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JP2018125349A5 - - Google Patents

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JP2018125349A5
JP2018125349A5 JP2017014613A JP2017014613A JP2018125349A5 JP 2018125349 A5 JP2018125349 A5 JP 2018125349A5 JP 2017014613 A JP2017014613 A JP 2017014613A JP 2017014613 A JP2017014613 A JP 2017014613A JP 2018125349 A5 JP2018125349 A5 JP 2018125349A5
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layer
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本半導体装置は、絶縁層、及び前記絶縁層の一方の面に設けられた配線層、を備えた配線基板と、電極パッドが設けられた回路形成面を前記配線層側に向けて、前記配線基板上に実装された半導体チップと、前記配線層と前記電極パッドとを電気的に接続する導電性ペーストと、前記絶縁層の一方の面の全体に設けられた接着層と、を有し、前記接着層は、前記配線層及び前記導電性ペーストを被覆すると共に、前記絶縁層の一方の面と前記回路形成面との対向部分を充填して前記配線基板と前記半導体チップとを接着し、前記半導体チップの側面に延伸してフィレットを形成し、前記フィレットは前記回路形成面側に向かって裾広がりの形状であることを要件とする。

Claims (10)

  1. 絶縁層、及び前記絶縁層の一方の面に設けられた配線層、を備えた配線基板と、
    電極パッドが設けられた回路形成面を前記配線層側に向けて、前記配線基板上に実装された半導体チップと、
    前記配線層と前記電極パッドとを電気的に接続する導電性ペーストと、
    前記絶縁層の一方の面の全体に設けられた接着層と、を有し、
    前記接着層は、前記配線層及び前記導電性ペーストを被覆すると共に、前記絶縁層の一方の面と前記回路形成面との対向部分を充填して前記配線基板と前記半導体チップとを接着し、前記半導体チップの側面に延伸してフィレットを形成し、
    前記フィレットは前記回路形成面側に向かって裾広がりの形状である半導体装置。
  2. 前記配線層上に突起電極が形成され、
    前記突起電極の端面が前記導電性ペーストを介して前記電極パッドと接続されている請求項1に記載の半導体装置。
  3. 前記電極パッド上に突起電極が形成され、
    前記突起電極の端面が前記導電性ペーストを介して前記配線層と接続されている請求項1に記載の半導体装置。
  4. 前記接着層は、
    前記絶縁層の一方の面の全体に設けられ、前記回路形成面との間に隙間を形成する第1接着層と、
    前記隙間を充填する第2接着層と、を含み、
    前記第2接着層が前記半導体チップの側面に延伸して前記フィレットが形成されている請求項3に記載の半導体装置。
  5. 前記導電性ペーストは、前記突起電極の端面から前記突起電極の側面に延伸している請求項2乃至4の何れか一項に記載の半導体装置。
  6. 前記導電性ペーストは、前記突起電極の側面の全体を被覆している請求項5に記載の半導体装置。
  7. 絶縁層、及び前記絶縁層の一方の面に設けられた配線層、を備えた配線基板の前記配線層上に突起電極を形成する工程と、
    前記絶縁層の一方の面の全体に前記配線層を被覆して前記突起電極の端面を露出する接着層を形成する工程と、
    回路形成面に電極パッドが設けられた半導体チップを準備する工程と、
    前記電極パッド又は前記突起電極の端面に導電性ペーストを形成する工程と、
    前記電極パッドと前記突起電極が前記導電性ペーストを介して接し前記回路形成面が前記接着層と接するように前記半導体チップを前記接着層上に配置し、前記半導体チップを前記接着層側に押圧しながら前記導電性ペースト及び前記接着層を硬化させる工程と、を有し、
    前記硬化させる工程では、
    前記接着層が前記絶縁層の一方の面と前記回路形成面との対向部分の隙間を充填して前記配線基板と前記半導体チップとを接着し、
    前記接着層が前記半導体チップの側面に延伸してフィレットを形成し、
    前記フィレットは前記回路形成面側に向かって裾広がりの形状となる半導体装置の製造方法。
  8. 絶縁層、及び前記絶縁層の一方の面に設けられた配線層、を備えた配線基板の前記絶縁層の一方の面の全体に前記配線層を被覆する第1接着層を形成する工程と、
    前記第1接着層に、前記配線層を選択的に露出する開口部を形成する工程と、
    回路形成面に電極パッドが設けられた半導体チップを準備し、前記電極パッドに突起電極を形成する工程と、
    前記回路形成面に、前記突起電極の端面を露出する第2接着層を形成する工程と、
    前記開口部内又は前記突起電極の端面に導電性ペーストを形成する工程と、
    前記突起電極と前記開口部内に露出する前記配線層が前記導電性ペーストを介して接し前記第2接着層が前記第1接着層と接するように前記半導体チップを前記第1接着層上に配置し、前記半導体チップを前記第1接着層側に押圧しながら前記導電性ペースト、前記第1接着層、及び前記第2接着層を硬化させる工程と、を有し、
    前記硬化させる工程では、
    前記第1接着層及び前記第2接着層が前記絶縁層の一方の面と前記回路形成面との対向部分の隙間を充填して前記配線基板と前記半導体チップとを接着し、
    前記第2接着層が前記半導体チップの側面に延伸してフィレットを形成し、
    前記フィレットは前記回路形成面側に向かって裾広がりの形状となる半導体装置の製造方法。
  9. 前記導電性ペーストは、前記突起電極の端面から前記突起電極の側面に延伸する請求項7又は8に記載の半導体装置の製造方法。
  10. 前記導電性ペーストは、前記突起電極の側面の全体を被覆する請求項9に記載の半導体装置の製造方法。
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