JP2012113792A - 半導体装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】半導体装置1は、それぞれリード時にカラムスイッチ12a〜12gが導通するタイミングを示す複数の第1の制御信号と、それぞれライト時にカラムスイッチ12a〜12gが導通するタイミングを示す複数の制御信号とを生成する制御回路20を備える。制御回路20は、外部からリード指示を受けてから、各メモリセルアレイ11a〜11fから読み出された該データがFIFO回路14aへ到達するタイミングがバンク間で互いに等しくなるよう、上記複数の第1の制御信号を活性化し、各カラムスイッチ12a〜12gが、外部から第1のデータ入出力端子15aに入力されるライトデータが対応する当該カラムスイッチに到達するタイミングにマッチングするよう、上記複数の第2の制御信号を活性化する。
【選択図】図1
Description
10a〜10f,10 バンク
11a〜11f,11 メモリセルアレイ
12a〜12l,12 カラムスイッチ
13a〜13d,13 中間バッファ
14a,14b,14 FIFO回路
15a,15b,15 データ入出力端子
16b〜16f,16 Y11マルチプレクサ
17 メインアンプ
18 RW切替回路
20 制御回路
21 MA/YSコントロール回路
22 中間バッファコントロール回路
23 FIFOコントロール回路
51a,51b クロック端子
52 コマンド端子
53 アドレス端子
60 入力回路
61 タイミング発生回路
62 DLL回路
63 入力ラッチ回路
64 コマンドデコーダ
65 入力ラッチ回路
66 ラッチ回路
69 モードレジスタ
70 Y系制御回路
71 救済回路
72 X系制御回路
73 救済回路
74 リフレッシュカウンタ
81 ロウデコーダ
82 センス回路
83 カラムデコーダ
84 メインアンプ回路
85,86 入出力回路
87 データストローブ端子
90 電源端子
91 内部電圧発生回路
A1〜A8 アンド回路
B1〜B6 バッファ
BL ビット線
CI1〜CI3 クロックドインバータ
CYCLKT(Read) 制御コマンド(第1の制御コマンド)
CYCLKT(Write) 制御コマンド(第2の制御コマンド)
CYSET 制御信号(第1の制御信号、第2の制御信号)
D1〜D8 ディレイ回路
DRCLKT 制御コマンド(第3の制御コマンド)
DRCLKT1 制御信号(第3の制御信号、第5の制御信号)
DRCLKT2 制御信号(第7の制御信号)
DRCLKT3 制御信号
DWCLKT 制御コマンド(第4の制御コマンド)
DWCLKT1 制御信号(第4の制御信号、第6の制御信号)
DWCLKT2 制御信号(第8の制御信号)
DWCLKT3 制御信号
MIOT,MIOB メインI/O線
MC メモリセル
PBX8B 動作モード信号
READ リードコマンド
RWBS1〜RWBS6 リードライトバス
RWBS02,RWBS13,RWBS46,RWBS57 リードライトバス
SA センスアンプ
TB1〜TB7 スリーステイトバッファ
WL ワード線
WRITE ライトコマンド
Y11 カラムアドレス
Y11T Y11選択信号
Claims (9)
- 第1の方向に対峙して配置される第1及び第2のバンクと、
それぞれ前記第1及び第2のバンクと、前記第1の方向と垂直な第2の方向に隣接して配置され、かつ前記第1の方向に相互に対峙して配置される第3及び第4のバンクと、
それぞれ前記第3及び第4のバンクを挟むように前記第2の方向に隣接して配置され、かつ前記第1の方向に相互に対峙して配置される第5及び第6のバンクと、
それぞれ前記第1乃至第6のバンク内にそれぞれ設けられる第1乃至第6のメモリセルアレイと、
前記第1のメモリセルアレイと前記第2のメモリセルアレイの両方と接続し、かつ前記第1のバンクと前記第2のバンクの間の領域を前記第2の方向に延伸する第1のリードライトバスと、
前記第3のメモリセルアレイと前記第4のメモリセルアレイの両方と接続し、かつ前記第3のバンクと前記第4のバンクの間の領域を前記第2の方向に延伸する第2のリードライトバスと、
前記第5のメモリセルアレイと前記第6のメモリセルアレイの両方と接続し、かつ前記第5のバンクと前記第6のバンクの間の領域を前記第2の方向に延伸する第3のリードライトバスと、
前記第1及び第2のメモリセルアレイがそれぞれ有し、前記第1及び第2のメモリセルアレイにそれぞれ対応する複数のメモリセルに記憶される複数のデータを、前記第1のリードライトバスとの間でそれぞれ入出力する、前記第1及び第2のメモリセルアレイにそれぞれ対応する第1のグループである第1及び第2のカラムスイッチと、
前記第3及び第4のメモリセルアレイがそれぞれ有し、前記第3及び第4のメモリセルアレイにそれぞれ対応する複数のメモリセルに記憶される複数のデータを、前記第2のリードライトバスとの間でそれぞれ入出力する、前記第3及び第4のメモリセルアレイにそれぞれ対応する第2のグループである第3及び第4のカラムスイッチと、
前記第5及び第6のメモリセルアレイがそれぞれ有し、前記第5及び第6のメモリセルアレイにそれぞれ対応する複数のメモリセルに記憶される複数のデータを、前記第3のリードライトバスとの間でそれぞれ入出力する、前記第5及び第6のメモリセルアレイにそれぞれ対応する第3のグループである第5及び第6のカラムスイッチと、
前記第1のリードライトバスと前記第2のリードライトバスとを接続する第1の中間バッファと、
前記第2のリードライトバスと前記第3のリードライトバスとを接続する第2の中間バッファと、
データに関する外部とのインタフェースである第1のデータ入出力端子と、
前記第1のリードライトバスと前記第1のデータ入出力端子との間でデータの入出力を行う第1のFIFO回路と、
リード時に前記第1乃至第6のカラムスイッチをそれぞれ電気的に導通させるタイミングを示す複数の第1の制御信号と、ライト時に前記第1乃至第6のカラムスイッチをそれぞれ電気的に導通させるタイミングを示す複数の第2の制御信号と、を生成する制御回路と、を備え、
前記制御回路は、
リード時、前記第1乃至第6のメモリセルアレイからそれぞれ読み出された複数のリードデータが、前記第1のFIFO回路へそれぞれ到達するタイミングを示す時間が前記第1乃至第6のバンクの間で互いに等しくなるように、前記複数の第1の制御信号を前記第1乃至第3のグループ単位でそれぞれ異なる時間で活性化し、
ライト時、前記第1乃至第6のカラムスイッチが、外部から前記第1のデータ入出力端子に供給されたライトデータがそれぞれ対応する前記第1乃至第6のカラムスイッチに到達するタイミングにマッチングして電気的に導通するように、前記複数の第2の制御信号を前記第1乃至第3のグループ単位でそれぞれ異なる時間で活性化する、
半導体装置。 - 前記制御回路は、
前記第1のFIFO回路と、前記第1乃至第6のバンクのそれぞれと、の間のデータの伝送経路上に設けられる前記第1及び第2の中間バッファの個数に基づいてそれぞれ決定される前記第1乃至第6のバンクごとの遅延量を、前記リード時と前記ライト時のそれぞれについて記憶し、
前記第1乃至第6のバンクごとの遅延量に基づいて、それぞれ対応する前記複数の第1及び第2の制御信号を活性化する、
請求項1に記載の半導体装置。 - 前記制御回路は、
前記リード時について記憶する前記第1乃至第6のバンクごとの遅延量で、供給された前記リード時に関連する第1の制御コマンドを遅延させ、遅延された前記第1の制御コマンドから前記複数の第1の制御信号を生成し、
前記ライト時について記憶する前記第1乃至第6のバンクごとの遅延量で、供給された前記ライト時に関連する第2の制御コマンドを遅延させ、遅延された前記第2の制御コマンドから前記複数の第2の制御信号を生成する、
請求項2に記載の半導体装置。 - 前記制御回路は、前記第1乃至第6のバンクにそれぞれ対応する複数の第1の遅延回路及び複数の第2の遅延回路を含み、
前記複数の第1の遅延回路には、前記リード時に関連する前記第1乃至第6のバンク毎の遅延量が、それぞれ対応して設定され、
前記複数の第2の遅延回路には、前記ライト時に関連する前記第1乃至第6のバンク毎の遅延量が、それぞれ対応して設定され、
前記複数の第1の遅延回路のそれぞれは、前記遅延された第1の制御コマンドを受け、前記遅延された第1の制御コマンドを出力し、
前記複数の第2の遅延回路のそれぞれは、前記遅延された第2の制御コマンドを受け、前記遅延された第2の制御コマンドを出力する、
請求項3に記載の半導体装置。 - 更に、前記第1乃至第6のカラムスイッチと、それぞれ対応する前記第1乃至第3のリードライトバスとの間に設けられる第1乃至第6のスイッチ回路、を備え、
前記制御回路は、
前記リード時、前記第1乃至第6のスイッチ回路をそれぞれ電気的に導通させるタイミングを示す複数の第3の制御信号と、前記ライト時、前記第1乃至第6のスイッチ回路をそれぞれ電気的に導通させるタイミングを示す複数の第4の制御信号と、を生成し、
前記第1乃至第6のメモリセルアレイからそれぞれ読み出された前記複数のリードデータが、前記第1のFIFO回路へそれぞれ到達するタイミングを示す時間が前記第1乃至第6のバンクの間で互いに等しくなるように、前記複数の第3の制御信号を前記第1乃至第3のグループ単位でそれぞれ異なる時間で活性化し、
前記第1乃至第6のスイッチ回路が、外部から前記第1のデータ入出力端子に供給されたライトデータがそれぞれ対応する前記第1乃至第6のスイッチ回路に到達するタイミングにマッチングして電気的導通するように、前記複数の第3の制御信号を前記第1乃至第3のグループ単位でそれぞれ異なる時間で活性化する、
請求項1乃至4のいずれか一項に記載の半導体装置。 - 前記第1のメモリセルアレイと前記第2のメモリセルアレイの両方と接続し、かつ前記第1のバンクと前記第2のバンクの間の領域を前記第2の方向に延伸する第4のリードライトバスと、
前記第3のメモリセルアレイと前記第4のメモリセルアレイの両方と接続し、かつ前記第3のバンクと前記第4のバンクの間の領域を前記第2の方向に延伸する第5のリードライトバスと、
前記第5のメモリセルアレイと前記第6のメモリセルアレイの両方と接続し、かつ前記第5のバンクと前記第6のバンクの間の領域を前記第2の方向に延伸する第6のリードライトバスと、
それぞれ前記第1及び第2のメモリセルアレイ内の前記複数のメモリセルにそれぞれ記憶される前記複数のデータを、前記第1又は第4のリードライトバスとの間で入出力する第7及び第8のカラムスイッチと、
それぞれ前記第3及び第4のメモリセルアレイ内の前記複数のメモリセルにそれぞれ記憶される前記複数のデータを前記第2又は第5のリードライトバスとの間で入出力する第9及び第10のカラムスイッチと、
それぞれ前記第5及び第6のメモリセルアレイ内の前記複数のメモリセルにそれぞれ記憶される前記複数のデータを前記第3又は第6のリードライトバスとの間で入出力する第11及び第12のカラムスイッチと、
前記第4のリードライトバスと前記第5のリードライトバスとを接続する第3の中間バッファと、
前記第5のリードライトバスと前記第6のリードライトバスとを接続する第4の中間バッファと、
データに関する外部とのインタフェースである第2のデータ入出力端子と、
前記第6のリードライトバスと前記第2のデータ入出力端子との間でデータの入出力を行う第2のFIFO回路と、
前記第7乃至第12のカラムスイッチと、前記第7乃至第12のカラムスイッチに対応する前記第1乃至第6のリードライトバスのうちの2本のリードライトバスと、の間にそれぞれ設けられた第1乃至第6のマルチプレクサと、を備え、
前記第7乃至第12のカラムスイッチが電気的に導通するタイミングは、それぞれ対応する同一なバンクな前記第1乃至第6のカラムスイッチに関連する前記複数の第1及び複数の第2の制御信号によって制御され、
前記第1乃至第6のマルチプレクサはそれぞれ、それぞれ対応する同一なバンクな前記第7乃至第12のカラムスイッチを前記第4乃至第6のリードライトバスのうち対応するリードライトバスに接続する第1の動作モードと、それぞれ対応する同一なバンクな前記カラムスイッチを前記第1乃至第3のリードライトバスのうち対応するリードライトバスに接続する第2の動作モードとのいずれかにより動作し、
前記制御回路は、更に、
前記リード時、前記第1乃至第6のマルチプレクサをそれぞれ電気的に導通させるタイミングを示す複数の第5の制御信号と、
前記ライト時、前記第1乃至第6のマルチプレクサをそれぞれ電気的に導通させるタイミングを示す複数の第6の制御信号と、を生成し、更に、
前記リード時、前記第1乃至第6のマルチプレクサが、前記第1乃至第6のメモリセルアレイからそれぞれ読み出された複数のリードデータを、前記第1及び第2のFIFO回路へそれぞれ到達するタイミングを示す時間が前記第1乃至第6のバンクの間で互いに等しくなるように、前記複数の第5の制御信号を前記第1乃至第3のグループ単位でそれぞれ異なる時間で活性化し、
前記ライト時、前記第1乃至第6のマルチプレクサが、外部から前記第1及び第2のデータ入出力端子にそれぞれ供給された複数のライトデータがそれぞれ対応する前記第1乃至第6のマルチプレクサに到達するタイミングにマッチングして電気的に導通するように、前記複数の第6の制御信号を前記第1乃至第3のグループ単位でそれぞれ異なる時間で活性化する
請求項1乃至5のいずれか一項に記載の半導体装置。 - 前記第1乃至第6のマルチプレクサは、それぞれ前記第1乃至第6のバンク内に対応して設けられる、
請求項6に記載の半導体装置。 - 前記制御回路は、更に、
前記リード時、前記第1及び第2の中間バッファをそれぞれ電気的に導通させるタイミングを示す複数の第7の制御信号と、
前記ライト時、前記第1及び第2の中間バッファをそれぞれ電気的に導通させるタイミングを示す複数の第8の制御信号と、を生成し、更に、
前記リード時、前記第1及び第2の中間バッファが、前記第1乃至第6のメモリセルアレイからそれぞれ読み出された複数のリードデータを、前記第1のFIFO回路へそれぞれ到達するタイミングを示す時間が前記第1乃至第6のバンクの間で互いに等しくなるように、前記複数の第7の制御信号を前記第1乃至第3のグループ単位でそれぞれ異なる時間で活性化し、
前記ライト時、前記第1及び第2の中間バッファが、外部から前記第1のデータ入出力端子に供給されたライトデータがそれぞれ対応する前記第1及び第2の中間バッファに到達するタイミングにマッチングして電気的に導通するように、前記複数の第8の制御信号を前記第1乃至第3のグループ単位でそれぞれ異なる時間で活性化する、
請求項1乃至7のいずれか一項に記載の半導体装置。 - 前記制御回路は、更に、
前記リード時、前記第1乃至第4の中間バッファをそれぞれ電気的に導通させるタイミングを示す複数の第7の制御信号と、
前記ライト時、前記第1乃至第4の中間バッファをそれぞれ電気的に導通させるタイミングを示す複数の第8の制御信号と、を生成し、更に、
前記リード時、前記第1乃至第4の中間バッファが、前記第1乃至第6のメモリセルアレイからそれぞれ読み出された複数のリードデータを、前記第1及び第2のFIFO回路へそれぞれ到達するタイミングを示す時間が前記第1乃至第6のバンクの間で互いに等しくなるように、前記複数の第7の制御信号を前記第1乃至第3のグループ単位でそれぞれ異なる時間で活性化し、
前記ライト時、前記第1乃至第4の中間バッファが、外部から前記第1及び第2のデータ入出力端子にそれぞれ供給された複数のライトデータがそれぞれ対応する前記第1乃至第4の中間バッファに到達するタイミングにマッチングして電気的に導通するように、前記複数の第8の制御信号を前記第1乃至第3のグループ単位でそれぞれ異なる時間で活性化する、
請求項6又は7に記載の半導体装置。
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2021101208A1 (ko) * | 2019-11-21 | 2021-05-27 | 주식회사 메타씨앤아이 | 메모리 장치 |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20120028146A (ko) * | 2010-09-14 | 2012-03-22 | 삼성전자주식회사 | 입출력 경로 스왑을 지원하는 메모리 시스템 |
| KR20130139066A (ko) * | 2012-06-12 | 2013-12-20 | 삼성전자주식회사 | 소스라인 전압 발생기를 포함하는 자기 저항 메모리 장치 |
| KR20140026180A (ko) * | 2012-08-24 | 2014-03-05 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 온 다이 터미네이션 회로 |
| US8885777B1 (en) * | 2012-10-24 | 2014-11-11 | L-3 Communications Corp | Digital signal processing apparatus with a delay memory having a plurality of memory cells and process for using same |
| KR102163544B1 (ko) * | 2013-12-04 | 2020-10-08 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 뱅크 구조를 갖는 반도체 메모리 장치 |
| CN111309284B (zh) * | 2015-05-28 | 2024-02-02 | 铠侠股份有限公司 | 半导体装置 |
| KR20170060739A (ko) * | 2015-11-25 | 2017-06-02 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 장치 및 이를 포함하는 메모리 시스템 |
| US11599484B2 (en) * | 2020-12-01 | 2023-03-07 | Micron Technology, Inc. | Semiconductor device having plural signal buses for multiple purposes |
| CN116543804B (zh) * | 2023-07-07 | 2023-11-24 | 长鑫存储技术有限公司 | 驱动控制电路和存储器 |
Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0973782A (ja) * | 1995-09-07 | 1997-03-18 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
| JP2007087436A (ja) * | 2005-09-16 | 2007-04-05 | Elpida Memory Inc | 半導体記憶装置 |
| US20080112252A1 (en) * | 2006-11-14 | 2008-05-15 | Hynix Semiconductor Inc. | Apparatus for controlling gio line and control method thereof |
| US20090097348A1 (en) * | 2007-10-15 | 2009-04-16 | Qimonda Ag | Integrated circuit including a memory module having a plurality of memory banks |
| JP2009110570A (ja) * | 2007-10-26 | 2009-05-21 | Elpida Memory Inc | 半導体記憶装置 |
| US20090303825A1 (en) * | 2008-06-04 | 2009-12-10 | Hynix Semiconductor, Inc. | Semiconductor memory device |
| US20100070676A1 (en) * | 2008-09-12 | 2010-03-18 | Qimonda North America Corporation | Memory Data Bus Placement and Control |
| JP2010262700A (ja) * | 2009-05-07 | 2010-11-18 | Elpida Memory Inc | 半導体装置 |
| JP2011165225A (ja) * | 2010-02-04 | 2011-08-25 | Renesas Electronics Corp | 半導体記憶装置 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100382739B1 (ko) * | 2001-04-13 | 2003-05-09 | 삼성전자주식회사 | 비대칭 데이터 경로를 갖는 반도체 메모리 장치 |
| DE10123769C1 (de) * | 2001-05-16 | 2002-12-12 | Infineon Technologies Ag | Verfahren zur Anpassung unterschiedlicher Signallaufzeiten zwischen einer Steuerung und wenigstens zweier Verarbeitungseinheiten sowie Rechnersystem |
| JP5420827B2 (ja) | 2007-07-04 | 2014-02-19 | ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエル | アドレスカウンタ及びこれを有する半導体記憶装置、並びに、データ処理システム |
| US8305834B2 (en) * | 2010-02-23 | 2012-11-06 | Qimonda Ag | Semiconductor memory with memory cell portions having different access speeds |
-
2010
- 2010-11-26 JP JP2010264147A patent/JP5632269B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2011
- 2011-11-23 US US13/304,062 patent/US8630129B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0973782A (ja) * | 1995-09-07 | 1997-03-18 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
| JP2007087436A (ja) * | 2005-09-16 | 2007-04-05 | Elpida Memory Inc | 半導体記憶装置 |
| US20080112252A1 (en) * | 2006-11-14 | 2008-05-15 | Hynix Semiconductor Inc. | Apparatus for controlling gio line and control method thereof |
| US20090097348A1 (en) * | 2007-10-15 | 2009-04-16 | Qimonda Ag | Integrated circuit including a memory module having a plurality of memory banks |
| JP2009110570A (ja) * | 2007-10-26 | 2009-05-21 | Elpida Memory Inc | 半導体記憶装置 |
| US20090303825A1 (en) * | 2008-06-04 | 2009-12-10 | Hynix Semiconductor, Inc. | Semiconductor memory device |
| US20100070676A1 (en) * | 2008-09-12 | 2010-03-18 | Qimonda North America Corporation | Memory Data Bus Placement and Control |
| JP2010262700A (ja) * | 2009-05-07 | 2010-11-18 | Elpida Memory Inc | 半導体装置 |
| JP2011165225A (ja) * | 2010-02-04 | 2011-08-25 | Renesas Electronics Corp | 半導体記憶装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2021101208A1 (ko) * | 2019-11-21 | 2021-05-27 | 주식회사 메타씨앤아이 | 메모리 장치 |
| US12002538B2 (en) | 2019-11-21 | 2024-06-04 | Metacni Co., Ltd. | Memory device with data mergers and aligner |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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