DE2033566B2 - Halbleitervorrichtung mit verbessertem Schutz gegen du/ tief dt Beanspruchung - Google Patents
Halbleitervorrichtung mit verbessertem Schutz gegen du/ tief dt BeanspruchungInfo
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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Description
Gemäß der Erfindung wird dies dadurch erreicht,
daß in jeder der eingangs beschriebenen, in sich zusammenhängenden
Zonen jeweils gleichen Leiuingsiyps ein /wischen den beiden Zonenteilen liegender Hereich
mit Rekombinationszeniren in höhen.-r Konzentration als in den beiden Zonenieüen ν er .-hen ist.
Die Erfindung beruht auf der Erkenntnis, daß die Zündfestigkeit durch die Diffusion von Minoritätsladungsträgern
aus dem eine innere Schicht dl s jeweils abgeschalteten Schaltelementes bildenden Zonenteil in
den im anderen Schaltelement liegenden Zonenteil begrenzt ist. Das Vorhandensein eines Gebietes mit einer
verhältnismäßig hohen Konzentration an Rekombinationszentren, das zwischen solchen Zonenteilen liegt.
vermindert diese Diffusion erheblich.
Die Erfindung ist ausführbar sowohl bei einem bidirektionalen Thyristor, bei dem an den beiden Hauptseiten
je eine Hauptelektrode angebracht ist. welche eine in die betreffende äußere Zone der Thyristorscheibe
vollständig eingelassene Emitterzone einseitig überläppt,
und bei dem ebenfalls an den beiden Hauptseiten mit Abstand von dem überlappenden Teil der Hauptelektrode
je eine Steuerelektrode angebracht ist, als auch bei einem bidirektionalen Thyristor, bei dem nur
an einer Hauptsehe der Thyristorscheibe mit Abstand vom überlappenden Teil der betreffenden Hauptelektrode
eine Steuerelektrode in ohmschen Kontakt angebracht ist.
Im folgenden wird die Erfindung an Hand der F i g. 1
durch ein Ausführungsbeispiel näher besehrieben. Als Ausführungsbcispiel ist ein bidirektionaler Thyristor
gewählt, bei dem an beiden Hauptseiten der Thyristorscheibe
je eine Steuerelektrode angebracht ist.
F i g. 1 zeigt einen Querschnitt durch einen solchen bidirektionalen Thyristor; die
F i g. 2a, 2b und 2c veranschaulichen verschiedene Stufen bei der Fertigung des in F i g. 1 dargestellten
Thyristors.
Der bidirektionale Thyristor nach F i g. 1 enthält einen Halbleiterkörper aus Silizium mit drei Schichten
1. 2, 3 abwechselnden Leitungstyps, die in der Reihenfolge
pnp aufeinanderliegend angeordnet sind. In die p-leitenden Schichten 1 und 3 ist je eine n-leitende
Schicht 4 und 5 vollständig eingelassen. Diese n-lcitcnden Schichten 4 und 5 sind gegeneinander versetzt angeordnet,
so daß der Halbleiterkörper zwei nebeneinanderliegende unidirektionalc Thyristoren in der
Schichtenfolge pnpn enthält.
Der F i g. 1 ist zu entnehmen, daß jede der drei Schichten 1, 2 und 3 für sich eine zusammenhängende
Zone bilden, von welcher der in der Figur linke Teil einen Teil des einen a und der in der Figur rechte Teil
einen Teil des anderen unidirektionalen Thyristors b darstellt. Die Hauptelektroden des bidirektionalen Thyristors
bestehen aus zwei leitenden Schichten 6 und 7. die an den Hauptscitcn des Halbleiterkörpers angebracht
sind. Die Schichten 6 und 7 stellen eine leitende Verbindung zwischen den η-leitenden Emitterschichten
4 und 5 der unidirektionalen Thyristoren und den angrenzenden p-leitenden Schichten 1 und 3 her, so daß
diese Thyristoren sogenannte »shorted emitter« a'ifweisen.
Es ist ferner an den beiden Hauptseiten des Halbleiterkörpers auf den Schichten 1 und 3 je eine
leitende Schicht 8 und 9 aufgebracht. Die leitenden Schichten 8 und 9 sind die ohmschen Steuerelektroden
des bidirektionalen Thyristors. Der unidiirektionale
Thyristor «1 kann durch Anlegen eines positiven Potentials an die Schicht 1 über die Steuerelektrode 8 gezündet
werden, ebenso der Thyristor b durch Anlegen eines positiven Potentials an die Schicht 3 über die
Elektrode 9.
Im Zentrum des Halbleiterkörpers zwischen den Schichtfolgen der beiden Unidirektionalthyrisioren
liegt ein Gebiet 10, das Verunreinigungen wie Gold oder Eisen in höherer Konzentration als in den Teilen
der Schichten 1. 2 und 3 enthalt, welche zu den beiden Unidirektionalthyrisioren gehören. Derartige Verunreinigungen
wirken bekanntlich als Rekombinationszentrcn.
Dem Unidirektionalthynstor ;j ist die Hauptelektrode
7 als Anode, die Hauptelektrode 6 als Kathode und der pr.-Übergang 11 zwischen den Schichten 1 und 2 als
der sperrende Übergang zugeordnet, an dem beim Zünden des Thyristors ein lawinenartiger Spannungsdurchbruch
erfolgt. Dementsprechend sind dem unidirektionalen Thyristor b die Elektroden 6 und 7 als Anode
bzw. Kathode und der pn-übergang 12 zwischen den Schichten 2 und 3 als sperrender Übergang zugeordnet.
Die unidirektionalen Thyristoren ;i und b sperren den
Stromdurchgang so lange, als sich in den Schichten, die den sperrenden pn-übergang bilden, keine Minoritätsladungsträger befinden. Führt einer der beiden Unidirektionalthyristoren
Strom, so treten in den beiden Schichten des sperrenden pn-Überganges des betreffenden
Unidirektionalthyristors Minoritätsladungsträger auf. Da zwischen den beiden Unidirektionalthyristoren
des bidirektionalen Thyristors nach F i g. 1 ein Gebiet 10 mit Rekombinationszentren in hoher Konzentration
liegt, wird verhindert, daß diese Minoritätsladungsträger in den jeweils anderen Unidirektionalthyristor
hineindiffundieren. Ohne Rekombinationszentren in dem Gebiet 10 würde durch die Diffusion der
Minoritätsladungsträger der andere Unidirektionalthynstor über Spannungsdurchbruch am sperrenden pn-Übergang
gezündet werden, wenn zwischen den Hauptelektroden 6 und 7 eine steil ansteigende Spannung
mit entsprechender Polarität angelegt wird, was besonders beim Abschalten des Stromes in einer induktiven
Last der Fall ist.
Wesentlich ist, daß das Gebiet 10, in dem Rekombinationszentren
in hoher Konzentration enthalten sind, derart begrenzt gehalten wird, daß die Rekombinationszentren
keinen Einfluß auf die erforderliche Betriebseigenschaft des bidirektionalen Thyristors haben
können, wie beispielsweise die Zünddaten und der Durchlaßspannungsabfall. Rekombinationszentren in
hoher Konzentration soller weder in der Nähe der eingelassenen Emitterschichten 4 und 5 noch in d;r Nähe
der Steuerelektroden 8 und 9 vorhanden sein.
Im folgenden wird nun auf die F i g. 2 Bezug genommen.
Bei der Herstellung eines bidirektionalen Thyristors nach Fig.! wird zuerst eine Scheibe 20 aus Silizium,
die η-leitend vordotiert ist, einer Eindiffusion von Gallium zur Bildung einer p-leitenden Schicht 21 über
der gesamten Oberfläche, wie in F i g. 2 dargestellt, ausgesetzt. Sodann wird eine dünne Schicht Phosphor auf
die Oberfläche der Scheibe 20 niedergeschlagen, und es wird diese Schicht aus Phosphor in bekannter Weise
selektiv geätzt, so daß nur in den Gebieten 22, wo die äußeren η-leitenden Schichten 4 und 5 des fertiggestellten
bidirektionalen Thyristors eingebracht werden sollen, die Phosphorschicht, wie in F i g. 2b gezeigt, bestehen
bleibt. Dementsprechend kann auch verfahren werden, wenn an Stelle von zwei ohmschen Steuerelektroden,
wie in vorliegendem Beispie!, nur eine Steuerelek-
lrode mit nachgcschaltcicm pn-Übcrgang, ζ. B. für ein
sogenanntes »remote-gate«, vorgesehen ist. Zum Hmdiffundieren
des Phosphors wird dann die Scheibe 20 erhitzt und dabei so behandelt, daß sich an der gesamten
Oberfläche der Scheibe eine Oxidschicht 23 bilden kann. Daraufhin wird an den beiden Hauptseiten der
Thyristorscheibe 20 zwischen den beiden n-leiienden
Schichten 4 und 5 ein Streifen der Oxidschicht selektiv abgeätzt und anschließend die Scheibe 20 in eine goldhaltige
Lösung gelegt, in der, wie in F i g. 3c gezeigt, auf die durch das Abätzen der Oxidschicht 23 freigelegten
Oberflächenstreifen eine Goldschicht 24 niedergeschlagen wird. Nachdem die Thyristorscheibe 20 aus der
Goldlösung herausgenommen worden ist, wird sie erhitzt, so daß das niedergeschlagene Gold die Scheibe
hineindiffundieren kann zur Anreicherung des Gebietes 10 mit Rekombinationszentren.
Das beschriebene Verfahren kann auch so angewandt werden, daß nach der Phosphordiffusion Streifen
aus Gold mittels Photomaskierung an bestimmten Stellen auf der Scheibenoberflächc aufgedampft und
anschließend in die Scheibe eindiffundiert werden.
Schließlich werden noch die Haupt- und Stcucrclektroden
angebracht, und es wird die so fertiggestellte Thyristorbauelementscheibe aus einer ganzen HaIbleitcrplattc,
die eine Vielzahl nach dem vorbcsehriebcncn
Verfahren hergestellte Thyristorbauelcmcnte enthalten
kann, herausgetrennt.
Bei einer speziellen Ausführung eines bidirektionalen Thyristors gemäß der Erfindung hat die fertiggestellte
Scheibe einen Durchmesser von etwa 7,5 mm und eine Dicke von etwa 0.2 mm, die p-leitcnden Schichten 1
und 3 haben beide eine Dicke von etwa 0.05 bis 0,06 mm und die äußeren n-leitendcn Schichten 4 und 5
ίο eine Dicke von etwa 0,0.3 mm. Die Goldsireifcn 24 haben
eine Breite von etwa 0,5 mm.
Brauchbare Thyristorbauelcmcnte haben sich ergeben, wenn mit den Thyristorscheiben eine Eindiffusion
von 5 Minuten Dauer bei 1000"C u.dgl. auch eine solehe
von einer Stunde Dauer bei 850"C vorgenommen wurde. Bei diesen Bauelementen konnte infolge der in
dem Gebiet to konzentrierten Rekonibinations/.entren die Zündfestigkeit gegen die Anstieggeschwindigkeit
der /wischen den beiden Hauptelektrode!! des Halbleiterplattchens
anliegenden Spannung verbessert werden von 0,2 bis 0,3 V/ns Spannungsanstieg auf mindestens
10 V/jis, wozu noch bemerkt wird, daß bei der ver
wendeten Testeinrichtung der höchste erziclbare Span
nungsanstieg 10 V/ns betrug.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Λ Q7d
Claims (3)
1. Zwei· ichtungsthyristor hoher Zündfestigkeit
gegen die Ansticggcschwindigkeil der zwischen den beiden Hauptclcktroden an den beiden Hauptflächen
des Halbleiterplätlchens anliegenden Spannung, bei dem das Halbleitcrpläitchen in einem ersten
un<i in einem /weiten, jeweils sich von der einen Hauptelektrode bis /u der anderen Hauptelektrode
erstreckenden Gebiet je eine Folge von vier Schichten abwechselnd entgegengesetzten Leitungstyps
enthält, so daß die Richtung, in der das einen Teilthyristor bildende erste Gebiet siromleitend
geschaltet werden kann, zu der Richtung, in der das einen anderen Teilthyristor bildende zweite
Gebiet Etromleitend geschaltet werden kann, entgegengesetzt ist, und bei dem die an keine der beiden
Haupiclektroden grenzende Schicht des einen und die an keine der beiden Hauptelcktrodcn grenzende
Schicht gleichen Leitungstyps des anderen Teilthyristors verschiedene Teile einer ersten in sich zusammenhängenden
Zone eines Leitungstyps bilden oder diese erste Zone und die auf der einen, gleichen
Seite oder auch die auf beiden Seiten dieser ersten Zone liegenden Schichten gleichen Leitungstyps
der beiden Teilthyristoren jeweils verschiedene Teile einer ersten, zweiten bzw. einer dritten in sich
zusammenhängenden Zone bilden, dadurch gekennzeichnet,
daß in jeder dieser in sich zusammenhängenden Zonen (1, 2, 3) jeweils gleichen
Leitungstyps ein zwischen den beiden Zoncnteilen liegender Bereich (10) mit Rekombinationszentren
in höherer Konzentration als in den beiden Zonentcilen versehen ist.
2. Zweirichtungsthyristor nach Anspruch 1, bei dem jeweils die an eine Hauptelektrode grenzende
Schicht des einen Teilthyristors in die von der benachbarten Schicht dieses Teilthyristors und von
der an dieselbe Hauptelektrode grenzenden Schicht des anderen Teilthyristors gebildete in sich zusammenhängende
Zone gleichen Leitungstyps vollständig eingelassen ist, und bei dem jede der beiden
Hauptelcktroden die vollständig eingelassene Schicht an einer Seite überlappt, dadurch gekennzeichnet,
daß an den beiden Hauptflächen des HaIbleiterplättchens
(20) mit Abstand von dem überlappenden Teil der Hauptelektroden (6. 7) je eine Steuerelektrode (8. 9) in ohmschen Kontakt angebracht
ist.
3. Zweirichtungsthyristor nach Anspruch 1, bei dem jeweils die an eine Hauptelektrode grenzende
Schicht des einen Teilthyristors in die von der benachbarten Schicht dieses Teihhyristois und von
der an dieselbe Hauptelektrode grenzenden Schicht des anderen Teilthyristors gebildete in sich zusammenhängende
Zone gleichen Leitungstyps vollständig eingelassen ist. und bei dem jede der beiden
Hauptelektroden die vollständig eingelassene Schicht an einer Seite überlappt, dadurch gekennzeichnet,
daß nur an der einen Hauptfläche des Halbleiterplättchens (20) mit Abstand von dem
überlappenden Teil der Hauptelektrode (6 oder 7) an dieser Hauptfläche eine Steuerelektrode (8 bzw.
9) angebracht ist.
Die Erfindung betrifft einen Zweirichtungsthyristor hoher Zündfestigkeii gegen die Anstiegsgeschwindigkeit
der zwischen den beiden Haupielektroden an den beiden Hauptflächen des Haibleiierplättchens anliegenden
Spannung, bei dem das Halblcitcrplättchen in einem ersten und in einem zweiten, jeweils sich von der
einen Hauptelektrode bis zu der anderen Hauptelektrode erstreckende Gebiet je eine Folge von vier
Schichten abwechselnd entgegengesetzten Leitungstyps enthält, so daß die Richtung, in der das einen Teilthyristor
bildende erste Gebiet siromleitend geschaltet werden kann, zu der Richtung, in der das einen anderen
Teilthyristor bildende zweite Gebiet uromlcitcnd geschaltet
werden kann, entgegengesetzt ist. und bei dem die an keine der beiden Hauptelektroden grenzende
Schicht einen und die an keine der beiden Hauptelektroden grenzende Schicht gleichen Leitungstyps Jes
anderen Teilthyristors verschiedene Teile einer ersten in sich zusammenhängenden Zone eines Leitungstyps
bilden oder diese erste Zone und die auf der einen, gleichen Seite oder auch die auf beiden Seiten dieser ersten
Zone liegenden Schichten gleichen Leistungstyps der beiden Teilthyristoren jeweils verschiedene Teile
einer ersten, zweiten bzw. einer dritten in sich zusammenhängenden Zone bilden.
Es ist ein derartiger Zweirichtungsthyristor mit den vorangehend angegebenen Merkmalen durch die
DT-OS 19 31 149 bekannt, welcher dadurch, daß die zwei sich zwischen den Hauptelekiroden erstreckenden
Gebiete voneinander einen seitlichen Abstand von wenigstens drei Diffusionslängen der Minoritätsladungsträger
des dazwischen liegenden Halbleitergebietes haben, als Wechselstromschalter mit hohen Betriebsfrequenzen
verwendbar ist. Außerdem hat es sich gezeigt, daß ein derartiger Zweirichtungsthyristor bei
verhältnismäßig hohen Temperaturen eine gute Zündfestigkeit gegen die Anstieggeschwindigkeit der zwischen
den Hauptelektroden des Thyristors anliegenden Spannung aufweist. Hierzu trägt auch bei ein verhältnismäßig
großer Querwiderstand derjenigen zusammenhängenden Zone, welche durch eine der Emitterzone
eines Gebietes vorgelagerte Zone und durch eine Emitterzone des anderen Gebietes gebildet wird.
Ferner ist in »Internationale Elektronische Rundschau«, Bd. 20 (1966). S. 353 bis 356 ein bilateral schaltendes
Thyristorensystem beschrieben, bei dem mittels einer Zonen-Elektroden-Anordnung nach Art eines
»Shorled Emitter« Zündfestigkeit erzieh wird. Eine solche Anordnung weist aber auch ein Zweirichtungsthyristor
der eingangs beschriebenen Art auf, wenn jeweils die an eine Hauptelektrode grenzende Schicht des
einen Teilthyristors in die von der benachbarten Schicht dieses Teilthyristors und von der an dieselbe
Hauptelektrode grenzende Schicht des anderen Teilthyristors gebildete in sich zusammenhängende Zone
gleichen Leitungstyps vollständig eingelassen ist und jede der beiden Hauptelektroden diese eingelassene
Schicht an einer Seite überlappt.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die Zündfestigkeil gegen die Anstiegsgeschwindigkeit der zwischen
den beiden Hauptelektroden des Halbleiterplättchens eines Zweirichtungsthyristors der eingangs beschriebenen
Art anliegenden Spannung zu erhöhen, ohne daß der seitliche Abstand der zwei sieh zwischen
diesen Hauptelektroden erstreckenden Gebiete nach der Diffusionslänge der Minoritätsladungsträger des
dazwischen liegenden Halbleitergebietes bemessen wird.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE2033566A DE2033566B2 (de) | 1970-07-07 | 1970-07-07 | Halbleitervorrichtung mit verbessertem Schutz gegen du/ tief dt Beanspruchung |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE2033566A DE2033566B2 (de) | 1970-07-07 | 1970-07-07 | Halbleitervorrichtung mit verbessertem Schutz gegen du/ tief dt Beanspruchung |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE2033566A1 DE2033566A1 (de) | 1972-01-27 |
| DE2033566B2 true DE2033566B2 (de) | 1976-01-02 |
Family
ID=5776001
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE2033566A Pending DE2033566B2 (de) | 1970-07-07 | 1970-07-07 | Halbleitervorrichtung mit verbessertem Schutz gegen du/ tief dt Beanspruchung |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE2033566B2 (de) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4439012A1 (de) * | 1994-11-02 | 1996-05-09 | Abb Management Ag | Zweirichtungsthyristor |
-
1970
- 1970-07-07 DE DE2033566A patent/DE2033566B2/de active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4439012A1 (de) * | 1994-11-02 | 1996-05-09 | Abb Management Ag | Zweirichtungsthyristor |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE2033566A1 (de) | 1972-01-27 |
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