信したか否かを判断する。
そして、放射線発生装置112から曝射ボタンが操作された旨の信号が送信されても、放射線画像形成装置2からリセット完了信号を受信しない限りは、制御部51は、曝射禁止信号(インターロック信号)が出力された状態を維持し、曝射禁止状態を維持させるようになっている。
本実施形態において、入力部53は、放射線画像形成装置2について電荷蓄積時間の異なる複数種類の撮影モードを設定可能となっており、同期モード、非同期モード等を選択・設定する設定手段として機能する。
また、入力部53は、被写体に関する被写体情報(撮影オーダ情報)や、曝射指示等を入力する入力手段として機能する。
なお、コンソール5には図示しないHIS/RIS等から予め登録されている被写体情報(撮影オーダ情報)が送られるようになっていてもよい。この場合には、入力部53から入力することなく被写体情報(撮影オーダ情報)を取得することができる。
なお、表示部54の画面上に、透明電極を格子状に配置した感圧式(抵抗膜圧式)のタッチパネル(図示せず)を形成し、表示部54と入力部53とが一体に構成されるタッチスクリーンとしてもよい。この場合、タッチパネルは、手指やタッチペン等で押下された力点のXY座標を電圧値で検出し、検出された位置信号が操作信号として制御部51に出力されるように構成される。なお、表示部54は、一般的なPC(Personal Computer)に用いられるモニタよりも高精細のものであってもよい。
また、表示部54は、入力部53からの入力等により取得した撮影オーダ情報に基づく撮影オーダリストを表示することができる。ユーザがこの撮影オーダリストの中から任意の撮影オーダ情報を選択する(画面上の撮影オーダリストの中から任意の撮影オーダ情報をマウス等の入力部53で選択する)ことにより、撮影オーダ情報を選択・入力することができる。
放射線画像形成装置2を用いた撮影において、コンソール5の入力部53から撮影モードが入力されると、当該撮影モードにしたがった撮影が行われる。
具体的には、例えば同期モードが設定された場合には、放射線技師等が前室R2において操作装置115の曝射ボタンを操作すると、これに基づいて放射線画像形成装置2側がリセット動作を行う。曝射ボタンが操作された旨の信号は、放射線発生装置112から信号中継器116を介してコンソール5に出力されるが、コンソール5の通信部55からは、LANケーブル等を介して対応する撮影室R1内の放射線発生装置112に対して曝射を禁止する曝射禁止信号(インターロック信号)が出力されており、この曝射禁止信号が解除されない限り、操作装置115の曝射ボタンが操作されても、放射線発生装置112の曝射が禁止された状態が維持されている。そして、コンソール5の制御部51は、撮影に使用される放射線画像形成装置2からリセット完了信号を受信したか否かを判断し、リセット完了信号を受信しない場合には、曝射禁止信号の出力を解除せず、放射線発生装置112の曝射が禁止された状態を維持する。これに対して、リセット完了信号を受信した場合には、放射線発生装置112に対する曝射禁止信号の出力を解除する。これにより、放射線発生装置112から放射線が曝射され、撮影が行われる。
また例えば、非同期モードの長時間モードが設定されると、放射線画像形成装置2は、リセット動作を行い、リセット動作が完了すると、インジケータ25の点滅等により操作者にリセット動作の完了を報知する。そして、リセット動作完了後5秒間、電荷蓄積状態となる。操作者は、放射線画像形成装置2のインジケータが点滅したのを確認し、操作装置115等において曝射ボタンを操作する。これによりインターロックが解除されて、放射線発生装置112から放射線が曝射され、撮影が行われる。
撮影が行われると、これにより取得された画像データが放射線画像形成装置2からコンソール5に対して適宜送信される。
例えば、図4に示す欠陥画素マップa,b,c・・・のうち、欠陥画素マップaは同期モードに対応した電荷蓄積時間1秒の場合の欠陥画素を記録したマップであり、欠陥画素マップbは非同期モードの長時間モードに対応した電荷蓄積時間5秒の場合の欠陥画素を記録したマップであり、欠陥画素マップcは同期モードの短時間モードに対応した電荷蓄積時間2秒の場合の欠陥画素を記録したマップであるとして、撮影において選択された設定された撮影モードが、同期モードであるときは欠陥画素マップaを抽出する。また、非同期モードの長時間モードが設定されたときは欠陥画素マップbを抽出する。
そして、放射線画像形成装置2から送られた画像データに対して、抽出したいずれかの欠陥画素マップa,b,c・・・を用いて欠陥画素補正を行う。
さらに、データ管理サーバ7等から当該放射線画像形成装置2に対応するオフセット補正値、ゲイン補正値情報等を取得して、オフセット補正、ゲイン補正等の画像処理を適宜行う。
画素の中には、電荷蓄積時間が短いときには正常に機能するが、電荷蓄積時間が長くなると不安定な挙動を示すものがあり、電荷蓄積時間が長くなるほど欠陥画素と判断される画素は増加する。しかし、このような画素を補正するために、電荷蓄積時間の長短にかかわらず電荷蓄積時間の長い場合に対応した欠陥画素マップを用いると、電荷蓄積時間が短いときには正常な画素まで補正することとなり、画像品質が劣化し補正速度が低下してしまう。
この点、電荷蓄積時間に応じた複数種類の欠陥画素マップa,b,c・・・を使い分けることにより、電荷蓄積時間が長い場合には長時間の電荷蓄積により不安定な挙動を示す画素についても欠陥画素として補正が可能であるとともに、電荷蓄積時間が短い場合には、当該電荷蓄積時間において異常となる画素のみを補正することができ、画像品質の劣化を防ぐとともに、迅速に補正処理を行うことができる。
また、非同期モードの場合には、状況に応じて長時間モード、短時間モードを選択できるため、様々な撮影に対して柔軟に対応することができる。
コンソール5は、転送されてきた電荷蓄積時間に応じた欠陥画素マップを抽出し、これを用いて、放射線画像形成装置2における欠陥画素を補正することができる。
なお、放射線の曝射の開始及び終了の検知は、例えば、特開平9−131337、US7,211,803等に記載の公知の方法を用いることができる。
なお、放射線の曝射の開始及び終了時刻のみを放射線画像形成装置2からコンソール5に転送し、コンソール5において電荷蓄積時間の算出を行ってもよい。この場合には、コンソール5の制御部51が本発明の算出手段として機能する。
5 コンソール
7 データ管理サーバ
24 センサパネル部
25 インジケータ
26 接続部
30 制御部
51 制御部
52 記憶部
R1 撮影室
Claims (2)
- 画素を構成する放射線検出素子が2次元マトリクス状に複数配列された検出部を備え前記放射線検出素子内に蓄積された電荷を読み出してこの蓄積された電荷量に応じた画像を形成する放射線画像形成装置における欠陥画素を補正する画像処理装置であって、
電荷蓄積時間に応じた複数種類の欠陥画素マップを記憶するマップ記憶手段と、
前記マップ記憶手段の中から、前記放射線画像形成装置の電荷蓄積時間に応じた前記欠陥画素マップを抽出するマップ抽出手段と、
前記マップ抽出手段により抽出された前記欠陥画素マップを用いて前記放射線画像形成装置における欠陥画素を補正する欠陥画素補正手段と、
を備えており、
少なくとも前記放射線画像形成装置が放射線を発生させる放射線発生装置と同期を取って動作する同期モードと、前記放射線画像形成装置が前記放射線発生装置と同期を取らずに動作する非同期モードとを設定可能であり、
前記非同期モードは、前記同期モードよりも前記放射線画像形成装置の電荷蓄積時間を長く設定することを特徴とする画像処理装置。 - 画素を構成する放射線検出素子が2次元マトリクス状に複数配列された検出部を備え前記放射線検出素子内に蓄積された電荷を読み出してこの蓄積された電荷量に応じた画像を形成する放射線画像形成装置と、
複数種類の欠陥画素マップを記憶するマップ記憶手段と、
前記マップ記憶手段の中から、前記放射線画像形成装置の電荷蓄積時間に応じた前記欠陥画素マップを抽出するマップ抽出手段と、
前記マップ抽出手段により抽出された前記欠陥画素マップを用いて前記放射線画像形成装置における欠陥画素を補正する欠陥画素補正手段と、
を備えており、
前記放射線画像形成装置は、放射線の曝射の開始を検知して電荷蓄積状態に遷移し、放射線の曝射の終了を検知して電荷読み出し状態に遷移し、
当該曝射の開始から曝射の終了までの時間により前記放射線画像形成装置の電荷蓄積時間を算出する算出手段を備えていることを特徴とする画像処理システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2009244089A JP5428751B2 (ja) | 2009-10-23 | 2009-10-23 | 画像処理装置及び画像処理システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2009244089A JP5428751B2 (ja) | 2009-10-23 | 2009-10-23 | 画像処理装置及び画像処理システム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2011087781A JP2011087781A (ja) | 2011-05-06 |
| JP5428751B2 true JP5428751B2 (ja) | 2014-02-26 |
Family
ID=44106643
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2009244089A Expired - Fee Related JP5428751B2 (ja) | 2009-10-23 | 2009-10-23 | 画像処理装置及び画像処理システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP5428751B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5799725B2 (ja) * | 2011-10-03 | 2015-10-28 | コニカミノルタ株式会社 | 放射線画像撮影システムおよび放射線画像撮影装置 |
| JP6257177B2 (ja) * | 2013-06-12 | 2018-01-10 | キヤノン株式会社 | X線画像撮影装置、x線画像撮影装置の制御方法 |
| JP6383186B2 (ja) * | 2014-06-12 | 2018-08-29 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置および画像処理方法、画像処理システム |
| JP6626301B2 (ja) * | 2015-09-28 | 2019-12-25 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像システム、放射線撮像装置の制御方法及びプログラム |
| JP6674222B2 (ja) * | 2015-10-09 | 2020-04-01 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置および放射線撮像装置の制御方法 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3415348B2 (ja) * | 1995-11-07 | 2003-06-09 | 東芝医用システムエンジニアリング株式会社 | X線撮像装置 |
| JP2000134539A (ja) * | 1998-10-22 | 2000-05-12 | Konica Corp | 放射線画像処理装置および放射線画像生成方法 |
| JP2001268440A (ja) * | 2000-03-23 | 2001-09-28 | Toshiba Corp | 赤外線撮像装置 |
| JP4164282B2 (ja) * | 2002-04-16 | 2008-10-15 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影装置、放射線撮影方法及びコンピュータプログラム |
| JP2004202026A (ja) * | 2002-12-26 | 2004-07-22 | Toshiba Corp | X線診断装置及びx線撮影方法 |
| CN101558638A (zh) * | 2006-12-12 | 2009-10-14 | 株式会社岛津制作所 | 放射线摄像装置以及放射线检测信号处理方法 |
| JP5152979B2 (ja) * | 2008-05-14 | 2013-02-27 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像処理方法および装置 |
| JP5179946B2 (ja) * | 2008-05-14 | 2013-04-10 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像処理方法および装置 |
-
2009
- 2009-10-23 JP JP2009244089A patent/JP5428751B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2011087781A (ja) | 2011-05-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4883222B2 (ja) | 放射線画像検出器 | |
| JP5239623B2 (ja) | 放射線画像生成システム及び放射線画像検出器 | |
| JP5167966B2 (ja) | 放射線画像撮影システム及び放射線画像検出器 | |
| JP2010107202A (ja) | 放射線固体検出器 | |
| JP2011101693A (ja) | 放射線画像形成装置 | |
| JP2010112866A (ja) | 可搬型放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システム | |
| JPWO2010032494A1 (ja) | 放射線画像撮影システム | |
| JP2010121944A (ja) | 可搬型放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システム | |
| JP2010212741A (ja) | 放射線画像検出装置 | |
| JP5428751B2 (ja) | 画像処理装置及び画像処理システム | |
| JP5630250B2 (ja) | 放射線画像撮影システム | |
| JP2008142094A (ja) | 放射線画像取得装置及び放射線画像撮影システム | |
| JP2010124025A (ja) | 可搬型放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システム | |
| JP2010071659A (ja) | 放射線固体検出器 | |
| JP5396814B2 (ja) | 放射線画像撮影システム | |
| JP2008145101A (ja) | カセッテ型放射線画像検出器及び放射線画像検出システム | |
| JP5370040B2 (ja) | 放射線画像撮影システム | |
| JP5648404B2 (ja) | 放射線画像撮影システムおよび放射線画像撮影装置 | |
| JP2010022419A (ja) | 医用画像システム | |
| JP2011117930A (ja) | 放射線画像形成装置及び放射線画像形成方法 | |
| JP2006026283A (ja) | 放射線撮影システム | |
| JP5707869B2 (ja) | 放射線画像撮影システム | |
| JP2010022752A (ja) | 医用画像システム | |
| JP2012125309A (ja) | 放射線画像撮影システム | |
| WO2011046049A1 (ja) | 放射線画像撮影システム |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20121003 |
|
| A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20130416 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130830 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130903 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20131008 |
|
| RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20131008 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20131105 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20131118 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |