JP2008039517A - 電流センサ - Google Patents
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Abstract
【課題】外乱磁界の影響を受けにくい電流センサを提供する。
【解決手段】コア1のギャップ1aにセンサパッケージ10が配置され、センサパッケージ10はセンサチップ12がリードフレーム11上に搭載されるとともにセンサチップ12が封止されている。センサチップ12のホール素子形成面12aが、ギャップ1aを構成するコア1の対向面S1,S2の間において両方の対向面S1,S2から等距離となっている。
【選択図】図3
【解決手段】コア1のギャップ1aにセンサパッケージ10が配置され、センサパッケージ10はセンサチップ12がリードフレーム11上に搭載されるとともにセンサチップ12が封止されている。センサチップ12のホール素子形成面12aが、ギャップ1aを構成するコア1の対向面S1,S2の間において両方の対向面S1,S2から等距離となっている。
【選択図】図3
Description
本発明は、電流センサに関するものである。
集磁コア型の電流センサが知られている(例えば特許文献1)。集磁コア型電流センサの構造の一例を図10に示す。図10(a)に示すように、環状をなすコア100は電流線105を囲繞しており、その一部のギャップ(間隙)100aにセンサパッケージ110が配置されている。そして、電流線105に流れる被検出電流Ifの大きさに応じてギャップ100aに磁界が発生し、図10(b)に示すようにセンサパッケージ110のセンサチップ(感磁素子)111において磁界の大きさに応じた信号を出力する。
ここで、図10(b)に示すように、組付け性を考慮してセンサパッケージ110の中心(あるいはリードフレーム113)がコア100のギャップ100aの中心と一致する構造となっている。
この場合、本来測定すべき電流による磁界以外の磁界(外乱磁界)の影響を受けてしまい、センサ出力の誤差となっている。
特開平5−72233号公報
本発明は、このような背景の下になされたものであり、その目的は、外乱磁界の影響を受けにくい電流センサを提供することにある。
本発明者らは、外乱磁界によるコアギャップでの磁束の流れを解析した結果、ギャップを構成するコアの対向面に沿う方向(図10(b)でのα方向)に外乱磁界が加わったときにコアギャップの中心においては当該外乱磁界による磁束が感磁素子(センシング部)に入らないことが判明した。このことを考慮して、請求項1に記載の発明では、センサパッケージをコアのギャップに、センサチップの感磁素子形成面が、ギャップを構成するコアの対向面の間において両方の対向面から等距離となるように配置した。その結果、センサチップの感磁素子形成面がコアのギャップの対向面の間において両方の対向面から等距離となっているので、外乱磁界が電流センサの出力特性変動要因となりにくく、外乱磁界の影響を受けにくくすることができる。
請求項2に記載のように、請求項1に記載の電流センサにおいてコアのギャップに、センサパッケージの位置決め部材を配置し、センサパッケージのパッケージ材が前記位置決め部材に当接するようにして前記センサパッケージを配置すると、コアのギャップでのセンサパッケージの位置決め精度が向上する。
具体的には、請求項3に記載のように、請求項2に記載の電流センサにおいて、位置決め部材は平板部を有し、平板部にセンサパッケージのパッケージ材の1つの側面を当接させる構成とするとよい。さらに、請求項4に記載のように、請求項3に記載の電流センサにおいて、位置決め部材の平板部は前記対向面に平行に配したものであると、狭いコアのギャップに位置決め部材を配置する上で好ましいものとなる。さらには、請求項5に記載のように、請求項3または4に記載の電流センサにおいて位置決め部材は平板部の端部にストッパ部を有するものであると、ストッパ部によりパッケージ材の移動を規制することができる。
請求項6に記載の発明では、請求項1に記載の電流センサにおいて、リードフレームにおけるセンサチップを搭載する部位に対しセンサパッケージのパッケージ材から露出する部位を、両方の対向面の間の中央側に偏倚させた。
請求項6に記載の発明によれば、コアのギャップでのセンサパッケージの組み付け性を向上させることができる。つまり、従来、リードフレームがコアのギャップの中心と一致する構造とすることは組付け性という観点からはよいが、外乱磁界の影響を受けてしまう。これに対し、請求項6に記載の発明によれば、パッケージ材から露出するリードフレームをコアギャップの中心寄りになるように配置することにより、コアギャップの対向面から等距離にセンサチップの素子形成面を配置することができ、容易に外乱磁界の影響を受けにくくすることができる。
ここで、請求項7に記載のように、請求項6に記載の電流センサにおいてセンサチップを搭載する部位とパッケージ材から露出する部位との間においてリードフレームを折り曲げることにより、パッケージ材から露出する部位を、両方の対向面の間の中央側に容易に偏倚させることができる。
また、請求項8に記載のように、請求項6または7に記載の電流センサにおいて感磁素子形成面に直交するパッケージ材の厚さ方向の中央に感磁素子形成面が位置するように封止することにより、パッケージ材の厚さ方向の中央に感磁素子形成面がくるので、コアのギャップを狭くしてそのギャップの中心に感磁素子形成面を配することができ、磁気感度向上を図ることができる。
請求項9に記載のように、請求項8に記載の電流センサにおいてセンサパッケージでのパッケージ材の表面のうちのセンサチップの感磁素子形成面に対応する部位に切り欠き部を形成すると、パッケージ材を少なくすることが可能となる。具体的には、請求項10に記載のように切り欠き部は凹部であるとよい。
(第1の実施の形態)
以下、本発明を具体化した第1の実施形態を図面に従って説明する。
図1は、本実施形態における電流センサの斜視図である。
以下、本発明を具体化した第1の実施形態を図面に従って説明する。
図1は、本実施形態における電流センサの斜視図である。
電流センサは、コア(磁気コア)1とセンサパッケージ10を備えている。板状のコア1は、環状をなし、且つ、その一部にギャップ(間隙)1aを有している。また、コア1は、電流線2を囲繞しており、電流線2に流れる被検出電流Ifの大きさに応じてギャップ1aに磁界が発生する。
コア1のギャップ1aにおけるセンサパッケージについての構成を図2に示す。図2(a)は図1のA矢視図であり、図2(b)は図1のB矢視図である。図2(b)でのセンサパッケージ10の詳細を図3に示す。
図3において、センサパッケージ10は、コア1のギャップ1aに配置されている。センサパッケージ10は、リードフレーム11とセンサチップ12とワイヤー13とパッケージ材(ケース)としてのモールド樹脂15からなる。センサチップ12には、感磁素子としてのホール素子14と、増幅回路等の信号処理回路が形成され、ホールICを構成している。
センサチップ12がリードフレーム11上に搭載されている。センサチップ12とリードフレーム11とがワイヤー13により電気的に接続されている。センサチップ12がモールド樹脂15によりパッケージされている。詳しくは、センサチップ12とワイヤー13とリードフレーム11の一部がモールド樹脂15にて封止されている。そして、ホール素子14はコア1のギャップ1aに発生する磁界の大きさに応じたホール電圧を出力し、その信号は増幅されてリードフレーム11から外部に出力される。
ここで、センサパッケージ10がコア1のギャップ1aに、センサチップ12のホール素子形成面12aが、ギャップ1aを構成するコア1の対向面S1,S2の間において両方の対向面S1,S2から等距離となるように配置されている。即ち、予め、センサパッケージ10におけるモールド樹脂15内のセンサチップ12(ホール素子14)の位置を把握し、感磁素子形成面としてのホール素子形成面(センシング部)12aがコア1のギャップ1aの中心となるよう配置されている。これにより、本来測定すべき電流による磁界以外の磁界(外乱磁界)の影響を受けにくくなっている。
次に、図4,5を用いて、ホール素子形成面の位置がコア1のギャップ1aの中心からずれた時の外乱磁界の影響(解析結果)を説明する。
直交3軸座標を規定する。図1においてコア1の上下の面(平面)をなす直交軸をX軸およびY軸とするとともに、コア1の厚さ方向の軸をZ軸とする。そして、図4に示すように、X,Y,Zの各方向から一定の外乱磁界を加えたときにおける、コア1のギャップ1aの中心からのずれΔLに対するX方向の外乱磁界、Y方向の外乱磁界、Z方向の外乱磁界の大きさを測定した。つまり、電流を流さない状態で、センサパッケージのホール素子形成面を各位置(ギャップ中心からのずれ量が異なる各位置)に配置して外乱磁界を加えたときのホール素子の出力(磁束密度)を測定した。その結果を図5に示す。図5において、横軸に、コア1のギャップ1aの中心からのずれΔLをとり、縦軸に、磁束密度をとっている。
直交3軸座標を規定する。図1においてコア1の上下の面(平面)をなす直交軸をX軸およびY軸とするとともに、コア1の厚さ方向の軸をZ軸とする。そして、図4に示すように、X,Y,Zの各方向から一定の外乱磁界を加えたときにおける、コア1のギャップ1aの中心からのずれΔLに対するX方向の外乱磁界、Y方向の外乱磁界、Z方向の外乱磁界の大きさを測定した。つまり、電流を流さない状態で、センサパッケージのホール素子形成面を各位置(ギャップ中心からのずれ量が異なる各位置)に配置して外乱磁界を加えたときのホール素子の出力(磁束密度)を測定した。その結果を図5に示す。図5において、横軸に、コア1のギャップ1aの中心からのずれΔLをとり、縦軸に、磁束密度をとっている。
図5の結果から、各方向の1.0mTの外乱磁界を受けると、Y方向の影響が大きいことが分かる。しかし、コア1のギャップ1aの中心では外乱磁界(Y方向成分)はゼロであることが分かる。そのため、本実施形態の構造にすると外乱磁界の影響を受けない電流センサが成立する。つまり、コア1のギャップ1aの中心にホール素子形成面(センシング部)を配置することで検知面に外乱磁束による磁束が入らず、外乱磁界が電流センサの出力特性変動要因とならない。
このように、コア1のギャップ1aの中心にセンサパッケージ10におけるモールド樹脂15内のホール素子形成面が位置するようにセンサパッケージ10をレイアウトすることにより外乱磁界の影響を受けにくくすることができる。
以上のように上記実施形態によれば、以下のような効果を得ることができる。
センサパッケージ10をコア1のギャップ1aに、センサチップ12のホール素子形成面12aが、ギャップ1aを構成するコア1の対向面S1,S2の間において両方の対向面S1,S2から等距離となるように配置したので、外乱磁界が電流センサの出力特性変動要因となりにくく、外乱磁界の影響を受けにくくすることができる。つまり、ホール効果の電流センサにおいて、コアのギャップの中心にセンサチップのホール素子形成面(センシング部分)がある構成として、センサパッケージ10のパッケージ材の厚さ方向の中央にホール素子が配置されていなくても、本来測定すべき電流による磁界以外の磁界(外乱磁界)の影響を受けにくくして、センサ出力の誤差要因を少なくすることができ、その結果、高精度に電流測定を行うことができる。
(第2の実施の形態)
次に、第2の実施形態を、第1の実施の形態との相違点を中心に説明する。
センサパッケージ10をコア1のギャップ1aに、センサチップ12のホール素子形成面12aが、ギャップ1aを構成するコア1の対向面S1,S2の間において両方の対向面S1,S2から等距離となるように配置したので、外乱磁界が電流センサの出力特性変動要因となりにくく、外乱磁界の影響を受けにくくすることができる。つまり、ホール効果の電流センサにおいて、コアのギャップの中心にセンサチップのホール素子形成面(センシング部分)がある構成として、センサパッケージ10のパッケージ材の厚さ方向の中央にホール素子が配置されていなくても、本来測定すべき電流による磁界以外の磁界(外乱磁界)の影響を受けにくくして、センサ出力の誤差要因を少なくすることができ、その結果、高精度に電流測定を行うことができる。
(第2の実施の形態)
次に、第2の実施形態を、第1の実施の形態との相違点を中心に説明する。
図6には、図2に代わる本実施形態における電流センサの構成を示す。
コア1のギャップ1aにおいてセンサパッケージ10の位置決め部材20が配置されている。位置決め部材20は、平板部21と、この平板部21の端部から同一方向に突出するストッパ部22,23からなる。位置決め部材20の平板部21はギャップ1aを構成するコア1の対向面S1,S2と平行に、かつ一方の対向面S1に接近して配置されている。ストッパ部22,23は四角形の平板部21の対向する辺に形成され、図1でのZ方向に延びている。図6のセンサパッケージ10のパッケージ材(モールド樹脂15)は直方体をなし、その1つの側面15aはホール素子形成面12aと平行となっている。そして、位置決め部材20に対しセンサパッケージ10が、モールド樹脂15がストッパ部22,23の間に位置する状態で平板部21に側面15aが当接するように配置されている。このように、センサパッケージ10のパッケージ材(モールド樹脂15)が位置決め部材20に当接するようにしてセンサパッケージ10が配置されているので、センサパッケージ10をコア1のギャップ1aに配置する際に、容易に、ホール素子形成面12aを両方の対向面S1,S2から等距離にすることができる。
コア1のギャップ1aにおいてセンサパッケージ10の位置決め部材20が配置されている。位置決め部材20は、平板部21と、この平板部21の端部から同一方向に突出するストッパ部22,23からなる。位置決め部材20の平板部21はギャップ1aを構成するコア1の対向面S1,S2と平行に、かつ一方の対向面S1に接近して配置されている。ストッパ部22,23は四角形の平板部21の対向する辺に形成され、図1でのZ方向に延びている。図6のセンサパッケージ10のパッケージ材(モールド樹脂15)は直方体をなし、その1つの側面15aはホール素子形成面12aと平行となっている。そして、位置決め部材20に対しセンサパッケージ10が、モールド樹脂15がストッパ部22,23の間に位置する状態で平板部21に側面15aが当接するように配置されている。このように、センサパッケージ10のパッケージ材(モールド樹脂15)が位置決め部材20に当接するようにしてセンサパッケージ10が配置されているので、センサパッケージ10をコア1のギャップ1aに配置する際に、容易に、ホール素子形成面12aを両方の対向面S1,S2から等距離にすることができる。
以上のように、センサパッケージ10の位置を決めるための位置決め部材20を設けることにより正確な位置に配置できる(コアギャップ1aでのセンサパッケージ10の位置決め精度が向上する)。また、位置決め部材20の平板部21は対向面S1,S2に平行に配しているので、狭いコアのギャップ1aに位置決め部材20を配置する上で好ましいものとなる。特に、対向面S1,S2が平行である本実施形態において、対向面S1,S2に平行に配した平板部21に、ホール素子形成面12aに平行な側面15aを当接させる構成としているので、当接させるときにずれが生じたとしてもホール素子形成面12aを対向面S1,S2から等距離となるように配置できる。さらに、ストッパ部22,23により、モールド樹脂15の移動を規制して組み付け易くなる。
(第3の実施の形態)
次に、第3の実施形態を、第1の実施の形態との相違点を中心に説明する。
(第3の実施の形態)
次に、第3の実施形態を、第1の実施の形態との相違点を中心に説明する。
図7には、図3に代わる本実施形態でのコア1のギャップ1aにおけるセンサパッケージ10についての構成を示す。
リードフレーム30におけるセンサチップ12を搭載する部位30aに対しモールド樹脂(パッケージ材)15から露出する部位30bを、両方の対向面S1,S2の間の中央側に偏倚させている。詳しくは、リードフレーム30におけるセンサチップ12を搭載する部位30aとモールド樹脂15から露出する部位30bとの間が折り曲げられ、これにより、センサチップ12を搭載する部位30aとモールド樹脂15から露出する部位30bとが、平行を保ったまま、コア1の対向面S1,S2に対し接離する方向(X)に段差が付けられている。その結果、モールド樹脂15から露出する部位30bを両方の対向面S1,S2の間の中央側に偏倚させることができる。
リードフレーム30におけるセンサチップ12を搭載する部位30aに対しモールド樹脂(パッケージ材)15から露出する部位30bを、両方の対向面S1,S2の間の中央側に偏倚させている。詳しくは、リードフレーム30におけるセンサチップ12を搭載する部位30aとモールド樹脂15から露出する部位30bとの間が折り曲げられ、これにより、センサチップ12を搭載する部位30aとモールド樹脂15から露出する部位30bとが、平行を保ったまま、コア1の対向面S1,S2に対し接離する方向(X)に段差が付けられている。その結果、モールド樹脂15から露出する部位30bを両方の対向面S1,S2の間の中央側に偏倚させることができる。
この構成により、センサチップ12のホール素子形成面12aが両方の対向面S1,S2から等距離となる状態で、リードフレーム30におけるモールド樹脂15から露出する部位30bが両方の対向面S1,S2の間の中央側に位置している。
このようにして、リードフレーム30の形状を変更することでも、コアギャップ1aでのセンサパッケージ10の組み付け性を向上させることができる。つまり、従来、リードフレームがコアのギャップの中心と一致する構造とすることは組付け性という観点からはよいが、外乱磁界の影響を受けてしまう。これに対し、本実施形態においては、モールド樹脂15から露出するリードフレームをコアギャップの中心寄りになるように配置することにより、コアギャップの対向面S1,S2から等距離にセンサチップ12の素子形成面を配置することができ、容易に外乱磁界の影響を受けにくくすることができる。
また、本実施形態では、モールド樹脂15によるセンサチップ12の封止構造として、ホール素子形成面12aに直交するモールド樹脂15の厚さ方向(図7のX方向)において中央にホール素子形成面12aが位置するように封止している。これにより次の効果を奏する。
磁気感度を高くするためにコアギャップを狭くする必要があるが、図10に示した従来構成のセンサパッケージ110を用いた場合、パッケージ材であるモールド樹脂112の厚さ方向の中央から外れた位置に感磁素子形成面がある。よって、狭いコアギャップ100aに入る限界のサイズのセンサパッケージ110では素子形成面をギャップ中心に位置させることはできない。これに対し、図7の本実施形態では、モールド樹脂15の厚さ方向の中央にホール素子形成面12aを位置させており、磁気感度を高くするためにコアギャップ1aを狭くした場合においてもホール素子形成面12aをギャップ中心に位置させることができ、コアギャップ1aを狭くして磁気感度を高くすることができる。また、ホール素子形成面12aに対し対称となるように樹脂封止されているので、センサパッケージ10をコアギャップ1aに取り付けた後においてホール素子形成面12aは熱的影響を受けにくくなる。
(第4の実施の形態)
次に、第4の実施形態を、第3の実施の形態との相違点を中心に説明する。
(第4の実施の形態)
次に、第4の実施形態を、第3の実施の形態との相違点を中心に説明する。
図8には、図2(a)に代わる本実施形態でのコア1のギャップ1aにおけるセンサパッケージ10についての構成を示す。図8のA−A線での断面を、図9に示す。図9は図7に対応している。
図8,9において、センサチップ12を樹脂封止するモールド樹脂15における、センサチップ12のリードフレーム30とは反対側の表面に切り欠き部35が形成されている。つまり、センサパッケージ10でのパッケージ材(モールド樹脂15)の表面のうちのセンサチップ12のホール素子形成面12aに対応する部位に切り欠き部35が形成されている。切り欠き部35は凹部であり、図8においてモールド樹脂15がコ字状に成形されている。
よって、第3の実施形態の場合はケース材としてのモールド樹脂の量が多くなることが考えられるが、本実施形態ではモールド用の樹脂の量を減らすことができる。もちろん、このセンサパッケージにおいても、図6を用いて説明したように位置決め部材20を用いてセンサパッケージの位置を決めるようにすることで、より正確な位置に配置することができる。
これまでの説明においてはセンサチップに感磁素子としてのホール素子と増幅回路等の信号処理回路が形成されている、いわゆるホールICを用いた場合について説明してきたが、これに代わり以下のようにしてもよい。
チップには増幅回路等の信号処理回路は無くホール素子のみがある構成としてもよい。また、感磁素子は横型ホール素子でも縦型ホール素子でもよく、さらに、感磁素子は磁気抵抗素子であってもよい。
1…コア、1a…ギャップ、2…電流線、10…センサパッケージ、11…リードフレーム、12…センサチップ、12a…ホール素子形成面、13…ワイヤー、14…ホール素子、15…モールド樹脂、20…位置決め部材、21…平板部、22…ストッパ部、23…ストッパ部、30…リードフレーム、35…切り欠き部、S1…対向面、S2…対向面。
Claims (10)
- 環状をなし且つその一部にギャップ(1a)を有し、囲繞した電流線(2)に流れる被検出電流(If)の大きさに応じて前記ギャップ(1a)に磁界が発生するコア(1)と、
前記コア(1)のギャップ(1a)に配置され、感磁素子(14)を形成したセンサチップ(12)がリードフレーム(11)上に搭載されるとともに前記センサチップ(12)が封止されたセンサパッケージ(10)と、
を備えた電流センサであって、
前記センサパッケージ(10)を前記コア(1)のギャップ(1a)に、センサチップ(12)の感磁素子形成面(12a)が、前記ギャップ(1a)を構成するコア(1)の対向面(S1,S2)の間において両方の対向面(S1,S2)から等距離となるように配置したことを特徴とする電流センサ。 - 前記コア(1)のギャップ(1a)に、センサパッケージ(10)の位置決め部材(20)を配置し、前記センサパッケージ(10)のパッケージ材(15)が前記位置決め部材(20)に当接するようにして前記センサパッケージ(10)を配置したことを特徴とする請求項1に記載の電流センサ。
- 前記位置決め部材(20)は平板部(21)を有し、平板部(21)に前記センサパッケージ(10)のパッケージ材(15)の1つの側面(15a)を当接させたことを特徴とする請求項2に記載の電流センサ。
- 前記位置決め部材(20)の平板部(21)は前記対向面(S1,S2)に平行に配したものである請求項3に記載の電流センサ。
- 前記位置決め部材(20)は前記平板部(21)の端部にストッパ部(22,23)を有するものである請求項3または4に記載の電流センサ。
- 前記リードフレーム(30)における前記センサチップ(12)を搭載する部位(30a)に対しセンサパッケージ(10)のパッケージ材(15)から露出する部位(30b)を、前記両方の対向面(S1,S2)の間の中央側に偏倚させたことを特徴とする請求項1に記載の電流センサ。
- 前記センサチップ(12)を搭載する部位(30a)とパッケージ材(15)から露出する部位(30b)との間において前記リードフレーム(30)を折り曲げることにより、前記パッケージ材(15)から露出する部位(30b)を、前記両方の対向面(S1,S2)の間の中央側に偏倚させたことを特徴とする請求項6に記載の電流センサ。
- 前記感磁素子形成面(12a)に直交するパッケージ材(15)の厚さ方向の中央に前記感磁素子形成面(12a)が位置するように封止したことを特徴とする請求項6または7に記載の電流センサ。
- 前記センサパッケージ(10)でのパッケージ材(15)の表面のうちの前記センサチップ(12)の感磁素子形成面(12a)に対応する部位に切り欠き部(35)を形成したことを特徴とする請求項8に記載の電流センサ。
- 前記切り欠き部(35)は凹部である請求項9に記載の電流センサ。
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Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010008179A (ja) * | 2008-06-26 | 2010-01-14 | Tamura Seisakusho Co Ltd | 電流検出器 |
| JP2010066124A (ja) * | 2008-09-10 | 2010-03-25 | Denso Corp | 電流センサ及び電流センサの製造方法 |
| JP2012181208A (ja) * | 2012-05-24 | 2012-09-20 | Denso Corp | 電流センサ及び電流センサの製造方法 |
