[go: up one dir, main page]

JP2019125628A - Treating liquid supply device and deaeration method therefor - Google Patents

Treating liquid supply device and deaeration method therefor Download PDF

Info

Publication number
JP2019125628A
JP2019125628A JP2018003736A JP2018003736A JP2019125628A JP 2019125628 A JP2019125628 A JP 2019125628A JP 2018003736 A JP2018003736 A JP 2018003736A JP 2018003736 A JP2018003736 A JP 2018003736A JP 2019125628 A JP2019125628 A JP 2019125628A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chamber
processing liquid
valve
pressure
liquid supply
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2018003736A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP6987649B2 (en
Inventor
充也 楠原
Mitsuya Kusuhara
充也 楠原
真人 柏山
Masato Kashiwayama
真人 柏山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Screen Holdings Co Ltd
Original Assignee
Screen Holdings Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Screen Holdings Co Ltd filed Critical Screen Holdings Co Ltd
Priority to JP2018003736A priority Critical patent/JP6987649B2/en
Priority to TW107141204A priority patent/TWI692831B/en
Priority to KR1020180150908A priority patent/KR102209902B1/en
Priority to CN201811458010.4A priority patent/CN110034041B/en
Publication of JP2019125628A publication Critical patent/JP2019125628A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6987649B2 publication Critical patent/JP6987649B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • H10P72/0411
    • H10P72/0402
    • H10P70/15
    • H10P72/0422
    • H10P72/0448
    • H10P72/06

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
  • Degasification And Air Bubble Elimination (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

【課題】排出管の圧力を制御することにより、脱気効率を向上させることができる。【解決手段】チャンバ15にシンナーを取り込んだ後、開閉弁V1〜V3を閉止させた状態で、三方弁V4によりチャンバ15の容積が大きくなるように変化させると、チャンバ15内が減圧される。したがって、シンナー中に溶存している気体をチャンバ15内に放出させることができる。さらに、圧力調整機構37を作動させるとともに開閉弁V3を開放させて脱気を行わせるが、圧力調整機構37により排出管9内がチャンバ15内より圧力を低くされているので、チャンバ15内の気体が排出管9を通して円滑に排出される。したがって、チャンバ15内に放出された気体が再びシンナーに溶け込むことを防止でき、脱気効率を向上させることができる。【選択図】図1A deaeration efficiency can be improved by controlling a pressure of a discharge pipe. After a thinner is taken into a chamber, when the volume of the chamber is changed by a three-way valve in a state where the on-off valves are closed, the pressure in the chamber is reduced. Therefore, the gas dissolved in the thinner can be released into the chamber 15. Further, the pressure adjusting mechanism 37 is operated and the on-off valve V3 is opened to perform deaeration. However, since the pressure in the discharge pipe 9 is made lower than that in the chamber 15 by the pressure adjusting mechanism 37, the inside of the chamber 15 is The gas is smoothly discharged through the discharge pipe 9. Therefore, the gas released into the chamber 15 can be prevented from being dissolved again into the thinner, and the degassing efficiency can be improved. [Selection diagram] Fig. 1

Description

本発明は、半導体ウエハ、液晶ディスプレイ用基板、有機EL(Electroluminescence)表示装置などのFPD(Flat Panel Display)用基板、光ディスプレイ用基板、磁気ディスク用基板、光磁気ディスク用基板、フォトマスク用基板、太陽電池用基板(以下、単に基板と称する)に対して、現像液やシンナーなどの処理液を供給する処理液供給装置及びその脱気方法に関する。   The present invention relates to a substrate for an FPD (Flat Panel Display) such as a semiconductor wafer, a substrate for liquid crystal display, an organic EL (Electroluminescence) display device, a substrate for optical display, a substrate for magnetic disk, a substrate for magneto-optical disk, a substrate for photomask The present invention relates to a processing liquid supply apparatus for supplying a processing liquid such as a developer or a thinner to a solar cell substrate (hereinafter simply referred to as a substrate), and a degassing method thereof.

従来、この種の装置として、処理液を取り込む取り込み配管と、処理液を基板に対して送り出す送出配管と、取り込み配管から処理液を吸い込むとともに送出配管に処理液を送り出すチャンバと、チャンバ内で移動されてチャンバの容積を変化させるダイヤフラムと、チャンバ内のエアを排出する排出管と、取り込み配管と送出配管と排出管の各々に設けられ、処理液や気体の流通を制御する開閉弁とを備えたものがある(例えば、特許文献1参照)。   Conventionally, as an apparatus of this type, an intake pipe for taking in the processing liquid, a delivery pipe for delivering the processing liquid to the substrate, a chamber for sucking in the processing liquid from the intake pipe and delivering the processing liquid to the delivery pipe, and moving in the chamber And a discharge pipe for discharging the air in the chamber, and an on-off valve provided on each of the intake pipe, the delivery pipe, and the discharge pipe to control the flow of the processing liquid and the gas. (See, for example, Patent Document 1).

この装置では、取り込み配管を通してチャンバに新たに処理液を導入した際に、処理液にエアが混入する。エアが混入した処理液を送出配管から基板に処理液を供給すると、処理液中に溶存しているエアによって処理に不具合が生じる。そこで、この不具合が生じないようにするために、チャンバ内の処理液からエアを除去する脱気を行う。この脱気は、まずダイヤフラムを下方に移動させてチャンバの容積を大きくしてチャンバ内を減圧する。これにより、処理液中に溶存しているエアが処理液からチャンバ内に放出される。次いで、ダイヤフラムを上方に移動させてチャンバの容積を小さくさせ、排出管の開閉弁を開放させる。これにより、チャンバ内のエアが排出管を通して排出される。   In this apparatus, air is mixed into the processing liquid when the processing liquid is newly introduced into the chamber through the intake pipe. When the processing liquid mixed with air is supplied from the delivery pipe to the substrate, the air dissolved in the processing liquid causes a problem in processing. Therefore, in order to prevent this problem, degassing is performed to remove air from the processing liquid in the chamber. In this degassing, the diaphragm is first moved downward to increase the volume of the chamber and reduce the pressure in the chamber. Thereby, the air dissolved in the processing solution is released from the processing solution into the chamber. Then, the diaphragm is moved upward to reduce the volume of the chamber and open the on-off valve of the discharge pipe. Thereby, the air in the chamber is exhausted through the exhaust pipe.

特許第3561438号公報(図5、図7)Patent No. 3561438 (FIGS. 5 and 7)

しかしながら、このような構成を有する従来例の場合には、次のような問題がある。
すなわち、従来の装置は、ダイヤフラムを移動させてチャンバの容積を小さくしてから排出管の開閉弁を開放させるので、短時間とはいえチャンバ内が陽圧となる。したがって、処理液からチャンバ内に放出されたエアが再び処理液に溶け込む恐れがあり、脱気効率が低下する恐れがある。
However, in the case of the conventional example having such a configuration, there are the following problems.
That is, since the conventional apparatus moves the diaphragm to reduce the volume of the chamber and then opens the on-off valve of the discharge pipe, the pressure in the chamber is positive, though for a short time. Therefore, the air released from the processing solution into the chamber may be again dissolved in the processing solution, and the degassing efficiency may be reduced.

なお、このような不具合を解消するために、チャンバ内が陽圧とならない状態で、排出管の開閉弁を開放することが考えられるが、排出管からエアがチャンバ内に逆流して、チャンバ内のエアを排出できない別異の問題が生じる。さらに、この不都合を防止するために、排出管に逆止弁を取り付けることも考えられるが、逆止弁で生じるパーティクルが処理液に混入するおそれがあるので、現実的ではない。   In order to eliminate such a problem, it is conceivable to open the on-off valve of the discharge pipe in a state where the pressure in the chamber is not a positive pressure. Another problem arises that the air can not be discharged. Furthermore, in order to prevent this problem, it is also conceivable to attach a check valve to the discharge pipe, but this is not realistic because particles generated by the check valve may be mixed into the processing solution.

本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、排出管の圧力を制御することにより、脱気効率を向上させることができる処理液供給装置及びその脱気方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such circumstances, and provides a processing liquid supply apparatus capable of improving the degassing efficiency by controlling the pressure of the discharge pipe, and the degassing method thereof. With the goal.

本発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、請求項1に記載の発明は、基板を処理するための処理液を供給する処理液供給装置において、処理液を貯留するためのチャンバと、前記チャンバに連通され、前記チャンバに処理液を取り込む取り込み口と、前記チャンバに連通され、前記チャンバの処理液を送り出す送出口と、前記チャンバに連通され、前記チャンバの気体を排出する排出口と、前記取り込み口から前記チャンバに処理液を取り込ませ、前記送出口を通して前記チャンバから処理液を送出させ、前記排出口から気体を排出させるために、前記チャンバの容積を変化させるチャンバ駆動部とを備えたポンプと、処理液を貯留している処理液供給源と前記取り込み口とを連通接続した取り込み配管と、前記取り込み配管における処理液の流通を制御する取り込み開閉弁と、前記送出口に連通接続され、前記チャンバ内の処理液を前記基板に供給する送出配管と、前記送出配管における処理液の流通を制御する送出開閉弁と、前記排出口に連通接続され、前記チャンバ内の気体を排出する排出管と、前記排出管における気体の流通を制御する排出開閉弁と、前記排出管内の圧力を前記チャンバ内の圧力より低い圧力に調整する圧力調整機構と、を備え、前記チャンバに処理液を取り込んだ後、前記取り込み開閉弁と、前記送出開閉弁と、前記排出開閉弁とを閉止させた状態で、前記チャンバ駆動部により前記チャンバの容積が大きくなるように変化させ、前記圧力調整機構を作動させるとともに前記排出開閉弁を開放させて脱気を行わせることを特徴とするものである。
The present invention has the following configuration in order to achieve such an object.
That is, according to the first aspect of the present invention, there is provided a processing liquid supply apparatus for supplying a processing liquid for processing a substrate, the chamber for storing the processing liquid, the chamber being in communication with the chamber, and the processing liquid being supplied to the chamber. An intake port for taking in, a delivery port for communicating with the chamber, and a delivery port for delivering the processing liquid of the chamber, an exhaust port for communicating with the chamber, for discharging the gas of the chamber, and a processing liquid to be taken into the chamber from the intake port A pump having a chamber drive unit for changing the volume of the chamber to discharge the treatment liquid from the chamber through the outlet and discharge the gas from the outlet; An intake pipe connecting the processing liquid supply source and the intake port in communication, and an intake opening / closing for controlling the flow of the processing liquid in the intake pipe And a delivery piping connected to the delivery port for supplying the processing liquid in the chamber to the substrate, a delivery on-off valve for controlling the flow of the processing liquid in the delivery piping, and the discharge port. An exhaust pipe for exhausting the gas in the chamber, an exhaust on-off valve for controlling the flow of gas in the exhaust pipe, and a pressure adjusting mechanism for adjusting the pressure in the exhaust pipe to a pressure lower than the pressure in the chamber The chamber drive unit may increase the volume of the chamber in a state in which the intake on-off valve, the delivery on-off valve, and the discharge on-off valve are closed after the processing liquid is taken in the chamber. It is characterized in that the pressure adjustment mechanism is operated and the discharge on-off valve is opened to perform degassing by changing the pressure adjustment mechanism.

[作用・効果]請求項1に記載の発明によれば、チャンバに処理液を取り込んだ後、取り込み開閉弁と、送出開閉弁と、排出開閉弁とを閉止させた状態で、チャンバ駆動部によりチャンバの容積が大きくなるように変化させると、チャンバ内が減圧される。したがって、処理液中に溶存している気体をチャンバ内に放出させることができる。さらに、圧力調整機構を作動させるとともに排出開閉弁を開放させて脱気を行わせるが、圧力調整機構により排出管内がチャンバ内より圧力を低くされているので、チャンバ内が陽圧になることなくチャンバ内の気体が排出管を通して円滑に排出される。したがって、チャンバ内に放出された気体が再び処理液に溶け込むことを防止でき、脱気効率を向上させることができる。   [Operation and Effect] According to the invention as set forth in claim 1, after the processing liquid is taken into the chamber, the chamber drive section is in a state in which the intake on-off valve, the delivery on-off valve, and the discharge on-off valve are closed. When the volume of the chamber is changed to be large, the pressure in the chamber is reduced. Therefore, the gas dissolved in the processing solution can be released into the chamber. Furthermore, the pressure adjustment mechanism is operated and the discharge on-off valve is opened to perform degassing, but since the pressure in the discharge pipe is lower than that in the chamber by the pressure adjustment mechanism, the pressure in the chamber does not become positive. Gas in the chamber is smoothly exhausted through the exhaust pipe. Therefore, it is possible to prevent the gas released into the chamber from being dissolved again in the processing solution, and the degassing efficiency can be improved.

また、本発明において、前記圧力調整機構は、アスピレータであることが好ましい(請求項2)。   In the present invention, preferably, the pressure adjusting mechanism is an aspirator (claim 2).

アスピレータは可動部分がないので、簡易な構成で排出管を減圧できる。   Since the aspirator has no movable part, the discharge pipe can be depressurized with a simple configuration.

また、本発明において、前記圧力調整機構は、前記排出開閉弁が開放されるまでに作動されることが好ましい(請求項3)。   Further, in the present invention, preferably, the pressure adjusting mechanism is operated before the discharge on-off valve is opened (claim 3).

排出管開閉弁が開放するまでは非作動とさせるので、圧力調整機構を作動させるリソースの消費を抑制できる。   As the discharge pipe open / close valve is inactivated until it is opened, the consumption of resources for operating the pressure adjustment mechanism can be suppressed.

また、本発明において、前記ポンプは、前記チャンバがダイヤフラムを備えていることが好ましい(請求項4)。   Further, in the present invention, it is preferable that in the pump, the chamber includes a diaphragm (claim 4).

ダイヤフラムが変形することで処理液をチャンバへ取り込んだり、処理液をチャンバから排出したりできる。   The deformation of the diaphragm allows the treatment liquid to be taken into the chamber and the treatment liquid to be discharged from the chamber.

また、本発明において、前記排出管は、処理液中の気泡を検出する気泡センサを備え、脱気を開始した後、前記気泡センサが気泡を検出しなくなった時点で前記排出開閉弁を閉止することが好ましい(請求項5)。   Further, in the present invention, the discharge pipe is provided with a bubble sensor for detecting a bubble in the processing liquid, and after degassing is started, the discharge on-off valve is closed when the bubble sensor does not detect the bubble. Is preferred (claim 5).

チャンバから気泡を排出した後は、チャンバから排出管に処理液が吸い込まれるので、その時点で排出開閉弁を閉止することにより、脱気に伴う処理液の消費を抑制できる。   After the air bubbles are discharged from the chamber, the processing liquid is sucked from the chamber into the discharge pipe, and by closing the discharge on-off valve at that time, the consumption of the processing liquid associated with the degassing can be suppressed.

また、請求項6に記載の発明は、基板を処理するための処理液を供給する処理液供給装置の脱気方法において、処理液を貯留するチャンバの容積を変化させるチャンバ駆動部により前記チャンバの容積が大きくなるように変化させて、前記チャンバの取り込み口に連通接続された取り込み配管から処理液を前記チャンバ内に取り込む過程と、前記取り込み配管と、前記チャンバから基板に処理液を送り出す送出配管とを閉止した状態で、前記チャンバ駆動部により前記チャンバの容積がさらに大きくなるように変化させる過程と、前記チャンバから気体を排出する排出管内を、前記チャンバ内より低い圧力に調整する過程と、前記チャンバと前記排出管とを連通させて脱気する過程と、を実施することを特徴とするものである。   The invention according to claim 6 is the degassing method of the processing liquid supply apparatus for supplying the processing liquid for processing a substrate, wherein the chamber driving unit changes the volume of the chamber for storing the processing liquid. A process of taking the processing liquid into the chamber from the intake pipe connected in communication with the intake port of the chamber while changing the volume to be large, a delivery pipe for delivering the processing liquid from the chamber to the substrate, and the intake pipe. Changing the volume of the chamber to a larger value by the chamber drive section in the closed state, and adjusting the pressure in the discharge pipe for discharging the gas from the chamber to a lower pressure than that in the chamber; And degassing by bringing the chamber and the discharge pipe into communication with each other.

[作用・効果]請求項6に記載の発明によれば、チャンバに処理液を取り込んだ後、チャンバ駆動部によりチャンバの容積がさらに大きくなるように変化させる。これにより、チャンバ内が減圧されるので、処理液中に溶存している気体をチャンバ内に放出させることができる。その後、脱気を行う際には、チャンバと排出管とを連通させるが、排出管内の圧力がチャンバ内の圧力より低くされているので、チャンバ内が陽圧になることなくチャンバ内の気体が排出管を通して円滑に排出される。したがって、チャンバ内に放出された気体が再び処理液に溶け込むことを防止でき、脱気効率を向上させることができる。   [Operation and Effect] According to the sixth aspect of the present invention, after the processing liquid is taken into the chamber, the chamber drive section changes the volume of the chamber so as to be further increased. As a result, the pressure in the chamber is reduced, so that the gas dissolved in the processing liquid can be released into the chamber. After that, when degassing, the chamber and the discharge pipe are communicated, but since the pressure in the discharge pipe is lower than the pressure in the chamber, the gas in the chamber does not become positive pressure in the chamber. It is discharged smoothly through the discharge pipe. Therefore, it is possible to prevent the gas released into the chamber from being dissolved again in the processing solution, and the degassing efficiency can be improved.

本発明に係る処理液供給装置によれば、チャンバに処理液を取り込んだ後、取り込み開閉弁と、送出開閉弁と、排出開閉弁とを閉止させた状態で、チャンバ駆動部によりチャンバの容積が大きくなるように変化させると、チャンバ内が減圧される。したがって、処理液中に溶存している気体をチャンバ内に放出させることができる。さらに、圧力調整機構を作動させるとともに排出開閉弁を開放させて脱気を行わせるが、圧力調整機構により排出管内がチャンバ内より圧力を低くされているので、チャンバ内が陽圧になることなくチャンバ内の気体が排出管を通して円滑に排出される。したがって、チャンバ内に放出された気体が再び処理液に溶け込むことを防止でき、脱気効率を向上させることができる。   According to the processing liquid supply device according to the present invention, after the processing liquid is taken into the chamber, the volume of the chamber is increased by the chamber drive unit in a state in which the intake on-off valve, the delivery on-off valve, and the discharge on-off valve are closed. When it is changed to be large, the pressure in the chamber is reduced. Therefore, the gas dissolved in the processing solution can be released into the chamber. Furthermore, the pressure adjustment mechanism is operated and the discharge on-off valve is opened to perform degassing, but since the pressure in the discharge pipe is lower than that in the chamber by the pressure adjustment mechanism, the pressure in the chamber does not become positive. Gas in the chamber is smoothly exhausted through the exhaust pipe. Therefore, it is possible to prevent the gas released into the chamber from being dissolved again in the processing solution, and the degassing efficiency can be improved.

処理液供給装置の概略構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows schematic structure of a process liquid supply apparatus. 動作の一例を示すタイムチャートである。It is a time chart which shows an example of operation. 処理液供給装置を備えた基板処理装置を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows the substrate processing apparatus provided with the processing liquid supply apparatus. 処理液供給装置の変形例における概略構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows schematic structure in the modification of a process liquid supply apparatus.

<処理液供給装置>   <Processing liquid supply device>

以下、図面を参照して本発明の一実施例について説明する。
図1は、処理液供給装置の概略構成を示すブロック図である。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a processing liquid supply apparatus.

実施例に係る処理液供給装置1は、ポンプ3と、取り込み配管5と、送出配管7と、排出管9と、処理液容器11とを備えている。   The processing liquid supply device 1 according to the embodiment includes a pump 3, an intake pipe 5, a delivery pipe 7, a discharge pipe 9, and a processing liquid container 11.

本実施例におけるポンプ3は、例えば、ダイヤフラム式のポンプである。具体的には、ポンプ3は、ポンプ本体13と、チャンバ15と、シリンダ17と、ダイヤフラム19と、取り込み口21と、送出口23と、排出口25と、吸排口27とを備えている。ポンプ本体13は、外観形状が筒状を呈し、処理液を貯留するための内部空間であるチャンバ15の下方にシリンダ17がチャンバ15に対して昇降可能に設けられている。シリンダ17の上面には、ダイヤフラム19の下面が固着されている。また、ダイヤフラム19の外周縁は、チャンバ15の所定高さにおける内周面に固定されている。取り込み口21と、送出口23と、排出口25とは、ポンプ本体13にてチャンバ15に連通するように形成されている。   The pump 3 in the present embodiment is, for example, a diaphragm type pump. Specifically, the pump 3 includes a pump body 13, a chamber 15, a cylinder 17, a diaphragm 19, an intake port 21, a delivery port 23, a discharge port 25, and a suction and discharge port 27. The external shape of the pump body 13 is cylindrical, and a cylinder 17 is vertically movable relative to the chamber 15 below the chamber 15 which is an internal space for storing the treatment liquid. The lower surface of the diaphragm 19 is fixed to the upper surface of the cylinder 17. The outer peripheral edge of the diaphragm 19 is fixed to the inner peripheral surface of the chamber 15 at a predetermined height. The inlet 21, the outlet 23, and the outlet 25 are formed in communication with the chamber 15 in the pump body 13.

取り込み口21は、チャンバ15に処理液を取り込む。この取り込み口21には、取り込み配管5の一端側が連通接続されている。取り込み配管5の他端側は、処理液を貯留している処理液容器11に連通接続されている。処理液容器11は、内容量分の処理液を供給し終えると他の処理液容器11と交換される。つまり、処理液容器11は、取り込み配管5が着脱自在に構成されている。取り込み配管5は、処理液容器11側からフィルタ29と、開閉弁V1とを備えている。フィルタ29は、処理液容器11から送出されてきた処理液中のパーティクルなどを除去する。開閉弁V1は、取り込み配管5における処理液の流通を制御する。   The inlet 21 takes the processing liquid into the chamber 15. One end side of the intake pipe 5 is connected in communication with the intake port 21. The other end side of the intake pipe 5 is communicably connected to the processing liquid container 11 storing the processing liquid. The treatment liquid container 11 is replaced with another treatment liquid container 11 when the supply of the treatment liquid of the inner volume is completed. That is, in the processing liquid container 11, the intake piping 5 is configured to be removable. The intake pipe 5 is provided with a filter 29 and an on-off valve V1 from the processing liquid container 11 side. The filter 29 removes particles and the like in the processing liquid delivered from the processing liquid container 11. The on-off valve V <b> 1 controls the flow of the processing liquid in the intake pipe 5.

なお、上述した処理液容器11が本発明における「処理液供給源」に相当する。   The processing liquid container 11 described above corresponds to the "processing liquid supply source" in the present invention.

排出口23は、チャンバ15に貯留している処理液を送り出す。この排出口23には、送出配管7の一端側が連通接続されている。送出配管7の他端側は、流量を調整する流量調整弁及び処理液を供給するためのノズル(不図示)などに連通接続されている。送出配管7は、送出口23側からフィルタ31と、開閉弁V2とを備えている。フィルタ31は、チャンバ15から送出されてきた処理液中のパーティクルなどを除去する。開閉弁V2は、送出配管7における処理液の流通を制御する。   The outlet 23 delivers the processing liquid stored in the chamber 15. One end side of the delivery pipe 7 is connected in communication with the discharge port 23. The other end side of the delivery pipe 7 is communicably connected to a flow rate adjusting valve for adjusting the flow rate, a nozzle (not shown) for supplying the treatment liquid, and the like. The delivery pipe 7 is provided with a filter 31 and an on-off valve V2 from the delivery port 23 side. The filter 31 removes particles and the like in the processing liquid sent from the chamber 15. The on-off valve V <b> 2 controls the flow of the processing liquid in the delivery pipe 7.

排出口25は、チャンバ15内の気体を排出する。この排出口25には、排出管9の一端側が連通接続されている。排出管9の他端側は、回収容器33に連通接続されている。回収容器33は、排出管9から排出されるエアなどの気体を処理液の液滴などとともに回収する。排出管9は、排出口23側から気泡センサ35と、開閉弁V3と、圧力調整機構37とを備えている。開閉弁V3は、排出管9における気体などの流通を制御する。   The exhaust port 25 exhausts the gas in the chamber 15. One end side of the discharge pipe 9 is connected in communication with the discharge port 25. The other end side of the discharge pipe 9 is connected in communication with the collection container 33. The recovery container 33 recovers the gas such as air discharged from the discharge pipe 9 together with the droplets of the processing liquid. The discharge pipe 9 includes an air bubble sensor 35, an on-off valve V3, and a pressure adjustment mechanism 37 from the side of the discharge port 23. The on-off valve V3 controls the flow of gas or the like in the discharge pipe 9.

気泡センサ35は、排出管9を流通する流体にエアなどの気体からなる気泡が含まれていることを検出する。具体的には、気泡センサ35は、例えば、排出管9内を流通する流体に超音波を照射し、液体の場合に比較して、気体である気泡が存在すると伝播効率が低下して受信強度が低下することにより気泡の存否を検出する。また、気泡センサ35は、マイクロ波のドップラー効果の差異や、流体の屈折率の差異を利用するものであってもよい。   The air bubble sensor 35 detects that the fluid flowing through the discharge pipe 9 contains air bubbles made of gas such as air. Specifically, for example, the air bubble sensor 35 irradiates the fluid flowing in the discharge pipe 9 with ultrasonic waves, and compared with the case of the liquid, when the air bubble is a gas, the propagation efficiency decreases and the reception intensity By detecting the presence or absence of air bubbles. Also, the bubble sensor 35 may use the difference in the Doppler effect of microwaves or the difference in the refractive index of the fluid.

なお、上述した開閉弁V1が本発明における「取り込み開閉弁」に相当し、開閉弁V2が本発明における「送出開閉弁」に相当し、開閉弁V3が本発明における「排出開閉弁」に相当する。   The on-off valve V1 described above corresponds to the "take-in on-off valve" in the present invention, the on-off valve V2 corresponds to the "delivery on-off valve" in the present invention, and the on-off valve V3 corresponds to the "discharge on-off valve" in the present invention Do.

圧力調整機構37は、後述する脱気を行う際に、チャンバ15内の圧力よりも排出管9内の圧力が低くなるように排出管9内の圧力を調整する。圧力調整機構37としては、例えば、アスピレータが挙げられる。アスピレータは、純水やエアを利用してベンチュリ効果によって圧力を低下させる。圧力調整機構37が減圧を行う際の圧力は、脱気時の排出管9の圧力よりも低くなるように予め調整されて設定されている。   The pressure adjustment mechanism 37 adjusts the pressure in the discharge pipe 9 so that the pressure in the discharge pipe 9 is lower than the pressure in the chamber 15 when performing degassing described later. Examples of the pressure adjustment mechanism 37 include an aspirator. The aspirator uses pure water and air to reduce pressure by the venturi effect. The pressure when the pressure adjustment mechanism 37 performs pressure reduction is previously adjusted and set so as to be lower than the pressure of the discharge pipe 9 at the time of degassing.

吸排口27は、シリンダ17を挟んだチャンバ15の反対側にあたるポンプ本体13に形成されている。この吸排口27には、吸排管39の一端側が連通接続されている。吸排管39の他端側には、三方弁V4の共通側が連通接続されている。三方弁V4の二つの切換側には、それぞれエア供給源と吸引源が連通接続されている。三方弁V4がエア供給源側に切り換えられると、吸排口27にエアが供給されるので、シリンダ17が上昇され、チャンバ15の容積が小さくされる。一方、三方弁V4が吸引源側に切り換えられると、吸排口27からエアが排出されるので、シリンダ17が下降され、チャンバ15の容積が大きくされる。ポンプ3は、このようにシリンダ17を昇降させることが可能であるが、例えば、その高さ位置は、第1下降位置BL1から上昇位置TPにわたって移動可能である。ここでは、第1下降位置BL1から所定距離だけ上昇した位置を第2下降位置BL2とする。   The suction and discharge port 27 is formed in the pump main body 13 which is opposite to the chamber 15 across the cylinder 17. One end side of a suction and discharge pipe 39 is connected in communication with the suction and discharge port 27. The common side of the three-way valve V4 is connected to the other end side of the suction and discharge pipe 39 in communication. An air supply source and a suction source are connected in communication with each other on two switching sides of the three-way valve V4. When the three-way valve V4 is switched to the air supply source side, air is supplied to the suction and discharge port 27, so the cylinder 17 is raised and the volume of the chamber 15 is reduced. On the other hand, when the three-way valve V4 is switched to the suction source side, air is discharged from the suction and discharge port 27, so the cylinder 17 is lowered and the volume of the chamber 15 is increased. Although the pump 3 can raise and lower the cylinder 17 in this way, for example, its height position is movable from the first lowered position BL1 to the raised position TP. Here, a position raised by a predetermined distance from the first lowered position BL1 is taken as a second lowered position BL2.

次に、図2を参照して、上述した構成の処理液供給装置1の動作について説明する。なお、図2は、動作の一例を示すタイムチャートである。   Next, with reference to FIG. 2, the operation of the processing liquid supply device 1 having the above-described configuration will be described. FIG. 2 is a time chart showing an example of the operation.

ここでは、例えば、処理液としてシンナーを貯留した処理液容器11が空になり、新たな処理液容器11に交換したものとして説明する。この場合には、空になった処理液容器11から取り込み配管5が取り外され、新たな処理液容器11に取り込み配管5が取り付けられる。このとき、取り付け配管5には気泡が混入することが避けられない。また、処理液容器11のシンナーには、元々エアなどの気体がある程度は溶存している。なお、初期状態では、ポンプ3がチャンバ15内の全てのシンナーを供給し終わって、シリンダ17が上昇位置TPに位置しているものとする。   Here, for example, it is assumed that the processing liquid container 11 storing the thinner as the processing liquid is emptied and replaced with a new processing liquid container 11. In this case, the intake pipe 5 is removed from the processing liquid container 11 that has become empty, and the intake pipe 5 is attached to the new processing liquid container 11. At this time, it is inevitable that air bubbles are mixed in the mounting pipe 5. Further, gas such as air is originally dissolved in the thinner of the processing liquid container 11 to a certain extent. In the initial state, it is assumed that the pump 3 has supplied all the thinner in the chamber 15 and the cylinder 17 is located at the raised position TP.

まず、0時点で開閉弁V2,V3を閉止させるとともに、開閉弁V1を開放させる。そして、この状態で、三方弁V4の切換側を吸引源に切り換える。これにより、シリンダ17が上昇位置TPから下降を開始するとともに、処理液容器11からシンナーが取り込み配管5を通してチャンバ15に取り込まれる。シリンダ17の高さ位置が第2下降位置BL2に達したt1時点で開閉弁V1を閉止させる。   First, the on-off valves V2 and V3 are closed at time zero, and the on-off valve V1 is opened. Then, in this state, the switching side of the three-way valve V4 is switched to the suction source. As a result, the cylinder 17 starts to descend from the raised position TP, and the thinner is taken from the processing liquid container 11 and taken into the chamber 15 through the piping 5. At time t1 when the height position of the cylinder 17 reaches the second lowered position BL2, the on-off valve V1 is closed.

なお、0時点からt1時点が本発明における「取り込む過程」に相当する。   The point in time 0 to the point in time t1 corresponds to the "incorporating process" in the present invention.

チャンバ15が閉塞された状態のまま、シリンダ17が第1下降位置BL1に向かって徐々に下降を続ける。したがって、チャンバ15の容積がさらに大きくされてチャンバ15が減圧状態となるので、チャンバ15に取り込まれたシンナーに溶存している気体がチャンバ15に放出される。この状態は、t3時点まで維持される。   The cylinder 17 continues to gradually descend toward the first lowered position BL1 while the chamber 15 is closed. Therefore, the volume of the chamber 15 is further increased to reduce the pressure of the chamber 15, so that the gas dissolved in the thinner taken into the chamber 15 is released to the chamber 15. This state is maintained until t3.

なお、t1時点からt3時点が本発明における「変化させる過程」に相当する。   The time point from t1 to t3 corresponds to the "changing process" in the present invention.

次いで、シリンダ17が第1下降位置BL1に到達するt3時点より若干早いt2時点において、圧力調整機構37を作動させる。これにより、排出管9内がチャンバ15の圧力よりも低い圧力まで減圧される。さらに、t2時点から所定時間後のt3時点で開閉弁V3を開放させる。これにより、チャンバ15に放出されている気体が排出管9から排出されて回収容器33に排出される。このとき、気泡センサ35が気体からなる気泡を検出しているが、チャンバ15内の気体が排出され終わると、チャンバ15内のシンナーが気体とともに吸い出され、t4時点では最終的には気泡がなくなってシンナーだけが排出されることになる。すると、気泡センサ33は、気泡を検出しない非検知となる。   Next, at time t2 slightly earlier than time t3 at which the cylinder 17 reaches the first lowered position BL1, the pressure adjustment mechanism 37 is operated. As a result, the pressure in the discharge pipe 9 is reduced to a pressure lower than the pressure in the chamber 15. Further, the on-off valve V3 is opened at time t3 which is a predetermined time after time t2. Thereby, the gas released to the chamber 15 is discharged from the discharge pipe 9 and discharged to the recovery container 33. At this time, the bubble sensor 35 detects a bubble made of gas, but when the gas in the chamber 15 is exhausted, the thinner in the chamber 15 is sucked out together with the gas, and at time t4, the bubble is finally It is lost and only thinner will be discharged. Then, the bubble sensor 33 does not detect the bubble.

気泡センサ33が非検知となったt4時点において、開閉弁V3を閉止させる。その後、t5時点で圧力調整機構37を非作動にする。なお、図示省略しているが、脱気処理によりシリンダ17は、減圧により第1下降位置BL1から若干上昇した位置に移動する。   At time t4 when the air bubble sensor 33 is not detected, the on-off valve V3 is closed. Thereafter, at time t5, the pressure adjustment mechanism 37 is deactivated. Although not shown, the degassing process moves the cylinder 17 to a position slightly elevated from the first lowered position BL1 due to the pressure reduction.

なお、t2時点からt5時点が本発明における「調整する過程」に相当し、t3時点からt4時点が本発明における「脱気する過程」に相当する。   The time t2 to t5 corresponds to the "adjustment process" in the present invention, and the time t3 to t4 corresponds to the "degassing process" in the present invention.

上述したようにしてシンナーの脱気が終了すると、例えば、シンナーの供給タイミングとなったt6時点において、次のような供給動作が行われる。つまり、t6時点において三方弁V4の切換側をエア供給源側に切り換えるとともに開閉弁V2を開放させる。これによりシンナーが送出配管7から供給される。そして、これをチャンバ15内のシンナーの供給量が処理に必要な所定量に達するt7時点まで維持する。t7時点では、開閉弁V2を閉止させるとともに、三方弁V4の切換側を吸引源に切り換える。そして、再びシンナーの供給タイミングとなったt8時点において、上述した供給動作を繰り返し行う。この供給動作は、チャンバ15内のシンナーが供給に必要な量に達しなくなる時点で停止される。この検出は、シリンダ17の高さ位置から判断できる。   When the degassing of the thinner is completed as described above, for example, at the time t6 when the supply timing of the thinner is reached, the following supply operation is performed. That is, at the time t6, the switching side of the three-way valve V4 is switched to the air supply source side and the on-off valve V2 is opened. Thus, thinner is supplied from the delivery pipe 7. Then, this is maintained until time t7 at which the supply amount of thinner in the chamber 15 reaches a predetermined amount necessary for processing. At time t7, the on-off valve V2 is closed, and the switching side of the three-way valve V4 is switched to the suction source. Then, at time t8 when the supply timing of the thinner is reached again, the above-described supply operation is repeated. This supply operation is stopped when the thinner in the chamber 15 does not reach the required amount for supply. This detection can be determined from the height position of the cylinder 17.

そして、再び処理液容器11からシンナーをチャンバ15に供給させた後、上述したように脱気処理を行って供給動作を行う。   Then, after the thinner is supplied from the processing liquid container 11 to the chamber 15 again, the degassing process is performed as described above to perform the supply operation.

本実施例によると、チャンバ15にシンナーを取り込んだ後、開閉弁V1〜V3を閉止させた状態で、三方弁V4によりチャンバ15の容積が大きくなるように変化させると、チャンバ15内が減圧される。したがって、シンナー中に溶存している気体をチャンバ15内に放出させることができる。さらに、圧力調整機構37を作動させるとともに開閉弁V3を開放させて脱気を行わせるが、圧力調整機構37により排出管9内がチャンバ15内より圧力を低くされているので、チャンバ15内が陽圧になることなくチャンバ15内の気体が排出管9を通して円滑に排出される。したがって、チャンバ15内に放出された気体が再びシンナーに溶け込むことを防止でき、脱気効率を向上させることができる。   According to the present embodiment, after the thinner is taken into the chamber 15 and the on / off valves V1 to V3 are closed, if the volume of the chamber 15 is changed by the three-way valve V4, the pressure in the chamber 15 is reduced. Ru. Therefore, the gas dissolved in the thinner can be released into the chamber 15. Furthermore, the pressure adjustment mechanism 37 is operated and the on-off valve V3 is opened to perform degassing. However, since the pressure in the discharge pipe 9 is made lower than that in the chamber 15 by the pressure adjustment mechanism 37, The gas in the chamber 15 is smoothly exhausted through the exhaust pipe 9 without the positive pressure. Therefore, it is possible to prevent the gas released into the chamber 15 from being dissolved in the thinner again, and the degassing efficiency can be improved.

また、圧力調整機構37は、アスピレータで構成されているので、可動部分がなく、簡易な構成で排出管を減圧できる。   Further, since the pressure adjustment mechanism 37 is configured by an aspirator, there is no movable part, and the discharge pipe can be depressurized with a simple configuration.

さらに、圧力調整機構37の作動タイミングを開閉弁V3が開放される直前としているので、圧力調整機構37であるアスピレータを動作させる流体の消費を抑制できる。   Furthermore, since the operation timing of the pressure adjustment mechanism 37 is immediately before the on-off valve V3 is opened, it is possible to suppress the consumption of the fluid for operating the aspirator that is the pressure adjustment mechanism 37.

また、チャンバ15から気体を排出した後は、チャンバ15から排出管9にシンナーが吸い込まれる。しかし、排出管9に気泡センサ35を備えているので、その時点で開閉弁V3を閉止することにより、脱気に伴うシンナーの消費を抑制できる。   Further, after the gas is exhausted from the chamber 15, the thinner is sucked into the exhaust pipe 9 from the chamber 15. However, since the air bubble sensor 35 is provided in the discharge pipe 9, closing the on-off valve V3 at that time can suppress the consumption of thinner accompanying degassing.

<基板処理装置>   <Substrate processing apparatus>

次に、図3を参照して、上述した処理液供給装置を備えた基板処理装置の一例について説明する。図3は、処理液供給装置を備えた基板処理装置を示す概略構成図である。なお、図3においては、他の処理液、例えば、フォトレジスト液を供給する供給系については図示を省略している。   Next, with reference to FIG. 3, an example of a substrate processing apparatus provided with the processing liquid supply apparatus described above will be described. FIG. 3 is a schematic configuration view showing a substrate processing apparatus provided with a processing liquid supply device. In FIG. 3, a supply system for supplying another processing solution, for example, a photoresist solution, is not shown.

基板処理装置は、スピンチャック51と、電動モータ53と、飛散防止カップ55と、ノズル57とを備えている。   The substrate processing apparatus includes a spin chuck 51, an electric motor 53, a scattering prevention cup 55, and a nozzle 57.

スピンチャック51は、処理対象である基板Wを水平姿勢で保持する。電動モータ53は、鉛直方向の軸心周りにスピンチャック51を回転駆動する。飛散防止カップ55は、スピンチャック51及び基板Wの側方を囲い、基板Wに供給されて周囲に飛散する処理液を回収する。ノズル57は、先端側の吐出口が基板Wの回転中心と、飛散防止カップ55の側方とにわたって移動可能に構成されている。ノズル57の基端部には、送出配管7が連通接続されている。送出配管7は、送出配管7におけるシンナーの供給流量を調整する流量調整弁59を備えている。ポンプ3を作動させることにより、ノズル57から所定流量のシンナーが基板Wに対して吐出される。なお、ノズル57からシンナーが吐出されるまでには、上述した脱気が既に行われている。   The spin chuck 51 holds the substrate W to be processed in a horizontal posture. The electric motor 53 rotationally drives the spin chuck 51 around an axis in the vertical direction. The scattering prevention cup 55 encloses the side of the spin chuck 51 and the substrate W, and is supplied to the substrate W and collects the processing liquid scattered around. The nozzle 57 is configured such that the discharge port on the tip end side is movable across the rotation center of the substrate W and the side of the scattering prevention cup 55. The delivery pipe 7 is connected in communication with the proximal end of the nozzle 57. The delivery pipe 7 is provided with a flow control valve 59 for adjusting the supply flow rate of the thinner in the delivery pipe 7. By operating the pump 3, thinner of a predetermined flow rate is discharged from the nozzle 57 to the substrate W. Note that the above-described degassing is already performed until the thinner is discharged from the nozzle 57.

この基板処理装置では、気体が溶存せず、気泡を含まないシンナーが基板Wに供給されるので、溶存した気体や気泡による基板Wへの処理の悪影響を抑制できる。したがって、その後の処理液による処理(例えば、フォトレジスト液)を好適に実施することができる。   In this substrate processing apparatus, the gas is not dissolved, and the thinner containing no bubbles is supplied to the substrate W. Therefore, the adverse effect of the dissolved gas or bubbles on the processing of the substrate W can be suppressed. Therefore, subsequent processing with a processing solution (for example, photoresist solution) can be suitably performed.

<変形例>   <Modification>

ここで、図4を参照する。図4は、処理液供給装置の変形例における概略構成を示すブロック図である。なお、上述した実施例と同じ構成については、同符号を付すことにより詳細な説明については省略する。   Here, FIG. 4 is referred to. FIG. 4 is a block diagram showing a schematic configuration in a modification of the processing liquid supply device. About the same composition as an Example mentioned above, it omits about detailed explanation by attaching a same sign.

上述した実施例における処理液供給装置1は、ポンプ3が三方弁V4によるエア供給及び吸引により駆動されている。しかしながら、本発明におけるポンプ3は、例えば、モータ61により駆動される方式であってもよい。   In the processing liquid supply device 1 in the above-described embodiment, the pump 3 is driven by air supply and suction by the three-way valve V4. However, the pump 3 in the present invention may be driven by the motor 61, for example.

変形例に係る処理液供給装置1Aは、ポンプ3Aを備えている。このポンプ3Aは、モータ61を内蔵している。このモータ61は、ポンプ本体13の下部に配置されたコイル部63と、コイル部63で鉛直軸周りに回転駆動される駆動軸65とを備えている。シリンダ17Aは、駆動軸65と螺合されている。   The treatment liquid supply apparatus 1A according to the modification includes a pump 3A. The pump 3A incorporates a motor 61. The motor 61 includes a coil portion 63 disposed in the lower portion of the pump body 13 and a drive shaft 65 rotationally driven around the vertical axis by the coil portion 63. The cylinder 17A is screwed with the drive shaft 65.

このような構成によると、モータ61が作動されると、駆動軸65が回転駆動される。すると、螺合されたシリンダ17Aが駆動軸65の回転方向及び速度に応じて昇降する。このように構成されたモータ61であっても上述した実施例と同様に脱気を行うことが可能である。   According to such a configuration, when the motor 61 is operated, the drive shaft 65 is rotationally driven. Then, the screwed cylinder 17A moves up and down according to the rotation direction and speed of the drive shaft 65. Even with the motor 61 configured as described above, degassing can be performed as in the above-described embodiment.

本発明は、上記実施形態に限られることはなく、下記のように変形実施することができる。   The present invention is not limited to the above embodiment, and can be modified as follows.

(1)上述した実施例では、チャンバ15がダイヤフラム19を備えた構成を例にとって説明したが、本発明はダイヤフラム19に代えてチューブフラムを備えた構成であってもよい。   (1) In the embodiment described above, the configuration in which the chamber 15 includes the diaphragm 19 has been described as an example, but the present invention may be configured to include a tube diaphragm instead of the diaphragm 19.

(2)上述した実施例では、圧力調整機構37をアスピレータとしたが、これに代えてポンプを利用してもよい。その場合には、アスピレータよりも減圧度合いが強いので、排出管9を直接減圧するのではなく、回収容器33を減圧して間接的に排出管9を減圧することが好ましい。   (2) In the above-described embodiment, the pressure adjusting mechanism 37 is an aspirator, but a pump may be used instead. In that case, since the degree of pressure reduction is stronger than that of the aspirator, it is preferable to reduce the pressure in the collection container 33 indirectly to reduce the pressure in the discharge pipe 9 instead of directly reducing the pressure in the discharge pipe 9.

(3)上述した実施例では、排出管9に気泡センサ35を備えているが、本発明はこれを必須とするものではない。例えば、気泡センサ35に代えて逆に処理液を検出するセンサを備えるようにしてもよい。これによりセンサが排出管9にてシンナーを検知した時点で開閉弁V3を閉止するように構成してもよい。   (3) In the embodiment described above, the air discharge sensor 9 is provided in the discharge pipe 9, but the present invention is not essential. For example, instead of the air bubble sensor 35, a sensor that detects the processing liquid may be provided. As a result, when the sensor detects the thinner in the discharge pipe 9, the on-off valve V3 may be closed.

(4)上述した実施例では、処理液としてシンナーを例にとって説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、処理液としては、フォトレジスト液や、現像液、リンス液、前処理液などであってもよい。   (4) In the above-mentioned embodiment, although the thinner is taken as an example of the processing liquid, the present invention is not limited to this. For example, the processing liquid may be a photoresist liquid, a developer, a rinse liquid, a pretreatment liquid, or the like.

1 … 処理液供給装置
3 … ポンプ
5 … 取り込み配管
7 … 送出配管
9 … 排出管
11 … 処理液容器
13 … ポンプ本体13
15 … チャンバ
17 … シリンダ
19 … ダイヤフラム
21 … 取り込み口
23 … 送出口
25 … 排出口
V1〜V3 … 開閉弁
V4 … 三方弁
35 … 気泡センサ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Processing liquid supply apparatus 3 ... Pump 5 ... Intake piping 7 ... Delivery piping 9 ... Discharge pipe 11 ... Treatment liquid container 13 ... Pump main body 13
DESCRIPTION OF SYMBOLS 15 ... Chamber 17 ... Cylinder 19 ... Diaphragm 21 ... Intake port 23 ... Delivery port 25 ... Exhaust port V1-V3 ... On-off valve V4 ... Three-way valve 35 ... Bubble sensor

Claims (6)

基板を処理するための処理液を供給する処理液供給装置において、
処理液を貯留するためのチャンバと、前記チャンバに連通され、前記チャンバに処理液を取り込む取り込み口と、前記チャンバに連通され、前記チャンバの処理液を送り出す送出口と、前記チャンバに連通され、前記チャンバの気体を排出する排出口と、前記取り込み口から前記チャンバに処理液を取り込ませ、前記送出口を通して前記チャンバから処理液を送出させ、前記排出口から気体を排出させるために、前記チャンバの容積を変化させるチャンバ駆動部とを備えたポンプと、
処理液を貯留している処理液供給源と前記取り込み口とを連通接続した取り込み配管と、
前記取り込み配管における処理液の流通を制御する取り込み開閉弁と、
前記送出口に連通接続され、前記チャンバ内の処理液を前記基板に供給する送出配管と、
前記送出配管における処理液の流通を制御する送出開閉弁と、
前記排出口に連通接続され、前記チャンバ内の気体を排出する排出管と、
前記排出管における気体の流通を制御する排出開閉弁と、
前記排出管内の圧力を前記チャンバ内の圧力より低い圧力に調整する圧力調整機構と、
を備え、
前記チャンバに処理液を取り込んだ後、前記取り込み開閉弁と、前記送出開閉弁と、前記排出開閉弁とを閉止させた状態で、前記チャンバ駆動部により前記チャンバの容積が大きくなるように変化させ、前記圧力調整機構を作動させるとともに前記排出開閉弁を開放させて脱気を行わせることを特徴とする処理液供給装置。
In a processing liquid supply apparatus for supplying a processing liquid for processing a substrate,
A chamber for storing the processing liquid, an inlet communicating with the chamber, for taking in the processing liquid to the chamber, an outlet communicating for the chamber, and an outlet for discharging the processing liquid for the chamber, and an opening for communicating the chamber An exhaust port for exhausting gas from the chamber, and a processing liquid is taken into the chamber from the intake port, the processing liquid is delivered from the chamber through the delivery port, and the gas is exhausted from the exhaust port. A pump having a chamber drive unit that changes the volume of the
An intake pipe connecting the processing liquid supply source storing the processing liquid and the intake port;
A loading on-off valve for controlling the flow of the processing liquid in the loading pipe;
A delivery pipe connected in fluid communication with the delivery port to supply the processing liquid in the chamber to the substrate;
A delivery on-off valve for controlling the flow of the treatment liquid in the delivery pipe;
An exhaust pipe connected in communication with the exhaust port and exhausting the gas in the chamber;
A discharge on-off valve for controlling the flow of gas in the discharge pipe;
A pressure control mechanism for adjusting the pressure in the discharge pipe to a pressure lower than the pressure in the chamber;
Equipped with
After the processing liquid is taken into the chamber, the chamber drive unit changes the volume of the chamber to be larger in a state in which the intake on-off valve, the delivery on-off valve, and the discharge on-off valve are closed. A processing liquid supply apparatus characterized in that the pressure adjustment mechanism is operated and the discharge on / off valve is opened to perform degassing.
請求項1に記載の処理液供給装置において、
前記圧力調整機構は、アスピレータであることを特徴とする処理液供給装置。
In the processing liquid supply apparatus according to claim 1,
The treatment liquid supply apparatus, wherein the pressure adjustment mechanism is an aspirator.
請求項1または2に記載の処理液供給装置において、
前記圧力調整機構は、前記排出開閉弁が開放されるまでに作動されることを特徴とする処理液供給装置。
In the processing liquid supply apparatus according to claim 1 or 2,
The processing liquid supply apparatus, wherein the pressure adjusting mechanism is operated before the discharge on-off valve is opened.
請求項1から3のいずれかに記載の処理液供給装置において、
前記ポンプは、前記チャンバがダイヤフラムを備えていることを特徴とする処理液供給装置。
In the processing liquid supply apparatus according to any one of claims 1 to 3,
The processing liquid supply device according to claim 1, wherein the chamber includes a diaphragm.
請求項1から4のいずれかに記載の処理液供給装置において、
前記排出管は、処理液中の気泡を検出する気泡センサを備え、
脱気を開始した後、前記気泡センサが気泡を検出しなくなった時点で前記排出開閉弁を閉止することを特徴とする処理液供給装置。
In the processing liquid supply device according to any one of claims 1 to 4.
The discharge pipe is provided with a bubble sensor that detects bubbles in the treatment liquid,
A processing liquid supply apparatus characterized by closing the discharge on-off valve when the air bubble sensor stops detecting air bubbles after degassing is started.
基板を処理するための処理液を供給する処理液供給装置の脱気方法において、
処理液を貯留するチャンバの容積を変化させるチャンバ駆動部により前記チャンバの容積が大きくなるように変化させて、前記チャンバの取り込み口に連通接続された取り込み配管から処理液を前記チャンバ内に取り込む過程と、
前記取り込み配管と、前記チャンバから基板に処理液を送り出す送出配管と、前記チャンバの気体を排出する排出管とを閉止した状態で、前記チャンバ駆動部により前記チャンバの容積がさらに大きくなるように変化させる過程と、
前記チャンバから気体を排出する排出管内を、前記チャンバ内より低い圧力に調整する過程と、
前記チャンバと前記排出管とを連通させて脱気する過程と、
を実施することを特徴とする処理液供給装置の脱気方法。
In a degassing method of a processing liquid supply apparatus for supplying a processing liquid for processing a substrate,
A process of changing the volume of the chamber for storing the treatment liquid so as to increase the volume of the chamber by the chamber drive unit, and taking the treatment liquid into the chamber from the intake pipe connected in communication with the intake port of the chamber When,
With the intake pipe, the delivery pipe for delivering the processing liquid from the chamber to the substrate, and the exhaust pipe for exhausting the gas in the chamber closed, the chamber drive changes so that the volume of the chamber is further increased. And the process of
Adjusting the pressure in the exhaust pipe for discharging the gas from the chamber to a pressure lower than that in the chamber;
Degassing the chamber and the discharge pipe in communication with each other;
A degassing method for a processing liquid supply apparatus, characterized in that:
JP2018003736A 2018-01-12 2018-01-12 Treatment liquid supply device and its degassing method Active JP6987649B2 (en)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018003736A JP6987649B2 (en) 2018-01-12 2018-01-12 Treatment liquid supply device and its degassing method
TW107141204A TWI692831B (en) 2018-01-12 2018-11-20 Treatment liquid supply device and degassing method
KR1020180150908A KR102209902B1 (en) 2018-01-12 2018-11-29 Treatment liquid supply device and deairing method thereof
CN201811458010.4A CN110034041B (en) 2018-01-12 2018-11-30 Treatment liquid supply device and degassing method thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018003736A JP6987649B2 (en) 2018-01-12 2018-01-12 Treatment liquid supply device and its degassing method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019125628A true JP2019125628A (en) 2019-07-25
JP6987649B2 JP6987649B2 (en) 2022-01-05

Family

ID=67235284

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018003736A Active JP6987649B2 (en) 2018-01-12 2018-01-12 Treatment liquid supply device and its degassing method

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP6987649B2 (en)
KR (1) KR102209902B1 (en)
CN (1) CN110034041B (en)
TW (1) TWI692831B (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021010511A (en) * 2019-07-04 2021-02-04 株式会社大一商会 Game machine
KR20230099540A (en) * 2021-12-27 2023-07-04 세메스 주식회사 Equipment for treating substrate and treatment solution degassing method

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102572629B1 (en) * 2020-09-10 2023-08-31 세메스 주식회사 Degassing apparatus, equipment for treating substrate and treatment solution degassing method
CN113134253A (en) * 2021-04-06 2021-07-20 江苏奥普莱医疗用品有限公司 Bubble removing device for anti-aging essence production
CN119037923A (en) * 2024-08-26 2024-11-29 西安奕斯伟材料科技股份有限公司 Chemical supply device and method, cleaning device, medium and computer device

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1092719A (en) * 1996-09-13 1998-04-10 Tokyo Electron Ltd Resist processing equipment
JPH10144604A (en) * 1996-09-13 1998-05-29 Tokyo Electron Ltd Resist treatment method
JP2001077015A (en) * 1999-07-02 2001-03-23 Tokyo Electron Ltd Processing liquid supply device
JP2014078562A (en) * 2012-10-09 2014-05-01 Tokyo Electron Ltd Processing liquid supply method, processing liquid supply device and storage medium
JP2014082513A (en) * 2012-02-27 2014-05-08 Tokyo Electron Ltd Liquid processing apparatus and method

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4264903A (en) 1978-06-12 1981-04-28 General Electric Company Capacitive touch control and display
KR100230753B1 (en) * 1991-01-23 1999-11-15 도꾜 일렉트론 큐슈리미티드 Liquid spreading system
KR100669867B1 (en) * 2001-05-30 2007-01-17 삼성전자주식회사 Filtering device of the photoresist composition
JP2006231126A (en) * 2005-02-22 2006-09-07 Ataka Construction & Engineering Co Ltd Organic waste liquid treatment device and organic waste liquid treatment system
JP4901650B2 (en) * 2007-08-31 2012-03-21 東京エレクトロン株式会社 Liquid processing apparatus, liquid processing method, and storage medium
JP4994211B2 (en) * 2007-12-20 2012-08-08 大日本スクリーン製造株式会社 Substrate processing equipment
JP5453561B1 (en) * 2012-12-20 2014-03-26 東京エレクトロン株式会社 Liquid processing apparatus, liquid processing method, and storage medium for liquid processing
JP5967045B2 (en) * 2013-10-02 2016-08-10 東京エレクトロン株式会社 Treatment liquid supply apparatus and treatment liquid supply method
JP5999073B2 (en) * 2013-11-20 2016-09-28 東京エレクトロン株式会社 Treatment liquid supply apparatus, treatment liquid supply method, and storage medium
US9817315B2 (en) * 2014-03-13 2017-11-14 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. System and method for supplying and dispensing bubble-free photolithography chemical solutions
KR20160088509A (en) * 2015-01-15 2016-07-26 (주)티티에스 Source Supplier and Substrate Processing Apparatus For Having the Same
TWI736579B (en) * 2016-02-15 2021-08-21 日商東京威力科創股份有限公司 Liquid treatment method, substrate treatment device and recording medium

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1092719A (en) * 1996-09-13 1998-04-10 Tokyo Electron Ltd Resist processing equipment
JPH10144604A (en) * 1996-09-13 1998-05-29 Tokyo Electron Ltd Resist treatment method
JP2001077015A (en) * 1999-07-02 2001-03-23 Tokyo Electron Ltd Processing liquid supply device
JP2014082513A (en) * 2012-02-27 2014-05-08 Tokyo Electron Ltd Liquid processing apparatus and method
JP2014078562A (en) * 2012-10-09 2014-05-01 Tokyo Electron Ltd Processing liquid supply method, processing liquid supply device and storage medium

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021010511A (en) * 2019-07-04 2021-02-04 株式会社大一商会 Game machine
KR20230099540A (en) * 2021-12-27 2023-07-04 세메스 주식회사 Equipment for treating substrate and treatment solution degassing method
JP2023097413A (en) * 2021-12-27 2023-07-07 セメス カンパニー,リミテッド SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS AND PROCESSING LIQUID DEASSING METHOD
KR102666438B1 (en) * 2021-12-27 2024-05-17 세메스 주식회사 Equipment for treating substrate and treatment solution degassing method

Also Published As

Publication number Publication date
TWI692831B (en) 2020-05-01
TW201931497A (en) 2019-08-01
CN110034041A (en) 2019-07-19
CN110034041B (en) 2023-08-04
KR102209902B1 (en) 2021-01-29
KR20190086348A (en) 2019-07-22
JP6987649B2 (en) 2022-01-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN110034041B (en) Treatment liquid supply device and degassing method thereof
JP3461725B2 (en) Treatment liquid supply device and treatment liquid supply method
JP6512894B2 (en) Treatment liquid supply apparatus and control method of treatment liquid supply apparatus
TWI645450B (en) Processing liquid supply device, processing liquid supply method, and recording medium
US10741422B2 (en) Substrate processing device and substrate processing method
JP5231028B2 (en) Coating liquid supply device
CN110800086B (en) Substrate processing apparatus and substrate processing method
TW201624558A (en) Substrate processing method and substrate processing device
CN108025335B (en) Processing liquid supply device, substrate processing system, and processing liquid supply method
US20040062874A1 (en) Nozzle assembly, system and method for wet processing a semiconductor wafer
EP1820652A3 (en) Method of detecting liquid residual quantity, failure detection device, liquid consuming apparatus, and liquid container
KR20220163773A (en) Apparatus for treating substrate using liquid and method for cotrolling liquid
CN210205982U (en) Grinding fluid filtering device
KR20010049010A (en) Apparatus for supplying photo resist
JP4583216B2 (en) Substrate processing method
JP5775371B2 (en) Sanding device and method
JPH09173404A (en) Bubble generator
JP4446917B2 (en) Substrate processing method and substrate processing apparatus
KR20090032275A (en) Substrate Processing Equipment and Substrate Processing Method
CN116603805B (en) Liquid path bubble removing device and removing method
KR20190022319A (en) Treatment liquid supply device
CN101726619B (en) Biochemical analyser and water inlet method thereof
JP3765726B2 (en) Substrate processing liquid supply mechanism
JP2008159871A (en) Substrate processing apparatus and substrate processing method
JP3745665B2 (en) Nozzle device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20201218

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20211029

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20211116

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20211201

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6987649

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250