[go: up one dir, main page]

DE2032872B2 - Verfahren zum Herstellen weichlötfähiger Kontakte zum Einbau von Halbleiterbauelementen in Gehäuse - Google Patents

Verfahren zum Herstellen weichlötfähiger Kontakte zum Einbau von Halbleiterbauelementen in Gehäuse

Info

Publication number
DE2032872B2
DE2032872B2 DE2032872A DE2032872A DE2032872B2 DE 2032872 B2 DE2032872 B2 DE 2032872B2 DE 2032872 A DE2032872 A DE 2032872A DE 2032872 A DE2032872 A DE 2032872A DE 2032872 B2 DE2032872 B2 DE 2032872B2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
layer
nickel
gold
soft
tin
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE2032872A
Other languages
English (en)
Other versions
DE2032872A1 (de
DE2032872C3 (de
Inventor
Detlev Schmitter
Hans Dipl.-Phys. Dr.Rer.Nat. Ullrich
Rudolf Dipl.-Phys. 8031 Gilching Woelfle
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE2032872A priority Critical patent/DE2032872B2/de
Priority to CH705871A priority patent/CH523593A/de
Priority to GB1297467D priority patent/GB1297467A/en
Priority to AT516671A priority patent/AT311462B/de
Priority to CA117082A priority patent/CA932877A/en
Priority to US00158458A priority patent/US3761309A/en
Priority to FR7124067A priority patent/FR2097133B1/fr
Priority to SE08630/71A priority patent/SE360779B/xx
Priority to NL7109193A priority patent/NL7109193A/xx
Publication of DE2032872A1 publication Critical patent/DE2032872A1/de
Publication of DE2032872B2 publication Critical patent/DE2032872B2/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2032872C3 publication Critical patent/DE2032872C3/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • H10W72/012
    • H10W72/072
    • H10W72/01255
    • H10W72/019
    • H10W72/07236
    • H10W72/07251
    • H10W72/20
    • H10W72/251
    • H10W72/252
    • H10W72/29
    • H10W72/923
    • H10W72/9415
    • H10W72/952
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10S428/922Static electricity metal bleed-off metallic stock
    • Y10S428/923Physical dimension
    • Y10S428/924Composite
    • Y10S428/926Thickness of individual layer specified
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10S428/922Static electricity metal bleed-off metallic stock
    • Y10S428/9335Product by special process
    • Y10S428/934Electrical process
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/12All metal or with adjacent metals
    • Y10T428/12389All metal or with adjacent metals having variation in thickness
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/12All metal or with adjacent metals
    • Y10T428/12493Composite; i.e., plural, adjacent, spatially distinct metal components [e.g., layers, joint, etc.]
    • Y10T428/12528Semiconductor component
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/12All metal or with adjacent metals
    • Y10T428/12493Composite; i.e., plural, adjacent, spatially distinct metal components [e.g., layers, joint, etc.]
    • Y10T428/12639Adjacent, identical composition, components
    • Y10T428/12646Group VIII or IB metal-base
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/12All metal or with adjacent metals
    • Y10T428/12493Composite; i.e., plural, adjacent, spatially distinct metal components [e.g., layers, joint, etc.]
    • Y10T428/12701Pb-base component
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/12All metal or with adjacent metals
    • Y10T428/12493Composite; i.e., plural, adjacent, spatially distinct metal components [e.g., layers, joint, etc.]
    • Y10T428/12736Al-base component
    • Y10T428/12764Next to Al-base component
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/12All metal or with adjacent metals
    • Y10T428/12493Composite; i.e., plural, adjacent, spatially distinct metal components [e.g., layers, joint, etc.]
    • Y10T428/12771Transition metal-base component
    • Y10T428/12861Group VIII or IB metal-base component
    • Y10T428/12889Au-base component
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/12All metal or with adjacent metals
    • Y10T428/12493Composite; i.e., plural, adjacent, spatially distinct metal components [e.g., layers, joint, etc.]
    • Y10T428/12771Transition metal-base component
    • Y10T428/12861Group VIII or IB metal-base component
    • Y10T428/12944Ni-base component
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/26Web or sheet containing structurally defined element or component, the element or component having a specified physical dimension
    • Y10T428/263Coating layer not in excess of 5 mils thick or equivalent
    • Y10T428/264Up to 3 mils
    • Y10T428/2651 mil or less
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/26Web or sheet containing structurally defined element or component, the element or component having a specified physical dimension
    • Y10T428/266Web or sheet containing structurally defined element or component, the element or component having a specified physical dimension of base or substrate

Landscapes

  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen weichlötfähiger Mctallkontakie zum Einbau von Halbleiterbauelementen, insbesondere von nach der Planartechnik gefertigten Halblcilerschaltungen. in Gehäuse mit Hilfe tier Face-down-Löttechnik. bei dem die das Halbleiterbauelement enthaltende Anordnung zunächst mit der aus Aluminium bestehenden Leitbahnstruktur versehen wird, bei dem dann die gesamte Anordnung mit einer Si(),-Schicht überzogen wird, bei dem mittels der bekannten Fotoätztechnik ein Teil der Aluniiniumstrukturcn freigelegt und eine weitere aus Titan bestehende Metallschicht und darüber eine aus Gold bestehende Metallschicht ganzflächig abgeschieden wird, bei dem dann die zuletzt aufgebrachte, aus GoItI bestehende Kontaktmetallschicht nach Durchführung einer weiteren Fotolacktechnik an tkn Im das Anbringen der wcichlötliihigen Metallkontakte vorgesehenen Stellen in bekannter Weise galvanisch verstärkt wird.
Bisher mußten komplizierte Verfuhren mit nicht hinreichend erprobten Metallisierungen und Metallschichteufolgen angewendet werden. Die Kontaktierung mit dem Subtrat geschah meist durch Thermokompression oder nail-head-bonding. Kine weitere Möglichkeit bietet die beam-lead-Teclinik. wobei Instabilitäten mit in Kauf genommen werden mu.isen. F-ine bekannte Technik zur Kontaktierung von vierpoligen inteurierten Schaltuimen ist aus der Zeitschrift T. B. M. .fRes. Devolop.« Mai IWJ, Vol. 13. Nr. 3. Seiten 22fi bis 23K. bekannt. Bei dieser als Facedov η-Bonding bezeichneten Technik werden Kontakthöcker verwendet, deren metallurgischer Aufbau so beschaffen ist, daß sie während des Kontaktierens an die gedruckten Leitungszüge auf dem Substrat nur teilweise schmelzen. Diese Hocker wtuL,. in der Weise hergestellt, daß auf die zu koniaktierende. mit einer Metallisierung, bestellend aus mehreren Metallfolgen, versehene Stelle der Halbleiteranordnung in ein Blei-Zinn-Lot eine Kupferkugel mittels einer entsprechenden Metallmaske aulgebracht und in das Lot einlegiert wird.
Die vorliegende Erfindung beschreilet einen anderen Weg. MetallkontrtAte entsprechend den in bekannten Verfahren vorliegenden Höckern herzustellen und erzielt damit eine gewisse Vereinfachung und andere Verbesserungen üegenüber den bekannten Verfahren.
Aus der britischen Patentschrift 9()2 4'·>5 ist Nickel als lötfähiges Metall bekannt, und aus der deutschen Auslegcschriit I lWi7W3 ist bekannt, daß Nickel vor dem eigentlichen Lötprozeß mit einer Zinnschicht versehen werden kann.
Des weiteren ist aus der genannten deutschen Auslegeschrill I 1 «Hi 71J3 bekannt, daß Nickelkontakte durch dünne Goldschichten geg-.-:n die l-inwirkung von Sauerstoff geschützt werden können.
Bei einer Löttechnik, wie sie bei tier Face-downl.öitechnik angewendet wird, ergab sich jedoch die Schwierigkeit, betriebssichere weichlötfähigc Metallanschlüsse auf Halbleiterbauelementen und HaIbIc iterschaltungen anzubringen, die außerdem verfahrenstechnisch und technologisch einfach herstellbar sind. Werden nämlich die bei diesbezüglichen Techniken häufig verwendeten Goldbumps mit einer Schicht aus Zinn oder einer Zinnlegierung versehen, so diffundiert das Zinn in das Gold hinein und schafft einen betrk'bsunsielieren Metallanschluß, da Zinn-Gold-Gemisclie sowohl mechanisch als auch thermisch als auch elektrisch instabile Kontakte darstellen.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es deshalb, weichlötfähige Metallanschlüsse auf Halbleiterbauelementen und Halbleiterschaltungen anzugeben, die für eine Lottechnik wie sie bei tier Face-down-Löttechnik angewendet wird, geeignet sind.
Diese Aufgabe wird cilindungsgeimiH dadurch gelöst, daß anschließend auf dieser verstärkten GoItI-schicht eine lötfähige Schutzschitz aus Nickel auf chemischem Wege (stromlos) abgeschieden wird.
Diese Maßnahme hat den Vorteil, die Instabilität verzinnter Goldbumps durch eine zwischengelagcrte Schutzschicht aus Nickel zu beheben und die Vorteile der Goldbumps und der Zinn- bzw. Zinnlegicrungsodcr Bleilot-Schichten nutzen zu können. Diese Zinn-Nickelschicht ver neidet ein F.indiffundieren des
/inns in die Goldschieht und schallt somit zu allen dicke SiO:-Schicht 3 durch Hl-Kathodenzerstäubung
anderen geforderten Eigenschaften hinzu außerdem (Sputlern) aufgebracht, so daß die in Fig. 2 darge-
heiriehssiehere Metallanschlusse. stellte Anordnung entsteht.
Dabei liegt es im Rahmen der Erfindung, als löiia- Mittels der bekannten Fotolacktechnik wird dann
higen Überzug eine Nickelschicht zu verwenden, wei- .s im Bereich der SiO,-Schicht 3 ein Fenster 4 geätzt,
ehe zunächst aus einem borhaltigen Nickelbad und wobei, wie in Fig. .1 abgebildet, die Al-Leitbahn-
dann aus einem phosphorhaltigen Nickelbad abge- struktur 2 zum Teil freigelegt wird,
schieden wird. F-"ig. 4 zeigt die ganzflächige Abscheidung von
Durch diese neue Methode werden die bis jetzt nur Titan 5 in einer Schichtstärke von 0,2 //m und von
für eine Thermokompression*-oder Ultra.iehall-Löt- i° Gold 6 in der gleichen Schichtdicke. Diese ganzflä-
teelinik hergestellten Kontaktanschlüsse durch das chige Abscheidung erfolgt durch Aufdampfen der rei-
stromlose Aufbringen eines lötfähigen Überzugs, der neu Metalle.
weder in das Trägermaterial eindiffundiert noch von Nach erfolgter Anwendung der Fotolacktechnik 7
dem verwendeten Lot beim Lötvorgang aufgelöst wird, wie in Fig. 5 abgebildet, die Herstellung der
wird, in für eine Löttechnik, z.B. Face-down-Löt- >5 Goldhöcker oder Bumps durch einfache galvanische
technik, geeignete Anschlüsse umgewandelt. Goldverstärkung vorgenommen. Die Goldbumps 8
Die sich daraus ergebenden Vorteile sind werden dabei bis zu einer Höhe von etwa 15/nnabge-
1. hohe Betriebssicherheit der so hergestellten schieden.
Bauelemente. Im Anschluß daran erfolgt ein Ablösen der Foio-
2. die tür die Flip-Chip-Kontaktiertechnik vorge- ^- lacksclitcht 7 sowie eine StrurJurätzung der ganz! Iasehenen Bauelementeanoulnunyen können chig aufgebrachten Ch)Id- und ; itanschieht mittels geebenso für die I-aee-dowii-Löttechn'\ und damit eigneter Losungsmittel, wobei die Goldbumps aK iür Hybridschaltungen verwendet .verden. Atzmaske dienen. Dabei entsteht die in F'g. fi dame-
3. sehr einfaches Herstellungsverfahren ohne zu- stellte Anordnung, weiche für eine Kontaktierung in sät/liehe Masken und komplizierte Fertigung*- 2S Flip-Chip-Technik durch Thermokompression oder teehniken, iiail-nead-bonding bereits geeignet ist.
4. geringe I lerstellkosten. L'm diesen Kontakt entsprechend der Lehre der
5. leichte Austauschbarkeit der Ijaiielemenlean- Erfindung für eine Face-down-Löttcchnik. welche gt-Ordnungen durch Weichlötmelhode. uenüber bekannten Lottechniken wesentliche bereits
h. durch die Kontakthocker (Goldbiimps) mit wei- 3" iiescliilderte Vorteile aufweist, verwendbar zu mater tolerierten Höhen wird kein absolut ehei.es chen. wird die gesamte Anordnung einem chemischen Substrat benötigt: auch müssen während des (stromlosen) Metallabscheideverfahren unterzogen. Lötvorgangs die Positionierung und die thernii- Dies ueschieht beispielsweise derart, daß die in Fin. (■> sehen Bedingungen nicht allzu streng eingehalten im Ausschnitt als Schnittbild dargestellte Anordnung werden. .15 nach vorheriger Reinigung in Aceton zunächst in ein
In einer Weilerbildung des Erfindungsgedaiikens borhaltiges Nickelbad und darauf in ein phosophor-
ist vorgesehen, zusätzlich zur Nickelschicht eine wei- haltige* Nickelbad eingebracht wird und unter Ein-
tere vveichlötfähige Schicht im Tauchverfahren aufzu- wirkung ν on Ultraschall und Wärme mit eiz-er Nickel-
bringen. Pabei hat sich eine aus Zinn, aus einer Blei- schicht 9. wie in F"ig. 7 dargestellt, überzogen wird.
Zinn-Legierung, aus Blei oder aus einer Blei-Silber- 40 Das erste Nickelbad besteht aus einer ammoniakali-
Indium-Lcgierung bestehende Schicht als besonders sehen Nickelsulfatlösung, welche Zusätze von Natri-
giinstig geeignet erwiesen. umborhydrid. Natriumborat und Ammoniumhydro-
Es liegt im Rahmen der vorliegenden Erfindung. gencitrat enthält. Das zweite Nickelbad besteht aus
die Schichtstärke der Nickelschicht auf etwa 1.5 /<m einer ammoniakalischen Nickelchloridlösung, welche
einzustellen. 45 Zusätze von Ammoniumchlorid. Natriumhypophos-
Zvveckmäßigerweise geschieht die Abscheidung der phit und Ammoniumhydrogencitrat enthält. Die Ver-
Nickelschicht unter Einwirkung von Ultraschall. nickelung dauert etwa K) Minuten, bis eine 1.5 //111
Nähere Einzelheiten der Erfindung sind aus dem dicke Nickelschicht aufgewachsen ist.
Ausführungsbeispiel, welches an Hand der Fig. I bis Da sich beider stromlosen Vernickelung das Nickel S näher beschrieben wird, zu entnehmen. Die Fig. I 5° nur auf Metallen abscheidet, bleiben alle mit SiO. (3) bis Ν zeigiMi den Fertigungsgang einer nach dem erfin- abgedeckten Stellen unvernickelt. d.h. nur die aus dungsgemäßen Verfahren mit einem weichlötfähigcn G.ild bestehenden Anschlüsse (Bumps H) werden mit Kontakt versehenen Halbleiteranordnung. Dabei einer Nickelschicht 9 überzogen,
wird der besserer. Übersicht wegen auf die Darstellung Da Nickel bei einer Löttemperatur von }^U C mader verschieden dotierten Zonen im Halbleiterkör- 55 ximal weder in Gold eindiffundiert noch im Lot (/. B. per verziehtet und nur das Anbringen der für die Zinn oder Blei für das Kontaktieren an das isolierende Kontaktierung notwendigen Metallschichten be- Substrat) wesentlich gelöst wird, wirkt es als lötfähige schrieben. Schutzschicht gegen ilen Angriff des Lotes auf das
In Fig. 1 wird von einer mil mehreren Halbleiter- Gold.
bauelementen bzw. Halbleiterschaltungen versehenen 60 Die Schichtenlolge Aluminium Titan Gold-Gold
Siliziumscheibe ausgegangen, wobei im Ausschnitt ist erprobt und wird durch die zusätzliche Vernicke-
nur ein mit einer Aluminiumleitbalinstruktur 2 verse- lung nicht verändert.
hener Bereich einer solchen .Siliziumkristallscheibe 1 Für besondere Zwecke kann die in Fig. 7 mit einer
abgebildet ist. Die Al-Leitbahnstrukturen werden Nickelschicht 9 überzogene Anordnung noch mit ei-
durch Masken aufgedimpft und in einer Schichtstärke 65 ncr zusätzlichen weichlötfähigcn Schicht. z.B. mit
von I /nil hergestellt Zinn, überzogen werden. F i g. 8 zeigt eine solche An-
Vor dem darauffolgenden Metallisierungsprozeß Ordnung, bei welcher nach dem Aufbringen der Nik-
vvird über das Leitba'insystem 1, 2 eine etw I mn kelschicht 9 eine Zinnschicht K) durch Tauchverzin-
neu aufgebracht ist. Λη Stelle μ>π /inn knnnen auch hindere /innlegieriingen oder bleihaltige I.cite \ei
wendet werden.
Die nach dem Verfahren nach der I.ehre der l-.rfin-ιΐιιημ heigestcllten I liiltileileriinoriliuingcn ^incl be- »>tens geeignet zur leiligung von integrierten Schal Hingen in I lybiidteehnik sowie /um liinhau in I)II' (Diial-lnliiie-l'lastieJ-Cieliiiiise. Die eingangs erwähnten I otdcrimgeii. die an diese Bauelemente ge stellt werden müssen, werden sehr gut erfüllt.
Hierzu I Blatt Zeichnungen

Claims (5)

Patentansprüche:
1. Verfahren zum Herstellen weichlotlahiger Metallknntakte zum Einbau von ILiIhleiterhauelementen, insbesondere \on nach der Planartechnik gefertigten Halhleiterschaltungen, in Gehäuse mit Hilfe der Face-dosvn-Löttechnik, hei dem die das Halbleiterbauelement enthaltende Anordnung zunächst mit der aus Aluminium he- m stehenden Leitbahnstruktur versehen wird, hei dem dann die gesamte Anordnung mit einer SiOj-Schicht überzogen wird, hei dem mittels der bekannten Fotoätztechnik ein Teil der Aluminiumstrukiuren freigelegt und eine weitere aus Titan bestehende Metallschicht und darüber eine aus Gold bestehende Metallschicht ganzflächig abgeschieden wird, hei dem dann die zuletzt aufgebrachte, aus Gold bestehende Koniaklmetallschicht nach Durchführung einer weiteren Fotolacklcchnik an Jen für das Anbringen der weichlötfähigen Metallkontakte vorgesehenen Stellen in bekannter Weise galvanisch verstärkt wird, dadurch gekennzeichnet, dal.» anschließend nut dieser verstärkten Goldschiehl eine lotfähige Schutzschicht aus Nickel auf chemischem Wege (stromlos) abgeschieden wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1. dadurch gekennzeichnet, daß die Nickelschicht zunächst aus einem borhaltigen Nickelbad und dann aus einem phosphorhaltigeii Nickelbad abgeschieden wird.
3. Verfahren nach Anspruch 2. dadurch gekennzeichnet, daß die Nickelscnicht in einer Schichtstärke von etwa 1,5 ;/m:.<bgi ichieden wird.
4. Verfahren nach Anspruch 1 bis 3. dadurch gekennzeichnet, daß die Abscheidung tier Nickelschichl unter Linwirkung \on Ultraschall vorgenommen wird.
5. Verfahren nach Anspruch I bis 4. dadurch gekennzeichnet, daß zusätzlich zur Nickelschicht eine Weichlotscliichi im Tauchverfahren aufgebracht wird.
0. Verfahren nach Anspruch 5. dadurch gekennzeichnet, daß als Weichlot eine Zinnschicht, eine Blei-Zinn-Schicht, eine Bleischicht oder eine Blci-Silber-Iiidium-Schicht zusätzlich zur Nickelschicht aufgebracht wird.
DE2032872A 1970-07-02 1970-07-02 Verfahren zum Herstellen weichlötfähiger Kontakte zum Einbau von Halbleiterbauelementen in Gehäuse Granted DE2032872B2 (de)

Priority Applications (9)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2032872A DE2032872B2 (de) 1970-07-02 1970-07-02 Verfahren zum Herstellen weichlötfähiger Kontakte zum Einbau von Halbleiterbauelementen in Gehäuse
CH705871A CH523593A (de) 1970-07-02 1971-05-13 Verfahren zum Herstellen weichlötfähiger Metallkontakte
GB1297467D GB1297467A (de) 1970-07-02 1971-06-09
AT516671A AT311462B (de) 1970-07-02 1971-06-15 Verfahren zum Herstellen weichlötfähiger Metallkontakte für den elektrischen Anschluß von Halbleiterbauelementen in Gehäusen
CA117082A CA932877A (en) 1970-07-02 1971-06-30 Production of soft-solderable contacts for the installation of semiconductor components into housings
US00158458A US3761309A (en) 1970-07-02 1971-06-30 Ctor components into housings method of producing soft solderable contacts for installing semicondu
FR7124067A FR2097133B1 (de) 1970-07-02 1971-07-01
SE08630/71A SE360779B (de) 1970-07-02 1971-07-02
NL7109193A NL7109193A (de) 1970-07-02 1971-07-02

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2032872A DE2032872B2 (de) 1970-07-02 1970-07-02 Verfahren zum Herstellen weichlötfähiger Kontakte zum Einbau von Halbleiterbauelementen in Gehäuse

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE2032872A1 DE2032872A1 (de) 1972-01-05
DE2032872B2 true DE2032872B2 (de) 1975-03-20
DE2032872C3 DE2032872C3 (de) 1975-10-30

Family

ID=5775639

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE2032872A Granted DE2032872B2 (de) 1970-07-02 1970-07-02 Verfahren zum Herstellen weichlötfähiger Kontakte zum Einbau von Halbleiterbauelementen in Gehäuse

Country Status (9)

Country Link
US (1) US3761309A (de)
AT (1) AT311462B (de)
CA (1) CA932877A (de)
CH (1) CH523593A (de)
DE (1) DE2032872B2 (de)
FR (1) FR2097133B1 (de)
GB (1) GB1297467A (de)
NL (1) NL7109193A (de)
SE (1) SE360779B (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3406542A1 (de) * 1984-02-23 1985-08-29 Telefunken electronic GmbH, 7100 Heilbronn Verfahren zum herstellen eines halbleiterbauelementes

Families Citing this family (48)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4113578A (en) * 1973-05-31 1978-09-12 Honeywell Inc. Microcircuit device metallization
US4094675A (en) * 1973-07-23 1978-06-13 Licentia Patent-Verwaltungs-G.M.B.H. Vapor deposition of photoconductive selenium onto a metallic substrate having a molten metal coating as bonding layer
DE2428373C2 (de) * 1974-06-12 1982-05-27 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren zum Herstellen von weichlötbaren Anschlußkontakten auf einer Halbleiteranordnung
US4087314A (en) * 1976-09-13 1978-05-02 Motorola, Inc. Bonding pedestals for semiconductor devices
IT1075077B (it) * 1977-03-08 1985-04-22 Ates Componenti Elettron Metodo pr realizzare contatti su semiconduttori
US4293637A (en) * 1977-05-31 1981-10-06 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method of making metal electrode of semiconductor device
US4394678A (en) * 1979-09-19 1983-07-19 Motorola, Inc. Elevated edge-protected bonding pedestals for semiconductor devices
NL186354C (nl) * 1981-01-13 1990-11-01 Sharp Kk Halfgeleiderinrichting die uit iii-v verbindingen bestaat, met een samengestelde elektrode.
US4505029A (en) * 1981-03-23 1985-03-19 General Electric Company Semiconductor device with built-up low resistance contact
WO1982003727A1 (fr) * 1981-04-21 1982-10-28 Seiichiro Aigoo Procede de fabrication d'un dispositif a semi-conducteur possedant une electrode saillante plaquee
JPS5830147A (ja) * 1981-08-18 1983-02-22 Toshiba Corp 半導体装置
DE3280233D1 (de) * 1981-09-11 1990-10-04 Toshiba Kawasaki Kk Verfahren zum herstellen eines substrats fuer multischichtschaltung.
US4447857A (en) * 1981-12-09 1984-05-08 International Business Machines Corporation Substrate with multiple type connections
US4486511A (en) * 1983-06-27 1984-12-04 National Semiconductor Corporation Solder composition for thin coatings
US4899199A (en) * 1983-09-30 1990-02-06 International Rectifier Corporation Schottky diode with titanium or like layer contacting the dielectric layer
US4495222A (en) * 1983-11-07 1985-01-22 Motorola, Inc. Metallization means and method for high temperature applications
US4600658A (en) * 1983-11-07 1986-07-15 Motorola, Inc. Metallization means and method for high temperature applications
JPH0684546B2 (ja) * 1984-10-26 1994-10-26 京セラ株式会社 電子部品
NL8600021A (nl) * 1986-01-08 1987-08-03 Philips Nv Werkwijze voor het vervaardigen van een halfgeleiderinrichting waarbij op een halfgeleiderlichaam een metallisatie met een dikke aansluitelektrode wordt aangebracht.
JPH0815152B2 (ja) * 1986-01-27 1996-02-14 三菱電機株式会社 半導体装置及びその製造方法
US5270253A (en) * 1986-01-27 1993-12-14 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Method of producing semiconductor device
US4742023A (en) * 1986-08-28 1988-05-03 Fujitsu Limited Method for producing a semiconductor device
US4813129A (en) * 1987-06-19 1989-03-21 Hewlett-Packard Company Interconnect structure for PC boards and integrated circuits
US4878990A (en) * 1988-05-23 1989-11-07 General Dynamics Corp., Pomona Division Electroformed and chemical milled bumped tape process
US4878294A (en) * 1988-06-20 1989-11-07 General Dynamics Corp., Pomona Division Electroformed chemically milled probes for chip testing
US5027062A (en) * 1988-06-20 1991-06-25 General Dynamics Corporation, Air Defense Systems Division Electroformed chemically milled probes for chip testing
US5079223A (en) * 1988-12-19 1992-01-07 Arch Development Corporation Method of bonding metals to ceramics
US5130779A (en) * 1990-06-19 1992-07-14 International Business Machines Corporation Solder mass having conductive encapsulating arrangement
JPH04346231A (ja) * 1991-05-23 1992-12-02 Canon Inc 半導体装置の製造方法
US5515604A (en) * 1992-10-07 1996-05-14 Fujitsu Limited Methods for making high-density/long-via laminated connectors
US5396702A (en) * 1993-12-15 1995-03-14 At&T Corp. Method for forming solder bumps on a substrate using an electrodeposition technique
JP3271475B2 (ja) * 1994-08-01 2002-04-02 株式会社デンソー 電気素子の接合材料および接合方法
GB2300375B (en) * 1994-08-01 1998-02-25 Nippon Denso Co Bonding method for electric element
DE4442960C1 (de) * 1994-12-02 1995-12-21 Fraunhofer Ges Forschung Lothöcker für die Flip-Chip-Montage und Verfahren zu dessen Herstellung
TW453137B (en) * 1997-08-25 2001-09-01 Showa Denko Kk Electrode structure of silicon semiconductor device and the manufacturing method of silicon device using it
WO2005093816A1 (en) * 2004-03-05 2005-10-06 Infineon Technologies Ag Semiconductor device for radio frequency applications and method for making the same
DE102005058654B4 (de) * 2005-12-07 2015-06-11 Infineon Technologies Ag Verfahren zum flächigen Fügen von Komponenten von Halbleiterbauelementen
FR2913145B1 (fr) * 2007-02-22 2009-05-15 Stmicroelectronics Crolles Sas Assemblage de deux parties de circuit electronique integre
US8264072B2 (en) 2007-10-22 2012-09-11 Infineon Technologies Ag Electronic device
TWI445147B (zh) * 2009-10-14 2014-07-11 日月光半導體製造股份有限公司 半導體元件
TW201113962A (en) * 2009-10-14 2011-04-16 Advanced Semiconductor Eng Chip having metal pillar structure
TWI478303B (zh) 2010-09-27 2015-03-21 日月光半導體製造股份有限公司 具有金屬柱之晶片及具有金屬柱之晶片之封裝結構
TWI451546B (zh) 2010-10-29 2014-09-01 日月光半導體製造股份有限公司 堆疊式封裝結構、其封裝結構及封裝結構之製造方法
US8587120B2 (en) * 2011-06-23 2013-11-19 Stats Chippac, Ltd. Semiconductor device and method of forming interconnect structure over seed layer on contact pad of semiconductor die without undercutting seed layer beneath interconnect structure
US8435881B2 (en) * 2011-06-23 2013-05-07 STAT ChipPAC, Ltd. Semiconductor device and method of forming protective coating over interconnect structure to inhibit surface oxidation
US8884443B2 (en) 2012-07-05 2014-11-11 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Substrate for semiconductor package and process for manufacturing
US8686568B2 (en) 2012-09-27 2014-04-01 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Semiconductor package substrates having layered circuit segments, and related methods
EP2905611B1 (de) * 2014-02-06 2018-01-17 ams AG Herstellungsverfahren einer Halbleitervorrichtung mit herausragenden Kontakten

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3178271A (en) * 1960-02-26 1965-04-13 Philco Corp High temperature ohmic joint for silicon semiconductor devices and method of forming same
DE1514885A1 (de) * 1965-10-21 1969-11-06 Telefunken Patent Halbleiteranordnung,insbesondere Planartransistor,Diode oder integrierte Schaltung
US3585461A (en) * 1968-02-19 1971-06-15 Westinghouse Electric Corp High reliability semiconductive devices and integrated circuits

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3406542A1 (de) * 1984-02-23 1985-08-29 Telefunken electronic GmbH, 7100 Heilbronn Verfahren zum herstellen eines halbleiterbauelementes

Also Published As

Publication number Publication date
DE2032872A1 (de) 1972-01-05
FR2097133B1 (de) 1977-06-03
US3761309A (en) 1973-09-25
AT311462B (de) 1973-11-26
NL7109193A (de) 1972-01-04
DE2032872C3 (de) 1975-10-30
SE360779B (de) 1973-10-01
GB1297467A (de) 1972-11-22
CH523593A (de) 1972-05-31
CA932877A (en) 1973-08-28
FR2097133A1 (de) 1972-03-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2032872B2 (de) Verfahren zum Herstellen weichlötfähiger Kontakte zum Einbau von Halbleiterbauelementen in Gehäuse
DE4442960C1 (de) Lothöcker für die Flip-Chip-Montage und Verfahren zu dessen Herstellung
DE10208635B4 (de) Diffusionslotstelle, Verbund aus zwei über eine Diffusionslotstelle verbundenen Teilen und Verfahren zur Herstellung der Diffusionslotstelle
WO1996016442A1 (de) Kernmetall-lothöcker für die flip-chip-technik
DE102005028951B4 (de) Anordnung zur elektrischen Verbindung einer Halbleiter-Schaltungsanordnung mit einer äusseren Kontakteinrichtung
DE2440481B2 (de) Verfahren zum herstellen von duennschicht-leiterzuegen auf einem elektrisch isolierenden traeger
DE4313980B4 (de) Integrierte Hybridschaltung und Verfahren zu deren Herstellung
EP0950261B1 (de) Halbleiterkörper mit rückseitenmetallisierung
EP0147640A1 (de) Verfahren zur galvanischen Herstellung metallischer, höckerartiger Anschlusskontakte
EP2481083B1 (de) Verfahren zur herstellung eines elektronischen bauteils und nach diesem verfahren hergestelltes bauteil
DE1614306C3 (de) Verfahren zur Herstellung elektrischer Anschlüsse auf einer Oberfläche eines elektronischen Bauelementes und durch Anwendung dieses Verfahrens hergestelltes Bauelement
DE69425348T2 (de) Verbindungsschicht für Halbleiterbauelement und Verfahren zu ihrer Herstellung
DE3787772T2 (de) Halbleiterchip mit einer Höckerstruktur für automatische Bandmontage.
DE1614668A1 (de) Halbleiter-Anordnung mit gut loetbaren Kontaktelektroden
DE19542043A1 (de) Bleifreie Niedertemperaturlegierung und Verfahren zur Bildung einer mechanisch überlegenen Verbindung unter Verwendung dieser Legierung
DE3830131C2 (de)
DE19942885A1 (de) Halbleiter-Bauelement
DE19603654C1 (de) Verfahren zum Löten eines Halbleiterkörpers auf eine Trägerplatte und Halbleiterkörper zur Durchführung des Verfahrens
DE2650348A1 (de) Elektrische schaltungsanordnung
EP0056472A2 (de) Elektronische Dünnschichtschaltung
DE2327878C3 (de) Verfahren zum Ätzen von mit Elektroden versehenen Halbleiterscheiben für Halbleiterbauelemente
DE3704200A1 (de) Verfahren zur herstellung einer verbindung zwischen einem bonddraht und einer kontaktflaeche bei hybriden dickschicht-schaltkreisen
DE1614653C3 (de) Halbleiteranordnung hoher Strombelastbarkeit
DE2207012C2 (de) Verfahren zur Kontaktierung von Halbleiterbauelementen
DE10136891B4 (de) Verfahren zum Erzeugen eines flächenhaften Basismaterials aus Metall

Legal Events

Date Code Title Description
C3 Grant after two publication steps (3rd publication)
EHJ Ceased/non-payment of the annual fee