| US9309907B2 (en) | 2012-04-25 | 2016-04-12 | Denso Corporation | Structure for fixing substrate |
| JP2018004284A (ja) * | 2016-06-28 | 2018-01-11 | 日置電機株式会社 | センサおよび電流測定装置 |
| KR102170372B1 (ko) | 2019-08-13 | 2020-10-27 | 주식회사 세이포드 | 외이도 내 인체 조직에 음향 전달을 위한 사운드 앵커 및 이를 구비한 반이식형 보청기 |
| KR102394539B1 (ko) | 2021-09-23 | 2022-05-06 | 주식회사 세이포드 | 접촉 보청기 성능 구현을 위한 커플러 및 커플러에 탈부착 가능한 리시버를 구비한 보청기 |
| JP2023066528A (ja) * | 2021-10-29 | 2023-05-16 | 三菱電機株式会社 | 電子部品装置及びそれを用いた回転電機 |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7936164B2 (en) * | 2008-07-03 | 2011-05-03 | Allegro Microsystems, Inc. | Folding current sensor |
| DE102009013114B4 (de) | 2009-03-13 | 2010-12-23 | Conti Temic Microelectronic Gmbh | Oberflächenmontierbarer Magnetfeldsensor mit einem Halbleiterchip, Magnetfeldmessvorrichtung und Verfahren zur Herstellung einer Schaltungsplatine mit einem Magnetfeldsensor |
| US20120100330A1 (en) * | 2009-06-30 | 2012-04-26 | Mitsubishi Materials Corporation | Liquid and method for removing csd coated film, ferroelectric thin film and method for producing the same |
| JP5524540B2 (ja) * | 2009-09-01 | 2014-06-18 | 株式会社東海理化電機製作所 | 電流センサ |
| JP5482736B2 (ja) | 2011-06-28 | 2014-05-07 | 株式会社デンソー | 電流センサ |
| US9581620B2 (en) * | 2014-02-06 | 2017-02-28 | Stmicroelectronics S.R.L. | Integrated semiconductor device comprising a hall effect current sensor |
| US10247758B2 (en) | 2016-08-08 | 2019-04-02 | Allegro Microsystems, Llc | Current sensor |
| US10114044B2 (en) | 2016-08-08 | 2018-10-30 | Allegro Microsystems, Llc | Current sensor |
| USD1098937S1 (en) * | 2023-07-10 | 2025-10-21 | Honeywell International Inc. | Current sensor |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0259682A (ja) * | 1988-08-24 | 1990-02-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気検出装置 |
| JPH064679U (ja) * | 1992-06-22 | 1994-01-21 | 神鋼電機株式会社 | 電流検出器 |
| JPH11134045A (ja) * | 1997-10-27 | 1999-05-21 | Sharp Corp | 直流安定化電源装置 |
| JP3249810B2 (ja) * | 1999-01-21 | 2002-01-21 | ティーディーケイ株式会社 | 電流センサ装置 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0572233A (ja) | 1991-09-12 | 1993-03-23 | Asahi Chem Ind Co Ltd | 電流センサ |
| JP3286431B2 (ja) * | 1993-10-12 | 2002-05-27 | 住友特殊金属株式会社 | 直流電流センサー |
| JPH0894728A (ja) | 1994-09-21 | 1996-04-12 | Sony Corp | 磁界センサーと磁界センサーの製造方法 |
| US6545456B1 (en) * | 1998-08-12 | 2003-04-08 | Rockwell Automation Technologies, Inc. | Hall effect current sensor package for sensing electrical current in an electrical conductor |
| DE10392748B4 (de) * | 2002-06-18 | 2010-12-23 | Asahi Kasei Emd Corporation | Strommessverfahren und Strommessvorrichtung |
| JP2004257953A (ja) | 2003-02-27 | 2004-09-16 | Denso Corp | 電流センサ装置 |
| JP2005308635A (ja) * | 2004-04-23 | 2005-11-04 | Denso Corp | 電流センサ |
| KR20050055066A (ko) * | 2004-07-14 | 2005-06-10 | (주)에이티에스네트웍스 | 직류 전류 센서 |
-
2006
- 2006-08-03 JP JP2006212325A patent/JP2008039517A/ja active Pending
-
2007
- 2007-07-12 US US11/826,069 patent/US7501808B2/en active Active
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0259682A (ja) * | 1988-08-24 | 1990-02-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気検出装置 |
| JPH064679U (ja) * | 1992-06-22 | 1994-01-21 | 神鋼電機株式会社 | 電流検出器 |
| JPH11134045A (ja) * | 1997-10-27 | 1999-05-21 | Sharp Corp | 直流安定化電源装置 |
| JP3249810B2 (ja) * | 1999-01-21 | 2002-01-21 | ティーディーケイ株式会社 | 電流センサ装置 |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010008179A (ja) * | 2008-06-26 | 2010-01-14 | Tamura Seisakusho Co Ltd | 電流検出器 |
| JP2010066124A (ja) * | 2008-09-10 | 2010-03-25 | Denso Corp | 電流センサ及び電流センサの製造方法 |
| US9309907B2 (en) | 2012-04-25 | 2016-04-12 | Denso Corporation | Structure for fixing substrate |
| JP2012181208A (ja) * | 2012-05-24 | 2012-09-20 | Denso Corp | 電流センサ及び電流センサの製造方法 |
| JP2018004284A (ja) * | 2016-06-28 | 2018-01-11 | 日置電機株式会社 | センサおよび電流測定装置 |
| KR102170372B1 (ko) | 2019-08-13 | 2020-10-27 | 주식회사 세이포드 | 외이도 내 인체 조직에 음향 전달을 위한 사운드 앵커 및 이를 구비한 반이식형 보청기 |
| WO2021029482A1 (ko) | 2019-08-13 | 2021-02-18 | 주식회사 세이포드 | 외이도 내 인체 조직에 음향 전달을 위한 사운드 앵커 및 이를 구비한 반이식형 보청기 |
| KR102394539B1 (ko) | 2021-09-23 | 2022-05-06 | 주식회사 세이포드 | 접촉 보청기 성능 구현을 위한 커플러 및 커플러에 탈부착 가능한 리시버를 구비한 보청기 |
| JP2023066528A (ja) * | 2021-10-29 | 2023-05-16 | 三菱電機株式会社 | 電子部品装置及びそれを用いた回転電機 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
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| US7501808B2 (en) | 2009-03-10 |
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