[go: up one dir, main page]

DE10246791A1 - Mit akustischen Volumenwellen arbeitender Resonator und Schaltung mit dem Resonator - Google Patents

Mit akustischen Volumenwellen arbeitender Resonator und Schaltung mit dem Resonator Download PDF

Info

Publication number
DE10246791A1
DE10246791A1 DE10246791A DE10246791A DE10246791A1 DE 10246791 A1 DE10246791 A1 DE 10246791A1 DE 10246791 A DE10246791 A DE 10246791A DE 10246791 A DE10246791 A DE 10246791A DE 10246791 A1 DE10246791 A1 DE 10246791A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
resonator
resonators
electrode
parallel
series
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE10246791A
Other languages
English (en)
Other versions
DE10246791B4 (de
Inventor
Pasi Tikka
Ralph Dr. Stömmer
Edgar Dr. Schmidhammer
Michael Unterberger
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SnapTrack Inc
Original Assignee
Epcos AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Epcos AG filed Critical Epcos AG
Priority to DE10246791.9A priority Critical patent/DE10246791B4/de
Priority to PCT/EP2003/010431 priority patent/WO2004034579A1/de
Priority to JP2004542360A priority patent/JP2006502634A/ja
Priority to US10/530,507 priority patent/US7616079B2/en
Publication of DE10246791A1 publication Critical patent/DE10246791A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE10246791B4 publication Critical patent/DE10246791B4/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
    • H03H9/46Filters
    • H03H9/54Filters comprising resonators of piezoelectric or electrostrictive material
    • H03H9/58Multiple crystal filters
    • H03H9/582Multiple crystal filters implemented with thin-film techniques
    • H03H9/583Multiple crystal filters implemented with thin-film techniques comprising a plurality of piezoelectric layers acoustically coupled

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Acoustics & Sound (AREA)
  • Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)

Abstract

Die Erfindung betrifft einen mit akustischen Volumenwellen arbeitenden Resonator (BAW-Resonator, BAW = Bulk Acoustic Wave) und Bandpaßfilter, die aus solchen Resonatoren aufgebaut sind. Um die Flankensteilheit des Durchlaßbereiches eines BAW-Bandpaßfilters zu erhöhen, schlägt die Erfindung vor, die effektive Kopplung eines BAW-Resonators zu reduzieren, indem die parallele Beschaltung eines BAW-Resonators und eines Kondensators anstelle nur eines Resonators verwendet wird. Ferner wird zur Erhöhung der Flankensteilheit des Durchlaßbereiches vorgeschlagen, eine Verschaltung von gekoppelten BAW-Resonatoren im Serienzweig eine Filterschaltung mit einem weiteren Resonator oder Resonator-Stapel im Parallelzweig der Filterschaltung zu verwenden, wobei der weitere Resonator oder Resonator-Stapel an die Mittelelektrode des zuerst genannten Resonator-Stapels angeschlossen ist.

Description

  • Die Erfindung betrifft einen mit akustischen Volumenwellen arbeitenden Resonator (oder FBAR, Thin Film Bulk Rcoustic Wave Resonator), auch BAW-Resonator (Bulk Acoustic Wave Resonator) genannt, sowie eine aus solchen Resonatoren aufgebaute Schaltung.
  • BAW-Resonatoren sind insbesondere für Bandpaß-Hochfrequenzfilter in der modernen Filtertechnik geeignet und können z. B. in den Geräten der mobilen Kommunikation eingesetzt werden.
  • Ein mit akustischen Volumenwellen arbeitender Resonator weist eine piezoelektrische Schicht auf, die zwischen zwei Metallschichten (Elektroden) angeordnet ist. Es ist bekannt, daß anstelle nur einer piezoelektrischen Schicht auch eine Schichtenfolge benutzt werden kann. Die Schichten werden auf einem Substrat aufeinanderfolgend abgeschieden und zu Resonatoren strukturiert, welche miteinander elektrisch verbunden sind und zusammen z. B. eine Filterschaltung, insbesondere ein Bandpaßfilter realisieren können. Ein solches Bandpaßfilter kann zusammen mit einem weiteren Filter auch in einem Duplexer eingesetzt werden.
  • 1 zeigt das Ersatzschaltbild eines BAW-Resonators. Der Resonator wird außerhalb eines Frequenzbereiches um die Resonanzfrequenz durch eine statische Kapazität C0 und in der Nähe der Resonanzfrequenz durch die Serienverschaltung eines Widerstands Rm, einer Kapazität Cm und einer Induktivität Lm charakterisiert. Die statische Kapazität ist im wesentlichen durch die Resonatorfläche und die Dicke der piezoelektrischen Schicht definiert. Der Widerstand Rm beschreibt Verluste im Resonator, die Kapazität Cm und die Induktivität Lm bestimmen die Resonanzfrequenz
    Figure 00020001
    Das Verhältnis Cm/C0 bestimmt die Kopplung des Resonators. Der Kopplungskoeffizient k des Resonators ist mit der Resonanzfrequenz fr und der Antiresonanzfrequenz fa verbunden:
    Figure 00020002
  • Ein Bandpaßfilter wird durch eine Übertragungsfunktion charakterisiert, die insbesondere einen Durchlaßbereich und mehrere Sperrbereiche aufweist. Der Durchlaßbereich wird wiederum durch seine Bandbreite, die Einfügedämpfung im Durchlaßbereich und die Flankensteilheit am Rande des Durchlaßbereiches charakterisiert.
  • Es ist bekannt, daß zwei BAW-Resonatoren SR1 und SR2 (wie in 2 schematisch dargestellt) miteinander akustisch verkoppelt sein können, wenn sie beispielsweise in einem Stapel übereinander angeordnet sind. Dabei bilden die genannten Resonatoren zwischen einem Port P1 und einem Port P2 eine Serienschaltung, z. B. in einer Stacked-Crystal-Anordnung, bei der beide Resonatoren eine gemeinsame Elektrode haben, welche mit Masse verbunden ist (siehe 3), oder in einer Coupled-Resonator-Anordnung, bei der zwischen der oberen Elektrode E2 des unteren Resonators und der unteren Elektrode E3 des oberen Resonators eine Koppelschicht KS angeordnet ist, und die genannten Elektroden mit Masse verbunden sind (siehe 4). Ein erster Resonator in 3 umfaßt eine piezoelektrische Schicht PS1, die zwischen zwei Elektroden E1 und E2 angeordnet ist, und einen unterhalb der Elektrode E1 angeordneten akustischen Spiegel AS, der auf einem Trägersubstrat TS liegt. Über dem ersten Resonator ist ein zweiter Resonator angeordnet, der eine piezoelektrische Schicht PS2 umfaßt, welche zwischen der Elektrode E2 und einer Elektrode E3 angeordnet ist. Die Elektrode E1 ist dabei an den Port P1, die Elektrode E3 an den Port P2 und die Elektrode E2 an die Masse angeschlossen.
  • Das in 4 dargestellte Schichtsystem besteht aus einem auf einem Trägersubstrat TS angeordneten ersten Resonator, einer darüber liegenden Koppelschicht KS und einem über der Koppelschicht KS angeordneten zweiten Resonator. Der erste Resonator ist wie in 3 beschrieben angeordnet und zwischen dem Port P1 und der Masse angeschlossen. Der zweite Resonator enthält (von unten nach oben) zwei Elektroden E3 und E4 und eine dazwischen angeordnete piezoelektrische Schicht PS2, wobei der zweite Resonator zwischen dem Port P2 und der Masse angeschlossen ist. Die zwischen den genannten Resonatoren angeordnete Koppelschicht KS dient zur akustischen Kopplung dieser Resonatoren.
  • Filter, die aus akustisch gekoppelten Resonatoren aufgebaut sind, zeichnen sich durch eine hohe Stopbandunterdrückung aus. Allerdings ist die Flankensteilheit und damit die Nahselektion durch das Fehlen definierter Polstellen nahe am Paßband vergleichsweise gering.
  • Es ist bekannt, daß die BAW-Resonatoren in einer Ladder-Type- oder einer Lattice-Type-Bauweise miteinander verschaltet werden können. Die Lattice-Type-Anordnung der Resonatoren in einem Bandpaßfilter hat den Vorteil, daß die Selektion eines solchen Filters in Stopbandbereichen weit außerhalb des Durchlaßbereiches sehr gut ist und z.B. zwischen –40 und –60 dB liegt. Der Nachteil der genannten Filter-Anordnung besteht in einer geringen Flankensteilheit des Durchlaßbereiches. Daher ist es bei dieser Filter-Anordnung schwierig, eine ausreichende Dämpfung des Signals in den Stopbändern in der Nähe des Durchlaßbereiches zu erzielen.
  • In manchen Anwendungsbereichen ist eine erhebliche Flankensteilheit erforderlich. Bei den Duplexern, die für den PCS Telekommunikations-Standard geeignet sind, muß beispielsweise ein Abfall der Übertragungsfunktion von ca. –3 dB auf deutlich unter –40 dB innerhalb eines Frequenzbereichs von nur 20 MHz gewährleistet werden. Bisher bekannte Bandpaßfilter, die aus BAW-Resonatoren aufgebaut sind, genügen solchen Anforderungen aufgrund von zusätzlichen Frequenzverschiebungen der Flanken bei Temperaturwechsel oder infolge gegebener Fertigungstoleranzen (die bei einem bei ca. 2 GHz arbeitenden Filter mit BAW-Resonatoren, die eine piezoelektrische Schicht aus ALN enthalten, mehrere MHz betragen können) nicht.
  • Aus der Druckschrift EP 0949756 A2 ist es bekannt, daß eine Serienschaltung von gestapelten, akustisch miteinander verkoppelten Resonatoren und weiteren Resonatoren anstelle nur eines Resonators in einer Filterschaltung die Flankensteilheit im Durchlaßbereich des Filters verbessert. Diese Lösung hat jedoch den Nachteil, daß sie viel Platz braucht.
  • Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, einen BAW-Resonator anzugeben, der eine große Flankensteilheit eines aus solchen Resonatoren aufgebauten Bandpaßfilters gewährleistet.
  • Die der Erfindung zugrundeliegende Aufgabe wird erfindungsgemäß durch einen Resonator nach Anspruch 1 gelöst. Vorteilhafte Ausführungsbeispiele sind weiteren Ansprüchen zu entnehmen.
  • Die Erfindung gibt einen mit akustischen Volumenwellen arbeitenden Resonator (auch BAW-Resonator – Bulk Acoustic Wave Resonator – oder FBAR – Thin Film Bulk Acoustic Wave Resonator – genannt) an, der aus einer Schichtenfolge aufgebaut ist, welche folgende Schichten enthält: einen unteren Schichtbereich, der eine erste Elektrode umfaßt, einen oberen Schichtbereich, der eine zweite Elektrode umfaßt, und dazwischen eine piezoelektrische Schicht. Parallel oder in Serie zu dem genannten Resonator ist eine Kapazität geschaltet.
  • Die parallele Verschaltung eines BAW-Resonators und einer Kapazität Ca anstelle eines unverschalteten Resonators reduziert die effektive Kopplung des BAW-Resonators (d. h. den Abstand zwischen der Resonanz- und der Antiresonanzfrequenz des Resonators), indem die effektive statische Kapazität C'0 erhöht wird, C'0 = C0 + Ca. Dabei bleibt die Resonanzfrequenz f'r der neuen Schaltung (Serienresonanz, oder die Resonanzfrequenz des seriellen Schwingkreises, der durch Cm, Lm, und Rm gebildet ist) gegenüber der Resonanzfrequenz fr des (unverschalteten) Resonators unverändert, f'r = fr, wohingegen nun die Antiresonanzfrequenz f'a = fr √1 + Cm/C'0 (Parallelresonanz, oder die Resonanzfrequenz des parallelen Schwingkreises, der durch C'0 , Cm, Lm, und Rm gebildet ist) niedriger als die Antiresonanzfrequenz fa = fr √1 + Cm/C0 (Parallelresonanz, oder die Resonanzfrequenz des parallelen Schwingkreises, der durch C0, Cm, Lm und Rm gebildet ist) des (unverschalteten) Resonators ist. Damit wird die Flankensteilheit eines solche BAW-Resonatoren umfassenden Bandpaßfilters erhöht.
