DE10003465A1 - Halbleiterspeichervorrichtung mit Mehrfachanschluß (Multiple-Port Semiconductor Memory Device) - Google Patents
Halbleiterspeichervorrichtung mit Mehrfachanschluß (Multiple-Port Semiconductor Memory Device)Info
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- 230000009977 dual effect Effects 0.000 title claims description 7
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 21
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 claims description 9
- 230000008569 process Effects 0.000 description 16
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 15
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 5
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 5
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 5
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 4
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 3
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- VTYYLEPIZMXCLO-UHFFFAOYSA-L Calcium carbonate Chemical compound [Ca+2].[O-]C([O-])=O VTYYLEPIZMXCLO-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 229940056345 tums Drugs 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/41—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
- G11C11/413—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/16—Multiple access memory array, e.g. addressing one storage element via at least two independent addressing line groups
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1015—Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
- G11C7/1045—Read-write mode select circuits
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- Static Random-Access Memory (AREA)
Abstract
Ein Dual-Port-SRAM arbeitet für Lese- und Schreibvorgänge in einem einzelnen Taktzyklus. Der SRAM hat einen Komparator (17) zum Vergleichen der Leseadresse und der Schreibadresse zur Erfassung einer Übereinstimmung zwischen ihnen. Eine Überbrückungsschaltung (19) leitet das Schreibdatum als Lesedatum bei Anwesenheit einer Übereinstimmung über, während eine Zeitsteuerschaltung (22) das Schreibsteuersignal (102) mit Bezug auf das Lesesteuersignal (106) bei Erfassung einer Nichtübereinstimmung verzögert. Die Zeitsteuerung zwischen dem Lesevorgang und dem Schreibvorgang vermindert eine Signalinterferenz zwischen dem Schreibdatum und dem Lesedatum und ermöglicht einen schnelleren Betrieb des Computersystems.
Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Halbleiter
speichervorrichtung mit Mehrfachanschluß und insbesondere
auf eine Halbleiterspeichervorrichtung mit Mehrfachan
schluß, bei der beispielsweise ein Datenpaar gleichzeitig
über einen Eingangsanschluß und einen Ausgangsanschluß in
der Speicherzellenanordnung geschrieben und gelesen wird.
Die vorliegende Erfindung bezieht sich weiterhin auf ein
Verfahren zum Steuern einer solchen Halbleiterspeichervor
richtung mit Mehrfachanschluß.
Ein SRAM mit Mehrfachanschluß, typischerweise bekannt als
Dual-Port-SRAM, ist im allgemeinen als ein Kernmakroblock
in einem LSI eingefügt. Falls in dem allgemeinen Dual-Port-
SRAM Daten aus einer einzelnen Speicherzelle (oder an der
gleichen Adresse) zu lesen sind und in diese zu schreiben
sind, werden sowohl der Lesevorgang als auch der Schreib
vorgang gleichzeitig durchgeführt, wie im Fall von unter
schiedlichen Adressen. In dieser Situation ändert sich das
Lesedatum während des Lesevorgangs gegenüber dem alten Da
tum, das in der Speicherzelle vor dem Schreibvorgang ge
speichert ist, in das neue Datum, das in die Speicherzelle
nach dem Schreibvorgang eingeschrieben ist. Dies ist nicht
vorteilhaft, da, abhängig von der Zeitsteuerung des Ausle
sens, das gelesene Datum nicht bestimmt werden kann.
Zum Lösen des obenstehenden Problems wird auch eine andere
Konfiguration verwendet, bei der das Schreibdatum zunächst
in der Speicherzelle gespeichert wird und dann als Leseda
tum gelesen wird. Dieser Vorgang verbraucht jedoch eine
größere Lesezeit im Vergleich mit dem normalen Lesevorgang
in einem SRAM. In dem Dual-Port-SRAM ist erwünscht, daß die
Lese- und Schreibvorgänge unabhängig voneinander mit hoher
Geschwindigkeit durchgeführt werden, insbesondere für den
Lesevorgang.
Um diese Anforderungen zu erfüllen, schlägt die Patentver
öffentlichung JP-A-1-285088 eine Dual-Port-Speichervor
richtung vor, die in Fig. 1 dargestellt ist. In der vorge
schlagenen Vorrichtung wird das Schreibdatum 101, das durch
den Eingangsanschluß geliefert wird, zum Ausgangsanschluß
über eine Überbrückungsschaltung 19 überbrückt, wenn die
Lese- und Schreibvorgänge an einer einzigen Speicherzelle
durchzuführen sind, wobei sowohl die Leseadresse als auch
die Schreibadresse miteinander übereinstimmen. Diese Konfi
guration erzielt einen schnellen Lesevorgang, der mit der
Lesezeit für den normalen Lesevorgang in einem SRAM ver
gleichbar ist.
Zwischenzeitlich enthalten heutige Dual-Port-Speichervor
richtungen, die als Speichermakroblöcke verwendet werden,
einen Eingangsanschluß für das Schreibdatum und einen Aus
gangsanschluß für das Lesedatum, die einander gegenüberlie
gend angeordnet sind, wobei die Speicherzellenanordnung
zwischengefügt ist. Diese Konfiguration antwortet auf die
Anforderung zum Erhöhen der Anzahl von Bits oder paßt die
Struktur eines System-auf-Chip-LSI vom Gesichtspunkt des
Chip-Designs an. In dem System-auf-Chip-LSI ist erwünscht,
daß die Datenanschlüsse des Speichermakroblocks zwischen
seiner Eingangsseite und seiner Ausgangsseite getrennt
sind. Falls die in Fig. 1 dargestellte Überbrückungsschal
tung in dieser Art von Dual-Port-Speichervorrichtung einge
bracht wird, könnte die Schaltungskonfiguration so, wie in
Fig. 2 dargestellt, sein. Fig. 3 zeigt ein Zeitablaufdia
gramm des Dual-Port-SRAM der Fig. 2.
In Fig. 3 erzeugt ein Zeitsteuerabschnitt 22 der Fig. 2 ein
Lesesteuersignal 106 und ein Schreibsteuersignal 102, syn
chron zu einem Systemtaktsignal 108 zum Steuern des Einga
beabschnitts 16 und des Ausgabeabschnitts 18. Wenn ein Ver
gleicher (oder ein Übereinstimmungsdetektierungsabschnitt
17)eine Koinzidenz zwischen der Schreibadresse und der Le
seadresse erfaßt und ein Koinzidenzsignal 107 erzeugt, wird
das Koinzidenzsignal 107 an die Überbrückungsschaltung 19
geliefert, die das Schreibdatum 101 an den Ausgangsanschluß
als Lesedatum in einem Taktzyklus überleitet. In diesem
Fall wird der Lesevorgang mit einer Geschwindigkeit durch
geführt, die mit der Geschwindigkeit des normalen Lesevor
gangs vergleichbar ist.
Falls andererseits die Schreibadresse und die Leseadresse
nicht miteinander übereinstimmen, werden die Lese- und
Schreibvorgänge an verschiedenen Speicherzellen unabhängig
voneinander durchgeführt. Im allgemeinen hat die Speicher
zellanordnung ein Paar komplementärer Lesebitleitungen 20
und ein Paar komplementärer Schreibbitleitungen 21, wobei
die Anordnung so getroffen ist, daß eine nichtinvertierende
Schreibbitleitung und eine invertierende Lesebitleitung an
einander angrenzend angeordnet sind und eine invertierende
Schreibbitleitung und eine nichtinvertierende Lesebitlei
tung aneinander angrenzend angeordnet sind. Dieser Aufbau
bringt ein Problem dahingehend mit sich, daß eine Signalin
terferenz zwischen dem Schreibdatum und dem Lesedatum auf
tritt, die gleichzeitig auf den Lesebitleitungen 20 bzw.
den Schreibbitleitungen 21 auftreten. Die Signalinterferenz
verzögert das Lesedatum, das durch die Lesebitleitungen 20
zugeführt wird, im Vergleich mit der normalen Lesevorgang
in einem SRAM. Dieses Problem wird durch die Reduktion des
Leitungsraumes in dem heutigen Dual-Port-SRAM vergrößert,
bei dem eine Kopplungskapazität zwischen aneinandergrenzen
den Bitleitungen mehr und mehr erhöht wird.
Das obige Problem ergibt sich insbesondere in dem Aufbau,
der in der Fig. 2 dargestellt ist, wobei der Eingangsan
schluß und der Ausgangsanschluß einander gegenüber liegen
und die Speicherzellanordnung 11 zwischengefügt ist. Im
konventionellen SRAM der Fig. 1 ist dies nicht der Fall, da
dort eine Zeitsteuerdifferenz zwischen dem Lesevorgang und
dem Schreibvorgang vorhanden ist, wie in Fig. 4 dargestellt
ist, wobei das Lesesteuersignal 102 mit Bezug auf das
Schreibsteuersignal 106 vorläuft.
Im Hinblick auf das Obenstehende ist es eine Aufgabe der
vorliegenden Erfindung, einen SRAM mit Mehrfachanschluß zu
schaffen, der in der Lage ist, einen höheren Lesevorgang zu
erzielen, unabhängig von der Anwesenheit oder der Abwesen
heit einer Übereinstimmung zwischen der Schreibadresse und
der Leseadresse, selbst für den Fall einer Anordnung, bei
der der Eingangsanschluß und der Ausgangsanschluß einander
gegenüber liegen, wobei die Speicherzellanordnung zwischen
gefügt ist.
Die vorliegende Erfindung schafft eine Mehrfachanschluß-
Speichervorrichtung mit einer Speicherzellanordnung, ein
schließlich einer Anzahl von Speicherzellen, einer Ein
gangsschaltung zum Reagieren auf ein Schreibsteuersignal,
um ein Schreibdatum in einer der Speicherzellen, die durch
eine Schreibadresse angegeben ist, während eines Taktzyklus
eines Systemtaktsignals zu speichern, einer Ausgangsschal
tung zum Reagieren auf ein Lesesteuersignal zum Lesen eines
Datums aus einer Speicherzelle, die durch eine Leseadresse
angegeben ist, während desselben Taktzyklus, einem Koinzi
denzdetektorabschnitt zum Erzeugen eines Koinzidenzsignals
bei Übereinstimmung zwischen der Leseadresse und der
Schreibadresse, einer Überbrückungsschaltung zum Reagieren
auf das Koinzidenzsignal zum Überleiten des Schreibdatums
an den Ausgangsabschnitt und eine Zeitsteuerschaltung zum
Reagieren auf das Koinzidenzsignal zur Angabe einer
Zeitsteuerung zwischen dem Schreibsteuersignal und dem Le
sesteuersignal, wobei die Zeitsteuerung derart ist, daß das
Lesesteuersignal in Bezug auf das Schreibsteuersignal bei
Abwesenheit des Koinzidenzsignals vorausläuft und daß das
Lesesteuersignal und das Schreibsteuersignal bei Vorhanden
sein des Koinzidenzsignals im wesentlichen gleichzeitig er
zeugt werden.
In Übereinstimmung mit dem SRAM mit Mehrfachanschluß der
vorliegenden Erfindung erlaubt das gleichzeitige Zeitsteu
ern des Lesesteuersignals und des Schreibsteuersignals bei
Erzeugung des Koinzidenzsignals der Überbrückungsschaltung
das Schreibdatum, das von dem Eingabeabschnitt geliefert
wird, zu dem Ausgabeabschnitt überzuleiten, der das
Schreibdatum als ein Lesedatum liefert. Desweiteren ermög
licht die Verzögerung des Schreibsteuersignals es dem Aus
gabeabschnitt ein Datum aus der Speicherzelle, die durch
die Leseadresse angegeben ist, ohne Interferenz zwischen
dem Lesedatum und dem Schreibdatum auf den Bitleitungen zu
lesen. Die Verzögerung des Speicherns des Schreibdatums bei
Anwesenheit des Koinzidenzsignals beeinträchtigt nicht die
Geschwindigkeit des Computersystems, solange das Speichern
innerhalb des Taktzyklus abgeschlossen ist. Der schnelle
Lesevorgang ermöglicht es dem Computersystem, das die Dual-
Port-Speichervorrichtung aufweist, mit höherer Geschwindig
keit zu arbeiten. Die Zeitsteuerung zwischen dem Lesesteu
ersignal und dem Schreibsteuersignal, basierend auf dem Ko
inzidenzsignal, ist dem Stand der Technik nicht bekannt.
Die obenstehende und weitere Aufgaben, Merkmale und Vortei
le der Erfindung werden aus der folgenden Beschreibung mit
Bezug auf die beigefügten Zeichnungen deutlich.
Fig. 1 ist ein Blockdiagramm eines konventionellen Dual-
Port-SRAM mit einer Funktion, die in einer Patentveröffent
lichung vorgeschlagen ist.
Fig. 2 ist ein Blockdiagramm eines denkbaren Dual-Port-SRAM
mit einer normalen Struktur und der durch die Veröffentli
chung vorgeschlagenen Funktion.
Fig. 3 ist ein Zeitablaufdiagramm des denkbaren Dual-Port-
SRAM der Fig. 2.
Fig. 4 ist ein Zeitablaufdiagramm des Dual-Port-SRAM der
Fig. 1.
Fig. 5 ist ein Blockdiagramm eines Dual-Port-SRAM als Bei
spiel eines SRAM mit Mehrfachanschluß gemäß der Erfindung.
Fig. 6 ist ein detailliertes Schaltungsdiagramm einer der
Speicherzellen der Fig. 5.
Fig. 7 ist ein Schaltungsdiagramm eines ersten Beispiels
des Zeitsteuerabschnitts, der in Fig. 5 dargestellt ist.
Fig. 8A und 8B sind Zeitablaufdiagramme des SRAM, der den
Zeitsteuerabschnitt der Fig. 7 aufweist, wobei Fig. 8A dem
Fall entspricht, daß die Schreibadresse und die Leseadresse
miteinander übereinstimmen, und Fig. 8B dem Fall ent
spricht, daß die Schreibadresse und die Leseadresse nicht
miteinander übereinstimmen.
Fig. 9 ist ein Schaltungsdiagramm eines zweiten Beispiels
des Zeitsteuerabschnitts, der in Fig. 5 dargestellt ist.
Fig. 10A und 10B sind Zeitablaufdiagramme des SRAM mit dem
Zeitsteuerabschnitt der Fig. 9 und zeigen Fälle entspre
chend den Fällen der Fig. 8A bzw. Fig. 8B.
Fig. 10 ist ein Schaltungsdiagramm eines dritten Beispiels
des in Fig. 5 dargestellten Zeitsteuerabschnitts.
Fig. 12A und 12B sind Zeitablaufdiagramme des SRAM mit dem
Zeitsteuerabschnitt der Fig. 11 und zeigt Fälle, die den
Fällen der Fig. 8A bzw. 8B entsprechen.
Im folgenden wird die vorliegende Erfindung spezifischer
mit Bezug auf die beigefügten Zeichnungen erläutert.
Bezugnehmend auf Fig. 5 enthält ein Dual-Port-SRAM gemäß
einem Ausführungsbeispiel der Erfindung eine Speicherzel
lanordnung 11 mit einer Anzahl von Speicherzellen, die in
einer Matrix angeordnet sind, einen Schreibadressdekoder 13
zum Empfang einer Schreibadresse durch einen Eingabean
schlußadressbus 12, einen Leseadressdekoder 15 zum Empfan
gen einer Leseadresse über einen Ausgabeanschlußadressbus
14, einen Eingabeabschnitt 16 zum Empfang eines Schreibda
tums 101 zum Speichern des Schreibdatums in der Speicher
zellenanordnung 11, einen Ausgabeabschnitt 18 zum Liefern
eines Lesedatums 105, das von der Speicherzellanordnung 11
gelesen wurde, einen Koinzidenzdetektorabschnitt (Kompara
tor 17) zum Vergleichen der Schreibadresse und der Lesea
dresse, um ein Koinzidenzsignal 107 zu liefern, das bei De
tektierung einer Übereinstimmung zwischen ihnen aktiv ist,
einen Überbrückungsabschnitt 19 zum Empfangen des Leseda
tums von der Speicherzellanordnung 11 über ein Paar Lese
bitleitungen 20 zum Liefern des Lesedatums an den Ausgabe
abschnitt 18 im Fall eines inaktiven Pegels des Koinzidenz
signals 107 und zum Reagieren auf einen aktiven Pegel des
Koinzidenzsignals zur Überleitung des Schreibdatums, das
von einem Paar Schreibbitleitungen 21 geliefert wird, an
den Ausgabeabschnitt 18, und einen Zeitsteuerabschnitt 22
zum Empfangen eines Systemtaktsignals 108 und des Koinzi
denzsignals 107 zur Erzeugung und Lieferung eines
Schreibsteuersignals 102 und eines Lesesteuersignals 106
mit einer spezifischen Zeitsteuerung mit Bezug auf das Sy
stemtaktsignal 108, abhängig von dem Koinzidenzsignal 107.
Der Eingabeanschluß zum Empfang des Schreibdatums 101 und
der Ausgabeanschluß zum Liefern des Lesedatums 105 sind
einander gegenüber angeordnet, wobei die Speicherzellanord
nung 11 zwischengefügt ist.
Bezugnehmend auf Fig. 6, die ein Detail eines Teils der
Speicherzellanordnung 11 zeigt, umfaßt die Speicherzel
lanordnung 11 eine Anzahl von Speicherzellen 11a, von denen
eine hier gezeigt ist, ein Paar Wortleitungen 23, die für
jede Reihe von Speicherzellen 11a angeordnet sind, und ei
nen Satz Bitleitungen, die für jede Spalte der Speicherzel
len 11a angeordnet sind. Der Satz Bitleitungen umfaßt ein
Paar komplementärer Lesebitleitungen 20A und 20B und ein
Paar komplementärer Schreibbitleitungen 21A und 21B. Jede
Speicherzelle 11a umfaßt einen Halteabschnitt aus einem
Paar Invertern 41 und 44, die zusammen zur Bildung einer
Halteschleife zum Speichern eines Zellendatums verbunden
sind, ein Paar Schreibübertragungstransistoren 43 und 44,
jeder zum Empfang des Schreibdatums von einer korrespondie
renden Schreibbitleitung 21A und 21B zum Speichern des
Schreibdatums in dem Halteabschnitt und ein Paar Leseüber
tragungstransistoren 45 und 46, jeweils zum Liefern des Da
tums, das in dem Halteabschnitt gespeichert ist, an eine
korrespondierende Lesebitleitung 20A und 20B.
Die nichtinvertierende Schreibbitleitung 21A und die inver
tierende Lesebitleitung 20B sind aneinander angrenzend an
geordnet und haben eine große Kopplungskapazität zwischen
sich, während die invertierende Schreibbitleitung 21B und
die nichtinvertierende Lesebitleitung 20A angrenzend anein
ander angeordnet ist und zwischen sich eine große Kopp
lungskapazität aufweisen. Die große Kopplungskapazität ver
zögert eine schnelle Signalübertragung, wenn sowohl das
Schreibbitleitungspaar 21 als auch das Lesebitleitungspaar
20 gleichzeitig jeweilige Daten übertragen.
Bezugnehmend auf Fig. 7 umfaßt ein erstes Beispiel des
Zeitsteuerabschnitts ein erstes NAND-Gatter 31 zum Empfang
des Systemtaktsignals 108 und des Koinzidenzsignals 107 an
seinen Eingängen, einen Inverter 33 zum Invertieren des Sy
stemtaktsignals 108, eine Verzögerungsschaltung 34 zum Emp
fang der Ausgabe von dem Inverter 33 zum Liefern eines ver
zögerten Ausgabesignals, ein zweites NAND-Gatter 32 zum
Empfang der Ausgaben des ersten NAND-Gatters 31 und der
Verzögerungsschaltung 34 an seinen Eingängen zum Liefern
des Schreibsteuersignals 102 und einen Puffer zum Empfang
des Systemtaktsignals 108 und zum Liefern des Lesesteuersi
gnals 106.
Bezugnehmend auf die Fig. 8A und 8B sind dort Zeitab
laufdiagramme des Zeitsteuerabschnitts 22 für den Fall der
Anwesenheit bzw. Abwesenheit der Koinzidenz zwischen der
Leseadresse und der Schreibadresse dargestellt.
Wenn in Fig. 8A das Taktsignal 108 auf einen hohen Pegel
ansteigt, während das Koinzidenzsignal auf "1" eingestellt
ist, fallen der Knoten 36 und die Ausgabe des Puffers 35
gleichzeitig auf einen niedrigen Pegel, wodurch das
Schreibsteuersignal 102 und das Lesesteuersignal 106 zur
gleichen Zeit auf einen hohen Pegel ansteigen. Der Knoten
38 fällt nach einer spezifizierten Verzögerungszeit, die
abgelaufen ist, nachdem der Knoten 37 auf einen niedrigen
Pegel fällt, auf einen niedrigen Pegel.
Das Schreibsteuersignal 102 und das Lesesteuersignal 106,
die synchron mit dem Systemtaktsignal 108 geliefert werden,
erlauben es dem Eingabeabschnitt 16, dem Ausgabeabschnitt
18 und dem Überbrückungsabschnitt 19 in Übereinstimmung in
der Anfangsstufe des Taktzyklus zu arbeiten, wodurch der
Überbrückungsabschnitt 19 das Schreibdatum vom Eingabeab
schnitt 16 zum Ausgabeabschnitt 18 überträgt, und somit
kann der Ausgabeabschnitt 18 das Schreibdatum als ein Lese
datum in der Anfangsphase des Taktzyklus liefern.
Falls andererseits das Taktsignal 108 auf einen hohen Pegel
ansteigt, wobei das Koinzidenzsignal auf "0" zurückgestellt
ist, wie es in Fig. 8b dargestellt ist, verbleibt der Kno
ten 36 auf dem hohen Pegel und die Ausgabe des Puffers 35
fällt auf einen niedrigen Pegel. Auf diese Weise steigt das
Lesesteuersignal 106 auf einen aktiven hohen Pegel synchron
mit dem Systemtaktsignal 108. Der Knoten 38 fällt auf einen
niedrigen Pegel, nachdem die spezifizierte Zeitverzögerung
seit dem Abfallen des Knotens 37 abgelaufen ist, wodurch
das Schreibsteuersignal 102 mit einer spezifizierten Zeit
verzögerung auf einen aktiven Pegel ansteigt.
Insbesondere wenn die Schreibadresse und die Leseadresse
nicht miteinander übereinstimmen, liefert der Zeitsteuerab
schnitt 22 zunächst das Lesesteuersignal 106 und dann das
Schreibsteuersignal 102 mit der gegebenen Zeitverzögerung.
In diesem Fall empfängt der Überbrückungsabschnitt 19 einen
inaktiven Pegel des Koinzidenzsignals, um das Lesedatum,
das aus der Speicherzellanordnung 11 ausgelesen wurde, über
die Lesebitleitungen 20 auszuwählen, um dadurch das Leseda
tum an den Ausgangsabschnitt 18 zu liefern. Auf diese Weise
liefert der Ausgabeabschnitt 18 das Datum, das aus der
Speicherzellanordnung gelesen wurde, als Lesedatum. Der
Schreibvorgang wird durch den Eingabeabschnitt 16 durchge
führt, nachdem der Lesevorgang beendet ist, aufgrund der
Verzögerung des Schreibsteuersignals 102. In diesem Fall
wird der Lesevorgang mit einer hohen Geschwindigkeit ohne
eine Kopplungsverzögerung durchgeführt, da der Lese- und
der Schreibvorgang getrennt voneinander durchgeführt wer
den.
Bei den obenstehenden Vorgängen soll festgestellt werden,
daß das Lesedatum im wesentlichen an dem Nachfolgestufenma
kroblock in dem LSI während des Lese-/Schreib-Vorgangs
übertragen wird. Der Lesevorgang sollte in der Anfangsstufe
des Taktzyklus durchgeführt werden, um die Signalübertra
gung und den sicheren Empfang des gelesenen Datums durch
den folgenden Makroblock im Rest des Taktzyklus sicherzu
stellen. In diesem Zusammenhang ist es ausreichend, daß der
Schreibvorgang vor dem Ende des Taktzyklus beendet ist, da
der Speichermakroblock das Ziel für das Schreibdatum ist,
was keinen weiteren Vorgang durch einen anderen Makroblock
umfaßt. Das heißt, der Schreibvorgang kann mit Bezug auf
den Lesevorgang verzögert werden, solange er innerhalb des
Taktzyklus abgeschlossen ist.
In dem obenstehenden Ausführungsbeispiel erlaubt die
Zeitsteuerung durch den Zeitsteuerabschnitt 22 basierend
auf dem Koinzidenzsignal 107 eine schnellere Übermittlung
des Lesedatums, unabhängig von dem aktiven oder inaktiven
Pegel des Koinzidenzsignals 107.
Bezugnehmend auf Fig. 9 unterscheidet sich ein zweites Bei
spiel des Zeitsteuerabschnitts, der in Fig. 5 dargestellt
ist, von dem ersten Beispiel dadurch, daß ein drittes NAND-
Gatter im vorliegenden Beispiel anstatt des Inverters der
Fig. 5 vorgesehen ist. Insbesondere umfaßt der Zeitsteuer
abschnitt 22A ein erstes NAND-Gatter 51 zum Empfang des Sy
stemtaktsignals 108 und des Koinzidenzsignals 107 an seinen
Eingängen, ein zweites NAND-Gatter 52 zum Empfang der Aus
gaben des ersten NAND-Gatters 51 und des dritten NAND-
Gatters 54 an seinen Eingängen, eine Verzögerungsschaltung
54 zum Empfang des Systemtaktsignals 108 und zum Liefern
eines verzögerten Taktsignals, das dritte NAND-Gatter 54
zum Empfang des Systemtaktsignals 108 und des verzögerten
Taktsignals an seinen Eingängen und einen Puffer 55 zum
Empfang des Systemtaktsignals 108 und zum Liefern eines Le
sesteuersignals 106.
Bezugnehmend auf die Fig. 10A und 10B liefert der Zeit
steuerabschnitt der Fig. 9 ein verbessertes Schreibsteuer
signal 102, wobei das Schreibsteuersignal 102 einen niedri
gen Pegel direkt, nachdem das Systemtaktsignal 108 auf ei
nen niedrigen Pegel abfällt, in sowohl Fig. 10a als auch
Fig. 10b einnimmt, wobei die anderen Vorgänge im wesentli
chen dieselben sind wie in dem ersten Beispiel. Dies ermög
licht es dem Schreibabschnitt 22A mit einer höheren Ge
schwindigkeit zu arbeiten, wodurch die Frequenz des System
taktsignals höher gestaltet werden kann.
