DE2735651A1 - Bildaufnahmeanordnung - Google Patents
BildaufnahmeanordnungInfo
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- 230000032258 transport Effects 0.000 claims description 96
- 239000000872 buffer Substances 0.000 claims description 39
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 claims description 34
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 32
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 27
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 21
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 19
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 8
- 238000005036 potential barrier Methods 0.000 claims description 7
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims description 3
- 239000000969 carrier Substances 0.000 claims description 3
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims 4
- 102000017795 Perilipin-1 Human genes 0.000 claims 1
- 108010067162 Perilipin-1 Proteins 0.000 claims 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 9
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 238000002513 implantation Methods 0.000 description 9
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 9
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 5
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 5
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 3
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 3
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 3
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 1
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 238000005247 gettering Methods 0.000 description 1
- 230000012447 hatching Effects 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 239000007943 implant Substances 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/10—Integrated devices
- H10F39/12—Image sensors
- H10F39/15—Charge-coupled device [CCD] image sensors
- H10F39/158—Charge-coupled device [CCD] image sensors having arrangements for blooming suppression
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/76—Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
- H04N25/77—Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/76—Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
- H04N25/77—Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components
- H04N25/771—Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components comprising storage means other than floating diffusion
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/76—Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
- H04N25/77—Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components
- H04N25/772—Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components comprising A/D, V/T, V/F, I/T or I/F converters
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/10—Integrated devices
- H10F39/12—Image sensors
- H10F39/15—Charge-coupled device [CCD] image sensors
- H10F39/153—Two-dimensional or three-dimensional array CCD image sensors
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- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
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Description
PHN. 8^97·
. r VA/EVH.
N. Y. Philips Gloeüümpenfabrtekee
_ 26.6.77.
"BildaufnahmeanOrdnung"
Die Erfindung bezieht sich auf eine Bildaufnahmeanordnung mit einem Halbleiterkörper, einer Reihe photoempfindlicher
Elemente, die in Zeilen und Spalten auf einem ersten Teil des genannten Körpers angebracht sind,
um bewegliche Ladungsträger infolge einfallender Strahlung zu erzeugen und zu speichern, ersten Mitteln zum Uebertragen
gespeicherter Ladungsträger von der genannten Reihe auf einen anderen Teil des genannten Körpers, wobei
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PHN. 8497.
26.6.77.
diese ersten Mittel Ladungstransportleitungen enthalten,
die kammförmig mit den Spalten der genannten Reihe ineinander eingreifen, sowie zweiten Mitteln, die auf
dem genannten anderen Teil des Körpers ein Ladungsübertragungsschieberegister definieren, dem aus den
ersten Mitteln parallel die Ladungsinformation einer Zeile der genannten Reihe zugeführt wird und das einen
Ausgang enthält, dem die genannte Information seriell entnommen werden kann.
Die Erfindung bezieht sich weiterhin auf eine Schaltung mit einer derartigen Bildaufnahmeanordnung.
Beispiele derartiger Anordnungen sind in der US-PS 3 896 k7k und der britischen Patentschrift 1 394
beschrieben. Da die 'Ladungstransportleitungen kammförmig mit den Spaltenleitungen der Reihe lichtempfindlicher
Elemente ineinander eingreifen, werden derartige Bildaufnahmeanordnungen manchmal als vom "interline"-Typ
oder mit einer "interleaved" Struktur beschrieben.
Die Ladungstransportleitungen in diesen bekannten Anordnungen werden durch Schieberegister, z.B.
Zweiphasen-CCD-Schieberegister, gebildet (CCD = ladungsgekoppelte Anordnung ). Nach Sammlung und Speicherung
der erzeugten Ladungsträger während einer als Teilbildperiode bezeichnete Periode kann die gespeicherte Ladungsinformation der ganzen Reihe photoempfindlicher Elemente
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PHN. 8^97
gleichzeitig in diesen parallelen Schieberegisterleitungen transportiert werden. Während der nächsten Teilbildperiode
wird diese Information dann über diese Leitungen geschoben, um die Ladungsspeicherungsinformation jeder
Reihe sequentiell in das andere Ladungstransportschiebe— register einzuführen, das den genannten seriellen Ausgang
enthält. Die Vorteile einer derartigen Ladungstransportbildaufnahmeanordnung sind bekannt.
Derartige mit einer Reihe photoempfindlicher
Elemente in demselben Gebiet des Halbleiterkörpers integrierte CCD-tSchieberegister können jedoch einen
Nachteil aufweisen. Das Anbringen miteinander verbundener Taktelektroden für die Vielphasen-CCD-Leitungen kann ein
Mehrschichtenmuster isolierter Elektroden ergeben, das schwer herstellbar sein kann. Ausserdem kann dieses
Muster über Teilen der photoempfindlichen Elemente liegen
oder einen erheblichen Raum zwischen den Spalten der photoempfindlichen Elemente einnehmen. Es kann also
notwendig sein, dass die einfallende Strahlung durch mehrere Elektrodenmaterial- und Isoliermaterialschichten
hindurchdringen muss, bevor die Ladungsträger in den photoempfindlichen Elementen erzeugt werden. Die
Absorption und/oder Reflexion der Strahlung kann dadurch von der Art der verwendeten Materialien abhängig werden.
Sogar bei Anwendung polykristallinen Siliziums als
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- X-
PHN. 8497.
Elektrodenmaterial statt Metall kann Strahlung kürzerer Wellenlänge, wie blaues Licht, bei der Uebertragung
erheblich von mehr als einer solchen Elektrodenschicht absorbiert werden, so dass die Empfindlichkeit für
blaues Licht der Bildaufnahmeanordnung herabgesetzt wird. Die von diesen Schieberegistern eingenommenen Teile des
Körpers werden vorzugsweise gegen die einfallende Strahlung abgeschirmt, und das Ausschmieren der Ladungsspeicherungsinformation
beim Auslesen zu verhindern. Venn der grösste Teil des komplexen isolierten Elektrodenmusters
auf den Raum zwischen den Spalten photoempfindlicher Elemente beschränkt wird, wird ein erheblicher Prozentsatz
der Oberfläche des Körpers, der die Reihe photoempf indli eher Elemente enthält, nicht empfindlich sein,
so dass erhebliche Teile des einfallenden Strahlungsmusters nicht detektiert werden können und die maximale
Anzahl photoempfindlicher Elemente pro Oberflächeneinheit
beschränkt ist. Veiter ist bei gewissen Ausführungsformen
ein zusätzliches Transportgatter zwischen den lichtempfindlichen Elementen und ihren kammartig ineinander
eingreifenden Schieberegistern erforderlich, wodurch ein noch grösserer Abstand von den Spalten photoempfindlicher
Elemente erhalten wird.
Die vorliegende Erfindung gründet sich u.a. auf die Erkenntnis, dass durch Transport der Ladungs-
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PHW.
Speicherungsinformation von einem lichtempfindlichen
Gebiet einer Bildaufnahmeanordnung durch Ladungstransport entlang eines Driftfeldes unter einer langgestreckten
Elektrode eine einfache und kompakte Ladungstransportleitung gebildet werden kann, die keinen grossen Teil
des lichtempfindlichen Gebietes zu beanspruchen braucht, und sich auch nicht über einem erheblichen Teil des
photoempfindlichen Elements zu befinden braucht.
Nach der Erfindung ist eine Anordnung der eingangs beschriebenen Art dadurch gekennzeichnet, dass
Mittel vorhanden sind, mit deren Hilfe die Ladungsspeicherungsinformation
jeder Zeile der Reihe gesondert in den genannten Transportleitungen transportiert wird,
und dass jede der genannten Transportleitungen eine langgestreckte Widerstandselektrode enthält, die von dem
unterliegenden Teil des genannten Körpers isoliert ist und sich entlang der zugehörigen Spalte der Reihe erstreckt,
wobei die genannte Widerstandselektrode mit Verbindungen zum Anlegen eines Potentialunterschiedes
entlang der genannten Widerstandselektrode versehen ist, um in dem genannten unterliegenden Körperteil ein Driftfeld
in der Richtung des genannten Schieberegisters zum Transportieren der genannten beweglichen Ladungsträger
zu dem genannten Schieberegister zu erzeugen.
Die Sperrschicht ist vorzugsweise eine Isolierschicht,
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aber kann gegebenenfalls auch ein Schottky-Uebergang
oder ein pn-Uebergang sein, der zwischen der langgestreckten Elektrode und dem unterliegenden Teil des
Halbleiterkörpers gebildet wird. Das Driftfeld kann durch einen Dotierungsgradienten in diesem Teil des Halbleiterkörpers, eine sich ändernde Dicke oder einen sich ändernden
Ladungszustand einer isolierenden Sperrschicht oder einen
Potentialunterschied längs.der langgestreckten Elektrode erhalten werden.
Eine bevorzugte Ausführungsform ist dadurch gekennzeichnet, dass Mittel vorhanden sind, mit deren
Hilfe die Ladungsspeicherungsinformation jeder Zeile der Reihe gesondert in den genannten Transportleitungen
übertragen wird, und dass jede der genannten Transportleitungen eine langgestreckte Widerstandselektrode enthält,
die von dem unterliegenden Teil des genannten Körpers isoliert ist und sich entlang der zugehörigen Spalte
der genannten Reihe erstreckt, wobei die genannte Widerstandselektrode mit Verbindungen zum Anlegen eines
Spannungsunterschiedes entlang der genannten Wiederstandselektrode versehen ist, um in dem genannten unterliegenden
Teil des Körpers ein Driftfeld in der Richtung des genannten Schieberegisters zum Transportieren der genannten beweglichen Ladungsträger zu dem genannten
Schieberegister zu erzeugen.
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>_ 26.6.77.
Das Anlegen eines Potentialunterschiedes entlang einer derartigen Widerstandseleketrode ermöglicht auf
einfache Weise, ein derartiges Driftfeld für den Ladungstransport zu erhalten, und eine derartige Widerstandselektrodenladungstransportleitung
kann auf einfache Weise hergestellt werden. Im Gegensatz zu den meisten obenbeschriebenen bekannten Bildaufnahmeanordnungen vom
"interline"-Typ wird die Lädungsspeicherungsinformation
der ganzen Matrix nicht gleichzeitig zu den genannten Ladungstransportleitungen transportiert, sondern wird
die Information jeder Zeile gesondert transportiert, so dass zu einem beliebigen Zeitpunkt beim Auslesen nur
die Lädungsspeicherungsinformation eines einzigen lichtempfindlichen
Elements entlang jeder Leitung transportiert wird. Dieser gesonderte Transport jeder Zeile kann auf
einfache Weise erfolgen, ohne dass dazu zusätzliche Elektroden erforderlich sind, wenn jede Zeile lichtempfindlicher
Elemente eine gemeinsame Lichtgatterelektrode besitzt, die sowohl für die Speicherung
der Ladungsträger auf dem lichtempfindlichen Element als auch für den Transport der gespeicherten Ladungsträger
zu den Transportleitungen sorgt.
