DE2931449A1 - Leitungsrahmen und denselben verwendende halbleitervorrichtung - Google Patents
Leitungsrahmen und denselben verwendende halbleitervorrichtungInfo
- Publication number
- DE2931449A1 DE2931449A1 DE19792931449 DE2931449A DE2931449A1 DE 2931449 A1 DE2931449 A1 DE 2931449A1 DE 19792931449 DE19792931449 DE 19792931449 DE 2931449 A DE2931449 A DE 2931449A DE 2931449 A1 DE2931449 A1 DE 2931449A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- lines
- lead frame
- holding
- semiconductor device
- semiconductor element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H10W74/111—
-
- H10W70/421—
-
- H10W70/424—
-
- H10W72/5449—
-
- H10W72/5522—
-
- H10W72/932—
-
- H10W74/00—
Landscapes
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
Description
BESCHREIBUNG
Die Erfindung bezieht sich auf einen Leitungsrahmen und eine
den Leitungsrahmen verwendende kunststoffgegossene HaIbleitervorrichtung^
Für den Zusammenbau einer kunststoffgegossenen Halbleitervorrichtung wurde ein Leitungsrahmen aus Metall verwendet.
Der Leitungsrahmen wird durch Stanzen oder Ätzen
einer dünnen Metallplatte hergestellt. Figur 1 zeigt einen nach diesem Verfahren hergestellten Leitungsrahmen, der für
eine Halbleitervorrichtung-hoher Packungsdichte geeignet ist.
Dieser Leitungsrahmen umfaßt einen rechtwinkligen Lappen 2 zur Anbringung eines Halbleiterelements 1, den Lappen 2 haltenden
Lappen leitungen 3, eine Anzahl von Leitungen ■ -. . 4, die sich" in die Nähe der Umfangskante des Lappens 2 erstrecken,
einen rechteckigen Rahmenteil 5, welcher die Leitungen 4 und die Lappenleitungen 3 hält, ein Dammstück 6,
welches-den"Rahmenteil 5, die Leitungen 4 und die Lappenleitungen
3 miteinander verbindet und ein Überlaufen des während des Gießvorgangs flüssigen Harzes verhindert. Ferner sind
in festen Abständen Führungslöcher 7 an beiden Seitenkanten
des Rahmenteils 5 vorgesehen. Für den Zusammenbau oder den
Transport, für welche der Leitungsrahmen verwendet wird, werden
die Führungslöcher 7 als Festlegungslöcher oder als
Eingriffs- und Umsetzlöcher verwendet. :
Beim Zusammenbau einer Halbleitervorrichtung mit einem
solchen Leitungsrahmen wird das Halbleiterelement 1 auf dem Lappen 2 angebracht, wonach Elektroden des Halbleiterelements
1 und die entsprechenden Innenenden der Leiter 4 durch Drähte 8 miteinander verbunden werden. Danach wird ein Bereich innerhalb
des an dem rechteckigen Rahmenteil 5 angeordneten Dammstücks
6 mit einem Harz so ausgegossen, daß das Halbleiterelement
1 usw. mit einem Gießteil 9 abgedeckt wird. Nach-' folgend werden das Dammstück 6 und der Rahmenteil 5 abgeschnitten, wodurch man eine Halbleitervorrichtung mit flachen
030QQ8/0765
2931443
Zuleitungen erhält. Zur Gewinnung von Dual-in-line
leitervorrichtungen v/erden die über das Gießteil 9 hervorstehenden Leitungen 4 nach unten abgebogen.
Bei der einen solchen Leitungsrahmen verv/endenden HaIbleitervorrichtung
treten folgende Probleme auf.
Der Lappen hat wegen seines Aufbaus, nach welchem er
an seinen beiden Seiten durch zwei feine LappenZuleitungen gehalten wird, geringe Festigkeit. Insbesondere wenn man trotz
der jüngsten Zunahme in der Anzahl der Leitungen klein bleiben will/ läßt sich nicht vermeiden, daß die Leitungen (Lappenleitungen)
klein werden. Um die Leitungen (auf beispielsweise eine Breite von 0,3 mm) zu verschmälern, wird das Material
zurAusbildung des Leitüngsrahmens Unter dem Gesichtspunkt
des Stanzens dünner gemacht. Beispielsweise ist die Dicke des Leitungsrahmens ungefähr 0,15 nun. Als Folge davon wird
der Lappen schon durch eine geringe äußere-Kraft wie auch au^
die Leitungen leicht geneigt oder angehoben, was ein Hindernis für den Zusammenbau darstellt. Beispielsweise wird das
Halbleiterelement auf dem Lappen des Leitungsrahmens durch Reiben unter Verwendung einer das Halbleiterelement festhaltenden
Aufspannvorrichtung (jig) wie eines Halteringes (collet) angebracht.
Aus diesem Grund schwingt der Lappen infolge der Reibschwingungen, und das Halbleiterelement und der Lappen werden nur
in unvollkommener Weise miteinander verbunden. Dies führt zu dem Problem, daß das Halbleiterelement springt, wenn es
durch das Harz beim Gießvorgang angeströmt wird. Ferner wirkt im Betrieb, der Halbleitervorrichtung wegen der
durch das Halbleiterelement erzeugten Wärme eine thermische Spannung zwischen einem Teil, in welchem Halbleiterelement
und Lappen vollkommen miteinander verbunden sind, und einem Teil, in welchem diese nur unvollkommen miteinander verbunden
sind. Dies führt auch zu dem Problem, daß Risse im Halbleiterelement
auftreten. Ferner strömt das Harz in Richtung eines in Figur 1 angegebenen Pfeiles A zum Halbleiterelement 1 ein.
Wenn dabei eine Ecke 2a des Lappens 2 nach oben oder unten
geneigt ist, wird durch das Strömen des Harzes die Neigung des Lappens 2 verstärkt. Außerdem wird der Lappen 2 durch
Q300G8/076S
ORIGINAL INSPECTED
293 U 49
aus Harz in Richtung eines Pfeiles B geschoben. Dies führt
zu dem Problem, daß die Drähte zwischen dem Anschlußbereich des Halbleiterelements und den Leitungen brechen können und
außerdem zu dem Problem, daß es zu einer Berührung der Drähte kommen kann. Ferner verbleiben infolge von der Neigung der Lappen
zuschreibbaren Wirbeln Luftblasen in oder auf dem Gießteil. Dies führt zu einer Verschlechterung der Feuchtigkeitsbeständigkeit und macht außerdem den optischen Eindruck infolge
der Löcher schlecht.
Aufgabe der Erfindung ist daher die Schaffung eines
Leitungsrahmens mit ausgezeichneter Starrheit, bei welchem ein Halbleiterlernent-Trägerelement (Lappen) bei
der Montage nicht bewegungsanfällig ist.
Ferner schafft die Erfindung eine Halbleitervorrichtung mit a\isgezeichneter Feuchtigkeitsbeständigkeit und hoher Zuverlässigkeit hinsichtlich des Boriddns eines Halbleiterelemnts mit Drähten.
Hierzu schlägt die Erfindung vor, daß das Trägerelement
für-das"Halbleiterelement durch einen Rahmenteil des Leiterrahmens mittels wenigstens drei sich radial erstreckenden
Leitungen gehalten wird.
Äusführungsformen der.Erfindung werden im folgenden in
Verbindung mit der beigefügten Zeichnung beschrieben. Auf dieser ist bzw. sind
Figur 1 eine Draufsicht eines bekannten Leitungsrahmens,
Figur 2 eine Draufsicht einer Ausführungsform des Leitüngs-
rahmens gemäß der Erfindung, --,-.:
Figur 3 eine Draufsicht einer Ausführungsform einer Halbleitervorrichtung,
welche den Leitungsrahmen gemäß der Erfindung verwendet,
Figuren 4 und 5 vergrößerte Teilansichten der Halbleitervorrichtung
gemäß der Erfindung, Figur 6 eine Draufsicht einer weiteren Ausführungsform des
Leitungsrahmens gemäß der Erfindung, ; Figur 7 eine vergrößerte perspektivische Teilansicht einer
Lappenleitung des in Figur 6 gezeigten Leitungsrahmens, Figuren 8 und 9 sehemätische Ansichten zur Erläuterung der
030008/0785
293U49
■ ■ - . ." Trennung, von einer den in Figur 6 gezeigten LsiLun.;
rahmen verwendenden Halbleitervorrichtung und einem Rahmenteil des Leitungsrahmens/
Figur 10 eine vergrößerte Draufsicht eines Harzspritzteils des in Figur 6 gezeigten Leitungsrahmens, und
Figur 11 ein Schnitt längs Ebene A-A in Figur 10.
Figur 2 ist eine Draufsicht einer Ausfuhrungsform des
Leitungsrahmens gemäß der Erfindung. Der Leitungsrahmen wird durch Stanzen oder Ätzen eines dünnen Blechs aus einer Fe-Ni-Co-Legierung
oder einer Fi-Ni-Legierung und einer Stärke von 0,15 mm hergestellt. Die Form des Leitungsrahmens ist derart,
daß ein rechteckiger Lappen 12 zur Anbringung eines Halbleiterelements (Pastille) darauf in der Mitte eines Rahmenteils
10 enthalten ist, der insgesamt rechteckig, wenn auch mit 5 unterschiedlichen Breiten an einigen Stellen, ausgebildet
ist. Der Lcippen 12 ist an seinen vier Ecken durch vier feine,
radial verlaufende Lappenleitungen 13 mit dem Rahmenteil 10 verbunden. Eine Anzahl von Leitungen 14 erstreckt sich zum Rand
des Lappens 12, d.h. zu seinen vier Seiten. In Figur 2 sind nur zwei zum Lappen 12 verlaufende Leitungen 14 gezeigt, um
die Darstellung übersichtlich zu halten. Die leitungen 14 enden mit ihrem einen Ende in der Umgebung der ümfangskante
des Lappens 12. Das andere Ende der Leitungen 14 ist mit.
dem Rahmenteil 10 verbunden. Um ein .Überlaufen des während
des-FormnngsVorganges flüssigen Harzes zu vermeiden sind Dammstücke 15 zwischen aneinander angrenzenden Leitungen vorgesehen.
Ferner ist der Rahmenteil 10 mit Führungslöchern 16
versehen. L-föritiige Löcher L1, L~ und L3 sind in Teilen des
Rahmenteils 10 vorgesehen, die in der Nähe der Lappenleitungen
13 liegen. Langlöcher M1, Uj, M3 und M4 sind in der Nähe
der anderen Enden der Leitungen 14 vorgesehen. Die Funktion der Löcher L- bis L^ und M- bis M4 wird später beschrieben.
In Figur 2 ist das Muster eines Leitungsrahmens in einem Bereich für die Ausbildung einer einzigen Halbleitervorrichtung
darin dargestellt. Tatsächlich jedoch werden solche Muster kontinuierlich in langer und schmaler Form ausgebildet.
030008/0765
ORlGfNAL INSPECTED
Die Halbleitervorrichtung, die den beschriebenen LoL-tungsrahmen verwendet, wird in der folgenden Reihenfolge
zusammengesetzt.
Zuerst wird, wie in Figur 3 dargestellt, das Halbleiter-element (Pastille) 11 direkt auf den Läppen 12 des Leitungsrahmen gebondet. Dieses Halbleiterelement 11 besteht aus
Silizium und enthält eine Reihe von Transistoren. In den Randteile!.! des Halbleiterelements 11 sind Anschlußf lecken■'".
P^, P„, .... aus Aluminium zur Verbindung mit den Leitungen
14 des LeitungsrahmensTdurch Goldrähte in im wesentlichen
der gleichen Zahl wie die Leitungen 14 vorgesehen.
Zum Bonden des Halbleiterelements 11 auf den Lappen 12
wird folgendes Verfahren verwendet. Die Seite des Halbleiterelements, auf der die Anschlußf.lecken angeordnet sind, wird durch
5 eine das Halbleiterelement adsorbierende bzw. festhaftende Aufspannvorrichtung
(jig) ,die im Englischen auch "collet" genannt wird, festgehalten. Während die Aufspannvorrichtung in Schwingungen versetzt ist,
wird das Hcilbleiterelenent 11 auf die erwähnte Oberfläche des Lappens
12, auf der eine Goldfolie 30 angeordnet ist, gebondet. Da das' Halbleiterelement aus Silizium besteht, bildet es mit der
Goldfolie eine eutektische Legierung aus und wird in perfekter Weise auf die Oberfläche des Lappens 12 gebondet.
Nachfolgend werden die Aluminium-Anschlußflecken P^, P3...
des Halbleiterelements und die dem Lappen 12- näher liegenden
Enden der Leitungen 14 jeweils durch Golddrähte w->
W2 ... miteinander
verbunden. .,--"."
Danach wird Harz, beispielsweise Epoxyharz, in Richtung
eines Pfeiles C gegossen. Dadurch werden die Leitungen 14,
der Lappen 12, die Lappenleitungen 13, die Golddrähte w-|, W2,...
und das Halbleiterelement 11, die innerhalb des Dammstückes
- 15 vorliegen, durch das Harz vollkommen geschützt. Eine
strichpunktierte Linie 17 gibt einen durch das Harz gebildeten^
Formgießteil an. Wie aus Figur 4 deutlich ersichtlich, wird
die Ecke des Formgießteils 17, die sich mit der Lappenleitung 13 schneidet, so gegossen, daß sie eine Abschneidfläche 18
aufweist, die die Lappenleitung 13 in rechtem Winkel schneidet. Dies geschieht, um zu verhindern, daß die Eckteile des
030008/0765
Formgießteils durch einen -Leitungsabschneider mit abgeschnitten
werden, wenn später die Lappenleitungen an ihren Fußpunkten
abgeschnitten werden.
Entsprechend der Schraffierung in Figur 3 werden die
Dammstücke 15 und die entfernt vom Lappen 12 liegenden Endteile 31 der Leitungen 14 abgeschnitten. Da die Lappenleitungen
13 nicht vom Rahmenteil 10 getrennt werden, wird die Halbleitervorrichtung, die den Gießteil 17 und die Anzahl von
getrennten Leitungen 14 umfaßt, über die Lappenleitungen 13 durch den Rahmenteil 10 gehalten.
In diesem Zustand der Halbleitervorrichtung werden ihre
elektrischen Eigenschaften geprüft und auf der Oberseite des Gießteils 17 Qualitätskennzeichnungen usw. aufgedruckt.
Danach wird die Halbleitervorrichtung vom Rahmenteil 10 des Leitungsrahmen durch Abschneiden der Lappenleitungen
13 an den Ecken 18 des Gießteils getrennt.
Auf diese Weise erhält man eine Halbleitervorrichtung mit flachen Zuleitungen 14 aus dem in Figur 2 gezeigten Leitungsrahmen.
Im Falle der Herstellung von Dual-in-line-Halb-0
leitervorrichtungen durch Abbiegen der aus dem Gießteil 17 lang hervorragenden Leitungen 14 nach unten erfolgt das Biegen
der Leitungen 14 gleichzeitig mit dem Abschneiden der Lappenleitungen
1 3.
Mit dem Leitungsrahmen obiger Ausfuhrungsform sind fol-5
gende Wirkungen zu erwarten:
(A) Dar rechteckige Lappen 12 zur Anbringungdes Halbleiter elements 11 darauf wird durch die vier Lappenleitungen 13 gehalten, die sich längs der Diagonalen des Lappens 12 erstrecken.Daher ist dieser Lappen 12 nur schwierig zu bewegen oder zu
neigen und zeigt eine ausgezeichnete Starrheit. Dementsprechend ergeben sich folgende Vorteile. -
(1) Beim automatischen Anbringen des Halbleiterelements 11
auf dem Lappen 12 läßt sich die gewünschte räumliche Anordnung des Halbleiterelements 11 bezüglich des Lappens 12 zuverlässig
durchführen. Deshalb geschieht auch das Bonden der Drähte w.,, w-/... zum Verbinden der Bondflecken P.,, P-/. ·· des
030008/0765
293U49
HaIM fvitereleinents - 11 - mit den Leitungen 1 ^ zuverlässig»
Das heißt, selbst in Fällen von Halbleitervorrichtungen, die viele nahe beieinanderliegende Leitungen aufweisen, ist die
Automatisierung des Anbringens des Halbleiterelements 11 (das Pastillenbonden) sowie das Drahtbonden mit der erfindungsgemäßen
Leitungsrahmenstruktur sehr einfach.
(2) Beim Anbringen des Halbleiterelements 11 am Lappen 12
durch Reiben mit dem das Halbleiterelement adsorbierenden Spannstuck schwingt der Lappen nicht. Infolgedessen erfolgt
eine vollkommene Verbindung von Halbleiterelement 11 und
Lappen 12. Dies löst das Problem des Auftretens von Rissen im Halbleiterelement.
(3) Da das Harz aus dem Bereich eines der Lappenleitungen
13, wie durch den Pfeil C in Figur 3 angedeutet, gegossen
wird, neigt sich der Lappen-12 niemals. Deshalb kommt es nicht
vor, daß starke Kräfte auf die Drähte wirken, die zu einem Drahtbruch führen oder "die Drähte miteinander in Berührung
bringen könnten.
(4) Während des Harzgießens neigt sich der Lappen nicht unter der Wirkung des einströmenden Harzes, und ebensowenig
entstehen Wirbel als Folge eines Strömungsschattens. Deshalb treten weder im Inneren des Gießteils 17 noch an seiner Oberfläche
Luftblasen auf. Infolgedessen entsteht selbst bei dünn gehaltenem Harz eine ausgezeichnete Halbleitervorrichtung,
bei weicher weder die Feuchtigkeitsbeständigkeit noch der optische Eindruck verschlechtert ist.
(B) Im Bereich der vom Lappen 12 entfernten Enden der Lappenleitungen 13 und Leitungen 14 sind die Löcher L^, L3, L3, ML,
M3I- H, und M/ vorgesehen. Dementsprechend ergeben sich die
folgenden Vorteile.
Während des Aushärtens des Harzes kann verhindert werden,
daß der Rahmenteil 1Q des Leitungsrahmens zum Lappen 12, der im Mittelteil des Leitungsrahmens vorliegt, gezogen wird.
Deshalb entstehen keine Verkrümmungen oder Verziehungen des Leitungsrahmens, und das Anordnen oder Umsetzen mit den Fun-
030008/0765
293U49
rnngslöchern 16 des Leitungsrahmens wird nicht erschwert.
(C) Nach dem Abschneiden der Danimstücke 15 und der anderen
Endteile 31 der Leitungen 14 wird die Halbleitervorrichtung über die Lappenleitungen 13 durch den Rahmenteil 10 gehalten.
Dementsprechend ergeben sich die folgenden Vorteile.
(1) Bei der Prüfung der elektrischen Eigenschaften und bei der Markierung der einzelnen Halbleitervorrichtungen ist das
Umsetzen mit den Führungslöchern 16 des Leitungsrahmens möglich.
Das heißt, das Prüfen und Markieren der Halbleitervorrichtungen kann kontinuierlich geschehen, was die Akkordleistung
erheblich erhöht.
(2) Das Umgehen mit den einzelnen Halbleitervorrichtungen geschieht
in einem Zustand regelmäßiger Anordnung auf einer einzigen Bahn von Leitungsrahmen. Daher kommt es zu keiner gegenseitigen
Verhängung der Halbleitervorrichtungen. Das Brechen von Leitungen usw. tritt ebenfalls nicht auf.
(3) Die einzelnen Halbleitervorrichtungen können durch Tragen am Rahmenteil 10 des Leitungsrahmens transportiert
werden. Daher werden die Leitungen nicht direkt berührt.
Infolgedessen tritt ein Brechen der Leitungen usw. nicht auf.
Insbesondere wenn das eingegossene Halbleiterelement aus ;
mehreren MOS-Transistoren aufgebaut ist, bei denen die Gefahr eines elektrostatischen Durchbruchs besteht, ist ein
solcher vermeidbar. V
Im folgenden werden Abwandlungen der Erfindung beschrieben.
(a) Wie in Figur 4 gezeigt, ist eine V-förmige Nut 20 in
der Lapperileitung 13 vorgesehen.
Durch Vorsehen dieser Nut 20 läßt sich die Lappenleitung
in dieser Nut im Durchtrennungsschritt leicht abschneiden.
Ferner kann durch diese Nut 20 verhindert werden, daß
die Lappenleitung bei ihrem Kappen herauskommt. Das heißt,
die Lappenleitung 13 kann an der Nut 20 leicht durchtrennt
werden, ohne daß an der Leitung durch den Leitungsabschneider beim
Abschneiden stark gezogen wird.
030008/0765
Frhlt eine s-vlche Nut 20, besteht die Gefahr, daß die
Lappenleitung beim Abschneiden abfällt, so daß sich eine
Halbleitervorrichtung hoher Zuverlässigkeit wegen einer verschlechterten Feuchtigkeitsbeständigkeit nicht gewinnen läßt.
Wie aus Figur 2 ersichtlich, erstreckt sich die Lappenleitung 13 nämlich gerade vom Lappen 12 weg, wobei ihre Breite
im Verbindungspunkt zwischen Lappen 12 und Lappenleitung 13 sehr klein ist. Wenn daher beim Abschneiden an der Lappenleitung
13 gezogen wird, besteht die Möglichkeit, daß der Verbindungspunkt aufschnellt, was das Abfallen der Lappenleitung
bewirkt und die Feuchtigkeitsbeständigkeit verschlechtert.-Selbst wenn der Verbindungspunkt nicht aufschnellt, wird
an der Lappenleitung 13 in erheblichem Maße gezogen, so daß
die Möglichkeit der Bildung eines freien Raumes zwischen
5 der Lappenleitung und dem Harz besteht, was die Feuchtigkeitsbeständigkeit
verschlechtert.
(b) Wenigstens eine aus der Anzahl der Lappenleitungen kann
-als Erdleitung verwendet werden. Wie in Figur 5 dargestellt,
set.zt sich eine Lappenleitung 13 parallel zu den Leitungen 14 fort. Diese Lappenleitung 13 wird als Erdleitung verwendet.
" - ,
(c) Bei vorstehender Ausführungsform hat die Ecke des Gießteils 17, wie in Figur 4 gezeigt, eine abgeschnittene Fläche
18. Zur Gewinnung einer solchen abgefasten Struktur muß eine
entsprechende Form für das Harz verwendet werden. Die Form
ist teuer, weil das Ausbilden der Form außerordentlich schwierig ist.
JEs ist wünschenswert, die Gießformung durch Verwendung
einer Form zu ermöglichen, die billig ist.
Ein Leitungsrahmen, wie er in Figur 6 gezeigt ist, ist als
ein Aufbau geeignet, bei welchem die Ecken des Gießteils nicht abgefast. sind. Diese Abwandlung ist derart, daß jede der
Lappenleitungen 13 mit zwei sich im Bereich des Rahmenteils 1O Y-förmig verzweigenden Zweigleitungen 19 versehen ist.
Figur 7 zeigt eine vergrößerte perspektivische Ansicht der Lappenleitung 13, die die zwei Zweigleitungen 19 aufweist. Gemäß
den Figuren 6 und 7 in den Zweigleitungen 19 vorgesehene
030008/0765
V-förmig.l tluten 20 dienen ?,ur Erleichterung der Trennung der
Lappenleitung 13 vom Rahmenteil 10 in ähnlicher Weise wie die v/eiter oben erwähnten Nuten.
Bei diesem Leitungsrahmen wird das Gießteil entsprechend der strichpunktierten Linie 17 in Figur 6 ausgebildet. Die
Zweigleitungen 19 werden entsprechend den strichpunktierten Linien 32 in Figur 8 abgeschnitten. Das heißt, die Zweigleitungen
19 werden vom Rahmenteil 10 in ihren V-förmigen Nuten 2O abgetrennt. In Figur 6 sind das Halbleiterelement
und die Drähte nicht gezeigt, sie sind aber wie in Figur 3 auf dem Leitungsrahmen angeordnet.
Demzufolge werden bei dem Leitungsrahmen mit solchen
Lappenleitungen die Eckteile des Gießteils beim Abschneiden
der Lappenleitungen durch den Leitungsabschneider nicht abgeschnitten.
Gemäß dieser abgewandelten Ausführungsform der Erfindung mit den Zweigleitungen 19 ist in noch stärkerem Maße zu erwarten,
daß ein Abfallen der Lappenleitungen verhindert ist. Wie im einzelnen in Figur 9 gezeigt, liegt zwischen den beiden
Zweigleitungen 19 ein Stück 17' des Gießteils 17 vor. Dieses
Stück 17' verhindert,daß die Lappenleitungen 13 beim Abschneiden
der Zweigleitungen 19 zum Rahmenteil 10 hin (in Richtung des Pfeiles D) gezogen werden. Infolgedessen ist ein Abfallen
der Lappenleitungen in vollkommener Weise verhindert. Somit 5 läßt sich eine Halbleitervorrichtung hoher Feuchtigkeitsbeständigkeit herstellen.
Insbesondere ist bei diesem Leitungsrahmen der Abschnitt der Harzgießöffnung verbessert.
Gemäß Figur 6 strömt das Harz durch einen Harzgießabschnitt auf den Lappen 12 zu. Der Raum (das Loch) in dem Harzgießabschnitt
21, das von den Zweigleitungen 19 und dem Rahmenteil 10 umschlossen
ist, ist größer ausgebildet als die anderen Räume (Löcher) 40, 41 und 42. Dementsprechend strömt das Harz in
ausreichendem Maße zum Lappen 12. Dies löst das Problem einer Freilegung des Halbleiterelements oder der Drähte usw. infolge
eines ungenügenden Einströmens des Harzes. Dieser Punkt wird
0 30008/076 5
nun unter Bezugnahme auf Figur 10, die eine vergrößerte Draufsicht
des-Harzgieß abschnitt 21 ist, und auf Figur 11, die ein
Schnitt längs A-A in Figur IO ist, erläutert.
" Wie in den Figuren 10 und 11 gezeigt, weisen bei 5o und 50'
angegebene Harzgießformen einen Teil 51, der in engem Kontakt "mit dem Leitungsrahmen liegt, und einen Raum 52 auf, der
nicht in engem Kontakt mit dem Leitungsrahmen liegt. Das
Harz strömt durch den Harzgieß abschnitt 21 in den Raum 52 ein und
bildet das Gießteil der Halbleitervorrichtung. Der Grund, warum das Harz in ausreichendem Maße in den Raum 52 einströmt,
liegt darin, daß, wie in Figur 11 zu sehen, der Rahmenteil 10 des Leitungsrahmens in einer Harzgießöffnung 54
der Formen 50 und 50' nicht vorhanden ist. Das heißt, der
Leitungsrahmen wird zwischen den Formen 50 und 50* so gehalten,
daß die Harzgießöffnung 54 am Harzgieß abschnitt (Loch) 21 des Leitungsrahmens liegt.
Wenn der Rahmenteil des Leitungsrahmens an der Harzgießöffnung
54, wie durch gestrichelte; Linien 10' angedeutet, liegt,
wird die Breite W1 der Harzgießöffnung 54 um die Dicke des
Leitungsrahmens kleiner, Infolgedessen fließt das Harz (17) nicht in ausreichendem Maße in den Raum 52i Um ein ausreichendes
Strömen des Harzes (17) in den Raum 52 zu bewirken, können die Breite w- der Harzgießöffnung 54 im Hinblick auf die Dicke
des Leitungsrahmens größer gemacht werden. Dann ist es jedoch schwierig, eine Halbleitervorrichtung mit dünnem
Gießteil herzustellen. - . " r
Ferner ist in einem Angußkanal 22, wie in Figur 11 dargestellt,
eine Stufe 60 ausgebildet. Beim Trennen des Gießteils vom Angußkanal wirkt daher ein Zug konzentriert
an der Stufe 60. Daher werden das Gießteil
und der Angußkanal 22 an der Stufe 60 getrennt. Als Folge davon werden die Formen der Angußnasen bei Gußartikeln
gleichförmig, so daß der Nachteil unregelmäßiger Trennteile vermeidbar ist. ■
Bei den oben beschriebenen Ausfuhrungsformen der Erfindung
erstrecken sich die vier Lappenleitungen strahlenförmig vom Lappen
030008/076S
zum Rahmenteil des Leitungsrahmens.- Dies ist so, weil der
Lappen viereckig geformt ist. Die technische Grundidee der Vorrichtung beschränkt sich jedoch nicht darauf, sondern
besteht darin, daß sich wenigsens drei Lappenleitungen vom
Lappen zum Rahmenteil des Leitungsrahmens erstrecken. Beispielsweise kann im Falle eines kreisförmigen Lappens der
Lappen durch den Rahmenteil des Leitungsrahmens über drei
Lappenleitungen gehalten werden.
Dr.Ki/Ug
030008/0765
L e e r s e i t e
Claims (2)
- 29-314*9PAT£NTANWÄL.r£SCHIFF- v.FÖNER SJPf^iL - SCHÜBCL-HCPF E8BINGHAUS FINCKMAR!/ ' 1Ii FPLATZ 2 & 3, MÖNCHEN 9O POSTADRESSE: POSfFACH 95 O16O, D-8OOO MÖNCHEN 95HITACHI, LTD. . .- - 2. August 1979DK-A-59-54 - - ■ ' . "Leitungsrahmen und denselben verwendende HalbleitervorrichtungPATENTANSPRÜCHE1 .J Lo ίtungs rahmen !aus dünnem Metall, mit einem Trägerelement für ein. Halbleiterelement, Halteleitungen, von denen jede zum Halten des^ Elements an einem seiner Enden dient, einer Anzahl von Drahtanschlußleitungen, von denen sich jede mit einem Ende zur Unifangskante des Elements erstreckt, und mit einem Rahmenteil, welches die anderen Enden der Halteleitungen und der Anschlußleitungen hält, dadurch g e k e η η — ζ e i c h net, daß die Haiteleitungen (13) in einer Anzahl von wenigstens drei und sich strahlenförmig vom Halteelement (12) weqcrstreckend vorgesehen sind.
- 2. Leitungsrahmen nach Anspruch T, dadurch gekennzeichnet, daß das Halteelement (12) für ein Halbleiterelement viereckig ist und daß sich vier Halteleitungen (13) längs Diagonalen des Elements erstrecken (Fig* 2, 6).030008/0765293 -U 4.9.3. Leitungsraluiieri nach Anspruch 2., dadurch g e k e η η-zeichnet, daß die Anschlußleitungen (14)in den Bereich der vier Seiten des viereckigen Elements (12)
verlaufen (Fig. 2, 6).4. Leitungsrahmen nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die jeder Seite des Elements (12) zugeordnete Anzahl von Verbindungsleitungen (14) durch ein
erstes Band (15) gehalten wird (Fig. 2,6).5. Leitungsreihmen nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die jeder Seite des Elements (12) zugeordnete Anzahl von Verbindnngsleitungen (14) mit ihren anderen Enden durch das Rahmenteil (10) über ein zweites Band(31) gehalten wird (Fig. 2,G).6. Leitungsrahmen nach Anspruch 1, dadurch g e k e η η zeichne t, daß jede der Halteleitungen (13) an ihrem
anderen Ende eine Nut (20) aufweist (Fig. 4).7. Leitungsrahmen nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Nut (20) V-förmig ist.8. Leitungsrahmen nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das andere Ende jeder Halteleitung (13) durch das Rahmenteil (10) über zwei Zweigleitungen (19) gehalten wird (Fig. 6, 7, 8, 9, 10).Q30008/0765ORIGINAL INSPECTED2931WS9. Leiturgsrahmen nach Anr.oru ch 8, dadurch cj ο k e η η-- _~ zeichnet, daß jede der Zweigleitungen (1-9) eine Nut (20) aufweist (Fig. 6, 7, 8, 9, 10).to. Leitungsrahmen nach Anspruch 9, dadurch-_ g e k e η η — zeichnet, daß die Nut (20) V-förmig ist (Fig. 6, 7, 8, 9, 10).11. . Einen Leitungsrahmen nach Anspruch 1 verwendende Halbleitervorrichtung, dadurch g e k en η ζ ei c hn e t ,daß sie ein Halbleiterelement (i 1 ) , welches eine Anzahl von Elektroden (T1, P2, P3) aufweist und auf einer Hauptfläche des Haitee lemerits (12) angebracht ist, Drähte (w. , w~) , die die Elektroden (P.., V-, P^) und die Anschlußleitungen (14) miteinander verbinden,und ein Gießteil (17) welches aus einem das Haiteelement (12) , das Halbleiterelement (11), die Halteleitungen (13), und die Drähte (w.. , v/2) abdeckenden Harz besteht, umfaßt (Fig. 3, 4, 5, 6, 8, 9).12. Halbleitervorrichtung nach Anspruch 1.1, dadurch g e k e η η ζ e i c h η et , daß sich eine Halteleitung (13) und eine ümfangsfläche (18) des Gießteils (17) im wesentlichen senkrecht schneiden (Fig. 3, 4, 5, 6, 8, 9).13. Halbleitervorrichtung nach Anspruch 11, dadurch g e k en η ζ eic h η et , daß das Halteelement (12) und das Gießteil (17) viereckig sind, und daß sich die Halteleitungen(13) von vier Ecken des Elements (12) zu vier Ecken des ISießteils030008/07661 ORIGlNALiNSPECTED■293U43(17) erstrecken, wobei sich jede der Halteleitungen zwischen/ ihren Enden verzweigt und sich die Zweigteile (19) jeder Halteleitung so erstrecken, daß sie sich mit Seiten des Gießteils (17) unter rechtem Winkel schneiden (Fig. 6, 8, 9).030008/0766
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9360778A JPS5521128A (en) | 1978-08-02 | 1978-08-02 | Lead frame used for semiconductor device and its assembling |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE2931449A1 true DE2931449A1 (de) | 1980-02-21 |
| DE2931449C2 DE2931449C2 (de) | 1990-09-13 |
Family
ID=14087008
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19792931449 Granted DE2931449A1 (de) | 1978-08-02 | 1979-08-02 | Leitungsrahmen und denselben verwendende halbleitervorrichtung |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4301464A (de) |
| JP (1) | JPS5521128A (de) |
| BR (1) | BR7904797A (de) |
| DE (1) | DE2931449A1 (de) |
| GB (1) | GB2027990B (de) |
| HK (1) | HK53183A (de) |
| MY (1) | MY8400254A (de) |
| SG (1) | SG29183G (de) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4021871A1 (de) * | 1990-07-09 | 1992-01-23 | Lsi Logic Products Gmbh | Hochintegriertes elektronisches bauteil |
| DE4124269A1 (de) * | 1991-03-23 | 1992-09-24 | Samsung Electronics Co Ltd | Halbleiterleitungsrahmen |
Families Citing this family (167)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4400714A (en) * | 1980-11-06 | 1983-08-23 | Jade Corporation | Lead frame for semiconductor chip |
| FR2498377A1 (fr) * | 1981-01-16 | 1982-07-23 | Thomson Csf Mat Tel | Procede de fabrication de dispositifs semiconducteurs sur bande metallique |
| US4477827A (en) * | 1981-02-02 | 1984-10-16 | Northern Telecom Limited | Lead frame for leaded semiconductor chip carriers |
| US4445271A (en) * | 1981-08-14 | 1984-05-01 | Amp Incorporated | Ceramic chip carrier with removable lead frame support and preforated ground pad |
| US4408218A (en) * | 1981-03-27 | 1983-10-04 | Amp Incorporated | Ceramic chip carrier with lead frame having removable rim |
| US4451973A (en) * | 1981-04-28 | 1984-06-05 | Matsushita Electronics Corporation | Method for manufacturing a plastic encapsulated semiconductor device and a lead frame therefor |
| JPS5861654A (ja) * | 1981-10-09 | 1983-04-12 | Toshiba Corp | 半導体装置 |
| EP0102988B1 (de) * | 1982-03-08 | 1988-09-21 | Motorola, Inc. | Leiterrahmen für integrierte schaltung |
| JPS58165358A (ja) * | 1982-03-26 | 1983-09-30 | Hitachi Ltd | 半導体装置の製造方法およびそれに用いるリ−ドフレ−ム |
| US4490902A (en) * | 1982-09-03 | 1985-01-01 | General Motors Corporation | Lead frame for molded integrated circuit package |
| US4706105A (en) * | 1983-02-02 | 1987-11-10 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor device and method of producing the same |
| JPS6068639A (ja) * | 1983-08-31 | 1985-04-19 | Toshiba Corp | 樹脂封止型半導体装置 |
| US4558345A (en) * | 1983-10-27 | 1985-12-10 | Rca Corporation | Multiple connection bond pad for an integrated circuit device and method of making same |
| JPS60176552U (ja) * | 1984-04-28 | 1985-11-22 | 凸版印刷株式会社 | エツチング部品 |
| ATE38920T1 (de) * | 1984-05-02 | 1988-12-15 | Gte Prod Corp | In einem gehaeuse montiertes integriertes schaltungsplaettchen. |
| ATE49680T1 (de) * | 1984-05-02 | 1990-02-15 | Gte Prod Corp | Verfahren zum herstellen eines gekapselten icpl|ttchens. |
| JPS6123351A (ja) * | 1984-07-11 | 1986-01-31 | Nec Corp | リ−ドフレ−ム |
| JPS60121748A (ja) * | 1984-07-25 | 1985-06-29 | Hitachi Ltd | 半導体装置 |
| JPS60121747A (ja) * | 1984-07-25 | 1985-06-29 | Hitachi Ltd | 半導体装置 |
| JPS60121749A (ja) * | 1984-07-25 | 1985-06-29 | Hitachi Ltd | リ−ドフレ−ム |
| JPS6139558A (ja) * | 1984-07-31 | 1986-02-25 | Toshiba Glass Co Ltd | 半導体回路基板 |
| JPS62500338A (ja) * | 1984-09-27 | 1987-02-05 | モトロ−ラ・インコ−ポレ−テッド | 支持リ−ドの改良された構造をもつリ−ドフレ−ムおよびこれを用いる半導体装置 |
| JPS6281738A (ja) * | 1985-10-07 | 1987-04-15 | Hitachi Micro Comput Eng Ltd | リ−ドフレ−ムおよびそれを用いた半導体装置 |
| US4721993A (en) * | 1986-01-31 | 1988-01-26 | Olin Corporation | Interconnect tape for use in tape automated bonding |
| JPS62232948A (ja) * | 1986-04-03 | 1987-10-13 | Sumitomo Metal Mining Co Ltd | リ−ドフレ−ム |
| JPS62254456A (ja) * | 1986-04-26 | 1987-11-06 | Yamada Seisakusho:Kk | リ−ドフレ−ム |
| US4721992A (en) * | 1986-06-26 | 1988-01-26 | National Semiconductor Corporation | Hinge tape |
| USRE34269E (en) * | 1986-11-24 | 1993-06-01 | At&T Bell Laboratories | Semiconductor integrated circuit packages |
| US4803540A (en) * | 1986-11-24 | 1989-02-07 | American Telephone And Telegraph Co., At&T Bell Labs | Semiconductor integrated circuit packages |
| US4800419A (en) * | 1987-01-28 | 1989-01-24 | Lsi Logic Corporation | Support assembly for integrated circuits |
| JP2534251B2 (ja) * | 1987-02-20 | 1996-09-11 | 日東電工株式会社 | 半導体装置 |
| JPH0831556B2 (ja) * | 1987-02-20 | 1996-03-27 | 株式会社東芝 | 半導体装置用リードフレーム |
| US4859632A (en) * | 1987-12-28 | 1989-08-22 | Siemens Corporate Research And Support, Inc. | Method for manufacturing the same |
| JP2632528B2 (ja) * | 1988-02-08 | 1997-07-23 | 新光電気工業株式会社 | リードフレーム |
| JPH0828455B2 (ja) * | 1988-02-24 | 1996-03-21 | 富士通株式会社 | リードフレーム及びそれを用いた電子部品の製造方法 |
| JPH0247437A (ja) * | 1988-08-06 | 1990-02-16 | Shuichi Ito | 溝蓋 |
| JPH0252459A (ja) * | 1988-08-17 | 1990-02-22 | Nec Kyushu Ltd | 樹脂封止型半導体装置 |
| JPH07105469B2 (ja) * | 1989-05-19 | 1995-11-13 | 三洋電機株式会社 | リードフレームとその加工方法、および半導体装置の製法 |
| JPH0446175U (de) * | 1990-08-20 | 1992-04-20 | ||
| JP2608192B2 (ja) * | 1991-04-26 | 1997-05-07 | 三菱電機株式会社 | リードフレーム |
| JPH079960B2 (ja) * | 1991-08-09 | 1995-02-01 | 株式会社日立製作所 | 半導体装置 |
| US5289032A (en) * | 1991-08-16 | 1994-02-22 | Motorola, Inc. | Tape automated bonding(tab)semiconductor device and method for making the same |
| JPH05243455A (ja) * | 1992-03-02 | 1993-09-21 | Fujitsu Ltd | 半導体装置及びその製造方法 |
| US5541447A (en) * | 1992-04-22 | 1996-07-30 | Yamaha Corporation | Lead frame |
| NL195026C (nl) * | 1992-04-22 | 2003-06-18 | Yamaha Corporation | Werkwijze voor het bewerken van een raam van elektrische geleiders voor een halfgeleiderelement. |
| JP3016661B2 (ja) * | 1992-08-10 | 2000-03-06 | ローム株式会社 | リードフレーム |
| US5293065A (en) * | 1992-08-27 | 1994-03-08 | Texas Instruments, Incorporated | Lead frame having an outlet with a larger cross sectional area than the inlet |
| US5367124A (en) * | 1993-06-28 | 1994-11-22 | International Business Machines Corporation | Compliant lead for surface mounting a chip package to a substrate |
| US5517056A (en) * | 1993-09-30 | 1996-05-14 | Motorola, Inc. | Molded carrier ring leadframe having a particular resin injecting area design for gate removal and semiconductor device employing the same |
| US5665296A (en) * | 1994-03-24 | 1997-09-09 | Intel Corporation | Molding technique for molding plastic packages |
| JP2687946B2 (ja) * | 1995-08-16 | 1997-12-08 | 日本電気株式会社 | リードフレーム |
| DE19736895A1 (de) * | 1996-09-05 | 1998-04-16 | Int Rectifier Corp | Gehäuse für Halbleiterbauteile |
| US5886397A (en) * | 1996-09-05 | 1999-03-23 | International Rectifier Corporation | Crushable bead on lead finger side surface to improve moldability |
| US7071541B1 (en) | 1998-06-24 | 2006-07-04 | Amkor Technology, Inc. | Plastic integrated circuit package and method and leadframe for making the package |
| US7030474B1 (en) | 1998-06-24 | 2006-04-18 | Amkor Technology, Inc. | Plastic integrated circuit package and method and leadframe for making the package |
| US6143981A (en) | 1998-06-24 | 2000-11-07 | Amkor Technology, Inc. | Plastic integrated circuit package and method and leadframe for making the package |
| US7332375B1 (en) | 1998-06-24 | 2008-02-19 | Amkor Technology, Inc. | Method of making an integrated circuit package |
| US7005326B1 (en) | 1998-06-24 | 2006-02-28 | Amkor Technology, Inc. | Method of making an integrated circuit package |
| US6893900B1 (en) | 1998-06-24 | 2005-05-17 | Amkor Technology, Inc. | Method of making an integrated circuit package |
| US7112474B1 (en) | 1998-06-24 | 2006-09-26 | Amkor Technology, Inc. | Method of making an integrated circuit package |
| US6448633B1 (en) * | 1998-11-20 | 2002-09-10 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package and method of making using leadframe having lead locks to secure leads to encapsulant |
| KR200309906Y1 (ko) * | 1999-06-30 | 2003-04-14 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체 패키지 제조용 리드프레임 |
| KR20010037247A (ko) | 1999-10-15 | 2001-05-07 | 마이클 디. 오브라이언 | 반도체패키지 |
| KR100526844B1 (ko) * | 1999-10-15 | 2005-11-08 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체패키지 및 그 제조방법 |
| KR100379089B1 (ko) | 1999-10-15 | 2003-04-08 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 리드프레임 및 이를 이용한 반도체패키지 |
| KR100403142B1 (ko) * | 1999-10-15 | 2003-10-30 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체패키지 |
| US6580159B1 (en) | 1999-11-05 | 2003-06-17 | Amkor Technology, Inc. | Integrated circuit device packages and substrates for making the packages |
| US20070176287A1 (en) * | 1999-11-05 | 2007-08-02 | Crowley Sean T | Thin integrated circuit device packages for improved radio frequency performance |
| US6847103B1 (en) | 1999-11-09 | 2005-01-25 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package with exposed die pad and body-locking leadframe |
| US6639308B1 (en) * | 1999-12-16 | 2003-10-28 | Amkor Technology, Inc. | Near chip size semiconductor package |
| KR100421774B1 (ko) | 1999-12-16 | 2004-03-10 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체패키지 및 그 제조 방법 |
| KR100583494B1 (ko) * | 2000-03-25 | 2006-05-24 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체패키지 |
| US7042068B2 (en) * | 2000-04-27 | 2006-05-09 | Amkor Technology, Inc. | Leadframe and semiconductor package made using the leadframe |
| JP4669166B2 (ja) * | 2000-08-31 | 2011-04-13 | エルピーダメモリ株式会社 | 半導体装置 |
| JP4523138B2 (ja) * | 2000-10-06 | 2010-08-11 | ローム株式会社 | 半導体装置およびそれに用いるリードフレーム |
| KR20020058209A (ko) * | 2000-12-29 | 2002-07-12 | 마이클 디. 오브라이언 | 반도체패키지 |
| KR100731007B1 (ko) * | 2001-01-15 | 2007-06-22 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 적층형 반도체 패키지 |
| US6545345B1 (en) | 2001-03-20 | 2003-04-08 | Amkor Technology, Inc. | Mounting for a package containing a chip |
| US6967395B1 (en) | 2001-03-20 | 2005-11-22 | Amkor Technology, Inc. | Mounting for a package containing a chip |
| KR100369393B1 (ko) * | 2001-03-27 | 2003-02-05 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 리드프레임 및 이를 이용한 반도체패키지와 그 제조 방법 |
| KR100393448B1 (ko) | 2001-03-27 | 2003-08-02 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체 패키지 및 그 제조 방법 |
| US6597059B1 (en) | 2001-04-04 | 2003-07-22 | Amkor Technology, Inc. | Thermally enhanced chip scale lead on chip semiconductor package |
| US7064009B1 (en) | 2001-04-04 | 2006-06-20 | Amkor Technology, Inc. | Thermally enhanced chip scale lead on chip semiconductor package and method of making same |
| US7045883B1 (en) | 2001-04-04 | 2006-05-16 | Amkor Technology, Inc. | Thermally enhanced chip scale lead on chip semiconductor package and method of making same |
| US6900527B1 (en) | 2001-09-19 | 2005-05-31 | Amkor Technology, Inc. | Lead-frame method and assembly for interconnecting circuits within a circuit module |
| US7485952B1 (en) | 2001-09-19 | 2009-02-03 | Amkor Technology, Inc. | Drop resistant bumpers for fully molded memory cards |
| US6630726B1 (en) | 2001-11-07 | 2003-10-07 | Amkor Technology, Inc. | Power semiconductor package with strap |
| CN100409430C (zh) * | 2002-04-17 | 2008-08-06 | 松下电器产业株式会社 | 半导体器件和半导体器件的组装方法 |
| US6818973B1 (en) | 2002-09-09 | 2004-11-16 | Amkor Technology, Inc. | Exposed lead QFP package fabricated through the use of a partial saw process |
| US6919620B1 (en) | 2002-09-17 | 2005-07-19 | Amkor Technology, Inc. | Compact flash memory card with clamshell leadframe |
| US7361533B1 (en) | 2002-11-08 | 2008-04-22 | Amkor Technology, Inc. | Stacked embedded leadframe |
| US7723210B2 (en) | 2002-11-08 | 2010-05-25 | Amkor Technology, Inc. | Direct-write wafer level chip scale package |
| US7190062B1 (en) | 2004-06-15 | 2007-03-13 | Amkor Technology, Inc. | Embedded leadframe semiconductor package |
| US6905914B1 (en) | 2002-11-08 | 2005-06-14 | Amkor Technology, Inc. | Wafer level package and fabrication method |
| US6798047B1 (en) | 2002-12-26 | 2004-09-28 | Amkor Technology, Inc. | Pre-molded leadframe |
| US6847099B1 (en) | 2003-02-05 | 2005-01-25 | Amkor Technology Inc. | Offset etched corner leads for semiconductor package |
| US6750545B1 (en) | 2003-02-28 | 2004-06-15 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package capable of die stacking |
| US7001799B1 (en) | 2003-03-13 | 2006-02-21 | Amkor Technology, Inc. | Method of making a leadframe for semiconductor devices |
| US6794740B1 (en) | 2003-03-13 | 2004-09-21 | Amkor Technology, Inc. | Leadframe package for semiconductor devices |
| US7095103B1 (en) | 2003-05-01 | 2006-08-22 | Amkor Technology, Inc. | Leadframe based memory card |
| US7008825B1 (en) | 2003-05-27 | 2006-03-07 | Amkor Technology, Inc. | Leadframe strip having enhanced testability |
| US6897550B1 (en) | 2003-06-11 | 2005-05-24 | Amkor Technology, Inc. | Fully-molded leadframe stand-off feature |
| US7245007B1 (en) | 2003-09-18 | 2007-07-17 | Amkor Technology, Inc. | Exposed lead interposer leadframe package |
| US6921967B2 (en) * | 2003-09-24 | 2005-07-26 | Amkor Technology, Inc. | Reinforced die pad support structure |
| US7138707B1 (en) | 2003-10-21 | 2006-11-21 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package including leads and conductive posts for providing increased functionality |
| US7144517B1 (en) | 2003-11-07 | 2006-12-05 | Amkor Technology, Inc. | Manufacturing method for leadframe and for semiconductor package using the leadframe |
