JP2001008100A - 赤外線撮像装置及び素子欠陥補償方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 複数素子構成の赤外線検知器を有する赤外線
撮像装置及び欠陥素子補償方法に関し、素子のリニアリ
ティ特性についても判定する。 【解決手段】 赤外線の走査を行う光学系１，２と、複
数素子構成の赤外線検知器３と、常温の基準熱源１０
と、高温の基準熱源１１と、無効走査期間に於ける常温
の基準熱源１０による常温データと高温の基準熱源１１
による高温データとを基に、赤外線検知器３の各素子の
感度補正、Ｓ／Ｎ判定やＤＣオフセット判定による素子
判定、欠陥素子の置換処理を行う信号処理回路６とを含
み、信号処理回路６は、更に、電源立上げ時／置換指令
時に、基準熱源１０，１１の温度を変更して、全素子平
均値に対する各素子の差分を求め、この差分が閾値を超
えている素子を欠陥素子と判定するリニアリティ判定を
行う処理機能を備えている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、赤外線撮像装置及
びこの赤外線撮像装置に於ける素子欠陥補償方法に関す
る。赤外線撮像装置は、赤外線の検知素子を用いて、光
学的に、又は機械的に、又は電気的に目標物方向を走査
し、目標物から放射される赤外線を検出し、その検出信
号を処理して赤外線画像を表示するものであり、監視カ
メラ，暗視装置，サーモグラフィ，リモートセンシン
グ，車両や航空機等に搭載する先方監視装置等の広範囲
の分野で利用されている。

【０００２】又赤外線の検出波長域により、例えば、３
〜５μｍ帯と８〜１０μｍ帯とに区分されている場合が
一般的であり、赤外線検出素子は、３〜５μｍ帯では、
ＰｔＳｉ，ＩｎＳｎ，ＨｇＣｄＴｅ等の材料による構成
が適用され、又８〜１０μｍ帯では、ＨｇＣｄＴｅによ
る構成が適用されている。又赤外線検知器は、素子構成
として、単一素子，一次元配列素子，二次元配列素子の
何れかの構成があり、一次元配列及び二次元配列の構成
の場合、各素子の感度特性が完全に均一でないことか
ら、ばらつきを補正する必要がある。又感度補正をかけ
ても均一にならない素子が存在する場合、隣接する正常
な画素と置き換える必要がある。本発明は、このような
欠陥素子の置き換えを行う赤外線撮像装置及び素子欠陥
補償方法に関する。

【０００３】

【従来の技術】図４８は従来例の赤外線撮像装置の説明
図であり、４０１，４０２は光学系、４０３は赤外線の
検知素子を例えば一次元配列とした赤外線検知器、４０
４は増幅器、４０５はＡＤ変換器（Ａ／Ｄ）、４０６は
感度補正等を行う信号処理回路、４０７はＤＡ変換器
（Ｄ／Ａ）、４０８はブラウン管や液晶表示パネル等に
よるモニタ、４１０，４１１は基準熱源を示す。

【０００４】基準熱源４１０，４１１はそれぞれ異なる
基準温度に設定した熱源であり、目標物が放射する赤外
線を走査検出する有効走査期間以外の期間、即ち、無効
走査期間に於いて、光学系４０２を介して基準熱源４１
０，４１１からの赤外線を赤外線検知器４０３に入射
し、各検知素子の感度補正を信号処理回路４０６に於い
て行い、目標物の赤外線画像をモニタ４０８に表示する
ものである。

【０００５】図４９は光学系の説明図であり、図４８の
光学系４０１，４０２の概要を示すもので、同一符号は
同一部分を示す。図４９に於いて、４１２，４１３は光
学系４０１を構成するレンズ、４１４，４１５は光学系
４０２を構成するレンズ、４１６，４１８はレンズによ
る集光部、４１７，４１９は反射鏡を示す。

【０００６】レンズ４１４，４１５による光学系４０２
の後段に、一次元配列構成の赤外線検知器４０３を配置
し、この赤外線検知器４０３を構成する検知素子の一次
元配列方向と直交する方向に光学系４０２によって走査
し、目標物を二次元走査するものである。光学系４０２
の走査は、モニタ４０８に於ける表示の走査に対応して
行う場合が一般的であるが、例えば、インタレース走査
を行い、２フィールドで１フレームを構成する場合の第
１フィールドは奇数番目のラインの走査を行い、第２フ
ィールドは偶数番目のラインの走査を行い、このインタ
レース走査による赤外線検出出力信号を用い、特定の目
標物の検出の為やモニタ４０８表示用に走査変換を信号
処理回路４０６に於いて行うことになる。

【０００７】又赤外線検知器４０３を一次元配列又は二
次元配列の多素子構成とした場合、隣接素子による検出
信号の相関が大きいことを利用して、感度特性が基準か
ら大きくずれているような欠陥素子に対しては、隣接素
子を代替えとする制御を行う手段が知られている。即
ち、感度特性等が基準から大きくずれている欠陥素子の
検出信号の代わりに、隣接する正常素子の検出信号を用
いるように切替制御する。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】従来の赤外線検知器４
０３を構成する各素子に対する判定は、Ｓ／ＮとＤＣオ
フセットとの何れか一方又は両方で行う場合が一般的で
ある。そして、それらの値が基準値から外れている場合
に、その素子は欠陥素子は判定し、この欠陥素子の検出
出力信号を用いないで、隣接する正常素子の検出出力信
号を用いる素子置換処理が行われる。

【０００９】又赤外線検知器４０３の各素子について、
基準値の範囲内の場合に、感度のばらつきについては、
各素子の検出信号について補正処理を行うものである。
しかし、実際には、検出信号レベルと温度との関係は曲
線となる場合が一般的であり、更に、この特性は素子間
でばらつきがある。従って、感度補正のみでは、正確な
赤外線画像を得ることが容易でなかった。本発明は、赤
外線検知器の各素子の特性を補正すると共に、リニアリ
ティ特性を含めて基準値を外れた素子の置換の処理を行
って、正確な赤外線画像を得ることを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明の赤外線撮像装置
は、（１）複数の素子により構成された赤外線検知器３
と、高温の基準熱源１１と常温の基準熱源１０と、高温
と常温との基準熱源の温度を制御する基準熱源制御回路
１２と、有効走査期間に目標物方向の赤外線を走査して
赤外線検知器３に入射し、無効走査期間に、高温と常温
との基準熱源１１，１０からの赤外線を走査して赤外線
検知器３に入射する光学系１，２と、無効走査期間に取
込んだ高温の基準熱源１１による高温データと、常温の
基準熱源１０による常温データとを基に、素子対応の感
度補正を行い、且つ赤外線検知器を構成する各素子の欠
陥を判定し、欠陥素子による信号を正常素子による信号
に置換する処理を行う信号処理回路６とを備えた赤外線
撮像装置であって、基準熱源制御回路１２は、電源立上
げ時／置換指令時に、高温と常温との基準熱源１１，１
０の温度を所定フィールド数毎に２段階に切替え、通常
動作時は所定の一定温度に制御する構成を有し、信号処
理回路６は、無効走査期間に取込んだ高温データと常温
データとを基に、感度補正係数算出と、感度補正と、Ｓ
／Ｎ判定、ＤＣオフセット判定又はリニアリティ判定の
少なくとも何れか一方の判定による素子判定と、欠陥素
子の素子判定結果による置換アドレス生成・更新と、各
判定による欠陥素子に対する置換処理を行う処理機能を
有するものである。

【００１１】又（２）基準熱源制御回路１２は、電源立
上げ時／置換指令時の最初は、常温の基準熱源１０の温
度をシーンの平均温度のＡ〔°Ｃ〕に、又高温の基準熱
源の温度をＡ＋α〔°Ｃ〕に制御し、所定フィールド後
に、常温の基準熱源１０の温度をＡ＋ΔＴ₁ 〔°Ｃ〕
に、又高温の基準熱源１１の温度をＡ＋α＋ΔＴ₂ 〔°
Ｃ〕に制御し、通常動作時に、常温と高温との基準熱源
１０，１１の温度を最初の状態に制御する構成を備え、
又信号処理回路６は、電源立上げ時／置換指令時と通常
動作時とに於ける常温と高温との基準熱源１０，１１の
温度に対応して、無効走査期間に取込んだ常温データと
高温データとを基に、Ｓ／Ｎ判定と、ＤＣオフセット判
定と、全素子平均値に対する各素子の差によるリニアリ
ティ判定との組合せを切替えて素子判定を行い、各判定
による欠陥素子に対する置換アドレス生成・更新を行う
処理機能を備えている。

【００１２】又（３）欠陥素子補償方法は、複数の素子
により構成された赤外線検知器３と、高温の基準熱源１
１と、常温の基準熱源１０と、有効走査期間に目標物方
向の赤外線を走査して赤外線検知器３に入射し、無効走
査期間に高温と常温との基準熱源１１，１０からの赤外
線を走査して赤外線検知器３に入射する光学系１，２
と、信号処理回路６とを有し、赤外線検知器３の出力の
高温の基準熱源１１による高温データと、常温の基準熱
源１０による常温データとを基に、赤外線検知器３の各
素子を判定し、欠陥素子の信号を正常素子の信号に置換
する欠陥素子補償方法であって、電源立上げ時／置換指
令時に、常温の基準熱源１０の温度をＡ〔°Ｃ〕に、又
高温の基準熱源１１の温度をＡ＋α〔°Ｃ〕に制御し
て、無効走査期間に常温データと高温データとを取込
み、Ｓ／Ｎ判定又はＤＣオフセット判定の何れか一方又
は両方により欠陥素子か否かの素子判定後に、感度補正
係数算出を行い、次に、常温の基準熱源１０の温度をＡ
±ΔＴ₁ 〔°Ｃ〕に、又高温の基準熱源１１の温度をＡ
＋α±ΔＴ₂ 〔°Ｃ〕に制御して、無効走査期間に常温
データと高温データとを取込み、全素子についての平均
値に対する各素子毎の差を第１のリニアリティ判定とし
て、閾値と比較し、該閾値を超える素子を欠陥素子と判
定し、次の通常動作時に、常温の基準熱源１０の温度を
Ａ〔°Ｃ〕に、又高温の基準熱源１１の温度をＡ＋α
〔°Ｃ〕に制御して、無効走査期間に常温データと高温
データとを取込み、Ｓ／Ｎ判定又はＤＣオフセット判定
又はリニアリティ判定との少なくとも何れか一つの判定
によって欠陥素子か否かの素子判定を行い、各判定によ
る判定結果の論理和を基に欠陥素子の置換処理を行う過
程を含むものである。

【００１３】又（４）複数の素子により構成された赤外
線検知器３と、高温の基準熱源１１と、常温の基準熱源
１０と、有効走査期間に目標物方向の赤外線を走査して
赤外線検知器３に入射し、無効走査期間に高温と常温と
の基準熱源１１，１０からの赤外線を走査して赤外線検
知器３に入射する光学系１，２と、信号処理回路６とを
有し、高温の基準熱源１１による高温データと常温の基
準熱源１０による常温データとを基に、赤外線検知器３
の各素子を判定し、欠陥素子の信号を正常素子の信号に
置換する欠陥素子補償方法であって、電源立上げ時／置
換指令時に、常温の基準熱源１０の温度をＡ〔°Ｃ〕
に、又高温の基準熱源１１の温度をＡ＋α〔°Ｃ〕に制
御して、無効走査期間に常温データと高温データとを取
込んで第１の感度補正係数を算出し、次に常温の基準熱
源１０の温度をＡ＋ΔＴ₁ 〔°Ｃ〕に、又高温の基準熱
源１１の温度をＡ＋α＋ΔＴ₂ 〔°Ｃ〕に制御して、無
効走査期間に常温データと高温データとを取込んで第２
の感度補正係数を算出し、第１と第２との感度補正係数
の素子対応の差を第２のリニアリティ判定として閾値と
比較し、閾値を超える素子を欠陥素子と判定し、通常動
作時に、常温の基準熱源１０の温度をＡ〔°Ｃ〕に、又
高温の基準熱源１１の温度をＡ＋α〔°Ｃ〕に制御し
て、無効走査期間に常温データと高温データとを取込
み、Ｓ／Ｎ判定又はＤＣオフセット判定又はリニアリテ
ィ判定との少なくとも何れか一つの判定によって欠陥素
子か否かの素子判定を行い、各判定による判定結果の論
理和を基に欠陥素子の置換処理を行う過程を含むもので
ある。

【００１４】

【発明の実施の形態】図１は本発明の実施の形態の説明
図であり、１，２は光学系、３は赤外線検知器、４は増
幅器、５はＡＤ変換器（Ａ／Ｄ）、６は信号処理回路、
７は走査変換回路、８はＤＡ変換器（Ｄ／Ａ）、１０，
１１は基準熱源、１２は基準熱源制御回路、１３は制御
回路、２１，２２はディジタル・シグナル・プロセッサ
（ＤＳＰ１，ＤＳＰ２）、２３〜２６はランダムアクセ
スメモリ（ＲＡＭ１〜ＲＡＭ４）、２７，２８はリード
オンリメモリ（ＲＯＭ１，ＲＯＭ２）を示す。以下２
１，２２はＤＳＰ、２３〜２８はメモリと略称する。

【００１５】目標物方向からの赤外線を入射する光学系
１，２と、赤外線検知器３と、検出出力信号を増幅する
増幅器４と、ＡＤ変換器５と、無効走査期間に赤外線検
知器３に基準温度の赤外線を入射させる為の基準熱源１
０，１１と、モニタ（図示を省略）にアナログ映像信号
として入力する為のＤＡ変換器７とについては、従来例
と同様の構成とすることができる。

【００１６】又光学系２による走査に従って、常温の基
準熱源１０と高温の基準熱源１１とからの赤外線を赤外
線検知器３に入射させる為のそれぞれの走査先頭タイミ
ングでトリガ信号１，２を制御回路１３に入力し、又有
効走査期間の走査先頭タイミングでトリガ信号３を制御
回路１３に入力し、制御回路１３はトリガ信号１，２，
３を基に信号処理回路２１に各種の演算処理の開始やモ
ード切替えを指示するものである。この制御回路１３
は、前述のトリガ信号１，２，３と、運用中に欠陥素子
の置換を行わせる為の置換指令が入力され、シーケンス
コントローラとして動作して、タイミング信号を信号処
理回路６に入力する機能を備えている。

【００１７】又光学系２の走査効率を例えば８０％と
し、１フィールド１／６０ｓとすると、有効走査期間
は、（１／６０）×０．８＝１３．３３〔ｍｓ〕、無効
走査期間は、（１／６０）×０．２＝３．３３〔ｍｓ〕
となる。この無効走査期間に於いて、常温と高温との基
準熱源１０，１１からの赤外線を赤外線検知器３に入射
させ、有効走査期間に於いて、光学系１を介した目標物
方向からの赤外線を光学系２による走査に従って赤外線
検知器３に入射させる。

【００１８】又信号処理回路６は、ＤＳＰ２１，２２
と、メモリ２３〜２８とを含み、ＤＳＰ２１は、データ
取込み、素子判定、置換アドレス生成及び更新、感度補
正係数算出、感度補正等の処理を行い、ＤＳＰ２２は、
感度補正を行う場合の構成を示す。又メモリ（ＲＡＭ
１）２３は、感度補正係数及び素子判定データの格納用
であり、メモリ（ＲＡＭ２）２４は感度補正係数格納
用、メモリ（ＲＡＭ３）２５及びメモリ（ＲＡＭ４）２
６は置換アドレス格納用である。又メモリ（ＲＯＭ１）
２７及びメモリ（ＲＯＭ２）２８は、それぞれＤＳＰ２
１，ＤＳＰ２２のファーム格納用である。

【００１９】又走査変換回路７は、信号処理回路６に於
いて補正処理された赤外線検知器３の検出出力信号を、
モニタに表示する為の例えばＮＴＳＣ方式に従った走査
方式に変換し、又メモリ２５，２６に格納された置換ア
ドレスに従って欠陥素子の置換処理、即ち、欠陥素子の
検出信号を正常素子の検出信号に置換えて出力するもの
である。

【００２０】又基準熱源制御回路１２は、基準熱源１
０，１１の温度を、ＡＤ変換器５によりディジタル信号
に変換された赤外線検知器３からのデータを基に、一定
に制御するものであり、更に、電源立上げ時／置換指令
時に、シーン（赤外線画像）の温度の平均値をＡ°Ｃと
すると、例えば、温度１として、基準熱源１０の温度を
Ａ〔°Ｃ〕、基準熱源１１の温度をＡ＋α〔°Ｃ〕と
し、温度２として、基準熱源１０の温度をＡ±ΔＴ
₁ 〔°Ｃ〕、基準熱源１１の温度をＡ＋α±ΔＴ₂ に制
御する。例えば、α＝１０、ΔＴ₁ ＝−１０、ΔＴ₂ ＝
＋２０とすることができる。このような切替えのタイミ
ングは、制御回路１３から指示される。

【００２１】又赤外線撮像装置の電源を投入して動作を
開始させる電源立上げ時又は欠陥素子の置換の指令が制
御回路１３に入力された時の電源立上げ時／置換指令時
のモードと、赤外線画像を撮像処理する通常動作時のモ
ードとに切替え、電源立上げ時／置換指令時のモードで
は、赤外線画像処理を中止し、素子の良否の判定等を行
い、又通常動作時のモードでは、素子の良否の判定，欠
陥素子の置換処理，感度補正処理等と共に、赤外線画像
処理を行うものである。

【００２２】図２及び図３は電源立上げ時／置換指令時
の機能説明図であり、赤外線検知器３が１８０素子によ
る一次元配列の場合の信号処理回路６の機能を示す。な
お、素子判定として、電源立上げ時／置換指令時及び通
常動作時に、リニアリティ（１）を用いた場合（第１の
リニアリティ判定）の第１の実施の形態について説明す
る。

【００２３】即ち、電源立上げ時／置換指令時のモード
に於いて、常温の基準熱源１０の温度をシーンの平均値
Ａとし、高温の基準熱源１１の温度をＡ＋α＝Ｂ〔°
Ｃ〕として、無効走査期間に取込んだ基準熱源１０によ
る常温データと基準熱源１１による高温データとを基
に、従来例と同様にＳ／Ｎ，ＤＣオフセット判定により
素子判定を行い、欠陥素子については置換アドレスの生
成，更新を行い、再度、常温データと高温データとの取
込みを行い、感度補正係数を算出後、基準熱源１０の温
度をＡ±ΔＴ₁ ＝Ｃ〔°Ｃ〕に、基準熱源１１の温度を
Ｂ±ΔＴ₂ ＝Ｄ〔°Ｃ〕にそれぞれ変更し、感度補正を
行ってデータ取込みを行い、全素子の平均値を算出し、
素子毎に全素子平均値との差分を求める第１のリニアリ
ティ判定を行い、この差分が閾値を超える大きさの場合
に欠陥素子と判定して、置換アドレスの生成，更新を行
う。そして、基準熱源１０の温度をＡ〔°Ｃ〕、基準熱
源１１の温度をＢ〔°Ｃ〕に変更し、通常動作時のモー
ドに移行して、赤外線画像処理を行うと共に、Ｓ／Ｎ，
ＤＣオフセット，リニアリティ判定の何れ一つ或いは複
数の判定処理によって、置換アドレスの生成，更新を行
い、フィールド間隔のリアルタイムで欠陥素子の置換え
を行うものである。

【００２４】図２に於いて、３０は取込み（高温）部、
３１，３５は加算器、３２，３５，３７はメモリ（ＲＡ
Ｍ１）、３２，３６は除算器、４０は取込み（常温）・
感度補正係数算出部４１，４５は加算器、４２，４４，
４７はメモリ（ＲＡＭ１）、４３，４６は除算器を示
し、それぞれ赤外線検知器３の第１素子対応の機能を示
し、第２素子〜第１８０素子対応に同様の機能を有する
ものである。

【００２５】又図３に於いて、５０は高温リニアリティ
判定部、５１，５４は加算器、５２は除算器、５３はＢ
レジスタ、５５は絶対値算出回路、５６，５８はメモリ
（ＲＡＭ１）、５７は比較器、６０は常温リニアリティ
判定部、６１，６４は加算器、６２は除算器、６３はＢ
レジスタ、６５は絶対値算出回路、６６，６８はメモリ
（ＲＡＭ１）、７０はリニアリティ（１）判定部、７１
はオア回路（ＯＲ）、７２はメモリ（ＲＡＭ１）、８０
は置換アドレス生成・更新部、８１は置換アドレス生成
部、８２，８３はメモリ（ＲＡＭ３，ＲＡＭ４）、８
４，８５は切替部を示す。

【００２６】取込み（常温）・感度補正係数算出部４０
は、無効走査期間に、常温の基準熱源１０からの赤外線
を検出してＡＤ変換した常温データを取込み、又取込み
（高温）部３０は、無効走査期間に、高温の基準熱源１
１からの赤外線を検出してＡＤ変換した高温データを取
り込むもので、例えば、３２ライン分について１６フィ
ールドにわたって取り込む。例えは、赤外線検知器を１
８０素子の一元配列構成とすると、１８０×３２×１６
＝９２１６０のデータを取込むことになる。

【００２７】そして、加算器３１，４１とメモリ３２，
４２とを用いて、それぞれ１〜１６フィールド毎に、３
２ライン分についての累算値を求め、除算器３３，４３
により１／３２してライン平均値を算出し、メモリ３
４，４４に格納し、加算器３５，４５により１６フィー
ルド分の平均値を加算し、除算器３６，４６により１／
１６の除算を行ってフィールド平均値、即ち、高温平均
値と常温平均値とを算出し、メモリ３７，４７にその高
温平均値と常温平均値とを格納する。なお、赤外線検知
器３を構成する第１素子〜第１８０素子対応に、メモリ
３７には高温平均値、メモリ４７には常温平均値をそれ
ぞれ格納する。

【００２８】高温リニアリティ判定部５０は、メモリ３
７の第１素子〜第１８０素子対応の高温平均値を加算器
５１により加算し、除算器５２により１／１８０の除算
を行って第１素子〜第１８０素子の高温平均値をＢレジ
スタ５３に格納し、この全素子についての高温平均値
と、各素子対応のメモリ３７に格納された高温平均値と
の差分を加算器５４に於いて求め、絶対値算出回路５５
で正負の差分値の絶対値を求めてメモリ５６に高温リニ
ア値として格納する。比較器５７は、この高温リニア値
と閾値とを比較し、閾値を超える素子は欠陥素子
（“１”）と判定し、閾値以内の場合は正常素子
（“０”）と判定してメモリ５８に格納する。

【００２９】又常温リニアリティ判定部６０は、高温リ
ニアリティ判定部５０と同様に、加算器５１と除算器６
２とにより全素子についての常温平均値を求めてＢレジ
スタ６３に格納し、この全素子平均値と各素子の平均値
との差分を求め、その絶対値について比較器６７に於い
て閾値と比較し、その閾値を超える素子は欠陥素子
（“１”）と判定し、又閾値以内の場合は正常
（“０”）と判定してメモリ６８に格納する。

【００３０】リニアリティ（１）判定部７０は、メモリ
５８，６８の格納された判定値をオア回路７１を介して
メモリ７２に素子対応の判定値として格納する。即ち、
高温リニアリティ判定と常温リニアリティ判定との何れ
か一方又は両方で欠陥素子（“１”）と判定した素子
は、欠陥素子として、メモリ７２に格納される。即ち、
決定結果の論理和をメモリ７２に格納することになる。
従って、赤外線検知器３の各素子のリニアリティ特性が
平均から大きくずれている場合、欠陥素子と判定して正
常素子による置換が行われる。

【００３１】又置換アドレス生成・更新部８０は、置換
アドレス生成部８１に於いてメモリ７２に格納された素
子判定値（正常＝“０”，欠陥＝“１”）を基に、正常
素子は置換無し、欠陥素子は例えば隣接した次の素子に
置換える。例えば、第１素子が欠陥素子の場合、この第
１素子の検出信号を、この第１素子に隣接した正常な第
２素子の検出信号に置換える。従って、第２素子による
１画素対応の検出信号は２画素対応の検出信号として処
理される。この置換を示すアドレスを生成して、メモリ
８２，８３の何れかに格納する。このメモリ（ＲＡＭ
３，ＲＡＭ４）８２，８３は二面構成の場合を示し、例
えば、フィールド毎に、一方を更新している時に、他方
から読出しを行う制御を行うことになる。

【００３２】通常動作は、有効走査期間の赤外線検知器
３の検出出力信号について、１フィールド間隔でリアル
タイムに感度補正，置換アドレス生成・更新を行うもの
である。図３，図４及び図５は通常動作時の機能説明図
であり、基準熱源１０，１１を、例えば、前述の温度１
に固定する。図４は、取込み（高温）部３０と高温リニ
アリティ判定部５０との機能を示し、図２及び図３と同
一符号は同一部分を示す。取込み（高温）部３０は、無
効走査期間に於ける３２ライン分について１６フィール
ドにわたって、第１素子〜第１８０素子の全素子につい
ての高温平均値を求め、高温リニアリティ判定部５０
は、この高温平均値と各素子対応の高温平均値との差分
が閾値を超えるか否かを比較器５７により判定し、閾値
を超えた素子は、欠陥素子（“１”）と判定してメモリ
（ＲＡＭ１）５８に格納する。

【００３３】又図５は、取込み（常温）・感度補正係数
算出部４０と常温リニアリティ判定部６０との機能を示
し、図２及び図３と同一符号は同一部分を示す。取込み
（常温）・感度補正係数算出部４０は、無効走査期間に
於ける３２ライン分について１６フィールドにわたっ
て、赤外線検知器の第１素子〜第１８０素子の全素子に
ついての常温平均値を求め、常温リニアリティ判定部６
０は、この常温平均値と各素子対応の常温平均値との差
分が閾値を超えているか否かを比較器６７により判定
し、閾値を超えた素子は、欠陥素子（“１”）と判定し
てメモリ（ＲＡＭ１）６８に格納する。

【００３４】又図６は、リニアリティ判定部７０と、置
換アドレス生成・更新部８０と、感度補正部９０と、感
度補正係数算出部１００との機能を示し、リニアリティ
判定部７０は、高温リニアリティ判定部５０からの素子
判定値と、常温リニアリティ判定部６０からの素子判定
値とをオア回路７１を介してメモリ７２に素子判定値と
して格納する。

【００３５】置換アドレス生成・更新部８０は、置換ア
ドレス生成部８１と、メモリ８２，８３，８６，８７
と、切替部８４，８５と、オア回路８８（ＯＲ）とを含
み、電源立上げ時に求めた素子判定値をメモリ８６に格
納する。又メモリ８７は、メモリ８６に格納された素子
判定値と、リニアリティ判定部７０のメモリ７２に格納
された素子判定値との論理和の素子判定値を格納する。
即ち、電源立上げ時に求めた素子判定値に、通常動作時
に得られた素子判定値を加えることになり、置換アドレ
ス生成部８１は、メモリ８７に格納された欠陥素子
（“１”）を示す素子判定値に従って置換アドレスを生
成し、フィールド毎に切替部８４，８５の切替制御を行
って、メモリ８２，８３の何れかに格納する。

【００３６】感度補正部９０は、加算器９１と、乗算器
９２とを含み、又感度補正係数算出部１００は、加算器
１０１と除算器１０２とメモリ（ＲＡＭ１）１０３とを
含む機能を有し、メモリ３７（図４参照）からの高温平
均値と、メモリ４７（図５参照）からの常温平均値との
差を加算器１０１により求め、除算器１０２により逆数
を求め、感度補正係数としてメモリ１０３に格納する。

【００３７】感度補正部９０は、加算器９１に於いて、
有効走査期間に得られた画像データから常温平均値を減
算し、乗算器９２に於いて、メモリ１０３からの感度補
正係数を乗算し、走査変換回路７に画像データとして入
力し、置換アドレス生成・更新部８０からの置換アドレ
スに従って、欠陥素子をそれに隣接する正常な素子に置
換えた状態の画像データとし、ＤＡ変換器８によりアナ
ログ信号に変換してモニタ９に加えて赤外線画像を表示
させる。従って、温度分布等を正確に表す赤外線画像を
表示できる。前述の図２〜図６に示す機能は、電源立上
げ時／置換指令時と通常動作時とに於いて、第１のリニ
アリティ判定により欠陥素子か否かを判定し、欠陥素子
の置換処理を行う場合を示す。

【００３８】図７及び図８は動作シーケンス説明図であ
り、電源立上げ時又は置換指令時のフィールドと、光学
系動作と、動作シーケンスと、ＤＳＰ１，ＤＳＰ２（図
１に於けるＤＳＰ２１，２２）の動作とを示す。フィー
ルドＮに於ける光学系動作の走査期間中の無効期間（以
下、無効走査期間及び有効走査期間を、簡略化して無効
期間及び有効期間と表現する）では、ＤＳＰ１によりデ
ータを取込み、前述のように、常温の基準熱源１０は、
シーンの平均値をＡとして、Ｌ＝Ａ〔°Ｃ〕に設定し、
高温の基準熱源１１は、α＝１０として、Ｈ＝Ａ＋１０
〔°Ｃ〕に設定する。この場合の取込みデータ数は、各
フィールドに於いて、高温データ及び常温データは、１
８０（素子）×３２（ライン）＝５７６０となる。

【００３９】そして、フィールドＮ＋１５に於いて、１
６フィールド間で取り込んだ高温データと低温データと
について、全素子に対する平均値を求めて、この平均値
との差分により素子判定，置換アドレス生成更新，欠陥
素子の置換を行う。次のフィールドＮ＋１６〜Ｎ＋３１
に於いては、フィールドＮ〜Ｎ＋１５と同様に、高温デ
ータ及び常温データを取込み、平均値を求めることによ
り、各素子対応の感度補正係数を算出する。そして、熱
源温度変更を行う。例えば、高温の基準熱源１１は、Δ
Ｔ₂ ＝＋２０として、Ｈ＝Ａ＋２０〔°Ｃ〕、常温の基
準熱源１０は、ΔＴ₁ ＝−１０として、Ｌ＝Ａ−１０
〔°Ｃ〕に設定する。この熱源温度変更に要するフィー
ルドをａとする。

【００４０】従って、次のフィールドＮ＋３２＋ａ〜Ｎ
＋４８＋ａに於いて、ＤＳＰ２により感度補正処理を行
い、又ＤＳＰ１により感度補正されたデータを基に、リ
ニアリティ特性による素子判定、欠陥素子についての置
換アドレスの生成，更新を行い、次に熱源温度変更を行
う。即ち、最初のように、常温の基準熱源１０は、シー
ンの平均値をＡとして、Ｌ＝Ａ〔°Ｃ〕に設定し、高温
の基準熱源１１は、Ｈ＝Ａ＋１０〔°Ｃ〕に設定する。
そして、撮像画像信号を処理する通常動作に移行する。

【００４１】図９は通常動作に移行した後の動作シーケ
ンスを示し、フィールドＮ〜Ｎ＋３の場合のみを示す
が、それ以降のフィールドに於いても同様な動作を行う
ものである。又フィールドＮ＋２，Ｎ＋３について、前
のフィールドＮ，Ｎ＋１と同一の処理内容の説明の図示
を省略している。通常動作時は、有効期間に於いて画像
データを処理すると共に、無効期間に於いて高温データ
と常温データとをＤＳＰ１により取込み、リニアリティ
特性（第１のリニアリティ判定）による素子判定，置換
アドレス生成更新，感度補正係数算出，感度補正処理を
行う。感度補正処理はＤＳＰ２が担当する。

【００４２】前述のように、Ａ〔°Ｃ〕とした常温の基
準熱源１０とＡ＋１０〔°Ｃ〕とした高温の基準熱源１
１とに対応する常温データと高温データとを取込んで、
Ｓ／ＮとＤＣオフセットとの判定により、素子の正常／
欠陥の判定を行い、次に、常温データと高温データとを
取込んで、感度補正係数を算出し、その後、基準熱源１
０の温度をＡ−１０〔°Ｃ〕、基準熱源１１の温度をＡ
＋２０〔°Ｃ〕に変更し、感度補正を行ったデータにつ
いて、全素子の平均値を算出し、素子毎に全素子平均値
との差を求め、予め設定した閾値と比較して、閾値を超
える値の素子をリニアリティ判定による欠陥素子とし、
Ｓ／Ｎ，ＤＣオフセットの判定に於ける欠陥素子との論
理和による欠陥素子について置換処理を行うものであ
る。

【００４３】図１０，図１１はＤＳＰの動作フローチャ
ートを示し、図７，図８に於けるフィールドＮ〜Ｎ＋４
８＋ａについて、図１に示すＤＳＰ（ＤＳＰ１）２１
と、ＤＳＰ（ＤＳＰ２）２２との動作を示す。即ち、Ｄ
ＳＰ１，ＤＳＰ２の初期値設定を行い、ＤＳＰ１は無効
期間に於ける高温データと低温データとのデータ取込み
を行い、フィールドＮ＋１５では、フィールドＮ〜Ｎ＋
１５間に於いて取得したデータを基に、従来例と同様な
Ｓ／Ｎ，ＤＣオフセットについての素子判定を行い、欠
陥素子についての置換アドレスを生成し、メモリ（ＲＡ
Ｍ３）２５に格納する。

【００４４】次のフィールドＮ＋１６〜Ｎ＋３１間に取
得したデータを基に、フィールドＮ＋３１に於いて感度
補正係数を算出する。そして、熱源温度変更を行う。即
ち、基準熱源１０をＡ〔°Ｃ〕からＣ〔°Ｃ〕に変更
し、基準熱源１１をＢ〔°Ｃ〕からＤ〔°Ｃ〕に変更す
る。この基準熱源の温度変更に要するフィールドをａと
する。

【００４５】そして、フィールドＮ＋３２＋ａでは、Ｄ
ＳＰ２は、フィールドＮ＋３２＋ａ〜Ｎ＋３７＋ａに於
いて、それぞれ前のフィールドＮ＋３１に於いて算出さ
れた感度補正係数を用いて感度補正処理を行う。又ＤＳ
Ｐ１は、フィールドＮ＋３２＋ａ〜Ｎ＋４８＋ａに於い
て取込んだ高温データと常温データとを基にリニアリテ
ィ判定を行い、欠陥素子についての置換アドレスを生成
し、メモリ（ＲＡＭ３）２５に格納する。そして、熱源
温度変更を行う。この熱源温度変更は、常温の基準熱源
１０と高温の基準熱源１１との温度を、それぞれ最初の
Ａ〔°Ｃ〕とＢ〔°Ｃ〕とに戻すものである。

【００４６】図１２，図１３はＤＳＰの動作フローチャ
ートであり、フィールドＮ，Ｎ＋１，Ｎ＋２に於けるＤ
ＳＰ１，ＤＳＰ２の詳細な処理を示す。即ち、初期値設
定後、フィールドＮに於いては、ＤＳＰ２は、前フィー
ルドＮ−１に於いて算出された感度補正係数を用いて感
度補正処理を行い、ＤＳＰ１は、無効期間に高温データ
と常温データとのデータ取込みを行い、有効期間に、こ
のフィールドＮに於いて取得した３２ライン分のデータ
と、過去の１６フィールドに於ける３２ライン分のデー
タとを用いて、感度補正係数を算出し、素子判定を行
い、欠陥素子に対する置換アドレスを生成する。

【００４７】次のフィールドＮ＋１，Ｎ＋２に於いて
も、無効期間に於いて、ＤＳＰ１は、高温データと常温
データとの取込みを行い、有効期間に於いて、ＤＳＰ１
は、感度補正係数算出と、素子判定と、置換アドレス生
成・更新を行う。又ＤＳＰ２は、前のフィールドＮ，Ｎ
＋２に於いて算出された感度補正係数を用いて感度補正
処理を行う。

【００４８】図１４はデータ取込みのフローチャートで
あり、赤外線検知器を１８０素子の一次元配列構成とし
た場合について示し、基準熱源１１による高温データと
基準熱源１０による常温データとの取込み時のＤＳＰ１
の処理フローを示す。又赤外線画像の１画面は、例え
ば、図１５に示すように、１８０×４８０（画素）構成
となる。即ち、１８０素子の一次元配列構成の赤外線検
知器を矢印の走査方向に走査して、４８０ラインで１画
面を構成した場合を示す。

【００４９】又図１６はＲＡＭ１（図１のメモリ２３）
の説明図であり、赤外線検知器３の１８０素子対応に１
７ビット構成のデータを格納する領域〜と、１６フ
ィールド分の高温データを格納する領域Ｈ１〜Ｈ１６
と、１６フィールド分の常温データを格納する領域Ｌ１
〜Ｌ１６とを形成した場合を示し、それぞれ図示のデー
タが格納されることになる。

【００５０】又ＤＳＰ１，ＤＳＰ２は、演算回路とＡ，
Ｂ，Ｃ，Ｄレジスタ等の複数のレジスタとを含む構成を
有するもので、ＤＳＰ１は、図１４に示すように、バス
ラインからＡレジスタに高温データを書込み、このＡレ
ジスタからメモリ２３（ＲＡＭ１）に転送して格納す
る。これを１８０素子について１ライン分行う。この場
合、ＤＳＰの１サイクルを４０ｎｓとすると、この処理
時間は、４０（ｎｓ）×１８０（素子）×２（サイク
ル）＝１４４００（ｎｓ）となる。

【００５１】又バスラインからＡレジスタに高温データ
を書込み、メモリ２３（ＲＡＭ１）からＢレジスタに書
込み、ＡレジスタのデータとＢレジスタのデータとを加
算してＡレジスタに格納する。これを３１ライン分につ
いて行う。従って、処理時間は、４０（ｎｓ）×１８０
（素子）×３１（ライン）×４（サイクル）＝８９２８
００（ｎｓ）となる。次にＡレジスタのデータを１／３
２の除算を行ってＡレジスタへ格納し、Ａレジスタから
メモリ２３（ＲＡＭ１）のフィールド対応の領域Ｈ１〜
Ｈ１６に格納する。この場合、１４．４μｓとなる。従
って、高温データのライン平均値算出処理時間は、９２
１．６μｓとなる。

【００５２】同様に、常温データについても、バスライ
ンからＡレジスタに常温データを書込み、このＡレジス
タからメモリ２３（ＲＡＭ１）に転送して格納する。な
お、（ＡレジスタからＲＡＭ１（領域（ＬＢ１〜ＬＢ３
２））への格納）は、後述の実施の形態に於いて通常動
作時のみ行う処理ステップを示す。これを１８０素子に
ついて１ライン分行い、又バスラインからＡレジスタに
高温データを書込み、メモリ２３（ＲＡＭ１）からＢレ
ジスタに書込む。この場合も、（ＡレジスタからＲＡＭ
１（領域（ＬＢ１〜ＬＢ３２））への格納）は、後述の
実施の形態に於いて通常動作時のみ行う処理ステップを
示す。

【００５３】そして、ＡレジスタのデータとＢレジスタ
のデータとを加算してＡレジスタに書込み、これを３１
ライン分について行う。次にＡレジスタのデータを１／
３２の除算を行ってＡレジスタへ格納し、除算結果の常
温平均値をＡレジスタからメモリ２３（ＲＡＭ１）のフ
ィールド対応の領域Ｌ１〜Ｌ１６に格納する。

【００５４】図１７は感度補正係数算出のフローチャー
トであり、ＲＡＭ１の領域Ｈ１〜Ｈ１６から高温データ
の平均値をＡレジスタに書込み、このＡレジスタからＲ
ＡＭ１の領域（図１６参照）へ格納する。そして、Ｒ
ＡＭ１の領域Ｈ１〜Ｈ１６から高温データの平均値を読
出してＡレジスタに書込み、又ＲＡＭ１の領域Ｌ１〜Ｌ
１６から常温データの平均値を読出してＢレジスタに書
込み、ＡレジスタのデータとＢレジスタのデータとを加
算してＡレジスタに書込み、このＡレジスタからＲＡＭ
１の領域へ加算結果を格納する。これを１５フィール
ドにわたって行い、次にＡレジスタのデータを１／１６
の除算を行ってＡレジスタに格納し、ＡレジスタからＲ
ＡＭ１の領域へ除算結果を格納する。それにより、高
温データのフィールド平均値が得られる。

【００５５】又常温データについても同様に処理して、
常温データのフィールド平均値を求め、ＲＡＭ１の領域
へ格納する。そして、ＲＡＭ１の領域から高温デー
タのフィールド平均値をＡレジスタへ、ＲＡＭ１の領域
から常温データのフィールド平均値をＢレジスタへそ
れぞれ書込み、ＡレジスタとＢレジスタとのデータの差
分の逆数を求めてＡレジスタに書込み、このＡレジスタ
からＲＡＭ１の領域へ算出結果を感度補正係数として
格納する。

【００５６】図１８は感度補正処理のフローチャートで
あり、ＲＡＭ１の領域に格納された感度補正係数をＡ
レジスタへ書込み、このＡレジスタからＲＡＭ２（図１
のメモリ２４参照）の領域へ感度補正係数値として書
込む。このＲＡＭ２は、例えば、１８０素子対応の１６
ビット構成の領域，を有するものである。そして、
ＲＡＭ１の領域からＡレジスタへフィールド平均値を
書込み、このＡレジスタからＲＡＭ１の領域へオフセ
ット補正係数値として書込む。

【００５７】次に、バスラインからＡレジスタに画像デ
ータを書込み、ＲＡＭ１の領域からＢレジスタへ感度
補正係数値として書込み、ＲＡＭ１の領域からＣレジ
スタへオフセット補正係数値として書込み、Ａレジスタ
のデータとＣレジスタのデータとの差分にＢレジスタの
データを乗算してＡレジスタに格納し、Ａレジスタから
感度補正したデータをバスラインに送出する。この感度
補正に要する時間は、例えば、１０．４０ｍｓとなる。

【００５８】図１９，図２０，図２１は素子判定のフロ
ーチャートであり、ＲＡＭ１の領域Ｈ１〜Ｈ１６から高
温データをＡレジスタへ書込み、ＡレジスタからＲＡＭ
１の領域へ格納し、次に、１５フィールド分につい
て、ＲＡＭ１の領域Ｈ１〜Ｈ１６から高温データをＡレ
ジスタに書込み、ＲＡＭ１の領域からＢレジスタへ平
均値を書込み、ＡレジスタのデータとＢレジスタのデー
タとを加算してＡレジスタに書込み、ＡレジスタからＲ
ＡＭ１の領域へ加算結果を格納する。

【００５９】又１５フィールドについての加算結果のＡ
レジスタのデータを１／１６の除算を行ってＡレジスタ
に格納し、このＡレジスタからＲＡＭ１の領域へ除算
結果を格納する。即ち、高温データのフィールド平均値
を求める。

【００６０】又ＲＡＭ１の領域Ｌ１〜Ｌ１６から常温デ
ータをＡレジスタへ書込み、前述の高温データの場合と
同様に、除算結果の常温データのフィールド平均値をＡ
レジスタからＲＡＭ１の領域に格納する。

【００６１】そして、Ｂレジスタの内容を０とし（図２
０参照）、ＲＡＭ１の領域から高温データのフィール
ド平均値をＡレジスタに書込み、Ａレジスタのデータと
Ｂレジスタのデータとを加算してＡレジスタに格納す
る。これを１８０素子について行い、Ｂレジスタの加算
結果を１／１８０として、高温データの全素子平均値を
Ｂレジスタに格納する。

【００６２】次に、ＲＡＭ１の領域から高温データの
フィールド平均値をＡレジスタに書込み、Ａレジスタの
データとＢレジスタのデータとの差分をＡレジスタに書
込み、Ａレジスタのデータの絶対値を求めてＡレジスタ
に格納し、このＡレジスタからＲＡＭ１の領域へ格納
する。即ち、素子対応の平均値に対する差分をＲＡＭ１
の領域に格納する。

【００６３】このＲＡＭ１の領域から差分値をＡレジ
スタへ書込み、判定値（閾値）と比較し、判定値を差分
値が超えてない場合は、正常素子と判定して、Ａレジス
タに“０”を書込み、又判定値を差分値が超えて大きい
場合、欠陥素子（異常素子）と判定して、Ａレジスタに
“１”を書込む。そして、ＡレジスタからＲＡＭ１の領
域に判定結果を書込む。即ち、１８０素子対応にそれ
ぞれ判定結果をＲＡＭ１に書込むことになる。

【００６４】又Ｂレジスタの内容を０とし、ＲＡＭ１の
領域から高温データのフィールド平均値をＡレジスタ
に書込み、ＡレジスタのデータとＢレジスタのデータと
の加算結果をＢレジスタに格納し、このＢレジスタの１
８０素子についての加算結果に対して１／１８０の除算
を行い、除算結果をＢレジスタに格納する。又ＲＡＭ１
の領域からＡレジスタにデータを書込み、Ａレジスタ
のデータとＢレジスタのデータとの差分をＡレジスタに
格納し、Ａレジスタのデータの絶対値を求めてＡレジス
タに格納し、このＡレジスタからＲＡＭ１の領域へ格
納する。従って、領域には１８０素子についての高温
データの差分の絶対値が格納される。

【００６５】又ＲＡＭ１の領域からＡレジスタへ差分
の絶対値を書込み、判定値（閾値）とＡレジスタのデー
タとを比較し、差分の絶対値が判定値を超えて大きい場
合、欠陥素子（異常素子）と判定して、Ａレジスタに
“１”を書込み、又それ以外は正常素子と判定して、Ａ
レジスタに“０”を書込む。そして、ＡレジスタからＲ
ＡＭ１の領域に判定結果を書込む。従って、１８０素
子対応に高温データについての判定結果が領域に書込
まれる。

【００６６】又ＲＡＭ１の領域から常温データのフィ
ールド平均値をＡレジスタに書込み、Ｂレジスタを用い
て１８０素子についての加算を行い、加算結果のＢレジ
スタの内容を１／１８０にしてＢレジスタに格納し、Ｒ
ＡＭ１の領域から常温データのフィールド平均値をＡ
レジスタに書込み、ＡレジスタのデータとＢレジスタの
データとの差分を求め、その差分の絶対値をＡレジスタ
に格納し、このＡレジスタからＲＡＭ１の領域へ、１
８０素子についての常温データの差分の絶対値を格納す
る。

【００６７】このＲＡＭ１の領域からＡレジスタへ絶
対値を書込み、判定値（閾値）と比較して素子判定を行
う。前述のように、判定値を超えている場合は欠陥素子
（異常素子）として“１”、又超えていない場合は正常
素子として“０”を、それぞれＡレジスタを介してＲＡ
Ｍ１の領域に格納する。

【００６８】そして、ＲＡＭ１の領域からＡレジスタ
に高温データのリニアリティ判定結果と、ＲＡＭ１の領
域からＡレジスタに常温データのリニアリティ判定結
果との論理和を、ＡレジスタからＲＡＭ１の領域にリ
ニアリティ（１）の判定結果（第１のリニアリティ判
定）として格納する。

【００６９】図２２は置換アドレス生成・更新のフロー
チャートであり、電源立上げ時／置換指令時に於ける動
作を示し、Ｄレジスタ及びＡレジスタをそれぞれ０と
し、次にＡレジスタが１８０素子に対応した値１８０で
あるか否かを判定し、１８０でない場合は、ＲＡＭ１の
領域からＢレジスタへリニアリティ判定データを書込
み、“１”か否かを判定し、“１”の場合、欠陥素子を
示すから、Ａレジスタが０か否かを判定し、０の場合は
Ｃレジスタを１とし、Ｄレジスタが偶数か否かを判定
し、偶数の場合、ＣレジスタからＲＡＭ３（図１のメモ
リ２５）の領域へ正常，欠陥の判定結果を書込み、Ａ
レジスタの内容を＋１する。

【００７０】又Ｂレジスタが“１”でない場合、正常素
子であるから、Ａレジスタの内容をＣレジスタに書込
む。又Ａレジスタが０でない場合、Ａレジスタの内容を
−１してＣレジスタに書込む。そして、前述のＤレジス
タが偶数か否かを判定する。Ｄレジスタが偶数の場合、
ＣレジスタからＲＡＭ４（図１のメモリ２６）の領域
へ正常，欠陥の判定結果を書込み、Ａレジスタの内容を
＋１する。これを１８０素子について行うことにより、
Ａレジスタの内容が１８０となる。そして、Ｄレジスタ
の内容を＋１する。このＤレジスタの内容が偶数か否か
を判定した時、奇数であると、ＲＡＭ３からＲＡＭ４に
切替えて、ＣレジスタからこのＲＡＭ４の領域にデー
タを書込むことになる。

【００７１】図２３は置換アドレス生成・更新のフロー
チャートであり、通常動作に於ける場合を示し、１８０
素子分について順次ＲＡＭ１からＡレジスタにデータを
書込み、ＲＡＭ１の領域からＢレジスタにリニアリテ
ィ判定結果を書込み、ＡレジスタとＢレジスタとの論理
和をＡレジスタに書込む。そして、ＤレジスタとＡレジ
スタとを０とし、Ａレジスタの内容か１８０か否かを判
定する。このステップ以降は図２２の対応するステップ
と同一であり、重複する説明は省略する。

【００７２】図２４は電源立上げ時／置換指令時のタイ
ムチャートであり、走査系の同期信号によるトリガ信号
１〜３と、ＤＳＰ動作と、ＤＳＰインストラクションと
を示す。トリガ信号１〜３は、前述のように、光学系の
走査に同期した信号であり、無効走査期間の走査先頭タ
イミング（高温データ取込み先頭タイミング）と、常温
データ取込み先頭タイミングと、有効走査期間の走査先
頭タイミングとを示すものである。そして、１／６０の
周期の各フィールドの無効走査期間を３．３３ｍｓ、有
効走査期間を１３．３３ｍｓとすると、トリガ信号１の
立上りにより、無効走査期間の半分の１．６５ｍｓのＤ
ＳＰインストラクションＩＮＳＴ１に従って、ＤＳＰは
３２ラインについての高温データの取込みが開始され
る。

【００７３】又無効走査期間の中間のトリガ信号２の立
上りにより、ＤＳＰインストラクションＩＮＳＴ２に従
って、ＤＳＰは３２ラインについての常温データを取込
む。この場合、高温データの取込みに９２１．６μｓ、
常温データの取込みに１．１５２０ｍｓを要する場合を
示す。そして、フィールドＮ〜Ｎ＋１５にわたる高温デ
ータと常温データとの取込みにより、フィールドＮ＋１
５のトリガ信号３の立上りによる有効走査期間に於い
て、ＤＳＰインストラクションＩＮＳＴ８に従って、Ｓ
／Ｎ判定とＤＣオフセット判定とによる素子判定を行
い、それによる置換アドレス生成・更新を行うものであ
る。この場合、素子判定に５．９１ｍｓ、置換アドレス
生成・更新に１６６μｓを要する場合を示す。

【００７４】又同様な動作を繰り返すことにより、図示
を省略しているが、次のフィールドＮ＋１６からフィー
ルドＮ＋３１に於いても同様な処理により、高温データ
と常温データとを取込み、フィールドＮ＋３１の有効走
査期間に於いて感度補正係数計算を行う。そして、基準
熱源の温度を変更し、その時のフィールド数をａとし
て、フィールドＮ＋３２＋ａ〜Ｎ＋４８＋ａに於いて高
温データと常温データとを取込み、フィールドＮ＋４８
＋ａの有効走査期間に於いてリニアリティ判定による素
子判定を行い、置換アドレス生成・更新を行い、次に基
準熱源の温度を最初の状態に戻して通常動作に移行す
る。

【００７５】図２５は通常動作時のタイムチャートであ
り、トリガ信号１〜３と、ＤＳＰ１動作とＤＳＰ１イン
ストラクションと、ＤＳＰ２動作とＤＳＰ２インストラ
クションとを示す。無効走査期間に於いては、ＤＳＰ１
インストラクションＩＮＳＴ１，ＩＮＳＴ２に従って、
基準熱源の温度を一定として、高温データと常温データ
とを取込み、有効走査期間に於いては、ＤＳＰ１インス
トラクションＩＮＳＴ７に従って、感度補正係数計算と
素子判定と置換アドレス生成・更新のＤＳＰ１動作とな
る。又ＤＳＰ２インストラクションにより感度補正のＤ
ＳＰ２動作となる。

【００７６】この場合の感度補正係数計算に２．３９ｍ
ｓ、素子判定に７．０９ｍｓ、置換アドレス生成・更新
に１９５μｓを有する場合を示す。又ＤＳＰ２は、無効
走査期間では動作しないが、有効走査期間では、ＤＳＰ
２インストラクションＩＮＳＴ４に従って感度補正処理
を行う。この場合、例えば、９０素子、４８０ラインに
ついての場合、１０．４０ｍｓを要することになる。

【００７７】図２６は図１に於けるメモリ２４〜２６
（ＲＡＭ２〜ＲＡＭ４）の説明図であり、ＲＡＭ２は前
述のように領域，を有し、１６ビット構成のデータ
を格納する１８０素子に対応するアドレス０〜１８０の
領域にオフセット補正係数、アドレス１８１〜３６０
の領域に感度補正係数が格納される。又ＲＡＭ３，Ｒ
ＡＭ４はそれぞれ１６ビット構成の置換アドレスデータ
を格納するアドレス０〜１８０の領域をそれぞれ有す
るものである。

【００７８】又前述の第１の実施の形態は、電源立上げ
時／置換指令時及び通常動作時に、リニアリティ（１）
（第１のリニアリティ判定）による素子判定を用いた場
合を示すが、第２の実施の形態として、電源立上げ時／
置換指令時は、リニアリティ（１）による素子判定を行
い、通常動作時は、このリニアリティ（１）による素子
判定と、Ｓ／Ｎによる素子判定と、ＤＣオフセットによ
る素子判定との判定結果の論理和による素子判定結果を
用いることできる。この場合、電源立上げ時／置換指令
時の動作は、前述の第１の実施の形態の場合と同様であ
るから、重複した説明は省略する。

【００７９】図２７，図２８，図２９は第２の実施の形
態に於ける通常動作時の機能説明図であり、通常動作時
に、感度補正とＳ／Ｎにる素子判定及び置換を行う場合
の機能を示すのであって、図２７に於いて、１８０は取
込み（高温）部、１１０は感度補正係数算出部、１８
１，１８５，１１１は加算器、１８２，１８４，１８
７，１１３はメモリ（ＲＡＭ１）、１８３，１８６は除
算器、１１２は逆数部を示す。

【００８０】又図２８に於いて、１２０は取込み（常
温）・感度補正係数算出部、１３０は雑音値算出判定
部、１２１，１２５，１３５は加算器、１２２，１２
４，１２７，１３１，１３３，１３６，１３８はメモリ
（ＲＡＭ１）、１２３，１２６は除算器、１３２，１２
４，１３７は比較器を示す。

【００８１】又図２９に於いて、１４０は差信号判定
部、１５０は素子判定部、１６０は置換アドレス生成・
更新部、１７０は感度補正部、１４１，１４３，１５
２，１６２，１６３はメモリ（ＲＡＭ１）、１４２は比
較器、１５１，１６１はオア回路（ＯＲ）、１６４は置
換アドレス生成部、１６５，１６６はメモリ（ＲＡＭ
３，ＲＡＭ４）、１６７，１６８は切替部、１７１は加
算器、１７２は乗算器、７は走査変換回路、８はＤＡ変
換器（Ｄ／Ａ）、９はモニタを示す。

【００８２】図２７の取込み（高温）部１８０及び感度
補正係数算出部１１０は、図４に於ける取込み（高温）
部３０及び図６に於ける感度補正係数算出部１００と同
一の機能を有し、又図２８の取込み（常温）・感度補正
係数算出部１２０は、図５に於ける取込み（常温）・感
度補正整数算出部４０と同一の機能を有し、又図２９の
置換アドレス生成・更新部１６０及び感度補正部１７０
は、図６に於ける置換アドレス生成・更新部８０及び感
度補正部９０と同一の機能を有するもので、重複した説
明は省略する。

【００８３】又図３０，図３１はＳ／Ｎによる素子判定
時のＲＡＭ１の説明図であり、１７×１６３８０の領域
を用いた場合を示し、右側のそれぞれのデータが格納さ
れる。又図３２はＤＣオフセットによる素子判定時のＲ
ＡＭ１の説明図であり、１７×７２００の領域を用いた
場合を示し、右側のそれぞれのデータが格納される。又
ＲＡＭ１についてはそれぞれの処理過程で同一又は異な
る領域が使用される。又ＲＡＭ３，ＲＡＭ４について
は、図２６に示す前述の実施の形態の場合と同様の構成
とすることができる。

【００８４】図２８に於ける雑音値算出判定部１３０
は、メモリ１３１（図３１の領域ＬＢ１〜ＬＢ３２）に
１６フィールド対応に３２ライン分の高温データを格納
し、比較器１３２により最大値を抽出してメモリ１３３
（ＲＡＭ１の領域）にＤＣ値の最大値として格納し、
又比較器１３４により最小値を抽出してメモリ１３４
（ＲＡＭ１の領域にＤＣ値の最小値として格納する。
そして、加算器１３３に於いて、（ＤＣ値の最大値）−
（ＤＣ値の最小値）の演算により、雑音値を算出し、メ
モリ１３６（ＲＡＭ１の領域）に格納する。比較器１
３７は、雑音値と閾値とを比較し、閾値を超える雑音値
の素子は異常（欠陥）素子（“１”）とし、閾値を超え
ない雑音値の素子は正常（“０”）としてメモリ１３８
（ＲＡＭ１の領域）に格納する。

【００８５】又図２９に於ける差信号判定部１４０は、
感度補正係数算出部１１０の加算器１１１の出力の高温
平均値と常温平均値との差分をメモリ１４１に格納し、
比較器１４２により閾値と比較し、閾値を超えるものは
欠陥素子（“１”）とし、超えないのは正常素子
（“０”）としてメモリ４３に差信号による素子判定値
を格納する。素子判定部１５０は、雑音値算出判定部１
３０のメモリ１３８からの雑音による素子判定値と、差
信号判定部１４０のメモリ１４３からの差信号による素
子判定値との論理和をメモリ１５２（ＲＡＭ１の領域
）に、Ｓ／Ｎによる素子判定値として格納する。

【００８６】図３３〜図３６は素子判定のフローチャー
トであり、図３３〜図３５はＳ／Ｎによる素子判定、図
３６はＤＣオフセットによる素子判定を示す。なお、図
３３の高温のフィールド平均値算出のフローと、常温の
フィールド平均値算出のフローとは、図１７示すフロー
と同様であり、重複した説明は省略する。

【００８７】図３４に於いては、差信号算出として、高
温のフィールド平均値と常温のフィールド平均値との差
分を求め、素子判定として、差信号を判定値（閾値）と
比較する。差信号が小さいことは、高温データと常温デ
ータとの差が小さいことであるから、判定値より小さい
場合に異常素子と判定して“１”とし、判定値より大き
い場合は正常素子と判定して“０”とする。これを信号
Ｓの判定値としてＲＡＭ１に格納する。

【００８８】次に雑音値の算出を行う。即ち、ＲＡＭ１
の領域ＬＢ１（図３１参照）からＡレジスタに常温デー
タを書込み、この常温データをＲＡＭ１の領域，に
格納する。１８０素子について終了すると、次に３１ラ
イン分について、ＡレジスタとＢレジスタとＣレジスタ
とを用いて順次大小比較することにより、ＲＡＭ１の領
域にＤＣ最大値を格納し、ＲＡＭ１の領域にＤＣ最
小値を格納する。そして、図３５に示すように、最大値
と最小値との差分を雑音値として、ＡレジスタからＲＡ
Ｍ１の領域ＰＰ１〜ＰＰ１６（図３１参照）に格納す
る。即ち、１８０素子対応に１６フィールドについての
雑音値がそれぞれ格納される。

【００８９】そして、ＲＡＭ１の領域ＰＰ１からＡレジ
スタにデータを書込み、ＲＡＭ１の領域ＰＰ２〜ＰＰ１
６から順次データをＢレジスタに書込んで、Ａレジスタ
とＢレジスタとの比較を行い、Ａ＜Ｂの場合は、ＲＡＭ
１１の領域に雑音値を格納し、Ａ＜Ｂでない場合は次
のステップに移行する。

【００９０】次にＲＡＭ１の領域からＡレジスタへデ
ータを書込み、判定値（閾値）と比較する。この判定値
をＡレジスタのデータが超えている場合は異常素子とし
て“１”をＡレジスタに書込み、又超えていない場合は
正常素子として“０”をＡレジスタに書込み、このＡレ
ジスタからＲＡＭ１の領域へ、“１”，“０”の雑音
Ｎについての判定値を格納する。そして、信号Ｓの判定
値と雑音Ｎの判定値との論理和をＲＡＭ１の領域に、
Ｓ／Ｎ判定による素子判定結果として格納する。

【００９１】図３６に於いては、図３２に示すＲＡＭ１
の領域Ｌ１〜Ｌ１６と、Ａ，Ｂレジスタとを用いて、常
温データの１５フィールド分の平均値を算出し、平均値
をＲＡＭ１の領域へ格納する。次に、ｍフィールド目
に於ける平均値と、（ｍ−１）フィールド目までの平均
値との差分を求めて、その絶対値をＤＣ判定値として、
ＲＡＭ１の領域に格納し、予め設定した判定値（閾
値）と比較する。この判定値より大きい場合は、異常素
子として“１”、大きくない場合は、正常素子として
“０”を、Ａレジスタを介してＲＡＭ１の領域にＤＣ
オフセット判定値として格納する。

【００９２】前述の第１の実施の形態は、電源立上げ時
／置換指令時と通常動作時とに於いてリニアリティ
（１）（第１のリニアリティ判定）による素子判定を用
い、又第２の実施の形態は、電源立上げ時／置換指令時
にリニアリティ（１）による素子判定を行い、通常動作
時に、リニアリティ（１）による素子判定と、Ｓ／Ｎに
よる素子判定と、ＤＣオフセットによる素子判定とを行
う場合であり、第３の実施の形態として、電源立上げ時
／置換指令時には、リニアリティ（２）（第２のリニア
リティ判定）による素子判定、通常動作時にはリニアリ
ティ（１）（第１のリニアリティ判定）による素子判定
を行うものである。

【００９３】このリニアリティ（２）（第２のリニアリ
ティ判定）の素子判定は、常温の基準熱源１０の温度を
Ａ〔°Ｃ〕とし、高温の基準熱源１１の温度をＡ＋１０
〔°Ｃ〕（α＝１０）として、それぞれの基準熱源１
０，１１による常温データと高温データとを用いて感度
補正係数を算出して係数１とする。次に基準熱源１０の
温度をＡ−１０〔°Ｃ〕（ΔＴ₁ ＝−１０）とし、基準
熱源１１の温度をＡ＋２０〔°Ｃ〕（ΔＴ₂ ＝＋２０）
に変更して、それぞれの基準熱源１０，１１による常温
データと高温データとを用いて感度補正係数を算出して
係数２とする。これらの係数１，２の差分を算出し、そ
の差分と閾値とを比較し、閾値を超える素子を欠陥素子
と判定する。

【００９４】図３７，図３８は電源立上げ時／置換指令
時の機能説明図であり、図３７に於いて、２００は取込
み（高温）部、２１０は取込み（常温）部、２０１，２
０５，２１１，２１５は加算器、２０２，２０４，２０
７，２１２，２１４，２１７はメモリ（ＲＡＭ１）、２
０３，２０６，２１３，２１６は除算器を示す。

【００９５】又図３８に於いて、２２０，２３０は感度
補正係数算出部（感度）部、２４０はリニアリティ
（２）判定部、２５０は置換アドレス生成・更新部、７
は走査変換回路、８はＤＡ変換器（Ｄ／Ａ）、９はモニ
タ、２２１，２３１，２４１は加算器、２２２，２３２
は逆数部、２２３，２３３，２４２，２４４はメモリ
（ＲＡＭ１）、２４３は比較器、２５１は置換アドレス
生成部、２５２，２５３はメモリ（ＲＡＭ３，ＲＡＭ
４）、２５４，２５５は切替部である。

【００９６】取込み（高温）部２００と取込み（常温）
部２１０は、図２に於ける取込み（高温）部３０と取込
み（常温）・感度補正係数算出部４０と同様な機能を備
えており、高温平均値の算出処理及び常温平均値の算出
処理については同様な処理であるから、重複した説明は
省略する。

【００９７】又メモリ（ＲＡＭ１）は、例えば、図３９
に示すように、１７×６８４０の領域を使用し、右側に
示すようなデータを格納するものである。又図３８に於
ける感度補正係数算出（感度）部２２０は、基準熱源１
０，１１の温度を、Ａ〔°Ｃ〕とＢ〔°Ｃ〕とした場合
の常温平均値と高温平均値との差分を求め、この差分値
の逆数を逆数部２２２により求めて、感度補正係数とし
てメモリ２２３（図３９に示すＲＡＭ１の領域）に格
納する。これを係数１とする。

【００９８】又感度補正係数算出（感度）部２３０は、
基準熱源１０，１１の温度をＣ〔°Ｃ〕とＤ〔°Ｃ〕と
した場合の常温平均値と高温平均値との差分を求め、こ
の差分値の逆数を逆数部２３２により求めて、感度補正
係数としてメモリ２３３（図３９に示すＲＡＭ１の領域
）に格納する。これを係数２とする。

【００９９】リニアリティ（２）判定部２４０は、係数
１と係数２との差分を求め、係数の差としてメモリ２４
２（ＲＡＭ１の領域）に格納し、比較器２４３により
閾値と比較し、閾値を超えているものは異常素子と判定
し、閾値を超えないものは正常素子と判定し、メモリ２
４４（ＲＡＭ１の領域）に異常素子は“１”、正常素
子は“０”とした判定値を格納する。

【０１００】置換アドレス生成部２５１は、メモリ２４
４からの判定値を基に、赤外線検知器の素子の置換アド
レスを生成し、メモリ２５２，２５３に格納し、走査変
換回路７に於いて画像データに対する置換処理を行う。

【０１０１】図４０，図４１はＤＳＰの動作フローチャ
ートであり、ＤＳＰ１，ＤＳＰ２（図１参照）は初期値
設定を行い、ＤＳＰ１は無効期間に於いて高温データと
常温データとを取込み、有効期間は動作しない。フィー
ルドＮ＋１５に於いて、高温データと常温データとをそ
れぞれ３２ライン分取得し、次の有効期間に於いて感度
補正係数（１）を算出し、これを前述のように係数１と
し、次に熱源温度を変更して、同様の処理によってフィ
ールドＮ＋３１＋ａの有効期間に於いて感度補正係数
（２）を算出し、これを係数２とする。

【０１０２】次のフィールドＮ＋３２＋ａに於いて、図
４１に示すように、係数１と係数２とを用いてリニアリ
ティ（２）判定による素子判定を行い、判定結果に従っ
た置換アドレス生成・更新を行い、置換アドレスをメモ
リ２５２（ＲＡＭ３）に格納し、次フィールドに於ける
置換アドレスとして走査変換回路７に入力される。

【０１０３】図４２はリニアリティ（２）判定のフロー
チャートであり、ＲＡＭ１（図３９参照）の領域から
感度補正係数、即ち、係数１をＡレジスタに書込み、Ｒ
ＡＭ１の領域からＢレジスタへ感度補正係数、即ち係
数２をＢレジスタに書込み、Ａ，Ｂレジスタ間の差分を
求め、ＲＡＭ１の領域へ係数の差として格納する。そ
して、この領域の係数の差をＡレジスタに書込み、判
定値（閾値）と比較する。判定値（閾値）よりＡレジス
タのデータが大きい場合は、異常素子として“１”、大
きくない場合は正常素子として“０”を、Ａレジスタか
らＲＡＭ１の領域へリニアリティ（２）判定値として
格納する。

【０１０４】図４３，図４４は動作シーケンス説明図で
あり、フィールドと、光学系動作と、動作シーケンス
と、ＤＳＰ１動作と、ＤＳＰ２動作とを示し、図４３に
於けるフィールドＮ〜Ｎ＋１５では、基準熱源の温度を
Ｈ＝Ｌ＋１０〔°Ｃ〕（Ａ＝Ｌ，α＝１０）、Ｌ＝シー
ンの平均値（Ａ）として、ＤＳＰ１は無効期間に於いて
データ取込み、有効期間に於いて感度補正係数算出を行
い、熱源温度変更を行い、次に図４４に示すように、Ｈ
＝Ｌ＋２０〔°Ｃ〕（Ｌ＝Ａ，ΔＴ₂ ＝＋２０）、Ｌ＝
シーンの平均値−１０〔°Ｃ〕（ΔＴ₁ ＝−１０）とし
て、フィールドＮ＋１６＋ａ〜Ｎ＋３１＋ａに於いて同
様にデータの取込みと感度補正係数算出とを行い、フィ
ールドＮ＋３２＋ａの有効期間に於いて、リニアリティ
（２）判定による素子判定、置換アドレス生成・更新、
置換の処理を行う。

【０１０５】又通常動作時は、第１の実施の形態と同様
に、リニアリティ（１）判定により素子判定を行い、欠
陥素子についてリアルタイムで正常素子の検出信号を利
用する置換処理を行うものであり、重複する説明は省略
する。

【０１０６】又第４の実施の形態として、電源立上げ時
／置換指令時は、リニアリティ（２）判定（第２のリニ
アリティ判定）を行い、通常動作時はリニアリティ
（１）判定（第１のリニアリティ判定）とＳ／Ｎ判定と
ＤＣオフセット判定とを行う。即ち、電源立上げ時／置
換指令時には、図３７〜図４４について説明したよう
に、基準熱源の温度を変更してそれぞの感度補正係数を
求め、その感度補正係数の差分を基にリニアリティ
（２）判定を行い、通常動作時には、図１〜図２６につ
いて説明したように、リニアリティ（１）判定を行うも
のである。

【０１０７】又電源立上げ時／置換指令時は、リニアリ
ティ（２）判定を行い、通常動作時は、感度補正とＤＣ
オフセット判定とを行う実施の形態の機能を、図４５〜
図４７に示す。この図４５に於いて、３００は取込み
（高温）部、３０１，３０５は加算器、３０２，３０
４，３０７はメモリ（ＲＡＭ１）、３０３，３０６は除
算器を示す。

【０１０８】又図４６に於いて、３１０は取込み（常
温）・感度補正係数算出部、３２０はＤＣオフセット値
算出部、３１１，３１５，３２１，３２５は加算器、３
１２，３１４，３１７，３２２，３２４，３２７，３２
９はメモリ（ＲＡＭ１）、３１３，３１６，３２３は除
算器、３２６は絶対値回路、３２８は比較器を示す。

【０１０９】又図４７に於いて、３３０は感度補正係数
算出（感度）部、３４０は感度補正部、３５０は置換ア
ドレス生成・更新部、３３１，３４１は加算器、３３２
は逆数部、３３３，３５２，３５３はメモリ（ＲＡＭ
１）、３４２は乗算器、３５１はオア回路（ＯＲ）、３
５４は置換アドレス生成部、３５５，３５６はメモリ
（ＲＡＭ３，ＲＡＭ４）、３５７，３５８は切替部、７
は走査変換回路、８はＤＡ変換器（Ｄ／Ａ）、９はモニ
タを示す。

【０１１０】取込み（高温）部３００と取込み（常温）
・感度補正係数算出部３１０は、例えば、図２に於ける
取込み（高温）部３０と取込み（高温）・感度補正係数
算出部４０と同一の機能を備えており、前述のように、
メモリ３７の各素子対応の領域に高温平均値が格納さ
れ、又メモリ４７の各素子対応の領域に常温平均値が格
納されるもので、重複した説明は省略する。

【０１１１】ＤＣオフセット値算出部３２０は、メモリ
３１４に格納された１〜１５フィールドのライン常温平
均値を加算してメモリ３２２に格納し、除算器３２３に
より１／１５の乗算によりフィールド常温平均値をメモ
リ３２４に格納し、このフィールド常温平均値と、ライ
ン常温平均値との差分を加算器３２５に於いて求め、絶
対値回路３２６により差分の絶対値を求め、メモリ３２
７にＤＣオフセット値として格納し、比較器３２８に於
いて閾値と比較し、この閾値を超えたＤＣオフセット値
の素子を異常素子と判定し、判定値の“１”をメモ３２
９に格納し、又閾値を超えないＤＣオフセット値の素子
を正常素子と判定し、判定値の“０”をメモリ３２９に
格納する。

【０１１２】感度補正係数算出（感度）部３３０は、メ
モリ３０７からの高温平均値と、メモリ３１７の常温平
均値との差分の逆数を感度補正係数としてメモリ３３３
に格納し、この感度補正係数を感度補正部３４０の乗算
器３４２に入力する。この感度補正部３４０は、メモリ
３１７からの常温平均値を画像データから減算し、乗算
器３４２に於いてメモリ３３３からの感度補正係数を乗
算して、赤外線検知器の各素子の感度を補正する。

【０１１３】又置換アドレス生成・更新部３５０は、メ
モリ３２９からの素子判定値と、メモリ３５２からの電
源立上げ時に求めた素子判定値との論理和を求めて、新
たな素子判定値としてメモリ３５３に格納する。置換ア
ドレス生成部３５４は、素子判定値を基に置換アドレス
を生成し、メモリ３５５又は３５６に格納する。この置
換アドレスが走査変換回路７に入力され、素子判定値が
“１”の欠陥素子を、素子判定値が“０”の正常素子に
よって置換した状態の信号処理を行う。

【０１１４】本発明は、前述の各実施の形態にのみ限定
されるものではなく、例えば、赤外線検知器３の素子数
は１８０以外の数とすることも可能であり、又無効走査
期間に於ける常温データと高温データとの取込みのライ
ン数とフィールド数とは、走査効率やＤＳＰの演算能力
等に対応して任意に選択可能である。又第１のリニアリ
ティ判定と、第２のリニアリティ判定と、Ｓ／Ｎ判定等
の他の判定との種々の組合せを適用することも可能であ
る。又電源立上げ時には、第１のリニアリティ判定又は
第２のリニアリティ判定により欠陥素子か正常素子かの
判定を含めるものであり、従って、通常動作に移行した
場合に、少なくとも、リニアリティ特性がほぼ均一な素
子による赤外線画像を得ることができる。そして、この
通常動作を所定時間経過した時に、自動的に置換指令に
よる動作を行わせて、リニアリティ判定を行わせること
も可能である。

【０１１５】

【発明の効果】以上説明したように、本発明は、赤外線
検知器３の各素子の判定手段として、従来例のＳ／Ｎ判
定やＤＣオフセット判定に、リニアリティ判定を付加し
たものであり、このリニアリティ判定による素子判定に
よって、複数素子から構成された赤外線検知器３の各素
子の特性の均一化を保証することが可能となり、又周囲
温度の変化等による特性変化に対しても対応することが
できる。従って、モニタに表示する赤外線画像の精度を
著しく向上することができる利点がある。更に、通常動
作時に於いても、Ｓ／Ｎ判定，ＤＣオフセット判定等と
共にリニアリティ判定を含めて、リアルタイムで欠陥素
子の有無の判定と、欠陥素子の置換処理とを行うことが
可能となり、赤外線撮像装置の信頼性を向上することが
できる利点がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態の説明図である。

【図２】電源立上げ時／置換指令時の機能説明図であ
る。

【図３】電源立上げ時／置換指令時の機能説明図であ
る。

【図４】通常動作時の機能説明図である。

【図５】通常動作時の機能説明図である。

【図６】通常動作時の機能説明図である。

【図７】動作シーケンス説明図である。

【図８】動作シーケンス説明図である。

【図９】動作シーケンス説明図である。

【図１０】ＤＳＰの動作フローチャートである。

【図１１】ＤＳＰの動作フローチャートである。

【図１２】ＤＳＰの動作フローチャートである。

【図１３】ＤＳＰの動作フローチャートである。

【図１４】データ取込みのフローチャートである。

【図１５】画面構成説明図である。

【図１６】ＲＡＭ１の説明図である。

【図１７】感度補正係数算出のフローチャートである。

【図１８】感度補正処理のフローチャートである。

【図１９】素子判定のフローチャートである。

【図２０】素子判定のフローチャートである。

【図２１】素子判定のフローチャートである。

【図２２】置換アドレス生成・更新のフローチャートで
ある。

【図２３】置換アドレス生成・更新のフローチャートで
ある。

【図２４】電源立上げ時／置換指令時のタイムチャート
である。

【図２５】通常動作時のタイムチャートである。

【図２６】ＲＡＭ２〜ＲＡＭ４の説明図である。

【図２７】通常動作時の機能説明図である。

【図２８】通常動作時の機能説明図である。

【図２９】通常動作時の機能説明図である。

【図３０】Ｓ／Ｎによる素子判定時のＲＡＭ１の説明図
である。

【図３１】Ｓ／Ｎによる素子判定時のＲＡＭ１の説明図
である。

【図３２】ＤＣオフセットによる素子判定時のＲＡＭ１
の説明図である。

【図３３】素子判定のフローチャートである。

【図３４】素子判定のフローチャートである。

【図３５】素子判定のフローチャートである。

【図３６】素子判定のフローチャートである。

【図３７】電源立上げ時／置換指令時の機能説明図であ
る。

【図３８】電源立上げ時／置換指令時の機能説明図であ
る。

【図３９】ＲＡＭ１の説明図である。

【図４０】ＤＳＰの動作フローチャートである。

【図４１】ＤＳＰの動作フローチャートである。

【図４２】リニアリティ（２）判定のフローチャートで
ある。

【図４３】動作シーケンス説明図である。

【図４４】動作シーケンス説明図である。

【図４５】通常動作時の機能説明図である。

【図４６】通常動作時の機能説明図である。

【図４７】通常動作時の機能説明図である。

【図４８】従来例の赤外線撮像装置の説明図である。

【図４９】光学系の説明図である。

【符号の説明】

１，２ 光学系 ３ 赤外線検知器 ４ 増幅器 ５ ＡＤ変換器（Ａ／Ｄ） ６ 信号処理回路 ７ 走査変換回路 ８ ＤＡ変換器（Ｄ／Ａ） １０，１１ 基準熱源 １２ 基準熱源制御回路 １３ 制御回路 ２１，２２ ＤＳＰ１，ＤＳＰ２ ２３〜２６ メモリ（ＲＡＭ１〜ＲＡＭ４） ２７，２８ メモリ（ＲＯＭ１，ＲＯＭ２）

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G065 AB02 AB03 BA02 BA15 BA34 BB06 BB11 BB49 BC07 BC14 BC16 BC28 BC33 BD01 DA01 DA18 2G066 AA06 BA13 BA14 BA22 BA25 BA26 BA27 BC02 BC07 BC09 BC21 CA08 CB01 5C024 AA06 AA07 CA09 FA01 FA11 GA06 HA08 HA12 HA18

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 複数の素子により構成された赤外線検知
   器と、高温の基準熱源と常温の基準熱源と、該高温と常
   温との基準熱源の温度を制御する基準熱源制御回路と、
   有効走査期間に目標物方向の赤外線を走査して前記赤外
   線検知器に入射し、無効走査期間に前記高温と常温との
   基準熱源からの赤外線を走査して前記赤外線検知器に入
   射する光学系と、前記無効走査期間に取込んだ前記高温
   の基準熱源による高温データと前記常温の基準熱源によ
   る常温データとを基に、前記素子対応の感度補正を行
   い、且つ前記赤外線検知器を構成する各素子の欠陥を判
   定し、欠陥素子による信号を正常素子による信号に置換
   する処理を行う信号処理回路とを備えた赤外線撮像装置
   に於いて、 前記基準熱源制御回路は、電源立上げ時／置換指令時に
   前記高温と常温との基準熱源の温度を所定フィールド数
   毎に２段階に切替え、通常動作時は所定の一定温度に制
   御する構成を有し、 前記信号処理回路は、前記無効走査期間に取込んだ前記
   高温データと前記常温データとを基に、感度補正係数算
   出と、感度補正と、Ｓ／Ｎ判定、ＤＣオフセット判定又
   はリニアリティ判定の少なくとも何れか一方の判定によ
   る素子判定と、欠陥素子の素子判定結果による置換アド
   レス生成・更新と、各判定による欠陥素子に対する置換
   処理を行う処理機能を有することを特徴とする赤外線撮
   像装置。
2. 【請求項２】 前記基準熱源制御回路は、前記電源立上
   げ時／置換指令時の最初は、前記常温の基準熱源の温度
   をＡ〔°Ｃ〕に、又前記高温の基準熱源の温度をＡ＋α
   〔°Ｃ〕に制御し、所定フィールド後に、前記常温の基
   準熱源の温度をＡ＋ΔＴ₁ 〔°Ｃ〕に、又前記高温の基
   準熱源の温度をＡ＋α＋ΔＴ₂ 〔°Ｃ〕に制御し、前記
   通常動作時に、前記常温と高温との基準熱源の温度を前
   記最初の状態に制御する構成を備え、 前記信号処理回路は、前記電源立上げ時／置換指令時と
   通常動作時とに於ける前記常温と高温との基準熱源の温
   度に対応して、無効走査期間に取込んだ前記常温データ
   と高温データとを基に、Ｓ／Ｎ判定と、ＤＣオフセット
   判定と、全素子平均値に対する各素子の差によるリニア
   リティ判定との組合せを切替えて素子判定を行い、各判
   定による欠陥素子に対する置換アドレス生成・更新を行
   う処理機能を備えたことを特徴とする請求項１記載の赤
   外線撮像装置。
3. 【請求項３】 複数の素子により構成された赤外線検知
   器と、高温の基準熱源と、常温の基準熱源と、有効走査
   期間に目標物方向の赤外線を走査して前記赤外線検知器
   に入射し、無効走査期間に前記高温と常温との基準熱源
   からの赤外線を走査して前記赤外線検知器に入射する光
   学系と、信号処理回路とを有し、前記赤外線検知器の出
   力の前記高温の基準熱源による高温データと前記常温の
   基準熱源による常温データとを基に、前記赤外線検知器
   の各素子を判定し、欠陥素子の信号を正常素子の信号に
   置換する欠陥素子補償方法に於いて、 電源立上げ時／置換指令時に、前記常温の基準熱源の温
   度をＡ〔°Ｃ〕に、又前記高温の基準熱源の温度をＡ＋
   α〔°Ｃ〕に制御して、無効走査期間に常温データと高
   温データとを取込み、Ｓ／Ｎ判定又はＤＣオフセット判
   定の何れか一方又は両方により欠陥素子か否かの素子判
   定後に感度補正係数算出を行い、 前記常温の基準熱源の温度をＡ±ΔＴ₁ 〔°Ｃ〕に、又
   前記高温の基準熱源の温度をＡ＋α±ΔＴ₂ 〔°Ｃ〕に
   制御して、無効走査期間に常温データと高温データとを
   取込み、全素子についての平均値に対する各素子毎の差
   を第１のリニアリティ判定として、閾値と比較し、該閾
   値を超える素子を欠陥素子と判定し、 通常動作時に、前記常温の基準熱源の温度をＡ〔°Ｃ〕
   に、又前記高温の基準熱源の温度をＡ＋α〔°Ｃ〕に制
   御して、感度補正後、無効走査期間に常温データと高温
   データとを取込み、Ｓ／Ｎ判定又はＤＣオフセット判定
   又は前記リニアリティ判定との少なくとも何れか一つの
   判定によって欠陥素子か否かの素子判定を行い、 各判定による判定結果の論理和を基に欠陥素子の置換処
   理を行う過程を含むことを特徴とする欠陥素子補償方
   法。
4. 【請求項４】 複数の素子により構成された赤外線検知
   器と、高温の基準熱源と、常温の基準熱源と、有効走査
   期間に目標物方向の赤外線を走査して前記赤外線検知器
   に入射し、無効走査期間に前記高温と常温との基準熱源
   からの赤外線を走査して前記赤外線検知器に入射する光
   学系と、信号処理回路とを有し、前記高温の基準熱源に
   よる高温データと前記常温の基準熱源による常温データ
   とを基に、前記赤外線検知器の各素子を判定し、欠陥素
   子の信号を正常素子の信号に置換する欠陥素子補償方法
   に於いて、 電源立上げ時／置換指令時に、前記常温の基準熱源の温
   度をＡ〔°Ｃ〕に、又前記高温の基準熱源の温度をＡ＋
   α〔°Ｃ〕に制御して、無効走査期間に常温データと高
   温データとを取込んで第１の感度補正係数を算出し、 次に前記常温の基準熱源の温度をＡ＋ΔＴ₁ 〔°Ｃ〕
   に、又前記高温の基準熱源の温度をＡ＋α＋ΔＴ₂ 〔°
   Ｃ〕に制御して、無効走査期間に常温データと高温デー
   タとを取込んで第２の感度補正係数を算出し、 前記第１と第２との感度補正係数の素子対応の差を第２
   のリニアリティ判定として閾値と比較し、該閾値を超え
   る素子を欠陥素子と判定し、 通常動作時に、前記常温の基準熱源の温度をＡ〔°Ｃ〕
   に、又前記高温の基準熱源の温度をＡ＋α〔°Ｃ〕に制
   御して、無効走査期間に常温データと高温データとを取
   込み、Ｓ／Ｎ判定又はＤＣオフセット判定又はリニアリ
   ティ判定との少なくとも何れか一つの判定によって欠陥
   素子か否かの素子判定を行い、 各判定による判定結果の論理和を基に欠陥素子の置換処
   理を行う過程を含むことを特徴とする欠陥素子補償方
   法。