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JP2000068190A - 露光データ作成方法 - Google Patents

露光データ作成方法

Info

Publication number
JP2000068190A
JP2000068190A JP24064898A JP24064898A JP2000068190A JP 2000068190 A JP2000068190 A JP 2000068190A JP 24064898 A JP24064898 A JP 24064898A JP 24064898 A JP24064898 A JP 24064898A JP 2000068190 A JP2000068190 A JP 2000068190A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
exposure
exposure data
cell
unexposed area
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP24064898A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazunori Koike
和範 小池
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP24064898A priority Critical patent/JP2000068190A/ja
Priority to US09/356,443 priority patent/US6608691B1/en
Priority to KR1019990029353A priority patent/KR100546956B1/ko
Priority to TW088112612A priority patent/TW417186B/zh
Publication of JP2000068190A publication Critical patent/JP2000068190A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F1/00Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
    • G03F1/68Preparation processes not covered by groups G03F1/20 - G03F1/50
    • G03F1/76Patterning of masks by imaging
    • G03F1/78Patterning of masks by imaging by charged particle beam [CPB], e.g. electron beam patterning of masks
    • H10P95/00
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70425Imaging strategies, e.g. for increasing throughput or resolution, printing product fields larger than the image field or compensating lithography- or non-lithography errors, e.g. proximity correction, mix-and-match, stitching or double patterning
    • G03F7/70433Layout for increasing efficiency or for compensating imaging errors, e.g. layout of exposure fields for reducing focus errors; Use of mask features for increasing efficiency or for compensating imaging errors

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Editing Of Facsimile Originals (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、半導体製造装置用のレチクルを設
計する際の、露光データ作成方法に関する。 【解決手段】 CAD装置60を用いた半導体製造装置
用のレチクル23設計において、ファイル中に露光デー
タを作成する際に、未露光部39を設け、各ファイル中
の共通する未露光部39とともに露光データ38を共有
化することにより、各露光データ26、28、30、3
2を階層処理することを可能とし、露光データ量を削減
し、露光データ処理の効率化を図ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、露光データ作成方
法に係り、特にコンピュータによるレチクルマスク設計
時の露光データ作成方法に関する。近年の半導体集積回
路技術の分野においては、急速な技術革新に伴う集積度
の向上によって、集積回路製造装置においても技術開発
によってその性能の向上が求められている。特に、微細
加工技術の分野では、高集積化に伴う集積回路パターン
の高密度化によって、露光技術の高度化が要求される。
【0002】本発明は、集積回路を作製する際の露光時
にレチクルと呼ばれるマスクを使用するが、このレチク
ルをCAD装置を用いて設計作製する際に、その個々の
パターンを構成する、データを処理する方法に関するも
のである。即ち、集積度の向上に伴うレチクルパターン
の高密度化によって、レチクルをパターニングする際
の、露光データ数は増大する一方であり、レチクル作製
の効率化を考えた場合、その処理方法を最適化する必要
がある。このため、露光データ量の軽減と、露光データ
を作成する際の工程およびデータ処理方法の簡略化が必
要である。
【0003】
【従来の技術】レチクルマスク(以下単にレチクルと呼
ぶ)を設計する際の通常の方法としてCAD(Computer
Aided Design )装置を使用することが多い。図1〜図
3にその方法の概略を示す。CAD装置を用いてレチク
ルを設計する従来の手順は次の通りである。
【0004】図1において、CAD内部のホストコンピ
ュータ10がレチクル用の設計データ(後述する)16
をデータ処理部12へ送り、データ処理部12におい
て、設計データ16を露光データ(後述する)18に変
換し、さらに露光データ18を露光部14に送る。実際
の露光時においては、光源21から発せられた光は偏光
板22においてレチクル23中の露光位置を制御し、露
光される。
【0005】尚、レチクル中に形成されるパターンは、
パターンを構成する単位である図形からなるが、その図
形単体もしくはその図形の任意の数の集合体をセルと称
するものとする。従って、レチクル中のパターンは複数
のセルによって構成される。また、露光装置が半導体表
面上に各種のパターンを形成する際には、そのパターン
に対応した形状の図形をレチクル中に描画し、その結
果、レチクルは図形が描かれた領域(セルによって構成
される)とそうでない領域とに分かれることになる。そ
こでその図形を形成する方法として、CAD装置内で、
図形の存在する領域に図形を構成するためのデータを割
り当てる。そのデータを露光データと称し、セルを構成
する。従って、図形を形成しない領域にはデータを割り
当てず、その領域を未露光領域と称する。
【0006】ここで従来の露光データの作成方法を図2
(A)〜(F)、図3(A)〜(F)、図4(A)、
(B)および図5に基づいて説明する。まず、露光デー
タを作成するために、その基となる設計データを作成す
る必要がある。図2(A)〜(F)は設計データを作成
する工程の流れを示した図であり、図3(A)〜(F)
はこれに対応する各セル内でデータが形成される様子を
示したものである。ここに図3(A)〜(F)における
各セルの黒色部は、設計データを有することを示し、そ
れ以外の部分にはデータは存在しないことを示す。また
同図中、TOPセルは最上位のセルであって、その下層
にセルa 〜セルd を有し、全体が一つのライブラリーを
構成する。ただしTOPセル中には設計データは存在せ
ず、セルa 〜セルd 中に設計データを形成する。
【0007】まず、図2(A)において、個々のセルと
してA、およびa 〜d 中に設計データ、即ち図3(A)
のように、セルAに設計データ36を、セルa に設計デ
ータ26を、セルb に設計データ28を、セルc に設計
データ30を、セルd に設計データ32をそれぞれ作成
する。次に図2(B)及び図3(B)において、TOP
セル34の下層に、セルA24として例えば2×2配列
(縦横2列ずつ形成されたセルの配列)の領域中全体に
設計データ36を配置する。
【0008】さらに図2(C)及び図3(C)におい
て、TOPセル34下層のセルA24中に、セルa 内の
設計データ26を形成し、次に図2(D)及び図3
(D)において、TOPセル34下層のセルA24中
に、セルb 内の設計データ28を、さらに図2(E)及
び図3(E)において、セルc 内の設計データ30を、
また図2(F)及び図3(F)において、セルd 内の設
計データ32をそれぞれ割り当て、各セルへの設計デー
タの配置を完了する。
【0009】図4(A)は、以上の工程で作成された設
計データを処理することによって、レチクルにパターニ
ングする際に使用されるデータとして、露光データを作
成する際の手順を示したものである。即ち、図2(A)
〜(F)の工程及びこれを図示した図3(A)〜(F)
において作成された設計データ(図4(A)1)を設計
データ反転処理装置(図12の説明において後述する)
によって反転処理し(図4(A)2)、露光データの作
成が完了する(図4(A)3)。
【0010】これを図4(B)において説明すると、実
際にレチクルにパターンを形成する際には、図4(B)
における、設計データ36、26、28、30、32の
存在する場所で光を通過させるために、露光データの作
成においては、設計データを反転させる必要がある。即
ち、設計データの存在しない領域38(図3参照)に露
光データを作成し、設計データの存在する領域36、2
6、28、30、32には露光データを作成しない。
【0011】以上のように設計データを反転処理するこ
とによって、露光データに変換する流れを示したのが、
図5に示す1〜3であって、図5中の1〜3の工程は図
4(A)の1〜3の工程に対応する。以上によって形成
された露光データを基に作製されたレチクルを用い、半
導体基板中の露光データを有する黒色部(図5の3中の
領域38)に対応する部分のポジレジストが露光され、
フォトレジストパターンを形成することになる。このよ
うに、設計データの作成の際には、設計データは階層処
理されるのに対して、これを反転処理して作成される露
光データは階層処理されないため、結果として露光デー
タのデータ量が増大することになる。
【0012】一般的に、複数のデータを有するグループ
をファイル化して保存する場合に、各々がまったく異な
るデータである場合には、各ファイルを独立させて、階
層を持たせることなく保存せざるを得ないが、共通する
データを有する場合には、その部分を共有させて、階層
化することができる。特に、データ数が膨大な場合ほ
ど、階層化することによる利点が大である。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、以上述
べた従来例の露光データの作成方法においては、各セル
内の露光データは互いに異なる配置をとるために、階層
処理することができない。また、階層処理するために
は、上述したように各セルに共通する露光データをそれ
ぞれのセルで保持しなければならない。このために、配
列数が増える分だけ露光データ量が増し、したがって全
体の露光データ数は膨大な量となり、また、露光データ
を作成する上でのデータの処理工程数が多く、従来の処
理方法では効率性に劣るという問題がある。
【0014】そこで、従来の露光データ処理方法におい
て、階層処理を持たせることを試みた場合の問題点は以
下のようになる。まず、図6(A)〜(F)および図7
(A)〜(F)に示す、設計データの作成手順、および
TOPセル上の配列に、セルa 〜d の各セルを配置した
場合の設計データの配列は、従来方法の図2(A)〜
(F)及び図3(A)〜(F)の場合とまったく同様で
ある。
【0015】次に、図9は、従来の例において2×2の
配列に配置した各セル(セルA、およびセルa 〜d )
を、個々のセルに分離した状態(図9中の1)から、こ
れらの設計データを有する各セルを反転処理した状態の
露光データであるメイン1、メイン2、メイン3、メイ
ン4、メイン5を示す(図9中の3)。さらに、図8
(A)1〜3、及び(B)に示すように、従来法と同様
にして、メイン1の露光データをTOPセル下層の2×
2の配列に配置した上で、さらにその領域にメイン2〜
メイン5の露光データを重ねることは、露光データの領
域が重複し2重露光となり、焼き付けが不可能となる。
したがって、事実上、階層処理を組む事ができない。
【0016】本発明では、上述した階層処理を組む方法
を提供し、増大する露光データ量を軽減した上で、露光
データを作成する際のデータ処理工程を短縮することを
目的とする。
【0017】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明では、次に述べる各手段を講じたことを特徴と
するものである。請求項1記載の発明では、ファイル中
に座標を設定し、前記座標上の座標値に対応させて露光
データを配置する工程と、前記ファイル中に前記露光デ
ータを配置しない未露光領域を設定する工程を含むこと
を特徴とする。
【0018】露光データを座標値に対応させることによ
り露光データの指定が容易となり、また未露光領域を設
定することにより、各データファイル中の未露光領域を
共通化して1つの未露光領域用ファイルとし、未露光領
域用ファイルの下層に各露光データ用ファイルを配置す
ることにより、階層処理することが可能となるため、デ
ータ量を削減することができる。
【0019】請求項2記載の発明では、数値によって前
記未露光領域を指定する工程を含むことを特徴とする。
また請求項3記載の発明では、前記座標値によって前記
未露光領域を指定する工程を含むことを特徴とする。さ
らに請求項4記載の発明では、露光パターンに対応する
図形もしくは任意の数の前記図形を含むセルによって前
記未露光領域を指定する工程を含むことを特徴とする。
【0020】上記請求項2乃至4記載の各手段を講じる
ことによって、ソフトウェアによるデータ処理時の、未
露光領域を指定する際に、プログラム中で各々の未露光
データを指定する場合と比較して、未露光領域を一括し
てその総称により定義することにより、未露光領域の指
定が簡略化されるため、ソフトウェアの動作速度が向上
し、設計の効率化を図る事ができる。
【0021】請求項5記載の発明では、露光領域を指定
する前記露光データとは異なるファイル中に前記未露光
領域を指定する工程を含むことを特徴とする。各セルに
共通する未露光領域を露光データとは異なるファイル中
に指定することによって、各セルの露光データを共通の
未露光領域の下層に階層処理することができ、従って露
光データを削減することができる。
【0022】請求項6記載の発明では、前記露光データ
と同一のファイル中に前記未露光領域を指定する工程を
含むことを特徴とする。未露光領域を露光データと同一
のファイル中に配置することによって、未露光領域に対
応する各セルに特有の露光データのみを、未露光領域用
ファイルの下層の別ファイルに配置して階層処理をする
ことができ、またそれ以外の露光データを各セルに保持
する必要がなくなるため、データ量を削減することがで
きる。
【0023】
【発明の実施の形態】本発明の実施例を以下に説明す
る。レチクル中に露光データを作成する工程は、CAD
装置によって設計データを作成した後に、画像変換処理
装置によって露光データに変換する。ここで、露光デー
タを作製する工程の説明として、CAD装置を用いた設
計データの作製方法及び画像変換処理装置を用いた露光
データの作製方法について図10、図11及び図12を
用いて説明する。
【0024】最初に図10において、露光データを作製
する流れの概略は、以下の通りである。即ち、CAD装
置60を用いて、露光データを作製する際の基準となる
設計データを作製し、パターンレイアウトを形成する。
次に、制御系の処理工程である画像処理装置62を用い
て、CAD装置60において作製した設計データを露光
データに変換する。
【0025】さらに、作製した露光データに基づいて、
光学系の処理工程である露光装置64によってレチクル
にパターンの焼き付けを行う。以上のレチクルパターン
作製過程において、CAD装置60及び画像処理変換装
置62を用いた各データの処理工程について以下図11
及び図12を用いて説明する。
【0026】図11は、上述したように、パターンレイ
アウト設計のための、設計データの作製工程を示すCA
D装置60の内部構成の概略図である。CAD装置60
の全体の構成は、ソフトウェア部66及びハードウェア
部68とよりなる。ソフトウェア部66は、OSである
UNIX70、及びこのOS上で動作するSX72と呼
ばれるアプリケーションプログラムを有する。
【0027】また、ハードウェア68の構成は以下の通
りである。即ち、外部入力としてのキーボード74及び
マウス76と、入力データの表示機能を有するディスプ
レイ78と、入力データを一時的に記憶するメモリー8
0と、入力データ及び全ての処理後のデータを格納する
ハードディスク82と、さらに入力データ等を一定の機
能をもって処理するCPU(中央演算処理装置)84と
よりなる。
【0028】以上の構成を有するCAD装置60内部の
各機能は次の通りである。即ち、マウス76あるいはキ
ーボード74から入力されたデータは、それ自体がディ
スプレイ78上に表示されるとともに、メモリー80中
に一時的に記憶される。その後、CPU84によって一
定の処理がなされた後に、処理後のデータはハードディ
スク82に記憶される。
【0029】上記構成及び機能を有するCAD装置60
を用いた設計データの形成工程は以下のようになる。キ
ーボード74及びマウス76より入力されたデータは、
ディスプレイ78上に表示されるとともに、メモリー8
0中に一時的に記憶され、ソフォトウェアであるSX7
2の機能によりバス86を介した命令によって、レイア
ウトパターンを構成する設計データを形成する。設計デ
ータはハードディスク82に記憶される。
【0030】次に、上記の過程で形成された設計データ
が画像処理変換装置62において、露光データに変換さ
れる工程について、図12に基いて以下説明する。図1
2は、設計データを露光データに変換するための画像処
理装置62の概略図である。画像処理装置62の構成
は、ソフトウェア部88及びハードウェア部90とより
なる。
【0031】ソフトウェア部88では、OSであるUN
IX92と、このOS上で動作するmr29と呼ばれる
並列制御プログラムと、mpdpと呼ばれるマスクパタ
ーンデータ処理プログラムとよりなるプログラム系94
とが構成されている。また、ハードウェア部90の構成
は上述したCAD装置60の場合と同様である。
【0032】さらに、画像処理装置62内部の各機能及
び設計データを露光データに変換する工程は次の通りで
ある。即ち、マウス96あるいはキーボード98から入
力されたデータの処理条件は、それ自体がディスプレイ
100上に表示されるとともに、メモリー102中に一
時的に記憶される。その後、CPU104により、図1
において形成された設計データがCAD装置60から画
像処理装置62へ転送され、上記入力データの条件のも
とに、CPU104によって演算処理され、露光データ
に変換される。そして、変換処理後の露光データはハー
ドディスク106に記憶格納される。
【0033】次に本発明の目的である露光データを削減
する方法の概略について説明する。図13(A)〜
(F)、図14(A)〜(F)、図15、図16
(A)、(B)、及び図17は、露光時にポジレジスト
を使用する場合の、露光データの作成方法の実施例を示
す図である。全てのセルに対して共通する部分の露光デ
ータを抽出して共通ファイルとし、各セル毎に異なる露
光データの領域のみを未露光部の領域として定義し、そ
こに各セルで異なる露光データを割り当てる方法をと
る。
【0034】まず、図13の設計データの作成工程にお
いて、本実施例では、各セル内での未露光部の領域を割
り当てる方法として、図13(A)の工程に示すように
以下に説明する3通りの方法を示したものである。第1
の方法は図13(A)に示すように、座標値によって未
露光領域を定義する方法である。未露光領域を座標値に
よって定義することは、CAD装置によるパターン設計
の本質的な手法であるが、第1の方法における座標値に
よる未露光領域の定義は、より簡素化した方法である。
【0035】即ち第1の方法は図14(A)に対応し、
破線にて示した未露光領域39を、2ヶ所の×点で示し
た4角形の対角上の2点を定めた座標によって定義する
ものである。座標による定義の具体例は本実施例におい
て後述するが、第1の方法によって、CAD装置上で無
数の座標値によって特定される未露光領域を、2点の座
標のみによる定義に簡略化し、設計を効率化することが
できる。
【0036】次に第2の方法は、同様に図13(A)及
び図14(A)に示すように、セルa 、セルb のごとく
セル名によって未露光領域を定義する方法である。第2
の方法を採ることによって、未露光領域を指定する場合
に、未露光領域を構成する座標値を指定する必要がな
く、未露光領域をその名前により指定することが可能と
なり、露光データ処理工程を簡略化、効率化することが
できる。
【0037】第2の方法の例としては、未露光領域が2
点の座標値(1、2)、(3、4)により定義される場
合に、座標値に代えて例えば「セルa 」なる名前により
定義することにより、座標値における4つの数値を要し
ていた未露光領域の定義を、1つの名前によって行うこ
とができ、未露光領域の定義に要するデータ量を低減す
ることができる。
【0038】さらに第3の方法は、図13(A)に示す
ように、レベルコードによって未露光領域を定義する方
法である。レベルコードとは、単なる数値であって、数
値によって未露光領域を定義することにより、露光デー
タ処理工程をさらに単純化することができる。レベルコ
ードによって未露光領域を定義する一例としては、以下
のようになる。
【0039】例えば、未露光領域が2点の座標値(1、
2)、(3、4)により定義される場合に、座標値に代
えて例えば「1」なる数値により定義することにより、
座標値における4つの数値を要していた未露光領域の定
義を、1つの数値によって行うことができ、この場合に
はデータ量を4分の1に低減することができる。以下、
図13(A)〜(F)及び図14(A)〜(F)を基
に、未露光領域に設計データを割り当てる工程について
説明する。
【0040】図13(B)及び図14(B)の工程で
は、TOPセルの階層下に、(A)の工程で作成した設
計データ36を有するセルAが縦横2列ずつ、いわゆる
2×2で配列されていることを示す。このセルA中の、
上述した未露光領域に対して個々の設計データを有する
セルa 〜セルd を以下同図中(B)〜(F)の工程で割
り当てる工程について説明する。
【0041】図14(B)の工程で、例えば、セルAお
よび2×2の配列のTOPセルについて、破線で示した
領域39は露光しない領域であり、セルAのみを配置す
る上では共通する領域である。したがって、この領域を
あらかじめデータを保持しない領域、即ち、未露光領域
39として見なせば、設計データを露光データに反転す
る過程においては、未露光領域39はデータを保持せず
反転しないため、セルa 〜セルd のデータを未露光領域
39に配置することが可能である。またこれと同時に、
共通する未露光領域39を上層の共通ファイルとして、
その下層に各セルに特有のパターン形状を有する露光デ
ータを配置して階層処理することが可能となる。
【0042】この過程は、例えば図15に示すように、
セルAに対して座標軸を設定し、未露光領域39を座標
を用いて定める。そして他の各セルに対して、この未露
光領域39をセルAと相対的に同位置に設定して、これ
を各セルに共通の領域として、その下層に各セルに特有
の露光データを階層処理して配置する。ここで未露光領
域の設定方法について説明する。
【0043】座標軸設定の具体例としては、図15のよ
うに、未露光部領域39を四角形OXYZと定義し、各
点に対して、O(0,0)を原点として、X(0,10
0)、Y(100,100)およびZ(100,0)と
設定する。さらに、未露光部領域39を2点B(10,
50)およびC(50,10)からなる、図中に波線で
示す四角形39と定義する。四角形39は、未露光部で
あるために、設計データを露光データに変換した後も反
転せず、すべてのセルに対して共通する領域となる。
【0044】従って、例えば図14におけるセルAなる
ファイルは、その一部に設計データ36があり、その他
の領域は、データの保存としては不要な領域である。そ
こで、波線によって示した領域をデータを作成しない未
露光領域として設け、データを保存するために要するC
AD装置中の容量を節約することができる。以下順に図
13(C)及び図14(C)では、セルa を未露光領域
39のうちの一つに割り当て、同図中(D)では、さら
にセルb を他の未露光領域39のうちの一つに割り当
て、同図中(E)では、さらにセルc を他の未露光領域
39のうちの一つに割り当て、最後に同図中(F)で
は、さらにセルd を他の未露光領域39のうちの一つに
割り当て、設計データの配置が完了する。
【0045】次に、以上作成した設計データを画像処理
装置62によって反転処理し、露光データを作成する工
程について説明する。図16(A)に示す1〜3及び図
17に示す1〜3は、設計データを露光データに変換す
る過程の説明図であり、図16(B)は、未露光部を含
む各セル中において、露光データの作成過程について説
明した図である。
【0046】まず図16(A)と図17における露光デ
ータ作成過程について説明する。図17中の1は、破線
で示した未露光領域39を、×印で示した2つの座標値
によって指定する場合、及び露光データ36を各セル名
によって指定する場合である。次に図17中の2におい
て、反転処理装置62により上記設計データを露光デー
タに変換し、露光データの存在する領域とそうでない領
域とを相互に変換する。この際に、未露光領域中の設計
データの存在しない領域は、反転処理するデータが存在
しないので元のままである。
【0047】さらに図17中の3のように、以上の過程
を経て、露光データファイルであるメイン1〜メイン5
までの作成が完了する。即ち、図16(B)に示すメイ
ン1なるファイル中の露光データは、セルA中の設計デ
ータ36から、未露光部39を除いた領域を反転処理し
た部分となり、メイン1の露光ファイル中の黒色部分4
1で示す領域である。
【0048】また、図14(A)におけるセルa〜セル
dは、露光領域を示す設計データのみからなるセルであ
り、これらを露光データに変換する際には、図16
(B)のメイン1〜メイン5までのセルのように、周囲
に黒色部分の露光データ41を設けることにより作成す
る。したがって、露光データ41の作成手順としては、
次のようになる。
【0049】まず、図16(B)において、メイン1の
露光ファイルによって、2×2の配列のセルに焼き付け
を行い、次に、メイン2の露光ファイルによって、露光
データ41をイメージ通りに焼き付けを行う。さらに同
様にして、メイン3からメイン5の露光ファイルによっ
て、露光データ41をイメージ通りに焼き付けを行う。
【0050】最後にメイン1中の未露光領域39に、メ
イン2〜メイン5を配置して露光データの作成が完了す
る。以上の工程によって形成された露光データを基に作
製されたレチクルを用い、半導体基板中の露光データを
有する黒色部に対応する部分のポジレジストが露光さ
れ、フォトレジストパターンを形成することになる。
【0051】これらの露光データファイルは、TOPセ
ル中の2×2配列内では、メイン1中の未露光領域39
を各配列中に共通して有するため、当領域にメイン1〜
メイン5の露光データを配置することができ、結果的
に、全体としての露光データ量は、従来例と比較して激
減したものとなる。以上のように、未露光領域39を共
通領域として、露光データ41を階層処理することによ
って、露光データ量を低減し、レチクルの設計効率をも
向上させることができる。
【0052】
【発明の効果】本発明における露光データの作成方法を
実施することにより、露光データファイル中に未露光領
域を設定することにより、露光データの階層処理化、あ
るいは露光データの共有化を図ることができ、露光デー
タ処理方法において問題であった増大したデータ量を削
減することができる。また、前記未露光領域を数値、座
標値、あるいは露光パターンに対応する図形等により指
定することによって、前記データ量の削減とともに露光
データ処理の効率化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】設計データを露光データに変換するシステムの
概念を示す図である。
【図2】従来の設計データの作成工程を示す図である。
【図3】従来法におけるTOPセル上にセルa 〜d の露
光データを配置した例を示す図である。
【図4】従来法におけるデータ処理工程を示す図であ
る。
【図5】従来法における反転処理を行って露光データを
作成するイメージ図である。
【図6】従来法と同様の設計データ作成工程を示す図で
ある。
【図7】従来法と同様のTOPセル上にセルa 〜d の露
光データを配置した例を示す図である。
【図8】従来法において、データに階層処理を持たせた
場合のデータ処理過程を示す図である。
【図9】従来法において、データに階層処理を持たせた
場合の、各セルごとに反転処理を行う過程を示す図であ
る。
【図10】露光データの作成フローを示した図である。
【図11】CAD装置中のソフトウェア及びハードウェ
アの構成の概略図である。
【図12】画像変換処理装置中のソフトウェア及びハー
ドウェアの構成の概略図である。
【図13】本実施例における設計データ作成工程を示す
図である。
【図14】本実施例におけるTOPセル上にセルa 〜セ
ルd の露光データを配置した例を示す図である。
【図15】本実施例における未露光領域を座標値によっ
て設定した例を示す図である。
【図16】本実施例における露光データ作成工程を示す
図である。
【図17】本実施例におけるデータを反転処理する過程
を示す図である。
【符号の説明】
10 ホストコンピューター 12 データ処理部 14 露光部 16、20 設計データ 18、41 露光データ 21 光源 22 偏光版 23 レチクル 24 セルA 26 セルa 28 セルb 30 セルc 32 セルd 34 TOPセル 36 露光領域 38 未露光領域 39 未露光領域(データ非保持領域) 40 データ保持領域 42 メイン1ファイル 44 メイン2ファイル 46 メイン3ファイル 48 メイン4ファイル 50 メイン5ファイル 60 CAD装置 62 反転処理装置 64 露光装置 66 CAD装置用ソフトウェア 68 CAD装置用ハードウェア 70、92 UNIXプログラム 72 SXプログラム 74 キーボード 76、96 マウス 78、100 ディスプレイ 80、102 メモリ 82、106 ハードディスク 84、104 CPU 86 データバス 88 画像変換処理装置用ソフトウェア 90 画像変換処理装置用ハードウェア 94 画像変換処理装置用プログラム系

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ファイル中に座標を設定し、前記座標上
    の座標値に対応させて露光データを配置する工程と、 前記ファイル中に前記露光データを配置しない未露光領
    域を設定する工程を含むことを特徴とする露光データの
    作成方法。
  2. 【請求項2】 数値によって前記未露光領域を指定する
    工程を含むことを特徴とする請求項1記載の露光データ
    の作成方法。
  3. 【請求項3】 前記座標値によって前記未露光領域を指
    定する工程を含むことを特徴とする請求項1記載の露光
    データの作成方法。
  4. 【請求項4】 露光パターンに対応する図形もしくは任
    意の数の前記図形を含むセルによって前記未露光領域を
    指定する工程を含むことを特徴とする請求項1記載の露
    光データの作成方法。
  5. 【請求項5】 露光領域を指定する前記露光データとは
    異なるファイル中に前記未露光領域を指定する工程を含
    むことを特徴とする請求項1記載の露光データの作成方
    法。
  6. 【請求項6】 前記露光データと同一のファイル中に前
    記未露光領域を指定する工程を含むことを特徴とする請
    求項1記載の露光データの作成方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003029392A (ja) * 2001-07-11 2003-01-29 Dainippon Printing Co Ltd 描画用データの作成方法および描画方法

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4851723B2 (ja) * 2005-03-04 2012-01-11 富士通株式会社 内部構造画像取得装置、内部構造画像取得方法および内部構造画像取得プログラム
JP2008124996A (ja) * 2006-11-15 2008-05-29 Canon Inc 画像処理装置、および画像処理方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR940000911A (ko) * 1992-06-30 1994-01-10 이헌조 액정표시소자 및 제조방법
JPH0915833A (ja) * 1995-06-30 1997-01-17 Sony Corp 露光用マスク作製装置における走査用データ作成装置及び走査用データの作成方法
JPH09204077A (ja) * 1995-07-14 1997-08-05 Hitachi Koki Co Ltd 画像形成装置
JP2785811B2 (ja) * 1996-06-27 1998-08-13 日本電気株式会社 電子線露光装置用露光マスクデータの作成方法および電子線露光装置用マスク
JPH10104814A (ja) * 1996-09-27 1998-04-24 Fujitsu Ltd マスクの製造方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003029392A (ja) * 2001-07-11 2003-01-29 Dainippon Printing Co Ltd 描画用データの作成方法および描画方法

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