DE1294559B - Verfahren zum Verbinden einer Flaeche eines Halbleiterkoeprers mit einer hieran zu befestigenden Flaeche aus Metall - Google Patents
Verfahren zum Verbinden einer Flaeche eines Halbleiterkoeprers mit einer hieran zu befestigenden Flaeche aus MetallInfo
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Description
1 2
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum eine Scheuerwirkung setzt das Vorhandensein zweier
im Rahmen der Halbleiterbauelement-Herstellung fester, gegeneinander bewegt werdender Körper vorerfolgenden
Verbinden einer Fläche eines Halbleiter- aus. Sie verschwindet automatisch, wenn einer dieser
körpers mit einem hieran zu befestigenden Bauteil, Körper flüssig ist. Andererseits sind die beiden mitdas
zumindest an der dieser Halbleiterfläche züge- 5 einander zu verbindenden Flächen beim Verfahren
wandten Fläche aus einem Metall besteht, das mit auf Grund des gewählten Temperaturbereiches überdem
Material der Halbleiterfläche ein Eutektikum all dort noch im festen Zustand, wo sich Verbildet,
durch unter Druck erfolgendes Aufeinander- unreinigungen, insbesondere Oxydschichten, zwipressen
dieser beiden Flächen und durch Erwärmen sehen ihnen befinden, und erst nach dem Abderselben
auf eine Temperatur, die mindestens gleich io scheuern dieser Verunreinigungen können dann die
der Erstarrungstemperatur des Eutektikums, aber beiden aneinandergrenzenden Flächen über Auskleiner
als die Schmelztemperatur sowohl des tauschvorgänge eine flüssige Grenzschicht etwa
Metalls als auch des Halbleitermaterials ist. eutektischer Zusammensetzung bilden. Die so ge-
Bei einem solchen Verfahren war es bisher un- bildete flüssige Phase wird daher zunächst die ababdingbares
Erfordernis, vor der Herstellung der 15 abgescheuerten Verunreinigungen aufschwemmen,
Verbindung die miteinander zu verbindenden Ober- wegen der zugleich vorgesehenen Druckausübung
flächen sorgfältig zu reinigen. Ein solcher Reini- wird aber die solcher Art verunreinigte flüssige
gungsschritt ist aber ersichtlich umständlich, zeit- Phase abgequetscht. Da die flüssige Phase unter
raubend und kostensteigernd und muß darüber hin- den gegebenen Bedingungen laufend weiter entsteht,
aus mit äußerster Sorgfalt ausgeführt werden, um ao wird daher die anfänglich unreine flüssige Phase
die Qualität der herzustellenden Verbindung in er- sukzessive durch eine reine ersetzt,
fraglichen Grenzen halten zu können. Eine bevorzugte Vorrichtung zur Durchführung
Es ist auch für die Kontaktierung von Halbleiter- des Verfahrens ist im Anspruch 2 gekennzeichnet
bauelementen bekannt, daß, wenn das Kontaktgebiet und in der Zeichnung beschrieben; es zeigt
mit Ultraschall beschallt wird, das Legieren des 35 F i g. 1 die einzelnen Teile einer aufgebauten An-Kontaktmaterials
an den Halbleiterkörper bei ver- Ordnung zur Ausführung des erfindungsgemäßen gleichsweise niedriger Temperatur durchgeführt wer- Verfahrens,
den kann, nichtsdestoweniger aber die Ultraschall- F i g. 2 einen Querschnitt eines goldplattierten
beaufschlagung eine einwandfreie Benetzung des Tragkörpers, der eine Kovar-Einlage zur inneren
Halbleiterkörpers durch das geschmolzene Kontakt- 30 Erwärmung des Tragkörpers besitzt, und
material sicherzustellen. So genügt es, das Kontakt- Fig. 3 einen Aufriß entlang der Linie 3-3 der
material nur wenige Grade über seinen Schmelz- F i g. 1 des Tragkörpers, eingespannt zwischen den
punkt hinaus zu erhitzen, was ohne Ultraschall- Elektroden, auf denen sich ein Plättchen befindet,
einwirkung längst nicht zu einer einwandfreien Be- In der Zeichnung nach Fig. 1 wird eine auf-
netzung führen würde. 35 gebaute Anordnung zur Ausführung des vorliegen-
Demgegenüber ist es Aufgabe der Erfindung, mit den Verbindungsverfahrens gezeigt. Der Behälter 10
einem Verfahren der einleitend beschriebenen Art ist so ausgeführt, daß darin eine neutrale Atmoeine
stets einwandfreie Verbindung auch dann her- sphäre hergestellt werden kann. Auf dem Boden
zustellen, wenn die miteinander zu verbindenden des Behälters 10 ist eine verlängerte, mit einer öff-Flächen
mit Oxydhäuten und anderen Verunreini- 40 nung versehene Plattform 11 befestigt, die den Traggungen
behaftet sind, so daß also der bisher er- körper 12 trägt und mit Hilfe der Öffnung die Zuforderliche
umständliche Reinigungsvorgang weg- leitungen 16 zum Halbleiterbauelement aufnimmt,
fallen kann. Zwei einstellbare Elektroden 17 und 18, die an den
Die Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, daß Seiten des Behälters 10 befestigt sind, sind zueinzum
Entfernen von Oxydhäuten und anderen Ver- 45 ander so ausgerichtet, daß sie die Seiten des Tragunreinigungen
von den Flächen zwischen denselben körpers 12 erfassen, wenn die Elektroden aufeineine
während der Bildung einer eutektischen Ver- ander zu bewegt werden. Dicht oberhalb der Plattbindung
erfolgende Scheuerwirkung erzeugt wird, form 11 ragt durch eine Öffnung 19 des abnehm-
und zwar dadurch, daß während der Druck- baren Deckels 24 des Behälters 10 ein zurückziehausübung
Ultraschallenergie in mindestens einen der 50 barer Stab 20. Der Deckel 24 besteht vorzugsweise
beiden miteinander zu verbindenden Teile unter aus durchsichtigem Material, um die Beobachtung
einer Richtung eingeleitet wird, die eine in den der Teile innerhalb des Behälters 10 durch eine Be-Flächen
verlaufende Komponente besitzt. dienungsperson zu ermöglichen. Wenn der Stab 20
Beim erfindungsgemäßen Verfahren rinden also auf die Plattform 11 zu bewegt wird, kommt er in
grundsätzlich andere Vorgänge als bei dem vor- 55 Berührung mit einem Halbleiterplättchen 21, das
stehend erwähnten bekannten Verfahren statt. Dort sich auf dem Tragkörper befindet. Mit den Elektrowird
auf eine bereits gereinigte Oberfläche das den 17 und 18 ist eine Stromquelle 22 verbunden,
Kontaktierungsmaterial aufgebracht, homogen ge- die einen Stromfluß zwischen den Elektroden und
schmolzen und unter Einwirkung von Ultraschall durch den Tragkörper 12 bewirkt. Da die Elektrode
zur Benetzung mit dem Grundmaterial gebracht. Der 60 17 außerdem mit einer Ultraschallquelle 23 verZweck
der Beschallung ist dort lediglich der, mit bunden ist, wird der Tragkörper 12 in Ultraschallder
Temperatur des erschmolzenen Kontaktierungs- schwingungen versetzt und bewirkt so eine Relativmaterials
so weit wie möglich heruntergehen zu kön- bewegung zwischen dem Plättchen und dem Tragnen,
d. h., daß eine zuverlässige Benetzung schon körper, wodurch eine Scheuerbewegung zwischen
bei Temperaturen erhalten wird, die dicht oberhalb 65 beiden entsteht.
des Schmelzpunktes des verwendeten Kontaktie- Fig. 2 zeigt einen Tragkörper in einer Aus-
rungsmaterials liegen. Bei dem bekannten Verfahren führung, die mit Hilfe der Anordnung nach Fig. 1
tritt daher keinesfalls eine Scheuerwirkung auf; denn mit einem Halbleiterplättchen verbunden werden
kann. Der Tragkörper besteht aus einer dünnen Goldauflage 13, einer Einlage 14 aus einem Material
mit hohem Widerstand, wie z. B. Kovar, das als Heizer beim Durchgang von Strom wirkt, und einem
gasgefüllten Teil 15, durch den die Zuleitungen 16 herausgeführt sind.
F i g. 3 zeigt die Art und Weise, in der die Elektroden 17 und 18 vorzugsweise die Seiten des Tragkörpers
12 berühren und wie das Silizium-Plättchen 21 auf dem Tragkörper 12 angeordnet ist. Die Oberflächen
der Elektroden 17 und 18, die den goldplattierten Tragkörper 12 berühren, sind vorzugsweise
goldplattiert, um heiße Punkte auf der Kontaktfläche der Elektrode zu vermeiden.
Der erfindungsgemäße Verbindungsvorgang wird vorzugsweise auf folgende Art vorgenommen: Der
Deckel 24 des Behälters 10 wird entfernt, der goldplattierte Tragkörper 12 auf der Plattform 11 angeordnet
und das Silizium-Plättchen 21 auf den Tragkörper 12 gelegt. Der Deckel 24 des Behälters ao
10 wird dann zurückgelegt, und der Luftauslaß 25 und der Gaseinlaß 26 des Behälters 10 werden in
geeigneter Weise angeschlossen, um eine neutrale Atmosphäre in dem Behälter herzustellen. Der
zurückziehbare Stab 20 wird dann auf die Plattform
11 zu bewegt, bis das Plättchen 21 mit einem Druck von wenigstens 140 kp/cm2 gegen den Tragkörper
12 gepreßt wird. Die Elektroden 17 und 18 werden aufeinander zu bewegt, bis sie den Tragkörper 12
erfassen. Auf Grund der Stromquelle 22, die mit den Elektroden 17 und 18 verbunden ist, fließt bei dieser
Anordnung ein Strom durch den Tragkörper 12 und veranlaßt die Kovar-Einlage 14 des Tragkörpers 12,
Wärme an die Goldauflage 13 und die benachbarte Oberfläche des Plättchens 21 abzugeben, um diese
damit wenigstens auf die eutektische Temperatur von Gold und Silizium, 370° C, aber niedriger als
die Schmelztemperaturen des Tragkörpers und des Plättchens zu erhitzen. Mit Hilfe der Elektrode 17,
die direkt mit der Ultraschallquelle 23 verbunden ist, werden dann Ultraschallschwingungen im Frequenzbereich
von 18 bis 60 kHz auf den Tragkörper 12 gegeben.
Die Kombination der neutralen Atmosphäre, der Verbindungstemperatur, die wenigstens so hoch ist
wie die eutektische Temperatur, des Drucks auf das Plättchen 21 und den Tragkörper 12 und der Ultraschallenergie,
die auf den Tragkörper 12 gegeben wird, verursachen eine Scheuerbewegung zwischen
dem Plättchen und dem Tragkörper, wodurch eine eutektische Verbindung von Gold und Silizium zwischen
ihnen hergestellt wird. Als Folge dieser Scheuerbewegung werden ein großer Teil der Oxyde
und fremden Verunreinigungen auf den Oberflächen aus der Verbindungszone entfernt.
Dementsprechend wird durch das Zusammenwirken von Scheuern und Verbinden eine engbegrenzte,
einheitliche Verbindung hoher Qualität zwischen dem Plättchen und dem Tragkörper hergestellt,
und zwar ohne irgendeine meßbare Beeinflussung der elektrischen oder mechanischen
Eigenschaften dieser Teile, sogar obwohl die Oberflächen der Teile vor dem Verbindungsvorgang nicht
besonders sauber waren.
Claims (2)
1. Verfahren zum im Rahmen der Halbleiterbauelement-Herstellung erfolgenden Verbinden
einer Fläche eines Halbleiterkörpers mit einem hieran zu befestigenden Bauteil, das zumindest an
der dieser Halbleiterfläche zugewandten Fläche aus einem Metall besteht, das mit dem Material
der Halbleiterfläche ein Eutektikum bildet, durch unter Druck erfolgendes Aufeinanderpressen dieser
beiden Flächen und durch Erwärmen derselben auf eine Temperatur, die mindestens gleich
der Erstarrungstemperatur des Eutektikums, aber kleiner als die Schmelztemperatur sowohl des
Metalles als auch des Halbleitermaterials ist, dadurch gekennzeichnet, daß zum Entfernen
von Oxydhäuten und anderen Verunreinigungen von den Flächen zwischen denselben eine
während der Bildung einer eutektischen Verbindung erfolgende Scheuerwirkung erzeugt wird,
und zwar dadurch, daß während der Druckausübung Ultraschallenergie in mindestens einen der
beiden miteinander zu verbindenden Teile unter einer Richtung eingeleitet wird, die eine in den
Flächen verlaufende Komponente besitzt.
2. Vorrichtung zur Ausführung des Verfahrens nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch einen
Behälter (10) mit einstellbarer Luft- oder Gasfüllung, der eine Zugangsmöglichkeit (24) zum Einlegen
der Teile (12, 21), die innerhalb des Behälters verbunden werden sollen, besitzt, durch eine
verlängerte, mit einer öffnung versehene Plattform (11), die auf der Innenfläche des Bodens
des Behälters (10) befestigt ist, und von der die Teile (12, 21) getragen werden sollen, durch einen
zurückziehbaren Stab (20), der durch eine öffnung (19) des Behälters hindurchragt und genau
fluchtend mit der Plattform angeordnet ist, um Druck auf die Teile (12, 21) auszuüben, durch
zwei einstellbare Elektroden (17, 18), die an dem Behälter befestigt sind, und so angeordnet sind,
daß sie die Teile (12, 21) erfassen, wenn sie aufeinander zubewegt werden, und die mit einer elektrischen
Stromquelle (22) verbunden sind, die einen Strom zwischen den Elektroden und durch
wenigstens eines der Elemente (12, 21) hindurchschickt, um die Temperaturerhöhung in den Teilen
(12, 21) zu bewirken, und durch eine Ultraschallquelle (23), die mit einer der Elektroden
verbunden ist, um eine Scheuerbewegung zwischen den Teilen (12, 21) zu bewirken.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
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Legal Events
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