[go: up one dir, main page]

DE10317675B4 - Keramisches Multilayersubstrat und Verfahren zu seiner Herstellung - Google Patents

Keramisches Multilayersubstrat und Verfahren zu seiner Herstellung Download PDF

Info

Publication number
DE10317675B4
DE10317675B4 DE10317675A DE10317675A DE10317675B4 DE 10317675 B4 DE10317675 B4 DE 10317675B4 DE 10317675 A DE10317675 A DE 10317675A DE 10317675 A DE10317675 A DE 10317675A DE 10317675 B4 DE10317675 B4 DE 10317675B4
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
ceramic layers
ceramic
connecting rods
multilayer substrate
forming
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE10317675A
Other languages
English (en)
Other versions
DE10317675A1 (de
Inventor
Seok Taek Jun
Young Keun Lee
Ik Seo Choi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electro Mechanics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electro Mechanics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electro Mechanics Co Ltd filed Critical Samsung Electro Mechanics Co Ltd
Publication of DE10317675A1 publication Critical patent/DE10317675A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE10317675B4 publication Critical patent/DE10317675B4/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/14Structural association of two or more printed circuits
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/40Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K3/403Edge contacts; Windows or holes in the substrate having plural connections on the walls thereof
    • H10W70/657
    • H10W70/685
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/03Use of materials for the substrate
    • H05K1/0306Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09145Edge details
    • H05K2201/09181Notches in edge pads
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09145Edge details
    • H05K2201/0919Exposing inner circuit layers or metal planes at the side edge of the printed circuit board [PCB] or at the walls of large holes
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09209Shape and layout details of conductors
    • H05K2201/09372Pads and lands
    • H05K2201/09454Inner lands, i.e. lands around via or plated through-hole in internal layer of multilayer PCB
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/14Related to the order of processing steps
    • H05K2203/1476Same or similar kind of process performed in phases, e.g. coarse patterning followed by fine patterning
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/0011Working of insulating substrates or insulating layers
    • H05K3/0044Mechanical working of the substrate, e.g. drilling or punching
    • H05K3/0052Depaneling, i.e. dividing a panel into circuit boards; Working of the edges of circuit boards
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/22Secondary treatment of printed circuits
    • H05K3/24Reinforcing the conductive pattern
    • H05K3/245Reinforcing conductive patterns made by printing techniques or by other techniques for applying conductive pastes, inks or powders; Reinforcing other conductive patterns by such techniques
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/40Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K3/4038Through-connections; Vertical interconnect access [VIA] connections
    • H05K3/4053Through-connections; Vertical interconnect access [VIA] connections by thick-film techniques
    • H05K3/4061Through-connections; Vertical interconnect access [VIA] connections by thick-film techniques for via connections in inorganic insulating substrates
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/40Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K3/42Plated through-holes or plated via connections
    • H05K3/429Plated through-holes specially for multilayer circuits, e.g. having connections to inner circuit layers
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/46Manufacturing multilayer circuits
    • H05K3/4611Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards
    • H05K3/4626Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards characterised by the insulating layers or materials
    • H05K3/4629Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards characterised by the insulating layers or materials laminating inorganic sheets comprising printed circuits, e.g. green ceramic sheets

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
  • Ceramic Capacitors (AREA)
  • Structure Of Printed Boards (AREA)

Abstract

Keramisches Multilayersubstrat, umfassend:
a) eine Mehrzahl von keramischen Schichten (103),
b) Leiterbahnen (102), die auf einigen oder allen keramischen Schichten (103) ausgebildet sind und Schaltkreiselemente bilden,
c) mindestens eine Aussparung (105) an mindestens einer Seitenfläche des keramischen Multilayersubstrats, in der eine Außenelektrode (104) ausgebildet ist,
d) mindestens eine Leiterbahn (102), die zu der mindestens einen Außenelektrode (104) führt und mit dieser verbunden ist,
dadurch gekennzeichnet, dass
e) ein – als mit einem elektrisch leitenden Material gefülltes Durchgangsloch ausgebildeter – Verbindungsstab (110) an der Verbindungsstelle der Leiterbahn (102) mit der Außenelektrode (104) in mindestens einer der keramischen Schichten (103) vorhanden ist.

Description

  • Hintergrund der Erfindung
  • Gebiet der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung betrifft ein keramisches Multilayersubstrat mit einer verbesserten Verbindungsstruktur zwischen inneren Leiterbahnen und einer Außenelektrode, und ein Verfahren zur Herstellung des Substrats, und insbesondere ein bei niedriger Temperatur gemeinsam gebranntes keramisches Multilayersubstrat, das durch Aufeinanderstapeln und Brennen einer Mehrzahl von keramischen Schichten gebildet wird, indem ein Verbindungsstab in vertikaler Richtung auf Verbindungsflächen zwischen inneren Leiterbahnen und einer Außenelektrode aller keramischen Schichten ausgebildet wird, wodurch verhindert wird, dass metallische leitende Schichten der inneren Leiterbahnen während der Bearbeitung des äußeren Anschlusses verformt werden, außerdem werden die inneren Leiterbahnen stabil an die Außenelektrode angeschlossen. Die Erfindung betrifft auch ein Verfahren zur Herstellung des Substrats.
  • Eine Technik zur Herstellung eines bei niedriger Temperatur gemeinsam gebrannten keramischen Substrats, das im Folgenden als „LTCC" (low temperature cofired ceramic) bezeichnet wird, ist ein Verfahren, bei dem eine innere Elektrode und passive Bauelemente (Widerstände, Induktivitäten und Kapazitäten) für bestimmte Schaltungen gebildet werden. Die Leiterbahnen auf der Grünschicht werden durch ein Siebdruckverfahren hergestellt, bei dem ein Metall mit einer hohen elektrischen Leitfähigkeit wie Gold, Kupfer oder dergleichen verwendet wird. Eine Mehrzahl dieser Grünlinge wird vertikal gestapelt und anschließend gebrannt (im Allgemeinen bei weniger als 1000 °C), um Multi-Chip-Module (MCM) und Multi-Chip-Gehäuse herzustellen.
  • Da die keramischen Schichten und die metallischen Elemente gemeinsam gebrannt werden, kann die LTCC-Technik die passiven Bauelemente (Widerstand, Induktivität und Kapazität) in einem Modul ausbilden, wodurch ein komplexer Aufbau erhalten wird, der viele Bauteile enthält und im Hinblick auf die Miniaturisierung vorteilhaft ist.
  • Da das LTCC-Substrat die eingebetteten passiven Bauelemente umfasst, kann das LTCC-Substrat als SOP (System-On-Package) ausgebildet werden, wodurch der schädliche Effekt minimiert wird, der in Teilen eines SMD (Surface Mounted Device) erzeugt wird. Ferner verringert das LTCC-Substrat elektrisches Rauschen, das an Lötstellen bei der Befestigung auf Flächen erzeugt wird, wodurch die elektrischen Eigenschaften des hergestellten Geräts verbessert werden, ebenso wird die Anzahl der Lötstellen verringert, wodurch die Zuverlässigkeit des hergestellten Geräts verbessert wird. Darüber hinaus verringert das LTCC-Substrat den Temperaturkoeffizienten der Resonanzfrequenz (Tf) durch Einstellen des thermischen Ausdehnungskoeffizienten, wodurch die Eigenschaften des dielektrischen Resonators gesteuert werden.
  • Das LTCC-Multilayersubstrat wird gebildet, indem Schaltungen in einem einzigen keramischen Substrat ausgebildet werden und durch Aufeinanderstapeln mehrerer keramischer Schichten. Daher müssen äußere Anschlüsse, die mit der Außenseite zu verbinden sind, auf einer Außenfläche des LTCC-Substrats ausgebildet und elektrisch mit den Leiterbahnen innerhalb des Substrats verbunden werden.
  • Aus der EP 0 582 881 B1 ist ein elektronisches Vielschichtbauteil bekannt, das Außenelektroden aufweist, daneben wird ein Verfahren zum Vereinzeln von einer Vielzahl von Bauteilen beschrieben, die gemeinsam auf einem Substrat aufgebaut werden.
  • Aus der EP 0 599 595 B1 sind Verfahren bekannt, durch die Außenelektroden an keramischen Bauteilen mit Leiterbahnen im Inneren verbunden werden. Aus JP 10275979 A (abstract) und aus JP 09186458 A (abstract) ist jeweils für sich ein Verfahren bekannt, bei dem Außenelektroden dadurch erzeugt werden, dass runde Durchgangslöcher geteilt werden.
  • Die 1 und 2 zeigen „ein geschichtetes elektronisches Bauteil", das ein laminiertes, Schichten aufweisendes Substrat mit inneren Schaltungen aufweist. Durchgangslöcher sind in Längsrichtung des Substrats ausgebildet, und externe Elektroden sind ausgebildet durch Füllen der Durchgangslöcher mit einem elektrischen Leiter, wie in der japanischen offengelegten Patentanmeldung Nr. Hei 8-37251 offenbart ist. Wie in den 1 und 2 gezeigt ist, sind Durchgangslöcher 7 in der Schichtstruktur 5 ausgebildet und mit Leitern 9 gefüllt, und die Leiter 9 innerhalb der Durchgangslöcher 7 sind an die inneren Schaltungen angeschlossen. Durchgangslöcher 10 sind in der Schichtstruktur 5 ausgebildet und die Leiter 9 liegen in den Durchgangslöchern 10 frei. Die exponierten Leiter 9 dienen als Außenelektroden 4 für elektronische Komponenten. Da die Leiter 9, die in den Durchgangslöchern 7 gebildet sind, zu Außenelektroden werden, haben die Außenelektroden 4 in dieser japanischen Veröffentlichung die gleichen Maße und Formen und sind leicht herstellbar.
  • Die erwähnte japanische Veröffentlichung hat jedoch das folgende Problem. Die rechteckigen Durchgangslöcher 7 werden gleichzeitig durch mehrere geschichtete Grünlinge in Längsrichtung mit einem Stanzverfahren oder dergleichen hergestellt. In diesem Fall, wie in 3 gezeigt ist, werden die geschichteten Grünlinge in der Richtung des Ausstanzens durch eine Schubspannung komprimiert, und die inneren Metallmuster auf den Grünlingen befinden sich nicht bei den Durchgangslöchern 7. Die inneren Leiterbahnen müssen sich bei den Durchgangslöchern 7 befinden, sodass sie mit dem Leitern 9 verbunden werden können, die in den Durchgangslöchern 7 gebildet sind und als äußere Elektroden dienen. Die japanische Veröffentlichung löst jedoch nicht das oben beschriebene Problem, wie in den 1 und 2 gezeigt ist.
  • Es gibt verschiedene Verfahren zum Ausbilden von Außenelektroden bei dem herkömmlichen bei niedriger Temperatur gebrannten keramischen Multilayersubstrat. Erstens, wie in 4 gezeigt ist, wird eine innere Leiterbahn 2a bis zum Rand jedes keramischen Substrats ausgedehnt und liegt außen frei. Dann wird das keramische Multilayersubstrat 3 durch Aufstapeln und Brennen der mehreren keramischen Schichten bei einer hohen Temperatur gebildet, und eine Außenelektrode 4a wird auf einer Seitenfläche des keramischen Multilayersubstrats 3 gebildet durch eine Beschichtung, ohne dass irgendein Durchgangsloch bei dem keramischen Multilayersubstrat 3 durch das Ausstanzverfahren gebildet wird. Dieses Verfahren stellt die Verbindung zwischen den inneren Leiterbahnen und der Außenelektrode sicher. Nachdem die keramische Multilayerstruktur in eine Mehrzahl von keramischen Einheitsmultilayersubstraten 3 geschnitten worden ist, muss die Oberfläche des keramischen Multilayersubstrats 3 jedoch geschliffen werden, um die inneren Leiterbahnen 2a vor dem Bilden der Außenelektrode 4a freizulegen. Dementsprechend macht dieses Verfahren das Herstellungsverfahren des Substrats komplizierter und erfüllt nicht die Anforderungen an eine Massenproduktion.
  • 5 zeigt ein weiteres Verfahren der Herstellung von Außenelektroden. Dabei wird ein Durchgangsloch mit der Form eines Viertelkreises auf der Ecke aller keramischen Substrate ausgebildet, sodass es an einer inneren Leiterbahn 2b anliegt, und eine Außenelektrode 4b wird in jedem Durchgangsloch ausgebildet. Anschließend wird das keramische Multilayersubstrat 3 durch Stapeln einer Mehrzahl der keramischen Schichten gebildet, wodurch die Außenelektroden 4b in einen externen Anschluss integriert werden. In diesem Fall ist das Herstellungsverfahren sehr kompliziert, da die Außenelektroden 4b jeweils auf den keramischen Schichten gebildet werden müssen. Da die Maße aller Schichten nicht gleich sind, wegen des Unterschieds der thermischen Ausdehnungskoeffizienten der einzelnen Schichten, kann das keramische Multilayersubstrat bei einem äußeren Schlag oder dergleichen leicht beschädigt werden. Die Bezeichnung „Leiterbahn" wird allgemein für Schaltkreisleiterbahn verwendet.
  • 6 stellt ein weiteres Verfahren zur Herstellung von Außenelektroden dar. Dabei wird ein Durchgangsloch mit der Form eines Viertelkreises auf der Ecke aller Schichten gebildet, sodass es an der inneren Leiterbahn 2c anliegt. Dann wird ein keramisches Multilayersubstrat 3 durch Aufschichten einer Mehrzahl der keramischen Schichten gebildet, und Außenelektroden 4c werden gleich zeitig in den mehreren Durchgangslöchern durch Auftragen gebildet. Dieses Verfahren wird allgemein beim Herstellen von Außenelektroden bei einem herkömmlichen keramischen Multilayersubstrat benutzt, das bei niedriger Temperatur gemeinsam gebrannt wird. Wie in 6 gezeigt ist, da die Durchgangslöcher des keramischen Multilayersubstrats 3 nicht präzise zueinander ausgerichtet sind, wird das Material zum Herstellen der Außenelektroden nicht gleichmäßig in jedem Durchgangsloch aufgetragen und die Verbindung zwischen den inneren Leiterbahnen und den Außenelektroden ist schlecht.
  • 7 stellt ein weiteres Verfahren zur Herstellung von Außenelektroden dar, das ähnlich dem in der japanischen Offenlegungsschrift Nr. Hei 8-37251 ist. Zunächst wird eine Mehrzahl von keramischen Grünlingen vertikal aufgeschichtet, um das keramische Multilayersubstrat 3 zu bilden. Anschließend wird ein Durchgangsloch auf einer Ecke des keramischen Multilayersubstrats 3 gebildet und eine Außenelektrode 4d wird in dem Durchgangsloch 4 durch Beschichten gebildet. In diesem Fall, wie in 3 gezeigt ist, liegen die inneren Leiterbahnen 2d nicht an den Durchgangslöchern in dem Verfahrensschritt des Herstellens der Durchgangslöcher an, wodurch dasselbe Problem erzeugt wird, dass sie nicht an die Außenelektrode 4d angeschlossen sind.
  • Daher ist ein Verfahren erforderlich, um gleichzeitig Durchgangslöcher auf jeder Lage des keramischen Multilayersubstrats durch ein Stanzverfahren herzustellen, um das Herstellungsverfahren des keramischen Multilayersubstrats zu vereinfachen und die Verbindung zwischen inneren Leiterbahnen und der Außenelektrode zu verbessern.
  • Zusammenfassung der Erfindung
  • Dementsprechend wurde die vorliegende Erfindung im Hinblick auf die oben genannten Probleme gemacht, und es ist ein Ziel der vorliegenden Erfindung, ein keramisches Multilayersubstrat zu schaffen, bei dem die Verbindung zwischen inneren Leiterbahnen und einer Außenelektrode aufrechterhalten wird, auch in dem Fall, wenn eine Mehrzahl von keramischen Grünlingen, die mit inneren Lei terbahnen versehen sind, vertikal gestapelt wird und wenn ein Durchgangsloch auf einer Fläche für die Außenelektrode des keramischen Multilayersubstrats erzeugt wird, ebenso wird ein Verfahren zur Herstellung des Substrats angegeben.
