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Test
und Messung sind eine wichtige Komponente der modernen Produktentwicklung
und -herstellung. Eine Klasse von Testsystemen, die zur automatischen
Durchführung
dieser Tests entworfen sind, wird automatisierte Testausrüstung (ATE;
ATE = automated test equipment) bezeichnet. Eine automatisierte
Testausrüstung
ist üblicherweise
programmiert, um automatisch eine Anzahl ausgewählter Tests an einer spezifischen
Schaltung oder Komponente auszuführen.
Die bestimmten durchgeführten
Tests und die Bedingungen, unter denen dieselben durchgeführt werden,
hängen
von dem gerade getesteten Gegenstand, der Stufe der Produktentwicklung
und der beabsichtigten Anwendung ab.
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Eine
immer häufiger
werdende Häusungstechnologie
für elektronische
Schaltungen ist das sogenannte „Mehrchipgehäuse" (MCP; MCP = multi-chip
package). In Mehrchipgehäusen
sind mehrere integrierte Schaltungsformen zusammen in einem einzelnen
Gehäuse
befestigt, wobei die verschiedenen Formen oft intern innerhalb des
Gehäuses
miteinander verbunden sind.
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Das
Testen dieser Mehrchipgehäuse
durch eine automatisierte Testausrüstung (ATE) hat zu einem neuen
Satz von Herausforderungen geführt.
Mehrfachformen z. B., die herkömmlicherweise
in unterschiedlichen Testsystemen getestet wurden, sind nun in ein
einzelnes Gehäuse
integriert. Ein Mehrfacheinfügungstesten
in unterschiedlichen Testsystemen wurde eingesetzt, dies geht jedoch
zu Lasten der Kosten der Ausrüstung,
zusätzlichen
Bodenraums, der zum Testen des Gehäuses erforderlichen Zeit, einer
potentiellen Beschädigung
an den Anschlussstiften bzw. Pins des Gehäuses und der Zuverlässigkeit
des Gehäuses
nach den Mehrfacheinfügungen.
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Außerdem erfordern
unterschiedliche Typen von Formen unterschiedliche Testercharakteristika.
Ein Mehrchipgehäuse
könnte
z. B. Chips mit unterschiedlichen Typen von Speichern, Logikvorrichtungen,
Analogschaltungen oder sogar Funkfrequenz- (RF-) Vorrichtungen aufweisen.
Idealerweise können
diese Mehrchipgehäusevorrichtungen
unter Verwendung der geringsten Anzahl von Einfügungen getestet werden, so
dass ein bestimmtes Testsystem in der Lage sein muss, mehr zu tun,
um Tests mit einer zusätzlichen
Funktionalität durchzuführen.
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Ferner
ist der Gesamtanschlussstiftzählwert
auf üblichen
Mehrchipgehäusevorrichtungen
viel größer als
bei herkömmlichen
Speicherchips. Selbst ein reines Speicher-Mehrchipgehäuse könnte abhängig von
der Weise, auf die Signale aus dem Gehäuse herausgebracht werden,
Hunderte von Anschlussstiften aufweisen.
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Zusätzlich wächst der
Wunsch nach einem parallelen Testen weiter. Heute kann ein typisches
Testsystem 32 zu testende Vorrichtungen (DUTs; DUT = device under
test) parallel testen. In der nahen Zukunft ist das parallele Testen
von 64 Vorrichtungen zu erwarten. Und in nicht all zu ferner Zukunft
müssen
Maschinen parallel 256 oder mehr Vorrichtungen testen. Dies führt zu einer
außerordentlichen
Anzahl von Testanschlussstiften auf dem Tester. Eine typische Mehrchipgehäusevorrichtung
z. B. könnte
384 Anschlussstifte aufweisen. Der Gesamtanschlussstiftzählwert an
der Schnittstelle zwischen dem Tester und der DUT-Fläche für 256 Vorrichtungen
parallel würde
dann 384 × 256
= 98.384 Anschlussstifte pro Testsystem betragen. Das größte Testsystem,
das gegenwärtig
auf dem Markt ist, besitzt 4.608 Anschlussstifte.
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Zusätzlich steigen
auch Chipgeschwindigkeiten weiter an. Vorrichtungen, die in ein
Mehrchipgehäuse gehen
können,
umfassen Chips, die mit hohen Frequenzen laufen, wie z. B. einen
DDR- (Doppeldatenraten-) oder DDR2- oder schnellen SRAM (statischen
Direktzugriffsspeicher). Gegenwärtige
Mehrchipgehäuse
umfassen verschiedenen Formen, die mit bis zu 133 Mbit/Sekunde laufen
können,
zukünftige
Gehäuse
jedoch weisen wahrscheinlich Formen mit 200 Mbit/Sekunde und 266
Mbit/Sekunde auf. Außerdem
ist zu erwarten, dass der Trend in Richtung erhöhter Geschwindigkeit weiter
geht.
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Es
ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine aktive Führungsschaltung
oder ein Testsystem mit verbesserten Charakteristika zu schaffen.
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Diese
Aufgabe wird durch eine Schaltung gemäß Anspruch 1 oder ein System
gemäß Anspruch
11 gelöst.
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Bei
repräsentativen
Ausführungsbeispielen
ist eine aktive Führungs-
bzw. Routingschaltung offenbart, die einen Kanalschalter aufweist,
der ein Sende-/Empfangsgerät
und einen Schalter aufweist. Das Sende-/Empfangsgerät weist
eine erste Datenleitung, eine zweite Datenleitung, eine Treiber-/Empfangssteuerleitung
und eine Empfängerauswahlsteuerleitung
auf. Der Schalter weist einen ersten Kontakt, der mit der ersten Datenleitung
verbunden ist, einen zweiten Kontakt, der mit der zweiten Datenleitung
verbunden ist, und eine Schaltersteuerleitung auf. In einem Treibermodus
kann das Sende-/Empfangsgerät
Daten von der ersten Datenleitung empfangen und diese Daten an die
zweite Datenleitung ausgeben und in dem Empfängermodus Daten von der zweiten
Datenleitung empfangen und diese Daten an die erste Datenleitung
ausgeben. Das Sende-/Empfangsgerät
kann ansprechend auf ein Signal zwischen dem Treibermodus und dem
Empfängermodus umschalten.
Von der zweiten Datenleitung empfangene Daten können ansprechend auf ein weiteres
Signal blockiert werden. Der Schalter kann ansprechend auf wiederum
ein weiteres Signal zwischen einem Verbinden und einem Trennen des
ersten Kontakts mit/von dem zweiten Kontakt wechseln.
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Bei
weiteren repräsentativen
Ausführungsbeispielen
ist ein Testsystem offenbart, das eine aktive Führungsschaltung und einen Tester
aufweist. Die aktive Führungsschaltung
weist zumindest einen Kanalschalter auf. Jeder Kanalschalter weist
ein Sende-/Empfangsgerät,
das eine erste Datenleitung, eine zweite Datenleitung, eine Treiber-/Empfangssteuerleitung
und eine Empfängerauswahlsteuerleitung
aufweist, und einen Schalter auf, der einen ersten Kontakt, der
mit der ersten Datenleitung verbunden ist, einen zweiten Kontakt, der
mit der zweiten Datenleitung verbunden ist, und eine Schaltersteuerleitung
aufweist. Der Tester weist zumindest einen Testkanal auf. Jedes
Sende-/Empfangsgerät
in dem Treibermodus ist konfiguriert, um Daten von seiner ersten
Datenleitung zu empfangen und diese Daten an seine zweite Datenleitung
auszugeben, und ist in dem Empfängermodus
konfiguriert, um Daten von seiner zweiten Datenleitung zu empfangen
und diese Daten an seine erste Datenleitung auszugeben. Jedes Sende-/Empfangsgerät ist konfiguriert,
um zwischen dem Treibermodus und dem Empfängermodus ansprechend auf ein
Signal auf seiner Treiber-/Empfangssteuerleitung
umzuschalten, und ist in dem Empfängermodus konfiguriert, um
Daten, die von seiner zweiten Datenleitung empfangen werden, ansprechend
auf ein Signal auf seiner Treiber-/Empfangssteuerleitung zu blockieren.
Jeder Schalter ist konfiguriert, um ansprechend auf ein Signal auf
der Schaltersteuerleitung zwischen einem Verbinden und einem Trennen
seines ersten Kotakts mit/von seinem zweiten Kontakt zu wechseln.
Der Testkanal ist mit der ersten Datenleitung jedes Kanalschalters
verbunden und jede zweite Datenleitung ist zum Übertragen zwischen einem Testanschlussstift
bzw. -pin auf einer zu testenden Vorrichtung und einem Kanalschalter,
gepaart mit dem Testanschlussstift, konfiguriert.
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Weitere
Aspekte und Vorteile der repräsentativen
Ausführungsbeispiele,
die hierin vorgelegt sind, werden aus der folgenden detaillierten
Beschreibung in Verbindung mit den beigefügten Zeichnungen ersichtlich werden.
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Die
beigefügten
Zeichnungen liefern visuelle Darstellungen, die verwendet werden
können,
um verschiedenen repräsentative
Ausführungsbeispiele
vollständiger
zu beschreiben, und können
durch Fachleute auf dem Gebiet verwendet werden, um dieselben und
ihre inhärenten
Vorteile besser zu verstehen. In diesen Zeichnungen bezeichnen gleiche
Bezugszeichen entsprechende Elemente. Es zeigen:
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1A eine
Zeichnung einer Führungsschaltung
zum Führen
von Testkanalverbindungen;
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1B eine
Zeichnung einer weiteren Führungsschaltung
zum Führen
von Testkanalverbindungen;
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2A eine
Zeichnung einer Führungsschaltung
zum Führen
von Testkanalverbindungen, wie in verschiedenen repräsentativen
Ausführungsbeispielen
beschrieben;
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2B eine
Zeichnung einer weiteren Führungsschaltung
zum Führen
von Testkanalverbindungen, wie in verschiedenen repräsentativen
Ausführungsbeispielen
beschrieben;
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3 eine
Zeichnung wiederum einer weiteren Führungsschaltung zum Führen von
Testkanalverbindungen, wie in verschiedenen repräsentativen Ausführungsbeispielen
beschrieben; und
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4 eine
Zeichnung eines automatischen Testsystems, wie in verschiedenen
repräsentativen
Ausführungsbeispielen
beschrieben.
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Wie
in den Zeichnungen zu Darstellungszwecken gezeigt ist, offenbart
das vorliegende Patentdokument neuartige Techniken zum Handhaben
von Gehäusen
mit großem
Anschlussstiftzählwert,
insbesondere von Mehrchipgehäusen,
mit schnellen Taktraten. In der folgenden detaillierten Beschreibung
und in den mehreren Figuren der Zeichnungen sind gleiche Elemente
mit gleichen Bezugszeichen gekennzeichnet.
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Es
besteht ein Bedarf, in der Lage zu sein, eine stark erhöhte Anzahl
von Testanschlussstiften auf einem Tester zu handhaben. Die Anzahl
von Testanschlussstiften auf dem größten Testsystem, das gegenwärtig auf
dem Markt ist, bleibt hinter den erwarteten Anforderungen weit zurück.
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Mit
zunehmenden Schaltungsgeschwindigkeiten wird ein Multiplexen eines
einzelnen Testerkanals, um Daten zu mehreren Anschlussstiften einer
zu testenden Vorrichtung zu treiben oder von denselben zu empfangen,
immer schwieriger, wenn nicht unmöglich, ohne wesentliche Leistung
einzubüßen. Ein
Hochgeschwindigkeitstesten erfordert saubere Verbindungspfade von
dem einzelnen Testerkanal zu jedem der Anschlussstifte einer zu
testenden Vorrichtung. Diese Hochgeschwindigkeitsverbindungen erfordern üblicherweise
voluminöse
mechanische Relais und große
Sorgfalt bei den Übertragungsleitungsentwürfen. Obwohl
dies für
eine kleine Anzahl von Kanälen
möglich
und einfach ist, wird dies zu einer großen Aufgabe, wenn Tausende
von Kanälen
gehandhabt werden, die zu einer noch größeren Anzahl von Vorrichtungen
multiplexieren. Es gibt nicht ausreichend Raum und Leistung, um über all
diese Relais zu verfügen,
und nicht ausreichend Platinenraum, um mit all diesen Entwurfsproblemen
fertig zu werden.
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Die
enormen Kosten und die schlechte Zuverlässigkeit, die Relais zugeordnet
sind, verschlimmern dieses Problem noch. Hochleistungsrelais neigen
dazu, teuer zu sein. Wenn die Kosten jedes Relais mit den Tausenden
von Relais multipliziert werden, die für diese großen Systeme erforderlich sind,
steigt der Preis schnell an.
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Außerdem weiß man, dass
mechanische Relais mit der Zeit ausfallen. Es gibt eine Lebensdauer,
die dem Umschaltmechanismus eines Relais zugeordnet ist. Mit ansteigender
Anzahl von Relais, die all diese Kanäle umschalten müssen, wird
die mittlere ausfallfreie Betriebszeit (MTBF), die ein Schlüsselmaß der Qualität ist, durch
die Wahrscheinlichkeit eines Ausfalls aus der großen Anzahl
mechanischer Schalter beeinträchtigt.
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Ein
Mittel, durch das der Zwischenraum zwischen dem gegenwärtigen Testeranschlussstiftzählwert von
4.608 und dem erwarteten benötigten
Anschlussstiftzählwert
von 98.384 geschlossen werden kann, ist durch ein Erkennen dessen,
dass nicht alle Formen gleichzeitig getestet werden. Anders ausgedrückt, kann eine
Gruppe von Testerkanälen
zu unterschiedlichen Gruppen von Anschlussstiften geleitet werden.
Die erforderliche Anzahl von Testpunkten z. B. kann in N Gruppen
von M Kanälen
unterteilt werden, was die Fähigkeit liefert,
bis zu N Formen zu testen, die jeweils bis zu M Anschlussstifte
aufweisen. Dies liefert die Fähigkeit, einen
bestimmten Kanalzählwert
um N zu skalieren. Unter der Annahme identischer Formen in einem Mehrchipgehäuse könnten N,
die jeweils bis zu M Anschlussstifte aufweisen, parallel getestet
werden.
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Bei
repräsentativen
Ausführungsbeispielen
ist ein Umleitschaltungsaufbau zwischen dem Ausgang der Anschlussstiftelektroniken
auf dem Testsystem und dem Mehrchipgehäuse (der zu testenden Vorrichtung) offenbart,
der ein sequentielles Bewegen einer Gruppe von Testerressourcen
von einer Gruppe von Anschlussstiften, die einer bestimmten Form
zugeordnet sind, zu der nächsten
Gruppe von Anschlussstiften, die der nächsten Form zugeordnet sind,
bis alle Formen in dem Gehäuse
getestet sind, erlauben würde.
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1A ist
eine Zeichnung einer Führungsschaltung 100a zum
Führen
von Testkanalverbindungen. Die Führungsschaltung 100a aus 1A könnte als
eine Baumführungsschaltung 100a bezeichnet
werden. Die Implementierung aus 1A ist
dahingehend passiv, dass nur passive Bauelemente in der Schaltung
verwendet werden. Diese Schaltung kann vorzugs weise unter Verwendung
von Relais implementiert sein. Die Topologie ist derartig, dass
sie Stichleitungen vermeidet, wodurch eine Signalintegrität beibehalten
wird. Bei dem Beispiel aus 1A ist
eine Eingangsleitung 110 mit einer ausgewählten von
vier Ausgangsleitungen 120a, 120b, 120c, 120d,
die kollektiv als Ausgangsleitungen 120 bezeichnet werden,
verbunden. Durch ein Auswählen
geeigneter Kontaktpositionen für
einen Kontakt in Leitungsschaltern 130a, 130b, 130c,
die kollektiv als Leistungsschalter 130 bezeichnet werden,
kann die Eingangsleitung 110 mit einer spezifischen Ausgangsleitung 120 verbunden
werden. Die Multiplexer 140a, 140b, 140c, 140d,
die kollektiv als Multiplexer 140 bezeichnet werden, können aus
den Spannungen auswählen,
die an ihre Eingänge
angelegt werden, und ein Schließen
eines beliebigen oder aller der vier Verriegelungsschalter 150a, 150b, 150c, 150d,
die kollektiv als Verriegelungsschalter 150 bezeichnet
werden, wie geeignet ist, kann den ausgewählten Multiplexer 140 anlegen. Während andere
Elemente als Relais, wie z. B. Festkörperschalter, bei dem repräsentativen
Ausführungsbeispiel
aus 1A verwendet werden könnten, liefert die geringe
parasitäre
Kapazität
von Relais Betriebsgeschwindigkeitsvorteile.
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1B ist
eine Zeichnung einer weiteren Führungsschaltung 100b zum
Führen
von Testkanalverbindungen. Die Führungsschaltungen 100b aus 1B könnte als
eine Parallelführungsschaltung 100b bezeichnet
werden. Die Implementierung aus 1B ist
außerdem
dahingehend passiv, dass nur passive Bauelemente in der Schaltung
verwendet werden. Bei dem Beispiel aus 1B ist
eine Eingangsleitung 110 mit einer ausgewählten von
vier Ausgangsleitungen 120a, 120b, 120c, 120d verbunden.
Durch ein Auswählen
geeigneter Kontaktpositionen für
einen Kontakt in Leitungsschaltern 130a, 130b, 130c, 130d,
die kollektiv als Leitungsschalter 130 bezeichnet werden,
kann die Eingangsleitung 110 mit einer spezifischen Ausgangsleitung 120 oder
mehreren Ausgangsleitungen 120 verbunden werden. Die Multiplexer 140a, 140b, 140c, 140d können aus
den Spannungen auswählen,
die an ihre Eingänge
angelegt werden, und ein Schließen
eines beliebigen oder aller der vier Verriegelungsschalter 150a, 150b, 150c, 150d,
wie geeignet ist, kann den ausgewählten Multiplexer 140 anlegen. 1B verwendet
vorzugsweise Festkörperschalter
für die
Verriegelungsschalter 150 und ist als eine integrierte
Schaltung (IC) implementiert. Die Abmessungen innerhalb der integrierten Schaltung
sind ausreichend klein, dass mehrere Schalter gemeinsam an einen
einzigen Knoten gebunden sein können,
ohne eine wesentliche Signalverschlechterung zu bewirken. Das Ausführungsbeispiel
der Relais-Baumführungsschaltung 100a aus 1A weist üblicherweise
eine höhere
Bandbreite auf, es erfordert jedoch mechanische Relais oder eine
bestimmte Form von Schaltern mit geringem Einschaltwiderstand und geringer
Kapazität,
um diese Charakteristika zu erhalten. Die Nachteile des Ausführungsbeispiels
aus 1A sind im Grunde der Raum, die Kosten und eine
Zuverlässigkeit,
die Relais inhärent
sind. Da die Parallelführungsschaltung 100b aus 1B unter
Verwendung von Festkörperschaltern
integriert ist, erfordert dieselbe weniger Platinenraum, ist nicht
teuer und weist eine viel bessere Zuverlässigkeit auf als die Baumführungsschaltung 100a aus 1A.
Der Nachteil der Parallelführungsschaltung 100b ist
das Verhalten. Festkörperschalter
weisen parasitäre
Kapazitäten
und Einschaltwiderstände
auf, die die Gesamtbandbreite reduzieren. So weist die Parallelführungsschaltung 100b keine
so gute Hochfrequenzantwort auf wie die Baumführungsschaltung 100a,
wenn diese unter Verwendung von Festkörperschaltern implementiert
ist. Die Parallelführungsschaltung 100b könnte unter
Verwendung von Relais implementiert sein, für große Anzahlen von Testanschlussstiften
auf einer zu testenden Vorrichtung jedoch würde die größere Anzahl von Relais, die
insbesondere für
größere Ablüftungen
und zugeordnete Raumanforderungen notwendig sind, Relais nicht ideal
machen. Die größeren Anzahlen
von Relais könnten
auch zu einem Zuverlässigkeitsproblem
werden.
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2A ist
eine Zeichnung einer Führungsschaltung 200 zum
Führen
von Testkanalverbindungen, wie bei verschiedenen repräsentativen
Ausführungsbeispielen
beschrieben ist. Die Führungsschaltung 200 wird hierin
auch als aktive Führungsschaltung 200 bezeichnet
und kann konfiguriert sein, um Daten 211 von einem Tester 205 bei
einer Testerleitung 210, die hierin auch als Testerübertragungsleitung 210 und
als eine erste Datenleitung 210 bezeichnet wird, zu einem
beliebigen oder allen eines ersten, zweiten, dritten und vierten
Anschlussstifts 215a, 215b, 215c, 215d einer
zu testenden Vorrichtung, die kollektiv als Anschlussstifte 215 einer zu
testenden Vorrichtung und als Testanschlussstifte 215 bezeichnet
werden, bei einer ersten, zweiten, dritten und vierten DUT- (zu
testende Vorrichtung) Anschlussstiftleitung 220a, 220b, 220c, 220d,
die kollektiv als DUT-Anschlussstiftleitungen 220, als
DUT-Übertragungsleitungen 220 und
als zweite Datenleitung 220 bezeichnet werden, zu treiben
oder DUT-Daten 221 von einem beliebigen oder allen des
ersten, zweiten, dritten und vierten Anschlussstifts einer zu testenden
Vorrichtung 215a, 215b, 215c, 215d bei
DUT-Anschlussstiftleitungen 220a, 220b, 220c, 220d zu
empfangen und die empfangenen Daten an den Tester 205 bei
einer Testerleitung 210 zu senden. Die Testerleitung 210 ist
mit einer Datenleitung des Testers 205 und mit Datenleitungen
eines ersten, zweiten, dritten und vierten Kanalschalters 225a, 225b, 225c, 225d,
die kollektiv als Kanalschalter 225 bezeichnet werden,
verbunden. Daten fließen
zwischen dem Tester 205 und den Kanalschaltern 225 über die
Testerleitung 210. Die Anschlussstifte 215 der
zu testenden Vorrichtung sind Anschlussstifte auf einer zu testenden
Vorrichtung 214, die in repräsentativen Ausführungsbeispielen
ein Mehrchipgehäuse 214 sein
könnten,
das mehrere einzelne Elektronikschaltungen und – bauelemente aufweist.
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Jeder
der Kanalschalter 225 weist ein Sende-/Empfangsgerät 260 und
einen Schalter 240 auf, wobei der Schalter 240 einen
ersten Kontakt 241 und einen zweiten Kontakt 242 aufweist.
Jedes Sende-/Empfangsgerät 260 wiederum
weist einen Treiber 230 und einen Empfänger 235 auf, wobei
der Eingang des Treibers 230 mit dem Ausgang des Empfängers 235 verbunden
ist und der Ausgang des Treibers 230 mit dem Eingang des
Empfängers 235 verbunden
ist. Daten 211, die von dem Tester 205 ausgehen,
werden über
die Testerleitung 210 in den Treiber 230 getrieben.
Der Treiber 230 treibt dann die Daten 211 als
DUT-Daten 221 über
die DUT-Anschlussstiftleitung 220 in den Anschlussstift
der zu testenden Vorrichtung 215. In Betrieb kann der Kanalschalter 225 nahe
an dem Anschlussstift 215 der zu testenden Vorrichtung
angeordnet sein und muss dadurch nur eine kurze Übertragungsleitung treiben,
d. h. die DUT-Anschlussstiftleitung 220, wohingegen der Tester 205 unter
Umständen
eine längere Übertragungsleitung,
d. h. die Testerleitung 210, treiben muss. Abhängig von
der Anwendung könnten
die DUT-Anschlussstiftleitungen 220 nur einige Zoll betragen,
wohingegen die Testerleitungen einige Fuß oder mehr lang sein könnten. So
kann die Kapazitivbelastung auf den zu testenden Vorrichtungen 214 reduziert
werden und die Kanalschalter 225 sorgen für ein Zwischenspeichern der
Datensignale.
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Ein
Treiber-/Empfangssteuersignal 271 auf einer Treiber-/Empfangssteuerleitung 270 schaltet
den Kanalschalter 225 zwischen einer Bedingung eines Empfangens
eines Datensignals 211 von dem Tester 25 und eines
Treibens des DUT-Datensignals 221 in
den Anschlussstift 215 der zu testenden Vorrichtung zu
einer Bedingung eines Empfangens von DUT-Datensignalen 221 von den zu
testenden Vorrichtungen 214 und eines Sendens des resultierenden
Datensignals 211 an den Tester 205 um. Ein Empfängerauswahlsteuersignal 251 auf
einer Empfängerauswahlsteuerleitung 250 aktiviert
einen spezifischen Empfänger 235,
wenn die Kanalschalter 235 in der Bedingung eines Empfangens
von DUT-Datensignalen 221 von den zu testenden Vorrichtungen 214 und
eines Sendens des resultierenden Datensignals 211 über den
ausgewählten
Empfänger 235 an
den Tester 205 sind. Ein Parameterteststeuersignal 256 auf
der Parameterteststeuerleitung 255, die hierin auch als
Schaltersteuerleitung 255 bezeichnet wird, schaltet den
Schalter 240 AN und AUS. Wenn der Schalter 240 AN
ist, sind der Treiber 230 und der Empfänger 235 deaktiviert
(überbrückt) und
der Kanalschalter 225 ist in einer Bedingung, um einen
Parametertest durchzuführen,
indem der erste Kontakt 241 mit dem zweiten Kontakt 242 verbunden
wird. Wenn der Schalter 240 AUS ist, sind der erste und
der zweite Kontakt 241, 242 geöffnet oder unterbrochen.
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Die
Empfängerauswahlsteuerleitung 250 und
die Parameterteststeuerleitung 255 werden unabhängig pro
Ausgabe gesteuert. Diese sind Steuersignale mit niedriger Geschwindigkeit,
die vorzugsweise nicht direkt von dem Tester 205 kommen,
da dies eine wesentliche Anzahl von Verbindungen erfordern würde. Stattdessen
kommuniziert der Tester 205 vorzugsweise seriell mit einer
Steuerung, die in das Modul des Schalters 240 eingebaut
ist.
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Jeder
des zweiten, dritten und vierten Kanalschalters 225b, 225c, 225d ist
eine Replik des ersten Kanalschalters 225a, der in 2A gezeigt
ist. Es wird angemerkt, dass in 2A die
Empfängerauswahlsteuerleitung 250 und
die Parameterteststeuerleitung 255 als nur mit dem ersten
Kanalschalter 225a verbunden gezeigt sind, wohingegen dieselben
auch mit dem zweiten, dritten und vierten Kanalschalter 225b, 225c, 225d verbunden
wären.
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2B ist
eine Zeichnung einer weiteren Führungsschaltung 200 zum
Führen
von Testkanalverbindungen, wie in verschiedenen repräsentativen
Ausführungsbeispielen
beschrieben ist. Die Führungsschaltung 200 aus 2B wird
hierin auch als aktive Führungsschaltung 200 bezeichnet
und kann konfiguriert sein, um Daten 211 von dem Tester 205 bei
einer Testerleitung 210 zu einem beliebigen oder allen
des ersten, zweiten, dritten und vierten Anschlussstifts 215a, 215b, 215c, 215d einer
zu testenden Vorrichtung bei der ersten, zweiten, dritten und vierten
DUT-Anschlussstift leitung 220a, 220b, 220c, 220d zu
treiben oder Daten 211 von einem beliebigen oder allen
des ersten, zweiten, dritten und vierten Anschlussstifts 215a, 215b, 215c, 215d einer
zu testenden Vorrichtung bei DUT-Anschlussstiftleitungen 220a, 220b, 220c, 220d zu
empfangen und die empfangenen Daten an den Tester 205 bei
der Testerleitung 210 zu senden. Die Testerleitung 210 ist
mit einer Datenleitung des Testers 205 und mit Datenleitungen
des ersten, zweiten, dritten und vierten Kanalschalters 225a, 225b, 225c, 225d,
die kollektiv als Kanalschalter 225 bezeichnet werden,
verbunden. Daten fließen
zwischen dem Tester 205 und den Kanalschaltern 225 über die
Testerleitung 210.
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Jeder
der Kanalschalter 225 weist das Sende-/Empfangsgerät 260, den
Multiplexer 140, eine Verzögerungsleitung 175,
einen ersten Widerstand 285, einen zweiten Wiederstand 280 und
den Schalter 240 auf. Jedes Sende-/Empfangsgerät 260 wiederum
weist den Treiber 230 und den Empfänger 235 auf, wobei
der Eingang des Treibers 230 mit dem Ausgang des Empfängers 235 verbunden
ist und der Ausgang des Treibers 230 mit dem Eingang des
Empfängers 235 verbunden
ist. Daten, die von dem Tester 205 ausgehen, werden über die
Testerleitung 210 in den zweiten Wiederstand 280 getrieben
und weiter in den Treiber 230. Der Treiber 230 treibt
dann die Daten in den ersten Widerstand 285 und weiter über die
DUT-Anschlussstiftleitung 220 in den Anschlussstift 215 der
zu testenden Vorrichtung. In Betrieb kann der Kanalschalter 225 nahe
an dem Anschlussstift 215 der zu testenden Vorrichtung
angeordnet sein und muss dadurch nur eine kurze Übertragungsleitung treiben,
d. h. die DUT-Anschlussstiftleitung 220, wohingegen der
Tester 205 unter Umständen
eine längere Übertragungsleitung,
d. h. die Testerleitung 210, treiben muss. Abhängig von
der Anwendung könnten
die DUT-Anschlussstiftleitungen 220 nur
einige Zoll sein, wohingegen die Testerleitungen einige Fuß oder mehr lang
sein könnten.
So kann die Kapazitivbelastung auf den zu testenden Vorrichtungen 214 reduziert
werden und die Kanalschalter 225 liefern ein Zwischenspeichern
der Datensignale.
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Ein
Treiber-/Empfangssteuersignal 271 auf einer Treiber-/Empfangssteuerleitung 270 schaltet
den Kanalschalter 225 zwischen einem Treibermodus, der
eine Bedingung eines Empfangens eines Datensignals 211 von
dem Tester 205 und eines Treibens des DUT-Datensignals 221 in
den Anschlussstift 215 der zu testenden Vorrichtung ist,
zu einem Empfängermodus,
der eine Bedingung eines Empfangens von DUT-Datensignalen 221 von den zu
testenden Vorrichtungen 214 und eines Sendens des resultierenden
Datensignals 211 an den Tester 205 ist, um. Das
Treiber-/Empfangssteuersignal 271 wird durch eine Verzögerungsleitung 275 verzögert, wie
dies zum korrekten zeitlich abgestimmten Umschalten zwischen dem
Treiber- und dem Empfangsmodus des Sende-/Empfangsgeräts 260 nötig ist.
Ein Empfängerauswahlsteuersignal 251 auf
einer Empfängerauswahlsteuerleitung 250 aktiviert
einen spezifischen Empfänger 235,
wenn die Kanalschalter 225 in der Bedingung eines Empfangens
von DUT-Datensignalen 221 von
den zu testenden Vorrichtungen 214 und eines Sendens des
resultierenden Datensignals 211 über den ausgewählten Empfänger 235 an
den Tester 205 sind. Ein Parameterteststeuersignal 256 auf
der Parameterteststeuerleitung 255 schaltet den Schalter 240 AN
und AUS. Wenn der Schalter 240 AN ist, sind der Treiber 230 und
der Empfänger 235 deaktiviert
(überbrückt) und der
Kanalschalter 225 ist in einer Bedingung zur Durchführung eines
Parametertests. Ein Sende-/Empfangsgerätsteuersignal 246 auf
der Sende-/Empfangsgerätsteuerleitung 245 aktiviert
oder deaktiviert den Treiber 230 und den Empfänger 235.
In dem deaktivierten Modus ist die Ausgabe des Treibers 230 auf
den Wert der Ausgabe des Multiplexers 140 gesetzt. Die
Ausgabe eines Digital-Analog-Wandlers 268 ist ein Deaktivierungs-/Vorgabewertsignal 266.
Das Deaktivierungs-/Vorgabewertsignal 266 auf einer Deaktivierungs-/Vorgabewertleitung 265 setzt
den Wert der Ausgabe des Multiplexers 140 und in dem gerade
beschriebenen Deaktivierungsmodus wird die Ausgabe des Treibers 230 gesetzt.
Jeder des zweiten, dritten und vier ten Kanalschalters 225b, 225c, 225d ist
eine Replik des ersten Kanalschalters 225a aus 2B.
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Das
Treiber-/Empfangssteuersignal 271 steuert ein Umschalten
von einem Treiben zu einem Empfangen dynamisch. Der Mustererzeuger
des Testers 205 kann das Treiber-/Empfangssteuersignal 271 derart steuern,
dass dasselbe mit der Musterausführung
synchronisiert sein kann. Die Zeitgebung des Treiber-/Empfangssteuersignals 271 benötigt außerdem eine
Kalibrierung, um die Gesamtzeitgebung für den Treiber- und einen Vergleichssignalverlauf
anzupassen. Einige Anwendungen in weiteren repräsentativen Ausführungsbeispielen
könnten
ein Umschalten von einem Treiber- in einen Empfangsmodus tolerieren,
indem man den Tester 205 einen Befehl senden lässt, um
den Zustand zu verändern.
Dies wäre
ein viel langsameres Verfahren, jedoch wesentlich einfacher zu implementieren.
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Der
Schalter 240 liefert einen Pfad, um das aktive Sende-/Empfangsgerät 260 zu
umgehen. Dieser Schalter 240 wird benötigt, um in der Lage zu sein,
ein Parametertesten direkt an jedem Anschlussstift 215 einer
zu testenden Vorrichtung durchzuführen. Eine Testausrüstung weist üblicherweise
eine Parametermesseinheit (PMU) auf, die mit einem Anschlussstift 215 einer
zu testenden Vorrichtung verbunden sein kann, und vor einem Starten
eines Funktionstestens kann dieselbe „Unterbrechungen" (Suche nach Verbindbarkeit
zwischen dem Tester 205 und dem Anschlussstift 215 der
zu testenden Vorrichtung) und „Kurzschlüsse" (Suche nach elektrisch
kurzgeschlossenen Anschlussstiften mit etwas anderem) messen. Der
Schalter 240 kann mit einem kleinen Festkörperschalter
oder einem anderen geeigneten Schalter implementiert sein. Der Schalter 240 sollte
ausreichend klein sein, um eine minimale Kapazität zu dem Knoten hinzuzufügen und
dennoch ausgehende Stromanforderungen erfüllen. Typische Ströme für diese
Parametertests sind –20 μA, so dass
dies sehr klein sein kann.
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Bei
repräsentativen
Ausführungsbeispielen
können
sowohl der Treiber 230 als auch der Empfänger 235 Einheitsgewinnfolger
sein. Sie erfordern eine hohe Bandbreite, um den an dem Eingang
gesehenen Signalverlauf zu reproduzieren. Der Treiber 230 verwendet
den ersten Widerstand 285, der hierin auch als der erste
Rückanpassungswiderstand 285 bezeichnet
wird, um die Last auf der Leitung an dem Ausgang des Treibers anzupassen,
so dass mögliche
Signalreflexionen von dem Anschlussstift 215 der zu testenden
Vorrichtung absorbiert werden. Ein typischer Wert für den ersten
Widerstand 285 beträgt
50 Ohm. Ein serielles Rückanpassen
impliziert eine Punkt-zu-Punkt-Verbindung, was üblicherweise für Anwendungen
der Fall ist. Der Treibersignalverlauf wird dann von dem Anschlussstift 215 der
zu testenden Vorrichtung zurückreflektiert
und endet unter Verwendung des ersten Widerstands 285.
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Der
Empfänger 235 führt ähnliche
Operationen wie diejenigen des Treibers 230 durch, mit
der Ausnahme, dass er den Signalverlauf von einem der Anschlussstift 215 der
zu testenden Vorrichtung empfängt und
denselben an Anschlussstiftelektronikkomparatoren des Testers 205 sendet.
Der Empfänger 235 verwendet
den zweiten Widerstand 280, der hierin auch als der zweite
Rückanpassungswiderstand 280 bezeichnet wird,
um die Last auf der Leitung, d. h. die Schnittstellenimpedanz der
Leitung, an dem Ausgang des Empfängers 235 anzupassen,
um mögliche
Signalreflexionen von dem Tester 205 zu absorbieren. Wieder
beträgt
ein typischer Wert für
den zweiten Widerstand 280 50 Ohm, um die Schnittstellenimpedanz
des Testers 205 anzupassen. Ein einziger Empfänger 235 kann
den Anschlussstiftelektronikkomparator des Testers 205 treiben. Dies
wird dadurch erzielt, dass unter Verwendung des Empfängerauswahlsteuersignals 251 auf
der Empfängerauswahlsteuerleitung 250 nur
ein einzelnes Sende-/Empfangsgerät 260 zu
einer Zeit aktiviert wird. Das Empfängerauswahlsteuersignals 251 im
Gegensatz zu dem Treiber-/Empfangssteuersignal 271 muss
nicht durch den Mustererzeuger gesteuert werden. Ein Umschalten von
einer Ausgabe zu der Nächsten
ist ein langsamer Vorgang und kann durch die Steuerung des Testers 205 gehandhabt
werden.
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Der
Treiber 230 und der Empfänger 235 können unter
Verwendung des Sende-/Empfangsgerät-Steuersignals 246 AUS
geschaltet werden. Wenn der Treiber 230 und der Empfänger 235 AUS
sind, ist es möglich, einen
Vorgabespannungszustand, der durch das Deaktivierungs/Vorgabewertsignal 266 definiert
ist, voreinzustellen. Der Multiplexer 140 erlaubt es dem
Benutzer, eine Vorgabespannung auszuwählen, auf die der Anschlussstift 215 der
zu testenden Vorrichtung getrieben wird, wenn das Sende-/Empfangsgerät 260 deaktiviert ist.
Es kann mehrere Voreinstellspannungen geben, die der Benutzer unter
einer Programmsteuerung auswählen
kann. Während
dieses Zustands floatet bzw. schwebt der Empfänger 235. Dies erlaubt
es anderen Empfängern 235,
Zugang zu der gemeinsamen Testerleitung 210 zu erhalten.
Wenn sowohl der Ausgang des Multiplexers 140 als auch des
Treibers 230 deaktiviert ist, floatet der Ausgang des Treibers 230.
Diese Bedingung wird für
entweder Parametermessungen durch den Schalter 240 benötigt, oder
um den Anschlussstift 215 der zu testenden Vorrichtung
von dem Tester 205 zu trennen. 2B zeigt
auch eine Verzögerungsleitung
für das Treiber-/Empfangssteuersignal 271.
Abhängig
von der erwünschten
Zeitgebungsgenauigkeit könnte
diese Verzögerungsleitung
während
des Entwurfs justiert werden, um den Versatz über alle vier Kanalschalter 225 zu
minimieren, oder könnte
statisch unter Verwendung des seriellen Bus zur Einstellung von
Verzögerungsdifferenzen
programmiert werden.
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Tabelle
1 fasst die Ausgänge
der Ausgänge
des Treibers 230, des Empfängers 235, des Schalters 240 und
des Multiplexers 140 für
die verschiedenen Betriebsmodi des Kanalschalters 225 zusammen.
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3 ist
eine Zeichnung wiederum einer weiteren Führungsschaltung 200 zum
Führen
von Testkanalverbindungen, wie in verschiedenen repräsentativen
Ausführungsbeispielen
beschrieben ist. In 3 sind ein Zweipegel-Analog-Komparator 310,
der hierin auch als ein Dualkomparator 310 bezeichnet wird,
ein Komparatorlogiklatch 315 und eine weitere Verzögerungsleitung 320 in
jedem Kanalschalter 225 enthalten. Diese Implementierung
kann alle Anschlussstifte 215 der zu testenden Vorrichtung
gleichzeitig vergleichen, anstatt zu einer Zeit durch einen Anschlussstift 215 einer
zu testenden Vorrichtung zu sequenzieren. Bei diesem Ausführungsbeispiel
müssen
alle Anschlussstifte 215 der zu testenden Vorrichtung das
gleiche Muster laufen lassen und müssen die gleichen erwarteten
Daten aufweisen. Diese Situation würde für Anwendungen zutreffen, bei denen
das Mehrchipgehäuse
den gleichen Speichertyp beinhaltet, oder für andere Mehrvorrichtungstestanwendungen,
was eine erhöhte
Parallelität
aufweist. Wenn die Vorrichtungen in einem zu testenden Mehrchipgehäuse von
unterschiedlichen Typen sind, kann das Testen durch ein Sequenzieren
einer Vorrichtung zu einer Zeit fortfahren. Selbst in einem derartigen Fall
besteht eine wesentliche Verbesserung beim Testen, da das Testen
bei einer einzelnen Einführung
des Mehrchipgehäuses
in die Testkopfhalterung durchgeführt werden kann.
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Wenn
die zu testenden Vorrichtungen von dem gleichen Typ sind, und wenn
der Test gerade parallel durchgeführt wird, wird nur eine einzelne „Erwartete-Daten"-Leitung pro Anschlussstift
auf mehreren zu testenden Vorrichtungen benötigt. Ein Hinzufügen von
Leitungen zwischen dem Tester 205 und dem Bereich des Kanalschalters 225 ist üblicherweise
schwierig. So kann anstatt eines Hinzufügens weiterer Testerleitungen 210 zwischen
dem Tester 205 und den Kanalschaltern 225 die
gleiche Testerleitung 210 verwendet werden, um den erwarteten
Logikpegel von den Kanalschaltern 225 zu dem Tester 205 zu
bringen. Dies erfordert einen speziellen Modus in dem Formatierer
des Systems, um selbst in einem Vergleichszyklus mit einem Treiben
von Signalverläufen
fortzufahren, die Signalverläufe
hier jedoch stellen erwartete Vergleichswerte dar. Anders ausgedrückt kann
die Testerleitung 210 die folgenden zwei Funktionen durchführen: (1)
wenn Signalverläufe
zu der zu testenden Vorrichtung 214 getrieben werden, sendet
der Tester 205 das Datensignal 211 durch die Testerleitung 210 aus,
und (2) wenn die zu testende Vorrichtung 214 Daten zurück an den
Tester 205 sendet (Vergleichzyklen), erhält die Testerleitung 210 die
erwarteten Daten. Dies beseitigt den Bedarf, eine zweite Leitung pro
Testerkanal hinzuzufügen,
um die erwarteten Daten von dem Tester 205 an die entfernt
angeordneten Dualkomparatoren 210 zu senden.
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Der
Dualkomparator 310 weist eine Lokalspannungsausgabe-Niederspannungsreferenz
(VOL DAC) 325, die hierin auch als eine Niederspannungsreferenz 325 bezeichnet
wird, sowie eine Lokalspannungsausgabe-Hochspannungsreferenz (VOH
DAC) 330, die hierin auch als eine Hochspannungsreferenz 330 bezeichnet
wird, auf. Jeder Dualkomparator 310 empfängt Daten
von einem Anschlussstift 215 der zu testenden Vorrichtung
und führt
einen Spannungsvergleich mit den Pegeln der Ausgaben von VOH DAC 330 und
VOL DAC 325 durch. Das Ergebnis wird dann an das Komparatorlogiklatch 315 weitergeleitet,
wo dasselbe an einen erwarteten Logikwert angepasst wird. Die erwarteten
Daten werden über
die Testerleitung 210 empfangen.
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Es
gibt ein Maskenbit pro Komparatorlogiklatch 315 oder Anschlussstift 215 der
zu testenden Vorrichtung. Deshalb kann, wenn ein Anschlussstift 215 der
zu testenden Vorrichtung nicht vorhanden oder ausgefallen ist, derselbe
aus dem Fehlerbaum entfernt und eine Erzeugung zusätzlicher
Fehler vermieden werden. Die Maskenbits sind statisch und können über den
seriellen Bus gesteuert werden.
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Das
Komparatorlogiklatch 315 empfängt außerdem ein Zeitgebungsreferenzsignal,
ein Fehlerzeitgebungssignal 336, auf einer Fehlerzeitgebungsleitung 335,
die demselben sagt, wann der Fehler zwischengespeichert werden soll.
Das Fehlerzeitgebungssignal 336 wird auch pro Kanalschalter 225 empfangen,
könnte auf
der Systemebene jedoch ein globales Signal pro Gruppe einer zu testenden
Vorrichtung sein, da wir alle Anschlussstifte 215 der zu
testenden Vorrichtung gemeinsam als einen Bus laufen lassen. Es
wird angemerkt, dass das Fehlerzeitgebungssignal 336 Zeitgebungsinformationen
beinhaltet und kalibriert werden muss, so dass dasselbe mit einer
Ausgabe des Anschlussstifts 215 der zu testenden Vorrichtung
ausgerichtet ist. In 3 gibt es eine Verzögerungsleitung 320 pro
Ausgabe des Anschlussstifts 215 der zu testenden Vorrichtung.
Dies erlaubt ein zeitliches Abgleichen der Ausgabe-zu-Ausgabe-Zeitgebung.
Ferner sollte eine Zeitgebungsausrichtung für das Fehlerzeitgebungssignal 336 auf
der Systemebene in den Zeitgebungserzeugern durchgeführt werden.
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Die
Dualkomparatoren 310 empfangen außerdem ein Rücksetzfehlersignal 341 auf
einer Rücksetzfehlerleitung 340,
um vorherige Fehlerergebnisse zu löschen. Der Mustererzeuger sollte
in der Lage sein, dieses Signal zu steuern, um Fehler rückzusetzen,
während
ein Muster läuft.
Dies ist auch ein globales Signal pro Gruppe einer zu testenden
Vorrichtung.
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Zusätzlich wird
das Fehlerergebnissignal 346 separat auf der Fehlerergebnisleitung 345 für jeden
Anschlussstift 215 einer zu testenden Vorrichtung ausgesandt,
so dass dasselbe mit den anderen Fehlern des Anschlussstifts 215 der
zu testenden Vorrichtung extern in ein globales pro Fehler der zu
testenden Vorrichtung gruppiert werden kann. Diese Gruppierung kann
mit einer programmierbaren Logikvorrichtung erzielt werden, die
z. B. ein freiprogrammierbares Gatterarray (FPGA) oder ein komplexes
programmierbares Logikbauelement (CPLD) sein könnte.
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Zusätzlich zu
den in Tabelle 1 gezeigten Modi zeigt Tabelle 2 zusätzlich „Vergleichen
aller DUT-Anschlussstifte" mit
dem Zustand eines weiteren Schaltungsaufbaus. In Tabelle 2 bedeutet „DEAK" deaktiviert und „AKT" bedeutet aktiviert.
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4 ist
eine Zeichnung eines Testsystems 400, wie es in verschiedenen
repräsentativen
Ausführungsbeispielen
beschrieben ist. In repräsentativen
Ausführungsbeispielen
weist das Testsystem 400, das z. B. ein automatisches Testsystem
(ATE) 400 sein könnte,
den Tester 205, der zumindest einen Testkanal 410 aufweist,
eine Schnittstelle 420 und zumindest eine aktive Führungsschaltung 200 auf.
Jeder Testkanal 410 stellt eine Verbindung zu zumindest
einem Kanalschalter 225 her, wie in den 2A bis 2B gezeigt
ist. Jeder Kanalschalter 225 stellt eine Verbindung zu
einem DUT-Testanschlussstift 215 auf einer zu testenden Vorrichtung 214 her,
die bei repräsentativen
Ausführungsbeispielen
mehr Chipgehäuse 214 sein
könnte.
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Bei
repräsentativen
Ausführungsbeispielen
beinhalten die Kanalschalter 225 den gerade beschriebenen
Aktivkanalschaltungsaufbau. Diese Vorrichtungen könnten in
naher Nähe
zu der zu testenden Vorrichtung 214 platziert sein, wodurch
die elektrische Schnittstelle zwischen der zu testenden Vorrichtung 214 und
den Sende-/Empfangsgeräten 260 verbessert
wird. Die Schnittstelle 420 kann unter Verwendung von Koaxialkabeln
oder Flexschaltungsplatinen aufgebaut sein. Die Schnittstelle 420 muss
eine elektrische Verbindbarkeit bereitstellen und außerdem eine
physische Raumumwandlung zwischen der elektronischen Platinenstruktur des
Anschlussstifts des Testkanals 410 und der spezifischen
Handhaberkonfiguration. Die Kabelschnittstelle 420 trennt
die Testsystemanschlussstiftelektronik von der zu testenden Vorrichtung 214.
Ein Platzieren der Sende-/Empfangsgeräte 260 nach der Schnittstelle 420 minimiert
die effektive elektrische Länge
von der zu testenden Vorrichtung 214 zu dem Tester 205.
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Es
gibt mehrere Vorteile der hierin offenbarten repräsentativen
Ausführungsbeispiele.
Insbesondere überwinden
die Kanalschalter 225 das Geschwindigkeitsproblem, das
einer vollständig
integrierten Lösung
unter Verwendung von Festkörperschaltern
zugeordnet ist. Dadurch, dass die Sende-/Empfangsgeräte 260 in dem Datenpfad
sind, werden die zugeordneten Parasitärwerte, die Festkörperschaltern
zugeordnet sind, beseitigt. Außerdem
wird der Verbindungspfad zwischen dem Kanal des Testers 205 und
dem Anschlussstift 215 der zu testenden Vorrichtung verbessert.
Mit einem Festkörperschalter
müssen
der Tester 205 und die zu testende Vorrichtung 214 die
gesamte Länge
der Leitung treiben. Mit dem Sende-/Empfangsgerät 260 ist die Leitung
in zwei besser verwaltbare Segmente unterbrochen. Das Sende-/Empfangsgerät 260 wird
einer Rückanpassung
mit dem ersten und dem zweiten Widerstand 280, 285 unterzogen,
so dass dasselbe das Signal in beiden Richtungen sauber treiben
kann. Dies überträgt sich
direkt in eine verbesserte Signalintegrität. Außerdem erfordert die konzentrierte
Kapazität
eines Festkörperschalters
eine bestimmte Form einer Induktivkompensation. Die Wirksamkeit
der Kompensation hängt
von der Frequenz ab. Bei höheren
Frequenzen ist eine Kompensation viel schwieriger und es gibt immer
eine bestimmte Form einer Störung
an dem Signalverlauf. Diese Störung überträgt sich
in Zeitgebungsgenauigkeitsfehler. Der Ansatz des Sende-/Empfangsgeräts 260 beseitigt
all dies. Ferner wird während
eines Empfangszyklus (Treiben der zu testenden Vorrichtung 214)
die gesamte Leitungslänge,
die für
die zu testenden Vorrichtung 214 zu sehen ist, wesentlich
reduziert. Dies ist sehr wichtig, da eine zu testende Vorrichtung 214 mit
geringer Leistung lange Übertragungsleitungen
nicht effektiv treiben kann und üblicherweise
eine Zeitgebungseinbuße
vorliegt, die einem Versuchen dessen zugeordnet ist. Die Sende-/Empfangsgeräte 260 sind
ausreichend klein, so dass dieselben nahe der zu testenden Vorrichtung 214 gebaut
sein könnten,
und die Gesamtübertragungslänge könnte von
typischen heutigen Längen
von 18 Zoll auf etwa 6 Zoll reduziert werden. Außerdem kann das Verhal ten der
Kanalschalter 225, wie hierin offenbart, eine ebenso gute
Relaisbaumimplementierung sein, da dies jedoch in eine integrierte
Schaltung (IC) integriert sein kann, wird die auf der Platine erforderliche
Gesamtraummenge stark reduziert. Weitere Probleme, wie z. B. Kosten
und Zuverlässigkeit,
sind verglichen mit Relais wesentlich reduziert. Außerdem können in
repräsentativen
Ausführungsbeispielen
zwei wichtige Anwendungen erfüllt
werden: (1) Treiben von einer einzelnen Quelle nacheinander zu mehreren
Ausgängen
(DEMUX-Funktionalität)
und (2) Treiben aller Ausgänge
gleichzeitig mit dem gleichen Stimulus (Auffächerungs- oder FANOUT-Funktionalität). Weder
der Relaisbaum aus 1A noch der DEMUX-Schalter aus 1B ist
in der Lage, dies zu tun. Diese Vielseitigkeit ist sehr wichtig
für Mehrchiphäusungsanwendungen.
Die gleiche Schaltung kann verwendet werden, um beides zu tun: DEMUX
oder FANOUT. Ferner reduziert die Zugabe des Dualkomparators 310 und
des Komparatorlogiklatch 315 zu dem Signal, das von jedem
Anschlussstift 215 einer zu testenden Vorrichtung empfangen wird,
den Gesamtanschlussstiftelektronikzählwert des Testers 205 wesentlich.
Ohne dies wäre
die einzige Weise, mehrere Vorrichtungen zu Testen, die, dass eine
N-Anzahl von Datenbussen direkt mit Testerkanälen verbunden ist. Die Anwendung
eines Kanalschalters 225 mit 40 Adresse, 6 CS und 32 Daten
verwendet nur 96 Testerkanäle.
Ohne die Kanalschalter 225 würde das System 192 Testerkanäle erfordern.
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Wie
dem auch sei, die oben beschriebenen Systeme könnten in vielen Datenverarbeitungsprodukten als
eine Kombination aus Hardware- und Softwarekomponenten implementiert
sein. Ferner könnte
die zur Verwendung der repräsentativen
Ausführungsbeispiele
erforderliche Funktionalität
in computerlesbaren Medien ausgeführt sein (wie z. B. Disketten,
herkömmlichen
Festplatten, DVDs, CD-ROMs, Flash-ROMs, einem nichtflüchtigen
ROM und RAM), die beim Programmieren einer Informationsverarbeitungsvorrichtung
zur Durchführung
gemäß so beschriebenen
Techniken verwendet werden sollen.
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Der
Ausdruck „Programmspeichermedium" ist hierin breit
definiert, um jede Art eines Computerspeichers zu umfassen, wie
z. B., jedoch nicht ausschließlich,
Disketten, herkömmliche
Festplatten, DVDs, CD-ROMs, Flash-ROMs, einen nichtflüchtigen
ROM und RAM.
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Die
repräsentativen
Ausführungsbeispiele,
die hierin detailliert beschrieben wurden, wurden beispielhaft und
nicht als Einschränkung
vorgelegt. Es ist für
Fachleute auf dem Gebiet zu erkennen, dass verschiedenen Veränderungen
an Form und Details der beschriebenen Ausführungsbeispiele durchgeführt werden könnten, was
zu äquivalenten
Ausführungsbeispielen
führt,
die innerhalb des Schutzbereichs der beigefügten Ansprüche verbleiben.