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Die
vorliegende Erfindung betrifft die Bereitstellung organischer Elektrolumineszenzelemente
(EL) zur Ausbildung einer organischen, elektrolumineszierenden (kaskadierten
oder gestapelten) Tandemvorrichtung.
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Organische
Elektrolumineszenzvorrichtungen (EL) oder organische Leuchtdioden
(OLED) sind elektronische Vorrichtungen, die Licht in Abhängigkeit
von einem angelegten Potenzial abgeben. Die Struktur einer OLED
umfasst in der aufgeführten
Reihenfolge eine Anode, ein organisches EL-Medium und eine Kathode.
Das zwischen der Anode und der Kathode angeordnete organische EL-Medium
umfasst in der Regel eine organische Lochtransportschicht (HTL)
und eine organische Elektronentransportschicht (ETL). Durch Rekombination
der Löcher und
Elektronen wird Licht in der Elektronentransportschicht in Nähe der Grenzfläche zwischen
Lochtransportschicht und Elektronentransportschicht erzeugt. Tang
et al. beschreiben in "Organic
electroluminescent diodes",
Applied Physics Letters, 51, 913 (1987) und in der US-Parallelanmeldung
4,769,292 OLEDs mit hoher Lichtausbeute unter Verwendung einer derartigen
Schichtenstruktur. Seitdem sind zahlreiche OLEDs mit alternativen
Schichtenstrukturen beschrieben worden. Beispielsweise gibt es dreischichtige
OLEDs, die eine organische lichtabstrahlende Schicht (LEL) zwischen
der Lochtransportschicht und der Elektronentransportschicht enthalten,
wie beispielsweise von Adachi et al. in „Electroluminescence in Organic
Films with Three-Layer Structure", Japanese
Journal of Applied Physics, 27, L269 (1988) und von Tang et al.
in „Electroluminescence
of doped organic thin films",
Journal of Applied Physics, 65, 3610 (1989) beschrieben. Die lichtabstrahlende Schicht
umfasst üblicherweise
ein Wirtsmaterial, das mit einem Gastmaterial dotiert ist, wobei
die Schichtenstrukturen als Lochtransportschicht/lichtabstrahlende
Schicht/Elektronentransportschicht (HTL/LEL/ETL) bezeichnet werden.
Zudem gibt es weitere mehrschichtige OLEDs, die eine Lochinjektionsschicht
(HIIL) und/oder eine Elektroneninjektionsschicht (EIL) und/oder
eine Lochsperrschicht und/oder eine Elektronensperrschicht in den
Vorrichtungen enthalten. Diese Strukturen haben eine Verbesserung
der Leistung der Vorrichtung bewirkt.
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Um
die Leistung der OLEDs weiter zu verbessern, wurde zudem eine neue
Art von OLED-Struktur,
die als Tandem-OLED (oder gestapelte oder kaskadierte OLED) bezeichnet
wird, hergestellt, indem mehrere einzelne OLEDs vertikal übereinander
gestapelt und von einer einzelnen Stromquelle angesteuert werden,
wie von Tanaka et al. in
US-A-6,107,734 ,
Jones et al. in
US-A-6,337,492 ,
Kido et al. in der
japanischen
Patentveröffentlichung
2003045676A und in der
US-Patentveröffentlichung
2003/0189401 A1 , von Liao et al. in
US-A-6,717,358 , in der Veröffentlichung
der US-Patentanmeldung 2003/0170491 A1 und in der US-Parallelanmeldung
mit der Seriennummer 10/437,195, eingereicht am 13. Mai 2003 mit
dem Titel "Cascaded
Organic Electroluminescent Device Having Connecting Units with n-Type
and p-Type Organic
Lagers" beschrieben,
deren Beschreibung durch Nennung als hierin aufgenommen betrachtet wird.
Beispielsweise beschreiben Tanaka et al. in
US-A-6,107,734 eine Tandem-OLED
aus 3 EL-Einheiten unter Verwendung von In-Zn-O (IZO) Folien oder
Mg:Ag/IZO Folien als Zwischenverbindungselemente und erzielen eine
Helligkeitsausbeute von 10,1 cd/A aus reinen tris(8-Hydroxy-Chinolin)aluminium-Leuchtschichten.
Kido et al. beschreiben in "High Efficiency
Organic EL Devices Having Charge Generation Lagers", SID 03 Digest,
964 (2003) die Herstellung einer Tandem-OLED aus 3 EL-Einheiten
mithilfe von In-Sn-O (ITO) Folien oder V
2O
5 Folien als Zwischenverbindungselemente
und erzielen eine Helligkeitsausbeute von bis zu 48 cd/A aus mit
fluoreszierendem Farbstoff dotierten Leuchtschichten. Liao et al.
beschreiben in "High-efficiency
tandem organic light-emitting diodes", Applied Physics Letters, 84, 167 (2004)
eine Tandem-OLED aus 3 EL-Einheiten unter Verwendung dotierter "p-n"-Übergangsschichten als Zwischenverbindungselemente
und erzielten eine Helligkeitsausbeute von 136 cd/A aus mit Leuchtfarbstoff
dotierten Leuchtschichten.
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US2004/0032220 beschreibt
ein Vielzahl von gestapelten OLED-Vorrichtungen, die Seite an Seite
in jeder gestapelten OLED-Vorrichtung unter Verwendung einer gemeinsamen
Elektrode verbunden sind. Die untere Elektrode in jeder gestapelten OLED-Vorrichtung
teilt sich ihre Funktion mit der oberen Elektrode einer benachbarten,
gestapelten OLED-Vorrichtung, um alle OLED-Vorrichtungen seriell
miteinander zu verbinden.
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Die
Verwendung eines organischen „p-n"-Übergangs als Zwischenverbindungselement ist
zur optischen Auskupplung und zur einfachen Herstellung der Vorrichtungen
eine wirksame Lösung.
Allerdings ist es auch notwendig, als alternatives Verfahren anorganische
Zwischenverbindungselemente in Tandem-OLEDs zu verwenden. Daher
besteht Bedarf nach einem stabilen, anorganischen Zwischenverbindungselement.
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Die
Verwendung von IZO- oder ITO-Folie als Zwischenverbindungselement
bewirkt eine hohe laterale Leitfähigkeit,
was zu Problemen mit dem Übersprechen
zwischen Pixeln führt.
Die Herstellung von IZO- und ITO-Folien erfordert zudem eine Kathodenzerstäubung, die
wiederum eine Beschädigung
der darunterliegenden organischen Schichten bewirken kann. Zwar
kann die Verwendung von V2O5 Folien
als Zwischenverbindungselement das Pixel-Übersprechen
begrenzen, aber V2O5 ist
als hochgiftiger Stoff eingestuft (siehe beispielsweise den Katalog
von Aldrich) und ist zudem schwer thermisch zu verdampfen.
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Der
vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, Tandem-OLEDs
mit verbesserter betrieblicher Stabilität herzustellen.
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Der
vorliegenden Erfindung liegt zudem die Aufgabe zugrunde, Tandem-OLEDs
mit verbesserter Treiberspannung herzustellen.
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Der
vorliegenden Erfindung liegt auch die Aufgabe zugrunde, Tandem-OLEDs
mit verbessertem Wirkungsgrad herzustellen.
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Der
vorliegenden Erfindung liegt zudem die Aufgabe zugrunde, Tandem-OLEDs
mit verbesserter optischer Transparenz herzustellen.
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Diese
Aufgaben werden mit einer Tandem-OLED gemäß Anspruch 1, 2 oder 3 gelöst.
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Ein
Vorteil der vorliegenden Erfindung besteht darin, dass zur Herstellung
der Tandem-OLED nicht
toxische Materialien verwendbar sind. Dies ist für eine weitverbreitete Anwendung
der OLED wichtig.
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Ein
weiterer Vorteil der vorliegenden Erfindung ist die Tatsache, dass
durch Verwendung einer dünnen
Schicht (z. B. 0,2 nm) eines Metalls mit hoher Austrittsarbeit im
Zwischenverbindungselement die betriebliche Stabilität der Tandem-OLED
verbessert werden kann.
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Ein
weiterer Vorteil der vorliegenden Erfindung besteht darin, dass
durch Verwendung des Zwischenverbindungselements mit einer dünnen Schicht eines
Metalls mit hoher Austrittsarbeit die Treiberspannung der Tandem-OLED
reduziert werden kann. Aufgrund dessen erhöht sich der Wirkungsgrad der Tandem-OLED.
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Ein
weiterer Vorteil der vorliegenden Erfindung besteht darin, dass
das Zwischenverbindungselement nur ca. 2 nm dick zu sein braucht,
was eine wirksame optische Durchleitung in der Tandem-OLED ermöglicht.
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Ein
weiterer Vorteil der vorliegenden Erfindung besteht darin, dass
alle für
die Konstruktion der Tandem-OLED verwendeten Schichten innerhalb derselben
Vakuumkammer mit einem thermischen Verdampfungsverfahren herstellbar
sind, was zu niedrigen Herstellungskosten und zu einer hohen Produktivität führt.
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Die
Erfindung wird im folgenden anhand in der Zeichnung dargestellter
Ausführungsbeispiele näher erläutert.
