JP5314451B2 - 金属ニッケル粒子粉末およびその分散液並びに金属ニッケル粒子粉末製造法 - Google Patents
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Description
特許文献5には、ニッケル微粒子粉末の製造技術が開示されている。
CV値=σD/DTEM×100 …(1)
ここでσDはDTEMの測定対象とした個々の粒子の粒子径についての標準偏差である。
CV値=σD/DTEM×100 …(1)
CV値は、微粉末を構成する粒子の粒子径の均一性を表す指標である。発明者らの検討によれば、液状媒体中での分散性、インクジェット法等の細線印刷技術への適用性、焼結温度の安定性などを考慮すると、CV値が50%以下の金属ニッケル粒子粉末であることが極めて好都合である。CV値は30%以下であることがより好ましく、20%以下であることが一層好ましい。インクジェット法においては平均粒子径を大幅に上回る粒子径の粒子が多数存在するとノズル詰まり等のトラブルを招く要因となりやすい。(1)式からわかるように、同じCV値を実現するためには平均粒子径DTEMが小さくなるに伴って標準偏差σDに対する制約はより厳しくなる。
得られたニッケル粒子粉末のX線回折パターンには金属ニッケル結晶に対応する回折ピークと金属銀結晶に対応する回折ピークが観測され、また、TEM−EDX等の分析によれば1つの粒子中にニッケルと銀の存在が確認されることから、この還元析出は、アルコールの還元力を利用して、金属銀の析出が生じ、その金属銀の表面を析出サイトとして金属ニッケルの析出が生じるものであると考えられる。すなわち、溶媒中にNiイオンとともにAgイオンが存在していると、還元されやすいAgイオンがアルコールによって優先的に還元されて微小な金属銀が液中に生成し、その金属銀の表面に金属ニッケルが析出していく。その意味で、初期の段階で液中に生成した金属銀は、ニッケルの析出サイトを提供するための「核晶」と呼ぶこともできる。なお、1個の粒子に複数個の核晶が存在することもありうる。
〔金属ニッケル粒子の合成工程〕
Niイオンの供給物質としては、後述の溶媒中に完全に溶解させることが可能なニッケル化合物を使用する。例えば酢酸ニッケル(II);Ni(CH3COO)2が好適な対象として挙げられる。
核晶を生成させるためのAgイオンの供給物質としては、後述の溶媒中に完全に溶解させることが可能な銀化合物を使用する。例えば硝酸銀;Ag(NO)3が好適な対象として挙げられる。
還元剤Aとしては、沸点170℃以上のアルコールを使用する。発明者らの検討によれば、沸点が170℃未満のアルコールだと、沸点以下の反応温度範囲において金属ニッケルの析出反応を十分に進行させることが難しい。沸点が170〜250℃のアルコールを使用することが好ましい。特に1価アルコールが好適である。多価アルコールの場合、分子中に複数のヒドロキシ基を有することから還元反応が過度に進行しやすく、金属ニッケル粒子合成反応の速度制御が難しくなる。好適なアルコールとしては例えば、1−ヘプタノール(1気圧での沸点;約175℃)、2−オクタノール(1気圧での沸点;約179℃)、1−デカノール(1気圧での沸点;約233℃)などが例示できる。還元剤Aを構成するアルコールは、1種のみを用いてもよいし、2種以上を混合して用いてもよい。
界面活性剤Bとしては、上記のように分子量200〜400の有機化合物を採用する。例えばオレイルアミンのような不飽和結合を持つ1級アミンが好ましい。
反応元液中に存在させるAgイオンの量は0.001mol/L以上を確保することが効果的である。
反応後の液から固形分を回収して洗浄する。固形分の回収方法としては、遠心分離などの固液分離手法や、界面活性剤Bの分子が付着している金属粒子が凝集沈降しやすい有機溶媒を加えて固形分を凝集沈降させて上澄みを除去する手法などが採用できる。回収された固形分(金属ニッケル粒子を主体とするもの)は、例えば「メタノールなどの有機溶媒中で撹拌→固形分を回収」の工程を1回または複数回施す手法などにより、十分に洗浄することが望ましい。
洗浄後の金属ニッケル粒子粉末を、用途に応じて適切な非極性分散媒に分散させることにより、金属ニッケル粒子分散液(インク)を得ることができる。特に、本発明に従えば金属ニッケルの粒子が単分散している状態の分散液を得ることができる。単分散とは、個々のナノ粒子(一次粒子)が液中に独立して浮遊している分散状態である。
還元剤Aとして1−ヘプタノール(和光純薬工業株式会社製の特級試薬)、界面活性剤Bとしてオレイルアミン(和光純薬工業株式会社製)、Niイオンの供給物質として酢酸ニッケル(II)・4水和物(和光純薬工業株式会社製)、Agイオンの供給物質として硝酸銀(東洋化学工業社製)、Niイオンの供給物質を予め溶解させるためのメタノール(和光純薬工業株式会社製)を用意した。
(1)反応後のスラリーにメタノール100mLを添加し、これを窒素雰囲気下に24時間置いて固形分を凝集沈降させた。
(2)上澄みを除去することにより固形分スラリー(実施例1では11.3g)を回収した。
(3)回収した固形分スラリーを他のビーカーに移し、洗浄液としてメタノール9.17gを添加し、60分間撹拌操作を行った後、60分間静置することで粒子を沈降させ、上澄みを除去することにより固形分スラリーを回収した。
(4)上記(3)の操作を再度1回行った。
このようにして、メタノールにより洗浄された固形分スラリー(実施例1では2.21g)を得た。この固形分スラリーには、オレイルアミンが付着した銀含有金属ニッケル粒子および洗浄液のメタノールが含まれる。
固形分スラリーにテトラデカン(東京化成社製)を、テトラデカン/仕込みニッケルのモル比が0.11となるように添加し(実施例1では0.42gのテトラデカンを添加)、5分間撹拌した後、3分間静置して、固形分スラリー中に存在するメタノールをテトラデカンの上部へ浮上分離させた。この状態の液を5分間真空乾燥機かけ、メタノールを除去した。このようにして、金属ニッケル粒子含有液(以下「試料液」という)を得た。この試料液を用いて、以下の調査を行った。
上記の試料液について、TEM(透過型電子顕微鏡)により粒子の観察を行った。実施例1で得られた粒子のTEM写真の一例を図1に示す。
TEM画像において、重なっていない独立した粒子300個を無作為に選んでその径(長径)を測定し、測定した全粒子の径の平均値を平均粒子径DTEMとした。
また、測定した全粒子の径について標準偏差σDを算出し、下記(1)によりCV値を求めた。
CV値=σD/DTEM×100 …(1)
なお、粒子径の標準偏差σDは、マイクロソフト社の表計算ソフト「エクセル」に組み込まれているSTDEV関数を使って算出した。
上記の試料液中に存在する粒子について、銀の含有量を重量法で、またニッケルの含有量を滴定法でそれぞれ測定した。測定は、以下の方法で行った。すなわち、供試試料をるつぼに分取し、マッフル炉に装入し、大気中1000℃で15分間加熱した後、るつぼ中に残存する固体の組成分析を行った。るつぼに残った物質はX線回折により、ニッケルが酸化して生じた酸化ニッケルと金属銀であると同定された。得られた酸化ニッケルと金属銀の混合物の固体を、硝酸で溶解して得られた溶解液に塩酸を添加して塩化銀を沈殿させた。塩化銀を分離除去して、ろ紙上に残留した塩化銀の重量を測定する重量法を用い、銀の含有量を算出した。一方、塩化銀を分離除去した溶液にムレキシドを指示薬として加え、EDTAキレート滴定法により、ろ液中のニッケル濃度を測定し、ニッケルの含有量を算出した。その結果、得られた金属ニッケル粒子粉末のAg/Niモル比は0.3以下であることが確認された(後述実施例2〜6において同じ)。
TEMに付属のEDX装置によりEDXスペクトルを測定した。ニッケルの他に銀のピークが観測された。1粒子あたりのAg/Cuモル比は0.1以下であり、少量の銀を含有するニッケル粒子であることが確認された(以下の各実施例において同じ)。
上記の試料液を無反射板に塗布し、乾燥膜を作成後、株式会社リガク製のRINT−2100を用い、X線回折パターンを得た。Co−Kα線を使用し、管電圧50kV、管電流100mAとし、回折角2θが20〜80°の範囲を3000ステップに分割し、1ステップ0.6secで試料を走査する方法で測定した。
実施例1で得られた粉末のX線回折パターンを図2に示す。金属ニッケル結晶に対応するピーク[最強線:(111)面の回折、JCPDSカードチャート:04−0850]と金属銀結晶に対応するピーク[最強線:(111)面の回折、JCPDSカードチャート:04−0783]が観測された。この粉末を構成する金属ニッケル粒子は、金属ニッケル結晶と、それより少量の銀結晶が複合した構造を有すると考えられる。
