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JP2002118151A - Method of manufacturing semiconductor device and semiconductor manufacturing apparatus - Google Patents

Method of manufacturing semiconductor device and semiconductor manufacturing apparatus

Info

Publication number
JP2002118151A
JP2002118151A JP2000307410A JP2000307410A JP2002118151A JP 2002118151 A JP2002118151 A JP 2002118151A JP 2000307410 A JP2000307410 A JP 2000307410A JP 2000307410 A JP2000307410 A JP 2000307410A JP 2002118151 A JP2002118151 A JP 2002118151A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tool
block
mount
chip
mounting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000307410A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazunori Higuchi
和範 樋口
Akira Kuroda
明 黒田
Tomiji Suda
富司 須田
Shigeo Ono
樹生 小野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Renesas Eastern Japan Semiconductor Inc
Original Assignee
Hitachi Tokyo Electronics Co Ltd
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Tokyo Electronics Co Ltd, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Tokyo Electronics Co Ltd
Priority to JP2000307410A priority Critical patent/JP2002118151A/en
Publication of JP2002118151A publication Critical patent/JP2002118151A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ツール調整時間を短縮して作業性の向上を図
るとともに、調整のばらつきを低減する。 【解決手段】 加圧面12dが設けられたマウントツー
ル12cを備えたツールブロック12fと、ツールブロ
ック12fの外側球面部12jと接触する球面部12k
を備えたガイドブロック12gと、ツールブロック12
fをガイドブロック12gに押し当てて固定する固定部
材12hと、配線基板を支持する載置面12eを備えた
マウントステージ12bとが設けられ、フリー状態のツ
ールブロック12fを自在運動させてマウントツール1
2cの加圧面12dがマウントステージ12bの載置面
12eに倣うように両者を接触させて平行度を調整し、
調整後、ツールブロック12fをガイドブロック12g
に押し当てて固定部材12hによって固定してチップマ
ウントを行う。
(57) [Summary] [PROBLEMS] To improve the workability by shortening the tool adjustment time and reduce the variation in adjustment. SOLUTION: A tool block 12f provided with a mount tool 12c provided with a pressing surface 12d, and a spherical portion 12k in contact with an outer spherical portion 12j of the tool block 12f.
Guide block 12g provided with a tool block 12
The fixing tool 12h is provided with a fixing member 12h for pressing the fixing tool f against the guide block 12g, and a mount stage 12b having a mounting surface 12e for supporting the wiring board.
2c is contacted so that the pressing surface 12d of 2c follows the mounting surface 12e of the mount stage 12b to adjust the parallelism.
After the adjustment, the tool block 12f is connected to the guide block 12g.
, And fixed by the fixing member 12h to perform chip mounting.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体製造技術に
関し、特に、フリップチップボンダなどの半導体製造装
置の作業性向上に適用して有効な技術に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor manufacturing technology, and more particularly to a technology effective when applied to improvement of workability of a semiconductor manufacturing device such as a flip chip bonder.

【0002】[0002]

【従来の技術】以下に説明する技術は、本発明を研究、
完成するに際し、本発明者によって検討されたものであ
り、その概要は次のとおりである。
2. Description of the Related Art The technology described below studies the present invention,
Upon completion, they were examined by the inventor, and the outline is as follows.

【0003】半導体チップをフリップチップ実装で配線
基板(チップ支持部材)に接合する半導体製造装置とし
て、フリップチップボンダが知られている。
A flip chip bonder is known as a semiconductor manufacturing apparatus for bonding a semiconductor chip to a wiring board (chip supporting member) by flip chip mounting.

【0004】フリップチップボンダでは、マウントステ
ージとマウントツールとが対向して配置され、チップマ
ウント(チップボンディング)の際には、マウントステ
ージに配線基板を配置し、一方、マウントツールによっ
て半導体チップを支持し、マウントステージとマウント
ツールとによって半導体チップと配線基板を加圧してチ
ップマウントを行う。
In a flip chip bonder, a mount stage and a mount tool are arranged to face each other. In chip mounting (chip bonding), a wiring board is arranged on the mount stage, and a semiconductor chip is supported by the mount tool. Then, the semiconductor chip and the wiring board are pressurized by the mount stage and the mount tool to perform the chip mount.

【0005】ここで、前記フリップチップボンダのマウ
ントツールは、XまたはY方向にそれぞれ円弧状に移動
可能な別々のステージを組み合わせて構成されたXYス
テージに搭載されている。
[0005] Here, the mounting tool of the flip chip bonder is mounted on an XY stage configured by combining different stages that can move in an arc shape in the X or Y direction.

【0006】したがって、チップマウントの際には、そ
れぞれのステージを別々に調整してマウントツールとマ
ウントステージの平行出しを行っている。
Therefore, when mounting the chip, the stages are separately adjusted so that the mount tool and the mount stage are set in parallel.

【0007】なお、種々のフリップチップボンダについ
ては、例えば、株式会社プレスジャーナル1998年7
月27日発行、「月刊Semiconductor World 増刊号 '99
半導体組立・検査技術」、119〜123頁に記載され
ている。
[0007] For various flip chip bonders, see, for example, Press Journal Inc., July 7, 1998.
Published on March 27, "Monthly Semiconductor World Extra Number '99
Semiconductor Assembly / Inspection Technology ", pp. 119-123.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】ところが、前記した技
術のフリップチップボンダでは、製品の品種交換時など
に、マウントステージやマウントツールも交換の必要が
あり、品種交換ごとに、毎回作業者が手動で前記XYス
テージの調整を行うことになり、したがって、マウント
ツールとマウントステージの平行出しの調整に時間がか
かることが問題となる。
However, in the flip chip bonder of the above-mentioned technology, it is necessary to change a mount stage and a mount tool when a product type is changed. Thus, the adjustment of the XY stage is performed, so that it takes a long time to adjust the parallel alignment between the mount tool and the mount stage.

【0009】また、マウントツールとマウントステージ
の交換後の平行出しを作業者が行うため、その調整にば
らつきが生じることが問題となる。
In addition, since the operator performs the parallel alignment after the replacement of the mount tool and the mount stage, there is a problem that the adjustment is uneven.

【0010】さらに、前記調整では、実際に感圧紙を用
いてマウントツールとマウントステージとによってこの
感圧紙を加圧し、感圧紙の被加圧部の色が均一になる
(許容範囲になる)まで、加圧と感圧紙の色確認との作
業が延々と続けられる。
Further, in the adjustment, the pressure-sensitive paper is actually pressed by the mounting tool and the mount stage using the pressure-sensitive paper until the color of the pressure-receiving portion of the pressure-sensitive paper becomes uniform (to be within an allowable range). The work of pressurizing and checking the color of the pressure-sensitive paper is continued endlessly.

【0011】これにより、前記調整に非常に時間がかか
ることが問題である。
Thus, there is a problem that the adjustment takes a very long time.

【0012】本発明の目的は、ツール調整時間を短縮し
て作業性の向上を図るとともに、調整のばらつきを低減
する半導体装置の製造方法および半導体製造装置を提供
することにある。
An object of the present invention is to provide a method of manufacturing a semiconductor device and a semiconductor manufacturing apparatus capable of shortening tool adjustment time to improve workability and reducing variation in adjustment.

【0013】さらに、本発明のその他の目的は、自動ツ
ール交換を図る半導体装置の製造方法および半導体製造
装置を提供することにある。
Still another object of the present invention is to provide a semiconductor device manufacturing method and a semiconductor manufacturing apparatus for automatic tool change.

【0014】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of the present specification and the accompanying drawings.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
SUMMARY OF THE INVENTION Among the inventions disclosed in the present application, the outline of a representative one will be briefly described.
It is as follows.

【0016】すなわち、本発明の半導体装置の製造方法
は、マウントツールが設けられたツールブロックの前記
マウントツールの加圧面と、ステージの載置面とを対向
して配置する工程と、前記マウントツールの前記加圧面
と前記ステージの前記載置面とを接触させて前記ツール
ブロックを自在運動させて両者の平行度を調整する工程
と、前記ツールブロックを固定部材によってガイドブロ
ックに固定する工程と、前記ツールブロックの前記マウ
ントツールの前記加圧面によって半導体チップを支持す
る工程と、前記ステージの前記載置面にチップ支持部材
を配置する工程と、前記マウントツールと前記ステージ
とによって前記半導体チップと前記チップ支持部材とを
加圧して両者を接合する工程とを有するものである。
That is, in the method of manufacturing a semiconductor device according to the present invention, the step of arranging the pressing surface of the mount tool of the tool block provided with the mount tool and the mounting surface of the stage so as to face each other; A step of contacting the pressing surface of the stage and the mounting surface of the stage to freely move the tool block to adjust the parallelism between the two, and a step of fixing the tool block to the guide block by a fixing member, A step of supporting a semiconductor chip by the pressing surface of the mount tool of the tool block, a step of disposing a chip support member on the mounting surface of the stage, and the step of mounting the semiconductor chip by the mount tool and the stage. Pressurizing the chip support member and joining them together.

【0017】本発明によれば、マウントツールの加圧面
とマウントステージの載置面とを接触させた際に、マウ
ントツールを支持するツールブロックが自在運動可能で
あるため、マウントツールの加圧面をマウントステージ
の載置面に倣わせることができる。
According to the present invention, when the pressing surface of the mounting tool is brought into contact with the mounting surface of the mount stage, the tool block that supports the mounting tool can move freely. It can follow the mounting surface of the mount stage.

【0018】したがって、マウントツールの加圧面とマ
ウントステージの載置面の両者の平行出しを容易に、か
つ安定して行うことができるとともに、ツールブロック
を下降させてマウントツールをマウントステージに押し
当てるだけであるため、その平行度調整を自動化するこ
とができる。
Accordingly, the pressurizing surface of the mount tool and the mounting surface of the mount stage can be easily and stably parallelized, and the tool block is lowered to press the mount tool against the mount stage. Therefore, the parallelism adjustment can be automated.

【0019】その結果、品種切り換え時のマウントツー
ルとマウントステージの平行度調整を容易に行うことが
でき、平行度調整に費やす時間を短縮することができ
る。
As a result, the parallelism of the mount tool and the mount stage can be easily adjusted when the type is changed, and the time spent for adjusting the parallelism can be reduced.

【0020】また、本発明の半導体製造装置は、半導体
チップを支持可能な加圧面が設けられたマウントツール
を備え、自在運動可能なツールブロックと、前記ツール
ブロックと接触する球面部を備えたガイドブロックと、
前記ツールブロックを前記ガイドブロックに押し当てて
固定する固定部材と、前記半導体チップと接合可能なチ
ップ支持部材を支持する載置面を備え、前記チップ支持
部材を前記載置面に前記半導体チップと対向して配置可
能なように設けられた移動自在なステージと、前記マウ
ントツールと前記ステージとにより前記半導体チップと
前記チップ支持部材とを加圧して両者の接合が行われる
マウント処理部とを有し、前記固定部材によって前記ツ
ールブロックを前記ガイドブロックに固定する際に、前
記マウントツールの前記加圧面と前記ステージの前記載
置面とを接触させて前記ツールブロックを自在運動させ
て両者の平行度を調整して固定するものである。
Further, the semiconductor manufacturing apparatus of the present invention includes a mount tool provided with a pressing surface capable of supporting a semiconductor chip, a tool block capable of freely moving, and a guide including a spherical portion which comes into contact with the tool block. Blocks and
A fixing member that presses and fixes the tool block against the guide block, and a mounting surface that supports a chip supporting member that can be joined to the semiconductor chip, wherein the chip supporting member is provided with the semiconductor chip on the mounting surface. A movable stage provided so as to be capable of being arranged to face, and a mount processing unit which presses the semiconductor chip and the chip supporting member by the mount tool and the stage to join them together. Then, when the tool block is fixed to the guide block by the fixing member, the pressing surface of the mount tool and the mounting surface of the stage are brought into contact with each other to freely move the tool block, thereby allowing the tool block to move freely. The degree is adjusted and fixed.

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて詳細に説明する。なお、実施の形態を説明す
るための全図において、同一の機能を有する部材には同
一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. In all the drawings for describing the embodiments, members having the same functions are denoted by the same reference numerals, and the repeated description thereof will be omitted.

【0022】図1は本発明の実施の形態の半導体製造装
置の一例であるフリップチップボンダの構造を示す構成
概略図、図2は図1に示すフリップチップボンダにおけ
るチップマウント動作の一例を示す動作概略図、図3は
図1に示すフリップチップボンダにおけるマウント処理
部の構造の一例を示す図であり、(a)はマウントツー
ルとマウントステージの断面図、(b)は(a)のA矢
視図、図4は図1に示すフリップチップボンダを用いて
製造された半導体装置の一例であるCSPの構造を示す
断面図、図5は本発明の実施の形態の半導体装置である
CSPの製造方法の組み立て手順の一例を示す製造プロ
セスフロー図、図6〜図8は図1に示すフリップチップ
ボンダにおけるマウントツールとマウントステージの平
行度の調整方法の原理の一例を示す断面図である。
FIG. 1 is a schematic diagram showing the structure of a flip chip bonder as an example of a semiconductor manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an operation showing an example of a chip mounting operation in the flip chip bonder shown in FIG. FIG. 3 is a schematic view showing an example of the structure of a mount processing unit in the flip chip bonder shown in FIG. 1, (a) is a cross-sectional view of a mount tool and a mount stage, and (b) is an arrow A in (a). FIG. 4 is a sectional view showing the structure of a CSP as an example of a semiconductor device manufactured using the flip chip bonder shown in FIG. 1, and FIG. 5 is a view showing the manufacture of a CSP as a semiconductor device according to an embodiment of the present invention. FIGS. 6 to 8 show an example of an assembling procedure of the method. FIGS. 6 to 8 show a method of adjusting the parallelism between the mounting tool and the mounting stage in the flip chip bonder shown in FIG. Is a sectional view showing an example of management.

【0023】図1に示す本実施の形態の半導体製造装置
の一例であるフリップチップボンダは、図4に示す小形
の半導体装置の一例であるCSP6を組み立てる際に、
半導体チップ1の配線基板(チップ支持部材)4へのマ
ウント(ボンディング)を行う製造装置であり、半導体
チップ1と配線基板4との接合を行うものである。
The flip chip bonder, which is an example of the semiconductor manufacturing apparatus of the present embodiment shown in FIG. 1, is used to assemble the CSP 6 which is an example of the small semiconductor device shown in FIG.
This is a manufacturing apparatus that mounts (bonds) the semiconductor chip 1 to the wiring board (chip supporting member) 4, and joins the semiconductor chip 1 and the wiring board 4.

【0024】本実施の形態では、配線基板4の一例とし
てテープ状の薄膜の配線基板4を用いた場合を説明す
る。したがって、図1に示すフリップチップボンダは、
チップ支持部材であるテープ状の配線基板4に半導体チ
ップ1をマウントするものである。
In this embodiment, a case where a tape-shaped thin film wiring substrate 4 is used as an example of the wiring substrate 4 will be described. Therefore, the flip chip bonder shown in FIG.
The semiconductor chip 1 is mounted on a tape-shaped wiring board 4 which is a chip supporting member.

【0025】図1〜図4を用いて、本実施の形態のフリ
ップチップボンダの概略全体構成について説明すると、
ダイシング後の半導体ウェハ7から個々の半導体チップ
1をピックアップするウェハセット部11と、マウント
ツール12cとマウントステージ(ステージ)12bと
によって半導体チップ1と配線基板4とを加圧して両者
の接合が行われるマウント処理部12と、マウント処理
部12に配線基板4を搬送供給する搬送部9とからな
る。
The general structure of the flip chip bonder according to the present embodiment will be described with reference to FIGS.
The semiconductor chip 1 and the wiring board 4 are pressurized by the wafer setting unit 11 for picking up the individual semiconductor chips 1 from the diced semiconductor wafer 7 and the mount tool 12c and the mount stage (stage) 12b to join them. And a transport unit 9 for transporting the wiring substrate 4 to the mount processing unit 12.

【0026】さらに、マウント処理部12には、半導体
チップ1を支持した状態で移動自在なマウントヘッド1
2aと、図3(a)に示すような内側球面部12iおよ
び外側球面部12jが形成されるとともに半導体チップ
1を支持可能な加圧面12dが設けられたマウントツー
ル12cを備え、かつ自在運動可能にマウントヘッド1
2aの先端に設けられたツールブロック12fと、ツー
ルブロック12fの外側球面部12jと接触する球面部
12kを備えたガイドブロック12gと、ツールブロッ
ク12fの内側球面部12iと接触する固定用球面部1
2tを備え、かつ固定用球面部12tによってツールブ
ロック12fをガイドブロック12gに押し当てて固定
する固定部材12hと、半導体チップ1と接合可能な配
線基板4を支持する載置面12eを備え、かつ配線基板
4を載置面12eに半導体チップ1と対向して配置可能
なように設けられた移動自在なマウントステージ12b
とが設けられている。
Further, the mount processing unit 12 includes a mount head 1 which is movable while supporting the semiconductor chip 1.
2a, a mounting tool 12c having an inner spherical surface portion 12i and an outer spherical surface portion 12j as shown in FIG. 3A and having a pressing surface 12d capable of supporting the semiconductor chip 1 and capable of freely moving. Mount head 1
A tool block 12f provided at the tip of 2a, a guide block 12g provided with a spherical portion 12k that contacts the outer spherical portion 12j of the tool block 12f, and a fixing spherical portion 1 that contacts the inner spherical portion 12i of the tool block 12f.
A fixing member 12h for fixing the tool block 12f by pressing the tool block 12f against the guide block 12g by the fixing spherical portion 12t; a mounting surface 12e for supporting the wiring substrate 4 which can be joined to the semiconductor chip 1; A movable mount stage 12b provided so that the wiring board 4 can be arranged on the mounting surface 12e so as to face the semiconductor chip 1.
Are provided.

【0027】そこで、本実施の形態のフリップチップボ
ンダの特徴は、チップマウントにおいてマウントツール
12cの加圧面12dとマウントステージ12bの載置
面12eとの平行度調整(平行出し調整)を行う際に、
マウントヘッド12aを下降させてマウントツール12
cの加圧面12dがマウントステージ12bの載置面1
2eに倣うように両者を接触させる。この際、フリー状
態のツールブロック12fを自在運動させて両者の平行
度を調整し(平行出しを行い)、調整後、ツールブロッ
ク12fをガイドブロック12gに押し当てて固定して
この状態でチップマウントを行うものである。
Therefore, the feature of the flip chip bonder of the present embodiment is that when performing the parallelism adjustment (parallel alignment adjustment) between the pressing surface 12d of the mount tool 12c and the mounting surface 12e of the mount stage 12b in chip mounting. ,
Lower the mount head 12a to mount the tool 12
c is the mounting surface 12d of the mount stage 12b.
Both are brought into contact so as to follow 2e. At this time, the tool block 12f in the free state is freely moved to adjust the parallelism between the two (parallel alignment is performed). After the adjustment, the tool block 12f is pressed against the guide block 12g and fixed, and the chip is mounted in this state. Is what you do.

【0028】したがって、マウントヘッド12aに設け
られたマウントツール12cと、マウントステージ12
bとの平行度調整を自動化することができ、これによ
り、平行度の調整時間の短縮化を図るものである。
Therefore, the mount tool 12c provided on the mount head 12a and the mount stage 12
The parallelism adjustment with b can be automated, thereby shortening the parallelism adjustment time.

【0029】なお、マウントツール12c、ツールブロ
ック12f、ガイドブロック12gおよび固定部材12
hなどは、例えば、成形または切削可能な材料によって
成形されている。
The mounting tool 12c, tool block 12f, guide block 12g, and fixing member 12
For example, h is formed of a material that can be formed or cut.

【0030】また、マウントツール12cとマウントス
テージ12bとによるその平行度調整は、図1に示す制
御部13によって制御される。
The adjustment of the parallelism between the mount tool 12c and the mount stage 12b is controlled by the control unit 13 shown in FIG.

【0031】ここで、マウントヘッド12aの先端に
は、図3(a),(b)に示すベースブロック12lが取
り付けられ、このベースブロック12lにガイドブロッ
ク12gが固定され、さらに、ツールブロック12fの
先端面に加圧面12dを有したマウントツール12cが
ネジ12mによって固定されている。
Here, a base block 12l shown in FIGS. 3A and 3B is attached to the tip of the mount head 12a, a guide block 12g is fixed to the base block 12l, and further, a tool block 12f. A mounting tool 12c having a pressing surface 12d on the distal end surface is fixed by screws 12m.

【0032】また、ガイドブロック12gと固定部材1
2hとは、ツールブロック12fを挟んでシリンダとピ
ストンの関係で係合しており、固定部材12hは、ガイ
ドブロック12gに往復運動自在に支持されるととも
に、ガイドブロック12gのエアー供給部12qから供
給されるエアー12rの圧力によってツールブロック1
2fを押し上げてガイドブロック12gに押し当てて固
定するものである。
The guide block 12g and the fixing member 1
2h is engaged with the cylinder and the piston with the tool block 12f interposed therebetween, and the fixed member 12h is supported by the guide block 12g so as to be able to reciprocate freely, and is supplied from the air supply section 12q of the guide block 12g. Block 1 by the pressure of air 12r
2f is pushed up and pressed against the guide block 12g to be fixed.

【0033】すなわち、ガイドブロック12gには、固
定部材12hのピストン部12nを配置し、かつこれの
往復運動を可能にする空洞部12pが形成され、エアー
供給部12qから空洞部12pにエアー12rを供給す
ると、ピストン部12nとともに固定部材12hが上昇
し、固定部材12hとガイドブロック12gとによって
ツールブロック12fを挟んで固定する構造となってい
る。
That is, the guide block 12g is provided with a hollow portion 12p on which the piston portion 12n of the fixed member 12h is disposed and which allows the piston portion 12n to reciprocate, and air 12r is supplied from the air supply portion 12q to the hollow portion 12p. When supplied, the fixing member 12h ascends together with the piston portion 12n, and has a structure in which the tool block 12f is sandwiched and fixed between the fixing member 12h and the guide block 12g.

【0034】したがって、マウントツール12cとマウ
ントステージ12bとによる両者の平行度調整の際に
は、エアー12rをガイドブロック12gの空洞部12
pに供給せずに固定部材12hを最下方位置に配置して
おき、これにより、図6に示すように、ツールブロック
12fをフリー状態とし、この状態でマウントツール1
2cの加圧面12dをマウントステージ12bの載置面
12eに押し当てて両面の平行出しを行った後、空洞部
12pに所望のエアー12rを供給してピストン部12
nを上昇させて固定部材12hとガイドブロック12g
とによってツールブロック12fを挟んで固定する。
Therefore, when adjusting the parallelism between the mount tool 12c and the mount stage 12b, the air 12r is applied to the cavity 12 of the guide block 12g.
p, the fixing member 12h is arranged at the lowermost position, whereby the tool block 12f is set in a free state as shown in FIG.
2c is pressed against the mounting surface 12e of the mount stage 12b to parallelize the two surfaces, and then the desired air 12r is supplied to the cavity 12p to provide the piston 12
n to raise the fixing member 12h and the guide block 12g.
Thus, the tool block 12f is sandwiched and fixed.

【0035】なお、ツールブロック12fには、その外
周のガイドブロック12gの球面部12kとの接触箇所
に外側球面部12jが形成され、かつ内側の固定部材1
2hの固定用球面部12tとの接触箇所に内側球面部1
2iが形成されている。
In the tool block 12f, an outer spherical portion 12j is formed at the outer peripheral portion of the guide block 12g in contact with the spherical portion 12k, and the inner fixing member 1 is formed.
The inner spherical surface portion 1 is located at the contact point with the fixing spherical portion 12t of 2h.
2i are formed.

【0036】これにより、ツールブロック12fのフリ
ー状態(自在運動可能状態)でマウントツール12cの
加圧面12dをマウントステージ12bの載置面12e
に押し当てて両面の平行出しを行った後、ツールブロッ
ク12fの外側球面部12jとガイドブロック12gの
球面部12k、およびツールブロック12fの内側球面
部12iと固定部材12hの固定用球面部12tがそれ
ぞれ球面接触をするため、マウントツール12cの加圧
面12dとマウントステージ12bの載置面12eとを
押し当てて両者が平行となった際のそのままの角度でツ
ールブロック12fの固定を行うことができ、その結
果、マウントツール12cの加圧面12dとマウントス
テージ12bの載置面12eの平行出しを容易に、かつ
安定して行うことができる。
In this way, when the tool block 12f is in the free state (freely movable state), the pressing surface 12d of the mount tool 12c is moved to the mounting surface 12e of the mount stage 12b.
After performing parallel projection on both sides by pressing against the outside, the outer spherical portion 12j of the tool block 12f, the spherical portion 12k of the guide block 12g, and the inner spherical portion 12i of the tool block 12f and the fixing spherical portion 12t of the fixing member 12h are formed. Since the respective surfaces make spherical contact, the pressing surface 12d of the mounting tool 12c and the mounting surface 12e of the mounting stage 12b are pressed against each other, and the tool block 12f can be fixed at the same angle when the two are parallel. As a result, the pressurizing surface 12d of the mount tool 12c and the mounting surface 12e of the mount stage 12b can be easily and stably parallelized.

【0037】また、図1に示すマウントヘッド12a
は、XY方向に移動自在なXYテーブル10に取り付け
られ、かつ、Z移動機構によってガイドされており、こ
れによってXYZ方向に移動可能となっている。
The mount head 12a shown in FIG.
Is mounted on an XY table 10 that is movable in the X and Y directions, and is guided by a Z moving mechanism, thereby being movable in the XYZ directions.

