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DE1007438B - Flaechentransistor nach dem Legierungsprinzip - Google Patents

Flaechentransistor nach dem Legierungsprinzip

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Publication number
DE1007438B
DE1007438B DER11889A DER0011889A DE1007438B DE 1007438 B DE1007438 B DE 1007438B DE R11889 A DER11889 A DE R11889A DE R0011889 A DER0011889 A DE R0011889A DE 1007438 B DE1007438 B DE 1007438B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
collector
emitter
electrode
area
transistor according
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DER11889A
Other languages
English (en)
Inventor
Jaques Isaac Pankove
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
RCA Corp
Original Assignee
RCA Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by RCA Corp filed Critical RCA Corp
Publication of DE1007438B publication Critical patent/DE1007438B/de
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D62/00Semiconductor bodies, or regions thereof, of devices having potential barriers
    • H10D62/10Shapes, relative sizes or dispositions of the regions of the semiconductor bodies; Shapes of the semiconductor bodies
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D10/00Bipolar junction transistors [BJT]
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D99/00Subject matter not provided for in other groups of this subclass
    • H10P95/50

Landscapes

  • Bipolar Transistors (AREA)

Description

  • Flächentransistor nach dem Legierungsprinzip Die Erfindung bezieht sich auf einen Flächentransistor nach dem Legierungsprinzip, bei dem zwischen einer Emitter- und einer Kollektorzone gleichen Leitungstyps eine Basiszone aus Halbleitermaterial entgegengesetzten Leitungstyps liegt.
  • Transistoren sind für Signalübertragungszwecke, z. B. als Verstärker, als Oszillator oder als Modulator, bekannt. Sie enthalten einen Halbleiterkörper, auf dem eine Emitter- oder Steuerelektrode, eine Kollektor- oder Arbeitselektrode und eine Basiselektrode sich in Kontakt mit dem Halbleiterkörper befinden.
  • Transistoren pflegt man nach der heutigen Kenntnis dieses Gebietes in zwei verschiedene Gruppen einzuteilen. Die eine dieser Gruppen umfa.ßt die Punktkontakt-Transistoren, bei welchen der halbleitende Körper ein Kristall aus N-Germanium sein kann, d. h, ein Kristall, welcher vermöge des Vorhandenseinseiner Spenderverunreinigung einen Ü'berschuß von Elektronen aufweist. Der Halbleiterkörper kann aber auch ein Kristall von P-Germanium sein, d. h. ein Kristall, in welchem vermöge des Vorhandenseins einer Akzeptorverunreinigung ein Unterschuß an Elektronen besteht. Die Basiselektrode des Transistors liegt an der Kontaktstelle mit dem Halbleiterkörper mit geringen Widerstand auf, während die anderen beiden Elektroden aus Sonden bestehen, die einen Gleichrichterkontakt mit dem Halbleiterkörper bilden.
  • Die zweite Gruppe von Transistoren sind Transistoren mit Inversionsschicht, bei denen der Halbleiterkörper gleichrichtende Schwellen oder Inversionsschichten zwischen dem P-Gebiet und dem N-Gebiet besitzt. Bei diesen Transistoren kann jede Elektrode an der Kontaktstelle mit dem P-Gebiet bzw. N-Gebiet einen geringen. Widerstand aufweisen. Jede Elektrode injiziert, wenn man sie gegenüber der Basiselektrode in der Vorwärtsrichtung oder Durchlaßrichtung vorspannt, Ladungsträger in dasjenige Gebiet, auf dem die Basiselektrode aufliegt. Somit werden in ein N-Gebiet Löcher injiziert, während in ein P-Gebiet Elektronen injiziert werden.
  • Ein Transistor mit Inversionsschicht läßt sich dadurch herstellen, daß man bestimmte Metalle, z. B. Aluminium, Bor, Gallium oder Indium, auf entgegengesetzten Seiten eines dünnen N-Germaniumkörpers eindiffundieren läßt, so daß ein P-N-P-Transistor entsteht. Dabei sind Bor, Aluminium, Gallium und Indium als P-Verunreinigungen oder Akzeptoren bekannt, da sie den Teil des N-Germaniumkörpers, in welchen sie cindiffundieren, zu einem P-Gebiet machen. Dies geht so vor sich, daß die, Atome dieser Metalle Elektronen aus dem sie umgebenden Germaniumgitter binden und daher in diesem einen Unterschuß von Elektronen, d. h. sogenannte Löcher, hervorrufen. Ebenso kann ein N-P-N-Transistor dadurch hergestellt werden, daß man einen Teil des P-Germaniums in N-Germanium umwandelt. Dies kann so geschehen, daß man eine N-Verunreinigung, d. h. einen Spender, auf entgegengesetzten Seiten in einen P-Halbleiter eindiffundieren läßt. Zu den Spenderverunreinigungen gehören Phosphor, Arsen, Antimon und Wismuth. DieseVerunreinigungen wandeln das P-Germanium in N-Germanium um, indem sie Elektronen dem Germanium zuführen und daher in diesem einen Überschuß an Elektronen. erzeugen.
  • Man hat auch bereits erkannt, daß die Stromverstärkung eines Inversionsschicht-Transistors möglichst den Wert 1 erhalten muß. Die Stromverstärkung eines Transistors wird üblicherweise mit a bezeichnet. Sie Wird definiert als die Änderung des Kollcktorstromes je Einheit der Änderung des Emitterstromes für eine konstante Kollektorvorspannung.
  • Es ist bekannt, daß es für die Bestimmung der Schaltungseigenschaften des Transistors auf den Wert a ankommt und daß bei Annäherung von a an den Wert 1 viele Schaltungseigenschaften besser werden.
  • Die Ladungsträger, welche von der Emitterelektrode in den Kristall injiziert werden, bewegen sich von der Emitterelektrode zur Kollektorelektrode und bestimmen dadurch den Kollektorstrom. Eine Änderung im Emitterstrom führt zu einer entsprechenden Änderung im Kollektorstrom. Wenn alle Ladungsträger, welche in den Kristall injiziert werden, die Kollektorelektrode erreichen:, nimmt die Stromverstärkung den Wert 1 an.
  • Da die Spannung, die der Kollektorelektrode zugeführt wird, ein starkes Feld hauptsächlich an der Kollekto,rschicht hervorruft, treten die Ladungsträger, welche in den Kristall durch die Emitterelektrodenschicht injiziert werden, durch das Basiselektrodengebiet des Transistors hauptsächlich durch Diffusion hindurch. Wenn man eine Kollektorelektrode von geeigneter Konfiguration und von solcher Größe vorsieht, daß sie verhältnismäßig groß gegenüber der Emitterelektrode ist, so können nahezu alle von der Emitterelektrode injizierten Stromträger die Kollektorelektrode erreichen, und die Stromverstärkung wird dem Wert 1 sehr nahekommen. Die Übertragungseigenschaften der erfindungsgemäßen Halbleiter sind unsymmetrisch. Dies bedeutet, daß bei Verwendung der kleineren Elektrode als Kollektor und der größeren Elektrode als Emitter die Stromverstärkung wesentlich kleiner als 1 wird.
  • Bei den bekannten Flächentransistoren sind im allgemeinen Emitter und Kollektor gleich groß. Es sind jedoch auch Transistoren, bekannt, bei denen die Kollektorfläche gegenüber der Emitterfläche verkleinert wurde, um Platz für den Basisa.nschluß zu gewinnen. Diese Maßnahme war nötig, da sieh bei der bekannten Anordnung Emitter und Kollektor, mit Ausnahme des für den Basisa,nschluß ausgesparten Platzes, über die, ganze Basisoberfläche erstreckten; sie erfolgte also aus rein mechanischen Gründen.
  • Die vorliegende Anordnung hat die Aufgabe, einen Flächentransistor nach dem Legierungsprinzip, bei dem zwischen einer Emitter- und einer Kollektorzone gleichen Leitungstyps eine Basiszone aus Halbleitermaterial entgegengesetzten Leitungstyps liegt, mit einer Stromverstärkung von annähernd 1 zu schaffen. Dies wird erfindungsgemäß dadurch erreicht, daß die Kollektorfläche größer ist als die Emitterfläche. Dabei soll unter »Kollektorfläche« bzw. »Einitterfläche« die Fläche der jeweils wirksamen Sperrschichtverstandzn werden.
  • Die Erfindung soll nun an Hand der Zeichnungen näher erläuaert werden.
  • Fig. 1 stellt eine Aufsicht auf eine Ausführungsform des Transistors dar; Fig. 2 ist ein Schnitt durch die Ausführungsform nach Fig. 1 längs der Schn.ittebe:ne 2-2; Fig. 3 ist ein Schnitt durch den Transistor in einer Verstärkerschaltung; Fig. 4 ist eiin Schnitt durch eine andere Ausführungsform.
  • In Fig. 1 und 2 ist ein halbleitender Körper 10 dargestellt, welcher aus einem Kristall von Siliziiitn oder Germanium bestehen kann. Der Kristall kann vom Typ P oder vom N-Typ sein. Im folgenden, ist angenommen., daß es sich um einen IN-Kristall handoln würde.
  • Auf den beiden, Seiten des Körpers 10 sind eine Emitterelektrode 11 und eine Kollektorelei;trode, 12 auflegiert. Die Emitterelektrode und die KollAtorelektrode bestehen aus einem Akzeptormetall, z. B. aus Aluminium oder aus Bor, vorzugsweise jedoch aus Indium. Durch Wärmebehandlung der Elektroden 11 und 12 nach Aufbringen, auf den, Kristallkörper 10 diffundiert das Akzeptormetall in den IX-Körper hinein und, verändert diesen, so daß das P-Gebiet 14 und das P-Gebiet 15 entstehen;. Die Gebiete 14 und 15 sind von, dem restlichen N-Gebiet durch die Gleichrichterschwellen oder Schichten 14' und 15' getrennt. Somit wird also ein Halbleiter gebildet, der zwei Zonen, vom P-Leitungstyp besitzt, welche durch eine Zone vom N-Leitungstyp getrennt sind.
  • Grundsätzlich kann der Körper 10 eine beliebige Dicke haben, jedoch wurden gute Ergebnisse mit einer Dicke von annähernd 0,075 bis 0.15 mm erreicht. Beispielsweise kann die Elektrode 11 eine Dicke von etwa. 0,25 mm und einen Durchmesser von etwa 0,37 mm haben, und die Elektrode 12 eine Dicke von. etwa. 0,25 mm und einen Durchmesser von annähernd 2 mm.
  • Auf dem Körper 10 kann eine Basiselektrode 16 durch Auflöten. eines geeigneten. Metalls angebracht werden. Die Elektrode. 16 ha,t einen Kontakt geringen Widerstandes und kann. statt durch Auflöten auch durch Aufspritzen, durch Aufstreichen oder durch ein anderweitiges Überziehen der betreffenden Stelle des Halbleiterkörpers mit dem Basiselektroden, material hergestellt werden. Die Basiselektrode kann die Emitterelektrode oder die Kollektorelektrode oder beide Elektroden umgeben und schließt eine beträchtliche Fläche des Körpers 10 ein. Hierdurch wird eine gleichmäßigere Diffusion. der in den. Körper 10 von der Emitterelektrode injizierten Träger hervorgerufen, und zwar aus den. im folgenden erläuterten Gründen. Die Basiselektrode 16 kann jedoch in einer beliebigen Form mit niedrigem Widerstand auf dem Halbleiterkörper angebracht werden. Mit jeder Elektrode sind geeignete Zuleitungen verlötet.
  • Die Kodlektorelektrode 12 ist verhältnismäßig groß gegen die Emittere:lektrode 11. Somit wird das P-Gebiet 15 und die Schwelle 15' größer als das P-Gebiet 14 und die Schwelle 14'. Die Emitterelektrode injiziert bei geeigneter Vorspann.ung gegenüber der Basiselektrode Stromträger oder Löcher in den. Körper 10. Da der größte Teil der zugeführten Vorspannunge,n als Spannungsabfall an, den. Schwellen 14' und 15' auftritt, ist das elektrische Feld im Körper 10 vernachlässigbar. Daher hat das elektrische Feld zwischen der Basiselektrode und der Schwelle 14' einen. geringen. Einfluß auf die: Bewegung der Stromträger, so daß diese nach dem Durchtritt durch die Schwelle 14' so wie durch die: Pfeile 18 angedeutet diffundieren:. Die Stromträger werden durch die großflächige Schwelle 15' abgefangen und treten, in das P-Gebiet 15 ein. Die Kollektorschicht 15', die einen verhältnismäßig großen Teil des Körpers 10 umfaßt, kann. nahezu alle injizierten Löcher aufnehmen.
  • Bei der Herstellung von P-N-P-Transistoren hat sich <las folgende Verfahren bewährt: es besteht im wesentlichen, aus drei Schritten, nämlich aus der Präparation eines N-Germaniumkörpers, aus der Präparation der Akzeptorverunreinigung mit Indium und aus dem Brennen oder Eind-iffundieren des Indiums in den Germaniumkörper.
  • Der Germaniumkörper wird aus einem Germanium-Einkristall gewonnen, der einen, beliebigen spezifischen Widerstand haben kann, wobei sich jedoch Werte von 2 bis 5 Ohm-Zentimeter gut bewährt haben. Der spezifische Widerstand des Germaniums ist im allgemeinen für das Verhalten des Transistors sehr wichtig und stellt einen in, hohem Maße kritischen Wert dar. Der spezifische Widerstand hängt im Germa,n.ium von winzigen Mengen von Spender- oder Akzeptorverunreinigungen ab. Der spezifische Widerstand von reinem Germanium ist annähernd 60 Ohm-Zentimeter. Wenn, eine zu große Zahl von. Verunreinigungsatomen, im Germanium vorhanden ist, wird die Leitfähigkeit des Germaniums zu hoch. und die Transistorwirkung wird ungünstig beeinflußt. Es ist daher erwünscht, die Verunreinigungen durch Reinigungsverfahren möglichst zu entfernen, so daß definierte Mengen von Verunreinigungsmaterial zugeführt werden können und die gewünschten Werte des spezifischen Widerstandes erreicht werden. Andererseits kann jedoch der spezifische Widerstand des zwischen den Schichten 14' und 15' liegenden Gebietes durch die Menge der in dieses Gebiet eindiffundierten Verunreinigungen beeinflußt werden. Der Leitungstyp dieser Verunreinigungen ist der entgegengesetzte wie der dieses Gebietes, jedoch ist ihre Konzentration sehr klein. Die Wirkung dieser Verunreinigungen besteht darin, daß der spezifische Widerstand des zwischen den Schichten liegenden Gebietes. steigt. Wegen dieser Möglichkeit der Beeinflussung des spezifischen Widerstandes im Gebiet zwischen den beiden Schichten 14' und 15' ist die Wahl des anfänglichen Wertes des spezifischen Widerstandes des Körpers 10 nicht kritisch. Beispielsweise sei erwähnt, daß ein Germanium-Einkrista.ll in Scheiben von: je 0,5 mm Dicke zerschnitten worden ist. Die. Scheiben werden dann in dünne Ouadra,te von etwa 37 mm2 aufgeteilt.
  • Um einen einwandfreien Betrieb zu erzielen, muß die Oberfläche der Kristallkörper absolut sauber sein und die Kristallstruktur an der Oberfläche ungestört sein. Die Dicke der gestörten kristallinen Schicht durch das Zerschneiden und die Aufteilung der Kristalle beträgt vermutlich einige, hundertstel Millimeter. Dementsprechend werden die Germaniumstückchen in einer geeigneten Ätzlösung geätzt, bis sie annähernd eine Dicke von etwa 0,075 bis 0,15 mm annehmen. Die Ätzlösung kann z. B. Salpetersäure und Flußsäure sein. Die Menge der Ätzlösung muß groß genug sein, um eine schnelle Gasentwicklung zu verhindern. Die Gennaniumstückchen werden nach der Abätzung auf die gewünschte, Dicke in fließendem heißem Wasser von etwa 50° C gewaschen, sodann in destilliertem Wasser abgespült und schließlich in einem Sieb mittels eines warmen Luftstromes getrocknet. Sodann kann auf die Kristallkörper die Akzeptorverunreinigung Indium aufgebracht werden.
  • In den Kristallkörper wird verhältnismäßig reines Indium eindiffundiert. Das Indium wird in runde Scheiben zweier verschiedener Größen gestanzt, deren Dicke 0,25 mm beträgt. Der Durchmesser der kleineren Scheiben beträgt etwa 0,37 mm, und der Durchmesser der größeren Scheiben beträgt etwa 2 inin. Die Scheiben werden durch Entfetten in Äther und durch anschließendes Waschen in Wasser gereinigt und sodann getrocknet.
  • Das Eindiffundieren der Indiumscheiben . in die Kristallkörper geht in einer Wasserstoffatmosphäre vor sich, die erst desoxydiert und dann in flüssiger Luft getrocknet wird. Die größere der beiden Indiumscheiben wird zunächst etwa in der -litte des Germaniumkörpers angebracht und für etwa eine 'Minute bei 250° C gebrannt. Dieses anfängliche Brennen dient dazu, die größere Scheibe auf dem Germaniumkörper zu befestigen. Sodann wird eine kleine Indiumscheibe auf der anderen Seite des Germa,niumkörpers angebracht. Der mit diesen beiden. Scheiben versehene Körper wird sodann für 10 oder 20 Minuten, bei einer Temperatur zwischen 400 und 500° C gebrannt, wobei das Indium in den Kristallkörper eindiffundiert.
  • Die kleinere Indiumscheibe stellt die Emitterelektrode dar und die: größere die Kollektorelektrode. Eine Zuleitung wird mit geringem Übergangswiderstand an jeder der Indiumscheiben durch Löten od. dgl. befestigt. Eine Basiselektrode. kann durch Anlöten eines Nickelbandes an den German.iumkörper gebildet werden.
  • In Fig. 3 ist als Ausführungsbeispieil eine Verstärkerschaltung unter Verwendung eines erfindungsgemäßen Transistors dargestellt. Zwischen. der Emitterelektrode 14 und der Basiselektrode 16 wird eine verhältnismäßig kleine, in der Vorwärtsrichtung wirksame Vorspa,nnung gelegt. Unter einer in der Vorwärtsrichtung wirksamen Vorspannung wird dabei diejenige Polarität verstanden, bei welcher Ladungsträger entgegengesetzten Vorzeichens in den Körper 10 eingeführt werden, d. h. eine Polarität, bei der in einen -N-Kristall Löcher eingeführt werden bzw. in einen. P-Kristall Elektronen. eingeführt werden,. Wenn die Sendeelektrode in der Vorwärtsrichtung vorgespannt werden soll, muß sie also bei einem N-Kristall positiv, dagegen bei einem P-Kristall negativ sein. Zu diesem Zweck kann eine geeignete Spannungsquelle, z. B. eine Batterie 20, mit ihrem negativen Pol an die Basiselektrode und mit ihrem positiven Pol über ein Widerstandselement, z. B. einen ohmschen Widerstand 21, an die Emitterelektrode angeschlossen sein. Die Basiselektrode 16 kann, wie dargestellt, geerdet werden. Ferner wird eine verhältnismäßig große Vorspannung mit der umgekehrten Pola; rität zwischen die Kollektorelektrode 12 und die Basiselektrode 16 geschaltet.
  • Eine Vorspannung in der umgekehrten Richtung kann, als eine Spannung definiert werden, welche der Einführung von Löchern in einen N-Kristall bzw. von Elektronen in einen P-Kristall entgegenwirkt. Somit muß der Kollektor 12 negativ gegenüber der Basiselektrode 16 sein, wenn. es sich um einen N-Kristall handelt, und muß positiv gegenüber der Basiselektrode 16 sein, wenn es sich um einen P-Kristall handelt. Zu diesem Zweck wird eine geeignete Spannungsquelle, z. B. eine Batterie 22, mit ihrem positiven Pol geerdet, d. h. mit der Basiselektrode 16 verbunden, und ihr negativer Pol über ein Widerstandselement, z. B. einen ohmschen Widerstand 23, an die Kollektorelektrode 12 angeschlossen. Ein Eingangssignal kann, den Eingangsklemmen. 24 zugeführt werden:, wobei die eine; dieser Eingangsklemmen geerdet ist, während die andere über einen Koppelkondensator 25 an; der Emitterelektrode il liegt. Ein verstärktes Ausgangssignal kann am Lastwiderstand 23 abgenommen werden, und zwar beispielsweise dadurch. daß man die Ausgangsklemmen 26 benutzt, von denen die eine geerdet ist, während die andere, über einen Koppelkondensator 27 mit dem Kollektor 12 verbunden ist.
  • In Fig. 4 wird der Körper 10 teilweise geätzt, so daß ringförmige, Einkerbungen oder Vertiefungen 30 und 31 auf beiden Seiten des. Körpers entstehen. Die Dicke des Körpers zwischen den. Schichten 14' und 15' wird dadurch vermindert und die Frequenzeinpfindlichkeit erhöht. Die Emitterelektrode 11 wird, innerhalb der Vertiefung 30 angebracht. Die Vertiefung 31 ist ringförmig. Die Kollektorelektrode 12 wird symmetrisch zur Vertiefung 31 angeordnet. Die Basiselektrode 16 umgibt die Emitterelektrode 14 und schließt einen größeren Teil des Körpers 10 ein.
  • Es wurde eine Anzahl von Kristallkörpern aus Germanium mit einer Dicke von, je etwa 0,15 mm geprÜft, die einen spezifischen Widerstand von 3 Ohm-Zentimeter hatten.. Dabei wurde die Stromverstärkung a als Funktion des Durchmessers von Kollektorelektrode und Emitterelektrode untersucht. Die Ergebnissg sind in der folgenden Tabelle zusammengestellt.
    Kollektor- Emitter-
    Transistor elektroden- elektrode Strom-
    Nr. durchmesser Durchmesser verstärkung
    in mm in mm
    1 0,625 0,625 0,7 bis 0,85
    2 1,12 0,37 0,75 bis 0,87
    3 2,13 0,37 0,97
    4 i 3,12 0,37 0,91 bis 0,98
    5 0,37 1,12 I 0,17 bis 0,33
    Diese Meßergebnisse zeigen, da.ß mit zunehmender Kollektorfläche die Stromverstärkung sich dem Wert 1 nähert.
  • Durch die vorliegende Anordnung wird somit ein verbesserter Halbleiter für Sign:alübertragungszwecke geschaffen, Der Transistor besteht aus einem Körper eines halbleitenden Materials mit zwei Gebieten des gleichen Leitungstyps und einem weiteren zwischen diesen Gebieten liegenden Gebiet des entgegengesetzten Leitungstyps. Die Trennflächen zwischen diesen Gebieten sind von ungleicher Größe. Die Kollektorelektrod.e des Transistors ist erheblich größer als die Emitterelektrade@ Der Transistor gemäß der Erfindung besitzt eine Stromverstärkung, die dem Wert 1 nahekommt, und eine verhältnismäßig hohe Leistungsverstärkung.

Claims (7)

  1. PATENTANSPRÜCHE: 1. Flächentransistor nach dem Legierungsprinzip, bei dem zwischen einer Emitter- und einer Kollektorzone gleichen: Leitungstyps eine Basiszone aus Halbleitennaterial entgegengesetzten, Leitungstyps liegt, dadurch gekennzeichnet, daß die Kollektorfläche größer ist als die Emitterfläche.
  2. 2. Flächentransistor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die, Kollektoxoberfläche wenigstens dreimal so, groß ist wie die Emitterfläche.
  3. 3. Flächentransistor nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß Emitter und Kollektor gleichachsig angeordnet sind.
  4. 4. Flächentransistor nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß Emitter und/oder Kollektor in Vertiefungen des Halbleiterkörpers angeordnet sind.
  5. 5. Flächentransistor nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß Emitter, Basis und Kollektor in einem Halbleiterkörper von 0,075 bis 0,15 mm Dicke angebracht sind.
  6. 6. Flächentransistor nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß Emitter und Kollektor in dem Halbleiter durch Aufschmelzen kleiner Scheibchen von Verunreinigungsmaterial einer Dicke von etwa 0,25 mm und eines Durchmessers von 0,38 bzw. von 2,0 mm erzeugt sind.
  7. 7. Flächentransistor nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß der Basiskörper (10) eine ringförmige Anschlußelektrode (16) trägt, die den Emitter (11) umschließt (Fig. 1). In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsche Patentschrift Nr. 814 487; belgische Patentschrift Nr. 500 302.
DER11889A 1952-06-13 1953-06-12 Flaechentransistor nach dem Legierungsprinzip Pending DE1007438B (de)

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