DE102006009159A1 - Verfahren zum Herstellen eines Verbundsubstrates sowie Verbundsubstrat - Google Patents
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Abstract
Description
- Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren gemäß Oberbegriff Patentanspruch 1 sowie auf ein Verbundsubstrat gemäß Oberbegriff Patentanspruch 29.
- Bekannt ist es, die zum Herstellen von Leiterbahnen, Anschlüssen usw. benötigte Metallisierung auf einer Keramik, z.B. auf einer Aluminium-Oxid-Keramik mit Hilfe des sogenannten „DCB-Verfahrens" (Direct-Copper-Bond-Technology) herzustellen, und zwar unter Verwendung von die Metallisierung bildenden Metall- bzw. Kupferfolien oder Metall- bzw. Kupferblechen, die an ihren Oberflächenseiten eine Schicht oder einen Überzug (Aufschmelzschicht) aus einer chemischen Verbindung aus dem Metall und einem reaktiven Gas, bevorzugt Sauerstoff aufweisen. Bei diesem beispielsweise in der US-PS 37 44 120 oder in der DE-PS 23 19 854 beschriebenen Verfahren bildet diese Schicht oder dieser Überzug (Aufschmelzschicht) ein Eutektikum mit einer Schmelztemperatur unter der Schmelztemperatur des Metalls (z.B. Kupfers), so daß durch Auflegen der Folie auf die Keramik und durch Erhitzen sämtlicher Schichten diese miteinander verbunden werden können, und zwar durch Aufschmelzen des Metalls bzw. Kupfers im wesentlichen nur im Bereich der Aufschmelzschicht bzw. Oxidschicht.
- Dieses DCB-Verfahren weist dann z.B. folgende Verfahrensschritte auf:
- – Oxidieren einer Kupferfolie derart, daß sich eine gleichmäßige Kupferoxidschicht ergibt;
- – Auflegen des Kupferfolie auf die Keramikschicht;
- – Erhitzen des Verbundes auf eine Prozeßtemperatur zwischen etwa 1025 bis 1083°C, z.B. auf ca. 1071°C;
- – Abkühlen auf Raumtemperatur.
- Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren aufzuzeigen, mit dem in besonders preiswerter Form Verbundsubstrate speziell auch in einer industriellen Fertigung hergestellt werden können.
- Zur Lösung dieser Aufgabe ist ein Verfahren entsprechend dem Patentanspruch 1 ausgebildet. Ein Verbundsubstrat ist Gegenstand des Patentanspruches 29.
- Eine Besonderheit des erfindungsgemäßen Verbundsubstrates besteht u.a. darin, dass die Verbindung zwischen dem Träger, der beispielsweise plattenförmiger ein massiver metallischer oder mehrschichtiger Träger oder ein Kühler ist, und dem wenigstens einem Metall-Keramik-Substrat, welches vorzugsweise ein DCB-Substrat ist, über eine Sinterverbindung bzw. eine Sinterschicht realisiert ist. Hierdurch ergibt sich eine besonders hohe Wärmeleitfähigkeit zwischen dem Metall-Keramik-Substrat und dem Träger, so dass durch Verlustleistung erzeugte Wärme von Bauteilen in optimaler Weise z.B. von dem Metall-Keramik-Substrat an den an einem Kühler befestigten oder als Kühler ausgebildeten Träger übertragen werden kann.
- Weiterbildungen der Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche. Die Erfindung wird im Folgenden anhand der Figuren an Ausführungsbeispielen näher erläutert. Es zeigen:
-
1 in vereinfachter Darstellung ein Verbundsubstrat gemäß der Erfindung; -
2 in sehr vereinfachter Darstellung eine Vorrichtung zum Herstellen des Verbundsubstrates; -
3 die Elemente eines Verbundsubstrats gemäß der Erfindung mit gewölbtem Träger vor der Herstellung sowie das Verbundsubstrat nach der Herstellung; -
4 –9 weitere Ausführungsformen der Erfindung. - Das in der
1 allgemein mit1 bezeichnete Verbundsubstrat besteht im Wesentlichen aus einem plattenförmigen metallischen Träger2 und aus einem an einer Oberflächenseite dieses Trägers vorgesehenen Metall-Keramik-Substrat3 , mit einer Keramikschicht3.1 , die jeweils beidseitig mit einer Metallisierung3.2 versehen ist. - Das Metall-Keramik-Substrat
3 ist als DCB-Substrat ausgebildet, d. h. die beiden Metallisierungen3.2 , die aus Kupfer oder einer Kupferlegierung bestehen und von Folien aus Kupfer oder einer Kupferlegierung gebildet sind, sind mit Hilfe des DCB- Verfahrens flächig mit der jeweiligen Oberflächenseite der Keramikschicht1 verbunden. Eine der beiden Kupferschichten, nämlich die in der1 untere Kupferschicht ist mit ihrer der Keramikschicht3.1 abgewandten Oberflächenseite flächig mit einer Oberflächenseite des plattenförmigen Trägers2 verbunden, und zwar über eine Sinterverbindung oder Sinterschicht4 . - Für die Keramikschicht
3.1 eignet sich beispielsweise eine Aluminiumoxid-Keramik (Al2O3), auch eine Aluminiumoxid-Keramik mit Zusätzen an Zirkonoxid (Al2O3 + ZrO2), eine Aluminiumnitrid-Keramik (AIN) oder eine Siliziumnitrid-Keramik (Si2N4). Die Dicke der Keramikschicht3.1 liegt im Bereich zwischen 0,2 und 1,2 mm. Die Dicke der Metallisierungen3.2 liegt im Bereich zwischen 0,1 und 1,0 mm. - Für den metallischen Träger
2 eignen sich unterschiedlichste Materialien, beispielsweise Kupfer, Aluminium oder Kupfer-Aluminium-Verbindungen. Die Dicke des metallischen Trägers2 liegt in der Größenordnung zwischen 1 – 6 mm. - Für die Sinterschicht
4 eignen sich unterschiedlichste metallische Sintermaterialien, beispielsweise Silber (Ag), Legierungen, die Kupfer und Silber sowie gegebenenfalls noch weitere metallische Bestandteile, z. B. Zinn enthalten. Die Sinterschicht4 ist so ausgebildet, dass der Schmelzpunkt dieser Schicht über 350°C liegt. Die Dicke der Sinterschicht beträgt 10 – 200 μm. - Bei der in der
1 dargestellten Ausführungsform weist das Verbundsubstrat1 eine Formgebung auf, bei der der metallische Träger2 an seinen Oberflächenseiten eben ausgebildet ist. Die Abmessungen des metallischen Trägers2 sind etwas größer als die Abmessungen des Metall-Keramik-Substrats3 , so dass der beispielsweise quadratische oder rechteckförmige Träger2 an wenigstens zwei einander gegenüberliegenden Verbundsubstratseiten über die entsprechenden Seiten des ebenfalls z. B. quadratischen oder rechteckförmigen Metall-Keramik-Substrats3 vorstehen. - Die Herstellung des Verbundsubstrates
1 erfolgt beispielsweise in der Form, dass zunächst das Metall-Keramik-Substrat3 vorgefertigt wird. Zum Verbinden des vorgefertigten Metall-Keramik-Substrates3 mit dem Träger2 wird dann auf die eine Oberflächenseite dieses Trägers und/oder auf die mit dem Träger zu verbindende Oberflächenseite des Metall-Keramik-Substrates3 eine Pulverschicht aus dem die Sinterschicht bildenden Material beispielsweise in Form einer Dispersion oder Nanodispersion aufgebracht. Im Anschluß daran wird das Metall-Keramik-Substrat3 auf den Träger2 aufgelegt und dann die verbindende Sinterschicht4 durch Erhitzen auf Sintertemperatur und unter Druck (Sinterdruck) erzeugt, beispielsweise bei einer Sintertemperatur zwischen 100 und 400°C und bei einem Sinterdruck zwischen 10 und 500 bar. Anschließend erfolgt ein Abkühlen des Verbundsubstrates1 und der das Metall-Keramik-Substrat3 mit dem Träger2 verbindenden Sinterschicht4 , und zwar drucklos oder aber weiterhin unter Druck, beispielsweise bei Sinterdruck von 10 – 500 bar. - Die
2 zeigt schematisch eine für die Herstellung der Sinterverbindung geeignete Vorrichtung5 . Diese besteht aus einem unteren Gegenlager oder Werkstückträger6 und aus einem Druckstempel7 , mit dem der Sinterdruck auf die zwischen diesem Stempel und der Werkstückauflage6 positionierte Anordnung bestehend aus dem Träger2 , dem Metall-Keramik-Substrat3 und der Schicht aus dem Sintermaterial aufgebracht wird, und zwar unter Hitzeeinwirkung bei der Sintertemperatur. - Durch die Sinterschicht
4 ist in einfacher Weise eine Verbindung zwischen dem Metall-Keramik-Substrat3 und dem metallischen Träger2 realisierbar. Ein besonderer Vorteil besteht aber darin, dass die Sinterschicht4 eine thermische Leitfähigkeit aufweist, die wesentlich größer ist als die thermische Leitfähigkeit einer Schicht aus einem Lot-Material, sodass hierdurch die thermische Leitfähigkeit des Verbundsubstrats1 insgesamt, d. h. der Wärmeübergang von der dem Träger2 entfernt liegenden Metallisierung3.2 an den Träger2 im Vergleich zu einem solchen Verbundsubstrat, bei dem das Metall-Keramik-Substrat mit dem metallischen Träger über eine Lotschicht verbunden wäre, wesentlich verbessert ist. - Abweichend von dem vorbeschriebenen Verfahren kann die Sinterverbindung auch so erfolgen, dass zunächst bei auf dem Träger
2 aufliegendem Metall-Keramik-Substrat3 mit der dazwischen angeordneten Schicht aus der das pulverförmige Sintermaterial enthaltenden Dispersion (nanodisperse Pulverschicht) ein Vorsintern ohne Druck erfolgt, bis sich aus dem Sintermaterial eine Schicht mit geschlossenen Poren ausgebildet hat, und dass dann beispielsweise durch einen isostatischen Gasdruck im Bereich zwischen 10 – 1000 bar und bei einer Temperatur zwischen 200 und 400°C die verbindende Sinterschicht4 erzeugt wird. Als Gas für den isostatischen Gasdruck eignet sich beispielsweise Stickstoff oder ein Stickstoff/Wasserstoff-Gemisch, welches 40% Wasserstoff enthält, oder Argon bzw. ein Argon/Wasserstoff-Gemisch, welches 50% Wasserstoff enthält. - Die
3 zeigt in der Position b ein Verbundsubstrat1a , welches sich von dem Verbundsubstrat1 im Wesentlichen dadurch unterscheidet, dass der metallische Träger2a an seinen Oberflächenseiten um wenigstens eine Achse oder aber um wenigstens zwei senkrecht zueinander verlaufende Achsen gewölbt ist, und zwar derart, dass diese Wölbung an der dem Metall-Keramik-Substrat3 abgewandten Unterseite konvex ist. Die Herstellung des Verbundsubstrates1a erfolgt analog zu der vorstehend beschriebenen Herstellung des Verbundsubstrates1 , und zwar derart, dass zunächst das ebene Metall-Keramik-Substrat3 sowie auch der gewölbte Träger2 vorgefertigt werden. Die Wölbung des Trägers2 erfolgt dabei beispielsweise unter Druck in der Form oder durch Prägen derart, dass der Abstand x, den zwei gegenüber liegende Ränder des gewölbten Trägers2a an der Unterseite dieses Trägers jeweils von einer gedachten Ebene E aufweisen, die die Unterseite des Trägeres2a in der Mitte nach Art einer Tangente berührt, in etwa 0,8 – 3% des Abstandes der beiden einander gegenüberliegenden Umfangsseiten bzw. der Breite B des Trägers2a ist. - Auf die konkav gewölbte Oberseite des Trägers
2a werden das Sintermaterial in Pulverform, beispielsweise als Nanodispersion und das Metall-Keramik-Substrat3 aufgebracht. Anschließend wird die Sinterverbindung bei der Sintertemperatur unter Sinterdruck erzeugt, wobei durch den Sinterdruck auch das Metall-Keramik-Substrat der Form des metallischen Trägers2a entsprechend gewölbt wird, so dass das Metall- Keramik-Substrat3 schließlich in dieser gewölbten Form über die Sinterschicht4 mit dem gewölbten Träger2a verbunden ist. - Die Sinterverbindung wird beispielsweise wiederum unter Verwendung einer Vorrichtung entsprechend der Vorrichtung
5 realisiert, wobei die Werkstückaufnahme6 und der Stempel7 der Wölbung des Verbundsubstrates1a entsprechend eine konkav gewölbte Werkstückanlagefläche bzw. eine konvex gewölbte Stempelfläche aufweisen. - Grundsätzlich besteht bei dieser Ausführungsform auch die Möglichkeit, ein gezielt gewölbtes Metall-Keramik-Substrat einzusetzen, welches dann die gleiche oder eine ähnliche Wölbungsrichtung wie der gewölbte Träger aufweist, und zwar beispielsweise mit der gleichen oder einer ähnlichen Wölbung wie dieser Träger, d.h. das in diesem Fall verwendete Metall-Keramik-Substrat wäre dann an seiner dem Träger
2a zugewandten Unterseite konvex gewölbt. -
4 zeigt als weitere mögliche Ausführungsform der Erfindung ein Modul8 mit dem Verbundsubstrat1 , mit einem auf der Oberseite des Metall-Keramik-Substrats3 vorgesehenen elektrischen Bauelement9 z.B. in Form eines Chips. Das Metall-Keramik-Substrat3 ist auch bei dieser Ausführungsform beispielsweise wiederum ein Kupfer-Keramik-Substrat mit der Keramikschicht3.1 und den beiden die Metallisierungen3.2 bildenden Kupferschichten. Das Metall-Keramik-Substrat3 ist über die Sinterschicht4 mit dem metallischen Träger2 flächig verbunden. Das elektrische Bauelement9 ist über eine weitere Sinterschicht10 mit der Oberseite des Metall-Keramik-Substrats bzw. mit der dortigen Metall- oder Kupferschicht3.2 verbunden. Für die weitere Sinterschicht10 ist ebenfalls ein geeignetes Sintermaterial verwendet, beispielsweise Silber, Kupfer oder eine Kupfer und Silber sowie gegebenenfalls einen weiteren Bestandteil, z. B. Zinn enthaltende Legierung. - Das Aufbringen des die Sinterschicht
10 bildenden Sintermaterials erfolgt beispielsweise wiederum als Pulver, z. B. in einer dieses Pulver enthaltenden Dispersion, z. B. Nano-Dispersion. Die beiden Sinterschichten4 und10 werden dann beispielsweise im selben Verfahrensschritt erzeugt. - Das Bauelement
9 ist z. B. eine Leuchtdiode, eine Laserdiode oder aber ein anderes elektronisches Bauteil beispielsweise in Form eines SiC-Chips oder eines Si-Chips. - Das Modul
8 hat u. a. den Vorteil einer besonders preiswerten Herstellbarkeit sowie insbesondere auch den Vorteil, dass die Sinterschicht10 , mit der das Bauteil9 an der vorzugsweise strukturierte Metallisierung3.2 an der Oberseite des Metall-Keramik-Substrats3 gehalten ist, wiederum im Vergleich zu einer Schicht aus einem Lot eine wesentlich verbesserte Wärmeleitfähigkeit aufweist, sodass insgesamt eine verbesserte Kühlung des Bauelementes9 erreicht ist. - Obwohl in der
4 nur ein einziges Bauelement9 dargestellt ist, kann das Modul8 eine Vielzahl solcher Bauelemente aufweisen, beispielsweise zur Realisierung eines Moduls8 in Form einer komplexeren elektrischen Baugruppe oder aber eines Licht aussendenden Moduls mit einer Vielzahl von Leuchtdioden usw. - Die
5 zeigt als weitere Ausführungsform ein Verbundsubstrat1b , welches sich von dem Verbundsubstrat1 im Wesentlichen dadurch unterscheidet, dass anstelle eines massiven, plattenförmigen metallischen Trägers2 ein Träger2b in Form eines Kühlers11 vorgesehen ist, der an einer Oberflächenseite über die Sinterschicht4 mit dem darüber liegenden Metall-Keramik-Substrat3 flächig verbunden ist. Zumindest an der dem Metall-Keramik-Substrat benachbarten Seite besteht der Kühler11 aus einem metallischen Material, beispielsweise aus Kupfer. Bevorzugt ist der Kühler11 mehrschichtig aus mehreren flächig miteinander verbundenen Schichten aus metallischem Material, beispielsweise aus Kupfer hergestellt, wobei diese Schichten beispielsweise durch Direct-Bonding (z. B. durch DCB-Bonding) flächig miteinander verbunden und mit Ausnahme der äußeren Schichten derart strukturiert sind, dass innerhalb des Kühlers ein sich dreidimensional vielfach verzweigender Kanal für das den Kühler11 durchströmende Kühlmedium ausgebildet ist. - Zum Zuführen und Abführen des flüssigen Kühlmediums weist der Kühler
11 wenigstens einen Einlass12 und einen Auslass13 auf. Diese Einlässe sind beispielsweise im Bereich des Umfangs, z. B. an zwei einander gegenüberliegenden Umfangsseiten des Kühlers11 , oder aber, wie mit12a bzw.13a angedeutet an der dem Metall-Keramik-Substrat3 abgewandten Unterseite des Kühlers11 vorgesehen. -
6 zeigt ein unter Verwendung des Verbundsubstrates1b aufgebautes Modul14 . Ähnlich wie bei dem Modul8 ist auch bei dem Modul14 auf der dem Träger2b bzw. dem Kühler11 abgewandten Seite des Metall-Keramik-Substrats3 wenigstens ein Bauelement9 vorgesehen, welches wiederum durch die Sinterschicht10 mit diesem Metall-Keramik-Substrat3 bzw. mit dessen, vorzugsweise strukturierten Metallisierung3.2 verbunden ist. - Die
7 zeigt in einer Explosionsdarstellung die Schichtfolge des Verbundsubstrates1c entsprechend einer weiteren Ausführungsform der Erfindung. Dieses Verbundsubstrat besteht wiederum aus dem Träger, beispielsweise aus dem massiven metallischen Träger2 und dem über die Sinterschicht4 mit dem Träger verbundenen Metall-Keramik-Substrat3 . Dieses ist aber an seinen außen liegenden Oberflächenseiten bzw. an den außen liegenden Oberflächenseiten der Metallisierungen3.2 zusätzlich mit einer weiteren Metallschicht bzw. Zwischenschicht15 versehen, beispielsweise mit einer Nickelschicht, die beispielsweise eine Dicke im Bereich zwischen 1 – 12 μm aufweist und die der Verbesserung der Verbindung über die Sinterschicht4 und aber auch zur Verbesserung der jeweiligen Verbindung zwischen der Oberseite des Metall-Keramik-Substrats3 bzw. der dortigen Metallisierung3.2 mit den Bauelementen beispielsweise durch Löten oder wiederum durch Sintern unter Verwendung einer Sinterschicht10 dient. - Die
8 zeigt in vergrößerter Darstellung die Schichtfolge im Bereich der Sinterverbindung zwischen dem metallischen, beispielsweise wiederum aus Kupfer und/oder Aluminium bestehenden Träger2 und der diesem Träger benachbarten Metallisierung3.2 , beispielsweise Kupferschicht des auf dem Träger2 befestigten Metall-Keramik-Substrats3 . Wie in der8 dargestellt ist sowohl an der Oberfläche des Trägers2 als auch an der Oberfläche der Kupferschicht3.2 jeweils eine Zwischenschicht15 aus Nickel aufgebracht. Auf jeder Zwischenschicht15 befindet sich weiterhin eine Zwischenschicht16 aus Gold, an die sich dann die das Metall-Keramik-Substrat3 mit dem Träger2 verbindende Sinterschicht4 anschließt. Die Dicke der Zwischenschichten15 aus Nickel liegt wiederum im Bereich zwischen 1 – 12 μm. Die Dicke der Zwischenschichten16 aus Gold liegt im Bereich zwischen 0,01 – 1,5 μm. - Die
9 zeigt für ein Verbundsubstrat1e den Übergang zwischen der Metallisierung3.2 des Metall-Keramik-Substrats3 und dem Träger2 , der wiederum aus Kupfer und/oder Aluminium besteht. Das Verbundsubstrat1e unterscheidet sich von dem Verbundsubstrat1d dadurch, dass zwischen jeder Zwischenschicht16 aus Gold und der Sinterschicht4 zusätzlich noch eine Zwischenschicht17 aus Silber vorgesehen ist, deren Dicke im Bereich zwischen 0,5 – 1 μm liegt. - Die Zwischenschichten
15 ,16 und17 sind bei den Ausführungsformen der7 –9 beispielsweise jeweils elektrolytisch und/oder durch chemisches Abscheiden erzeugt. Weiterhin besteht die Möglichkeit, bei den Verbundsubstraten1c –1e die Art und Anzahl der Zwischenschichten15 –17 auch anders auszuführen, beispielsweise bei dem Verbundsubstrat1e auf eine oder aber auf beide Zwischenschichten16 aus Gold zu verzichten usw. - Die Sinterschichten
4 bzw.10 sind bei den Verbundsubstraten1a –1e bzw. bei den entsprechenden Modulen8 und14 beispielsweise so ausgeführt, wie dies im Zusammenhang mit dem Verbundsubstrat1 beschrieben wurde. - Bei den Verbundsubstraten
1a –1e bzw. bei den entsprechenden Modulen8 und10 weist auch das Metall-Keramik-Substrat3 jeweils den Aufbau auf, wie er im Zusammenhang mit dem Verbundsubstrat1 beschrieben wurde, und besteht aus den im Zusammenhang mit der1 beschriebenen Materialien. - Die Erfindung wurde an mehreren Ausführungsbeispielen erläutert. Es versteht sich, dass zahlreiche Änderungen sowie Abwandlungen möglich sind, ohne das dadurch der der Erfindung zugrunde liegende Erfindungsgedanke verlassen wird. So ist es beispielsweise möglich, bei den Verbundsubstraten
1c –1e ebenfalls den gewölbten Träger2a oder den Träger2b in Form des Kühlers11 zu verwenden. -
- 1, 1a – 1e
- Verbundsubstrat
- 2, 2a, 2b
- Träger
- 3
- Metall-Keramik-Substrat bzw. Kupfer-Keramik-Substrat
- 3.1
- Keramik
- 3.2
- Metall oder Kupferschicht
- 4
- Sinterschicht
- 5
- Vorrichtung
- 6
- Werkstückträger
- 7
- Stempel
- 8
- Modul
- 9
- elektronisches Bauteil
- 10
- Sinterschicht
- 11
- Kühler
- 12, 12a
- Einlass
- 13, 13a
- Auslass
- 14
- Modul
- 15
- Zwischenschicht aus Nickel
- 16
- Zwischenschicht aus Gold
- 17
- Zwischenschicht aus Silber
- B
- Breite
- x
- Abstand
Claims (44)
- Verfahren zum Herstellen eines Verbundsubstrats mit einem Träger (
2 ,2a ,2b ), der zumindest an wenigstens einer Oberflächenseite aus einem metallischen Material, beispielsweise aus Kupfer- und/oder Aluminium besteht, sowie mit wenigstens einem an der Oberflächenseite des Trägers (2 ,2a ,2b ) vorgesehenen Metall-Keramik-Substrat (3 ) mit einer an beiden Oberflächenseiten mit jeweils einer Metallisierung (3.2 ) versehenen Keramikschicht (3 ), dadurch gekennzeichnet, dass das wenigstens eine Metall-Keramik-Substrat (3 ) durch Sintern und unter Verwendung eines metallischen Sintermaterials mit der Oberflächenseite des Trägers (2 ,2a ,2b ) verbunden wird. - Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Sintern bei einer Sintertemperatur im Bereich zwischen 100 und 400°C erfolgt.
- Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Sintern bei einer Sintertemperatur im Bereich zwischen 200 und 400°C erfolgt.
- Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Sintern bei einem Sinterdruck größer 10 bar erfolgt.
- Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Sintern bei einem Sinterdruck im Bereich zwischen 10 und 500 bar erfolgt.
- Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Sintern in einer ersten Phase zunächst drucklos bei Sintertemperatur, beispielsweise bei einer Sintertemperatur im Bereich zwischen 200 und 400°C, und dann in einer zweiten Phase bei einem erhöhten Sinterdruck im Bereich zwischen 10 und 1000 bar erfolgt.
- Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass der erhöhte Sinterdruck durch einen isostatischen Gasdruck beispielsweise in einer hauptsächlich Stickstoff und/oder Argon enthaltenden Atmosphäre erfolgt.
- Verfahren nach Anspruch 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet, dass der erhöhte Sinterdruck durch einen isostatischen Gasdruck beispielsweise in einer hauptsächlich Wasserstoff oder Argon und Wasserstoff enthaltenden Atmosphäre erfolgt.
- Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das wenigstens eine Metall-Keramik-Substrat (
3 ) ein unter Verwendung des Direct-Bondens hergestelltes Substrat ist. - Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Metallisierungen (
3.2 ) des wenigstens einen Metall-Keramik-Substrats (3 ) aus Kupfer oder einer Kupferlegierung bestehen. - Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Dicke der Metallisierungen (
3.2 ) im Bereich zwischen 0,1 – 1,0 mm liegt. - Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Keramik des wenigstens einen Metall-Keramik-Substrats (
3 ) eine Aluminiumoxid-Keramik, beispielsweise mit Zusätzen an Zirkonoxid, oder eine Aluminiumnitrid-Keramik oder eine Siliziumnitrid-Keramik ist. - Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Keramikschicht (
3.1 ) des wenigstens einen Metall-Keramik-Substrats (3 ) eine Dicke im Bereich zwischen 0,2 und 1,2 mm aufweist. - Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Träger (
2 ,2a ) eine Dicke im Bereich zwischen 1 – 6 mm aufweist. - Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch die Verwendung eines metallischen Sintermaterials mit einem Schmelzpunk > 350°C.
- Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das metallische Sintermaterial derart aufgebracht wird, dass die Sinterschicht (
4 ,10 ) eine Dicke im Bereich zwischen 10 – 200 μm aufweist. - Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass nach dem Sintervorgang ein druckloses Abkühlen des Verbundsubstrates (
1 ,1a –1e ) oder ein Abkühlen des Verbundsubstrates (1 ,1a –1e ) unter Druck erfolgt. - Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch die Verwendung eines plattenförmigen massiven metallischen Trägers (
2 ). - Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch die Verwendung eines vorgewölbten plattenförmigen Trägers (
2a ). - Verfahren nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, dass das zunächst ebene oder im Wesentlichen ebene Metall-Keramik-Substrat über die Sinterverbindung mit dem vorgewölbten plattenförmigen Träger (
2a ) derart verbunden wird, dass das Metall-Keramik-Substrat (3 ) nach dem Verbinden eine der Wölbung des Trägers (2a ) entsprechende Wölbung aufweist. - Verfahren nach Anspruch 20, dadurch gekennzeichnet, dass das wenigstens eine Metall-Keramik-Substrat (
3 ) in ebener Form auf die gewölbte, mit dem Sintermaterial versehene Fläche des Trägers (2a ) aufgelegt und während des Sintervorgangs unter Verformen mit dem vorgewölbten Träger (2a ) verbunden wird. - Verfahren nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, dass das wenigstens eine Metall-Keramik-Substrat (
3 ) in vorgewölbter Form über die Sinterverbindung mit der mit dem vorgewölbten Träger verbunden wird. - Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch einen als Kühler (
11 ) ausgebildeten Träger (2b ). - Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass wenigstens ein elektrisches Bauelement (
8 ) auf die dem Träger (2 ,2a ,2b ) abgewandte Oberflächenseite des wenigstens einen Metall-Keramik-Substrats (3 ) bzw. auf eine dortige, vorzugsweise strukturierte Metallisierung (3.2 ) aufgebracht wird, und zwar durch Sintern unter Verwendung des metallischen Sintermateriales. - Verfahren nach Anspruch 24, dadurch gekennzeichnet, dass das Verbinden des wenigstens einen Bauteils (
9 ) mit dem wenigstens einen Metall-Keramik-Substrat (3 ) und das Verbinden dieses Substrats mit dem Träger (2 ,2a ,2b ) in einem gemeinsamen Sinterprozess erfolgen. - Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Metallisierungen (
3.2 ) des wenigstens einen Metall-Keramik-Substrats (3 ) von Metallfolien gebildet sind. - Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass auf wenigstens eine der über die jeweilige Sinterschicht (
4 ,10 ) zu verbindenden Oberflächenseiten zumindest eine Zwischenschicht (15 ,16 ,17 ) aus einem metallischen Material, beispielsweise aus Nickel, Gold oder Silber aufgebracht wird. - Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass auf wenigstens eine der über die Sinterschicht (
4 ,10 ) zu verbindenden Oberflächenseiten wenigstens zwei Zwischenschichten aus einem metallischen Material, beispielsweise aus Nickel, Gold oder Silber aufgebracht werden. - Verbundsubstrat mit einem Träger (
2 ,2a ,2b ), der zumindest an wenigstens einer Oberflächenseite aus einem metallischen Material, beispielsweise aus Kupfer- und/oder Aluminium besteht, sowie mit wenigstens einem an der Oberflächenseite des Trägers (2 ,2a ,2b ) vorgesehenen Metall-Keramik-Substrat (3 ) mit einer an beiden Oberflächenseiten mit jeweils einer Metallisierung (3.2 ) versehenen Keramikschicht (3 ), dadurch gekennzeichnet, dass das wenigstens eine Metall-Keramik-Substrat (3 ) über wenigstens eine Sinterschicht (4 ) aus einem metallischen Sintermaterial mit der Oberflächenseite des Trägers (2 ,2a ,2b ) verbunden ist. - Verbundsubstrat nach Anspruch 29, dadurch gekennzeichnet, dass das wenigstens eine Metall-Keramik-Substrat (
3 ) ein unter Verwendung des Direct-Bondens hergestelltes Substrat ist. - Verbundsubstrat nach Anspruch 29 oder 30, dadurch gekennzeichnet, dass die Metallisierungen (
3.2 ) des wenigstens einen Metall-Keramik-Substrats (3 ) aus Kupfer oder einer Kupferlegierung bestehen. - Verbundsubstrat nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Dicke der Metallisierungen (
3.2 ) im Bereich zwischen 0,1 – 1,0 mm liegt. - Verbundsubstrat nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Keramik des wenigstens einen Metall-Keramik-Substrats (
3 ) eine Aluminiumoxid-Keramik, beispielsweise mit Zusätzen an Zirkonoxid, oder eine Aluminiumnitrid-Keramik oder eine Siliziumnitrid-Keramik ist. - Verbundsubstrat nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Keramikschicht (
3.1 ) des wenigstens einen Metall-Keramik-Substrats (3 ) eine Dicke im Bereich zwischen 0,2 und 1,2 mm aufweist. - Verbundsubstrat nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Träger (
2 ,2a ) eine Dicke im Bereich zwischen 1 – 6 mm aufweist. - Verbundsubstrat nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das metallische Sintermaterial einem Schmelzpunk größer 350°C aufweist.
- Verbundsubstrat nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das metallische Sintermaterial derart aufgebracht wird, dass die Sinterschicht (
4 ,10 ) eine Dicke im Bereich zwischen 10 – 200 μm aufweist. - Verbundsubstrat nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch einen plattenförmigen massiven metallischen Träger (
2 ). - Verbundsubstrat nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch einen vorgewölbten plattenförmigen Träger.
- Verbundsubstrat nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch einen als Kühler (
11 ) ausgebildeten Träger (2b ). - Verbundsubstrat nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass wenigstens ein elektrisches Bauelement (
8 ) auf die dem Träger (2 ,2a ,2b ) abgewandte Oberflächenseite des wenigstens einen Metall-Keramik-Substrats (3 ) bzw. auf eine dortige, vorzugsweise strukturierte Metallisierung (3.2 ) durch Sintern unter Verwendung des metallischen Sintermateriales aufgebracht ist. - Verbundsubstrat nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Metallisierungen (
3.2 ) des wenigstens einen Metall-Keramik-Substrats (3 ) von Metallfolien gebildet sind. - Verbundsubstrat nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass auf wenigstens eine der über die jeweilige Sinterschicht (
4 ,10 ) zu verbindenden Oberflächenseiten zumindest eine Zwischenschicht (15 ,16 ,17 ) aus einem metallischen Material, beispielsweise aus Nickel, Gold oder Silber aufgebracht ist. - Verbundsubstrat nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass auf wenigstens eine der über die Sinterschicht (
4 ,10 ) zu verbindenden Oberflächenseiten wenigstens zwei Zwischenschichten aus einem metallischen Material, beispielsweise aus Nickel, Gold oder Silber aufgebracht sind.
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Cited By (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102008005748A1 (de) * | 2008-01-24 | 2009-07-30 | Bayerische Motoren Werke Aktiengesellschaft | Leistungselektronikmodul |
| WO2009100698A3 (de) * | 2008-02-15 | 2009-12-10 | Danfoss Silicon Power Gmbh | Verfahren zum niedertemperatur-drucksintern einer wärmesenkenplatte an das substrat einer elektronischen baugruppe |
| WO2010072667A1 (de) * | 2008-12-23 | 2010-07-01 | Robert Bosch Gmbh | Elektrisches oder elektronisches verbundbauteil sowie verfahren zum herstellen eines elektrischen oder elektronischen verbundbauteils |
| WO2010072555A1 (de) * | 2008-12-23 | 2010-07-01 | Robert Bosch Gmbh | Elektrisches oder elektronisches verbundbauteil sowie verfahren zum herstellen eines elektrischen oder elektronischen verbundbauteils |
| DE102009024371A1 (de) * | 2009-06-09 | 2010-12-16 | Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg | Verfahren zur Herstellung einer Stromrichteranordnung mit Kühleinrichtung und Stromrichteranordnung |
| DE102010029178A1 (de) * | 2010-05-20 | 2011-11-24 | Behr Gmbh & Co. Kg | Elektronikkühler und Verfahren zum Herstellen eines Elektronikkühlers |
| DE102011089194A1 (de) | 2011-12-20 | 2013-06-20 | BAM Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung | Verfahren zur Fertigung eines kompakten Bauteils sowie mit dem Verfahren herstellbares Bauteil |
| EP2147739A3 (de) * | 2008-07-26 | 2013-12-04 | Semikron Elektronik GmbH & Co. KG Patentabteilung | Edelmetall basiertes Verbindungsmittel in Folienform mit einem Feststoffanteil und einem Flüssiganteil, sowie Herstellungs- und Verwendungsverfahren hierzu |
| WO2019052924A1 (de) * | 2017-09-12 | 2019-03-21 | Rogers Germany Gmbh | Adapterelement zum anbinden eines bauelements wie einer laserdiode an einen kühlkörper, ein system aus einer laserdiode, einem kühlkörper und einem adapterelement und verfahren zur herstellung eines adapterelements |
| DE102019204683A1 (de) * | 2019-04-02 | 2020-10-08 | Volkswagen Aktiengesellschaft | Verfahren und Vorrichtung zum stoffschlüssigen Verbinden mindestens eines Halbleitermoduls mit mindestens einem Gehäuseteil eines Kühlmoduls |
| WO2020259957A1 (de) * | 2019-06-24 | 2020-12-30 | Siemens Aktiengesellschaft | Befestigung von leistungshalbleiterbauelementen auf gekrümmten oberflächen |
| DE102019217386A1 (de) * | 2019-11-11 | 2021-05-12 | Mahle International Gmbh | Verfahren zum Herstellen einer Elektronikanordnung und die Elektronikanordnung |
| DE102020202845A1 (de) | 2020-03-05 | 2021-09-09 | Volkswagen Aktiengesellschaft | Verfahren zur Herstellung eines elektrischen Moduls |
| EP2752104B1 (de) * | 2011-09-02 | 2022-05-04 | Wieland Microcool, LLC | Anordnung mit einer verbesserten grundplatte aus verbundmetall |
| DE102021002196A1 (de) | 2021-04-26 | 2022-10-27 | Mercedes-Benz Group AG | Vefahren zum Herstelllen eines Lötverbindungsteils, insbesondere für ein Kraftfahrzeug, sowie Lötverbindungsteil |
| DE102023202634A1 (de) * | 2023-03-23 | 2024-09-26 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Verfahren zur Herstellung eines Leitungsmoduls mit angesintertem Kühlkörper |
-
2006
- 2006-02-28 DE DE102006009159A patent/DE102006009159A1/de not_active Ceased
Cited By (31)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102008005748A1 (de) * | 2008-01-24 | 2009-07-30 | Bayerische Motoren Werke Aktiengesellschaft | Leistungselektronikmodul |
| WO2009100698A3 (de) * | 2008-02-15 | 2009-12-10 | Danfoss Silicon Power Gmbh | Verfahren zum niedertemperatur-drucksintern einer wärmesenkenplatte an das substrat einer elektronischen baugruppe |
| CN101952960B (zh) * | 2008-02-15 | 2012-07-11 | 丹福斯矽电有限责任公司 | 低温加压烧结的方法 |
| US8118211B2 (en) | 2008-02-15 | 2012-02-21 | Danfoss Silicon Power Gmbh | Method for the low-temperature pressure sintering of electronic units to heat sinks |
| EP2147739A3 (de) * | 2008-07-26 | 2013-12-04 | Semikron Elektronik GmbH & Co. KG Patentabteilung | Edelmetall basiertes Verbindungsmittel in Folienform mit einem Feststoffanteil und einem Flüssiganteil, sowie Herstellungs- und Verwendungsverfahren hierzu |
| WO2010072555A1 (de) * | 2008-12-23 | 2010-07-01 | Robert Bosch Gmbh | Elektrisches oder elektronisches verbundbauteil sowie verfahren zum herstellen eines elektrischen oder elektronischen verbundbauteils |
| CN102272921A (zh) * | 2008-12-23 | 2011-12-07 | 罗伯特·博世有限公司 | 电或电子复合元件以及制造电或电子复合元件的方法 |
| WO2010072667A1 (de) * | 2008-12-23 | 2010-07-01 | Robert Bosch Gmbh | Elektrisches oder elektronisches verbundbauteil sowie verfahren zum herstellen eines elektrischen oder elektronischen verbundbauteils |
| EP2271196A1 (de) * | 2009-06-09 | 2011-01-05 | SEMIKRON Elektronik GmbH & Co. KG | Verfahren zur Herstellung einer Stromeinrichteranordnung mit Kühleinrichtung und Stromrichteranordnung |
| CN101924043A (zh) * | 2009-06-09 | 2010-12-22 | 赛米控电子股份有限公司 | 用于制造具有冷却装置的变流器系统的方法和变流器系统 |
| DE102009024371A1 (de) * | 2009-06-09 | 2010-12-16 | Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg | Verfahren zur Herstellung einer Stromrichteranordnung mit Kühleinrichtung und Stromrichteranordnung |
| DE102009024371B4 (de) * | 2009-06-09 | 2013-09-19 | Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg | Verfahren zur Herstellung einer Stromrichteranordnung mit Kühleinrichtung und Stromrichteranordnung |
| CN101924043B (zh) * | 2009-06-09 | 2014-11-12 | 赛米控电子股份有限公司 | 用于制造具有冷却装置的变流器系统的方法和变流器系统 |
| DE102010029178A1 (de) * | 2010-05-20 | 2011-11-24 | Behr Gmbh & Co. Kg | Elektronikkühler und Verfahren zum Herstellen eines Elektronikkühlers |
| EP2752104B1 (de) * | 2011-09-02 | 2022-05-04 | Wieland Microcool, LLC | Anordnung mit einer verbesserten grundplatte aus verbundmetall |
| WO2013092123A1 (de) | 2011-12-20 | 2013-06-27 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Verfahren zur fertigung eines kompakten bauteils sowie mit dem verfahren herstellbares bauteil |
| DE102011089194A1 (de) | 2011-12-20 | 2013-06-20 | BAM Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung | Verfahren zur Fertigung eines kompakten Bauteils sowie mit dem Verfahren herstellbares Bauteil |
| JP7034266B2 (ja) | 2017-09-12 | 2022-03-11 | ロジャーズ ジャーマニー ゲーエムベーハー | レーザダイオードなどの構成要素をヒートシンクに接合するためのアダプタ要素、レーザダイオード、ヒートシンクおよびアダプタ要素を含むシステム、およびアダプタ要素の製造方法 |
| JP2020533797A (ja) * | 2017-09-12 | 2020-11-19 | ロジャーズ ジャーマニー ゲーエムベーハーRogers Germany GmbH | レーザダイオードなどの構成要素をヒートシンクに接合するためのアダプタ要素、レーザダイオード、ヒートシンクおよびアダプタ要素を含むシステム、およびアダプタ要素の製造方法 |
| CN111201598A (zh) * | 2017-09-12 | 2020-05-26 | 罗杰斯德国有限公司 | 用于将诸如激光二极管的器件连接到冷却体上的适配器元件,由激光二极管、冷却体和适配器元件构成的系统和制造适配器元件的方法 |
| WO2019052924A1 (de) * | 2017-09-12 | 2019-03-21 | Rogers Germany Gmbh | Adapterelement zum anbinden eines bauelements wie einer laserdiode an einen kühlkörper, ein system aus einer laserdiode, einem kühlkörper und einem adapterelement und verfahren zur herstellung eines adapterelements |
| US11476640B2 (en) | 2017-09-12 | 2022-10-18 | Rogers Germany Gmbh | Adapter element for connecting a component, such as a laser diode, to a heat sink, a system comprising a laser diode, a heat sink and an adapter element and method for producing an adapter element |
| CN111201598B (zh) * | 2017-09-12 | 2024-03-26 | 罗杰斯德国有限公司 | 多个适配器元件的复合件和用于制造复合件的方法 |
| DE102019204683A1 (de) * | 2019-04-02 | 2020-10-08 | Volkswagen Aktiengesellschaft | Verfahren und Vorrichtung zum stoffschlüssigen Verbinden mindestens eines Halbleitermoduls mit mindestens einem Gehäuseteil eines Kühlmoduls |
| WO2020259957A1 (de) * | 2019-06-24 | 2020-12-30 | Siemens Aktiengesellschaft | Befestigung von leistungshalbleiterbauelementen auf gekrümmten oberflächen |
| DE102019217386A1 (de) * | 2019-11-11 | 2021-05-12 | Mahle International Gmbh | Verfahren zum Herstellen einer Elektronikanordnung und die Elektronikanordnung |
| DE102019217386B4 (de) | 2019-11-11 | 2023-12-14 | Mahle International Gmbh | Verfahren zum Herstellen einer Elektronikanordnung und die Elektronikanordnung |
| US11658045B2 (en) | 2019-11-11 | 2023-05-23 | Mahle International Gmbh | Method for the production of an electronic arrangement and the electronic arrangement |
| DE102020202845A1 (de) | 2020-03-05 | 2021-09-09 | Volkswagen Aktiengesellschaft | Verfahren zur Herstellung eines elektrischen Moduls |
| DE102021002196A1 (de) | 2021-04-26 | 2022-10-27 | Mercedes-Benz Group AG | Vefahren zum Herstelllen eines Lötverbindungsteils, insbesondere für ein Kraftfahrzeug, sowie Lötverbindungsteil |
| DE102023202634A1 (de) * | 2023-03-23 | 2024-09-26 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Verfahren zur Herstellung eines Leitungsmoduls mit angesintertem Kühlkörper |
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