[go: up one dir, main page]

DE102008020776A1 - Sensorvorrichtung zur Erfassung von Änderungen einer dynamischen Grösse und gleichzeitiger Unterdrückung von Erfassungsabweichungen, die durch eine Biegeverformung eines Sensorchips verursacht werden - Google Patents

Sensorvorrichtung zur Erfassung von Änderungen einer dynamischen Grösse und gleichzeitiger Unterdrückung von Erfassungsabweichungen, die durch eine Biegeverformung eines Sensorchips verursacht werden Download PDF

Info

Publication number
DE102008020776A1
DE102008020776A1 DE102008020776A DE102008020776A DE102008020776A1 DE 102008020776 A1 DE102008020776 A1 DE 102008020776A1 DE 102008020776 A DE102008020776 A DE 102008020776A DE 102008020776 A DE102008020776 A DE 102008020776A DE 102008020776 A1 DE102008020776 A1 DE 102008020776A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
sensor
sensor chip
chip
corners
sensor element
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
DE102008020776A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Kariya Katsumata
Masaki Kariya Takashima
Mikio Kariya Sugiki
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Publication of DE102008020776A1 publication Critical patent/DE102008020776A1/de
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C19/00Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
    • G01C19/56Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces
    • G01C19/5719Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces using planar vibrating masses driven in a translation vibration along an axis
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P1/00Details of instruments
    • G01P1/02Housings
    • G01P1/023Housings for acceleration measuring devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P15/0802Details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P15/125Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by capacitive pick-up
    • H10W72/5445
    • H10W72/932
    • H10W90/752
    • H10W90/754

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Pressure Sensors (AREA)
  • Gyroscopes (AREA)

Abstract

Ein miniaturisierter Sensor, wie beispielsweise ein Mikro-Beschleunigungssensor, weist einen Sensorchip mit einem darauf befestigten Sensorelement auf, wobei das Sensorelement derart ausgerichtet ist, dass seine Mittelachsen durch die Ecken des Sensorchips verlaufen. Folglich sind die Ecken des Sensorelements im Wesentlichen getrennt von den Ecken des Sensorchips angeordnet, so dass im Wesentlichen verhindert wird, dass eine die Ecken des Sensorchips verschiebende Biegeverformung eine Verschiebung der Ecken des Sensorelements verursacht. Auf diese Weise kann eine aus solch einer Verschiebung resultierende Erfassungsungenauigkeit verhindert oder reduziert werden.

Description

  • Diese Anmeldung basiert auf der am 25. April 2007 eingereichten japanischen Patentanmeldung Nr. 2007-115595 , auf deren Offenbarung hiermit vollinhaltlich Bezug genommen wird.
  • Die vorliegende Erfindung betrifft eine Sensorvorrichtung, bei der eine Mehrzahl von Erfassungsblöcken jeweils Signale in Übereinstimmung mit einer von außen aufgebrachten dynamischen Größe erzeugt, wobei ein Differenzausgangssignal aus den Signalen der Erfassungsblöcke gewonnen wird, um so durch externe Störeffekte verursachte Abweichungen aufzuheben und nur die benötigten Änderungen der dynamischen Größe zu erfassen.
  • Bei einem Mikrominiatur-Winkelgeschwindigkeitssensor eines elektrostatisch kapazitiven Typs oder einem Mikrominiatur-Beschleunigungssensor eines elektrostatisch kapazitiven Typs (nachstehend als Mikro-Winkelgeschwindigkeitssensor bzw. als Mikro-Beschleunigungssensor bezeichnet), die winzige Änderungen einer elektrostatischen Kapazität erfassen müssen, können große Änderungen bzw. Abweichungen im Nullpunkt eines Ausgangserfassungssignals des Sensors auftreten, wenn Änderungen in der elektrostatischen Kapazität auftreten, die aus Gründen auftreten, die sich von den Änderungen (in) der Beschleunigung oder der Winkelgeschwindigkeit unterscheiden.
  • Solch ein Sensor basiert im Allgemeinen auf einem Sensorchip, auf dessen einen Fläche ein Sensorelement befestigt ist und bei dem Änderungen der Kapazität zwischen Kammelektroden des Sensorelements erfasst werden, um ein Ausgangssignal zu gewinnen. Diese Art von Sensor weist momentan jedoch das Problem einer Biegeverformung des Sensorchips auf. Solch eine Verformung kann durch eine ther mische Verformung und dergleichen eines Gehäuses, welches den Sensorchip enthält, oder einer Platine, auf der solch ein Gehäuse befestigt ist, verursacht werden. Dies stellt dahingehend ein Problem dar, dass solch eine Verformung des Sensorchips eine entsprechende Verformung des auf dem Sensorchip befestigten Sensorelements hervorrufen kann, durch welche die Abstände zwischen den Kammelektroden des Sensorelements oder Überlappungsbereiche zwischen den jeweiligen Kammelektroden verändert werden können. Änderungen dieser Abstände oder Überlappungsbereiche werden erfasst (als elektrische Signale, die aus den Änderungen der elektrostatischen Kapazität resultieren), um Änderungen einer dynamischen Größe, wie beispielsweise einer Beschleunigung, zu erfassen. Folglich wird der Nullpunkt solch einer Erfassung abweichen und sich die Erfassungsgenauigkeit hierdurch bedingt verschlechtern, wenn solch eine Verformung des Sensorchips auf das Sensorelement übertragen wird.
  • Die JP 2006-98168 offenbart einen Sensor mit einem mehrschichtigen Chipaufbau, bei welchem die Effekte einer thermischen Verformung reduziert werden, indem ein Material, wie beispielsweise ein weicher Klebefilm, zwischen den Chips angeordnet wird. Derartige Maßnahmen reichen jedoch nicht aus, um die vorstehend beschriebenen Abweichungen im Nullpunkt zu verhindern.
  • Bei der Elementestruktur eines Mikro-Winkelgeschwindigkeitssensors oder eines Mikro-Beschleunigungssensors ist das Element im Wesentlichen in eine Mehrzahl von Erfassungsblöcken unterteilt (die beispielsweise jeweils ein Paar gegenüberliegender vermaschter Kammelektroden aufweisen). Eine Differenzschaltung gewinnt ein Differenzausgangssignal aus den jeweils erfassten Beträgen der Kapazität, die über die Erfassungsblöcken erhalten werden. Systemfremde Änderungen der elektrostatischen Kapazität, die aus bestimmten Gründen verursacht werden, können hierdurch aufgehoben bzw. entfernt werden, so dass nur die benötigten Änderungen der elektrostatischen Kapazität (d. h. durch Änderungen einer dynamischen Größe, wie beispielsweise eine Beschleunigung oder eine Winkelgeschwindigkeit, bewirkte Änderungen) erfasst werden.
  • Bei einem Mikro-Winkelgeschwindigkeitssensor wird die Differenz zwischen den Ausgangssignalen jeweiliger Differenzschaltungen gewonnen, um so die Änderungen der elektrostatischen Kapazität aufzuheben, die durch einen von außen aufgebrachten Stoß verursacht werden. Bei einem Mikro-Beschleunigungssensor wird die Differenz zwischen den Ausgangssignalen zweier Erfassungsblöcke gewonnen. Abweichungen bei der Fertigung der Schwingungselemente und dergleichen können dazu führen, dass die jeweiligen Sollwerte der elektrostatischen Kapazität dieser Erfassungsblöcke abweichen, oder dass der Nullpunkt im Wesentlichen für jeden der Erfassungsblöcke abweicht. Wenn die Differenz zwischen den jeweiligen Ausgangssignalen dieser zwei Erfassungsblöcke verwendet wird, können die Einflüsse der Sollwert- und Nullpunktabweichungen aufgehoben werden.
  • Solch eine Anordnung ermöglicht es ferner, die Einflüsse bestimmter Arten einer Chipverformung auf die elektrostatische Kapazität in einem Sensorelement, d. h. Arten einer Verformung, wie sie in den 9A und 9B gezeigt ist, aufzuheben. Eine Achse, welche die Mittelpunkte gegenüberliegender Seiten eines Sensorchips oder eines Sensorelements verbindet, wird nachstehend als Mittelachse des Chips oder des Elements bezeichnet. Die Art der in den 9A und 9B gezeigten Verformung kann durch eine thermische Verformung verursacht werden. Bei dem in 9A gezeigten Beispiel weist ein Sensorchip 101 in einer miniaturisierten Sensorvorrichtung, wie beispielsweise einem Mikro-Beschleunigungssensor, ein Sensorelement 102 auf, das auf seiner oberen Fläche befestigt ist, und wird der Sensorchip 101 bezüglich einer seiner Mittelachsen bogenförmig verformt. Bei dem in 9B gezeigten Beispiel liegt die gleiche bogenförmige Verformung um die andere Mittelachse des Sensorchips 101 vor. Änderungen in den Werten der elektrostatischen Kapazität (die vom Sensorelement 102 erhalten werden), die aus dieser Art von Verformung resultieren, können, wie vorstehend beschrieben, durch ein Differenzausgangssignal aufgehoben werden, indem beispielsweise die Differenz zwischen den jeweiligen Ausgangssignalen zweier Differenzblöcke im Sensorelement 102 verwendet wird.
  • Es muss jedoch ebenso die Art der in der 10 gezeigten Verformung berücksichtigt werden, bei der Biegekräfte auf die Ecken des Sensorchips 101 wirken. Dies führt zu einer Biegeverformung des Chips, die durch Kräfte hervorgerufen wird, die auf die diagonal gegenüberliegenden Ecken des Chips wirken. Die Änderungen der elektrostatischen Kapazität, die aus dieser Art von Verformung hervorgehen, können nicht in ausreichendem Maße aufgehoben bzw. entfernt werden, indem einfach ein Differenzausgangssignal gewonnen wird. Folglich tritt eine Nullpunktabweichung auf. Dies stellt dann, wenn ein Mikro-Winkelgeschwindigkeitssensor oder ein Mikro-Beschleunigungssensor genau betrieben werden soll, ein ernst zu nehmendes Problem dar.
  • Es ist folglich Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine miniaturisierte Sensorvorrichtung bereitzustellen, die ein Differenzausgangssignal gewinnt, um die Einflüsse von Störkräften, die einen Sensorchip der Sensorvorrichtung stören, aufzuheben, um so nur diejenigen Änderungen einer dynamischen Größe zu erfassen, die zu erfassen sind. Hierdurch kann im Wesentlichen verhindert werden, dass sich die Nullpunktgenauigkeit bedingt durch solch eine Verformung des Sensorchips, und insbesondere durch eine Verformung, welche die jeweiligen Ecken des Sensorchips verschiebt, verschlechtert.
  • Zum Lösen der obigen Aufgabe wird gemäß einer ersten Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung eine Sensorvorrichtung mit einem auf einem Sensorchip befestigten Sensorelement bereitgestellt, wobei das Sensorelement derart ausgerichtet ist, dass seine jeweiligen Mittelachsen durch die Ecken des Sensorchips verlaufen. Auf diese Weise wird sichergestellt, dass bei einer Biegeverformung des Sensorchips (die beispielsweise durch eine thermische Verformung verursacht wird), die bewirkt, dass die Ecken des Sensorchips verschoben, d. h. bezüglich der Hauptflächen des Chips nach oben oder nach unten gezogen werden, eine gleiche bzw. ähnliche Verformung des Sensorelements durch eine Verschiebung der Ecken des Sensorelements im Wesentlichen verhindert wird. Dies wird dadurch realisiert, dass die Ecken des Sensorelements bei solch einem Aufbau so weit wie möglich von den Ecken des Sensorchips entfernt angeordnet sind.
  • Auf diese Weise kann eine Nullpunktabweichung der Sensorvorrichtung, die durch solch eine Verformung des Sensorelements bedingt durch eine Verschiebung der Ecken des Sensorelements verursacht wird, im Wesentlichen verhindert werden.
  • Das Sensorelement kann rechteckig und der Sensorchip rautenförmig ausgebildet sein. In diesem Fall verlaufen die Mittelachsen des Sensorelements vorzugsweise entlang der jeweiligen diagonalen Symmetrielinien zwischen den gegenüberliegenden Eckpaaren des Sensorchips.
  • Gemäß einer weiteren Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung ist jede der Seitenflächen des Sensorchips derart ausgebildet, dass sie zur unteren Fläche des Chips (d. h. der Fläche des Chips, die mit einer weiteren Komponente, wie beispielsweise einem Schaltungschip, verbunden wird) nach innen geneigt ist, um so die Kontaktfläche zwischen dem Sensorchip und der Komponente, die mit der unteren Fläche zu verbinden ist, zu verringern. Auf diese Weise kann der Abstand zwischen der Mitte der unteren Fläche des Sensorchips und jeder Ecke der Kontaktfläche verkürzt werden. Dies hilft ferner dabei, eine Verformung des Sensorelements durch eine Verschiebung der Ecken des Sensorelements, die durch eine Verformung des Sensorchips verursacht wird, welche die Ecken des Sensorchips verschiebt, zu verhindern. Ferner gelangt eine Bondversiegelung (die beim Bonden des Sensorchips an eine weitere Komponente aufgebracht wird) mit geringerer Wahrscheinlichkeit auf die obere Fläche des Sensorchips.
  • Alternativ kann der Abstand zwischen der Mitte der unteren Fläche des Sensorchips und jeder Ecke der Kontaktfläche verkürzt werden, indem ein unterer Abschnitt von jeder Ecke des Sensorchips entfernt wird (d. h. eine dreieckige Abschrägung gebildet wird, die sich zur unteren Fläche des Sensorchips hin erstreckt). Hierdurch kann die Kontaktfläche zwischen dem Sensorchip und einer mit der unteren Fläche des Sensorchips zu verbindenden Komponente ebenso verringert werden.
  • In beiden Fällen sind die Bondkontaktstellen des Sensorchips dann, wenn die Kontaktfläche auf diese Art verringert wird, vorzugsweise in einem Bereich angeordnet, welcher der Kontaktfläche entspricht.
  • Die obige und weitere Aufgaben, Eigenschaften und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden aus der nachfolgenden detaillierten Beschreibung, die unter Bezugnahme auf die beigefügte Zeichnung gemacht wurde, näher ersichtlich sein. In der Zeichnung zeigt/zeigen:
  • 1 den Aufbau eines Sensorchips gemäß einer ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung, der als MEMS-Winkelgeschwindigkeitssensor realisiert ist;
  • 2 eine Teilschnittansicht des Aufbaus des Winkelgeschwindigkeitssensors 1 der ersten Ausführungsform;
  • 3 einen Schaltplan einer Differenzverstärkerschaltung der ersten Ausführungsform;
  • 4A und 4B eine Seitenansicht bzw. eine Draufsicht der unteren Fläche des Sensorchips der ersten Ausführungsform;
  • 5 ein Sensorelement gemäß einer zweiten Ausführungsform, das als MEMS-Beschleunigungssensor realisiert ist;
  • 6 eine der 5 entsprechende Darstellung zur Veranschaulichung des Effekts einer auf das Sensorelement aufgebrachten Beschleunigung;
  • 7 eine Draufsicht der unteren Fläche eines Sensorchips gemäß einer weiteren Ausführungsform;
  • 8 eine Draufsicht zur Veranschaulichung einer bevorzugten Anordnung von Bondkontaktstellen auf einem gemäß der 7 aufgebauten Sensorchip;
  • 9A und 9B Ansichten zur Veranschaulichung einer Biegeverformung eines Sensorchips bezüglich zweier Mittelachsen des Chips; und
  • 10 eine Ansicht zur Veranschaulichung einer Biegeverformung eines Sensorchips, welche die sich diagonal gegenüberliegenden Ecken des Chips verschiebt.
  • Erste Ausführungsform
  • Nachstehend wird ein Mikro-Winkelgeschwindigkeitssensor (nachstehend der Einfachheit halber als Winkelgeschwindigkeitssensor bezeichnet) gemäß einer Aus führungsform der vorliegenden Erfindung unter Bezugnahme auf die 1 bis 4 beschrieben. 2 zeigt eine Schrägansicht des Sensors, bei der Teile eines Gehäuses und eines Substrats des Sensors entfernt sind, um den Innenaufbau zu veranschaulichen. Der Winkelgeschwindigkeitssensor 1 weist einen Sensorchip 2, der als MEMS-(Micro Electric Mechanical Systems)-Chip realisiert ist, einen Schaltungschip 3, der auf der Unterseite des Sensorchips 2 befestigt ist, und ein Keramikgehäuse 4 auf, in welchem der Sensorchip 2 und der Schaltungschip 3 untergebracht sind. Der Sensorchip 2, der Schaltungschip 3 und das Keramikgehäuse 4 sind jeweils anhaftend aneinander befestigt.
  • Der Sensorchip 2 weist, wie in 1 gezeigt, feste und bewegliche Elektroden auf, die jeweils kammförmig ausgebildet sind. Bei dieser Ausführungsform ist die zu erfassende dynamische Größe eine Winkelgeschwindigkeit, die als Änderung der elektrostatischen Kapazität zwischen den festen und den beweglichen Elektroden erfasst wird. Der Sensorchip 2 weist beispielsweise eine Fläche von annähernd 20 mm2 auf.
  • Der Schaltungschip 3 dient zur Verarbeitung der vom Sensorchip 2 übertragenen Signale. Der Sensorchip 2 und der Schaltungschip 3 sind über Bonddrähte 5a elektrisch miteinander verbunden, im Innenraum eines Keramikgehäuses 4 angeordnet und durch eine Abdeckung 6 versiegelt. Eine Innenseite des Keramikgehäuses 4 weist einen Satz von verbindenden Leitungsanschlüssen (nachstehend als Leitungsanschlüsse bezeichnet) 4a auf, über die Signale vom Schaltungschip 3 nach außerhalb geben werden können. Die Leitungsanschlüsse 4a und der Schaltungschip 3 sind über Bonddrähte 5b elektrisch miteinander verbunden.
  • 1 zeigt eine Draufsicht zur Veranschaulichung des Aufbaus des Sensorchips 2. Auf dem Sensorchip 2 ist, wie in 1 gezeigt, ein Sensorelement 7 angeordnet, um Änderungen der nachstehend noch beschriebenen elektrostatischen Kapazität zu erfassen. Das Sensorelement 7 wird mit Hilfe eines Mikrobearbeitungsverfahrens auf einem Halbleitersubstrat gebildet.
  • Das Sensorelement 7 ist aus einem ersten und einem zweiten Erfassungsblock 8 und 9, die jeweils auf der linken Seite in der 1 gezeigt sind, und einem dritten und einem vierten Erfassungsblock 10 und 11, die jeweils auf der rechten Seite in der 1 gezeigt sind, aufgebaut. Der erste und der zweite Erfassungsblock 8 und 9 sind bezüglich von einer der Mittelachsen des Sensorelements 7 (d. h., wie in 1 gezeigt, bezüglich der horizontalen Mittelachse des Sensorelements 7) symmetrisch gegenüberliegend angeordnet. Gleichermaßen sind der dritte und der vierte Erfassungsblock 10 und 11 bezüglich der genannten horizontalen Mittelachse des Sensorelements 7 symmetrisch gegenüberliegend angeordnet. Ferner ist das Paar von Erfassungsblöcken 8 und 9 dem Paar von Erfassungsblöcken 10 und 11 bezüglich der anderen Mittelachse des Sensorelements 7 (d. h., wie in 1 gezeigt, bezüglich der vertikalen Mittelachse des Sensorelements 7) symmetrisch gegenüberliegend angeordnet.
  • Ein Paar von Abschnitten CS1, CS3 zur Erfassung einer elektrostatischen Kapazität, die entgegengesetzte Polaritäten annehmen, wenn sie angesteuert werden, ist auf der linken bzw. der rechten Seite des Sensorblocks 8 (gemäß der 1) angeordnet. Gleichermaßen ist ein Paar von Abschnitten CS2, CS4 zur Erfassung einer elektrostatischen Kapazität, die entgegengesetzte Polaritäten annehmen, wenn sie angesteuert werden, auf der linken bzw. der rechten Seite des Sensorblocks 9 (gemäß der 1) angeordnet. Ferner ist ein Paar von Abschnitten CS5, CS7 zur Erfassung einer elektrostatischen Kapazität, die entgegengesetzte Polaritäten annehmen, wenn sie angesteuert werden, auf der linken bzw. der rechten Seite des Sensorblocks 10 (gemäß der 1) angeordnet. Ferner ist ein Paar von Abschnitten CS6, CS8 zur Erfassung einer elektrostatischen Kapazität, die entgegengesetzte Polaritäten annehmen, wenn sie angesteuert werden, auf der linken bzw. der rechten Seite des Sensorblocks 11 (gemäß der 1) angeordnet.
  • In der Mitte der Erfassungsblöcke 8, 9, 10 und 11 ist jeweils ein entsprechender elektrostatischer Ansteuerabschnitt 8a, 9a, 10a bzw. 11a angeordnet, um die Abschnitte CS1 bis CS8 zur Erfassung einer elektrostatischen Kapazität anzusteuern. Die elektrostatischen Ansteuerabschnitte 8a, 9a, 10a und 11a steuern den ersten und den zweiten Erfassungsblock 8 und 9 und den dritten und den vierten Erfassungsblock 10 und 11, wie in 1 gezeigt, in lateraler Richtung an, wobei das Paar von Erfassungsblöcken 8 und 9 mit entgegengesetzter Polarität zu den Erfassungsblöcken 10 und 11 angesteuert wird.
  • Der Sensorchip 2 ist rautenförmig ausgebildet, wobei seine Symmetrieachsen, wie in 1 gezeigt, jeweils entlang der Mittelachsen des Sensorelements 7 verlaufen. D. h., jede Linie, die gegenüberliegende Ecken des Sensorchips 2 verbindet, verläuft entlang einer Mittelachse des Sensorelements 7 bzw. fällt mit einer Mittelachse des Sensorelements 7 zusammen. Durch solch einen Aufbau können die Ecken 7a des Sensorelements 7 beabstandet von den Ecken 2a des Sensorchips 2 angeordnet werden.
  • In dem Schaltungschip 3 ist eine Differenzverstärkerschaltung mit dem in der 3 gezeigten Schaltungsaufbau gebildet. Betrachtet man die Abschnitte zur Erfassung einer elektrostatischen Kapazität des ersten bis vierten Erfassungsblocks 8 bis 11 des Sensorelements 7, so sind die Abschnitte CS1 und CS5 zur Erfassung einer elektrostatischen Kapazität parallel zum invertierenden Eingangsanschluss eines ersten Operationsverstärkers 13 geschaltet, die Abschnitte CS2 und CS6 zur Erfassung einer elektrostatischen Kapazität parallel zum nicht invertierenden Eingangsanschluss des ersten Operationsverstärkers 13 geschaltet, die Abschnitte CS3 und CS7 zur Erfassung einer elektrostatischen Kapazität parallel zum invertierenden Eingangsanschluss eines zweiten Operationsverstärkers 14 geschaltet und die Abschnitte CS4 und CS8 zur Erfassung einer elektrostatischen Kapazität parallel zum nicht invertierenden Eingangsanschluss des zweiten Operationsverstärkers 14 geschaltet.
  • Der Ausgangsanschluss des ersten Operationsverstärkers 13 ist über einen Widerstand 16 mit dem invertierenden Eingangsanschluss eines dritten Operationsverstärkers 15 verbunden, und der Ausgangsanschluss des zweiten Operationsverstärkers 14 ist über einen Widerstand 17 mit dem nicht invertierenden Eingangsanschluss des dritten Operationsverstärkers 15 verbunden.
  • Der dritte Operationsverstärker 15 gibt an seinem Ausgangsanschluss ein verstärktes Signal aus, wobei dieser Ausgangsanschluss über einen Widerstand 18 mit dem invertierenden Eingangsanschluss dieses Operationsverstärkers verbunden ist.
  • Der Grund dafür, die Schaltung 12 mit dem in der 3 gezeigten Schaltungsaufbau zu verwenden, liegt darin, sicherzustellen, dass Änderungen der elektrostati schen Kapazität, die aus externen Störeffekten, wie beispielsweise Stößen, hervorgehen, keine entsprechenden Änderungen im Ausgangssignal verursachen, und ferner Abweichungen der elektrostatischen Kapazität von den Konstruktionswerten und größere Nullpunktabweichungen zu verhindern.
  • Bei diesem Schaltungsaufbau werden die Abschnitte CS1 bis CS8 zur Erfassung einer elektrostatischen Kapazität in horizontaler Richtung (gemäß der 1) von den elektrostatischen Ansteuerabschnitten 8a bis 11a angesteuert und wirken dann, wenn der Sensorchip einer Winkelbeschleunigung um eine vertikal zur Papierebene (der 1) als Mittelachse verlaufenden Linie unterliegt, in einer Aufwärts- und Abwärtsrichtung (gemäß der 1) wirkende Kräfte auf die Abschnitte CS1 bis CS8 zur Erfassung einer elektrostatischen Kapazität. Folglich kann die Winkelgeschwindigkeit des Sensors auf der Grundlage des Differenzausgangssignals der Differenzverstärkerschaltung 12 mit dem in der 3 gezeigten Schaltungsaufbau gewonnen werden.
  • Die untere Fläche 2b des Sensorchips 2, die mit dem Schaltungschip 3 verbunden ist, ist, wie in den 4A und 4B gezeigt, mit schrägen Seitenflächen ausgebildet. Auf diese Weise ist an jeder der Ecken 2a des Sensorchips 2 ein unterer Teil der Ecke entfernt worden, d. h., die Spitze der Ecke ist derart entfernt, dass sie den Schaltungschip 3 nicht mehr berührt.
  • Wenn eine thermische Verformung des Gehäuses oder der Platine (auf welcher das Gehäuse befestigt ist) auf den Sensorchip 2 übertragen wird, kann dies zu einer Biegeverformung des Sensorchips 2 führen. In diesem Fall kann, wie in den 9A und 9B gezeigt, ein Biegen (Krümmen) des Sensorelements 7 um eine Mittelachse auftreten, das zu Nullpunktabweichungen führt. Diese Art von Abweichung kann durch den Betrieb der Differenzverstärkerschaltung 12 aufgehoben werden. Es kann jedoch eine Verformung des Sensorelements 7 auftreten, bei der ein Paar gegenüberliegender Ecken 7a, wie in 10 gezeigt, nach oben (oder nach unten) gezogen wird. Eine aus dieser Art von Verformung des Sensorelements 7 resultierende Nullpunktabweichung kann durch den Betrieb der Differenzverstärkerschaltung 12 nicht aufgehoben werden.
  • Folglich wird bei der vorliegenden Erfindung ein Aufbau angewandt, bei dem jede der Ecken 7a des Sensorelements 7 im Wesentlichen entfernt bzw. beabstandet von den Ecken 2a des Sensorchips 2 angeordnet ist. Folglich kann selbst dann, wenn die Ecken 2a des Sensorchips 2 durch Verformungskräfte verschoben werden, eine resultierende Verformung des Sensorelements 7 durch eine Verschiebung eines Paares zweier diagonal gegenüberliegenden Ecken 7a des Sensorelements 7 (d. h. eine Verschiebung, durch die ein Paar zweier diagonal gegenüberliegenden Ecken 7a bezüglich der Papierebene (gemäß der 1) nach oben oder nach unten gezogen wird) verhindert oder im Wesentlichen unterdrückt werden.
  • Da das Sensorelement 7 derart ausgerichtet ist, dass jede seiner Mittelachsen entlang einer Linie verläuft, die ein Paar zweier diagonal gegenüberliegenden Ecken des Sensorchips 2 verbindet, ist bei dieser Ausführungsform jede der Ecken 7a des Sensorelements 7 im Wesentlichen getrennt von den Ecken 2a des Sensorchips 2 angeordnet. Die vorliegende Ausführungsform ist dem Stand der Technik folglich dahingehend überlegen, das die Ecken 7a des Sensorelements 7 nicht leicht durch eine Verschiebung der Ecken des Sensorchips 2, die durch auf den Sensorchip 2 wirkende Biegekräfte verursacht wird, verschoben werden. Folglich können aus solch einer Verformung des Sensorchips 2 resultierende Nullpunktabweichungen im Wesentlichen verhindert werden.
  • Dieser Vorteil wird jedoch einfach dadurch erzielt, dass die Ausrichtung des Sensorelements 7 bezüglich des Sensorchips 2 geändert wird, und kann somit ohne eine Erhöhung der Fertigungskosten erreicht werden.
  • Ferner können bedingt durch die Tatsache, dass Abschnitte der Ecken 2a des Sensorchips 2, die benachbart zur unteren Fläche 2b des Sensorchips 2 angeordnet sind (d. h. benachbart zur Fläche des Sensorchips 2, die an einer oberen Fläche des Schaltungschips 3 befestigt wird), entfernt werden (siehe 4A, 4B), die Einflüsse der Biegekräfte, die vom Schaltungschip 3 auf die Ecken 2a des Sensorchips 2 aufgebracht werden, verringert werden. D. h., es kann bedingt durch die Tatsache, dass der Abstand von der Mitte des Sensorchips 2 zu den Positionen von jeder der Ecken 2a (d. h. den Positionen, an denen diese Ecken die untere Fläche 2b des Sensorchips 2 erreichen) verkürzt wird, ein Betrag der Verschiebung der diagonal gegenü berliegenden Ecken 2a des Sensorchips 2 aufgrund derartiger auf den Schaltungschip 3 wirkenden Kräfte im Wesentlichen verringert werden.
  • Zweite Ausführungsform
  • Nachstehend wird ein miniaturisierter MEMS-Beschleunigungssensor gemäß einer zweiten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung unter Bezugnahme auf die 5 und 6 beschrieben. 5 zeigt den Aufbau des Sensorelements dieser Ausführungsform. Ein Sensorelement 21 ist, wie in 5 gezeigt, aus einer kammförmigen beweglichen Elektrode 22 mit sich in seitlicher Richtung erstreckenden Zahnabschnitten aufgebaut. Das Sensorelement 21 wird derart getragen, dass es in vertikaler Richtung (gemäß 5) beweglich ist. Eine erste feste Elektrode 23 ist derart angeordnet, dass ihre Zahnabschnitte jeweils den Zahnabschnitten gegenüberliegen, die sich auf einer Seite der beweglichen Elektrode 22 erstrecken, während eine zweite feste Elektrode 24 derart angeordnet ist, dass ihre Zahnabschnitte jeweils den Zahnabschnitten gegenüberliegen, die sich auf der anderen Seite der beweglichen Elektrode 22 erstrecken.
  • Zwischen der beweglichen Elektrode 22 und der ersten festen Elektrode 23 und zwischen der beweglichen Elektrode 22 und der zweiten festen Elektrode 24 bilden sich elektrostatische Kapazitäten C1 bzw. C2. Eine Differenzschaltung 25 erzeugt ein Differenzausgangssignal aus den Spannungen über den elektrostatischen Kapazitäten C1 und C2. Folglich kann ein Anzeichen für die Beschleunigung des Sensorelements 21 auf der Grundlage des Differenzausgangssignals der Differenzschaltung 25, basierend auf den Änderungen +ΔC und –ΔC der elektrostatischen Kapazitäten C1 und C2, erhalten werden. Diese Änderungen werden, wie in 6 gezeigt, durch eine Verschiebung der Zahnabschnitte der beweglichen Elektroden bedingt durch die Beschleunigung bewirkt.
  • Bei dieser Ausführungsform ist das Sensorelement 21 mit der gleichen Ausrichtung, wie vorstehend bezüglich des Sensorblocks 8 der ersten Ausführungsform beschrieben, auf einem Sensorchip 2 angeordnet, d. h. verlaufen die Mittelachsen des Sensorelements 21 entlang von Linien, die symmetrisch gegenüberliegende Ecken des Sensorchips 2 verbinden. Auf diese Weise können die Ecken 21a des Sensor elements 21 im Wesentlichen beabstandet von den Ecken des Sensorchips 2 angeordnet werden, wodurch die obigen Vorteile der ersten Ausführungsform erzielt werden, indem das Ausmaß, mit dem eine Biegeverformung des Sensorchips 2 Biegekräfte auf die Ecken des Sensorelements 21 aufbringen kann, verringert wird. Folglich kann eine Nullpunktabweichung bei einem Mikro-Beschleunigungssensor dieser Ausführungsform, wie bei dem Mikro-Winkelgeschwindigkeitssensor der ersten Ausführungsform, im Wesentlichen verhindert werden.
  • Weitere Ausführungsformen
  • Bei der in den 4A und 4B gezeigten ersten Ausführungsform wird eine Entfernung eines unteren Teils jedes Eckabschnitts des Sensorchips 2 erzielt, indem die Eckabschnitte (die sich jeweils zwischen einem Paar von Ecken erstrecken) der unteren Fläche 2b des Sensorchips 2 entfernt werden. Das gleiche Ergebnis kann jedoch erzielt werden, indem ein sich von der unteren Fläche 2b des Sensorchips 2 erstreckender Dreiecksabschnitt an jeder der Ecken 2a des Sensorchips 2 entfernt wird. Dies ist in der 7 gezeigt, bei welcher die untere Fläche 2b des Sensorchips 2 als Draufsicht gezeigt ist. Jeder der an den Ecken 2a des Sensorchips 2 in der 7 gezeigten Dreiecksbereiche 2d sollte derart verstanden werden, das er eine Abschrägung darstellt, die von der Papierebene (gemäß der 7) in Richtung einer entsprechenden Ecke 2a an der oberen Fläche des Sensorchips 2 nach unten geneigt ist.
  • Bei solch einem Aufbau sind die Bondkontaktstellen 2c des Sensorchips 2 (zur elektrischen Verbindung des Sensorchips 2 mit dem Schaltungschip 3), wie in 8 gezeigt, vorzugsweise an Positionen angeordnet, welche dem Bereich der unteren Fläche 2b entsprechen (d. h. an Positionen angeordnet, die direkt oberhalb des Bereichs der unteren Fläche 2b liegen), der mit dem Schaltungschip 3 verbunden wird. Hierdurch kann die Gefahr, dass eine Bondversiegelung bzw. Bonddichtungsmaterial bei einem Drahtbonden auf den Sensorchip 2 fließt, verringert werden.
  • Weitere Ausgestaltungen
  • Sowohl der Sensorchip 2 als auch der Schaltungschip 3 können rechteckig oder in einer anderen Form ausgebildet sein.
  • Die vorliegende Erfindung ist ferner nicht darauf beschränkt, auf einen Mikro-Beschleunigungssensor oder einen Mikro-Winkelgeschwindigkeitssensor mit den kammförmigen Elektroden angewandt zu werden, sondern kann auf einen beliebigen miniaturisierten Sensor angewandt werden, bei dem Abweichungen einer erfassten dynamischen Größe, die durch systemfremde auf ein Sensorelement wirkende Störkräfte verursacht werden, aufzuheben sind.
  • Vorstehend wurde eine Sensorvorrichtung zur Erfassung von Änderungen einer dynamischen Größe und gleichzeitiger Unterdrückung von Erfassungsabweichungen, die durch eine Biegeverformung eines Sensorchips verursacht werden, offenbart.
  • Ein miniaturisierter Sensor, wie beispielsweise ein Mikro-Beschleunigungssensor, weist einen Sensorchip mit einem darauf befestigten Sensorelement auf, wobei das Sensorelement derart ausgerichtet ist, dass seine Mittelachsen durch die Ecken des Sensorchips verlaufen. Folglich sind die Ecken des Sensorelements im Wesentlichen getrennt von den Ecken des Sensorchips angeordnet, so dass im Wesentlichen verhindert wird, dass eine die Ecken des Sensorchips verschiebende Biegeverformung eine Verschiebung der Ecken des Sensorelements verursacht. Auf diese Weise kann eine aus solch einer Verschiebung resultierende Erfassungsungenauigkeit verhindert oder reduziert werden.
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
  • Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
  • Zitierte Patentliteratur
    • - JP 2007-115595 [0001]
    • - JP 2006-98168 [0005]

Claims (6)

  1. Sensorvorrichtung mit: – einem Sensorchip; – einem Sensorelement, das auf dem Sensorchip befestigt ist und eine Mehrzahl von Erfassungsblöcken aufweist, um jeweilige Erfassungssignale in Übereinstimmung mit einer von außen aufgebrachten dynamischen Größe zu erzeugen; und – einer Differenzausgangsschaltung, die verbunden ist, um die von den Erfassungsblöcken erzeugten Erfassungssignale zu empfangen, um so ein die dynamische Größe beschreibendes Differenzausgangssignal zu gewinnen, während sie Störkomponenten der Erfassungssignale entfernt, wobei die Störkomponenten aus auf das Sensorelement wirkenden Störkräften resultieren, wobei – das Sensorelement derart angeordnet ist, dass jede seiner jeweiligen Mittelachsen durch wenigstens eine Ecke des Sensorchips verläuft.
  2. Sensorvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass – das Sensorelement rechteckig ausgebildet ist; – der Sensorchip rautenförmig ausgebildet ist; und – die Mittelachsen des Sensorelements durch die jeweiligen Paare der diagonal gegenüberliegenden Ecken des Sensorchips verlaufen.
  3. Sensorvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass – das Sensorelement auf einer oberen Fläche des Sensorchips angeordnet ist; und – jede der jeweiligen Seitenflächen des Sensorchips wenigstens einen Abschnitt aufweist, der derart ausgebildet ist, dass er sich zu einer unteren Fläche des Sensorchips hin nach innen neigt, um so eine Kontaktfläche zwischen der unteren Fläche und einer Komponente, die mit dem Sensorchip an der unteren Fläche zu verbinden ist, zu verringern.
  4. Sensorvorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass – der Sensorchip eine Mehrzahl von Bondkontaktstellen aufweist; und – jede der Bondkontaktstellen in einem Bereich angeordnet ist, welcher der Kontaktfläche entspricht.
  5. Sensorvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass – das Sensorelement auf einer oberen Fläche des Sensorchips angeordnet ist; und – jede der jeweiligen Ecken des Sensorchips derart ausgebildet ist, dass ein unterer Abschnitt der Ecken entfernt ist, um so eine Kontaktfläche zwischen einer unteren Fläche des Sensorchips und einer Komponente, die an der unteren Fläche mit dem Sensorchip verbunden ist, zu verringern.
  6. Sensorvorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass – der Sensorchip eine Mehrzahl von Bondkontaktstellen aufweist; und – jede der Bondkontaktstellen in einem Bereich angeordnet ist, welcher der Kontaktfläche entspricht.
DE102008020776A 2007-04-25 2008-04-25 Sensorvorrichtung zur Erfassung von Änderungen einer dynamischen Grösse und gleichzeitiger Unterdrückung von Erfassungsabweichungen, die durch eine Biegeverformung eines Sensorchips verursacht werden Ceased DE102008020776A1 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007115595A JP2008275325A (ja) 2007-04-25 2007-04-25 センサ装置
JP2007-115595 2007-04-25

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE102008020776A1 true DE102008020776A1 (de) 2008-10-30

Family

ID=39777807

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102008020776A Ceased DE102008020776A1 (de) 2007-04-25 2008-04-25 Sensorvorrichtung zur Erfassung von Änderungen einer dynamischen Grösse und gleichzeitiger Unterdrückung von Erfassungsabweichungen, die durch eine Biegeverformung eines Sensorchips verursacht werden

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8013403B2 (de)
JP (1) JP2008275325A (de)
DE (1) DE102008020776A1 (de)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012005062A1 (ja) * 2010-07-06 2012-01-12 日立オートモーティブシステムズ株式会社 慣性センサ
CN102612279A (zh) * 2011-01-19 2012-07-25 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 服务器机柜
JP2012225851A (ja) * 2011-04-21 2012-11-15 Denso Corp 静電容量式センサ、及び、その製造方法
ITCO20120008A1 (it) * 2012-03-01 2013-09-02 Nuovo Pignone Srl Metodo e sistema per monitorare la condizione di un gruppo di impianti
KR102062738B1 (ko) 2013-02-25 2020-01-06 삼성전자주식회사 반도체 패키지
JP6848197B2 (ja) * 2016-03-31 2021-03-24 船井電機株式会社 光走査装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006098168A (ja) 2004-09-29 2006-04-13 Denso Corp 角速度センサ装置
JP2007115595A (ja) 2005-10-21 2007-05-10 Tls:Kk 照明装置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4320934B2 (ja) 2000-07-26 2009-08-26 株式会社デンソー 半導体角速度センサ
AU2003254005A1 (en) * 2002-07-19 2004-02-09 Analog Devices, Inc. Reducing offset in accelerometers
US7166911B2 (en) * 2002-09-04 2007-01-23 Analog Devices, Inc. Packaged microchip with premolded-type package
US20040041254A1 (en) * 2002-09-04 2004-03-04 Lewis Long Packaged microchip
JP4129738B2 (ja) * 2003-03-20 2008-08-06 株式会社デンソー 容量式力学量センサ
JP2007263740A (ja) * 2006-03-28 2007-10-11 Matsushita Electric Works Ltd 静電容量式センサ

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006098168A (ja) 2004-09-29 2006-04-13 Denso Corp 角速度センサ装置
JP2007115595A (ja) 2005-10-21 2007-05-10 Tls:Kk 照明装置

Also Published As

Publication number Publication date
US8013403B2 (en) 2011-09-06
JP2008275325A (ja) 2008-11-13
US20100025783A1 (en) 2010-02-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102007044204B4 (de) Sensor einer dynamischen Grösse
DE10255690B4 (de) Halbleitersensor für eine dynamische Größe
DE102012208032B4 (de) Hybrid integriertes Bauteil mit MEMS-Bauelement und ASIC-Bauelement
DE69206770T2 (de) Dreiachsiger Beschleunigungsmesser
DE102008020776A1 (de) Sensorvorrichtung zur Erfassung von Änderungen einer dynamischen Grösse und gleichzeitiger Unterdrückung von Erfassungsabweichungen, die durch eine Biegeverformung eines Sensorchips verursacht werden
DE4446890A1 (de) Kapazitiver Beschleunigungssensor und Verfahren zu dessen Herstellung
DE102008040855A1 (de) Dreiachsiger Beschleunigungssensor
DE102004042761B4 (de) Sensoranordnung eines Kapazitätstyps für eine dynamische Grösse
DE102005043906B4 (de) Sensor vom kapazitiven Typ für eine physikalische Größe, der einen Sensorchip und einen Schaltkreischip aufweist
DE4406867A1 (de) Beschleunigungsaufnehmer
DE102018009244B4 (de) Krafterfassungsstruktur mit Wegerfassung und Kraftsensor mit Wegerfassung
DE102009026462A1 (de) Beschleunigungssensor
DE112009003522T5 (de) Beschleunigungssensor
DE112016000355T5 (de) Sensor
DE102012200929A1 (de) Mikromechanische Struktur und Verfahren zur Herstellung einer mikromechanischen Struktur
DE102017103120A1 (de) Drucksensorchip und Drucksensor
DE112013002514T5 (de) Sensorvorrichtung
DE102004014708A1 (de) Halbleitersensor für eine dynamische Grösse
DE112015005981B4 (de) Zusammengesetzter sensor
DE102006025373B4 (de) Elektrostatischer Kapazitätsbeschleunigungssensor
DE102005005554A1 (de) Verfahren zur Überprüfung eines Halbleitersensors für eine dynamische Grösse
DE102005006156A1 (de) Sensor für eine physikalische Größe, welcher einen Sensorchip und einen Schaltungschip aufweist
DE102009029040A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung einer Vorrichtung
DE102014115803A1 (de) MEMS-Sensor, insbesondere Differenzdrucksensor
DE69610006T2 (de) Schwingkreisel

Legal Events

Date Code Title Description
R012 Request for examination validly filed

Effective date: 20130430

R002 Refusal decision in examination/registration proceedings
R003 Refusal decision now final