DE10295972T5 - Nicht in einer Form hergestellte Packung für eine Halbleiteranordnung - Google Patents
Nicht in einer Form hergestellte Packung für eine Halbleiteranordnung Download PDFInfo
- Publication number
- DE10295972T5 DE10295972T5 DE10295972T DE10295972T DE10295972T5 DE 10295972 T5 DE10295972 T5 DE 10295972T5 DE 10295972 T DE10295972 T DE 10295972T DE 10295972 T DE10295972 T DE 10295972T DE 10295972 T5 DE10295972 T5 DE 10295972T5
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- substrate
- tile
- solder balls
- semiconductor device
- semiconductor arrangement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H10W70/695—
-
- H10W40/255—
-
- H10W70/611—
-
- H10W70/685—
-
- H10W90/00—
-
- H10W90/701—
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/45001—Core members of the connector
- H01L2224/45099—Material
- H01L2224/451—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/45138—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/45147—Copper (Cu) as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/341—Surface mounted components
- H05K3/3431—Leadless components
- H05K3/3436—Leadless components having an array of bottom contacts, e.g. pad grid array or ball grid array components
-
- H10W72/552—
-
- H10W72/5525—
-
- H10W74/00—
-
- H10W90/724—
-
- H10W90/754—
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
Halbleiteranordnung mit:
einem Substrat;
einem mit dem Substrat verbundenen Plättchen; und
mehreren mit dem Substrat benachbart zum Plättchen verbundenen Lötkugeln, wobei die Lötkugeln im wesentlichen koplanar zu einer Fläche der Plättchen angeordnet sind, wenn die Halbleiteranordnung mit einer gedruckten Schaltkreisplatine verbunden ist.
einem Substrat;
einem mit dem Substrat verbundenen Plättchen; und
mehreren mit dem Substrat benachbart zum Plättchen verbundenen Lötkugeln, wobei die Lötkugeln im wesentlichen koplanar zu einer Fläche der Plättchen angeordnet sind, wenn die Halbleiteranordnung mit einer gedruckten Schaltkreisplatine verbunden ist.
Description
- HINTERGRUND DER ERFINDUNG
1 . Gebiet der Erfindung - Die vorliegende Erfindung betrifft eine Packung für eine Halbleiteranordnung und insbesondere eine Packung für eine Halbleiteranordnung, die einen geformten Körper nicht erfordert.
- 2. Beschreibung des Standes der Technik
- Halbleiteranordnungen, insbesondere MOSFET-Anordnungen, erfordern im Allgemeinen einen sehr niedrigen Packungswiderstand (RDSon) mit guten thermischen Eigenschaften. Es ist ebenfalls im Allgemeinen wünschenswert, einfache, schnelle und effiziente Verfahren zum Aufbau von Packungen aus Halbleiteranordnungen vorzusehen. Somit sind zahlreiche Packungskonzepte und -verfahren im Stand der Technik entwickelt worden.
- Ein Beispiel eines solchen Packungskonzeptes besteht aus einer Kugelgitteranordnung (BGA) (ball grid array). Ein solches Konzept umfasst eine Anordnung aus Source-, Gate- und Drain-Lötkugeln, die direkt mit der gedruckten Schaltkreisplatine (PCB) verbunden sind. Dies erfordert ein mit Perlen versehenes Plättchen (bumped die), und ein Leitungsrahmen (leadframe) wird verwendet, um den Drain-Kontakt zu erleichtern. Ein anderes Packungskonzept wird gemeinhin als „Flip Chip in Leaded Molded Package (FLMP)" bezeichnet, welche eine geformte, an ihrer Oberfläche mit Leitungen versehene Befestigungspackung (molded leaded surface mount package) aufweist, wo ein mit Perlen versehenes Plättchen mit Gate- und Source-Anschlüssen des Rahmens verbunden ist. Der Drain-Anschluss, der sich auf der Rückseite des Plättchens befindet, wird von der Formkomponente oder dem Körper freigelegt und mit der gedruckten Schaltkreisplatine über einen Lötlotrückfluss während eines Standard-Platinenbestückungsprozesses verbunden. Andere Packungsherstellungskonzepte verwenden eine Kupferriemen- (copper straps) und/oder Drahtverbindungs- (wire bonding)Technologie.
- Diese herkömmlichen Konzepte bestehen aus verschiedenen Komponenten und können zu komplizierten Herstellungsverfahren (zum Aufbau von Packungen) führen.
- ABRISS DER ERFINDUNG
- Die vorliegende Erfindung stellt eine Halbleiteranordnung zur Verfügung, die ein Substrat und ein mit dem Substrat verbundenes Plättchen (die) aufweist. Mehrere Lötkugeln sind ebenfalls mit dem Substrat benachbart zum Plättchen verbunden. Die Lötkugeln sind im Wesentlichen koplanar mit einer Oberfläche des Plättchens angeordnet, wenn die Halbleiteranordnung mit einer gedruckten Schaltkreisplatine verbunden wird. Wenn die Halbleiteranordnung mit einer gedruckten Schaltkreisplatine verbunden wird, dient somit die Oberfläche des nicht mit dem Substrat verbundenen Plättchens als direkte Drain-Verbindung, während das Substrat und die Lötkugeln als Source- und Gate-Verbindungen für den Fall dienen, dass die Halbleiteranordnung ein MOSFET ist.
- Gemäß einem Aspekt der vorliegenden Erfindung weist das Substrat eine Basisschicht, eine Metallschicht und eine Isolierschicht zwischen der Basisschicht und der Metallschicht auf.
