DE10139717A1 - Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung von Defekten in oder auf Blattgut - Google Patents

Abstract

Zur Untersuchung von Defekten, insbesondere Banknoten, wird das Blattgut konvex gekrümmt und im Bereich der konvexen Krümmung geprüft. Ein Detektor wird tangential zu einer Scheitellinie der konvexen Krümmung angeordnet, um Erhebungen auf der Banknotenoberfläche aufgrund von Banknotendefekten gegen einen hellen Hintergrund zu detektieren. Mittels einer geeigneten Optik wird diese Silhouette auf dem Detektor abgebildet. Der Detektor ist als Pixelarray ausgebildet und die Anzahl sowie die Höhe der beschatteten Pixel werden als Maß für die Defektdichte bzw. die Größe und Art der Defekte gewertet.

Description

• Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Untersuchen von Defekten in oder auf Blattgut, insbesondere Banknoten, insbesondere zur Ermittlung von Knitterfalten, Rissen, Löchern oder Eselsohren. Die Erfindung betrifft des weiteren eine Banknotenbearbeitungsmaschine mit einer so hen Vorrichtung.
• Das hauptsächliche Einsatzgebiet der Erfindung besteht in der Ermittlung von Defekten an Banknoten. Die Erfindung ist aber zur Untersuchung jeglichen Blattguts geeignet, insbesondere zur Untersuchung von Wertpapieren, deren Qualität durch Abnutzungserscheinungen unter einen vorgegebenen Standard sinken kann.
• Im Umlauf befindliche Banknoten werden nach ihrem Rücklauf in eine Geschäfts- und/oder Nationalbank im allgemeinen auf Qualität und Echtheit geprüft. Diese Prüfung erfolgt hierbei in der Regel automatisch in speziell zu diesem Zweck entwickelten Banknotenbearbeitungsmaschinen. Bei einem negativen Prüfergebnis wird die jeweilige Banknote aus dem Verkehr gezogen. Die Qualitätsbeurteilung erfolgt anhand sogenannter Fitnesskriterien, die beispielsweise anhand von Verschmutzung, Rissen, Knitterfalten, Löchern, Eselsohren und/oder Steifigkeit der getesteten Banknote im Vergleich zu einer neuen Banknote ermittelt werden.
• Aus der US 5,955,741 sind mehrere Verfahren bekannt, um die Fitness von Banknoten anhand ihrer Steifigkeit zu beurteilen. Banknotenpapier enthält lange Fasern, die durch häufigen Gebrauch brechen, so daß die Banknoten ihre anfängliche Steifigkeit im Laufe der Zeit verlieren. Diese Strukturänderung des Banknotenpapiers wird erfaßt, um daraus mittelbar auf die Steifigkeit zurückzuschließen bzw. ein entsprechendes Fitnesskriterium für die Banknote abzuleiten. Gemäß einem der dort vorgeschlagenen Verfahren werden die optischen Transmissions- oder Reflexionseigenschaften der Banknote erfaßt. Dazu wird die Banknote mit IR-Licht (Transmissionsmessung) oder UV-Licht (Reflexionsmessung) bestrahlt. Je mehr IR-Licht durch die Banknote hindurchtritt bzw. je stärker das reflektierte UV-Licht von der Banknotenoberfläche gestreut wird, desto schlechter ist die Qualität der Banknote einzustufen.
• Mittels dem in der US 5,955,741 vorgeschlagenen Verfahren ist jedoch nur eine grobe Prüfung der Banknoteneigenschaften möglich. Die großräumige Erfassung der reflektierten und transmittierten Strahlung läßt nur statistische Aussagen über Defekte im Papier zu. Der Beitrag und die Größe einzelner Defekte wird nicht ermittelt.
• Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, ein verbessertes Verfahren und eine verbesserte Vorrichtung zum Untersuchen von Defekten in oder auf Blattgut vorzuschlagen.
• Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren und eine Vorrichtung mit den Merkmalen der unabhängigen Ansprüche gelöst. Die abhängigen Ansprüche betreffen vorteilhafte Weiterbildungen und Ausgestaltungen der Erfindung.
• Erfindungsgemäß wird das Blattgut konvex gekrümmt und die im Bereich der konvexen Krümmung befindlichen Defekte detektiert. Durch das konvexe Krümmen der Banknote treten etwaige Defekte besser hervor. Gebrochene Faser-Enden ragen aus dem Papier heraus, Risse und Löcher werden gedehnt. Dadurch lassen sich die Defekte leichter detektieren.
• Vorzugsweise erfolgt die Detektion der Defekte entlang einer Scheitellinie oder an einzelnen Punkten einer Scheitellinie. Ganz allgemein sieht die erfindungsgemäße Lösung jedoch auch konvexe Krümmungen des Blattguts vor, welche keine Scheitellinie sondern einen Scheitelpunkt besitzen. Die Detektion der Defekte erfolgt entsprechend im Bereich dieses Scheitelpunkts.
• Vorzugsweise werden die Defekte mittels eines optischen Sensors erfaßt. Optische Sensoren sind preiswert und in zahlreichen Varianten erhältlich, so daß sie ohne größere Kosten in bereits bestehende Banknotenbearbeitungsmaschinen integrierbar sind.
• Um die Größe und den Beitrag einzelner Defekte individuell erfassen zu können, sieht eine bevorzugte Ausführungsform der Erfindung vor, daß ein optischer Detektor in einer Scheitellinienebene des konvex gekrümmten Blattguts angeordnet und auf die Scheitellinie gerichtet wird, so daß die Scheitellinie des konvex gekrümmten Blattguts für den Detektor eine Art Horizont bildet, über den Defekte der Banknote silhouettenartig aufragen. Unter Scheitellinienebene im Sinne der Erfindung ist somit eine tangential zur konvexen Krümmung liegende Ebene zu verstehen, und die Scheitellinie im Sinne der Erfindung wird durch die Berührungslinie zwischen der konvexen Krümmung und der Scheitellinienebene definiert. Der konvex gekrümmte Bereich des Blattguts wird nachfolgend auch als Scheitel bezeichnet.
• Um die von den Defekten herrührende Silhouette optimal detektieren zu können, ist es vorteilhaft, wenn der Scheitel des gekrümmten Blattguts vor einem hellen Hintergrund angeordnet ist. Ein gleichmäßig heller, homogener Hintergrund läßt sich mittels einer Leuchtstofflampe, einer hell beleuchteten Fläche, einer LED-Zeile oder einem LED-Array mit einem davor angeordneten streuenden Medium erhalten.
• Die Genauigkeit der Prüfergebnisse läßt sich verbessern, wenn zwischen dem Scheitel und dem Detektor eine Optik vorgesehen wird, mit der zumindest eine Stelle des Scheitels oder die Scheitellinie auf den Detektor abgebildet wird. Als abbildende Optik kann beispielsweise eine sphärische, asphärische oder zylindrische Sammellinse oder ein selbstfokussierendes Linsenarray (sog. Selfoc-Linsen) dienen.
• Ein bevorzugter Detektor umfaßt ein Pixelarray, welches parallel zur Scheitellinie ausgerichtet ist. Damit lassen sich nebeneinanderliegende Bereiche des Scheitels separat erfassen und auswerten. Das Pixelarray ist vorzugsweise als zweidimensionales Pixelarray mit in einem gleichmäßigen Gitter angeordneten Pixeln oder als eindimensionales Pixelarray mit länglichen, senkrecht zur Scheitellinie angeordneten Pixeln ausgebildet. Die einzelnen Pixel sind als photosensitive Elemente, vorzugsweise als Photodioden oder ladungsgekoppelte Detektorelemente, sog. CCDs, ausgebildet.
• Die von den Defekten hervorgerufene Silhouette bildet sich auf den Pixeln des auf die Scheitellinie gerichteten Detektors als Schatten ab, insbesondere vor einem hellen Hintergrund bei Einsatz einer abbildenden Optik. Je mehr Defekte in dem Blattgut vorliegen, desto mehr Erhebungen besitzt die Silhouette und dementsprechend mehr nebeneinanderliegende Pixel des Detektors liegen im Schatten. Je größer die Defekte sind, desto höher ist die Silhouette in dem entsprechenden Scheitelbereich und desto mehr übereinander angeordnete Pixel liegen im Schatten. Im Falle eines eindimensionalen Detektorarrays mit länglichen, senkrecht zur Scheitellinie angeordneten Pixeln, ist der Spannungswert pro Pixel abhängig von der Höhe des auf den Pixel fallenden Schattens. Auf diese Weise läßt sich ein Maß für die örtliche Dichte der Defekte aus der Anzahl unbeleuchteter Pixel und ein Maß für die Größe und/oder ein Hinweis auf die Art der Defekte aus der Höhe unbeleuchteter Pixel ableiten. Dazu ist eine mit dem Detektor verbundene, entsprechend ausgebildete Auswerteeinrichtung vorgesehen.
• Eine konkrete bevorzugte Ausführungsform einer Vorrichtung zur Durchführung des Testverfahrens sieht vor, daß das konvexe Krümmen des Blattguts an einem konvex gekrümmten Bauelement erfolgt. Dabei kann es sich vorzugsweise um ein stationäres Streckenelement oder aber um eine Transportwalze handeln. Solche Bauelemente sind in Banknotenverarbeitungsmaschinen vielfach vorhanden oder lassen sich ohne größeren Aufwand ergänzen.
• Zusätzlich können Riemen vorgesehen sein, die dafür sorgen, daß das Blattgut zuverlässig auf der Krümmung des konvex gekrümmten Bauelements aufliegt. Dadurch wird die Gefahr reduziert, daß sich die Scheitellinie des konvex gekrümmten Blattguts aus der Fokussierlinie herausbewegt.
• Das Untersuchen des Blattguts kann während des Blattguttransports erfolgen, so daß der Detektor eine sich zeitlich verändernde Silhouette erfaßt, die in Echtzeit von der Auswerteeinrichtung ausgewertet wird. Wenn die Defekte nach Anzahl und/oder Höhe einem vorgegebenen Fitnesskriterium nicht mehr genügen, wird die entsprechende Banknote aus dem Verkehr gezogen.
• Abgesehen von Defekten lassen sich mit dem zuvor beschriebenen System auch Lichtreflexe aufgrund stark reflektierender Bereiche, wie beispielsweise Sicherheitsfäden, Klebestreifen, Kinegramme etc. erfassen und auswerten, so daß zusätzlich oder alternativ zur Qualität des Blattguts auch Echtheitsmerkmale geprüft werden können.
• Nachfolgend wird die Erfindung beispielhaft anhand der begleitenden Zeichnungen erläutert. Es zeigen:
• Fig. 1 eine schematische Seitenansicht einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung in Seitenansicht;
• Fig. 2 die Vorrichtung aus Fig. 1 schematisch in Draufsicht;
• Fig. 3 ein erfindungsgemäß eingesetztes zweidimensionales Pixelarray;
• Fig. 4 ein erfindungsgemäß eingesetztes eindimensionales Pixelarray; und
• Fig. 5 eine Vorrichtung gemäß einer weiteren bevorzugten Ausführungsform der Erfindung.
• In Fig. 1 ist eine Vorrichtung zum Untersuchen von Defekten an einer Banknote gemäß einer ersten bevorzugten Ausführungsform schematisch in Seitenansicht dargestellt. Eine Banknote BN wird über eine sich in Pfeilrichtung drehende Transportwalze 10 transportiert. Die Transportrichtung der Banknote BN ist ebenfalls durch einen Pfeil angedeutet. Durch das konvexe Krümmen der Banknote BN auf der Transportwalze 10 treten im Krümmungsbereich bzw. Scheitel 11 einzelne Defekte 1 aus der Oberfläche der Banknote hervor. Diese Defekte 1 sind der Anschaulichkeit halber überproportional groß dargestellt. In der Regel handelt es sich um kleine Defekte, wie beispielsweise aus dem Banknotenpapier herausstehende Enden gebrochener Fasern oder dergleichen. Aber auch Risse, Löcher und Eselsohren zeigen sich im Krümmungsbereich als Erhebungen über der Oberfläche der Banknote BN. In Fig. 2 ist die Vorrichtung aus Fig. 1 in Draufsicht dargestellt. Es ist zu erkennen, daß es sich bei den Defekten 1 um eine Falte 2, einen Riß 3 und andere Defekte 4 wie beispielsweise Erhebungen, Löcher, hervorstehende Fasern, etc. handelt. Des weiteren befindet sich auf der Oberfläche der Banknote BN ein reflektierendes Element 5, beispielsweise ein Kinegramm.
• Mittels eines Sensors wird die Banknote auf die Defekte 1 bis 4 und auf das reflektierende Element 5 hin untersucht. Der Sensor umfaßt einen auf den Scheitel 11 der Transportwalze 10 bzw. der Banknote BN gerichteten, in der Scheitellinienebene 23 liegenden Detektor 20. Der Detektor 20 blickt gewissermaßen über den Scheitel 11 hinweg, so daß die Scheitellinie 12 für den Detektor 20 eine Art Horizont darstellt. Über diesen Horizont erheben sich die Defekte 1 bis 4 silhouettenartig. Um die Silhouette auf den Detektor 20 optisch abzubilden, ist eine Optik 21, die hier als übliche sphärische Sammellinse ausgebildet ist, zwischen der Scheitellinie 12 und dem Detektor 20 angeordnet. Je nach Anwendungsfall können als Optik 21 auch asphärische oder zylindrische Linsen eingesetzt werden. Zusätzlich zu dem Detektor 20 und der abbildenden Optik 21 umfaßt der Sensor zum Untersuchen der Defekte 1 bis 4 sowie des reflektierenden Elements 5 einen homogenen, hellen Hintergrund in Verlängerung der von dem Detektor 20 zum Scheitel 11 führenden optischen Achse. Der homogene helle Hintergrund wird hier durch eine Beleuchtung 22, insbesondere durch eine Leuchtstoffröhre, gebildet. Es kann sich aber auch um eine beleuchtete helle Fläche handeln oder, wie in Fig. 5 zu sehen, um eine LED-Zeile 26 oder ein LED-Array mit vorgeschalteter Streuscheibe 27. Dadurch erscheinen für den Detektor 20 die Defekte 1bis 4 jeweils als dunkle Erhebungen über der Scheitellinie 12 des Scheitels 11 vor dem hellen Hintergrund.
• Der Detektor 20 umfaßt ein Pixelarray. Dabei kann es sich um ein zweidimensionales Pixelarray 24 mit gleichmäßig angeordneten, quadratischen Pixeln handeln, wie in Fig. 3 zu sehen. Es kann sich aber auch um ein eindimensionales Pixelarray 25 mit länglichen, senkrecht zur Scheitellinie 12 orientierten Pixeln handeln, wie in Fig. 4 zu sehen. Selbstverständlich sind auch anders strukturierte Pixelarrays einsetzbar.
• In den Fig. 3 und 4 ist der auf den Detektor 20 geworfene Schatten des Scheitels 11 der konvex gekrümmten Banknote BN dargestellt. Die Höhe 12' markiert dabei den Horizont bzw. die Scheitellinie 12. Unterhalb dieser Höhe 12' liegen alle Pixel im Schatten des Scheitels 11. Soweit die Pixel oberhalb der Höhe 12' im Schatten liegen, sind diese Schatten auf über die Banknotenoberfläche aufragende Erhebungen bzw. Defekte 1 bis 4 zurückzuführen.
• In Fig. 3 sind Pixelarraybereiche mit a bis d bezeichnet, an denen der Schatten über die Scheitellinienhöhe 12' hinausgeht. Die Silhouette im Schattenbereich a ist auf den seitlichen Einriß 3 der Banknote BN zurückzuführen. Die Silhouette im Schattenbereich b ist auf die Falte 2 zurückzuführen, die allerdings bereits hinter der Scheitellinie 12 liegt, wie Fig. 2 zu entnehmen ist. Durch Verwendung der Optik 21 ist die Silhouette im Bereich b unscharf, so daß sie mit einer geeigneten Auswerteeinrichtung herausgefiltert werden kann. Andererseits kann ein nachträgliches Herausfiltern entfallen, wenn eine Optik mit langer Brennweite verwendet wird, so daß aufgrund der geringen Tiefenschärfe nur Schatten im unmittelbaren Scheitellinienbereich auf den Detektor abgebildet werden. Die Silhouette im Schattenbereich c kann beispielsweise auf aus der Banknote herausragende Fasern zurückzuführen sein, und die Silhouette im Schattenbereich d auf ein längliches Loch oder ähnliches in der Banknote.
• Die Silhouette des Schattens ändert sich bei in Transportrichtung bewegter Banknote BN ständig. Mittels einer Auswerteeinrichtung 30 werden die sich ändernden Schattenmuster in Echtzeit ausgewertet. Im Falle des in Fig. 3 dargestellten zweidimensionalen Pixelarrays 24 liefert jedes einzelne Pixel einen Spannungswert, der zwischen einem niedrigsten Wert im Falle vollständiger Beleuchtung und einem höchsten Wert im Falle vollständiger Beschattung liegt. Es kann auch mit Grenzwerten gearbeitet werden, so daß ein überwiegend beleuchtetes Pixel keine Spannung liefert und ein überwiegend beschattetes Pixel einen vorgegebenen, für alle überwiegend beschatteten Pixel gleichen Spannungswert liefert. Die Anzahl von beschatteten Pixeln oberhalb der Scheitellinienhöhe 12' dient als Maß für die Defektdichte der getesteten Banknote BN. Außerdem wird die Silhouettenhöhe anhand der Anzahl übereinander liegender beschatteter Pixel ausgewertet. Die Silhouettenhöhe wird als Maß für die Größe der Defekte oder als Hinweis auf die Art der Defekte gewertet. Im Falle des Schattenbereichs a deutet die außergewöhnliche Silhouettenhöhe am Banknotenrand beispielsweise darauf hin, daß die Banknote seitlich eingerissen ist.
• Statt eines zweidimensionalen Pixelarrays 24 kann auch ein eindimensionales Pixelarray 25, wie in Fig. 4 gezeigt, verwendet werden. Die von den einzelnen Pixeln gelieferte Spannung hängt ab von der Höhe ihrer Beschattung. Das äußerst linke Pixel liefert somit im dargestellten Beispiel den höchsten Spannungswert. Auch in diesem Fall läßt sich anhand der Anzahl von Pixeln, die eine erhöhte Spannung liefern, auf die Defektdichte schließen, und anhand der Spannungshöhe der einzelnen Pixel läßt sich auf die Defektgröße und/oder auf die Defektart schließen. Durch die kontinuierliche Messung ergibt sich ein zeitliches und damit dreidimensionales Bild der Banknotenoberfläche. Dieser zeitliche Aspekt wird bei der Bewertung und Einordnung der jeweiligen Schattenmuster berücksichtigt.
• Auch stark reflektierende Bereiche der Banknote, die beispielsweise auf das Kinegramm 5 zurückzuführen sein können, lassen sich mittels der zuvor beschriebenen Vorrichtung detektieren, da der Detektor 20 für diese Bereiche ungewöhnlich viel Strahlung empfängt, so daß der von den jeweiligen Pixels gelieferte Spannungswert unter den Wert der Hintergrundhelligkeit abfällt. Gegebenenfalls kann ein zusätzlicher Detektor vorgesehen sein, welcher wie der oben beschriebene Detektor 20 beschaffen sein kann und insbesondere als Pixelarray ausgeführt ist, um das reflektierte Licht zu detektieren.
• In Fig. 5 ist eine weitere besondere Ausführungsform der erfindungsgemäßen Vorrichtung zum Untersuchen von Defekten in oder auf Blattgut dargestellt. Die Darstellung der Fig. 5 entspricht der schematischen Darstellung der Ausführungsform nach Fig. 1 mit einigen Unterschieden. Anstelle der Leuchtstoffröhre 22 ist in diesem Falle eine LED-Zeile 26 vorgesehen, wobei eine davor angeordnete Streuscheibe 27 die LED-Strahlung in eine über die Fläche homogene Strahlung umwandelt. Ein besonders homogener Hintergrund läßt sich hierbei durch den Einsatz eines LED-Arrays erreichen, bei welchem die einzelnen LEDs über einer Fläche verteilt angeordnet sind. Auch hier kann durch eine vor dem LED-Array zusätzlich angeordnete Streuscheibe eine weitere Homogenisierung der Beleuchtung erreicht werden. Anstelle der Transportwalze 10 ist ein konvex gekrümmtes Leitblech 13 vorgesehen, über welches die Banknote BN geführt wird. Ein Rollensystem 14 sorgt für den notwendigen Vorschub in Transportrichtung. Zusätzlich kann bei dieser Ausführungsform, wie auch bei der in Fig. 1 dargestellten Ausführungsform, ein Riemensystem vorgesehen werden, mit welchem die Banknote BN auf die Transportwalze 10 bzw. das Leitblech 13 gedrückt wird, um die Banknote BN zuverlässig zu führen. Selbstverständlich sollten die Riemen möglichst schmal sein, da sie die zu prüfende Oberfläche der Banknote BN verdecken und eine Prüfung der Banknote in dem betreffenden Bereich somit nicht erfolgen kann.

Claims (38)

1. Verfahren zum Untersuchen von Defekten (1 bis 4) in oder auf Blattgut (BN), insbesondere für Banknoten, dadurch gekennzeichnet, daß das Blattgut (BN) konvex gekrümmt wird und Defekte (1 bis 4) des Blattguts (BN) im Bereich der konvexen Krümmung (11) untersucht werden.

2. Verfahren nach Anspruch 1, wobei zum Untersuchen der Defekte (1 bis 4) mindestens ein optischer Detektor (20) verwendet wird.

3. Verfahren nach Anspruch 2, wobei der optische Detektor (20) auf einen Scheitel, insbesondere auf eine Scheitellinie (12), der konvexen Krümmung (11) gerichtet und in der Ebene (23) des Scheitels bzw. der Scheitellinie (12) angeordnet wird.

4. Verfahren nach Anspruch 3, wobei zwischen dem Scheitel bzw. der Scheitellinie (12) und dem Detektor (20) eine Optik (21) vorgesehen wird, mit welcher zumindest eine Stelle im Bereich des Scheitels bzw. der Scheitellinie (12) auf den Detektor (20) abgebildet wird.

5. Verfahren nach Anspruch 4, wobei als Optik (21) eine selbstfokussierende Linse oder ein selbstfokussierendes Linsenarray verwendet wird.

6. Verfahren nach einem der Ansprüche 3 bis 5, wobei die Scheitellinie (12) vom Detektor (20) aus gesehen vor einem hellen Hintergrund (22, 27) angeordnet wird.

7. Verfahren nach Anspruch 6, wobei als heller Hintergrund eine Leuchtstofflampe (22) dient.

8. Verfahren nach Anspruch 6, wobei als heller Hintergrund eine beleuchtete Fläche dient.

9. Verfahren nach Anspruch 6, wobei als heller Hintergrund eine LED- Zeile (26) oder ein LED-Array, insbesondere mit einem jeweils davor angeordneten streuenden Medium (27), dient.

10. Verfahren nach einem der Ansprüche 2 bis 9, wobei der Detektor (20) ein Pixelarray (24, 25) umfaßt.

11. Verfahren nach Anspruch 10, wobei das Pixelarray (25) als eindimensionales Pixelarray mit länglichen Pixeln oder zweidimensionales Pixelarray mit quadratischen Pixeln ausgebildet ist.

12. Verfahren nach Anspruch 10 oder 11, wobei die Anzahl unbeleuchteter Pixel als Maß für die örtliche Dichte der Defekte (1 bis 4) gewertet wird.

13. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 12, wobei die Höhe unbeleuchteter Pixel als Maß für die Größe und/oder Hinweis auf die Art der Defekte (1 bis 4) gewertet wird.

14. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 13, wobei das konvexe Krümmen an einem konvex gekrümmten Bauelement (10, 13) erfolgt.

15. Verfahren nach Anspruch 14, wobei das konvexe Krümmen an einer Transportwalze (10) erfolgt.

16. Verfahren nach Anspruch 14 oder 15, wobei das Blattgut (BN) mittels eines oder mehrerer Riemen gegen das konvex gekrümmte Bauelemente (10, 13) gedrückt wird.

17. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 16, wobei das konvexe Krümmen und Untersuchen der Defekte (1 bis 4) bei bewegtem Blattgut (BN) erfolgt.

18. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 17, wobei Lichtreflexe aufgrund stark reflektierender Bereiche (5) des Blattguts (BN) detektiert und ausgewertet werden.

19. Vorrichtung zum Untersuchen von Defekten (1 bis 4) in oder auf Blattgut (BN), insbesondere für Banknoten, gekennzeichnet durch eine Einrichtung (10, 13) zum konvexen Krümmen des Blattguts (BN) und mindestens einen Detektor (20) zum Detektieren von Defekten (1 bis 4) im Bereich der konvexen Krümmung (11).

20. Vorrichtung nach Anspruch 19, wobei der Detektor (20) ein optischer Detektor ist.

21. Vorrichtung nach Anspruch 20, wobei der optische Detektor (20) auf einen Scheitel, insbesondere auf eine Scheitellinie (12), der konvexen Krümmung (11) gerichtet und in der Ebene (23) des Scheitels bzw. der Scheitellinie (12) angeordnet ist.

22. Vorrichtung nach Anspruch 21, wobei zwischen dem Scheitel bzw. der Scheitellinie (12) und dem Detektor (20) eine Optik (21) vorgesehen ist, mit der zumindest eine Stelle im Bereich des Scheitels bzw. der Scheitellinie (12) auf den Detektor (20) abgebildet wird.

23. Vorrichtung nach Anspruch 22, wobei die Optik (21) eine selbstfokussierende Linse oder ein selbstfokussierendes Linsenarray ist.

24. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 21 bis 23, wobei der Scheitel bzw. die Scheitellinie (12) vom Detektor (20) aus gesehen vor einem hellen Hintergrund (22, 27) liegt.

25. Vorrichtung nach Anspruch 24, wobei als heller Hintergrund eine Leuchtstofflampe (22) dient.

26. Vorrichtung nach Anspruch 24, wobei als heller Hintergrund eine beleuchtete Fläche dient.

27. Vorrichtung nach Anspruch 24, wobei als heller Hintergrund eine LED- Zeile (26) oder ein LED-Array, insbesondere mit einem jeweils davor angeordneten streuenden Medium (27), dient.

28. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 20 bis 27, wobei der Detektor (20) ein Pixelarray (24, 25) umfaßt.

29. Vorrichtung nach Anspruch 28, wobei das Pixelarray (25) als
eindimensionales Pixelarray mit länglichen Pixeln oder
zweidimensionales Pixelarray mit quadratischen Pixeln
ausgebildet ist.

30. Vorrichtung nach Anspruch 28 oder 29, umfassend eine Auswerteeinrichtung (30), in welcher die Anzahl unbeleuchteter Pixel als Maß für die örtliche Dichte der Defekte (1 bis 4) gewertet wird.

31. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 28 bis 30, umfassend eine Auswerteeinrichtung (30), in welcher die Höhe unbeleuchteter Pixels als Maß für die Größe und/oder Hinweis auf die Art der Defekte (1 bis 4) gewertet wird.

32. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 19 bis 31, wobei die Einrichtung (10,13) zum konvexen Krümmen des Blattguts (BN) ein gekrümmtes Bauelement ist.

33. Vorrichtung nach Anspruch 32, wobei die Einrichtung zum konvexen Krümmen des Blattguts (BN) eine Transportwalze (10) ist.

34. Vorrichtung nach Anspruch 32 oder 33, wobei Riemen vorgesehen sind, welche das Blattgut (BN) gegen das konvex gekrümmte Bauelement (10, 13) drücken können.

35. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 19 bis 34, welche zur Untersuchung des Blattguts (BN) bei bewegtem Blattgut (BN) ausgebildet ist.

36. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 19 bis 35, wobei der Detektor (20) und/oder ein zusätzlicher Detektor zur Detektion von Lichtreflexen aufgrund stark reflektierender Bereiche des Blattguts (BN) ausgebildet bzw. vorgesehen ist.

37. Vorrichtung nach Anspruch 36, wobei der zusätzliche Detektor als Pixelarray ausgebildet ist.

38. Banknotenbearbeitungsvorrichtung umfassend eine Vorrichtung nach einem der Ansprüche 19 bis 37.