JP2018165699A - 電流センサ - Google Patents
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Abstract
【課題】被測定電流を測定する電流センサを提供する。
【解決手段】被測定電流が流れる第1導体および第2導体と、予め定められた第1の方向に感磁軸を有し、第1導体および第2導体に流れる被測定電流により生じた磁場を検出する第1抵抗素子と、第1の方向に感磁軸を有し、第1導体および第2導体に流れる被測定電流により生じた磁場を検出する第2抵抗素子とを備え、第2導体の重心は、断面視で、第1導体の重心を通り、第1の方向に延びる第1仮想直線上に位置せず、第2抵抗素子は、断面視で、第1仮想直線と、第2導体の重心を通り、第1の方向に延びる第2仮想直線との間の領域に設けられる電流センサを提供する。
【選択図】図2
【解決手段】被測定電流が流れる第1導体および第2導体と、予め定められた第1の方向に感磁軸を有し、第1導体および第2導体に流れる被測定電流により生じた磁場を検出する第1抵抗素子と、第1の方向に感磁軸を有し、第1導体および第2導体に流れる被測定電流により生じた磁場を検出する第2抵抗素子とを備え、第2導体の重心は、断面視で、第1導体の重心を通り、第1の方向に延びる第1仮想直線上に位置せず、第2抵抗素子は、断面視で、第1仮想直線と、第2導体の重心を通り、第1の方向に延びる第2仮想直線との間の領域に設けられる電流センサを提供する。
【選択図】図2
Description
本発明は、電流センサに関する。
従来、ホール素子や磁気抵抗素子等の磁気センサを用いた電流センサが知られている(例えば、特許文献1)。
特許文献1 特開2005−283451号公報
特許文献1 特開2005−283451号公報
しかしながら、従来の電流センサでは、電流の検出精度が十分ではない。
本発明の第1の態様においては、被測定電流が流れる第1導体および第2導体と、予め定められた第1の方向に感磁軸を有し、第1導体および第2導体に流れる被測定電流により生じた磁場を検出する第1抵抗素子と、第1の方向に感磁軸を有し、第1導体および第2導体に流れる被測定電流により生じた磁場を検出する第2抵抗素子とを備える電流センサを提供する。第2導体の重心は、断面視で、第1導体の重心を通り、第1の方向に延びる第1仮想直線上に位置せず、第2抵抗素子は、断面視で、第1仮想直線と、第2導体の重心を通り、第1の方向に延びる第2仮想直線との間の領域に設けられてよい。
第2抵抗素子は、第1導体の重心と第2導体の重心との中点を通り、第1導体の重心と第2導体の重心とを結ぶ第3仮想直線の垂線上に配置されてよい。
第1抵抗素子および第2抵抗素子は、断面視で、第1抵抗素子および第2抵抗素子を通る第4仮想直線が、第1の方向と平行となるように配置されてよい。
第1抵抗素子および第2抵抗素子は、断面視で、第4仮想直線が、電流センサの基板平面と平行となるように配置されてよい。
第1抵抗素子および第2抵抗素子は、第4仮想直線が、電流センサの基板平面と傾斜するように配置されてよい。
被測定電流により生じた磁場を、第1抵抗素子においてキャンセルする磁場を生成する第1フィードバックコイルと、被測定電流により生じた磁場を、第2抵抗素子においてキャンセルする磁場を生成する第2フィードバックコイルとを更に備えてよい。
第1フィードバックコイルおよび第2フィードバックコイルに流れる電流量から被測定電流を算出する算出部を更に備えてよい。
第1抵抗素子の出力信号と第2抵抗素子の出力信号との差分を取ることにより、一様な外乱磁場による影響をキャンセルし、被測定電流を算出する算出部を更に備えてよい。
なお、上記の発明の概要は、本発明の特徴の全てを列挙したものではない。また、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
図1Aは、電流センサ100の構成の概要を示す上面図である。図1Bは、図1Aの電流センサ100をB−B線で切断した場合の側面図である。電流センサ100は、一次導体10、磁気センサ20、リードフレーム30および封止部70を備える。封止部70は、樹脂等の絶縁材料で形成されており、一次導体10、磁気センサ20およびリードフレーム30の周囲を覆って形成される。
