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DE10295972T5 - Nicht in einer Form hergestellte Packung für eine Halbleiteranordnung - Google Patents

Nicht in einer Form hergestellte Packung für eine Halbleiteranordnung Download PDF

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Abstract

Halbleiteranordnung mit:
einem Substrat;
einem mit dem Substrat verbundenen Plättchen; und
mehreren mit dem Substrat benachbart zum Plättchen verbundenen Lötkugeln, wobei die Lötkugeln im wesentlichen koplanar zu einer Fläche der Plättchen angeordnet sind, wenn die Halbleiteranordnung mit einer gedruckten Schaltkreisplatine verbunden ist.

Description

  • HINTERGRUND DER ERFINDUNG 1. Gebiet der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung betrifft eine Packung für eine Halbleiteranordnung und insbesondere eine Packung für eine Halbleiteranordnung, die einen geformten Körper nicht erfordert.
  • 2. Beschreibung des Standes der Technik
  • Halbleiteranordnungen, insbesondere MOSFET-Anordnungen, erfordern im Allgemeinen einen sehr niedrigen Packungswiderstand (RDSon) mit guten thermischen Eigenschaften. Es ist ebenfalls im Allgemeinen wünschenswert, einfache, schnelle und effiziente Verfahren zum Aufbau von Packungen aus Halbleiteranordnungen vorzusehen. Somit sind zahlreiche Packungskonzepte und -verfahren im Stand der Technik entwickelt worden.
  • Ein Beispiel eines solchen Packungskonzeptes besteht aus einer Kugelgitteranordnung (BGA) (ball grid array). Ein solches Konzept umfasst eine Anordnung aus Source-, Gate- und Drain-Lötkugeln, die direkt mit der gedruckten Schaltkreisplatine (PCB) verbunden sind. Dies erfordert ein mit Perlen versehenes Plättchen (bumped die), und ein Leitungsrahmen (leadframe) wird verwendet, um den Drain-Kontakt zu erleichtern. Ein anderes Packungskonzept wird gemeinhin als „Flip Chip in Leaded Molded Package (FLMP)" bezeichnet, welche eine geformte, an ihrer Oberfläche mit Leitungen versehene Befestigungspackung (molded leaded surface mount package) aufweist, wo ein mit Perlen versehenes Plättchen mit Gate- und Source-Anschlüssen des Rahmens verbunden ist. Der Drain-Anschluss, der sich auf der Rückseite des Plättchens befindet, wird von der Formkomponente oder dem Körper freigelegt und mit der gedruckten Schaltkreisplatine über einen Lötlotrückfluss während eines Standard-Platinenbestückungsprozesses verbunden. Andere Packungsherstellungskonzepte verwenden eine Kupferriemen- (copper straps) und/oder Drahtverbindungs- (wire bonding)Technologie.
  • Diese herkömmlichen Konzepte bestehen aus verschiedenen Komponenten und können zu komplizierten Herstellungsverfahren (zum Aufbau von Packungen) führen.
  • ABRISS DER ERFINDUNG
  • Die vorliegende Erfindung stellt eine Halbleiteranordnung zur Verfügung, die ein Substrat und ein mit dem Substrat verbundenes Plättchen (die) aufweist. Mehrere Lötkugeln sind ebenfalls mit dem Substrat benachbart zum Plättchen verbunden. Die Lötkugeln sind im Wesentlichen koplanar mit einer Oberfläche des Plättchens angeordnet, wenn die Halbleiteranordnung mit einer gedruckten Schaltkreisplatine verbunden wird. Wenn die Halbleiteranordnung mit einer gedruckten Schaltkreisplatine verbunden wird, dient somit die Oberfläche des nicht mit dem Substrat verbundenen Plättchens als direkte Drain-Verbindung, während das Substrat und die Lötkugeln als Source- und Gate-Verbindungen für den Fall dienen, dass die Halbleiteranordnung ein MOSFET ist.
  • Gemäß einem Aspekt der vorliegenden Erfindung weist das Substrat eine Basisschicht, eine Metallschicht und eine Isolierschicht zwischen der Basisschicht und der Metallschicht auf.
  • Gemäß einem anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung weist die Basisschicht ein metallisiertes Muster auf und weist die Metallschicht ein anderes metallisiertes Muster auf oder dient zur Wärmeverteilung. Gemäß einem weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung besteht das Substrat aus metallisiertem Keramikmaterial.
  • Gemäß einem weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung weist das Substrat zwei Schichten aus metallisiertem Keramikmaterial auf, das die Anbringung von zwei Plättchen (Silizium) an gegenüberliegenden Flächen erleichtern kann.
  • Die vorliegende Erfindung stellt ebenfalls ein Verfahren zur Herstellung einer Packung einer Halbleiteranordnung zur Verfügung, welches die Schritte aufweist, ein Substrat und ein Plättchen vorzusehen. Das Lötlot oder irgendein geeignetes elektrisch leitendes Verbindungsmaterial im Falle von MOSFET-Anordnungen wird auf dem Substrat und/oder dem Plättchen angeordnet, und das Plättchen wird auf das Substrat aufgebracht. Die Lötkugeln werden anschließend auf dem Substrat benachbart zum Plättchen angeordnet.
  • Andere Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden beim Lesen und Verstehen der detaillierten Beschreibung der bevorzugten Ausführungsbeispiele deutlich, die nachfolgend beschrieben werden, und zwar unter Bezugnahme auf die Zeichnungen, in denen gleiche Bezugszeichen gleiche Elemente repräsentieren.
  • KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • 1 ist eine Draufsicht auf eine Halbleiteranordnung gemäß der vorliegenden Erfindung;
  • 2 ist eine entlang der Linie A–A geschnittene Seitenansicht der in 1 gezeigten Halbleiteranordnung;
  • 3 ist eine Draufsicht auf eine andere Halbleiteranordnung gemäß der vorliegenden Erfindung;
  • 4 ist eine entlang der Linie B–B geschnittene Seitenansicht der in 3 gezeigten Halbleiteranordnung; und
  • 5 ist eine geschnittene Seitenansicht einer alternativen Ausführung gemäß der vorliegenden Erfindung.
  • DETAILLIERTE BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSBEISPIELE
  • 1 zeigt eine MOSFET-Halbleiteranordnung 10, die ein Plättchen 11, ein Substrat 12 und Lötkugeln 13 aufweist. Das Substrat weist einen Gate-Bereich 14 auf.
  • Wie 2 zu entnehmen ist, weist das Substrat vorzugsweise eine Basisschicht 20 und eine obere Metallschicht 21 auf. Die Basisschicht und die obere Metallschicht sind getrennt durch eine Isolierschicht 22, vorzugsweise isolierendes Epoxy, das die beiden Schichten miteinander verbindet. Das Basismaterial weist vorzugsweise ein metallisiertes Muster auf, während die obere Metallschicht vorzugsweise ein anderes metallisiertes Muster aufweist. Die Metallschicht kann ebenfalls zur Wärmeverteilung dienen.
  • Das Plättchen ist vorzugsweise über eine Hochtemperaturlötpaste mit dem Substrat verbunden, kann aber auch über ein anderes im Stand der Technik bekanntes geeignetes leitendes Verbindungsmaterial verbunden sein. Die Lötkugeln sind benachbart zum Plättchen an gegenüberliegenden Seiten des Plättchens angeordnet, wobei mindestens eine Lötkugel im Gate-Bereich des Substrats angeordnet ist.
  • Bei Benutzung wird somit die Halbleiteranordnung auf einer gedruckten Schaltkreisplatine angeordnet und die Oberfläche des Plättchens direkt mit der gedruckten Schaltkreisplatine über eine Lötpaste oder ein geeignetes elektrisch leitendes Verbindungsmaterial verbunden und dient somit als Drain-Verbindung. Die Oberfläche des mit dem Substrat verbundenen Plättchens weist den Gate-Bereich und den Source-Bereich des Plättchens auf. Somit dient die Lötkugel im Gate-Bereich des Substrates dazu, den Gate-Bereich des Plättchens mit der gedruckten Schaltkreisplatine zu verbinden, während die übrigen Lötkugeln den Source-Bereich des Plättchens über das Substrat mit der gedruckten Schaltkreisplatine verbinden. Dementsprechend wird der Gate-Bereich des Substrats vom übrigen Abschnitt des Substrats elektrisch isoliert.
  • Ein Verfahren zur Herstellung oder zum Aufbau einer Packung einer solchen Halbleiteranordnung umfasst die Schritte, die Lötpaste auf dem Substrat oder dem Plättchen aufzutragen und das Plättchen am Substrat mit einem Flip-Chip-Verfahren zu befestigen. Lötkugeln werden anschließend auf dem Substrat benachbart zum Plättchen angeordnet. Vorzugsweise wird diese Kombination dann getestet. Die Halbleiteranordnung wird anschließend getrimmt bzw. vollendet und nochmals getestet.
  • Die Lötkugeln werden auf einer solchen Höhe angeordnet, dass bei Verbindung der Halbleiteranordnung mit einer gedruckten Schaltkreisplatine die Lötkugeln im Wesentlichen koplanar zur Drain-Oberfläche des Plättchens liegen, wodurch die Halbleiteranordnung in gleicher Höhe wie die gedruckte Schaltkreisplatine liegt.
  • In einer alternativen Ausführung werden die Lötkugeln nicht auf der Halbleiteranordnung, sondern auf der gedruckten Schaltkreisplatine angeordnet und wird anschließend die Halbleiteranordnung mit dieser verbunden.
  • In 3 ist eine alternative Ausführung der Halbleiteranordnung gemäß der vorliegenden Erfindung dargestellt. Bei dieser Ausführung weist das Substrat metallisiertes Keramikmaterial auf. Beispiele von Materialen für das Substrat umfassen ein isoliertes Metallsubstrat.
  • Bei einer solchen Ausführung dient die freigelegte Oberfläche des Plättchens als Drain-Verbindung mit der gedruckten Schaltkreisplatine, während die Lötkugeln als Gate- und Source-Verbindungen mit der gedruckten Schaltkreisplatine dienen.
  • Die in den 3 und 4 dargestellte Anordnung wird ähnlich wie in der zuvor unter Bezugnahme auf die in den 1 und 2 dargestellte Halbleiteranordnung beschriebenen Weise hergestellt.
  • Demnach stellt die vorliegende Erfindung eine Halbleiteranordnung zur Verfügung, die eine verbesserte Wärmeverteilung der Anordnung vorsieht, da die Rückseite des Plättchens direkt an die gedruckte Schaltkreisplatine angelötet ist und die Source und das Gate des MOSFET an ein Substrat angelötet sind, und zwar vorzugsweise mit Hilfe einer Hochtemperaturlötpaste. Somit braucht das Plättchen nicht aus einem mit Perlen versehenem Plättchen (bumped die) zu bestehen, sondern benötigt eine lötbare obere Metallfläche beispielsweise aus autokatalytischem Nickel (oder elektrolytischem Nickel) mit einer goldenen Außenschicht. Außerdem wird der Herstellungsprozess beträchtlich vereinfacht, da er keine formfaktorbestimmten Verfahren wie Drahtbonding, Gießformen, Gratentfernen, Trimmen und Formen sowie Plattieren umfasst. Außerdem ist die Abdruck- bzw. Auflagefläche nun für die Halbleiteranordnung veränderbar, da die Lötkugeln während des Designprozesses veränderbar sind.
  • Wie 5 entnommen werden kann, ermöglicht die vorliegende Erfindung ebenfalls eine einfache Kombination von zwei oder mehreren Plättchen 11a, b in einem hochverdichteten Packungsschema (ein oder mehrere Plättchen an jeder Seite des Substrats 12). Dabei kann ein einfaches Verfahren zur hochverdichteten Integration ohne Verwendung von herkömmlichen Verfahren zur Herstellung einer an der Oberfläche befestigten Packung erzielt werden, und dies ist ein formfaktorunabhängig von Schritten wie Gießformen, Gratentfernen, Trimmen und Formen. Das Substrat weist zwei Schichten aus metallisiertem Keramikmaterial auf, die über eine Isolierschicht getrennt oder auf sonstige Weise elektrisch voneinander isoliert sind. Somit bestimmt die Anordnung der Lötkugeln die Source- und Gate-Verbindungen jedes Plättchens. Falls es gewünscht ist, den Drain-Bereich des Plättchens 11b mit der gedruckten Schaltkreisplatine zu verbinden, können bekannte Techniken wie beispielsweise Drahtbonding verwendet werden.
  • Obwohl die Erfindung unter Bezugnahme auf spezifische Ausführungsbeispiele beschrieben worden ist, sei angemerkt, dass es beabsichtigt ist, sämtliche Modifikationen und Äquivalente innerhalb des Schutzumfanges der beiliegenden Ansprüche abzudecken.

Claims (10)

  1. Halbleiteranordnung mit: einem Substrat; einem mit dem Substrat verbundenen Plättchen; und mehreren mit dem Substrat benachbart zum Plättchen verbundenen Lötkugeln, wobei die Lötkugeln im wesentlichen koplanar zu einer Fläche der Plättchen angeordnet sind, wenn die Halbleiteranordnung mit einer gedruckten Schaltkreisplatine verbunden ist.
  2. Halbleiteranordnung nach Anspruch 1, bei welcher das Substrat eine Basisschicht, eine Metallschicht und eine Isolierschicht zwischen der Basisschicht und der Metallschicht aufweist.
  3. Halbleiteranordnung nach Anspruch 2, bei welcher die Basisschicht ein metallisiertes Muster und die Metallschicht ein zweites metallisiertes Muster aufweist.
  4. Halbleiteranordnung nach Anspruch 1, bei welcher die Basisschicht metallisiertes Keramikmaterial aufweist.
  5. Halbleiteranordnung nach Anspruch 4, bei welcher das metallisierte Keramikmaterial mindestens eine Metallisierungsschicht aufweist.
  6. Verfahren zur Herstellung einer Packung einer Halbleiteranordnung, mit den Schritten: ein Substrat zur Verfügung zu stellen; ein Plättchen zur Verfügung zu stellen; Lötlot auf dem Substrat und/oder dem Plättchen anzuordnen; das Plättchen auf das Substrat aufzubringen; und die Lötkugeln auf dem Substrat benachbart zum Plättchen anzuordnen.
  7. Verfahren nach Anspruch 6, mit den weiteren Schritten: die Kombination aus Plättchen, Substrat und Lötkugeln zu testen; das Substrat zu trimmen bzw. fertigzustellen; und die Kombination aus Plättchen, Substrat und Lötkugeln erneut zu testen.
  8. Verfahren nach Anspruch 6, ferner mit den Schritten, ein zweites Plättchen zur Verfügung zu stellen, Lötlot auf dem Substrat oder dem zweiten Plättchen anzuordnen und das zweite Plättchen mit dem Substrat zu verbinden.
  9. Halbleiteranordnung nach Anspruch 1, mit einem zweiten Plättchen, das an einer Fläche gegenüber einer Fläche, mit der das erste Plättchen verbunden ist, mit dem Substrat verbunden ist.
  10. Verfahren zur Herstellung einer Packung einer Halbleiteranordnung, mit den Schritten: ein Substrat zur Verfügung zu stellen; ein Plättchen zur Verfügung zu stellen; gleichzeitig das Plättchen mittels Lötlot mit dem Substrat zu verbinden und Lötkugeln auf dem Substrat benachbart zum Plättchen anzuordnen; und das Lötlot und die Lötkugeln zurückfließen zu lassen.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8018056B2 (en) 2005-12-21 2011-09-13 International Rectifier Corporation Package for high power density devices

Families Citing this family (83)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6720642B1 (en) * 1999-12-16 2004-04-13 Fairchild Semiconductor Corporation Flip chip in leaded molded package and method of manufacture thereof
US6870254B1 (en) * 2000-04-13 2005-03-22 Fairchild Semiconductor Corporation Flip clip attach and copper clip attach on MOSFET device
US6989588B2 (en) * 2000-04-13 2006-01-24 Fairchild Semiconductor Corporation Semiconductor device including molded wireless exposed drain packaging
US6661082B1 (en) * 2000-07-19 2003-12-09 Fairchild Semiconductor Corporation Flip chip substrate design
US6798044B2 (en) * 2000-12-04 2004-09-28 Fairchild Semiconductor Corporation Flip chip in leaded molded package with two dies
US6753605B2 (en) * 2000-12-04 2004-06-22 Fairchild Semiconductor Corporation Passivation scheme for bumped wafers
US6469384B2 (en) * 2001-02-01 2002-10-22 Fairchild Semiconductor Corporation Unmolded package for a semiconductor device
US6891256B2 (en) * 2001-10-22 2005-05-10 Fairchild Semiconductor Corporation Thin, thermally enhanced flip chip in a leaded molded package
JP2005520339A (ja) 2002-03-12 2005-07-07 フェアチャイルド セミコンダクター コーポレーション ウエハレベルのコーティングされた銅スタッドバンプ
TWI287282B (en) * 2002-03-14 2007-09-21 Fairchild Kr Semiconductor Ltd Semiconductor package having oxidation-free copper wire
US7122884B2 (en) * 2002-04-16 2006-10-17 Fairchild Semiconductor Corporation Robust leaded molded packages and methods for forming the same
US6836023B2 (en) * 2002-04-17 2004-12-28 Fairchild Semiconductor Corporation Structure of integrated trace of chip package
TW560023B (en) * 2002-06-20 2003-11-01 Advanced Semiconductor Eng Semiconductor device and method for manufacturing a semiconductor package
US7061077B2 (en) * 2002-08-30 2006-06-13 Fairchild Semiconductor Corporation Substrate based unmolded package including lead frame structure and semiconductor die
US6777800B2 (en) 2002-09-30 2004-08-17 Fairchild Semiconductor Corporation Semiconductor die package including drain clip
US6806580B2 (en) * 2002-12-26 2004-10-19 Fairchild Semiconductor Corporation Multichip module including substrate with an array of interconnect structures
US7217594B2 (en) 2003-02-11 2007-05-15 Fairchild Semiconductor Corporation Alternative flip chip in leaded molded package design and method for manufacture
US6873043B2 (en) * 2003-03-10 2005-03-29 Delphi Technologies, Inc. Electronic assembly having electrically-isolated heat-conductive structure
US7271497B2 (en) * 2003-03-10 2007-09-18 Fairchild Semiconductor Corporation Dual metal stud bumping for flip chip applications
US6867481B2 (en) * 2003-04-11 2005-03-15 Fairchild Semiconductor Corporation Lead frame structure with aperture or groove for flip chip in a leaded molded package
US7154186B2 (en) * 2004-03-18 2006-12-26 Fairchild Semiconductor Corporation Multi-flip chip on lead frame on over molded IC package and method of assembly
US7196313B2 (en) * 2004-04-02 2007-03-27 Fairchild Semiconductor Corporation Surface mount multi-channel optocoupler
US7501702B2 (en) * 2004-06-24 2009-03-10 Fairchild Semiconductor Corporation Integrated transistor module and method of fabricating same
US7256479B2 (en) * 2005-01-13 2007-08-14 Fairchild Semiconductor Corporation Method to manufacture a universal footprint for a package with exposed chip
KR101297645B1 (ko) 2005-06-30 2013-08-20 페어차일드 세미컨덕터 코포레이션 반도체 다이 패키지 및 그의 제조 방법
US7504733B2 (en) 2005-08-17 2009-03-17 Ciclon Semiconductor Device Corp. Semiconductor die package
US7560808B2 (en) * 2005-10-19 2009-07-14 Texas Instruments Incorporated Chip scale power LDMOS device
US7285849B2 (en) * 2005-11-18 2007-10-23 Fairchild Semiconductor Corporation Semiconductor die package using leadframe and clip and method of manufacturing
US20090057852A1 (en) * 2007-08-27 2009-03-05 Madrid Ruben P Thermally enhanced thin semiconductor package
US7371616B2 (en) * 2006-01-05 2008-05-13 Fairchild Semiconductor Corporation Clipless and wireless semiconductor die package and method for making the same
US7345499B2 (en) * 2006-01-13 2008-03-18 Dell Products L.P. Method of Kelvin current sense in a semiconductor package
US20070164428A1 (en) * 2006-01-18 2007-07-19 Alan Elbanhawy High power module with open frame package
US7868432B2 (en) * 2006-02-13 2011-01-11 Fairchild Semiconductor Corporation Multi-chip module for battery power control
US7446375B2 (en) * 2006-03-14 2008-11-04 Ciclon Semiconductor Device Corp. Quasi-vertical LDMOS device having closed cell layout
US7768075B2 (en) * 2006-04-06 2010-08-03 Fairchild Semiconductor Corporation Semiconductor die packages using thin dies and metal substrates
US7618896B2 (en) * 2006-04-24 2009-11-17 Fairchild Semiconductor Corporation Semiconductor die package including multiple dies and a common node structure
US7656024B2 (en) 2006-06-30 2010-02-02 Fairchild Semiconductor Corporation Chip module for complete power train
US20080036078A1 (en) * 2006-08-14 2008-02-14 Ciclon Semiconductor Device Corp. Wirebond-less semiconductor package
US7564124B2 (en) * 2006-08-29 2009-07-21 Fairchild Semiconductor Corporation Semiconductor die package including stacked dice and heat sink structures
US7768105B2 (en) * 2007-01-24 2010-08-03 Fairchild Semiconductor Corporation Pre-molded clip structure
US8106501B2 (en) * 2008-12-12 2012-01-31 Fairchild Semiconductor Corporation Semiconductor die package including low stress configuration
US7821116B2 (en) * 2007-02-05 2010-10-26 Fairchild Semiconductor Corporation Semiconductor die package including leadframe with die attach pad with folded edge
KR101391925B1 (ko) * 2007-02-28 2014-05-07 페어차일드코리아반도체 주식회사 반도체 패키지 및 이를 제조하기 위한 반도체 패키지 금형
KR101489325B1 (ko) 2007-03-12 2015-02-06 페어차일드코리아반도체 주식회사 플립-칩 방식의 적층형 파워 모듈 및 그 파워 모듈의제조방법
US7659531B2 (en) * 2007-04-13 2010-02-09 Fairchild Semiconductor Corporation Optical coupler package
US7683463B2 (en) * 2007-04-19 2010-03-23 Fairchild Semiconductor Corporation Etched leadframe structure including recesses
US7902657B2 (en) * 2007-08-28 2011-03-08 Fairchild Semiconductor Corporation Self locking and aligning clip structure for semiconductor die package
US7737548B2 (en) 2007-08-29 2010-06-15 Fairchild Semiconductor Corporation Semiconductor die package including heat sinks
US20090057855A1 (en) * 2007-08-30 2009-03-05 Maria Clemens Quinones Semiconductor die package including stand off structures
US20090140266A1 (en) * 2007-11-30 2009-06-04 Yong Liu Package including oriented devices
US7589338B2 (en) * 2007-11-30 2009-09-15 Fairchild Semiconductor Corporation Semiconductor die packages suitable for optoelectronic applications having clip attach structures for angled mounting of dice
KR20090062612A (ko) * 2007-12-13 2009-06-17 페어차일드코리아반도체 주식회사 멀티 칩 패키지
US7781872B2 (en) * 2007-12-19 2010-08-24 Fairchild Semiconductor Corporation Package with multiple dies
US8426960B2 (en) * 2007-12-21 2013-04-23 Alpha & Omega Semiconductor, Inc. Wafer level chip scale packaging
US7791084B2 (en) 2008-01-09 2010-09-07 Fairchild Semiconductor Corporation Package with overlapping devices
US8106406B2 (en) * 2008-01-09 2012-01-31 Fairchild Semiconductor Corporation Die package including substrate with molded device
US7626249B2 (en) * 2008-01-10 2009-12-01 Fairchild Semiconductor Corporation Flex clip connector for semiconductor device
US7955893B2 (en) * 2008-01-31 2011-06-07 Alpha & Omega Semiconductor, Ltd Wafer level chip scale package and process of manufacture
US20090194857A1 (en) * 2008-02-01 2009-08-06 Yong Liu Thin Compact Semiconductor Die Packages Suitable for Smart-Power Modules, Methods of Making the Same, and Systems Using the Same
US20090194856A1 (en) * 2008-02-06 2009-08-06 Gomez Jocel P Molded package assembly
KR101524545B1 (ko) * 2008-02-28 2015-06-01 페어차일드코리아반도체 주식회사 전력 소자 패키지 및 그 제조 방법
US7768108B2 (en) 2008-03-12 2010-08-03 Fairchild Semiconductor Corporation Semiconductor die package including embedded flip chip
US8018054B2 (en) * 2008-03-12 2011-09-13 Fairchild Semiconductor Corporation Semiconductor die package including multiple semiconductor dice
KR101519062B1 (ko) * 2008-03-31 2015-05-11 페어차일드코리아반도체 주식회사 반도체 소자 패키지
US20090256245A1 (en) * 2008-04-14 2009-10-15 Yong Liu Stacked Micro-Module Packages, Systems Using the Same, and Methods of Making the Same
US20090278241A1 (en) * 2008-05-08 2009-11-12 Yong Liu Semiconductor die package including die stacked on premolded substrate including die
US20090315163A1 (en) * 2008-06-20 2009-12-24 Terry Johnson Semiconductor Die Packages with Stacked Flexible Modules Having Passive Components, Systems Using the Same, and Methods of Making the Same
US7745244B2 (en) 2008-06-23 2010-06-29 Fairchild Semiconductor Corporation Pin substrate and package
US8373257B2 (en) * 2008-09-25 2013-02-12 Alpha & Omega Semiconductor Incorporated Top exposed clip with window array
US8193618B2 (en) 2008-12-12 2012-06-05 Fairchild Semiconductor Corporation Semiconductor die package with clip interconnection
US7851856B2 (en) * 2008-12-29 2010-12-14 Alpha & Omega Semiconductor, Ltd True CSP power MOSFET based on bottom-source LDMOS
US8049312B2 (en) * 2009-01-12 2011-11-01 Texas Instruments Incorporated Semiconductor device package and method of assembly thereof
US7973393B2 (en) 2009-02-04 2011-07-05 Fairchild Semiconductor Corporation Stacked micro optocouplers and methods of making the same
US8222718B2 (en) * 2009-02-05 2012-07-17 Fairchild Semiconductor Corporation Semiconductor die package and method for making the same
US20100289129A1 (en) * 2009-05-14 2010-11-18 Satya Chinnusamy Copper plate bonding for high performance semiconductor packaging
US8222078B2 (en) * 2009-07-22 2012-07-17 Alpha And Omega Semiconductor Incorporated Chip scale surface mounted semiconductor device package and process of manufacture
US8362606B2 (en) 2010-07-29 2013-01-29 Alpha & Omega Semiconductor, Inc. Wafer level chip scale package
US8421204B2 (en) 2011-05-18 2013-04-16 Fairchild Semiconductor Corporation Embedded semiconductor power modules and packages
US8803297B2 (en) * 2012-08-10 2014-08-12 Infineon Technologies Ag Semiconductor device including a stress relief layer and method of manufacturing
DE102014204722A1 (de) * 2014-03-14 2015-09-17 Robert Bosch Gmbh Elektronisches Modul sowie Verfahren und Vorrichtung zum Herstellen eines elektronischen Moduls
CN105118817B (zh) * 2015-09-10 2017-09-19 江阴长电先进封装有限公司 一种低成本的硅基模块的封装结构及其封装方法
US11862983B1 (en) 2019-03-28 2024-01-02 Roger W. Graham Earth energy systems and devices
US11393743B2 (en) 2019-12-18 2022-07-19 Infineon Technologies Ag Semiconductor assembly with conductive frame for I/O standoff and thermal dissipation

Family Cites Families (42)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5974653A (ja) * 1982-10-22 1984-04-27 Hitachi Ltd 半導体装置
US4517051A (en) * 1982-12-27 1985-05-14 Ibm Corporation Multi-layer flexible film module
JPS63104435A (ja) 1986-10-22 1988-05-09 Hitachi Ltd 半導体装置
US5159535A (en) * 1987-03-11 1992-10-27 International Business Machines Corporation Method and apparatus for mounting a flexible film semiconductor chip carrier on a circuitized substrate
US5477082A (en) * 1994-01-11 1995-12-19 Exponential Technology, Inc. Bi-planar multi-chip module
US5616958A (en) * 1995-01-25 1997-04-01 International Business Machines Corporation Electronic package
JP3348562B2 (ja) 1995-04-05 2002-11-20 ソニー株式会社 半導体パッケージの実装構造
US5789809A (en) * 1995-08-22 1998-08-04 National Semiconductor Corporation Thermally enhanced micro-ball grid array package
JP3549294B2 (ja) 1995-08-23 2004-08-04 新光電気工業株式会社 半導体装置及びその実装構造
US5637916A (en) * 1996-02-02 1997-06-10 National Semiconductor Corporation Carrier based IC packaging arrangement
JPH10284544A (ja) * 1997-04-10 1998-10-23 Hitachi Ltd 半導体装置およびその製造方法
US6023094A (en) * 1998-01-14 2000-02-08 National Semiconductor Corporation Semiconductor wafer having a bottom surface protective coating
US6049624A (en) * 1998-02-20 2000-04-11 Micron Technology, Inc. Non-lot based method for assembling integrated circuit devices
JPH11238828A (ja) 1998-02-20 1999-08-31 Toshiba Corp Bga型パッケージの半導体装置およびその製造方法、実装装置
US6137164A (en) * 1998-03-16 2000-10-24 Texas Instruments Incorporated Thin stacked integrated circuit device
EP0966038A3 (de) * 1998-06-15 2001-02-28 Ford Motor Company Bonden von Leistungshalbleiteranordnungen
US6226699B1 (en) * 1998-06-25 2001-05-01 Compaq Computer Corporation Method and apparatus for clock selection and switching
US6225699B1 (en) * 1998-06-26 2001-05-01 International Business Machines Corporation Chip-on-chip interconnections of varied characteristics
US6084308A (en) * 1998-06-30 2000-07-04 National Semiconductor Corporation Chip-on-chip integrated circuit package and method for making the same
US6133634A (en) * 1998-08-05 2000-10-17 Fairchild Semiconductor Corporation High performance flip chip package
US6051887A (en) * 1998-08-28 2000-04-18 Medtronic, Inc. Semiconductor stacked device for implantable medical apparatus
JP2000077563A (ja) 1998-08-31 2000-03-14 Sharp Corp 半導体装置およびその製造方法
JP2000077591A (ja) * 1998-09-02 2000-03-14 Sanken Electric Co Ltd 半導体装置及びその組立方法
JP2000114413A (ja) * 1998-09-29 2000-04-21 Sony Corp 半導体装置、その製造方法および部品の実装方法
ES2206195T3 (es) * 1999-03-03 2004-05-16 Eurovita A/S Productos farmaceuticos, suplementos alimentarios y composiciones cosmeticas que comprenden un acido graso y jengibre.
US6255143B1 (en) * 1999-08-04 2001-07-03 St. Assembly Test Services Pte Ltd. Flip chip thermally enhanced ball grid array
US6720642B1 (en) * 1999-12-16 2004-04-13 Fairchild Semiconductor Corporation Flip chip in leaded molded package and method of manufacture thereof
US6462421B1 (en) * 2000-04-10 2002-10-08 Advanced Semicondcutor Engineering, Inc. Multichip module
US6661082B1 (en) * 2000-07-19 2003-12-09 Fairchild Semiconductor Corporation Flip chip substrate design
US6798044B2 (en) * 2000-12-04 2004-09-28 Fairchild Semiconductor Corporation Flip chip in leaded molded package with two dies
US6753605B2 (en) * 2000-12-04 2004-06-22 Fairchild Semiconductor Corporation Passivation scheme for bumped wafers
US6469384B2 (en) * 2001-02-01 2002-10-22 Fairchild Semiconductor Corporation Unmolded package for a semiconductor device
US6683375B2 (en) * 2001-06-15 2004-01-27 Fairchild Semiconductor Corporation Semiconductor die including conductive columns
US6724083B2 (en) * 2001-07-16 2004-04-20 Ars Electronics Co., Ltd. Method of producing semiconductor packages by cutting via holes into half when separating substrate
US6633030B2 (en) * 2001-08-31 2003-10-14 Fiarchild Semiconductor Surface mountable optocoupler package
US6458695B1 (en) * 2001-10-18 2002-10-01 Chartered Semiconductor Manufacturing Ltd. Methods to form dual metal gates by incorporating metals and their conductive oxides
US6891256B2 (en) 2001-10-22 2005-05-10 Fairchild Semiconductor Corporation Thin, thermally enhanced flip chip in a leaded molded package
US6566749B1 (en) * 2002-01-15 2003-05-20 Fairchild Semiconductor Corporation Semiconductor die package with improved thermal and electrical performance
US6620635B2 (en) * 2002-02-20 2003-09-16 International Business Machines Corporation Damascene resistor and method for measuring the width of same
JP2005520339A (ja) 2002-03-12 2005-07-07 フェアチャイルド セミコンダクター コーポレーション ウエハレベルのコーティングされた銅スタッドバンプ
US6836023B2 (en) 2002-04-17 2004-12-28 Fairchild Semiconductor Corporation Structure of integrated trace of chip package
US7061077B2 (en) * 2002-08-30 2006-06-13 Fairchild Semiconductor Corporation Substrate based unmolded package including lead frame structure and semiconductor die

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8018056B2 (en) 2005-12-21 2011-09-13 International Rectifier Corporation Package for high power density devices
DE102006060768B4 (de) * 2005-12-21 2013-11-28 International Rectifier Corp. Gehäusebaugruppe, DBC-Plantine im Wafermaßstab und Vorrichtung mit einer Gehäusebaugruppe für Geräte mit hoher Leistungsdichte

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