  • Die serielle Verschaltung eines BAW-Resonators und einer Kapazität Ca anstelle eines unverschalteten Resonators reduziert die effektive Kopplung eines BAW-Resonators (d. h. den Abstand zwischen der Resonanz- und der Antiresonanzfrequenz des Resonators). Dabei bleibt die Antiresonanzfrequenz f'a der Schaltung (Parallelresonanz, oder die Resonanzfrequenz des parallelen Schwingkreises, der durch C0, Cm, Lm und Rm gebildet ist) relativ zur Antiresonanzfrequenz fa des Resonators unverändert, f'a = fa' wohingegen die Resonanzfrequenz f'r = fr √1 + Cm /(Ca +C0 (Serienresonanz, oder die Resonanzfrequenz des seriellen Schwingkreises, der durch Ca, Cm, Lm und Rm gebildet ist) der genannten Schaltung höher als die Resonanzfrequenz fr (Serienresonanz, oder die Resonanzfrequenz des seriellen Schwingkreises, der durch Cm, Lm, und Rm gebildet ist) des Resonators ist. Damit wird die Flankensteilheit eines solche BAW-Resonatoren umfassenden Bandpaßfilters erhöht.
  • In einer vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung ist der erfindungsgemäße Resonator auf einem Trägersubstrat angeordnet. Möglich ist es auch, den erfindungsgemäßen Resonator über einem Luftspalt, welcher im Trägersubstrat vorgesehen ist, anzuordnen.
  • Die erste und die zweite Elektrode besteht aus einem elektrisch leitenden Material, z. B. einem Metall oder einer Metalllegierung.
  • Die piezoelektrische Schicht besteht vorzugsweise aus AlN, kann aber auch aus einem anderen Material mit piezoelektrischen Eigenschaften bestehen (z. B. ZnO). Möglich ist auch, daß die piezoelektrische Schicht mehrere aneinander angrenzende oder voneinander getrennte, gleiche oder unterschiedliche Schichten mit piezoelektrischen Eigenschaften umfaßt.
  • Es ist möglich, daß die erste und/oder die zweite Elektrode einen Mehrschichtenaufbau aufweist, der aus zwei oder mehr aneinander angrenzenden Schichten aus unterschiedlichen Materialien besteht. Möglich ist auch, daß die piezoelektrische Schicht im erfindungsgemäßen Resonator zwei oder mehr aneinander angrenzende oder voneinander getrennte Schichten aus unterschiedlichen Materialien umfaßt.
  • Es ist möglich, daß zwischen der ersten und der zweiten Elektrode zusätzlich eine durchschlagsfeste Schicht angeordnet ist, welche den Resonator vor elektrischen Überschlägen zwischen den Elektroden schützt.
  • Die erfindungsgemäße Verschaltung einer Kapazität parallel zu einem BAW-Resonator kann in einem Filter, welches beispielsweise in Ladder-Type-Bauweise, in einer Lattice-Type-Bauweise oder als ein SCF (Stacked Crystal Filter) sowie als eine beliebige Kombination aus den genannten erfindungsgemäßen BAW-Resonatoren aufgebaut ist, realisiert werden.
  • Es ist möglich, die Verschaltung einer Kapazität parallel zu einem BAW-Resonator nur in einem Serienzweig oder mehreren Serienzweigen eines Filters vorzusehen. Möglich ist es auch, die Verschaltung einer Kapazität parallel zu einem BAW-Resonator nur in einem Parallelzweig oder mehreren Parallelzweigen eines Filters vorzusehen. In einer weiteren Ausführungsform ist es möglich, daß die Verschaltung einer Kapazität parallel zu einem BAW-Resonator in zumindest einem Serienzweig und in zumindest einem Parallelzweig des Filters vorgesehen ist.
  • Der Wert der Kapazität, die erfindungsgemäß parallel zu einem BAW-Resonator geschaltet wird, beträgt in den genannten Ausführungsbeispielen vorzugsweise zwischen 0,1 und 10 pF.
  • Es ist vorteilhaft, wenn die Kopplung der Resonatoren nur in den Serienzweigen oder nur in den Parallelzweigen eines Filters oder eines Duplexers durch die parallele Verschaltung der entsprechenden Kapazitäten reduziert wird.
  • Es ist möglich, die parallel zu einem BAW-Resonator verschaltete Kapazität zu realisieren, indem ein diskreter Kondensator parallel zum BAW-Resonator verschaltet wird. Eine andere Möglichkeit besteht darin, daß eine solche Kapazität im Trägersubstrat durch strukturierte Metallebenen realisiert ist. Möglich ist auch, zwischen den Elektroden des BAW-Resonators eine zusätzliche dielektrische Schicht anzuordnen, um die Kapazität des BAW-Resonators zu vergrößern. Diese dielektrische Schicht kann zwischen der piezoelektrischen Schicht und einer der Elektroden oder zwischen zwei piezoelektrischen Schichten angeordnet sein.
  • Auch die parasitäre Kapazität des jeweiligen Resonators kann gezielt möglichst groß ausgewählt werden, beispielsweise durch die Vergrößerung der Elektrodenfläche, um die Flankensteilheit des aus solchen Resonatoren aufgebauten Filters zu verbessern. Möglich sind auch weitere, hier nicht genannte Realisierungen der Erfindung.
  • Es ist möglich, daß der untere und/oder obere Schichtbereich des erfindungsgemäßen Resonators aus einer oder mehreren Schichten besteht. Möglich ist es auch, daß im unteren und/oder im oberen Schichtbereich ein akustischer Spiegel realisiert ist, der zumindest zwei alternierende Schichten mit unterschiedlicher akustischer Impedanz umfaßt.
  • Der akustische Spiegel besteht aus alternierenden Schichten mit jeweils einer hohen und einer niedrigen akustischen Impedanz, wobei ihre Schichtdicken jeweils ungefähr eine Viertelwellenlänge der akustischen Hauptmode (bezogen auf die Ausbreitungsgeschwindigkeit der akustischen Welle im jeweiligen Material) betragen. Der akustische Spiegel stellt daher eine bzw. mehrere Grenzflächen bereit, welche bei Resonanzfrequenz die akustische Welle zurück in den Resonator reflektieren und das Austreten der Welle in Richtung des Trägersubstrates verhindern.
  • In einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung kann eine der Schichten des akustischen Spiegels gleichzeitig eine der genannten Elektroden darstellen.
  • Die erfindungsgemäße Verwendung eines BAW-Resonators mit parallel verschalteter Kapazität in der Schaltung eines Bandpaßfilters erhöht die Flankensteilheit des Durchlaßbereiches des Bandpaßfilters. Dadurch erhöht sich die Dämpfung des Signals in den Stopbändern in der Nähe des Durchlaßbereiches. Dies ist besonders vorteilhaft bei Realisierung einer Duplexerschaltung mit einem solchen Bandpaßfilter.
  • Die der Erfindung zugrunde liegende Aufgabe ist weiterhin durch die unten beschriebene Ausführungsvariante der Erfindung gelöst.
  • Diese erfindungsgemäße Ausführung gibt eine elektrische Schaltung an, welche einen Resonator-Stapel, der zumindest zwei aufeinander angeordnete mit akustischen Volumenwellen arbeitende Resonatoren und zumindest einen weiteren Resonator oder Resonator-Stapel mit BAW-Resonatoren umfaßt. Die genannten mit akustischen Volumenwellen arbeitenden Resonatoren enthalten jeweils eine untere Elektrode, eine obere Elektrode und eine dazwischen angeordnete piezoelektrische Schicht. Dabei bilden die im Resonator-Stapel übereinander angeordneten Resonatoren eine Serienschaltung, z. B. in einer Stacked-Crystal-Anordnung (wenn beide Resonatoren eine gemeinsame Elektrode haben) oder einer Coupled-Resonator-Anordnung (wenn zwischen der oberen Elektrode des unteren Resonators und der unteren Elektrode des oberen Resonators eine Koppelschicht vorgesehen ist).
  • Die obere Elektrode des unteren mit akustischen Volumenwellen arbeitenden Resonators und die untere Elektrode des oberen mit akustischen Volumenwellen arbeitenden Resonators, die im Resonator-Stapel angeordnet sind, ist dabei mit einer der Elektroden des zumindest einen weiteren Resonators oder Resonator-Stapels elektrisch verbunden.
  • Die erfindungsgemäße Verschaltung kann als ein Grundglied einer Ladder-Type-Anordnung oder (bei einer geeigneten Verschaltung) einer Lattice-Type-Anordnung einzelner Resonatoren betrachtet werden, wobei zumindest zwei der genannten Resonatoren akustisch miteinander verkoppelt und übereinander angeordnet sind. Dabei ist es möglich, daß zwei übereinander im Stapel angeordnete BAW-Resonatoren zwei Serienresonatoren oder Parallelresonatoren der Ladder-Type-Anordnung oder der Lattice-Type-Anordnung realisieren. Möglich ist es auch, daß zwei übereinander im Stapel angeordnete BAW-Resonatoren einen Serienresonator und einen Parallelresonator der Ladder-Type-Anordnung oder der Lattice-Type-Anordnung realisieren.
  • Zwischen der oberen Elektrode des unteren mit akustischen Volumenwellen arbeitenden Resonators und der unteren Elektrode des oberen mit akustischen Volumenwellen arbeitenden Resonators, die im Resonator-Stapel angeordnet sind, ist vorzugsweise eine Kopplungsschicht vorgesehen.
  • Der zumindest eine weitere Resonator kann beispielsweise ein mit akustischen Volumenwellen Resonator, ein mit akustischen Oberflächenwellen arbeitender Resonator, ein LC-Resonator oder ein oben angegebener Resonator-Stapel sein.
  • Die zweite, mit den im Resonator-Stapel übereinander angeordneten Resonatoren nicht verbundene Elektrode des zumindest einen weiteren Resonators kann mit Masse oder mit einem anschließenden Resonator bzw. einem noch nicht genannten Resonator-Stapel verbunden sein.
  • Die erfindungsgemäße Schaltung stellt eine vorteilhafte Kombination verschiedener an sich bekannter Filteranordnungen, wie z. B. die Anordnung der übereinander gestapelten, miteinander akustisch gekoppelten Resonatoren und einer Ladder-Type-Anordnung bzw. Lattice-Type-Anordnung dar. Die Übertragungsfunktion eines Filters, dessen Grundglieder die erfindungsgemäßen Schaltung realisieren, verglichen mit der Übertragungsfunktion eines Filters, welches aus schon bekannten Resonator-Stapeln aufgebaut ist, weist deutlich steilere Flanken im Durchlaßbereich des Filters auf. Dadurch erzielt man eine ungewöhnlich gute Nahselektion des Filters.
  • Die erfindungsgemäße Schaltung, die z. B. aus einem Resonator-Stapel und einem mit ihm wie oben angegeben elektrisch verbundenen Resonator besteht, bildet vorzugsweise ein Grundelement eines Filters.
  • Es ist möglich, daß mehrere Parallelresonatoren, die jeweils in einem Parallelzweig unterschiedlicher, miteinander elektrisch verbundener Grundelemente angeordnet sind, miteinander akustisch verkoppelt bzw. übereinander angeordnet sind. Möglich ist auch, daß anstelle nur eines Resonators im Parallelzweig (Parallelresonators) eines Grundelementes der erfindungsgemäßen Schaltung zwei (vorzugsweise miteinander verkoppelte) seriell oder parallel verschaltete Parallelresonatoren realisiert sind.
  • Ferner ist es möglich, daß mehr als nur zwei Serienresonatoren übereinander angeordnet bzw. akustisch miteinander verkoppelt sind.
  • Die beschriebenen Grundelemente der erfindungsgemäßen Schaltung können miteinander beliebig kombiniert werden.
  • Im folgenden wird die Erfindung anhand von schematischen und daher nicht maßstabsgetreuen Figuren näher erläutert.
  • 1 zeigt ein Ersatzschaltbild eines BAW-Resonators
  • 2 zeigt das Schaltbild eines Resonator-Stapels
  • 3 zeigt einen Resonator-Stapel mit akustisch gekoppelten BAW-Resonatoren im schematischen Querschnitt (Stand der Technik)
  • 4 zeigt ein weiteres Beispiel eines Resonator-Stapels mit akustisch gekoppelten BAW-Resonatoren und einer Koppelschicht im schematischen Querschnitt (Stand der Technik)
  • 5a zeigt ein Ersatzschaltbild eines BAW-Resonators mit einer erfindungsgemäß parallel zu ihm geschalteten Kapazität
  • 5b zeigt ein Ersatzschaltbild eines BAW-Resonators mit einer erfindungsgemäß in Serie zu ihm geschalteten Kapazität
  • 6a zeigt ein Grundglied eines in Ladder-Type-Bauweise realisierten Filters mit einer parallel zu einem BAW-Resonator im Serienzweig geschalteten Kapazität
  • 6b zeigt die Übertragungsfunktion eines in Ladder-Type-Bauweise realisierten Filters ohne und mit einer parallel zu einem BAW-Resonator im Serienzweig geschalteten Kapazität
  • 7 zeigt ein Grundglied eines in Ladder-Type-Bauweise realisierten Filters mit einer parallel zu einem BAW-Resonator im Parallelzweig geschalteten Kapazität
  • 8a zeigt ein Ausführungsbeispiel eines in Lattice-Type-Bauweise realisierten Filters mit parallel zu BAW-Resonatoren in den Serienzweigen geschalteten Kapazitäten
  • 8b zeigt die Übertragungsfunktion eines in Lattice-Type-Bauweise realisierten Filters ohne und mit einer parallel zu einem BAW-Resonator im Serienzweig geschalteten Kapazität
  • 9 zeigt ein Ausführungsbeispiel eines in Lattice-Type-Bauweise realisierten Filters mit parallel zu BAW-Resonatoren in den Parallelzweigen geschalteten Kapazitäten
  • 10 zeigt eine erfindungsgemäße Verschaltung eines Resonator-Stapels im Serienzweig und eines weiteren BAW-Resonators im Parallelzweig, im Schaltbild (a) bzw. im schematischen Querschnitt (b)
  • 11 zeigt ein vorteilhaftes Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Verschaltung eines Resonator-Stapels und eines weiteren BAW-Resonators im schematischen Querschnitt
  • 12 zeigt eine erfindungsgemäße Verschaltung eines Resonator-Stapels im Serienzweig und eines weiteren Resonator-Stapels im Parallelzweig, im Schaltbild (a) bzw. im schematischen Querschnitt (b) Die 1 bis 4 wurden bereits einleitend erläutert.
  • 5a zeigt ein Ersatzschaltbild eines BAW-Resonators mit einer parallel zu ihm verschalteten Kapazität Ca. Der Resonator wird außerhalb des Resonanz-Frequenzbereiches durch eine statische Kapazität C0 und in der Nähe der Resonanzfrequenz durch einen Widerstand Rm, eine Kapazität Cm und eine Induktivität Lm charakterisiert. Der Widerstand Rm beschreibt Verluste im Resonator, die Kapazität Cm und die Induktivität Lm bestimmen die Resonanzfrequenz. Das Verhältnis Cm/C0 bestimmt die Kopplung des Resonators. Das Hinzufügen einer parallel zum Resonator verschalteten Kapazität Ca bewirkt die Verringerung der effektiven Kopplung des Resonators, die nun durch Cm/(C0 + Ca) anstatt Cm/C0 bestimmt ist.
  • 5b zeigt ein Ersatzschaltbild eines BAW-Resonators mit einer in Serie zu ihm verschalteten Kapazität Ca.
  • Eine beispielhafte Verschaltung zweier BAW-Resonatoren RA und RB in Ladder-Type-Bauweise und einer parallel zu einem der genannten Resonatoren geschalteten Kapazität Ca ist in 6a gezeigt. Resonator RA ist in einem Serienzweig und Resonator RB ist in einem Parallelzweig der Schaltung angeordnet. Zwei auf diese Weise verschaltete Resonatoren stellen z. B. ein Grundglied eines an sich bekannten Ladder-Type-Filters dar.
  • In 6a ist die Kapazität Ca im Serienzweig der Schaltung integriert. Dabei ist sie parallel zum Serienresonator RA geschaltet, wodurch die Steilheit der rechten Flanke der Übertragungsfunktion im Durchlaßbereich kontrolliert bzw. erhöht werden kann. Ein solches Grundglied kann z. B. im Sendefilter (Tx-Filter) eines Duplexers, insbesondere eines PCS-Duplexers, eingesetzt werden.
  • 6b zeigt die Übertragungsfunktion S21 eines in Ladder-Type-Bauweise realisierten Filters ohne und mit einer parallel zu einem BAW-Resonator im Serienzweig geschalteten Kapazität. Die Übertragungsfunktion des in der an sich bekannten Ladder-Type-Bauweise aus BAW-Resonatoren aufgebauten Filters ist mit einer gestrichelten Linie 11 dargestellt. Die Übertragungsfunktion des erfindungsgemäßen Filters in der Ladder-Type-Bauweise mit einer parallel zu einem BAW-Resonator im Serienzweig geschalteten Kapazität ist mit einer durchgezogenen Linie 12 dargestellt, wobei die Übertragungsfunktion in diesem Fall eine steilere rechte Flanke des Durchlaßbereiches aufweist.
  • In 7 ist die Kapazität Ca im Parallelzweig der Schaltung integriert. Dabei ist sie parallel zum Parallelresonator RB geschaltet, wodurch die Steilheit der linken Flanke der Übertragungsfunktion im Durchlaßbereich kontrolliert bzw. erhöht werden kann. Ein solches Grundglied kann z. B. im Empfangsfilter (Rx-Filter) eines Duplexers, insbesondere eines PCS-Duplexers, eingesetzt werden.
  • Die Kapazität Ca kann auf einem Trägersubstrat zusammen mit dem BAW-Resonator angeordnet sein. Die Kapazität Ca kann auch ein diskretes Bauelement mit Außenelektroden darstellen, welches mit dem BAW-Resonator wie oben beschrieben elektrisch verbunden ist.
  • Möglich ist es auch, daß die Kapazität Ca in Metallisierungsebenen des (mehrlagigen) Trägersubstrats realisiert und mit dem BAW-Resonator wie oben beschrieben, beispielsweise mittels Durchkontaktierungen, Bumpverbindungen oder Bonddrähte, elektrisch verbunden ist.
  • Eine beispielhafte Verschaltung zweier BAW-Resonatoren RA und RB in Lattice-Type-Bauweise und einer parallel zu einem der genannten Resonatoren geschalteten Kapazität Ca ist in 8a gezeigt. Ein Resonator RA ist in einem Serienzweig, und ein Resonator RB ist in einem Parallelzweig der Schaltung angeordnet. 8a zeigt zwei Paare von den auf diese Weise verschalteten Resonatoren, die z. B. ein Grundglied eines in an sich bekannter Lattice-Type-Bauweise realisierten Filters darstellen.
  • In 8a sind zwei Kapazitäten Ca jeweils in einem Serienzweig der Schaltung integriert. Dabei sind sie jeweils parallel zum entsprechenden Serienresonator RA geschaltet, wodurch die Steilheit der rechten Flanke der Übertragungsfunktion im Durchlaßbereich kontrolliert bzw. erhöht werden kann. Ein solches Grundglied kann z. B. im Sendefilter (Tx-Filter) eines Duplexers, insbesondere eines PCS-Duplexers, eingesetzt werden.
  • 8b zeigt die Übertragungsfunktion S21 eines in Lattice-Type-Bauweise realisierten Filters ohne und mit einer parallel zu einem BAW-Resonator im Serienzweig geschalteten Kapazität. Die Übertragungsfunktion des in der an sich bekannten Lattice-Type-Bauweise aus BAW-Resonatoren aufgebauten Filters ist mit einer gestrichelten Linie 11 dargestellt. Die Übertragungsfunktion des erfindungsgemäßen Filters in der Lattice-Type-Bauweise mit einer parallel zu einem BAW-Resonator im Serienzweig geschalteten Kapazität ist mit einer durchgezogenen Linie 12 dargestellt, wobei die Übertragungsfunktion in diesem Fall eine steilere rechte Flanke des Durchlaßbereiches aufweist.
  • In 9 sind zwei Kapazitäten Ca jeweils in einem Parallelzweig der Schaltung integriert. Dabei sind sie jeweils parallel zum entsprechenden Parallelresonator RB geschaltet, wodurch die Steilheit der linken Flanke der Übertragungsfunktion im Durchlaßbereich kontrolliert bzw. erhöht werden kann. Ein solches Grundglied kann z. B. im Empfangsfilter (Rx-Filter) eines Duplexers, insbesondere eines PCS-Duplexers, eingesetzt werden.
  • 10a zeigt das Schaltbild einer erfindungsgemäßen Verschaltung eines Resonator-Stapels, der BAW-Resonatoren SR1 und SR2 umfaßt, im Serienzweig und eines weiteren BAW-Resonators PR im Parallelzweig. Der Resonator-Stapel ist zwischen Ports P1 und P2 geschaltet. Eine beispielhafte Realisierung einer solchen Schaltung ist in 10b im schematischen Querschnitt dargestellt. Der Resonator-Stapel umfaßt die piezoelektrische Schicht PS1, die zwischen zwei Elektroden E1 und E2 (Mittelelektrode) angeordnet ist. Darüber ist die piezoelektrische Schicht PS2 angeordnet. Auf der piezoelektrischen Schicht PS2 liegt eine Elektrode E4, die an den Port 2 angeschlossen ist. Der Port P1 ist mit der Elektrode E1 elektrisch verbunden. Die Schichtenfolge E1, PS1 und E2 realisiert z. B. den Resonator SR1 entsprechend der 10a. Die Schichtenfolge E2, S52 und E4 realisiert z. B. den Resonator SR2 entsprechend der 10a. Der Resonator PR im Parallelzweig der Schaltung laut 10a ist hier durch die Schichtenfolge E6 (Elektrode), PS3 (piezoelektrische Schicht) und E5 (Elektrode) realisiert, wobei die Elektrode E5 mit der Mittelelektrode E2 elektrisch verbunden ist. Die Elektrode E6 ist in diesem Ausführungsbeispiel an die Masse angeschlossen. Möglich ist auch, daß sie an eine andere hier nicht dargestellte Schaltung angeschlossen ist.
  • 11 zeigt ein vorteilhaftes Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäßen Verschaltung eines Resonator-Stapels und eines weiteren BAW-Resonators im schematischen Querschnitt. Der Resonator-Stapel besteht von unten nach oben aus einer ersten Elektrode E1, einer ersten piezoelektrischen Schicht PS1, einer zweiten Elektrode E2, einer Koppelschicht KS1, einer dritten Elektrode E3, einer zweiten piezoelektrischen Schicht PS2 und einer vierten Elektrode E4. Der Resonator-Stapel bildet zwei übereinander angeordnete und mittels der Koppelschicht miteinander verkoppelte Resonatoren (entsprechend SR1 und SR2 in 10a) und ist zwischen Ports P1 und P2 geschaltet. Der Parallelzweig der Schaltung ist durch einen weiteren Resonator gebildet, der aus einer dritten piezoelektrischen Schicht PS3 und sie umfassenden Elektroden E5 und E6 besteht. Die Elektroden E2 und E3 sind mit der Elektrode E5 verbunden. Die Elektrode E6 ist hier an die Masse angeschlossen. Möglich ist auch, daß sie an eine andere hier nicht dargestellte Schaltung angeschlossen ist.
  • 12a zeigt das Schaltbild einer erfindungsgemäßen Verschaltung eines Resonator-Stapels im Serienzweig und eines weiteren Resonator-Stapels im Parallelzweig zwischen den Ports P1 und P2. Der erste Resonator-Stapel besteht aus zwei in Serie geschalteten Resonatoren SR1 und SR2. Der zweite Resonator-Stapel besteht aus zwei in Serie geschalteten Resonatoren PR1 und PR2. Eine bespielhafte Realisierung dieser Schaltung ist in 12b im schematischen Querschnitt dargestellt. Der erste Resonator-Stapel ist wie in 10b aufgebaut. Der zweite Resonator-Stapel besteht von unten nach oben aus einer (z. B. an die Masse angeschlossenen) Elektrode E6, einer piezoelektrischen Schicht PS3, einer mittleren Elektrode E5, die mit der Elektrode E2 des ersten Resonator-Stapels elektrisch verbunden ist, einer piezoelektrischen Schicht PS4 und einer (z. B. an die Masse angeschlossenen) Elektrode E7.
  • Obwohl nicht extra dargestellt, sind auch hier die (unteren) Resonatoren auf einem Trägersubstrat angeordnet, wobei zwischen Trägersubstrat und Resonator jeweils ein Luftspalt oder ein akustischer Spiegel vorgesehen ist.
  • Die Erfindung wurde der Übersichtlichkeit halber nur anhand weniger Ausführungsformen dargestellt, ist aber nicht auf diese beschränkt. Weitere Variationsmöglichkeiten ergeben sich insbesondere im Hinblick auf die möglichen Kombinationen der oben vorgestellten Grundelemente und Anordnungen sowie auf die Anzahl der Schichten in den genannten Schichtbereichen des erfindungsgemäßen Resonators. Die Erfindung ist nicht auf einen bestimmten Frequenzbereich oder einen bestimmten Anwendungsbereich beschränkt. Jede der Schichten des erfindungsgemäßen Resonators (z. B. die piezoelektrische Schicht oder die Elektrode) kann einen Mehrschichtaufbau aufweisen. Der erfindungsgemäße Resonator kann auch mehrere (z. B. nicht aneinander angrenzende) piezoelektrische Schichten oder mehr als nur 2 Elektroden enthalten.
  • Die elektrischen Verbindungen (einschließlich der Masseanbindungen) in den dargestellten Ausführungsbeispielen können diskrete Elemente, z. B. Induktivitäten, Kapazitäten, Verzögerungsleitungen oder Anpaßnetzwerke enthalten.

Claims (14)

  1. Mit akustischen Volumenwellen arbeitender Resonator, mit einer Schichtenfolge, enthaltend: – einen unteren Schichtbereich, der eine erste Elektrode umfaßt, – einen oberen Schichtbereich, der eine zweite Elektrode umfaßt, – eine piezoelektrische Schicht, die zwischen der ersten und zweiten Elektrode angeordnet ist, – wobei parallel oder in Serie zu dem genannten Resonator eine Kapazität geschaltet ist.
  2. Resonator nach Anspruch 1, der auf einem Trägersubstrat angeordnet ist.
  3. Resonator nach Anspruch 1 oder 2, bei dem der obere und untere Schichtbereich jeweils aus einer Schicht oder mehreren Schichten besteht.
  4. Resonator nach zumindest einem der Ansprüche 1 bis 3, bei dem die erste und/oder die zweite Elektrode aus mehreren Schichten besteht, die aus zumindest zwei unterschiedlichen Materialien ausgeführt sind.
  5. Resonator nach zumindest einem der Ansprüche 1 bis 4, bei dem im oberen und/oder im unteren Schichtbereich ein akustischer Spiegel realisiert ist, welcher alternierend. zumindest zwei unterschiedliche Schichten mit unterschiedlicher akustischer Impedanz umfaßt.
  6. Resonator nach Anspruch 5, bei dem eine der Schichten des akustischen Spiegels eine der genannten Elektroden ist.
  7. Resonator nach zumindest einem der Ansprüche 1 bis 6, der über einem im Trägersubstrat vorgesehenen Luftspalt angeordnet ist.
  8. Filter, mit einer Ladder-Type-Anordnung, einer Lattice-Type-Anordnung oder einer Stacked-Crystal-Filter-Anordnung, das zumindest einen Resonator nach zumindest einem der Ansprüche 1 bis 7 in einem Serienzweig und/oder einem Parallelzweig enthält.
  9. Filter nach Anspruch 8, bei dem nur zu den Resonatoren in den Serienzweigen oder nur zu den Resonatoren in den Parallelzweigen des Filters jeweils eine Kapazität parallel oder in Serie geschaltet ist, welche die Kopplung der entsprechenden Resonatoren reduziert.
  10. Duplexer, enthaltend zumindest ein Filter nach Anspruch 8 oder 9.
  11. Elektrische Schaltung, enthaltend: einen Resonator-Stapel, der zumindest zwei übereinander angeordnete mit akustischen Volumenwellen arbeitende Resonatoren umfaßt, und zumindest einen weiteren Resonator oder Resonator-Stapel, wobei die genannten mit akustischen Volumenwellen arbeitenden Resonatoren jeweils eine untere Elektrode, eine obere Elektrode und eine dazwischen angeordnete piezoelektrische Schicht enthalten, wobei die obere Elektrode des unteren mit akustischen Volumenwellen arbeitenden Resonators und die untere Elektrode des oberen mit akustischen Volumenwellen arbeitenden Resonators, die im Resonator-Stapel übereinander angeordnet sind, mit einer der Elektroden des zumindest einen weiteren Resonators oder Resonator-Stapels elektrisch verbunden ist.
  12. Schaltung nach Anspruch 11, bei dem die zweite Elektrode des zumindest einen weiteren Resonators mit Masse verbunden ist.
  13. Schaltung nach Anspruch 11 oder 12, bei der zwischen der oberen Elektrode des unteren mit akustischen Volumenwellen arbeitenden Resonators und der unteren Elektrode des oberen mit akustischen Volumenwellen arbeitenden Resonators, die im Resonator-Stapel angeordnet sind, eine Kopplungsschicht vorgesehen ist.
  14. Schaltung nach einem der Ansprüche 11 bis 13, bei der der zumindest eine weitere Resonator ein mit akustischen Volumenwellen arbeitender Resonator, ein mit akustischen Oberflächenwellen arbeitender Resonator, ein LC-Resonator oder ein Resonator-Stapel, der zumindest zwei übereinander angeordnete mit akustischen Volumenwellen arbeitende Resonatoren umfaßt, ist.
DE10246791.9A 2002-10-08 2002-10-08 Mit akustischen Volumenwellen arbeitender Resonator und Schaltung mit dem Resonator Expired - Fee Related DE10246791B4 (de)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10246791.9A DE10246791B4 (de) 2002-10-08 2002-10-08 Mit akustischen Volumenwellen arbeitender Resonator und Schaltung mit dem Resonator
PCT/EP2003/010431 WO2004034579A1 (de) 2002-10-08 2003-09-18 Mit akustischen volumenwellen arbeitender resonator und schaltung mit dem resonator
JP2004542360A JP2006502634A (ja) 2002-10-08 2003-09-18 バルク音波によって動作する共振器および該共振器を備えた回路
US10/530,507 US7616079B2 (en) 2002-10-08 2003-09-18 Bulk acoustic wave resonator and circuit comprising same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10246791.9A DE10246791B4 (de) 2002-10-08 2002-10-08 Mit akustischen Volumenwellen arbeitender Resonator und Schaltung mit dem Resonator

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE10246791A1 true DE10246791A1 (de) 2004-04-22
DE10246791B4 DE10246791B4 (de) 2017-10-19

Family

ID=32038307

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE10246791.9A Expired - Fee Related DE10246791B4 (de) 2002-10-08 2002-10-08 Mit akustischen Volumenwellen arbeitender Resonator und Schaltung mit dem Resonator

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7616079B2 (de)
JP (1) JP2006502634A (de)
DE (1) DE10246791B4 (de)
WO (1) WO2004034579A1 (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7414494B2 (en) * 2004-10-28 2008-08-19 Tdk Corporation Surface acoustic wave apparatus
US9837214B2 (en) 2012-08-30 2017-12-05 Snaptrack, Inc. Capacitor having an improved linear behavior

Families Citing this family (88)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7275292B2 (en) 2003-03-07 2007-10-02 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Method for fabricating an acoustical resonator on a substrate
DE10319554B4 (de) * 2003-04-30 2018-05-09 Snaptrack, Inc. Mit akustischen Volumenwellen arbeitendes Bauelement mit gekoppelten Resonatoren
US7019605B2 (en) 2003-10-30 2006-03-28 Larson Iii John D Stacked bulk acoustic resonator band-pass filter with controllable pass bandwidth
US6946928B2 (en) 2003-10-30 2005-09-20 Agilent Technologies, Inc. Thin-film acoustically-coupled transformer
EP1528677B1 (de) * 2003-10-30 2006-05-10 Agilent Technologies, Inc. Akustisch gekoppelter Dünnschicht-Transformator mit zwei piezoelektrischen Elementen, welche entgegengesetzte C-Axen Orientierung besitzten
US7358831B2 (en) 2003-10-30 2008-04-15 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Film bulk acoustic resonator (FBAR) devices with simplified packaging
US7400217B2 (en) 2003-10-30 2008-07-15 Avago Technologies Wireless Ip Pte Ltd Decoupled stacked bulk acoustic resonator band-pass filter with controllable pass bandwith
US7242270B2 (en) 2003-10-30 2007-07-10 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Decoupled stacked bulk acoustic resonator-based band-pass filter
DE102004031397A1 (de) * 2004-06-29 2006-01-26 Epcos Ag Duplexer
US7615833B2 (en) 2004-07-13 2009-11-10 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Film bulk acoustic resonator package and method of fabricating same
DE102004035812A1 (de) * 2004-07-23 2006-03-16 Epcos Ag Mit akustischen Volumenwellen arbeitender Resonator
DE102004037820A1 (de) * 2004-08-04 2006-03-16 Epcos Ag Elektrische Schaltung und Bauelement mit der Schaltung
US7388454B2 (en) 2004-10-01 2008-06-17 Avago Technologies Wireless Ip Pte Ltd Acoustic resonator performance enhancement using alternating frame structure
US8981876B2 (en) 2004-11-15 2015-03-17 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Piezoelectric resonator structures and electrical filters having frame elements
US7202560B2 (en) 2004-12-15 2007-04-10 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Wafer bonding of micro-electro mechanical systems to active circuitry
US7791434B2 (en) 2004-12-22 2010-09-07 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic resonator performance enhancement using selective metal etch and having a trench in the piezoelectric
US7427819B2 (en) 2005-03-04 2008-09-23 Avago Wireless Ip Pte Ltd Film-bulk acoustic wave resonator with motion plate and method
US7369013B2 (en) 2005-04-06 2008-05-06 Avago Technologies Wireless Ip Pte Ltd Acoustic resonator performance enhancement using filled recessed region
US7436269B2 (en) 2005-04-18 2008-10-14 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustically coupled resonators and method of making the same
US7934884B2 (en) * 2005-04-27 2011-05-03 Lockhart Industries, Inc. Ring binder cover
JP4618299B2 (ja) * 2005-06-20 2011-01-26 株式会社村田製作所 圧電薄膜フィルタ
US7443269B2 (en) 2005-07-27 2008-10-28 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Method and apparatus for selectively blocking radio frequency (RF) signals in a radio frequency (RF) switching circuit
US7868522B2 (en) 2005-09-09 2011-01-11 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Adjusted frequency temperature coefficient resonator
DE102005044330A1 (de) * 2005-09-16 2007-03-29 Epcos Ag Abstimmbarer Kondensator und Schaltung mit einem solchen Kondensator
US7391286B2 (en) 2005-10-06 2008-06-24 Avago Wireless Ip Pte Ltd Impedance matching and parasitic capacitor resonance of FBAR resonators and coupled filters
US7425787B2 (en) 2005-10-18 2008-09-16 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic galvanic isolator incorporating single insulated decoupled stacked bulk acoustic resonator with acoustically-resonant electrical insulator
US7525398B2 (en) 2005-10-18 2009-04-28 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustically communicating data signals across an electrical isolation barrier
US7675390B2 (en) 2005-10-18 2010-03-09 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic galvanic isolator incorporating single decoupled stacked bulk acoustic resonator
US7737807B2 (en) 2005-10-18 2010-06-15 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic galvanic isolator incorporating series-connected decoupled stacked bulk acoustic resonators
US7423503B2 (en) 2005-10-18 2008-09-09 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic galvanic isolator incorporating film acoustically-coupled transformer
US7463499B2 (en) 2005-10-31 2008-12-09 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte Ltd. AC-DC power converter
US7561009B2 (en) 2005-11-30 2009-07-14 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Film bulk acoustic resonator (FBAR) devices with temperature compensation
US7612636B2 (en) 2006-01-30 2009-11-03 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Impedance transforming bulk acoustic wave baluns
US7746677B2 (en) 2006-03-09 2010-06-29 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. AC-DC converter circuit and power supply
US7479685B2 (en) 2006-03-10 2009-01-20 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Electronic device on substrate with cavity and mitigated parasitic leakage path
US7629865B2 (en) 2006-05-31 2009-12-08 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Piezoelectric resonator structures and electrical filters
DE102006035874B3 (de) * 2006-08-01 2008-02-07 Epcos Ag Mit akustischen Volumenwellen arbeitendes Filter
US7508286B2 (en) 2006-09-28 2009-03-24 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. HBAR oscillator and method of manufacture
JP4463262B2 (ja) * 2006-11-22 2010-05-19 富士通メディアデバイス株式会社 フィルタデバイス
JP4401380B2 (ja) * 2006-11-22 2010-01-20 富士通メディアデバイス株式会社 フィルタデバイス
US7786825B2 (en) * 2007-05-31 2010-08-31 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Bulk acoustic wave device with coupled resonators
JP5072047B2 (ja) 2007-08-23 2012-11-14 太陽誘電株式会社 弾性波フィルタ、それを用いたデュプレクサおよびそのデュプレクサを用いた通信機
US7791435B2 (en) 2007-09-28 2010-09-07 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Single stack coupled resonators having differential output
DE102008003820B4 (de) * 2008-01-10 2013-01-17 Epcos Ag Frontendschaltung
US7732977B2 (en) 2008-04-30 2010-06-08 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Transceiver circuit for film bulk acoustic resonator (FBAR) transducers
US7855618B2 (en) 2008-04-30 2010-12-21 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Bulk acoustic resonator electrical impedance transformers
DE102009011639B4 (de) 2009-03-04 2013-08-29 Epcos Ag Reaktanzfilter mit steiler Flanke und dessen Verwendung als Sendefilter in einem Duplexer
US8902023B2 (en) 2009-06-24 2014-12-02 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic resonator structure having an electrode with a cantilevered portion
US8248185B2 (en) 2009-06-24 2012-08-21 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic resonator structure comprising a bridge
US8339220B2 (en) * 2009-09-16 2012-12-25 Lojack Operating Company, Lp Surface acoustic wave resonator filter
US8193877B2 (en) 2009-11-30 2012-06-05 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Duplexer with negative phase shifting circuit
US8796904B2 (en) 2011-10-31 2014-08-05 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Bulk acoustic resonator comprising piezoelectric layer and inverse piezoelectric layer
US9243316B2 (en) 2010-01-22 2016-01-26 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Method of fabricating piezoelectric material with selected c-axis orientation
JP5643056B2 (ja) 2010-11-01 2014-12-17 太陽誘電株式会社 弾性波デバイス
US8962443B2 (en) 2011-01-31 2015-02-24 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Semiconductor device having an airbridge and method of fabricating the same
US9136818B2 (en) 2011-02-28 2015-09-15 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Stacked acoustic resonator comprising a bridge
US9083302B2 (en) * 2011-02-28 2015-07-14 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Stacked bulk acoustic resonator comprising a bridge and an acoustic reflector along a perimeter of the resonator
US9148117B2 (en) 2011-02-28 2015-09-29 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Coupled resonator filter comprising a bridge and frame elements
US9425764B2 (en) 2012-10-25 2016-08-23 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Accoustic resonator having composite electrodes with integrated lateral features
US9154112B2 (en) 2011-02-28 2015-10-06 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Coupled resonator filter comprising a bridge
US9991871B2 (en) 2011-02-28 2018-06-05 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Bulk acoustic wave resonator comprising a ring
US9203374B2 (en) 2011-02-28 2015-12-01 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Film bulk acoustic resonator comprising a bridge
US9048812B2 (en) 2011-02-28 2015-06-02 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Bulk acoustic wave resonator comprising bridge formed within piezoelectric layer
US9246473B2 (en) 2011-03-29 2016-01-26 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic resonator comprising collar, frame and perimeter distributed bragg reflector
US9490771B2 (en) 2012-10-29 2016-11-08 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic resonator comprising collar and frame
US9401692B2 (en) 2012-10-29 2016-07-26 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic resonator having collar structure
US9490770B2 (en) 2011-03-29 2016-11-08 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic resonator comprising temperature compensating layer and perimeter distributed bragg reflector
US9490418B2 (en) 2011-03-29 2016-11-08 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic resonator comprising collar and acoustic reflector with temperature compensating layer
US9444426B2 (en) 2012-10-25 2016-09-13 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Accoustic resonator having integrated lateral feature and temperature compensation feature
US9590165B2 (en) 2011-03-29 2017-03-07 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic resonator comprising aluminum scandium nitride and temperature compensation feature
US9525397B2 (en) 2011-03-29 2016-12-20 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic resonator comprising acoustic reflector, frame and collar
US8575820B2 (en) 2011-03-29 2013-11-05 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Stacked bulk acoustic resonator
US8872604B2 (en) * 2011-05-05 2014-10-28 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Double film bulk acoustic resonators with electrode layer and piezo-electric layer thicknesses providing improved quality factor
US8350445B1 (en) 2011-06-16 2013-01-08 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Bulk acoustic resonator comprising non-piezoelectric layer and bridge
US8922302B2 (en) 2011-08-24 2014-12-30 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic resonator formed on a pedestal
KR101918279B1 (ko) * 2012-07-30 2018-11-13 삼성전자주식회사 박막 벌크 음향 필터 및 그 제조 방법
KR101928359B1 (ko) 2012-09-11 2018-12-12 삼성전자주식회사 전도성 물질을 이용하여 전기적 손실을 처리하는 공진 장치 및 그 제조 방법
US9385684B2 (en) 2012-10-23 2016-07-05 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic resonator having guard ring
US9793877B2 (en) 2013-12-17 2017-10-17 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Encapsulated bulk acoustic wave (BAW) resonator device
WO2016158953A1 (ja) * 2015-03-30 2016-10-06 株式会社村田製作所 高周波フィルタ、フロントエンド回路、および通信機器
US10305447B2 (en) 2015-11-13 2019-05-28 Resonant Inc. Acoustic wave filter with enhanced rejection
US9608595B1 (en) * 2015-11-13 2017-03-28 Resonant Inc. Acoustic wave filter with enhanced rejection
DE102016125877B4 (de) * 2016-12-29 2018-08-23 Snaptrack, Inc. BAW-Resonator- und Resonator-Anordnung
US11552614B2 (en) 2019-12-03 2023-01-10 Skyworks Solutions, Inc. Laterally excited bulk wave device with acoustic mirrors
US11646715B2 (en) * 2020-06-22 2023-05-09 Shenzhen Sunway Communication Co., Ltd. Filter device, RF front-end device and wireless communication device
US12525948B2 (en) 2021-03-31 2026-01-13 Skyworks Solutions, Inc. Longitudinally leaky surface acoustic wave device with double side acoustic mirror
US20230107728A1 (en) * 2021-10-04 2023-04-06 Skyworks Solutions, Inc. Stacked acoustic wave device assembly
US12531541B2 (en) 2021-10-05 2026-01-20 Skyworks Solutions, Inc. Stacked structure with multiple acoustic wave devices

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US1959429A (en) * 1931-04-01 1934-05-22 Bell Telephone Labor Inc Crystal filter
JPS55127720A (en) 1979-03-27 1980-10-02 Tohoku Metal Ind Ltd Ladder-type ceramic filter
JPH0818392A (ja) 1994-06-28 1996-01-19 Sumitomo Metal Ind Ltd 圧電フィルタ
US5821833A (en) * 1995-12-26 1998-10-13 Tfr Technologies, Inc. Stacked crystal filter device and method of making
US6087198A (en) * 1998-02-12 2000-07-11 Texas Instruments Incorporated Low cost packaging for thin-film resonators and thin-film resonator-based filters
US6081171A (en) 1998-04-08 2000-06-27 Nokia Mobile Phones Limited Monolithic filters utilizing thin film bulk acoustic wave devices and minimum passive components for controlling the shape and width of a passband response
JP3389911B2 (ja) 2000-02-07 2003-03-24 株式会社村田製作所 弾性表面波フィルタ、共用器及び通信機
DE60138188D1 (de) * 2000-04-06 2009-05-14 Nxp Bv Abstimmbare filteranordnung
US6515558B1 (en) * 2000-11-06 2003-02-04 Nokia Mobile Phones Ltd Thin-film bulk acoustic resonator with enhanced power handling capacity
US6496085B2 (en) 2001-01-02 2002-12-17 Nokia Mobile Phones Ltd Solidly mounted multi-resonator bulk acoustic wave filter with a patterned acoustic mirror
JP2002217676A (ja) * 2001-01-17 2002-08-02 Murata Mfg Co Ltd 圧電フィルタ
US6472954B1 (en) * 2001-04-23 2002-10-29 Agilent Technologies, Inc. Controlled effective coupling coefficients for film bulk acoustic resonators
WO2002093763A1 (en) * 2001-05-11 2002-11-21 Ube Electronics, Ltd. Filter using film bulk acoustic resonator and transmission/reception switch
KR100541895B1 (ko) * 2001-09-21 2006-01-16 가부시끼가이샤 도시바 고주파 필터
US7194247B2 (en) * 2001-09-26 2007-03-20 Nokia Corporation Dual-channel passband filtering system using acoustic resonators in lattice topology
DE10149542A1 (de) * 2001-10-08 2003-04-17 Infineon Technologies Ag BAW-Resonator
AU2002351273A1 (en) * 2001-12-06 2003-07-09 University Of Pittsburgh Tunable piezoelectric micro-mechanical resonator
DE20221966U1 (de) * 2002-06-06 2010-02-25 Epcos Ag Mit akustischen Wellen arbeitendes Bauelement mit einem Anpaßnetzwerk

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7414494B2 (en) * 2004-10-28 2008-08-19 Tdk Corporation Surface acoustic wave apparatus
US9837214B2 (en) 2012-08-30 2017-12-05 Snaptrack, Inc. Capacitor having an improved linear behavior

Also Published As

Publication number Publication date
US20060164183A1 (en) 2006-07-27
WO2004034579A1 (de) 2004-04-22
DE10246791B4 (de) 2017-10-19
JP2006502634A (ja) 2006-01-19
US7616079B2 (en) 2009-11-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE10246791B4 (de) Mit akustischen Volumenwellen arbeitender Resonator und Schaltung mit dem Resonator
DE10319554B4 (de) Mit akustischen Volumenwellen arbeitendes Bauelement mit gekoppelten Resonatoren
DE102008045346B4 (de) Duplexer und Verfahren zum Erhöhen der Isolation zwischen zwei Filtern
DE102009011639B4 (de) Reaktanzfilter mit steiler Flanke und dessen Verwendung als Sendefilter in einem Duplexer
DE10317969B4 (de) Duplexer mit erweiterter Funktionalität
EP1196991B1 (de) Saw-filter des reaktanzfiltertyps mit verbesserter sperrbereichsunterdrückung und verfahren zur optimierung der sperrbereichsunterdrückung
DE112011103586B4 (de) Demultiplexer für elastische Wellen
DE112016000452T5 (de) Filtervorrichtung
DE102007007335A1 (de) Dünnschicht-akustische Volumenwellenresonatorstruktur und Filter sowie Hochfrequenzmodul, welches diese verwendet
DE102008052222B4 (de) Antennen Duplexer mit hoher GPS-Unterdrückung
DE10256937A1 (de) Mit akustischen Volumenwellen arbeitendes Bauelement mit unsymmetrisch/symmetrischer Beschaltung
DE10258422A1 (de) Mit akustischen Volumenwellen arbeitendes Bauelement mit gekoppelten Resonatoren
DE102007024895A1 (de) Multiband-Filter
DE102013100286B3 (de) Breitbandiges Filter in Abzweigtechnik
DE102014112676A1 (de) Filter mit verbesserter Linearität
DE10239887A1 (de) LC-Filterschaltung, laminierte LC-Verbundkomponente, Multiplexer und Radiokommunikationsvorrichtung
DE102004037819A1 (de) Elektroakustisches Bauelement mit geringen Verlusten
DE10134987A1 (de) Reaktanzfilter mit verbesserter Flankensteilheit
DE10225201A1 (de) Abstimmbares Filter und Verfahren zur Frequenzabstimmung
DE102014102704A1 (de) Kombinierte Impedanzanpass- und HF-Filterschaltung
DE102019106670B4 (de) HF-Filter mit vergrößerter Bandbreite und Filterkomponente
WO2007031051A1 (de) Elektrisches bauelement für die frontendschaltung eines sendeempfangsgerätes
DE102010005306B4 (de) DMS Filter mit verbesserter Signalunterdrückung
DE102004045179A1 (de) Integriertes Filter
WO2003056699A1 (de) Symmetrisch arbeitendes reaktanzfilter

Legal Events

Date Code Title Description
8110 Request for examination paragraph 44
R081 Change of applicant/patentee

Owner name: SNAPTRACK, INC., SAN DIEGO, US

Free format text: FORMER OWNER: EPCOS AG, 81669 MUENCHEN, DE

R082 Change of representative

Representative=s name: BARDEHLE PAGENBERG PARTNERSCHAFT MBB PATENTANW, DE

R016 Response to examination communication
R018 Grant decision by examination section/examining division
R020 Patent grant now final
R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee