DE4331570A1 - Verfahren und Vorrichtung zum optischen Anregen eines Energiezustands einer Probe in einem Probenpunkt mit hoher Ortsauflösung - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zum optischen Anregen eines Energiezustands einer Probe in einem Probenpunkt mit hoher OrtsauflösungInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum optischen Anregen eines
Energiezustandes einer Probe in einem Probenpunkt mit hoher
Ortsauflösung, bei dem das Anregungslicht einer Punktlichtquelle
auf den zu messenden Probenpunkt fokussiert wird und dort den
Energiezustand anregt.
Ferner betrifft die Erfindung eine Vorrichtung zum optischen
Anregen eines Energiezustandes einer Probe in einem Probenpunkt
mit hoher Ortsauflösung, mit einer Punktlichtquelle, mit einem
Objektiv, das das von der Punktlichtquelle kommende
Anregungslicht zum Anregen des Energiezustandes auf den zu
messenden Probenpunkt einer im Fokalbereich des Objektives
anordenbaren Probe fokussiert.
Ein solches Verfahren und eine solche Vorrichtung sind aus der
Praxis bekannt. Sie finden ihre Anwendung zum Beispiel bei
Mikroskopen, insbesondere aber bei Rastermikroskopen, da dort
einzelne Probenpunkte abgetastet und gemessen werden. Mit einem
solchen Rastermikroskop kann die Probe dreidimensional vermessen
werden. Verwendet werden fluoreszierende oder phosphoreszierende
Proben. Ferner können ein solches Verfahren und eine solche
Vorrichtung zur Definition von Punkten in optischen bzw.
elektronischen Speichermedien verwendet werden.
Nachteilig an einer solchen Vorrichtung und einem solchen
Verfahren gemäß dem Stand der Technik ist, daß die laterale
Auflösung begrenzt ist, so daß eine feinere Unterteilung der
Rasterung nicht sinnvoll ist.
Es ist bekannt, daß bei Rastermikroskopen die Auflösung dadurch
verbessert werden kann, daß das von der Probe emittierte Licht
punktförmig auf den Detektor abgebildet wird. Dies kommt dadurch
zustande, daß in diesem Fall zwei Punktabbildungsfunktionen die
Abbildung im Rastermikroskop bestimmen: die Anregungspunkt-
Abbildungsfunktion, welche die Intensitätsverteilung des
Anregungslichtes im Fokalbereich des Objektives angibt und aus
quantenmechanischer Sicht die Wahrscheinlichkeit quantifiziert,
mit der ein Beleuchtungsphoton in einem bestimmten Punkt des
Fokalbereiches anzutreffen ist, und die Detektions-
Abbildungsfunktion, welche die Abbildung des Probenlichtes in
den Punktdetektor angibt und aus quantenmechanischer Sicht die
Wahrscheinlichkeit quantifiziert, mit der ein aus dem
Fokalbereich emittiertes Photon in den Punktdetektor gelangt. Da
sowohl Beleuchtung und Detektion stattfinden müssen, ist die
Punktabbildungsfunktion eines konfokalen Fluoreszenz-
Rastermikroskopes das Produkt aus beiden
Wahrscheinlichkeitsverteilungen, d. h. aus der Anregungspunkt-
Abbildungsfunktion und der Detektionspunkt-Abbildungsfunktion.
Die Produktbildung führt zu einem etwa 40% schmaleren
Hauptmaximum der konfokalen Punktabbildungsfunktion, verglichen
mit einem nicht konfokal angeordneten Mikroskop. Dies entspricht
einer höheren Auflösung des konfokalen Mikroskops und bewirkt
die Diskriminierung aller Punkte, die sich nicht in der
unmittelbaren Umgebung des Fokus befinden. Letzteres ist
Voraussetzung für die Erstellung dreidimensionaler Bilder im
Rasterverfahren.
Im Hinblick auf diesen Stand der Technik liegt der Erfindung die
Aufgabe zugrunde, das gattungsgemäße Verfahren und die
gattungsgemäße Vorrichtung derart zu verbessern, daß eine
bessere laterale Auflösung erzielt wird.
Hinsichtlich des Verfahrens wird diese Aufgabe erfindungsgemäß
dadurch gelöst, daß der Energiezustand der Probe in dem
Probenpunkt durch Zusammenwirken von wenigstens zwei in dem
Anregungslicht enthaltenen Lichtanteilen angeregt wird, die sich
durch wenigstens eine Lichteigenschaft voneinander
unterscheiden, und daß die Lichtstrahlachsen der Lichtanteile
derart gegeneinander versetzt werden, daß die fokalen
Intensitätsverteilungen der Lichtanteile im Probenpunkt in ihren
Hauptmaxima überlappend, lateral gegeneinander verschoben
werden.
Hinsichtlich der Vorrichtung wird die Aufgabe dadurch
erfindungsgemäß gelöst, daß das Anregungslicht der
Punktlichtquelle wenigstens zwei Lichtanteile umfaßt, die sich
durch wenigstens eine Lichteigenschaft voneinander unterscheiden
und die dazu geeignet sind, durch gemeinsames Wirken den
Energiezustand der Probe anzuregen, und daß die Strahlachsen der
Lichtanteile derart gegeneinander versetzt angeordnet sind, daß
die fokalen Intensitätsverteilungen der Lichtanteile im
Probenpunkt in ihren Hauptmaxima überlappend, lateral
gegeneinander verschoben sind.
Der Begriff Lichteigenschaft ist in dieser Anmeldung im weiten
Sinne zu verstehen. Es ist damit jede das Licht
charakterisierende Eigenschaft gemeint, beispielsweise
Wellenlänge, Polarisation, Zeitpunkt des Verweilens eines
Lichtpulses an einem bestimmten Punkt.
Zum Versetzen der Strahlachsen der Lichtanteile kann
erfindungsgemäß ein Versetzungselement vorgesehen sein. Ein
solches Versetzungselement kann variabel sein, so daß die
Versetzung variiert und damit die Auflösung verbessert werden
kann. Als Versetzungselement kann ein Mikrometertisch verwendet
werden.
Durch die erfindungsgemäße Anordnung der Punktlichtquelle mit
wenigstens zwei Lichtanteilen, die sich durch wenigstens eine
Lichteigenschaft voneinander unterscheiden und die den
Energiezustand der Probe, dessen Fluoreszenz oder
Phosphoreszenzübergang gemessen werden soll, durch gemeinsames
Wirken anregen, wird erreicht, daß an dem zu messenden
Probenpunkt die Wahrscheinlichkeit der Anregung des
Energiezustandes des Probenpunktes durch das Produkt der
Intensität der Lichtanteile verschiedener Lichteigenschaften
gegeben ist. Die Punktabbildungsfunktion eines solchen
Mikroskops ist durch das Produkt der fokalen
Intensitätsverteilungen gegeben, die zu den Lichtanteilen
unterschiedlicher Lichteigenschaften gehören. Durch die
Produktbildung werden Probenpunkte, die sich nicht in
unmittelbarer Umgebung des Fokus befinden, diskriminiert, was
eine dreidimensionale Rasterung allein mit Hilfe des
Anregungslichtes ermöglicht. Da die Lichtstrahlachsen der
Lichtanteile mittels der Versetzungsanordnung derart
gegeneinander versetzt werden, daß die fokalen
Intensitätsverteilungen der Lichtanteile im Probenpunkt in ihren
Hauptmaxima überlappend, lateral gegeneinander verschoben
werden, ergibt sich die Anregungspunktabbildungsfunktion aus dem
Produkt der lateral verschobenen Intensitätsverteilungen mit
unterschiedlichen Lichteigenschaften. Durch diese Produktbildung
wird das Hauptmaximum der Anregungspunktabbildungsfunktion in
lateraler Richtung verschmälert und zwar entlang der Achse des
Versatzes. Somit wird eine bessere laterale Auflösung erzielt.
Die Anregung des Energiezustandes der Probe durch Zusammenwirken
von mindestens zwei Lichtanteilen mit unterschiedlichen
Lichteigenschaften kann sowohl über einen Zwischenzustand, als
auch in direkter Anregung (resonante oder nicht resonante
Zweiphotonenabsorption) des Endzustandes erzielt werden. Gängige
Fluoreszenzfarbstoffe zur Markierung biologischer Proben oder
auch Phosphoreszenzfarbstoffe lassen sich in diesem
Zweiphotonenmodus anregen.
Bevorzugte Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in den
Unteransprüchen offenbart.
Vorteilhafterweise kann eine Lichteigenschaft, in der sich die
Lichtanteile des Anregungslichtes voneinander unterscheiden, die
Wellenlänge sein. Dabei ist es günstig, wenn der Unterschied in
den Wellenlängen der Lichtanteile wenigstens 1 nm beträgt.
Auch kann eine Lichteigenschaft, in der sich die Lichtanteile
des Anregungslichtes voneinander unterscheiden, die Polarisation
sein. Die Lichtanteile sind dann vorzugsweise orthogonal oder
nahezu orthogonal zueinander polarisiert. Ein Unterschied in der
Polarisation der Lichtanteile führt dann zu der gewünschten
Verbesserung in der lateralen Auflösung, wenn die
Übergangsmatrixelemente, die die Übergänge zwischen den
Energiezuständen der Probe beschreiben, polarisationsabhängig
sind. Dabei können die Wellenlängen der Lichtanteile des
Anregungslichtes, je nachdem, welche Probe verwendet wird,
gleich oder voneinander verschieden sein.
Gemäß einer vorteilhaften Weiterbildung der Erfindung ist
zwischen der Punktlichtquelle und dem Objektiv ein Filterelement
angeordnet, welches einen für wenigstens den Lichtanteil des
Anregungslichtes mit der einen Lichteigenschaft undurchlässigen
Mittenbereich und einen für die Lichtanteile des
Anregungslichtes durchlässigen Außenbereich aufweist. Hierdurch
wird die laterale Auflösung nochmals erheblich verbessert. Dies
kommt dadurch zustande, daß ein solches Filterelement Licht aus
dem Hauptmaximum in die Beugungsnebenmaxima verlagert. Somit
wird eine deutliche Verschmälerung der jeweiligen sich
überlagernden Hauptmaxima erzielt, was zu einer weiteren
Verschmälerung der Anregungsabbildungsfunktion führt. Die
Intensitätszunahme in den Nebenmaxima ist in diesem Fall nicht
störend, da die fokalen Intensitätsverteilungen zueinander
lateral versetzt sind. Somit sind die störenden Nebenmaxima
gegeneinander verschoben, wodurch die Nebenmaxima unterdrückt
werden, da sie sich in ihrer Wirkung nicht ergänzen. Insgesamt
kann eine Verbesserung in der lateralen Auflösung um einen
Faktor 2.5 erzielt werden.
Eine weitere Verschmälerung des Hauptmaximums ohne Entstehen von
Nebenmaxima kann dadurch erzielt werden, daß der Mittenbereich
des Filterelementes für zwei in der Lichteigenschaft
verschiedene Lichtanteile des Anregungslichtes undurchlässig
ist. Die oben beschriebene Wirkung des Filterelementes kann hier
für zwei Lichtanteile verschiedener Lichteigenschaften
ausgenutzt werden. Bei Verwendung des Filterelementes kann die
laterale Verschiebung der Intensitätsverteilungen der
Lichtanteile des Anregungslichtes etwa 50 bis 200 nm, ohne
Verwendung eines Filterelementes etwa 100 bis 300 nm betragen.
Auch kann die Vorrichtung ein Separationselement zum Abtrennen
des von der Probe abgestrahlten Emissionslichtes von dem
Anregungslicht und einem Detektor zum Nachweis des
Emissionslichtes aufweisen. Bei dem Emissionslicht handelt es
sich um das Emissionslicht, welches aufgrund des angeregten
Energiezustandes emittiert wird, der durch das Zusammenwirken
der Lichtanteile angeregt wurde. In dieser Anordnung wird die
Vorrichtung vorteilhafterweise als Mikroskop verwendet. Bei der
Verwendung der erfindungsgemäßen Vorrichtung zur Definition von
Punkten in Speichermedien kann eine entsprechende
Detektoranordnung zum Auslesen der Punkte verwendet werden, d. h.
als Leseeinheit. Der übrige Teil der Vorrichtung, nämlich der
gemäß Anspruch 9, bildet die Schreibeinheit für solche
Speichermedien. Gemäß der Erfindung werden die Punkte, die die
Bits darstellen, verkleinert. Dies ist selbstverständlich
bereits beim Schreibvorgang mit der Vorrichtung gemäß Anspruch 9
oder dem Verfahren gemäß Anspruch 1 der Fall.
Vorteilhafterweise ist das Filterelement in der Nähe der
Eintrittspupille des Objektives angeordnet. Durch diese
Anordnung wird erreicht, daß eine Strahlbegrenzung vermieden
wird, so daß eine gleich hohe Lichtintensität beim Bewegen des
Strahls in der Fokalebene gewährleistet ist. Dieser Vorteil kann
erfindungsgemäß auch dadurch erreicht werden, daß das
Filterelement am Ort oder in der Nähe einer zu der
Eintrittspupille des Objektives optisch konjugierten Ebene
angeordnet ist.
Ferner ist es vorteilhaft, wenn der Mittenbereich des
Filterelementes die Form einer Kreisscheibe hat, an welche sich
der Außenbereich anschließt. Hierbei wird die Symmetrie des
Abbildungslichtes am gleichförmigsten ausgenutzt. Auch ist es
günstig, wenn das Filterelement derart angeordnet ist, daß die
Strahlachse der Teilstrahlen des Anregungslichtes etwa durch den
Mittelpunkt der Kreisscheibe verläuft und die Kreisscheibe unter
einem Winkel von etwas weniger als 90° schneidet. Dabei werden
störende Reflexionen an dem Filterelement in den Strahlengang
vermieden.
Vorteilhafterweise kann der Mittenbereich durch eine auf das
Filterelement aufgebrachte dielektrische Schicht gebildet
werden. Dies macht die Filterherstellung in der Praxis besonders
einfach. Das Filter kann durch Aufdampfen eines dielektrischen
Materiales erzeugt werden. Auch kann das Filterelement
günstigerweise durch ein Farbglas optischer Güte gebildet
werden. Ein solches Filterelement dient zum Herausfiltern eines
Lichtanteiles einer oder mehrerer bestimmter Wellenlängen in dem
Mittenbereich. Soll der Lichtanteil einer bestimmten
Polarisation in dem Mittenbereich herausgefiltert werden, kann
das Filterelement in dem Mittenbereich aus einem
Polarisationsfilter bestehen, das den Lichtanteil mit der einen
Polarisation blockiert. Sollen zwei Lichtanteile mit zwei
Polarisationen aus dem Mittenbereich herausgefiltert werden,
wird der Mittenbereich des Filters derart gewählt, daß er für
die Wellenlängen der entsprechenden Lichtanteile undurchlässig
ist, so daß der gesamte Lichtanteil blockiert wird.
Ferner kann es vorteilhaft sein, wenn das Filterelement für das
von der Probe abgestrahlte Emissionslicht durchlässig ist. Dann
kann die erfindungsgemäße Vorrichtung im vorteilhaften Aufbau
verwendet werden, bei dem das von der Probe abgestrahlte
Emissionslicht mit dem Objektiv gesammelt wird (im folgenden
Rückstrahlaufbau genannt). Dabei wird verhindert, daß eine
Verringerung der Intensität des Emissionslichtes aufgrund der
Wirkung des Filterelementes auftritt.
Gemäß einer vorteilhaften Ausführungsart der Erfindung kann die
Punktlichtquelle mindestens zwei Laser umfassen, die Licht
unterschiedlicher Wellenlängen als Teilstrahlen emittieren.
Dabei kann die Punktlichtquelle ein Verbindungselement zum
Zusammenführen des Lichtes zweier Laser aufweisen, so daß die
Strahlen der beiden Laser zuverlässig auf den gleichen
Probenpunkt fokussiert werden.
Als Verbindungselement der Anregungslichtstrahlen kann
günstigerweise ein dichroitischer Spiegel verwendet werden, der
das Licht des einen Lasers reflektiert und das Licht des anderen
Lasers passieren läßt. Auch kann die Verwendung eines
dichroitischen Würfels vorteilhaft sein.
Auch ist es vorteilhaft, wenn zwischen dem Verbindungselement
und jedem Laser jeweils ein Blendenelement und ein
Fokussierungselement zum Fokussieren des jeweiligen
Lichtstrahles der Lichtanteile auf das entsprechende
Blendenelement vorgesehen sind. Üblicherweise werden als
Blendenelemente Lochblenden verwendet. Als Fokussierungselemente
werden typischerweise Linsen verwendet.
Gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel der Erfindung kann die
Punktlichtquelle einen Laser umfassen, wobei hinter dem Laser
ein Strahlteiler zum Aufspalten des Anregungslichtstrahles in
zwei Teilstrahlen und ein Verbindungselement zum Vereinigen der
Teilstrahlen vorgesehen ist. Dieser Aufbau ist dann günstig,
wenn der Laser Licht verschiedener Wellenlängen gleichzeitig
emittiert. Dann können die beiden Lichtanteile unterschiedlicher
Wellenlängen gegeneinander versetzt werden. Auch ist dieser
Aufbau ist dann vorteilhaft, wenn die beiden Lichtanteile eine
gleiche Wellenlänge, aber unterschiedliche Polarisation
aufweisen. Günstigerweise sind polarisationsoptische Elemente
vorgesehen, die die Teilstrahlen zueinander in ihrer
Polarisation orthogonalisieren. Dies kann zum einen dadurch
verwirklicht werden, daß in jedem Teilstrahl ein Polarisator
vorgesehen ist. Zum anderen kann zwischen dem Laser und dem
Strahlteiler ein Polarisator vorgesehen sein oder ein Laser
verwendet werden, der polarisiertes Licht emittiert und in einem
der Teilstrahlen ein L/2-Plättchen angeordnet sein.
Auch ist es vorteilhaft, wenn wenigstens ein gepulster Laser
verwendet wird. Hierdurch wird eine besonders hohe Intensität in
den Probenpunkten erzielt. Es ist darauf zu achten, daß die
beiden Teilstrahlen keine Laufzeitunterschiede aufweisen. Wird
nur ein Laser verwendet, wobei der Laserstrahl in zwei
Teilstrahlen aufgespalten wird, so wird bei der Verwendung eines
gepulsten Lasers der Puls in zwei Teilpulse aufgespalten. Wenn
die Strahlen wiedervereinigt werden, muß darauf geachtet werden,
daß sich auch die jeweiligen Pulse nach Durchlaufen der
Teilstrahlen, die jetzt eine unterschiedliche Polarisation
aufweisen, überlappen. Hierzu werden die Teilwege, die die
Lichtanteile zurücklegen, vermessen, und es wird ein feines
Translationselement eingefügt, mit dem die Länge eines der von
den Lichtanteilen zurückzulegenden Wege verändern kann. Ein
solches Translationselement ist beispielsweise ein
Umlenkspiegel, der mit einem Piezoelement verschoben wird.
Werden zwei gepulste Laser mit unterschiedlicher Wellenlänge
verwendet, so treten die gleichen Probleme auf. Hier müssen die
beiden Laser zusätzlich mit der gleichen Frequenz pulsen. Die
letztere Schwierigkeit kann dadurch vermieden werden, daß ein
gepulster Laser und ein kontinuierlich arbeitenden Laser in der
Lichtquelle 1 verwendet wird.
Ferner ist es vorteilhaft, wenn das Separationselement ein
dichroitischer Spiegel ist. Dann kann die Anordnung in dem
platzsparenden Rückstrahlaufbau verwendet werden. Es kann auch
vorteilhaft sein, wenn das Separationselement mindestens ein
Filter umfaßt; dies ist für einen einfachen Transmissionsaufbau
der Vorrichtung günstig. Ferner kann das Separationselement eine
Kombination von Farbfiltern und dielektrischen Filtern
enthalten. Auch kann das Separatinselement Glimmerplättchen
aufweisen.
Auch kann der Detektor in kurzer Entfernung hinter der Probe
angeordnet sein. Das ist dann besonders vorteilhaft, wenn das
nachzuweisende Fluoreszenzlicht im UV-Bereich liegt, da in
diesem Fall eine Strahlfokussierung sehr schwierig ist. Die
Entfernung ist so bestimmt, daß wenigstens ein
Separationselement, jedoch kein abbildendes optisches Element
zwischen der Probe und dem Detektor angeordnet werden kann.
Ebenfalls kann es günstig sein, wenn der Detektor ein
Punktdetektor ist. Dann kann vorteilhafterweise vor dem Detektor
ein Fokussierungselement, z. B. eine weitere Linse oder ein
weiteres Objektiv, angeordnet sein, welches das Emissionslicht
auf eine dem Detektor vorgeschaltete Detektorblende, für welche
beispielsweise eine Lochblende verwendet wird, in den Detektor
fokussiert. Der Durchmesser der Blende ist vorzugsweise so groß,
daß deren Bild im Probenbereich in der Größenordnung des
Airyscheibchens ist, das man bei der Wellenlänge des zu
detektierenden Lichtes hat. In diesem Fall ergibt sich die im
Detektor registrierte Intensität aus dem Produkt der
Intensitätsverteilungen der Anteile des Beleuchtungslichtes
unterschiedlicher Wellenlängen, die gemeinsam zum Anregen des
Energiezustandes beitragen, und der Detektorpunkt-
Abbildungsfunktion für das zu detektierende Emissionslicht.
Somit wird eine zusätzliche Verschmälerung des Hauptmaximums und
damit eine weitere Verbesserung der lateralen Auflösung erzielt.
Zusätzlich werden Nebenmaxima, die aufgrund der Strahlversetzung
in der zu der lateralen Richtung orthogonalen Richtung
reduziert.
Günstigerweise kann zwischen der Punktlichtquelle und der Probe
eine Strahlrastereinrichtung (Strahlscanningeinrichtung) zum
gesteuerten Abrastern der Probe mit dem Anregungslicht
vorgesehen sein. Die Strahlrastereinrichtung bewirkt, daß der
Anregungslichtstrahl eine Richtungsänderung erfährt, die so
erfolgt, daß der Drehpunkt in der Eintrittspupille eines auf die
Probe gerichteten Objektives ruht, und der fokussierte
Anregungslichtstrahl im Probenbereich eine Bewegung in der
Fokalebene durchführt. In einer bevorzugten Ausführung umfaßt
die Strahlrastereinheit darüberhinaus auch eine mechanische
Translationseinheit, welche am beleuchtenden Objektiv angebracht
ist und zur axialen Bewegung desselben dient. Damit ist ein
Abrastern der gesamten Probe möglich. Die erfindungsgemäßen
Vorteile können in einem typischen Rastermikroskop ausgenutzt
werden. Im Rückstrahlaufbau befindet sich die
Strahlrastereinrichtung günstigerweise zwischen dem
Separationselement und dem Filterelement.
Erfindungsgemäß kann die Probe auf einem Positioniertisch
angeordnet sein, der eine mechanische Rasterbewegung zumindest
in Richtung der optischen Achse durchführt. Auch kann das
Objektiv derart angeordnet sein, daß es eine Bewegung in
Richtung der optischen Achse durchführt.
Gemäß einem weiteren erfindungsgemäßen Ausführungsbeispiel kann
die Punktlichtquelle derart ausgebildet sein, daß sie gepulstes
Anregungslicht emittiert, wobei einer der Lichtanteile, der
erste, dazu geeignet ist, einen Zwischenenergiezustand der Probe
anzuregen, ein anderer, der zweite, der Lichtanteile dazu
geeignet ist, von dem Zwischenenergiezustand aus, den
Energiezustand der Probe anzuregen und wobei die
Lichteigenschaft, in der sich die Lichtanteile unterscheiden,
der Zeitpunkt des Verweilens des jeweiligen Lichtpulses an dem
Probenpunkt ist. Bei diesem Ausführungsbeispiel wird die
Verbesserung der lateralen Auflösung in dem Probenpunkt dadurch
erzielt, daß an dem Probenpunkt die Wahrscheinlichkeit der
Anregung des Energiezustandes der Probe durch das Produkt der
Intensität des ersten Lichtanteiles, der den
Zwischenenergiezustand zu einem bestimmten ersten Zeitpunkt
anregt und der Intensität des zweiten Lichtanteiles, der von dem
Zwischenenergiezustand aus den Energiezustand der Probe zu einem
etwas späteren zweiten Zeitpunkt anregt, gegeben ist. Durch die
Verwendung von gepulstem Anregungslicht wird erreicht, daß die
erforderliche Zweiphotonenanregung des Energiezustandes der
Probe nicht durch Photonen eines der Lichtanteile alleine,
sondern durch Zusammenwirken des ersten und des zweiten
Lichtanteiles erfolgt. Dies ist insbesondere dann von Interesse,
wenn die Anordnung von dem Energiezustand und dem
Zwischenenergiezustand derart ist, daß deren Anregung mit Licht
der gleichen Wellenlängen erfolgen kann. Es ist
selbstverständlich, daß dieses Ausführungsbeispiel auch in
Kombination mit allen oben bereits erwähnten vorteilhaften
Weiterbildungen der Erfindung verwendet und ausgestattet werden
kann. Auch hier ist wesentlich, daß die Detektion des
Emissionslichtes derart erfolgt, daß das Emissionslicht des
Energiezustandes gemessen wird, welcher durch Zusammenwirken der
beiden Lichtanteile angeregt wurde.
Vorteilhafterweise umfaßt die Lichtquelle einen gepulsten Laser,
einen ersten Strahlteiler zum Aufspalten des von dem Laser
kommenden Anregungslichts in den ersten und in den zweiten
Lichtanteil, und einen zweiten Strahlteiler zum Vereinigen der
beiden Lichtanteile, wobei in dem Strahlengang des zweiten
Lichtanteiles eine Verzögerungsvorrichtung zum Verzögern der
Pulse des zweiten Lichtanteiles, der zweiten Lichtpulse,
vorgesehen ist. Dies ist eine besonders einfache und
wirtschaftlich rentable Vorrichtung, da nur ein Laser verwendet
werden muß. Die Verzögerungseinrichtung kann dabei zwei Spiegel
umfassen. Die Spiegel können gleichzeitig als das
Versetzungselement zum Versetzen der Strahlachsen der
Lichtanteile in lateraler Richtung dienen. Dies ist insbesondere
dann günstig, wenn die Verzögerung größer als 0,1 mm ist, da in
diesem Fall diese Anordnung ohne großen technischen Aufwand
verwendet werden kann und sehr einfach ist.
Ferner ist es vorteilhaft, wenn die Verzögerungseinrichtung
derart ausgebildet ist, daß die Zeitverzögerung zwischen dem
Lichtpuls des ersten Lichtanteiles, dem ersten Lichtpuls, und
dem zweiten Lichtpuls weniger als 1 ns, vorzugsweise etwa 0,1 ns,
beziehungsweise etwa 30 mm im optischen Wegunterschied beträgt.
Die Lichtquelle emittiert günstigerweise kurze Pulse,
vorzugsweise Pulse von 0,1 ns und kürzer. Hierzu kann ein Femto-
oder ein Pikosekunden-Laser verwendet werden, z. B. ein Titan-
Saphir-Laser oder ein Farbstofflaser. Die Pulse derartiger Laser
können im Femtosekundenbereich liegen, so daß die erforderliche
gewünschte kurze Pulslänge erzielt werden kann. Derartige Laser
sind kommerziell erhältlich. Als Probe kann beispielsweise der
Farbstoff Rhodamin B verwendet werden. Durch die gewählte
zeitlich Verzögerung zwischen dem ersten Puls und dem zweiten
Puls und der Pulslänge wird erreicht, daß der erste, der früher
ankommende Puls, den Zwischenenergiezustand anregt und dann die
Probe wieder verläßt. Innerhalb der Lebensdauer des
Zwischenenergiezustandes erfolgt die zweite Anregung in den
Energiezustand aufgrund des zweiten Lichtpulses. Bei den
gewählten Bedingungen ist der Zwischenenergiezustand noch nahezu
voll besetzt und der erste Puls hat die Probe bereits so weit
verlassen, daß die Anregung in den Energiezustand nur aufgrund
des zweiten Pulses erfolgt. Somit ist gewährleistet, daß die
Gesamtanregung des Energiezustandes der Probe durch das
Zusammenwirken des ersten und des zweiten Pulses, die zudem auch
lateral versetzt sind, erfolgt.
Dadurch daß die Pulse zeitlich steil sind, wird erreicht, daß
die Pulse deutlich kürzer sind, im obigen Beispiel etwa einem
Zehntel der Lebensdauer des Zwischenenergiezustandes
entsprechen. Somit ist gewährleistet, daß der erste Puls die
Probe zu dem Zeitpunkt verlassen hat, zu dem der zweite Puls in
dem Probenpunkt verweilt.
Auch können in dem Lichtweg des jeweiligen Lichtanteiles
Elemente zur Intensitätsregulierung des Lichtanteiles vorgesehen
sein. Hierzu können beispielsweise Graufilter verwendet werden.
Bei der Verwendung des Farbstoffes Rhodamin B ist es günstig,
wenn die Intensität des zweiten Lichtpulses etwa 10mal stärker
ist als die Intensität des ersten Lichtpulses. Dies rührt daher,
daß die Übergangswahrscheinlichkeit von dem
Zwischenenergiezustand in den Energiezustand etwa 10mal
niedriger ist als der Übergang von dem Grundzustand in den
Zwischenenergiezustand, der aufgrund des ersten Pulses angeregt
werden soll. Bei anderen Proben wird entsprechend der
Übergangswahrscheinlichkeiten des durch den ersten Lichtpuls und
den zweiten Lichtpuls anzuregenden Zwischenenergiezustands und
Energiezustands die Intensitätsregulierung entsprechend gewählt.
Auch kann hinter dem Laser eine nicht lineare optische Einheit
zur Veränderung der Lichtwellenlänge, z. B. eine
Frequenzverdopplungseinheit, wie ein
Frequenzverdopplungskristall, vorgesehen sein. Dies ermöglicht
insbesondere bei der Verwendung eines Titan-Saphir-Lasers einen
einfachen Aufbau. Dies führt zu einer typischen Pulsdauer von
100fsec und einer typischen Wellenlänge von 350-500 nm.
Im folgenden ist die Erfindung anhand der Zeichnung näher
beschrieben. Es zeigt
Fig. 1 eine schematische Darstellung eines Ausführungsbeispiels
der erfindungsgemäßen Vorrichtung,
Fig. 2 die lateral verschobenen Intensitätsverteilungen zweier
Lichtanteile mit verschiedener Lichteigenschaft des
Anregungslichtes am Probenpunkt,
Fig. 3 die Anregungspunkt-Abbildungsfunktion des
Anregungslichtes am Probenpunkt gemäß der Erfindung (Produkt der
Intensitätsverteilungen der Lichtanteile aus Fig. 2), und
Fig. 4 eine schematische Darstellung eines weiteren
Ausführungsbeispiels der erfindungsgemäßen Vorrichtung.
Fig. 1 zeigt ein Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäßen
Vorrichtung. Das Ausführungsbeispiel bezieht sich auf ein
Rastermikroskop. Durch dieses Ausführungsbeispiel soll die
Verwendung der erfindungsgemäßen Vorrichtung und des
erfindungsgemäßen Verfahrens als normales Mikroskop und
insbesondere die Anwendung zur Definition von Punkten in
Speichermedien, die Bits darstellen, nicht ausgeschlossen werden
Das Licht einer Punktlichtquelle 1 wird mittels eines Objektives 2 auf einem Probenpunkt 3 einer Probe 4 abgebildet. In dem hier gezeigten Rückstrahlaufbau wird das von der Probe 4 emittierte Emissionslicht, das durch das Anregungslicht erzeugte Fluoreszenz- oder Phosphoreszenzlicht, über ein Separationselement 5 auf einen Detektor 6 abgebildet. Als Separationselement 5 wird typischerweise ein dichroitischer Spiegel verwendet. Die Lichtquelle 1 umfaßt zwei Laser 7 und 8, von welchen der Laser 7 Licht der Wellenlänge L₁ und/oder Licht der Polarisation P₁ und der Laser 8 Licht der Wellenlänge L₂ und/oder Licht der Polarisation P₂ emittiert. Dabei ist L₁ ungleich L₂ und/oder P₁ ungleich P₂. Ungleich in der Polarisation bedeutet, daß die Polarisationen P₁, P₂ der Lichtanteile orthogonal oder nahezu orthogonal zueinander sind. Das Licht der beiden Laser 7 und 8 wird mittels eines Verbindungselementes 9, beispielsweise eines dichroitischen Spiegels, zusammengeführt und über das Separationselement 5 auf den Probenpunkt 3 der Probe 4 gelenkt. Zwischen dem Verbindungselement 9 und jedem Laser 7, 8 ist jeweils ein Blendenelement 10, 11 und eine Fokussierungselement 12, 13 zum Fokussieren des jeweiligen Lichtstrahles der Lichtanteile auf das entsprechende Blendenelement vorgesehen. Als Fokussierungselemente 12, 13 werden typischerweise Linsen, als Blendenelemente 10, 11 Lochblenden verwendet. Durch diese Anordnung wirken die Laser 7 und 8 als Punktlichtquellen. Der Ausgang der Punktlichtquelle 1 wird durch Vereinigung der beiden Laserstrahlen auf dem Verbindungselement 9 erreicht.
Das Licht einer Punktlichtquelle 1 wird mittels eines Objektives 2 auf einem Probenpunkt 3 einer Probe 4 abgebildet. In dem hier gezeigten Rückstrahlaufbau wird das von der Probe 4 emittierte Emissionslicht, das durch das Anregungslicht erzeugte Fluoreszenz- oder Phosphoreszenzlicht, über ein Separationselement 5 auf einen Detektor 6 abgebildet. Als Separationselement 5 wird typischerweise ein dichroitischer Spiegel verwendet. Die Lichtquelle 1 umfaßt zwei Laser 7 und 8, von welchen der Laser 7 Licht der Wellenlänge L₁ und/oder Licht der Polarisation P₁ und der Laser 8 Licht der Wellenlänge L₂ und/oder Licht der Polarisation P₂ emittiert. Dabei ist L₁ ungleich L₂ und/oder P₁ ungleich P₂. Ungleich in der Polarisation bedeutet, daß die Polarisationen P₁, P₂ der Lichtanteile orthogonal oder nahezu orthogonal zueinander sind. Das Licht der beiden Laser 7 und 8 wird mittels eines Verbindungselementes 9, beispielsweise eines dichroitischen Spiegels, zusammengeführt und über das Separationselement 5 auf den Probenpunkt 3 der Probe 4 gelenkt. Zwischen dem Verbindungselement 9 und jedem Laser 7, 8 ist jeweils ein Blendenelement 10, 11 und eine Fokussierungselement 12, 13 zum Fokussieren des jeweiligen Lichtstrahles der Lichtanteile auf das entsprechende Blendenelement vorgesehen. Als Fokussierungselemente 12, 13 werden typischerweise Linsen, als Blendenelemente 10, 11 Lochblenden verwendet. Durch diese Anordnung wirken die Laser 7 und 8 als Punktlichtquellen. Der Ausgang der Punktlichtquelle 1 wird durch Vereinigung der beiden Laserstrahlen auf dem Verbindungselement 9 erreicht.
Die Strahlachsen der Lichtanteile L₁, L₂ sind gegenüber der in
der Figur dargestellten Symmetrieachsen, gemäß denen die
Hauptmaxima der Intensitätsverteilungen der Lichtanteile
zusammenfallen würden, versetzt angeordnet und zwar so, daß die
fokalen Intensitätsverteilungen der Lichtanteile im
Probenpunkt 3 in ihren Hauptmaxima überlappen, lateral
gegeneinander verschoben sind. Gemäß der Fig. 1 sind die
Strahlen der Lichtanteile dadurch versetzt, daß die Laser
seitlich der optischen Achse angeordnet sind. Es kann aber auch
ein Versetzungselement vorgesehen sein, mit dem die Versetzung
variiert werden kann. Hierzu kann z. B. ein Mikrometertisch
verwendet werden. Durch die Änderung der Versetzung kann jeweils
die optimale Auflösungsverbesserung erzielt werden.
Fig. 2 zeigt die Intensitätsverteilung der von den Lasern 7, 8
auf den Probenpunkt 3 fokussierten Lichtanteile mit
unterschiedlicher Wellenlänge L₁, L₂ oder mit unterschiedlicher
Polarisation P₁, P₂, die lateral in ihren Hauptmaxima überlappend
gegeneinander verschoben sind. Die
Anregungspunktabbildungsfunktion in der Fokalebene der
erfindungsgemäßen Anordnung ist in Fig. 3 gezeigt. Die
Anregungspunktabbildungsfunktion ergibt sich aus dem Produkt der
in Fig. 2 dargestellten, gegeneinander versetzten
Intensitätsverteilungen mit unterschiedlichen Wellenlängen L₁, L₂
oder unterschiedlichen Polarisationen P₁, P₂. Bei der
Überlagerung der beiden Intensitätsverteilungen entsteht in der
Gesamtfunktion der Fig. 3 ein schmaleres Hauptmaximum und somit
eine bessere laterale Auflösung der Vorrichtung. Der
Energiezustand der Probe 4 in dem Probenpunkt 3 wird durch
Zusammenwirken von Photonen der beiden Lichtanteile, deren
Intensitätsverteilungen in ihren Hauptmaxima überlappend lateral
gegeneinander verschoben sind und die unterschiedliche
Wellenlängen L₁, L₂ oder unterschiedliche Polarisationen P₁, P₂
aufweisen, angeregt. Durch das Zusammenwirken der Photonen der
verschiedenen Lichtanteile erfolgt die Anregung in dem
Energiezustand der Probe 4 gemäß der
Anregungspunktabbildungsfunktion entsprechend Fig. 3. Der
effektive Fokus eines Rastermikroskopes ist in der Fokalebene
schmal, so daß durch Detektion des Emissionslichtes der Probe 4
im Detektor 6 eine höher auflösende Abbildung der Probe 4
erzielt wird.
Um eine weitere Verbesserung in der lateralen Auflösung zu
erzielen, durchläuft das aus der Punktlichtquelle 1 austretende
Laserlicht, nachdem es durch das Separationselement 5 umgelenkt
wird, und bevor es von dem Objektiv 2 auf den Probenpunkt 3
abgebildet wird, ein Filterelement 14. Das Filterelement 14
weist einen Mittenbereich 15 auf, der für die Lichtanteile einer
oder beider Wellenlängen L₁, L₂ oder einer oder beider
Polarisationen P₁, P₂ undurchlässig ist. Ferner weist das
Filterelement 14 einen Außenbereich 16 auf, der für die beiden
Lichtanteile durchlässig ist. Das Filterelement 14 ist in der
Nähe der Eintrittspupille des Objektives 2 angeordnet. Als
Filterelement 14 wird ein Filter verwendet, auf das der
Mittenbereich 15 durch Aufdampfen einer dielektrischen Schicht
erzeugt wird oder ein Farbglas optischer Güte ist, oder dessen
Mittenbereich 15 ein Polarisationsfilter aufweist, das den
Lichtanteil mit der einen Polarisation P₁ blockiert. Ferner ist
der Mittenbereich 15 und der Außenbereich 16 des
Filterelementes 14 für das von der Probe 4 abgestrahlte
Emissionslicht durchlässig. Die Lichtstrahlachse verläuft durch
den Kreismittelpunkt und das Filterelement 14 weist hinsichtlich
der Strahlachse einen Neigungswinkel von ein paar Grad auf, um
störende Reflexionen zu vermeiden. Vor dem Detektor 6 ist ein
Filter 17 zum Abblocken des restlichen Anregungslichtes
vorgesehen.
Ferner ist zwischen dem Separationselement 5 und dem
Filterelement 14 eine Strahlrastereinrichtung 18 vorgesehen, mit
der die Probenpunkte 3 der Probe 4 abgerastert werden können.
Zwischen dem Separationselement 5 und der
Strahlrastereinrichtung 18 ist eine weitere Linse 19 angeordnet,
durch deren Wirkung der von der Punktlichtquelle 1 und dem
Separationselement 5 kommende Lichtstrahl parallelisiert wird.
Dabei entspricht die Summe des Abstandes der Linse 19 zu dem
Separationselement 5 und des Abstandes des Separationselements 5
zu den Lochblenden 10, 11 der Brennweite der Linse 19.
Zur weiteren Verbesserung der Auflösung ist vor dem Detektor 6
eine in der Figur nicht dargestellte Blende im Abstand der
Brennweite der Linse 19 angeordnet. Üblicherweise wird als
Detektorblende eine Lochblende verwendet, oder die Öffnung des
Detektors dient als Blende, wobei der Durchmesser der Blende so
groß ist, daß ihr Bild im Probenbereich in der Größenordnung des
ersten Hauptmaximums der Punktabbildungsfunktion des
Fokussierungselementes zur Fokussierung des Emissionslichtes
ist. Als Detektor 6 wird ein Fotomultiplier oder ein
Halbleiterdetektor verwendet. Aufgrund der Punktabbildung des
Probenpunktes 3 auf den Detektor 6 wird der
Intensitätsverteilung aus Fig. 3 eine
Detektionspunktabbildungsfunktion überlagert, welche zu einer
weiteren Verschmälerung des Hauptmaximums führt. Zudem werden
Nebenmaxima, die aufgrund der Strahlversetzung in der zu der
lateralen Richtung orthogonalen Richtung in der
Anregungspunktabbildungsfunktion entstanden sind, reduziert.
Es sei darauf hingewiesen, daß das in der Fig. 1 dargestellte
Ausführungsbeispiel, nämlich ein Rastermikroskop mit erheblicher
Verbesserung in der lateralen Auflösung, keine Einschränkung der
erfindungsgemäßen Vorrichtung ist. Beispielsweise ist es
möglich, anstelle der beiden Laser 7 und 8 nur einen Laser 7 zu
verwenden, wobei hinter dem Laser 7 ein Strahlteiler zum
Aufspalten des Anregungslichtes in zwei Teilstrahlen vorgesehen
sind, die wieder mittels des Verbindungselements 9 vereinigt
werden. Soll die Anregung des Energiezustandes in diesem Fall
mit Lichtanteilen unterschiedlicher Polarisation erfolgen, so
sind polarisationsoptische Elemente vorgesehen, die die
Teilstrahlen zueinander in ihrer Polarisation orthogonalisieren.
Dies kann dadurch realisiert werden, daß in den beiden
Teilstrahlen jeweils ein Polarisator vorgesehen ist, wobei die
Polarisatoren zueinander orthogonale oder nahezu orthogonale
Polarisationsebenen aufweisen. Ferner kann dies dadurch
realisiert werden, daß zwischen dem Laser 7 und dem Strahlteiler
ein Polarisator vorgesehen ist, oder statt dessen ein Laser 7
verwendet wird, der polarisiertes Licht emittiert, und daß in
dem Strahlengang eines der Teilstrahlen ein L₁/2 Plättchen
vorgesehen ist.
Ferner kann statt dem Rückstrahlaufbau eine
Transmissionsanordnung verwendet werden, bei welcher das
Separationselement 5 durch ein Filter realisiert wird, welches
hinter der Probe 4 angeordnet ist, wobei der Detektor 6 hinter
dem Filter anzuordnen ist. Im letzteren Fall kann der Detektor 6
direkt hinter der Probe angeordnet werden. Dies ist dann
vorteilhaft, wenn das Fluoreszenzlicht der Probe 4 im UV-Bereich
liegt, da dann eine Strahlfokussierung schwierig ist. Bei der
Transmissionsvorrichtung ist es zudem nicht erforderlich, daß
das Filterelement 14 für das Emissionslicht der Probe 4
durchlässig ist.′
Auch kann die Vorrichtung Glasfaser umfassen. Wenn zwei Laser verwendet werden, sind die Fasern derart angeordnet, daß das Licht eines jeden Lasers jeweils in eine Faser eingekoppelt wird. Dabei wirken die Faserenden als Lochblenden 10, 11. Die Faserenden können lateral versetzt angeordnet werden. Dabei können die Fasern sehr einfach mit Hilfe von Mikrometertischen verschoben werden. Bei Verwendung eines Lasers wird jeweils ein Lichtanteil in eine Faser eingekoppelt, wobei die Faserausgänge ebenfalls als Lochblenden wirken. Die Lichtanteile unterschiedlicher Lichteigenschaften können vor dem Einkoppeln mittels eines dichroitischen Spiegels (bei unterschiedlichen Wellenlängen) oder mittels eines Polarisationsstrahlteilerwürfels (bei unterschiedlicher Polarisation) aus dem Strahl getrennt werden.
Auch kann die Vorrichtung Glasfaser umfassen. Wenn zwei Laser verwendet werden, sind die Fasern derart angeordnet, daß das Licht eines jeden Lasers jeweils in eine Faser eingekoppelt wird. Dabei wirken die Faserenden als Lochblenden 10, 11. Die Faserenden können lateral versetzt angeordnet werden. Dabei können die Fasern sehr einfach mit Hilfe von Mikrometertischen verschoben werden. Bei Verwendung eines Lasers wird jeweils ein Lichtanteil in eine Faser eingekoppelt, wobei die Faserausgänge ebenfalls als Lochblenden wirken. Die Lichtanteile unterschiedlicher Lichteigenschaften können vor dem Einkoppeln mittels eines dichroitischen Spiegels (bei unterschiedlichen Wellenlängen) oder mittels eines Polarisationsstrahlteilerwürfels (bei unterschiedlicher Polarisation) aus dem Strahl getrennt werden.
Die Probe 4 ist auf einem Scantisch 21 befestigt, der
vorzugsweise eine Mikroskoppositionierung der Probe 4 in axialer
Richtung und damit ein axiales Rastern erlaubt. Aufbau und
Justierung des Rastermikroskopes erfolgt, soweit nicht explizit
beschrieben, auf dem Fachmann bekannte Art und Weise.
Fig. 4 zeigt eine schematische Darstellung einer Anordnung
gemäß einem anderen erfindungsgemäßen Ausführungsbeispiel. Sich
entsprechende Elemente sind mit gleichen Bezugszeichen
bezeichnet, wie in den vorhergehenden Ausführungsbeispielen.
Selbstverständlich ist die Erfindung nicht auf die im folgenden
gezeigte Anordnung eingeschränkt, sondern es sind auch alle oben
beschriebenen Variationen mit diesem Ausführungsbeispiel
kombinierbar.
Es wird im folgenden insbesondere auf die Komponenten
eingegangen, die sich von den vorherigen Ausführungsbeispielen
unterscheiden. Das Licht des gepulsten Lasers 7, welcher ein
Titan-Saphir-Laser sein kann, wird von einem
Frequenzverdopplungselement 22 in seiner Frequenz verdoppelt und
von einem ersten Strahlteiler 23 in zwei Lichtanteile
aufgespalten. Der erste Lichtanteil a durchläuft den direkten
Teilweg bis zu einem zweiten Strahlteiler 24, wohingegen der
zweite Lichtanteil b einen längeren Weg über eine
Verzögerungsanordnung 25, 26 durchläuft und dann hinsichtlich
des ersten Teilstrahles zu einem späteren Zeitpunkt und lateral
versetzt auf den zweiten Strahlteiler 24 trifft. Für
Verzögerungen in der Größenordnung von 0,1 nsec können für die
Verzögerungsanordnung, wie in Fig. 4 dargestellt, Spiegel 25, 26
verwendet werden. Die Lichtanteile a und b fallen zu
entsprechend zueinander verzögerten Zeitpunkten und mit einer
lateralen Versetzung auf des Separationselement 5, von welchem
sie mittels des Objektives 2 auf den Probenpunkt 3 der Probe 4
fokussiert werden. Dort regt der zuerst ankommende Puls des
Lichtanteiles a den Zwischenenergiezustand der Probe 4 an.
Innerhalb der Lebensdauer des Zwischenenergiezustandes und wenn
der erste Puls des ersten Lichtanteiles die Probe 4 bereits
verlassen hat, erfolgt die Anregung des Zwischenenergiezustandes
in den Energiezustand der Probe 4 mittels des zweiten, zu dem
ersten verzögerten und lateral versetzten Puls b. Das
Emissionslicht der Probe 4, das von dem durch das Zusammenwirken
des ersten und des zweiten Lichtpulses aus dem ersten und dem
zweiten Lichtanteil angeregten Energiezustandes der Probe
emittiert wird, wird in dem Detektor 6 nachgewiesen. In den
Teilwegen der Lichtanteile sind Elemente zur
Intensitätsregulierung der Lichtpulse in den Teilstrahlen,
beispielsweise Graufilter 27, 28, vorgesehen. Das
Absorptionsvermögen dieser Elemente ist derart gewählt, daß
unterschiedliche Übergangswahrscheinlichkeiten von dem Übergang
von dem Grundzustand zu dem Zwischenenergiezustand und von dem
Zwischenenergiezustand in den Energiezustand der Probe
kompensiert werden können. Bei der Verwendung des Farbstoffes
Rhodamin B beispielsweise ist die Übergangswahrscheinlichkeit
von dem Zwischenenergiezustand in den Endenergiezustand 10mal
niedriger als die Übergangswahrscheinlichkeit von dem
Grundzustand in den Zwischenenergiezustand der Probe. Daher
werden in diesem Fall die Elemente zur Regulierung der
Intensität der Teilpulse derart gewählt, daß der Lichtpuls des
Lichtanteiles b 10mal stärker ist als die Intensität des
Lichtpulses des Lichtanteiles a.
Im übrigen kann eine weitere Verbesserung der lateralen
Auflösung von Vorrichtung und Verfahren gemäß der Erfindung
dadurch erreicht werden, daß mindestens einem Teilstrahl ein
Koma zugefügt wird. Dadurch wird die Intensitätsverteilung des
Teilstrahls am Probenpunkt auf einer Seite steiler, auf der
gegenüberliegenden Seite flacher. Das Koma wird derart dem
Teilstrahl zugefügt, daß der steilere Teil der
Intensitätsverteilung im Überlappungsbereich der Hauptmaxima der
Lichtanteile liegt. Das Koma kann auch beiden Teilstrahlen
zugefügt werden. Das Koma kann etwa durch Einführen eines
Keiles, z. B. aus Glas, in den jeweiligen Teilstrahl realisiert
werden.
Im folgenden wird die Verwendung der erfindungsgemäßen
Vorrichtung anhand des ersten Ausführungsbeispieles des
erfindungsgemäßen Verfahrens beschrieben. Die Probe 4 und die
Laser 7 und 8 werden so ausgewählt, daß Photonen aus beiden
Lasern 7 und 8 und damit Photonen unterschiedlicher Wellenlänge
und/oder Polarisation, zusammenwirken, um einen Zustand der
Probe 4 energetisch anregen zu können. Bei Verwendung zweier
Wellenlängen ist die Summe der Energien von einem Photon aus dem
einen Laser 7 und einem Photon aus dem anderen Laser 8 gleich
der Anregungsenergie und in etwa gleich der Differenz zwischen
dem Energiezustand vor der Anregung und im angeregten Zustand
der Probe. Die Lichtstrahlachsen der Lichtanteile, die durch die
Laser 7, 8, die Fokussierungselemente 12, 13 und die
Blendenelemente 10, 11 gebildet werden, werden derart
gegeneinander versetzt, daß die fokalen Intensitätsverteilungen
der Lichtanteile im Probenpunkt in ihren Hauptmaxima
überlappend, lateral gegeneinander verschoben werden. Die
Probe 4 wird im Fokalbereich des Objektives 2 der
erfindungsgemäßen Vorrichtung positioniert. Zwischen der
Strahlrastereinrichtung 18 und dem Objektiv 2 wird das
Filterelement 14 angeordnet. Der Strahlengang wird so
ausgerichtet, daß das von der Lichtquelle 1 und somit von dem
Verbindungselement 9 kommende Anregungslicht von dem
Separationselement 5 umgelenkt wird, von der Linse 19 in die
Strahlrastereinrichtung 18 abgebildet wird, danach das
Filterelement 14 durchläuft und von dem Objektiv 2 auf den
Probenpunkt 3 abgebildet wird. Das infolge der Anregung
emittierte Fluoreszenz- oder Phosphoreszenzlicht der Probe 4 in
dem Probenpunkt 3 durchläuft die Anordnung rückwärts bis zu dem
Separationselement 5, von welchem es durch das Filter 17 in den
Detektor 6 geleitet wird. Dabei wird der Probenpunkt 3 mit einer
sehr hohen lateralen Auflösung gemessen. Mittels der
Strahlrastereinrichtung 18 wird der Anregungslichtstrahl
automatisch zu einem weiteren Probenpunkt 3′ gelenkt, dessen
Emissionslicht ebenfalls in dem Detektor 6 gemessen wird.
Entsprechend werden durch Steuern der Strahlrastereinheit die
übrigen gewünschten Probenpunkte gemessen, so daß die gesamte
Probe 4 mit einer sehr hohen lateralen Auflösung vermessen wird.
Claims (48)
1. Verfahren zum optischen Anregen eines Energiezustandes einer
Probe in einem Probenpunkt mit hoher Ortsauflösung, bei dem
das Anregungslicht einer Punktlichtquelle auf den zu
messenden Probenpunkt fokussiert wird und dort den
Energiezustand anregt,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Energiezustand der Probe (4) in dem Probenpunkt (3)
durch Zusammenwirken von wenigstens zwei in dem
Anregungslicht enthaltenen Lichtanteilen angeregt wird, die
sich durch wenigstens eine Lichteigenschaft voneinander
unterscheiden, und daß die Lichtstrahlachsen der
Lichtanteile derart gegeneinander versetzt werden, daß die
fokalen Intensitätsverteilungen der Lichtanteile im
Probenpunkt (3) in ihren Hauptmaxima überlappend, lateral
gegeneinander verschoben werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß eine Lichteigenschaft, in der sich die Lichtanteile des
Anregungslichtes voneinander unterscheiden, die Wellenlänge
ist.
3. Verfahren nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Unterschied in den Wellenlängen (L₁, L₂) der
Lichtanteile wenigstens 1 nm beträgt.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß eine Lichteigenschaft, in der sich die Lichtanteile des
Anregungslichtes voneinander unterscheiden, die Polarisation
ist.
5. Verfahren nach Anspruch 4,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Lichtanteile orthogonal oder nahezu orthogonal
zueinander polarisiert sind.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5,
dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens der Lichtanteil des Anregungslichtes mit der
einen Lichteigenschaft aus einem Mittenbereich des
Anregungslichtstrahles herausgefiltert wird, bevor das
Anregungslicht auf die Probe (3) fokussiert wird.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6,
dadurch gekennzeichnet,
daß zwei in der Lichteigenschaft verschiedene Lichtanteile
des Anregungslichtes aus dem Mittenbereich des
Anregungslichtstrahles herausgefiltert werden, bevor das
Anregungslicht auf die Probe (3) fokussiert wird.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7,
dadurch gekennzeichnet,
daß das von der Probe (4) in dem Probenpunkt (3) aufgrund
der Anregung emittierte Emissionslicht aus dem
Anregungslicht abgetrennt und in einem Detektor (6)
nachgewiesen wird.
9. Vorrichtung zum optischen Anregen eines Energiezustandes
einer Probe in einem Probenpunkt mit hoher Ortsauflösung,
mit einer Punktlichtquelle und mit einem Objektiv, das das
von der Punktlichtquelle kommende Anregungslicht zum Anregen
des Energiezustandes auf den zu messenden Probenpunkt einer
im Fokalbereich des Objektives anordenbaren Probe
fokussiert,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Anregungslicht der Punktlichtquelle (1) wenigstens
zwei Lichtanteile umfaßt, die sich durch wenigstens eine
Lichteigenschaft voneinander unterscheiden und die dazu
geeignet sind, durch gemeinsames Wirken den Energiezustand
der Probe (3) anzuregen, und daß die Strahlachsen der
Lichtanteile derart gegeneinander versetzt angeordnet sind,
daß die fokalen Intensitätsverteilungen der Lichtanteile im
Probenpunkt (3) in ihren Hauptmaxima überlappend, lateral
gegeneinander verschoben sind.
10. Vorrichtung nach Anspruch 9,
dadurch gekennzeichnet,
daß ein Versetzungselement zum Versetzen der Strahlachsen
der Lichtanteile vorgesehen ist.
11. Vorrichtung nach Anspruch 9 oder 10,
dadurch gekennzeichnet,
daß zwischen der Punktlichtquelle (1) und dem Objektiv (2)
ein Filterelement (14) angeordnet ist, welches einen für
wenigstens den Lichtanteil des Anregungslichtes mit der
einen Lichteigenschaft undurchlässigen Mittenbereich (15)
und einen für die Lichtanteile des Anregungslichtes
durchlässigen Außenbereich (16) aufweist.
12. Vorrichtung nach Anspruch 11,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Mittenbereich (15) des Filterelements (14) für zwei
in der Lichteigenschaft verschiedene Lichtanteile des
Anregungslichtes undurchlässig ist.
13. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 12,
dadurch gekennzeichnet,
daß ein Separationselement (5) zum Abtrennen des von der
Probe (4) abgestrahlten Emissionslichtes von dem
Anregungslicht und ein Detektor (6) zum Nachweis des
Emissionslichtes vorgesehen ist.
14. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 11 bis 13,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Filterelement (14) am Ort oder in der Nähe der
Eintrittspupille des Objektives (2) angeordnet ist.
15. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 11 bis 13
dadurch gekennzeichnet,
daß das Filterelement (14) am Ort oder in der Nähe einer zu
der Eintrittspupille des Objektives (2) optisch konjugierten
Ebene angeordnet ist.
16. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 11 bis 15,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Mittenbereich (15) des Filterelements (14) die Form
einer Kreisscheibe hat, an welche sich der Außenbereich (16)
anschließt.
17. Vorrichtung nach Anspruch 16,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Filterelement (14) derart angeordnet ist, daß die
Strahlachse der Teilstrahlen des Anregungslichtes etwa durch
den Mittelpunkt der Kreisscheibe verläuft und die
Kreisscheibe unter einem Winkel, der etwas kleiner als 90°
ist, schneidet.
18. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 11 bis 17,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Mittenbereich (15) durch eine auf das
Filterelement (14) aufgebrachte dielektrische Schicht oder
durch ein Farbglas optischer Güte gebildet ist.
19. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 11 bis 18,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Mittenbereich (15) und der Außenbereich (16) des
Filterelementes (14) für das von der Probe (4) abgestrahlte
Emissionslicht durchlässig sind.
20. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 19,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Punktlichtquelle (1) mindestens zwei Laser (7, 8)
umfaßt, die Licht unterschiedlicher Wellenlängen (L₁, L₂)
und/oder unterschiedlicher Polarisation (P₁, P₂) als
Teilstrahlen emittieren.
21. Vorrichtung nach Anspruch 20,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Punktlichtquelle (1) ein Verbindungselement (9) zum
Zusammenführen der Teilstrahlen der Laser (7, 8) aufweist.
22. Vorrichtung nach Anspruch 21,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Verbindungselement (9) ein dichroitischer Spiegel
ist.
23. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 20 bis 22,
dadurch gekennzeichnet,
daß zwischen dem Verbindungselement (9) und jedem
Laser (7, 8 ) jeweils ein Blendenelement (10, 11) und ein
Fokussierungselement (12, 13) zum Fokussieren des jeweiligen
Lichtstrahles der Lichtanteile auf das entsprechende
Blendenelement (10, 11) vorgesehen sind.
24. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 19,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Punktlichtquelle (1) einen Laser (7) umfaßt, wobei
hinter dem Laser (7) ein Strahlteiler zum Aufspalten des
Anregungslichtstrahles in zwei Teilstrahlen und ein
Verbindungselement (9) zum Vereinigen der Teilstrahlen
vorgesehen ist.
25. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 20 bis 24,
dadurch gekennzeichnet,
daß polarisationsoptische Elemente vorgesehen sind, die die
Teilstrahlen zueinander in ihrer Polarisation
orthogonalisieren.
26. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 20 bis 25,
dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens ein gepulster Laser (7, 8) verwendet wird.
27. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 26,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Separationselement (5) ein dichroitischer Spiegel
ist.
29. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 28
dadurch gekennzeichnet,
daß das Separationselement (5) eine Kombination von
Farbfiltern und dielektrischen Filtern enthält.
28. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 26,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Separationselement (5) mindestens einen Farbfilter
aufweist.
29. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 28
dadurch gekennzeichnet,
daß das Separationselement (5) eine Kombination von
Farbfiltern und dielektrischen Filtern enthält.
30. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 29,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Detektor (6) in kurzer Entfernung hinter der
Probe (4) angeordnet ist.
31. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 29,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Detektor (6) ein Punktdetektor ist.
32. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 31,
dadurch gekennzeichnet,
daß vor dem Detektor (6) ein Fokussierungselement angeordnet
ist, welches das Emissionslicht in den Detektor (6)
fokussiert.
33. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 32,
dadurch gekennzeichnet,
daß zwischen der Lichtquelle (1) und dem Objektiv (4) eine
Strahlrastereinrichtung (18) zum gesteuerten Abrastern der
Probe (4) mit dem Anregungslicht vorgesehen ist.
34. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 33,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Probe (4) auf einem Positioniertisch (21) angeordnet
ist, der geeignet ist, eine mechanische Rasterbewegung
zumindest in Richtung der optischen Achse durchzuführen.
35. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 34,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Punktlichtquelle (1) derart ausgebildet ist, daß sie
gepulstes Anregungslicht emittiert, wobei eine der
Lichtanteile, der erste, dazu geeignet ist, einen
Zwischenenergiezustand der Probe (4) anzuregen, ein anderer,
der zweite, der Lichtanteile dazu geeignet ist, von dem
Zwischenenergiezustand aus, den Energiezustand der Probe (4)
anzuregen und wobei die Lichteigenschaft, in der sich die
Lichtanteile unterscheiden, der Zeitpunkt des Verweilens des
jeweiligen Lichtpulses an dem Probenpunkt (3) ist.
36. Vorrichtung nach Anspruch 35,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Lichtquelle (1) einen gepulsten Laser (7), einen
ersten Strahlteiler zum Aufspalten des von dem Laser (7)
kommenden Anregungslicht in den ersten und in den zweiten
Lichtanteil und einen zweiten Strahlteiler zum Vereinigen
der beiden Lichtanteile umfaßt, wobei in dem Strahlengang
des zweiten Lichtanteiles eine
Verzögerungsvorrichtung (25, 26) zum Verzögern der Lichtpulse
des zweiten Lichtanteiles, der zweiten Lichtpulse,
vorgesehen ist.
37. Vorrichtung nach Anspruch 36,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Verzögerungseinrichtung zwei Spiegel (25, 26) umfaßt.
38. Vorrichtung nach Anspruch 37,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Spiegel (25, 26) gleichzeitig als das
Versetzungselement zum Versetzen der Strahlachsen der
Lichtanteile dienen.
39. Vorrichtung nach Anspruch 37 oder 38,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Verzögerungseinrichtung derart ausgebildet ist, daß
die Zeitverzögerung zwischen dem Lichtpuls des ersten
Lichtanteiles, dem ersten Lichtpuls, und dem zweiten
Lichtpuls weniger als 1 ns, vorzugsweise etwa 0,1 ns oder
weniger, beziehungsweise etwa 30 mm oder weniger im
optischen Wegunterschied beträgt.
40. Verfahren nach einem der Ansprüche 36 bis 39,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Lichtquelle (1) kurze Pulse, vorzugsweise Pulse, die
kürzer als 0,1 ns sind, emittiert.
41. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 36 bis 40,
dadurch gekennzeichnet,
daß in dem Lichtweg des jeweiligen Lichtanteiles Elemente
zur Intensitätsregulierung (27, 28) des Lichtanteiles
vorgesehen sind.
42. Vorrichtung nach Anspruch 35 oder 36,
dadurch gekennzeichnet,
daß hinter dem Laser (7) eine nicht lineare optische
Einheit (22) zur Veränderung der Lichtwellenlänge
vorgesehen ist.
43. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 8,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Punktlichtquelle (1) gepulstes Anregungslicht
emittiert, daß die Anregung des Energiezustandes der
Probe (4) derart erfolgt, daß ein erster Lichtpuls eines
ersten Lichtanteiles einen Zwischenenergiezustand der
Probe (4) anregt, von welchem aus die Anregung in den
Energiezustand der Probe (4) mit dem zweiten Lichtpuls des
zweiten Lichtanteiles erfolgt, und daß eine
Lichteigenschaft, in der sich die Lichtanteile
unterscheiden, der Zeitpunkt des Verweilens des jeweiligen
Lichtpulses an dem Probenpunkt (3) ist.
44. Verfahren nach Anspruch 43,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Unterschied zwischen dem ersten Zeitpunkt des
Verweilens des ersten Lichtpulses und dem zweiten Zeitpunkt
des Verweilens des zweiten Lichtpulses an dem
Probenpunkt (3) kleiner als die Lebensdauer des
Zwischenzustandes ist und vorzugsweise ein Zehntel der
Lebensdauer des Zwischenzustandes beträgt.
45. Verfahren nach Anspruch 44,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Unterschied zwischen dem ersten und dem zweiten
Zeitpunkt so gewählt ist, daß der erste Lichtpuls zu dem
zweiten Zeitpunkt bereits die Probe (4) wieder verlassen
hat.
46. Verfahren nach einem der Ansprüche 43 bis 45,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Unterschied zwischen dem ersten und dem zweiten
Zeitpunkt 1 ns, vorzugsweise 0,1 ns oder weniger, beträgt.
47. Verfahren nach einem der Ansprüche 43 bis 46,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Lichtpulse zeitlich steil sind, eine zeitliche Länge
von etwa einem Zehntel der Lebensdauer des
Zwischenzustandes, vorzugsweise 0,1 nsec oder weniger, haben.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4331570A DE4331570C2 (de) | 1993-08-17 | 1993-09-16 | Verfahren zum optischen Anregen einer Probe |
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| DE4331570A DE4331570C2 (de) | 1993-08-17 | 1993-09-16 | Verfahren zum optischen Anregen einer Probe |
Publications (2)
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| DE4331570C2 DE4331570C2 (de) | 1996-10-24 |
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ID=6495395
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