Es ist vorteilhaft, wenn die genannten ersten Mittel einen Puffer zur zeitweiligen Speicherung der
Lädungsspeicherungsinformation einer Zeile vor der
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Einführung in das genannte Schieberegister enthalten, wobei der genannte Puffer ein Eingangsgatter der Widerstandselektrodentransportleitungen und ein Ausgangsgatter zu
dem Schieberegister enthält. Mit einem derartigen Puffer kann die Ladungspeicherungsinformation einer bestimmten
Zeile aus dem genannten Schieberegister unter Transport der Information der nächsten Zeile entlang der Leitungen
und in dem genannten Puffer ausgelesen werden. Oa weiter MAntibloomingN-Anordnungen leicht in Anordnungen nach
der Erfindung aufgenommen werden können, ist es mit einem derartigen Puffer auch möglich, die Information einer
Zeile in dem Puffer vor der Einführung in das genannte Schieberegister zu speichern, während zugleich überschüssige Ladungsträger aus überbelichteten photoempfindlichen Elementen abgeführt werden.
FOr gewisse Anwendungen kann Ladungstransport
entlang der Oberfläche des Halbleiterkörpers akzeptabel sein. Vorzugsweise wird jedoch der Ladungstransport über
das Innere des Körpers auf Abstand von der Oberfläche stattfinden, um das Einfangen von Ladung in Oberflächenfallen zu verhindern und die Transportwirkung und
Transportgeschwindigkeit zu verbessern. Der Teil des Körperβ, der unter jeder der genannten langgestreckten
Elektroden liegt und in dem das genannte Oriftfeld erzeugt wird, kann also ein an die Oberfläche grenzendes
Halbleitergebiet vom ersten Leitungstyp sein, das durch
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+7 ~
FHN. 8^97
einen Teil des Halbleiterkörpers vom entgegengesetzten
Leitungstyp umgeben wird und erschöpft werden kann, ohne dass Lawinenvervielfachung auftritt, um Transport
der genannten Ladungsinformation durch das Gebiet hindurch
als Ladungsträger vom ersten Leitungstyp zu ermöglichen, die über das Innere des genannten Gebietes unter der
genannten langgestreckten Elektrode "driften". Ein derartiges Gebiet vom ersten Leitungstyp kann auch mit
Vorteil erweitert werden, um einen Massenladungstransportkanal
für das genannte Schieberegister, einen in der Nähe der Oberfläche liegenden Teil jedes photoempfindlichen
Elements, der zu der genannten Transportleitung gehört, und eine "anti-bloomingM-Abfuhr überschüssiger Ladungeträger,
die auf überbelichteten photoempfindlichen Elementen
erzeugt werden, zu erhalten. Der Teil des Körpers unter jeder langgestreckten Elektrode kann einen gemeinsamen
Ladungstransportkanal für sowohl die zu transportierende Ladungsspeicherungsinformation als auch die genannten
überschüssigen abzuführenden Ladungsträger liefern, oder kann in gesonderte Kanäle, die je für eine dieser
Funktionen dienen, unterteilt werden.
Einige Aueführungsformen der Erfindung sind
in der Zeichnung dargestellt und werden im folgenden näher beschrieben. Es zeigen:
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PHN. 8497 26.6.77.
Fig. 1 eine teilweise aufgebrochene Draufsicht auf einen Teil einer Bildaufnahmeanordnung nach der
Erfindung,
Fig. 2 einen Querschnitt durch einen Teil einer Reihe photoempfindlicher Elemente der Anordnung nach
Fig. 1 mit einem zugehörigen Potentialprofil,
Fig. 3 einen Querschnitt durch einen Teil des Ausgangsschieberegisters der Anordnung nach Fig. 1,
Fig. h einen Querschnitt durch eine Widerstandselektrodentransportleitung
und durch das Ausgangsschieberegister der Anordnung nach Fig. 1 mit zugehörigen Potentialprofilen,
Fig. 5 schematisch eine Anordnung mit der Bildaufnahmeanordnung
nach den Fig. 1 bis 4,
Fig. 6 und 7 Querschnitte durch den Teil des Halbleiterkörpers nach Fig. 2 in verschiedenen Stufen
der Herstellung der Anordnung,
Fig. 8 einen Querschnitt durch den Teil des Halbleiterkörpers nach Fig. k in der darauffolgenden
Stufe der Herstellung,
Fig. 9 einen Querschnitt durch einen Teil einer Zeile photoempfindlicher Elemente einer anderen Bildaufnahmeanordnung
nach der Erfindung mit zugehörigen Potentialprofilen, und
Fig. 10 und 11 einen Querschnitt durch bzw.
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ΓΗΝ. 8497.
eine aufgebrochene Draufsicht auf einen Teil einer Reihe photoempfindlicher Elemente einer weiteren Bildaufnahmeanordnung
nach der Erfindung, wobei Fig. 10 einen Querschnitt längs der Linie X-X der Fig. 11 durch einen
Teil einer Zeile der photoempfindlichen Elemente zeigt.
Es ist einleuchtend, dass die Zeichnungen schematisch sind und nicht masstäblich gezeichnet sind.
Die Abmessungen gewisser Gebiete und Schichten sind der Deutlichkeit halber grosser gegenüber anderen dargestellt.
Die Feststoff-Bildaufnahmeanordnung nach den Fig. 1 bis 4 enthält einen Halbleiterkörper 1, der aus
einkristallinem Silizium besteht. Eine Matrix 2 photoempfindlicher
Elemente 3» die in Zeilen und Spalten angeordnet sind, befinden sich auf einem ersten Teil
des Körpers 1 zum Erzeugen und Speichern beweglicher Ladungsträger infolge einfallender Strahlung k (siehe
Fig. 1 und 2). Der Deutlichkeit halber zeigt Fig. 1 nur die oberen drei und die unteren zwei Zeilen der
genannten Matrix. Es leuchtet ein, dass dazwischen noch weitere Zeilen ähnlicher photoempfindlicher Elemente
vorhanden sein werden. Im vorliegenden Ausführungsbeispiel sind die einzelnen Zeilen durch eine Anzahl paralleler
Photogatterelektroden 5 definiert, die sich je länge einer Zeile photoempfindlicher Elemente 3 erstrecken
und einer Zeile gemeinsam sind.
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PHN. 8^97-
Ladungstransportleitungen 6 sind kammartig
zwischen den Spalten der Matrix 2 gelegen und bilden einen Teil eines ersten Mittels zum Transportieren gespeicherter
Ladung der Zeilen der Matrix 2 zu einem anderen Teil des Körpers 1, wo ein Ladungstransportschieberegister 7
angebracht ist. Das Schieberegister 7t das vom CCD-Typ ist,
empfängt unter der Elektrode seiner Taktleitungen 0(1) eine parallele Zufuhr von Ladungsinformationspaketen
einer Zeile der Matrix 2, wobei diese Pakete unter dem Ausgang 31 sequentiell ausgelesen werden können. Die
Bildaufnahmeanordnung nach den Fig. 1 bis U ist daher vom "interline"-Typ und weist eine "interleaved" Struktur auf,
Mit den Photogatterelektroden 5» die jeder Zeile photoempfindlicher Elemente 3 gemeinsam sind,
kann die Ladungsinformation jeder Zeile der Reihe 2 gesondert in den Transportleitungen 6 transportiert
werden.
Jede der Ladungstransportleitungen 6 enthält eine langgestreckte Widerstandselektrode 8, die von dem
unterliegenden Teil 9a des Körpers 1 getrennt ist und
sich entlang der zugehörigen Spalte der Matrix 2 erstreckt. Die Elektroden 8 sind mit Verbindungen 10 und 11 versehen,
um eine Potentialfalle entlang jeder Elektrode anzulegen, damit im unterliegenden Teil 9a des Körpers
ein elektrische Driftfeld in der Richtung des Schiebe-
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PHN. 8497.
registers 7 erzeugt wird, um die Ladungsinformation zu
dem Schieberegister 7 zu transportieren.
Die Strukttir und die Wirkung des Ausführungsbeispiels nach den Fig. 1 bis h werden nun im Detail
beschrieben.
Der Teil 9a des Körpers gehört zu dem Gebiet 9»
das vom ersten Leitungstyp (z.B. vom η-Typ) ist, an eine Oberfläche 15 des Körpers 1 grenzt und von einem Teil
des Körpers vom entgegengesetzten Leitungstyp (vom p-Typ) umgeben ist. Das Gebiet 9 weist eine derartige Dotierung
und Dicke auf, dass mittels eines elektrischen Feldes eine Erschöpfungsschicht über die ganze Dicke unter
Vermeidung von Lawinenvervielfachung und Durchschlag erhalten werden kann, so dass Transport von Ladungs—
Speicherungsinformation über das Innere des Gebiets 9 als Ladungsträger vom genannten ersten Leitungstyp
(Elektronen) möglich ist. Das η-leitende Gebiet 9 liefert also einen "Bulk"-Kanal für den Transport von Elektronen
aus der photoempfindlichen Reihe 2 unter dem Ausgang des Ladungstransportregisters 7· "Bulk"-Kanalladungstransportanordnungen
und ihre Wirkungsweise sind 3. .B. in der britischen Patentschrift 1 k\k 183 beschrieben,
auf die hier verwiesen sei (PHN. 5964). Die Teile 9a
des Gebietes 9 liegen unter den Widerstandselektroden und erstrecken sich zwischen den Spalten photoempfindlicher
809808/07U
PHM. 8^97.
Elemente 3. Teile 9b des Gebietes 9 gehören zu einem Puffer 12 zwischen den Ladungstransportleitungen 6 und
dem Schieberegister 7· Teile 9c bilden den Kanal des
Schieberegisters 7. Die Teile 9a und 9b bilden zusammen
Streifen, die sich von dem Kanal 9c des Registers 7 her in der Matrix 2 photoempfindlicher Elemente erstrecken.
In der aufgebrochenen Draufsicht nach Fig. 1 ist das Gebiet 9 mit gestrichelten Linien angegeben; die linken
η-leitenden Streifen 9a, b der Fig. 1 sind ohne die darüberliegenden isolierten Elektrodenmuster dargestellt,
während die beiden mittleren p-leitenden Streifen 9a, b
mit dem zugehörigen Elektrodenmuster dargestellt sind, der Deutlichkeit halber ist der η-leitende Streifen, der
zu dem rechts in Fig. 1 dargestellten Elektrodenmuster gehört, nicht dargestellt. Wie aus Fig. 1 ersichtlich
ist, weist jeder Streifen 9a, b einen L-förmigen seitlich
hervorragenden Teil 9d zwischen der Matrix 2 photoempfindlicher
Elemente 3 und dem Puffer 7 auf. Dieser Ansatz 9d, der mit einer Drainverbindung 13 versehen ist,
dient dazu, aus dem Kanal 9a der Transportleitung 6 etwaige überschüssige Elektronen abzuführen, die auf
einem überbelichteten photoempfindlichen Element y
erzeugt sind, das zu der Leitung 6 gehört.
Eine höher dotierte η-leitende Zone kann örtlich an der Oberfläche des η-leitenden Gebietes 9 sowohl am
809808/07U
PHN. 8497.
Ausgang 31 des Schieberegisters 7 (siehe Zone 20 in Fig. 3) als auch an jedem Drainansatz 9-d des Gebietes 9, wo
dieser durch die Drainverbindung 13 kontaktiert ist, angebracht werden. Vorzugsweise weist die ganze Oberfläche
des ganzen Gebietes 9 eine höher dotierte Oberflächenzone N. auf, wie in den Fig. 2, 3 und 4 dargestellt ist.
Bekanntlich kann durch das Anbringen einer derartigen höher dotierten Oberflächenzone N1 der "Bulk"-Transportkanal
mit einem vorteilhaften Dotierungsprofil versehen
werden, wie z.B. in der früher eingereichten britischen Patentanmeldung 11974/74 (PHN. 6823) beschrieben ist, die
der offengelegten niederländischen Patentanmeldung 7303778
entßpricht. Ausserdem kann durch das Vorhandensein der
obengenannten höher dotierten Oberflächenzone N1 der
Wert des Potentialunterschiedes, der kapazitiv in dem Körperteil 9a unter den Widerstandselektroden 8 erzeugt
wird, besser dem entlang der genannten Elektroden 8 angelegten Potentialunterschied entsprechen. In einem
Sonderfall kann die Masse des η-leitenden Gebietes 9 z.B. eine Dotierung von 10 Donatoratome/cm3 und eine
Tiefe von 3 Mikrons aufweisen, während die Oberflächenzone N1 z.B. -eine Dotierung von 2 . 10 Donatoratome/cm2
und eine Tiefe von 0,3 bis 0,4 Mikrons aufweisen kann. ,
Wie in Fig. 1 dargestellt ist, ist die eine Seite der Teile 9a des η-leitenden Gebietes 9 zwischen
809808/0714
PHN. 8/, 97
den Spalten photoempfindlicher Gebiete 3 mit rechteckigen
Teilen versehen. Diese rechteckigen Teile 9a erstrecken eich unter den Photogatterelektroden 5 der photoempfindlichen
Elemente 3· Eine hochdotierte an die Oberfläche grenzende Zone 14 vom entgegengesetzten (p -) Leitungstyp wird rings um die Grenze zwischen dem n.leitenden
Teil 9a und der Oberfläche 15 angebracht. Ausgenommen
an den rechteckigen Teilen 9e ist diese p-leitende Zone 1U
mit sowohl dem p-leitenden Teil 17 als auch dem n-leitenden
Gebiet 9a in Kontakt. Wo die Zone 1h an jeden rechteckigen
Teil 9e grenzt, erstreckt sie. sich über den
rechteckigen Teil 9e. Diese ρ -Zone \k ist im Querschnitt
nach Fig. 2 dargestellt, aber der Deutlichkeit halber ist sie nur in Fig. 1 durch eine Linie von Kreuzchen
angegeben, die mit der gestrichelten Linie des Gebietes Sa.
zusammenfällt. Wie nachstehend erläutert werden wird,
dient die p-leitende Zone 14 dazu, Potentialsperren
i
zu bilden, die zu jedem photoempfindlichen Element 3
zu bilden, die zu jedem photoempfindlichen Element 3
gehören. Erwünschtenfalls kann eine ähnliche ρ -Zone
auch entlang der Oberflächengrenze der anderen n-leitenden
Teile 9b, 9c und 9d des Gebietes 9 angebracht werden.
Wo sie innerhalb des p-leitenden Teiles 17 liegt, dient eine solche ρ -Zone als eine sogenannte Kanal-
Unterbrecherzone.
Auf der Oberfläche 15 des Körpers 1 befindet
sich eine Isolierschicht 16, die aus Siliziumoxid bestehen
809808/0714
PIiN. 8^97
26.6.77-
kann und für die zu detektierende elektromagnetische
Strahlung k durchlässig ist. Ein sich auf einem ersten Pegel befindendes Elektrodenmuster 8, 10a, 11a, 21, 22, 23,
2k (das z.B. aus einer Schicht polykristallinen Siliziums mit einem verhältnismässig hohen Widerstand gebildet sein
kann) befindet sich auf der Isolierschicht 16. Dieses Elektrodenmuster ergibt die langgestreckten Widerstandselektroden 8, die mit ihren einander gegenüber liegenden
Enden durch Streifen 10a und 11a miteinander verbunden sind, Um die Stromabfuhr entlang der Elektroden 8 herabzusetzen,
soll der Quadratwiderstand dieser Elektrodenschicht hoch sein. Wie jedoch nachstehend beschrieben werden wird,
können andere Teile dieser Elektrodenschicht derart dotiert werden, dass sie einen niedrigeren Quadratwiderstand aufweisen.
Das Muster ergibt auch die Hauptelektrode 22 des Puffers und die Elektroden 23 und 2k der Taktleitungen 0(1)
und 0(3) des Vierphasen-CCD-Schieberegisters 7, sowie
die Gatterelektrode 21 in der Nähe des Ausgangs des Registers 7. Die Elektroden 23 der Taktleitung 0(1) sind
durch einen gemeinsamen Teil dieser Elektrodenschicht miteinander verbunden. Die Elektroden 2k sind aber gesonderte
Inseln, die durch einen sich auf höhrem Pegel
befindenden Leiter aus polykristallinem Silizium und/oder
Aluminium zur Bildung der Taktleitung 0(2) miteinander verbunden sind. Die Ausgangsgatterelektrode 21 hat eine
gesonderte Verbindung und wird dazu benutzt, den
809808/0714
PHN. 8497 26.6.77.
as
Schieberegisterkanal gegen die η -Ausgangszone 20 des Registers 7 zu isolieren, z.B. wenn das Potential der
Zone 20 nach dem Auslesen der Ladungsspeicherinformation
zurückgestezt wird. Auf diesem Elektrodenmuster 8, 10a, 11a, 21, 22, 23 und 24, das sich auf einem ersten Pegel befindet,
ist eine Isolierschicht 45 vorhanden.
Ein sich auf einem zweiten Pegel befindendes Elektrodenmuster 5. 10b, 11b, 13f 25, 32 (das aus einer
polykristallinen Siliziumschicht mit einem verhältnismässig niedrigen Widerstand von z.B. 4θ Ohm pro Quadrat gebildet
werden kann) befindet sich auf Teilen der Isolierschicht und des isolierten Elektrodenmusters 8, 10a, 11a, 21, 22,
23, 24. Dieses zweite Elektrodenmuster ergibt die Photogatterelektroden
5 jeder Zeile photoempfindlicher Elemente 3 ι eine Gatterelektrode 30, die zu der "Antiblooming"-Drainelektrode
13 für Teile 9d gehört, eine Eingangs- und Ausgangsgatterelektrode 25 bzw. 26 des Puffers 12, die
miteinander verbundenen Elektroden 27 der Taktleitung 0(2) des Schieberegisters 7 und die Elektrodeninseln 28 der
Taktleitung 0(4) des Schieberegisters 7. All diese Elektrodenteile 5. 3Ö, 25, 26, 27 und 28 sind gegen den
unterliegenden Teil des Körpers und das auf dem ersten Pegel liegende Elektrodenmuster isoliert und sind in
Fig. 1 mit schraffierten gestrichelten Linien angedeutet.
Die Streifenteile 1Ob1IIb und 32 kontaktieren
809808/0714
PHN. S497 .26.6.77-
die Streifen 10a, 11a bzw. 22 der auf dem ersten Pegel liegenden Elektrodenschicht entlang langgestreckter
Fenster in der Isolierschicht k$ (siehe Fig. k) Dieser
Kontakt zwischen den Elektrodenmustern auf den zwei Pegeln ist in der Draufsicht nach Fig. 1 mit einer schraffierten
gestrichelten Linie für die Teile 10b, 11b und 32 angegeben. Auf ähnliche Weise kontaktiert der Streifenteil
29 das Elektrodenmuster 23 der 0(1)-Taktleitung des
Registers 7 entlang eines weiteren langgestreckten Fensters in der Isolierschicht 4 5 (siehe Fig. 4 und die schraffierte
gestrichelte Linie in Fig. 1). Wie in dem Querschnitt nach Fig. 3 dargestellt ist, kontaktiert der Elektrodenteil
die n+-Ausgangszone 20 des η-leitenden Kanals des Registers 7 über ein Fenster in der Isolierschicht 16
und liefert somit ein Ausleseglied für das Schieberegister 7· Auf ähnliche Weise kontaktiert der Elektrodenteil 13
dieses auf dem zweiten Pegel liegenden Elektrodenmusters jede η -Zone der "Antiblooming"-Drainerweiterungen 9d
des η-leitenden Kanals 9 über Fenster in der Isolierschicht
Dies ist in Fig. 1 durch eine lokalisierte Schraffur für den Teil 13 angegeben. Der Elektrodenstreifen 13 erstreckt
sich dann über die isolierten Widerstandselektrodenstreifen 8 und über die Isolierschicht 16 (siehe Fig. 1 und k).
Eine weitere Isolierschicht 35 befindet sich über diesem auf dem zweiten Pegel liegenden Elektrodenmuster 5, 10b,
11b, 13, 25-32.
8098Θ8/0714
ΡΙίΝ. 64?7.
26.6.77.
λ?
Der Deutlichkeit halber sind die Isolierschichten 16, 45 und 35 in den Querschnitten nach Fig. 2, 3 und k
ohne Schraffuren dargestellt, während sie in der Draufsicht
nach Fig. 1 gar nicht dargestellt sind.
Ein sich auf einem dritten Pegel befindendes Metallisationsmuster (das z.B. aus einer Aluminiumschicht
gebildet sein kann) erstreckt sich über Teile der auf dem zweiten Pegel liegenden Elektrodenstruktur und die
Isolierschichten. Die Querschnitte nach Fig. 2 und k zeigen Streifenteile 36 dieses Aluminiummusters, die gegen
die Widerstandselektrodenstreifen 8 isoliert sind und sich entlang dieser Streifen erstrecken, um das unterliegende
η-leitende Kanalgebiet 9 gegen die einfallende Strahlung h abzuschirmen. Die Aluminiumstreifen 36
können sich zwischen einem ununterbrochenen Gebiet aus Aluminium, das über der Elektrode 10a, b angebracht ist,
und einem anderen Gebiet erstrecken, das über den Elektrodengebieten
13 und 30 der "Antiblooming"-Drain angebracht
und gegen diese Gebiete isoliert ist. Diese lichtabschirmenden Aluminiumgebiete können z.B. mit dem
Elektrodengebiet 10b über ein Fenster in der Isolierschicht 35 verbunden werden. Die Spalte zwischen den
Streifen 36 setzen die Spalten photoempfindlicher Elemente
.der einfallenden Strahlung k aus. Die Umhüllung, in der
die Anordnung nach den Fig. 1 bis h untergebracht ist,
809808/0714
PHN. 8497. 26.6.77«
kann eine Maske enthalten, um die anderen Gebietes des Körpers 1 gegen die Strahlung k zu maskieren. Dieses
auf dem dritten Pegel liegende Metallisationsmuster kann auch dazu benutzt werden, die auf dem zweiten Pegel
liegenden Elektrodeninseln 28 des Schieberegisters 7 zur Bildung der Taktleitung 0(4) miteinander zu verbinden.
Auch ist es vorteilhaft, dieses auf dem dritten Pegel liegende Elektrodenmuster dazu zu benutzen, Anschlussleitungen
und Anschlussgebiete für andere Teile der Anordnung z.B. zur Kontaktierung der auf dem untersten
Pegel liegenden Elektrodenleitungen zu erhalten. Der Deutlichkeit halber ist dieses auf dem dritten Pegel
liegende Aluminiummuster nicht in der Draufsicht nach
Fig. 1 dargestellt.
Es leuchtet ein, dass die Metallisierungen auf dem ersten, dem zweiten und dem dritten Pegel, die
Isolierschichten, die dotierten Zonen und Gebiete auf anderen Teilen des Körpers 1 ausserhalb des in Fig. 1 bis
dargestellten Gebietes angebracht werden können, um periphere Schaltungen für die Bildaufnahmeanordnung zu
erhalten. So kann z.B. jede Photogatterelektrode 5 mit einem Feldeffekttransistor mit isoliertem Gate 85
(IGFET) verbunden werden, der mit einer Belastung 86 versehen ist (siehe Fig. 5), wobei die beiden letzteren
auf bekannte Weise im Körper 1 gebildet werden können.
809808/07U
PHN. 8'497·
2/35651 26.6.77.
Venn der Transistor 85 eingeschaltet wird, wird das
Potential der zugehörigen Gatterelektrode 5 von dem Potential 0(P) (z.B. 5 oder 10 V) her, das an die
Leitung 87 am gegenüberliegenden Ende der Belastung 86 angelegt wird, auf z.B. Erdpotential herabgesetzt.
Uebliche IGFET-Schieberegister 80 und 81 können in den Teilen des Körpers 1 sowohl auf der linken als auch auf
der rechten Seite der photpempfindlichen Matrix 2 gebildet werden, um sequentiell einen Spannungsimpuls an
die Gatterelektrode anzulegen, damit der Transistor 85 sequentiell eingeschaltet wird. In der Schaltung nach
Fig. 5 sind abwechselnde Photogatterelektroden 5 mit
denselben Schieberegistern 80 oder 81 verbunden; erwünschtenfalls können aber abwechselnde Paare von
Elektroden 5 mit demselben Schieberegister 80 oder 81 durch Anwendung von Multiplexschaltern verbunden werden,
die durch IGFET's gebildet werden, die zwischen den Elektroden 5 und den Klemmen der Schieberegister 80 und
eingeschaltet sind. Der Impulsgenerator 88 zur Lieferung einer Quelle von Taktimpulsen, wie in Fig. 5 dargestellt,
kann von einem bekannten Typ und in demselben Halbleiterkörper 1 wie die photοempfindliche Matrix 2 integriert
sein, wenn dies erwünscht ist. Uebliche Ladungsdetektions- schaltungen 90, die z.B. einen Feldeffekttransistor
mit isoliertem Gate enthalten können, der in einer
809808/07U
PhN, 8^97.
26.6.77.
Emitterfolgerschaltung angeordnet ist, kann in der Nähe des Ausgangs des Schieberegisters 7 angebracht und mit
dem Ausgang der Abtastleitung 31 verbunden werden. Die Elektrode 31 und die Zone 20 können auch die Source eines
n-Kanal-"Deep Depletion"-Feldeffekttransistors 91 mit
isoliertem Gate bilden, der als Rücksetzschalter zur Abführung eines Information darstellenden Ladungspakets
dient, um nach Abtastung das anfängliche positive Potential +V(l), wieder an die Abtastelektrode 31 und die Zone
anzulegen. Anwendung von Feldeffekttransistoren für das Abtasten und Zurücksetzen ist in der vorgenannten britischen
Patentschrift 1 Ι^λ^Ι 183 (PHN. 5964) beschrieben.
Das Gate eines derartigen Rücksetztransistors 91 kann
z.B. durch einen angrenzenden Teil des auf dem ersten Pegel liegenden Elektrodemusters gebildet werden.
Die Bildaufnahmeanordnung nach Fig. 1 bis k kann wie folgt betrieben werden. Der p-leitende Teil
des Körpers kann an Erdpotential (θ V) gelegt werden; feste verhältnismässig hohe positive Potentiale V(d)
und V(l) können an den "Antiblooming"-Drainteil 9d des
η-leitenden Gebietes 9 über die Verbindung 13 bzw. an die η -Ausgangszone 20 des Schieberegisters über den
Rücksetz-Feldeffekttransistürschalter 91 angelegt werden,
dessen Source-Zone durch die Zone 20 gebildet wird. Unter diesen Bedingungen ist der pn-Uebergang zwischen
809808/0714
PHN. 8497.
dem η-leitenden Gebiet 9 und dem p-leitenden Teil 17
des Körpers in der Sperrichtung vorgespannt und werden bewegliche Ladungsträger aus dem Gebiet 9 abgeführt,
so dass alle Teile 9a, 9b, 9c, 9d und 9e des Gebietes 9
über ihre ganze Dicke an Elektronen erschöpft werden. Dann kann ein Massenladungetransportkanal für Elektronen
in dem Inneren des Gebietes 9 erhalten werden. Information darstellende Elektronenpakete können auf bekannte CCD-Weise
entlang des genannten Massenkänals durch die an die isolierten Elektroden über dem genannten Kanal angelegten
Potentiale transportiert werden, um auf kapazitivem Wege Potentialmulden entlang des genannten Kanals zu erzeugen. Die an die Schieberegisterelektroden 231 24, 27
und 29 sowie an die Pufferelektroden 25, 22 und 26 angelegten Potentiale sind Taktspannungen, die vom Impulsgenerator 88 (Fig. 5) geliefert werden. Feste Potentiale
werden an die Anschlüsse 10 und 11 der Widerstandselektroden 8 angelegt, wobei der Anschluss 11 auf einem
positiven Potential V(r) in bezug auf den Anschluss 10
gehalten wird. In einem Sonderfall kann ein derartiger Potentialunterschied z.B. 10 oder 11V betragen. Der
erhaltene Potentialunterschied entlang jeder Widerstandselektrode 8 verursacht in dem unterliegenden n-leitenden
Kanalteil 9a ein Driftfeld für Elektronen in der Richtung von der photoempfindlichen Matrix 2 zu dem Schieberegister 7<
809808/07U
PHN. 8'-! 97 26.6.77.
Wie in dem Querschnitt nach Fig. 2 dargestellt ist, bilden die Photogatterelektroden 5 Spalten von MOS-Kondensatoren
zwischen den Widerstandselektrodenstreifen 8. Ein positives Potential 0(P) wird an die Photogatterelektroden
5 über die Leitungen 87 angelegt (Fig. 5)· Unter diesen Bedingungen werden eine Erschöpfungsschicht und eine
Potentialmulde in der Nähe der Oberfläche des p-leitenden Teiles gebildet, der sich unter jeder Elektrode 5 befindet.
Fig. 2 zeigt ausserdem das erhaltene Potentialprofil
über dieser Potentialmulde (mit 100 bezeichnet) und in dem η-leitenden Kanalteil 9a. Wo die ρ -Zonen ~\k in dem
n—leitenden Teil 9a angebracht sind, wird das Kanalpotential
auf einem Potentialpegel (Bezugsziffer 101)
fixiert, der weniger positiv als die Potentialmulde 100 ist und z.B. +3 V betragen kann. Wo die ρ -Zonen 1U mit
dem p—leitenden Teil 17 in Kontakt sind, ist das Potential
0 V. An den Stellen der lichtempfindlichen Matrix 2,
an denen der Halbleiterkörper nicht von Streifen 36 abgeschirmt ist, werden infolge einfallender Strahlung h
Elektron-Loch-Paare in dem Teil I7 erzeugt. Die erzeugten
Elektronen werden zu den Potentialmulden 100 der Photogatterkondensatoren hin gezogen und in diesen Mulden
gesammelt. Am Ende der Integrationsperiode wird das Potential einer ersten Photogatterelektrode 5i die zu
einer ersten Zeile von Elementen 3 gehört, zeitweilig
809808/07U
PHN. 8497
auf O V herabgesetzt und das gespeicherte Elektronenpaket
in jeder Spalte der betreffenden Zeile bewegt sich nach links (in Fig. 1 und 2) über die Potentialsperre
zu der Potentialmulde 102 unter den Widerstandselektroden in der Nähe der zugehörigen Spalte. Das Potential jeder
Photogatterelektrode 5 kann auf 0 V in z.B. 2 Mikrosekunden mittels eines Spannungsimpulses herabgesetzt
werden, der entlang der Schieberegister 80 und 81(Fig. 5)
links und rechts von der Matrix 2 geschoben und an den zu der Elektrode 5 gehörigen Transistor 85 angelegt wird.
Die Grosse der Elektronenpakete, die unter jeder Photogatterelektrode
5 gespeichert und in den Widerstandselektrodentransportleitungen 6 transportiert werden
können, wird durch die Intensität der in der Nähe der genannten Elektroden 5 einfallenden Strahlung bestimmt.
Ausserdem können die Elektroden 5» die aus dotiertem
polykristallinem Silizium bestehen können, besser für rotes als für blaues Licht durchlässig sein. Da die
Schicht, aus der die Photogatterelektroden 5 gebildet sind, in diesem Falle einen Teil des photoempfindlichen
Gebietes zwischen den Abschirmstreifen 36 bedeckt, weist jedes photoempfindliche Element 3 eine grössere
photoempfindliche Fläche für rotes Licht als für blaues • Licht auf. Dies kann vorteilhaft sein, wenn derartige
Bildaufnahmeanordnungen für Farbferbsehkameras verwendet
809808/07U
PHN. 8497 26.6.77.
werden, weil es bei Silizium-Bildaufnalimeanordnungen
gebräuchlich ist, die Infrarotstrahlung (für die Silizium empfindlich ist) aus der einfallenden Strahlung
herauszu-filtrieren, und weil eine derartige Filtrierung
gewöhnlich auch auf unerwünschte Weise die rote Komponente der einfallenden Strahlung k in bezug auf die blaue
Komponente herabsetzt.
Die in den Widerstandselektrodentransportleitungen transportierten der Ladungsspeicherinformation einer
Zeile von Elementen 3 entsprechenden Elektronen werden durch das Driftfeld entlang des Kanals im Teil 9a zu
dem Schieberegister 7 transportiert. Das Potentialprofil
entlang des "Bulk"-Kanals in den Teilen 9a» 9b und 9c
ist in Fig. U dargestellt. Beim Transport von Ladungsspeicherinformation
entlang der Leitungen 6 werden die Puffer-Eingangsgatterelektrode 25 und die Hauptpufferelektrode
22 auf ein positiveres Potential als das Potential getaktet, das an den Anschluss 11 angelegt
wird, um die Potentialpegel 103 und 104 von z.B. +15 V bzw. +20 V in dem unterliegenden η-Kanal zu bilden.
Die Puffer-Ausgangsgatterelektrode ist aber auf ein weniger positives Potential getaktet, um einen Pegel
von z.B. +5 V in dem unterliegenden η-Kanal zu erhalten.
Die erhaltenen Potentialprofile 103, 104 und 105 ini
Kanalteil 9b sind in Fig. k mit einer gestrichelten Linie
809808/0714
PHN. 8^4 97 26.6.77.
angegeben. Unter diesen Bedingungen ist das Puffereingangsgatter
von den Transportleitungen 6 geöffnet, während das Ausgangsgatter zum Schieberegister 7 geschlossen ist.
Der Potentialgradient (in Fig. 4 mit 102 bezeichnet) entlang der Transportleitungen 6, der von dem
Potentialunterschied V(r) erzeugt ist, ist naturgemäss kontinuierlich, obwohl in Fig. k eine Unterbrechung dargestellt
ist, weil nur die drei oberen und die zwei unteren Zeilen von Photogatterelektroden der Deutlichkeit
halber dargestellt sind. In einem praktischen Beispiel kann jede Widerstandselektrode 8 (und somit jede Transportleitung
6) eine Länge von z.B. 4 mm und eine Breite von z.B. 8/U aufweisen, während dagegen die Photogatterelektroden
5 je eine Breite von z.B. h λι aufweisen können und in
einem gegenseitigen Abstand von z.B. 6 ,u liegen. Die
Widerstandselektroden können in einem gegenseitigen Abstand von z.B. 20/U liegen. Eine besondere Matrix 2
kann aus mehreren Hundert Spalten und mehreren Hundert Zeilen bestehen. In einem praktischen Beispiel kann
der Potentialunterschied entlang der Transportleitungen 10 V betragen, so dass bei einer Länge von k mm der
Widerstandselektroden ein konstantes Driftfeld von 25 V/cm in dem unterliegenden Kanalgebiet 9a erzeugt wird.
Dieses Feld transportiert Information darstellende Elektronen in dem Puffer 12 (wobei das Eingangsgatter
809808/0714
PHN. 8^97 26.6.77.
geöffnet und das Ausgangsgatter geschlossen ist) in einer Uebertragungszeit, die durch den Ausdruck ——
/UJl/
gegeben werden kann, wobei L die Länge der Leitung 6 darstellt, über die der Transport stattfindet, während
E das Driftfeld ist und /U die Beweglichkeit von Elektronen
im genannten Kanalgebiet 9a darstellt. Bei den oben angegebenen
charakteristischen Werten ist die maximale Durchgangszeit höchstens 20 Mikrosekunden.
Nach einer Zeit von 20 Mikrosekunden, die für den Transport zu dem Puffer 12 erlaubt ist, wird das
Puffereingangsgatter dadurch geschlossen, dass an die Elektrode 25 eine Taktspannung angelegt wird, die ein
weniger positives Potential 103 (z.B. +5 V) in dem η-Kanal erzeugt. Nachdem das Schieberegister 7 die
Information von einer vorhergehenden Zeile abgegeben hat, werden die Puffer-Ausgangsgatterelektroden 26 und die
Elektrode 23 der 0(i)-Leitung des Schieberegisters auf
positivere Potentiale getaktet, um Pegel von z.B. +12 V bzw. +18 V in dem unterliegenden η-Kanal zu erzeugen.
Das Potential der Hauptpufferelektrode 22 wird dann getaktet, um einen weniger positiven Wert (z.B. +6 V)
im unterliegenden η-Kanal zu erzeugen, so dass die im Puffer 12 gespeicherten Elektronenpakete, die der
Ladungsspeicherungsinformation entsprechen, die von einer Zeile der photoempfindlichen Reihe gleichzeitig
809808/0714
PHN. 8*4 97
zu dem Ausleseschieberegister 7 transportiert werden.
Die erhaltenen Potentialprofile sind mit einer vollen
Linie längs des Querschnittes in Fig. k durch den Puffer und das Schieberegister 7 angegeben. Die Taktzeiten können
etwa 1 Mikrosekunde betragen.
Schliesslich wird das Puffer-Ausgangsgatter
durch Herabsetzung der an die Elektrode 26 angelegten Taktspannung geschlossen und die Ladungsinformation der
Zeile photoempfindlicher Elemente wird entlang des Schieberegisters 7 auf eine bekannte Vierphasen-CCD-Veise
getaktet und seriell an den Ausgängen 20 und 31 ausgelesen.
Die an die Schieberegisterelektroden angelegten Taktspannungspegel können derart sein, dass Pegel von z.B.
+8 V und +18 V im unterliegenden η-Kanal erzeugt werden. Während dieses Auslesens des Schieberegisters 7 wird
die folgende Photogatterelektrode 5 getaktet, um die
Ladungsspeicherungsinformation von der nächsten Zeile photoempfindlicher Elemente 3 zu dem Puffer 12 zu
transportieren.
Ein photoempfindliches Element 3 kann durch
einen ausserordentlich hellen Fleck in dem einfallenden
Strahlungsmuster überbelichtet werden. In diesem Falle kann, sogar wenn die Photogatterelektrode 5 sich auf
dem normalen positiven Potential 0(P) von z.B. +5 V für die Ladungsspeicherung befindet, ein Ueberschuss an
809808/07U
PIlN. 26.6.77
Ladungsträgern erzeugt werden, die nicht in der Potentialmulde
100 gespeichert werden können, sondern in die Ladungstransportlextung 6 fliessen und so entlang des
Driftfeldes zu dem Puffer 12 und dem Ausleseschieberegister 7 transportiert werden.
Die "Antiblooming"-Mittel 9d, 30, 13 nach Fig. können für sogenannte Spalten-"Antiblooming" verwendet
werden, um zu vermeiden, dass die überschüssigen Ladungsträger, die auf einem überbelichteten photoempfindlichen
Element in einer Spalte erzeugt werden, sich mit Ladungsträgern in Elementen in benachbarten Spalten vermischen.
In diesem Falle kann ein festes Potential an die "Antiblooming"-Gatterelektrode
30 angelegt werden, um in dem Teil 9d, der eine "Drain" bildet, eine Potentialsperre
von z.B. +13 V zu erzeugen, Über die überschüssige Ladungsträger zu dem positiv vorgespannten "Drain"-Anschluss 13
aus der Ladungstransportleitung 6 abfliessen können, bevor sie in den Puffer 12 und das Ausleseschieberegister
eingeführt werden können. Eine derartige Potentialsperre könnte auch mittels einer implantierten Zone erhalten
werden, statt die Gatterstruktur 30 anzuwenden.
Die "Antiblooming"-Struktur 9-d» 30, 13 nach der
Anordnung und der Schaltung in den Fig. 1 bis 5 weist den Vorteil auf, dass sie auch für "Point-Antiblooming"
verwendet werden kann. In diesem Falle werden die über-
809808/07U
FHN. Ü497 26.6.77-
schüssigen Ladungsträger entlang derselben Transportleitung 6 wie die Ladungsspeicherungsinformation jeder
Zeile, jedoch während verschiedener Zeitintervalle transportiert. Die folgende_Zeitreihenfolge kann z.B. bei
einer Fernsehkamera mit "Point-Antiblooming" angewendet
werden.
Zum Zeitpunkt t : Die Eingangs- und Ausgangsgatter des Puffers 12 sind geschlossen und die Ladungsspeicherungsinf
ormation einer Zeile photoempfindlicher Elemente wird über das Schieberegister 7 ausgelesen; an alle Photogatterelektroden
5 wird die normale positive Spannung 0(P) für Ladungsspeicherung und Integration, z.B. 5 V, zuzüglich
z.B. nochmals 5 v» angelegt. Dies kann mit Hilfe
eines Impulsgenerators 88 erfolgen, der mit der Leitung verbunden ist, (siehe Fig. 5)· Infolge dieses erhöhten
positiven Potentials an den Elektroden 5 integrieren diese photoempfindlichen Elemente der Matrix 2, die
überbelichtet sind, nun wieder Ladung, ohne dass überschüssige Ladungsträger hintiberfliessen; das "Antiblooming"-Gatter
30 ist bei einem hohen positiven Potential völlig geöffnet, so dass die Transportkanäle 9a
an überschüssigen Ladungsträgern über den positiv vorgespannten "Drain"-Anschluss 13 erschöpft werden.
Zu t -ι- 20) Mikrosekunden: Die Transportkanäle 9a
sind erschöpft; die "Antiblooming"-Gatterelektrode
809808/07U
PnH. 84 26.6.77.
wird getaktet, um den Potentialpegel in dem unterliegenden η-Kanal auf einen normalen Wert von z.B. >3 V herabzusetzen,
der weniger positiv als in dem sich unter der Verbindung 11 befindenden η-Kanal ist. Die Elektrode
wird nun getaktet, um das Eingangsgatter des Puffers zu öffnen; das Potential der nächsten auszuwählenden
Photogatterelektrodenleitung 5 wird in z.B. 2 Mikrosekunden auf Null herabgesetzt, so dass die Signalpakete
von dieser Zeile zu der Transportleitung 6 transportiert werden und innerhalb von 20 Mikrosekunden zu dem Puffer
driften.
Zu t + Uo Mikrosekunden: Die Elektronenpakete
der ausgewählten Zeile befinden sich nun im Puffer 12; das Puffer-Eingangsgatter wird geschlossen und die
"Antiblooming"-Gatterelektrode wird wieder auf das höhere Potential getaktet; das Potential aller Photogatterelektroden
5 kann nun auf das normale positive Potential 0(P) für Integration, z.B. +5 V, herabgesetzt werden.
Die zusätzliche Ladung, die sich in überbelichteten Punkten befinden wird, wird nun in die Ladungstransportleitungen
fHessen und zu dem "Antiblooming"-Gatter driften.
Zu t + 52) Mikrosekunden: Das Schieberegister
ist nun leer; die Ausgangsgatterelektrode des Puffers ist geöffnet und das Potential der Pufferelektrode 22
wird herabgesetzt, so dass die Ladungsinformation der im Puffer 12 gespeicherten Zeile innerhalb von z.B.
809808/07U
PHN. 8497.
2 Mikrosekunden unterhalb der 0(1)-Elektrode 23 des
Schieberegisters 7 transportiert wird. Nach diesem Transport wird das Ausgangsgatter des Puffers 12 geschlossen.
Es sei bemerkt, dass, falls das Potential der Photogatterelektroden 5 zu(t + 4θ) nicht auf
den normalen Wert herabgesetzt wäre, dieses Potential auch nun herabgesetzt werden könnte. Der ganze Zyklus
kann also innerhalb einer Gesamtzeilenperiode von 64 Mikrosekunden durchgeführt und die Information im
Register 7 kann in der aktiven Zeilenperiode ausgelesen werden.
Zu t + 64) Mikrosekunden: Der ganze Vorgang fängt wieder an. Mit Hilfe dieser "Point-Antiblooming"-Schaltung
wird "Blooming" vermieden werden können, es sei denn, dass eine derart grosse Menge Elektronen in
einer Potentialmulde zwischen t und (t + 4θ) oder (t + 52) Mikrosekunden gesammelt werden, dass diese Mulde
tiberschwimmt, trotz der Tatsache, dass noch zusätzlich 5 V angelegt wird. Die Anmelderin hat aber gefunden,
dass, mit der Annahme, dass ein maximales Signalpaket mit +5 V an den Elektroden 5 gespeichert werden kann,
die zusätzliche Spannung von +5 V eine Ueberbelichtung von mehr als dem 400-fachen des maximalen Signals ohne
"Blooming" liefern würde. .
Es ist einleuchtend, dass die Bildaufnahmeanordnung
buaöUö/u/14
PHN, 8497. 26.6.77.
"* nach den Fig. 1 bis k unter Verwendung verschiedener
dem Fachmann in der Halbleitertechnologie bekannten Techniken hergestellt werden kann. Daher wird nun ein
Verfahren zur Herstellung der Anordnung nur in grossen Zügen und beispielsweise an Hand der Fig. 6 bis 8 beschrieben.
Ausgangsmaterial kann ein Körper 1 aus p-leitendem einkristallinem Silizium mit einem spezifischen Widerstand
z.B. in der Grössenordnung von 30 Ohm.cm sein. Auf einer Hauptoberfläche 15 des Körpers 1 wird eine Maskierungsschicht 50 angebracht, in der ein Fenster 51 vorgesehen
ist, das dem Umfang des η-leitenden Gebietes 9 der Fig. entspricht. Die Teile 9a können z.B. 9/U breit sein
und die Teile 9e können eine laterale Ausdehnung von
z.B. 5/U aufweisen. Die Teile 9a können einen Mittelabstand
von z.B. 28/u aufweisen. Ueber das Fenster 51
wird eine Donatorverunreinigung in den p-leitenden Körper 1 zum Erhalten des η-leitenden Gebietes 9 eingeführt.
Dies kann durch Implantation von Donatorionen (z.B. Phosphor) erfolgen, wie mit den Pfeilen 52 in
Fig. 6 angedeutet ist. Eine doppelte Implantation kann durchgeführt werden, um eine höhere Dotierung n. in dem
Oberflächenteil neben der Hintergrunddotierung n_ über
das ganze Gebiet 9 zu erhalten. Bekanntlich kann auf
diese Weise ein Massentransportkanal mit einem günstigen Dotierungsprofil gebildet werden, wie z.B. in der
809808/07U
PHN. 8^ 97
früher eingereichten britischen Patentanmeldung 1 (PHN. 6823) beschrieben ist, die der offengelegten
niederländischen Patentanmeldung 73 03 778 entspricht.
12 ζ» Die Ionendosen können z.B. 2 χ 10 Ionen/cm für n. und
1 9
5 x 1O Ionen/cm2 für n„ sein; die Zonen n.. und n„
können eine Tiefe von z.B. 0,3 bis 0,4 /U bzw. 3 /U aufweisen.
Die Maskierungsschicht 50 kann aus niedergeschlagenem
Siliziumoxid bestehen, das zugleich dazu dienen kann, die Qualität der Siliziumoberfläche I5 durch "Gettern"
während einer darauffolgenden Ausglühbehandlung zu verbessern,
Die Maske 5I kann durch eine Isolierschicht
ersetzt werden. Die Schicht 16 kann aber gegebenenfalls auch vor der Maske 51 und der (den) Donatorimplantation(en)
angebracht werden. Wie in der früher eingereichten britischen Patentanmeldung 38587/75 (PHN. 77*»7) beschrieben
ist, die der offengelegten niederländischen Patentanmedlung
'/U 12 567 entspricht, kann eine derartige Isolierschicht
aus Siliziumoxid bestehen, das mit einer dünnen Siliziumnitridschicht überzogen ist. Die Gesamtdicke kann z.B.
etwa 0,12 /U sein.
Erwünschtenfalls kann eine p-Typ-Ionenimplantation
mit einer niedrigen Dosis (z.B. 10 Ionen/cm2) in der Oberfläche des Körpers 1 durchgeführt werden, um
n-Kanal-Anreicherungs-IGFET-Anordnungen für die Schieberegister 80 und 81 zur Verfügung zu haben, damit
809808/07U
PHN. 84Q? £6.6.77-
die Photogatter getaktet und genauer das Potential der p—leitenden Oberflächengebiete in der photoempfindlichen
Matrix 2 bestimmt und dort ein kleines Driftfeld für Elektronen in einer von der Grenzfläche
zwischen Silizium und Isolator abgekehrten Richtung erzeugt wird.
Eine Schicht aus hochohmigem polykristallinem
Silizium (z.B. mit einem spezifischen Widerstand von 6000 Ohm pro Quadrat und einer Dicke von 0,6 /u) , wird
dann auf der Schicht 16 niedergeschlagen, aus der auf dem ersten Pegel liegenden Elektrodenteile, z.B. die
Teile 8, 10a, 11a, 21, 22, 23 und 24, durch photolithographische
Aetztechniken gebildet werden. Die freigelegten Oberflächen der verbleibenden Teile der polykristallinen
Siliziumschicht können anschliessend z.B. bis zu einer Dicke von mindestens 0,3/U oxidiert werden,
um eine Isolierschicht 45 zu erhalten. Erwtinschtenfalls
kann der freigelegte Siliziumnitridteil der Schicht 16, wo er sich nicht unter den isolierten auf dem ersten
Pegel liegenden Elektrodenteilen befindet, dann durch Anwendung eines selektiven Aetzmittels weggeätzt werden.
Danach kann eine Maskierungsschicht 53 mit
streifenförmigen Fenstern 5^ über die Struktur angebracht
werden, die die isolierten Elektrodenstreifen 8 in dem
Gebiet der Matrix 2 freilegen. Die Spalte zwischen dem
809808/07U
PHN. 84-97. 26.6.77.
- yd -
Rande dieser Fenster in der Maske 53 und dem Rande der
isolierten Elektrodenstreifen 8 können dazu verwendet werden, das Gebiet, in das die ρ -Zonen 14 implantiert
werden, zu definieren. Diese Spalte können z.B. k /U breit
sein. Die Schicht 53 maskiert zugleich andere Teile des Körpers gegen Implantation. Eine Xonendosis von z.B.
2x10 Akzeptorionen/cm2 kann bei einer Implantationsenergie verwendet werden, die genügt, um durch die
Isolierschicht 16 hindurch in den Körper 1 einzudringen, aber nicht genügt, um durch die Isolierschicht 45
hindurchzudringen. Diese Implantation ist in Fig. 7 dargestellt. Die Maske 53, die z.B. aus Metall oder Photoresist
bestehen kann, wird dann entfernt. Erwünschtenfalls können die ρ -Zonen 14 auch angebracht werden, ehe
das auf dem ersten Pegel liegende Elektrodenmuster erzeugt wird.
Durch Photolithographie wird nun eine Photoresistmaske
60 angebracht, die Fenster 61 an den Stellen aufweist, an denen die Isolierschichten 45 und 16 mit
Kontaktfenstern versehen werden müssen. Derartige Fenster
sind z.B. vorgesehen an den Stellen, an denen die Viderstandselektrodenverbiiidungen 10a und 11a, die
Pufferelektrode 22 und die Taktelektrode 23 des Schieberegisters durch das auf dem zweiten Pegel liegende
Elektrodenmuster kontaktiert werden müssen und an denen
809808/07U
PHN. bk S1?. 26.6.77.
die tlAntiblooming"-Drainteile 9d des Gebietes 9 und der
Schieberegi,sterausgang 20 des Gebietes 9 durch diesen zweiten Pegel kontaktiert werden müssen. Diese Kontaktfenster
werden anschliessend in die Isolierschichten und 16 unter Verwendung des Photoresistmusters 60 als
Aetzmaske geätzt (siehe Fig. 8). Die Maske 60 wird dann entfernt.
Danach wird eine zweite Schicht aus polykristallinem Silizium bis zu einer Dicke von z.B. 0,6 /U niedergeschlagen.
Diese Schicht wird anschliessend, z.B. mittels einer Phosphordiffusion, dotiert, um einen Quadratwiderstand
von 20 bis 40 Ohm pro Quadrat zu erhalten. Durch diese
Diffusion werden auch hochdotierte η-leitende Zonen auf den Kontaktfenstern in den Isolierschichten k5 und 16
erhalten, und zwar sowohl in den ersten polykristallinen Siliziumschichtteilen, wie den Teilen 10a, 11a, 22 und 23,
als auch in dem Körper 1 zur Bildung z.B. der η -Zone und einer ähnlichen Zone auf jedem der "Antiblooming"-Drainkontaktgebiete.
Aus dieser zweiten polykristallinen Siliziumschicht werden durch photolithographische
und Aetztechniken die auf dem zweiten Pegel liegenden Elektrodenteile, wie die Teile 5, 10b, 11b, 13, 25 bis
gebildet. Die freigelegten Oberflächen dieser Schichtteile können dann in geringem Masse oxidiert werden.
Venn der freigelegte Siliziumnitridteil der Schicht 16
809808/07U
FHN.
nicht früher entfernt worden 1st, kann dieser Teil nun durch Anwendung eines selektiven Aetzmittels weggeätzt
werden, wo er sich nicht Unter den isolierten ersten oder zweiten Elektrodenteilen befindet.
Dann kann auf der Struktur eine Schicht 35 aus Siliziumoxid niedergeschlagen werden. Unter Verwendung
photolithographischer und Aetztechniken können danach Kontaktfenster in der niedergeschlagenen Oxidschicht
geöffnet werden, wo z.B. das auf dem dritten Pegel liegende Muster aus Aluminium mit darunterliegenden Teilen in
Kontakt geraten muss. Dann kann Aluminium auf der Struktur niedergeschlagen und zu dem gewünschten Muster auf dem
dritten Pegel wieder durch Anwendung photolithographischer und Aetztechniken gebildet werden. Erwünschtenfalls
kann zum Schützen der photoempfindlichen Matrix über
die endgültige Struktur eine Schicht zum Schützen vor z.B. Kratzern angebracht werden.
Eine derartige Bildwiedergabeanordnung mit z.B. einer Matrix von 200 Spalten χ 200 Zeilen kann auf einer
Siliziumscheibe von 4,2 mm χ 5»6 mm hergestellt werden.
Es leuchtet ein, dass für Bildaufnahmeanordnungen nach der vorliegenden Erfindung viele Abwandlungen
möglich sind. Statt dieselbe Transportleitung 6 für sowoehl die Ladungsspeicherungsinformation als auch die
überschüssigen Ladungsträger infolge von Ueberbelichtung
809808/07U
PHN. 8^497.
Ht
zu verwenden, können gesonderte Traiisportleitungen
unter demselben Widerstandselektrodenstreifen 8 angebracht
werden. Eine derartige Abwandlung ist im Querschnitt in Fig. 9 dargestellt, in der derselbe Teil des Körpers
wie in Fig. 2 gezeigt ist. Entsprechende Teile sind mit
den gleichen Bezugszii'fern und -buchstaben wie in Fig.
bezeichnet. In diesem Falle sind die η-leitenden Teile 9a
breiter und über ihre Länge durch eine einzige ρ -Zone derart verteilt, dass zwei Transportleitungen gebildet
werden, die abgestufte Potentialmulden aufweisen, die mit 102(a) und 102(b) in Fig. 9 bezeichnet sind und zum
Transport von dem rechts von der Linie liegenden Element herrührender Ladungsinformation bzw. zum Transport
überschüssiger Ladungsträger aus einem überbelichteten Element 3 links von der Linie dienen. Das "Antiblooming"—
Schwellenpotential wird in diesem Falle durch eine weniger hoch dotierte p—implantierte Zone 65 bestimmt.
Die Zone 65 bildet eine eingebaute Potentialsperre 110
mit einem Potentialwert, der höher als der Potentialwert
ist, der bei der ρ -Zone 1^4 in dem n—leitenden Gebiet 9
erhalten wird, und der z.B. k bis 5 V betragen kann.
Die"Antiblooming"-Gatterelektrode 30 nach Fig. 1 ist
nun nicht mehr erforderlich und jede "Antiblooming"-Transportleitung ist direkt mit ihrer "Antiblooming"-Drain
9d verbunden, die durch den Elektrodenstreifen 13
809808/0714
PHN. 8497 26.6.77.
kontaktiert ist. Das gestrichelt angegebene Profil in Fig. stellt die Situation dar, in der die Ladungsspeicherungsinformation
zu dem Kanalteil 9a transportiert wird, dadurch, dass das Potential 0(8) herabgesetzt wird.
Bei der Herstellung dieser Anordnung muss mindestens die ρ -Zone 14 unter jedem Widerstandselektrodenstreifen
8 angebracht werden, ehe das Elektrodenmaterial auf dem ersten Pegel niedergeschlagen wird.
Eine Abwandlung der Struktur der photoempfindlichen
Elemente ist in den Fig. 10 und 11 dargestellt. Entsprechende Teile sind wieder mit den gleichen Bezugsziffern und -buchstaben wie in den vorhergehenden Ausführungsbeispielen
bezeichnet. In diesem Falle wird der an der Oberfläche liegende Teil jedes photoempfindlichen
Elements 3 durch einen vergrösserten seitlichen Ansatz 9f
des n-Kanalgebietteiles 9a statt durch einen an die
Oberfläche grenzenden Teil des p-leitenden Teiles 17
gebildet. In diesem Falle kann in jedem photoempfindlichen
Element eine tiefere Erschöpfungsschicht unter den Photogatterelektroden 5 gebildet werden, so dass Ladungsträger,
die tiefer in den Körper 1 von der einfallenden Strahlung 4 erzeugt werden, besser in der zu dieser
Erschöpfungsschicht gehörigen Potentialmulde gesammelt werden können. Dies ist von besonderem Interesse für
Strahlung mit grösserer Wellenlänge, wie rotes Licht, die tiefer als Strahlung mit kürzerer Wellenlänge in
809808/0714
PHN. 8^97·
iTsccc. Λ 26.6·.77.
io
den Körper 1 eindringen kann. Ausserdern wird die thermische Erzeugung von Ladungsträgern an der Oberfläche klein
sein, weil die Oberfläche in Akkumulation ist.
Die Gebiete °f sind mit den Hauptteilen 9a
über einen schmäleren Teil 9k verbunden, wie in Fig.
dargestellt ist. Die hochdotierte p-leitende Zone \k
erstreckt sich nun rings um jedes photoempfindliche Gebiet sowohl über die Teile 9k als auch entlang der
Grenze zwischen jedem η-leitenden Teil 9f und dem
p-leitenden Teil 17. Die Zone 14 bestimmt somit die
Potentialsperren für Elektronen rings um die Potentialmulde,
die auf jedem Element 3 gebildet ist. Wo sich die Zone 14 in dem η-leitenden Gebiet 9 (d.h. an den
Teilen 9k) befindet, ist die Potentialsperre für Elektronen
weniger hoch (z.B. +3 V) als wo die Zone 14 mit dem p-leitenden Teil 17 in Kontakt ist (z.B. 0 V). Venn also
das Photogatterelektrodenpotential 0(P) auf Null geschaltet wird, werden die gespeicherten Elektronen
aus dem Gebietteil 9f über den Teil 9k in der Transportleitung 6 transportiert. Der Deutlichkeit halber ist die
isolierte Elektrodenstruktur nicht in der Draufsicht nach Fig. 11 dargestellt; das η-leitende Gebiet 9a, f, k
ist mit einer vollen Linie angegeben und die untiefe p-leitende Zone 14 ist mit gestrichelten Linien angedeutet.
Erwünschtenfalls kann eine untiefe p-Implantation mit
809808/0714
PHN. 8497.
einer niedrigen Dosierung auch in diesen photoempfindlichen Elementen 3 an der Oberfläche der η-leitenden Teile 9*"
und unter Verwendung sowohl der isolierten Widerstands— elektroden 8 als auch der Photogatterelektroden 5 als
Implantationsmaske in diesem Gebiet durchgeführt werden. Eine derartige Implantation kann dazu dienen, Oberflächenleckströme
in diesen Elementen dadurch herabzusetzen, dass die Erzeugung von Elektronen an der Oberfläche herabgesetzt
wird, während ein Driftfeld eingeführt werden kann, das den Transport photoerzeugter Elektronen von der Oberfläche
zu der Potentialmulde unter der Photogatterelektrode 5 vergrbssert.
.Die Anmelderin hat gefunden, dass durch Anwendung von Widerstandsgattertransportleitungen mit Driftfeldern
zum Auslesen aus einer Reihe photoempfindlicher Elemente
das Signal-Rausch-Verhältnis einer Bildaufnahmeanordnung im allgemeinen verbessert werden kann, insbesondere wenn
"Bulk"—Kanaltransportleitungen verwendet werden.
Es dürfte einleuchten, dass für den Fachmann viele Abarten möglich sind. So können die Geometrie,
die Dotierung, der spezifische Widerstand und andere Eigenschaften der verschiedenen Teile innerhalb weiter
Grenzen gewählt werden. Die Leitungstypen der verschiedenen
Halbleitergebiete können alle gleichzeitig in die entgegengesetzten Leitungstypen umgewandelt werden, wobei
809808/0714
Ι'ΠΝ. 8^97.
ι,- 26.6.77.
fa
naturgemäss gleichzeitig die Polaritäten der angelegten
Spannungen geändert werden. Andere Ladungstransport—
und —speichermedien als Silizium und andere Isolierschichtmaterialien
und Elektrodenmaterialien können natürlich auch Anwendung finden.
Statt das Driftfeld in den Transportleitungen durch einen Potentialunterschied entlang einer Widerstandselektrode 8 zu erzeugen, kann ein sich ändernder Schwelleneffekt
akgewandt werden. So kann z.B. eine Elektrode 8 mit einem niedrigeren Widerstand mit einer einzigen
Verbindung, über die daran ein Potential angelegt wird, verwendet werden; in einem derartigen Falle kann unter
dieser Elektrode 8 ein Driftfeld dadurch erhalten werden, dass ein n-Dotierungsgradient entlang des Transportkanalteiles
9a (z.B. durch Implantation) erzeugt oder in der Isolierschicht 16 eine Menge Ladung (z.B. durch
Implantation ) angebracht wird, die sich über die Länge
der Transportleitung 6 ändert, oder durch das Vorhandensein einer Isolierschicht 16, deren Dicke mit dem
Abstand entlang der Leitung 6 abnimmt. Derartige Anordnungen mit sich änderndem Schwellwert sind zur Zeit
aber im allgemeinen schwieriger auf gut reproduzierbare Weise herstellbar.
Die Transportleitungen brauchen nicht gerade zu sein, sondern können stattdessen mäanderförmig sein.
809808/07U
PHN.
Sowohl die Zeilen als auch die Spalten der Reihe photoempfindlicher
Elemente 2 und die Transportleitungen 6 und die Photogatterelektroden 5 brauchen nicht zueinander
senkrecht zu sein. Bildaufnahmeanordnungen nach der Erfindung könnten zum Detektieren von Strahlungsmustern,
die vom menschlichen Auge nicht wahrgenommen werden können, verwendet werden. Statt einen festen Potentialunterschied
V(r) entlang der Widerstandselektrode 8 anzulegen, kann der Potentialunterschied für Ladungstransport dadurch
erhalten werden, dass das Potential am einen Ende der Elektrode 8 in bezug auf das Potential am anderen Ende
getaktet wird; wenn in diesem Falle die Leitungen 6 nicht für Ladungstransport verwendet werden, können sich die
beiden Verbindungen 10 und 11 auf dem gleichen Potential
befinden, so dass eine weitere Herabsetzung der geringen Wärmeverlustleistung möglich ist, die sich aus dem
kleinen Strom entlang der Elektroden 8 beim Vorhandensein des genannten Potentialunterschiedes ergibt. Eine derartige
Taktspannung kann dadurch erhalten werden, dass ein weiterer Impulsgenerator 88 angebracht wird.
809808/07U
5V .
Leerseite
Claims (1)
- pun. δ4 97· 26.6.77.PATENTANSPRUECHE:1.y BildaufnahmeanOrdnung mit einem Halbleiterkörper, einer Matrix photoempfindlicher Elemente, die"in Zeilen und Spalten auf dem ersten Teil des genannten Körpers zum Erzeugen und Speichern beweglicher Ladungsträger infolge einfallender Strahlung angebracht sind, ersten Mitteln, die gespeicherte Ladungsträger aus der genannten Matrix zu einem anderen Teil des genannten Körpers transportieren und die Ladungstransportiertungen enthalten, die kammförmig mit den Spalten der genannten Matrix ineinander eingreifen, und zweiten Mitteln, die an dem genannten anderen Teil des Körpers ein Ladungstransportschieberegister definieren, dem von den genannten ersten Mitteln parallel die Ladungsinformation von einer Zeile der genannten Reihe zugeführt wird und das einen sequentiellen Ausgang für die genannte Information bildet, dadurch gekennzeichnet, dass Mittel vorgesehen sind, durch die die Ladungsspeicherungsinformation von jeder gesonderten Zeile der Matrix in den genannten Transportleitungen transportiert wird, und dass jede der genannten Transportleitungen eine langgestreckte Widerstandselektrode enthält, die gegen den unterliegenden Teil des genannten Körpers isoliert ist und sich entlang der zugehörigen Spalte der Matrix erstreckt, wobei die genannte Widerstandselektrode mit Verbindungen zum Anlegen eines Potentialunterschiedes entlang der genannten Widerstandselektrode809808/07UORIGINAL INSPECTEDPUN. &49V. 26.6.77.versehen ist, um in dem genannten unterliegenden Körperteil ein Driftfeld in der Richtung des genannten Schieberegisters zum Transportieren der genannten beweglichen Ladungsträger zu dem genannten Schieberegister zu erzeugen.2. Bildwiedergabeanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die genannten ersten Mittel weiter einen Puffer zur zeitweiligen Speicherung der Ladungsspeicherungsinformation einer Zeile vor der Einführung in das genannte Schieberegister enthalten, wobei der genannte Puffer ein Eingangsgatfeer von den Widerstandselektrodentransportleitungen her und ein Ausgangsgatter zu dem Schieberegister enthält..3. Bildaufnahmeanordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die photoempfindlichen Elemente jeder Zeile eine gemeinsame Photogatterelektrode enthalten, die sich quer zu den genannten Transportleitungen erstreckt und gegen die genannte Widerstandselektrode und gegen die unterliegende Halbleiteroberfläche isoliert ist, wobei diese Photogatterelektroden nur einen Teil der Fläche der Matrix photoempfindlicher Elemente bedecken und dazu dienen, sowohl in jedem photoempfindlichen Element eine Potentialmulde zu erzeugen, in der die genannten Ladungsträger gespeichert werden, als auch die Ladungsspeicherungsinformation von einer Zeile der genannten photoempfindlichen Element· zu809808/07UΓΗΝ. 31*97. 26.6.77.genannten Widerstandselektrodentransportleitungen SU transportleren.k. Bildaufnahmeanordnung nach Anspruch 3» dadurch gekennzeichnet, dass die genannten Photogatterelektroden Aus dotiertem polykristallinen! Silizium bestehen und für rotes Licht besser als für blaues Licht durchlässig sind.5. Bildaufnahmeanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis k, dadurch gekennzeichnet, dass der Teil des Körpers, der unter jeder der genannten Widerstandselektroden liegt und in dem das genannte Driftfeld erzeugt wird, ein an die Oberfläche grenzendes Halbleitergebiet vom ersten Leitungstyp ist, das von einem Halbleiterteil vom entgegengesetzten Leitungstyp umgeben ist und ohne Lawinenvervielfachung völlig erschöpft werden kann, um Transport der genannten Ladungsspeicherungsinformation durch das genannte Gebiet in Form von Ladungsträgern vom genannten ersten Leitungstyp zu ermöglichen, die über das innere des genannten Gebietes unter der genannten Widerstandselektrode driften.6. Bildaufnahmeanordnung nach Anspruch 51 dadurch gekennzeichnet, dass das genannte Halbleitergebiet vom ersten Leitungstyp eine höher dotierte Oberflächeneone enthält, die sich entlang und unter der langgestreckten Widerstandselektrode erstreckt.809808/07UPIIN. 8^97·7. Bildaufnahmeanordnung nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, dass das genannte Gebiet vom ersten Leitungstyp, das sich unter jeder Widerstandselektrode befindet, eine laterale Erweiterung vom genannten ersten Leitungstyp besitzt, die sich zwischen der Matrix photoempfindlicher Elemente und dem genannten Schieberegister befindet und mit einer Drainverbindung versehen ist und dazu dient, überschüssige Ladungsträger vom genannten ersten Leitungstyp, die in einem photoempfindlichen Element in der zu der genannten Transportleitung gehörigen Spalte erzeugt werden können, aus der Widerstandselektrodentransportleitung abzuführen.8. Bildaufnahmeanordnung nach Anspruch 7» dadurch gekennzeichnet, dass die genannten überschüssigen Ladungsträger entlang derselben Transportleitung wie die genannten Ladungsspeicherungsinformation transportiert werden, und dass ein Gatter zwischen der genannten Drainverbindung und der genannten Transportleitung vorhanden ist, um Durchgang der genannten überschüssigen Ladungsträger zu der genannten Drainverbindung zu ermöglichen. 9· Bildaufnahmeanördnung nach Anspruch 71 dadurch gekennzeichnet, dass eine an die Oberfläche grenzende dotierte Zone vom genannten ,entgegengesetzten Leitungstyp sich entlang des genannten Gebietes vom ersten Leitungstyp und unter jeder Widerstandselektrode erstreckt,809808/07UPHN. 8497.um auf einer Seite eine erste Ladungstransportleitung
zu bilden, die sich in der Nähe einer Spalte photoempfindlicher Elemente für den Transport von Ladungsinformation befindet, und auf der anderen Seite eine
zweite Ladungstransportleitung in der Nähe der benachbarten Spalte photoempfindlicher Elemente zu bilden, die mit
der genannten Drain verbunden ist für Transport der
genannten überschüssigen Ladungsträger aus der genannten benachbarten Spalte.10. Bildaufnahmeanordnung nach einem der Ansprüche 5 bis 9i sofern abhängig vom Anspruch 3 oder k, dadurch gekennzeichnet, dass die genannten Potentialmulden der
photoempfindlichen Elemente in den an die Oberfläche
grenzenden Teilen des genannten Teiles vom entgegengesetzten Leitungstyp zwischen den genannten Gebieten vom genannten ersten Leitungstyp gebildet werden, und dass die Sperre zwischen der Potentialmulde und den benachbarten Gebieten vom ersten Leitungstyp auf einer Seite weniger hoch als auf der anderen Seite ist.11. Bildaufnahmeanordnung nach einem der Ansprüche 5 bis 9t sofern vom Anspruch J oder k abhängig, dadurch gekennzeichnet, dass das genannte Gebiet vom ersten
Leitungstyp Jeder der genannten Transportleitungen laterale Erweiterungen enthält, die den in der Nähe der Oberfläche liegenden Teil der photoempfindlichen Elemente809808/0714PHN.bilden, in dem die genannten Potentialmulden gebildet werden, wobei eine an die Oberfläche grenzende Zone vom entgegengesetzten Leitungstyp im genannten Gebiet vom ersten Leitungstyp rings um das photoempfindliche Gebiet des genannten Gebietes vorhanden ist, so dass eine Potentialsperre rings um das genannte Gebiet gebildet werden kann, die in der Nähe des Transportleitungsteiles des genannten Gebietes eine geringere Höhe aufweist.12. Schaltung mit einer Bildaufnahmeanordnung nach Anspruch 2 oder nach einem anderen davon abhängigen Anspruch, dadurch gekennzeichnet, dass beim Auslesen der Ladungstransportinformation einer Zeile über das Schieberegister die Ladungsinformation der nächsten Zeile zu dem genannten Puffer transportiert wird.13. Vorrichtung mit einer Bildaufnahmeanordnung nach Anspruch 8 oder einem davon abhängigen Anspruch, dadurch gekennzeichnet, dass wenigstens beim Transport der Ladungsspeicherungsinformation einer Zeile durch die genannte WiderStandselektrodentransportleitungen überschüssige Ladungsträger, die in einem photoempfindlichen Element erzeugt werden, zeitweilig in diesem photoempfindlichen Element durch eine zeitweilige Erhöhung des an die photoempfindlichen Elemente angelegten Potentials ge speichert werden, wonach das genannte Potential auf einen Pegel für die Speicherung von Ladungsträgern entsprechend809808/07UPlIN. 8«»97.26.6.77.der auszulesenden Information und für den Transport der genannten überschüssigen Ladungsträger zu der genannten Drainverbindung Über die genannten Widerstandselektrodentransportleitungen und das genannte Gatter herabgesetzt wird.809808/0714
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Family
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|---|---|---|---|
| DE19772735651 Granted DE2735651A1 (de) | 1976-08-19 | 1977-08-08 | Bildaufnahmeanordnung |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| 8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
| 8176 | Proceedings suspended because of application no: |
Ref document number: 2606308 Country of ref document: DE Format of ref document f/p: P |
|
| 8178 | Suspension cancelled | ||
| D2 | Grant after examination | ||
| 8364 | No opposition during term of opposition | ||
| 8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |