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DE2746938C2 - Wäßriges saures Bad zur galvanischen Abscheidung von glänzenden und rißfreien Kupferüberzügen und Verwendung dieses Bades - Google Patents

Wäßriges saures Bad zur galvanischen Abscheidung von glänzenden und rißfreien Kupferüberzügen und Verwendung dieses Bades

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DE2746938C2
DE2746938C2 DE2746938A DE2746938A DE2746938C2 DE 2746938 C2 DE2746938 C2 DE 2746938C2 DE 2746938 A DE2746938 A DE 2746938A DE 2746938 A DE2746938 A DE 2746938A DE 2746938 C2 DE2746938 C2 DE 2746938C2
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bath
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compound
alkali
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Schering AG
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    • C25D3/02Electroplating: Baths therefor from solutions
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    • HELECTRICITY
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    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
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Description

Die Erfindung betrifft ein saures Bad zur galvanischen Abscheidung von glänzenden Kupferüberzügen, das mindestens ein Kupfersalz, mindestens eine anorganische Säure und gegebenenfalls ein Chlorid sowie eine eine Säureamidgruppe aufweisende Verbindung, eine sauerstoffhaltige hochmolekulare organische Verbindung und eine organische Thioverbindung mit wasserlöslich machenden Gruppen enthält, sowie die Verwendung dieses Bades.
Es ist seit langem bekannt, daß galvanischen Kupferbädern bestimmte organische Substanzen zugesetzt werden, um eine glänzende Abscheidung zu erzielen. Vielfach führen aber die Zusätze zur Verschlechterung der mechanischen Eigenschaften, insbesondere der Härte und Bruchelongation, sowie zu Passivitätserscheinungen, die eine nachfolgende Aktivierung für die Weiterbehandlung erforderlich machen. Außerdem verschlechtern viele Inhibitoren die Metallstreuung, so daß Risse an Bohrungen und Kanten entstehen, insbesondere wenn die Kupferschicht einer thermischen Behandlung, zum Beispiel an gedruckten Schaltungen beim Löten, ausgesetzt ist.
Die zahlreichen für diesen Zweck bereits bekannten Verbindungen, wie zum Beispiel Thioharnstoff, Thiohydantoin, Thiocarbaminsäureester oder Thiophosphorsäureester, besitzen jedoch keine praktische Bedeutung, da die Qualität der mit ihnen erhaltenen Kupferbezüge, insbesondere die Härte und Bruchelongation, sehr schlecht ist. Auch Kombinationen dieser Verbindungen mit anderen Zusätzen, wie zum Beispiel Äthylenoxyd-Additionsverbindungen oder Polyaminen, führten nicht zu befriedigenden Ergebnissen.
Aus der US-PS 35 02 551 ist außerdem ein wäßriges saures Kupferbad enthaltend mindestens ein Kupfersalz, mindestens eine anorganische Säure und gegebenenfalls ein Chlorid sowie eine eine Säureamidgruppe aufweisende aliphatische Kohlenwasserstoffverbindung, eine sauerstoffhaltige, hochmolekulare organische Verbindung und eine organische Thioverbindung mit wasserlöslich machenden Gruppen bekannt, mit dem die Glanzbildung und die Einebnung verbessert werden sollen.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist die Schaffung eines galvanischen Kupferbades, welches zur Abscheidung glänzender und rißfreier Kupferüberzüge geeignet ist und zur Verstärkung der Leiterbahnen von gedruckten Schaltungen ohne Rißbildung und mit hervorragender Bruchelongation verwendet werden kann.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch ein wäßriges saures Kupferbad der eingangs genannten Art, das gekennzeichnet ist durch einen Gehalt an Acetamid, Propionsäureamid, Acrylsäureamid, Benzoesäureamid oder Polyacrylsäureamid als Säureamidgruppe aufweisende Verbindung in Konzentrationen von 0,001 bis 20 g/l, und durch die Verwendung gemäß Anspruch 7 gelöst. Vorteilhafte Ausbildungen des Bades nach Anspruch 1 sind in den Ansprüchen 2 bis 6 beschrieben.
Das Bad ermöglicht in hervorragender Weise die galvanische Abscheidung von Kupferüberzügen mit beson- ders gleichmäßigem Glanz, die außerdem den überraschenden Vorteil einer guten Metallstreuung und einer ausgezeichneten Bruchelongation aufweisen. Die unter Verwendung des Bades abgeschiedenen Überzüge sind daher insbesondere zur Verstärkung der Leiterbahnen von gedruckten Schaltungen geeignet.
In der folgenden Tabelle I sind Säureamidgruppen aufweisende Verbindungen aufgeführt und die mögliche Anwendungskonzentration dieser Verbindungen.
Tabelle I
______________________________________________________________________________
Säureamidgruppen aufweisende Konzentration
Verbindungen g/l
______________________________________________________________________________
Acetamid 0,05 bis 2
Propionsäureamid 0,05 bis 2
Acrylsäureamid 0,01 bis 1
Benzoesäureamid 0,02 bis 2
Polyacrylsäureamid 0,01 bis 1
Die folgende Tabelle II enthält Beispiele für sauerstoffhaltige, hochmolekulare organische Verbindungen und deren mögliche Anwendungskonzentrationen:
Tabelle II
______________________________________________________________________________
sauerstoffhaltige hochmolekulare Konzentration
organische Verbindungen g/l
______________________________________________________________________________
Polyvinylalkohol 0,05 bis 0,4
Carboxymethylcellulose 0,05 bis 0,1
Polyäthylenglycol 0,1 bis 5,0
Polypropylenglycol 0,05 bis 1,0
Stearinsäure-Polyglycolester 0,5 bis 8,0
Ölsäure-Polyglycolester 0,5 bis 5,0
Stearylalkohol-Polyglycoläther 0,5 bis 8,0
Nonylphenol-Polyglycoläther 0,05 bis 0,5
Oktandiol-bis-(polyalkylenglycoläther) 0,05 bis 0,5
Polyoxypropylenglycol 0,05 bis 0,5
Die folgende Tabelle III enthält Beispiele für organische Thioverbindungen mit wasserlöslichen Gruppen und deren mögliche Anwendungskonzentrationen:
Tabelle III
_______________________________________________________________________________________________________
Organische Thioverbindungen mit wasserlöslichen Gruppen Bevorzugte
Konzentration
g/l
_______________________________________________________________________________________________________
N,N-Diäthyl-dithiocarbaminsäure-(kleines Omega-sulfopropyl)-ester, Natriumsalz 0,01 bis 0,1
Mercaptobenzthiazol-S-propansulfonsaures Natrium 0,02 bis 0,1
3-Mercaptopropan-1-sulfonsaures Natrium 0,005 bis 0,1
Thiophosphorsäure-O-äthyl-bis-(kleines Omega-sulfopropyl)-ester, Dinatriumsalz 0,01 bis 0,15
Thiophosphorsäure-tris-(kleines Omega-sulfopropyl)-ester, Trinatriumsalz 0,02 bis 0,15
Isothiocyanopropylsulfonsaures Natrium 0,05 bis 0,2
Thioglycolsäure 0,001 bis 0,003
Äthylendithiodipropylsulfonsaures Natrium 0,01 bis 0,1
Thioacetamid-S-propylsulfonsaures Natrium 0,005 bis 0,03
Di-n-propylthioäther-di-kleines Omega-sulfonsäure, Dinatriumsalz 0,01 bis 0,1
Im allgemeinen wird ein Bad, folgender Zusammensetzung benutzt:
Kupfersulfat (CuSO[tief]4 x 5 H[tief]2O) 50 bis 250 g/l,
in günstiger Weise 60 bis 80 g/l
Schwefelsäure 50 bis 250 g/l,
in günstiger Weise 180 bis 220 g/l
Natriumchlorid 0,05 bis 0,25 g/l,
in günstiger Weise 0,06 bis 0,1 g/l.
Anstelle von Kupfersulfat können zumindest teilweise auch andere Kupfersalze benutzt werden. Auch die Schwefelsäure kann teilweise oder ganz durch Fluoroborsäure, Phosphorsäure oder andere Säuren ersetzt werden. Das Bad kann auch chloridfrei hergestellt werden.
Die Arbeitsbedingungen des Bades sind wie folgt:
pH-Wert: < 1
Badtemperatur: 15 bis 35°C, in günstiger Weise 25°C,
Stromdichte: 0,5 bis 8 A/dm[hoch]2, in günstiger Weise 2 bis 4 A/dm[hoch]2.
Badbewegung erfolgt durch Einblasen von sauberer Luft, so stark, daß die Badoberfläche in starker Wallung sich befindet.
Die folgenden Beispiele dienen zur Erläuterung der Erfindung:
Beispiel 1
Einem Kupferbad der Zusammensetzung:
80 g/l Kupfersulfat (CuSO[tief]4 x 5 H[tief]2O)
180 g/l Schwefelsäure konz.
0,08 g/l Natriumchlorid
werden als Glanzbildner
0,6 g/l Polypropylenglycol und
0,02 g/l 3-Mercaptopropan-1-sulfonsaures Natrium
zugegeben. Bei einer Badtemperatur von 30°C erhält man in der Hull-Zelle bei einer Stromdichte unterhalb 0,8 A/dm[hoch]2 glänzende Abscheidungen, bei einer Stromdichte unterhalb 0,8 A/dm[hoch]2 dagegen matte Abscheidungen.
Setzt man dem Bad
0,1 g/l Propionsäureamid oder
0,02 g/l Acrylsäureamid oder
0,04 g/l Benzoesäureamid oder
0,08 g/l Acetamid
zu, so ist der gesamte Stromdichtebereich auf dem Hull-Zellen-Prüfblech glänzend.
Beispiel 2
Einem Kupferbad folgender Zusammensetzung
60 g/l Kupfersulfat (CuSO[tief]4 x 5 H[tief]2O)
220 g/l Schwefelsäure konz.
0,1 g/l Natriumchlorid
werden
4,0 g/l Nonylphenyol-polyglycoläther und
0,02 g/l N,N-Diäthyl-dithiocarbaminsäure-(kleines Omega-sulfopropyl)-ester, Natriumsalz
zugegeben.
Bei einer mittleren Stromdichte von 2 A/dm[hoch]2 wird eine gedruckte, nach der Additivtechnik verkupferte Schaltung 60 Minuten verstärkt. Hierbei zeigen sich um die Bohrlöcher matte abgeflachte Höfe, die nach dem Verzinnen deutliche Risse aufweisen.
Setzt man dem Bad außerdem 20 mg/l Polyacrylsäureamid mit dem mittleren Molekulargewicht von 660 g/Mol zu, sind die Bohrlöcher - auch nach dem Verzinnen - einwandfrei.
Beispiel 3
Eine Kupferfolie von 40 µm, die aus folgendem Bad abgeschieden wurde
80 g/l Kupfersulfat (CuSO[tief]4 x 5 H[tief]2O),
200 g/l Schwefelsäure konz.,
0,06 g/l Natriumchlorid
und
0,4 g/l Oktanolpolyalkylenäther,
0,01 g/l Di-n-propylthioäther-di-kleines Omega-sulfonsäure, Dinatriumsalz
zeigt eine Bruchelongation von 18 %. Nach Zugabe von 0,01 g/l Polyacrylsäureamid mit einem mittleren Mole- kulargewicht von 1000 g/Mol verbessert sie sich auf 22 %. Bei insgesamt 0,025 g/l Polyacrylsäureamid ist eine Bruchelongation auf den optimalen Wert von 26 % gestiegen. Weitere Zugaben verbessern hier den Wert der Bruchelongation nur noch unwesentlich.

Claims (7)

1. Wäßriges saures Bad zur galvanischen Abscheidung von glänzenden und rißfreien Kupferüberzügen, das mindestens ein Kupfersalz, mindestens eine anorganische Säure und gegebenenfalls ein Chlorid sowie eine eine Säureamidgruppe aufweisende Verbindung, eine sauerstoffhaltige, hochmolekulare organische Verbindung und eine organische Thioverbindung mit wasserlöslich machenden Gruppen enthält, gekennzeichnet durch einen Gehalt an Acetamid, Propionsäureamid, Acrylsäureamid, Benzoesäureamid oder Polyacrylsäureamid als Säureamidgruppe aufweisende Verbindung in Konzentrationen von 0,001 bis 20 g/l.
2. Bad nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch einen Gehalt an Polyacrylsäureamid der allgemeinen Formel in der n 0 oder eine ganze Zahl von 1 bis 40, vorzugsweise 0 oder 1 bis 16, bedeutet mit einem Molgewicht von 73 bis 1600, vorzugsweise 600 bis 1000.
3. Bad nach den Ansprüchen 1 und 2, gekennzeichnet durch einen Gehalt an Polyvinylalkohol, Carboxymethylcellulose, Polyäthylenglycol, Polypropylenglycol, Stearinsäure-Polyglycolester, Ölsäure-Polyglycolester, Stearylalkohol-Polyglycoläther, Nonylphenyl-Polyglycoläther, Oktanolpolyalkylenglycoläther, Oktandiol-bis-(polyalkylenglycoläther) oder Polyoxypropylenglycol als sauerstoffhaltige Verbindung.
4. Bad nach den Ansprüchen 1 bis 3, gekennzeichnet durch einen Gehalt an N,N-Diäthyl-dithiocarbaminsäure-(kleines Omega-sulfopropyl)-ester, Alkalisalz; Mercaptobenzthiazol-S-propansulfonsaures Alkali, 3-Mercaptopropan-1-sulfonsaures Alkali, Thiophosphorsäure-O-äthyl-bis-(kleines Omega-sulfopropyl)-ester, Alkalisalz; Thiophosphorsäure-tris-(kleines Omega-sulfopropyl)-ester, Alkalisalz; Isothiocyanopropylsulfonsaures Alkali, Thioglycolsäure, Äthylendithiodipropylsulfonsaures Alkali, Thioacetamid-S-propylsulfonsaures Alkali oder Di-n-propyl-thioäther-di-kleines Omega-sulfonsaures Alkalisalz als organische Thioverbindung.
5. Bad nach den Ansprüchen 1 bis 4, gekennzeichnet durch einen Gehalt an 0,005 bis 20 g/l, vorzugsweise 0,02 bis 5,0 g/l, sauerstoffhaltiger Verbindung und 0,0005 bis 0,2 g/l, vorzugsweise 0,005 bis 0,1 g/l, organischer Thioverbindung.
6. Bad nach den Ansprüchen 1 bis 5, gekennzeichnet durch einen zusätzlichen Gehalt an Glanzbildern und/oder Netzmitteln.
7. Verwendung des Bades nach den Ansprüchen 1 bis 7 zur Verstärkung der Leiterbahnen von gedruckten Schaltungen.
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