DE3309223C2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- DE3309223C2 DE3309223C2 DE3309223A DE3309223A DE3309223C2 DE 3309223 C2 DE3309223 C2 DE 3309223C2 DE 3309223 A DE3309223 A DE 3309223A DE 3309223 A DE3309223 A DE 3309223A DE 3309223 C2 DE3309223 C2 DE 3309223C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- ground
- connection electrode
- regions
- circuit
- semiconductor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D84/00—Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers
- H10D84/01—Manufacture or treatment
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D84/00—Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers
- H10D84/201—Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers characterised by the integration of only components covered by H10D1/00 or H10D8/00, e.g. RLC circuits
- H10D84/204—Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers characterised by the integration of only components covered by H10D1/00 or H10D8/00, e.g. RLC circuits of combinations of diodes or capacitors or resistors
- H10D84/209—Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers characterised by the integration of only components covered by H10D1/00 or H10D8/00, e.g. RLC circuits of combinations of diodes or capacitors or resistors of only resistors
-
- H10W20/427—
-
- H10W72/00—
Landscapes
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
- Element Separation (AREA)
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine integrierte
Halbleiterschaltung mit einer Vielzahl von elektronischen
Schaltungsteilen, die auf einem gemeinsamen
Halbleitersubstrat in durch Trennbereiche aufgeteilten
Inselbereichen, welche gegenüber den Trennbereichen einen
entgegengesetzten Leitfähigkeitstyp aufweisen, ausgebildet
sind, und die eine Vielzahl von Masseleitungen aufweisen,
welche zu den elektronischen Schaltungsteilen führen, und
mit einer Masseanschlußelektrode.
Aus der DE-OS 30 39 261 ist eine gattungsgemäße
integrierte Halbleiterschaltung bekannt, die einen
Verstärker, eine Treiberschaltung und einen
Ausgangsverstärker aufweist. Der Eingangsverstärker und
die Treiberschaltung weisen eine gemeinsame Erdleitung
auf, die mit einer Anschlußelektrode verbunden ist, welche
über eine Masseleitung geerdet ist. Auch der
Ausgangsverstärker enthält eine eigene Masseleitung.
Ferner ist eine weitere Masseleitung
(Substratverbindungsleitung) vorgesehen, die mit
entsprechenden Substratregionen von Transistoren verbunden
ist. Diese Substratverbindungsleitung ist darüber hinaus
an einer weiteren Stelle mit dem Substrat verbunden, die
von den Transistoren entfernt angeordnet und über eine
eigene Masseleitung geerdet ist. Die bekannte
Halbleiterschaltung enthält daher drei getrennte
Masseleitungen. Der Eingangsverstärker und die
Treiberschaltung einerseits sowie der Ausgangsverstärker
und die auch zum Erden der Substratverbindungsleitung
dienende Stelle andererseits weisen zur Vermeidung
unerwünschter Kopplungen jeweils ihre eigene
Masseanschlußelektrode auf. Jeder der genannten
Transistoren als auch die davon entfernt angeordnete
Stelle des Substrats enthält eine entsprechende
Substratverbindung mit der gemeinsamen Substratleitung.
Die aus der DE-OS 30 39 261 bekannten Maßnahmen (das
Vorsehen zusätzlicher Masseleitungen) dienen dazu,
gegenseitige Beeinflussungen von Schaltungsteilen zu
verringern.
Die Fig. 1 zeigt die Masseleitungen und eine
Elektrodenkonstruktion für die Lötverdrahtung bei einer
gattungsgemäßen integrierten Halbleiterschaltung,
während Fig. 2 einen Querschnitt entlang der Linie II-II
in Fig. 1 wiedergibt. Mit 1 ist ein leitfähiges
Halbleitersubstrat (z. B. ein p-Silicium) bezeichnet; 5 und
6 sind Inselbereiche in der Halbleiterschicht 20 von
entgegengesetztem Leitfähigkeitstyp (z. B.
n-Epitaxialschichten), die so hergestellt sind, daß sie
sich von der Substrathauptoberfläche abwärts erstrecken.
Diese Inselbereiche sind durch Trennbereiche 2, 3 und 4,
die jeweils beispielsweise aus einer p-Diffusionsschicht
bestehen, voneinander getrennt. Elektronische
Schaltungsteile, die jeweils ein Element darstellen (z. B.
ein Widerstand als p-Diffusionsschicht, in den
Inselbereichen 5 bzw. 6 ausgebildet), haben die Bezeichnung
7 bzw. 8. Mit 00, 400 und 500 sind Masseleitungen
bezeichnet, die die jeweiligen elektronischen
Schaltungsteile verbinden (z. B. eine aufgedampfte
Al-Schicht). Eine Masseanschlußelektrode 14 (z. B. eine
aufgedampfte Al-Schicht) faßt die Masseleitungen an einem
Punkt zusammen. 26 kennzeichnet eine Isolierschicht (z. B.
Siliciumdioxid), während mit 9, 10, 11, 12 und 13
Elektroden bezeichnet sind. R₀ und R₄ bis R₁₀ sind
parasitäre Eigenimpedanzen der jeweiligen Schaltungsteile
bzw. Masseleitungen. Gemäß der Zeichnung sind die beiden
elektronischen Schaltungsteile 7 und 8 voneinander
elektrisch getrennt durch Trennbereiche, zu denen auch die
Bereiche 2, 3 und 4 gehören. An Masse zu führende
Elektroden 10 und 12 sind leitend mit den Elektroden 9 und
11 verbunden, die auf den Trennbereichen 2 und 3 nahe den
Elektroden 10 und 11 ausgebildet sind. Außerdem sind die
gemeinsamen Masseleiter 00 und 500 leitend mit der
Masseanschlußelektrode 14 für einen Drahtleiteranschluß
verbunden.
Es ist jedoch bekannt, daß die elektrischen Bahnen, die
auf diese Weise in integrierten Halbleiterschaltungen
ausgebildet sind, endliche Impedanzwerte R₀, R₅, R₆,
R₇ und R₉ haben. Bei einem realistischen
Ausführungsbeispiel sind z. B. folgende Werte gegeben:
R₀ = 50 mΩ; R 5 = 1 Ω; R₆ = 20 Ω; R₇ = 20 Ω; R₉ = 50 Ω.
Nimmt man nun an, daß die Signalströme I₇ und I₈, die
aus den Schaltungen 7 und 8 fließen, 10 mA betragen und
das Potential der Anschlußelektrode 14 Null Volt ist, so
erhält man gemäß einem in der Fig. 3 wiedergegebenen
Ersatzschaltbild, in dem als hinreichend klein
anzunehmende Impedanzen weggelassen sind, das Potential
V₈ am Massepunkt 12 des Schaltungsteils 8 zu
V₈ = R₅I₅ (1)
R₅I₅ = R₀ (I₇+I₈-I₅)+(R₆+R₇+R₉) (I₈-I₅) (2)
Bei R₀+R₅+R₆+R₇+R₉=R₁₀₀ gilt
Setzt man hier die Impedanzen und die Signalströme aus
dem obigen Beispiel ein, so erhält man
V₈ = 5,5×10-6+9,9×10-3. (5)
Der Massepunkt 12 des Schaltungsteils 8 wird somit durch den
Schaltungsteil 7 durch eine Spannung von 5,5 µV
beeinflußt. Dies bedeutet eine Beeinflussung von -45,2 dB (5,5 µV/1 mV)
vom Schaltungsteil 7 unter der Annahme, daß
der Schaltungsteil 8 einen Leitwert gm=10 mA/1 mV=10 S
hat. Es versteht sich, daß in manchen Fällen eine
derartige Beeinflussung (-45,2 dB) nicht vernachlässigt
werden kann.
Gattungsgemäße integrierte Halbleiterschaltungen haben
also den Nachteil, daß nicht vernachlässigbare
gegenseitige Beeinflussung der Schaltungsteile auftreten
können, was insbesondere bei Hochfrequenzkreisen mit hoher
Verstärkung zu einer Beeinträchtigung der Signalqualität
und gelegentlich zu Schwingungserscheinungen führt.
Der Erfindung liegt nun die Aufgabe zugrunde, ausgehend
von der integrierten Halbleiterschaltung der eingangs
genannten Art gegenüber dem Stand der Technik eine weitere
Verringerung gegenseitiger Beeinflussungen von
Schaltungsteilen in integrierten Schaltungen zu erreichen.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß für die integrierte
Halbleiterschaltung der eingangs genannten Art dadurch
gelöst, daß die Vielzahl der Masseleitungen mit der
Masseanschlußelektrode verbunden ist und daß die
Masseanschlußelektrode auf dem Halbleitersubstrat
ausgebildet und mit einem der Trennbereiche verbunden ist.
Im folgenden wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung
anhand der Fig. 4 bis 6 beschrieben. Es zeigt
Fig. 4 ein Draufsicht auf eine erfindungsgemäße
Masseleiterausbildung einer
integrierten Schaltung;
Fig. 5 einen Schnitt nach V-V in Fig. 4;
Fig. 6 das Ersatzschaltbild der Masseleitungen der
Fig. 4.
In Fig. 4, die ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel der
Erfindung wiedergibt, sind die Masseleitungen sowie
Anordnung und Aufbau der Anschlußelektroden für äußere
Leiter einer integrierten Schaltung gemäß der Erfindung
dargestellt, während der Querschnitt längs der Linie V-V
in Fig. 4 aus der Fig. 5 ersichtlich ist. Sofern
Übereinstimmung mit den Einzelheiten aus den Fig. 1 und
2 besteht, sind in den Fig. 4 und 5 dieselben
Bezugszeichen verwendet. Zwei elektronische
Schaltungsteile 7 und 8 sind voneinander durch einen
Trennungsaufbau, zu dem die Trennungsbereiche 2, 3 und 4
gehören, getrennt. Nur die Masseleitung 00 des
elektronischen Schaltungsteils 7 ist über eine Elektrode
9, die auf dem Trennungsbereich 2 ausgebildet ist und
wodurch ein Massepunkt des Substrats 1 gebildet wird, mit
der Masseanschlußelektrode 14 verbunden.
Die Masseleitung 500 des zweiten elektronischen
Schaltungsteils 8 steht nicht mit dem Trennungsbereich 3
in der Nähe der Schaltung 8 in Verbindung, sondern ist
direkt durch eine Masseleitung mit der
Masseanschlußelektrode 14 verbunden. Wenngleich die so
verdrahtete integrierte Halbleiterschaltung in ihren
elektrischen Bahnen eine endliche Impedanz hat,
unterscheidet sie sich insoweit von dem Stand der Technik,
als keine Impedanzen R₆, R₇ und R₉ gemäß
Ersatzschaltbild der Fig. 3 vorhanden sind, was dem
Ersatzschaltbild der Fig. 6 leicht zu entnehmen ist.
Bei Verwendung der Werte, wie sie für die Ersatzschaltung
der Fig. 3 vom Stand der Technik verwendet wurden, gelten
für das vorliegende Beispiel R₀=50 mΩ und R₅=1 Ω.
Nimmt man für die Signalströme I₇ und I₈ jeweils 10 mA
und für das Potential der Masseanschlußelektrode 14 Null
Volt an, so erhält man für das Potential V′₈ am
Massepunkt 12 des elektronischen Schaltungsteils 8 in
Fig. 6
V′₈ = R₅I₅ = R₅I₈. (5)
Das Potential V′₈ des Massepunktes 12 wird also durch
den Strom I₇ nicht beeinflußt und hängt nur von der
Impedanz R₅ und dem Strom I₈ ab.
In dem einfachen Darstellungsbeispiel sind zwar nur zwei
elektronische Schaltungsteile aufgeführt, doch ist es
leicht verständlich, daß auch bei mehreren elektronischen
Schaltungsteilen dasselbe grundsätzliche Ergebnis erzielt
wird.
Claims (3)
1. Integrierte Halbleiterschaltung
- - mit einer Vielzahl von elektronischen Schaltungsteilen (7, 8), die auf einem gemeinsamen Halbleitersubstrat (1) in durch Trennbereiche (2, 3, 4) aufgeteilten Inselbereichen (5, 6), welche gegenüber den Trennbereichen einen entgegengesetzten Leitfähigkeitstyp aufweisen, ausgebildet sind und die eine Vielzahl von Masseleitungen (00, 500, 400) aufweisen, welche zu den elektronischen Schaltungsteilen (7, 8) führen, und
- - mit einer Masseanschlußelektrode (14),
dadurch gekennzeichnet,
- - daß die Vielzahl der Masseleitungen (00, 500, 400) mit der Masseanschlußelektrode (14) verbunden ist und
- - daß die Masseanschlußelektrode (14) auf dem Halbleitersubstrat (1) ausgebildet und mit einem der Trennbereiche (2, 3, 4) verbunden ist.
2. Halbleiterelement nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß die Inselbereiche
(5, 6) Teil einer epitaxial gewachsenen Halbleiterschicht (20) sind
und daß die Trennbereiche (2, 3, 4)
Störstellen-Diffusionsschichten sind.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57043531A JPS58157151A (ja) | 1982-03-15 | 1982-03-15 | 半導体集積回路装置 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE3309223A1 DE3309223A1 (de) | 1983-10-06 |
| DE3309223C2 true DE3309223C2 (de) | 1994-05-11 |
| DE3309223C3 DE3309223C3 (de) | 1994-05-11 |
Family
ID=12666320
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE3309223A Expired - Lifetime DE3309223C3 (de) | 1982-03-15 | 1983-03-15 | Integrierte Halbleiterschaltung |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4684973A (de) |
| JP (1) | JPS58157151A (de) |
| DE (1) | DE3309223C3 (de) |
| GB (1) | GB2120843A (de) |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3532380A1 (de) * | 1985-09-11 | 1987-03-12 | Bosch Gmbh Robert | Monolithisch integrierte halbleiteranordnung |
| JPS6341041A (ja) * | 1986-08-06 | 1988-02-22 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
| US5155570A (en) * | 1988-06-21 | 1992-10-13 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Semiconductor integrated circuit having a pattern layout applicable to various custom ICs |
| US5050238A (en) * | 1988-07-12 | 1991-09-17 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Shielded front end receiver circuit with IF amplifier on an IC |
| JPH0251251A (ja) * | 1988-08-15 | 1990-02-21 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路 |
| US4947228A (en) * | 1988-09-20 | 1990-08-07 | At&T Bell Laboratories | Integrated circuit power supply contact |
| US4998160A (en) * | 1989-01-23 | 1991-03-05 | Motorola, Inc. | Substrate power supply contact for power integrated circuits |
| JPH0750708B2 (ja) * | 1989-04-26 | 1995-05-31 | 株式会社東芝 | 半導体装置 |
| JPH036662A (ja) * | 1989-06-02 | 1991-01-14 | Nec Corp | ベクトル処理装置 |
| JPH0380527U (de) * | 1989-11-29 | 1991-08-19 | ||
| JP3431326B2 (ja) * | 1995-02-01 | 2003-07-28 | 株式会社東芝 | ホール素子および電気量測定装置 |
| US6338973B1 (en) * | 1997-08-18 | 2002-01-15 | Texas Instruments Incorporated | Semiconductor device and method of fabrication |
| JP2008154419A (ja) | 2006-12-20 | 2008-07-03 | Ricoh Co Ltd | スイッチングレギュレータ及びスイッチングレギュレータを構成する半導体装置 |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL6606164A (de) * | 1966-05-06 | 1967-11-07 | ||
| US3423650A (en) * | 1966-07-01 | 1969-01-21 | Rca Corp | Monolithic semiconductor microcircuits with improved means for connecting points of common potential |
| JPS4819113B1 (de) * | 1969-08-27 | 1973-06-11 | ||
| BE756061A (fr) * | 1969-09-11 | 1971-03-11 | Philips Nv | Dispositif semi-conducteur |
| DE2523913C3 (de) * | 1975-05-30 | 1980-06-26 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Stromversorgungsnetzwerk zur Speisung einer Vielzahl integrierter Schaltkreise |
| US4032962A (en) * | 1975-12-29 | 1977-06-28 | Ibm Corporation | High density semiconductor integrated circuit layout |
| DE2603747A1 (de) * | 1976-01-31 | 1977-08-04 | Licentia Gmbh | Integrierte schaltungsanordnung |
| DE2616975C3 (de) * | 1976-04-17 | 1981-07-09 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Anordnung von Nutzsignal- und Steuersignalleitungen zum kopplungsarmen Verdrahten von Halbleiterschaltern |
| JPS52139390A (en) * | 1976-05-17 | 1977-11-21 | Hitachi Ltd | Semiconductor integrated circuit device |
| JPS5915183B2 (ja) * | 1976-08-16 | 1984-04-07 | 株式会社日立製作所 | マトリツクス配線基板 |
| JPS5618469A (en) * | 1979-07-24 | 1981-02-21 | Fujitsu Ltd | Semiconductor device |
| JPS5662352A (en) * | 1979-10-26 | 1981-05-28 | Hitachi Ltd | Semiconductor integrated circuit device for acoustic amplification circuit |
-
1982
- 1982-03-15 JP JP57043531A patent/JPS58157151A/ja active Pending
-
1983
- 1983-03-14 GB GB08306917A patent/GB2120843A/en not_active Withdrawn
- 1983-03-15 DE DE3309223A patent/DE3309223C3/de not_active Expired - Lifetime
-
1985
- 1985-12-13 US US06/808,240 patent/US4684973A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4684973A (en) | 1987-08-04 |
| DE3309223A1 (de) | 1983-10-06 |
| JPS58157151A (ja) | 1983-09-19 |
| GB8306917D0 (en) | 1983-04-20 |
| DE3309223C3 (de) | 1994-05-11 |
| GB2120843A (en) | 1983-12-07 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE3784114T2 (de) | Integrierte schaltung mit zwei schaltungsblocks, welche durch unterschiedliche versorgungsanschluesse unabhaengig gespeist werden. | |
| DE2542518C3 (de) | ||
| DE1614373C2 (de) | ||
| DE2313312A1 (de) | Integrierte schaltung mit isolierte gate-elektroden aufweisenden feldeffekttransistoren | |
| DE3309223C2 (de) | ||
| DE68920491T2 (de) | Integrierte Halbleiterschaltung, bestehend aus einer Differenztransistorschaltung mit einem Paar von FETs. | |
| DE19519796C2 (de) | Halbleiterschaltung mit einem Überspannungsschutzkreis | |
| DE69214777T2 (de) | Monolithisch integrierter Mikrowellenverstärker mit hoher Verstärkung | |
| DE1764567A1 (de) | Integrierte Schaltung mit Auflagen auf unbenutztem,aktiven Flaechenschaltelementen | |
| DE69619265T2 (de) | Esd-schutzstruktur für halbleiterchips | |
| EP0282617A1 (de) | Integrierte Schaltung mit einer elektrisch leitenden Trägerplatte | |
| DE2852200C2 (de) | ||
| DE10247431A1 (de) | Halbleitervorrichtung | |
| DE69025973T2 (de) | Halbleiteranordnung mit Mehrschichtleiterstruktur | |
| DE69104642T2 (de) | Ein-/Ausgangsschutzschaltung und Halbleiterbauelement mit dieser Schaltung. | |
| DE10014455B4 (de) | Pegelschieber | |
| DE4444808B4 (de) | Halbleitervorrichtung | |
| EP0413054B1 (de) | Eingangsschutzstruktur für integrierte Schaltungen | |
| DE3740302C2 (de) | ||
| DE3421185A1 (de) | Leistungshalbleiterschaltung | |
| DE2522984C2 (de) | Elektronischer Koppelpunktbaustein | |
| EP1399968A2 (de) | Thyristorstruktur und überspannungsschutzanordnung mit einer solchen thyristorstruktur | |
| EP1231638B1 (de) | Stromversorgungsleiter-Struktur in einer integrierten Halbleiterschaltung | |
| DE3322265A1 (de) | Halbleitervorrichtung | |
| DE4207010C2 (de) | Schutzvorrichtung gegen elektrostatische Entladung in einer Halbleiter-Speicher-Vorrichtung |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| OM8 | Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law | ||
| 8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
| D2 | Grant after examination | ||
| 8364 | No opposition during term of opposition | ||
| 8363 | Opposition against the patent | ||
| 8380 | Miscellaneous part iii |
Free format text: IN HEFT 3/91, SEITE 637, SP.3: DIE VEROEFFENTLICHUNG IST ZU STREICHEN |
|
| 8366 | Restricted maintained after opposition proceedings | ||
| 8305 | Restricted maintenance of patent after opposition | ||
| D4 | Patent maintained restricted | ||
| 8320 | Willingness to grant licences declared (paragraph 23) |