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Es
zeigen:
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1 eine
schematische Schnittansicht einer erfindungsgemäßen Tandem-OLED mit einer Vielzahl
organischer EL-Einheiten und einem Zwischenverbindungselement zwischen
jeder organischen EL-Einheit;
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2 eine
schematische Schnittansicht einer der organischen EL-Einheiten mit
einer Schichtenstruktur aus „HTL/LEL/ETL" in der Tandem-OLED gemäß der vorliegenden
Erfindung;
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3 eine
schematische Schnittansicht eines Zwischenverbindungselements mit
einer Schichtenstruktur aus einer „Metallschicht mit niedriger
Austrittsarbeit/einer Metallschicht mit hoher Austrittsarbeit/einer
Verbundmetallschicht" in
der erfindungsgemäßen Tandem-OLED;
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4 eine
schematische Schnittansicht eines weiteren Zwischenverbindungselements
mit einer Schichtenstruktur aus einer „n-Typ-Halbleiterschicht/einer
Metallschicht mit hoher Austrittsarbeit/einer Verbundmetallschicht" in der erfindungsgemäßen Tandem-OLED;
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5 eine
schematische Schnittansicht eines weiteren Zwischenverbindungselements
mit einer Schichtenstruktur aus „einer Metallschicht mit hoher
Austrittsarbeit/einer Verbundmetallschicht" in der erfindungsgemäßen Tandem-OLED;
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6 eine
Kurve der normalisierten Leuchtdichte zur Betriebszeit der erfindungsgemäßen Tandem-OLEDs
sowie der Referenzvorrichtung unter einer konstanten Treiberstromdichte
von 80 mA/cm2 und bei Raumtemperatur; und
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7 eine
Kurve der Treiberspannung zur Betriebszeit der erfindungsgemäßen Tandem-OLEDs sowie der Referenzvorrichtung
unter einer konstanten Treiberstromdichte von 80 mA/cm2 und
bei Raumtemperatur.
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Es
sei darauf hingewiesen, dass die 1 bis 5 nicht
maßstäblich sind,
da die einzelnen Schichten zu dünn
sind, und da die Dickenunterschiede der verschiedenen Elemente zu
groß sind, um
eine maßstäbliche Darstellung
zu ermöglichen.
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In
der Parallelanmeldung US-A-6,717,358, der Veröffentlichung der US-Patentanmeldung 2003/0170491
A1 und der Veröffentlichung
der US-Patentanmeldung 2004/0227460 A1 wird die Schichtenstruktur
einer Tandem-OLED (oder einer kaskadierten OLED oder einer gestapelten
OLED) beschrieben. Die Vorrichtungsstruktur umfasst eine Anode,
eine Kathode, eine Vielzahl organischer EL-Einheiten und eine Vielzahl
von Verbindungseinheiten (oder Zwischenverbindungselementen), wobei jedes
Zwischenverbindungselement zwischen zwei organischen EL-Einheiten
angeordnet ist. In dieser Tandemstruktur wird nur eine einzige externe
Energiequelle benötigt,
um die Anode und die Kathode zu verbinden, wobei das positive Potenzial
an der Anode anliegt und das negative Potenzial an der Kathode.
Mit einer effektiven optischen Transparenz und Ladungsinjektion
weist die Tandem-OLED einen hohen Elektrolumineszenzwirkungsgrad
auf.
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Die
vorliegende Erfindung dient der Konstruktion einer Tandem-OLED und
verbessert deren Leistung durch Ausbilden eines Zwischenverbindungselements
mit mindestens einer Metallschicht mit hoher Austrittsarbeit und
einer Metallverbundschicht in der Vorrichtung.
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1 zeigt
eine erfindungsgemäße Tandem-OLED 100.
Diese Tandem-OLED weist eine Anode 110 und eine Kathode 140 auf,
von denen mindestens eine transparent ist. Zwischen der Anode und
der Kathode sind N organische EL-Einheiten 120 angeordnet,
wobei N eine ganze Zahl größer als
1 ist. Diese in Reihe zueinander und zur Anode und zur Kathode gestapelten
organischen EL-Einheiten werden als 120.1 bis 120.N bezeichnet,
wobei 120.1 die erste EL-Einheit (zur Anode benachbart)
und 120.N die Nte Einheit (zur
Kathode benachbart) ist. Der Begriff EL-Einheit 120 steht
für eine
beliebige EL-Einheit von 120.1 bis 120.N in der
vorliegenden Erfindung. Zwischen zwei benachbarten organischen EL-Einheiten
ist ein Zwischenverbindungselement (oder ein Verbindungselement) 130 angeordnet.
Ingesamt sind N – 1
Zwischenverbindungselemente N organischen EL-Einheiten zugeordnet
und werden mit 130.1 bis 130.(N – 1) bezeichnet. Das Zwischenverbindungselement 130.1 ist
zwischen den organischen EL-Einheiten 120.1 und 120.2 angeordnet,
das Zwischenverbindungselement 130.2 ist zwischen der organischen
EL-Einheit 120.2 und der nächsten EL-Einheit angeordnet,
und das Zwischenverbindungselement 130.(N – 1) ist zwischen den
organischen EL-Einheiten 120.(N – 1) und 120.N angeordnet.
Der Begriff Zwischenverbindungselement 130 steht für ein beliebiges
Verbindungselement von 130.1 bis 130.(N – 1) in
der vorliegenden Erfindung. Die Tandem-OLED 100 ist extern über elektrische
Leiter 160 mit einer Spannungs-/Stromquelle 150 verbunden.
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Die
Tandem-OLED 100 wird durch Anlegen eines elektrischen Potenzials
von einer Spannungs-/Stromquelle 150 zwischen zwei Kontaktelektroden,
der Anode 110 und der Kathode 140 erzeugt, sodass
die Anode 110 in Bezug auf die Kathode 140 ein
positiveres Potenzial aufweist. Dieses extern angelegte elektrische
Potenzial wird unter den N organischen EL-Einheiten im Verhältnis zum
elektrischen Widerstand jeder dieser Einheiten verteilt. Das elektrische
Potenzial über
der Tandem-OLED bewirkt, dass Löcher
(positiv geladene Träger)
aus der Anode 110 in die erste organische EL-Einheit 120.1 injiziert werden,
und dass Elektronen (negativ geladene Träger) aus der Kathode 140 in
die N-te organische EL-Einheit 120.N injiziert werden.
Gleichzeitig werden Elektronen und Löcher in jedem der Zwischenverbindungselemente
(130.1–130.(N – 1) erzeugt und
davon getrennt. Die beispielsweise so in dem Zwischenverbindungselement 130.(N – 1) erzeugten Elektronen
werden zur Anode und in die benachbarte EL-Einheit 120.(N – 1) injiziert.
Ebenso werden Löcher,
die in dem Zwischenverbindungselement 130.(N – 1) erzeugt
werden, zur Kathode und zur benachbarten EL-Einheit 120.N injiziert.
Demnach erfolgt eine Rekombination dieser Elektronen und Löcher in
ihren entsprechenden EL-Einheiten, um Licht zu erzeugen, was über die
transparente Elektrode oder die Elektroden der OLED zu beobachten
ist. Mit anderen Worten kaskadieren die aus der Kathode injizierten
Elektronen energetisch aus der N-ten organischen EL-Einheit zur
1. organischen EL-Einheit und strahlen Licht in jeder der organischen
EL-Einheiten ab.
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Jede
organische EL-Einheit 120 in der Tandem-OLED 100 vermag
Löcher-
und Elektronentransport und die Rekombination von Elektronen und Löchern zur
Erzeugung von Licht zu unterstützen. Jede
organische EL-Einheit 120 kann eine Vielzahl von Schichten
umfassen. In der Technik sind viele organische EL-Mehrschichtstrukturen
bekannt, die als erfindungsgemäße organische
EL-Einheit verwendbar sind. Hierzu zählen HTL/ETL, HTL/LEL/ETL, HIL/HTL/LEL/ETL,
HIL/HTL/LEL/ETL/EIL, HIL/HTL/Elektronensperrschicht oder Lochsperrschicht/LEL/ETL/EIL,
HIL/HTL/LEL/Lochsperrschicht/ETL/EIL. Jede organische EL-Einheit in der Tandem-OLED
kann dieselben oder andere Schichtenstrukturen wie andere organische
EL-Einheiten aufweisen. Die Schichtenstruktur der 1. organischen EL-Einheit,
die zur Anode benachbart ist, ist vorzugsweise HIL/HTL/LEL/ETL,
und die Schichtenstruktur der N-ten organischen EL-Einheit, die
zur Anode benachbart ist, ist vorzugsweise HTL/LEL/ETL/EIL, und die
Schichtenstruktur der anderen organischen EL-Einheiten ist vorzugsweise
HTL/LEL/ETL. 2 (EL-Einheit 220)
zeigt ein Ausführungsbeispiel
der EL-Einheit 120 in
der erfindungsgemäßen Tandem-OLED 100,
während
die EL-Einheit 220 eine HTL 221, eine LEL 222 und
eine ETL 223 aufweist.
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Die
organischen Schichten in den organischen EL-Einheiten können aus
kleinmolekularen OLED-Materialien oder polymeren LED-Materialien ausgebildet
sein, die beide in der Technik bekannt sind, oder aus Kombinationen
daraus. Jede entsprechende organische Schicht in der organischen EL-Einheit
in der Tandem-OLED kann dieselben oder andere entsprechende organischen
Schichten aufweisen. Einige organische EL-Einheiten können polymer
sein, andere Einheiten können
aus kleinen Molekülen
zusammengesetzt sein.
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Jede
organische EL-Einheit ist zur Verbesserung der Leistung oder zur
Erzielung eines gewünschten
Attributs auswählbar,
beispielsweise der Lichtdurchlässigkeit
durch die OLED-Mehrschichtenstruktur,
der Treiberspannung, der Helligkeitsausbeute, der Lichtstrahlungsfarbe,
der Herstellbarkeit, der Stabilität der Vorrichtung usw.
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Um
die Treiberspannung für
die Tandem-OLED zu reduzieren, ist es wünschenswert, jede organische
EL-Einheit so dünn
wie möglich
zu machen, ohne dass darunter der Elektrolumineszenzwirkungsgrad
leidet. Vorzugsweise ist jede organische EL-Einheit höchstens
500 nm dick und am besten 2 bis 200 nm dick. Vorzugsweise ist jede
organische Schicht in der organischen EL-Einheit höchstens
200 nm dick und am besten 0,1 bis 100 nm dick.
