DE19726305C2 - System zum Transportieren von Objekten zwischen Umgebungen mit kontrollierten Bedingungen - Google Patents
System zum Transportieren von Objekten zwischen Umgebungen mit kontrollierten BedingungenInfo
- Publication number
- DE19726305C2 DE19726305C2 DE19726305A DE19726305A DE19726305C2 DE 19726305 C2 DE19726305 C2 DE 19726305C2 DE 19726305 A DE19726305 A DE 19726305A DE 19726305 A DE19726305 A DE 19726305A DE 19726305 C2 DE19726305 C2 DE 19726305C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- stage
- housing
- hatch
- transport system
- door
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- H10P72/3406—
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S414/00—Material or article handling
- Y10S414/135—Associated with semiconductor wafer handling
- Y10S414/137—Associated with semiconductor wafer handling including means for charging or discharging wafer cassette
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S414/00—Material or article handling
- Y10S414/135—Associated with semiconductor wafer handling
- Y10S414/139—Associated with semiconductor wafer handling including wafer charging or discharging means for vacuum chamber
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S414/00—Material or article handling
- Y10S414/135—Associated with semiconductor wafer handling
- Y10S414/14—Wafer cassette transporting
Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf Systeme mit hermetisch
abgedichteten Transportkästen (SMIF-Systeme) zum Transportieren von
Halbleiterwafern zwischen Umgebungen mit kontrollierten Bedingungen
während der zur Herstellung integrierter Schaltungen (IC's) erfolgen
den Bearbeitung der Wafer.
Bei der Herstellung integrierter Schaltungen wird ein kreisförmiger
Wafer aus monokristallinem Silicium einer Reihe von bekann
ten Bearbeitungsschritten wie Oxidation zur Bildung von Isolations
schichten aus Siliciumdioxid, Abscheidung von Metallschichten und
Maskieren und Ätzen der Metallschichten zur Bildung leitender Bahnen,
ausgesetzt. Auf diese Weise werden eine große Anzahl extrem kleiner
und komplexer integrierter elektrischer Schaltungen auf dem Halblei
terwafer gebildet. Wegen der sehr kleinen Größe dieser Schaltungsan
ordnungen genügt schon ein relativ kleines Verunreinigungspartikel, um
einen Kurzschluß oder einen unterbrochenen Stromkreis zu verursachen.
Eine solche Verunreinigung kann auch verhindern, daß Prozeßchemikalien
gewisse Bereiche des Wafers während Bearbeitungsschritten erreichen,
die für die Schaltungserzeugung kritisch sind. Zu den möglichen
Teilchenverunreinigungsquellen gehören das Personal, die Handhabungs
ausrüstung, Prozeßchemikalien, die sich bewegende Luft und die Wafer
selbst.
Bei früheren Versuchen zur Überwindung der Verunreinigungsprobleme war
es erforderlich, die Halbleiterwafer in Reinräumen mit gefilterter und
zirkulierender Luft und geeignetem Personal zu bearbeiten. Solche
Reinraumumgebungen bringen aber leider verschiedene Nachteile mit
sich. Speziell entworfene Reinräume sind teuer zu bauen und zu er
halten und außerdem ziemlich schwierig und teuer zu betreiben, da das
Personal, das in solchen Räumen arbeitet, immer hundertprozentig
geeignet sein muß. Außerdem ist das Reinraumverfahren oft nicht aus
reichend wirksam, wenn die kleinste Strukturgröße auf dem Wafer unter
1 µm liegt, was man jetzt dort antreffen kann, wo die Bemessungen bei
den neueren integrierten Schaltungsprodukten reduziert wurden.
Eine ziemlich neue Entwicklung zur Überwindung dieser Nachteile der
Reinräume ist die Verwendung von Waferkassetten bei den sogenannten
SMIF-Systemen, d. h. den Systemen mit hermetisch abgedichteten Trans
portkästen. Diese Systeme basieren auf dem Grundgedanken, daß ein
relativ kleines Volumen partikelfreier Luft um jedes Bearbeitungs
gerät, ohne interne Quelle zur Erzeugung von Partikeln, eine verbes
serte, von Verunreinigungen freie Umgebung für die Bearbeitung von
Siliciumwafern liefert.
Ein SMIF-System besteht aus zwei Grundbestandteilen, einer Mini-Umge
bung mit kontrollierten Bedingungen unter einem Schutzdach oder einem
anderen Gehäuse, das den Waferbearbeitungsmechanismus bzw. die
Waferbearbeitungsmechanismen jedes Bearbeitungsgeräts umgibt, und einer
reinen Umgebung mit kontrollierten Bedingungen in einem Waferträger
oder einer Schutzbox zum Transportieren von Wafern von einem Bear
beitungsgerät zum anderen. Jeder Träger muß eine Kassette oder einen
anderen Halter zum Halten von mehreren Halbleiterwafern umfassen.
Anstatt eine reine Umgebung in einem gesamten Raum aufrechtzuerhalten,
in dem außerdem Personal arbeitet, wird eine reine Mini-Umgebung
lediglich innerhalb der Bearbeitungsmaschine und in der Schutzbox
zum Tragen und Transportieren der Wafer aufrechterhalten.
Die Kassette, die die Wafer hält, wird aus der reinen Umgebung des
Trägers in die reine Umgebung der Bearbeitungsmaschine durch eine Luke
in dem Schutzdach der Bearbeitungsmaschine transportiert. Nachdem die
einzelnen Wafer bearbeitet worden sind, werden sie in die gleiche oder
eine andere Kassette zurückgesetzt, und die wieder neu geladene Kas
sette wird dann in den gleichen oder einen anderen Träger durch die
gleiche oder eine andere Schutzdachluke transportiert.
Ein Beispiel eines herkömmlichen SMIF-Systems ist in den US-Patenten
Nr. 4,532,970 und Nr. 4,616,683 beschrieben, auf deren Inhalt hier
ausdrücklich Bezug genommen wird. Herkömmliche SMIF-Systeme dieser Art
weisen verschiedene Nachteile auf, die sich aus der Notwendigkeit des
Absenkens der Kassette von einer oberen Trägerladestation außerhalb
des Schutzgehäuses in eine untere Kassettenentladestation innerhalb des
Schutzgehäuses ergeben, wie es in der Fig. 1 dargestellt ist. Diese An
ordnung erfordert es oft, daß die Ladestation oberhalb der optimalen
ergonomischen Höhe für leichte Plazierung des Trägers mit der Hand in
die Ladestation liegt. Ein weiterer Nachteil besteht darin, daß die
nach unten und oben gerichtete Bewegung der Kassette in dem Schutz
gehäuse ein Anstoßen der einzelnen Wafer nach sich ziehen kann, wodurch
sich Verunreinigungspartikel lösen, die in die Luft gelangen.
Außerdem werden die Waferkassetten oft in Stufen nach unten an einem
in fest angebrachter Höhe sitzenden Roboterarm vorbei weitergeschal
tet, so daß der Roboterarm einzelne Kassetten zur Bearbeitung entneh
men kann. Die Reibung zwischen dem Wafer und der Kassettenstruktur
kann in der Luft Verunreinigungspartikel erzeugen, wenn die Wafer
geladen und entladen werden. Wenn die Kassette dann nach unten oder
oben nach dem Entnehmen oder Wiedereinsetzen eines bestimmten Wafers
bewegt wird, muß der nächste Wafer durch die sich in der Luft befin
dende Verunreinigung laufen, die durch die Handhabung des vorhergehen
den Wafers erzeugt wurde.
In der deutschen Offenlegungsschrift DE 43 32 657 A1 ist ein System zum Ein
schleusen von Wafern in einen Reinstraum beschrieben. Dabei werden die Wafer
beim Einschleusen in einer Waferkassette innerhalb einer Transportbox ge
halten, die eine haubenförmige Abdeckung und eine Tür zum Schließen des Bodens
der Abdeckung aufweist. Im geschlossenen Zustand der Transportbox trägt die
Tür der Box die Waferkassette. Die Wafer in der Transportbox, in der Reinst
raumbedingungen herrschen, lassen sich mittels des beschriebenen Systems in
ein ebenfalls unter Reinstraumbedingungen stehendes Gehäuse einschleusen, das
aus einer Schleuse und einer mit der Schleuse verbundenen Anlage zur
Bearbeitung der Wafer besteht. Die Schleuse weist eine Schleusentür auf, auf
der die Box während des Einschleusens in die Bearbeitungsanlage aufgesetzt
wird und die eine durch einen in senkrechter Richtung beweglichen
Schleusenrahmen definierte Öffnung zu Beginn des Einschleusungsvorgangs
verschließt. Der Schleusenrahmen greift unten an der Abdeckung der
Transportbox an und läßt sich durch Hubmittel senkrecht von einer unteren
Position, an der die Schleusentür die durch den Schleusenrahmen definierte
Öffnung schließt, in eine obere Position bewegen, an der er die Abdeckung der
Box über die Schleusentülr anhebt, um einer zur Bearbeitungsanlage gehörenden
Handhabungsvorrichtung den Zugriff auf die Wafer zu ermöglichen. Der Ober
begriff des Anspruchs 1 beruht auf dem in dieser Druckschrift beschriebenen
System.
Die Aufgabe der Erfindung liegt darin, ein System mit den Merkmalen des in
der DE 43 32 657 A1 dargestellten Systems zum Transportieren von Objekten
zwischen Umgebungen mit kontrollierten Bedingungen zu entwickeln, bei dem
durch einfache Mittel sichergestellt wird, daß eine Umgebung mit kontroll
ierten Bedingungen um eine Station zum Bearbeiten der Objekte herum während
des Transportvorgangs in die Umgebung oder aus der Umgebung heraus nicht ver
unreinigt wird.
Diese Aufgabe wird durch die im kennzeichnenden Teil des Anspruchs 1
angegebenen Mittel gelöst.
Ein Aspekt der vorliegenden Erfindung besteht darin,
zu
verhindern, daß empfindliche Objekte mit Partikeln verunreinigt wer
den, indem die vertikale Bewegung der Objekte vermieden wird, während
diese in einem Objekthalter gestapelt sind.
Ein weiterer Aspekt der Erfindung besteht darin, eine zweite Mini-
Umgebung mit kontrollierten Bedingungen so zu erweitern, daß sie eine
erste Mini-Umgebung mit kontrollierten Bedingungen einschließt, um so
das Ausmaß an Bewegung, das zur Berarbeitung eines Objektes in einer
Umgebung mit kontrollierten Bedingungen erforderlich ist, zu reduzie
ren.
Ein weiterer Aspekt der Erfindung besteht darin, ein SMIF-System zu
schaffen, das eine festgelegte vertikale Plazierung eines Waferhalters
in einer ergonomischen Höhe und eine rein horizontale Bewegung des
Waferhalters in einer Umgebung mit kontrollierten Bedingungen ermög
licht.
Ein weiterer Aspekt der Erfindung besteht darin, in vertikaler
Richtung in Stufen geschaltete Handhabungsmittel zum Entnehmen von
Objekten aus und zum Setzen von Objekten in einen in vertikaler
Richtung feststehenden Objekthalter zu liefern.
Es ist außerdem ein Aspekt der Erfindung, eine
Vorrichtung zum Transportieren von Halbleiterwafern aus einem SMIF-
Träger in eine Waferbearbeitungsstation zu liefern, ohne daß eine
Mini-Umgebung mit kontrollierten Bedingungen bei der Bearbeitungs
station verunreinigt wird.
Ferner besteht ein weiterer Aspekt der Erfindung darin, die Verwen
dung eines SMIF-Trägers mit Bearbeitungsgeräten in einem Gehäuse
mit einer Mini-Umgebung mit kontrollierten Bedingungen zu ermöglichen
und eine Vorrichtung zur Steuerung der Wechselwir
kung zwischen dem SMIF-Träger und den Bearbeitungsgeräten zu schaffen.
Darüber hinaus besteht ein Aspekt der Erfindung darin, ein Trans
portsystem für Halbleiterwafer zu schaffen, bei dem die vertikale
Plazierung des Waferhalters festgelegt ist und bei dem die horizontale
Bewegung und Orientierung des Waferhalters gesteuert wird, um den
Wafertransport in der Mini-Umgebung der Waferbearbeitungsgeräte zu
vereinfachen.
Ferner besteht noch ein weiterer Aspekt der Erfindung darin, ein
Halbleiterwafer-Handhabungssystem zu schaffen, bei dem die Möglich
keit, daß die Wafer Stößen und Schwingungen ausgesetzt werden, durch
die festgelegte vertikale Plazierung des Waferhalters beträchtlich
reduziert wird.
Die Vorteile der vorliegenden Erfindung gegenüber zum Stand der
Technik gehörenden SMIF-Systemen werden im folgenden aufgezählt. Die
Erfindung ermöglicht das Laden des Waferträgers (Schutzboxaufbau)
auf dem Gehäuse (Schutzdach) des Bearbeitungswerkzeugs in einer
ergonomischen Standardposition. Während des Ladens und Entladens der
Wafer werden diese niemals in den gleichen Luftraum wie die Trägertür,
die Lukentür oder der vorhergehende Wafer gesetzt, da der Waferhand
habungsroboter das gesamte Schalten in vertikaler Richtung alleine
übernimmt, während der Objekthalter seine vertikale Lage nicht verän
dert. Die Erfindung verwendet ein sehr zuverlässiges Wafererkennungs
system, um das an dem Wafer angreifende Element des Roboters in Stufen
zu schalten. Sie bietet einen modularen Aufbau, so daß sie leicht
auseinanderzunehmen ist, und verbessert dadurch die Wartungsfreund
lichkeit des Transportsystems. Sie ermöglicht es vielen Bearbeitungs
werkzeugen, ihre gewöhnlichen Wafertransport- und Handhabungsverfahren
zu verwenden. Sie läßt sich an viele bestehende Bearbeitungswerkzeuge
mit wesentlich weniger Veränderungen anpassen, als sie bei anderen
SMIF-Systementwürfen erforderlich sind. Der Waferhalter (Kassette)
wird nicht in vertikaler Richtung in Stufen weitergeschaltet, sondern
bleibt während der Öffnung des Waferträgers ungestört, was dadurch
erreicht wird, daß nur die Lukenplatte und die Trägerabdeckung in
vertikaler Richtung bewegt werden.
Die Erfindung ermöglicht außerdem eine verbesserte Ausrichtung des an
dem Wafer angreifenden Elementes des Roboters zur Waferkassette, die
auf einfache Weise durch eine horizontal bewegliche und drehbare
Transportbühne in die richtige Ausrichtung gebracht wird. Eine Reihe
von Waferhandhabungskonfigurationen sind möglich, da die Lukentür des
Bearbeitungswerkzeugs auf der Transportbühne angebracht ist und die
Lukentür und die Kassette bereits auf der Lukentür ruhen, wenn die
Trägertür entriegelt wird und die Trägerabdeckung in vertikaler
Richtung versetzt wird. Die Verwendung von transparenten antistati
schen Plastikplatten bei Teilen des Gehäuses, die die Transport
kammer in der Nähe der Bearbeitungswerkzeugkammer definieren, erlaubt
die optische Überwachung der Waferhandhabung während der Transport-
und Bearbeitungsoperationen. Obwohl die unten beschriebene Ausfüh
rungsform speziell für den Betrieb mit zwei Kassetten gedacht ist,
kann die Erfindung leicht an den Betrieb mit einer Kassette angepaßt
werden, was für Fachleute ersichtlich ist.
Diese und andere Vorteile werden durch die vorliegende
Erfindung erzielt, die eine Vorrichtung zum Trans
portieren von Objekten, z. B. Halbleiterwafern, zwischen zwei Umgebun
gen mit kontrollierten Bedingungen schafft. Die erste Umgebung mit
kontrollierten Bedingungen wird durch einen Objektträger mit einer
Abdeckung und einer Tür zum Abdichten einer Öffnung in dem Boden der
Abdeckung definiert. Die zweite Umgebung mit kontrollierten Bedingun
gen wird durch ein Gehäuse oder ein Schutzdach um die Geräte
zur Bearbeitung des Objekts definiert. Der Objektträger enthält Hal
termittel zum Tragen von wenigstens einem Objekt, vorzugsweise mehre
ren Objekten, auf der Bodentür des Trägers.
Eine Öffnung in dem Gehäuse wird durch eine Lukenplatte definiert, die
als ein in vertikaler Richtung beweglicher Lukenrahmen dient, und eine
Lukentür ist zum Schließen dieser Öffnung vorgesehen. Die Lukentür ist
fest an einer Transportbühne angebracht, die dazu dient, die Lukentür,
die Trägertür und den Objekthalter in einer festgelegten vertikalen
Höhe in dem Gehäuse zu tragen. Die Trägerabdeckung kann von der Luken
platte angegriffen werden, um zusammen mit dieser bewegt zu werden,
und Hubmittel sind vorgesehen, um die Lukenplatte zwischen einer un
teren und einer oberen Position zu bewegen. In der unteren Position
der Lukenplatte schließt die Lukentür die Gehäuseöffnung. In der obe
ren Position der Lukenplatte ist die Trägerabdeckung angehoben, um
einem Objektbearbeitungsgerät den Zugang zu dem Objekthalter zu ermög
lichen, während der Objekthalter auf der Trägertür ruht, die wiederum
auf der Lukentür ruht, die einen Teil der tragenden Bühne bildet.
Das Hubmittel zum Bewegen der Lukenplatte zwischen seiner unteren
und seiner oberen Position kann auf drei Seiten eines Kugelumlaufspindelaufbaus,
der durch eine Kugelumlaufspindel angetrieben wird, eine sich in
vertikaler Richtung erstreckende Führungsschiene, Mittel zur Verbin
dung des Mutteraufbaus mit der Lukenplatte und Antriebsmittel zum
Drehen der Spindel umfassen, um die Kugelumlaufspindel entlang der
vertikalen Führungsschiene zu bewegen.
Während die Trägerabdeckung angehoben ist, ist keine Bewegung der
tragenden Bühne für die Objekte in dem Halter erforderlich, um diese
durch ein Objektangriffsmittel des Bearbeitungsgeräts zu erreichen und
um an diesen anzugreifen. Jedoch enthält das Transportsystem der
Erfindung vorzugsweise Transportmittel zum Bewegen der Transportbühne
in horizontaler Richtung, um den Halter aus seiner anfänglichen unbe
deckten Position zu einer Objektbearbeitungsposition zu bewegen, an
der die einzelnen Objekte zur Bearbeitung in dem Gehäuse ent
nommen werden. Dieses Transportmittel ist so angeordnet, daß es die
Bühne zwischen der zurückgezogenen Position mit freigelegten Wafern, bei der der
Halter unter der Trägerabdeckung nicht abgedeckt ist, und einer
ausgefahreren Objektbearbeitungsposition bewegt, an der das Handha
bungsmittel eines Objektbearbeitungsgeräts an dem Objekt angreifen
kann.
Das Transportmittel umfaßt vorzugsweise sowohl Translationsbewegungs
mittel, um der Bühne eine Translationsbewegung zu dem Bereich des
Bearbeitungsgerätes und von diesem Bereich weg zu verleihen, als auch
Rotationsbewegungsmittel, um der Bühne eine Rotationsbewegung zu
verleihen, damit der Objekthalter relativ zum Bearbeitungsgerät aus
gerichtet wird. Dies ist insbesondere dann wünschenswert, wenn nach dem
Eintritt in die Umgebung mit kontrollierten Bedingungen des Gehäuses
der Objekthalter in die Nähe des Bearbeitungsgerätes bewegt und dann
in eine Position gedreht werden muß, die vertikal in Stufen geschaltet
ist für die Ausrichtung auf das Objektangriffsmittel des Bearbeitungs
geräts.
Das Translationsbewegungsmittel umfaßt vorzugsweise eine gebogene oder
gerade Schiene, einen an der Schiene angreifenden Wagen, der an der
Schiene entlang bewegt wird, und Antriebsmittel zum Schieben und
Ziehen des Wagens entlang der Schiene. Das Rotationsbewegungsmittel
kann verschiedene Befestigungsmittel zur drehbaren Befestigung der
Bühne auf dem Wagen und Drehkrafterzeugungsmittel zur Bewirkung der Drehung der
Bühne relativ zum Wagen umfassen. Das bevorzugte Rotationsbewegungs
mittel umfaßt einen Wagenanschlag an dem inneren Ende der Schiene,
einen seitlich versetzten Stab zum Übertragen eines Drehmoments auf
die drehbar befestigte Bühne und eine Rückholfeder zum Rückholen der
Bühne in die Position, bei der der Wagen von dem Anschlag
entfernt ist. Sowohl die Translations- als auch die Rotationsbewegun
gen können auch durch andere Arten von Linear- oder Rotationsantrie
ben erzielt werden, z. B. durch elektronische Antriebe.
Wo mehrere Objekte in dem Halter transportiert werden sollen und jedes
Objekt in der Bearbeitungsstation bearbeitet werden soll, ist das an
dem Objekt angreifende Mittel des Bearbeitungsgeräts in vertikaler
Richtung relativ zu dem Objekthalter in Stufen schaltbar, so daß es
nacheinander Objekte, die in verschiedenen Höhen in dem Halter gehal
ten werden, angreift. Sowohl die Bühne als auch der Halter werden in
einer festgelegten vertikalen Position gehalten, was das Anstoßen und
Erschüttern beseitigt, dem der Halter sonst möglicherweise ausgesetzt
wäre. Ein solches Anstoßen und Erschüttern kann unerwünschte Partikel
verunreinigung aufgrund der Reibung zwischen den Objekten und dem
Halteraufbau verursachen.
Bei der bevorzugten Ausführungsform, die unten genau beschrieben ist,
besteht das spezielle transportierte und transferierte Objekt bei
spielsweise aus einem Halbleiterwafer, der zur Herstellung eines
integrierten Halbleiterchips bearbeitet wird. Der speziell beschrie
bene Objekthalter besteht beispielsweise aus einer Kassette zum Tragen
mehrerer Halbleiterwafer auf der Bodentür des Waferträgers. Jedoch ist
zu erkennen, daß sowohl das Verfahren als auch die Vorrichtung der
Erfindung für den Transport, den Transfer und die Bearbeitung einer
Vielzahl von Objekten anderer Art verwendet werden kann.
Die Erfindung läßt sich noch besser anhand der folgenden genauen
Beschreibung in Verbindung mit den begleitenden Zeichnungen verstehen.
Fig. 1 ist eine Schnittansicht, die eine zum Stand der
Technik gehörende SMIF-Kassettentransportstation darstellt;
Fig. 2 ist eine perspektivische Vorderansicht des Transport
systems der Erfindung, wobei zwei Transportstationen gezeigt sind, die
linke Station sich in der Kassettenträgerladeposition und die rechte
Station sich in der Position mit freigelegten Wafern befindet, wobei die
Trägerabdeckung sich in ihrer angehobenen Position befindet;
Fig. 3 ist eine Rückansicht im Aufriß des Transportsystems der
Erfindung, bei der sich die Kassettenbühnen in ihren zurückgezogenen
Positionen befinden, und die Kassetten, die Trägerbestandteile und die
Bühnen sich in der gleichen Position wie in der Fig. 2 befinden;
Fig. 4 ist eine teilweise Seitenansicht im Schnitt von rechts, die
die rechte Transportstation der Fig. 2 darstellt;
Fig. 5 ist eine Draufsicht im Schnitt, die entlang den Linien 5-5
in der Fig. 3 genommen wurde, wobei sich jedoch eine der Kassettenbüh
nen in ihrer zurückgezogenen Position und die andere Kassettenbühne in
ihrer ausgefahrenen Position befindet;
Fig. 6 ist eine teilweise perspektivische Rückansicht entspre
chend der Fig. 3, wobei sich jedoch die rechte Kassettenbühne in ihrer
zurückgezogenen Position zur Waferbearbeitung und die linke Kassetten
bühne in ihrer zurückgezogenen Position befindet;
Fig. 7 ist eine teilweise Draufsicht im Teilschnitt, bei der die
Bühnenplatten in Durchsicht dargestellt sind, um die Einzelheiten der
Mechanismen zum Bewegen und Rotieren der Kassettenbühne darzustellen;
Fig. 8 ist eine teilweise Seitenaufrißansicht im Teilschnitt, die
die zusätzlichen Einzelheiten der Mechanismen der Fig. 7 darstellt;
Fig. 9 ist eine teilweise Unteransicht, die die Einzelheiten der
Mechanismen der Fig. 7 von der Unterseite der Kassettenbühne und der
Sockelplatte aus darstellt, auf der die Bühnenschiene angebracht ist;
Fig. 10 ist eine perspektivische Ansicht im Aufriß, die die
Einzelheiten des Hubmechanismus zum Anheben und Absenken der
Lukenplatte darstellt;
Fig. 11 ist eine perspektivische Aufrißansicht, die die Hub
mitteldetails darstellt, die durch die kreisförmige unterbrochene
Linie in der Fig. 2 gekennzeichnet sind; und
Fig. 12 ist eine perspektivische Vorderansicht, die den Luftstrom
zwischen den inneren Kammern des Gehäuses, das die Kassettentransport
bestandteile und das Waferbearbeitungsgerät enthält, darstellt.
Die bevorzugte Ausführungsform der vorliegenden Erfindung wird anhand
eines SMIF-Systems zum Transportieren von Halbleiterwafern zwischen
einem beweglichen Träger und dem Gehäuse oder dem Schutzdach eines
Waferbearbeitungsgerätes beschrieben. Jedoch ist zu erkennen, daß das
Transportsystem der Erfindung auch dazu verwendet werden kann, andere
Objekte, und insbesondere Objekte, die von einer Umgebung mit kontrol
lierten Bedingungen in eine andere transportiert werden müssen, zu
transportieren.
Der allgemeine Aufbau eines herkömlichen SMIF-Kassettenträgers oder
einer Schutzbox und die Verbindung einer SMIF-Schutzbox mit dem
Gehäuse oder dem Schutzdach einer Waferbearbeitungsanlage sind
in den US-Patenten 4 674 939, 4 815 912 und 4 995 430 beschrieben, die
alle gemäß ihrem Deckblatt auf die Firma Asyst Technologies, Inc., of
Milpitas, California übertragen wurden.
Die Fig. 1 zeigt die Verbindung einer SMIF-Schutzbox 20 mit einer
Lukenplatte 22, die fest in der Wand eines Schutzdaches 24 angebracht
ist. Außer der Lukenplatte 22 gehören zum Lukenaufbau zusätzlich noch
eine Lukentür 26 und ein Hubmechanismus, der das Bezugszeichen 28
trägt. Zinn Hubmechanismus 28 gehört eine Kugelumlaufspindel 32,
eine Spindelmutter 36, die an der Spindel 32 angreift und an dieser entlang
läuft, ein Antriebsmotor 40 zum Drehen der Spindel 32, Führungsstäbe
38, 38 zur Führung der Spindelmutter 36 und zur Verhinderung ihrer Drehung,
eine Trägersäule 41 zur Verankerung der Führungsstäbe und zur Beherber
gung eines (nicht dargestellten) Lageraufbaus, um die Spindel 32 dreh
bar zu tragen und eine Hebebühne 30, die von dem Läufer 36 getragen
wird. Der Gewindeeingriff zwischen der Kugelumlaufspindel 32 und der
Mutter 36 treibt die Hebebühne 30 in Richtung des mit zwei Enden ver
sehenen Pfeiles D, je nach der Richtung der Spindeldrehung durch den
Umkehrmotor 40, in dem Schutzdach 24 nach oben oder unten.
Der Hubmechanismus 28 transportiert eine Kassette 42, die zum Hal
ten einzelner Halbleiterwafer 44 dient, die in dem Schutzgehäuse von
einem Bearbeitungsgerät bearbeitet werden können, das dazu gedacht
ist, einen oder mehrere Schritte für die Umwandlung der Wafer in inte
grierte Schaltungen durchzuführen. Der Hubmechanismus 28 senkt die
Kassette 42 von der durch die durchbrochenen Linien angezeigten Posi
tion im Innenbereich 46 der Schutzbox 20 in den Bereich 48 unterhalb
des Schutzdaches 24. Wenn die Kassette 42 in schaltbaren Stufen an
einem auf einer festen Höhe gehaltenen Roboterarm 50 vorbei abgesenkt
wird, wird der Roboterarm in Richtung des mit zwei Enden versehenen
Pfeils R ausgefahren und zurückgezogen, um an einem einzelnen Wafer 44
anzugreifen und ihn zur Verarbeitung zu entnehmen, und um dann den
verarbeiteten Wafer in die Kassette zurückzubringen.
Ein Nachteil bei dieser Anordnung besteht darin, daß das Entnehmen und
Zurückbringen jedes Wafers relativ zum Kassettenaufbau in die Luft
gelangende Verunreinigungspartikel produzieren kann, in deren Bereich
dann der nachfolgende Wafer abgesenkt wird, damit er in die Position
kommt, um von dem Roboterarm 50 aufgenommen zu werden. Nachdem alle
einzelnen Wafer von der Kassette 42 entnommen wurden, von dem Bear
beitungsgerät innerhalb des Schutzgehäuses 24 bearbeitet wurden und zur
Kassette 42 zurückgebracht wurden, wird die Bühne 30 nach oben zu
einer Trägerabschlußposition getrieben, an der die Schutzboxtür 27
die Schutzboxöffnung 52 schließt und die Lukentür 26 die Luken
öffnung in dem Schutzgehäuse 24 schließt. Danach kann die Schutzbox
20, die die bearbeiteten Wafer 44, die in der Kassette 42 gehalten
werden, enthält, manuell hochgenommen und von der Lukenplatte 22 für
den Transport zu einer anderen Waferbearbeitungsstation entfernt
werden.
Die Fig. 2 zeigt ein Bearbeitungsgerät 54 gemäß der Erfindung mit zwei
Waferhandhabungsstationen 56 und 58 zur gleichzeitigen Handhabung
zweier identischer Kassettenträger 62 und 64, von denen jeder mehrere
Wafer 44 trägt, die in Waferhaltern oder Kassetten 66 und 67 gehalten
werden. Außerdem umfaßt das Gerät 54 ein Schrankgehäuse 68, das als
Schutzdach zum Einschließen einer Miniumgebung mit kontrollierten
Bedingungen innerhalb des Geräts 54 dient. Um diese Miniumgebung zu
schaffen, können ein Vorfilter 70 mit Lufteinlaßschlitzen 74 und eine
Gebläse- und Hauptfiltereinheit 72 oben auf dem Schrankgehäuse 68 an
gebracht sein. Vorne an dem Schrankgehäuse 68 können ein Schalterfeld
69 zur Aktivierung der verschiedenen Servomotoren, die, wie unten be
schrieben, zu den Kassettentransportstationen 56 und 58 gehören, und
ein Bildschirmmonitor 71 sitzen, um die entsprechenden Operationen in
dem Schrankgehäuse 68 anzuzeigen. Wie unten im einzelnen näher erläu
tert werden wird, tritt die von der Gebläse- und Hauptfiltereinheit 72
und dem Vorfilter 70 gelieferte reine Luft von dem Schrankgehäuse 68
über die Schlitze 76 in eine bewegliche Frontplatte 78 über.
In der Fig. 2, einer Vorderansicht, und in der Fig. 3, einer Rückan
sicht, ist die linke Handhabungsstation 58 in der Trägerladeposition
und die rechte Handhabungsstation 56 in der Position mit freigelegten Wafern,
in der die Trägerabdeckung 80 durch einen Hubmechanismus 82 über
die Waferkassette 66 angehoben wurde, wie es weiter unten beschrieben
ist. Ein zweiter Hubmechanismus 84 ist so positioniert, daß er die
Abdeckung 86 des zweiten Trägers 64 anheben kann. Die Abdeckung 80
weist zwei Henkel 88, 88 und die Abdeckung 86 zwei Henkel 89, 89 auf.
Da die inneren und äußeren Elemente und Bestandteile der beiden Hand
habungsstationen 56 und 58 im wesentlichen übereinstimmen, wird nur
die Station 56 im einzelnen beschrieben werden.
In der Fig. 4 ist im Seitenaufriß die Handhabungsstation 56 darge
stellt, bei der die Trägerabdeckung 80 über die Kassette 66 angehoben
wurde, so daß die einzelnen Wafer 44, die in der Kassette gehalten
werden, innerhalb der Miniumgebung des Bearbeitungsgerätes 54 bear
beitet werden können. Die Trägerabdeckung 80 wird auf einer Luken
platte 90 getragen, auf der sie durch einen vorderseitigen Ausrichtungsblock 92
und einen rückseitigen Ausrichtungsblock 94 in richtiger Ausrichtung ge
halten wird. Vorzugsweise ist die Abdeckung 80 vor der vertikalen
Bewegung der Lukenplatte abnehmbar an der Lukenplatte 90 durch
Klemmechanismen 95, 95 befestigt worden.
Die Lukenplatte 90 und die Trägerabdeckung 80 werden in vertikaler
Richtung durch eine Hebebühne 96 bewegt, die durch ein Hubmittel 82
angehoben und abgesenkt wird, mit dem sie durch zwei Arme 122, 122
verbunden ist, die sich von einem U-förmigen Träger 98 aus erstrecken,
der von einer Spindelmutter 120, z. B. einer Kugelumlaufspindelmutter, ge
tragen wird. Wenn sich die Abdeckung 80 in ihrer abgesenkten Position
befindet, d. h. in der gleichen Position, die für die Abdeckung 86 in
den Fig. 2, 3 und 6 dargestellt ist, dichtet eine Trägertür 100 eine
entsprechende Öffnung 105 in einem Trägersockel 102 der Trägerab
deckung 80 ab, und eine Lukentür 104 liegt nach dem Durchlaufen einer
zentral gelegenen Öffnung 97 in der Hebebühne 96 genau passend in
einer entsprechenden Öffnung 93 der Lukenplatte 90. Bei der Lukentür
104 wird vorzugsweise eine Luftabschlußdichtung zwischen dieser Tür
und der Lukenplatte verwendet, um die Unversehrtheit der Miniumgebung
aufrechtzuerhalten. Es können jedoch auch Gleitringdichtungen verwen
det werden.
Wenn die Trägertür 100 in ihrer geschlossenen Position innerhalb des
Trägersockels 102 ist, kann sie von dem Trägersockel 102 entriegelt
werden oder durch Verriegelungs- und Abdichtmechanismen verriegelt und
luftdicht zum Trägersockel 102 abgedichtet werden, wobei die Teile
dieser herkömlichen Verriegelungs- und Abdichtmechanismen, die in dem
Trägersockel 102, der Trägertür 100 und der Lukentür 104 untergebracht
sein können, wie es z. B. in den US-Patenten Nr. 4 674 939, 4 815 912
und 4 995 430 beschrieben ist.
Diese Patente
wurden auf die Firma Asyst Technologies, Inc., of Milpitas,
California, übertragen, und die entsprechenden Geräte sind ebenfalls
bei dieser Firma erhältlich. (Nicht dargestellte) Betätigungsmittel
zur ferngesteuerten Betätigung der Klemmechanismen 95, 95 sind
ebenfalls bei dieser Firma erhältlich, und diese Betätigungsmittel
können innerhalb der Ausrichtblöcke 92 und 94 untergebracht sein.
Bei früheren zum Stand der Technik gehörenden Anordnungen wurde die
Lukentür, auf der eine Trägertür und eine Kassette aufsitzen, in eine
Position abgesenkt, aus der die Kassette weggenommen werden konnte,
wie es in den oben erwähnten Patenten dargestellt ist. Bei der vorlie
genden Erfindung ist die Lukentür sicher an einer oberen Platte 106
eines Kassettenbühnenaufbaus 110 befestigt. Durch eine zentral gelegene
Öffnung in der oberen Platte 106 erstreckt sich ein Motorgehäuse
112, das einen durch Fernsteuerung betätigbaren Motor und dazugehörige
(nicht dargestellte) Mechanismen zur Betätigung der oben erwähnten
Trägertürverriegelungsmechanismen und der Abdeckungsklemmechanismen
enthält. Der Bühnenaufbau 110 umfaßt außerdem eine untere Platte 108,
die eine obere Platte 106 durch drei oder mehrere, vorzugsweise jedoch
drei, Verbindungspfeiler 109 trägt, von denen jeder eine steife
Schraubenfeder 111 um einen zentralen Befestigungsbolzen 113 umfaßt,
der eine Befestigungsmutter 117 unter der unteren Platte aufweist.
Während der Kopf 119 des Bolzens 113 in einer Senkung in der oberen
Platte 106 (Fig. 8) fest angebracht ist, kann der untere Teil des
Bolzens frei durch eine Öffnung in der unteren Platte 108 laufen, so
daß die Einstellung der Mutter 117 auf dem Gewindeabschnitt des
Bolzens die Einstellung der Neigung der oberen Platte relativ zur
unteren Platte liefert, wenn das für die Ausrichtung der Wafer auf
den Weg eines Roboterarms erforderlich ist.
Die vertikale Bewegung der Hebebühne 96 liefert der Hubmechanismus
82, zu dem ein elektrischer Umkehrservomotor 115 zum Drehen einer Hub
spindel 118 gehört, die zum Heben und Absenken der Spindelmutter
120 dient, auf der die Hebebühne 96 durch die U-förmigen Träger 98 mit
den Armen 122, 122 befestigt ist. Die Spindel 118 ist vorzugsweise vom
Kugelumlauf- oder Trapezgewinde-Typ und die Mutter 120 ist vorzugsweise eine
Kugelumlauf- oder Trapezgewinde-Spindelmutter. Durch eine U-förmige gerade
Schiene 124 wird die Mutter 120 geführt und ihre Drehung wird da
durch verhindert, wobei die gerade Schiene 124 auf einer Sockelplatte
168 mittels eines Fußelements 101 mit zwei dreieckigen Pfosten 103,
103 befestigt ist. Wie sich am besten in der Fig. 5 erkennen läßt,
erstrecken sich die Arme der Schiene 124 nach außen und die Arme des
Trägers 98 nach innen.
Die Einzelheiten des Hubmechanismus sind in der Fig. 10 und die
Einzelheiten der Befestigungsmittel zur Befestigung der Hebebühne 96
am Hubmechanismus 82 sind in der Fig. 11 dargestellt. An jedem der
Arme 122, 122 des Trägers 98 ist seitlich ein Flansch 123 angebracht,
an dem eine Ankerplatte 125 angeschraubt ist, die zwei Einstellmuttern
127 trägt, die jeweils durch eine entsprechende Sicherungsschraube 129
in ihrer Position gehalten werden, die durch eine zentral gelegene
Bohrung der Einstellmutter läuft und in eine Sicherungsmutter 131
unter der Ankerplatte 125 eingreift. Die Einstellmuttern 127 weisen
jeweils einen Gewindeschaft 133 auf, der in entsprechende Gewinde in
einer Einstellmutteröffnung 135 in der Hebebühne 96 eingreift. Folg
lich können die Einstellmuttern 127 gedreht werden, um die Neigung der
Hebebühne 96 einzustellen, und dann können die Einstellmuttern 127
durch Festziehen der Sicherungsschrauben 129 relativ zu den Siche
rungsmuttern 131 in einer festen Position verriegelt werden.
Die Bestandteile des Bühnenaufbaus der linken Station 58 entsprechen
im wesentlichen den entsprechenden Bestandteilen des Bühnenaufbaus 110
der rechten Transportstation 56, so daß die gleichen Bezugszeichen in
den Zeichnungen verwendet werden, um entsprechende Bestandteile
dieser beiden Bühnenaufbauten zu kennzeichnen. Entsprechend stimmen
die Bestandteile des linken Hubmechanismus 84 im wesentlichen mit
den entsprechenden Bestandteilen des rechten Hubmechanismus 82
überein, so daß auch hier die gleichen Bezugszeichen in den Zeichnun
gen verwendet werden, um die gleichen Bestandteile der beiden Hub
mechanismen zu kennzeichen.
Um die Unversehrtheit der Miniumgebung in dem Schrankgehäuse 68 auf
rechtzuerhalten, wenn die Trägerabdeckung angehoben wird, sind mehrere
Platten an der Hebebühne 96 für die Bewegung mit dieser angebracht,
und diese sich bewegenden Platten wirken mit fest an dem Rahmen des
Schrankgehäuses 68 angebrachten Platten zusammen, um Luftabschlüsse zu
bilden, die in der Lage sind, innerhalb des Schrankgehäuses einen
Luftdruck aufrechtzuerhalten, der größer als der Luftdruck der Umge
bungsluft ist, die sich um das Schrankgehäuse herum befindet. Diese
Luftabschlüsse haben die Form von relativ schmalen Spalten von be
trächtlicher Länge, durch die nur relativ kleine Luftmengen vom Inne
ren des Schrankgehäuses nach außen strömen können, und dadurch wird
das Eintreten von äußerer Luft ausgeschlossen.
Drei aufrechtstehende Platten 126, 128 und 130 sind auf der linken,
der Rück- bzw. der rechten Seite der Hebebühne 96 vorgesehen, die ver
tikale Wände bilden, die den entsprechenden Seiten und der Rückseite
der Trägerabdeckung 80 gegenüberliegen. Die sich bewegenden Platten
126, 128 und 130 wirken mit den fest angebrachten Schrankgehäuseplatten
134, 136 bzw. 138 zusammen, was am besten in den Fig. 3, 6 und 12 zu
erkennen ist. Die sich bewegenden Platten 126, 128 und 130 bilden eine
umlaufende Hintertür 140 zum Öffnen und Schließen eines Hintereingangs
142, durch den eine Kassette 66 auf der Kassettenbühne 110 laufen kann
oder in anderer Weise für an den Wafern angreifende Elemente eines
Roboters 144 zum Ausladen und neuem Laden der Wafer 44 zugänglich ge
macht werden kann.
Wie in den Fig. 3 und 6 zu erkennen ist, weist die zweite Transport
station 58 eine umlaufende Hintertür 140' zum Öffnen und Schließen
eines Hintereingangs 142' auf. Die Tür 140' weist sich bewegende Plat
ten 126', 128' und 130' auf, die mit festangebrachten Schrankgehäuse
platten 134', 136' und 138' zusammenwirken, und sie arbeitet in der
gleichen Weise wie die Hintertür 140 der Transportstation 56. Die sich
bewegenden Platten der Hintertüren 140 und 140' wandern aufwärts und
abwärts an der Außenseite der entsprechenden Platten, die festange
bracht sind und an einem oben liegenden Rahmenelement 141 des Schrank
gehäuses 68 aufgehängt sind.
An der Vorderseite der Hebebühne 96 ist außerdem eine gebundene untere
Platte angebracht, die die Frontplatte 78 mit den Schlitzen 76 bildet.
Die untere Frontplatte 78 und die obere Rückseitenplatte 128 sind vor
zugsweise aus transparentem Kunststoff hergestellt, z. B. antistati
schem Plexiglas oder einem anderen Acrylkunststoff, um eine optische
Kontrolle der in dem Schrankgehäuse 68 stattfindenden Operationen zu
ermöglichen und um die Wartung der Anlage in der Miniumgebung dieses
Gehäuses zu erleichtern.
Wenn sich die Station 56 in ihrer Ladeposition befindet, um den Träger
62 darin zu plazieren, befindet sich die Hebebühne 96 in ihrer unter
sten Position, wobei zu diesem Zeitpunkt der Rückseitenzugang 142
vollständig durch die Hintertür 140 geschlossen ist, um jeglichen
Luftstrom von der Miniumgebung des Waferbearbeitungsbereichs 146, in
der der Roboter 144 sitzt, zu verhindern. Wenn die Hebebühne 96 durch
das Hubmittel 82 von ihrer untersten Position in ihre höchste Position,
dargestellt in der Fig. 4, angehoben ist, ist die Hintertür 140 angeho
ben, um den Zugang 142 zu öffnen, und die geschlitzte Frontplatte 78
ist angehoben, um ein neues Gehäuse um die Kassette 66 zu erzeugen,
wenn die Trägerabdeckung 80 ebenfalls angehoben ist. Daher liegt
die Wirkung des Anhebens der Hintertür 140 und der Frontplatte 78, die
mit festangebrachten Seitenwänden der Transportstation 56 zusammen
wirken, um das neue Kassettengehäuse zu bilden, darin, die Mini
umgebung des Bearbeitungsbereichs 146 auszudehnen, so daß der Bühnen
bereich 158 darin eingeschlossen ist, der die freigelegte Kassette 66
umgibt.
Die Schlitze 76 der Frontplatte dienen dazu, einen bestimmten Luft
strom um die freigelegte Kassette 66 von dem Hintereingang 142 zu den
Schlitzen 76 zu erzeugen, wie es in der Fig. 12 dargestellt ist.
Dieser Luftstrom erzeugt und erhält die Miniumgebung innerhalb des
Bühnenbereichs 148 während des Anhebens und Absenkens der Hebebühne 96
und während diese sich in ihrer höchsten Position befindet, wenn die
Wafer bearbeitet werden. Wenn die Hebebühne 96 in ihre unterste Posi
tion zurückgebracht wird, kehrt die Transportstation 56 wegen des
Schließens des Eingangs 142 durch die Hintertür 140 auf Umgebungsbe
dingungen zurück. Die zweite Transportstation 58 ist in diesem Zustand
in der Fig. 2 dargestellt. Gleichzeitig schließt die Lukentür 104 die
Öffnung in der Lukenplatte 90 und der Sockel 102 der Trägerabdeckung
80 rastet wieder in die Trägertür 100, so daß der Träger 62 mit der
darin neu geladenen Kassette 66 zu einer anderen Bearbeitungsstation
transportiert werden kann.
Nun wird die horizontale Bewegung der Kassettenbühne 110 innerhalb des
Schrankgehäuseraumes 68 beschrieben, nachdem die Abdeckung 80
in ihre hochgehobene Position gebracht wurde. Die untere Bühnenplatte
108 ist zwecks ihrer Drehung mittels eines Lageraufbaus 151 innerhalb
eines ringförmigen Gehäuses 152 auf einem beweglichen Wagen 150 ange
bracht (Fig. 7). Der Wagen 150 ist für eine Translationsbewegung auf
einer Schiene 154 mit einem hinteren Wagenanschlag 156 und einem vor
deren Wagenanschlag 157 befestigt. Die obere und die untere Platte der
Kassettenbühne werden als Reaktion auf die Bewegung eines vertikalen
Stabs 158 bewegt, der an die unteren Bühnenplatte 108 gebunden ist und
durch ein Bewegungsglied 160 hin- und hergetrieben wird, das ein
Gewinde aufweist, in das das Gewinde einer Spindel 162 eingreift, die
durch einen umkehrbaren Linearmotor 164 in Drehbewegung
versetzt wird.
Das Bewegungsglied 160 ist drehbar an dem unteren Ende des Stabs 158 durch ein
Tragelement 161 befestigt, wie es am besten in der Fig. 8 zu erkennen
ist. Der Antriebsmotor 164 ist vorzugsweise ein Gleichstrom-Servomotor
und er ist drehbar in einem Träger 166 angebracht, um um einen Stift 167
in einer vertikalen Ebene gedreht werden zu können. Der Träger 166 ist
wiederum an einer Sockelplatte 168 durch einen Drehzapfen 170 für eine
Drehbewegung in einer horizontalen Ebene befestigt. Diese Drehbewe
gungen liefern die gekrümmte Bewegung 158 um die Drehachse des Lager
aufbaus 151.
Die Wagenschiene 154 ist fest auf der Sockelplatte 168 angebracht, die
einen länglichen Schlitz 159 aufweist, um Platz für die horizontale
Bewegung des Stabs 158 relativ zum Antriebsmotor 154 zu liefern. Die
von dem Motor 164 aus gesehen im Uhrzeigersinn verlaufende Drehung
der Spindel 162 schiebt das Bewegungsglied 160 und den Bühnenaufbau 110
zum Motor 164, bis der Wagen 150 an dem hinteren Wagenanschlag 156
anschlägt, wobei dann der Stab 158 die obere und die untere Bühnen
platte, die daran befestigte Lukentür und irgendwelche darauf pla
zierten Objekte dazu bringt, sich relativ zum Wagen entgegen dem
Uhrzeigersinn zu drehen, da der Stab 158 durch das Tragelement 161 an
dem Bewegungsglied 160 befestigt ist und die vertikale Achse dieses
Stabs seitlich nach rechts gegenüber der Drehachse des Lageraufbaus
151 versetzt ist.
Der gegen den Uhrzeigersinn gerichteten Drehbewegung der Bühnenplatten
wirkt eine Schraubenfeder 172 entgegen, die an einem Ende mit dem her
vorstehenden Aufhänger 174 verbunden ist, der an dem Wagen 150 fest
angebracht ist, und an dem anderen Ende mit einem hervorstehenden Auf
hänger 178 verbunden ist, der durch einen gekrümmten Träger 173 ge
tragen wird, der an einer Lochplatte 179 fest angebracht ist, die
wiederum seitlich von dem Lagergehäuse 152 absteht und durch Schrauben
an einem flachen Bereich an der Seite des Lagergehäuses 152 fest
angebracht ist. Das Gehäuse 152 ist an der Unterseite der unteren
Bühnenplatte 108 angebracht und dreht sich mit dieser. Die Bühnen
platten 106 und 108 können sich entgegen der Spannung der Feder 172
drehen, bis ein einstellbarer Anschlag 175 an dem vorderen Ende des
gebogenen Trägers 173 an dem Wagen 150 anschlägt (Fig. 5 und 9). Wenn
die Richtung der Spindel 162 umgedreht wird, läuft das Läuferelement
160 von dem Motor 164 weg. Wenn diese Rücklaufbewegung beginnt, drehen
sich die Platten 106 und 108 im Uhrzeigersinn und werden durch die
Federspannung aus der gedrehten Position, die in den Fig. 5, 6 und 9
dargestellt ist, in eine in Linie zur
Schiene 154 ausgerichtete Position zurückgebracht, wie es in der Fig. 3 dargestellt ist.
Diese Position ist dadurch bestimmt, daß der Wagen 150 und ein
einstellbarer Anschlag 177 an dem hinteren Ende des gebogenen Trägers
173 aneinanderstoßen. Wird der Stab 158 weiter rückwärts von dem Motor
164 wegbewegt, dann bewegt sich der Wagen 150 von dem Anschlag 156
weg, bis der Bühnenaufbau 110 in seine in der Fig. 7 dargestellte
anfängliche Position zurückgebracht wird, in der er den Träger auf
nimmt.
Wenn sich der Bühnenaufbau 110 in seiner in den Fig. 5 und 6 darge
stellten ausgefahrenen Position befindet, sind die einzelnen Wafer 44
in der Kassette 66 für wenigstens einen von zwei identischen ausfahr
baren Armelementen 180, 180 des Roboters 144 leicht zugänglich. Die
Armelemente 180, 180 sind entlang entsprechender Schienen 182, 182
ausfahrbar, so daß sie an den einzelnen Wafern 44 in der Kassette 66
angreifen können. Jedes Armelement 180 weist einen am Rande gelegenen
Zungenabschnitt 184 mit einer Vakuumöffnung 186 auf, um einen einzel
nen Wafer 44 durch Saugen zu greifen, so daß der Wafer aus der Kasset
te 66 entfernt wird und in den Bearbeitungsbereich 146 transportiert
wird, damit die gewünschten Operationen daran durch das Bearbeitungs
gerät 54 durchgeführt werden können.
Um an den in der Kassette 66 gestapelten Wafern 44 nacheinander anzu
greifen und aufeinanderfolgende einzelne Wafer 44 daraus zu entfernen,
wird die Bühne 188, auf der die Armschienen 182, 182 befestigt sind,
in vertikaler Richtung geschaltet durch einen (nicht dargestellten)
linearen Kugelumlaufspindelaufbau, der in einer hohlen Säule 190 un
tergebracht ist, die auf dem drehbaren Sockelelement 192 angebracht
ist. Der lineare Kugelumlaufspindelaufbau in der Säule 190 kann ähn
lich aufgebaut sein wie die Hubmechanismen 82 und 84. Es können
auch optional herkömmliche pneumatische oder hydraulische Hubmit
tel verwendet werden, um das vertikale Schalten des Roboterarms 180,
180 zu bewirken. Das wichtige Merkmal besteht hier darin, daß die
Kassette 66 sich in einer in vertikaler Richtung festgelegten Position
befindet, und zwar die ganze Zeit über, nachdem der Träger 62 inner
halb der Transportstation 56 plaziert wurde. Jegliches Anstoßen der
Kassette 66 in vertikaler Richtung wird dadurch vermieden. Wie vorher
in Verbindung mit der Fig. 1 beschrieben wurde, ist jegliche vertikale
Bewegung der in der Kassette gestapelten Wafer unerwünscht, wenn z. B.
jeder nachfolgende Wafer durch den Raum laufen muß, der von dem gerade
bearbeiteten Wafer besetzt wurde, wenn dieser entladen und wieder
geladen wurde, da die Kassette und eben nicht der Roboterarm in ver
tikaler Richtung geschaltet wird.
Um die stufenweise Schaltung des Roboterarms 180, 180 zu steuern, ist
eine Wafererkennungsstange 194 vorgesehen, die aus einer horizontalen
gespeicherten Position in eine vertikale Erkennungsposition mittels
einer Welle 196 drehbar ist, die drehbar in einem Getriebegehäuse 198
angebracht ist, wie es in der Fig. 7 dargestellt ist. Von der Seite
des Gehäuses 198 erstreckt sich gegenüber der Stange 194 eine Wellen
verlängerung 200, an der eine Zunge 202 angebracht ist, die sich
zwischen gegenüberliegenden Ohren 205 eines Gewinderohres 206 er
streckt und durch eine Drehverbindung 204 an den Ohren angebracht ist,
wobei eine drehbare Spindel 208, die durch einen umkehrbaren Gleich
strom-Servomotor 210 angetrieben wird, an dem internen Gewinde des
Gewinderohres 206 angreift.
Die Drehung der Spindel 208 verursacht eine lineare Bewegung des
Rohres 206. Da die Drehverbindung 204 zu der Achse der Welle 196 und
deren Verlängerung 200 seitlich versetzt ist, fuhrt die lineare Bewe
gung des Rohres 206 zu einer Drehbewegung der Welle 196 und ihrer
Verlängerung 200. Diese Drehbewegung der Welle reicht aus, um den
Erkennungsstange 194 zwischen seiner horizontalen Ruheposition, Seite an
Seite mit der unteren Plattform 108, zu seiner aufrechtstehenden
Erkennungsposition, neben der Kassette 66 und den darin gestapelten
einzelnen Wafern 44, zu drehen.
Der Motor 210 und die Spindel 208 sind mittels einer Drehstütze
212 für die Drehbewegung in einer vertikalen Ebene angebracht. Eine
solche Drehbewegung der Spindel 208 ist erforderlich, um sich an die
vertikale Bewegung anzupassen, die durch die seitliche Verschiebung
der Drehverbindung 204 zur Achse der Wellenverlängerung 200 verursacht
wird. Ein weiteres Merkmal des linearen Spindelaufbaus ist die starre
Anbringung einer Fahne 214 auf der Rückseite des Rohrs 206, so daß
die lineare Bewegung dieses Rohrs eine entsprechende lineare Bewegung
dieser Fahne 214 verursacht, die dadurch veranlaßt wird, zwischen
zwei entsprechenden Paaren von Sensoren 216, 216 und 218, 218 hin
durchzulaufen. Die Erkennung der Fahne 214 durch die Sensoren 216,
216 liefert ein Anzeigesignal zum Abstellen des Motors 210, wenn die
Erkennungsstange 194 ihre aufrechtstehende Erkennungsposition erreicht
hat. Entsprechend gibt das Erkennen der Fahne 214 durch die Sensoren
218, 218 ein Anzeigesignal, das den Motor 210 abschaltet, wenn der
Sensorturm 194 seine abgesenkte gespeicherte Position erreicht hat.
Ein Paar lichtaussendender Elemente 199, 199, z. B. LEDs, sind auf
einer zentral gelegenen Platte 197, die zwischen den Schienen 182, 182
des Roboters 144 liegt, angebracht, und jedes emittiert einen Licht
strahl, der durch Lichtabtastelemente 201 abgetastet werden kann, die
an in geeignetem Abstand zueinander angeordneten Intervallen entlang
der Erkennungsstange 194 liegen. Ein (nicht dargestelltes) Mikro
computersystem kann die Anwesenheit oder Abwesenheit eines Wafers auf
einer beliebigen Höhe innerhalb der Kassette 66 in Abhängigkeit davon
bestimmen, ob der Lichtstrahl durch einen Wafer blockiert wird, oder
aufgrund eines fehlenden Wafers erkannt wird.
Der Roboter 144 dient auch dazu, Wafer, die zu der Transportstation 58
durch den Träger 64 geliefert wurden, von der Kassette 67 zu laden und
zu entladen, wobei die Bestandteile der Transportstation 58 die glei
chen sind wie diejenigen, die bei der Transportstation 56 beschrieben
wurden. Die Schienen 154 und 155 der Transportstationen 56 bzw. 58
können beide parallel zur Mittellinie C des Schrankgehäuses 68 liegen.
Jedoch kann ein noch kompakterer und schmalerer Aufbau dadurch erzielt
werden, daß die Schiene 155 in einem kleinen Winkel "A" (z. B. 10°-
15°), der zur Rückseite hin gegenüber der Mittellinie C verschoben
ist, versetzt wird, während die Schiene 154 parallel zur Mittellinie C
bleibt, wie es in der Fig. 6 dargestellt ist. Zum gleichen Zweck kann
die rechte Kante der Hintertür 141 der Station 56 an der Stelle 230
durch ein kleines winkelförmiges Stück 232 umrissen sein, um eine
freie Rotation des Bühnenaufbaus 110 in diesem kompakten Aufbau
sicherzustellen. Es kann außerdem erwünscht sein, die Hintertür 140
der Station 56 mit einem entsprechenden Umriß zu versehen.
Obwohl die bevorzugte Ausführungsform der Erfindung anhand von Trä
gern, Kassetten und einem Bearbeitungsgerät für Halbleiterwafer
beschrieben wurde, ist die Erfindung auch anwendbar auf Träger, Halter
und ein Bearbeitungsgerät für andere Arten von Objekten.
Claims (14)
1. Transportsystem zum Transportieren von Objekten zwischen
zwei Umgebungen mit kontrollierten Bedingungen mit
einem Objektträger (62), der eine erste Umgebung mit kon trollierten Bedingungen definiert und der eine Abdeckung (80) und eine Tür (100) aufweist, die dazu dient, eine Öff nung (105) im Boden (102) der Abdeckung (80) zu schließen,
einem Halter (66) zum Tragen von wenigstens einem Objekt (44) auf der Trägertür (100),
einem Gehäuse (68), das eine zweite Umgebung mit kontrollierten Bedingungen um ein Gerät (144) zur Bearbeitung des Objekts (44) definiert,
einer Lukentür (104) zum Schließen einer durch ein bewegliches Lukenelement (90) definierten Lukenöffnung (93) innerhalb des Gehäuses, wobei die Lukentür (104) wenigstens den Teil einer Bühne (110), die die Trägertür (100) und den Objekthalter (66) in einer festgelegten Höhe in dem Gehäuse (68) trägt, bildet, und wobei das bewegliche Lukenelement (90) so ausgebildet ist, daß es an der Trägerabdeckung (80) angreift, um deren Bewegung in vertikaler Richtung zu verursachen, und
Hubmitteln (82, 84) zum Bewegen des Lukenelements (90) in vertikaler Richtung zwischen einer unteren Position, an der die Lukentür (104) die Lukenöffnung schließt, und einer oberen Position, an der das Lukenelement (90) die Trägerabdeckung (80) in vertikaler Richtung über die Bühne (110) anhebt, um dem Gerät (144) zur Bearbeitung des Objekts (44) den Zugang zu dem Objekthalter (66) zu ermöglichen,
wobei das System dadurch gekennzeichnet ist, daß
sich das Gerät (144) zur Bearbeitung des Objekts (44) in einer ersten Kammer (146) des Gehäuses (68) befindet,
eine Station (56) zum Aufnehmen des Objektträgers (62) in seinem geschlossenen Zustand eine rückseitige aufrechtstehende Platte (128) und einander gegenüberliegende aufrechtstehende Seitenplatten (126, 130) umfaßt, die durch das bewegliche Lukenelement (90) getragen werden und so angeordnet sind, daß sie mit entsprechenden herabhängenden Platten (134, 136, 138) des Gehäuses (68) in Gleitkontakt zusammenwirken, um die erste Kammer (146) während der vertikalen Bewegung des Lukenelements (90) in abgeschlossenem Zustand zu halten,
eine von dem beweglichen Lukenelement (90) getragene herabhängende Frontplatte (78) so angeordnet ist, daß sie eine zweite Kammer (148) des Gehäuses (68) schließt, die erzeugt wird, wenn die getragene Abdeckung (80) über die Bühne (110) angehoben wird, und
zwischen der ersten Kammer (146) und der zweiten Kammer (148) ein Zugang (142) vorgesehen ist, um einem an dem Objekt (44) angreifenden Element (180, 180) des Geräts (144) zur Bearbeitung des Objekts (44) den Zugang zu dem Objekthalter (66) zu ermöglichen, und die rückseitige aufrechtstehende Platte so angeordnet ist, daß sie den Zugang (142) schließt, wenn sich das Lukenelement (90) in der unteren Position befindet.
einem Objektträger (62), der eine erste Umgebung mit kon trollierten Bedingungen definiert und der eine Abdeckung (80) und eine Tür (100) aufweist, die dazu dient, eine Öff nung (105) im Boden (102) der Abdeckung (80) zu schließen,
einem Halter (66) zum Tragen von wenigstens einem Objekt (44) auf der Trägertür (100),
einem Gehäuse (68), das eine zweite Umgebung mit kontrollierten Bedingungen um ein Gerät (144) zur Bearbeitung des Objekts (44) definiert,
einer Lukentür (104) zum Schließen einer durch ein bewegliches Lukenelement (90) definierten Lukenöffnung (93) innerhalb des Gehäuses, wobei die Lukentür (104) wenigstens den Teil einer Bühne (110), die die Trägertür (100) und den Objekthalter (66) in einer festgelegten Höhe in dem Gehäuse (68) trägt, bildet, und wobei das bewegliche Lukenelement (90) so ausgebildet ist, daß es an der Trägerabdeckung (80) angreift, um deren Bewegung in vertikaler Richtung zu verursachen, und
Hubmitteln (82, 84) zum Bewegen des Lukenelements (90) in vertikaler Richtung zwischen einer unteren Position, an der die Lukentür (104) die Lukenöffnung schließt, und einer oberen Position, an der das Lukenelement (90) die Trägerabdeckung (80) in vertikaler Richtung über die Bühne (110) anhebt, um dem Gerät (144) zur Bearbeitung des Objekts (44) den Zugang zu dem Objekthalter (66) zu ermöglichen,
wobei das System dadurch gekennzeichnet ist, daß
sich das Gerät (144) zur Bearbeitung des Objekts (44) in einer ersten Kammer (146) des Gehäuses (68) befindet,
eine Station (56) zum Aufnehmen des Objektträgers (62) in seinem geschlossenen Zustand eine rückseitige aufrechtstehende Platte (128) und einander gegenüberliegende aufrechtstehende Seitenplatten (126, 130) umfaßt, die durch das bewegliche Lukenelement (90) getragen werden und so angeordnet sind, daß sie mit entsprechenden herabhängenden Platten (134, 136, 138) des Gehäuses (68) in Gleitkontakt zusammenwirken, um die erste Kammer (146) während der vertikalen Bewegung des Lukenelements (90) in abgeschlossenem Zustand zu halten,
eine von dem beweglichen Lukenelement (90) getragene herabhängende Frontplatte (78) so angeordnet ist, daß sie eine zweite Kammer (148) des Gehäuses (68) schließt, die erzeugt wird, wenn die getragene Abdeckung (80) über die Bühne (110) angehoben wird, und
zwischen der ersten Kammer (146) und der zweiten Kammer (148) ein Zugang (142) vorgesehen ist, um einem an dem Objekt (44) angreifenden Element (180, 180) des Geräts (144) zur Bearbeitung des Objekts (44) den Zugang zu dem Objekthalter (66) zu ermöglichen, und die rückseitige aufrechtstehende Platte so angeordnet ist, daß sie den Zugang (142) schließt, wenn sich das Lukenelement (90) in der unteren Position befindet.
2. Transportsystem nach Anspruch 1, das darüber hinaus Luft
bewegungsmittel (72) umfaßt, die dazu dienen, einen Luft
strom zur ersten Kammer (146) zu liefern, um in ihrem Innern
einen Luftdruck zu erzeugen, der über dem sich außerhalb des
Gehäuses (68) befindenden Luftdruck liegt, wobei die
Zusammenwirkung zwischen den aufrechtstehenden Platten (134,
136, 138) des Gehäuses (68) einen Luftabschluß bildet, der
dazu dient, den Überdruck aufrechtzuerhalten.
3. Transportsystem nach Anspruch 2, bei dem das Luft
bewegungsmittel (72) Auslaßmittel (76) umfaßt, die dazu die
nen, die zugeführte Luft aus dem Gehäuse (68)
herauszuführen, nachdem die zugeführte Luft den Zugang (142)
und die zweite Kammer (148) durchlaufen hat.
4. Transportsystem nach Anspruch 3, bei dem die Bühne (110)
den Objekthalter (66) zwischen der herabhängenden Platte
(78) und dem Zugang (142) trägt, und das Auslaßmittel
wenigstens eine Öffnung (76) in der herabhängenden und dem
Zugang (142) gegenüberliegenden Frontplatte (78) umfaßt, die
dazu dient, die zugeführte Luft so herauszulassen, daß sich
ein den Artikelhalter (66) umspülender, einen Überdruck
aufweisender Luftstrom ergibt.
5. Transportsystem nach Anspruch 1, das darüber hinaus
Transportmittel (150, 154, 160, 162, 164) umfaßt, um die
Bühne (110) innerhalb des Gehäuses (68) relativ zur Position
des Geräts (144) zur Bearbeitung des Objekts (44) zu
bewegen.
6. Transportsystem nach Anspruch 5, bei dem das
Transportmittel (150, 154, 160, 162, 164) so ausgebildet
ist, daß es die Bühne (110) zwischen einer zurückgezogenen
Position unter der angehobenen Trägerabdeckung (80) und
einer ausgefahrenen Position, an der ein bewegliches
Angriffsmittel (180, 180) des Geräts (144) zur Bearbeitung
des Objekts (44) an dem Objekt (44) angreifen kann, hin- und
herbewegen kann.
7. Transportsystem nach Anspruch 6, bei dem das
Transportmittel Translationsbewegungsmittel (150, 154, 160,
162, 164), die die Bühne (110) zwischen der zurückgezogenen
Position und der ausgefahrenen Position in horizontaler
Richtung bewegen, und Rotationsbewegungsmittel (151, 156,
158, 173, 177) umfaßt, die eine Rotationsbewegung der Bühne
(110) an der ausgefahrenen Position bewirken können, um den
Objekthalter (66) auf das an dem Objekt (44) angreifende
Mittel (180, 180) auszurichten.
8. Transportsystem nach Anspruch 7, bei dem das
Translationsbewegungsmittel eine Schiene (154), ein
Wagenmittel (150), das an der Schiene (154) für die Bewegung
der Bühne (110) in horizontaler Richtung angreift, und
Antriebsmittel (158, 160, 162, 164) umfaßt, die dazu dienen,
das Wagenmittel (150) entlang der Schiene (154) zu bewegen.
9. Transportsystem nach Anspruch 7, bei dem das
Rotationsbewegungsmittel Lagermittel (151) umfaßt, um die
Bühne (110) drehbar auf dem Wagenmittel (150) zu befestigen,
und Drehkrafterzeugungsmittel (156, 158, 173, 177) umfaßt,
um die Rotation der Bühne (110) relativ zum Wagenmittel
(150) zu bewirken.
10. Transportsystem nach Anspruch 1, bei dem die Hubmittel
(82, 84) sich in vertikaler Richtung erstreckende
Führungsmittel (124), an dem Führungsmittel (124) für die
Bewegung in vertikaler Richtung angreifende Hubglieder (120)
und Antriebsmittel (115, 118) umfassen, die dazu dienen, die
Hubglieder (120) entlang dem Führungsmittel (124) zu
bewegen, wobei die Hubglieder (120) mit dem Lukenelement
(90) in der Weise verbunden sind, daß die Bewegung des
Hubglieds (120) entlang dem Führungsmittel (124) das
Lukenelement (90) dazu bringt, sich zwischen seiner unteren
und seiner oberen Position zu bewegen.
11. Transportsystem nach Anspruch 1, bei dem das Gerät (144)
zur Bearbeitung des Objekts (44) ein an dem Objekt (44)
angreifendes Mittel (180, 180) umfaßt, das in vertikaler
Richtung relativ zum dem Objekthalter (66) schaltbar ist, so
daß es jeweils an einem von mehreren Objekten (44) angreifen
kann, von denen jedes in unterschiedlicher Höhe in dem
Objekthalter (66) gehalten wird.
12. Transportsystem nach Anspruch 11, das darüber hinaus
Transportmittel (150, 154, 160, 162, 164) umfaßt, um die
Bühne (110) innerhalb des Gehäuses (68) relativ zur Position
des an dem Objekt (44) angreifenden Mittels (180, 180) zu
bewegen.
13. Transportsystem nach Anspruch 1, bei dem das Objekt (44)
ein Halbleiterwafer ist und das Bearbeitungsgerät (144)
wenigstens einen Bearbeitungsschritt durchführt, um auf dem
Halbleiterwafer eine integrierte Schaltung zu erzeugen.
14. Transportsystem nach Anspruch 13, bei dem der
Objekthalter aus einer Kassette (66) besteht, die dazu
dient, mehrere Halbleiterwafer (44) auf der Trägertür (100)
zu tragen.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US68356596A | 1996-07-12 | 1996-07-12 | |
| US08/700,997 US5674039A (en) | 1996-07-12 | 1996-08-21 | System for transferring articles between controlled environments |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE19726305A1 DE19726305A1 (de) | 1998-01-15 |
| DE19726305C2 true DE19726305C2 (de) | 2003-06-05 |
Family
ID=27103141
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19726305A Expired - Fee Related DE19726305C2 (de) | 1996-07-12 | 1997-06-20 | System zum Transportieren von Objekten zwischen Umgebungen mit kontrollierten Bedingungen |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5674039A (de) |
| JP (1) | JP3324960B2 (de) |
| DE (1) | DE19726305C2 (de) |
Families Citing this family (55)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6599075B2 (en) * | 1994-04-28 | 2003-07-29 | Semitool, Inc. | Semiconductor wafer processing apparatus |
| US6712577B2 (en) * | 1994-04-28 | 2004-03-30 | Semitool, Inc. | Automated semiconductor processing system |
| US6447232B1 (en) | 1994-04-28 | 2002-09-10 | Semitool, Inc. | Semiconductor wafer processing apparatus having improved wafer input/output handling system |
| US6833035B1 (en) * | 1994-04-28 | 2004-12-21 | Semitool, Inc. | Semiconductor processing system with wafer container docking and loading station |
| US6799932B2 (en) | 1994-04-28 | 2004-10-05 | Semitool, Inc. | Semiconductor wafer processing apparatus |
| US5984610A (en) * | 1995-03-07 | 1999-11-16 | Fortrend Engineering Corporation | Pod loader interface |
| ATE275759T1 (de) | 1995-03-28 | 2004-09-15 | Brooks Automation Gmbh | Be- und entladestation für halbleiterbearbeitungsanlagen |
| WO2002064091A2 (en) * | 2001-02-13 | 2002-08-22 | Palatin Technologies, Inc. | Melanocortin metallopeptides for treatment of sexual dysfunction |
| SE9503102D0 (sv) * | 1995-09-08 | 1995-09-08 | Astra Ab | Aseptic transfer |
| US6279724B1 (en) | 1997-12-19 | 2001-08-28 | Semitoll Inc. | Automated semiconductor processing system |
| US6723174B2 (en) | 1996-03-26 | 2004-04-20 | Semitool, Inc. | Automated semiconductor processing system |
| US6942738B1 (en) | 1996-07-15 | 2005-09-13 | Semitool, Inc. | Automated semiconductor processing system |
| US6062798A (en) * | 1996-06-13 | 2000-05-16 | Brooks Automation, Inc. | Multi-level substrate processing apparatus |
| US6082949A (en) * | 1996-10-11 | 2000-07-04 | Asyst Technologies, Inc. | Load port opener |
| US6152070A (en) | 1996-11-18 | 2000-11-28 | Applied Materials, Inc. | Tandem process chamber |
| US5909994A (en) * | 1996-11-18 | 1999-06-08 | Applied Materials, Inc. | Vertical dual loadlock chamber |
| EP0875921A1 (de) * | 1997-05-03 | 1998-11-04 | Stäubli AG Pfäffikon | Umladevorrichtung für Wafer |
| US6106582A (en) * | 1997-06-25 | 2000-08-22 | Applied Materials, Inc. | Apparatus and method for positioning an object at multiple positions within an enclosure |
| JPH1159829A (ja) * | 1997-08-08 | 1999-03-02 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体ウェハカセット搬送装置、半導体ウェハカセット搬送装置で用いられるストッカ、ならびに半導体ウェハカセット搬送装置で用いられるストッカ入庫作業制御方法、ストッカ出庫作業制御方法、自動搬送車制御方法、およびストッカ在庫照合方法 |
| KR100253091B1 (ko) * | 1997-11-21 | 2000-04-15 | 윤종용 | 반도체 보트 이송용 자동 수평조절 엘리베이터장치 |
| US6368040B1 (en) | 1998-02-18 | 2002-04-09 | Tokyo Electron Limited | Apparatus for and method of transporting substrates to be processed |
| US6220808B1 (en) * | 1998-07-13 | 2001-04-24 | Asyst Technologies, Inc. | Ergonomic, variable size, bottom opening system compatible with a vertical interface |
| DE19905882C1 (de) * | 1999-02-11 | 2000-12-21 | Krantz Tkt Gmbh | Vorrichtung zum Transport von Gegenständen, insbesondere von Wafern und/oder Waferbehältern |
| US6427096B1 (en) | 1999-02-12 | 2002-07-30 | Honeywell International Inc. | Processing tool interface apparatus for use in manufacturing environment |
| US6042324A (en) * | 1999-03-26 | 2000-03-28 | Asm America, Inc. | Multi-stage single-drive FOUP door system |
| US6135698A (en) * | 1999-04-30 | 2000-10-24 | Asyst Technologies, Inc. | Universal tool interface and/or workpiece transfer apparatus for SMIF and open pod applications |
| US6612797B1 (en) * | 1999-05-18 | 2003-09-02 | Asyst Technologies, Inc. | Cassette buffering within a minienvironment |
| JP3954287B2 (ja) * | 1999-06-28 | 2007-08-08 | 東京エレクトロン株式会社 | ウェハキャリア用蓋体の着脱装置 |
| JP4067720B2 (ja) * | 1999-09-27 | 2008-03-26 | ローツェ株式会社 | 基板移送装置 |
| JP4085538B2 (ja) * | 1999-10-15 | 2008-05-14 | ソニー株式会社 | 検査装置 |
| US6742978B1 (en) * | 1999-12-07 | 2004-06-01 | Btu International, Inc. | Wafer indexing device |
| US6523563B2 (en) * | 2000-02-28 | 2003-02-25 | Applied Materials, Inc. | Modular gas panel closet for a semiconductor wafer processing platform |
| JP4552362B2 (ja) * | 2000-06-14 | 2010-09-29 | シンフォニアテクノロジー株式会社 | ウェハ搬送装置 |
| JP2004524673A (ja) * | 2000-07-07 | 2004-08-12 | セミトゥール・インコーポレイテッド | 自動処理システム |
| US6997664B1 (en) * | 2000-07-19 | 2006-02-14 | Industrial Technology Research Institute | Apparatus for loading/unloading wafers to and from semiconductor fabrication equipment |
| DE10038168C2 (de) * | 2000-08-04 | 2002-06-20 | Asys Gmbh | Handhabungs-und/oder Bearbeitungszentrum für Mikrosysteme |
| US6629813B2 (en) * | 2001-04-18 | 2003-10-07 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd | Microelectronic fabrication tool loading method providing enhanced microelectronic fabrication tool operating efficiency |
| US6968753B2 (en) * | 2002-05-09 | 2005-11-29 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co. | Vibration-dampening base for ball-type lead screw of load port transfer system |
| AU2003245484A1 (en) * | 2002-06-14 | 2003-12-31 | Fortrend Engineering Corporation | Universal reticle transfer system |
| JP4091380B2 (ja) * | 2002-08-29 | 2008-05-28 | 東京エレクトロン株式会社 | 被処理体基板を収容した複数種類のカセットに対応可能なロードポート |
| FR2844258B1 (fr) * | 2002-09-06 | 2005-06-03 | Recif Sa | Systeme de transport et stockage de conteneurs de plaques de semi-conducteur, et mecanisme de transfert |
| US7409263B2 (en) | 2004-07-14 | 2008-08-05 | Applied Materials, Inc. | Methods and apparatus for repositioning support for a substrate carrier |
| US7720558B2 (en) | 2004-09-04 | 2010-05-18 | Applied Materials, Inc. | Methods and apparatus for mapping carrier contents |
| JP4333701B2 (ja) * | 2006-06-14 | 2009-09-16 | 村田機械株式会社 | 搬送システム |
| JP2008294248A (ja) * | 2007-05-25 | 2008-12-04 | Tokyo Electron Ltd | 基板搬送システム |
| US20090056116A1 (en) * | 2007-08-07 | 2009-03-05 | Micro Foundry Inc. | Integrated miniature device factory |
| CA2629493A1 (en) * | 2008-04-18 | 2009-10-18 | Mabe Canada Inc. | Clothes dryer with louvre cover |
| US10041169B2 (en) | 2008-05-27 | 2018-08-07 | Picosun Oy | System and method for loading a substrate holder carrying a batch of vertically placed substrates into an atomic layer deposition reactor |
| US8282334B2 (en) * | 2008-08-01 | 2012-10-09 | Picosun Oy | Atomic layer deposition apparatus and loading methods |
| JP5278698B2 (ja) * | 2009-09-04 | 2013-09-04 | 株式会社ダイフク | カセット搬送装置 |
| JP5765549B2 (ja) * | 2010-10-04 | 2015-08-19 | 株式会社ダイフク | 物品搬送装置 |
| DE102011118276A1 (de) * | 2010-11-11 | 2012-08-23 | Zimmermann & Schilp Handhabungstechnik Gmbh | Belade- und Entladeverfahren für eine Prozesskassette |
| US9851643B2 (en) * | 2012-03-27 | 2017-12-26 | Kla-Tencor Corporation | Apparatus and methods for reticle handling in an EUV reticle inspection tool |
| KR102667587B1 (ko) * | 2022-03-17 | 2024-05-22 | 주식회사 선반도체 | 트윈 스테이지형 smif 파드 오픈장치 |
| KR102684177B1 (ko) * | 2022-05-30 | 2024-07-11 | 주식회사 선반도체 | 멀티 스테이지형 smif 파드 오픈장치 |
Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4532970A (en) * | 1983-09-28 | 1985-08-06 | Hewlett-Packard Company | Particle-free dockable interface for integrated circuit processing |
| US4616683A (en) * | 1983-09-28 | 1986-10-14 | Hewlett-Packard Company | Particle-free dockable interface for integrated circuit processing |
| US4674939A (en) * | 1984-07-30 | 1987-06-23 | Asyst Technologies | Sealed standard interface apparatus |
| US4674935A (en) * | 1986-06-02 | 1987-06-23 | The Mead Corporation | Feeder mechanism |
| US4815912A (en) * | 1984-12-24 | 1989-03-28 | Asyst Technologies, Inc. | Box door actuated retainer |
| US4995430A (en) * | 1989-05-19 | 1991-02-26 | Asyst Technologies, Inc. | Sealable transportable container having improved latch mechanism |
| DE4310149A1 (de) * | 1993-03-29 | 1994-10-06 | Jenoptik Jena Gmbh | Einrichtung zum Handeln von scheibenförmigen Objekten in einer Handlingebene eines lokalen Reinraumes |
| DE4332657A1 (de) * | 1993-09-27 | 1995-03-30 | Acr Automation In Cleanroom | Vorrichtung zum Handhaben von Substraten in Reinsträumen und mit einer derartigen Vorrichtung versehene Schleuseneinrichtung |
| US5431600A (en) * | 1992-10-06 | 1995-07-11 | Shinko Electric Co., Ltd. | Automatic transferring system using portable closed container |
Family Cites Families (25)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3902615A (en) * | 1973-03-12 | 1975-09-02 | Computervision Corp | Automatic wafer loading and pre-alignment system |
| US4427332A (en) * | 1982-02-26 | 1984-01-24 | Nanometrics, Incorporated | Integrated circuit wafer transport mechanism |
| US4534389A (en) * | 1984-03-29 | 1985-08-13 | Hewlett-Packard Company | Interlocking door latch for dockable interface for integrated circuit processing |
| US5097421A (en) * | 1984-12-24 | 1992-03-17 | Asyst Technologies, Inc. | Intelligent waxer carrier |
| US5166884A (en) * | 1984-12-24 | 1992-11-24 | Asyst Technologies, Inc. | Intelligent system for processing and storing articles |
| US4674936A (en) * | 1985-08-26 | 1987-06-23 | Asyst Technologies | Short arm manipulator for standard mechanical interface apparatus |
| US4676709A (en) * | 1985-08-26 | 1987-06-30 | Asyst Technologies | Long arm manipulator for standard mechanical interface apparatus |
| US4739882A (en) * | 1986-02-13 | 1988-04-26 | Asyst Technologies | Container having disposable liners |
| US4746256A (en) * | 1986-03-13 | 1988-05-24 | Roboptek, Inc. | Apparatus for handling sensitive material such as semiconductor wafers |
| JPS62222625A (ja) * | 1986-03-25 | 1987-09-30 | Shimizu Constr Co Ltd | 半導体製造装置 |
| US4724874A (en) * | 1986-05-01 | 1988-02-16 | Asyst Technologies | Sealable transportable container having a particle filtering system |
| US4770590A (en) * | 1986-05-16 | 1988-09-13 | Silicon Valley Group, Inc. | Method and apparatus for transferring wafers between cassettes and a boat |
| US4775281A (en) * | 1986-12-02 | 1988-10-04 | Teradyne, Inc. | Apparatus and method for loading and unloading wafers |
| US4744709A (en) * | 1987-03-30 | 1988-05-17 | Varian Associates, Inc. | Low deflection force sensitive pick |
| US4895486A (en) * | 1987-05-15 | 1990-01-23 | Roboptek, Inc. | Wafer monitoring device |
| US4974166A (en) * | 1987-05-18 | 1990-11-27 | Asyst Technologies, Inc. | Processing systems with intelligent article tracking |
| US4859137A (en) * | 1987-10-21 | 1989-08-22 | Asyst Technologies | Apparatus for transporting a holder between a port opening of a standardized mechanical interface system and a loading and unloading station |
| US5169272A (en) * | 1990-11-01 | 1992-12-08 | Asyst Technologies, Inc. | Method and apparatus for transferring articles between two controlled environments |
| US5256204A (en) * | 1991-12-13 | 1993-10-26 | United Microelectronics Corporation | Single semiconductor water transfer method and manufacturing system |
| US5469963A (en) * | 1992-04-08 | 1995-11-28 | Asyst Technologies, Inc. | Sealable transportable container having improved liner |
| US5527390A (en) * | 1993-03-19 | 1996-06-18 | Tokyo Electron Kabushiki | Treatment system including a plurality of treatment apparatus |
| US5378107A (en) * | 1993-04-01 | 1995-01-03 | Applied Materials, Inc. | Controlled environment enclosure and mechanical interface |
| KR100221983B1 (ko) * | 1993-04-13 | 1999-09-15 | 히가시 데쓰로 | 처리장치 |
| US5443348A (en) * | 1993-07-16 | 1995-08-22 | Semiconductor Systems, Inc. | Cassette input/output unit for semiconductor processing system |
| US5588789A (en) * | 1995-07-06 | 1996-12-31 | Brooks Automation | Load arm for load lock |
-
1996
- 1996-08-21 US US08/700,997 patent/US5674039A/en not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-06-20 DE DE19726305A patent/DE19726305C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1997-07-14 JP JP18852597A patent/JP3324960B2/ja not_active Ceased
Patent Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4532970A (en) * | 1983-09-28 | 1985-08-06 | Hewlett-Packard Company | Particle-free dockable interface for integrated circuit processing |
| US4616683A (en) * | 1983-09-28 | 1986-10-14 | Hewlett-Packard Company | Particle-free dockable interface for integrated circuit processing |
| US4674939A (en) * | 1984-07-30 | 1987-06-23 | Asyst Technologies | Sealed standard interface apparatus |
| US4815912A (en) * | 1984-12-24 | 1989-03-28 | Asyst Technologies, Inc. | Box door actuated retainer |
| US4674935A (en) * | 1986-06-02 | 1987-06-23 | The Mead Corporation | Feeder mechanism |
| US4995430A (en) * | 1989-05-19 | 1991-02-26 | Asyst Technologies, Inc. | Sealable transportable container having improved latch mechanism |
| US5431600A (en) * | 1992-10-06 | 1995-07-11 | Shinko Electric Co., Ltd. | Automatic transferring system using portable closed container |
| DE4310149A1 (de) * | 1993-03-29 | 1994-10-06 | Jenoptik Jena Gmbh | Einrichtung zum Handeln von scheibenförmigen Objekten in einer Handlingebene eines lokalen Reinraumes |
| DE4332657A1 (de) * | 1993-09-27 | 1995-03-30 | Acr Automation In Cleanroom | Vorrichtung zum Handhaben von Substraten in Reinsträumen und mit einer derartigen Vorrichtung versehene Schleuseneinrichtung |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5674039A (en) | 1997-10-07 |
| JP3324960B2 (ja) | 2002-09-17 |
| JPH10116876A (ja) | 1998-05-06 |
| DE19726305A1 (de) | 1998-01-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE19726305C2 (de) | System zum Transportieren von Objekten zwischen Umgebungen mit kontrollierten Bedingungen | |
| DE60025708T2 (de) | Mehrstufiger einzelantrieb für foup-türöffnungssystem | |
| DE60100575T2 (de) | Vorrichtung zum Speichern und Bewegen einer Kassette | |
| DE68917968T2 (de) | System zur Halbleiterherstellung unter Reinheitsbedingungen. | |
| DE3687795T2 (de) | Halbleiterbehandlungsvorrichtung. | |
| DE4326309C1 (de) | Vorrichtung zum Transport von Wafermagazinen | |
| DE4425208C2 (de) | Einrichtung zur Kopplung von Be- und Entladegeräten mit Halbleiterbearbeitungsmaschinen | |
| EP0542793B1 (de) | Anordnung zum lagern, transportieren und einschleusen von substraten | |
| DE69322671T2 (de) | Vorrichtung zur Behandlung von Wafers mit Microschaltungen | |
| DE60131895T2 (de) | Vorrichtung zur beladung eines behälters, der in einem fims-system verwendung findet | |
| EP0267507A2 (de) | Behältnis zur Handhabung von Halbleiterelementen | |
| DE10297171T5 (de) | Wafermaschine | |
| EP0805480A2 (de) | SMIF-System zum Einschleusen von Substraten in Schleusenreinsträume | |
| WO2008011741A2 (de) | Vorrichtung zur lagerung von objekten aus dem bereich der fertigung von elektronischen bauteilen | |
| EP0587845B1 (de) | Einrichtung und verfahren zur handhabung von gegenständen | |
| DE3856248T2 (de) | Siliciumwafer-handhabungssystem mit bernoulli-aufnahme | |
| EP0340345B1 (de) | Vorrichtung zum Ein- und Ausschleusen von Substraten aus einem Vakuumkessel | |
| EP1177570A1 (de) | Einrichtung zum handhaben von substraten innerhalb und ausserhalb eines reinstarbeitsraumes | |
| DE10206837A1 (de) | Fördersystem | |
| DE4310149C2 (de) | Einrichtung zur Handhabung von scheibenförmigen Objekten in einer Handhabungsebene eines lokalen Reinraumes | |
| DE4332657C2 (de) | Vorrichtung zum Handhaben von Substraten in Reinsträumen und mit einer derartigen Vorrichtung versehene Schleuseneinrichtung | |
| DE3317574A1 (de) | Werkstueck-sammel- und transportvorrichtung | |
| DE19542646A1 (de) | Be- und Entladestation für Halbleiterbearbeitungsanlagen | |
| CH714282B1 (de) | Lagersystem mit Förderelementen. | |
| DE19916932C1 (de) | Einrichtung zur Handhabung eines Gegenstandes für die Be- und Entladung eines Reinstraumes |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
| 8304 | Grant after examination procedure | ||
| 8364 | No opposition during term of opposition | ||
| 8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |