JP2002118151A - 半導体装置の製造方法および半導体製造装置 - Google Patents
半導体装置の製造方法および半導体製造装置Info
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- JP2002118151A JP2002118151A JP2000307410A JP2000307410A JP2002118151A JP 2002118151 A JP2002118151 A JP 2002118151A JP 2000307410 A JP2000307410 A JP 2000307410A JP 2000307410 A JP2000307410 A JP 2000307410A JP 2002118151 A JP2002118151 A JP 2002118151A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ツール調整時間を短縮して作業性の向上を図
るとともに、調整のばらつきを低減する。 【解決手段】 加圧面12dが設けられたマウントツー
ル12cを備えたツールブロック12fと、ツールブロ
ック12fの外側球面部12jと接触する球面部12k
を備えたガイドブロック12gと、ツールブロック12
fをガイドブロック12gに押し当てて固定する固定部
材12hと、配線基板を支持する載置面12eを備えた
マウントステージ12bとが設けられ、フリー状態のツ
ールブロック12fを自在運動させてマウントツール1
2cの加圧面12dがマウントステージ12bの載置面
12eに倣うように両者を接触させて平行度を調整し、
調整後、ツールブロック12fをガイドブロック12g
に押し当てて固定部材12hによって固定してチップマ
ウントを行う。
るとともに、調整のばらつきを低減する。 【解決手段】 加圧面12dが設けられたマウントツー
ル12cを備えたツールブロック12fと、ツールブロ
ック12fの外側球面部12jと接触する球面部12k
を備えたガイドブロック12gと、ツールブロック12
fをガイドブロック12gに押し当てて固定する固定部
材12hと、配線基板を支持する載置面12eを備えた
マウントステージ12bとが設けられ、フリー状態のツ
ールブロック12fを自在運動させてマウントツール1
2cの加圧面12dがマウントステージ12bの載置面
12eに倣うように両者を接触させて平行度を調整し、
調整後、ツールブロック12fをガイドブロック12g
に押し当てて固定部材12hによって固定してチップマ
ウントを行う。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体製造技術に
関し、特に、フリップチップボンダなどの半導体製造装
置の作業性向上に適用して有効な技術に関する。
関し、特に、フリップチップボンダなどの半導体製造装
置の作業性向上に適用して有効な技術に関する。
【0002】
【従来の技術】以下に説明する技術は、本発明を研究、
完成するに際し、本発明者によって検討されたものであ
り、その概要は次のとおりである。
完成するに際し、本発明者によって検討されたものであ
り、その概要は次のとおりである。
【0003】半導体チップをフリップチップ実装で配線
基板(チップ支持部材)に接合する半導体製造装置とし
て、フリップチップボンダが知られている。
基板(チップ支持部材)に接合する半導体製造装置とし
て、フリップチップボンダが知られている。
【0004】フリップチップボンダでは、マウントステ
ージとマウントツールとが対向して配置され、チップマ
ウント(チップボンディング)の際には、マウントステ
ージに配線基板を配置し、一方、マウントツールによっ
て半導体チップを支持し、マウントステージとマウント
ツールとによって半導体チップと配線基板を加圧してチ
ップマウントを行う。
ージとマウントツールとが対向して配置され、チップマ
ウント(チップボンディング)の際には、マウントステ
ージに配線基板を配置し、一方、マウントツールによっ
て半導体チップを支持し、マウントステージとマウント
ツールとによって半導体チップと配線基板を加圧してチ
ップマウントを行う。
【0005】ここで、前記フリップチップボンダのマウ
ントツールは、XまたはY方向にそれぞれ円弧状に移動
可能な別々のステージを組み合わせて構成されたXYス
テージに搭載されている。
ントツールは、XまたはY方向にそれぞれ円弧状に移動
可能な別々のステージを組み合わせて構成されたXYス
テージに搭載されている。
【0006】したがって、チップマウントの際には、そ
れぞれのステージを別々に調整してマウントツールとマ
ウントステージの平行出しを行っている。
れぞれのステージを別々に調整してマウントツールとマ
ウントステージの平行出しを行っている。
【0007】なお、種々のフリップチップボンダについ
ては、例えば、株式会社プレスジャーナル1998年7
月27日発行、「月刊Semiconductor World 増刊号 '99
半導体組立・検査技術」、119〜123頁に記載され
ている。
ては、例えば、株式会社プレスジャーナル1998年7
月27日発行、「月刊Semiconductor World 増刊号 '99
半導体組立・検査技術」、119〜123頁に記載され
ている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところが、前記した技
術のフリップチップボンダでは、製品の品種交換時など
に、マウントステージやマウントツールも交換の必要が
あり、品種交換ごとに、毎回作業者が手動で前記XYス
テージの調整を行うことになり、したがって、マウント
ツールとマウントステージの平行出しの調整に時間がか
かることが問題となる。
術のフリップチップボンダでは、製品の品種交換時など
に、マウントステージやマウントツールも交換の必要が
あり、品種交換ごとに、毎回作業者が手動で前記XYス
テージの調整を行うことになり、したがって、マウント
ツールとマウントステージの平行出しの調整に時間がか
かることが問題となる。
【0009】また、マウントツールとマウントステージ
の交換後の平行出しを作業者が行うため、その調整にば
らつきが生じることが問題となる。
の交換後の平行出しを作業者が行うため、その調整にば
らつきが生じることが問題となる。
【0010】さらに、前記調整では、実際に感圧紙を用
いてマウントツールとマウントステージとによってこの
感圧紙を加圧し、感圧紙の被加圧部の色が均一になる
(許容範囲になる)まで、加圧と感圧紙の色確認との作
業が延々と続けられる。
いてマウントツールとマウントステージとによってこの
感圧紙を加圧し、感圧紙の被加圧部の色が均一になる
(許容範囲になる)まで、加圧と感圧紙の色確認との作
業が延々と続けられる。
【0011】これにより、前記調整に非常に時間がかか
ることが問題である。
ることが問題である。
【0012】本発明の目的は、ツール調整時間を短縮し
て作業性の向上を図るとともに、調整のばらつきを低減
する半導体装置の製造方法および半導体製造装置を提供
することにある。
て作業性の向上を図るとともに、調整のばらつきを低減
する半導体装置の製造方法および半導体製造装置を提供
することにある。
【0013】さらに、本発明のその他の目的は、自動ツ
ール交換を図る半導体装置の製造方法および半導体製造
装置を提供することにある。
ール交換を図る半導体装置の製造方法および半導体製造
装置を提供することにある。
【0014】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
【0015】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
【0016】すなわち、本発明の半導体装置の製造方法
は、マウントツールが設けられたツールブロックの前記
マウントツールの加圧面と、ステージの載置面とを対向
して配置する工程と、前記マウントツールの前記加圧面
と前記ステージの前記載置面とを接触させて前記ツール
ブロックを自在運動させて両者の平行度を調整する工程
と、前記ツールブロックを固定部材によってガイドブロ
ックに固定する工程と、前記ツールブロックの前記マウ
ントツールの前記加圧面によって半導体チップを支持す
る工程と、前記ステージの前記載置面にチップ支持部材
を配置する工程と、前記マウントツールと前記ステージ
とによって前記半導体チップと前記チップ支持部材とを
加圧して両者を接合する工程とを有するものである。
は、マウントツールが設けられたツールブロックの前記
マウントツールの加圧面と、ステージの載置面とを対向
して配置する工程と、前記マウントツールの前記加圧面
と前記ステージの前記載置面とを接触させて前記ツール
ブロックを自在運動させて両者の平行度を調整する工程
と、前記ツールブロックを固定部材によってガイドブロ
ックに固定する工程と、前記ツールブロックの前記マウ
ントツールの前記加圧面によって半導体チップを支持す
る工程と、前記ステージの前記載置面にチップ支持部材
を配置する工程と、前記マウントツールと前記ステージ
とによって前記半導体チップと前記チップ支持部材とを
加圧して両者を接合する工程とを有するものである。
【0017】本発明によれば、マウントツールの加圧面
とマウントステージの載置面とを接触させた際に、マウ
ントツールを支持するツールブロックが自在運動可能で
あるため、マウントツールの加圧面をマウントステージ
の載置面に倣わせることができる。
とマウントステージの載置面とを接触させた際に、マウ
ントツールを支持するツールブロックが自在運動可能で
あるため、マウントツールの加圧面をマウントステージ
の載置面に倣わせることができる。
【0018】したがって、マウントツールの加圧面とマ
ウントステージの載置面の両者の平行出しを容易に、か
つ安定して行うことができるとともに、ツールブロック
を下降させてマウントツールをマウントステージに押し
当てるだけであるため、その平行度調整を自動化するこ
とができる。
ウントステージの載置面の両者の平行出しを容易に、か
つ安定して行うことができるとともに、ツールブロック
を下降させてマウントツールをマウントステージに押し
当てるだけであるため、その平行度調整を自動化するこ
とができる。
【0019】その結果、品種切り換え時のマウントツー
ルとマウントステージの平行度調整を容易に行うことが
でき、平行度調整に費やす時間を短縮することができ
る。
ルとマウントステージの平行度調整を容易に行うことが
でき、平行度調整に費やす時間を短縮することができ
る。
【0020】また、本発明の半導体製造装置は、半導体
チップを支持可能な加圧面が設けられたマウントツール
を備え、自在運動可能なツールブロックと、前記ツール
ブロックと接触する球面部を備えたガイドブロックと、
前記ツールブロックを前記ガイドブロックに押し当てて
固定する固定部材と、前記半導体チップと接合可能なチ
ップ支持部材を支持する載置面を備え、前記チップ支持
部材を前記載置面に前記半導体チップと対向して配置可
能なように設けられた移動自在なステージと、前記マウ
ントツールと前記ステージとにより前記半導体チップと
前記チップ支持部材とを加圧して両者の接合が行われる
マウント処理部とを有し、前記固定部材によって前記ツ
ールブロックを前記ガイドブロックに固定する際に、前
記マウントツールの前記加圧面と前記ステージの前記載
置面とを接触させて前記ツールブロックを自在運動させ
て両者の平行度を調整して固定するものである。
チップを支持可能な加圧面が設けられたマウントツール
を備え、自在運動可能なツールブロックと、前記ツール
ブロックと接触する球面部を備えたガイドブロックと、
前記ツールブロックを前記ガイドブロックに押し当てて
固定する固定部材と、前記半導体チップと接合可能なチ
ップ支持部材を支持する載置面を備え、前記チップ支持
部材を前記載置面に前記半導体チップと対向して配置可
能なように設けられた移動自在なステージと、前記マウ
ントツールと前記ステージとにより前記半導体チップと
前記チップ支持部材とを加圧して両者の接合が行われる
マウント処理部とを有し、前記固定部材によって前記ツ
ールブロックを前記ガイドブロックに固定する際に、前
記マウントツールの前記加圧面と前記ステージの前記載
置面とを接触させて前記ツールブロックを自在運動させ
て両者の平行度を調整して固定するものである。
【0021】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて詳細に説明する。なお、実施の形態を説明す
るための全図において、同一の機能を有する部材には同
一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。
に基づいて詳細に説明する。なお、実施の形態を説明す
るための全図において、同一の機能を有する部材には同
一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。
【0022】図1は本発明の実施の形態の半導体製造装
置の一例であるフリップチップボンダの構造を示す構成
概略図、図2は図1に示すフリップチップボンダにおけ
るチップマウント動作の一例を示す動作概略図、図3は
図1に示すフリップチップボンダにおけるマウント処理
部の構造の一例を示す図であり、(a)はマウントツー
ルとマウントステージの断面図、(b)は(a)のA矢
視図、図4は図1に示すフリップチップボンダを用いて
製造された半導体装置の一例であるCSPの構造を示す
断面図、図5は本発明の実施の形態の半導体装置である
CSPの製造方法の組み立て手順の一例を示す製造プロ
セスフロー図、図6〜図8は図1に示すフリップチップ
ボンダにおけるマウントツールとマウントステージの平
行度の調整方法の原理の一例を示す断面図である。
置の一例であるフリップチップボンダの構造を示す構成
概略図、図2は図1に示すフリップチップボンダにおけ
るチップマウント動作の一例を示す動作概略図、図3は
図1に示すフリップチップボンダにおけるマウント処理
部の構造の一例を示す図であり、(a)はマウントツー
ルとマウントステージの断面図、(b)は(a)のA矢
視図、図4は図1に示すフリップチップボンダを用いて
製造された半導体装置の一例であるCSPの構造を示す
断面図、図5は本発明の実施の形態の半導体装置である
CSPの製造方法の組み立て手順の一例を示す製造プロ
セスフロー図、図6〜図8は図1に示すフリップチップ
ボンダにおけるマウントツールとマウントステージの平
行度の調整方法の原理の一例を示す断面図である。
【0023】図1に示す本実施の形態の半導体製造装置
の一例であるフリップチップボンダは、図4に示す小形
の半導体装置の一例であるCSP6を組み立てる際に、
半導体チップ1の配線基板(チップ支持部材)4へのマ
ウント(ボンディング)を行う製造装置であり、半導体
チップ1と配線基板4との接合を行うものである。
の一例であるフリップチップボンダは、図4に示す小形
の半導体装置の一例であるCSP6を組み立てる際に、
半導体チップ1の配線基板(チップ支持部材)4へのマ
ウント(ボンディング)を行う製造装置であり、半導体
チップ1と配線基板4との接合を行うものである。
【0024】本実施の形態では、配線基板4の一例とし
てテープ状の薄膜の配線基板4を用いた場合を説明す
る。したがって、図1に示すフリップチップボンダは、
チップ支持部材であるテープ状の配線基板4に半導体チ
ップ1をマウントするものである。
てテープ状の薄膜の配線基板4を用いた場合を説明す
る。したがって、図1に示すフリップチップボンダは、
チップ支持部材であるテープ状の配線基板4に半導体チ
ップ1をマウントするものである。
【0025】図1〜図4を用いて、本実施の形態のフリ
ップチップボンダの概略全体構成について説明すると、
ダイシング後の半導体ウェハ7から個々の半導体チップ
1をピックアップするウェハセット部11と、マウント
ツール12cとマウントステージ(ステージ)12bと
によって半導体チップ1と配線基板4とを加圧して両者
の接合が行われるマウント処理部12と、マウント処理
部12に配線基板4を搬送供給する搬送部9とからな
る。
ップチップボンダの概略全体構成について説明すると、
ダイシング後の半導体ウェハ7から個々の半導体チップ
1をピックアップするウェハセット部11と、マウント
ツール12cとマウントステージ(ステージ)12bと
によって半導体チップ1と配線基板4とを加圧して両者
の接合が行われるマウント処理部12と、マウント処理
部12に配線基板4を搬送供給する搬送部9とからな
る。
【0026】さらに、マウント処理部12には、半導体
チップ1を支持した状態で移動自在なマウントヘッド1
2aと、図3(a)に示すような内側球面部12iおよ
び外側球面部12jが形成されるとともに半導体チップ
1を支持可能な加圧面12dが設けられたマウントツー
ル12cを備え、かつ自在運動可能にマウントヘッド1
2aの先端に設けられたツールブロック12fと、ツー
ルブロック12fの外側球面部12jと接触する球面部
12kを備えたガイドブロック12gと、ツールブロッ
ク12fの内側球面部12iと接触する固定用球面部1
2tを備え、かつ固定用球面部12tによってツールブ
ロック12fをガイドブロック12gに押し当てて固定
する固定部材12hと、半導体チップ1と接合可能な配
線基板4を支持する載置面12eを備え、かつ配線基板
4を載置面12eに半導体チップ1と対向して配置可能
なように設けられた移動自在なマウントステージ12b
とが設けられている。
チップ1を支持した状態で移動自在なマウントヘッド1
2aと、図3(a)に示すような内側球面部12iおよ
び外側球面部12jが形成されるとともに半導体チップ
1を支持可能な加圧面12dが設けられたマウントツー
ル12cを備え、かつ自在運動可能にマウントヘッド1
2aの先端に設けられたツールブロック12fと、ツー
ルブロック12fの外側球面部12jと接触する球面部
12kを備えたガイドブロック12gと、ツールブロッ
ク12fの内側球面部12iと接触する固定用球面部1
2tを備え、かつ固定用球面部12tによってツールブ
ロック12fをガイドブロック12gに押し当てて固定
する固定部材12hと、半導体チップ1と接合可能な配
線基板4を支持する載置面12eを備え、かつ配線基板
4を載置面12eに半導体チップ1と対向して配置可能
なように設けられた移動自在なマウントステージ12b
とが設けられている。
【0027】そこで、本実施の形態のフリップチップボ
ンダの特徴は、チップマウントにおいてマウントツール
12cの加圧面12dとマウントステージ12bの載置
面12eとの平行度調整(平行出し調整)を行う際に、
マウントヘッド12aを下降させてマウントツール12
cの加圧面12dがマウントステージ12bの載置面1
2eに倣うように両者を接触させる。この際、フリー状
態のツールブロック12fを自在運動させて両者の平行
度を調整し(平行出しを行い)、調整後、ツールブロッ
ク12fをガイドブロック12gに押し当てて固定して
この状態でチップマウントを行うものである。
ンダの特徴は、チップマウントにおいてマウントツール
12cの加圧面12dとマウントステージ12bの載置
面12eとの平行度調整(平行出し調整)を行う際に、
マウントヘッド12aを下降させてマウントツール12
cの加圧面12dがマウントステージ12bの載置面1
2eに倣うように両者を接触させる。この際、フリー状
態のツールブロック12fを自在運動させて両者の平行
度を調整し(平行出しを行い)、調整後、ツールブロッ
ク12fをガイドブロック12gに押し当てて固定して
この状態でチップマウントを行うものである。
【0028】したがって、マウントヘッド12aに設け
られたマウントツール12cと、マウントステージ12
bとの平行度調整を自動化することができ、これによ
り、平行度の調整時間の短縮化を図るものである。
られたマウントツール12cと、マウントステージ12
bとの平行度調整を自動化することができ、これによ
り、平行度の調整時間の短縮化を図るものである。
【0029】なお、マウントツール12c、ツールブロ
ック12f、ガイドブロック12gおよび固定部材12
hなどは、例えば、成形または切削可能な材料によって
成形されている。
ック12f、ガイドブロック12gおよび固定部材12
hなどは、例えば、成形または切削可能な材料によって
成形されている。
【0030】また、マウントツール12cとマウントス
テージ12bとによるその平行度調整は、図1に示す制
御部13によって制御される。
テージ12bとによるその平行度調整は、図1に示す制
御部13によって制御される。
【0031】ここで、マウントヘッド12aの先端に
は、図3(a),(b)に示すベースブロック12lが取
り付けられ、このベースブロック12lにガイドブロッ
ク12gが固定され、さらに、ツールブロック12fの
先端面に加圧面12dを有したマウントツール12cが
ネジ12mによって固定されている。
は、図3(a),(b)に示すベースブロック12lが取
り付けられ、このベースブロック12lにガイドブロッ
ク12gが固定され、さらに、ツールブロック12fの
先端面に加圧面12dを有したマウントツール12cが
ネジ12mによって固定されている。
【0032】また、ガイドブロック12gと固定部材1
2hとは、ツールブロック12fを挟んでシリンダとピ
ストンの関係で係合しており、固定部材12hは、ガイ
ドブロック12gに往復運動自在に支持されるととも
に、ガイドブロック12gのエアー供給部12qから供
給されるエアー12rの圧力によってツールブロック1
2fを押し上げてガイドブロック12gに押し当てて固
定するものである。
2hとは、ツールブロック12fを挟んでシリンダとピ
ストンの関係で係合しており、固定部材12hは、ガイ
ドブロック12gに往復運動自在に支持されるととも
に、ガイドブロック12gのエアー供給部12qから供
給されるエアー12rの圧力によってツールブロック1
2fを押し上げてガイドブロック12gに押し当てて固
定するものである。
【0033】すなわち、ガイドブロック12gには、固
定部材12hのピストン部12nを配置し、かつこれの
往復運動を可能にする空洞部12pが形成され、エアー
供給部12qから空洞部12pにエアー12rを供給す
ると、ピストン部12nとともに固定部材12hが上昇
し、固定部材12hとガイドブロック12gとによって
ツールブロック12fを挟んで固定する構造となってい
る。
定部材12hのピストン部12nを配置し、かつこれの
往復運動を可能にする空洞部12pが形成され、エアー
供給部12qから空洞部12pにエアー12rを供給す
ると、ピストン部12nとともに固定部材12hが上昇
し、固定部材12hとガイドブロック12gとによって
ツールブロック12fを挟んで固定する構造となってい
る。
【0034】したがって、マウントツール12cとマウ
ントステージ12bとによる両者の平行度調整の際に
は、エアー12rをガイドブロック12gの空洞部12
pに供給せずに固定部材12hを最下方位置に配置して
おき、これにより、図6に示すように、ツールブロック
12fをフリー状態とし、この状態でマウントツール1
2cの加圧面12dをマウントステージ12bの載置面
12eに押し当てて両面の平行出しを行った後、空洞部
12pに所望のエアー12rを供給してピストン部12
nを上昇させて固定部材12hとガイドブロック12g
とによってツールブロック12fを挟んで固定する。
ントステージ12bとによる両者の平行度調整の際に
は、エアー12rをガイドブロック12gの空洞部12
pに供給せずに固定部材12hを最下方位置に配置して
おき、これにより、図6に示すように、ツールブロック
12fをフリー状態とし、この状態でマウントツール1
2cの加圧面12dをマウントステージ12bの載置面
12eに押し当てて両面の平行出しを行った後、空洞部
12pに所望のエアー12rを供給してピストン部12
nを上昇させて固定部材12hとガイドブロック12g
とによってツールブロック12fを挟んで固定する。
【0035】なお、ツールブロック12fには、その外
周のガイドブロック12gの球面部12kとの接触箇所
に外側球面部12jが形成され、かつ内側の固定部材1
2hの固定用球面部12tとの接触箇所に内側球面部1
2iが形成されている。
周のガイドブロック12gの球面部12kとの接触箇所
に外側球面部12jが形成され、かつ内側の固定部材1
2hの固定用球面部12tとの接触箇所に内側球面部1
2iが形成されている。
【0036】これにより、ツールブロック12fのフリ
ー状態(自在運動可能状態)でマウントツール12cの
加圧面12dをマウントステージ12bの載置面12e
に押し当てて両面の平行出しを行った後、ツールブロッ
ク12fの外側球面部12jとガイドブロック12gの
球面部12k、およびツールブロック12fの内側球面
部12iと固定部材12hの固定用球面部12tがそれ
ぞれ球面接触をするため、マウントツール12cの加圧
面12dとマウントステージ12bの載置面12eとを
押し当てて両者が平行となった際のそのままの角度でツ
ールブロック12fの固定を行うことができ、その結
果、マウントツール12cの加圧面12dとマウントス
テージ12bの載置面12eの平行出しを容易に、かつ
安定して行うことができる。
ー状態(自在運動可能状態)でマウントツール12cの
加圧面12dをマウントステージ12bの載置面12e
に押し当てて両面の平行出しを行った後、ツールブロッ
ク12fの外側球面部12jとガイドブロック12gの
球面部12k、およびツールブロック12fの内側球面
部12iと固定部材12hの固定用球面部12tがそれ
ぞれ球面接触をするため、マウントツール12cの加圧
面12dとマウントステージ12bの載置面12eとを
押し当てて両者が平行となった際のそのままの角度でツ
ールブロック12fの固定を行うことができ、その結
果、マウントツール12cの加圧面12dとマウントス
テージ12bの載置面12eの平行出しを容易に、かつ
安定して行うことができる。
【0037】また、図1に示すマウントヘッド12a
は、XY方向に移動自在なXYテーブル10に取り付け
られ、かつ、Z移動機構によってガイドされており、こ
れによってXYZ方向に移動可能となっている。
は、XY方向に移動自在なXYテーブル10に取り付け
られ、かつ、Z移動機構によってガイドされており、こ
れによってXYZ方向に移動可能となっている。
【0038】さらに、マウントステージ12bとマウン
トヘッド12aは、半導体チップ1と配線基板4とに対
して荷重および熱または超音波などを付与して両者を接
合するものである。
トヘッド12aは、半導体チップ1と配線基板4とに対
して荷重および熱または超音波などを付与して両者を接
合するものである。
【0039】また、図2に示すように、ウェハセット部
11には、ダイシング済みの半導体ウェハ7が配置され
たウェハ支持台11aと、このウェハ支持台11aに搭
載されたダイシング済みの半導体ウェハ7からボンディ
ングすべき半導体チップ1をピックアップコレット11
cによってピックアップするとともに、ピックアップし
た半導体チップ1を表裏反転させてマウントヘッド12
aのマウントツール12cの先端に設けられたコレット
12sに受け渡すフリップヘッド11bとが設置されて
おり、このウェハセット部11では、ダイシング済みの
半導体ウェハ7からの半導体チップ1のピックアップ
と、この半導体チップ1のマウントヘッド12aへの移
載とが行われる。
11には、ダイシング済みの半導体ウェハ7が配置され
たウェハ支持台11aと、このウェハ支持台11aに搭
載されたダイシング済みの半導体ウェハ7からボンディ
ングすべき半導体チップ1をピックアップコレット11
cによってピックアップするとともに、ピックアップし
た半導体チップ1を表裏反転させてマウントヘッド12
aのマウントツール12cの先端に設けられたコレット
12sに受け渡すフリップヘッド11bとが設置されて
おり、このウェハセット部11では、ダイシング済みの
半導体ウェハ7からの半導体チップ1のピックアップ
と、この半導体チップ1のマウントヘッド12aへの移
載とが行われる。
【0040】なお、ウェハセット部11への半導体ウェ
ハ7の移載は、図1に示すウェハリフタ8によって行わ
れる。
ハ7の移載は、図1に示すウェハリフタ8によって行わ
れる。
【0041】また、搬送部9への配線基板4の送り出し
は、ローダ17によって行われ、さらに、チップボンデ
ィング後の配線基板4は、アンローダ18に収容され
る。
は、ローダ17によって行われ、さらに、チップボンデ
ィング後の配線基板4は、アンローダ18に収容され
る。
【0042】次に、本実施の形態の図1および図2に示
すフリップチップボンダ(半導体製造装置)を用いてチ
ップマウント(チップボンディング)が行われた図4に
示すCSP6の構造について説明する。
すフリップチップボンダ(半導体製造装置)を用いてチ
ップマウント(チップボンディング)が行われた図4に
示すCSP6の構造について説明する。
【0043】このCSP6は、その外観サイズが半導体
チップ1より若干大きい程度の小形のものであり、半導
体チップ1の主面1a(半導体集積回路が形成されてい
る面)の外周部にその表面電極である複数のパッド1b
が配置されている場合を説明する。
チップ1より若干大きい程度の小形のものであり、半導
体チップ1の主面1a(半導体集積回路が形成されてい
る面)の外周部にその表面電極である複数のパッド1b
が配置されている場合を説明する。
【0044】ただし、パッド1bが設置される箇所につ
いては、特に限定されるものではなく、半導体チップ1
の主面1aの外周部であっても、または、内方(例え
ば、センターパッド配列)であっても、あるいは、その
両者などであってもよい。
いては、特に限定されるものではなく、半導体チップ1
の主面1aの外周部であっても、または、内方(例え
ば、センターパッド配列)であっても、あるいは、その
両者などであってもよい。
【0045】前記CSP6の構成は、半導体チップ1の
パッド1bと接続されるリード4cを有し、かつこのリ
ード4cと接続されるとともに、外部端子であるバンプ
電極2とも接続される配線4aが設けられた薄膜のテー
プ状の配線基板4と、半導体チップ1と配線基板4との
間に配置された弾性部材であるエラストマ3と、配線基
板4の開口部4bにおいて封止樹脂などによりパッド1
bとリード4cとを封止して形成された封止部5とから
なる。
パッド1bと接続されるリード4cを有し、かつこのリ
ード4cと接続されるとともに、外部端子であるバンプ
電極2とも接続される配線4aが設けられた薄膜のテー
プ状の配線基板4と、半導体チップ1と配線基板4との
間に配置された弾性部材であるエラストマ3と、配線基
板4の開口部4bにおいて封止樹脂などによりパッド1
bとリード4cとを封止して形成された封止部5とから
なる。
【0046】ここで、薄膜のテープ状の配線基板4は、
例えば、ポリイミド系のフィルム基材などによって形成
されたものである。
例えば、ポリイミド系のフィルム基材などによって形成
されたものである。
【0047】また、封止部5に用いられる前記封止樹脂
は、例えば、エポキシ系の熱硬化性樹脂などであり、モ
ールドあるいはポッティングなどによって樹脂封止が行
われる。
は、例えば、エポキシ系の熱硬化性樹脂などであり、モ
ールドあるいはポッティングなどによって樹脂封止が行
われる。
【0048】次に、本実施の形態による半導体装置(C
SP6)の製造方法をチップマウント(チップボンディ
ング)方法を含めて図5に示す製造プロセスフロー図に
したがって説明する。
SP6)の製造方法をチップマウント(チップボンディ
ング)方法を含めて図5に示す製造プロセスフロー図に
したがって説明する。
【0049】まず、ステップS1に示すように、ポリイ
ミドなどからなる薄膜のテープ状の配線基板4を準備
し、これに弾性部材であるエラストマ3を張り付けるエ
ラストマ付けを行う(ステップS2)。
ミドなどからなる薄膜のテープ状の配線基板4を準備
し、これに弾性部材であるエラストマ3を張り付けるエ
ラストマ付けを行う(ステップS2)。
【0050】一方、図1に示すフリップチップボンダの
ウェハセット部11のウェハ支持台11aに、ウェハリ
フタ8によってダイシング済みの半導体ウェハ7をセッ
トする。
ウェハセット部11のウェハ支持台11aに、ウェハリ
フタ8によってダイシング済みの半導体ウェハ7をセッ
トする。
【0051】続いて、図1に示す本実施の形態のフリッ
プチップボンダを用いて、ステップS3に示すチップマ
ウント(チップボンディング)を行う。
プチップボンダを用いて、ステップS3に示すチップマ
ウント(チップボンディング)を行う。
【0052】まず、フリップチップボンダにおいて、図
6に示すように、図2に示すマウントヘッド12aの先
端に設けられたマウントツール12cの加圧面12d
と、マウントステージ12bの載置面12eとを対向し
て配置する。
6に示すように、図2に示すマウントヘッド12aの先
端に設けられたマウントツール12cの加圧面12d
と、マウントステージ12bの載置面12eとを対向し
て配置する。
【0053】この時、ピストン部12nを含む固定部材
12hと、これに支持されたツールブロック12fは、
共にフリーな状態である。
12hと、これに支持されたツールブロック12fは、
共にフリーな状態である。
【0054】この状態で、マウントヘッド12aを下降
させて(またはマウントステージ12bを上昇させても
よい)、図7に示すように、マウントツール12cの加
圧面12dとマウントステージ12bの載置面12eと
を接触させる。
させて(またはマウントステージ12bを上昇させても
よい)、図7に示すように、マウントツール12cの加
圧面12dとマウントステージ12bの載置面12eと
を接触させる。
【0055】すなわち、マウントヘッド12aを下降さ
せてマウントツール12cの加圧面12dをマウントス
テージ12bの載置面12eに押し当てる。
せてマウントツール12cの加圧面12dをマウントス
テージ12bの載置面12eに押し当てる。
【0056】その際、マウントツール12cが取り付け
られているツールブロック12fは自在運動可能に支持
されているため、フリーに動き、これによって、マウン
トツール12cの加圧面12dがマウントステージ12
bの載置面12eに倣う。
られているツールブロック12fは自在運動可能に支持
されているため、フリーに動き、これによって、マウン
トツール12cの加圧面12dがマウントステージ12
bの載置面12eに倣う。
【0057】つまり、マウントツール12cをマウント
ステージ12bに押し当てたことにより、マウントツー
ル12cがマウントステージ12bに倣うと同時に、ツ
ールブロック12fもマウントステージ12bに倣うよ
うに動く。
ステージ12bに押し当てたことにより、マウントツー
ル12cがマウントステージ12bに倣うと同時に、ツ
ールブロック12fもマウントステージ12bに倣うよ
うに動く。
【0058】さらに、この状態で、図8に示すように、
空洞部12pに所望のエアー12rを供給して固定部材
12hのピストン部12nを上昇させ(持ち上げ)、こ
れにより、固定部材12hとガイドブロック12gとに
よってツールブロック12fを挟んで固定する。
空洞部12pに所望のエアー12rを供給して固定部材
12hのピストン部12nを上昇させ(持ち上げ)、こ
れにより、固定部材12hとガイドブロック12gとに
よってツールブロック12fを挟んで固定する。
【0059】なお、ツールブロック12fには、その外
周のガイドブロック12gの球面部12kとの接触箇所
に外側球面部12jが形成され、かつ内側の固定部材1
2hの固定用球面部12tとの接触箇所に内側球面部1
2iが形成されている。
周のガイドブロック12gの球面部12kとの接触箇所
に外側球面部12jが形成され、かつ内側の固定部材1
2hの固定用球面部12tとの接触箇所に内側球面部1
2iが形成されている。
【0060】したがって、ツールブロック12fのフリ
ー状態でマウントツール12cの加圧面12dをマウン
トステージ12bの載置面12eに押し当てて両面の平
行出しを行った後、ツールブロック12fの外側球面部
12jとガイドブロック12gの球面部12k、および
ツールブロック12fの内側球面部12iと固定部材1
2hの固定用球面部12tがそれぞれ球面接触をし、そ
の結果、マウントツール12cの加圧面12dとマウン
トステージ12bの載置面12eとを押し当てて両者が
平行となった際のそのままの角度(状態)でツールブロ
ック12fの固定が行われる。
ー状態でマウントツール12cの加圧面12dをマウン
トステージ12bの載置面12eに押し当てて両面の平
行出しを行った後、ツールブロック12fの外側球面部
12jとガイドブロック12gの球面部12k、および
ツールブロック12fの内側球面部12iと固定部材1
2hの固定用球面部12tがそれぞれ球面接触をし、そ
の結果、マウントツール12cの加圧面12dとマウン
トステージ12bの載置面12eとを押し当てて両者が
平行となった際のそのままの角度(状態)でツールブロ
ック12fの固定が行われる。
【0061】これによって、加圧面12dと載置面12
eとが平行となった状態でツールブロック12fの固定
が行われ、したがって、マウントツール12cの加圧面
12dとマウントステージ12bの載置面12eの平行
出しすなわち平行度調整を行うことができる。
eとが平行となった状態でツールブロック12fの固定
が行われ、したがって、マウントツール12cの加圧面
12dとマウントステージ12bの載置面12eの平行
出しすなわち平行度調整を行うことができる。
【0062】前記平行度調整後、図2に示すように、ウ
ェハセット部11においてチップマウントが行われる半
導体チップ1をフリップヘッド11bのピックアップコ
レット11cによって半導体ウェハ7からピックアップ
し、さらに、フリップヘッド11bによって半導体チッ
プ1の表裏を反転させてマウント処理部12に移動させ
る。
ェハセット部11においてチップマウントが行われる半
導体チップ1をフリップヘッド11bのピックアップコ
レット11cによって半導体ウェハ7からピックアップ
し、さらに、フリップヘッド11bによって半導体チッ
プ1の表裏を反転させてマウント処理部12に移動させ
る。
【0063】その後、この半導体チップ1の裏面1cを
マウントヘッド12aの先端に設けられたコレット12
sによって吸着保持し、マウントステージ12bの上方
で待機する。すなわち、マウントツール12cの加圧面
12d(図3(a)参照)によって半導体チップ1を支
持する。
マウントヘッド12aの先端に設けられたコレット12
sによって吸着保持し、マウントステージ12bの上方
で待機する。すなわち、マウントツール12cの加圧面
12d(図3(a)参照)によって半導体チップ1を支
持する。
【0064】一方、ローダ17から搬送部9にテープ状
の配線基板(チップ支持部材)4を送り出し、搬送部9
からマウント処理部12のマウントステージ12b上に
エラストマ3が張り付けられた配線基板4を配置させ
る。すなわち、マウントステージ12bの載置面12e
に配線基板4を配置する。
の配線基板(チップ支持部材)4を送り出し、搬送部9
からマウント処理部12のマウントステージ12b上に
エラストマ3が張り付けられた配線基板4を配置させ
る。すなわち、マウントステージ12bの載置面12e
に配線基板4を配置する。
【0065】これにより、平行度調整が行われたマウン
トツール12cの加圧面12dに支持された半導体チッ
プ1と、マウントステージ12bの載置面12eに支持
された配線基板4とが対向して配置される。
トツール12cの加圧面12dに支持された半導体チッ
プ1と、マウントステージ12bの載置面12eに支持
された配線基板4とが対向して配置される。
【0066】その後、マウントツール12cとマウント
ステージ12bとによって半導体チップ1および配線基
板4に荷重および熱を付与して両者を熱圧着により接合
してチップマウントする(チップボンディングする)。
ステージ12bとによって半導体チップ1および配線基
板4に荷重および熱を付与して両者を熱圧着により接合
してチップマウントする(チップボンディングする)。
【0067】なお、前記熱圧着の際には、超音波を印加
してもよい。
してもよい。
【0068】チップマウント後、配線基板4をアンロー
ダ18に送り、そこに収容する。
ダ18に送り、そこに収容する。
【0069】その後、図5のステップS4に示すリード
ボンディングを行う。
ボンディングを行う。
【0070】ここでは、図4に示す半導体チップ1のパ
ッド1bと配線基板4のリード4cとをインナリードボ
ンダなどを用いて接続する。
ッド1bと配線基板4のリード4cとをインナリードボ
ンダなどを用いて接続する。
【0071】その後、ステップS5に示す封止を行う。
【0072】封止工程では、封止樹脂を用いてポッティ
ングなどによって(モールドでもよい)半導体チップ1
のパッド1bおよびリード4cの樹脂封止を行い、これ
により、封止部5を形成する。
ングなどによって(モールドでもよい)半導体チップ1
のパッド1bおよびリード4cの樹脂封止を行い、これ
により、封止部5を形成する。
【0073】続いて、ステップS6に示すボール付けを
行う。
行う。
【0074】ここでは、配線基板4の配線4aとつなが
る所定位置のランドにそれぞれ1つずつ外部端子である
半田ボールを搭載して所定数のバンプ電極2を形成す
る。
る所定位置のランドにそれぞれ1つずつ外部端子である
半田ボールを搭載して所定数のバンプ電極2を形成す
る。
【0075】その後、ステップS7に示す選別・マーク
を行って図4に示すCSP6の組み立てを終了する。
を行って図4に示すCSP6の組み立てを終了する。
【0076】本実施の形態の半導体装置(CSP6)の
製造方法および半導体製造装置(フリップチップボン
ダ)によれば、以下のような作用効果が得られる。
製造方法および半導体製造装置(フリップチップボン
ダ)によれば、以下のような作用効果が得られる。
【0077】すなわち、マウントヘッド12aを下降さ
せてマウントツール12cの加圧面12dとマウントス
テージ12bの載置面12eとを接触させた際に、マウ
ントツール12cを支持するツールブロック12fが自
在運動可能であるため、マウントツール12cの加圧面
12dをマウントステージ12bの載置面12eに倣わ
せることができる。
せてマウントツール12cの加圧面12dとマウントス
テージ12bの載置面12eとを接触させた際に、マウ
ントツール12cを支持するツールブロック12fが自
在運動可能であるため、マウントツール12cの加圧面
12dをマウントステージ12bの載置面12eに倣わ
せることができる。
【0078】したがって、マウントツール12cの加圧
面12dとマウントステージ12bの載置面12eの両
者の平行出しを容易に、かつ安定して行うことができる
とともに、ツールブロック12fを下降させてマウント
ツール12cをマウントステージ12bに押し当てるだ
けであるため、その平行度調整を自動化することができ
る。
面12dとマウントステージ12bの載置面12eの両
者の平行出しを容易に、かつ安定して行うことができる
とともに、ツールブロック12fを下降させてマウント
ツール12cをマウントステージ12bに押し当てるだ
けであるため、その平行度調整を自動化することができ
る。
【0079】その結果、品種切り換え時のマウントツー
ル12cとマウントステージ12bの平行度調整を容易
に行うことができ、前記平行度調整に費やす時間を短縮
することができる。
ル12cとマウントステージ12bの平行度調整を容易
に行うことができ、前記平行度調整に費やす時間を短縮
することができる。
【0080】したがって、マウントツール12cとマウ
ントステージ12bとを備えたフリップチップボンダ
(半導体製造装置)におけるツール調整時間の短縮によ
り、その作業性を向上させることができる。
ントステージ12bとを備えたフリップチップボンダ
(半導体製造装置)におけるツール調整時間の短縮によ
り、その作業性を向上させることができる。
【0081】さらに、前記平行度調整を自動調整方式に
できるため、作業者による調整のばらつきの発生がなく
なり、したがって、前記平行度調整のばらつきを低減で
きる。
できるため、作業者による調整のばらつきの発生がなく
なり、したがって、前記平行度調整のばらつきを低減で
きる。
【0082】また、前記平行度調整が、マウントヘッド
12aの先端のマウントツール12cを下降させてマウ
ントステージ12bに押し当てて固定するだけであるた
め、前記平行度調整の自動化とともに、マウントツール
12cが取り付けられたマウントヘッド12aの自動交
換も実現可能となり、したがって、前記平行度調整を含
む自動ツール交換が可能になる。
12aの先端のマウントツール12cを下降させてマウ
ントステージ12bに押し当てて固定するだけであるた
め、前記平行度調整の自動化とともに、マウントツール
12cが取り付けられたマウントヘッド12aの自動交
換も実現可能となり、したがって、前記平行度調整を含
む自動ツール交換が可能になる。
【0083】以上、本発明者によってなされた発明を発
明の実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は
前記発明の実施の形態に限定されるものではなく、その
要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることは言う
までもない。
明の実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は
前記発明の実施の形態に限定されるものではなく、その
要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることは言う
までもない。
【0084】例えば、図9(a),(b)に示す変形例の
マウントツール、ツールブロックおよびガイドブロック
のように、ツールブロック12fとガイドブロック12
gとの間で水平方向(マウントツール12cの加圧面1
2dに平行な方向)の回転防止手段が設けられていても
よい。
マウントツール、ツールブロックおよびガイドブロック
のように、ツールブロック12fとガイドブロック12
gとの間で水平方向(マウントツール12cの加圧面1
2dに平行な方向)の回転防止手段が設けられていても
よい。
【0085】すなわち、ツールブロック12fの両側の
側部に回転防止凸部12vが設けられ、この回転防止凸
部12vが嵌合する回転防止ガイド12uが、同じくガ
イドブロック12gの両側の側部に設けられており、回
転防止凸部12vと回転防止ガイド12uとが嵌合する
ことにより、マウントツール12cにおける加圧面12
dに平行な方向に対してのθ回転を防止できる。
側部に回転防止凸部12vが設けられ、この回転防止凸
部12vが嵌合する回転防止ガイド12uが、同じくガ
イドブロック12gの両側の側部に設けられており、回
転防止凸部12vと回転防止ガイド12uとが嵌合する
ことにより、マウントツール12cにおける加圧面12
dに平行な方向に対してのθ回転を防止できる。
【0086】これにより、チップマウント時のマウント
精度を向上できる。
精度を向上できる。
【0087】また、図10(a),(b)に示す変形例の
マウントツール、ツールブロックおよびガイドブロック
のように、ツールブロック12f(図3参照)が、X軸
ツールブロック14とY軸ツールブロック15とからな
り、ガイドブロック12gにY軸用溝部15aが形成さ
れ、このY軸用溝部15aに嵌合するY軸用凸部15b
がY軸ツールブロック15に設けられている。
マウントツール、ツールブロックおよびガイドブロック
のように、ツールブロック12f(図3参照)が、X軸
ツールブロック14とY軸ツールブロック15とからな
り、ガイドブロック12gにY軸用溝部15aが形成さ
れ、このY軸用溝部15aに嵌合するY軸用凸部15b
がY軸ツールブロック15に設けられている。
【0088】一方、Y軸ツールブロック15にX軸用溝
部14aが形成され、このX軸用溝部14aに嵌合する
X軸用凸部14bがX軸ツールブロック14に設けられ
ており、これにより、図9の変形例と同様に、マウント
ツール12cにおける加圧面12dに平行な方向に対し
てのθ回転を防止できる。
部14aが形成され、このX軸用溝部14aに嵌合する
X軸用凸部14bがX軸ツールブロック14に設けられ
ており、これにより、図9の変形例と同様に、マウント
ツール12cにおける加圧面12dに平行な方向に対し
てのθ回転を防止できる。
【0089】なお、X軸ツールブロック14およびY軸
ツールブロック15は、球状に限らず円弧状のものであ
ってもよい。
ツールブロック15は、球状に限らず円弧状のものであ
ってもよい。
【0090】また、図11に示す変形例のマウントツー
ル、ツールブロックおよびガイドブロックのように、固
定部材12hのガイドブロック12gの空洞部12pに
おける往復運動の駆動源をコイルモータ16などを用い
た電動式としてもよい。
ル、ツールブロックおよびガイドブロックのように、固
定部材12hのガイドブロック12gの空洞部12pに
おける往復運動の駆動源をコイルモータ16などを用い
た電動式としてもよい。
【0091】すなわち、空洞部12pを真空状態とし
て、ガイドブロック12gの空洞部12pを形成する内
周壁に電磁石16a(ソレノイドでもよい)を埋め込む
ことにより、固定部材12hの往復運動の駆動を電動式
にすることができる。
て、ガイドブロック12gの空洞部12pを形成する内
周壁に電磁石16a(ソレノイドでもよい)を埋め込む
ことにより、固定部材12hの往復運動の駆動を電動式
にすることができる。
【0092】これにより、省スペース化および省エネル
ギ化を図ることができる。
ギ化を図ることができる。
【0093】また、前記実施の形態では、半導体装置が
CSP6の場合について説明したが、前記半導体装置
は、半導体チップ1とチップ支持部材とが前記実施の形
態のチップマウント方法によって接合されて組み立てら
れたものであれば、CSP6以外のフリップチップ製品
(例えば、マルチチップモジュール)などであってもよ
く、その際、チップ支持部材は、テープ状の薄膜の配線
基板4に限らず、比較的硬質なプリント配線基板やセラ
ミック基板などであってもよい。
CSP6の場合について説明したが、前記半導体装置
は、半導体チップ1とチップ支持部材とが前記実施の形
態のチップマウント方法によって接合されて組み立てら
れたものであれば、CSP6以外のフリップチップ製品
(例えば、マルチチップモジュール)などであってもよ
く、その際、チップ支持部材は、テープ状の薄膜の配線
基板4に限らず、比較的硬質なプリント配線基板やセラ
ミック基板などであってもよい。
【0094】さらに、前記実施の形態では、半導体製造
装置がフリップチップボンダの場合について説明した
が、前記半導体製造装置は、前記実施の形態のチップマ
ウント方法によって半導体チップ1とチップ支持部材と
を接続するものであれば、ダイボンダやチップマウンタ
あるいはハンドリング装置やマテリアルハンドリング装
置などの他の組み立て装置であってもよい。
装置がフリップチップボンダの場合について説明した
が、前記半導体製造装置は、前記実施の形態のチップマ
ウント方法によって半導体チップ1とチップ支持部材と
を接続するものであれば、ダイボンダやチップマウンタ
あるいはハンドリング装置やマテリアルハンドリング装
置などの他の組み立て装置であってもよい。
【0095】
【発明の効果】本願によって開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
【0096】(1).マウントツールの加圧面とマウン
トステージの載置面とを接触させた際に、マウントツー
ルを支持するツールブロックが自在運動可能であるた
め、マウントツールの加圧面をマウントステージの載置
面に倣わせることができる。したがって、両者の平行出
しを容易に、かつ安定して行うことができるとともに、
その平行度調整を自動化することができる。
トステージの載置面とを接触させた際に、マウントツー
ルを支持するツールブロックが自在運動可能であるた
め、マウントツールの加圧面をマウントステージの載置
面に倣わせることができる。したがって、両者の平行出
しを容易に、かつ安定して行うことができるとともに、
その平行度調整を自動化することができる。
【0097】(2).前記(1)により、品種切り換え
時のマウントツールとマウントステージの平行度調整を
容易に行うことができ、平行度調整に費やす時間を短縮
することができる。したがって、半導体製造装置におけ
るツール調整時間の短縮により、その作業性を向上させ
ることができる。
時のマウントツールとマウントステージの平行度調整を
容易に行うことができ、平行度調整に費やす時間を短縮
することができる。したがって、半導体製造装置におけ
るツール調整時間の短縮により、その作業性を向上させ
ることができる。
【0098】(3).前記(1)により、平行度調整を
自動調整方式にできるため、作業者による調整のばらつ
きの発生がなくなり、前記平行度調整のばらつきを低減
できる。
自動調整方式にできるため、作業者による調整のばらつ
きの発生がなくなり、前記平行度調整のばらつきを低減
できる。
【0099】(4).前記平行度調整が、マウントツー
ルを下降させてマウントステージに押し当てて固定する
だけであるため、前記平行度調整の自動化とともに、マ
ウントツールが取り付けられたヘッドの自動交換も実現
可能となり、前記平行度調整を含む自動ツール交換が可
能になる。
ルを下降させてマウントステージに押し当てて固定する
だけであるため、前記平行度調整の自動化とともに、マ
ウントツールが取り付けられたヘッドの自動交換も実現
可能となり、前記平行度調整を含む自動ツール交換が可
能になる。
【図1】本発明の実施の形態の半導体製造装置の一例で
あるフリップチップボンダの構造を示す構成概略図であ
る。
あるフリップチップボンダの構造を示す構成概略図であ
る。
【図2】図1に示すフリップチップボンダにおけるチッ
プマウント動作の一例を示す動作概略図である。
プマウント動作の一例を示す動作概略図である。
【図3】(a),(b)は図1に示すフリップチップボン
ダにおけるマウント処理部の構造の一例を示す図であ
り、(a)はマウントツールとマウントステージの断面
図、(b)は(a)のA矢視図である。
ダにおけるマウント処理部の構造の一例を示す図であ
り、(a)はマウントツールとマウントステージの断面
図、(b)は(a)のA矢視図である。
【図4】図1に示すフリップチップボンダを用いて製造
された半導体装置の一例であるCSPの構造を示す断面
図である。
された半導体装置の一例であるCSPの構造を示す断面
図である。
【図5】本発明の実施の形態の半導体装置であるCSP
の製造方法の組み立て手順の一例を示す製造プロセスフ
ロー図である。
の製造方法の組み立て手順の一例を示す製造プロセスフ
ロー図である。
【図6】図1に示すフリップチップボンダにおけるマウ
ントツールとマウントステージの平行度の調整方法の原
理の一例を示す断面図である。
ントツールとマウントステージの平行度の調整方法の原
理の一例を示す断面図である。
【図7】図1に示すフリップチップボンダにおけるマウ
ントツールとマウントステージの平行度の調整方法の原
理の一例を示す断面図である。
ントツールとマウントステージの平行度の調整方法の原
理の一例を示す断面図である。
【図8】図1に示すフリップチップボンダにおけるマウ
ントツールとマウントステージの平行度の調整方法の原
理の一例を示す断面図である。
ントツールとマウントステージの平行度の調整方法の原
理の一例を示す断面図である。
【図9】(a),(b)は本発明の実施の形態のフリップ
チップボンダにおけるマウントツール、ツールブロック
およびガイドブロックの変形例の構造を示す図であり、
(a)は側面図、(b)は(a)のB矢視図である。
チップボンダにおけるマウントツール、ツールブロック
およびガイドブロックの変形例の構造を示す図であり、
(a)は側面図、(b)は(a)のB矢視図である。
【図10】(a),(b)は本発明の実施の形態のフリッ
プチップボンダにおけるマウントツール、ツールブロッ
クおよびガイドブロックの変形例の構造を示す図であ
り、(a)は側面図、(b)は(a)のC矢視図であ
る。
プチップボンダにおけるマウントツール、ツールブロッ
クおよびガイドブロックの変形例の構造を示す図であ
り、(a)は側面図、(b)は(a)のC矢視図であ
る。
【図11】本発明の実施の形態のフリップチップボンダ
におけるマウントツール、ツールブロックおよびガイド
ブロックの変形例の構造を示す断面図である。
におけるマウントツール、ツールブロックおよびガイド
ブロックの変形例の構造を示す断面図である。
1 半導体チップ 1a 主面 1b パッド 1c 裏面 2 バンプ電極 3 エラストマ 4 配線基板(チップ支持部材) 4a 配線 4b 開口部 4c リード 5 封止部 6 CSP(半導体装置) 7 半導体ウェハ 8 ウェハリフタ 9 搬送部 10 XYテーブル 11 ウェハセット部 11a ウェハ支持台 11b フリップヘッド 11c ピックアップコレット 12 マウント処理部 12a マウントヘッド 12b マウントステージ(ステージ) 12c マウントツール 12d 加圧面 12e 載置面 12f ツールブロック 12g ガイドブロック 12h 固定部材 12i 内側球面部 12j 外側球面部 12k 球面部 12l ベースブロック 12m ネジ 12n ピストン部 12p 空洞部 12q エアー供給部 12r エアー 12s コレット 12t 固定用球面部 12u 回転防止ガイド 12v 回転防止凸部 13 制御部 14 X軸ツールブロック 14a X軸用溝部 14b X軸用凸部 15 Y軸ツールブロック 15a Y軸用溝部 15b Y軸用凸部 16 コイルモータ 16a 電磁石 17 ローダ 18 アンローダ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 黒田 明 東京都青梅市藤橋3丁目3番地2 日立東 京エレクトロニクス株式会社内 (72)発明者 須田 富司 東京都青梅市藤橋3丁目3番地2 日立東 京エレクトロニクス株式会社内 (72)発明者 小野 樹生 東京都青梅市藤橋3丁目3番地2 日立東 京エレクトロニクス株式会社内 Fターム(参考) 5F044 PP16 5F047 FA07 FA12
Claims (5)
- 【請求項1】 マウントツールが設けられたツールブロ
ックの前記マウントツールの加圧面と、ステージの載置
面とを対向して配置する工程と、 前記マウントツールの前記加圧面と前記ステージの前記
載置面とを接触させて前記ツールブロックを自在運動さ
せて両者の平行度を調整する工程と、 前記ツールブロックを固定部材によってガイドブロック
に固定する工程と、 前記ツールブロックの前記マウントツールの前記加圧面
によって半導体チップを支持する工程と、 前記ステージの前記載置面にチップ支持部材を配置する
工程と、 前記マウントツールと前記ステージとによって前記半導
体チップと前記チップ支持部材とを加圧して両者を接合
する工程とを有することを特徴とする半導体装置の製造
方法。 - 【請求項2】 マウントツールが設けられたツールブロ
ックの前記マウントツールの加圧面と、ステージの載置
面とを対向して配置する工程と、 前記マウントツールの前記加圧面が前記ステージの前記
載置面に倣うように前記ツールブロックを自在運動させ
て両者を接触させて前記マウントツールの前記加圧面と
前記ステージの前記載置面との平行度を調整する工程
と、 前記ツールブロックを固定部材の固定用球面部によって
前記ガイドブロックに押し当てて固定する工程と、 前記ツールブロックの前記マウントツールの前記加圧面
によって半導体チップを支持する工程と、 前記ステージの前記載置面にチップ支持部材を配置する
工程と、 前記マウントツールと前記ステージとによって前記半導
体チップと前記チップ支持部材とを加圧して両者を接合
する工程とを有することを特徴とする半導体装置の製造
方法。 - 【請求項3】 半導体チップを支持可能な加圧面が設け
られたマウントツールを備え、自在運動可能なツールブ
ロックと、 前記ツールブロックと接触する球面部を備えたガイドブ
ロックと、 前記ツールブロックを前記ガイドブロックに押し当てて
固定する固定部材と、 前記半導体チップと接合可能なチップ支持部材を支持す
る載置面を備え、前記チップ支持部材を前記載置面に前
記半導体チップと対向して配置可能なように設けられた
移動自在なステージと、 前記マウントツールと前記ステージとにより前記半導体
チップと前記チップ支持部材とを加圧して両者の接合が
行われるマウント処理部とを有し、 前記固定部材によって前記ツールブロックを前記ガイド
ブロックに固定する際に、前記マウントツールの前記加
圧面と前記ステージの前記載置面とを接触させて前記ツ
ールブロックを自在運動させて両者の平行度を調整して
固定することを特徴とする半導体製造装置。 - 【請求項4】 内側球面部および外側球面部が形成さ
れ、半導体チップを支持可能な加圧面が設けられたマウ
ントツールを備え、自在運動可能なツールブロックと、 前記ツールブロックの前記外側球面部と接触する球面部
を備えたガイドブロックと、 前記ツールブロックの前記内側球面部と接触する固定用
球面部を備え、前記固定用球面部によって前記ツールブ
ロックを前記ガイドブロックに押し当てて固定する固定
部材と、 前記半導体チップと接合可能なチップ支持部材を支持す
る載置面を備え、前記チップ支持部材を前記載置面に前
記半導体チップと対向して配置可能なように設けられた
移動自在なステージと、 前記マウントツールと前記ステージとにより前記半導体
チップと前記チップ支持部材とを加圧して両者の接合が
行われるマウント処理部とを有し、 前記固定部材によって前記ツールブロックを前記ガイド
ブロックに固定する際に、前記マウントツールの前記加
圧面が前記ステージの前記載置面に倣うように前記ツー
ルブロックを自在運動させて両者を接触させて両者の平
行度を調整して固定することを特徴とする半導体製造装
置。 - 【請求項5】 半導体チップを支持可能な加圧面が設け
られたマウントツールを備え、自在運動可能なツールブ
ロックと、 前記ツールブロックと接触する球面部を備えたガイドブ
ロックと、 前記ガイドブロックに往復運動自在に支持され、エアー
圧によって前記ツールブロックを前記ガイドブロックに
押し当てて固定する固定部材と、 前記半導体チップと接合可能なチップ支持部材を支持す
る載置面を備え、前記チップ支持部材を前記載置面に前
記半導体チップと対向して配置可能なように設けられた
移動自在なステージと、 前記マウントツールと前記ステージとにより前記半導体
チップと前記チップ支持部材とを加圧して両者の接合が
行われるマウント処理部とを有し、 前記固定部材によって前記ツールブロックを前記ガイド
ブロックに固定する際に、前記マウントツールの前記加
圧面が前記ステージの前記載置面に倣うように前記ツー
ルブロックを自在運動させて両者の平行度を調整して固
定することを特徴とする半導体製造装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000307410A JP2002118151A (ja) | 2000-10-06 | 2000-10-06 | 半導体装置の製造方法および半導体製造装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000307410A JP2002118151A (ja) | 2000-10-06 | 2000-10-06 | 半導体装置の製造方法および半導体製造装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002118151A true JP2002118151A (ja) | 2002-04-19 |
Family
ID=18787932
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000307410A Pending JP2002118151A (ja) | 2000-10-06 | 2000-10-06 | 半導体装置の製造方法および半導体製造装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002118151A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011151173A (ja) * | 2010-01-21 | 2011-08-04 | Fujitsu Ltd | 部品のマウンタ装置及び部品のマウント方法 |
-
2000
- 2000-10-06 JP JP2000307410A patent/JP2002118151A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011151173A (ja) * | 2010-01-21 | 2011-08-04 | Fujitsu Ltd | 部品のマウンタ装置及び部品のマウント方法 |
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