DE2148132A1 - Verfahren zur Herstellung dünner piezoelektrischer Filme - Google Patents
Verfahren zur Herstellung dünner piezoelektrischer FilmeInfo
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Description
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Die vorliegende Erfindung betrifft ein verbessertes Verfahren zur Herstellung dünner piezoelektrischer Filme. Insbesondere
betrifft sie ein Verfahren zur Herstellung dünner piezoelektrischer Filme, welche Zinkoxid enthalten,durch Anwendung eines
KathodenzerstäubungsSchrittes zur Herstellung von Hochfrequenz
-Ultraschall-Wandlern.
In dielektrischen Materialien sind ÜberschallweIlen, 10 bis
10 Hertz, durch direkte Oberflächenanregung von Quarz, herkömmlichen Quarz-Wandlern mit hohem harmonischem Anteil, oder
magnetostriktiven Filmen erzeugt worden. Eine bequemere und
wirksamere Technik zur Erzeugung von entweder Longitudinalwellen oder Scherwellen im Gigahertz-Bereich ist durch die Anwendung von
aus dünnen Filmen bestehenden piezoelektrischen Wandlern gegeben. Die geringe Dicke eines Filmes macht es möglich, eine hohe Grundresonanzfrequenz
zu erhalten. Es sind aktive Filme aus Cadmiumsulfid bis zu 8 Al dick und 300 S dünn verwendet worden, um
Grundresonanzfrequenzen von entsprechend etwa 250 MHz und 75 GHz
zu erhalten, wie in "Thin Film Phenomena", herausgegeen durch K.L. Chopra, Seite 447, McGraw-Hill Inc., New York, 1969, beschrieben
wird.
Piezoelektrische Filme aus im Vakuum aufgedampftem hexagonalem Cadmiumsulfid, hexagonalem und kumischem Zinksulfid und aus sowohl
zerstäubtem als auch aufgedampftem hexagonalem Zinkoxid sind auf ihre Verwendbarkeit als Wandler untersucht worden. Unter diesen
aktiven Filmen ist der Zinkoxid-Film wegen seines hohen elektromechanischen Kopplungskoeffizienten poter&ell ein besseres
piezoelektrisches Material. Die Abscheidungstechniken und kristallographischen Strukturen der Zinkoxid-Filme sind von verschiedenen
Forschern studiert worden. Insbesondere hat ein Verfahren zur Regelung der kristallogaphischen Orientierung der Zinkoxid-Filme
beträchtliche Aufmerksamkeit erweckt, da die Art der Schallerzeugung von der kristallographischen Orientierung der
Zinkoxid-Filme in bezug auf das zur Anregung angelegte elektrische Feld abhängt. Zinkoxid wird jedoch meistens auf einem amorphen
Träger abgeschieden, wenn die Hochfrequenz-Ultraschall-Wandler
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hergestellt werden, und deshalb kann die Richtung der kristallographisohen
Orientierung der Zinkoxid-Filme nicht sehr gut beeinflusst werden.
Die vorliegende Erfindung bringt radikale Verbesserungen für die Herstellungsverfahren von Zinkoxid-Filmen auf einem amorphen
Träger, wobei die Richtung der kristallographischen Orientierung
sehrgit beeinflusst werden kann. Der Fachmann wird anerkennen,
dass dieses neuartige Verfahren für die Herstellung von Hochfrequenz-Ultraschall-Wandlern
unentbehrlich ist.
Ziel der Erfindung ist ein neuartiges Verfahren zur Herstellung vor. -iuiizicÄi piezoelektrischen Zinkoxid-Filmen durch Anwendung
eines Kathodenzerstäubungsschrittes, womit die kristallographische
Orientierung gut beeinflusst werden kann.
Ein weiteres Ziel der Erfindung ist ein verbessertes Verfahren zur Herstellung von Hochfrequenz-Ultraschall-Wandlern.
Die Ziele der vorliegenden Erfindung werden mit einem Verfahren erreicht, bei welchem ein Kathodenzerstäubungsschritt angewendet
wird, dadurch gekennzeichnet, dass dieser Kathodenzerstäubungsschritt eine Mitζerstäubung von Kupfer oder Aluminium mit Zink
in einer oxydierenden Atmosphäre umfasst.
Anhand der Zeichnungen wird nun die Erfindung beschrieben.
Fig. 1 ist eine schematische Ansicht der Zerstäubungsvorrichtung zur Verwendung im Verfahren zur Herstellung von dünnen
piezoelektrischen Filmen gemäss vorliegender Erfindung;
Fig. 2
und j5 sind Diagramme, welche die Wirkungen von Kupfer und Aluminium
auf die kristallographische Strukturvon Zinkoxid-Fiien,
erfindungsgemäss hergestellt, zeigen.
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Das Verfahren zur erfindungsgemässem Herstellung dünner piezoelektrischer Filme sohliesst einen Kathodenzerstäubungsschritt ein,
der die Mit zerstäubung von Kupfer oder Aluminium mit Zink in einer
oxydierenden Atmosphäre umfasste
Nach Fig. 1 besteht die Zerstäubungsvorrichtung, welche beim Verfahren
zur Herstellung dünner piezoelektrischer Filme erfinüungsgemäss verwendet wird, aus einem Glockengehäuse 2, einer ebenen
Anode 3, einer ebenen Hauptkathode 4 und einer Hilfskathode 5,
welche zwischen der ebenen Anode und Hauptkathode angeordnet ist. Die Anode ist aus leitenden Materialien hergestellt, welche einen
hohen Schmelzpunkt haben. Die Oberfläche der Hauptkathode ist vom Zinkmetall überzogen. Die Hilfskathode ist aus einem ebenen
Sieb hergestellt, welches aus Kupferdraht oder Aluminiumdraht mit einem Durchmesser von 0,1 bis 1 mm hergestellt ist und Öffnungen
von 1 bis 10 mm besitzt. Das Glockengehäuse 2 enthält ein ionisierbares
Medium. Dieses ioniaierbare Medium kann ein Gemisch aus
-2 Argon und Sauerstoff unter einem Druck im Bereich von 10 bis 10 Torr sein. Eine Hochspannungsquelle 6 ist in Serie mit einem
stabilisierenden Widers$id J sowie der Anode 3 und der Hauptkathode
4 verbunden. Ein Hilfskreis 8 enthält einen Hilfskreiswiderstand
9· An der Anode 3 sitzt ein Substrathalter, an welchem das Substrat bzw. der Träger .befestigt werden kann. Dieser Träger
wird bei einer Temperatur im Bereich von 100 bis 300° C gehalten.
Erfindungsgemäss wurde gefunden, dass die Richtung der kristallographischen
Orientierung von Zinkoxid-Filmen, die eine auf einem
amorphen Träger abgeschiedene Fasertextur haben, gut beeinflusst werden kann, wenn man Kupfer aus der Hilfskathode mit Zink aus
der Hauptkathode in einer oxydierenden Atmosphäre und mit einem Zerstäubungsstrom in dieser Hilfskathode im Bezieh von 0,3 bis 5^
des Zerstäubungsstromes in der Hauptkathode mitzerstäubt, wie aus Fig. 2 ersichtlich. Unter Bezug auf Fig. 2 variiert die Orientierung
von Zinkoxid-Filmen, die eine auf dem amorphen Träger abgeschiedene
Fasertextur haben, mit dem Zerstäubungsstrom in der Kupfer-Hilfskathode; Zinkoxid-Filme mit einer zur Filmoberfläche
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rechtwinklig stehenden o-Achse (normale Orientierung) können mit
hoher Reproduzierbarkeit hergestellt werden, wenn die Hilfskathodenströme
im Bereich von 0,3 bis 5 % der Hauptkathodenströme liegen.
Unter 0,3 % haben die erhaltenen Zinkoxid-Filme entweder normale Orientierung oder eine parallele Orientierung (c-Achse
liegt in der Pilmebene), was von nicht beeinflussbaren Paktoren während des Zerstäubungsverfahrens abhängt. Oberhalb 5 % haben
die erhaltenen Zinkoxid-Pilme schlechte Orientierung. Daher hat es sich als nützlich erwiesen, den Zerstäubungsstrom in der Kupferhilf
ska thode zwischen 0,3 bis 5 % zu halten, um normal orientierte
Zinkoxid-Pilme mit einer Paserstruktur herzustellen.
Erfindungsgemäss wurde auch gefunden, dass die Richtung der kristallographischen
Orientierung von Zinkoxid-Pilmen, die eine auf dem amorphen Träger abgeschiedene Paserstruktur haben, durch das
Mitzerstäuben von Aluminium aus dieser Hilfskathode mit Zink
aus der Hauptkathode in einer oxydierenden Atmosphäre gut beeinflusst werden kann, und zwar bei einem Zerstäubungsstrom in der
Hilfskathode im Bereich von 1 bis 20 % des Zerstäubungsstromes in der Hauptkathode, wie aus Fig. 3 ersichtlich ist. Nach Pig.
variiert die Orientierung von Zinkoxid-Pilmen, die eine auf den amorphen Träger abgeschiedene Pasertextur haben, mit dem Zerstäubungsstrom
in der Aluminiumhilfskathode; Zinkfilme mit paralleler Orientierung können mit grosser Reproduzierbarkeit hergestellt
werden, wenn diese Hilfskathodenströme im Bereich von 1 bis 20 % der Hauptkathodenstrpme liegen. Unter 1 % haben die erhaltenen
Zinkoxid-Pilme entweder normale Orientierung oder parallele Orientierung, was von den nicht beeinflussbaren Paktoren während des
Zerstäubungsprozesses abhängt. Oberhalb 20 % haben die erhaltenen
Zinkoxid-Filme schlechte Orientierung. Es hat sich für die Herstellung parallel orientierter Zinkoxid-Pilme mit einer Fasertextur
als nützlich erwiesen, wenn deshalb der Zerstäubungsstrom in der
Aluminiumhilfskathode zwischen 1 und 20 % des Hauptzerstäubungsstromes
gehalten wird.
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Erfindungsgemäss wurde ferner gefunden, dass aus dünnen piezoelektrischen
Filmmaterialien, welche Zinkoxid, durch einen Zerstäubungsschritt hergestellt, enthalten, wobei dieser durch die
Mitzerstäubung einer KupferhiIfskathode mit einer Zinkhauptkathode
in einer oxydierenden Atmosphäre gekennzeichnet ist und ein Zerstäubungsstrom in der Kupferkathode 0,3 bis 5 % des Zerstäubungsstromes in der Zinkkathode beträgt, hochwirksame Ultrasdall-Wandler
hergestellt werden können, die Longitudinalwellen erzeugen, indem man solche dünnen piezoelektrischen Filmmaterialien
zwischen zwei Metallelektroden einbettet und die erhaltene Anordnung an einem festen Medium, zum Beispiel einem Quarzstab,
W zementiert.
Es wurde gleichfalls erfindungsgemäss gefunden, dass nach der Herstellung dünner piezoelektrischer Filmmaterialien, welche
Zinkoxid durch einen Mitzerstäubungsschritt enthalten, der gekennzeichnet ist durch die Mitzerstäubung einer Aluminiumhilfskathode
mit einer Zinkhauptkathode in einer oxydierenden Atmosphäre und einen Zerstäubungsstrom in dieser Aluminiumkathode,
der 1 bis 20 % des Zerstäubungs stromes in der Zink-'
kathode beträgt, hochwirksame Ultraschall-Wandler hergestellt werden können, welche Scherwellen erzeugen, wenn man dünne piezoelektrische
Filmmaterialien zwischen Metallelektroden einbettet und die erhaltene Anordnung an einem festen Medium, zum Beispiel
einem Quarzstab, zementiert.
Der hier beschriebene MitZerstäubungsschritt kann auch durchgeführt
werden, indem man eine zusammengesetzte Kathode aus Kupfer und Zink oder Aluminium und Zink verwendet. Eine Legierung aus
Kupfer-Zink und Aluminium-Zink kann ebenfalls für die Kathode verwendet werden.
Die Wirkungen des Kupfers und Aluminiums auf die kristS-lographische
Orientierung wird über einen weiten Druckbereich des Zerstäubungs-
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gases beobachtet, d.h. von 10 bis 10 Torr, obwohl die Konzentration
des Kupfers oder Aluminiums mit dem Zerstäubungsgasdruck.
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variiert, und daher kann der hier beschriebene Kathodenzerstäubungsschritt
auch so durchgeführt werden, dass man ein beliebiges Zerstäubungssystem verwendet, wie ein Radiofrequenz-Zerstäubungssystem
oder ein Niedriggasdruck-System vom Magnetron-Typ.
Die Wirkungen des Kupfers und Aluminiums auf die Orientierung kann nicht durch Substitution verursacht sein, sondern kann durch
die Anwesenheit von Kupferoxiden oder Aluminiumoxiden an den Kristallgrenzen des Zinkoxids mit Fasertextur hervorgerufen sein.
Die Lokalisation der feinen Aluminiumoxid-Kristallite verringert
die Oberflächenbeweglichkeit der Zinkoxid-Teilchen in Trägern, was zu sehr kleinen Kristalliten führen kann. Dies kann die
Ausbildung einer normalen Orientierung verhindern. Im Gegensatz zu Aluminium verstärkt Kupfer das Wachstum der Kristallite und
daher die Ausbildung einer normalen Orientierung.
Die Kupferkonzentrationen in den durch Zerstäubung hergestellten Zinkoxid-Filmen, welche normale Orientierung aufweisen und durch
den Mitzerstäubungsschritt erfindungsgemäss hergestellt werden, liegen im Bereich von 1 bis 15 Atomprozent für einen Kathodenstrom
der Kupferhilfskathode von 0,3 bis 5 #. Die Aluminiumkonzentrationen
in den durch Zerstäubung hergestellten Zinkoxid-Filmen, welche parallele Orientierung aufweisen und durch den
erfindungsgemässen Mitzerstäubungsschritt hergestellt werden,
liegen im Bereich von 0,7 bis 13 Atomprozent für einen Kathodenstrom
der Aluminiumhilfskathode von 1 bis 20 %. Diese Konzentrationen
sind kaum von der Natur des Zerstäubungssystems abhängig.
Daher kann jedes Abscheidungsverfahren für die orientierungsbeeinflusste Abscheidung von dünnen Zinkoxid-Filmen verwendet
werden, falls die 1 bis 15 Atomproeent Kupfer oder 0,7 bis 13
Atomprozent Aluminium in einer oxydierenden Atmosphäre während des Wachstums von Zinkoxiden auf dem Film zusammen abgeschieden
werden können.
- Patentansprüche 2 0 9 8 16/1351
Claims (1)
- 2U8132- 8 - M ^027Patentans prüchVerfahren zur Herstellung eines dünnen piezoelektrischen Filmes, indem ein Kathodenzerstäubungsschritt durchgeführt wird, dadurch gekennzeichnet, dass dieser Kathodenzerstäubungsschritt das Mitzerstäuben eines Metalls, das aus der Gruppe Kupfer, und Aluminium ausgewählt wird, mit Zink in einer oxydierenden Atmosphäre umfasst.2. Verfahren zur Herstellung dünner piezoelektrischer Filme nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass man bei dem Kathodenzerstäubungsschritt in einer Kathodenzerstäubungsvorrichtung eine Hauptkathode aus Zink, eine Anode aus leitfähigem Material mit hohem Schmelzpunkt, die an ihr angebrachte Träger aufnehmen kann, und zwischen dieser Kathode und Anode eine Hilfskathode aus Kupfer anordnet und einen Zerstäubungsstrom an diese Hilfskathode anlegt, welcher im Bereich von 0,3 bis 5 Prozent des an der Hauptkathode anliegenden Zerstäubungsstromes liegt.j5. Verfahren zur Herstellung dünner piezoelektrischer Filme nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass man bei dem Kathodenzerstäubungsschritt in einer Kathodenzerstäubungsvorrichtung eine Hauptkathode aus Zink,eine Anode aus leitfähigem Material mit hohem Schmelzpunkt, an welcher209816 /. 13B1- 9 - M 3027. Träger befestigt sein können, und zwischen dieser Kathode lind Anode eine Hilfsldshode aus Aluminium anordnet und einen Zerstäubungsstrom an diese Hilfskathode anlegt, welcher von 1 bis 20 Prozent des an der Hauptkathode anliegenden Zerstäubungsstromes reicht.4. Verfahren zur Herstellung von Wandlern aus dünnen Filmen zur Verwendung im Hochfrequenz-Ultraschall-Bereich, dadurch gekennzeichnet, dass man einen dünnen piezoelektrischen Film herstellt, indem ein Kathodenzerstäubungsschritt durchgeführt wird und man bei diesem in einer Kathodenzerstäubungsvorrichtung eine Hauptkathode aus Zink, eine Anode aus leitfähigem Material mit hohem Schmelzpunkt, an welcher ein Träger befestigt sein kann, und zwischen dieser Hauptkathode und Anode eine Hilfskathode aus Kupfer anordnet und an die Hilfskathode einen Zerstäubungsstrom anlegt, welcher im Bereich von 0,3 bis 5 Prozent des an der Hauptkathode anliegenden Zerstäubungsstromes liegt, den dünnen piezoelektrischen Film zwischen Metallelektroden einbettet und die erhaltene Anordnung an einem festen Medium zementiert, welches Longitudinalwellen erzeugt.5. Verfallen zur Herstellung von Wandlern aus dünnen Filmen nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass dieses feste Medium ein Quarzstab ist.6. Verfahren zur Herstellung von Wandlern aus dünnen Filmen zur Verwendung im Hoohfrequenz-Ultraschall-Bereich, dadurch gekennzeichnet, dass man einen dünnen piezoelektrischen Film herstellt, indem ein Kathodenzerstäubungsschritt durchgeführt wird und man bei diesem in einer Kathodenzerstäubungsvorrichtung eine Hauptkathode aus Zink, eine Anode aus leitfähigem Material mit hohem Schmelzpunkt, an welcher ein Träger befestigt sein kann, und zwischen dieser Hauptkathode und Anode eine Hilfskathode aus Aluminium anordnet und an die Hilfskathode einen Zerstäubungsstrom anlegt, welcher209816/ 13512U8132- 10 - M J027im Bereich von 1 bis 20 Prozent des an der Hauptkathode anliegenden Zerstäubungsstromes liegt, den dünnen piezoelektrischen Film zwischen Metallelektroden einbettet und die erhaltene Anordnung an, einem festen Medium zementiert, welches Scherwellen erzeugt.7. Verfahren zur Herstellung von Wandlern aus dünnen Filmen nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass das feste Medium ein Quarzstab ist.Dr.Pa./Br.209816/1351Leerseite
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