上記の試料液を蓋付きのガラス容器に入れ、1分間振動を与えることにより撹拌した。撹拌後、容器を1分間静置した。このときの状態を目視観察することにより、以下の基準で分散性を評価した。
◎:沈降粒子は観測されず、液全体が透明感のある黒色ないし濃黄色(インク濃度により変動し、濃厚な場合には黒色、希薄になるに伴い黄色に近づく)を呈する。
○:沈降粒子が観測されるが、上澄み液は透明感のある濃黄色ないし黄色を呈する。
×:沈殿粒子が観測され、上澄み液はほとんど無色透明となる。
上述の分散性評価において◎評価が得られた試料液については、以下のようにして分散液中の「金属ニッケル+金属銀」の濃度(以下「インク濃度」という)を調べた。
試料液をるつぼに分取し、マッフル炉に装入して大気中1000℃で15分間加熱したのち、るつぼに残った物質の質量を計測し、分取した液の質量とるつぼに残った物質の質量に基づいて熱減量方式でインク濃度(質量%)を算出した。加熱によりニッケルは酸化ニッケルに酸化しており、るつぼに残った物質はX線回折により、酸化ニッケルと金属銀であると同定された。そこで、るつぼに残った物質は酸化ニッケルと金属銀であるとし、かつ粒子の組成分析結果から酸化ニッケルと金属銀の構成比を算出したものを使用して、熱減量測定後の残渣質量を酸化ニッケルと金属銀の質量に分割した。さらに上記酸化ニッケルの質量からニッケルの質量を算出した。インク濃度は下式により求めた。
[インク濃度(質量%)]=[るつぼに残った物質中のニッケルと銀の質量の和]/[分取した分散液の質量]×100
上述の分散性評価において◎評価が得られた一部の例について、試料液(インク)をバーコーター(♯5)にてガラス板に塗布したのちN2雰囲気下、250℃で60分焼成することによって焼成膜を形成した。この焼成膜の厚さを段差測定により求めた(東京精密株式会社製;SURFCOM 1500DXを使用)。また、この焼成膜について4探針法にて体積固有抵抗を求めた(三菱化学株式会社製;Loresta MCP−T610を使用)。
この例では平均粒子径DTEMが小さく、かつCV値の小さい金属ニッケル粒子粉末が得られた。粒子の平均アスペクト比も1〜1.5の範囲にある。この粉末(粒子の集合物)を用いると極めて分散性の良好なニッケルインクを得ることができた。分散液中の「金属ニッケル+金属銀」の濃度(インク濃度)は約50質量%であった。また、250℃という低い焼成温度で体積固有抵抗は18.4μΩ・cmという良好な導電性を呈する導電膜(厚さ0.37μm)が形成できた。
実施例1において、反応元液のAgイオン/Niイオンモル比を同じに保ちながら、酢酸ニッケル(II)・4水和物および硝酸銀の仕込み濃度を少なくしたこと、およびオレイルアミンの仕込み量を少なくしたことを除き、実施例1と同様の手法で金属ニッケル粒子の存在する試料液を作成し、DTEM、CV値、分散性を調べた。
その結果、平均粒子径DTEMが小さく、かつCV値の小さい金属ニッケル粒子粉末が得られた。粒子の平均アスペクト比も1〜1.5の範囲にある。この粉末(粒子の集合物)を用いると極めて分散性の良好なニッケルインクを得ることができた。実施例2で得られた粒子のTEM写真の一例を図3に示す。
実施例1において、硝酸銀の仕込み濃度を少なくすることにより反応元液のAgイオン/Niイオンモル比を小さくしたことを除き、実施例1と同様の手法で金属ニッケル粒子の存在する試料液を作成し、DTEM、CV値、分散性を調べた。
その結果、平均粒子径DTEMが小さく、かつCV値の小さい金属ニッケル粒子粉末が得られた。粒子の平均アスペクト比も1〜1.5の範囲にある。上記の分散性評価方法では沈降粒子が見られたが、分散性の良好な粒子が豊富に存在する上澄み液を得ることができる。実施例3で得られた粒子のTEM写真の一例を図4に示す。
実施例2において、反応保持時間を300分としたことを除き、実施例2と同様の手法で金属ニッケル粒子の存在する試料液を作成し、DTEM、CV値、分散性を調べた。
その結果、平均粒子径DTEMが小さく、かつCV値の小さい金属ニッケル粒子粉末が得られた。粒子の平均アスペクト比も1〜1.5の範囲にある。上記の分散性評価方法では沈降粒子が見られたが、分散性の良好な粒子が豊富に存在する上澄み液を得ることができる。実施例4で得られた粒子のTEM写真の一例を図5に示す。
実施例1において、反応元液のAgイオン/Niイオンモル比を同じに保ちながら、酢酸ニッケル(II)・4水和物および硝酸銀の仕込み濃度を少なくし、かつ反応条件を175℃、60分保持とした以外は、実施例1と同様の手法で金属ニッケル粒子粒子の存在する試料液を作成し、DTEM、CV値、分散性を調べた。
その結果、平均粒子径DTEMが小さく、かつCV値の小さい金属ニッケル粒子粉末が得られた。粒子の平均アスペクト比も1〜1.5の範囲にある。上記の分散性評価方法では沈降粒子が見られたが、分散性の良好な粒子が豊富に存在する上澄み液を得ることができる。実施例5で得られた粒子のTEM写真の一例を図6に示す。
実施例1において、還元剤Aを1−ヘプタノールに代えて2−オクタノールとしたこと、および反応温度を175℃に高め、反応時間を180分としたことを除き、実施例1と同様の手法で金属ニッケル粒子の存在する試料液を作成し、DTEM、CV値、分散性を調べた。
その結果、平均粒子径DTEMが小さく、かつCV値の小さい金属ニッケル粒子粉末が得られた。粒子の平均アスペクト比も1〜1.5の範囲にある。この粉末(粒子の集合物)を用いると極めて分散性の良好なニッケルインクを得ることができた。この例において得られた金属ニッケル粒子粉末のAg/Niモル比は1:12.54≒0.08であった。
実施例2において、反応元液に銀含有物質を添加しなかったことを除き、実施例2と同様の手法で試料液を作成した。
その結果、不定形の粗大なニッケル結晶が生成し、ナノ粒子が合成できなかった。比較例1で得られた粒子のTEM写真の一例を図7に示す。
実施例2において、硝酸銀の代わりに硝酸パラジウム(和光純薬工業株式会社製)を使用したことを除き、実施例2と同様の手法で試料液を作成した。
その結果、金属ニッケルナノ粒子の合成は可能であったが、分散性の良好なものは得られなかった。
Claims (8)
- 分子量200〜400の有機化合物からなる界面活性剤の分子が表面に付着しており、モル比において金属ニッケルよりも少量の金属銀を含有する金属ニッケル粒子の粉末であって、透過型電子顕微鏡(TEM)観察により求まる平均粒子径DTEMが30nm以下である金属ニッケル粒子粉末。
- 下記(1)式で定義されるCV値が50%以下である請求項1に記載の金属ニッケル粒子粉末。
CV値=σD/DTEM×100 ……(1)
ここでσDはDTEMの測定対象とした個々の粒子の粒子径についての標準偏差である。 - 前記金属ニッケル粒子は、粉末中のAg/Niモル比が0.3以下の範囲で金属銀を含有するものである請求項1または2に記載の金属ニッケル粒子粉末。
- 請求項1〜3のいずれかに記載の金属ニッケル粒子粉末の粒子が非極性溶媒中に分散している金属ニッケル粒子分散液。
- 沸点170℃以上のアルコールからなる還元剤Aと、分子量200〜400の有機化合物からなる界面活性剤Bが溶けあっている溶媒中に、NiイオンとAgイオンがAg/Niモル比0.01〜0.5の範囲で存在している液を、還元剤Aを構成するアルコールの沸点(還元剤Aが2種以上のアルコールからなる場合はその中で最も沸点の低いアルコールの沸点)以下かつ150℃以上の温度に保持することにより、アルコールの還元力を利用して、界面活性剤Bの分子が表面に付着している銀含有ニッケル粒子を合成する金属ニッケル粒子粉末の製造方法。
- 沸点170℃以上のアルコールからなる還元剤Aと、分子量200〜400の有機化合物からなる界面活性剤Bが溶けあっている溶媒中に、NiイオンとAgイオンがAg/Niモル比0.03〜0.5の範囲で存在している液を、還元剤Aを構成するアルコールの沸点(還元剤Aが2種以上のアルコールからなる場合はその中で最も沸点の低いアルコールの沸点)以下かつ150℃以上の温度に30〜250分間保持することにより、アルコールの還元力を利用して、界面活性剤Bの分子が表面に付着している銀含有ニッケル粒子を合成する金属ニッケル粒子粉末の製造方法。
- 還元剤Aは1−ヘプタノール、2−オクタノール、1−デカノールの1種以上からなるものである請求項5または6に記載の金属ニッケル粒子粉末の製造方法。
- 界面活性剤Bはオレイルアミンである請求項5〜7のいずれかに記載の金属ニッケル粒子粉末の製造方法。
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