- Gemäß einem anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung weist die Basisschicht ein metallisiertes Muster auf und weist die Metallschicht ein anderes metallisiertes Muster auf oder dient zur Wärmeverteilung. Gemäß einem weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung besteht das Substrat aus metallisiertem Keramikmaterial.
- Gemäß einem weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung weist das Substrat zwei Schichten aus metallisiertem Keramikmaterial auf, das die Anbringung von zwei Plättchen (Silizium) an gegenüberliegenden Flächen erleichtern kann.
- Die vorliegende Erfindung stellt ebenfalls ein Verfahren zur Herstellung einer Packung einer Halbleiteranordnung zur Verfügung, welches die Schritte aufweist, ein Substrat und ein Plättchen vorzusehen. Das Lötlot oder irgendein geeignetes elektrisch leitendes Verbindungsmaterial im Falle von MOSFET-Anordnungen wird auf dem Substrat und/oder dem Plättchen angeordnet, und das Plättchen wird auf das Substrat aufgebracht. Die Lötkugeln werden anschließend auf dem Substrat benachbart zum Plättchen angeordnet.
- Andere Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden beim Lesen und Verstehen der detaillierten Beschreibung der bevorzugten Ausführungsbeispiele deutlich, die nachfolgend beschrieben werden, und zwar unter Bezugnahme auf die Zeichnungen, in denen gleiche Bezugszeichen gleiche Elemente repräsentieren.
- KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
-
1 ist eine Draufsicht auf eine Halbleiteranordnung gemäß der vorliegenden Erfindung; -
2 ist eine entlang der Linie A–A geschnittene Seitenansicht der in1 gezeigten Halbleiteranordnung; -
3 ist eine Draufsicht auf eine andere Halbleiteranordnung gemäß der vorliegenden Erfindung; -
4 ist eine entlang der Linie B–B geschnittene Seitenansicht der in3 gezeigten Halbleiteranordnung; und -
5 ist eine geschnittene Seitenansicht einer alternativen Ausführung gemäß der vorliegenden Erfindung. - DETAILLIERTE BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSBEISPIELE
-
1 zeigt eine MOSFET-Halbleiteranordnung10 , die ein Plättchen11 , ein Substrat12 und Lötkugeln13 aufweist. Das Substrat weist einen Gate-Bereich14 auf. - Wie
2 zu entnehmen ist, weist das Substrat vorzugsweise eine Basisschicht20 und eine obere Metallschicht21 auf. Die Basisschicht und die obere Metallschicht sind getrennt durch eine Isolierschicht22 , vorzugsweise isolierendes Epoxy, das die beiden Schichten miteinander verbindet. Das Basismaterial weist vorzugsweise ein metallisiertes Muster auf, während die obere Metallschicht vorzugsweise ein anderes metallisiertes Muster aufweist. Die Metallschicht kann ebenfalls zur Wärmeverteilung dienen. - Das Plättchen ist vorzugsweise über eine Hochtemperaturlötpaste mit dem Substrat verbunden, kann aber auch über ein anderes im Stand der Technik bekanntes geeignetes leitendes Verbindungsmaterial verbunden sein. Die Lötkugeln sind benachbart zum Plättchen an gegenüberliegenden Seiten des Plättchens angeordnet, wobei mindestens eine Lötkugel im Gate-Bereich des Substrats angeordnet ist.
- Bei Benutzung wird somit die Halbleiteranordnung auf einer gedruckten Schaltkreisplatine angeordnet und die Oberfläche des Plättchens direkt mit der gedruckten Schaltkreisplatine über eine Lötpaste oder ein geeignetes elektrisch leitendes Verbindungsmaterial verbunden und dient somit als Drain-Verbindung. Die Oberfläche des mit dem Substrat verbundenen Plättchens weist den Gate-Bereich und den Source-Bereich des Plättchens auf. Somit dient die Lötkugel im Gate-Bereich des Substrates dazu, den Gate-Bereich des Plättchens mit der gedruckten Schaltkreisplatine zu verbinden, während die übrigen Lötkugeln den Source-Bereich des Plättchens über das Substrat mit der gedruckten Schaltkreisplatine verbinden. Dementsprechend wird der Gate-Bereich des Substrats vom übrigen Abschnitt des Substrats elektrisch isoliert.
- Ein Verfahren zur Herstellung oder zum Aufbau einer Packung einer solchen Halbleiteranordnung umfasst die Schritte, die Lötpaste auf dem Substrat oder dem Plättchen aufzutragen und das Plättchen am Substrat mit einem Flip-Chip-Verfahren zu befestigen. Lötkugeln werden anschließend auf dem Substrat benachbart zum Plättchen angeordnet. Vorzugsweise wird diese Kombination dann getestet. Die Halbleiteranordnung wird anschließend getrimmt bzw. vollendet und nochmals getestet.
- Die Lötkugeln werden auf einer solchen Höhe angeordnet, dass bei Verbindung der Halbleiteranordnung mit einer gedruckten Schaltkreisplatine die Lötkugeln im Wesentlichen koplanar zur Drain-Oberfläche des Plättchens liegen, wodurch die Halbleiteranordnung in gleicher Höhe wie die gedruckte Schaltkreisplatine liegt.
- In einer alternativen Ausführung werden die Lötkugeln nicht auf der Halbleiteranordnung, sondern auf der gedruckten Schaltkreisplatine angeordnet und wird anschließend die Halbleiteranordnung mit dieser verbunden.
- In
3 ist eine alternative Ausführung der Halbleiteranordnung gemäß der vorliegenden Erfindung dargestellt. Bei dieser Ausführung weist das Substrat metallisiertes Keramikmaterial auf. Beispiele von Materialen für das Substrat umfassen ein isoliertes Metallsubstrat. - Bei einer solchen Ausführung dient die freigelegte Oberfläche des Plättchens als Drain-Verbindung mit der gedruckten Schaltkreisplatine, während die Lötkugeln als Gate- und Source-Verbindungen mit der gedruckten Schaltkreisplatine dienen.
- Die in den
3 und4 dargestellte Anordnung wird ähnlich wie in der zuvor unter Bezugnahme auf die in den1 und2 dargestellte Halbleiteranordnung beschriebenen Weise hergestellt. - Demnach stellt die vorliegende Erfindung eine Halbleiteranordnung zur Verfügung, die eine verbesserte Wärmeverteilung der Anordnung vorsieht, da die Rückseite des Plättchens direkt an die gedruckte Schaltkreisplatine angelötet ist und die Source und das Gate des MOSFET an ein Substrat angelötet sind, und zwar vorzugsweise mit Hilfe einer Hochtemperaturlötpaste. Somit braucht das Plättchen nicht aus einem mit Perlen versehenem Plättchen (bumped die) zu bestehen, sondern benötigt eine lötbare obere Metallfläche beispielsweise aus autokatalytischem Nickel (oder elektrolytischem Nickel) mit einer goldenen Außenschicht. Außerdem wird der Herstellungsprozess beträchtlich vereinfacht, da er keine formfaktorbestimmten Verfahren wie Drahtbonding, Gießformen, Gratentfernen, Trimmen und Formen sowie Plattieren umfasst. Außerdem ist die Abdruck- bzw. Auflagefläche nun für die Halbleiteranordnung veränderbar, da die Lötkugeln während des Designprozesses veränderbar sind.
- Wie
5 entnommen werden kann, ermöglicht die vorliegende Erfindung ebenfalls eine einfache Kombination von zwei oder mehreren Plättchen11a , b in einem hochverdichteten Packungsschema (ein oder mehrere Plättchen an jeder Seite des Substrats12 ). Dabei kann ein einfaches Verfahren zur hochverdichteten Integration ohne Verwendung von herkömmlichen Verfahren zur Herstellung einer an der Oberfläche befestigten Packung erzielt werden, und dies ist ein formfaktorunabhängig von Schritten wie Gießformen, Gratentfernen, Trimmen und Formen. Das Substrat weist zwei Schichten aus metallisiertem Keramikmaterial auf, die über eine Isolierschicht getrennt oder auf sonstige Weise elektrisch voneinander isoliert sind. Somit bestimmt die Anordnung der Lötkugeln die Source- und Gate-Verbindungen jedes Plättchens. Falls es gewünscht ist, den Drain-Bereich des Plättchens11b mit der gedruckten Schaltkreisplatine zu verbinden, können bekannte Techniken wie beispielsweise Drahtbonding verwendet werden. - Obwohl die Erfindung unter Bezugnahme auf spezifische Ausführungsbeispiele beschrieben worden ist, sei angemerkt, dass es beabsichtigt ist, sämtliche Modifikationen und Äquivalente innerhalb des Schutzumfanges der beiliegenden Ansprüche abzudecken.
Claims (10)
- Halbleiteranordnung mit: einem Substrat; einem mit dem Substrat verbundenen Plättchen; und mehreren mit dem Substrat benachbart zum Plättchen verbundenen Lötkugeln, wobei die Lötkugeln im wesentlichen koplanar zu einer Fläche der Plättchen angeordnet sind, wenn die Halbleiteranordnung mit einer gedruckten Schaltkreisplatine verbunden ist.
- Halbleiteranordnung nach Anspruch 1, bei welcher das Substrat eine Basisschicht, eine Metallschicht und eine Isolierschicht zwischen der Basisschicht und der Metallschicht aufweist.
- Halbleiteranordnung nach Anspruch 2, bei welcher die Basisschicht ein metallisiertes Muster und die Metallschicht ein zweites metallisiertes Muster aufweist.
- Halbleiteranordnung nach Anspruch 1, bei welcher die Basisschicht metallisiertes Keramikmaterial aufweist.
- Halbleiteranordnung nach Anspruch 4, bei welcher das metallisierte Keramikmaterial mindestens eine Metallisierungsschicht aufweist.
- Verfahren zur Herstellung einer Packung einer Halbleiteranordnung, mit den Schritten: ein Substrat zur Verfügung zu stellen; ein Plättchen zur Verfügung zu stellen; Lötlot auf dem Substrat und/oder dem Plättchen anzuordnen; das Plättchen auf das Substrat aufzubringen; und die Lötkugeln auf dem Substrat benachbart zum Plättchen anzuordnen.
- Verfahren nach Anspruch 6, mit den weiteren Schritten: die Kombination aus Plättchen, Substrat und Lötkugeln zu testen; das Substrat zu trimmen bzw. fertigzustellen; und die Kombination aus Plättchen, Substrat und Lötkugeln erneut zu testen.
- Verfahren nach Anspruch 6, ferner mit den Schritten, ein zweites Plättchen zur Verfügung zu stellen, Lötlot auf dem Substrat oder dem zweiten Plättchen anzuordnen und das zweite Plättchen mit dem Substrat zu verbinden.
- Halbleiteranordnung nach Anspruch 1, mit einem zweiten Plättchen, das an einer Fläche gegenüber einer Fläche, mit der das erste Plättchen verbunden ist, mit dem Substrat verbunden ist.
