DE1690509B1 - Verfahren zur bildung zweier eng voneinandergetrennter leitender schichten - Google Patents
Verfahren zur bildung zweier eng voneinandergetrennter leitender schichtenInfo
- Publication number
- DE1690509B1 DE1690509B1 DE19671690509 DE1690509A DE1690509B1 DE 1690509 B1 DE1690509 B1 DE 1690509B1 DE 19671690509 DE19671690509 DE 19671690509 DE 1690509 A DE1690509 A DE 1690509A DE 1690509 B1 DE1690509 B1 DE 1690509B1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- layer
- conductive layers
- conductive
- layers
- etching
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 18
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 title description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 14
- 239000000945 filler Substances 0.000 claims description 10
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 9
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 7
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims description 6
- 238000005119 centrifugation Methods 0.000 claims description 3
- 238000007743 anodising Methods 0.000 claims description 2
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 claims description 2
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 claims description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 2
- 238000009210 therapy by ultrasound Methods 0.000 claims description 2
- 238000011282 treatment Methods 0.000 claims description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 claims 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 claims 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 11
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 9
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 9
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 8
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 6
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 5
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010408 film Substances 0.000 description 4
- VCJMYUPGQJHHFU-UHFFFAOYSA-N iron(3+);trinitrate Chemical compound [Fe+3].[O-][N+]([O-])=O.[O-][N+]([O-])=O.[O-][N+]([O-])=O VCJMYUPGQJHHFU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 3
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 3
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- 101100345589 Mus musculus Mical1 gene Proteins 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 1
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/46—Manufacturing multilayer circuits
- H05K3/4685—Manufacturing of cross-over conductors
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N97/00—Electric solid-state thin-film or thick-film devices, not otherwise provided for
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/43—Electric condenser making
- Y10T29/435—Solid dielectric type
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/4981—Utilizing transitory attached element or associated separate material
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/4981—Utilizing transitory attached element or associated separate material
- Y10T29/49812—Temporary protective coating, impregnation, or cast layer
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
- Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
Description
1 2
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur weise sind die Schichten ausreichend starr, damit der
Bildung zweier eng voneinander getrennter leitender Aufbau mechanisch stabil bleibt, wenn die Füll-Schichten
unter Abscheidung einer ersten leitenden schicht entfernt ist.
Schicht auf einer Unterlage, Abscheidung einer Die Erfindung soll nun im einzelnen unter Bezug-
Dünnschicht auf der ersten leitenden Schicht und 5 nähme auf die Zeichnungen beschrieben werden.
Abscheidung einer zweiten leitenden Schicht auf der Fig. 1 ist ein schematischer Querschnitt einer
Materialdünnschicht unter Bildung einer Über- typischen Konstruktion zwecks Herstellung eines
kreuzung mit der ersten leitenden Schicht. Kondensators gemäß Erfindung;
Dieses Verfahren findet speziell Anwendung bei F i g. 2 ist ein Querschnitt eines fertiggestellten
der Herstellung von Dünnschicht-Kondensatoren io Kondensators gemäß Erfindung;
und Dünnschicht-Überkreuzungsstellen als einschlä- F i g. 3 ist ein schematischer Querschnitt einer
gige Bestandteile von DünnscMcht-Schaltungen. typischen Konstruktion zur Herstellung einer Dünn-
Intensive Anstrengungen zur Erhöhung der Zu- schicht-Überkreuzung gemäß Erfindung;
verlässigkeit und Arbeitsweise elektronischer Erzeug- F i g. 4 ist ein Querschnitt einer fertiggestellten
nisse unter Verringerung ihrer Größe haben zu einer 15 Überkreuzung.
mikroelektronischen Technologie geführt, deren Fig. 1 ist ein Querschnitt einer typischen Kon-
Schaltungselemente auf Dimensionen geschrumpft struktion zur Herstellung eines Dünnschichtkondensind,
die für das unbewaffnete Auge beinahe unsicht- sators gemäß Erfindung. Der Aufbau zeigt drei Mabar
sind. Die mikroskopischen Abmessungen dieser terialschichten auf einer isolierenden Unterlage!.,
neuen Schaltungselemente haben Schaltungen er- 20 Eine erste leitende Schicht 2 ist auf der Unterlage
geben, die unempfindlich, langlebig und kosten- abgeschieden, eine Schicht Füllmaterial 3 ist oben
sparend sowie in der Lage sind, elektronische Funk- auf der leitenden Schicht 2 abgeschieden, und eine
tionen mit extrem hoher Geschwindigkeit zu voll- zweite leitende Schicht 4 ist oben auf der Füllerziehen
(Hittinger & Spares, Microelectronics, schicht 3 abgeschieden.
Scientific American, Nov. 1965, S. 57). 25 Der Typ des Materials für die Füllerschicht und
Ein Problem, das die Minimalgröße mikroelektro- seine Abmessungen werden so gewählt, daß sie beim
nischer Schaltungen und Elemente begrenzt, ist das Wegätzen den gewünschten leeren Raum hinterläßt.
Phänomen der »Nadelstich-Kurzschlüsse«. Wenn Das Material braucht kein Dielektrikum zu sein, soeine
Metallschicht auf einer Dünnschicht aus isolie- lange es durch Hilfsmittel ätzbar ist, die die leitenrendem
Material niedergeschlagen wird, dringt das 30 den Schichten 2 und 4 nicht anätzen.
Metall oft durch kleine Löcher in der Dünnschicht Ein von Nadelstich-Kurzschlüssen freier Dünn-
und bewirkt elektrischen Kontakt mit allem, was schicht-Kondensator wird aus der vorerwähnten
auch immer unter der Dünnschicht liegt. Wenn das Konstruktion erfindungsgemäß hergestellt, indem
darunterliegende Material ein Leiter ist, ist das Er- man die Füllschicht 3 selektiv wegätzt und jeden
gebnis ein Kurzschluß, der als »Nadelstich«-Kurz- 35 Nadelstich-Kurzschluß beseitigt.
Schluß bezeichnet wird. Da die Wahrscheinlichkeit Ferrinitrat ist ein geeignetes Ätzmittel zur selek-
des Auftretens eines Nadelstich-Kurzschlusses wächst, tiven Entfernung einer Kupferfüllung zwischen leiwenn
die Dicke des die beiden Leiter trennenden tenden Goldschichten. Vorteilhafterweise wird die
Films abnimmt, ergibt sich eine praktische Grenze Konstruktion in einem mittels Transduktor gerührten
für den minimalen Abstand, der zwischen zwei lei- 40 Ätzmittel geätzt.
tenden Schichten verwirklicht werden kann. Diese Nachdem einmal die Füllung weggeätzt ist,
Begrenzung hat wenigstens zwei Wirkungen. Erstens können Nadelstich-Kurzschlüsse, die sich zwischen
sind Verkleinerungen solcherart aufgebauter Schal- den leitenden Schichten 2 und 4 gebildet haben
tungen eine untere Grenze gesetzt und zweitens wird könnten, leicht entfernt werden. Die Kurzschlüsse
auch das Verhalten bestimmter Schaltungselemente 45 sind freigelegt und erscheinen als dünne Säulen oder
nachteilig beschränkt. Beispielsweise wird im Falle Whiskers, die die Schichten 2 und 4 verbinden, wie
eines Kondensators die maximal erhältliche spezi- von der Säule 5 in Fig. 1 gezeigt. Da die Dicke der
fische Kapazität beschränkt, da diese dem Abstand freigelegten Säulen im allgemeinen gering im Verzwischen
den beiden Kondensatorbelägen umgekehrt gleich zu den Dimensionen der leitenden Schichten
proportional ist. 50 ist, können Techniken wie Oxydation, Ultraschall-
Dementsprechend ist es Aufgabe der Erfindung, reinigung oder Zentrifugieren angewandt werden,
leitende Schichten mit engem Abstand zu bilden, die um die Kurzschlüsse zu beseitigen. Beispielsweise
frei von Nadelstich-Kurzschlüssen sind. bildet sich eine dünne Oxydschicht auf Metallen, die
Diese Aufgabe ist für das Verfahren der einlei- der Atmosphäre ausgesetzt sind, und oft ist diese
tend beschriebenen Art erfindungsgemäß gekenn- 55 Oxydschicht genügend stark, um die ganze Kurzzeichnet
durch eine selektive Ausätzung der Dünn- schlußsäule zu oxydieren. Falls dies aber nicht als
schicht zwischen den leitenden Schichten und durch ausreichend erkannt wird, kann die Konstruktion in
anschließendes Beseitigen der dadurch freigelegten einer mit Sauerstoff angereicherten Atmosphäre erNadelstich-Kurzschlüsse
nach geeigneten Methoden hitzt werden, bis die Säulen völlig oxydiert sind. Eine
wie Ultraschallbehandlung, Ätzen, Zentrifugieren 60 andere Technik zur Beseitigung der freigelegten
oder Behandlung mit einem reaktionsfähigen Gas. Säulen ist das Eintauchen der Konstruktion in eine
Das Verfahren hat besondere Bedeutung dort, wo mit Transduktor gerührte Flüssigkeit. Dieses Verein
Trennabstand von einigen Mikron oder weniger fahren zerbricht die kurzschließenden Säulen. Eine
zwischen zwei Leitungen gewünscht wird, weil Nadel- dritte, geeignet befundene Technik ist die Montage
stich-Kurzschlüsse bei so kleinen Abständen das 65 der Konstruktion auf einer Zentrifuge mit den leiten-Problem
schlechthin werden. Bei den typischen An- den Schichten nach außen gekehrt und Rotation der
wendungsfällen schwankt die Dicke der leitenden Zentrifuge mit ausreichender Geschwindigkeit, so
Schichten zwischen 1 und 10 Mikron. Vorteilhafter- daß die Schichten nach außen gebogen werden, wo-
bei die Kurzschlußsäulen abbrechen. Viele andere Hilfsmittel, wie mildes Ätzen oder andere chemische
Verfahren können gleichfalls verwendet werden, um die kurzschließenden Säulen zu beseitigen oder in
isolierende Verbindungen umzuwandeln.
Der Raum zwischen den leitenden Schichten wird natürlich als Dielektrikum wirken. Wenn jedoch gewünscht
wird, ein festes Dielektrikum oder anderes Material zwischen die beiden Schichten zu bringen,
so kann dies im allgemeinen durch verschiedene Techniken erfolgen. Wenn beispielsweise die leitenden
Schichten oxydiert werden können, bewirkt die Erhitzung der Konstruktion in sauerstoffhaltiger
Atmosphäre die Bildung von Oxydschichten auf den inneren Oberflächen, und in geeigneten Fällen kann
die Oxydschicht genügend aufgebaut werden, um den Zwischenraum zu füllen. Auch die wohlbekannten
Techniken der »Plasma-Schaltung« und der Anodisierung können angewandt werden, um Material zwischen
die eng benachbarten Schichten zu hinterfüllen.
F i g. 2 zeigt den fertigen Kondensator. Der Füllstoff
3 der Fig. 1 und der Nadelstich-Kurzschluß5
in F i g. 1 sind entfernt und durch den Luftspalt 6 ersetzt.
Es wird nun ein erläuterndes Beispiel einer Uberkreuzung, die in einer typischen Anwendung der Erfindung
durchgeführt wird, im einzelnen beschrieben.
F i g. 3 ist ein Querschnitt eines typischen Aufbaus bei der Herstellung einer Dünnschicht-Überkreuzung
gemäß vorliegender Erfindung. Metallkontakte 11 und 12, zwischen denen eine elektrische Verbindung
vorgesehen werden soll, die einen dazwischen liegenden Leiter 13 überkreuzt, sind auf einer isolierenden
Unterlage 10 abgeschieden, beispielsweise Silicium mit einer Schicht aus SiO2 oder SiN2 darauf. Vorteilhafterweise
bestehen die Kontakte 11 und 12 und der dazwischen liegende Leiter 13 gemäß gegenwärtiger
Strahlführungstechnik aus drei verschiedenen Metallschichten, die übereinander abgeschieden sind.
Der erste Film 14 ist aus Titan, um eine gute Haftung an der Unterlage 10 sicherzustellen; der dritte
Film 16 ist aus Gold wegen der leichteren Bindung und der zweite Film 15 aus Platin, um Gold und
Titan an einer Reaktion miteinander zu hindern. Zusätzlich wird noch eine Schicht 17 aus einem oxydierbaren
Metall wie Zirkon auf dem Leiter 13 gezeigt, welches zur Bildung einer dielektrischen Schicht
oxydiert werden kann. Typische Dicken sind wie folgt: Titan 1500 AE, Platin 3000 AE, Gold 20 000
bis 30 000 AE und Zirkon 1500 AE.
Oben auf der oxydierbaren Schicht 17 wird eine trennende Schicht 18 aus Füllmaterial gezeigt. In
diesem speziellen Beispiel wird eine Kupferschicht von 30 000 AE Dicke verwendet.
Eine obere leitende Schicht 19, die in typischer Weise aus Gold von 10 bis 12 Mikron Dicke besteht,
wird auf der trennenden Schicht 18 angeordnet, um die Kontakteil und 12 miteinander zu verbinden.
Vor der Abscheidung werden die trennende Schicht 18 und die oxydierbare Schicht 17 in geeigneter
Weise maskiert und geätzt, so daß der obere Leiter mit den Kontakten 11 und 12 elektrische Verbindung
bekommt.
Man erhält eine von Nadelstich-Kurzschlüssen freie Uberkreuzung aus der abgebildeten Konstruktion,
indem man den Füller 18 mit einem geeigneten Ätzmittel wegätzt, was die anderen Metalle wenig
beeinflußt, und erhitzt die Konstruktion in einer sauerstoffhaltigen Atmosphäre ausreichende Zeit, um
die oxydierbare Metallschicht 17 völlig zu oxydieren. Bei der gezeigten Konstruktion entfernt eine Ätzung
mit konzentriertem Ferrinitrat in einer Zeit von etwas mehr als 10 Minuten die Kupferfüllung, und
eine Erhitzung auf etwa 350° C für fünf bis acht Stunden oxydiert die Zirkoniumschicht.
Etwaige Nadelstichkurzschlüsse zwischen dem oberen Leiter 19 und dem unteren Leiter 13 sind
nach dem Wegätzen der Trennschicht 18 freigelegt und können leicht durch eine der vorerwähnten
Techniken beseitigt werden.
F i g. 4 zeigt die fertiggestellte Überkreuzung gemäß
Erfindung. Die Trennschicht 18 der Fig. 3 ist unter Hinterlasen eines Luftspaltes 20 entfernt worden,
und die Schicht 17 aus oxydierbarem Metall ist zwecks Bildung einer Schicht von dielektrischem
Oxyd 21 oxydiert worden.
Claims (4)
1. Verfahren zur Bildung zweier eng voneinander getrennter leitender Schichten unter Abscheidung
einer ersten leitenden Schicht auf einer Unterlage, Abscheidung einer Dünnschicht auf der
ersten leitenden Schicht und Abscheidung einer zweiten leitenden Schicht auf der Materialdünnschicht
unter Bildung einer Uberkreuzung mit der ersten leitenden Schicht, gekennzeichnetdurch
eine selektive Ausätzung der Dünnschicht (3) zwischen den leitenden Schichten (2,4) und durch anschließendes Beseitigen der
dadurch freigelegten Nadelstichkurzschlüsse (5) nach geeigneten Methoden wie Ultraschallbehandlung,
Ätzen, Zentrifugieren oder Behandlung mit einem reaktionsfähigen Gas.
2. Verfahren nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch den zusätzlichen Arbeitsgang einer partiellen
Oxydation wenigstens einer der beiden leitenden Schichten zwecks Bildung einer dauerhaften
dielektrischen Schicht zwischen denselben.
3. Verfahren nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch den zusätzlichen Arbeitsgang der Auffüllung
des Raums zwischen den beiden leitenden Schichten mit einem dauerhaften dielektrischen
Material nach dem Wegätzen des Füllmaterials.
4. Verfahren nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch den zusätzlichen Arbeitsgang einer
Auffüllung des Raums zwischen den beiden leitenden Schichten mit einem Werkstoff entweder
durch Kracken mittels Plasma oder auf thermischem Wege, durch Anodisieren oder chemische
Reaktion mit den leitenden Schichten nach dem Wegätzen des Füllmaterials.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen GOPY
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US59164166A | 1966-11-02 | 1966-11-02 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE1690509B1 true DE1690509B1 (de) | 1971-04-01 |
Family
ID=24367265
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19671690509 Withdrawn DE1690509B1 (de) | 1966-11-02 | 1967-09-21 | Verfahren zur bildung zweier eng voneinandergetrennter leitender schichten |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US3461524A (de) |
| BE (1) | BE703252A (de) |
| DE (1) | DE1690509B1 (de) |
| ES (1) | ES347068A1 (de) |
| GB (1) | GB1207134A (de) |
| NL (1) | NL144764B (de) |
| SE (1) | SE318650B (de) |
Families Citing this family (25)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3658489A (en) * | 1968-08-09 | 1972-04-25 | Nippon Electric Co | Laminated electrode for a semiconductor device |
| US3668484A (en) * | 1970-10-28 | 1972-06-06 | Rca Corp | Semiconductor device with multi-level metalization and method of making the same |
| US3890177A (en) * | 1971-08-27 | 1975-06-17 | Bell Telephone Labor Inc | Technique for the fabrication of air-isolated crossovers |
| US3769108A (en) * | 1971-12-03 | 1973-10-30 | Bell Telephone Labor Inc | Manufacture of beam-crossovers for integrated circuits |
| US3808049A (en) * | 1972-06-02 | 1974-04-30 | Microsystems Int Ltd | Multi-layer thin-film circuits |
| US3793879A (en) * | 1972-06-19 | 1974-02-26 | Western Electric Co | Testing and increasing breakdown voltage of crossovers |
| US3798741A (en) * | 1973-03-13 | 1974-03-26 | Nasa | Method of fabricating an object with a thin wall having a precisely shaped slit |
| US3915769A (en) * | 1973-07-02 | 1975-10-28 | Western Electric Co | Protected crossover circuits and method of protecting the circuits |
| US4141055A (en) * | 1977-04-27 | 1979-02-20 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Crossover structure for microelectronic circuits |
| US4118595A (en) * | 1977-06-06 | 1978-10-03 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Crossovers and method of fabrication |
| US4200975A (en) * | 1978-05-30 | 1980-05-06 | Western Electric Company, Incorporated | Additive method of forming circuit crossovers |
| NL181611C (nl) * | 1978-11-14 | 1987-09-16 | Philips Nv | Werkwijze ter vervaardiging van een bedradingssysteem, alsmede een halfgeleiderinrichting voorzien van een dergelijk bedradingssysteem. |
| US4364100A (en) * | 1980-04-24 | 1982-12-14 | International Business Machines Corporation | Multi-layered metallized silicon matrix substrate |
| DE3221826A1 (de) * | 1982-06-09 | 1983-12-15 | Vladimir Ivanovič Golovin | Herstellungsverfahren fuer in mikroelektronischen systemen verwendete leiterplatten |
| US4461077A (en) * | 1982-10-04 | 1984-07-24 | General Electric Ceramics, Inc. | Method for preparing ceramic articles having raised, selectively metallized electrical contact points |
| USRE33651E (en) * | 1984-12-28 | 1991-07-30 | At&T Bell Laboratories | Variable gap device and method of manufacture |
| US4751349A (en) * | 1986-10-16 | 1988-06-14 | International Business Machines Corporation | Zirconium as an adhesion material in a multi-layer metallic structure |
| JPS6480094A (en) * | 1987-09-19 | 1989-03-24 | Nippon Cmk Kk | Printed wiring board |
| US4920639A (en) * | 1989-08-04 | 1990-05-01 | Microelectronics And Computer Technology Corporation | Method of making a multilevel electrical airbridge interconnect |
| US5408742A (en) * | 1991-10-28 | 1995-04-25 | Martin Marietta Corporation | Process for making air bridges for integrated circuits |
| US5469021A (en) * | 1993-06-02 | 1995-11-21 | Btl Fellows Company, Llc | Gas discharge flat-panel display and method for making the same |
| US5954560A (en) * | 1993-06-02 | 1999-09-21 | Spectron Corporation Of America, L.L.C. | Method for making a gas discharge flat-panel display |
| DE19536465A1 (de) * | 1995-09-29 | 1997-04-03 | Siemens Ag | Integrierbarer Kondensator und Verfahren zu seiner Herstellung |
| DE19536528A1 (de) * | 1995-09-29 | 1997-04-03 | Siemens Ag | Integrierbarer Kondensator und Verfahren zu seiner Herstellung |
| US20050011673A1 (en) * | 2003-07-15 | 2005-01-20 | Wong Marvin Glenn | Methods for producing air bridges |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US1595810A (en) * | 1919-12-13 | 1926-08-10 | Westinghouse Electric & Mfg Co | Plate condenser element and method of manufacture therefor |
| US2607825A (en) * | 1948-10-20 | 1952-08-19 | Eisler Paul | Electric capacitor and method of making it |
| GB836812A (en) * | 1955-07-09 | 1960-06-09 | Telefunken Gmbh | Improved method for the formation of grid structures |
| US3044160A (en) * | 1958-03-03 | 1962-07-17 | Battelle Development Corp | Method of producing ribbed metal sandwich structures |
| US3234442A (en) * | 1962-03-23 | 1966-02-08 | Ibm | Method for fabricating thin film circuit elements and resulting elements |
| FR1483570A (de) * | 1965-06-23 | 1967-09-06 |
-
1966
- 1966-11-02 US US591641A patent/US3461524A/en not_active Expired - Lifetime
-
1967
- 1967-08-11 NL NL676711111A patent/NL144764B/xx unknown
- 1967-08-30 BE BE703252D patent/BE703252A/xx unknown
- 1967-09-21 DE DE19671690509 patent/DE1690509B1/de not_active Withdrawn
- 1967-10-30 ES ES347068A patent/ES347068A1/es not_active Expired
- 1967-10-31 GB GB49354/67A patent/GB1207134A/en not_active Expired
- 1967-11-01 SE SE14982/67A patent/SE318650B/xx unknown
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| None * |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| ES347068A1 (es) | 1969-01-16 |
| BE703252A (de) | 1968-01-15 |
| US3461524A (en) | 1969-08-19 |
| NL144764B (nl) | 1975-01-15 |
| GB1207134A (en) | 1970-09-30 |
| NL6711111A (de) | 1968-05-03 |
| SE318650B (de) | 1969-12-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE1690509B1 (de) | Verfahren zur bildung zweier eng voneinandergetrennter leitender schichten | |
| DE1614872A1 (de) | Vielschichtiges Leitungssystem mit ohmischen Kontakten fuer integrierte Schaltkreise | |
| DE19538634C2 (de) | Verfahren zum Vereinzeln von elektronischen Elementen aus einem Halbleiterwafer | |
| DE2723944C2 (de) | Verfahren zum Herstellen einer Anordnung aus einer strukturierten Schicht und einem Muster | |
| DE2729030A1 (de) | Verfahren zum erzeugen eines mehrschichtigen leiterzugsmusters bei der herstellung monolithisch integrierter schaltungen | |
| DE2313219B2 (de) | Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung mit einer auf mehreren Niveaus liegenden Metallisierung | |
| EP0002185A1 (de) | Verfahren zum Herstellen einer Verbindung zwischen zwei sich kreuzenden, auf der Oberfläche eines Substrats verlaufenden Leiterzügen | |
| EP1171912A1 (de) | Verfahren zur vertikalen integration von elektrischen bauelementen mittels rückseitenkontaktierung | |
| DE1809115A1 (de) | Verfahren zur Herstellung von mehrere Schichten umfassenden Leitungsverbindungen fuer Halbleiteranordnungen | |
| CH617037A5 (de) | ||
| DE4203114C2 (de) | Verfahren zum Herstellen einer Bandträgervorrichtung für Halbleitereinrichtungen | |
| DE2740757C2 (de) | Halbleiteranordnung und Verfahren zu deren Herstellung | |
| DE2636971A1 (de) | Verfahren zum herstellen einer isolierenden schicht mit ebener oberflaeche auf einem substrat | |
| DE3038773C2 (de) | Verfahren zur Herstellung einer integrierten Halbleiterschaltungsanordnung mit MOS-Transistoren und mit spannungsunabhängigen Kondensatoren | |
| DE2217647B2 (de) | Verbindungsanordnung zum Anschließen einer integrierten Schaltung und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
| DE2351943A1 (de) | Verfahren zur herstellung integrierter schaltungen | |
| DE2047799C3 (de) | Mehrlagige Leiterschichten auf einem Halbleitersubstrat und Verfahren zum Herstellen derartiger mehrlagiger Leiterschichten | |
| DE2432719A1 (de) | Verfahren zum erzeugen von feinen strukturen aus aufdampfbaren materialien auf einer unterlage | |
| DE2132034A1 (de) | Verfahren zur Herstellung von Zwischenverbindungen fuer elektrische Baueinheiten auf Festkoerpern | |
| DE1180067B (de) | Verfahren zum gleichzeitigen Kontaktieren mehrerer Halbleiteranordnungen | |
| DE69005225T2 (de) | Verfahren zur Herstellung von einem mehrschichtigen Leitungsnetz einer Verbindungsplatte für mindestens eine höchstintegrierte Schaltung. | |
| DE2361804C2 (de) | Verfahren zur Herstellung von supraleitenden Kontakten in Tieftemperatur-Schaltkreisen und Anwendung des Verfahrens bei der Herstellung von Tieftemperatur-Schaltkreisen mit Josephson-Elementen | |
| EP0013728B1 (de) | Verfahren zur Herstellung von elektrischen Verbindungen zwischen Leiterschichten in Halbleiterstrukturen | |
| EP0005739B1 (de) | Verfahren zur Herstellung von Leiterbahnüberkreuzungen für integrierte RC-Netzwerke | |
| WO2001063652A1 (de) | Halbleiterbauelement und herstellungsverfahren |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
| EHJ | Ceased/non-payment of the annual fee |