JP2019191380A - 光モジュール、光配線基板および光モジュールの製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】WLPにより実装される光モジュールに対して、OBO方式を採用しながらも、光モジュールと光ファイバとの接合箇所が二次元的な自由度を有する光モジュール、光配線基板、光モジュールの製造方法を提供する。【解決手段】光モジュール400は、基板401と、基板に対して略垂直方向に進行する光の進行方向を基板に対して略平行方向に変化させ、基板に対して略平行方向に進行する光の進行方向を基板に対して略垂直方向に変化させる複数の光入出力部と、光入出力部同士を光学的に接続する1または複数の光導波路と、光入出力部および光導波路を含むように基板に纏着されるリッド403とを備え、該リッドは、その側面外部から側面内部へと進行する光の進行方向を光入出力部に進行するように変化させ、かつ光入出力部から出力された光の進行方向をリッドの側面内部から側面外部へと進行するように変化させる1または複数の反射ミラー406を有する。【選択図】図4
Description
本発明は、光モジュールの実装構造および実装方法に関するものであって、特に、オンボードオプティクスにおける光モジュールの光配線構造に関する。
一般に、光通信に用いられる光トランシーバを構成する部品群(光源、変調器、受光器、またはこれらに関連する電気回路)は、CFP(Centum gigabit Form factor Pluggable)規格などに代表される規格化されたフォームファクタの中に集積され、実装され、パッケージ化されている。
図1に、従来の光トランシーバ100の構成(図1(a))およびその光トランシーバを実装した通信装置110の構成(図1(b))を例示する。この実装方法の利点は、通信装置110の保守性の高さである。
たとえば、図1(b)に示すように、通信装置110は、そのフロントエンド部として、通信装置110の内部に光部品群をパッケージ化した光トランシーバ100を複数個実装する。光トランシーバ100を構成する各部品の故障や老朽化、たとえば送信用光ファイバ101または受信用光ファイバ102の断線、受光器104内の素子の損傷、または制御回路106の電子回路構成部品の劣化が生じたときは、通信装置110本体から故障や老朽化した部品を有する光トランシーバ110のみを取り外し、通信装置110に、新たに、正常な光トランシーバを代替実装することにより通信装置110の動作を正常に保つことができる。
一方、光モジュールを通信装置内に実装する上記とは異なる方法として、オンボードオプティクス(On−Board Optics、以下、OBOという)による実装方式(以下、OBO方式という)が知られている。このOBO方式は、図1に示すように、光トランシーバを構成するために構成部品群をあらかじめパッケージ化して光モジュールを構成した後に通信装置内に実装するのではなく、光モジュールを構成する部品群を直接的に通信装置内のプリント配線基板に対して実装する方式である。
図2は、図1(b)に示す光トランシーバを実装した通信装置110を、OBO方式により構成した通信装置200の構成の例である。通信装置200は、あらかじめパッケージ化された光トランシーバが一体のモジュールとして実装されておらず、変調器213、受光器214、光源215、制御回路216の部品群が実装基板210上に実装され、それらにより光トランシーバとしての機能が実現されている構成を有している。
OBO方式の第1の利点は、複数の光モジュールをそれぞれパッケージ化する必要が無いため、部品点数の減少に伴う実装コストの削減により、通信装置を構成する際に低コスト化を図ることができる点である。
また、図2に示すように、通信装置200内の光トランシーバは、パッケージ化された光モジュールではないため、通信装置200から光モジュールを着脱すること自体がない。したがって、光トランシーバを構成する部品群(変調器213、受光器214、光源215、制御回路216)を通信装置200内の実装基板210の1つの端に並べて、一次元的に実装する必要が無くなる。すなわち、光トランシーバを構成する部品群213、214、215、216を実装基板210上の任意の箇所に二次元的に配置する事が可能となる。
OBO方式の第2の利点は、上記の二次元的な配置が可能であることに基づいて、光モジュールを構成する部品群の実装基板210上における実装密度向上による通信装置200を小型化することが可能な点や、光モジュールを構成する部品群の実装基板210上における配置を適切に調節することにより、通信装置200の熱マネジメントを効率化することが可能となり、ひいては通信装置200の低消費電力化を可能とする点である。
