JP2001092530A - Device for correcting position of substrate - Google Patents
Device for correcting position of substrateInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば液晶ディス
プレイやプラズマディスプレイなどのフラットパネルデ
ィスプレイ及び電子機器に用いられるプリント基板等の
各種基板を検査するときに一定の位置に保持するための
基板の位置補正装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a position of a substrate for holding a fixed position when inspecting various substrates such as a flat panel display such as a liquid crystal display and a plasma display and a printed circuit board used for electronic equipment. The present invention relates to a correction device.
【0002】[0002]
【従来の技術】液晶ディスプレイやプラズマディスプレ
イなどのフラットパネルディスプレイに用いられるガラ
ス基板、又は電子機器に用いられるプリント基板など
は、その製造工程において基板表面に形成されたパター
ン検査や欠陥検査などが行われる。これら検査では、基
板を予め設定された基準位置に対して一定に保持する必
要がある。2. Description of the Related Art In a manufacturing process of a glass substrate used for a flat panel display such as a liquid crystal display or a plasma display, or a printed circuit board used for an electronic device, a pattern inspection and a defect inspection formed on a substrate surface are performed in a manufacturing process. Will be In these inspections, it is necessary to hold the substrate constant with respect to a preset reference position.
【0003】図7はかかる基板の位置決め装置の構成図
である。基板1は、ダイパッドやボールパッドを高密度
に配線したBGS用のプリント基板で、四辺形で薄板の
シート状に形成されており、具体的には例えば縦×横×
厚さ250mm×100mm×0.1mm程度の大きさ
に形成されている。FIG. 7 is a configuration diagram of such a substrate positioning device. The substrate 1 is a printed circuit board for BGS in which die pads and ball pads are wired at high density, and is formed in a quadrilateral thin sheet shape.
The thickness is about 250 mm × 100 mm × 0.1 mm.
【0004】2枚の基準板2、3は、基板1をパターン
検査や欠陥検査するための位置に位置決めするもので、
基板1の2辺が当接するように予め設定された各位置に
配置されている。The two reference plates 2 and 3 position the substrate 1 at a position for pattern inspection or defect inspection.
The substrates 1 are arranged at predetermined positions so that two sides thereof come into contact with each other.
【0005】2つの当付けシリンダ4、5は、それぞれ
各基準板2、3に対向して設けられ、基板1を押圧し
て、この基板1を各基準板2、3に当て付けるものであ
る。[0005] Two abutting cylinders 4 and 5 are provided opposite to the reference plates 2 and 3, respectively, and press the substrate 1 to apply the substrate 1 to the reference plates 2 and 3. .
【0006】このような位置決め装置であれば、当付け
シリンダ4、5を用いて基板1を各基準板2、3に当て
付けることにより、検定位置に正確に位置決めすること
が可能になる。With such a positioning device, the substrate 1 can be applied to each of the reference plates 2 and 3 by using the abutting cylinders 4 and 5, thereby enabling accurate positioning at the verification position.
【0007】又、別の位置決め装置としては、BGAプ
リント基板1をパターン検査や欠陥検査するための位置
に位置決めするための複数のピンを設け、これらピンに
基板に形成された位置決用孔をセットするものがある。As another positioning device, a plurality of pins for positioning the BGA printed circuit board 1 at positions for pattern inspection and defect inspection are provided, and these pins are provided with positioning holes formed in the substrate. There is something to set.
【0008】[0008]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記装
置では、基板1を各基準板2、3に当て付けているの
で、プリント基板1の大きさと各当付けシリンダ4、5
の当て付け力の大きさによっては、基板1が各基準板
2、3に当て付けられずに基板1をパターン検査や欠陥
検査するための位置に精度高く位置決めできなかった
り、各基準板2、3に当て付ける力が強くて基板1が変
形することがある。However, in the above apparatus, since the substrate 1 is applied to each of the reference plates 2 and 3, the size of the printed circuit board 1 and each of the abutting cylinders 4 and 5 are set.
Depending on the magnitude of the contact force, the substrate 1 cannot be positioned at a position for pattern inspection or defect inspection with high precision because the substrate 1 is not applied to each of the reference plates 2 and 3, The substrate 1 may be deformed due to a strong force applied to the substrate 3.
【0009】特に液晶ディスプレイに用いられるガラス
基板、又は電子機器に用いられるプリント基板では、厚
さが非常に薄くシート状に形成されているために撓んで
しまう。このように基板面が撓んだ状態で保持される
と、各種検査において正確な検査ができなくなる問題が
生じる。又、フラットパネルディスプレイのガラス基板
では、基板面積が750mm×950mmと大型化して
おり、このような大型基板では、接触面積及び重量が増
ことから押し当て方式では対応できなくなると共に、当
て付け力を強くすると、衝撃により破損する問題が生じ
る。In particular, a glass substrate used for a liquid crystal display or a printed circuit board used for an electronic device is extremely thin and is bent because it is formed in a sheet shape. If the substrate surface is held in a bent state as described above, there arises a problem that accurate inspection cannot be performed in various inspections. In addition, the glass substrate of a flat panel display has a large substrate area of 750 mm × 950 mm. In such a large substrate, the contact area and weight increase, so that the pressing method cannot cope with the pressing force and the pressing force is reduced. If it is strengthened, there is a problem that it is damaged by impact.
【0010】一方、複数のピンを用いる装置では、プリ
ント基板1の種類によって各ピンの位置やその径の大き
さが異なるために、検査する基板1の種類が異なる度に
別のピンを準備しなければなららず、その段取りが大変
である。On the other hand, in an apparatus using a plurality of pins, since the position of each pin and the size of its diameter differ depending on the type of the printed board 1, another pin is prepared every time the type of the board 1 to be inspected is different. Must be done, and the setup is difficult.
【0011】そこで本発明は、シート状の基板を無接触
で精度高く位置決めできる基板の位置補正装置を提供す
ることを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a substrate position correcting apparatus capable of positioning a sheet-like substrate with high accuracy without contact.
【0012】[0012]
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
四辺形の基板を保持する保持手段と、基板における隣り
合う2辺において少なくとも3箇所での各位置を検出す
る位置センサと、この位置センサにより検出された各位
置に基づいて基板の基準位置に対する補正量を求め、こ
の補正量に従って保持手段を移動させる移動手段と、を
備えた基板の位置補正装置である。According to the first aspect of the present invention,
Holding means for holding a quadrilateral substrate, position sensors for detecting at least three positions on two adjacent sides of the substrate, and correction for a reference position of the substrate based on the positions detected by the position sensors And a moving means for calculating the amount and moving the holding means in accordance with the correction amount.
【0013】請求項2記載の発明は、請求項1記載の基
板の位置補正装置において、基板における隣り合う2辺
のうち長辺側に2つの位置センサを配置し、短辺側に1
つの位置センサを配置するものである。According to a second aspect of the present invention, in the substrate position correcting apparatus of the first aspect, two position sensors are disposed on a long side of two adjacent sides of the substrate, and one position sensor is disposed on a short side.
One position sensor is arranged.
【0014】請求項3記載の発明は、請求項1記載の基
板の位置補正装置において、位置センサは、ラインセン
サである。According to a third aspect of the present invention, in the substrate position correcting apparatus according to the first aspect, the position sensor is a line sensor.
【0015】[0015]
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態につ
いて図面を参照して説明する。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.
【0016】図1は基板の位置補正装置の構成図であ
り、図2は同装置を側面から見た構成図である。基板1
としては、液晶ディスプレイやプラズマディスプレイな
どのフラットパネルディスプレイに用いられるガラス基
板、又は電子機器に用いられるプリント基板などであ
る。本実施の形態では、ダイパッド、ボールパッドを高
密度に配線したBGAプリント基板等の薄いシード状の
プリント基板を適用した例について説明する。FIG. 1 is a configuration diagram of a substrate position correcting device, and FIG. 2 is a configuration diagram of the device as viewed from the side. Substrate 1
Examples thereof include a glass substrate used for a flat panel display such as a liquid crystal display and a plasma display, or a printed substrate used for an electronic device. In this embodiment, an example will be described in which a thin seed-shaped printed circuit board such as a BGA printed circuit board in which a die pad and a ball pad are wired at high density is applied.
【0017】バキュームプレート10は、吸引機構を備
えたもので、中空の回転軸11を介してXYθステージ
12に設けられている。このバキュームプレート10に
は、複数の吸引孔が形成されており、これら吸引孔が中
空孔13に連通している。この中空孔13は、吸引装置
14に接続されている。XYθステージ12は、周知の
如くバキュームプレート10をXY平面上に移動させる
と共にθ方向に回転させるもので、X駆動モータ、Y駆
動モータ及びθ駆動モータを備えている。The vacuum plate 10 has a suction mechanism, and is provided on an XYθ stage 12 via a hollow rotary shaft 11. A plurality of suction holes are formed in the vacuum plate 10, and these suction holes communicate with the hollow holes 13. This hollow hole 13 is connected to a suction device 14. The XYθ stage 12 moves the vacuum plate 10 on the XY plane and rotates in the θ direction as is well known, and includes an X drive motor, a Y drive motor, and a θ drive motor.
【0018】3つの位置センサ15〜17は、バキュー
ムプレート10に吸着される基板1の互いに隣接する各
辺の位置を検出してその検出信号を出力する機能を有し
ている。これら位置センサ15〜17のうち2つの位置
センサ15、16は、基板1の長辺側の辺方向に沿って
所定の間隔で配置されている。他の位置センサ17は、
基板1の短辺側に配置されている。なお、図2では図示
する関係上から位置センサ16のみを示している。The three position sensors 15 to 17 have a function of detecting the position of each adjacent side of the substrate 1 adsorbed on the vacuum plate 10 and outputting a detection signal. Two of the position sensors 15 to 17 are arranged at predetermined intervals along the long side of the substrate 1. Other position sensors 17
It is arranged on the short side of the substrate 1. FIG. 2 shows only the position sensor 16 because of the illustrated relationship.
【0019】これら位置センサ15〜17は、具体的に
は図3に示すように投光部18と受光部19とを対向配
置した構成となっている。投光部18は、光源として例
えば半導体レーザ20が設けられ、この半導体レーザ2
0から出力されたレーザ光をレンズ21により平行光に
整形して出射するものとなっている。受光部19は、C
CD(固体撮像素子)を配列したラインセンサ22を備
えている。このラインセンサ22は、基板1の辺方向に
対して略垂直方向に配置される。従って、これら位置セ
ンサ15〜17は、基板1によりレーザ光が遮光された
ところを基板1の辺位置としてディジタル値で検出す
る。Each of the position sensors 15 to 17 has a structure in which a light projecting unit 18 and a light receiving unit 19 are arranged opposite to each other as shown in FIG. The light projecting unit 18 is provided with, for example, a semiconductor laser 20 as a light source.
The laser light output from 0 is shaped into parallel light by the lens 21 and emitted. The light receiving section 19 is C
A line sensor 22 in which CDs (solid-state imaging devices) are arranged is provided. This line sensor 22 is arranged in a direction substantially perpendicular to the side direction of the substrate 1. Therefore, these position sensors 15 to 17 detect digitally values where laser light is shielded by the substrate 1 as side positions of the substrate 1.
【0020】なお、基板1に対して長辺側の各位置セン
サ15、16の間隔は、出来るだけ広く設定した方が基
板1の長辺の位置を精度高く検出できることは言うまで
もない。It is needless to say that if the distance between the position sensors 15 and 16 on the long side with respect to the substrate 1 is set as wide as possible, the position of the long side of the substrate 1 can be detected with high accuracy.
【0021】補正量演算部23は、各位置センサ15〜
17から出力された各検出信号を入力し、これら検出信
号から得られる基板1の互いに隣接する長辺と短辺との
各位置からバキュームプレート10に吸着している基板
1の位置を求め、この基板1の位置と基板1のパターン
検査や欠陥検査に吸着されるべき基準位置との差を求
め、この差から基板1を基準位置に移動させる補正量を
演算して求める機能を有している。The correction amount calculating section 23 includes the position sensors 15 to
Each of the detection signals output from 17 is input, and the position of the substrate 1 adsorbed on the vacuum plate 10 is obtained from the positions of the long side and the short side of the substrate 1 adjacent to each other obtained from these detection signals. It has a function of calculating a difference between the position of the substrate 1 and a reference position to be sucked in the pattern inspection or the defect inspection of the substrate 1 and calculating a correction amount for moving the substrate 1 to the reference position from the difference. .
【0022】ステージ駆動部24は、補正量演算部23
により求められた補正量を受け取り、この補正量に応じ
てXYθステージ12のX駆動モータ、Y駆動モータ及
びθ駆動モータを駆動する機能を有している。The stage driving unit 24 includes a correction amount calculating unit 23
Has the function of driving the X drive motor, the Y drive motor, and the θ drive motor of the XYθ stage 12 according to the correction amount.
【0023】次に、上記の如く構成された装置の作用に
ついて説明する。Next, the operation of the device configured as described above will be described.
【0024】例えば、BGAプリント基板1の製造工程
において、この基板1がバキュームプレート10にセッ
トされると共に、吸引装置14が吸引動作を開始する。For example, in the manufacturing process of the BGA printed board 1, the board 1 is set on the vacuum plate 10, and the suction device 14 starts a suction operation.
【0025】この吸引装置14の吸引動作によりエアー
がバキュームプレート10の複数の吸引孔から回転軸1
1の中空孔13を通してエアー抜きされる。これによ
り、基板1は、バキュームプレート10上に吸着され
る。Due to the suction operation of the suction device 14, air is supplied from the plurality of suction holes of the vacuum plate 10 to the rotary shaft 1.
Air is vented through one hollow hole 13. As a result, the substrate 1 is sucked on the vacuum plate 10.
【0026】各位置センサ15〜17は、バキュームプ
レート10に吸着されている基板1の隣接し合う各辺、
すなわち2つの位置センサ15、16は、基板1の長辺
の位置を検出してその各検出信号を出力し、他の位置セ
ンサ17は、基板1の短辺の位置を検出してその各検出
信号を出力する。Each of the position sensors 15 to 17 is provided on each side of the substrate 1 adsorbed on the vacuum plate 10.
That is, the two position sensors 15 and 16 detect the position of the long side of the substrate 1 and output their respective detection signals, and the other position sensors 17 detect the position of the short side of the substrate 1 and detect each of them. Output a signal.
【0027】補正量演算部23は、各位置センサ15〜
17から出力された各検出信号を入力し、これら検出信
号から得られる基板1の互いに隣接する長辺と短辺との
各位置からバキュームプレート10に吸着している基板
1の位置を求め、予め補正量演算部23に記録された基
準位置との差を求め、この差から基板1を基準位置に移
動させる補正量を演算して求める。The correction amount calculating section 23 includes the position sensors 15 to
The position of the substrate 1 adsorbed on the vacuum plate 10 is determined from the positions of the long side and the short side of the substrate 1 adjacent to each other, which are obtained from these detection signals. A difference from the reference position recorded in the correction amount calculating section 23 is obtained, and a correction amount for moving the substrate 1 to the reference position is calculated from the difference.
【0028】ステージ駆動部24は、補正量演算部23
により求められた補正量を受け取り、この補正量に応じ
てXYθステージ12のX駆動モータ、Y駆動モータ及
びθ駆動モータを駆動し、基板1を基準位置に合わせ
る。The stage driving section 24 includes a correction amount calculating section 23
, The X drive motor, the Y drive motor, and the θ drive motor of the XYθ stage 12 are driven in accordance with the correction amount to adjust the substrate 1 to the reference position.
【0029】この結果、基板1は、常に基準位置に保持
され、この状態で、BGAプリント基板に対するパター
ン検査又は欠陥検査などが行われる。As a result, the substrate 1 is always held at the reference position, and in this state, a pattern inspection or a defect inspection on the BGA printed board is performed.
【0030】このように上記一実施の形態においては、
基板1の長辺側の辺方向に沿って所定の間隔で2つの位
置センサ15、16を配置するとともに基板1の短辺側
に位置センサ17を配置し、これら位置センサ15〜1
7から出力される各検出信号に基づいて得られる基板1
の位置と基準位置との差を求め、この差から基板1を基
準位置に移動させる補正量を補正量演算部23により演
算してXYθステージ12を駆動するようにしたので、
特に厚さが0.1mm程度の薄いシート状の基板1を変
形せずに基準位置に対して常に高精度に例えば5μm程
度の精度で位置決めできる。これにより、基板1の製造
工程においてパターン検査又は欠陥検査などが精度高く
できる。As described above, in one embodiment,
Two position sensors 15 and 16 are arranged at a predetermined interval along the long side of the substrate 1 and a position sensor 17 is arranged on the short side of the substrate 1.
Substrate 1 obtained based on each detection signal output from 7
Is calculated from the difference between the reference position and the reference position, and the correction amount for moving the substrate 1 to the reference position is calculated by the correction amount calculation unit 23 from the difference to drive the XYθ stage 12.
In particular, the thin sheet-like substrate 1 having a thickness of about 0.1 mm can always be positioned with high precision, for example, about 5 μm with respect to a reference position without deformation. Thereby, a pattern inspection, a defect inspection, and the like can be performed with high accuracy in the manufacturing process of the substrate 1.
【0031】又、基板1の位置決めの際には、基板1に
人間の手が触れることがないので、如何なるシート状の
基板1であっても高精度に位置決めできる。Further, when positioning the substrate 1, since no human hand touches the substrate 1, any sheet-like substrate 1 can be positioned with high accuracy.
【0032】又、基板1をバキュームプレート10で吸
着して各位置センサ15〜17により検出された基板1
の位置と基準位置との差に基づいてXYθステージ12
をフィードバック制御して基板1の位置を補正するの
で、無接触で自動的に基板1を基準位置に補正できる。The substrate 1 is sucked by the vacuum plate 10 and detected by the position sensors 15 to 17.
XYθ stage 12 based on the difference between the position of
Is feedback-controlled to correct the position of the substrate 1, so that the substrate 1 can be automatically corrected to the reference position without contact.
【0033】又、基板1をバキュームプレート10上に
吸着した状態で無接触で位置決め補正することができる
ことから、BGAプリント基板のような軽量基板の他
に、液晶ディスプレイやプラズマディスプレイなどのF
PD基板にも適用可能である。FPD基板に適用した場
合、この基板の大きさが750mm×950mmと非常
に大型化してきており、それに伴って重量も増大してい
る。このような大型ガラス基板をバキュームプレート1
0上に置いて摺動させることは困難になってきているこ
とから、本発明のように無接触で位置決め補正すること
により容易に実現なすることが可能になる。In addition, since the positioning can be corrected without contact while the substrate 1 is attracted onto the vacuum plate 10, it can be used not only for a lightweight substrate such as a BGA printed circuit board but also for a liquid crystal display or a plasma display.
It is also applicable to PD substrates. When applied to an FPD substrate, the size of this substrate has become extremely large, 750 mm × 950 mm, and the weight has increased accordingly. Vacuum plate 1
Since it is becoming difficult to slide the slider on the zero, it can be easily realized by non-contact positioning correction as in the present invention.
【0034】なお、本発明は、上記一実施の形態に限定
されるものでなく次の通りに変形してもよい。The present invention is not limited to the above embodiment, but may be modified as follows.
【0035】例えば、3つの位置センサ15〜17は、
図4に示すように基板1の大きさ(サイズ)に応じて配
置位置を変更してもよい。例えば、基板1には、サイズ
Q1、Q2、Q3などの大きさの異なる複数の種類があ
る。サイズQ1の基板1に対しては、各位置センサ15
〜16は上記説明の通の配置位置である。サイズQ1よ
りも大きいサイズQ2の基板1に対しては、例えば位置
センサ15を位置P1から位置P2に変更設定し、さら
に大きいサイズQ3の基板1に対しては、位置センサ1
5を位置P1から位置P3に変更設定する。又、位置P
2、P3に位置ンサを固定してもよい。For example, the three position sensors 15 to 17
As shown in FIG. 4, the arrangement position may be changed according to the size (size) of the substrate 1. For example, the substrate 1 includes a plurality of types having different sizes such as sizes Q1, Q2, and Q3. For the substrate 1 of size Q1, each position sensor 15
Numerals 16 are the common arrangement positions described above. For the substrate 1 having a size Q2 larger than the size Q1, for example, the position sensor 15 is changed from the position P1 to the position P2, and for the substrate 1 having a larger size Q3, the position sensor 1 is changed.
5 is changed from the position P1 to the position P3. Position P
2, the position sensor may be fixed to P3.
【0036】又、図5に示すように2つの位置センサ1
5、16により基板1の位置を検出するようにしてもよ
い。この場合、基板1の長辺側と短辺側とにそれぞれ各
位置センサ15、16とを配置し、このうち長辺側の位
置センサ15を基板1の長辺方向に移動自在に設ける。
この位置センサ15の移動は、移動機構30を設けるこ
とにより実現できる。Further, as shown in FIG.
The position of the substrate 1 may be detected by 5 and 16. In this case, the position sensors 15 and 16 are respectively disposed on the long side and the short side of the substrate 1, and the position sensor 15 on the long side is provided movably in the long side direction of the substrate 1.
The movement of the position sensor 15 can be realized by providing the movement mechanism 30.
【0037】このような構成であれば、位置センサ15
を位置P10から位置P11に移動させ基板1の長辺の
所定の2点を検出するとともに位置センサ17で基板1
の短辺の1点を検出すればよい。この場合、位置センサ
15の移動を基板サイズに応じて設定すれば、多数のサ
イズの基板に対応できる。With such a configuration, the position sensor 15
Is moved from the position P10 to the position P11 to detect two predetermined long sides of the substrate 1 and the position sensor 17
It is sufficient to detect one point on the short side of. In this case, if the movement of the position sensor 15 is set according to the size of the substrate, it is possible to cope with substrates of many sizes.
【0038】又、図6に示すように基板の製造工程にお
いて、基板1の搬送中に2つの位置センサ15、17を
用いて基板1の長辺と短辺との各位置を検出してもよ
い。この場合、検出タイミング部31により搬送中であ
る基板1の搬送位置を検出し、図6(a)に示すように基
板が搬送位置S1に到達したときに位置センサ15で基
板1の長辺の位置を検出し、さらに図6(b)に示すよう
に基板が搬送されて搬送位置S2に到達したときに両位
置センサ15、17でそれぞれ基板1の長辺、短辺の位
置を検出するものとなる。この場合も、基板サイズに応
じて位置センサ15の検出タイミングを調整すること
で、各種サイズの基板に対応できる。Further, as shown in FIG. 6, in the substrate manufacturing process, it is possible to detect the positions of the long side and the short side of the substrate 1 using the two position sensors 15 and 17 during the transfer of the substrate 1. Good. In this case, the transport position of the substrate 1 being transported is detected by the detection timing unit 31, and when the substrate reaches the transport position S1 as shown in FIG. 6B, the position of the long side and the short side of the substrate 1 are detected by the position sensors 15 and 17 when the substrate is transported and reaches the transport position S2 as shown in FIG. 6B. Becomes Also in this case, by adjusting the detection timing of the position sensor 15 according to the substrate size, it is possible to cope with substrates of various sizes.
【0039】又、基板としては、液晶ディスプレイやプ
ラズマディスプレイなどのフラットパネルディスプレイ
に用いられるガラス基板、又は電子機器に用いられるプ
リント基板などのように高精度の位置決めが必要な基板
であれば全て適用できる。As a substrate, any glass substrate used for a flat panel display such as a liquid crystal display or a plasma display, or a substrate requiring high-precision positioning, such as a printed circuit board used for an electronic device, can be used. it can.
【0040】[0040]
【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、シ
ート状の基板を撓まずに精度高く位置決めできる基板の
位置補正装置を提供できる。As described above in detail, according to the present invention, it is possible to provide a substrate position correcting apparatus capable of accurately positioning a sheet-like substrate without bending.
【図1】本発明に係わる基板の位置補正装置の一実施の
形態を示す構成図。FIG. 1 is a configuration diagram showing an embodiment of a substrate position correcting apparatus according to the present invention.
【図2】本発明に係わる基板の位置補正装置の一実施の
形態における側面から見た構成図。FIG. 2 is a side view of a configuration of a substrate position correcting apparatus according to an embodiment of the present invention.
【図3】本発明に係わる基板の位置補正装置の一実施の
形態における位置センサの構成図。FIG. 3 is a configuration diagram of a position sensor in one embodiment of the substrate position correction device according to the present invention.
【図4】本発明に係わる基板の位置補正装置の他の実施
の形態における位置センサの基板の大きさに応じた配置
位置を示す図。FIG. 4 is a diagram showing an arrangement position of a position sensor according to a size of a substrate in another embodiment of the substrate position correcting apparatus according to the present invention.
【図5】本発明に係わる基板の位置補正装置の他の実施
の形態における2つの位置センサを用いた場合の基板の
位置検出の作用を示す図。FIG. 5 is a diagram showing an operation of detecting a position of a substrate when two position sensors are used in another embodiment of the device for correcting the position of a substrate according to the present invention.
【図6】本発明に係わる基板の位置補正装置の他の実施
の形態における搬送中での基板の位置検出の作用を示す
図。FIG. 6 is a diagram showing an operation of detecting the position of a substrate during conveyance in another embodiment of the substrate position correcting apparatus according to the present invention.
【図7】従来の基板の位置決め装置の構成図。FIG. 7 is a configuration diagram of a conventional substrate positioning device.
1:基板、 10:バキュームプレート、 11:回転軸、 12:XYθステージ、 13:中空孔、 14:吸引装置、 15〜17:位置センサ、 18:投光部、 19:受光部、 20:半導体レーザ、 21:レンズ、 22:ラインセンサ、 23:補正量演算部、 24:ステージ駆動部、 30:移動機構、 31:検出タイミング部。 1: substrate, 10: vacuum plate, 11: rotary shaft, 12: XYθ stage, 13: hollow hole, 14: suction device, 15 to 17: position sensor, 18: light emitting part, 19: light receiving part, 20: semiconductor Laser, 21: lens, 22: line sensor, 23: correction amount calculation unit, 24: stage drive unit, 30: moving mechanism, 31: detection timing unit.
Claims (3)
所での各位置を検出する位置センサと、 この位置センサにより検出された各位置に基づいて前記
基板の基準位置に対する補正量を求め、この補正量に従
って前記保持手段を移動させる移動手段と、を具備した
ことを特徴とする基板の位置補正装置。1. A holding means for holding a quadrilateral substrate; a position sensor for detecting at least three positions on two adjacent sides of the substrate; and a position sensor based on each position detected by the position sensor. Moving means for obtaining a correction amount for a reference position of the substrate and moving the holding means in accordance with the correction amount;
辺側に2つの前記位置センサを配置し、短辺側に1つの
前記位置センサを配置したことをことを特徴とする請求
項1記載の基板の位置補正装置。2. The device according to claim 1, wherein two position sensors are arranged on a long side of two adjacent sides of the substrate, and one position sensor is arranged on a short side. Substrate position correction device.
ことを特徴とする請求項1記載の基板の位置補正装置。3. The substrate position correcting device according to claim 1, wherein said position sensor is a line sensor.
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-
1999
- 1999-09-21 JP JP26669199A patent/JP2001092530A/en active Pending
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