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Die
Zahl der organischen EL-Einheiten in der Tandem-OLED ist im Grundsatz
gleich oder größer als
2. Vorzugsweise ist die Zahl der organischen EL-Einheiten in der
Tandem-OLED derart bemessen, dass die Helligkeitsausbeute in cd/A
verbessert oder maximiert wird. Für Leuchtenanwendungen kann
die Zahl der organischen EL-Einheiten nach der Maximalspannung der
Stromversorgung ermittelt werden.
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Bekanntermaßen umfasst
eine konventionelle OLED eine Anode, ein organisches Material und eine
Kathode. In der vorliegenden Erfindung umfasst die Tandem-OLED eine
Anode, eine Vielzahl organischer EL-Einheiten, eine Vielzahl von
Zwischenverbindungselementen und eine Kathode, wobei das Zwischenverbindungselement
ein neues Merkmal für Tandem-OLEDs ist.
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Damit
eine Tandem-OLED effizient arbeiten kann, ist es notwendig, dass
das Zwischenverbindungselement eine effektive Trägerinjektion in die benachbarten
organischen EL-Einheiten vornimmt. Aufgrund ihres niedrigeren spezifischen
Widerstands im Vergleich mit organischen Materialien können Metalle,
Metallverbindungen oder andere anorganische Verbindungen für die Trägerinjektion
effektiver sein. Der niedrige spezifische Widerstand kann allerdings einen
niedrigen Schichtwiderstand bewirken, der wiederum zu Pixel-Übersprechen
führt.
Wenn der durch die benachbarten Pixel tretende und ein Pixel-Übersprechen
bewir kende laterale Strom auf unter 10% des Stroms begrenzt wird,
der zur Ansteuerung eines Pixels verwendet wird, sollte der laterale Widerstand
des Zwischenverbindungselements (Ric) mindestens
das 8-fache des Widerstands der Tandem-OLED sein. Typischerweise
beträgt
der statische Widerstand zwischen zwei Elektroden einer herkömmlichen
OLED ungefähr
mehrere kΩ,
und eine Tandem-OLED sollte einen Widerstand von ca. 10 kΩ oder mehreren
10 kΩ zwischen
den beiden Elektroden aufweisen. Ric sollte
daher größer als
100 kΩ sein.
Unter Berücksichtigung
der Tatsache, dass der Raum zwischen jedem Pixel kleiner als ein
Quadrat ist, sollte der Schichtwiderstand des Zwischenverbindungselements
größer als
100 kΩ pro
Quadrat sein (der laterale Widerstand entspricht dem Schichtwiderstand
mal der Anzahl Quadrate). Weil der Schichtwiderstand durch den Widerstand
und die Dicke der Folien bestimmt wird (Schichtwiderstand gleich
Folienwiderstand, geteilt durch Foliendicke), kann ein Schichtwiderstand
des Zwischenverbindungselements von größer als 100 kΩ pro Quadrat immer
noch erreicht werden, wenn die Schichten dünn genug sind, sofern die Schichten,
die das Zwischenverbindungselement bilden, aus Metallen, Metallverbindungen
oder anderen organischen Verbindungen mit niedrigem spezifischem
elektrischem Widerstand ausgewählt
werden.
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Eine
weitere Voraussetzung für
eine effiziente Funktion der Tandem-OLED ist, dass die optische Transparenz
der Schichten, die die organischen EL-Einheiten bilden, und die
der Zwischenverbindungselemente so hoch wie möglich ist, damit Strahlung,
die in den organischen EL-Einheiten erzeugt wird, aus der Vorrichtung
austreten kann. Nach einer einfachen Berechnung gilt, dass wenn
die optische Durchlässigkeit
jedes Zwischenverbindungselements 70% des abgestrahlten Lichts beträgt, eine Tandem-OLED
keinen großen
Nutzen bringt, weil unabhängig
davon, wie viele EL-Einheiten in der Vorrichtung vorhanden sind,
der Elektrolumineszenzwirkungsgrad niemals im Vergleich zu einer
herkömmlichen
Vorrichtung verdoppelt werden kann. Die die organischen EL-Einheiten
bildenden Schichten sind im Allgemeinen gegenüber der von den EL-Einheiten
erzeugten Strahlung optisch transparent, weshalb deren Transparenz
im Allgemeinen für
die Konstruktion der Tandem-OLEDs nicht problematisch ist. Bekanntermaßen können Metalle,
Metallverbindungen oder andere anorganische Verbindungen eine niedrige Transparenz
aufweisen. Wenn die Schichten, die ein Zwischenverbindungselement
bilden, aus den Metallen, Metallverbindungen oder anderen anorganischen
Verbindungen ausgewählt
werden, ist immer noch eine optische Durchlässigkeit von mehr als 70% erzielbar,
wenn die Schichten dünn
genug sind. Vorzugsweise hat das Zwischenverbindungselement eine
optische Durchlässigkeit
von mindestens 75% im sichtbaren Bereich des Spektrums.
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Die
zwischen benachbarten organischen EL-Einheiten angeordneten Zwischenverbindungselemente
sind daher unverzichtbar, da sie benötigt werden, um eine effiziente
Elektronen- und Lochinjektion in die benachbarten organischen EL-Einheiten
vorzunehmen, ohne dass ein Pixel-Übersprechen erzeugt wird, und
ohne die optische Transparenz zu beeinträchtigen. 3 zeigt
ein Ausführungsbeispiel der
Zwischenverbindungselemente in der vorliegenden Erfindung. Das Zwischenverbindungselement 330 umfasst
in der genannten Reihenfolge eine Metallschicht 331 mit
niedriger Austrittsarbeit, eine Metallschicht 332 mit hoher
Austrittsarbeit und eine Metallverbundschicht 333. Hier
ist ein Metall mit niedriger Austrittsarbeit als ein Metall mit
einer Austrittsarbeit von weniger als 4,0 eV definiert. Analog dazu
ist ein Metall mit hoher Austrittsarbeit als ein Metall mit einer
Austrittsarbeit von nicht weniger als 4,0 eV definiert. Die Metallschicht 331 mit
niedriger Austrittsarbeit ist benachbart zur Elektronentransportschicht
einer organischen EL-Einheit zur Anodenseite angeordnet, und die
Metallverbundschicht 333 ist benachbart zur Lochtransportschicht
einer weiteren organischen EL-Einheit zur Kathodenseite angeordnet.
Die Metallschicht 331 mit niedriger Austrittsarbeit ist
derart ausgewählt,
dass sie eine effiziente Elektroneninjektion in die benachbarte
Elektronentransportschicht bereitstellt. Die Metallschicht 333 ist
derart ausgewählt,
dass sie eine effiziente Lochinjektion in die benachbarte Lochtransportschicht
bereitstellt. Beispielsweise, aber nicht abschließend, umfasst
eine Metallverbundschicht vorzugsweise einen p-Typ-Halbleiter. Die
Metallschicht 332 mit hoher Austrittsarbeit ist derart
gewählt,
dass sie die betriebliche Stabilität der OLED verbessert, indem
sie eine mögliche
Interaktion oder Interdiffusion zwischen der Metallschicht 331 mit
niedriger Austrittsarbeit und der Metallverbundschicht 333 verhindert.
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4 zeigt
ein weiteres Ausführungsbeispiel des
Zwischenverbindungselements in der vorliegenden Erfindung. Das Zwischenverbindungselement 430 umfasst
in der genannten Reihenfolge eine n-Typ-Halbleiterschicht 431,
eine Metallschicht 332 mit hoher Austrittsarbeit und eine
Metallverbundschicht 333. Die n-Typ-Halbleiterschicht 431 ist
benachbart zur Elektronentransportschicht einer organischen EL-Einheit
zur Anodenseite angeordnet, und die Metallverbundschicht 333 ist
benachbart zur Lochtransportschicht einer weiteren organischen EL-Einheit
zur Kathodenseite angeordnet. Hier ist unter einer n-Typ-Halbleiterschicht
zu verstehen, dass die Schicht elektrisch leitend ist und Elektronen als
Hauptladungsträger
aufweist. Unter einer p-Typ-Halbleiterschicht ist zu verstehen,
dass die Schicht elektrisch leitend ist und Löcher als Hauptladungsträger aufweist. Ähnlich zur
Metallschicht 331 mit niedriger Austrittsarbeit aus 3 ist
die n-Typ-Halbleiterschicht 431 derart ausgewählt, dass sie
eine effiziente Elektroneninjektion in die benachbarte Elektronentransportschicht
bereitstellt. Wie in 3 ist die Metallverbundschicht 333 so
ausgewählt,
dass sie eine effiziente Lochinjektion in die benachbarte Lochtransportschicht
bereitstellt, und die Metallschicht 332 mit hoher Austrittsarbeit
ist derart gewählt,
dass sie die betriebliche Stabilität der OLED verbessert, indem
sie eine mögliche
Interaktion oder Interdiffusion zwischen der n-Typ-Halbleiterschicht 431 und
der Metallverbundschicht 333 verhindert.
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Für den Fall,
dass die Elektronentransportschicht in der EL-Einheit eine n-Typ-dotierte
organische Schicht ist, kann die Schichtenstruktur des Zwischenverbindungselements,
wie in 5 gezeigt, vereinfacht werden, wobei das Zwischenverbindungselement 530 in
der genannten Reihenfolge eine Metallschicht 332 mit hoher
Austrittsarbeit umfasst, die benachbart zur n-Typ-dotierten Elektronentransportschicht
einer organischen EL-Einheit zur Anodenseite angeordnet ist, und
eine Metallverbundschicht 333, die benachbart zur Lochtransportschicht einer
weiteren organischen EL-Einheit zur Kathodenseite angeordnet ist.
Die Metallverbundschicht 333 ist so ausgewählt, dass
sie eine effiziente Lochinjektion in die benachbarte Lochtransportschicht
bereitstellt, und die Metallschicht 332 mit hoher Austrittsarbeit
ist derart gewählt,
dass sie die betriebliche Stabilität der OLED verbessert, indem
sie eine mögliche Interaktion
oder Interdiffusion zwischen der n-Typ-dotierten Elektronentransportschicht
und der Metallverbundschicht 333 verhindert. Hier ist unter
einer n-Typ-dotierten organischen Schicht zu verstehen, dass die
Schicht elektrisch leitend ist und dass die Ladungsträger hauptsächlich Elektronen
sind. Die Leitfähigkeit
wird durch die Bildung eines Ladungsübertragungskomplexes als Ergebnis
der Elektronenübertragung
aus der Dotierung ins Wirtsmaterial bereitgestellt. Je nach Konzentration
und Effektivität
der Dotierung zur Abgabe von Elektronen an das Wirtsmaterial kann
die elektrische Leitfähigkeit
der Schicht um mehrere Größenordnungen
variieren. Mit einer n-Typ-dotierten organischen Schicht als Elektronentransportschicht
in der EL-Einheit können
Elektronen effizient aus dem benachbarten Zwischenverbindungselement
in die Elektronentransportschicht injiziert werden.
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Damit
die Zwischenverbindungselemente eine effektive optische Durchlässigkeit
(von mindestens 75% im sichtbaren Bereich des Spektrums), eine effektive
Trägerinjektionsfähigkeit
und eine effektive betriebliche Stabilität aufweisen, muss die Dicke
der Schichten in den Zwischenverbindungselementen sorgfältig abgewogen
werden. Die Dicke der Metallschicht 331 mit niedriger Austrittsarbeit
in den Zwischenverbindungselementen liegt im Bereich von 0,1 nm
bis 5,0 nm, vorzugsweise im Bereich von 0,2 nm bis 2,0 nm. Die Dicke
der Metallschicht 332 mit hoher Austrittsarbeit in den
Zwischenverbindungselementen liegt im Bereich von 0,1 nm bis 5,0
nm, vorzugsweise im Bereich von 0,2 nm bis 2,0 nm. Die Dicke der
Metallverbundschicht 333 in den Zwischenverbindungselementen
liegt im Bereich von 0,5 nm bis 20 nm, vorzugsweise im Bereich von
1,0 nm bis 5,0 nm. Die Dicke der n-Typ-Halbleiterschicht 431 in den
Zwischenverbindungselementen liegt im Bereich von 0,5 nm bis 20
nm, vorzugsweise im Bereich von 1,0 nm bis 5,0 nm.
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Die
zur Herstellung der Zwischenverbindungselemente verwendeten Materialien
sind grundsätzlich
aus nicht toxischen Materialien ausgewählt. Die Metallschicht 331 mit
niedriger Austrittsarbeit umfasst Li, Na, K, Rb, Cs, Mg, Ca, Sr,
Ba, La, Ce, Nd, Sm, Eu, Tb, Dy oder Yb. Vorzugsweise umfasst die Metallschicht 331 mit
niedriger Austrittsarbeit Li, Na, Cs, Ca, Ba oder Yb.
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Die
Metallschicht 332 mit hoher Austrittsarbeit umfasst Ti,
Zr, Ti, Nb, Ta, Cr, Mo, W, Re, Fe, Ru, Os, Co, Rh, Ir, Ni, Pd, Pt,
Cu, Ag, Au, Zn, Al, In oder Sn. Vorzugsweise umfasst die Metallschicht 332 mit hoher
Austrittsarbeit Ag, Al, Cu, Au, Zn, In oder Sn. Am besten umfasst
die Metallschicht 332 mit hoher Austrittsarbeit Ag oder
Al.
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Die
Metallverbundschicht 333 ist auswählbar aus den stöchiometrischen
Oxiden oder nicht stöchiometrischen
Oxiden aus Titan, Zirkonium, Hafnium, Niobium, Tantal, Molybdän, Wolfram,
Mangan, Eisen, Ruthenium, Rhodium, Iridium, Nickel, Palladium, Platin,
Kupfer, Zink, Silicium oder Germanium oder Kombinationen daraus.
Die Metallverbundschicht 333 ist auswählbar aus den stöchiometrischen
Sulfiden oder nicht stöchiometrischen
Sulfiden aus Titan, Zirkonium, Hafnium, Niobium, Tantal, Molybdän, Wolfram, Mangan,
Eisen, Ruthenium, Rhodium, Iridium, Nickel, Palladium, Platin, Kupfer,
Silicium oder Germanium oder Kombinationen daraus. Die Metallverbundschicht 333 ist
auswählbar
aus den stöchiometrischen
Seleniden oder nicht stöchiometrischen
Seleniden aus Titan, Zirkonium, Hafnium, Nio bium, Tantal, Molybdän, Wolfram,
Mangan, Eisen, Ruthenium, Rhodium, Iridium, Nickel, Palladium, Platin,
Kupfer, Silicium oder Germanium oder Kombinationen daraus. Die Metallverbundschicht 333 ist
auswählbar aus
den stöchiometrischen
Telluriden oder nicht stöchiometrischen
Telluriden aus Titan, Zirkonium, Hafnium, Niobium, Tantal, Molybdän, Wolfram,
Mangan, Eisen, Ruthenium, Rhodium, Iridium, Nickel, Palladium, Platin,
Kupfer, Silicium oder Germanium oder Kombinationen daraus. Die Metallverbundschicht 333 ist
auswählbar
aus den stöchiometrischen
Nitriden oder nicht stöchiometrischen
Nitriden aus Titan, Zirkonium, Hafnium, Niobium, Tantal, Molybdän, Wolfram,
Mangan, Eisen, Ruthenium, Rhodium, Iridium, Nickel, Palladium, Platin,
Kupfer, Zink, Gallium, Silicium oder Germanium oder Kombinationen
daraus. Die Metallverbundschicht 333 ist auswählbar aus
den stöchiometrischen
Carbiden oder nicht stöchiometrischen
Carbiden aus Titan, Zirkonium, Hafnium, Niobium, Tantal, Molybdän, Wolfram,
Mangan, Eisen, Ruthenium, Rhodium, Iridium, Nickel, Palladium, Platin,
Kupfer, Zink, Aluminium, Silicium oder Germanium oder Kombinationen
daraus.
-
Die
Metallverbundschicht 333 ist auswählbar aus MoO3,
NiMoO4, CuMoO4,
WO3, ZnTe, Al4C3, AlF3, B2S3, CuS, GaP, InP
oder SnTe. Vorzugsweise wird die Metallverbundschicht 333 ausgewählt aus
MoO3, NiMoO4, CuMoO4 oder WO3.
-
Die
n-Typ-Halbleiterschicht 431 umfasst beispielsweise, aber
nicht abschließend,
ZnSe, ZnS, ZnSSe, SnSe, SnS, SnSSe, LaCuO3 oder
La4Ru6O19. Vorzugsweise
umfasst die n-Typ-Halbleiterschicht 431 ZnSe oder ZnS.
-
Die
Zwischenverbindungselemente sind durch thermisches Aufdampfen, Elektronenstrahl-Aufdampfen oder Ionenzerstäubung herstellbar.
Vorzugsweise wird zur Abscheidung aller Materialien in der Herstellung
der Tandem-OLED, einschließlich
der Zwischenverbindungselemente, ein thermisches Aufdampfverfahren
verwendet.
-
Die
erfindungsgemäße Tandem-OLED-Vorrichtung
umfasst in der Regel ein tragendes Substrat, wobei sich die Kathode
oder Anode in Kontakt mit dem Substrat befinden kann. Die in Kontakt
mit dem Substrat befindliche Elektrode wird hier der Einfachheit
halber als untere Elektrode bezeichnet. Die untere Elektrode ist üblicherweise
die Anode, wobei die Erfindung allerdings nicht auf diese Konfiguration
beschränkt
ist. Das Substrat kann entweder licht durchlässig oder lichtundurchlässig sein,
je nach vorgesehener Richtung der Lichtabgabe. Die Lichtdurchlässigkeit
ist eine wünschenswerte
Eigenschaft, um die Elektrolumineszenzemission durch das Substrat
betrachten zu können.
Transparentes Glas oder transparenter Kunststoff wird in diesen
Fällen
häufig
verwendet. Für
Anwendungen, in denen die Elektrolumineszenzemission durch die obere
Elektrode betrachtet wird, ist die Durchlässigkeitseigenschaft des unteren
Trägers
unwesentlich, der daher lichtundurchlässig, lichtabsorbierend oder
lichtreflektierend sein kann. In diesem Fall sind als Substrat beispielsweise, aber
nicht abschließend,
Glas, Kunststoff, Halbleitermaterialien, Keramik und Leiterplattenmaterialien verwendbar.
Selbstverständlich
ist es notwendig, in diesen Gerätekonfigurationen
eine lichtdurchlässige obere
Elektrode zu verwenden.
-
Wenn
die EL-Emission durch die Anode 110 betrachtet wird, sollte
die Anode gegenüber
der Emission von Interesse transparent oder im Wesentlichen transparent
sein. In der Erfindung verwendete, übliche transparente Anodenmaterialien
sind Indium-Zinnoxid (ITO) und Indium-Zinkoxid (IZO) und Zinnoxid,
aber es sind auch andere Metalloxide verwendbar, beispielsweise,
aber nicht abschließend, aluminium-
oder indiumdotiertes Zinkoxid, Magnesium-Indiumoxid und Nickel-Wolframoxid. Neben
diesen Oxiden können
Metallnitride, wie Galliumnitrid und Metallselenide, wie Zinkselenid,
und Metallsulfide, wie Zinksulfid verwendet werden. Für Anwendungen,
in denen die EL-Emission nur durch die Kathodenelektrode betrachtet
wird, sind die Durchlässigkeitseigenschaften
des Anodenmaterials nicht wesentlich, und es ist ein beliebiges
leitendes Material verwendbar, unabhängig davon, ob transparent, opak
oder reflektierend. Leiter für
diese Anwendung sind beispielsweise, aber nicht abschließend, Gold, Iridium,
Molybdän,
Palladium und Platin. Typische Anodenmaterialien, ob lichtdurchlässig oder
nicht, weisen eine Austrittsarbeit von 4,0 eV oder höher auf. Die
gewünschten
Anodenmaterialien werden üblicherweise
mithilfe geeigneter Mittel, wie beispielsweise Aufdampfen, Kathodenzerstäubung, chemisches
Aufdampfen oder elektrochemische Mittel aufgebracht. Anoden können mithilfe
bekannter fotolithografischer Verfahren bemustert werden. Optional können Anoden
vor dem Auftragen anderer Schichten poliert werden, um die Oberflächenrauheit
zu reduzieren, um Kurzschlussgefahr zu minimieren oder um das Reflexionsvermögen zu verbessern.
-
Es
ist zwar nicht immer notwendig, aber häufig sinnvoll, eine Lochinjektionsschicht
in der organischen EL-Einheit vorzusehen. Die Lochinjektionsschicht
kann dazu dienen, die Film bildungseigenschaft nachfolgender organischer
Schichten zu verbessern und die Injektion von Löchern in der Lochtransportschicht
zu ermöglichen,
wodurch die Treiberspannung der Tandem-OLED reduziert wird. Geeignete
Materialien zur Verwendung in der Lochinjektionsschicht sind beispielsweise,
aber nicht abschließend,
Porphyrinverbindungen, wie in
US-A-4,720,432 beschrieben,
mit Plasmaabscheidung aufgebrachte Fluorkohlenstoffpolymere, wie
in
US-A-6,208,075 beschrieben,
und einige aromatische Amine, beispielsweise m-MTDATA (4,4',4''-Tris[(3-Ethylphenyl)phenylamin]triphenylamin).
Alternative Lochinjektionsmaterialien, die in Elektrolumineszenzvorrichtungen
verwendbar sind, werden in
EP
0 891 121 A1 und
EP
1 029 909 A1 beschrieben. Eine p-Typ-dotierte organische
Schicht ist ebenfalls für
die Lochinjektionsschicht verwendbar, wie in
US-A-6,423,429 beschrieben.
Unter einer p-Typ-dotierten
organischen Schicht ist zu verstehen, dass die Schicht elektrisch
leitend ist und dass die Ladungsträger hauptsächlich Löcher sind. Die Leitfähigkeit
wird durch die Bildung eines Ladungsübertragungskomplexes als Ergebnis
der Lochübertragung aus
der Dotierung ins Wirtsmaterial bereitgestellt.
-
Die
Lochtransportschicht in organischen EL-Einheiten enthält mindestens
eine lochtransportierende Verbindung, z. B. ein aromatisches, tertiäres Amin,
wobei das letztere als eine Verbindung zu verstehen ist, die mindestens
ein dreiwertiges Stickstoffatom enthält, das nur an Kohlenstoffatome
gebunden ist, von denen mindestens eines ein Mitglied eines aromatischen
Rings ist. In einer Form kann das aromatische, tertiäre Amin
ein Arylamin sein, wie ein Monoarylamin, Diarylamin, Triarylamin
oder ein polymeres Arylamin. Exemplarische monomere Triarylamine werden
von Klupfel et al. in
US-A-3,180,730 dargestellt.
Andere geeignete Triarylamine, die durch ein oder mehrere Vinylradikale
substituiert sind und/oder mindestens eine aktive wasserstoffhaltige
Gruppe enthalten, werden von Brantley et al. in
US-A-3,567,450 und
3,658,520 beschrieben.
-
Eine
stärker
bevorzugte Klasse aromatischer, tertiärer Amine sind solche, die
mindestens zwei aromatische, tertiäre Aminreste umfassen, wie in
US-A-4,720,432 und
5,061,569 beschrieben.
Die Lochtransportschicht kann aus einer einzelnen oder einer Mischung
von aromatischen, tertiären
Aminverbindungen gebildet werden. Unter anderem sind folgende aromatische
tertiäre
Amine verwendbar:
1,1-Bis(4-Di-p-Tolylaminphenyl)cyclohexan;
1,1-Bis(4-Di-p-Tolylaminphenyl)-4-Phenylcyclohexan;
N,N,N',N'-Tetraphenyl-4,4'''-Diamin-1,1':4',1'':4'',1'''-Quaterphenyl;
Bis(4-Dimethylamin-2-Methylphenyl)-Phenylmethan;
1,4-Bis[2-[4-[N,N-Di(p-Tolyl)amin]phenyl]vinyl]benzol
(BDTAPVB);
N,N,N',N'-Tetra-p-Tolyl-4,4-4'-Diaminbiphenyl;
N,N,N',N'-Tetraphenyl-4,4'-Diaminbiphenyl;
N,N,N',N'-Tetra-1-Naphthyl-4,4'-Diaminbiphenyl;
N,N,N',N'-Tetra-2-Naphthyl-4,4'-Diaminbiphenyl;
N-Phenylcarbazol;
4,4'-Bis[N-(1-Naphthyl)-N-Phenylamin]biphenyl (NPB);
4,4'-Bis[N-(1-Naphthyl)-N-(2-Naphthyl)amin]biphenyl
(TNB);
4,4'-Bis[N-(1-Naphthyl)-N-Phenylamin]p-Terphenyl;
4,4'-Bis[N-(2-Naphthyl)-N-Phenylamin]biphenyl;
4,4'-Bis[N-(3-Acenaphthenyl)-N-Phenylamin]biphenyl;
1,5-Bis[N-(1-Naphthyl)-N-Phenylamin]naphthalen;
4,4'-Bis[N-(9-Anthryl)-N-Phenylamin]biphenyl;
4,4'-Bis[N-(1-Anthryl)-N-Phenylamin]p-Terphenyl;
4,4'-Bis[N-(2-Phenanthryl)-N-Phenylamin]biphenyl;
4,4'-Bis[N-(8-Fluoranthenyl)-N-Phenylamin]biphenyl;
4,4'-Bis[N-(2-Pyrenyl)-N-Phenylamin]biphenyl;
4,4'-Bis[N-(2-Naphthacenyl)-N-Phenylamin]biphenyl;
4,4'-Bis[N-(2-Perylenyl)-N-Phenylamin]biphenyl;
4,4'-Bis[N-(1-Coronenyl)-N-Phenylamin]biphenyl;
2,6-Bis(di-p-Tolylamin)naphthalen;
2,6-Bis[di-(1-Naphthyl)amin]naphthalen;
2,6-Bis[N-(1-Naphthyl)-N-(2-Naphthyl)-Amin]naphthalen;
N,N,N',N'-Tetra(2-Naphthyl)-4,4''-Diamin-p-Terphenyl;
4,4'-Bis{N-Phenyl-N-[4-(1-Naphthyl)-Phenyl]amin}biphenyl;
2,6-Bis[N,N-Di(2-Naphthyl)amin]fluoren;
4,4',4''-Tris[(3-Methylphenyl)phenylamin]triphenylamin
(MTDATA); und
4,4'-Bis[N-(3-Methylphenyl)-N-Phenylamin]biphenyl (TPD).
-
Eine
weitere Klasse der geeigneten Lochtransportmaterialien umfasst polyzyklische,
aromatische Verbindungen, wie in
EP
1 009 041 beschrieben. Tertiäre aromatische Amine mit mehr
als zwei Amingruppen, oligomere Materialien eingeschlossen, können ebenfalls
verwendet werden. Außerdem sind
polymere Lochtransportmaterialien verwendbar, wie Poly(N-Vinylcarbazol)
(PVK), Polythiophene, Polypyrrol, Polyanilin und Copolymere, wie
Poly(3,4-Ethylendioxythiophen)/Poly(4-Styrolsulfonat), auch als
PEDOT/PSS bezeichnet.
-
Wie
in
US-A-4,769,292 und
5,935,721 detaillierter
beschrieben, umfasst die lichtabstrahlende Schicht in organischen
EL-Einheiten ein lumineszierendes oder fluoreszierendes Material,
wobei Elektrolumineszenz als ein Ergebnis der Rekombination von
Elektronen-Lochpaaren in diesem Bereich erzeugt wird. Die lichtabstrahlende
Schicht kann sich aus einem einzelnen Material zusammensetzen, besteht üblicherweise
aber aus einem Wirtsmaterial, das mit einer oder mehreren Gastverbindungen
dotiert ist, wobei Lichtemissionen primär von der Dotierung stammen
und eine beliebige Farbe aufweisen können. Die Wirtsmaterialien
in der lichtabstrahlenden Schicht können ein Elektronentransportmaterial sein,
ein Lochtransportmaterial oder ein anderes Material oder eine Kombination
von Materialien, die die Loch-/Elektronen-Rekombination unterstützen. Die Dotierung
ist üblicherweise
aus stark fluoreszierenden Farbstoffen gewählt, aber es sind auch phosphoreszierende
Verbindungen verwendbar, z. B. Übergangsmetallkomplexe,
wie in
WO 98/55561 ,
WO 00/18851 ,
WO 00/57676 und
WO 00/70655 beschrieben. Die Dotierungen
werden typischerweise mit 0,01 bis 10 Gew.-% in dem Wirtsmaterial
aufgetragen. Polymermaterialien, wie Polyfluorene und Polyvinylarylene
(z. B. Poly(p-Phenylenvinylen), PPV) sind ebenfalls als Wirtsmaterial
verwendbar. In diesem Fall können
kleine Moleküldotierungen
molekular in dem polymeren Wirtsmaterial dispergiert sein, oder
die Dotierung kann dem Wirtspolymer durch Copolymerisation einer
kleineren Komponente zugesetzt werden.
-
Eine
wichtige Beziehung zur Wahl eines Farbstoffs als Dotierung ist ein
Vergleich der Elektronenenergielücke.
Damit ein effizienter Energietransfer von dem Wirt zum Dotierungsmolekül erfolgen kann,
ist es notwendig, dass die Energielücke der Dotierung kleiner als
die des Wirtsmaterials ist. Für phosphoreszierende
Leuchtstoffe ist es zudem wichtig, dass die Triplet-Energie des
Wirts hoch genug ist, um eine Energieübertragung vom Wirt zur Dotierung zu
ermöglichen.
-
Bekanntermaßen geeignete
Wirts- und emittierende Moleküle
sind beispielsweise, aber nicht abschließend, diejenigen, die beschrieben
werden in
US-A-4,768,292 ,
5,141,671 ,
5,150,006 ,
5,151,629 ,
5,405,709 ,
5,484,922 ,
5,593,788 ,
5,645,948 ,
5,683,823 ,
5,755,999 ,
5,928,802 ,
5,935,720 ,
5,935,721 und
6,020,078 .
-
Metallkomplexe
aus 8-Hydroxychinolin(-oxin) und ähnliche Derivate bilden eine
Klasse der verwendbaren Hostverbindungen, die für Elektrolumineszenzanwendungen
geeignet sind. Verwendbare Oxinoid-Chelatverbindungen sind beispielsweise
folgende:
CO-1: Aluminiumtrisoxin [alias Tris(8-chinolinolat)aluminium(III)];
CO-2:
Magnesiumbisoxin [alias Bis(8-chinolinolat)magnesium(II)];
CO-3:
Bis[benzo{f}-8-chinolinolat]zink(II);
CO-4: Bis(2-Methyl-8-Chinolinolat)aluminium(III)-μ-Oxo-bis(2-Methyl-8-Chinolinolat)aluminium(III);
CO-5:
Indiumtrisoxin [alias Tris(8-Chinolinolat)indium];
CO-6: Aluminiumtris(5-Methyloxin)
[alias Tris(5-Methyl-8-Chinolinolat)aluminium(III)];
CO-7:
Lithiumoxin [alias (8-Chinolinolat)lithium(I)];
CO-8: Galliumoxin
[alias Tris(8-Chinolinolat)gallium(III)]; und
CO-9: Zirconiumoxin
[alias Tetra(8-Chinolinolat)zirconium(IV)].
-
Weitere
Klassen geeigneter Wirtsmaterialien sind beispielsweise, aber nicht
abschließend,
Derivate von Anthracen, z. B. 9,10-Di-(2-Naphthyl)anthracen und
Derivate davon, wie in
US-A-5,935,721 beschrieben,
Distyrylarylenderivate, wie in
US-A-5,121,029 beschrieben, und Benzazolderivative,
z. B. 2,2',2''-(1,3,5-Phenylen)tris[1-Phenyl-1H-Benzimidazol].
Carbazolderivate sind besonders geeignete Wirtsmittel für phosphoreszierende Leuchtstoffe.
-
Geeignete
fluoreszierende Dotierungen sind beispielsweise, aber nicht abschließend, Derivate von
Anthracen, Tetracen, Xanthen, Perylen, Rubren, Coumarin, Rhodamin
und Chinacridon, Dicyanmethylenpyranverbindungen, Thiopyranverbindungen, Polymethinverbindungen,
Pyrilium- und Thiapyriliumverbindungen, Fluorenderivate, Periflanthenderivate, Indenoperylenderivate,
Bis(azinyl)aminborverbindungen, Bis(azinyl)methanverbindungen und
Carbostyrylverbindungen.
-
Bevorzugte
Dünnfilmmaterialien
zur Verwendung in der Herstellung der Elektronentransportschicht
in den erfindungsgemäßen organischen EL-Elementen
sind Metallchelat-Oxinverbindungen, einschließlich der Chelate von Oxin
selbst, auch als 8-Chinolinol oder 8-Hydroxychinolin bezeichnet.
Derartige Verbindungen tragen zur Injektion und zum Transport von
Elektronen bei, weisen eine hohe Leistungsfähigkeit auf und lassen sich
leicht in Form von Dünnfilmen
abscheiden. Beispielhafte Oxinoidverbindungen wurden vorstehend
aufgeführt.
-
Weitere
Elektronentransportmaterialien umfassen verschiedene Butadienderivate,
wie in
US-A-4,356,429 beschrieben,
und verschiedene heterozyklische optische Aufheller, wie in
US-A-4,539,507 beschrieben. Benzazole
und Triazine sind ebenfalls geeignete Elektronentransportmaterialien.
-
Eine
n-Typ-dotierte organische Schicht ist ebenfalls für die Elektronentransportschicht
verwendbar, wie in
US-A-6,013,384 beschrieben.
Die n-Typ-dotierte organische Schicht umfasst ein organisches Wirtsmaterial
und mindestens eine n-Typ-Dotierung. Das Wirtsmaterial in der n-Typ-dotierten
organischen Schicht umfasst ein kleinmolekulares Material oder ein
Polymermaterial oder Kombinationen daraus. Vorzugsweise ist dieses
Material aus den zuvor genannten Elektronentransportmaterialien
ausgewählt.
-
Die
als n-Typ-Dotierungen in der n-Typ-dotierten Elektronentransportschicht
verwendeten Materialien umfassen Metalle oder Metallverbindungen mit
einer Austrittsarbeit von kleiner als 4,0 eV. Besonders geeignete
Dotierungen umfassen Alkalimetalle, Alkalimetallverbindungen, Alkalierdmetalle
und Alkalierdmetallverbindungen. Der Begriff „Metallverbindungen" umfasst organometallische
Komplexe, metallorganische Salze und anorganische Salze, Oxide und
Halogenide. Unter der Klasse der metallhaltigen n-Typ-Dotierungen
sind Li, Na, K, Rb, Cs, Mg, Ca, Sr, Ba, La, Ce, Nd, Sm, Eu, Tb,
Dy oder Yb und deren anorganische und organische Verbindungen besonders
geeignet. Die in der n-Typ-dotierten organischen Schicht der Zwischenverbindungselemente
als n-Typ-Dotierungen verwendeten Materialien sind u. a. organische
Reduktionsmittel mit stark elektronenpositiven Eigenschaften. Unter „stark
elektronenpositiven Eigenschaften" ist zu verstehen, dass die organische
Dotierung in der Lage sein sollte, dem Wirt zumindest eine gewisse
elektronische Ladung zu geben, um mit dem Wirt einen Ladungsübertragungskomplex
zu bilden. Organische Moleküle
sind beispielsweise, aber nicht abschließend, Bis(ethylendithio)-Tetrathiafulvalen
(BEDT-TTF), Tetrathia fulvalen (TTF) sowie deren Derivate. Im Falle
polymerer Wirtsmaterialien kann die Dotierung eines der oben genannten
Materialien sein, aber auch ein Material, das molekular mit dem
Wirtsmaterial als eine kleinere Komponente dispergiert oder copolymerisiert
ist. Bei Dotierung mit einer entsprechenden n-Typ-Dotierung würde die
dotierte organische Schicht vorwiegend Elektronentransporteigenschaften
aufweisen. Die n-Typ-dotierte Konzentration liegt vorzugsweise im Bereich
von 0,01–20
Vol.%.
-
Es
ist zwar nicht immer notwendig, aber häufig sinnvoll, eine Elektroneninjektionsschicht
in der organischen EL-Einheit vorzusehen. Die Elektroneninjektionsschicht
kann dazu dienen, die Injektion von Elektronen in die Elektronentransportschicht
zu ermöglichen
und die elektrische Leitfähigkeit
zu erhöhen,
was zu einer niedrigen Treiberspannung der Tandem-OLED führt. Geeignete
Materialien zur Verwendung in der EIL sind die zuvor genannten Elektronentransportschichten,
dotiert mit starken Reduktionsmitteln oder Metallen mit niedriger
Austrittsarbeit (< 4,0
eV). Alternative, anorganische elektroneninjizierende Materialien
können
in der organischen EL-Einheit ebenfalls verwendbar sein, wie im
folgenden Absatz beschrieben wird.
-
Wenn
die Lichtemission nur durch die Anode betrachtet wird, kann die
in dieser Erfindung verwendete Kathode
140 aus nahezu jedem
geeigneten leitfähigen
Material bestehen. Wünschenswerte
Materialien haben effektive filmbildende Eigenschaften, um einen
effektiven Kontakt mit der zugrundeliegenden organischen Schicht
herzustellen, ermöglichen
die Elektroneninjektion bei niedriger Spannung und weisen eine effektive
Stabilität
auf. Geeignete Kathodenmaterialien enthalten oft ein Metall oder
eine Metalllegierung mit niedriger Austrittsarbeit (< 4,0 eV). Ein bevorzugtes
Kathodenmaterial besteht aus einer Mg:Ag Legierung, worin der Silberanteil
im Bereich von 1 bis 20% liegt, wie in
US-A-4,885,221 beschrieben.
Eine weitere geeignete Klasse an Kathodenmaterialien sind Doppelschichten,
die eine dünne
anorganische Elektroneninjektionsschicht in Kontakt mit einer organischen
Schicht (z. B. eine Elektronentransportschicht) umfassen, wobei
die Kathode mit einer dickeren Schicht aus leitendem Metall abgedeckt
ist. Hier umfasst die anorganische Elektroneninjektionsschicht vorzugsweise
ein Metall oder ein Metallsalz mit niedriger Austrittsarbeit und
wenn dies so ist, braucht die dickere Abdeckschicht keine niedrige
Austrittsarbeit aufzuweisen. Eine derartige Kathode besteht aus
einer dünnen
Schicht LiF, gefolgt von einer dickeren Schicht Al, wie in
US-A-5,677,572 beschrieben.
Weitere geeignete Kathodenmaterialien umfassen beispiels weise, aber nicht
abschließend,
solche, die in
US-A-5,059,861 ,
5,059,862 und
6,140,763 beschrieben
werden.
-
Wenn
die Lichtemission durch die Kathodenschicht betrachtet wird, sollte
die Kathode transparent oder nahezu transparent sein. Für derartige
Anwendungen sollten die Metalle dünn sein oder transparente leitfähige Oxide
verwenden oder diese Materialien beinhalten. Optisch transparente
Kathoden werden detaillierter in
US-A-4,885,211 ,
5,247,190 ,
5,703,436 ,
5,608,287 ,
5,837,391 ,
5,677,572 ,
5,776,622 ,
5,776,623 ,
5,714,838 ,
5,969,474 ,
5,739,545 ,
5,981,306 ,
6,137,223 ,
6,140,763 ,
6,172,459 ,
6,278,236 ,
6,284,393 ,
JP
3,234,963 und
EP 1 076
368 beschrieben. Kathodenmaterialien werden in der Regel
durch ein geeignetes Verfahren, wie thermisches Aufdampfen, Elektronenstrahlaufdampfen,
Ionenzerstäubung
oder chemisches Aufdampfen, aufgebracht. Bei Bedarf kann die Strukturierung
anhand vieler bekannter Verfahren erfolgen, beispielsweise, aber
nicht abschließend,
durch Maskenabscheidung, integrierte Schattenmaskierung, wie in
US-A-5,276,380 und
EP 0 732 868 beschrieben,
Laserablation und selektive chemische Dampfabscheidung.
-
In
einigen Fällen
können
die lichtabstrahlende Schicht und die Elektronentransportschicht
in den organischen EL-Einheiten wahlweise zu einer einzelnen Schicht
zusammengeführt
werden, die gleichzeitig für
Lichtemission und Elektronentransport dient. In der Technik ist
zudem bekannt, dass abstrahlende Dotierungen der Lochtransportschicht
zugesetzt werden können,
die als ein Wirt dienen kann. Einer oder mehreren Schichten können mehrere
Dotierungen zugesetzt werden, um eine weiß abstrahlende OLED zu erzeugen,
beispielsweise durch Kombinieren von blau- und gelbabstrahlenden
Materialien, blaugrün- und
rotabstrahlenden Materialien oder rot-, grün- und blauabstrahlenden Materialien.
Weißabstrahlende Vorrichtungen
werden beispielsweise beschrieben in der Veröffentlichung der US-Patentanmeldung 2002/0025419
A1; in
US-A-5,683,823 ;
5,503,910 ;
5,405,709 ;
5,283,182 ;
EP 1 187 235 und in
EP 1 182 244 .
-
Zusätzliche
Schichten derartiger Elektronen- oder Lochsperrschichten, wie in
der Technik beschrieben, sind in erfindungsgemäßen Vorrichtungen verwendbar.
Lochsperrschichten werden häufig
verwendet, um den Wirkungsgrad von phosphoreszierenden Abstrahlvorrichtungen
zu verbessern, wie beispielsweise in der Veröffentlichung der US-Patentanmeldung
2002/0015859 A1 beschrieben.
-
Die
zuvor genannten organischen Materialien werden durch ein Dampfphasenverfahren,
wie thermisches Aufdampfen, aufgebracht, können aber auch aus einer Flüssigkeit,
beispielsweise einem Lösungsmittel
mit einem optionalen Bindemittel zur Verbesserung der Filmbildung
aufgebracht werden. Wenn es sich bei dem Material um ein Polymer
handelt, ist die Aufbringung aus einem Lösungsmittel sinnvoll, aber
es sind auch andere Verfahren verwendbar, wie Kathodenzerstäubung oder
thermische Übertragung
aus einem Geberbogen. Das Material kann durch thermisches Aufdampfen
aus einem Verdampfungsschiffchen aufgedampft werden, das oft ein
Tantalmaterial umfasst, wie z. B. in
US-A-6,237,529 beschrieben, oder es kann zunächst auf
eine Geberfolie aufgetragen und in Substratnähe sublimiert werden. Schichten,
die eine Materialmischung enthalten, können separate Verdampfungsschiffchen
verwenden, oder die Materialien können vorgemischt und aus einem
einzelnen Schiffchen oder einer Geberfolie aufgetragen werden. Für die volle
Farbanzeige kann die Pixelierung von lichtabstrahlenden Schichten
notwendig sein. Diese pixelierte Abscheidung von lichtabstrahlenden
Schichten lässt
sich mithilfe von Schattenmasken, integrierten Schattenmasken (
US-A-5,294,870 ), räumlich definierter
thermischer Farbstoffübertragung
aus einer Geberfolie (
US-A-5-688,551 ,
5,851,709 ; und
6,066,357 ) sowie
mit einem Tintenstrahlverfahren (
US-A-6,066,357 )
aufbringen. Für
sonstige organische Schichten entweder in den organischen EL-Einheiten oder in
den Zwischenverbindungselementen, ist eine pixelierte Abscheidung
nicht zwingend erforderlich.
-
Die
meisten OLEDs sind gegenüber
Feuchtigkeit und/oder Sauerstoff empfindlich, so dass sie üblicherweise
in einer inerten Atmosphäre
geschützt sind,
beispielsweise Stickstoff oder Argon, und zwar mit einem Trockenmittel,
wie Aluminiumoxid, Bauxit, Calciumsulfat, Tonen, Siliciumdioxid,
Zeolithe, Alkalimetalloxide, Alkalierdmetalloxide, Sulfate oder
Metallhalogenide und Perchlorate. Verfahren zur Kapselung und Trocknung
werden beispielsweise, aber nicht abschließend, in
US-A-6,226,890 beschrieben. Zudem
sind Sperrschichten, wie SiOx, Teflon und abwechselnd anorganische/polymere
Schichten in der Kapselungstechnik bekannt.
-
Beispiele
-
Die
folgenden Beispiele dienen zum besseren Verständnis der vorliegenden Erfindung.
Die Materialien und die daraus gebildeten Schichten werden wie folgt
abgekürzt:
- ITO:
- Indiumzinnoxid; dient
zur Ausbildung der transparenten Anode auf Glassubstraten;
- CFx:
- polymerisierte Fluorkohlenstoffschicht; wird
in der Lochinjektionsschicht über
Indiumzinnoxid verwendet;
- NPB:
- N,N'-Di(naphthalen-1-yl)-N,N'-Diphenylbenzidin;
zur Ausbildung der Lochtransportschicht in der organischen EL-Einheit verwendet;
- Alq:
- Tris(8-Hydroxychinolin)aluminium(III);
als Wirtsmaterial zur Ausbildung der lichtabstrahlenden Schicht
und als Wirtsmaterial zur Ausbildung der n-Typ-dotierten Elektronentransportschicht
in der organischen EL-Einheit verwendet;
- C545T:
- 10-(2-Benzothiazolyl)-1,1,7,7-Tetramethyl-2,3,6,7-Tetrahydro-1H,5H,11H(1)Benzopyran(6,7,8-ij)chinolizin-11-on;
als grüne Dotierung
in der lichtabstrahlenden Schicht in der EL-Einheit verwendet;
- Li:
- Lithium; als n-Typ-Dotierung
zur Ausbildung der n-Typ-dotierten Elektronentransportschicht in
der organischen EL-Einheit verwendet; und
- Mg:Ag:
- Magnesium:Silber im
Volumenverhältnis von
10:0,5; zur Bildung der Kathode verwendet.
-
In
den folgenden Beispielen wurden die Dicke der organischen Schichten
und die Dotierungskonzentrationen in situ mithilfe kalibrierter
Dickenmonitore (INFICON IC/5 Deposition Controller) kontrolliert
und gemessen. Die Elektrolumineszenzeigenschaften aller hergestellten
Vorrichtungen wurden mithilfe einer Konstantstromquelle (KEITHLEY
2400 Source-Meter)
und einem Fotometer (PHOTO RESEARCH SpectraScan PR 650) bei Raumtemperatur bewertet.
Die Farbe wird mithilfe von CIE-Koordinaten (Commission Internationale
de l'Eclairage)
ausgewiesen.
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Eine
herkömmliche
OLED wird folgendermaßen
hergestellt: Ein ca. 1,1 mm dickes Glassubstrat mit einer darauf
aufgetragenen transparenten ITO-Leitschicht wurde mit einem kommerziellen Glasabstreifer
gesäubert
und getrocknet. Die Dicke der ITO-Leitschicht beträgt ca. 42
nm, und der Schichtwiderstand der ITO-Leitschicht beträgt ca. 68 Ω/Fläche. Die
ITO- Oberfläche wurde
mit oxidativem Plasma behandelt, um die Fläche als Anode zu konditionieren.
Eine 1 nm dicke Schicht aus CFx wurde auf der sauberen ITO-Oberfläche als
Lochinjektionsschicht durch Zersetzung von CHF3 Gas
in einer RF-Plasmabehandlungskammer aufgebracht. Das Substrat wurde
dann zur Abscheidung aller anderen Schichten auf dem Substrat in
eine Vakuumabscheidungskammer (TROVATO MFG. INC) übergeben. Die
folgenden Schichten wurden in der genannten Reihenfolge durch Verdampfen
aus einem erwärmten
Schiffchen unter einem Vakuum von ca. 10–6 Torr aufgebracht:
- 1. EL-Einheit:
- a) eine Lochtransportschicht, ca. 90 nm dick, einschließlich NPB;
- b) eine lichtabstrahlende Schicht, 30 nm dick, einschließlich Alq-dotiert
mit 1,0 Vol.% C545T; und
- c) eine erste Elektronentransportschicht, 30 nm dick, einschließlich Alq-dotiert
mit 1,2 Vol.% Li.
- 2. Kathode: ca. 210 nm dick, einschließlich MgAg.
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Nach
Aufbringen dieser Schichten wurde die Vorrichtung aus der Abscheidekammer
in einen Trockenschrank (VAC Vacuum Atmosphere Company) zur Kapselung übergeben.
Die EL-Leistung
dieser Vorrichtung wurde mit 20 mA/cm2 und
bei Raumtemperatur gemessen.
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Die
herkömmliche
OLED erfordert eine Treiberspannung von ca. 6,1 V, um 20 mA/cm2 durchzulassen. Unter diesen Prüfbedingungen
hat die Vorrichtung eine Leuchtdichte von 2110 cd/m2,
eine Helligkeitsausbeute von ca. 10,6 cd/A und einen Wirkungsgrad
von ca. 5,45 lm/W. Die CIEx- und CIEy-Werte sind 0,279 bzw. 0,651,
mit einer Emissionsspitze bei 520 nm.
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Beispiel 2 (Vergleich):
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In
der in Beispiel 1 beschriebenen Weise wurde eine Tandem-OLED konstruiert,
wobei folgende Schichtenstruktur abgeschieden wurde:
- 1. 1.EL-Einheit:
- a) eine Lochtransportschicht, ca. 100 nm dick, einschließlich NPB;
- b) eine lichtabstrahlende Schicht, 20 nm dick, einschließlich Alq-dotiert
1,0 Vol.% C545T; und
- c) eine erste Elektronentransportschicht, 40 nm dick, einschließlich Alq-dotiert
mit 1,2 Vol.% Li.
- 2. 1.Zwischenverbindungselement:
- a) eine Metallschicht mit hoher Austrittsarbeit, 10 nm dick,
einschließlich
Ag.
- 3. 2.EL-Einheit:
- a) eine Lochtransportschicht, ca. 70 nm dick, einschließlich NPB;
- b) eine lichtabstrahlende Schicht, 20 nm dick, einschließlich Alq-dotiert
1,0 Vol.% C545T; und
- c) eine erste Elektronentransportschicht, 40 nm dick, einschließlich Alq-dotiert
mit 1,2 Vol.% Li.
- 4. Kathode: ca. 210 nm dick, einschließlich MgAg.
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Diese
Tandem-OLED erfordert eine Treiberspannung von ca. 22,9 V, um 20
mA/cm2 durchzulassen. Unter diesen Prüfbedingungen
hat die Vorrichtung eine Leuchtdichte von 937 cd/m2,
eine Helligkeitsausbeute von ca. 4,68 cd/A und einen Wirkungsgrad
von ca. 0,64 lm/W. Die CIEx- und CIEy-Werte sind 0,179 bzw. 0,689,
mit einer Emissionsspitze bei 516 nm. Die Treiberspannung ist nahezu
viermal so hoch wie die für
Beispiel 1 bei 20 mA/cm2, und die Helligkeitsausbeute
beträgt
weniger als die Hälfte von
der in Beispiel 1. Dies zeigt deutlich, dass eine einzelne Schicht
eines Metalls mit hoher Austrittsarbeit kein effektives Zwischenverbindungselement
in der Tandem-OLED bilden kann. Die extrem hohe Treiberspannung
ist auf die hohe Injektionsbarriere zurückzuführen, die zwischen der Schicht
mit hoher Austrittsarbeit und den EL-Einheiten gebildet wird. Die
niedrige Helligkeitsausbeute ist auf die schlechte Trägerinjektion
zwischen dem Zwischenverbindungselement und den EL-Einheiten und
auf die optische Absorption der dicken Metallschicht zurückzuführen.
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Beispiel 3 (Vergleich):
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In
der in Beispiel 2 beschriebenen Weise wurde eine Tandem-OLED konstruiert,
wobei folgende Schichtenstruktur abgeschieden wurde:
- 1. 1.EL-Einheit:
- a) eine Lochtransportschicht, ca. 90 nm dick, einschließlich NPB;
- b) eine lichtabstrahlende Schicht, 30 nm dick, einschließlich Alq-dotiert
1,0 Vol.% C545T; und
- c) eine erste Elektronentransportschicht, 30 nm dick, einschließlich Alq-dotiert
mit 1,2 Vol.% Li.
- 2. 1.Zwischenverbindungselement:
- a) eine Metallverbundschicht, 2 nm dick, einschließlich MoO3.
- 3. 2.EL-Einheit:
- a) eine Lochtransportschicht, ca. 88 nm dick, einschließlich NPB;
- b) eine lichtabstrahlende Schicht, 30 nm dick, einschließlich Alq-dotiert
1,0 Vol.% C545T; und
- c) eine erste Elektronentransportschicht, 30 nm dick, einschließlich Alq-dotiert
mit 1,2 Vol.% Li.
- 4. Kathode: ca. 210 nm dick, einschließlich MgAg.
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Diese
Tandem-OLED erfordert eine Treiberspannung von 14,3 V, um 20 mA/cm2 durchzulassen. Unter diesen Prüfbedingungen
hat die Vorrichtung eine Leuchtdichte von 4781 cd/m2,
eine Helligkeitsausbeute von ca. 23,9 cd/A und einen Wirkungsgrad von
ca. 5,24 lm/W. Die CIEx- und CIEy-Werte sind 0,267 bzw. 0,660, mit
einer Emissionsspitze bei 520 nm. Die Treiberspannung beträgt ca. das
2,3-fache wie die für
Beispiel 1 bei 20 mA/cm2, und die Helligkeitsausbeute
beträgt
ebenfalls ca. das 2,3-fache von der in Beispiel 1. Dies zeigt, dass
eine Schicht aus 2 nm dicken MoO3 als Metallverbundschicht
ein effektives Zwischenverbindungselement in der Tandem-OLED bilden
kann. Die betriebliche Stabilität der
Vorrichtung wurde mit 80 mA/cm2 und bei
Raumtemperatur getestet. 6 zeigt die Abnahme der normalisierten
Leuchtdichte gegenüber
der Betriebszeit, während
der Anstieg der Treiberspannung gegenüber der Betriebszeit in 7 dargestellt
wird. Bei 80 mA/cm2 beträgt die anfängliche Leuchtdichte der Vorrichtung
ca. 21.220 cd/m2. Wenn diese Stromdichte
unverändert
bleibt, beträgt
die Betriebslebensdauer (definiert als die Betriebszeit, bis die
anfängliche
Leuchtdichte um 50% abgefallen ist) bei dieser Helligkeit ca. 145
Stunden. Würde
diese Vorrichtung bei einer anfänglichen
Leuchtdichte von 100 cd/m2 getestet, betrüge die Betriebslebensdauer
mehr als 145 × 212,2
= 30.769 Stunden. Als der Spannungsanstieg jedoch während des
Betriebs geprüft
wurde, betrug der Spannungsanstieg zwischen dem Ausgangswert und
dem Wert nach Erreichen der Lebensdauergrenze ca. 3,6 V (Anstieg
von 18,53 V auf 22,13 V bei 80 mA/cm2).
Wenn die Vorrichtung bei einem Konstantspannungsschema angesteuert
wird, fällt
die anfängliche
Leuchtdichte viel schneller ab, als wenn sie bei einem Konstantstromschema
angesteuert wird, und die Lebensdauer ist entsprechend viel kürzer. Obwohl
MoO3 ein nicht toxisches Material ist, ist
es dennoch stabil genug, wenn es alleine als Zwischenverbindungselement
verwendet wird.
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Beispiel 4
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Eine
Tandem-OLED wurde mit gleicher Struktur wie in Beispiel 3 aufgebaut,
mit dem Unterschied, dass in Schritt 2 das 1. Zwischenverbindungselement
wie folgt ist:
- 1) eine Metallschicht mit hoher
Austrittsarbeit, 0,5 nm dick, einschließlich Ag; und
- 2) eine Metallverbundschicht, 2 nm dick, einschließlich MoO3.
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Diese
Tandem-OLED erfordert eine Treiberspannung von 13,4 V, um 20 mA/cm2 durchzulassen. Unter diesen Prüfbedingungen
hat die Vorrichtung eine Leuchtdichte von 4627 cd/m2,
eine Helligkeitsausbeute von ca. 23,1 cd/A und einen Wirkungsgrad von
ca. 5,43 lm/W. Die CIEx- und CIEy-Werte sind 0,270 bzw. 0,660, mit
einer Emissionsspitze bei 520 nm. Die Treiberspannung beträgt ca. das
2,2-fache wie die für
Beispiel 1 bei 20 mA/cm2, und die Helligkeitsausbeute
beträgt
ca. das 2,2-fache von der in Beispiel 1. Dies zeigt, dass die Ag/MoO3 Doppelschicht ein effektives Zwischenverbindungselement in
der Tandem-OLED bilden kann. Die betriebliche Stabilität der Vorrichtung
wurde mit 80 mA/cm2 und bei Raumtemperatur
gemessen. 6 zeigt die Abnahme der normalisierten
Leuchtdichte gegenüber der
Betriebszeit, während
der Anstieg der Treiberspannung gegenüber der Betriebszeit in 7 dargestellt
wird. Bei 80 mA/cm2 beträgt die anfängliche Leuchtdichte der Vorrichtung
ca. 20.130 cd/m2. Wenn diese Stromdichte
unverändert
bleibt, beträgt
die Betriebslebensdauer bei dieser Helligkeit ca. 164 Stunden. Würde diese
Vorrichtung bei einer anfänglichen Leuchtdichte
von 100 cd/m2 getestet, betrüge die Betriebslebensdauer
mehr als 164 × 201,3
= 33.013 Stunden.
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Im
Vergleich der Leistung aus Beispiel 4 mit der aus Beispiel 3 ist
die anfängliche
Treiberspannung aus Beispiel 4 bei 20 mA/cm2 um
ca. 1 V niedriger, was zu einem höheren Wirkungsgrad führt, gleichzeitig
ist die Lebensdauer länger.
Als der Spannungsanstieg während
des Betriebs geprüft
wurde, betrug der Spannungsanstieg zwischen dem Ausgangswert und
dem Wert nach Erreichen der Lebensdauergrenze ca. 0,7 V (Anstieg
von 17,8 V auf 18,5 V bei 80 mA/cm2). Dieser
Spannungsanstieg ist viel geringer als der aus Beispiel 3. Wenn
sowohl Beispiel 3 als auch Beispiel 4 mit einem Konstantspannungsschema
angesteuert werden, hat Beispiel 4 eine viel längere Lebensdauer als Beispiel
3. Durch Einbringen einer Metallschicht mit hoher Austrittsarbeit
mit einer Metallverbundschicht kann also ein stabiles Zwischenverbindungselement
ausgebildet werden. Dieses stabile Zwischenverbindungselement reduziert
die anfängliche
Treiberspannung und verbessert die Lebensdauer der Tandem-OLED.