このOBO方式に対する技術要求は、3つある。第1の技術要求は、光モジュールを構成する部品群を、通信装置内の実装基板上に平面的に表面実装するため、部品群の各部品は、BGA(ball grid array)などの略平面的な実装可能部分を備えている事、かつ、部品群の各部品がリフロー工程における熱に耐え得ること、いわゆるリフローラブルな耐熱性を有していることである。
第2の技術要求は、部品群の実装位置のずれを抑止する観点から、リフロー工程におけるセルフアライメント効果が精度良く機能することである。
さらに、第3の技術要求は、BGAなどを用いた実装方法で簡易に実現されている光モジュールと実装基板との間における電気的な結合と同様に、光モジュールと実装基板との間の光学的な結合についても低コストで実現できることである。
上記の、OBO方式における3つの技術要求に応えるために、ウェハレベルパッケージング(Wafer Level Packaging、以下、WLPという)による実装方法が適用される。WLPによる実装方法は、半導体ウェハから半導体チップに切り出した後にその半導体チップ上に部品群を実装するのではなく、半導体ウェハの状態のままで部品群を実装した後にその実装された部分を半導体チップとして切り出す実装方法である。
たとえば、光モジュールを構成する部品群を、半導体ウェハ上に適宜配置して実装し、その後、半導体ウェハから各光モジュール単位で適切に切り出すことにより、光モジュールが実装された半導体チップを得ることができる。
図3は、WLPによる実装方法により作製され、OBO方式による光モジュール300が、実装基板301上に実装された実装構造の例を示す。
ここで、光モジュール300は、光制御回路333、Si光回路330を備えている。Si光回路330は、半導体としてSi(シリコン)を採用し、半導体ウェハの状態のまま変調器などを含む光制御回路333を形成し、その後に半導体チップとして切り出したものである。この光モジュール300と実装基板301とを電気的に接続する必要がある。
実装基板301上には、樹脂封止材310により封止された2つの電気回路1および電気回路2(312)が、はんだバンプまたははんだボール302を備えたBGAパッケージにより実装され、実装基板301と電気的に接続している。
光電変換を行うレーザダイオード320は、樹脂封止材310を貫通する電気配線により、電気回路1および電気回路2(312)と電気的に接続している。
ここで、レーザダイオード320から射出されるレーザ光321を光制御回路333へと入力可能なように、光モジュール300を接着剤303により樹脂封止材310の上に接着する。
光モジュール300からの光信号の出力は、光ファイバ331を用いて行う。光ファイバ331は、樹脂封止材310とSi光回路330とにより挟持されている光ファイバ固定構造332により固定され、Si光回路330と光学的に接続している。
Takanori Suzuki, Koichiro Adachi, Aki Takei, Kohichi R. Tamura, Akira Nakanishi, Kazuhiko Naoe, Tsukuru Ohtoshi, Kouji Nakahara, Shigehsa Tanaka, and Kazuhisa Uomi, "Cost-Effective Optical Sub-Assembly Using Lens-Integrated Surface-Emitting Laser", J. Ligtw. Technol., vol. 34 No. 2, p.358 (2016)
ここで、図3に例示するWLPによる光モジュールの実装方法によれば、光モジュール300を構成するSi光回路330の端面で光ファイバ331を固定して、光モジュール300と光ファイバ331とを光学的に接続する構成である。したがって、1つの光モジュール300、すなわち1つの半導体チップに接続することが可能な光ファイバ331の本数は、光モジュール300の大きさにより制限される。
さらに、光モジュール300と光ファイバ331との接続部分は、Si光回路330の端面に限定されるため、光モジュール300に複数本の光ファイバ331を接続する場合には、一次元的な配置に律される。したがって、OBO方式の利点である、光モジュールを構成する部品群についての配置自由度を低下させることとなる。
よって、従来のWLPによる実装方法は、OBO方式における技術要求の解決と、OBO方式の利点とを両立することができない。
ところで、近年、光モジュールの光信号の入出力箇所を実装基板の伸延方向に対して垂直方向に向けて設置する実装構造が報告されている。
たとえば、非特許文献1において、面発光レーザを構成する半導体チップ内の水平な導波路を伝搬するレーザ光を、その半導体レーザチップ内に設置された跳ね上げミラーにより垂直方向に反射させ、半導体チップ内の導波路の方向に対して垂直方向に設置された光ファイバに入射させる構成が開示されている(非特許文献1)。
本願発明者らは、非特許文献1に開示される半導体チップの構成を応用し、その構成に、内部に反射ミラーを有するリッドを備え、さらにそのリッドの任意の側面にリッドの内部と外部とを光学的に接続する光ファイバアレイを有する光モジュールの構成を独自に着想し本願発明を完成するに至った。
本発明は、上記課題を解決するためになされたものである。具体的には、WLPにより実装される光モジュールに対して、OBO方式を採用しながらも、光モジュールと光ファイバとの接合箇所が二次元的な自由度を有する、光モジュール、光配線基板、および光モジュールの製造方法を提供する。
本願の発明の一実施形態の光モジュールは、基板と、基板に対して略垂直方向に進行する光の進行方向を基板に対して略平行方向に変化させ、かつ基板に対して略平行方向に進行する光の進行方向を基板に対して略垂直方向に変化させる複数の光入出力部と、光入出力部同士を光学的に接続する1または複数の光導波路と、光入出力部および光導波路を含むように基板に纏着されるリッドとを備えている。
このリッドは、リッドの側面外部から側面内部へと進行する光の進行方向を光入出力部に進行するように変化させ、かつ光入出力部から出力された光の進行方向をリッドの側面内部から側面外部へと進行するように変化させる1または複数の反射ミラーを有する。
本願の発明の一実施形態の光モジュールの製造方法は、光を基板に対して略垂直に入力させかつ出力させる複数の光入出力部と、光入出力部同士を光学的に接続する1または複数の光導波路とを、基板に設置する第1の工程と、第1の工程に次いで、1または複数の反射ミラーを有するリッドを、反射ミラーが光入出力部の垂直上部に配置されるように、かつ光入出力部および光導波路を含むように基板に纏着する第2の工程と、第2の工程に次いで、少なくとも1つのリッドを含むように、基板を切り出して、切り出された基板の1つを1つの光モジュールとして取得する第3の工程と、を備える。
上記で説明したように、本発明によれば、OBO方式の利点である、実装基板上における光モジュールの配置自由度の高さを最大限に活用することができる。
(実施例1)
本発明の第1の実施例として、光モジュールについて説明する。図4は、本発明による反射ミラー付きリッドを備える光モジュール400の構造を示す図である。図4(a)は、その側断面図であり、図4(b)は、その上面図であり図4(a)のA−A’断面である。
本発明の第1の実施例として、光モジュールについて説明する。図4は、本発明による反射ミラー付きリッドを備える光モジュール400の構造を示す図である。図4(a)は、その側断面図であり、図4(b)は、その上面図であり図4(a)のA−A’断面である。
本実施例では、光モジュールとして、4つの入力ポートおよび4つの出力ポートを備える導波路型光スイッチを示す。導波路型光スイッチを構成する部品群は、半導体チップ401に実装され、部品群のそれぞれの部品同士は、電気的にまたは光学的に接続している。この導波路型光スイッチは、半導体チップ401に形成されたマイクロヒータ(図4において図示せず)に流す電流を制御することにより、入力ポートと出力ポートとの組み合わせを任意に設定することができる。なお、図4において、導波路型光スイッチを構成する部品群は、省略され描かれていない。
半導体チップ401は、チップキャリア402の上に実装され、半導体チップ401とチップキャリア402とは電気的に接続している。リッド403は、半導体チップ401およびチップキャリア402を完全に覆うように纏着されている。反射ミラー406は、リッド403の内面上部に配置されている。本実施例では、4つの入力および4つの出力のそれぞれに対して対応するように、合計8個の反射ミラーが配置されている。
反射ミラー406は、リッド403と同じ材質によりリッド403と一体に形成することもでき、また、別途作製したリッド403の内面上部に対して接着して配置させることもできる。さらに、反射ミラー406の斜面上に、金などの金属を蒸着法などの公知の薄膜形成手段によって反射面を形成することができる。
リッド403は、半導体チップ401およびチップキャリア402を完全に覆うように半導体チップ401またはチップキャリア402に対して、接着部409により接着されている。まず、この接着方法は、リッド403に接着用金属A407を、および半導体チップ401またはチップキャリア402に接着用金属B408を設け、それら接着用金属A407と接着用金属B408とを互いを圧着させ、その圧着部分に熱処理を行うことにより、半導体チップ401またはチップキャリア402とリッド403とを接着させることができる。
接着用金属A407は、リッド403の下面開放部の端面上に設けられ、接着用金属B408は、半導体チップ401およびチップキャリア402のいずれかに設けられる。ここで、接着用金属B408は、反射ミラー付きリッドを備えた光モジュール400をWLPにより実装する場合は、半導体チップ401に設けられる方が好ましい。接着用金属B408が、半導体チップ401に設けられる場合、半導体チップ401の光モジュールを構成する部品群が実装される半導体チップ401の面の外周内側に外周に沿って設けられる(以下では、接着用金属B408が半導体チップ401に設けられる場合について説明する)。
接着用金属A407および接着用金属B408は、蒸着法により作製されることが好ましい。また、接着用金属A407および接着用金属B408は、金属としてAu(金)を採用することが好ましく、バンプ状に設けられることが好ましい。
また、半導体チップ401とリッド403とを接着するとき、それらの接合部に対して行う熱処理の温度は、半導体チップ401に光モジュールを構成する部品群を実装するときの温度以下であることが望ましい。すなわち、半導体チップ401に光モジュールを実装するときの温度以下であることが望ましい。この温度を規制することにより、光モジュールを構成する部品群と半導体チップ401との間の機械的接合強度および電気的接合安定性の確保が実現でき、ひいては光モジュールの動作安定性を確保することができる。
本実施例において、半導体チップ401の材料として、たとえばInP(インジウム・リン)を採用した場合、半導体チップ401とリッド403とを接着するときの熱処理の温度は、300℃以下であることが望ましい。さらに、熱処理の温度を低くする場合には、超音波接着法を適用することもできる。この超音波接着法を適用した場合には、接着するときの熱処理の温度の上限を、300℃から150℃へと低下させることが可能である。具体的には、接合部409に対して局部的な超音波振動と圧力を加えることにより、リッド403側に設けた接着用金属A407と半導体チップ401側に設けた接着用金属B408とを瞬時に溶融させ、接合部409を形成して接合させることができる。
反射ミラー付きリッドを備えた光モジュール400の外部から入力する光は、光ファイバアレイ404中を導波してリッド403の内部へ入力される。光は、リッド403の内部に入力されるとき、光ファイバアレイ404の末端に接続されたコリメート用レンズアレイ405により平行光とされ、リッド403の内部へと出射される。
リッド403の内部へと射出された光は、図4におけるY軸方向に直進し、反射ミラー406により反射されて、図4におけるZ軸方向に光路が変更されそのまま直進し、半導体チップ401に実装された光入出力部(図4において図示せず。後に説明する図5における501を指す)へと入射する。
光入出力部に入射した光は、半導体チップ401の表面または内部に配置された導波路401aの内部を伝搬し、入射した光入出力部とは異なる光入出力部から、半導体チップ401に対して垂直方向に、すなわち図4におけるZ軸方向に射出する。出射した光は、反射ミラー406により再び反射され、図4におけるY軸方向に光路が変更されそのまま直進し、出力ポートとして設けられている光ファイバアレイ404へと入射し、反射ミラー付きリッドを備えた光モジュール400の外部へと出力される。反射ミラー付きリッドを備えた光モジュール400の外部へと光が出力されるときは、反射ミラー付きリッドを備えた光モジュール400の内部に入力するときとは反対に、光は、まずコリメート用レンズアレイ405を介して平行光とされて、その後に光ファイバアレイ404へと入射する。
本実施例は、光モジュールの一例として、4つの入力ポートおよび4つの出力ポートを備える光導波路スイッチを示している。本発明によれば、光モジュールは、導波路型光スイッチに限定されることなく、任意の光モジュールに対して適用することができる。たとえば、入出力ポートである光ファイバアレイ404の光ファイバの本数の増減、またリッド403の内部上面に形成される反射ミラー406の配置の変更を行うことにより、任意の入出力ポート数、また任意の位置に配置された光入出力部を有する光モジュールについて適用することが可能である。
(実施例2)
図5は、本発明の光モジュールの製造方法を示す図である。図5(a)は、チップキャリア402の上に実装された半導体チップ401(以下、光モジュールセット500という)の上面図であり、図5(b)は、プリント配線基板(以下、PCBという)502に光モジュールセット500を実装したときの側断面図である。
図5は、本発明の光モジュールの製造方法を示す図である。図5(a)は、チップキャリア402の上に実装された半導体チップ401(以下、光モジュールセット500という)の上面図であり、図5(b)は、プリント配線基板(以下、PCBという)502に光モジュールセット500を実装したときの側断面図である。
まず、実装された半導体チップ401をチップキャリア402上に実装し光モジュールセット500を形成する。その光モジュールセット500をPCB502の上に実装する。
半導体チップ401には、半導体チップ401の面に対して垂直方向に光を入出力することが可能な光入出力部501が設けられている。本実施例における光入出力部501は、光の進行方向を図5におけるY軸方向とZ軸方向と間で相互に変更する光跳ね上げ部501aと、光跳ね上げ部により進行方向が変更された光を収束させるためのレンズ501bとにより形成されている。また、半導体チップ401に複数設けられた光入出力部は、半導体チップ401の表面または内部に設けられた導波路401aにより光学的に接続されている。本実施例における光入出力部501を形成する光跳ね上げ部、レンズ、および導波路の配置および構成は、非特許文献1と同様である。
光モジュールセット500は、はんだリフロー工程により、PCB502上に実装される。符号510は、光モジュールセット500がPCB502上に実装された状態を示している。半導体チップ401とPCB502との電気的な接続は、チップキャリア上面に設けられた電気配線(図5において図示せず)およびチップキャリア402の底面に設けられたはんだバンプまたははんだボール503を介して行われる。
図6は、光モジュールセット500を覆うための反射ミラー付きリッド600である。図6(a)は、その側断面図であり、図6(b)は、その下面図である。
まず、リッド403に、光ファイバアレイ404、コリメート用レンズアレイ405、および反射ミラー406を接続、または形成して、反射ミラー付きリッド600を形成する。反射ミラー406(符号601は、406の斜視図である)は、半導体チップ401に設けられた光入出力部501の垂直上方に位置するように、反射ミラー付きリッド600の内面上部に形成される。また、光ファイバアレイ404の末端に接続されているコリメート用レンズアレイ405は、反射ミラー406により反射した光を入射可能とするように、且つ光ファイバアレイ404の内部を伝搬してきた光を反射ミラーにより反射可能とするように、反射ミラー付きリッド600の側壁に対して接続される。
このとき、コリメート用レンズアレイ405は、コリメート用レンズアレイ405が反射ミラー付きリッド600の側壁を貫通して内部まで到達するように、反射ミラー付きリッド600の側壁に設けられた溝(図6における破線部)に挿通して接続することができる。また、コリメート用レンズアレイ405は、反射ミラー付きリッド600の側壁に溝が設けられていない場合においても、反射ミラー付きリッド600の材質を適切に選択することにより、反射ミラー付きリッド600の内部まで到達させることなく、そのまま反射ミラー付きリッド600の側壁に対して接続することができる。このとき、反射ミラー付きリッド600の材料として、光通信用の光の周波数に対して光吸収の程度が低い材料が好ましく、たとえば、シリコンを採用することができる。
次いで、はんだリフロー工程によりPCB502上に実装された光モジュールセット500に対して、反射ミラー付きリッド600を、反射ミラー付きリッド600とPCB502とにより光モジュールセット500を纏着するように、PCB502上に実装する。
反射ミラー付きリッド600は、上記のように、予め反射ミラーの位置が、光入出力部501の垂直方向上側に位置するように配置されているため、別途のレーザダイオードなどを用意してアライメントを調整することなく、半導体チップ401に設けられた光入出力部501と、反射ミラー付きリッド600に設けられた反射ミラー406、コリメート用レンズアレイ405および光ファイバアレイ404を、簡便にかつ短時間で光学的に接続することができる。
また、この光学的な接合は、パッシブアライメントによる作用およびその効果を適用することができ、たとえば、反射ミラー付きリッド600とPCB502を接合するときにはんだを使う場合には、はんだ接合のセルフアライン効果を利用することができ、また機械的に接合する場合には、反射ミラー付きリッド600とPCB502との間の突き当てやはめ合いによる位置決めを利用することができる。
(実施例3)
本実施例では、光モジュールとして、半導体アンプを集積した光変調器を採用した場合ついて説明する。このときの半導体チップ401、チップキャリア402および反射ミラー付きリッド600の配置関係は、図4に示す反射ミラー付きリッドを備えた光モジュール400と同じである。また、半導体チップ401は、その材料としてInP(インジウム・リン)を採用している。
本実施例では、光モジュールとして、半導体アンプを集積した光変調器を採用した場合ついて説明する。このときの半導体チップ401、チップキャリア402および反射ミラー付きリッド600の配置関係は、図4に示す反射ミラー付きリッドを備えた光モジュール400と同じである。また、半導体チップ401は、その材料としてInP(インジウム・リン)を採用している。
本実施例において実施例1と異なる点は、反射ミラー付きリッドを備えた光モジュール400の入出力ポートである光ファイバアレイ404が、その末端にコリメート用レンズアレイ405に加え、さらに光アイソレータ701を備える点である。
図7は、コリメート用レンズアレイ405を備える光ファイバアレイ404、およびさらに光アイソレータ701を備える光ファイバアレイ404を示す図である。図7(a)は、光ファイバアレイ404の末端にコリメート用レンズアレイ405を備えた場合であり、図7(b)は、コリメート用レンズアレイ405の末端にさらに光アイソレータ701を備えた場合であり、図7(c)は、図7(b)と逆方向に光を進行させる光アイソレータ701を備えた場合である。
光モジュールが、本実施例において採用した半導体アンプのように増幅機能を有する場合、反射ミラー付きリッドを備えた光モジュール400の外部から帰還した光により、光モジュール内において発振現象を誘発して光モジュールの動作が不安定となる場合がある。そこで、光アイソレータ701を備えた光ファイバアレイ404を、反射ミラー付きリッドを備えた光モジュール400の入出力ポートとして用いることにより、この発振現象を効率よく抑止することができる。
具体的には、図4おける反射ミラー付きリッドを備えた光モジュール400の入力ポート(図4の向かって左側)に図7(b)の光アイソレータ701を備えた光ファイバアレイ404を、出力ポート(図4の向かって右側)に図7(c)の光アイソレータ701を備えた光ファイバアレイ404を配置する。
この構成により、反射ミラー付きリッドを備えた光モジュール400の外部から帰還した光は、反射ミラー付きリッド600の内部に入力される際に、帰還方向の順方向にしか通過せず、且つ逆方向の光が遮断される。
上記の実施例1乃至3によれば、OBO方式の利点である二次元的な配置の自由度を確保しながらも、方向や配線数に規制をされることなく、光回路を設計できることが明らかである。
100 従来の光トランシーバ
101、211 送信用光ファイバ
102、212 受信用光ファイバ
103、213 変調器
104、214 受光器
105、215 光源
106、216 制御回路
110 従来の光トランシーバ100を実装した通信装置
200 OBO方式により構成した通信装置
210 実装基板
300 光モジュール
301 光モジュール300が実装された実装基板
302、503 はんだバンプまたははんだボール
303 接着剤
310 樹脂封止材
312 電気回路1および電気回路2
320 レーザダイオード
321 レーザダイオード320から射出されるレーザ光
330 Si光回路
331 光ファイバ
332 光ファイバ固定構造
333 光制御回路
400 反射ミラー付きリッドを備えた光モジュール
401 半導体チップ
402 チップキャリア
403 リッド
404 光ファイバアレイ
405 コリメート用レンズアレイ
406 反射ミラー
407 接着用金属A
408 接着用金属B
409 接合部
500 光モジュールセット
501 光入出力部
502 プリント配線基板
510 光モジュール500が実装された光配線基板
600 反射ミラー付きリッド
601 反射ミラー406の斜視図
701 光アイソレータ
101、211 送信用光ファイバ
102、212 受信用光ファイバ
103、213 変調器
104、214 受光器
105、215 光源
106、216 制御回路
110 従来の光トランシーバ100を実装した通信装置
200 OBO方式により構成した通信装置
210 実装基板
300 光モジュール
301 光モジュール300が実装された実装基板
302、503 はんだバンプまたははんだボール
303 接着剤
310 樹脂封止材
312 電気回路1および電気回路2
320 レーザダイオード
321 レーザダイオード320から射出されるレーザ光
330 Si光回路
331 光ファイバ
332 光ファイバ固定構造
333 光制御回路
400 反射ミラー付きリッドを備えた光モジュール
401 半導体チップ
402 チップキャリア
403 リッド
404 光ファイバアレイ
405 コリメート用レンズアレイ
406 反射ミラー
407 接着用金属A
408 接着用金属B
409 接合部
500 光モジュールセット
501 光入出力部
502 プリント配線基板
510 光モジュール500が実装された光配線基板
600 反射ミラー付きリッド
601 反射ミラー406の斜視図
701 光アイソレータ
Claims (6)
- 光信号と電気信号とを相互に変換する光モジュールであって、
基板と、
前記基板に対して略垂直方向に進行する光の進行方向を前記基板に対して略平行方向に変化させ、かつ前記基板に対して略平行方向に進行する前記光の進行方向を前記基板に対して略垂直方向に変化させる複数の光入出力部と、
前記光入出力部同士を光学的に接続する1または複数の光導波路と、
前記光入出力部および前記光導波路を含むように前記基板に纏着されるリッドとを備え、
前記リッドは、前記リッドの側面外部から側面内部へと進行する前記光の進行方向を前記光入出力部に進行するように変化させ、かつ前記光入出力部から出力された前記光の進行方向を前記リッドの側面内部から側面外部へと進行するように変化させる1または複数の反射ミラーを有する、
光モジュール。 - 前記光入出力部は、前記基板に対して略平行に配置し、
前記反射ミラーは、前記光入出力部の垂直上方に配置している、
請求項1に記載の光モジュール。 - 第1の光ファイバアレイは、前記リッドの第1の側面に配置され、前記第1の光ファイバアレイの端面が、前記反射ミラーに対向し、
第2の光ファイバアレイは、前記リッドの第2の側面に配置され、前記第2の光ファイバアレイの端面が、前記反射ミラーに対向している、
前記第1の光ファイバアレイと前記第2の光ファイバアレイとをさらに備える、
請求項1または2に記載の光モジュール。 - 請求項3に記載の光モジュールと電気的にかつ/または光学的に接続する光配線基板。
- 光信号と電気信号とを相互に変換する光モジュールの製造方法であって、
光を基板に対して略垂直に入力させかつ出力させる複数の光入出力部と、前記光入出力部同士を光学的に接続する1または複数の光導波路とを、前記基板に設置する第1の工程と、
第1の工程に次いで、1または複数の反射ミラーを有するリッドを、前記反射ミラーが前記光入出力部の垂直上部に配置されるように、かつ前記光入出力部および前記光導波路を含むように前記基板に纏着する第2の工程と、
前記第2の工程に次いで、少なくとも1つのリッドを含むように、前記基板を切り出して、前記切り出された基板の1つを1つの前記光モジュールとして取得する第3の工程と、を備える、
光モジュールの製造方法。 - 前記第3の工程に次いで、第1の光ファイバアレイを、前記第1の光ファイバアレイの端面が前記反射ミラーに対向するように、前記リッドの第1の側面に配置させ、第2の光ファイバアレイを、前記第2の光ファイバアレイの端面が前記反射ミラーに対向するように、前記リッドの第2の側面に配置させる第4の工程をさらに備える、
請求項5に記載の光モジュールの製造方法。
Priority Applications (3)
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|---|---|---|---|
| JP2018084468A JP2019191380A (ja) | 2018-04-25 | 2018-04-25 | 光モジュール、光配線基板および光モジュールの製造方法 |
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Applications Claiming Priority (1)
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| JP2018084468A JP2019191380A (ja) | 2018-04-25 | 2018-04-25 | 光モジュール、光配線基板および光モジュールの製造方法 |
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- 2018-04-25 JP JP2018084468A patent/JP2019191380A/ja active Pending
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- 2019-03-25 US US17/050,211 patent/US11415750B2/en active Active
- 2019-03-25 WO PCT/JP2019/012312 patent/WO2019208053A1/ja not_active Ceased
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