| US7211879B1 (en) | 2003-11-12 | 2007-05-01 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package with chamfered corners and method of manufacturing the same |
| US7057268B1 (en) | 2004-01-27 | 2006-06-06 | Amkor Technology, Inc. | Cavity case with clip/plug for use on multi-media card |
| US7091594B1 (en) | 2004-01-28 | 2006-08-15 | Amkor Technology, Inc. | Leadframe type semiconductor package having reduced inductance and its manufacturing method |
| US20080003722A1 (en) * | 2004-04-15 | 2008-01-03 | Chun David D | Transfer mold solution for molded multi-media card |
| US7202554B1 (en) | 2004-08-19 | 2007-04-10 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package and its manufacturing method |
| US7217991B1 (en) | 2004-10-22 | 2007-05-15 | Amkor Technology, Inc. | Fan-in leadframe semiconductor package |
| US7507603B1 (en) | 2005-12-02 | 2009-03-24 | Amkor Technology, Inc. | Etch singulated semiconductor package |
| US7572681B1 (en) | 2005-12-08 | 2009-08-11 | Amkor Technology, Inc. | Embedded electronic component package |
| JP2007194421A (ja) * | 2006-01-19 | 2007-08-02 | Rohm Co Ltd | リードフレーム |
| US7902660B1 (en) | 2006-05-24 | 2011-03-08 | Amkor Technology, Inc. | Substrate for semiconductor device and manufacturing method thereof |
| US7968998B1 (en) | 2006-06-21 | 2011-06-28 | Amkor Technology, Inc. | Side leaded, bottom exposed pad and bottom exposed lead fusion quad flat semiconductor package |
| US7687893B2 (en) * | 2006-12-27 | 2010-03-30 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package having leadframe with exposed anchor pads |
| US7829990B1 (en) | 2007-01-18 | 2010-11-09 | Amkor Technology, Inc. | Stackable semiconductor package including laminate interposer |
| US7982297B1 (en) | 2007-03-06 | 2011-07-19 | Amkor Technology, Inc. | Stackable semiconductor package having partially exposed semiconductor die and method of fabricating the same |
| US7977774B2 (en) * | 2007-07-10 | 2011-07-12 | Amkor Technology, Inc. | Fusion quad flat semiconductor package |
| US7687899B1 (en) | 2007-08-07 | 2010-03-30 | Amkor Technology, Inc. | Dual laminate package structure with embedded elements |
| US7777351B1 (en) | 2007-10-01 | 2010-08-17 | Amkor Technology, Inc. | Thin stacked interposer package |
| US8089159B1 (en) | 2007-10-03 | 2012-01-03 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package with increased I/O density and method of making the same |
| US7847386B1 (en) | 2007-11-05 | 2010-12-07 | Amkor Technology, Inc. | Reduced size stacked semiconductor package and method of making the same |
| US7956453B1 (en) | 2008-01-16 | 2011-06-07 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package with patterning layer and method of making same |
| US7723852B1 (en) | 2008-01-21 | 2010-05-25 | Amkor Technology, Inc. | Stacked semiconductor package and method of making same |
| US8067821B1 (en) | 2008-04-10 | 2011-11-29 | Amkor Technology, Inc. | Flat semiconductor package with half package molding |
| US7768135B1 (en) | 2008-04-17 | 2010-08-03 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package with fast power-up cycle and method of making same |
| US7808084B1 (en) | 2008-05-06 | 2010-10-05 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package with half-etched locking features |
| US8125064B1 (en) | 2008-07-28 | 2012-02-28 | Amkor Technology, Inc. | Increased I/O semiconductor package and method of making same |
| US8184453B1 (en) | 2008-07-31 | 2012-05-22 | Amkor Technology, Inc. | Increased capacity semiconductor package |
| US7847392B1 (en) | 2008-09-30 | 2010-12-07 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device including leadframe with increased I/O |
| US7989933B1 (en) | 2008-10-06 | 2011-08-02 | Amkor Technology, Inc. | Increased I/O leadframe and semiconductor device including same |
| US8008758B1 (en) | 2008-10-27 | 2011-08-30 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device with increased I/O leadframe |
| US8089145B1 (en) | 2008-11-17 | 2012-01-03 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device including increased capacity leadframe |
| US8072050B1 (en) | 2008-11-18 | 2011-12-06 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device with increased I/O leadframe including passive device |
| US7875963B1 (en) | 2008-11-21 | 2011-01-25 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device including leadframe having power bars and increased I/O |
| US7982298B1 (en) | 2008-12-03 | 2011-07-19 | Amkor Technology, Inc. | Package in package semiconductor device |
| US8487420B1 (en) | 2008-12-08 | 2013-07-16 | Amkor Technology, Inc. | Package in package semiconductor device with film over wire |
| US20170117214A1 (en) | 2009-01-05 | 2017-04-27 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device with through-mold via |
| US8680656B1 (en) | 2009-01-05 | 2014-03-25 | Amkor Technology, Inc. | Leadframe structure for concentrated photovoltaic receiver package |
| US8058715B1 (en) | 2009-01-09 | 2011-11-15 | Amkor Technology, Inc. | Package in package device for RF transceiver module |
| US8026589B1 (en) | 2009-02-23 | 2011-09-27 | Amkor Technology, Inc. | Reduced profile stackable semiconductor package |
| US7960818B1 (en) | 2009-03-04 | 2011-06-14 | Amkor Technology, Inc. | Conformal shield on punch QFN semiconductor package |
| US8575742B1 (en) | 2009-04-06 | 2013-11-05 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device with increased I/O leadframe including power bars |
| US8796561B1 (en) | 2009-10-05 | 2014-08-05 | Amkor Technology, Inc. | Fan out build up substrate stackable package and method |
| US8937381B1 (en) | 2009-12-03 | 2015-01-20 | Amkor Technology, Inc. | Thin stackable package and method |
| US9691734B1 (en) | 2009-12-07 | 2017-06-27 | Amkor Technology, Inc. | Method of forming a plurality of electronic component packages |
| US8324511B1 (en) | 2010-04-06 | 2012-12-04 | Amkor Technology, Inc. | Through via nub reveal method and structure |
| JP2011233811A (ja) * | 2010-04-30 | 2011-11-17 | Renesas Electronics Corp | リードフレーム及びそれを用いた半導体装置の製造方法 |
| US8294276B1 (en) | 2010-05-27 | 2012-10-23 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device and fabricating method thereof |
| US8440554B1 (en) | 2010-08-02 | 2013-05-14 | Amkor Technology, Inc. | Through via connected backside embedded circuit features structure and method |
| US8487445B1 (en) | 2010-10-05 | 2013-07-16 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device having through electrodes protruding from dielectric layer |
| US8791501B1 (en) | 2010-12-03 | 2014-07-29 | Amkor Technology, Inc. | Integrated passive device structure and method |
| US8674485B1 (en) | 2010-12-08 | 2014-03-18 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device including leadframe with downsets |
| US8390130B1 (en) | 2011-01-06 | 2013-03-05 | Amkor Technology, Inc. | Through via recessed reveal structure and method |
| TWI557183B (zh) | 2015-12-16 | 2016-11-11 | 財團法人工業技術研究院 | 矽氧烷組成物、以及包含其之光電裝置 |
| US8648450B1 (en) | 2011-01-27 | 2014-02-11 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device including leadframe with a combination of leads and lands |
| US8552548B1 (en) | 2011-11-29 | 2013-10-08 | Amkor Technology, Inc. | Conductive pad on protruding through electrode semiconductor device |
| US9704725B1 (en) | 2012-03-06 | 2017-07-11 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device with leadframe configured to facilitate reduced burr formation |
| US9129943B1 (en) | 2012-03-29 | 2015-09-08 | Amkor Technology, Inc. | Embedded component package and fabrication method |
| US9048298B1 (en) | 2012-03-29 | 2015-06-02 | Amkor Technology, Inc. | Backside warpage control structure and fabrication method |
| KR101486790B1 (ko) | 2013-05-02 | 2015-01-28 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 강성보강부를 갖는 마이크로 리드프레임 |
| KR101563911B1 (ko) | 2013-10-24 | 2015-10-28 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체 패키지 |
| US9673122B2 (en) | 2014-05-02 | 2017-06-06 | Amkor Technology, Inc. | Micro lead frame structure having reinforcing portions and method |
| US9659843B2 (en) * | 2014-11-05 | 2017-05-23 | Infineon Technologies Ag | Lead frame strip with molding compound channels |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2020723A1 (de) * | 1968-10-15 | 1970-07-17 | Rca Corp | |
| DE2328798A1 (de) * | 1972-06-23 | 1974-01-17 | Philips Nv | Halbleiteranordnung |
| GB1383297A (en) * | 1972-02-23 | 1974-02-12 | Plessey Co Ltd | Electrical integrated circuit package |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL7018378A (de) * | 1970-12-17 | 1972-06-20 | ||
| US3926746A (en) * | 1973-10-04 | 1975-12-16 | Minnesota Mining & Mfg | Electrical interconnection for metallized ceramic arrays |
| US4023053A (en) * | 1974-12-16 | 1977-05-10 | Tokyo Shibaura Electric Co., Ltd. | Variable capacity diode device |
| FR2299724A1 (fr) * | 1975-01-29 | 1976-08-27 | Honeywell Bull Soc Ind | Perfectionnements aux supports de conditionnement de micro-plaquettes de circuits integres |
| US4138691A (en) * | 1977-06-07 | 1979-02-06 | Nippon Electric Co., Ltd. | Framed lead assembly for a semiconductor device comprising insulator reinforcing strips supported by a frame and made integral with lead strips |
| JPS6034268A (ja) * | 1983-08-03 | 1985-02-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 被研摩加工物の保持方法 |
-
1978
- 1978-08-02 JP JP9360778A patent/JPS5521128A/ja active Granted
-
1979
- 1979-07-05 US US06/055,070 patent/US4301464A/en not_active Expired - Lifetime
- 1979-07-26 BR BR7904797A patent/BR7904797A/pt not_active IP Right Cessation
- 1979-08-01 GB GB7926820A patent/GB2027990B/en not_active Expired
- 1979-08-02 DE DE19792931449 patent/DE2931449A1/de active Granted
-
1983
- 1983-05-25 SG SG291/83A patent/SG29183G/en unknown
- 1983-11-10 HK HK531/83A patent/HK53183A/xx not_active IP Right Cessation
-
1984
- 1984-12-30 MY MY254/84A patent/MY8400254A/xx unknown
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2020723A1 (de) * | 1968-10-15 | 1970-07-17 | Rca Corp | |
| GB1383297A (en) * | 1972-02-23 | 1974-02-12 | Plessey Co Ltd | Electrical integrated circuit package |
| DE2328798A1 (de) * | 1972-06-23 | 1974-01-17 | Philips Nv | Halbleiteranordnung |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4021871A1 (de) * | 1990-07-09 | 1992-01-23 | Lsi Logic Products Gmbh | Hochintegriertes elektronisches bauteil |
| US5225710A (en) * | 1990-07-09 | 1993-07-06 | Lsi Logic Products Gmbh | Highly integrated electronic component with heat-conducting plate |
| US5428246A (en) * | 1990-07-09 | 1995-06-27 | Lsi Logic Products Gmbh | Highly integrated electronic component with heat-conductive plate |
| DE4124269A1 (de) * | 1991-03-23 | 1992-09-24 | Samsung Electronics Co Ltd | Halbleiterleitungsrahmen |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB2027990B (en) | 1983-01-19 |
| DE2931449C2 (de) | 1990-09-13 |
| HK53183A (en) | 1983-11-18 |
| BR7904797A (pt) | 1980-04-29 |
| GB2027990A (en) | 1980-02-27 |
| MY8400254A (en) | 1984-12-31 |
| US4301464A (en) | 1981-11-17 |
| JPS5521128A (en) | 1980-02-15 |
| JPS639378B2 (de) | 1988-02-29 |
| SG29183G (en) | 1984-04-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE2931449A1 (de) | Leitungsrahmen und denselben verwendende halbleitervorrichtung | |
| DE3783783T2 (de) | Plastikumhuellter chiptraeger und verfahren zu dessen herstellung. | |
| DE68928185T2 (de) | Herstellung elektronischer Bauelemente mit Hilfe von Leiterrahmen | |
| DE69737248T2 (de) | Verfahren zum Einkapseln einer integrierten Halbleiterschaltung | |
| DE69932268T2 (de) | Halbleiteranordnung aus vergossenem Kunststoff und Verfahren zu Ihrer Herstellung | |
| DE69737588T2 (de) | Halbleiteranordnung und Herstellungsverfahren dafür | |
| DE102020101098B4 (de) | Leadframe, gekapseltes Package mit gestanzter Leitung und gesägten Seitenflanken, und entsprechendes Herstellungsverfahren | |
| DE19712551B4 (de) | Zuleitungsrahmen und darauf angewendetes Herstellungsverfahren für Halbleitergehäuse in Chipgröße | |
| DE4337675B4 (de) | Verfahren zur Herstellung von stapelbaren Halbleitergehäusen | |
| DE102008046095B4 (de) | Verfahren zum vereinzeln eines halbleiterbausteins | |
| DE1564354A1 (de) | Metallteil fuer Halbleiter-Bauelemente | |
| DE69615792T2 (de) | Miniatur-halbleiteranordnung für oberflächenmontage | |
| DE2636450A1 (de) | Halbleiter-leitungsrahmen | |
| DE102014106158B4 (de) | Verfahren zum Testen von elektronischen Bauteilen und Halbleiterstreifenanordnung | |
| CH686325A5 (de) | Elektronikmodul und Chip-Karte. | |
| DE112006003036T5 (de) | Halbleiterchipgehäuse mit einem Leitungsrahmen und einem Clip sowie Verfahren zur Herstellung | |
| DE10234778A1 (de) | Chip-Leiterplatten-Anordnung für optische Mäuse und zugehöriger Linsendeckel | |
| DE112006003372T5 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Montage eines oben und unten freiliegenden eingehausten Halbleiters | |
| DE1564334A1 (de) | Plastikgekapselter Transistor und Verfahren zu seiner Herstellung | |
| DE4207198A1 (de) | Zufuehrungsrahmen und halbleitervorrichtung, welche den zufuehrungsrahmen verwendet | |
| DE19743537A1 (de) | Halbleitergehäuse für Oberflächenmontage sowie Verfahren zu seiner Herstellung | |
| DE19808193A1 (de) | Leadframevorrichtung und entsprechendes Herstellungsverfahren | |
| DE102022103210A1 (de) | Chippackage und Verfahren zum Bilden eines Chippackages | |
| DE2101028C2 (de) | Verfahren zum Herstellen einer Mehrzahl von Halbleiterbauelementen | |
| DE69330249T2 (de) | Leistungsverpackung mit hoher Zuverlässigkeit für eine elektronische Halbleiterschaltung |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| OAR | Request for search filed | ||
| OC | Search report available | ||
| 8128 | New person/name/address of the agent |
Representative=s name: STREHL, P., DIPL.-ING. DIPL.-WIRTSCH.-ING. SCHUEBE |
|
| 8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
| D2 | Grant after examination | ||
| 8363 | Opposition against the patent | ||
| 8365 | Fully valid after opposition proceedings |