JP3331911B2 - 温度ヒューズ及びその製造方法並びにそれを用いた温度ヒューズ部、電池及び電源機器 - Google Patents
温度ヒューズ及びその製造方法並びにそれを用いた温度ヒューズ部、電池及び電源機器Info
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Description
破損を防止するために使用される温度ヒューズと、その
温度ヒューズの製造方法と、その温度ヒューズを用いた
温度ヒューズ部、電池および電源機器とに関する。
く、特に携帯電話、PHS、ノート型パソコンなどの機
器に使用される電池として小型でかつ1回の充電で長時
間使用可能な二次電池の開発、実用化が行われている。
具体的には、Ni−Cd電池、Ni−H電池、Liイオ
ン電池というように開発、実用化が進み、より小型で長
持ちの二次電池が開発されている。
るほど、電池の+極と−極との短絡などによる急激な放
電に伴う発熱で電池が破損あるいは爆発するなどの危険
性が高まる。そこで、二次電池の安全性を確保するため
に、短絡時の発熱によって断線する温度ヒューズが使用
されることになる。この温度ヒューズとしては、低融点
可溶合金を使用したものが一般に使用されている。この
低融点可溶合金を電池または電源機器内の発熱する可能
性のある部分に絶縁層を介して接触させて取り付け、電
池または電源機器が発熱して危険な温度レベルに達する
前に低融点可溶合金を溶断させ、電池の放電または電池
への充電を遮断して電池の異常発熱を防止し、また電源
機器の熱破壊を防止する。
した従来の温度ヒューズの一例を示す構成図である。図
21において、71、72はリード線、73、74は高
分子樹脂絶縁接着剤、75、76はセラミック絶縁ケー
ス、77は低融点可溶合金である温度ヒューズエレメン
ト、78はフラックスである。従来の温度ヒューズは、
温度ヒューズエレメント77として低融点可溶合金を使
用し、リード線子71、72を持ち、セラミック絶縁ケ
ース75、76と高分子樹脂絶縁接着剤73、74でケ
ース内に空間を残したまま密閉した構造をしている。密
閉構造にするのは、温度ヒューズが動作した時でも低融
点可溶合金77が外部に漏れないようにするためであ
る。製造方法は、リード線71および72に低融点可溶
合金77を溶接し、低融点可溶合金77の表面にフラッ
クス78を塗布し、管状セラミック絶縁ケース75、7
6を通し、両端を2液硬化型のエポキシ樹脂(高分子樹
脂絶縁接着剤)74、74で封口した構造のものを使用
している。
電子機器の小型化に伴い、電池および電源機器も小型
化、薄型化の要望が多く、温度ヒューズに対しても小型
化、薄型化、フレキシブルの付与が要求されているが、
上記従来の温度ヒューズでは、次のような問題点を有し
ていた。
属部品の小型化、薄型化に対し、従来の管状セラミック
絶縁ケース75、76を使用した温度ヒューズではフレ
キシブル性が無いために対応に限界がある。
属部品の小型化、薄型化に対し、従来の管状セラミック
絶縁ケース75、76を使用した温度ヒューズでは温度
ヒューズが動作する際に必要なケース強度を維持しかつ
ケースを1mm以下に薄くすることが困難である。
端子接続する場合に溶接ポイントの位置決めが難しい。
用いた温度ヒューズ部、電池、電源機器では、フレキシ
ブル性を有し、ケースが1mmと薄く、溶接ポイントの
位置決めが容易なことが要求されている。
が1mmと薄く、溶接ポイントの位置決めが容易な温度
ヒューズおよびその温度ヒューズを容易に製造できる製
造方法ならびにその温度ヒューズを低コストで製造でき
る温度ヒューズ部ならびにその温度ヒューズを容易に適
用できる電池および電源機器を提供することを目的とす
る。
に本発明の温度ヒューズは、絶縁プレートと、一対の線
状導体または一対の板状導体の端部を一対の線状導体ま
たは一対の板状導体の最端部を露出させた状態で絶縁プ
レートに封止固定した封止用絶縁プレートと、一対の線
状導体または一対の板状導体の最端部間に固着した低融
点可溶合金と、絶縁プレートおよび封止用絶縁プレート
とに接合され、絶縁プレートおよび封止用絶縁プレート
との間で低融点可溶合金を収納する空間を形成したカバ
ー用絶縁プレートとを有し、空間の厚さをZとし、低融
点可溶合金の厚さをMとしたとき、0.02mm<M≦
Z<0.8mmであり、しかも絶縁プレート,封止用絶
縁プレート及びカバー用絶縁プレートをそれぞれ熱可塑
性樹脂で構成した。
スが1mmと薄く、溶接ポイントの位置決めが容易な温
度ヒューズが得られる。
ューズの製造方法は、絶縁プレートを形成する絶縁プレ
ート形成工程と、一対の線状導体または一対の板状導体
の端部を一対の線状導体または一対の板状導体の最端部
を露出させた状態で絶縁プレートに封止用絶縁プレート
で封止固定する封止固定工程と、一対の線状導体または
一対の板状導体の最端部間に低融点可溶合金を固着する
低融点可溶合金固着工程と、絶縁プレートおよび封止用
絶縁プレートとにカバー用絶縁プレートを接合して絶縁
プレートおよび封止用絶縁プレートとカバー用絶縁プレ
ートとの間で低融点可溶合金を収納する空間を形成する
空間形成工程とを有する構成を備えている。
造できる温度ヒューズの製造方法が得られる。
ューズ部は、上記温度ヒューズを複数個有し、隣接する
温度ヒューズ間を絶縁プレートを連結する連結部材で接
続した構成を備えている。
で製造できる温度ヒューズ部が得られる。
は、一対の線状導体または一対の板状導体は、Ni金
属、Fe金属、Cu金属またはNi合金を母材として形
成された温度ヒューズを用いる構成を備えている。
きる電池が得られる。この課題を解決するための本発明
の電源機器は、一対の線状導体または一対の板状導体
は、Fe、Ni、Cuのいずれかを主成分とする金属ま
たは合金を母材とし、その母材の表面の一部または全体
をCu、Bi、Sn、In、Pbのいずれか1つの金属
またはNi、Cu、Bi、Sn、In、Pbの2種以上
を混合した合金で膜形成した温度ヒューズを用いる構成
を備えている。
きる電源機器が得られる。
は、絶縁プレートと、一対の線状導体または一対の板状
導体の端部を前記一対の線状導体または前記一対の板状
導体の最端部を露出させた状態で前記絶縁プレートに封
止固定した封止用絶縁プレートと、前記一対の線状導体
または前記一対の板状導体の最端部間に固着した低融点
可溶合金と、前記絶縁プレートおよび前記封止用絶縁プ
レートとに接合され、前記絶縁プレートおよび前記封止
用絶縁プレートとの間で前記低融点可溶合金を収納する
空間を形成したカバー用絶縁プレートとを有し、前記空
間の厚さをZとし、前記低融点可溶合金の厚さをMとし
たとき、0.02mm<M≦Z<0.8mmであり、し
かも前記絶縁プレート,前記封止用絶縁プレート及び前
記カバー用絶縁プレートをそれぞれ熱可塑性樹脂で構成
したものであり、管状セラミック絶縁ケースが使用され
ず、本体ケースが薄型化されるという作用を有する。
の発明において、熱可塑性樹脂は、ABS樹脂、SAN
樹脂、ポリサンフォン樹脂、ポリカーボネート樹脂、ノ
リル、塩化ビニール樹脂、ポリエチレン樹脂、ポリエス
テル樹脂、ポリプロピレン樹脂、PPS樹脂、ポリアミ
ド樹脂、ポリアセタール、フッ素系樹脂、ポリエスター
のいずれかを主成分として形成されたものであり、熱可
塑性により本体ケースがフレキシブルになるという作用
を有する。
発明において、一対の線状導体または一対の板状導体
は、Ni金属、Fe金属、Cu金属またはNi合金を母
材として形成されることとしたものであり、電池、電源
機器への溶接が簡単化されるという作用を有する。
発明において、一対の線状導体または一対の板状導体
は、Fe、Ni、Cuのいずれかを主成分とする金属ま
たは合金を母材とし、母材の表面の一部または全体をN
i、Cu、Bi、Sn、In、Pbのいずれか1種また
はこれらを混合した合金で膜形成することとしたもので
あり、一対の線状導体または一対の板状導体の半田濡れ
性が向上するという作用を有する。
発明において、絶縁プレートおよび封止用絶縁プレート
とカバー用絶縁プレートとの間で形成された空間の体積
をVとし、低融点可溶合金の体積をJとしたとき、J×
2.5≦Vであることとしたものであり、温度ヒューズ
の動作時に低融点可溶合金の漏れが生じないという作用
を有する。
おいて、絶縁プレートおよびカバー用絶縁プレートの少
なくともいずれかを凹加工することとしたものであり、
本体ケース内の空隙を容易に確保でき且つ薄型にできる
という作用を有する。
発明において、一対の線状導体の端部を同一面内でU字
状、S字状またはU字状とS字状との組み合わせの形状
に折曲げ加工することとしたものであり、端子の耐外部
応力性が向上するという作用を有する。
発明において、一対の線状導体の端部を同一面内で面状
につぶし加工することとしたものであり、端子の耐外部
応力性が向上するという作用を有する。
発明において、一対の板状導体の端部を一部切り取った
形状または一部折曲げた形状に加工することとしたもの
であり、端子の耐外部応力性が向上するという作用を有
する。
の発明において、一対の線状導体または一対の板状導体
は、絶縁プレートおよび封止用絶縁プレートに接触し封
止される部分の表面粗さを0.5μm以上で50μm以
下にすることとしたものであり、端子の耐外部応力性が
向上するという作用を有する。
の発明において、一対の線状導体の他端に板状導体また
は管状導体を固定することとしたものであり、溶接の位
置決めが簡単化される、あるいは、リード線への接続が
かしめ等で行われるという作用を有する。
載の温度ヒューズを複数個有し、隣接する温度ヒューズ
間を絶縁プレートを連結する連結部材で接続することと
したものであり、連続した工程で製品組立てが可能にな
るという作用を有する。
載の温度ヒューズを複数個と、内側に板状の接続部を複
数個形成したリードフレームとを有し、各温度ヒューズ
を各接続部に固着することとしたものであり、連続した
工程で製品組立てが可能になるという作用を有する。
載の温度ヒューズを用いることとしたものであり、温度
ヒューズが容易に接続されるという作用を有する。
載の温度ヒューズを用いることとしたものであり、温度
ヒューズが容易に接続されるという作用を有する。
で形成された絶縁プレートを形成する絶縁プレート形成
工程と、一対の線状導体または一対の板状導体の端部を
前記一対の線状導体または前記一対の板状導体の最端部
を露出させた状態で前記絶縁プレートに熱可塑性樹脂で
形成された封止用絶縁プレートで封止固定する封止固定
工程と、前記一対の線状導体または前記一対の板状導体
の最端部間に低融点可溶合金を固着する低融点可溶合金
固着工程と、前記絶縁プレートおよび前記封止用絶縁プ
レートとに熱可塑性樹脂で形成された前記カバー用絶縁
プレートを接合して前記絶縁プレートおよび前記封止用
絶縁プレートと前記カバー用絶縁プレートとの間で前記
低融点可溶合金を収納する空間を形成するとともに、前
記空間の厚さをZとし、前記低融点可溶合金の厚さをM
としたとき、0.02mm<M≦Z<0.8mmとする
空間形成工程とを有することとしたものであり、請求項
1に記載の温度ヒューズが容易に製造されるという作用
を有する。
〜図20を用いて説明する。 (実施の形態1) 図1は本発明の実施の形態1による温度ヒューズを示す
一部破断図である。図1において、1は絶縁プレート、
2、3は一対の線状導体、4は線状導体2の最端部、5
は線状導体2の端部、6、6aは一対の封止用絶縁プレ
ート、7は低融点可溶合金、8はフラックス、9はカバ
ー用絶縁プレートである。
止用絶縁プレート6との間に挟まれて密閉された状態に
あり、線状導体2の最端部4に低融点可溶合金7が溶接
されている。もう一方の線状導体3についても同様な加
工がなされている。低融点可溶合金7は、絶縁プレート
1と一対の封止用絶縁プレート6、6aとカバー用絶縁
プレート9とによって形成された密閉空間の中に配置さ
れており、フラックス8が塗布されている。
6a、カバー用絶縁プレート9は、ABS樹脂、SAN
樹脂、ポリサンフォン樹脂、ポリカーボネート樹脂、ノ
リル、塩化ビニール樹脂、ポリエチレン樹脂、ポリエス
テル樹脂、ポリプロピレン樹脂、ポリアミド樹脂、PP
S樹脂、ポリアセタール、フッ素系樹脂、ポリエスター
のいずれかを主成分とする熱可塑性樹脂で形成すること
ができる。線状導体2、3は、Ni金属、42Ni合
金、SnをコーティングしたCu金属、あるいは、Cu
をコーティングし更にSnをコーティングしたFe金属
などで形成することができる。線状導体2の最端部4
は、低融点可溶合金7を容易に溶接するために、Sn、
Cu、Bi、In、Pbのいずれか1つ又は2種以上を
混合した合金をコーティングして形成することができる
(線状導体3の最端部も同様である)。低融点可溶合金
7としては、Sn、In、Bi、Pb、Cd等の合金を
主成分としたものが一般に知られている。今回は、有害
物であるCdを含まないSn、In、Bi、Pbを混合
した合金で試作した。フラックス8は、低融点可溶合金
7が融点に達したときに球状に形状変化することを助け
るものを使用する。
同様の構造が得られる。図2は板状導体を使用した温度
ヒューズを示す一部破断図である。図2において、1
1、12は一対の板状導体、13は板状導体11の最端
部、14は板状導体11の端部、15、15aは封止用
絶縁プレート、16は低融点可溶合金、17はフラック
ス、18はカバー用絶縁プレートである。図2におい
て、板状導体11、12は、構造的にも材料的にも、線
状導体2、3と同様に製作することができる。
図3を用いて説明する。図3(A)〜(E)は図1の温
度ヒューズの製造工程を示す一部破断図である。図3
(A)〜(E)において、19は絶縁プレート、20、
21は線状導体、22、23は線状導体20、21の端
部、24、25は線状導体20、21の最端部、26、
27は封止用絶縁プレート、28は低融点可溶合金、2
9はフラックス、30は斜線部、31はカバー用絶縁プ
レートである。
ート形成工程で形成した絶縁プレート19の上に線状導
体20、21の端部22、23を配置する。次に、図3
(B)に示すように、線状導体20、21の最端部2
4、25を露出させた状態で封止用絶縁プレート26、
27を端部22、23の位置に配置して溶着する(封止
固定工程)。溶着の方法としては、絶縁プレート19お
よび封止用絶縁プレート26、27に使用している熱可
塑性樹脂の軟化点温度近傍に加熱した熱板を接触させる
ことによって行うことができる。また、封止用絶縁プレ
ート26、27を絶縁プレート19に加圧接触させ、超
音波振動によって摩擦振動させて摩擦熱によって溶着す
ることもできる。また、端部22、23が自己発熱する
ように、線状導体20、21に通電させて、線状導体の
抵抗発熱によって、封止用絶縁プレート26、27を絶
縁プレート19に加圧接触させた部分を溶着することも
できる。溶着によって、線状導体20、21の端部2
2、23が絶縁プレート19と封止用絶縁プレート2
6、27とによって密封される。ここで、密封が不十分
な場合には、接着剤を使用して完全に密封してもよい。
溶合金28を線状導体20、21の最端部24、25に
溶接する(低融点可溶合金固着工程)。溶接の方法とし
ては、線状導体20、21の最端部24、25を低融点
可溶合金28の融点より高い温度まで加熱し、低融点可
溶合金28を接触させて行う。次に、図3(D)に示す
ように、溶接した低融点可溶合金28の周りにフラック
ス29を塗布する。最後に、カバー用絶縁プレート31
を図3(E)に示すように配置し、絶縁プレート19、
封止用絶縁プレート26、27とカバー用絶縁プレート
31との間で低融点可溶合金を収納する空間(空隙)を
形成するように、斜線部30に溶着する(空間形成工
程)。溶着は、前述のように加熱した熱板を接触させる
方法で行うことができる。しかし、今回は、低融点可溶
合金28が上記空間の中にあるので、超音波を使った溶
着が好ましい。具体的には、斜線部30を加圧できる形
状のホーンを用意し、カバー用絶縁プレート31の上か
ら加圧し、超音波振動によってカバー用絶縁プレート3
1の斜線部30に相当する分を摩擦振動させて摩擦熱に
よって溶着する。この方法によると、発生する熱は、溶
着される部分に集中し、少ない熱エネルギーによって溶
着を行うことができるため、低融点可溶合金28が溶断
する前に溶着できる。また、カバー用絶縁プレート31
の斜線部30に相当する部分には、超音波振動が集中す
るように、エネルギーダイレクタとして突起を設けても
よい。これを図16に示す。
す斜視図であり、図16(b)は図16(a)のA部断
面図である。図16において、79はエネルギーダイレ
クタ、80はその突起部である。
は、低融点可溶合金28を冷却しながら斜線部30を加
熱することで作製することができる。冷却方法は、線状
導体20、21を介して冷却する方法と、絶縁プレート
19、カバー用絶縁プレート31を介して冷却する方法
とがある。
ヒューズは、絶縁プレート1、10と、一対の線状導体
2、3の端部5または一対の板状導体11、12の端部
14を一対の線状導体2、3の最端部4または一対の板
状導体11、12の最端部13を露出させた状態で絶縁
プレート1、10に封止固定した封止用絶縁プレート
6、6a、15、15aと、一対の線状導体2、3の最
端部4間または一対の板状導体11、12の最端部13
間に固着した低融点可溶合金7、16と、絶縁プレート
1、10および封止用絶縁プレート6、6a、15、1
5aとに接合され、絶縁プレート1、10および封止用
絶縁プレート6、6a、15、15aとの間で低融点可
溶合金7、16を収納する空間を形成したカバー用絶縁
プレート9、18とから成るようにしたので、管状セラ
ミック絶縁ケースを使用する必要がなくなり、温度ヒュ
ーズの本体ケースを薄型化することができる。
プレート6、6a、15、15a、カバー用絶縁プレー
ト9、18は、ABS樹脂、SAN樹脂、ポリサンフォ
ン樹脂、ポリカーボネート樹脂、ノリル、塩化ビニール
樹脂、ポリエチレン樹脂、ポリエステル樹脂、ポリプロ
ピレン樹脂、ポリアミド樹脂、PPS樹脂、ポリアセタ
ール、フッ素系樹脂、ポリエスターのいずれかを主成分
とする熱可塑性樹脂で形成されるようにしたので、各樹
脂の熱可塑性により温度ヒューズの本体ケースをフレキ
シブルなものとすることができる。
e金属、Cu金属またはその合金で形成することができ
るので、線状導体2、3を介して温度ヒューズの電池、
電源機器等への取付けを簡単に行うことができる。
可溶合金7を容易に溶接するために、Sn、Cu、B
i、In、Pbのいずれか1種またはこれらを混合した
合金をコーティングして形成することができる(線状導
体3の最端部も同様である)ので、線状導体2、3の表
面の半田濡れ性を向上させることができる。
バー用絶縁プレート9、18の材料として、熱伝導の良
い材料であるアルミナもしくはマグネシアが主成分のセ
ラミックを使用し、封止用絶縁プレート6、6a、1
5、15aを含むその他の絶縁プレートを前記熱可塑性
プラスチック又はエポキシ樹脂を使用することにより、
同じく薄型化することが可能であり、かつ、プラスチッ
クよりも熱伝導が良いケース部分を熱源と接触させるこ
とが可能となり、熱応答性が速くなる。また、絶縁プレ
ート1、10の材料又はカバー用絶縁プレート9、18
の材料として、酸化ケイ素もしくは酸化ホウ素が主成分
のガラスまたはセラミックを使用し、封止用絶縁プレー
ト6、6a、15、15aを含むその他の絶縁プレート
を前記熱可塑性プラスチック又はエポキシ樹脂を使用す
ることにより、同じく薄型化することが可能であり、材
料成分に酸化ケイ素、酸化ホウ素のガラス成分が含有さ
れていることにより、前記アルミナもしくはマグネシア
より気密性が良好なため、薄く加工することが可能であ
る。
て、図4、図5、図7を用いて説明する。図4は図1の
温度ヒューズの分解斜視図であり、図5は図1の温度ヒ
ューズを分解したときの側面図である。図4において、
32は絶縁プレート、33、34は一対の線状導体、3
5、36は一対の封止用絶縁プレート、37は低融点可
溶合金、38はカバー用絶縁プレートであり、図5にお
いて、40は絶縁プレート、41は線状導体、42は封
止用絶縁プレート、43は低融点可溶合金、44はカバ
ー用絶縁プレートである。図4、図5において、絶縁プ
レート32、40は横方向長さをa1、縦方向長さをb
1、厚さをt1と定義し、封止用絶縁プレート35、3
6、42は横方向長さをa2、縦方向長さをb2、厚さ
をt2、カバー用絶縁プレート38、44は横方向長さ
をa3、縦方向長さをb3、厚さをt3、低融点可溶合
金37、43は長さをL、断面が丸の場合の直径をφ、
線状導体33、34、41の直径をKと定義する。ま
た、図7は図1の温度ヒューズの変形例を示す一部破断
図である。図7において、50は線状導体、51は封止
用絶縁プレートである。図7に示すように、封止用絶縁
プレート51で覆われる線状導体50が曲がっている場
合の長さをUと定義する。
mm、t1=0.4mm、a2=2mm、b2=3m
m、t2=0.4mm、a3=11mm、b3=5m
m、t3=0.2mm、L=5mm、φ=0.5mm、
K=0.5mm、U=2mmと設定されており、K×
1.5=0.75、(t1+t2)=0.4+0.4=
0.8mmであり、K×1.5≦(t1+t2)および
K×1.5≦Uの関係を満たしている。
m、b1=5mm、t1=0.2mm、a2=2mm、
b2=3mm、t2=0.2mm、a3=11mm、b
3=5mm、t3=0.2mm、L=5mm、φ=0.
5mm、K=0.5mm、U=2mmと設定されてお
り、K×1.5=0.75、(t1+t2)=0.2+
0.2=0.4mmであり、K×1.5≦Uの関係は満
たしているが、K×1.5≦(t1+t2)の関係は満
たしていない。
0個のサンプルについて密封性を評価するためプレッシ
ャークッカー試験を行った。試験方法は次の通りであ
る。温度121℃、湿度100%、圧力2気圧の条件で
行った。良品、不良品の判断は外観観察によって行い、
外観上変化が見られないものを良品、温度ヒューズの内
容物が漏れたり、端子がぐらついたり、はずれたりとい
うように外観上明らかに変化しているものを不良と判断
する。プレッシャークッカー試験後において、実施例1
の場合は発生した不良数は0で100%良品であり、比
較例1の場合は発生した不良数は25で83%不良品
(17%良品)であった。
0.5mm、a2=1.5mm、b2=3mm、t2=
0.5mm、a3=11mm、b3=5mm、t3=
0.2mm、L=5mm、φ=0.5mm、K=0.5
mm、U=1.5mmと設定されており、K×1.5=
0.75、(t1+t2)=0.5+0.5=1mmで
あり、K×1.5≦(t1+t2)およびK×1.5≦
Uの関係を満たしている。
m、b1=5mm、t1=0.5mm、a2=0.5m
m、b2=3mm、t2=0.5mm、a3=11m
m、b3=5mm、t3=0.2mm、L=5mm、φ
=0.5mm、K=0.5mm、U=0.5mmと設定
されており、K×1.5=0.75、(t1+t2)=
0.5+0.5=1mmであり、K×1.5≦(t1+
t2)の関係は満たしているが、K×1.5≦Uの関係
は満たしていない。
0個のサンプルについて密封性を評価するためプレッシ
ャークッカー試験を行った。試験方法は実施例1、比較
例1の場合と同様である。プレッシャークッカー試験後
において、実施例2の場合は発生した不良数は0で10
0%良品であり、比較例2の場合は発生した不良数は2
8で93%不良品(7%良品)であった。
うな板状導体11、12に置き換え、かつ低融点可溶合
金を板状にした場合について説明する。図6は板状導
体、板状の低融点可溶合金から成る温度ヒューズの分解
図である。図6において、45は絶縁プレート、46は
板状導体、47は封止用絶縁プレート、48は低融点可
溶合金、49はカバー用絶縁プレートである。図6に示
すように、板状導体46の縦方向の幅をE、その厚さを
Hと定義し、低融点可溶合金48の厚さをT、その縦方
向の幅をW、その長さをLと定義する(Lについては図
示せず)。図8は板状導体を用いた温度ヒューズを示す
一部破断図である。図8に示すように、封止用絶縁プレ
ート53で覆われる板状導体52の長さをGと定義す
る。
mm、t1=0.2mm、a2=2mm、b2=4m
m、t2=0.2mm、a3=11mm、b3=5m
m、t3=0.2mm、L=5mm、T=0.2mm、
W=1mm、E=3mm、H=0.25mm、G=2m
mと設定されており、H×1.2=0.3、(t1+t
2)=0.4mm、E×1.2=3.6であり、H×
1.2≦(t1+t2)、E×1.2≦b1、E×1.
2≦b2および0.3mm≦Gの関係をいずれも満たし
ている。
m、b1=5mm、t1=0.2mm、a2=2mm、
b2=4mm、t2=0.2mm、a3=11mm、b
3=5mm、t3=0.2mm、L=5mm、T=0.
2mm、W=1mm、E=3mm、H=0.5mm、G
=2mmと設定されており、H×1.2=0.6、(t
1+t2)=0.4mm、E×1.2=3.6であり、
E×1.2≦b1、E×1.2≦b2および0.3mm
≦Gの関係についてはいずれも満たしているが、H×
1.2≦(t1+t2)の関係については満たしていな
い。
0個のサンプルについて密封性を評価するためにプレッ
シャークッカー試験を行った。試験方法は実施例1、比
較例1の場合と同様である。プレッシャークッカー試験
後において、実施例3の場合は発生した不良数は0で1
00%良品であり、比較例3の場合は発生した不良数は
21で70%不良品(30%良品)であった。
0.2mm、a2=2mm、b2=4mm、t2=0.
2mm、a3=11mm、b3=5mm、t3=0.2
mm、L=5mm、T=0.2mm、W=1mm、E=
3mm、H=0.15mm、G=2mmと設定されてお
り、H×1.2=0.18、(t1+t2)=0.4m
m、E×1.2=3.6であり、H×1.2≦(t1+
t2)、E×1.2≦b1、E×1.2≦b2および
0.3mm≦Gの関係をいずれも満たしている。
m、b1=5mm、t1=0.2mm、a2=2mm、
b2=3mm、t2=0.2mm、a3=11mm、b
3=5mm、t3=0.2mm、L=5mm、T=0.
2mm、W=1mm、E=3mm、H=0.15mm、
G=2mmと設定されており、H×1.2=0.18、
(t1+t2)=0.4mm、E×1.2=3.6であ
り、H×1.2≦(t1+t2)、E×1.2≦b1お
よび0.3mm≦Gの関係についてはいずれも満たして
いるが、E×1.2≦b2の関係については満たしてい
ない。
0個のサンプルについてプレッシャークッカー試験を行
った。試験方法は実施例1、比較例1の場合と同様であ
る。
施例4の場合は発生した不良数は0で100%良品であ
り、比較例4の場合は発生した不良数は12で40%不
良品(60%良品)であった。
0.2mm、a2=0.5mm、b2=4mm、t2=
0.2mm、a3=11mm、b3=5mm、t3=
0.2mm、L=5mm、T=0.2mm、W=1m
m、E=3mm、H=0.1mm、G=0.5mmと設
定されており、H×1.2=0.12、(t1+t2)
=0.4mm、E×1.2=3.6であり、H×1.2
≦(t1+t2)、E×1.2≦b1、E×1.2≦b
2および0.3mm≦Gの関係をいずれも満たしてい
る。
m、b1=5mm、t1=0.2mm、a2=0.2m
m、b2=4mm、t2=0.2mm、a3=11m
m、b3=5mm、t3=0.2mm、L=5mm、T
=0.2mm、W=1mm、E=3mm、H=0.1m
m、G=0.2mmと設定されており、H×1.2=
0.12、(t1+t2)=0.4mm、E×1.2=
3.6であり、H×1.2≦(t1+t2)、E×1.
2≦b1およびE×1.2≦b2の関係についてはいず
れも満たしているが、0.3mm≦Gの関係については
満たしていない。
0個のサンプルについてプレッシャークッカー試験を行
った。試験方法は実施例1、比較例1の場合と同様であ
る。
施例5の場合は発生した不良数は0で100%良品であ
り、比較例5の場合は発生した不良数は29で97%不
良品(3%良品)であった。
よる温度ヒューズを示す分解図である。図9において、
54は絶縁プレート、55、56は封止用絶縁プレー
ト、57はカバー用絶縁プレート、58は空隙(空間)
である。図9において、絶縁プレート54と封止用絶縁
プレート55、56とカバー用絶縁プレート57とに囲
まれた空隙(横線で示された部分)58の体積をV、横
方向の長さをX、縦方向の長さをY、厚さをZと定義
し、空隙58の内部に配置されている低融点可溶合金の
体積をJ、厚さをMと定義する(Jについては図示せ
ず)。
mm、t1=0.2mm、a2=2mm、b2=Y=
1.56mm、t2=Z=0.5mm、a3=11m
m、b3=5mm、t3=0.2mm、L=5mm、W
=1mm、E=1mm、H=0.15mm、G=2m
m、V=4.4mm3、X=7mm、J=0.8mm3、
M=0.2mmと設定されており、J×2.5=2であ
り、J×2.5≦Vの条件を満足している。
m、b1=5mm、t1=0.2mm、a2=2mm、
b2=Y=1.6mm、t2=Z=0.2mm、a3=
11mm、b3=5mm、t3=0.2mm、L=5m
m、W=1mm、E=1mm、H=0.15mm、G=
2mm、V=1.8mm3、X=7mm、J=0.8m
m3、M=0.2mmと設定されており、J×2.5=
2であり、J×2.5≦Vの条件を満足していない。
0個のサンプルについて溶断試験を行った。試験方法
は、試料の電極を導通チェッカに接続し、試料全体が1
分間に1℃の割合で昇温するように雰囲気の温度を上
げ、導通が無くなった時の温度を溶断温度とし、その溶
断温度が平均値±2℃に入ったものを良品、それ以外を
不良品と判定する。溶断試験後において、実施例6の場
合は発生した不良数は0で100%良品であり、比較例
6の場合は発生した不良数は3で10%不良品(90%
良品)であった。
Z<0.8mmの寸法範囲で試作されている。Mが0.
02mm以下の場合は、薄すぎることにより低融点可溶
合金の作製および取扱いが困難となり、試作できなかっ
た。また、Zが0.8mm以上の場合は、製品の厚さが
1.5mm程度になるため、従来の工法である管状セラ
ミックを使用した製品と何ら差がない。実施例6のサン
プルの厚さを測定すると、0.5〜1.0mmであり、
後述する図17の電池の温度ヒューズ87としてセット
することができた。
0.2mm、a2=2mm、b2=Y=3.2mm、t
2=Z=0.2mm、a3=11mm、b3=5mm、
t3=0.2mm、L=5mm、W=1mm、E=1m
m、H=0.15mm、G=2mm、V=3.6mm
3、X=7mm、J=0.4mm3、M=0.1mmと設
定されており、J×2.5=1であり、J×2.5≦V
の条件を満足している。
と同様、a1=11mm、b1=5mm、t1=0.2
mm、a2=2mm、b2=Y=1.6mm、t2=Z
=0.2mm、a3=11mm、b3=5mm、t3=
0.2mm、L=5mm、W=1mm、E=1mm、H
=0.15mm、G=2mm、V=1.8mm3、X=
7mm、J=0.8mm3、M=0.2mmと設定され
ており、J×2.5=2であり、J×2.5≦Vの条件
を満足していない。
0個のサンプルについて溶断試験を行った。試験方法は
実施例6、比較例6の場合と同様である。溶断試験後に
おいて、実施例7の場合は発生した不良数は0で100
%良品であり、比較例7の場合は発生した不良数は3で
10%不良品(90%良品)であった。
Z<0.8mmの寸法範囲で試作されている。Mが0.
02mm以下の場合は、薄すぎることにより低融点可溶
合金の作製および取扱いが困難となり、試作できなかっ
た。また、Zが0.8mm以上の場合は、製品の厚さが
1.5mm程度になるため、従来の工法である管状セラ
ミックを使用した製品と何ら差がない。実施例7のサン
プルの厚さを測定すると、0.5〜1.0mmであり、
後述する図17の電池の温度ヒューズ87としてセット
することができた。
す一部破断図である。
は絶縁プレート1の凹部である。このような凹部59を
設けたことにより、実施例6、7の体積の空隙Vを容易
に確保することができる。今回は絶縁プレートに凹部を
設けたが、カバー用絶縁プレート側を絞り加工すること
によって凹部を設けてもよい。
す一部破断図である。
3は線状導体、6は封止用絶縁プレート、7は低融点可
溶合金、60は線状導体2の最端部である。図11に示
すように、線状導体2の最端部60は、絶縁プレート1
の内部の面と同一面内で面状につぶし加工した構造をし
ている(線状導体3の最端部も同様である)。これによ
って、線状導体2、3に外部から引っ張り応力が加わっ
た場合に、封止された部分が抜けにくくなる。さらに、
低融点可溶合金7の溶接が面状の部分で行われるので、
溶接位置決めが容易となる。
よび封止用絶縁プレート6に接触して封止される部分の
表面粗さを0.5μm〜50μmとすることで、密封性
を維持した状態でかつ線状導体2、3に外部から引っ張
り応力が加わった場合に、封止された部分が抜けにくく
なる。表面粗さ0.5μmより以下の場合は、表面をあ
らさない場合と比較して、引っ張り強度に差が無く、5
0μmを越えると、絶縁プレート1および封止用絶縁プ
レート6で密封する際にエアを噛み込み、密封が不十分
となる場合があるため、温度ヒューズとして好ましくな
い。
す一部破断図である。
1、12は板状導体、13は板状導体11の最端部、1
4は板状導体11の端部、15は封止用絶縁プレート、
16は低融点可溶合金、61は穴部、62、63は切欠
き部である。図12に示すように、板状導体11の端部
14が、穴部61または切欠き部62、63のように、
穴あけ加工または切欠き加工されている(板状導体12
も同様である)。これによって、板状導体11、12に
外部から引っ張り応力が加わった場合に、封止された部
分が抜けにくくなる。また、低融点可溶合金16を溶接
する際に加えられる熱が板状導体11の最端部13から
端部14を経て逃げにくくなり、溶接のヒートバランス
が良好となる。
10および封止用絶縁プレート15に接触して封止され
る部分の表面粗さを0.5μm〜50μmとすること
で、密封性を維持した状態でかつ板状導体11、12に
外部から引っ張り応力が加わった場合に、封止された部
分が抜けにくくなる。表面粗さ0.5μmより以下の場
合は、表面をあらさない場合と比較して、引っ張り強度
に差が無く、50μmを越えると、絶縁プレート10お
よび封止用絶縁プレート15で密封する際にエアを噛み
込み、密封が不十分となる場合があるため、温度ヒュー
ズとして好ましくない。
す一部破断図である。
3は線状導体、9はカバー用絶縁プレート、64は板状
導体、65は線状導体3の外部端子、66は管状導体、
67は線状導体2の外部端子、68は管状導体66の穴
端子部である。
端子65の位置で板状導体64に溶接されている。これ
によって、線状導体2で製造した温度ヒューズの外部端
子を板状にすることができる。また、線状導体2は、外
部端子67の位置で管状導体66に圧着されている。こ
れによって、線状導体2で製造した温度ヒューズの外部
端子を管状の圧着端子にすることができる。
示す構成図である。図14において、1a〜1eは絶縁
プレート、69は隣接する絶縁プレート(例えば絶縁プ
レート1bと1c)を連結する連結部材である。図14
に示すように、温度ヒューズの絶縁プレート1a〜1e
を連結部材69で連結することによって、1本のライン
で連続して温度ヒューズを組立てることができる。
示す構成図である。図15において、1a〜1eは絶縁
プレート、9a〜9eはカバー用絶縁プレート、70は
リードフレーム、70A、70Bはリードフレーム70
の縦板、70a、70bは温度ヒューズをリードフレー
ム70に接続するための接続部である。
ドフレームの接続部70a、70b(図15ではそれぞ
れ5個)を用いて連結することによって、数個〜数十個
のバッチ組立てを行うこと、あるいは、1本のラインで
連続して温度ヒューズを組み立てることができる。
て示す斜視図である。
二次電池81の入力および出力制御用電気回路パック、
83は配線のための導体、84は二次電池81を保護す
るためのケース、85は二次電池81およびその周辺回
路を保護するためのカバー、86は二次電池81の入力
および出力制御用電気回路から外部へ入出力するための
端子、87は実施の形態1〜5による温度ヒューズであ
る。
は、二次電池81本体の電極から導体83を介して電気
的および機械的に接続され、二次電池81の入力および
出力制御用電気回路パック82から取り出された端子8
9へ直列に接続されている。ここで、前述したように、
実施の形態1〜5による温度ヒューズは外形が板状で薄
く作製できるので、発熱を検出したい部分である二次電
池81本体とカバ−85との1〜2mm程度の狭い隙間
に収納可能である。また、実施の形態1〜5による温度
ヒューズは板状でありながら、表と裏の絶縁体面積が等
しくなるように設計することができるので、組立ての際
に表裏を区別することなく組み立てることが可能であ
る。
視図である。図18において、101はパック電池接続
兼用電源ケース、102は電源ケース、103は充電用
電極端子、104はAC−DC変換回路部、105はA
C電源コード、106、107は実施の形態1〜5によ
る温度ヒューズである。
DC変換回路部104に接触あるいは内蔵させて取り付
けた温度ヒューズ107と、パック電池に最も近いパッ
ク電池接続兼用電源ケース101に接触させて取り付け
た温度ヒューズ106とを、充電用電極端子103とA
C−DC変換回路部104との間に電気的に接続してい
る。ここで、温度ヒューズ106、107は外形が板状
で薄く作製できるので、異常発熱による温度を検出した
い部分の1〜2mm程度の狭い隙間に収納可能である。
また、温度ヒューズ106、107は板状でありながら
表と裏の絶縁体面積が等しくなるように設計することが
できるので、組立ての際に表裏を区別することなく組み
立てることが可能である。
示す一部破断図である。図19において、91は絶縁プ
レート、92は一対の線状導体、93は封止用絶縁プレ
ート、94は低融点可溶合金、95はカバー用絶縁プレ
ートである。
縁プレート91の上に一対の線状導体92が平行に配置
され、実施例1と同様の工法により、絶縁プレート91
と封止用絶縁プレート93によって一対の平行な線状導
体92が密封される。次に、低融点可溶合金94が、絶
縁プレート91上の一対の線状導体92の間に溶接され
ている。低融点可溶合金94の回りにはフラックスを塗
布し、低融点可溶合金94とその周辺空間をカバー用絶
縁プレート95で封じる。その工法は実施例1と同様で
ある。
を平行に配置することによってリード線が一方向にそろ
うことになる。これによって、発熱を検出したい部分に
温度ヒューズを配置する自由度が向上する。例えば、プ
リント基板上に配線を曲げることなく取り付けることが
可能となる。
示す一部破断図である。図20において、96は絶縁プ
レート、97は一対の板状導体、98は低融点可溶合
金、99は封止用絶縁プレート、100はカバー用絶縁
プレートである。
縁プレート96の上に一対の板状導体97が平行に配置
され、実施例1と同様の工法により、絶縁プレート96
と封止用絶縁プレート99によって一対の平行な板状導
体97が密封される。次に、低融点可溶合金98が、絶
縁プレート96上の一対の板状導体97の間に溶接され
ている。低融点可溶合金98の回りにはフラックスを塗
布し、低融点可溶合金98とその周辺空間をカバー用絶
縁プレート100で封じる。その工法は実施例1と同様
である。
を平行に配置することによってリード線が一方向にそろ
うことになる。これによって、発熱を検出したい部分に
温度ヒューズを配置する自由度が向上する。例えば、電
源トランスのように発熱するコイル線内部に本体ケース
を配置しやすくなる。
温度ヒューズによれば、絶縁プレートと、一対の線状導
体または一対の板状導体の端部を前記一対の線状導体ま
たは前記一対の板状導体の最端部を露出させた状態で前
記絶縁プレートに封止固定した封止用絶縁プレートと、
前記一対の線状導体または前記一対の板状導体の最端部
間に固着した低融点可溶合金と、前記絶縁プレートおよ
び前記封止用絶縁プレートとに接合され、前記絶縁プレ
ートおよび前記封止用絶縁プレートとの間で前記低融点
可溶合金を収納する空間を形成したカバー用絶縁プレー
トとを有し、前記空間の厚さをZとし、前記低融点可溶
合金の厚さをMとしたとき、0.02mm<M≦Z<
0.8mmであり、しかも前記絶縁プレート,前記封止
用絶縁プレート及び前記カバー用絶縁プレートをそれぞ
れ熱可塑性樹脂で構成したことにより、管状セラミック
絶縁ケースを使用する必要がなく、温度ヒューズ本体ケ
ースを薄型化することができるという有利な効果が得ら
れる。
請求項1に記載の発明において、熱可塑性樹脂は、AB
S樹脂、SAN樹脂、ポリサンフォン樹脂、ポリカーボ
ネート樹脂、ノリル、塩化ビニール樹脂、ポリエチレン
樹脂、ポリエステル樹脂、ポリプロピレン樹脂、PPS
樹脂、ポリアミド樹脂、ポリアセタール、フッ素系樹
脂、ポリエスターのいずれかを主成分として形成された
ことにより、熱可塑性により温度ヒューズ本体ケースを
フレキシブルなものとすることができるという有利な効
果が得られる。
請求項1記載の発明において、一対の線状導体または一
対の板状導体は、Ni金属、Fe金属、Cu金属または
Ni合金を母材として形成したことにより、電池、電源
機器への溶接を簡単化することができるという有利な効
果が得られる。
請求項1記載の発明において、一対の線状導体または一
対の板状導体は、Fe、Ni、Cuのいずれかを主成分
とする金属または合金を母材とし、母材の表面の一部ま
たは全体をNi、Cu、Bi、Sn、In、Pbのいず
れか1種またはこれらを混合した合金で膜形成したこと
により、一対の線状導体または一対の板状導体の半田濡
れ性を向上させることたでき、一対の線状導体または一
対の板状導体の半田付けが容易化されるという有利な効
果が得られる。
請求項1記載の発明において、絶縁プレートおよび封止
用絶縁プレートとカバー用絶縁プレートとの間で形成さ
れた空間の体積をVとし、低融点可溶合金の体積をJと
したとき、J×2.5≦Vであることにより、温度ヒュ
ーズの動作時の低融点可溶合金の漏れを防止することが
できるので、不良品をゼロとすることができるという有
利な効果が得られる。
請求項1発明において、絶縁プレートおよびカバー用絶
縁プレートの少なくともいずれかを凹加工することによ
り、本体ケース内の空隙を容易に確保でき且つ薄型にで
きるという有利な効果が得られる。
請求項1記載の発明において、一対の線状導体の端部を
同一面内でU字状、S字状またはU字状とS字状との組
み合わせの形状に折曲げ加工したことにより、摩擦力に
より端子の耐外部応力性を向上させることができるとい
う有利な効果が得られる。
請求項1記載の発明において、一対の線状導体の端部を
同一面内で面状につぶし加工したことにより、摩擦力に
より端子の耐外部応力性を向上させることができ、面状
の溶接であることにより溶接位置決めが容易になるとい
う有利な効果が得られる。
請求項1記載の発明において、一対の板状導体の端部を
一部切り取った形状または一部折曲げた形状に加工した
ことにより、摩擦力により端子の耐外部応力性を向上さ
せることができるという有利な効果が得られる。
ば、請求項1記載の発明において、一対の線状導体また
は一対の板状導体は、絶縁プレートおよび封止用絶縁プ
レートに接触し封止される部分の表面粗さを0.5μm
以上で50μm以下にしたことにより、摩擦力を高め、
端子の耐外部応力性を確実に向上させることができると
いう有利な効果が得られる。
ば、一対の線状導体の他端に板状導体または管状導体を
固定した請求項1記載の温度ヒューズであることによ
り、溶接の位置決めを簡単化すること、または、リード
線への接続をかしめ等で行うことにより接続を簡単化す
ることができるという有利な効果が得られる。
ば、請求項1に記載の温度ヒューズを複数個有し、隣接
する温度ヒューズ間を絶縁プレートを連結する連結部材
で接続したことにより、連続した工程で製品を組み立て
ることができ、生産効率を高めることができるという有
利な効果が得られる。
請求項1に記載の温度ヒューズを複数個と、内側に板状
の接続部を複数個形成したリードフレームとを有し、各
温度ヒューズを各接続部に固着したことにより、連続し
た工程で製品を組み立てることができ、生産効率を高め
ることができるという有利な効果が得られる。
1に記載の温度ヒューズを用いたことにより、金属の接
続良好性により温度ヒューズを電池に容易に接続するこ
とができるという有利な効果が得られる。
求項1記載の温度ヒューズを用いたことにより、金属の
接続良好性により温度ヒューズを電源機器に容易に接続
することができるという有利な効果が得られる。
法によれば、熱可塑性樹脂で形成された絶縁プレートを
形成する絶縁プレート形成工程と、一対の線状導体また
は一対の板状導体の端部を前記一対の線状導体または前
記一対の板状導体の最端部を露出させた状態で前記絶縁
プレートに熱可塑性樹脂で形成された封止用絶縁プレー
トで封止固定する封止固定工程と、前記一対の線状導体
または前記一対の板状導体の最端部間に低融点可溶合金
を固着する低融点可溶合金固着工程と、前記絶縁プレー
トおよび前記封止用絶縁プレートとに熱可塑性樹脂で形
成された前記カバー用絶縁プレートを接合して前記絶縁
プレートおよび前記封止用絶縁プレートと前記カバー用
絶縁プレートとの間で前記低融点可溶合金を収納する空
間を形成するとともに、前記空間の厚さをZとし、前記
低融点可溶合金の厚さをMとしたとき、0.02mm<
M≦Z<0.8mmとする空間形成工程とを有すること
により、温度ヒューズの製造を単純化することができ、
容易に温度ヒューズを製造することができるという有利
な効果が得られる。
す一部破断図
断図
部破断図 (B)図1の温度ヒューズの製造工程を示す一部破断図 (C)図1の温度ヒューズの製造工程を示す一部破断図 (D)図1の温度ヒューズの製造工程を示す一部破断図 (E)図1の温度ヒューズの製造工程を示す一部破断図
ヒューズの分解図
図
ズを示す分解図 (B)本発明の実施の形態1による温度ヒューズを示す
分解図 (C)本発明の実施の形態1による温度ヒューズを示す
分解図
示す一部破断図
示す一部破断図
示す一部破断図
示す一部破断図
を示す構成図
を示す構成図
図
斜視図
を示す一部破断図
を示す一部破断図
ズの一例を示す構成図
絶縁プレート 2、3、20、21、33、34、41、50、92
線状導体 4、13、24、25、60 最端部 5、14、22、23、61、62、63 端部 6、6a、15、15a、26、27、35、36 封
止用絶縁プレート 42、47、51、53、55、56、93、99 封
止用絶縁プレート 7、16、28、37、43、48、94、98 低融
点可溶合金 8、17、29、39 フラックス 9、18、31、38、44、49、57、95 カバ
ー用絶縁プレート 100 カバー用絶縁プレート 11、12、46、52、64、97 板状導体 30 斜線部 58 空隙(空間) 59 凹部 61 穴部 62、63 切欠き部 65、67 外部端子 66 管状導体 68 穴端子部 69 連結部材 70 リードフレーム 79 エネルギーダイレクタ 80 突起部 81 二次電池 82 入力および出力制御用電気回路パック 83 導体 84 ケース 85 カバー 86、89 端子 87、106、107 温度ヒューズ 88 溶接部分 90 低融点可溶合金断面 101 パック電池接続兼用電源ケース 102 電源ケース 103 充電用電極端子 104 AC−DC変換回路部 105 AC電源コード
Claims (16)
- 【請求項1】絶縁プレートと、一対の線状導体または一
対の板状導体の端部を前記一対の線状導体または前記一
対の板状導体の最端部を露出させた状態で前記絶縁プレ
ートに封止固定した封止用絶縁プレートと、前記一対の
線状導体または前記一対の板状導体の最端部間に固着し
た低融点可溶合金と、前記絶縁プレートおよび前記封止
用絶縁プレートとに接合され、前記絶縁プレートおよび
前記封止用絶縁プレートとの間で前記低融点可溶合金を
収納する空間を形成したカバー用絶縁プレートとを有
し、前記空間の厚さをZとし、前記低融点可溶合金の厚
さをMとしたとき、0.02mm<M≦Z<0.8mm
であり、しかも前記絶縁プレート,前記封止用絶縁プレ
ート及び前記カバー用絶縁プレートをそれぞれ熱可塑性
樹脂で構成したことを特徴とする温度ヒューズ。 - 【請求項2】熱可塑性樹脂は、ABS樹脂、SAN樹
脂、ポリサンフォン樹脂、ポリカーボネート樹脂、ノリ
ル、塩化ビニール樹脂、ポリエチレン樹脂、ポリエステ
ル樹脂、ポリプロピレン樹脂、PPS樹脂、ポリアミド
樹脂、ポリアセタール、フッ素系樹脂、ポリエスターの
いずれかを主成分として形成された請求項1に記載の温
度ヒューズ。 - 【請求項3】前記一対の線状導体または前記一対の板状
導体は、Ni金属、Fe金属、Cu金属またはNi合金
を母材として形成された請求項1に記載の温度ヒュー
ズ。 - 【請求項4】前記一対の線状導体または前記一対の板状
導体は、Fe、Ni、Cuのいずれかを主成分とする金
属または合金を母材とし、前記母材の表面の一部または
全体をCu、Bi、Sn、In、Pbのいずれか1種ま
たはこれらを混合した合金で膜形成した請求項1に記載
の温度ヒューズ。 - 【請求項5】前記絶縁プレートおよび前記封止用絶縁プ
レートと前記カバー用絶縁プレートとの間で形成された
前記空間の体積をVとし、前記低融点可溶合金の体積を
Jとしたとき、J×2.5≦Vである請求項1記載の温
度ヒューズ。 - 【請求項6】前記絶縁プレートおよび前記カバー用絶縁
プレートの少なくともいずれかを凹加工した請求項1記
載の温度ヒューズ。 - 【請求項7】前記一対の線状導体の端部を同一面内でU
字状、S字状またはU字状とS字状との組み合わせの形
状に折曲げ加工した請求項1記載の温度ヒューズ。 - 【請求項8】前記一対の線状導体の端部を同一面内で面
状につぶし加工した請求項1記載の温度ヒューズ。 - 【請求項9】前記一対の板状導体の端部を一部切り取っ
た形状または一部折曲げた形状に加工した請求項1記載
の温度ヒューズ。 - 【請求項10】前記一対の線状導体または前記一対の板
状導体は、前記絶縁プレートおよび前記封止用絶縁プレ
ートに接触し封止される部分の表面粗さを0.5μm以
上で50μm以下にした請求項1記載の温度ヒューズ。 - 【請求項11】前記一対の線状導体の他端に板状導体ま
たは管状導体を固定した請求項1記載の温度ヒューズ。 - 【請求項12】請求項1に記載の温度ヒューズを複数個
有し、隣接する温度ヒューズ間を絶縁プレートを連結す
る連結部材で接続した温度ヒューズ部。 - 【請求項13】請求項1に記載の温度ヒューズを複数個
と、内側に板状の接続部を複数個形成したリードフレー
ムとを有し、各温度ヒューズを各接続部に固着した温度
ヒューズ部。 - 【請求項14】請求項1に記載の温度ヒューズを用いた
電池。 - 【請求項15】請求項1に記載の温度ヒューズを用いた
電源機器。 - 【請求項16】熱可塑性樹脂で形成された絶縁プレート
を形成する絶縁プレート形成工程と、一対の線状導体ま
たは一対の板状導体の端部を前記一対の線状導体または
前記一対の板状導体の最端部を露出させた状態で前記絶
縁プレートに熱可塑性樹脂で形成された封止用絶縁プレ
ートで封止固定する封止固定工程と、前記一対の線状導
体または前記一対の板状導体の最端部間に低融点可溶合
金を固着する低融点可溶合金固着工程と、前記絶縁プレ
ートおよび前記封止用絶縁プレートとに熱可塑性樹脂で
形成された前記カバー用絶縁プレートを接合して前記絶
縁プレートおよび前記封止用絶縁プレートと前記カバー
用絶縁プレートとの間で前記低融点可溶合金を収納する
空間を形成するとともに、前記空間の厚さをZとし、前
記低融点可溶合金の厚さをMとしたとき、0.02mm
<M≦Z<0.8mmとする空間形成工程とを有する温
度ヒューズの製造方法。
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| JP16549397A JP3331911B2 (ja) | 1997-06-23 | 1997-06-23 | 温度ヒューズ及びその製造方法並びにそれを用いた温度ヒューズ部、電池及び電源機器 |
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| JP16549397A JP3331911B2 (ja) | 1997-06-23 | 1997-06-23 | 温度ヒューズ及びその製造方法並びにそれを用いた温度ヒューズ部、電池及び電源機器 |
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| JP2001369819A Division JP3332040B2 (ja) | 2001-12-04 | 2001-12-04 | 温度ヒューズ及びその製造方法並びにこの温度ヒューズを用いた電池 |
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|---|---|
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-
1997
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