一次導体10は、金属等の導電材料で形成され、被測定電流IPが流れる。本例の一次導体10は、封止部70から露出する2つの端部を有する。一方の端部から被測定電流IPが入力され、他方の端部から被測定電流IPが出力される。本例の封止部70は直方体形状を有しており、一次導体10の2つの端部は、封止部70の同一の面において露出する。本例の一次導体10は、上面図においてU字形状を有する。ただし、一次導体10の形状は図1Aに示す形状に限定されない。
一次導体10は、第1導体11および第2導体12を備える。本例の第1導体11および第2導体12は、一次導体10が2つに分岐した電流経路であるが、第1導体11および第2導体12が別個の電流経路として設けられてもよい。一次導体10は、第1導体11と第2導体12との間に開口部を有する。一次導体10に入力された被測定電流IPは、第1導体11と第2導体12とに分流される。本例の第1導体11および第2導体12には、それぞれIP/2の電流が流れる。
なお、図1Aは、電流センサ100の上面を示しており、一次導体10の上面と垂直な方向をZ軸方向とし、第1導体11および第2導体12において被測定電流Ipが流れる方向をY軸方向とし、Y軸方向およびZ軸方向の両方と垂直な方向をX軸方向とする。XY面は、一次導体10の上面と平行である。
磁気センサ20は、第1抵抗素子21と、第2抵抗素子22とを備える。本例の磁気センサ20は、2つの抵抗素子を備えるが、3つ以上の抵抗素子を備えてもよい。第1抵抗素子21および第2抵抗素子22は、X軸方向に感磁軸を有する磁気抵抗素子である。本明細書において、第1抵抗素子21および第2抵抗素子22の感磁軸の方向を感磁軸方向と称する。感磁軸方向は、第1の方向の一例である。第1導体11、第2導体12および第1抵抗素子21および第2抵抗素子22の具体的な配置方法は後述する。
また、磁気センサ20は、リードフレーム30上において、Z軸方向からみて一次導体10の開口部と重なる位置に設けられる。ただし、磁気センサ20は、一次導体10とは接触していない。磁気センサ20は、Z軸方向からみて全体が開口部と重なるように配置されてよい。本例の磁気センサ20は、開口部と対向する、リードフレーム30の面上に配置される。磁気センサ20は、被測定電流IPにより生じた磁場を検出することで、被測定電流IPを検出する。
リードフレーム30は、金属等の導電材料で形成され、一次導体10とは電気的に分離して設けられる。リードフレーム30の材料は、一次導体10の材料と同一であってよい。リードフレーム30および一次導体10の間は、封止部70により絶縁される。本例のリードフレーム30は、封止部70から露出する少なくとも1つの端部を有する。
本例の電流センサ100は、リードフレーム30上に設けられ、磁気センサ20が出力する信号を処理する算出部50を更に備える。算出部50は、シリコン等の半導体基板に形成された集積回路である。算出部50は、磁気センサ20を動作させるための信号または電力を供給してもよい。また、磁気センサ20が出力する信号に対して補正や演算を行い、一次導体10に流れる電流値を算出してもよい。図1Aにおいては、一次導体10と重なる算出部50の外形を破線で示している。なお、算出部50は、電流センサ100の外部に設けられてもよい。
[実施例1]
図2は、実施例1に係る電流センサ100の構成の一例を示す。同図は、電流センサ100の上面図と側面図の両方を示している。
図2は、実施例1に係る電流センサ100の構成の一例を示す。同図は、電流センサ100の上面図と側面図の両方を示している。
第1導体11および第2導体12は、Z軸方向において異なる重心位置を有する。例えば、第1導体11および第2導体12は、段差を設けて一次導体10を分岐させることにより形成される。本例の第2導体12は、第1導体11よりも高い位置に設けられるが、これに限られない。第1導体11および第2導体12には、同一方向に被測定電流Ipに応じた電流が流れる。第1導体11および第2導体12の断面は、同一形状を有することが好ましい。但し、第1導体11と第2導体12の断面形状が異なっていてもよい。
第1抵抗素子21は、感磁軸をX軸に有し、第1導体11および第2導体12に流れる被測定電流Ip/2に応じた磁場が入力される。第1抵抗素子21では、第1導体11および第2導体12に流れる被測定電流Ip/2に応じた磁場が相殺する方向に入力される。本例の第1抵抗素子21は、Z軸方向において、第2抵抗素子22と同一の位置に設けられる。即ち、本例の第1抵抗素子21および第2抵抗素子22は、基板平面上に並んで配列されている。
第2抵抗素子22は、第1導体11の重心から第2導体12の重心までの線分の中心に配置される。言い換えると、第1導体11および第2導体12は、第2抵抗素子22を中心として対称に設けられる。
これにより、第2抵抗素子22に入力される信号磁場が相殺される。よって、第2抵抗素子22において被測定電流Ipに応じた磁場が実質的に0となる。即ち、第2抵抗素子22では外乱磁場だけが残る。一方、第1抵抗素子21は、第1導体11および第2導体12からの被測定電流Ip/2に応じた磁場が相殺し合うものの、第1導体11および第2導体12のうち遠い方の磁場強度が弱くなるので、顕著な影響を受けない。結果として、被測定電流Ipを検出するために用いられるR1−R2の信号強度が大きくなる。
第1抵抗素子21および第2抵抗素子22は、断面視で、同一の高さに設けられる。本例の第1抵抗素子21および第2抵抗素子22は、第1導体11および第2導体12と高さzだけ異なる位置に設けられる。つまり、第1抵抗素子21および第2抵抗素子22は、Z軸方向において、第1導体11および第2導体12の重心の中間に設けられる。また、第1抵抗素子21および第2抵抗素子22は、平面視で、第1導体11と第2導体12との間において、基板25上に設けられる。基板25には、算出部50が設けられてもよい。基板25は、XY面と平行な基板平面を有する。
また、第1抵抗素子21および第2抵抗素子22は、相互の間隔を大きくすることにより、それぞれの抵抗素子に入力される磁場の強度差が大きくなる。これにより、電流センサ100による被測定電流Ipの測定精度が高められる。但し、第1抵抗素子21および第2抵抗素子22の間隔を大きくするとチップサイズが大きくなり、コストアップに繋がる。そのため、第1抵抗素子21と第2抵抗素子22に入力される磁場の強度差を大きくしつつ、センササイズを小さくすることが好ましい。
ここで、電流センサ100には、第1導体11および第2導体12からの被測定電流Ip/2に応じた磁場の他に、一様な外乱磁場と、傾斜のある外乱磁場が入力される場合がある。例えば、一様な外乱磁場とは、地磁気等の外乱磁場であり、傾斜のある外乱磁場とは、近接する電流経路等からの一様でない外乱磁場である。電流センサ100は、外乱磁場の影響を排除した上で、被測定電流Ipに応じた磁場のみを検出することにより、精度良く被測定電流Ipを検出できる。
電流センサ100は、1組の第1抵抗素子21および第2抵抗素子22を有する場合、第1抵抗素子21の出力信号R1と、第2抵抗素子22の出力信号R2の差分R1−R2を取ることにより、一様な外乱磁場の成分をキャンセルできる。これにより、被測定電流Ipに応じた成分が、一様な外乱磁場による成分から分離される。ここで、第1抵抗素子21と第2抵抗素子22との距離dを大きくとれば、R1−R2の差は大きくなるが、磁気センサ20の素子サイズも大きくなる。なお、抵抗素子の出力信号とは、抵抗素子に入力される磁場を示す信号であればよく、抵抗素子に対応するフィードバックコイルに流れる電流に対応する信号等であってもよい。
以上の通り、電流センサ100は、第2抵抗素子22に入力される被測定電流Ipに応じた磁場を実質的にキャンセルすることにより、コンパクトで且つ電流検出精度の高い電流センサを実現できる。
図3は、実施例1に係る電流センサ100の磁場変換係数の一例を示す。図3では、電流センサ100における磁場変換係数α1と、磁場変換係数α2と、磁場変換係数の差分α1−α2とを示す。縦軸は磁場変換係数[mT/A]を示し、横軸は一次導体10の重心のZ座標[mm]を示す。一次導体10のZ座標とは、第1導体11又は第2導体12の重心と第2抵抗素子22からのZ軸上における距離を指す。
磁場変換係数α1は、第1抵抗素子21における磁場変換係数を示す。被測定電流Ipが第1抵抗素子21の位置に作る感磁軸方向の磁場Bx1は、磁場変換係数α1を用いて次式で示される。
Bx1[mT]=α1[mT/A]・Ip[A]
磁場変換係数α2は、第2抵抗素子22における磁場変換係数を示す。被測定電流Ipが第2抵抗素子22の位置に作る感磁軸方向の磁場Bx2は、磁場変換係数α2を用いて次式で示される。
Bx2[mT]=α2[mT/A]・Ip[A]
Bx1[mT]=α1[mT/A]・Ip[A]
磁場変換係数α2は、第2抵抗素子22における磁場変換係数を示す。被測定電流Ipが第2抵抗素子22の位置に作る感磁軸方向の磁場Bx2は、磁場変換係数α2を用いて次式で示される。
Bx2[mT]=α2[mT/A]・Ip[A]
ここで、磁場変換係数α2は、第2抵抗素子22において被測定電流Ipに応じた磁場がキャンセルされるので実質的に0となる。したがって、磁場変換係数の差分α1−α2が磁場変換係数α1と重なる。
図4は、実施例1に係る電流センサ100のより具体的な構成の一例を示す。本例の第1抵抗素子21および第2抵抗素子22は、感磁軸方向に並んで配列されている。X軸方向の矢印は、第1抵抗素子21および第2抵抗素子22の感磁軸方向を指す。
第1導体11および第2導体12は、第1導体11と第2導体12の重心を結ぶ第3仮想直線V3が感磁軸方向と異なる方向となるように配置される。本例の第1導体11および第2導体12は、互いに異なる高さを有する。
第2抵抗素子22は、断面視で、第1導体11の重心を通り、感磁軸方向に延びる第1仮想直線V1と、第2導体12の重心を通り、感磁軸方向に延びる第2仮想直線V2との間の領域に設けられる。なお、本明細書において、断面視とは、第1導体11に流れる電流の方向の視点を指す。一例において、第2抵抗素子22は、第2抵抗素子22の全体が第1仮想直線V1と第2仮想直線V2との間に設けられる。また、第2抵抗素子22の位置は、第2抵抗素子22の重心位置を基準に判断されてよい。なお、本明細書において、抵抗素子の重心とは、抵抗素子が有する感磁部の重心位置を指す。
第2抵抗素子22の重心は、第3仮想直線V3上において、第1導体11の重心と第2導体12の重心との中点に設けられる。第1抵抗素子21の重心は、第4仮想直線V4が感磁軸方向と平行となるように、第2抵抗素子22の重心と同じ高さに設けられる。即ち、第1抵抗素子21および第2抵抗素子22は、断面視で、第4仮想直線V4が、感磁軸方向と平行となるように配置される。つまり、第1抵抗素子21および第2抵抗素子22は、断面視で、第4仮想直線V4が、電流センサ100の基板平面と平行となるように配置される。言い換えると、本例の第4仮想直線V4は、感磁軸方向と平行な直線となる。
本例の電流センサ100は、第2抵抗素子22に入力される被測定電流Ipに応じた磁場を実質的にキャンセルすることにより、第1抵抗素子21と第2抵抗素子22との磁場の強度差を大きくできる。これにより、電流センサ100は、コンパクトで且つ電流検出精度の高い電流センサを実現できる。また、本例の電流センサ100は、第1導体11および第2導体12に段差を設ければ、第1抵抗素子21および第2抵抗素子22を同一平面上に形成できるので、製造が容易である。
[実施例2]
図5は、実施例2に係る電流センサ100の構成の一例を示す。本例では、実施例1の電流センサ100と相違する点について特に説明する。
図5は、実施例2に係る電流センサ100の構成の一例を示す。本例では、実施例1の電流センサ100と相違する点について特に説明する。
第2抵抗素子22は、第1導体11の重心と第2導体12の重心との中点を通り、第1導体11の重心と第2導体12の重心とを結ぶ第3仮想直線V3の垂線H上に重心が配置される。また、第2抵抗素子22は、断面視で、第1導体11の重心を通り、感磁軸方向に延びる第1仮想直線V1と、第2導体12の重心を通り、感磁軸方向に延びる第2仮想直線V2との間の領域に設けられる。
第1抵抗素子21は、第1導体11の重心と第2導体12の重心との中点を通る第3仮想直線V3の垂線H上以外の領域に設けられてよい。本例では、第1抵抗素子21が、第1仮想直線V1と、第2仮想直線V2との間の領域以外の領域に設けられるが、第1抵抗素子21が、第1仮想直線V1と、第2仮想直線V2との間の領域に設けられてもよい。
第1抵抗素子21および第2抵抗素子22は、第4仮想直線V4が、電流センサ100の基板平面と傾斜するように配置される。また、第1抵抗素子21および第2抵抗素子22は、抵抗素子の感磁軸方向に対して第4仮想直線V4が傾斜するように配置される。また、第4仮想直線V4は、第3仮想直線V3の垂線Hに対して傾斜した線である。
以上の通り、本例の電流センサ100は、第2抵抗素子22に入力される被測定電流Ipに応じた磁場を実質的にキャンセルすることにより、第1抵抗素子21と第2抵抗素子22との磁場の強度差を大きくできる。また、第1抵抗素子21の位置は、第1仮想直線V1と第2仮想直線V2の間の領域に限られないので、電流センサ100の設計の自由度が高い。
[実施例3]
図6は、実施例3に係る電流センサ100の構成の一例を示す。本例の第1抵抗素子21および第2抵抗素子22は、感磁軸方向が基板平面に対して傾くように設けられる。本例では、実施例1の電流センサ100と相違する点について特に説明する。
図6は、実施例3に係る電流センサ100の構成の一例を示す。本例の第1抵抗素子21および第2抵抗素子22は、感磁軸方向が基板平面に対して傾くように設けられる。本例では、実施例1の電流センサ100と相違する点について特に説明する。
第1導体11および第2導体12の重心は、同一の高さに設けられる。即ち、第3仮想直線V3がX軸と平行になる。但し、本例の感磁軸が第3仮想直線V3に対して傾いているので、第1導体11の重心を通る第1仮想直線V1および第2導体12の重心を通る第2仮想直線V2が第3仮想直線V3に対して傾いている。
第2抵抗素子22は、第1導体11の重心と第2導体12の重心との中点に重心が設けられる。また、第2抵抗素子22は、断面視で、第1導体11の重心を通り、感磁軸方向に延びる第1仮想直線V1と、第2導体12の重心を通り、感磁軸方向に延びる第2仮想直線V2との間の領域に設けられる。
第1抵抗素子21および第2抵抗素子22は、第4仮想直線V4がX軸に対して傾くように設けられてよい。一例において、第1抵抗素子21が第2抵抗素子22よりも高くなるように設けられる。例えば、第1抵抗素子21および第2抵抗素子22は、磁気センサ20を傾けてマウントすることにより、第4仮想直線V4が傾けられる。
このような構造であっても、電流センサ100は、第2抵抗素子22に入力される被測定電流Ipに応じた磁場を実質的にキャンセルすることにより、第1抵抗素子21と第2抵抗素子22との磁場の強度差を大きくできる。これにより、電流センサ100は、コンパクトで且つ電流検出精度の高い電流センサを実現できる。
[実施例4]
図7は、実施例4に係る電流センサ100の構成の一例を示す。本例の電流センサ100は、フィードバックコイル61、フィードバックコイル62および算出部50を備える。本例では、実施例1の電流センサ100と相違する点について特に説明する。
図7は、実施例4に係る電流センサ100の構成の一例を示す。本例の電流センサ100は、フィードバックコイル61、フィードバックコイル62および算出部50を備える。本例では、実施例1の電流センサ100と相違する点について特に説明する。
フィードバックコイル61およびフィードバックコイル62は、第1抵抗素子21および第2抵抗素子22のそれぞれに対応するフィードバックコイルの一例である。フィードバックコイル61は、被測定電流Ipにより生じた磁場及び外乱磁場を、第1抵抗素子21においてキャンセルする磁場を生成する。フィードバックコイル61は、第1フィードバックコイルの一例である。フィードバックコイル61およびフィードバックコイル62は、第1抵抗素子21および第2抵抗素子22における磁場をキャンセルしてゼロ磁場とする。第1抵抗素子21および第2抵抗素子22における磁場をゼロ磁場とすることにより、抵抗素子の磁気感度が高くなるので、磁場の検出精度が向上する。
フィードバックコイル62は、被測定電流Ipにより生じた磁場及び外乱磁場を、第2抵抗素子22においてキャンセルする磁場を生成する。フィードバックコイル62は、第2フィードバックコイルの一例である。ここで、第2抵抗素子22において被測定電流Ipに応じた磁場がキャンセルされることにより、第2抵抗素子22に対応するフィードバックコイル62に流す電流が少なくて済む。これにより、フィードバックコイル62によるフィードバックに要する消費電力が低減する。
算出部50は、フィードバックコイル61およびフィードバックコイル62に流れる電流量から被測定電流Ipを算出する。一例において、算出部50は、フィードバックコイル61およびフィードバックコイル62に流れる電流量を検出することにより、第1抵抗素子21および第2抵抗素子22のそれぞれに入力された磁場を算出する。そして、算出部50は、第1抵抗素子21および第2抵抗素子22に入力された磁場に基づいて、一次導体10に流れる被測定電流Ipを算出する。
ここで、算出部50は、第1抵抗素子21の出力信号と第2抵抗素子22の出力信号との差分R1−R2に応じて、被測定電流Ipを算出する。本例の算出部50は、各抵抗素子に磁気的なフィードバックを行って閉ループ方式でセンサ出力を読み出す。この場合、センサ位置における磁場強度(即ち、信号磁場と外乱磁場との和)が大きくなるほど信号強度が増すが、フィードバックコイルのフィードバックに要する電流消費が大きくなる。即ち、消費電流の点ではセンサにかかる磁場強度の小さい方が望ましい。
また、算出部50は、第1抵抗素子21の出力信号と第2抵抗素子22の出力信号との差分R2−R1を取ることにより、一様な外乱磁場による影響をキャンセルし、被測定電流Ipを算出する。算出部50は、一様な外乱磁場による影響をキャンセルすることにより、被測定電流Ipの検出精度を高められる。
[比較例1]
図8は、比較例1に係る電流センサ500の構成を示す。本例の電流センサ500は、第1導体511、第2導体512、第1抵抗素子521および第2抵抗素子522を備える。第1抵抗素子521、第2抵抗素子522は、基板525上に設けられる。電流センサ500は、断面視で、第1導体511の重心を通り、感磁軸方向に延びる第1仮想直線V1と、第2導体512の重心を通り、感磁軸方向に延びる第2仮想直線V2との間の領域に設けられていない。
図8は、比較例1に係る電流センサ500の構成を示す。本例の電流センサ500は、第1導体511、第2導体512、第1抵抗素子521および第2抵抗素子522を備える。第1抵抗素子521、第2抵抗素子522は、基板525上に設けられる。電流センサ500は、断面視で、第1導体511の重心を通り、感磁軸方向に延びる第1仮想直線V1と、第2導体512の重心を通り、感磁軸方向に延びる第2仮想直線V2との間の領域に設けられていない。
第2抵抗素子522は、第1導体511および第2導体512から入力される磁場が強め合う方向に働く。即ち、電流センサ500は、第2抵抗素子522における磁場が打ち消されないので、第1抵抗素子521の出力信号と第2抵抗素子522の出力信号との差分R521−R522の信号強度が小さくなる。これにより、電流センサ500の検出精度が低下する。また、電流センサ500は、第2抵抗素子522に対応するフィードバックコイルにおける消費電力を低減できない。
これに対して実施例に係る電流センサ100は、第2抵抗素子22における磁場が打ち消されるので、第1抵抗素子21の出力信号と第2抵抗素子22の出力信号との差分R1−R2の信号強度が大きくなる。これにより、実施例に係る電流センサ100の検出精度が向上する。
図9は、比較例1に係る電流センサ500の磁場変換係数の一例を示す。図9では、電流センサ500における磁場変換係数β1および磁場変換係数β2、および磁場変換係数の差分β1−β2を示す。縦軸は磁場変換係数[mT/A]を示し、横軸は一次導体10の重心のZ座標を示す。
磁場変換係数β1は、第1抵抗素子521の磁場変換係数を示す。被測定電流Ipが第1抵抗素子21の位置に作る感磁軸方向の磁場Bx1は、磁場変換係数β1を用いて次式で示される。
Bx1[mT]=β1[mT/A]・Ip[A]
磁場変換係数β2は、第2抵抗素子522の磁場変換係数を示す。被測定電流Ipが第2抵抗素子22の位置に作る感磁軸方向の磁場Bx2は、磁場変換係数β2を用いて次式で示される。
Bx2[mT]=β2[mT/A]・Ip[A]
Bx1[mT]=β1[mT/A]・Ip[A]
磁場変換係数β2は、第2抵抗素子522の磁場変換係数を示す。被測定電流Ipが第2抵抗素子22の位置に作る感磁軸方向の磁場Bx2は、磁場変換係数β2を用いて次式で示される。
Bx2[mT]=β2[mT/A]・Ip[A]
ここで、磁場変換係数β2は、第2抵抗素子522において被測定電流Ipに応じた磁場がキャンセルされない。したがって、磁場変換係数の差分β1−β2が磁場変換係数β1と重ならない。また、磁場変換係数の差分β1−β2が図3で示した磁場変換係数の差分α1−α2よりも小さくなるので、電流センサ500の電流検出精度が低下する。
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
特許請求の範囲、明細書、および図面中において示した装置、システム、プログラム、および方法における動作、手順、ステップ、および段階等の各処理の実行順序は、特段「より前に」、「先立って」等と明示しておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるのでない限り、任意の順序で実現しうることに留意すべきである。特許請求の範囲、明細書、および図面中の動作フローに関して、便宜上「まず、」、「次に、」等を用いて説明したとしても、この順で実施することが必須であることを意味するものではない。
10・・・一次導体、11・・・第1導体、12・・・第2導体、20・・・磁気センサ、21・・・第1抵抗素子、22・・・第2抵抗素子、25・・・基板、30・・・リードフレーム、50・・・算出部、61・・・フィードバックコイル、62・・・フィードバックコイル、70・・・封止部、100・・・電流センサ、500・・・電流センサ、511・・・第1導体、512・・・第2導体、521・・・第1抵抗素子、522・・・第2抵抗素子、525・・・基板
Claims (8)
- 被測定電流が流れる第1導体および第2導体と、
予め定められた第1の方向に感磁軸を有し、前記第1導体および前記第2導体に流れる前記被測定電流により生じた磁場を検出する第1抵抗素子と、
前記第1の方向に感磁軸を有し、前記第1導体および前記第2導体に流れる前記被測定電流により生じた磁場を検出する第2抵抗素子と
を備え、
前記第2導体の重心は、断面視で、前記第1導体の重心を通り、前記第1の方向に延びる第1仮想直線上に位置せず、
前記第2抵抗素子は、断面視で、前記第1仮想直線と、前記第2導体の重心を通り、前記第1の方向に延びる第2仮想直線との間の領域に設けられる
電流センサ。 - 前記第2抵抗素子は、前記第1導体の重心と前記第2導体の重心との中点を通り、前記第1導体の重心と前記第2導体の重心とを結ぶ第3仮想直線の垂線上に配置される
請求項1に記載の電流センサ。 - 前記第1抵抗素子および前記第2抵抗素子は、断面視で、前記第1抵抗素子および前記第2抵抗素子を通る第4仮想直線が、前記第1の方向と平行となるように配置される
請求項1又は2に記載の電流センサ。 - 前記第1抵抗素子および前記第2抵抗素子は、断面視で、前記第4仮想直線が、前記電流センサの基板平面と平行となるように配置される
請求項3に記載の電流センサ。 - 前記第1抵抗素子および前記第2抵抗素子は、前記第4仮想直線が、前記電流センサの基板平面と傾斜するように配置される
請求項3に記載の電流センサ。 - 前記被測定電流により生じた磁場を、前記第1抵抗素子においてキャンセルする磁場を生成する第1フィードバックコイルと、
前記被測定電流により生じた磁場を、前記第2抵抗素子においてキャンセルする磁場を生成する第2フィードバックコイルと
を更に備える
請求項1から5のいずれか一項に記載の電流センサ。 - 前記第1フィードバックコイルおよび前記第2フィードバックコイルに流れる電流量から前記被測定電流を算出する算出部を更に備える
請求項6に記載の電流センサ。 - 前記第1抵抗素子の出力信号と前記第2抵抗素子の出力信号との差分を取ることにより、一様な外乱磁場による影響をキャンセルし、前記被測定電流を算出する算出部を更に備える
請求項1から7のいずれか一項に記載の電流センサ。
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|---|---|---|---|
| JP2017063835A JP2018165699A (ja) | 2017-03-28 | 2017-03-28 | 電流センサ |
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-
2017
- 2017-03-28 JP JP2017063835A patent/JP2018165699A/ja active Pending
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