【0038】さらに、マウントステージ12bとマウン
トヘッド12aは、半導体チップ1と配線基板4とに対
して荷重および熱または超音波などを付与して両者を接
合するものである。
Further, the mount stage 12b and the mount head 12a join the semiconductor chip 1 and the wiring board 4 by applying a load, heat or ultrasonic waves to the semiconductor chip 1 and the wiring board 4.

【0039】また、図2に示すように、ウェハセット部
11には、ダイシング済みの半導体ウェハ7が配置され
たウェハ支持台11aと、このウェハ支持台11aに搭
載されたダイシング済みの半導体ウェハ7からボンディ
ングすべき半導体チップ1をピックアップコレット11
cによってピックアップするとともに、ピックアップし
た半導体チップ1を表裏反転させてマウントヘッド12
aのマウントツール12cの先端に設けられたコレット
12sに受け渡すフリップヘッド11bとが設置されて
おり、このウェハセット部11では、ダイシング済みの
半導体ウェハ7からの半導体チップ1のピックアップ
と、この半導体チップ1のマウントヘッド12aへの移
載とが行われる。
As shown in FIG. 2, a wafer support 11a on which a diced semiconductor wafer 7 is disposed and a diced semiconductor wafer 7 mounted on the wafer support 11a. The semiconductor chip 1 to be bonded from the pickup collet 11
c, the semiconductor chip 1 picked up is turned upside down, and the mount head 12
A flip head 11b for delivering to a collet 12s provided at the tip of a mounting tool 12c is installed. In the wafer setting section 11, the pick-up of the semiconductor chip 1 from the diced semiconductor wafer 7 and the semiconductor chip 1 The chip 1 is transferred to the mount head 12a.

【0040】なお、ウェハセット部11への半導体ウェ
ハ7の移載は、図1に示すウェハリフタ8によって行わ
れる。
The transfer of the semiconductor wafer 7 to the wafer setting section 11 is performed by the wafer lifter 8 shown in FIG.

【0041】また、搬送部9への配線基板4の送り出し
は、ローダ17によって行われ、さらに、チップボンデ
ィング後の配線基板4は、アンローダ18に収容され
る。
The wiring board 4 is sent out to the transport section 9 by a loader 17, and the wiring board 4 after chip bonding is accommodated in an unloader 18.

【0042】次に、本実施の形態の図1および図2に示
すフリップチップボンダ(半導体製造装置)を用いてチ
ップマウント(チップボンディング)が行われた図4に
示すCSP6の構造について説明する。
Next, the structure of the CSP 6 shown in FIG. 4 in which chip mounting (chip bonding) is performed using the flip chip bonder (semiconductor manufacturing apparatus) shown in FIGS. 1 and 2 of this embodiment will be described.

【0043】このCSP6は、その外観サイズが半導体
チップ1より若干大きい程度の小形のものであり、半導
体チップ1の主面1a(半導体集積回路が形成されてい
る面)の外周部にその表面電極である複数のパッド1b
が配置されている場合を説明する。
The CSP 6 is a small-sized device whose external size is slightly larger than that of the semiconductor chip 1, and is provided on the outer peripheral portion of the main surface 1 a (the surface on which the semiconductor integrated circuit is formed) of the semiconductor chip 1. Plural pads 1b
Will be described.

【0044】ただし、パッド1bが設置される箇所につ
いては、特に限定されるものではなく、半導体チップ1
の主面1aの外周部であっても、または、内方(例え
ば、センターパッド配列)であっても、あるいは、その
両者などであってもよい。
However, the location where the pad 1b is provided is not particularly limited, and the semiconductor chip 1
May be an outer peripheral portion of the main surface 1a, an inner side (for example, a center pad arrangement), or both.

【0045】前記CSP6の構成は、半導体チップ1の
パッド1bと接続されるリード4cを有し、かつこのリ
ード4cと接続されるとともに、外部端子であるバンプ
電極2とも接続される配線4aが設けられた薄膜のテー
プ状の配線基板4と、半導体チップ1と配線基板4との
間に配置された弾性部材であるエラストマ3と、配線基
板4の開口部4bにおいて封止樹脂などによりパッド1
bとリード4cとを封止して形成された封止部5とから
なる。
The configuration of the CSP 6 has a lead 4c connected to the pad 1b of the semiconductor chip 1 and a wiring 4a connected to the lead 4c and also to the bump electrode 2 as an external terminal. The thin-film tape-shaped wiring board 4, the elastomer 3, which is an elastic member disposed between the semiconductor chip 1 and the wiring board 4, and the pad 1 formed by sealing resin or the like in the opening 4 b of the wiring board 4.
b and a sealing portion 5 formed by sealing the lead 4c.

【0046】ここで、薄膜のテープ状の配線基板4は、
例えば、ポリイミド系のフィルム基材などによって形成
されたものである。
Here, the thin-film tape-shaped wiring board 4 is
For example, it is formed of a polyimide-based film substrate.

【0047】また、封止部5に用いられる前記封止樹脂
は、例えば、エポキシ系の熱硬化性樹脂などであり、モ
ールドあるいはポッティングなどによって樹脂封止が行
われる。
The sealing resin used for the sealing portion 5 is, for example, an epoxy-based thermosetting resin, and the resin is sealed by molding or potting.

【0048】次に、本実施の形態による半導体装置(C
SP6)の製造方法をチップマウント(チップボンディ
ング)方法を含めて図5に示す製造プロセスフロー図に
したがって説明する。
Next, the semiconductor device (C
The manufacturing method of SP6) including the chip mounting (chip bonding) method will be described with reference to the manufacturing process flow chart shown in FIG.

【0049】まず、ステップS1に示すように、ポリイ
ミドなどからなる薄膜のテープ状の配線基板4を準備
し、これに弾性部材であるエラストマ3を張り付けるエ
ラストマ付けを行う(ステップS2)。
First, as shown in step S1, a thin-film tape-shaped wiring board 4 made of polyimide or the like is prepared, and an elastomer for attaching the elastomer 3, which is an elastic member, is performed (step S2).

【0050】一方、図1に示すフリップチップボンダの
ウェハセット部11のウェハ支持台11aに、ウェハリ
フタ8によってダイシング済みの半導体ウェハ7をセッ
トする。
On the other hand, the diced semiconductor wafer 7 is set by the wafer lifter 8 on the wafer support table 11a of the wafer setting section 11 of the flip chip bonder shown in FIG.

【0051】続いて、図1に示す本実施の形態のフリッ
プチップボンダを用いて、ステップS3に示すチップマ
ウント(チップボンディング)を行う。
Subsequently, the chip mount (chip bonding) shown in step S3 is performed using the flip chip bonder of this embodiment shown in FIG.

【0052】まず、フリップチップボンダにおいて、図
6に示すように、図2に示すマウントヘッド12aの先
端に設けられたマウントツール12cの加圧面12d
と、マウントステージ12bの載置面12eとを対向し
て配置する。
First, in the flip chip bonder, as shown in FIG. 6, the pressing surface 12d of the mounting tool 12c provided at the tip of the mounting head 12a shown in FIG.
And the mounting surface 12e of the mount stage 12b are arranged to face each other.

【0053】この時、ピストン部12nを含む固定部材
12hと、これに支持されたツールブロック12fは、
共にフリーな状態である。
At this time, the fixing member 12h including the piston portion 12n and the tool block 12f supported by the fixing member 12h
Both are free.

【0054】この状態で、マウントヘッド12aを下降
させて(またはマウントステージ12bを上昇させても
よい)、図7に示すように、マウントツール12cの加
圧面12dとマウントステージ12bの載置面12eと
を接触させる。
In this state, the mount head 12a is lowered (or the mount stage 12b may be raised), and as shown in FIG. 7, the pressurizing surface 12d of the mount tool 12c and the mounting surface 12e of the mount stage 12b. And contact.

【0055】すなわち、マウントヘッド12aを下降さ
せてマウントツール12cの加圧面12dをマウントス
テージ12bの載置面12eに押し当てる。
That is, the mount head 12a is lowered, and the pressing surface 12d of the mount tool 12c is pressed against the mounting surface 12e of the mount stage 12b.

【0056】その際、マウントツール12cが取り付け
られているツールブロック12fは自在運動可能に支持
されているため、フリーに動き、これによって、マウン
トツール12cの加圧面12dがマウントステージ12
bの載置面12eに倣う。
At this time, since the tool block 12f to which the mounting tool 12c is attached is supported so as to be freely movable, the tool block 12f moves freely, whereby the pressing surface 12d of the mounting tool 12c is moved to the mounting stage 12c.
It follows the mounting surface 12e of b.

【0057】つまり、マウントツール12cをマウント
ステージ12bに押し当てたことにより、マウントツー
ル12cがマウントステージ12bに倣うと同時に、ツ
ールブロック12fもマウントステージ12bに倣うよ
うに動く。
That is, when the mount tool 12c is pressed against the mount stage 12b, the mount tool 12c follows the mount stage 12b, and at the same time, the tool block 12f moves so as to follow the mount stage 12b.

【0058】さらに、この状態で、図8に示すように、
空洞部12pに所望のエアー12rを供給して固定部材
12hのピストン部12nを上昇させ(持ち上げ)、こ
れにより、固定部材12hとガイドブロック12gとに
よってツールブロック12fを挟んで固定する。
Further, in this state, as shown in FIG.
The desired air 12r is supplied to the cavity 12p to raise (lift) the piston portion 12n of the fixing member 12h, thereby fixing the tool block 12f between the fixing member 12h and the guide block 12g.

【0059】なお、ツールブロック12fには、その外
周のガイドブロック12gの球面部12kとの接触箇所
に外側球面部12jが形成され、かつ内側の固定部材1
2hの固定用球面部12tとの接触箇所に内側球面部1
2iが形成されている。
In the tool block 12f, an outer spherical portion 12j is formed at the outer peripheral portion of the guide block 12g in contact with the spherical portion 12k, and the inner fixing member 1 is formed.
The inner spherical surface portion 1 is located at the contact point with the fixing spherical portion 12t of 2h.
2i are formed.

【0060】したがって、ツールブロック12fのフリ
ー状態でマウントツール12cの加圧面12dをマウン
トステージ12bの載置面12eに押し当てて両面の平
行出しを行った後、ツールブロック12fの外側球面部
12jとガイドブロック12gの球面部12k、および
ツールブロック12fの内側球面部12iと固定部材1
2hの固定用球面部12tがそれぞれ球面接触をし、そ
の結果、マウントツール12cの加圧面12dとマウン
トステージ12bの載置面12eとを押し当てて両者が
平行となった際のそのままの角度(状態)でツールブロ
ック12fの固定が行われる。
Accordingly, in a free state of the tool block 12f, the pressing surface 12d of the mount tool 12c is pressed against the mounting surface 12e of the mount stage 12b to parallelize both surfaces. Spherical portion 12k of guide block 12g, inner spherical portion 12i of tool block 12f and fixing member 1
The fixing spherical portions 12t of 2h make spherical contact with each other, and as a result, the pressing surface 12d of the mount tool 12c and the mounting surface 12e of the mount stage 12b are pressed against each other, and the angle when they are parallel to each other ( In the state, the tool block 12f is fixed.

【0061】これによって、加圧面12dと載置面12
eとが平行となった状態でツールブロック12fの固定
が行われ、したがって、マウントツール12cの加圧面
12dとマウントステージ12bの載置面12eの平行
出しすなわち平行度調整を行うことができる。
Thus, the pressing surface 12 d and the mounting surface 12
The tool block 12f is fixed in a state where e is parallel, so that the pressing surface 12d of the mount tool 12c and the mounting surface 12e of the mount stage 12b can be parallelized, that is, the parallelism can be adjusted.

【0062】前記平行度調整後、図2に示すように、ウ
ェハセット部11においてチップマウントが行われる半
導体チップ1をフリップヘッド11bのピックアップコ
レット11cによって半導体ウェハ7からピックアップ
し、さらに、フリップヘッド11bによって半導体チッ
プ1の表裏を反転させてマウント処理部12に移動させ
る。
After adjusting the parallelism, as shown in FIG. 2, the semiconductor chip 1 to be mounted in the wafer setting section 11 is picked up from the semiconductor wafer 7 by the pickup collet 11c of the flip head 11b. Then, the semiconductor chip 1 is turned over and moved to the mount processing unit 12.

【0063】その後、この半導体チップ1の裏面1cを
マウントヘッド12aの先端に設けられたコレット12
sによって吸着保持し、マウントステージ12bの上方
で待機する。すなわち、マウントツール12cの加圧面
12d(図3(a)参照)によって半導体チップ1を支
持する。
Thereafter, the back surface 1c of the semiconductor chip 1 is attached to the collet 12 provided at the tip of the mount head 12a.
s, and stands by above the mount stage 12b. That is, the semiconductor chip 1 is supported by the pressing surface 12d (see FIG. 3A) of the mount tool 12c.

【0064】一方、ローダ17から搬送部9にテープ状
の配線基板(チップ支持部材)4を送り出し、搬送部9
からマウント処理部12のマウントステージ12b上に
エラストマ3が張り付けられた配線基板4を配置させ
る。すなわち、マウントステージ12bの載置面12e
に配線基板4を配置する。
On the other hand, the tape-shaped wiring board (chip supporting member) 4 is sent out from the loader 17 to
Then, the wiring substrate 4 on which the elastomer 3 is attached is arranged on the mount stage 12b of the mount processing unit 12. That is, the mounting surface 12e of the mount stage 12b
The wiring board 4 is arranged.

【0065】これにより、平行度調整が行われたマウン
トツール12cの加圧面12dに支持された半導体チッ
プ1と、マウントステージ12bの載置面12eに支持
された配線基板4とが対向して配置される。
As a result, the semiconductor chip 1 supported on the pressurizing surface 12d of the mount tool 12c whose parallelism has been adjusted and the wiring substrate 4 supported on the mounting surface 12e of the mount stage 12b face each other. Is done.

【0066】その後、マウントツール12cとマウント
ステージ12bとによって半導体チップ1および配線基
板4に荷重および熱を付与して両者を熱圧着により接合
してチップマウントする(チップボンディングする)。
Thereafter, a load and heat are applied to the semiconductor chip 1 and the wiring board 4 by the mount tool 12c and the mount stage 12b, and the semiconductor chip 1 and the wiring board 4 are bonded by thermocompression bonding to perform chip mounting (chip bonding).

【0067】なお、前記熱圧着の際には、超音波を印加
してもよい。
At the time of the thermocompression bonding, an ultrasonic wave may be applied.

【0068】チップマウント後、配線基板4をアンロー
ダ18に送り、そこに収容する。
After the chip mounting, the wiring board 4 is sent to the unloader 18 and stored therein.

【0069】その後、図5のステップS4に示すリード
ボンディングを行う。
Thereafter, the lead bonding shown in step S4 of FIG. 5 is performed.

【0070】ここでは、図4に示す半導体チップ1のパ
ッド1bと配線基板4のリード4cとをインナリードボ
ンダなどを用いて接続する。
Here, the pads 1b of the semiconductor chip 1 shown in FIG. 4 are connected to the leads 4c of the wiring board 4 using an inner lead bonder or the like.

【0071】その後、ステップS5に示す封止を行う。Thereafter, the sealing shown in step S5 is performed.

【0072】封止工程では、封止樹脂を用いてポッティ
ングなどによって(モールドでもよい)半導体チップ1
のパッド1bおよびリード4cの樹脂封止を行い、これ
により、封止部5を形成する。
In the sealing step, the semiconductor chip 1 may be molded (or molded) by using a sealing resin.
The pad 1b and the lead 4c are sealed with resin, thereby forming a sealing portion 5.

【0073】続いて、ステップS6に示すボール付けを
行う。
Subsequently, ball attachment shown in step S6 is performed.

【0074】ここでは、配線基板4の配線4aとつなが
る所定位置のランドにそれぞれ1つずつ外部端子である
半田ボールを搭載して所定数のバンプ電極2を形成す
る。
Here, a predetermined number of bump electrodes 2 are formed by mounting one solder ball as an external terminal on each of the lands at predetermined positions connected to the wiring 4a of the wiring board 4.

【0075】その後、ステップS7に示す選別・マーク
を行って図4に示すCSP6の組み立てを終了する。
Thereafter, the sorting and marking shown in step S7 are performed, and the assembly of the CSP 6 shown in FIG. 4 is completed.

【0076】本実施の形態の半導体装置(CSP6)の
製造方法および半導体製造装置(フリップチップボン
ダ)によれば、以下のような作用効果が得られる。
According to the method of manufacturing the semiconductor device (CSP 6) and the semiconductor manufacturing device (flip chip bonder) of the present embodiment, the following operational effects can be obtained.

【0077】すなわち、マウントヘッド12aを下降さ
せてマウントツール12cの加圧面12dとマウントス
テージ12bの載置面12eとを接触させた際に、マウ
ントツール12cを支持するツールブロック12fが自
在運動可能であるため、マウントツール12cの加圧面
12dをマウントステージ12bの載置面12eに倣わ
せることができる。
That is, when the mounting head 12a is lowered to bring the pressing surface 12d of the mounting tool 12c into contact with the mounting surface 12e of the mounting stage 12b, the tool block 12f supporting the mounting tool 12c can move freely. Therefore, the pressing surface 12d of the mount tool 12c can be made to follow the mounting surface 12e of the mount stage 12b.

【0078】したがって、マウントツール12cの加圧
面12dとマウントステージ12bの載置面12eの両
者の平行出しを容易に、かつ安定して行うことができる
とともに、ツールブロック12fを下降させてマウント
ツール12cをマウントステージ12bに押し当てるだ
けであるため、その平行度調整を自動化することができ
る。
Accordingly, the pressing surface 12d of the mounting tool 12c and the mounting surface 12e of the mounting stage 12b can be easily and stably parallelized, and the tool block 12f can be lowered to mount the mounting tool 12c. Is simply pressed against the mount stage 12b, so that the parallelism adjustment can be automated.

【0079】その結果、品種切り換え時のマウントツー
ル12cとマウントステージ12bの平行度調整を容易
に行うことができ、前記平行度調整に費やす時間を短縮
することができる。
As a result, the parallelism of the mount tool 12c and the mount stage 12b can be easily adjusted when the type is changed, and the time spent for adjusting the parallelism can be reduced.

【0080】したがって、マウントツール12cとマウ
ントステージ12bとを備えたフリップチップボンダ
(半導体製造装置)におけるツール調整時間の短縮によ
り、その作業性を向上させることができる。
Therefore, the workability of the flip chip bonder (semiconductor manufacturing apparatus) having the mount tool 12c and the mount stage 12b can be improved by shortening the tool adjustment time.

【0081】さらに、前記平行度調整を自動調整方式に
できるため、作業者による調整のばらつきの発生がなく
なり、したがって、前記平行度調整のばらつきを低減で
きる。
Further, since the parallelism adjustment can be performed by the automatic adjustment method, the variation of the adjustment by the operator does not occur, and therefore, the variation of the parallelism adjustment can be reduced.

【0082】また、前記平行度調整が、マウントヘッド
12aの先端のマウントツール12cを下降させてマウ
ントステージ12bに押し当てて固定するだけであるた
め、前記平行度調整の自動化とともに、マウントツール
12cが取り付けられたマウントヘッド12aの自動交
換も実現可能となり、したがって、前記平行度調整を含
む自動ツール交換が可能になる。
In addition, since the parallelism adjustment simply involves lowering the mount tool 12c at the tip of the mount head 12a and pressing and fixing the mount tool 12c against the mount stage 12b, the automatic parallelism adjustment and the mounting tool 12c Automatic change of the mounted mount head 12a can also be realized, and thus automatic tool change including the parallelism adjustment can be performed.

【0083】以上、本発明者によってなされた発明を発
明の実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は
前記発明の実施の形態に限定されるものではなく、その
要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることは言う
までもない。
As described above, the invention made by the inventor has been specifically described based on the embodiments of the present invention. However, the present invention is not limited to the embodiments of the present invention, and does not depart from the gist of the invention. It is needless to say that various changes can be made.

【0084】例えば、図9(a),(b)に示す変形例の
マウントツール、ツールブロックおよびガイドブロック
のように、ツールブロック12fとガイドブロック12
gとの間で水平方向(マウントツール12cの加圧面1
2dに平行な方向)の回転防止手段が設けられていても
よい。
For example, like the mount tool, the tool block and the guide block of the modified example shown in FIGS. 9A and 9B, the tool block 12f and the guide block 12f are used.
g in the horizontal direction (the pressing surface 1 of the mount tool 12c).
(A direction parallel to 2d) may be provided.

【0085】すなわち、ツールブロック12fの両側の
側部に回転防止凸部12vが設けられ、この回転防止凸
部12vが嵌合する回転防止ガイド12uが、同じくガ
イドブロック12gの両側の側部に設けられており、回
転防止凸部12vと回転防止ガイド12uとが嵌合する
ことにより、マウントツール12cにおける加圧面12
dに平行な方向に対してのθ回転を防止できる。
That is, anti-rotation projections 12v are provided on both sides of the tool block 12f, and anti-rotation guides 12u into which the anti-rotation projections 12v are fitted are provided on both sides of the guide block 12g. The rotation preventing projection 12v and the rotation preventing guide 12u are fitted to each other, so that the pressing surface 12
θ rotation in a direction parallel to d can be prevented.

【0086】これにより、チップマウント時のマウント
精度を向上できる。
Thus, the mounting accuracy at the time of chip mounting can be improved.

【0087】また、図10(a),(b)に示す変形例の
マウントツール、ツールブロックおよびガイドブロック
のように、ツールブロック12f(図3参照)が、X軸
ツールブロック14とY軸ツールブロック15とからな
り、ガイドブロック12gにY軸用溝部15aが形成さ
れ、このY軸用溝部15aに嵌合するY軸用凸部15b
がY軸ツールブロック15に設けられている。
Further, like the mount tool, the tool block and the guide block of the modified example shown in FIGS. 10A and 10B, the tool block 12f (see FIG. 3) includes the X-axis tool block 14 and the Y-axis tool block. The guide block 12g has a Y-axis groove 15a formed therein, and the Y-axis protrusion 15b fitted into the Y-axis groove 15a.
Are provided in the Y-axis tool block 15.

【0088】一方、Y軸ツールブロック15にX軸用溝
部14aが形成され、このX軸用溝部14aに嵌合する
X軸用凸部14bがX軸ツールブロック14に設けられ
ており、これにより、図9の変形例と同様に、マウント
ツール12cにおける加圧面12dに平行な方向に対し
てのθ回転を防止できる。
On the other hand, an X-axis groove 14a is formed in the Y-axis tool block 15, and an X-axis protrusion 14b fitted into the X-axis groove 14a is provided in the X-axis tool block 14. Similarly to the modification shown in FIG. 9, the rotation of the mount tool 12c in the direction parallel to the pressing surface 12d can be prevented.

【0089】なお、X軸ツールブロック14およびY軸
ツールブロック15は、球状に限らず円弧状のものであ
ってもよい。
The X-axis tool block 14 and the Y-axis tool block 15 are not limited to spherical shapes but may be arc-shaped.

【0090】また、図11に示す変形例のマウントツー
ル、ツールブロックおよびガイドブロックのように、固
定部材12hのガイドブロック12gの空洞部12pに
おける往復運動の駆動源をコイルモータ16などを用い
た電動式としてもよい。
Further, like the mount tool, the tool block and the guide block of the modified example shown in FIG. It may be an expression.

【0091】すなわち、空洞部12pを真空状態とし
て、ガイドブロック12gの空洞部12pを形成する内
周壁に電磁石16a(ソレノイドでもよい)を埋め込む
ことにより、固定部材12hの往復運動の駆動を電動式
にすることができる。
That is, the hollow portion 12p is evacuated, and the electromagnet 16a (which may be a solenoid) is embedded in the inner peripheral wall forming the hollow portion 12p of the guide block 12g, so that the reciprocating motion of the fixed member 12h is electrically driven. can do.

【0092】これにより、省スペース化および省エネル
ギ化を図ることができる。
Thus, space saving and energy saving can be achieved.

【0093】また、前記実施の形態では、半導体装置が
CSP6の場合について説明したが、前記半導体装置
は、半導体チップ1とチップ支持部材とが前記実施の形
態のチップマウント方法によって接合されて組み立てら
れたものであれば、CSP6以外のフリップチップ製品
(例えば、マルチチップモジュール)などであってもよ
く、その際、チップ支持部材は、テープ状の薄膜の配線
基板4に限らず、比較的硬質なプリント配線基板やセラ
ミック基板などであってもよい。
In the above embodiment, the case where the semiconductor device is the CSP 6 has been described. However, the semiconductor device is assembled by joining the semiconductor chip 1 and the chip supporting member by the chip mounting method of the embodiment. If it is a flip-chip product other than the CSP 6 (for example, a multi-chip module), the chip supporting member is not limited to the tape-shaped thin-film wiring board 4 but is made of a relatively hard material. It may be a printed wiring board or a ceramic substrate.

【0094】さらに、前記実施の形態では、半導体製造
装置がフリップチップボンダの場合について説明した
が、前記半導体製造装置は、前記実施の形態のチップマ
ウント方法によって半導体チップ1とチップ支持部材と
を接続するものであれば、ダイボンダやチップマウンタ
あるいはハンドリング装置やマテリアルハンドリング装
置などの他の組み立て装置であってもよい。
Further, in the above embodiment, the case where the semiconductor manufacturing apparatus is a flip chip bonder has been described. However, the semiconductor manufacturing apparatus connects the semiconductor chip 1 and the chip supporting member by the chip mounting method of the above embodiment. Other assembling devices, such as a die bonder, a chip mounter, a handling device, and a material handling device, may be used as long as the assembly is performed.

【0095】[0095]

【発明の効果】本願によって開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
Advantageous effects obtained by typical ones of the inventions disclosed by the present application will be briefly described as follows.
It is as follows.

【0096】(1).マウントツールの加圧面とマウン
トステージの載置面とを接触させた際に、マウントツー
ルを支持するツールブロックが自在運動可能であるた
め、マウントツールの加圧面をマウントステージの載置
面に倣わせることができる。したがって、両者の平行出
しを容易に、かつ安定して行うことができるとともに、
その平行度調整を自動化することができる。
(1). When the pressure surface of the mount tool and the mounting surface of the mount stage are in contact, the tool block supporting the mount tool can move freely, so that the pressure surface of the mount tool follows the mounting surface of the mount stage. Can be Therefore, both can be easily and stably parallelized, and
The parallelism adjustment can be automated.

【0097】(2).前記(1)により、品種切り換え
時のマウントツールとマウントステージの平行度調整を
容易に行うことができ、平行度調整に費やす時間を短縮
することができる。したがって、半導体製造装置におけ
るツール調整時間の短縮により、その作業性を向上させ
ることができる。
(2). According to the above (1), the parallelism of the mount tool and the mount stage can be easily adjusted when the type is changed, and the time spent for the parallelism can be reduced. Therefore, the workability can be improved by shortening the tool adjustment time in the semiconductor manufacturing apparatus.

【0098】(3).前記(1)により、平行度調整を
自動調整方式にできるため、作業者による調整のばらつ
きの発生がなくなり、前記平行度調整のばらつきを低減
できる。
(3). According to the above (1), since the parallelism adjustment can be performed by the automatic adjustment method, the variation of the adjustment by the operator does not occur, and the variation of the parallelism adjustment can be reduced.

【0099】(4).前記平行度調整が、マウントツー
ルを下降させてマウントステージに押し当てて固定する
だけであるため、前記平行度調整の自動化とともに、マ
ウントツールが取り付けられたヘッドの自動交換も実現
可能となり、前記平行度調整を含む自動ツール交換が可
能になる。
(4). Since the parallelism adjustment is only performed by lowering the mount tool and pressing it against the mount stage and fixing the same, the automation of the parallelism adjustment and the automatic exchange of the head to which the mount tool is attached can be realized. Automatic tool change including degree adjustment is possible.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態の半導体製造装置の一例で
あるフリップチップボンダの構造を示す構成概略図であ
る。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram illustrating a structure of a flip chip bonder as an example of a semiconductor manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1に示すフリップチップボンダにおけるチッ
プマウント動作の一例を示す動作概略図である。
FIG. 2 is an operation schematic diagram showing an example of a chip mounting operation in the flip chip bonder shown in FIG.

【図3】(a),(b)は図1に示すフリップチップボン
ダにおけるマウント処理部の構造の一例を示す図であ
り、(a)はマウントツールとマウントステージの断面
図、(b)は(a)のA矢視図である。
3A and 3B are diagrams showing an example of the structure of a mount processing unit in the flip chip bonder shown in FIG. 1, wherein FIG. 3A is a cross-sectional view of a mount tool and a mount stage, and FIG. It is the A arrow view of (a).

【図4】図1に示すフリップチップボンダを用いて製造
された半導体装置の一例であるCSPの構造を示す断面
図である。
4 is a cross-sectional view showing a structure of a CSP as an example of a semiconductor device manufactured using the flip chip bonder shown in FIG.

【図5】本発明の実施の形態の半導体装置であるCSP
の製造方法の組み立て手順の一例を示す製造プロセスフ
ロー図である。
FIG. 5 is a CSP as a semiconductor device according to the embodiment of the present invention;
FIG. 7 is a manufacturing process flow chart showing an example of an assembling procedure of the manufacturing method of FIG.

【図6】図1に示すフリップチップボンダにおけるマウ
ントツールとマウントステージの平行度の調整方法の原
理の一例を示す断面図である。
FIG. 6 is a cross-sectional view showing an example of the principle of a method of adjusting the parallelism between the mount tool and the mount stage in the flip chip bonder shown in FIG.

【図7】図1に示すフリップチップボンダにおけるマウ
ントツールとマウントステージの平行度の調整方法の原
理の一例を示す断面図である。
FIG. 7 is a cross-sectional view showing an example of the principle of a method of adjusting the parallelism between the mount tool and the mount stage in the flip chip bonder shown in FIG.

【図8】図1に示すフリップチップボンダにおけるマウ
ントツールとマウントステージの平行度の調整方法の原
理の一例を示す断面図である。
FIG. 8 is a cross-sectional view showing an example of the principle of a method of adjusting the parallelism between the mount tool and the mount stage in the flip chip bonder shown in FIG.

【図9】(a),(b)は本発明の実施の形態のフリップ
チップボンダにおけるマウントツール、ツールブロック
およびガイドブロックの変形例の構造を示す図であり、
(a)は側面図、(b)は(a)のB矢視図である。
FIGS. 9A and 9B are diagrams showing the structure of a modification of the mount tool, the tool block, and the guide block in the flip chip bonder according to the embodiment of the present invention;
(A) is a side view, (b) is a view on arrow B of (a).

【図10】(a),(b)は本発明の実施の形態のフリッ
プチップボンダにおけるマウントツール、ツールブロッ
クおよびガイドブロックの変形例の構造を示す図であ
り、(a)は側面図、(b)は(a)のC矢視図であ
る。
FIGS. 10A and 10B are diagrams showing the structure of a modified example of a mount tool, a tool block, and a guide block in the flip chip bonder according to the embodiment of the present invention; FIG. (b) is a view on arrow C of (a).

【図11】本発明の実施の形態のフリップチップボンダ
におけるマウントツール、ツールブロックおよびガイド
ブロックの変形例の構造を示す断面図である。
FIG. 11 is a cross-sectional view illustrating a structure of a modified example of a mount tool, a tool block, and a guide block in the flip chip bonder according to the embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 半導体チップ 1a 主面 1b パッド 1c 裏面 2 バンプ電極 3 エラストマ 4 配線基板(チップ支持部材) 4a 配線 4b 開口部 4c リード 5 封止部 6 CSP(半導体装置) 7 半導体ウェハ 8 ウェハリフタ 9 搬送部 10 XYテーブル 11 ウェハセット部 11a ウェハ支持台 11b フリップヘッド 11c ピックアップコレット 12 マウント処理部 12a マウントヘッド 12b マウントステージ(ステージ) 12c マウントツール 12d 加圧面 12e 載置面 12f ツールブロック 12g ガイドブロック 12h 固定部材 12i 内側球面部 12j 外側球面部 12k 球面部 12l ベースブロック 12m ネジ 12n ピストン部 12p 空洞部 12q エアー供給部 12r エアー 12s コレット 12t 固定用球面部 12u 回転防止ガイド 12v 回転防止凸部 13 制御部 14 X軸ツールブロック 14a X軸用溝部 14b X軸用凸部 15 Y軸ツールブロック 15a Y軸用溝部 15b Y軸用凸部 16 コイルモータ 16a 電磁石 17 ローダ 18 アンローダ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Semiconductor chip 1a Main surface 1b Pad 1c Back surface 2 Bump electrode 3 Elastomer 4 Wiring board (chip supporting member) 4a Wiring 4b Opening 4c Lead 5 Sealing part 6 CSP (semiconductor device) 7 Semiconductor wafer 8 Wafer lifter 9 Transport part 10XY Table 11 Wafer setting unit 11a Wafer support 11b Flip head 11c Pickup collet 12 Mount processing unit 12a Mount head 12b Mount stage (stage) 12c Mount tool 12d Pressing surface 12e Mounting surface 12f Tool block 12g Guide block 12h Fixing member 12i Inner spherical surface Part 12j Outer spherical part 12k Spherical part 12l Base block 12m Screw 12n Piston part 12p Hollow part 12q Air supply part 12r Air 12s Collet 12t Fixing ball Surface 12u Rotation prevention guide 12v Rotation prevention protrusion 13 Control unit 14 X-axis tool block 14a X-axis groove 14b X-axis protrusion 15 Y-axis tool block 15a Y-axis groove 15b Y-axis protrusion 16 Coil motor 16a Electromagnet 17 Loader 18 Unloader

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 黒田 明 東京都青梅市藤橋3丁目3番地2 日立東 京エレクトロニクス株式会社内 (72)発明者 須田 富司 東京都青梅市藤橋3丁目3番地2 日立東 京エレクトロニクス株式会社内 (72)発明者 小野 樹生 東京都青梅市藤橋3丁目3番地2 日立東 京エレクトロニクス株式会社内 Fターム(参考) 5F044 PP16 5F047 FA07 FA12  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Akira Kuroda 3-3-2 Fujibashi, Ome-shi, Tokyo Within Hitachi Tokyo Electronics Co., Ltd. (72) Inventor Tomoji Suda 3-2-2 Fujibashi, Ome-shi, Tokyo Hitachi East Inside Kyoto Electronics Co., Ltd. (72) Inventor Shiki Ono 3-3-2 Fujibashi, Ome-shi, Tokyo Hitachi Tokyo Electronics Co., Ltd. F-term (reference) 5F044 PP16 5F047 FA07 FA12

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 マウントツールが設けられたツールブロ
ックの前記マウントツールの加圧面と、ステージの載置
面とを対向して配置する工程と、 前記マウントツールの前記加圧面と前記ステージの前記
載置面とを接触させて前記ツールブロックを自在運動さ
せて両者の平行度を調整する工程と、 前記ツールブロックを固定部材によってガイドブロック
に固定する工程と、 前記ツールブロックの前記マウントツールの前記加圧面
によって半導体チップを支持する工程と、 前記ステージの前記載置面にチップ支持部材を配置する
工程と、 前記マウントツールと前記ステージとによって前記半導
体チップと前記チップ支持部材とを加圧して両者を接合
する工程とを有することを特徴とする半導体装置の製造
方法。
A step of arranging a pressing surface of the mounting tool of a tool block provided with a mounting tool and a mounting surface of a stage so as to face each other; Adjusting the parallelism of the tool block by bringing the tool block into free contact with a mounting surface; and fixing the tool block to a guide block by a fixing member; A step of supporting the semiconductor chip by a pressing surface; a step of arranging a chip supporting member on the mounting surface described above of the stage; Bonding the semiconductor device.
【請求項2】 マウントツールが設けられたツールブロ
ックの前記マウントツールの加圧面と、ステージの載置
面とを対向して配置する工程と、 前記マウントツールの前記加圧面が前記ステージの前記
載置面に倣うように前記ツールブロックを自在運動させ
て両者を接触させて前記マウントツールの前記加圧面と
前記ステージの前記載置面との平行度を調整する工程
と、 前記ツールブロックを固定部材の固定用球面部によって
前記ガイドブロックに押し当てて固定する工程と、 前記ツールブロックの前記マウントツールの前記加圧面
によって半導体チップを支持する工程と、 前記ステージの前記載置面にチップ支持部材を配置する
工程と、 前記マウントツールと前記ステージとによって前記半導
体チップと前記チップ支持部材とを加圧して両者を接合
する工程とを有することを特徴とする半導体装置の製造
方法。
2. The step of arranging a pressing surface of the mounting tool of a tool block provided with a mounting tool and a mounting surface of a stage so as to face each other, wherein the pressing surface of the mounting tool is in front of the stage. Adjusting the parallelism between the pressing surface of the mount tool and the mounting surface of the stage by moving the tool block freely so as to follow the mounting surface, and bringing the two into contact with each other; and fixing the tool block to a fixing member. Fixing the semiconductor chip by pressing the guide block against the guide block by the fixing spherical portion, supporting the semiconductor chip by the pressing surface of the mount tool of the tool block, and mounting a chip support member on the mounting surface of the stage. Disposing, pressing the semiconductor chip and the chip supporting member by the mount tool and the stage The method of manufacturing a semiconductor device characterized by a step of bonding the user.
【請求項3】 半導体チップを支持可能な加圧面が設け
られたマウントツールを備え、自在運動可能なツールブ
ロックと、 前記ツールブロックと接触する球面部を備えたガイドブ
ロックと、 前記ツールブロックを前記ガイドブロックに押し当てて
固定する固定部材と、 前記半導体チップと接合可能なチップ支持部材を支持す
る載置面を備え、前記チップ支持部材を前記載置面に前
記半導体チップと対向して配置可能なように設けられた
移動自在なステージと、 前記マウントツールと前記ステージとにより前記半導体
チップと前記チップ支持部材とを加圧して両者の接合が
行われるマウント処理部とを有し、 前記固定部材によって前記ツールブロックを前記ガイド
ブロックに固定する際に、前記マウントツールの前記加
圧面と前記ステージの前記載置面とを接触させて前記ツ
ールブロックを自在運動させて両者の平行度を調整して
固定することを特徴とする半導体製造装置。
3. A tool block having a mounting tool provided with a pressing surface capable of supporting a semiconductor chip, a tool block capable of freely moving, a guide block having a spherical portion in contact with the tool block, and A fixing member that is pressed against and fixed to the guide block; and a mounting surface that supports a chip supporting member that can be joined to the semiconductor chip, wherein the chip supporting member can be disposed on the mounting surface in opposition to the semiconductor chip. A movable stage provided as described above, and a mount processing unit that presses the semiconductor chip and the chip support member by the mount tool and the stage to join the chip and the chip support member. When fixing the tool block to the guide block by the above, the pressing surface of the mounting tool and the stage Contacting the mounting surface is free movement of the tool block to a semiconductor manufacturing apparatus characterized by fixing by adjusting the parallelism of the two.
【請求項4】 内側球面部および外側球面部が形成さ
れ、半導体チップを支持可能な加圧面が設けられたマウ
ントツールを備え、自在運動可能なツールブロックと、 前記ツールブロックの前記外側球面部と接触する球面部
を備えたガイドブロックと、 前記ツールブロックの前記内側球面部と接触する固定用
球面部を備え、前記固定用球面部によって前記ツールブ
ロックを前記ガイドブロックに押し当てて固定する固定
部材と、 前記半導体チップと接合可能なチップ支持部材を支持す
る載置面を備え、前記チップ支持部材を前記載置面に前
記半導体チップと対向して配置可能なように設けられた
移動自在なステージと、 前記マウントツールと前記ステージとにより前記半導体
チップと前記チップ支持部材とを加圧して両者の接合が
行われるマウント処理部とを有し、 前記固定部材によって前記ツールブロックを前記ガイド
ブロックに固定する際に、前記マウントツールの前記加
圧面が前記ステージの前記載置面に倣うように前記ツー
ルブロックを自在運動させて両者を接触させて両者の平
行度を調整して固定することを特徴とする半導体製造装
置。
4. A tool block having an inner spherical portion and an outer spherical portion formed thereon, a mounting tool provided with a pressing surface capable of supporting a semiconductor chip, and a freely movable tool block; and the outer spherical portion of the tool block. A guide block having a spherical portion that comes into contact with the guide block; a fixing member that has a fixing spherical portion that comes into contact with the inner spherical portion of the tool block, and pressing the tool block against the guide block by the fixing spherical portion to fix the tool block. A movable stage provided with a mounting surface for supporting a chip supporting member that can be joined to the semiconductor chip, and provided such that the chip supporting member can be arranged on the mounting surface so as to face the semiconductor chip. A semiconductor device that presses the semiconductor chip and the chip support member by the mount tool and the stage to join the two. When the tool block is fixed to the guide block by the fixing member, the tool block is freely moved so that the pressing surface of the mount tool follows the mounting surface of the stage. A semiconductor manufacturing apparatus wherein the two are brought into contact with each other to adjust and fix the degree of parallelism between the two.
【請求項5】 半導体チップを支持可能な加圧面が設け
られたマウントツールを備え、自在運動可能なツールブ
ロックと、 前記ツールブロックと接触する球面部を備えたガイドブ
ロックと、 前記ガイドブロックに往復運動自在に支持され、エアー
圧によって前記ツールブロックを前記ガイドブロックに
押し当てて固定する固定部材と、 前記半導体チップと接合可能なチップ支持部材を支持す
る載置面を備え、前記チップ支持部材を前記載置面に前
記半導体チップと対向して配置可能なように設けられた
移動自在なステージと、 前記マウントツールと前記ステージとにより前記半導体
チップと前記チップ支持部材とを加圧して両者の接合が
行われるマウント処理部とを有し、 前記固定部材によって前記ツールブロックを前記ガイド
ブロックに固定する際に、前記マウントツールの前記加
圧面が前記ステージの前記載置面に倣うように前記ツー
ルブロックを自在運動させて両者の平行度を調整して固
定することを特徴とする半導体製造装置。
5. A tool block having a mounting tool provided with a pressing surface capable of supporting a semiconductor chip, a tool block capable of freely moving, a guide block having a spherical portion in contact with the tool block, and reciprocating on the guide block. A fixing member that is movably supported and presses and fixes the tool block against the guide block by air pressure; and a mounting surface that supports a chip supporting member that can be joined to the semiconductor chip. A movable stage provided on the mounting surface so as to be able to face the semiconductor chip, and a bonding between the semiconductor chip and the chip supporting member by pressing the semiconductor chip and the chip supporting member by the mount tool and the stage; And a mounting processing unit where the tool block is fixed to the guide block by the fixing member. Wherein the tool block is freely moved so that the pressing surface of the mount tool follows the mounting surface of the stage, and the parallelism between the two is adjusted and fixed. .
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011151173A (en) * 2010-01-21 2011-08-04 Fujitsu Ltd Component mounter and method for mounting component

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