- Verfahren zur Herstellung einer Packung einer Halbleiteranordnung, mit den Schritten: ein Substrat zur Verfügung zu stellen; ein Plättchen zur Verfügung zu stellen; gleichzeitig das Plättchen mittels Lötlot mit dem Substrat zu verbinden und Lötkugeln auf dem Substrat benachbart zum Plättchen anzuordnen; und das Lötlot und die Lötkugeln zurückfließen zu lassen.
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US09/776,341 | 2001-02-01 | ||
| US09/776,341 US6469384B2 (en) | 2001-02-01 | 2001-02-01 | Unmolded package for a semiconductor device |
| PCT/US2002/001686 WO2002061832A1 (en) | 2001-02-01 | 2002-01-17 | Unmolded package for a semiconductor device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE10295972T5 true DE10295972T5 (de) | 2004-04-15 |
| DE10295972B4 DE10295972B4 (de) | 2013-05-16 |
Family
ID=25107113
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE10295972T Expired - Fee Related DE10295972B4 (de) | 2001-02-01 | 2002-01-17 | Nicht in einer Form hergestellte Packung für eine Halbleiteranordnung und Verfahren zur Herstellung |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (4) | US6469384B2 (de) |
| JP (2) | JP4729244B2 (de) |
| CN (2) | CN100352047C (de) |
| DE (1) | DE10295972B4 (de) |
| TW (1) | TW535243B (de) |
| WO (1) | WO2002061832A1 (de) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8018056B2 (en) | 2005-12-21 | 2011-09-13 | International Rectifier Corporation | Package for high power density devices |
Families Citing this family (83)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6720642B1 (en) * | 1999-12-16 | 2004-04-13 | Fairchild Semiconductor Corporation | Flip chip in leaded molded package and method of manufacture thereof |
| US6870254B1 (en) * | 2000-04-13 | 2005-03-22 | Fairchild Semiconductor Corporation | Flip clip attach and copper clip attach on MOSFET device |
| US6989588B2 (en) * | 2000-04-13 | 2006-01-24 | Fairchild Semiconductor Corporation | Semiconductor device including molded wireless exposed drain packaging |
| US6661082B1 (en) * | 2000-07-19 | 2003-12-09 | Fairchild Semiconductor Corporation | Flip chip substrate design |
| US6798044B2 (en) * | 2000-12-04 | 2004-09-28 | Fairchild Semiconductor Corporation | Flip chip in leaded molded package with two dies |
| US6753605B2 (en) * | 2000-12-04 | 2004-06-22 | Fairchild Semiconductor Corporation | Passivation scheme for bumped wafers |
| US6469384B2 (en) * | 2001-02-01 | 2002-10-22 | Fairchild Semiconductor Corporation | Unmolded package for a semiconductor device |
| US6891256B2 (en) * | 2001-10-22 | 2005-05-10 | Fairchild Semiconductor Corporation | Thin, thermally enhanced flip chip in a leaded molded package |
| JP2005520339A (ja) | 2002-03-12 | 2005-07-07 | フェアチャイルド セミコンダクター コーポレーション | ウエハレベルのコーティングされた銅スタッドバンプ |
| TWI287282B (en) * | 2002-03-14 | 2007-09-21 | Fairchild Kr Semiconductor Ltd | Semiconductor package having oxidation-free copper wire |
| US7122884B2 (en) * | 2002-04-16 | 2006-10-17 | Fairchild Semiconductor Corporation | Robust leaded molded packages and methods for forming the same |
| US6836023B2 (en) * | 2002-04-17 | 2004-12-28 | Fairchild Semiconductor Corporation | Structure of integrated trace of chip package |
| TW560023B (en) * | 2002-06-20 | 2003-11-01 | Advanced Semiconductor Eng | Semiconductor device and method for manufacturing a semiconductor package |
| US7061077B2 (en) * | 2002-08-30 | 2006-06-13 | Fairchild Semiconductor Corporation | Substrate based unmolded package including lead frame structure and semiconductor die |
| US6777800B2 (en) | 2002-09-30 | 2004-08-17 | Fairchild Semiconductor Corporation | Semiconductor die package including drain clip |
| US6806580B2 (en) * | 2002-12-26 | 2004-10-19 | Fairchild Semiconductor Corporation | Multichip module including substrate with an array of interconnect structures |
| US7217594B2 (en) | 2003-02-11 | 2007-05-15 | Fairchild Semiconductor Corporation | Alternative flip chip in leaded molded package design and method for manufacture |
| US6873043B2 (en) * | 2003-03-10 | 2005-03-29 | Delphi Technologies, Inc. | Electronic assembly having electrically-isolated heat-conductive structure |
| US7271497B2 (en) * | 2003-03-10 | 2007-09-18 | Fairchild Semiconductor Corporation | Dual metal stud bumping for flip chip applications |
| US6867481B2 (en) * | 2003-04-11 | 2005-03-15 | Fairchild Semiconductor Corporation | Lead frame structure with aperture or groove for flip chip in a leaded molded package |
| US7154186B2 (en) * | 2004-03-18 | 2006-12-26 | Fairchild Semiconductor Corporation | Multi-flip chip on lead frame on over molded IC package and method of assembly |
| US7196313B2 (en) * | 2004-04-02 | 2007-03-27 | Fairchild Semiconductor Corporation | Surface mount multi-channel optocoupler |
| US7501702B2 (en) * | 2004-06-24 | 2009-03-10 | Fairchild Semiconductor Corporation | Integrated transistor module and method of fabricating same |
| US7256479B2 (en) * | 2005-01-13 | 2007-08-14 | Fairchild Semiconductor Corporation | Method to manufacture a universal footprint for a package with exposed chip |
| KR101297645B1 (ko) | 2005-06-30 | 2013-08-20 | 페어차일드 세미컨덕터 코포레이션 | 반도체 다이 패키지 및 그의 제조 방법 |
| US7504733B2 (en) | 2005-08-17 | 2009-03-17 | Ciclon Semiconductor Device Corp. | Semiconductor die package |
| US7560808B2 (en) * | 2005-10-19 | 2009-07-14 | Texas Instruments Incorporated | Chip scale power LDMOS device |
| US7285849B2 (en) * | 2005-11-18 | 2007-10-23 | Fairchild Semiconductor Corporation | Semiconductor die package using leadframe and clip and method of manufacturing |
| US20090057852A1 (en) * | 2007-08-27 | 2009-03-05 | Madrid Ruben P | Thermally enhanced thin semiconductor package |
| US7371616B2 (en) * | 2006-01-05 | 2008-05-13 | Fairchild Semiconductor Corporation | Clipless and wireless semiconductor die package and method for making the same |
| US7345499B2 (en) * | 2006-01-13 | 2008-03-18 | Dell Products L.P. | Method of Kelvin current sense in a semiconductor package |
| US20070164428A1 (en) * | 2006-01-18 | 2007-07-19 | Alan Elbanhawy | High power module with open frame package |
| US7868432B2 (en) * | 2006-02-13 | 2011-01-11 | Fairchild Semiconductor Corporation | Multi-chip module for battery power control |
| US7446375B2 (en) * | 2006-03-14 | 2008-11-04 | Ciclon Semiconductor Device Corp. | Quasi-vertical LDMOS device having closed cell layout |
| US7768075B2 (en) * | 2006-04-06 | 2010-08-03 | Fairchild Semiconductor Corporation | Semiconductor die packages using thin dies and metal substrates |
| US7618896B2 (en) * | 2006-04-24 | 2009-11-17 | Fairchild Semiconductor Corporation | Semiconductor die package including multiple dies and a common node structure |
| US7656024B2 (en) | 2006-06-30 | 2010-02-02 | Fairchild Semiconductor Corporation | Chip module for complete power train |
| US20080036078A1 (en) * | 2006-08-14 | 2008-02-14 | Ciclon Semiconductor Device Corp. | Wirebond-less semiconductor package |
| US7564124B2 (en) * | 2006-08-29 | 2009-07-21 | Fairchild Semiconductor Corporation | Semiconductor die package including stacked dice and heat sink structures |
| US7768105B2 (en) * | 2007-01-24 | 2010-08-03 | Fairchild Semiconductor Corporation | Pre-molded clip structure |
| US8106501B2 (en) * | 2008-12-12 | 2012-01-31 | Fairchild Semiconductor Corporation | Semiconductor die package including low stress configuration |
| US7821116B2 (en) * | 2007-02-05 | 2010-10-26 | Fairchild Semiconductor Corporation | Semiconductor die package including leadframe with die attach pad with folded edge |
| KR101391925B1 (ko) * | 2007-02-28 | 2014-05-07 | 페어차일드코리아반도체 주식회사 | 반도체 패키지 및 이를 제조하기 위한 반도체 패키지 금형 |
| KR101489325B1 (ko) | 2007-03-12 | 2015-02-06 | 페어차일드코리아반도체 주식회사 | 플립-칩 방식의 적층형 파워 모듈 및 그 파워 모듈의제조방법 |
| US7659531B2 (en) * | 2007-04-13 | 2010-02-09 | Fairchild Semiconductor Corporation | Optical coupler package |
| US7683463B2 (en) * | 2007-04-19 | 2010-03-23 | Fairchild Semiconductor Corporation | Etched leadframe structure including recesses |
| US7902657B2 (en) * | 2007-08-28 | 2011-03-08 | Fairchild Semiconductor Corporation | Self locking and aligning clip structure for semiconductor die package |
| US7737548B2 (en) | 2007-08-29 | 2010-06-15 | Fairchild Semiconductor Corporation | Semiconductor die package including heat sinks |
| US20090057855A1 (en) * | 2007-08-30 | 2009-03-05 | Maria Clemens Quinones | Semiconductor die package including stand off structures |
| US20090140266A1 (en) * | 2007-11-30 | 2009-06-04 | Yong Liu | Package including oriented devices |
| US7589338B2 (en) * | 2007-11-30 | 2009-09-15 | Fairchild Semiconductor Corporation | Semiconductor die packages suitable for optoelectronic applications having clip attach structures for angled mounting of dice |
| KR20090062612A (ko) * | 2007-12-13 | 2009-06-17 | 페어차일드코리아반도체 주식회사 | 멀티 칩 패키지 |
| US7781872B2 (en) * | 2007-12-19 | 2010-08-24 | Fairchild Semiconductor Corporation | Package with multiple dies |
| US8426960B2 (en) * | 2007-12-21 | 2013-04-23 | Alpha & Omega Semiconductor, Inc. | Wafer level chip scale packaging |
| US7791084B2 (en) | 2008-01-09 | 2010-09-07 | Fairchild Semiconductor Corporation | Package with overlapping devices |
| US8106406B2 (en) * | 2008-01-09 | 2012-01-31 | Fairchild Semiconductor Corporation | Die package including substrate with molded device |
| US7626249B2 (en) * | 2008-01-10 | 2009-12-01 | Fairchild Semiconductor Corporation | Flex clip connector for semiconductor device |
| US7955893B2 (en) * | 2008-01-31 | 2011-06-07 | Alpha & Omega Semiconductor, Ltd | Wafer level chip scale package and process of manufacture |
| US20090194857A1 (en) * | 2008-02-01 | 2009-08-06 | Yong Liu | Thin Compact Semiconductor Die Packages Suitable for Smart-Power Modules, Methods of Making the Same, and Systems Using the Same |
| US20090194856A1 (en) * | 2008-02-06 | 2009-08-06 | Gomez Jocel P | Molded package assembly |
| KR101524545B1 (ko) * | 2008-02-28 | 2015-06-01 | 페어차일드코리아반도체 주식회사 | 전력 소자 패키지 및 그 제조 방법 |
| US7768108B2 (en) | 2008-03-12 | 2010-08-03 | Fairchild Semiconductor Corporation | Semiconductor die package including embedded flip chip |
| US8018054B2 (en) * | 2008-03-12 | 2011-09-13 | Fairchild Semiconductor Corporation | Semiconductor die package including multiple semiconductor dice |
| KR101519062B1 (ko) * | 2008-03-31 | 2015-05-11 | 페어차일드코리아반도체 주식회사 | 반도체 소자 패키지 |
| US20090256245A1 (en) * | 2008-04-14 | 2009-10-15 | Yong Liu | Stacked Micro-Module Packages, Systems Using the Same, and Methods of Making the Same |
| US20090278241A1 (en) * | 2008-05-08 | 2009-11-12 | Yong Liu | Semiconductor die package including die stacked on premolded substrate including die |
| US20090315163A1 (en) * | 2008-06-20 | 2009-12-24 | Terry Johnson | Semiconductor Die Packages with Stacked Flexible Modules Having Passive Components, Systems Using the Same, and Methods of Making the Same |
| US7745244B2 (en) | 2008-06-23 | 2010-06-29 | Fairchild Semiconductor Corporation | Pin substrate and package |
| US8373257B2 (en) * | 2008-09-25 | 2013-02-12 | Alpha & Omega Semiconductor Incorporated | Top exposed clip with window array |
| US8193618B2 (en) | 2008-12-12 | 2012-06-05 | Fairchild Semiconductor Corporation | Semiconductor die package with clip interconnection |
| US7851856B2 (en) * | 2008-12-29 | 2010-12-14 | Alpha & Omega Semiconductor, Ltd | True CSP power MOSFET based on bottom-source LDMOS |
| US8049312B2 (en) * | 2009-01-12 | 2011-11-01 | Texas Instruments Incorporated | Semiconductor device package and method of assembly thereof |
| US7973393B2 (en) | 2009-02-04 | 2011-07-05 | Fairchild Semiconductor Corporation | Stacked micro optocouplers and methods of making the same |
| US8222718B2 (en) * | 2009-02-05 | 2012-07-17 | Fairchild Semiconductor Corporation | Semiconductor die package and method for making the same |
| US20100289129A1 (en) * | 2009-05-14 | 2010-11-18 | Satya Chinnusamy | Copper plate bonding for high performance semiconductor packaging |
| US8222078B2 (en) * | 2009-07-22 | 2012-07-17 | Alpha And Omega Semiconductor Incorporated | Chip scale surface mounted semiconductor device package and process of manufacture |
| US8362606B2 (en) | 2010-07-29 | 2013-01-29 | Alpha & Omega Semiconductor, Inc. | Wafer level chip scale package |
| US8421204B2 (en) | 2011-05-18 | 2013-04-16 | Fairchild Semiconductor Corporation | Embedded semiconductor power modules and packages |
| US8803297B2 (en) * | 2012-08-10 | 2014-08-12 | Infineon Technologies Ag | Semiconductor device including a stress relief layer and method of manufacturing |
| DE102014204722A1 (de) * | 2014-03-14 | 2015-09-17 | Robert Bosch Gmbh | Elektronisches Modul sowie Verfahren und Vorrichtung zum Herstellen eines elektronischen Moduls |
| CN105118817B (zh) * | 2015-09-10 | 2017-09-19 | 江阴长电先进封装有限公司 | 一种低成本的硅基模块的封装结构及其封装方法 |
| US11862983B1 (en) | 2019-03-28 | 2024-01-02 | Roger W. Graham | Earth energy systems and devices |
| US11393743B2 (en) | 2019-12-18 | 2022-07-19 | Infineon Technologies Ag | Semiconductor assembly with conductive frame for I/O standoff and thermal dissipation |
Family Cites Families (42)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5974653A (ja) * | 1982-10-22 | 1984-04-27 | Hitachi Ltd | 半導体装置 |
| US4517051A (en) * | 1982-12-27 | 1985-05-14 | Ibm Corporation | Multi-layer flexible film module |
| JPS63104435A (ja) | 1986-10-22 | 1988-05-09 | Hitachi Ltd | 半導体装置 |
| US5159535A (en) * | 1987-03-11 | 1992-10-27 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for mounting a flexible film semiconductor chip carrier on a circuitized substrate |
| US5477082A (en) * | 1994-01-11 | 1995-12-19 | Exponential Technology, Inc. | Bi-planar multi-chip module |
| US5616958A (en) * | 1995-01-25 | 1997-04-01 | International Business Machines Corporation | Electronic package |
| JP3348562B2 (ja) | 1995-04-05 | 2002-11-20 | ソニー株式会社 | 半導体パッケージの実装構造 |
| US5789809A (en) * | 1995-08-22 | 1998-08-04 | National Semiconductor Corporation | Thermally enhanced micro-ball grid array package |
| JP3549294B2 (ja) | 1995-08-23 | 2004-08-04 | 新光電気工業株式会社 | 半導体装置及びその実装構造 |
| US5637916A (en) * | 1996-02-02 | 1997-06-10 | National Semiconductor Corporation | Carrier based IC packaging arrangement |
| JPH10284544A (ja) * | 1997-04-10 | 1998-10-23 | Hitachi Ltd | 半導体装置およびその製造方法 |
| US6023094A (en) * | 1998-01-14 | 2000-02-08 | National Semiconductor Corporation | Semiconductor wafer having a bottom surface protective coating |
| US6049624A (en) * | 1998-02-20 | 2000-04-11 | Micron Technology, Inc. | Non-lot based method for assembling integrated circuit devices |
| JPH11238828A (ja) | 1998-02-20 | 1999-08-31 | Toshiba Corp | Bga型パッケージの半導体装置およびその製造方法、実装装置 |
| US6137164A (en) * | 1998-03-16 | 2000-10-24 | Texas Instruments Incorporated | Thin stacked integrated circuit device |
| EP0966038A3 (de) * | 1998-06-15 | 2001-02-28 | Ford Motor Company | Bonden von Leistungshalbleiteranordnungen |
| US6226699B1 (en) * | 1998-06-25 | 2001-05-01 | Compaq Computer Corporation | Method and apparatus for clock selection and switching |
| US6225699B1 (en) * | 1998-06-26 | 2001-05-01 | International Business Machines Corporation | Chip-on-chip interconnections of varied characteristics |
| US6084308A (en) * | 1998-06-30 | 2000-07-04 | National Semiconductor Corporation | Chip-on-chip integrated circuit package and method for making the same |
| US6133634A (en) * | 1998-08-05 | 2000-10-17 | Fairchild Semiconductor Corporation | High performance flip chip package |
| US6051887A (en) * | 1998-08-28 | 2000-04-18 | Medtronic, Inc. | Semiconductor stacked device for implantable medical apparatus |
| JP2000077563A (ja) | 1998-08-31 | 2000-03-14 | Sharp Corp | 半導体装置およびその製造方法 |
| JP2000077591A (ja) * | 1998-09-02 | 2000-03-14 | Sanken Electric Co Ltd | 半導体装置及びその組立方法 |
| JP2000114413A (ja) * | 1998-09-29 | 2000-04-21 | Sony Corp | 半導体装置、その製造方法および部品の実装方法 |
| ES2206195T3 (es) * | 1999-03-03 | 2004-05-16 | Eurovita A/S | Productos farmaceuticos, suplementos alimentarios y composiciones cosmeticas que comprenden un acido graso y jengibre. |
| US6255143B1 (en) * | 1999-08-04 | 2001-07-03 | St. Assembly Test Services Pte Ltd. | Flip chip thermally enhanced ball grid array |
| US6720642B1 (en) * | 1999-12-16 | 2004-04-13 | Fairchild Semiconductor Corporation | Flip chip in leaded molded package and method of manufacture thereof |
| US6462421B1 (en) * | 2000-04-10 | 2002-10-08 | Advanced Semicondcutor Engineering, Inc. | Multichip module |
| US6661082B1 (en) * | 2000-07-19 | 2003-12-09 | Fairchild Semiconductor Corporation | Flip chip substrate design |
| US6798044B2 (en) * | 2000-12-04 | 2004-09-28 | Fairchild Semiconductor Corporation | Flip chip in leaded molded package with two dies |
| US6753605B2 (en) * | 2000-12-04 | 2004-06-22 | Fairchild Semiconductor Corporation | Passivation scheme for bumped wafers |
| US6469384B2 (en) * | 2001-02-01 | 2002-10-22 | Fairchild Semiconductor Corporation | Unmolded package for a semiconductor device |
| US6683375B2 (en) * | 2001-06-15 | 2004-01-27 | Fairchild Semiconductor Corporation | Semiconductor die including conductive columns |
| US6724083B2 (en) * | 2001-07-16 | 2004-04-20 | Ars Electronics Co., Ltd. | Method of producing semiconductor packages by cutting via holes into half when separating substrate |
| US6633030B2 (en) * | 2001-08-31 | 2003-10-14 | Fiarchild Semiconductor | Surface mountable optocoupler package |
| US6458695B1 (en) * | 2001-10-18 | 2002-10-01 | Chartered Semiconductor Manufacturing Ltd. | Methods to form dual metal gates by incorporating metals and their conductive oxides |
| US6891256B2 (en) | 2001-10-22 | 2005-05-10 | Fairchild Semiconductor Corporation | Thin, thermally enhanced flip chip in a leaded molded package |
| US6566749B1 (en) * | 2002-01-15 | 2003-05-20 | Fairchild Semiconductor Corporation | Semiconductor die package with improved thermal and electrical performance |
| US6620635B2 (en) * | 2002-02-20 | 2003-09-16 | International Business Machines Corporation | Damascene resistor and method for measuring the width of same |
| JP2005520339A (ja) | 2002-03-12 | 2005-07-07 | フェアチャイルド セミコンダクター コーポレーション | ウエハレベルのコーティングされた銅スタッドバンプ |
| US6836023B2 (en) | 2002-04-17 | 2004-12-28 | Fairchild Semiconductor Corporation | Structure of integrated trace of chip package |
| US7061077B2 (en) * | 2002-08-30 | 2006-06-13 | Fairchild Semiconductor Corporation | Substrate based unmolded package including lead frame structure and semiconductor die |
-
2001
- 2001-02-01 US US09/776,341 patent/US6469384B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2002
- 2002-01-17 CN CNB028044363A patent/CN100352047C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2002-01-17 CN CN200710162352A patent/CN100576483C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2002-01-17 DE DE10295972T patent/DE10295972B4/de not_active Expired - Fee Related
- 2002-01-17 WO PCT/US2002/001686 patent/WO2002061832A1/en not_active Ceased
- 2002-01-17 JP JP2002561280A patent/JP4729244B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2002-01-25 TW TW91101244A patent/TW535243B/zh not_active IP Right Cessation
- 2002-09-04 US US10/235,249 patent/US6740541B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2003
- 2003-12-29 US US10/754,095 patent/US6953998B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2005
- 2005-08-11 US US11/202,510 patent/US7393718B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2009
- 2009-02-18 JP JP2009035263A patent/JP2009124176A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8018056B2 (en) | 2005-12-21 | 2011-09-13 | International Rectifier Corporation | Package for high power density devices |
| DE102006060768B4 (de) * | 2005-12-21 | 2013-11-28 | International Rectifier Corp. | Gehäusebaugruppe, DBC-Plantine im Wafermaßstab und Vorrichtung mit einer Gehäusebaugruppe für Geräte mit hoher Leistungsdichte |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2004521493A (ja) | 2004-07-15 |
| CN101154607A (zh) | 2008-04-02 |
| CN1489788A (zh) | 2004-04-14 |
| US20030011005A1 (en) | 2003-01-16 |
| US6469384B2 (en) | 2002-10-22 |
| US20050280161A1 (en) | 2005-12-22 |
| DE10295972B4 (de) | 2013-05-16 |
| US20020100962A1 (en) | 2002-08-01 |
| TW535243B (en) | 2003-06-01 |
| US6953998B2 (en) | 2005-10-11 |
| CN100352047C (zh) | 2007-11-28 |
| US20040164386A1 (en) | 2004-08-26 |
| JP4729244B2 (ja) | 2011-07-20 |
| JP2009124176A (ja) | 2009-06-04 |
| CN100576483C (zh) | 2009-12-30 |
| WO2002061832A1 (en) | 2002-08-08 |
| US7393718B2 (en) | 2008-07-01 |
| US6740541B2 (en) | 2004-05-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE10295972B4 (de) | Nicht in einer Form hergestellte Packung für eine Halbleiteranordnung und Verfahren zur Herstellung | |
| DE19743767B4 (de) | Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterchip-Gehäuses mit einem Halbleiterchip für Oberflächenmontage sowie ein daraus hergestelltes Halbleiterchip-Gehäuse mit Halbleiterchip | |
| DE19723203B4 (de) | Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterbauteils in Chipgröße | |
| DE3888476T2 (de) | Elektrische Kontaktstellen und damit versehene Gehäuse. | |
| DE4421077B4 (de) | Halbleitergehäuse und Verfahren zu dessen Herstellung | |
| DE69133497T2 (de) | Leiterrahmen für eine Halbleiteranordnung und dessen Herstellungsverfahren | |
| DE102008051965B4 (de) | Bauelement mit mehreren Halbleiterchips | |
| DE69526895T2 (de) | Verfahren zur Herstellung einer halbleitenden Anordnung und einer Halbleiterscheibe | |
| DE69325749T2 (de) | Gestapelte Mehrchip-Module und Verfahren zur Herstellung | |
| DE19720275B4 (de) | Substrat für eine Halbleiteranordnung, Herstellungsverfahren für dasselbe und eine das Substrat verwendende stapelbare Halbleiteranordnung | |
| DE69910955T2 (de) | Metallfolie mit Hockerkontakten, Schaltungssubstrat mit der Metallfolie, und Halbleitervorrichtung mit dem Schaltungssubstrat | |
| DE102016108060B4 (de) | Packungen mit hohlraumbasiertem Merkmal auf Chip-Träger und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
| DE69527017T2 (de) | Verfahren zur Herstellung einer Halbleiterpackung integral mit Halbleiterchip | |
| DE3787671T2 (de) | Halbleiterpackung mit Eingang/Ausgang-Verbindungen hoher Dichte. | |
| DE10392228T5 (de) | Halbleiterplättchenpackung mit Halbleiterplättchen mit seitlichem elektrischen Anschluss | |
| DE10229692A1 (de) | Leiterplatte, Mehrchippackung und zugehöriges Herstellungsverfahren | |
| DE10301512A1 (de) | Verkleinertes Chippaket und Verfahren zu seiner Herstellung | |
| DE19628376A1 (de) | Integrierte Schaltkreisanordnung und Verfahren zu deren Herstellung | |
| DE102007002707A1 (de) | System-in Package-Modul | |
| DE112006003599T5 (de) | Eingehauste Halbleitervorrichtung mit zwei freiliegenden Oberflächen und Verfahren zur Herstellung | |
| DE69737320T2 (de) | Halbleitervorrichtung | |
| DE102009044561A1 (de) | Verfahren zum Herstellen eines Halbleiter-Package unter Verwendung eines Trägers | |
| DE19709259B4 (de) | Mehrlagiges Bodenanschlussgehäuse | |
| DE4424396C2 (de) | Trägerelement zum Einbau in Chipkarten oder anderen Datenträgerkarten | |
| DE102017218138B4 (de) | Vorrichtung mit Substrat mit leitfähigen Säulen und Verfahren zur Herstellung der Vorrichtung |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| 8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
| R016 | Response to examination communication | ||
| R016 | Response to examination communication | ||
| R016 | Response to examination communication | ||
| R016 | Response to examination communication | ||
| R018 | Grant decision by examination section/examining division | ||
| R020 | Patent grant now final |
Effective date: 20130817 |
|
| R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |