DE2343593A1

DE2343593A1 - Vorrichtung zum abtasten eines aufzeichnungstraegers

Info

Publication number: DE2343593A1
Application number: DE19732343593
Authority: DE
Inventors: Jeffrey Smith
Original assignee: MICROFILM EQUIPMENT Ltd
Current assignee: MICROFILM EQUIPMENT Ltd
Priority date: 1972-08-31
Filing date: 1973-08-29
Publication date: 1974-03-07
Also published as: NL7311888A; BE804177A; JPS4987254A; DE2343582A1; BE804176A; IT998447B; JPS4988510A; NL7311889A; IT998448B; FR2199132A1

Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Abtasten eines Aufzeichnungsträgers, insbesondere eines Mikrofilms, auf dem Information in Form von Flächen unterschiedlicher Strahlungsdurchlässigkeit aufgezeichnet ist. Die auf dem Film aufgezeichnete Information liegt normalerweise in binärverschlüsselter Form vor, vorzugsweise in Form von binärverschlüsselten Dezi mal ziffern.

Beim Abtasten der auf einem Film in Form von Flächenbereichen unterschiedlicher Strahlungsdurchlässigkeit gespeicherten Information im Durchstrahlungsverfahren ergeben sich Abtastfehler, falls die Hellig-

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Patentanwälte Dipl. Inn, Martin Licht, Dipl.-Wirtsch.-Ing. Axel H'insmann, Dipi.-Priys. Sebastian Herrmann

Oppenauer Büro: PATENTANWALT DR. REINHOLD SCHMIDT

keit der zur Durchstrahlung des Filmes vorgesehenen Strahlungsquelle schwankt und/oder Helligkeitsschwankungen in dem Raum auftreten, in dem die Abtastung durchgeführt wird, da die zum Abtasten der durch den Film hindurchgehenden Strahlung vorgesehenen Photozellen auf diese Helligkeitsschwankungen ansprechen.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung zum Abtasten von auf einem Film gespeicherter Information zu schaffen, bei welcher der störende Einfluss von Helligkeitsschwankungen automatisch ausgeglichen wird.

Gelöst wird diese Aufgabe durch eine Vorrichtung zum Abtasten eines Informationsträgers in Form eines Filmes. Der Film weist einen ersten Bereich auf, in dem Signale in Form von Flächenbereichen mit unterschiedlicher Strahlungsdurchlässigkeit gespeichert sind, und ferner einen zweiten Bereich mit einheitlicher Strahlungsdurchlässigkeit. Die Vorrichtung liefert binäre Ausgangssignale, deren Wert von der örtlichen Strahlungsdurchlässigkeit des ersten Bereiches des Filmes abhängt. Die Vorrichtung ist erfindungsgemäss gekennzeichnet durch mindestens eine Photozelle, die mit durch den ersten Bereich des Filmes hindurchgehender Strahlung beaufschlagt wird und ein dem Pegel der empfangenen Strahlung proportionales Ausgangssignal liefert, einen zur Kontrolle vorgesehenen Phototransistor, der mit durch den zweiten Bereich des Filmes hindurchgehender Strahlung beaufschlagt wird, an den Phototransistor angeschlossene Schaltmittel zum Erzeugen eines dem Ausgangssignal des Phototransistors entsprechenden Schwellwertsignals, das an einem ohmschen Belastungswiderstand erzeugt wird, und durch eine an den ohmschen Belastungswiderstand so-

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wie an die Photozelle angeschlossene Schaltanordnung, die in einen bestimmten Schaltzustand umschaltet, wenn das Ausgangssignal der Photozelle dsi Schwellwertsignal übersteigt.

Die Schaltmittel zum Erzeugen des Schwellwertsignales enthalten vorzugsweise Mittel zum Glätten des Ausgangssignals des Phototransistors. Zweckmässigerweise wird von der Schaltanordnung ein Schalter betätigt, wenn ein von der Photozelle stammendes Signal das Signal am ohmschen Belastungswiderstand übersteigt.

Die Erfindung wird nun näher anhand von Zeichnungen erläutert, in denen zeigen:

Fig. 1 einen Teil eines Filmes, auf dem Information in Form von Flächen variabler Dichte gespeichert ist und

Fig. 2 ein Schaltbild einer Ausführungsform der Erfindung zum Abtasten des in Fig. 1 dargestellten Aufzeichnungsträgers.

In Fig. 1 bezeichnet die Bezugszahl 7 einen Mikrofilm, auf dem bildliche Information in Form von im Abstand angeordneten photographischen Aufnahmen 21 aufgezeichnet ist, die aus Punkten oder Flächen veränderlicher Dichte bestehen. Zum Identifizieren der photographischen Aufnahmen 21 kann auf dem Film die mit der Bezugszahl 22 bezeichnete numerische Information aufgezeichnet werden.

Zum Abtasten eines Films der in Fig. 1 dargestellten Art, auf dem Information in Form einer Reihe von Punkten oder Flächen unterschiedlicher Dichte gespeichert ist, ist mindestens eine Photozelle erforderlich,

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vorzugsweise werden jedoch soviele Photozellen verwendet wie Bits in jedem aufgezeichneten Datenwort vorhanden sind. Die Photozellen empfangen durch den Film hindurchgehendes Licht und liefern ein elektrisches Ausgangssignal, das sich entsprechend der optischen Dichte des Filmes ändert. Die Ausgangssignale der Photozelle können zum Ansteuern einer durch eine vorgegebene Adresse gekennzeichneten photographischen Aufnahme auf dem Film verwendet werden.

Bei einer Abtasteinrichtung der vorstehend erläuterten Art können nun Abtastfehler auftreten, falls Licht schwankender Helligkeit aus der Umgebung auf die Photozelle gelangt und/oder die Helligkeit der zur Durchstrahlung des Filmes vorgesehenen Lichtquelle schwankt und/ oder die optische Dichte des Filmes nicht gleichmässig konstant ist.

Fig. 2 zeigt eine Schaltungsanordnung für jede zur Abtastung einer Informationsspur vorgesehene Photozelle. Bei der Schaltungsanordnung nach Fig. 2 ist der Photozelle PC1-n eine Verstärkerschaltung zugeordnet, die aus den Transistoren T1 und T2, den stabilisierenden Zenerdioden Z1 und Z2 sowie den Vorspannungswiderständen R1-R4 besteht. Der Verstärker liefert ein der Beleuchtung der Photozelle entsprechendes Ausgangssignal. Ein in Form eines Phototransistors PCT vorgesehenes Kontrollelement ist einem aus dem Transistor T3, dem Widerstand R5 und den Transistoren T4 und T5 bestehenden Schaltkreis zugeordnet und liefert am Belastungswiderstand R9 ein Ausgangssignal, das dem Lichtpegel entspricht, der durch einen nicht mit Aufzeichnungen versehenen Bereich des Filmes hindurchgelassen wird. Irgendwelche geringfügigen Änderungen des Ausgangssignals am Belastungswiderstand R9 werden durch ein RC-Netzwerk geglättet, das aus einem

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Widerstand R10 und einem Kondensator C1 besteht. Das geglättete Ausgangssignal des Phototransistors PCT wird zum Einstellen eines Schwellwertes zum Umschalten des Ausgangssignals der Photozelle PC1-n verwendet. Dieser Schwellwert hängt von der Helligkeit der Zimmerbeleuchtung und von der optischen Dichte des Filmes ab. Die Umschaltanordnung besteht aus dem Transistor T7, dessen Emitter-Kollektorstrecke parallel zum Belastungswiderstand R9 liegt und dessen Basis mit dem Belastungswiderstand R4 des Verstärkertransistors T2 in Verbindung steht, der durch die Photozelle PC1-n angesteuert wird. Die Ausgangssignale des Transistors T7 werden mittels des Transistors T6 und der Widerstände R6 und R8 auf einen zum Betreiben anderer logischer Schaltungen geeigneten Pegel gebracht. Das Vorspannungsdifferential wird durch den Spannungsabfall der Dioden D1-D3 eingestellt.

Es ist wichtig, dass bei allen Verstärkerschaltungen die Ansprechempfindlichkeit identisch ist. Ein im Nebenschluss zum Belastungswiderstand R9 vorgesehenes Messinstrument M ermöglicht die Feststellung, ob der Pegel der Raumbeleuchtung innerhalb des durch die Schaltungsanordnung ausgleichbaren Bereiches liegt.

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Claims

PATENTANSPRÜCHE:

Iy Vorrichtung zum Abtasten eines Informationsträgers, der aus einem Film besteht, auf dem in einem Bereich Signale in Form von Bereichen unterschiedlicher Strahlungsdurchlässigkeit gespeichert sind, während ein anderer Bereich eine gleichmässige Strahlungsdurchlässigkeit aufweist, dadurch gekennzeichnet, dass zur Erzeugung von Binärsignalen in Abhängigkeit von der örtlichen Strahlungsdurchlässigkeit in einem Bereich des Filmes eine durch diesen Bereich hindurch beleuchtete Photozelle sowie ein durch den anderen Bereich hindurch beleuchteter Phototransistor vorgesehen ist, der mit Schaltmitteln zum Erzeugen eines dem Ausgangssignal des Phototransistors entsprechenden Schwellwertsignals in Verbindung steht, das an einem Belastungswiderstand erzeugt wird, im Nebenschluss zu dem eine von der Photozelle ansteuerbare Schaltanordnung vorgesehen ist, die in einen bestimmten Schaltzustand übergeführt wird, wenn das Ausgangssignal der Photozelle das Schwellwertsignal übersteigt.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Schaltmittel zum Erzeugen des Schwellwertsignals Mittel zum Glätten des Ausgangssignals des Phototransistors enthalten.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Schaltanordnung einen Schalter zur Umschaltung veranlasst, wenn ein von der Photozelle hergeleitetes Signal das Schwellwertsignal übersteigt.

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4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Schaltanordnung einen Transistor aufweist, dessen Emitter-Kollektor-Strecke parallel zum Belastungswiderstand angeordnet ist und dessen Basis mit dem Belastungswiderstand eines von der Photozelle angesteuerten Transistorverstärkers in Verbindung steht.

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