  • Es ist ein weiteres Ziel der vorliegenden Erfindung, ein keramisches Multilayersubstrat zu schaffen, bei dem eine Mehrzahl von keramischen Grünlingen vertikal geschichtet ist und bei dem ein Durchgangsloch auf dem keramischen Multilayersubstrat gebildet ist, um eine Außenelektrode zu bilden, wodurch das Herstellungsverfahren des Multilayersubstrats vereinfacht und die Qualität des Multilayersubstrats verbessert wird, ebenso wird ein Verfahren zur Herstellung des Substrats angegeben.
  • Gemäß einem Gesichtspunkt der vorliegenden Erfindung werden die oben genannten und weitere Ziele erreicht durch ein keramisches Multilayersubstrat, umfassend: eine Mehrzahl von keramischen Schichten, Leiterbahnen, die auf einigen oder allen keramischen Schichten ausgebildet sind und Schaltkreiselemente bilden, mindestens eine Aussparung an mindestens einer Seitenfläche des keramischen Multilayersubstrats, in der eine Außenelektrode ausgebildet ist, mindestens eine Leiterbahn, die zu der mindestens einen Außenelektrode führt und mit dieser verbunden ist.
  • Gemäß einem weiteren Gesichtspunkt der vorliegenden Erfindung wird ein Verfahren zur Herstellung eines Multilayersubstrats vorgeschlagen, umfassend die folgenden Schritte: Herstellen einer Mehrzahl von keramischen Schichten mit einer festgelegten Dicke; Ausbilden von Leiterbahnen auf Oberflächen der keramischen Schichten um Schaltkreiselemente auszubilden; Ausbilden von Durchgangslöchern in vertikaler Richtung der keramischen Schichten innerhalb eines Teils der keramischen Schichten, der bis zu den Seitenflächen der keramischen Schichten reicht, benachbart zu den Seitenflächen; Ausbilden von Verbindungsstäben durch Füllen der Durchgangslöcher in den keramischen Schichten mit einem elektrisch leitfähigen Material, so dass die Verbindungsstäbe mit den Leiterbahnen elektrisch verbunden sind; Stapeln der Mehrzahl der keramischen Schichten; Ausbilden wenigstens einer die Verbindungsstäbe freilegenden Aussparung an Seitenflächen der gestapelten keramischen Schichten; und Ausbilden wenigstens einer Außenelektrode in der Aussparung durch ein Beschichtungsverfahren.
  • Gemäß einem weiteren Gesichtspunkt der vorliegenden Erfindung wird ein Verfahren zur Herstellung eines Multilayersubstrats angegeben, umfassend die folgenden Schritte: Herstellen einer Mehrzahl von keramischen Schichten mit einer festgelegten Dicke; Ausbilden von Durchgangslöchern in vertikaler Richtung der keramischen Schichten innerhalb eines Teils der keramischen Schichten, der zu den Seitenflächen der keramischen Schichten benachbart ist; Ausbilden von Verbindungsstäben durch Füllen der Durchgangslöcher mit einem elektrisch leitfähigen Material; Ausbilden von Leiterbahnen auf Oberflächen der keramischen Schichten um derart Schaltkreiselemente auszubilden, dass die Verbindungsstäbe innerhalb des Teils der Leiterbahnen angeordnet sind, der bis zu den Seitenflächen der keramischen Schicht reicht; Stapeln einer Mehrzahl der keramischen Schichten; Ausbilden wenigstens eines Durchgangslochs in vertikaler Richtung auf den Seitenflächen der gestapelten keramischen Schichten, so dass die Verbindungsstäbe an der Außenseite freiliegen; und Ausbilden wenigstens einer Außenelektrode in der Aussparung durch ein Beschichtungsverfahren.
  • Gemäß einem weiteren Gesichtspunkt der vorliegenden Erfindung wird ein Verfahren zur Herstellung eines Multilayersubstrats angegeben, umfassend die folgenden Schritte: Herstellen einer Mehrzahl von keramischen Schichten, die jeweils mit Anreißlinien versehen sind, sodass sie in eine Mehrzahl von keramischen Schichten geschnitten werden können und eine festgelegte Dicke besitzen; Herstellen einer Mehrzahl von gleichen Leiterbahnen auf Oberflächen der keramischen Schichten, um Schaltkreiselemente auszubilden; Ausbilden von Durchgangslöchern in vertikaler Richtung der keramischen Schichten innerhalb eines Teils der Leiterbahnen, der bis zu den Anreißlinien der keramischen Schichten reicht, benachbart zu den Anreißlinien; Ausbilden von Verbindungsstäben durch Füllen der Durchgangslöcher mit einem elektrisch leitfähigen Material, so dass die Verbindungsstäbe mit den Leiterbahnen verbunden sind; Stapeln einer Mehrzahl der keramischen Schichten; Ausbilden von Aussparungen in vertikaler Richtung auf den Anreißlinien der gestapelten keramischen Schichten, so dass die Verbindungsstä be an der Außenseite freiliegen; Ausbilden von Außenelektroden in den Aussparungen durch ein Beschichtungsverfahren; und Zerschneiden der gestapelten keramischen Schichten entlang der Anreißlinien in eine Mehrzahl von keramischen Multilayersubstraten.
  • Gemäß einem weiteren Gesichtpunkt der vorliegenden Erfindung wird ein Verfahren zur Herstellung eines Multilayersubstrats offenbart, umfassend die folgenden Schritte: Herstellen einer Mehrzahl von keramischen Schichten, die jeweils mit Anreißlinien versehen sind, sodass sie in eine Mehrzahl von keramischen Schichten mit einer festgelegten Dicke geschnitten werden können; Ausbilden von Durchgangslöchern in vertikaler Richtung der keramischen Schichten, benachbart zu den Anreißlinien; Ausbilden von Verbindungsstäben durch Füllen der Durchgangslöcher mit einem elektrisch leitfähigem Material; Ausbilden einer Mehrzahl von gleichen Leiterbahnen auf Oberflächen der keramischen Schichten, um Schaltkreiselemente zu bilden, derart, dass die Verbindungsstäbe innerhalb eines Teils der Leiterbahnen angeordnet sind, der sich bis zu den Anreißlinien der keramischen Schichten erstreckt; Stapeln einer Mehrzahl der keramischen Schichten; Ausbilden von Aussparungen in vertikaler Richtung der gestapelten keramischen Schichten auf den Anreißlinien, so dass die Verbindungsstäbe an der Außenseite freiliegen; Ausbilden von Außenelektroden in den Aussparungen durch ein Beschichtungsverfahren; und Zerschneiden der gestapelten keramischen Schichten entlang der Anreißlinien in eine Mehrzahl von keramischen Mehrschichtsubstraten.
  • Eine Schichtstruktur gemäß der vorliegenden Erfindung wird gebildet durch Stapeln einer Mehrzahl von Schichten, wodurch ein Gehäuse hergestellt wird. Die Schichten werden passend ausgewählt aus Materialien mit bestimmten elektrischen, dielektrischen und magnetischen Eigenschaften. Insbesondere wird für die Schicht ein keramischer Grünling mit einer festgelegten Dicke benutzt. Eine Leiterbahn wird mit einer festgelegten Form auf den Grünlingen durch Beschichten eines Metalls auf dem Grünling erzeugt und dient als Schaltungselement, wenn die Grünlinge gestapelt werden. Die Leiterbahnen sind aus Metallen wie Silber, Kupfer oder dergleichen hergestellt. Die mehreren keramischen Schichten werden gestapelt und bei einer niedrigen Temperatur gebrannt, dadurch entsteht eine Schichtstruktur, die als bei niedriger Temperatur gemeinsam gebranntes keramisches Multilayersubstrat bezeichnet wird.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnungen
  • Die oben genannten und weitere Ziele und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden anhand der nachfolgenden detaillierten Beschreibung unter Bezugnahme auf die Figuren erläutert, in denen:
  • 1 ist eine perspektivische Ansicht eines herkömmlichen Multilayersubstrats nach dem Schneiden, sodass die äußeren Anschlüsse zur Außenseite freiliegen;
  • 2 ist eine perspektivische Ansicht des herkömmlichen Multilayersubstrats von 1 vor dem Zerschneiden, sodass die äußeren Anschlüsse zur Außenseite freiliegen;
  • 3 ist eine schematische Ansicht und zeigt Probleme, die bei der Herstellung des Multilayersubstrats von 1 entstehen;
  • 4 ist eine perspektivische Ansicht und zeigt ein Multilayersubstrat, das einen äußeren Anschluss umfasst, der nach einem herkömmlichen Verfahren ausgebildet wurde;
  • 5 ist eine perspektivische Ansicht und zeigt ein Multilayersubstrat, umfassend einen äußeren Anschluss, hergestellt durch ein weiteres herkömmliches Verfahren;
  • 6 ist eine perspektivische Ansicht und zeigt ein Multilayersubstrat, umfassend einen äußeren Anschluss, hergestellt durch ein weiteres herkömmliches Verfahren;
  • 7 ist eine perspektivische Ansicht und zeigt ein Multilayersubstrat, umfassend einen äußeren Anschluss, hergestellt durch ein weiteres herkömmliches Verfahren;
  • 8 ist eine geschnittene Ansicht eines erfindungsgemäßen Multilayersubstrats;
  • 9 ist eine Draufsicht eines keramischen Substrats des erfindungsgemäßen Multilayersubstrats;
  • 10 ist eine perspektivische Ansicht des Multilayersubstrats von 8;
  • 11 ist eine geschnittene Ansicht des erfindungsgemäßen Multilayersubstrats;
  • 12A12G zeigen ein Verfahren zur Herstellung eines keramischen Multilayer substrats gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung;
  • 13A13G zeigen ein Verfahren zur Herstellung eines keramischen Multilayer substrats gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung;
  • 14A14H zeigen ein Verfahren zur Herstellung eines keramischen Multilayersubstrats gemäß einem dritten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung und
  • 15A15H zeigen ein Verfahren zur Herstellung eines keramischen Multilayersubstrats gemäß einem vierten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung.
  • Beschreibung der bevorzugten Ausführungsbeispiele
  • Nachfolgend werden bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung detailliert unter Bezugnahme auf die Figuren beschrieben. 8 ist eine geschnittene Ansicht eines Multilayersubstrats gemäß der vorliegenden Erfindung, und 9 ist eine Draufsicht eines keramischen Substrats des Multilayersubstrats gemäß der vorliegenden Erfindung. 10 ist eine perspektivische Ansicht des Multilayersubstrats von 8.
  • Wie in den 8 und 9 gezeigt ist, ist eine Leiterbahn 102 mit einem festgelegtem Muster auf allen keramischen Schichten 103 ausgebildet. Ein Ende der Leiterbahn 102 erstreckt sich bis zu einer Kante der keramischen Schicht 103, um Signale mit der Außenseite auszutauschen. Es ist nicht erforderlich, dieses Muster für den Signalaustausch auf allen keramischen Schichten 103 auszubilden. Dementsprechend kann das Signale austauschende Muster auf Teilen der keramischen Schichten 103 nicht ausgebildet sein. Die vorliegende Erfindung verwendet die keramische Schicht 103, die mit einer Aussparung 105 mit einer Halbkreisform versehen ist. Die Aussparung 105 bildet einen Freiraum zum Ausbilden einer Außenelektrode 104 in dem Freiraum. In dem Fall, wenn eine Schichtstruktur durch Stapeln einer Mehrzahl der keramischen Schichten 103, die aus einer keramischen Substratlage bestehen, gebildet wird, werden die Aussparungen 105 im Inneren der Schichtstruktur ausgebildet, bevor die Schichtstruktur in eine Mehrzahl von keramischen Mehrschichtsubstraten zerschnitten wird, sodass die Außenelektrode einfach hergestellt wird. Die kreisförmige Aussparung 105 wird zwischen zwei benachbarten Schichten 103 ausgebildet und anschließend in eine Halbkreisform gebracht, sodass sie zur Außenseite hin offen ist, indem die Schichtstruktur in die mehreren Multilayersubstrate geschnitten wird.
  • Ein Verbindungsstab 110 wird in der keramischen Schicht 103 ausgebildet durch Füllen eines Durchgangslochs, das zwischen der Leiterbahn 102 und der Aussparung 105 angeordnet ist. Eine Seite des Verbindungsstabs 110 berührt die Aussparung 105, sodass er an der Innenseite der Aussparung frei liegt, und die andere Seite des Verbindungsstabs 110 berührt die Leiterbahn 102. Anders als die Leiterbahn 102 ist der Verbindungsstab 110 in vertikaler Richtung der keramischen Schicht 103 ausgebildet und berührt die Außenelektrode 104 direkt. Die Außenelektrode 104 ist auf der Innenwand der Aussparung 105 ausgebildet, und an die Leiterbahn 102 und den Verbindungsstab 110 angeschlossen, sie dient dazu, Signale von außen an die Leiterbahn zu übertragen.
  • 10 zeigt das Multilayersubstrat, bei dem die Verbindungsstäbe 110 benutzt werden, bei dem die Außenelektrode 104 sowohl an die inneren Leiterbahnen 102 als auch an die Verbindungsstäbe 110 angeschlossen ist.
  • Die Leiterbahn 102 ist aus einem metallischen Beschichtungsfilm hergestellt, und der Verbindungsstab 110 ist durch Füllen des Durchgangslochs (nicht gezeigt) mit einem metallischen elektrisch leitfähigen Material gebildet, sodass er elektrisch an die Leiterbahn 102 angeschlossen wird. Vorzugsweise hat der Verbindungsstab 110 eine Kreisform. Der Verbindungsstab 110 kann jedoch in unterschiedlichen Formen ausgebildet werden, sodass er an der Wandfläche der Aussparung 105 frei liegt.
  • Vorzugsweise läuft der äußere Umfang des Durchgangslochs durch die Mitte des Verbindungsstabs 110, und der Durchmesser des Verbindungsstabs 110 ist kleiner als die Breite der Leiterbahnen 102. Da der Verbindungsstab 110 in vertikaler Richtung des Substrats ausgebildet ist und das Durchgangsloch einen großen Durchmesser hat, ist die Festigkeit des Substrats verringert und die Menge des metallischen Leiters, der das Durchgangsloch auffüllt, ist erhöht, wodurch die Herstellungskosten ebenfalls erhöht sind, was dazu führt, dass die Herstellung des Substrats erschwert ist. Um die obigen Probleme zu lösen, wird es bevorzugt, das Durchgangsloch innerhalb der Fläche der Leiterbahn 102 auszubilden.
  • Wie oben beschrieben wurde, wird der Grad der elektrischen Verbindung zwischen der Außenelektrode 104 und der inneren Leiterbahn 102 verbessert, wenn die Außenelektrode 104 elektrisch über den Verbindungsstab 110 an die Leiterbahn 102 angeschlossen ist. Da die Leiterbahn lediglich auf der oberen Fläche des Substrats ausgebildet ist, wird die Verbindung zwischen der Außenelektrode und den inneren Leiterbahnen herkömmlich durch einen Linienkontakt erreicht. Da die Kontaktfläche zwischen den inneren Leiterbahnen und der Außenelektrode bei der vorliegenden Erfindung, die die Verbindungsstäbe umfasst, vergrößert ist, und da die Verbindung zwischen dem Verbindungsstab und der Außenelektrode durch einen Flächenkontakt erhalten wird, ist der Grad der Verbindung zwischen den inneren Leiterbahnen und der Außenelektrode verbessert.
  • Im Vergleich zu dem Stand der Technik verbessert die Ausbildung des Verbindungsstabs das Verfahren zur Herstellung des Multilayersubstrats. Im Folgenden wird gemeinsam mit der Beschreibung der verbesserten Wirkung des Verfahrens ein Verfahren zur Herstellung eines Multilayersubstrats durch Stapeln einer Mehrzahl von keramischen Schichten gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel der Erfindung im Detail unter Bezugnahme auf die 12A bis 12G beschrieben.
    • A) Eine keramische Schicht 203 mit einer festgelegten Dicke wird hergestellt.
    • B) Eine Leiterbahn 202 zum Ausbilden von Schaltkreiselementen wird auf der keramischen Schicht 203 ausgebildet. Die mehreren Leiterbahnen 202 der vertikal gestapelten keramischen Schichten 203 bilden verschiedene Schaltkreiselemente. Die Leiterbahn 202 ist aus einem Metallfilm hergestellt.
    • C) Durchgangslöcher 211 sind an einem Ende der Leiterbahn 202 ausgebildet, die sich bis zu einer Seitenfläche der keramischen Schicht 203 erstreckt, um Signale mit der Außenseite auszutauschen. Das Durchgangsloch 211 ist vertikal zu der keramischen Schicht 203 ausgebildet, benachbart zu der Seitenfläche der keramischen Schicht 203. Vorzugsweise ist der Durchmesser des Durchgangslochs 211 etwas kleiner als die Breite der Leiterbahn 202. Das Durchgangsloch 211 ist lediglich in einem Teil der Leiterbahn 202 bis zur Kante der keramischen Schicht 203 reichend ausgebildet, um Signale mit der Außenseite auszutauschen, und andere nicht gezeigte Durchgangslöcher sind so ausgebildet, dass sie Signale mit anderen inneren Leiterbahnen der keramischen Schicht 203 austauschen. Da die Durchgangslöcher 211 gleichzeitig mit anderen Durchgangslöchern zum Verbinden der auf der oberen und unteren Fläche des keramischen Substrats ausgebildeten Leiterbahnen ausgebildet werden, kann das Durchgangsloch 211 einfach hergestellt werden, ohne die Anzahl der Herstellungsschritte zu erhöhen. Vorzugsweise hat das Durchgangsloch 211 denselben Durchmesser wie die Durchgangslöcher zum Anschließen der Leiterbahnen, die auf den oberen und unteren Flächen des keramischen Substrats ausgebildet sind.
    • D) Das Durchgangsloch 211 ist mit einem Material gefüllt, um elektrisch mit der freiliegenden Leiterbahn 202 verbunden zu werden, wodurch der Verbindungsstab 210 gebildet wird. Der Verbindungsstab 210 ist aus einem metallischen leitenden Material hergestellt, um elektrisch mit der Leiterbahn 202 verbunden zu werden.
    • E) Eine Mehrzahl von keramischen Schichten 203, die durch die vorgenannten Schritte hergestellt worden sind, wird vertikal gestapelt. Teile oder alle der gestapelten keramischen Schichten 203 umfassen den Verbindungsstab 210, der durch Füllen des Durchgangslochs 211 gebildet wurde, und der Verbindungsstab 210 ist an die inneren Leiterbahnen der entsprechenden keramischen Schicht 203 angeschlossen.
    • F) Eine Aussparung 205 ist in Längsrichtung auf der Kante der gestapelten keramischen Schichten 203 ausgebildet, um die Leiterbahnen 202 und die Verbindungsstäbe 210 freizulegen. Die Aussparung 205 hat eine Halbkreisform, sodass es nach außen offen ist, und läuft durch die Verbindungsstäbe 210. Daher liegen die Verbindungsstäbe 210 an der Innenwand der Aussparung 205 frei. Vorzugsweise läuft der Außenumfang der Aussparung 205 durch die Mitte des Verbindungsstabs 210.
    • G) Eine Außenelektrode 204 ist auf dem inneren Umfang der Aussparung 205 ausgebildet. Die Außenelektrode 204 ist ausgebildet durch Beschichten des inneren Umfangs der Aussparung 205 mit einem Metall, und sie ist an die Leiterbahnen 202 und die Verbindungsstäbe 210 angeschlossen.
  • Da die Aussparung in der gestapelten Struktur ausgebildet ist, die durch Stapeln der mehreren keramischen Schichten gebildet ist, wird die Außenelektrode durch das oben beschriebene Herstellungsverfahren gemäß dem ersten Ausführungsbeispiel gleichmäßig erzeugt. Da der metallische Verbindungsstab auf der an die Außenseite angeschlossenen Leiterbahn ausgebildet ist, liegt der Verbindungsstab immer noch frei durch die in dem Stanzverfahren erzeugten Schubspannungen, wodurch eine schlechte Verbindung zwischen den inneren Leiterbahnen und der Außenelektrode wegen der Verformung des keramischen Substrats verhindert wird. Die große Verbindungsfläche zwischen den inneren Leiterbahnen und der Außenelektrode verbessert den Grad der Verbindung dazwischen.
  • Das Verfahren zur Herstellung des Multilayersubstrats der vorliegenden Erfindung kann wie folgt modifiziert werden. Gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung kann der Schritt des Ausbildens des Durchgangslochs vor dem Schritt des Ausbildens der Musterschicht durchgeführt werden. Die 13A bis 13G zeigen ein Verfahren zur Herstellung eines Multilayersubstrats gemäß dem zweiten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung.
    • A) Eine keramische Schicht 303 mit einer festgelegten Dicke wird hergestellt.
    • B) In Übereinstimmung mit dem Schritt C des ersten Ausführungsbeispiels werden Durchgangslöcher 311 in der keramischen Schicht 303 ausgebildet. Die Position des Durchgangslochs 311 ist so gewählt, dass das Durchgangsloch 311 innerhalb einer später gebildeten Leiterbahn angeordnet ist, und die Anzahl der Durchgangslöcher 311 wird passend festgelegt, sodass die Durchgangslöcher 311 zum Austauschen von Signalen mit der Außenseite innerhalb der Musterschicht angeordnet sind.
    • C) Die Durchgangslöcher 311 sind mit einem metallischen Leiter gefüllt, wodurch sie als Verbindungsstäbe 310 ausgebildet werden. Wie bei dem ersten Ausführungsbeispiel ist der Verbindungsstab 310 in Längsrichtung innerhalb der keramischen Schicht 303 ausgebildet.
    • D) Eine Leiterbahn 302 ist auf der keramischen Schicht 303 ausgebildet, sodass die Verbindungsstäbe 310 innerhalb einer Fläche der Leiterbahn 302 angeordnet sind.
    • E) bis G) In Übereinstimmung mit dem ersten Ausführungsbeispiel wird eine Mehrzahl der keramischen Schichten 303, die durch die vorgenannten Schritte ausgebildet worden sind, vertikal gestapelt, eine Aussparung 305 wird in Längsrichtung auf der Kante der gestapelten keramischen Schichten 303 ausgebildet, und eine Außenelektrode 304 wird an der inneren Kreislinie des Durchgangslochs 305 ausgebildet.
  • Die vorliegende Erfindung schlägt ferner ein Verfahren zur Herstellung eines Multilayersubstrats vor, bei dem eine Multilayersubstratplatte hergestellt und dann in mehrere Multilayersubstrate geschnitten wird, sodass eine Massenproduktion von Multilayersubstratprodukten stattfindet. Dieses Verfahren wird durch ein drittes Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung verwirklicht, dass nun detailliert unter Bezugnahme auf die 14A bis 14H beschrieben wird.
    • A) Eine keramische Schicht 403 mit einer bestimmten Dicke wird hergestellt. Die keramische Schicht 403 ist mit Anreißlinien 408 versehen, um in eine Mehrzahl von keramischen Substraten geschnitten zu werden.
    • B) Eine Mehrzahl von denselben Leiterbahnen 402, die Schaltkreiselemente bilden, ist auf der keramischen Schicht 403 ausgebildet. Die mehreren Leiterbahnen 402 der vertikal gestapelten keramischen Schicht 403 bilden verschiedene Schaltkreiselemente. Die Leiterbahnen 402 sind aus einem Metallfilm hergestellt.
    • C) Durchgangslöcher 411 sind innerhalb der Leiterbahnen 402 ausgebildet und erstrecken sich bis zu den Anreißlinien 408 der keramischen Schicht 403, um Signale mit der Außenseite auszutauschen. Die Durchgangslöcher 211 sind in Längsrichtung auf der keramischen Schicht 403 benachbart zu den Anreißlinien 408 der keramischen Schicht 403 ausgebildet. Vorzugsweise ist der Durchmesser des Durchgangslochs 411 etwas kleiner als die Breite der Leiterbahn 402. Das Durchgangsloch 411 ist lediglich in dem Teil der Leiterbahn 402 ausgebildet, der sich bis zu den Anreißlinien 408 der keramischen Schicht 403 erstreckt, um Signale mit der Außenseite auszutauschen, und andere Durchgangslöcher (nicht gezeigt) sind ausgebildet, um Signale mit anderen inneren Leiterbahnen der keramischen Schicht 403 auszutauschen. Da die Durchgangslöcher 411 gleichzeitig mit anderen Durchgangslöchern ausgebildet sind, um die Muster, die auf der oberen und der unteren Fläche der keramischen Schicht 403 miteinander zu verbinden, kann das Durchgangsloch 411 einfach ausgebildet werden, ohne die Anzahl der Herstellungsschritte zu erhöhen. Vorzugsweise hat das Durchgangsloch 411 den gleichen Durchmesser wie die Durchgangslöcher zum Verbinden der oberen und unteren Muster.
    • D) Die Durchgangslöcher 411 sind mit einem Material gefüllt, um elektrisch mit den freiliegenden Leiterbahnen 402 verbunden zu werden, wodurch sie als Verbindungsstäbe 410 ausgebildet werden. Die Verbindungsstäbe 410 sind aus einem metallischen Leiter hergestellt, sodass sie elektrisch mit den Leiterbahnen 402 verbunden werden.
    • E) Eine Mehrzahl der keramischen Schichten 403, die durch die vorgenannten Schritte hergestellt sind, wird vertikal gestapelt. Ein Teil oder alle der gestapelten keramischen Schichten 403 umfassen den Verbindungsstab 410, der durch Füllen des Durchgangslochs 411 gebildet ist, und der Verbindungsstab 410 ist an die inneren Leiterbahnen der entsprechenden keramischen Schicht 403 angeschlossen.
    • F) Aussparungen 405 sind in Längsrichtung auf den Anreißlinien 408 der gestapelten keramischen Schichten 403 ausgebildet, um die Leiterbahnen 402 und die Verbindungsstäbe 410 freizulegen. Die Aussparung 405 hat eine Zylinderform und läuft durch die Verbindungsstäbe 410. Die Verbindungsstäbe 410 liegen an der Innenwand der Aussparung 405 frei. Vorzugsweise läuft der äußere Umfang der Aussparung 405 durch die Mitte des Verbindungsstabs 410.
    • G) Außenelektroden 404 sind auf inneren Kreislinien der Aussparungen 405 ausgebildet. Die Außenelektroden 404 sind ausgebildet durch Auftragen eines Metalls auf den inneren Kreislinien der Aussparungen 405 und sie sind an die Leiterbahnen 402 und die Verbindungsstäbe 410 angeschlossen.
    • H) Die gestapelten keramischen Schichten 403 werden entlang der Anreißlinien 408 in eine Mehrzahl von keramischen Multilayersubstraten 404 geschnitten, die jeweils eine gewünschte Größe haben.
  • Da ein Durchgangsloch bei der gestapelten Struktur durch Stapeln einer Mehrzahl von Schichten gebildet wird, wird ähnlich wie bei dem ersten Ausführungsbeispiel durch dieses Herstellungsverfahren gemäß dem dritten Ausführungsbeispiel die Außenelektrode gleichmäßig ausgebildet. Da der metallische Verbindungsstab auf der mit der Außenseite verbundenen Leiterbahn ausgebildet ist, liegt der Verbindungsstab immer noch frei zur Außenseite infolge von Schubspannungen, die bei dem Stanzverfahren erzeugt werden, somit wird eine schlechte Verbindung zwischen den inneren Leiterbahnen und der Außenelektrode durch die Verformung des keramischen Substrats vermieden. Ferner verbessert ein großer Verbindungsbereich zwischen den inneren Leiterbahnen und der Außenelektrode den Grad der Verbindung. Darüber hinaus werden bei dem Herstellungsverfahren des dritten Ausführungsbeispiels die Schritte zum Ausbilden der Verbindungsstäbe und der Durchgangslöcher bei einer Massenproduktion der Multilayersubstrate angewendet, wodurch eine Massenproduktion eines bei niedriger Temperatur gemeinsam gebrannten keramischen Multilayersubstratprodukts mit den vorgenannten Wirkungen durchgeführt wird.
  • Das Verfahren zur Herstellung des Multilayersubstrats des dritten Ausführungsbeispiels kann wie folgt modifiziert werden. Gemäß einem vierten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung wird der Schritt des Ausbildens der Durchgangslöcher vor dem Schritt des Ausbildens der Leiterbahnen durchgeführt. Die 15A bis 15H stellen das Verfahren zur Herstellung eines Multilayersubstrats gemäß dem vierten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung dar. Ähnlich wie in dem zweiten Ausführungsbeispiel werden bei dem Herstellungsverfahren gemäß dem vierten Ausführungsbeispiel zuerst die Verbindungsstäbe ausgebildet, anschließend werden die Leiterbahnen ausgebildet.
    • A) In Übereinstimmung mit dem dritten Ausführungsbeispiel wird eine keramische Schicht 503 mit einer festgelegten Dicke hergestellt und mit Anreißlinien 508 versehen, sodass sie in eine Mehrzahl von keramischen Substraten geschnitten werden kann.
    • B) In Übereinstimmung mit dem Schritt C des dritten Ausführungsbeispiels werden Durchgangslöcher 511 in der keramischen Schicht 503 ausgebildet. die Positionen der Durchgangslöcher 511 sind so festgelegt, dass die Durchgangslöcher 511 innerhalb der später ausgebildeten Leiterbahnen angeordnet sind, und die Anzahl der Durchgangslöcher 511 ist vorher passend festgelegt, sodass die Durchgangslöcher 511 innerhalb der Leiterbahnen zum Austausch von Signalen mit der Außenseite angeordnet sind.
    • C) Die Durchgangslöcher 511 werden mit einem metallischen Leiter gefüllt, wodurch sie als Verbindungsstäbe 510 ausgebildet werden. In Übereinstimmung mit dem dritten Ausführungsbeispiel sind die Verbindungsstäbe 510 in Längsrichtung der keramischen Schicht 503 ausgebildet.
    • D) Leiterbahnen 502 sind auf der keramischen Schicht 503 ausgebildet, sodass die Verbindungsstäbe 510 innerhalb der Flächen der Leiterbahnen 502 angeordnet sind.
    • E) bis G) In Übereinstimmung mit dem dritten Ausführungsbeispiel wird eine Mehrzahl der keramischen Schichten 503, die durch die zuvor erwähnten Schritte hergestellt worden sind, vertikal gestapelt, Aussparungen 505 sind in Längsrichtung auf den Anreißlinien 508 der gestapelten keramischen Schichten 503 ausgebildet, und Außenelektroden 504 sind auf inneren Kreislinien der Aussparungen 505 ausgebildet.
  • In Übereinstimmung mit den oben beschriebenen Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung werden Multilayersubstrate hergestellt, bei denen die Verbindung zwischen den inneren Leiterbahnen und den Außenelektroden stabil ist. Im Stand der Technik wurde kein Verfahren zur Herstellung eines Durchgangslochs nach dem Stapeln der keramischen Substrate wegen der erwähnten Probleme benutzt. Wie jedoch in 11 gezeigt ist, liegt bei dem Verfahren zur Herstellung der Multilayersubstrate der Verbindungsstab 110, der innerhalb der inneren Leiterbahn 102 ausgebildet ist, immer noch an der Wand der Aussparung frei, wodurch er an die Außenelektrode 104, die in der Aussparung ausgebildet ist, angeschlossen wird. Darüber hinaus ist die innere Leiterbahn 102 mit dem Verbin dungsstab 110 verbunden, wodurch sie stabil elektrisch mit der Außenelektrode 104 verbunden wird.
  • Aus der obigen Beschreibung ist ersichtlich, dass die Außenelektrode gleichmäßig auf dem keramischen Multilayersubstrat ausgebildet wird, da ein Durchgangsloch auf der Stapelstruktur ausgebildet wird, die durch Stapeln einer Mehrzahl von mit Musterschichten versehenen Schichten gebildet wird. Darüber hinaus, da ein metallischer Verbindungsstab auf der mit der Außenseite verbundenen Leiterbahn gebildet ist, liegt der Verbindungsstab immer noch nach außen hin frei wegen der Schubspannung, die in dem Verfahrensschritt des Ausstanzens der Aussparung erzeugt wird, wodurch eine schlechte Verbindung zwischen den inneren Leiterbahnen und der Außenelektrode wegen der Verformung des keramischen Substrats verhindert wird. Darüber hinaus verbessert ein großer Verbindungsbereich zwischen den inneren Leiterbahnen und der Außenelektrode den Grad der Verbindung.
  • Ferner werden bei dem Verfahren zur Herstellung der Multilayersubstrate die Schritte des Ausbildens der Verbindungsstäbe und der Durchgangslöcher bei einer Massenproduktion der Multilayersubstrate angewendet, sodass eine Massenproduktion von bei niedriger Temperatur gemeinsam gebrannten keramischen Multilayersubstratprodukten mit den zuvor beschriebenen Wirkungen durchgeführt wird.
  • Ein bei niedriger Temperatur gemeinsam gebranntes keramisches Multilayersubstrat verbindet die inneren Leiterbahnen mit der Außenelektrode über den auf jeder keramischen Schicht ausgebildeten Verbindungsstab, wodurch der Grad der elektrischen Verbindung zwischen den inneren Leiterbahnen und der Außenelektrode verbessert wird. Im Stand der Technik wird die Verbindung zwischen der Außenelektrode und den inneren Leiterbahnen durch einen Linienkontakt erzielt, da die Leiterbahn lediglich auf der oberen Fläche des Substrats ausgebildet ist. Da die Kontaktfläche zwischen den inneren Leiterbahnen und der Außenelektrode bei der vorliegenden Erfindung, die die Verbindungsstäbe aufweist, vergrößert ist und die Verbindung zwischen dem Verbindungsstab und der Außenelektrode durch einen Flächenkontakt realisiert ist, ist der Grad der Verbindung zwischen den inneren Leiterbahnen und der Außenelektrode verbessert.

Claims (14)

  1. Keramisches Multilayersubstrat, umfassend: a) eine Mehrzahl von keramischen Schichten (103), b) Leiterbahnen (102), die auf einigen oder allen keramischen Schichten (103) ausgebildet sind und Schaltkreiselemente bilden, c) mindestens eine Aussparung (105) an mindestens einer Seitenfläche des keramischen Multilayersubstrats, in der eine Außenelektrode (104) ausgebildet ist, d) mindestens eine Leiterbahn (102), die zu der mindestens einen Außenelektrode (104) führt und mit dieser verbunden ist, dadurch gekennzeichnet, dass e) ein – als mit einem elektrisch leitenden Material gefülltes Durchgangsloch ausgebildeter – Verbindungsstab (110) an der Verbindungsstelle der Leiterbahn (102) mit der Außenelektrode (104) in mindestens einer der keramischen Schichten (103) vorhanden ist.
  2. Keramisches Multilayersubstrat nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Leiterbahnen (102) aus einer Metallfolie und die Verbindungsstäbe (110) durch Füllen von in den keramischen Schichten (103) ausgebildeter Durchgangslöcher mit einem elektrisch leitfähigen Material ausgebildet sind, sodass sie elektrisch mit den Leiterbahnen (102) verbunden sind.
  3. Keramisches Multilayersubstrat nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Umfangslinie des Durchgangslochs durch die Mitte des Verbindungsstabs (110) läuft.
  4. Keramisches Multilayersubstrat nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Durchmesser des Verbindungsstabs (110) nicht größer als die Breite der Leiterbahn (102) ist, die bis zu der Seitenfläche der keramischen Schicht (103) reicht.
  5. Verfahren zur Herstellung eines Multilayersubstrats gemäß Patentanspruch 1, umfassend die folgenden Schritte: – Herstellen einer Mehrzahl von keramischen Schichten (203) mit einer festgelegten Dicke; – Ausbilden von Leiterbahnen (202) auf Oberflächen der keramischen Schichten (203) um Schaltkreiselemente auszubilden; – Ausbilden von Durchgangslöchern (211) in vertikaler Richtung der keramischen Schichten (203) innerhalb eines Teils der keramischen Schichten (203), der bis zu den Seitenflächen der keramischen Schichten (203) reicht, benachbart zu den Seitenflächen; – Ausbilden von Verbindungsstäben (210) durch Füllen der Durchgangslöcher (211) in den keramischen Schichten (203) mit einem elektrisch leitfähigen Material, so dass die Verbindungsstäbe (210) mit den Leiterbahnen (202) elektrisch verbunden sind; – Stapeln der Mehrzahl der keramischen Schichten (203); – Ausbilden wenigstens einer die Verbindungsstäbe (210) freilegenden Aussparung (205) an Seitenflächen der gestapelten keramischen Schichten (203); und – Ausbilden wenigstens einer Außenelektrode (204) in der Aussparung (205) durch ein Beschichtungsverfahren.
  6. Verfahren zur Herstellung eines Multilayersubstrats gemäß Patentanspruch 1, umfassend die folgenden Schritte: – Herstellen einer Mehrzahl von keramischen Schichten (303) mit einer festgelegten Dicke; – Ausbilden von Durchgangslöchern (311) in vertikaler Richtung der keramischen Schichten (303) innerhalb eines Teils der keramischen Schichten (303), der zu den Seitenflächen der keramischen Schichten (303) benachbart ist; – Ausbilden von Verbindungsstäben (310) durch Füllen der Durchgangslöcher (311) mit einem elektrisch leitfähigen Material; – Ausbilden von Leiterbahnen (302) auf Oberflächen der keramischen Schichten (303) um derart Schaltkreiselemente auszubilden, dass die Ver bindungsstäbe (310) innerhalb des Teils der Leiterbahnen (302) angeordnet sind, der bis zu den Seitenflächen der keramischen Schicht (303) reicht, – Stapeln einer Mehrzahl der keramischen Schichten (303); – Ausbilden wenigstens eines Durchgangslochs (311) in vertikaler Richtung auf den Seitenflächen der gestapelten keramischen Schichten (303), so dass die Verbindungsstäbe (310) an der Außenseite freiliegen; und – Ausbilden wenigstens einer Außenelektrode (304) in der Aussparung (305) durch ein Beschichtungsverfahren.
  7. Verfahren zur Herstellung eines Multilayersubstrats nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Leiterbahnen (202, 302) aus einer Metallfolie und die Verbindungsstäbe (210, 310) durch Füllen der Durchgangslöcher (211, 311) mit einem elektrisch leitfähigen Material ausgebildet werden, sodass die Verbindungsstäbe (210, 310) mit den Leiterbahnen (202, 302) elektrisch verbunden werden.
  8. Verfahren zur Herstellung eines Multilayersubstrats nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Verbindungsstäbe (210, 310) zylinderförmig ausgebildet werden und die Umfangslinie der Durchgangslöcher (211, 311) durch die Mitte des Verbindungsstabs (210, 310) läuft.
  9. Verfahren zur Herstellung eines Multilayersubstrats nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, dass der Durchmesser des Verbindungsstabs (210, 310) nicht größer als die Breite der Leiterbahn (202, 203) ist, die bis zur Kante der keramischen Schicht (203, 303) reicht.
  10. Verfahren zur Herstellung eines Multilayersubstrats gemäß Patentanspruch 1, umfassend die folgenden Schritte: – Herstellen einer Mehrzahl von keramischen Schichten (403), die jeweils mit Anreißlinien (408) versehen sind, sodass sie in eine Mehrzahl von keramischen Schichten (403) geschnitten werden können und eine festgelegte Dicke besitzen; – Herstellen einer Mehrzahl von gleichen Leiterbahnen (402) auf Oberflächen der keramischen Schichten (403), um Schaltkreiselemente auszubilden; – Ausbilden von Durchgangslöchern (411) in vertikaler Richtung der keramischen Schichten (403) innerhalb eines Teils der Leiterbahnen (402), der bis zu den Anreißlinien (408) der keramischen Schichten (403) reicht, benachbart zu den Anreißlinien (408); – Ausbilden von Verbindungsstäben (410) durch Füllen der Durchgangslöcher (411) mit einem elektrisch leitfähigen Material, so dass die Verbindungsstäbe (410) mit den Leiterbahnen (402) verbunden sind; – Stapeln einer Mehrzahl der keramischen Schichten (403);. Ausbilden von Aussparungen (405) in vertikaler Richtung auf den Anreißlinien (408) der gestapelten keramischen Schichten (403), so dass die Verbindungsstäbe (410) an der Außenseite freiliegen; – Ausbilden von Außenelektroden (404) in den Aussparungen (405) durch ein Beschichtungsverfahren; und – Zerschneiden der gestapelten keramischen Schichten (403) entlang der Anreißlinien (408) in eine Mehrzahl von keramischen Multilayersubstraten.
  11. Verfahren zur Herstellung eines Multilayersubstrats gemäß Patentanspruch 1, umfassend die folgenden Schritte: – Herstellen einer Mehrzahl von keramischen Schichten (503), die jeweils mit Anreißlinien (508) versehen sind, sodass sie in eine Mehrzahl von keramischen Schichten (503) mit einer festgelegten Dicke geschnitten werden können; – Ausbilden von Durchgangslöchern (511) in vertikaler Richtung der keramischen Schichten (503), benachbart zu den Anreißlinien (508); – Ausbilden von Verbindungsstäben (510) durch Füllen der Durchgangslöcher (511) mit einem elektrisch leitfähigem Material; – Ausbilden einer Mehrzahl von gleichen Leiterbahnen (502) auf Oberflächen der keramischen Schichten (503), um Schaltkreiselemente zu bilden, derart, dass die Verbindungsstäbe (510) innerhalb eines Teils der Leiter bahnen (502) angeordnet sind, der sich bis zu den Anreißlinien (508) der keramischen Schichten (503) erstreckt; – Stapeln einer Mehrzahl der keramischen Schichten (503); – Ausbilden von Aussparungen (505) in vertikaler Richtung der gestapelten keramischen Schichten (503) auf den Anreißlinien (508), so dass die Verbindungsstäbe (510) an der Außenseite freiliegen; – Ausbilden von Außenelektroden (504) in den Aussparungen (505) durch ein Beschichtungsverfahren; und – Zerschneiden der gestapelten keramischen Schichten (503) entlang der Anreißlinien (508) in eine Mehrzahl von keramischen Mehrschichtsubstraten.
  12. Verfahren zur Herstellung eines Multilayersubstrats nach Anspruch 10 oder 11, dadurch gekennzeichnet, dass die Leiterbahnen (402, 502) aus einem Metallfilm hergestellt und die Verbindungsstäbe (410, 510) durch Füllen der Durchgangslöcher (411, 511) mit einem elektrisch leitfähigen Material ausgebildet werden, so dass die Verbindungsstäbe (410, 510) mit den Leiterbahnen (402, 502) verbunden werden.
  13. Verfahren zur Herstellung eines Multilayersubstrats nach Anspruch 10 oder 11, dadurch gekennzeichnet, dass die Verbindungsstäbe (410, 510) zylinderförmig ausgebildet werden und die Umfangslinie der Durchgangslöcher (411, 511) durch die Mitte der Verbindungsstäbe (410, 510) läuft.
  14. Verfahren zur Herstellung eines Multilayersubstrats nach Anspruch 10 oder 11, dadurch gekennzeichnet, dass der Durchmesser der Verbindungsstäbe (410, 510) nicht größer als die Breite der Leiterbahn (402, 502) ist, die bis zur Seitenfläche der keramischen Schicht (403, 503) reicht.
DE10317675A 2002-11-19 2003-04-17 Keramisches Multilayersubstrat und Verfahren zu seiner Herstellung Expired - Fee Related DE10317675B4 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR2002-72026 2002-11-19
KR10-2002-0072026A KR100489820B1 (ko) 2002-11-19 2002-11-19 세라믹 다층기판 및 그 제조방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE10317675A1 DE10317675A1 (de) 2004-06-17
DE10317675B4 true DE10317675B4 (de) 2006-08-24

Family

ID=19720688

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE10317675A Expired - Fee Related DE10317675B4 (de) 2002-11-19 2003-04-17 Keramisches Multilayersubstrat und Verfahren zu seiner Herstellung

Country Status (9)

Country Link
US (2) US6965161B2 (de)
JP (1) JP2004172561A (de)
KR (1) KR100489820B1 (de)
CN (1) CN1324698C (de)
DE (1) DE10317675B4 (de)
FI (1) FI20030580A7 (de)
FR (1) FR2847385B1 (de)
GB (1) GB2395604B (de)
SE (1) SE524255C2 (de)

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7777321B2 (en) * 2002-04-22 2010-08-17 Gann Keith D Stacked microelectronic layer and module with three-axis channel T-connects
KR100495211B1 (ko) * 2002-11-25 2005-06-14 삼성전기주식회사 세라믹 다층기판 및 그 제조방법
CN100553413C (zh) * 2005-05-12 2009-10-21 株式会社村田制作所 多层陶瓷基板
KR100771862B1 (ko) * 2005-08-12 2007-11-01 삼성전자주식회사 메모리 모듈을 위한 인쇄회로기판, 그 제조 방법 및 메모리모듈-소켓 어셈블리
US20080047653A1 (en) * 2006-08-28 2008-02-28 Kan Shih-Wei Method for manufacturing multi-layer ceramic substrate
KR100875234B1 (ko) 2007-08-08 2008-12-19 삼성전기주식회사 세라믹 기판 및 그 제조방법, 그리고 카메라 모듈
US20090126857A1 (en) * 2007-11-15 2009-05-21 Shin Hyun-Ok Manufacturing method of low temperature co-fired ceramics substrate
US7843303B2 (en) * 2008-12-08 2010-11-30 Alpha And Omega Semiconductor Incorporated Multilayer inductor
US8747591B1 (en) * 2009-09-22 2014-06-10 Sandia Corporation Full tape thickness feature conductors for EMI structures
EP2609634B1 (de) * 2010-08-24 2015-06-24 Colorchip (Israel) Ltd. Halterung für eine lichtquelle
JP5567445B2 (ja) * 2010-10-08 2014-08-06 スタンレー電気株式会社 セラミック多層配線基板の製造方法
KR20150004118A (ko) * 2013-07-02 2015-01-12 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치용 기판, 상기 표시 장치용 기판의 제조 방법, 및 상기 표시 장치용 기판을 포함하는 표시 장치
US20210081013A1 (en) 2014-09-02 2021-03-18 Delta Electronics, Inc. Power supply apparatus
US9691694B2 (en) * 2015-02-18 2017-06-27 Qualcomm Incorporated Substrate comprising stacks of interconnects, interconnect on solder resist layer and interconnect on side portion of substrate
US10264664B1 (en) 2015-06-04 2019-04-16 Vlt, Inc. Method of electrically interconnecting circuit assemblies
JP6195085B2 (ja) * 2015-08-24 2017-09-13 株式会社村田製作所 積層電子部品
CN105305041B (zh) * 2015-09-27 2019-11-12 华东交通大学 集成寄生单元与开槽dr结构的宽频带天线
DE112017003656B4 (de) * 2016-07-21 2025-01-30 Ngk Insulators, Ltd. Herstellungsverfahren für Sensorelement
CN109119400B (zh) * 2018-09-25 2024-04-09 中国电子科技集团公司第四十三研究所 高载流能力多层陶瓷基板及其制作方法
CN113624394B (zh) * 2020-05-08 2024-12-10 精量电子(深圳)有限公司 压力传感器
CN113690097B (zh) * 2020-05-18 2024-11-08 大日科技股份有限公司 感应开关
CN112038297B (zh) * 2020-08-14 2022-10-25 中国电子科技集团公司第十三研究所 氧化铝瓷件及其制作方法、陶瓷外壳的制作方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0582881B1 (de) * 1992-07-27 1997-12-29 Murata Manufacturing Co., Ltd. Elektronisches Vielschichtbauteil, Verfahren zur dessen Herstellung und Verfahren zur Messung seiner Charakteristiken
EP0599595B1 (de) * 1992-11-25 1998-04-22 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Elektronische keramische Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung

Family Cites Families (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5615059U (de) * 1979-07-11 1981-02-09
JPH02166792A (ja) * 1988-12-21 1990-06-27 Nippon Chemicon Corp 多層スルーホールおよびその形成方法
US5140745A (en) * 1990-07-23 1992-08-25 Mckenzie Jr Joseph A Method for forming traces on side edges of printed circuit boards and devices formed thereby
JP2600477B2 (ja) * 1990-10-31 1997-04-16 株式会社村田製作所 積層セラミック電子部品
JP2873645B2 (ja) * 1992-05-25 1999-03-24 国際電気 株式会社 セラミック多層配線基板の製造方法
US5635669A (en) * 1992-07-27 1997-06-03 Murata Manufacturing Co., Ltd. Multilayer electronic component
JP3070364B2 (ja) * 1992-11-25 2000-07-31 松下電器産業株式会社 セラミック電子部品の製造方法
EP0647090B1 (de) * 1993-09-03 1999-06-23 Kabushiki Kaisha Toshiba Leiterplatte und Verfahren zur Herstellung solcher Leiterplatten
US5383095A (en) * 1993-10-29 1995-01-17 The Whitaker Corporation Circuit board and edge-mountable connector therefor, and method of preparing a circuit board edge
JP3223708B2 (ja) 1994-07-21 2001-10-29 株式会社村田製作所 積層電子部品およびその製造方法
US5855995A (en) * 1997-02-21 1999-01-05 Medtronic, Inc. Ceramic substrate for implantable medical devices
JPH10275979A (ja) * 1997-03-28 1998-10-13 Kyocera Corp セラミック基板および分割回路基板
JPH10313157A (ja) * 1997-05-12 1998-11-24 Alps Electric Co Ltd プリント基板
US6249049B1 (en) * 1998-06-12 2001-06-19 Nec Corporation Ceramic package type electronic part which is high in connection strength to electrode
US6256880B1 (en) * 1998-09-17 2001-07-10 Intermedics, Inc. Method for preparing side attach pad traces through buried conductive material
JP3402226B2 (ja) * 1998-11-19 2003-05-06 株式会社村田製作所 チップサーミスタの製造方法
KR100320943B1 (ko) * 1999-06-15 2002-02-06 이형도 칩형 분배기
KR100315751B1 (ko) * 1999-12-31 2001-12-12 송재인 저온 소성 세라믹 다층기판
JP3531573B2 (ja) * 2000-03-17 2004-05-31 株式会社村田製作所 積層型セラミック電子部品およびその製造方法ならびに電子装置
JP4138211B2 (ja) * 2000-07-06 2008-08-27 株式会社村田製作所 電子部品およびその製造方法、集合電子部品、電子部品の実装構造、ならびに電子装置
JP2002141248A (ja) * 2000-11-02 2002-05-17 Murata Mfg Co Ltd セラミック電子部品およびその製造方法
US6462950B1 (en) * 2000-11-29 2002-10-08 Nokia Mobile Phones Ltd. Stacked power amplifier module
US6528875B1 (en) * 2001-04-20 2003-03-04 Amkor Technology, Inc. Vacuum sealed package for semiconductor chip
US6759940B2 (en) * 2002-01-10 2004-07-06 Lamina Ceramics, Inc. Temperature compensating device with integral sheet thermistors

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0582881B1 (de) * 1992-07-27 1997-12-29 Murata Manufacturing Co., Ltd. Elektronisches Vielschichtbauteil, Verfahren zur dessen Herstellung und Verfahren zur Messung seiner Charakteristiken
DE69315907T2 (de) * 1992-07-27 1998-04-16 Murata Manufacturing Co Elektronisches Vielschichtbauteil, Verfahren zur dessen Herstellung und Verfahren zur Messung seiner Charakteristiken
EP0599595B1 (de) * 1992-11-25 1998-04-22 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Elektronische keramische Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung
DE69318110T2 (de) * 1992-11-25 1998-08-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd Elektronische keramische Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JP 09186458 A (abstract). DOKIDX (online)(recher- chiert am 6.9.2004). In: Depatis *
JP 10275979 A (abstract). DOKIDX (online)(recher- chiert am 6.9.2004). In: Depatis *

Also Published As

Publication number Publication date
FI20030580A0 (fi) 2003-04-16
CN1503354A (zh) 2004-06-09
JP2004172561A (ja) 2004-06-17
US20050098874A1 (en) 2005-05-12
US20040094834A1 (en) 2004-05-20
US6965161B2 (en) 2005-11-15
FR2847385A1 (fr) 2004-05-21
GB0308563D0 (en) 2003-05-21
GB2395604B (en) 2005-11-16
GB2395604A (en) 2004-05-26
SE0301134D0 (sv) 2003-04-16
CN1324698C (zh) 2007-07-04
KR20040043736A (ko) 2004-05-27
DE10317675A1 (de) 2004-06-17
KR100489820B1 (ko) 2005-05-16
SE0301134L (sv) 2004-05-20
SE524255C2 (sv) 2004-07-20
FI20030580A7 (fi) 2004-05-20
FR2847385B1 (fr) 2006-01-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE10317675B4 (de) Keramisches Multilayersubstrat und Verfahren zu seiner Herstellung
DE60011515T2 (de) Herstellung von Keramiksubstraten und ungesintertes Keramiksubstrat
DE69934674T2 (de) Methode zur herstellung von multifunktionellen mikrowellen-modulen aus fluoropolymer kompositsubstraten
DE10197124B4 (de) Mehrstufiger elektrischer Kondensator und dafür geeignetes Herstellungsverfahren
DE69835659T2 (de) Mehrschichtiges keramisches Substrat mit einem passiven Bauelement, sowie Herstellungsverfahren
DE60002879T2 (de) Schaltungsanordnung mit integrierten passiven bauteilen und verfahren zu deren herstellung
DE60300619T2 (de) Verfahren zum einbetten einer komponente in eine basis und zur bildung eines kontakts
DE10361087B4 (de) Gedruckte Schaltplatte mit eingebetteten Kondensatoren und Verfahren zur Herstellung derselben
DE68913806T2 (de) Elektronische Packungsanordnung mit biegsamem Träger und Verfahren zu ihrer Herstellung.
DE69634597T2 (de) Mehrschichtige leiterplatte, vorgefertigtes material für diese leiterplatte, verfahren zur herstellung einer mehrschichtigen leiterplatte, packung elektronischer bauelemente und verfahren zur herstellung vertikaler, elektrisch leitender verbindungen
DE60215518T2 (de) Verdrahtungsmodul mit reduzierter versorgungsverteilungsimpedanz
DE68926055T2 (de) Herstellungsverfahren einer mehrschichtigen Leiterplatte
DE69938582T2 (de) Halbleiterbauelement, seine herstellung, leiterplatte und elektronischer apparat
DE69708879T2 (de) Z-achsenzwischenverbindungsverfahren und schaltung
DE69218319T2 (de) Mehrschichtige Leiterplatte aus Polyimid und Verfahren zur Herstellung
DE69028765T2 (de) Direktionelle Streifenleitungsstruktur und Herstellung einer derartigen Struktur
DE60032067T2 (de) Mehrschichtige Leiterplatte und Verfahren zu deren Herstellung
DE69034095T2 (de) Verfahren zur Herstellung einer mehrschichtigen hybriden Schaltung
EP0035093A2 (de) Anordnung zum Packen mehrerer schnellschaltender Halbleiterchips
DE19756818A1 (de) Mehrlagen-Leiterplatte
DE10111438A1 (de) Monolithische keramische Elektronikkomponente, Verfahren zum Herstellen derselben und elektronische Vorrichtung
DE602004004983T2 (de) Kondensator und Verfahren zu seiner Herstellung
DE69935051T2 (de) BGA Widerstandsnetzwerk mit geringem Übersprechen
DE3020196A1 (de) Mehrebenen-leiterplatte und verfahren zu deren herstellung
DE4020498C2 (de) Verfahren zum Herstellen von Multiwire-Leiterplatten mit isolierten Metalleitern und/oder optischen Leitern

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8364 No opposition during term of opposition
8328 Change in the person/name/address of the agent

Representative=s name: LINDNER BLAUMEIER PATENT- UND RECHTSANWAELTE, 9040

8339 Ceased/non-payment of the annual fee