DE19647312A1 - Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung temperaturabhängiger Dehnungseigenschaften eines Prüflings - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung temperaturabhängiger Dehnungseigenschaften eines PrüflingsInfo
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 52
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 25
- 101710097665 Leucine aminopeptidase 1 Proteins 0.000 claims abstract description 29
- 102100033292 Leucine-rich repeat-containing protein 7 Human genes 0.000 claims abstract description 29
- 101710082688 Probable leucine aminopeptidase 1 Proteins 0.000 claims abstract description 29
- 102100023981 Lamina-associated polypeptide 2, isoform alpha Human genes 0.000 claims abstract description 21
- 101710097668 Leucine aminopeptidase 2 Proteins 0.000 claims abstract description 21
- 101710082686 probable leucine aminopeptidase 2 Proteins 0.000 claims abstract description 21
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 11
- 102100040014 GH3 domain-containing protein Human genes 0.000 claims abstract description 7
- 101000886770 Homo sapiens GH3 domain-containing protein Proteins 0.000 claims abstract description 7
- 101000864662 Homo sapiens Probable ATP-dependent RNA helicase DHX58 Proteins 0.000 claims abstract description 4
- 102100030090 Probable ATP-dependent RNA helicase DHX58 Human genes 0.000 claims abstract description 4
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims description 10
- 239000004033 plastic Substances 0.000 claims description 7
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 claims description 7
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 6
- 230000009849 deactivation Effects 0.000 claims description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims 1
- 101150071434 BAR1 gene Proteins 0.000 abstract description 2
- 101100378536 Ovis aries ADRB1 gene Proteins 0.000 abstract description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 abstract description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 2
- 230000003542 behavioural effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 17
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 10
- 230000008569 process Effects 0.000 description 5
- 101100013508 Gibberella fujikuroi (strain CBS 195.34 / IMI 58289 / NRRL A-6831) FSR1 gene Proteins 0.000 description 3
- 101150031117 MGR1 gene Proteins 0.000 description 3
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 3
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 3
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 3
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 3
- 101100365087 Arabidopsis thaliana SCRA gene Proteins 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 235000007575 Calluna vulgaris Nutrition 0.000 description 1
- 101100286668 Mus musculus Irak1bp1 gene Proteins 0.000 description 1
- 101000621511 Potato virus M (strain German) RNA silencing suppressor Proteins 0.000 description 1
- 101150109818 STU1 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100204269 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) STU2 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000003302 ferromagnetic material Substances 0.000 description 1
- 239000011152 fibreglass Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 230000000284 resting effect Effects 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 230000036962 time dependent Effects 0.000 description 1
- 238000012549 training Methods 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
- 210000003462 vein Anatomy 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
- G01N25/16—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating thermal coefficient of expansion
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung tempera
turabhängiger Dehnungseigenschaften mindestens eines läng
lichen, einseitig eingespannten Prüflings bei unterschied
lichen Temperaturen mittels einer Temperaturkammer.
Aus SU-A-1645883 ist ein Verfahren zur Bestimmung temperatur
abhängiger mechanischer Eigenschaften bekannt, bei dem zwei
identische Prüflinge vorgesehen sind, wobei an einem der
Prüflinge gezogen wird. Die temperaturabhängigen Längenände
rungen des zweiten Prüflings werden mittels eines Sensors
erfaßt, wobei dessen Temperaturgang bestimmt wird. Beim Ver
gleich zweier identischer Prüflinge, von denen einer nur
einen relativen Bezugswert liefert, sind auch nur Relativmes
sungen möglich.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde mit geringem Aufwand
eine möglichst exakte Bestimmung von Dehnungswerten minde
stens eines Prüflings zu ermöglichen. Diese Aufgabe wird
gemäß einem Verfahren der eingangs genannten Art dadurch
gelöst, daß in der Temperaturkammer, neben dem Prüfling
zusätzlich ein hinsichtlich seines Temperaturganges und
seines Dehnungsverhaltens bekannter Referenzstab einseitig
eingespannt wird, daß der Referenzstab und der Prüfling
gemeinsam auf bestimmte Temperaturwerte gebracht werden, daß
jeweils bei Erreichen der bestimmten Temperaturwerte die
zugehörigen Dehnungswerte an dem Prüfling gemessen werden und
daß die tatsächlichen Dehnungswerte unter Einbeziehung der am
Referenzstab gemessenen Dehnungswerte für den jeweiligen Tem
peraturwert berechnet werden.
Der bei der Erfindung vorgesehene Referenzstab ermöglicht
eine sehr genaue Messung von Dehnungseigenschaften des Prüf
lings.
Die Erfindung betrifft weiterhin eine Vorrichtung zur Bestim
mung temperaturabhängiger Dehnungseigenschaften mindestens
eines länglichen, einseitig eingespannten Prüflings bei
unterschiedlichen Temperaturen mittels einer Temperaturkam
mer, welche dadurch gekennzeichnet ist,daß in der Temperatur
kammer neben dem Prüfling zusätzlich ein hinsichtlich seines
Temperaturganges und seines Dehnungsverhaltens bekannter
Referenzstab vorgesehen ist, wobei der Referenzstab und der
Prüfling gemeinsam auf bestimmte Temperaturwerte gebracht
werden, daß Meßeinrichtungen vorgesehen sind, die bei Errei
chen der bestimmten Temperaturwerte die zugehörigen Dehnungs
werte bestimmen und daß die tatsächlichen Dehnungswerte unter
Einbeziehung der am Referenzstab gemessenen Dehnungswerte für
den jeweiligen Temperaturwert ermittelt werden.
Die Erfindung und ihre Weiterbildungen werden nachfolgend
anhand von Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 in schematischer Darstellung ein erstes Ausführungs
beispiel einer Temperaturkammer zur Durchführung des
erfindungsgemäßen Verfahrens,
Fig. 2 ein weiteres Ausführungsbeispiel einer Temperatur
kammer zur Durchführung des erfindungsgemäßen
Verfahrens in abgewandelter Form,
Fig. 3 ein Zeitdiagramm für die Betätigung der Anordnung
nach Fig. 2
Fig. 4 ein weiteres Ausführungsbeispiel einer Temperatur
kammer mit horizontaler Anordnung des Prüflings.
In Fig. 1 ist Temperaturkammer TK1 im Schnitt dargestellt,
deren Inneres mittels einer Temperatur-Steuereinrichtung CT1
auf vorgegebene Temperaturwerte einstellbar ist. Die Tempera
tur-Steuereinrichtung CT1 wird von einer zentralen Steuer-
und Recheneinheit CU1 über eine Leitung LT1 angesteuert. Im
Inneren der Temperaturkammer TK1 ist ein Rahmen FA1 vorgese
hen, der eine Reihe von im wesentlichen vertikal verlaufenden
Stützen (vorzugsweise in einer kreisförmigen Anordnung) auf
weist, wobei im vorliegenden Beispiel zur Vereinfachung der
Darstellung nur zwei Stützen ST1 und ST2 dargestellt sind. Am
oberen Ende dieser Stützen ST1 und ST2 ist eine Deckplatte DP
vorgesehen, die entsprechende Durchtrittsöffnungen aufweist,
wobei diese ebenfalls zweckmäßig auf einem Teilkreis angeord
net und im vorliegenden Beispiel nur zwei Durchtrittsöffnun
gen OP1 und OP2 sichtbar sind. In der Mitte der Deckplatte DP
ist eine weitere Öffnung OR1 vorgesehen, in der mittels einer
auf der Oberfläche der Deckplatte DP aufliegenden Befesti
gungseinrichtung BR1 ein Bezugs- oder Referenzstab R1 einsei
tig eingespannt gehalten ist. Dieser Referenzstab R1
erstreckt sich über eine ausreichend große Länge nach unten,
wobei er zweckmäßig etwa im Mittelpunkt des Teilkreises für
die Öffnungen OP1 und OP2 liegt, welche für die Aufnahme von
Prüflingen dienen, von denen hier nur zwei mit PR1 und PR2
bezeichnete dargestellt sind. Die Prüflinge PR1 und PR2 sind
durch Befestigungseinrichtungen B1 und B2 gehalten und
erstrecken sich etwa parallel zur dem Referenzstab R1 nach
unten. Die Prüflinge PR1 und PR2 (Länge lP) sowie der Refe
renzstab R1 (Länge lR) sind zweckmäßig gleich lang oder
zumindest etwa gleich lang (Längenabweichung unter 10%)
gewählt, wobei bevorzugt für entsprechend genaue Messungen
Längen von mindestens 0,5 m, vorzugsweise zwischen 1 m und
1,5 m gewählt werden. Der Referenzstab R1 dient vor allem
dazu, die temperaturabhängigen Veränderungen des Gestells
oder Rahmens FA1 zu erfassen.
Am unteren (freien) Ende der Prüflinge PR1 und PR2 sowie des
Referenzstabes R1 sind jeweils Befestigungsadapter BA11, BA2
und BAR1 vorgesehen, die jeweils mit einheitlich ausgebilde
ten stabförmigen Fortsetzungen FS11, FS2 sowie FSR1 versehen
sind. Diese Fortsetzungen FS1 bis FSR1 stellen die Geber für
den jeweiligen Prüflingen und dem Referenzstab zugeordnete
Sensoren SP11, SP2 sowie SR1 dar, wobei bevorzugt berührungs
los messende Sensoren verwendet werden. Besonders vorteilhaft
sind Sensoren, die auf Änderungen eines Magnetfeldes anspre
chen, wobei außen feststehende, an der Grundplatte GP befe
stigte, Magnetspulen WP1, WP2 und WPR1 verwendet werden, die
im Inneren einen mit den Fortsetzungen FS11, FS2 und FSR1
verbundenen Kern aus ferromagnetischem Material MG1, MG2 und
MGR1 aufweisen. Die durch die Verschiebung des Kerns erzeug
ten elektrischen Spannungen werden von jedem Sensor über ent
sprechende Meßleitungen LS1, LS2 und LR1 der zentralen
Steuer- und Recheneinheit CU1 zur Auswertung zugeführt. Diese
weist Anzeige und/oder Registriereinrichtungen auf, welche
durch ein Display DP schematisch angedeutet sind.
Während der Referenzstab R1 im Bereich des zugehörigen
Sensors SR1 bzw. des Magneten MGR1 endet, geht das Fortset
zungselement FS1 und FS2 bei den Prüflingen PR1 und PR2 über
den Sensor hinaus und endet in einer Grundlast LGP1 bzw.
LGP12, welche dazu dient, bei nicht stabförmigen oder nicht
geraden Prüflingen, wie z. B. Fäden, Seilen, Kabeln, elektri
schen/optischen Leitern oder dergleichen, eine gerade Aus
richtung (praktisch keine Durchbiegung infolge leichter Vor
spannung) zu gewährleisten. Als Meßsensoren SP1, SP2 und SR1
können bevorzugt berührungslos arbeitende Geräte, insbeson
dere differentialtransformatorische Wegaufnehmer der Firma
Schaevitz verwendet werden.
Zur Durchführung des Meßzyklus können zwei grundsätzlich
unterschiedliche Meßverfahren durchgeführt werden:
- 1. Exakte Bestimmung der temperaturabhängigen Ausdehnung bzw. des Ausdehnungskoeffizienten der Prüflinge PR1 und PR2 oder
- 2. Bestimmung des Dehnungsverhaltens der Prüflinge PR1 und PR2 unter Zugbelastung z. B. mittels zusätzlich anzubrin gender Gewichte LAP1 und LAP2 bei den Prüflingen.
Nachfolgend wird zunächst die reine Bestimmung des tempera
turabhängigen Ausdehnungskoeffizienten α der Prüflinge erläu
tert, wobei die Änderung der Temperatur in beiden Fällen
grundsätzlich gleich verläuft. Die Längen der Proben und des
Referenzstabes sind der Einfachheit halber als gleich voraus
gesetzt (lP = lR). Bei unterschiedlichen Längen sind in
bekannter Weise entsprechende Umrechnungen durchzuführen.
Von dem Meß- und Steuergerät CU1 aus wird die Temperatur
steuerung CT1 so aktiviert, daß nacheinander vorgegebene,
entsprechend frei wählbare und innerhalb eines bestimmten
Meßbereiches liegende Temperaturwerte im Inneren der Kammer
TK1 erhalten werden. Natürlich ist dabei zu berücksichtigen,
daß es eine entsprechende Zeit dauert, bis alle Elemente
innerhalb der Kammer TK1 die gewünschte Temperatur erreicht
haben. Besonders genaue Meßergebnisse lassen sich erhalten,
wenn innerhalb der Temperaturkammern TK1 mittels hier nicht
dargestellter Sensoren die Temperatur an mindestens einem
Prüfling und am Referenzstab direkt gemessen wird. An den
Prüflingen PR1 und PR2 hängt, falls erforderlich, nur die
ggf. zum Spannen notwendige Grundlast LGP1 bzw. LGP12. Die
bei den verschiedenen Temperaturstufen erhaltenen Dehnungs
werte werden über die Sensoren SP11, SP2 sowie SR1 ermittelt
und über die Meßleitungen LS1, LS2 und LR1 der Steuer- und
Recheneinheit CU1 zugeführt. Während eines Temperaturzyklus
dehnen sich die verschiedenen Bauelemente des Rahmens FA1
(insbesondere die Stützen ST1 und ST2) ebenfalls aus, so daß
die Meßwerte an den Sensoren SP1, SP2 und SR1 ebenfalls mit
einem Meßfehler behaftet sind. Der Referenzstab R1 in der
Mitte dient dazu, diesen Fehler zu korrigieren, wobei hierfür
bevorzugt ein Quarzstab mit genau bekanntem thermischen Aus
dehnungskoeffizienten verwendet wird.
Für die nachfolgenden Überlegungen gilt die Definition, daß
eine Verlängerung der Prüflinge PR11, PR2 bzw. des Referenz
stabes R1 als positive Dehnung behandelt wird (bei Erhöhung
der Temperatur), während eine Verkürzung der Proben bzw. des
Referenzstabes (bei Erniedrigung der Temperatur) als negative
Dehnung angesetzt ist. Gemessene Werte sind jeweils mit einem
* bezeichnet. Von dem Material des Referenzstabes R1 ist der
Ausdehnungskoeffizient αR exakt bekannt und es kann so die
für einen vorgegebenen Temperaturgang bzw. Temperaturänderung
ΔT sich (theoretisch) ergebende Längenänderung
ΔlR = αR.ΔT.lR (1)
berechnet werden, wobei lR die Länge des Referenzstabes R1
bedeutet.
Die tatsächlich gemessene Längenänderung für die Temperatur
differenz ΔT des Meßschritts ist sowohl beim Referenzstab R1
als auch bei den Prüflingen PR1 und PR2 mit einem Fehler
behaftet, der durch die gleichzeitig stattfindende Längenän
derung des Rahmens FA1 bedingt ist. Gemessen wird mittels des
Sensors SR1 eine Längenänderung des Referenzstabes R1 von
ΔlR* welche um den Wert der Ausdehnung des Rahmens FA1 zu
klein ist. Der "Ausdehnungsfehler" ΔlF durch das Gestell FR1
kann in einfacher Weise aus dem tatsächlich gemessenen Wert
der Dehnung ΔlR* des Referenzstabes R1 bestimmt werden nach
der Gleichung
ΔlF = |ΔlR| + |ΔlR*| (2)
Eine Ausdehnung des Gestells FA1 wirkt der temperaturabhängi
gen Längenänderung des Referenzstabes entgegen, d. h. die
gemessene Längenänderung ΔlR* des Referenzstabes R1 ist zu
klein. Eine Dehnung des Gestells FR1 wirkt sich wie eine
"Verkürzung" des Referenzstabes R1 aus.
Wenn die Wegaufnehmer, also die Sensoren SP1, SP2 und SR1
ebenfalls einen (z. B. vom Hersteller angegebenen) zusätz
lichen Temperatureinfluß auf das Meßergebnis liefern, dann
ist dieser zusätzlich als Korrekturwert zu berücksichtigen.
Für die gemessene Längenänderung ΔlP* eines Prüflings gilt
gegenüber der tatsächlichen Längenänderung ΔlP die Beziehung:
|ΔlP| = |ΔlP*| + |ΔlF| = |ΔlP*| + |ΔlR| + |ΔlR*| (3)
Ausgehend von einer Länge lR = 1495 mm (bei 20°C) des Refe
renzstabes R1 ergibt sich, wenn dieser aus Quarz besteht (α =
0,05.10-5/°C) gemäß Gleichung (1) für einen Temperatur
schritt von +20° bis -30° nach (1) ein rechnerischer Wert
(Schrumpfung) von
ΔlR = 0,05.10-5.(-50°).1495 mm = -0,037 mm (gerundet 0,04 mm)
für die Längenänderung (Schrumpfung) des Referenzstabes R1.
Bei einer Abkühlung von 20°C auf -30°C wurden folgende Meß
werte bei einem erhalten:
ΔlP* = -0,53 mm (Prüfling PR1 in Form eines Kabels)
ΔlR* = +0,87 mm. (Referenzstab R1)
ΔlR* = +0,87 mm. (Referenzstab R1)
Daraus ergibt sich eine tatsächliche Längenänderung
(Schrumpf) für den Prüfling nach Gleichung (3) von
ΔlP = |-0,53 mm| + |0,04 mm| + |0,87 mm| = -1,44 mm.
Daraus läßt sich der Wert von αP analog zur Gleichung (1)
berechnen zu
Ein weiteres Beispiel für den gleichen Prüfling PR1 bei einer
Erwärmung von +20°C auf +60°C ergab folgende Meßwerte:
ΔlP* = +0,19 mm
ΔlR* = -0,67 mm
ΔlR* = -0,67 mm
ΔlR nach Gleichung (1) ergibt sich zu
ΔlR = 0,05.10-5.40°.1495 mm = +0,0299 mm (gerundet 0,03).
Die tatsächliche Längenänderungen (Ausdehnung) ΔlP der Probe
ist somit nach Gleichung (3)
ΔlP = |+0,19 mm| + |0,03 mm| + |0,67 mm| = 0,89 mm.
Aus den beiden Beispielen ergibt sich, daß der Ausdehnungs
koeffizient des Proben-Kabels für niedrige Temperaturen
(20°C/-30°C von 1,93 10-5/°C gegenüber 20°C/60°C von 1,49.10-5/°C)
größer ist als bei höheren Temperaturen. In der
Praxis sollte natürlich zur Erhöhung der Auflösung mit klei
neren Temperatursschritten z. B. von 10°C gemessen werden.
Die nachfolgende Tabelle 1 zeigt die Erfassung der Dehnungs
werte dreier Proben des gleichen Gegenstandes (hier einer
Kabelseele) ausgehend von einer Temperatur von 24,1°C.
Tabelle 1
Beispielsweise ergibt sich für den Temperaturbereich von
-28,4 bis 18,1°C ein Wert
α• = (0,10 -0,08):10,3°C = 1,94.10-5/°C
In einem ersten Durchgang werden, wie vorstehend beschrieben,
die relativen Dehnungen lP/Δl und daraus die Ausdehnungs
koeffizienten der verschiedenen Proben mit den zugehörigen
Korrekturwerten exakt bestimmt. Hierzu ist wie bereits
erwähnt, bei nicht geraden, d. h. nicht von Haus aus stabför
migen Proben ein Spanngewicht LGP1, LGP2 anzubringen, um die
Proben in einer gestreckten Lage zu halten, wobei diese
Spanngewichte während der gesamten Temperaturänderungen
unverändert beibehalten werden. Für eine E-Modulbestimmung
wird zusätzlich bei der jeweiligen Temperatur (d. h. nachdem
innerhalb der Temperaturkammer TK1 alle Elemente die
gewünschte Temperatur erreicht haben) jeweils ein zusätz
liches Gewicht LAP1 (bei der Probe PR1) bzw. LAP2 (bei der
Probe PR2) angebracht. Diese Zusatzgewichte sind so zu wäh
len, daß die Prüflinge nur eine elastische Dehnung erfahren.
An die jeweiligen Grund-Dehnungswerte aus der einen Tempera
turänderung schließt sich jeweils ein weiterer Meßvorgang an,
und zwar der aus der Längenänderung aufgrund der exakt kali
brierten zusätzlichen Gewichte LAP1 bzw. LAP2 bei den Proben
PR11 und PR12. Daraus können dann die E-Modulwerte berechnet
werden nach der Gleichung:
E = F.lP/A.Δl (4),
wobei F die Zugkraft, lP die Länge und A die Querschnitts
fläche des Prüflings und Δl dessen durch die Zugkraft
bedingte Längenänderung bedeutet.
Nur bei geringen Belastungen im Kurzzeitbereich sind die
Elastizitätsmodule sehr exakt, da hier durch ihre Ermitt
lungsart die Zeitabhängigkeit richtig berücksichtigt ist. Die
Gewichte (Probenbelastungen durch LAP1 und LAP2) werden so
gewählt, daß keine meßbare plastische Deformation auftritt.
Vorzugsweise werden die Zusatzgewichte LAP1 und LAP2 so
gewählt, daß gilt: Δl/l ≦ 0,1%. Für eine konstante Belastung
durch ein Gewicht (z. B. Anfangsgewicht oder ein Anfangsge
wicht + Zusatzgewicht) gilt für Kunststoffe folgende Formel
für die Probendehnung:
ε = εe + σ/Ev (1-e-t/τ) = Δl/l
mit τ = Viskosität/Elastizitätsmodul.
Der elastische Anteil (εe) und der zeitabhängige viskoelasti
sche Anteil (εv = σ/Ev (1-e-t/τ) werden mit der beschriebenen
Vorrichtung bestimmt, wobei die ε für dεv/dt ≈ 0 ausgewertet
wird.
Somit wird ein praxisrelevanter Modul gemessen, der hier E-
Modul genannt wird.
Mit diesem ermittelten Kunststoff-E-Modul kann z. B. das
thermische Ausdehnungsverhalten von Kabeln (z. B. Luftkabel
bestimmt werden.
Falls Kunststoffe bei einer Temperatur größer Tg (= Erwei
chungstemperatur) oder größer 0,3×Ts (Schmelztemperatur)
untersucht werden sollen, so ist ein Trägerkörper (z. B. glas
faserverstärkter Kunststoff oder Polycarbonatkörper ein Glas
körper oder ähnliches) erforderlich. Dieser Trägerkörper ist
im zu untersuchenden Temperaturbereich stabil gegen plasti
sche Verformung. Dieser Trägerkörper kann sowohl als Zentral
stab oder Zentralhohlrohr ausgelegt sein als auch in Form
mehrerer parallelgeschalteter Stäbe ausgelegt sein. Dieser
Trägerkörper wird mit einem zu untersuchenden Kunststoff
(einschichtig oder mehrschichtig) umspritzt. (z. B. Zwei
schichtader oder LWL Bändchen oder Zentralelement) und der so
erhaltene Verbundkörper wird untersucht.
Es gilt:
wobei
E = E-Modul
A = Querschnittsflächen
i = Zählindex bedeutet.
E = E-Modul
A = Querschnittsflächen
i = Zählindex bedeutet.
Der E-Modul des zu untersuchenden Kunststoffes kann an einen
Zweischicht- oder Mehrkomponentensystem ermittelt werden.
Der E-Modul von Mehrschichtelementen (z. B. Lichtwellenleiter-
Zweischichtadern oder von Lichtwellenleiter-Bändern) kann
ebenfalls bestimmt werden, wobei eine Berechnungsvereinfa
chung durch Reduzierung der Elemente möglich ist.
Bei dem Ausführungsbeispiel nach Fig. 2 ist davon ausgegan
gen, daß die grundsätzliche Anordnung der Prüflinge PR1 und
PR2, des Referenzstabes R1 sowie der Deckplatte DP und der
Grundplatte GP gegenüber Fig. 1 unverändert geblieben ist,
weshalb die in Fig. 1 benutzten Bezugszeichen auch hier ein
getragen sind. Unterschiedlich gegenüber Fig. 1 ist im
wesentlichen nur der untere Teil des in der Temperaturkammer
TK2 angeordneten Gestells FA2 gestaltet und zwar im Hinblick
darauf, wie die für die Bestimmung des E-Moduls anzubringen
den zusätzlichen Gewichte LAP1 und LAP2 aktiviert oder deak
tiviert werden können. Am Ende der zu einer Vorspannung
zunächst nicht gerader Proben PR1 und PR2 benötigten Grundge
wichte LGP1 und LGP2 ist jeweils ein zusätzlicher Bolzen BO1
bzw. BO2 vorgesehen, auf dem die Zusatzgewichte LAP1 und LAP2
in vertikaler Richtung verschiebbar gehalten sind. Diese
Zusatzgewichte LAP1 und LAP2 weisen eine Längsbohrung auf,
mit der sie auf dem jeweiligen Bolzen BO1 und BO2 gleiten
können. Da jeweils der Aufheiz- bzw. Abkühlvorgang innerhalb
der Temperaturkammer TK2 eine größere Zeit in Anspruch nimmt,
ist es nicht zweckmäßig, diese Zusatzgewichte während dieser
ganzen, relativ lange dauernden Aufheiz- bzw. Abkühlzonen an
der jeweiligen Probe hängen zu lassen. Deshalb ist eine von
außen betätigbare Bedienungseinrichtung BE vorgesehen, die
eine außerhalb der Temperaturkammer TK2 angeordnete Führungs
stange FS aufweist, an der ein Hubzylinder HZ (hydraulisch
betätigbar) angeschlossen ist, wobei für dessen Aktivierung
bzw. Deaktivierung im vorliegenden Beispiel ein Ventilhebel
HH vorgesehen ist. Der Hubzylinder HZ ist mit einem Zugseil
ZS verbunden, das über Umlenkrollen UR2 (außerhalb von TK2)
und UR1 (innerhalb von TK2) geführt wird. In der Wandung der
Temperaturkammer TK2 ist eine möglichst kleine Durchtritts
öffnung OW vorgesehen, die zweckmäßig durch entsprechende
Dichtmaterialien zusätzlich abgedichtet wird (hier nicht
dargestellt). Das Zugseil ZS läuft im Inneren der Temperatur
kammer TK2 im wesentlichen parallel zu dem Gestellrahmen FA2
nach unten. Im unteren Teil des Gestells FA2 sind vertikale
Stützen STU1 und STU2 (auf einem Teilkreis angebracht - hier
nur jeweils die beiden äußeren dargestellt) vorgesehen,
welche die Grundplatte GP gegen eine Basisplatte BP abstüt
zen. Das Zugseil ZS ist durch die Grundplatte GP hindurchge
führt und läuft im Inneren einer Führungshülse FR weiter, bis
es mit dem oberen Ende einer auf dieser Führungshülse FR frei
laufenden Führungsbuchse FB verbunden ist. Um den Durchtritt
des Zugseils ZS nach außen zur Führungsbuchse FB zu ermögli
chen, ist in der Führungshülse FR ein Längsschlitz vorgese
hen. An der Führungsbuchse FB ist senkrecht abragend eine
Hubplatte HB angebracht, die sich so weit nach rechts
erstreckt, daß sie die jeweiligen Zusatzgewichte LAP1 und
LAP2 erfaßt. Für die Dauer einer Temperaturänderung wird bis
zu deren Abschluß mittels des Ventilhebels HH der Hubzylinder
HZ aktiviert und das Zugseil ZS gespannt. Dies führt dazu,
daß wie durch den Pfeil PF angedeutet, die Führungsbuchse FB
auf dem Führungsrohr FR nach oben gezogen wird, so daß auch
die Hubplatte HB mit den jeweiligen Zusatzgewichten LAP1 und
LAP2 in Kontakt kommt und diese in eine gestrichelt darge
stellte Position LAP1' und LAP2' anhebt, in der sie keine
Zugkraft auf die Proben PR1 und PR2 ausüben. In dieser Posi
tion bleiben die Zusatzgewichte LAP1' und LAP2' so lange, bis
der gewünschte neue Temperaturwert eingestellt ist. Dann
erfolgt durch Entspannen des Zugseiles ZS, d. h. durch Deakti
vierung des Hubzylinders HZ ein Absenken der Hubplatte HB in
die dargestellte Position, wobei gleichzeitig die Gewichte
aus der mit LAP1'/LAP2' dargestellten Position in die Posi
tion LAP1/LAP2 zurückgeführt werden und so eine ihrem Gewicht
entsprechende Zugkraft auf die jeweiligen Proben PR1 und PR2
ausüben. Da am unteren Ende der Bolzen BO1 und BO2, welche
der Führung der Zusatzgewichte LAP1 und LAP2 dienen, z. B.
Abschlußschrauben AS1 und AS2 vorgesehen sind, werden in der
Hubplatte HB entsprechende Öffnungen angebracht (hier nicht
dargestellt), durch welche diese Abschlußschrauben AS1 und
AS2 sowie die unteren Teile der Bolzen BO1 und BO2 frei hin
durchtreten können. Das gesamte Gestell FA2 ist über Puffer
PU1 und PU2 auf dem Boden der Temperaturkammer TK2 gelagert.
Fig. 3 zeigt den zeitlichen Verlauf zweier aufeinanderfol
gender Dehnungsversuche mit Zusatzgewichten, wobei der
Einfachheit halber nur die Probe PR1 betrachtet wird; der
Ablauf für die anderen Proben erfolgt gleichzeitig und
analog. Ausgegangen wird von einer Länge l0 bei einer Tempe
ratur von 20°C (Zusatzlasten sind in Position LAP1' und LAP2'
d. h. sind unwirksam). Die Hubplatte HB trägt diese Lasten und
sie hängen nicht an den Proben PR1 und PR2. Die Temperatur
wird von T = 20°C erniedrigt beispielsweise auf T = -30°C.
Zum Zeitpunkt t1 (d. h. nach Erreichen der Temperatur von
-30°C - Länge l02)) wird das Gewicht LAP1 durch Absenken der
Hubplatte HB aufgebracht, und es kommt zu einer zusätzlichen
Belastung des Prüflings PR1, die sich in einer Dehnung und
einem je nach Werkstoff unterschiedlichen Einschwingvorgang
(hier nur schematisch und stark überhöht dargestellt)äußert,
und schließlich in einen asymptotischen Grenzwert äußert
(eventuelle kleine Temperaturänderungen während der Belastung
können nach der Messung korrigiert werden). Nach dem
Abklingen dieses Schwingungsvorganges wird eine im wesentli
chen geradlinig verlaufende Dehnungskurve (Länge l01) erhal
ten, wobei anschließend zur Zeit t2 erneut die Zusatzlast
weggenommen wird (Position LAP1'), was zu einer Verkürzung
des Prüflings PR1 führt, entsprechend der bei t2 beginnenden
Kurve. Auch hier tritt nach einem kurzen Einschwingvorgang
ein im wesentlichen gleichmäßiger Verlauf (Länge l02) bis zum
Zeitpunkt t3 auf und die angegebene Längendifferenz Δl1 ent
spricht der Längenänderung des Prüflings PR1 bei einer Tempe
ratur von -30°C für die Zusatzlast LAP1. Daraus kann der E-
Modul für die Probe PR1 für die Temperatur von 30°C nach
Gleichung (4) berechnet werden, wobei die Zugkraft F dem
Zusatzgewicht LAP1 entspricht:
E-30 = F.l02/(A.Δl1) (4a)
Im entlasteten Zustand mit LAP1' wird jetzt weiter abgekühlt
z. B. auf eine Temperatur T = -40°C, worauf zum Zeitpunkt t4
erneut durch Absenken der Hubplatte HB das Zusatzgewicht LAP1
an dem Prüfling PR1 angehängt wird, so daß sich ein erneuter
Einschwingvorgang ergibt. Daraufhin wird bei t5 die Zusatz
last LAP1 wieder weggenommen und die zugehörige Längenbestim
mung Δl2 für T = -40°C durchgeführt und daraus der zugehörige
E-Modul nach (4a) berechnet mit l03 usw.
Die nachfolgende Tabelle 2 zeigt die Erfassung der Dehnungs
werte und des E-Moduls dreier Proben des gleichen Gegenstan
des (einer Kabelseele) ausgehend von einer Temperatur von
24,1°C.
In Fig. 4 ist eine Abwandlung der in Fig. 1 beschriebenen
Einrichtung dargestellt, wobei für gleichbleibende Teile die
gleichen Bezugszeichen verwendet sind. Im Gegensatz zur Ein
richtung nach Fig. 1 und 2 arbeitet diese Ausführungsform
nicht mit in vertikaler Richtung parallel zueinander verlau
fenden Proben sondern mit waagerecht angeordneten Prüflingen
(z. B. dem Prüfling PR1) der einseitig mittels der Befesti
gungseinrichtung B1 eingespannt ist und über ein Anschlußteil
BA1 und eine Führungsstange FS1 mit einem Meßsensor SR1
bestehend aus Meßgeber MG1 und Meßaufnehmer WPR1 in Verbin
dung steht. Entsprechend der waagerechten Anordnung ist ein
Spannseil SE vorgesehen, das über eine Umlenkrolle UR4
geführt ist. An diesem Spann- oder Zugseil SE hängt das für
die Vorspannung (das Geradrichten) benötigte Grundgewicht
LGP1. Bei Bestimmung des E-Moduls wird zusätzlich bei den
entsprechenden Temperaturbereichen ein Zusatzgewicht LAP1
angehängt.
Der Referenzstab R1 ist ebenfalls einseitig mit der Spannein
richtung BR1 in der vertikalen Stütze DP4 gehalten und ragt
frei in horizontaler Richtung bis zu dem zugehörigen Meßsen
sor SR1, welcher den Meßgeber MGR1 und den Meßaufnehmer WPR1
enthält. Die jeweiligen, zu den Auswerteeinrichtungen führen
den Meßwert-Übertragungsleitungen sind in der vorliegenden
Zeichnung zur Vereinfachung der Darstellung weggelassen. Die
Sensoren SP1 und SR1 sind in einer Führungsplatte GP4 gehal
ten, welche ebenso wie die andere Führungsplatte DP4 durch
ein Gestänge ST4 zu einem Gestell FA4 zusammengefaßt ist.
Selbstverständlich können auch mehrere derartige Stangen ST4,
vorzugsweise in horizontaler Richtung verlaufend, vorgesehen
sein.
Claims (12)
1. Verfahren zur Bestimmung temperaturabhängiger Dehnungs
eigenschaften mindestens eines länglichen, einseitig einge
spannten Prüflings (PR1, PR2) bei unterschiedlichen Tempera
turen mittels einer Temperaturkammer (TK1)
dadurch gekennzeichnet,
daß in der Temperaturkammer (TK), neben dem Prüfling (PR1,
PR2) zusätzlich ein hinsichtlich seines Temperaturganges und
seines Dehnungsverhaltens bekannter Referenzstab (R1) einsei
tig eingespannt wird, daß der Referenzstab (R1) und der Prüf
ling (PR1, PR2) gemeinsam auf bestimmte Temperaturwerte
gebracht werden, daß jeweils bei Erreichen der bestimmten
Temperaturwerte die zugehörigen Dehnungswerte an dem Prüfling
(PR1, PR2) gemessen werden und daß die tatsächlichen Deh
nungswerte unter Einbeziehung der am Referenzstab (R1) gemes
senen Dehnungswerte für den jeweiligen Temperaturwert berech
net werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß als Meßeinrichtung für die Dehnungsmessung berührungslos
arbeitende Meßeinrichtungen (SP1, SR1) verwendet werden.
3. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß bei einem nicht stabförmigen Prüfling (PR1) ein dessen
gerader Ausrichtung dienendes Spanngewicht (LGP1, LGP2) ange
bracht wird.
4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die bei den jeweiligen Temperaturwerten erhaltenen
Dehnungswerte einer zentralen Meß- und Steuereinrichtung
(CU1) zugeführt werden.
5. Verfahren nach Anspruch 4,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Einstellung der Temperatur in der Temperaturkammer
(TK1) durch die zentrale Meß- und Steuereinrichtung (CU1)
gesteuert wird.
6. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß zur Bestimmung des E-Moduls der Prüfling (PR1, PR2) mit
einer entsprechenden, vorzugsweise konstanten, Zugkraft
(LAP1, LAP2) beaufschlagt wird.
7. Verfahren nach Anspruch 6,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Zugkraft (LAP1, LAP2) erst nach Erreichen des
gewünschten Temperaturwertes aufgebracht wird.
8. Verfahren nach Ansprüchen 6 und 7,
dadurch gekennzeichnet,
daß während der Übergangszeit auf einen neuen Temperaturwert
keine Zugkraft (LAP1, LAP2) auf den Prüfling (PR1, PR2) ein
wirkt.
9. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß als Zugkraft Gewichte (LAP1, LAP2) verwendet werden, die
mittels einer Betätigungseinrichtung (HB) deaktivierbar sind.
10. Verfahren nach Anspruch 9,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Deaktivierungseinrichtung (HB) von außerhalb der
Temperaturkammer (TK2) betätigt wird.
11. Verfahren nach einem der Ansprüche 6 bis 10,
dadurch gekennzeichnet,
daß der E-Modul eines Kunststoffes an einen Zweischicht- oder
Mehrkomponentensystem ermittelt wird.
12. Vorrichtung zur Bestimmung temperaturabhängiger
Dehnungseigenschaften mindestens eines länglichen, einseitig
eingespannten Prüflings (PR1, PR2) bei unterschiedlichen
Temperaturen mittels einer Temperaturkammer (TK1),
dadurch gekennzeichnet,
daß in der Temperaturkammer (TK1), neben dem Prüfling (PR1,
PR2) zusätzlich ein hinsichtlich seines Temperaturganges und
seines Dehnungsverhaltens bekannter Referenzstab (R1) vorge
sehen ist, wobei der Referenzstab (R1) und der Prüfling (PR1,
PR2) gemeinsam auf bestimmte Temperaturwerte gebracht werden,
daß Meßeinrichtungen (SP1, SP2, SR1) vorgesehen sind, die bei
Erreichen der bestimmten Temperaturwerte die zugehörigen
Dehnungswerte bestimmen und daß die tatsächlichen Dehnungs
werte unter Einbeziehung der am Referenzstab (R1) gemessenen
Dehnungswerte für den jeweiligen Temperaturwert ermittelt
werden.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE1996147312 DE19647312A1 (de) | 1996-11-13 | 1996-11-13 | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung temperaturabhängiger Dehnungseigenschaften eines Prüflings |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE1996147312 DE19647312A1 (de) | 1996-11-13 | 1996-11-13 | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung temperaturabhängiger Dehnungseigenschaften eines Prüflings |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE19647312A1 true DE19647312A1 (de) | 1998-05-14 |
Family
ID=7811796
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE1996147312 Withdrawn DE19647312A1 (de) | 1996-11-13 | 1996-11-13 | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung temperaturabhängiger Dehnungseigenschaften eines Prüflings |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
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