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JP2008033263A - 蛍光検査用の走査型レーザ顕微鏡 - Google Patents

蛍光検査用の走査型レーザ顕微鏡 Download PDF

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JP2008033263A JP2007135645A JP2007135645A JP2008033263A JP 2008033263 A JP2008033263 A JP 2008033263A JP 2007135645 A JP2007135645 A JP 2007135645A JP 2007135645 A JP2007135645 A JP 2007135645A JP 2008033263 A JP2008033263 A JP 2008033263A
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light
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JP2007135645A
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Ralf Wolleschensky
ラルフ ヴォレシェンスキー
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Carl Zeiss Microscopy GmbH
Original Assignee
Carl Zeiss MicroImaging GmbH
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Abstract

【課題】放出フィルタの不要な蛍光検査用の走査型レーザ顕微鏡を提供すること。
【解決手段】蛍光検査用の走査型レーザ顕微鏡では、照明用および検出用の放射線経路が、2色性の主カラー・スプリッタ(1)によって光学的に結合されており、検出された試料光が、更なるビーム・スプリッタ(2)によって複数の検出器に導かれ、少なくとも主カラー・スプリッタまたは少なくとも1つの更なるスプリッタのスプリッタ面での、照明光の入射角度および/または試料光の入射角度が45度より小さい。
【選択図】 図3

Description

本発明は、蛍光検査用の走査型レーザ顕微鏡に関する。
基本的に走査型レーザ顕微鏡(LSM)は、図1に示されたように、光源と、走査モジュールと、検出ユニットと、顕微鏡の4つのモジュールに分かれている。これらのモジュールを以下に詳細に説明する。これに加えて(特許文献1)を援用する。
プレパラート中の様々な色素を特異的に励起させるために、LSMでは様々な波長のレーザが用いられる。励起波長の選択は、検査する色素の吸収特性に基づいて行われる。励起放射線は光源モジュールで発生させる。その際に様々なレーザ(アルゴン、アルゴン・クリプトン、TiSaレーザ)が用いられる。光源モジュールでの異なる波長の統合は、図1で光源モジュールの右半分に示されているように、ビーム・スプリッタまたはミラーを介して行われる。
さらに光源モジュールでは、波長の選択および必要な励起波長の強度調整が、例えば音響光学結晶(AOTF)を用いて行われる。
続いてレーザ光線は、ファイバまたは適切なミラー構成を介して走査モジュールに達する。
光源で発生したレーザ光線は、回折を制限されて、スキャナ、走査光学系、および鏡筒レンズを経由し、対物レンズによってプレパラートに集束される。焦点は点状で、試料をx−y方向にラスタ走査する。試料を走査する際の1ピクセル滞在時間は、大抵の場合、1マイクロ秒未満から数秒までの範囲にある。
蛍光の共焦点検出(デスキャン検出(descanned Detection))の場合、焦点面(試料(Specimen))から、ならびにその上および下にある平面から放出される光は、スキャナを経由して2色性ビーム・スプリッタ(MDB)に達する。ビーム・スプリッタは、蛍光を励起光から分離する。続いて蛍光は、焦点面に対する共役面に正確に存在する絞り(共焦点絞り/ピンホール)上に集束される。これにより焦点の外にある蛍光が抑制される。絞りのサイズを変えることで、顕微鏡の光学解像度を調整することができる。
絞りの後ろには、更なる2色性のブロック・フィルタ(EF)があり、このフィルタが再度、励起放射線を抑制する。ブロック・フィルタを通過した後に、蛍光は、点検出器(PMT)によって測定される。
多光子吸収を用いる場合、色素の蛍光発光の励起は、励起強度が特に高い小さな体積で行われる。この領域は、共焦点構成を用いる場合に検出される領域よりほんの少しだけ大きい。したがって、共焦点絞りの使用を省略し、検出を対物レンズの直後に行ってもよい(非デスキャン検出)。
多光子吸収によって励起された色素の蛍光を検出するための更なる構成では、さらにデスキャン検出が行われるが、但し今回は対物レンズの瞳が検出ユニットに結像される(非共焦点のデスキャン検出)。
3次元で照明された画像から、対応する1光子吸収または多光子吸収と関連する両方の検出構成によって、対物レンズの焦点面にある平面(光切断面)のみが再現される。x−y面における試料の様々な深さzでの複数の光切断面を記憶することによって、続いて計算機を用いて試料の3次元画像を生じさせることができる。
したがって、LSMは、肉厚のプレパラートの検査に適している。励起波長は、使用された色素の固有の吸収特性によって決まる。色素の放出特性に合わせられた2色性フィルタは、それぞれの色素から出た蛍光だけが点検出器によって測定されることを保証する。
生物医学の応用分野では、現在、細胞の複数の異なる領域が、異なる色素によって同時に標識される(マルチ蛍光)。現況技術では、それぞれの色素は、異なる吸収特性、または異なる放出特性(スペクトル)に基づいて別々に検出できる。
そのために、副ビーム・スプリッタ(DBS)を用いて複数の色素の蛍光を追加的に分離し、それぞれの色素放出を別々の点検出器(PMTx)で別々に検出する。
カール ツァイス マイクロイメージング社(Carl Zeiss MicroImaging GmbH)のLSM LIVEは、毎秒約120の画像を生成する非常に速いライン・スキャナを実現している(非特許文献1参照)。
DE 19702753 A1 http://www.zeiss.de/c12567be00459794/Contents−Frame/fd9fa0090eee01a641256a550036267b http://www.semrock.com/Catalog/Notch SpectrumvsAOI.htm
図2には現況技術が、また図3には本発明が詳細に示されている。
図2では、対物レンズを経由して試料の方向に光源を反射させるための主カラー・スプリッタが設けられている。試料光は、主カラー・スプリッタHFTを通り抜け、ピンホール光学系POおよび副カラー・スプリッタを経由して、検出器DE1およびDE2の方向に達する。その際、目的の蛍光現象が検査できるように、試料光について、試料から反射された照明光および散乱光の除去が行われる。
さらに、検出器の前には、残っている邪魔な放射線を遮蔽するために、特に狭い帯域の放出フィルタEFが配置されている。
主および副カラー・スプリッタは、それぞれ光軸に対して45度の角度で配置されている。
本発明の目的は、放出フィルタの不要な蛍光検査用の走査型レーザ顕微鏡を提供することにある。
本発明の一態様は、照明用および検出用の放射線経路が、2色性の主カラー・スプリッタ(1)によって光学的に結合されており、検出された試料光が、更なるビーム・スプリッタ(2)によって複数の検出器に導かれるように構成された蛍光検査用の走査型レーザ顕微鏡であって、少なくとも該主カラー・スプリッタまたは少なくとも1つの更なるスプリッタのスプリッタ面での、該照明光の入射角度および/または該試料光の入射角度が45度より小さいことを特徴とする走査型レーザ顕微鏡である。
本発明によれば、図3で、主カラー・スプリッタの部分的にミラーが貼り付けられた平面を、光軸に対して45度より小さい角度で配置するのが有利である。光源LQは、顕微鏡の光軸に対して90度より小さい角度で配置されている。図4には、本発明に基づく更なる構成が示されている。この場合はさらに、副カラー・スプリッタNFTが、光軸に対して45度より小さい角度で配置されている。
ビーム・スプリッタを45度より小さい角度で配置することにより、有利なことに、HFTおよびNFTのフィルタ作用が、ピンホールPHの手前に追加の放出フィルタEFが要らなくなるほど強くなる(ODが5または3より大きい)。
本発明によれば、コーティング設計は、45度より小さい角度、好ましくは20度までの角度に向くように変更され、つまりこの衝突角のとき最良の反射特性および透過特性を示す。
ノッチ・フィルタの場合、特有の入射角に合わせたコーティングは、例えば(非特許文献2)で実現されている。
本発明によれば、カラー・フィルタでは、有利なことに、衝突角がゼロから遠ざかるにつれてコーティングの光学密度が低下していくことが分かった。
本発明によれば、45度より小さい角度で、コーティングの比較的高い光学密度が達成される。
図5には例として、様々な角度に対して可能なフィルタ特性(波長に依存する透過)が示されている。
光軸に対して45度より小さい角度の場合に、透過の際に、つまり検出器の方向における励起波長が強く抑制されることが明らかである。
5度〜20度の角度でHFTおよび/またはNFTを配置するのが特に有利である。その際にカラー・スプリッタで反射された入力放射線と出力放射線の空間的分離の改善を実現するために、光源から来る放射線の光軸に対する角度を大きくする働きをするミラーをさらに取り付けてもよい(図4参照)。このミラーが、特に有利にはHFT/NFTの構成要素であってもよい。
現況技術のLSMの構成を示す図。 現況技術のLSMの配置を示す図。 本発明によるLSMの配置を示す図。 本発明によるLSMの更なる配置を示す図。 様々な角度に対して可能なフィルタ特性(波長に依存する透過)を示す図。
符号の説明
1…主カラー・スプリッタ、2…副カラー・スプリッタ

Claims (4)

  1. 照明用および検出用の放射線経路が、2色性の主カラー・スプリッタ(1)によって光学的に結合されており、検出された試料光が、更なるビーム・スプリッタ(2)によって複数の検出器に導かれるように構成された蛍光検査用の走査型レーザ顕微鏡であって、
    少なくとも該主カラー・スプリッタまたは少なくとも1つの更なるスプリッタのスプリッタ面での、該照明光の入射角度および/または該試料光の入射角度が45度より小さい
    ことを特徴とする走査型レーザ顕微鏡。
  2. 請求項1に記載の走査型レーザ顕微鏡において、前記入射角度が20度より小さい、走査型レーザ顕微鏡。
  3. 請求項1または2に記載の走査型レーザ顕微鏡において、前記主カラー・スプリッタ(1)が少なくともOD=5で前記照明光を抑制し、また前記副カラー・スプリッタ(2)がOD=3未満で前記照明光を抑制する、走査型レーザ顕微鏡。
  4. 請求項1乃至3のうちのいずれか1項に記載の走査型レーザ顕微鏡において、前記ビーム・スプリッタ(2)が、可変のグラデーション・フィルタとして形成され、グラデーションに沿って変位可能に配置されている、走査型レーザ顕微鏡。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2463700A1 (en) 2010-12-08 2012-06-13 Olympus Corporation Fluorescence microscope
JP2017138622A (ja) * 2017-04-28 2017-08-10 株式会社ニコン レーザ励起蛍光顕微鏡
JP2019093157A (ja) * 2013-04-23 2019-06-20 シーダーズ−サイナイ メディカル センター 蛍光体由来の可視光画像及び赤外光画像を同時に記録するためのシステム及び方法
US10803578B2 (en) 2013-04-23 2020-10-13 Cedars-Sinai Medical Center Systems and methods for recording simultaneously visible light image and infrared light image from fluorophores

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20100087141A (ko) * 2007-10-31 2010-08-03 가부시키가이샤 니콘 레이저 여기 형광 현미경
DE602008005314D1 (de) * 2008-10-10 2011-04-14 Zeiss Carl Microimaging Gmbh Verfahren zur Abbildung einer Probe mit einem Mikroskop, Mikroskop und Datenspeicher
DE102010026205A1 (de) * 2010-07-06 2012-01-12 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Mikroskop, insbesondere Fluoreszenzmikroskop, dichroitischer Strahlteiler und dessen Verwendung
DE102012010208A1 (de) * 2012-05-15 2013-11-21 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop
DE102012019472B4 (de) 2012-09-28 2023-05-04 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optische Filtervorrichtung, insbesondere für Mikroskope, und Mikroskop
DE102014008098A1 (de) 2014-05-31 2015-12-03 Carl Zeiss Ag Spektral flexible, schnell umschaltbare optische Filtervorrichtung

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1307032A (en) * 1970-05-02 1973-02-14 Leitz Ernst Gmbh Illuminator for illuminating a fluorescent object
JPS4933643A (ja) * 1972-07-23 1974-03-28
JPH06201999A (ja) * 1992-10-05 1994-07-22 Univ California 連続表示を提供する走査型コンフォーカル顕微鏡
US6167173A (en) * 1997-01-27 2000-12-26 Carl Zeiss Jena Gmbh Laser scanning microscope
JP2001142002A (ja) * 1999-10-12 2001-05-25 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh 共焦点レーザ走査顕微鏡
JP2003021788A (ja) * 2001-07-10 2003-01-24 Olympus Optical Co Ltd 光学装置
US20040012774A1 (en) * 2002-07-17 2004-01-22 Kla-Tencor Technologies Corporation Inspection system with multiple illumination sources
JP2005165212A (ja) * 2003-12-05 2005-06-23 Olympus Corp 走査型共焦点顕微鏡装置
US20060011857A1 (en) * 2004-07-16 2006-01-19 Joerg-Michael Funk Raster scanning light microscope with line pattern scanning and applications

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19758744C2 (de) * 1997-01-27 2003-08-07 Zeiss Carl Jena Gmbh Laser-Scanning-Mikroskop
DE10151217B4 (de) * 2001-10-16 2012-05-16 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Verfahren zum Betrieb eines Laser-Scanning-Mikroskops

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1307032A (en) * 1970-05-02 1973-02-14 Leitz Ernst Gmbh Illuminator for illuminating a fluorescent object
JPS4933643A (ja) * 1972-07-23 1974-03-28
JPH06201999A (ja) * 1992-10-05 1994-07-22 Univ California 連続表示を提供する走査型コンフォーカル顕微鏡
US6167173A (en) * 1997-01-27 2000-12-26 Carl Zeiss Jena Gmbh Laser scanning microscope
JP2001142002A (ja) * 1999-10-12 2001-05-25 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh 共焦点レーザ走査顕微鏡
JP2003021788A (ja) * 2001-07-10 2003-01-24 Olympus Optical Co Ltd 光学装置
US20040012774A1 (en) * 2002-07-17 2004-01-22 Kla-Tencor Technologies Corporation Inspection system with multiple illumination sources
JP2005165212A (ja) * 2003-12-05 2005-06-23 Olympus Corp 走査型共焦点顕微鏡装置
US20060011857A1 (en) * 2004-07-16 2006-01-19 Joerg-Michael Funk Raster scanning light microscope with line pattern scanning and applications

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2463700A1 (en) 2010-12-08 2012-06-13 Olympus Corporation Fluorescence microscope
JP2012123137A (ja) * 2010-12-08 2012-06-28 Olympus Corp 蛍光顕微鏡
US9075238B2 (en) 2010-12-08 2015-07-07 Olympus Corporation Fluorescence microscope
JP2019093157A (ja) * 2013-04-23 2019-06-20 シーダーズ−サイナイ メディカル センター 蛍光体由来の可視光画像及び赤外光画像を同時に記録するためのシステム及び方法
US10803578B2 (en) 2013-04-23 2020-10-13 Cedars-Sinai Medical Center Systems and methods for recording simultaneously visible light image and infrared light image from fluorophores
JP2021039121A (ja) * 2013-04-23 2021-03-11 シーダーズ−サイナイ メディカル センター 蛍光体由来の可視光画像及び赤外光画像を同時に記録するためのシステム及び方法
JP7137607B2 (ja) 2013-04-23 2022-09-14 シーダーズ-サイナイ メディカル センター 蛍光体由来の可視光画像及び赤外光画像を同時に記録するためのシステム及び方法
US11737645B2 (en) 2013-04-23 2023-08-29 Cedars-Sinai Medical Center Systems and methods for recording simultaneously visible light image and infrared light image from fluorophores
US12324559B2 (en) 2013-04-23 2025-06-10 Cedars-Sinai Medical Center Systems and methods for recording simultaneously visible light image and infrared light image from fluorophores
JP2017138622A (ja) * 2017-04-28 2017-08-10 株式会社ニコン レーザ励起蛍光顕微鏡

Also Published As

Publication number Publication date
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US20080062511A1 (en) 2008-03-13
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