Bezugnehmend auf Fig. 11 umfaßt ein drittes Beispiel des
Zeitsteuerabschnitts 22B einen Puffer 71 zum Empfang des
Systemtaktsignals 108 und zum Liefern eines Schreibsteuer
signals 102, einen Inverter 72 zum Empfang des Koinzidenz
signals 107, ein erstes NAND-Gatter 73 zum Empfang der Aus
gaben des Puffers 71 und des Inverters 72 an seinen Eingän
gen, eine Verzögerungsschaltung 75 zum Empfang des System
taktsignals 108 und zum Liefern eines verzögerten Taktsi
gnals, ein zweites NAND-Gatter 76 zum Empfang der Ausgabe
des Puffers 71 und des verzögerten Taktsignals an seinen
Eingängen und ein drittes NAND-Gatter 74 zum Empfang der
Ausgaben des ersten NAND-Gatters 73 und des zweiten NAND-
Gatters 76 an seinen Eingängen und zum Liefern eines Lese
steuersignals 106.
Bezugnehmend auf die Fig. 12A und 12B liefert das dritte
Beispiel des Zeitablaufdiagramms das Schreibsteuersignal
102 mit der speziellen Zeitsteuerung, verzögert von der An
stiegsflanke des Systemtaktsignals 108, unabhängig von ei
ner Übereinstimmung oder Nichtübereinstimmung der beiden
Adressignale, und liefert das Lesesteuersignal 106 mit ei
ner unterschiedlichen Zeitsteuerung zwischen den Fällen der
Koinzidenz und der Nichtkoinzidenz. Das heißt, das Lese
steuersignal 102 wird mit einer Zeitsteuerung der Anstiegs
flanke des Systemtaktsignals 108 bei Nichtkoinzidenz der
beiden Adressignale geliefert, und mit der Zeitsteuerung,
verzögert von der Anstiegsflanke des Systemtaktsignals 108
und gleichzeitig mit dem Schreibsteuersignal 102 bei Über
einstimmung der Adressignale.
In den obenstehenden Ausführungsbeispielen wurde bestätigt,
daß die Lesezeit 21 µs (bei Koinzidenz der beiden Adres
signale) betrug und 22 µs bei Nichtübereinstimmung der bei
den Adressignale. Andererseits war die Lesezeit in dem kon
ventionellen Dual-Port-SRAM 21 µs und 27 µs für die ent
sprechenden Fälle.
Da die obenstehenden Ausführungsbeispiele nur als Beispiele
beschrieben sind, ist die vorliegende Erfindung nicht auf
die obenstehenden Ausführungsbeispiele beschränkt, und ver
schiedene Modifikationen oder Änderungen können in einfa
cher Weise vom Durchschnittsfachmann ohne Abweichung vom
Umfang der vorliegenden Erfindung gemacht werden. Bei
spielsweise ist die Dual-Port-Speichervorrichtung der vor
liegenden Erfindung nicht auf ein SRAM beschränkt und kann
ein DRAM oder jede andere Speichervorrichtung sein, sofern
die Speichervorrichtung doppelte Anschlüsse aufweist. Des
weiteren kann die in den Zeichnungen dargestellten Konfigu
rationen verändert werden.
Claims (8)
1. Mehrfachanschluß-Speichervorrichtung mit einer Spei
cherzellenanordnung (11) mit einer Anzahl von Speicherzel
len, einer Eingabeschaltung (16) zum Reagieren auf ein
Schreibsteuersignal (102) zum Speichern eines Schreibdatums
in einer der Speicherzellen, die durch eine Schreibadresse
angegeben ist, während eines Taktzyklus eines Systemtaktsi
gnals (108), einer Ausgabeschaltung (18) zum Reagieren auf
ein Lesesteuersignal (106) zum Lesen eines Datums aus einer
der Speicherzellen, die durch eine Leseadresse angegeben
wird, während desselben Taktzyklus, einem Koinzidenzdetek
torabschnitt (17) zum Erzeugen eines Koinzidenzsignals
(107) bei Übereinstimmung zwischen der Leseadresse und der
Schreibadresse, einer Überbrückungsschaltung (19) zum Rea
gieren auf das Koinzidenzsignal zum Überleiten des Schreib
datums an den Ausgabeabschnitt (18) und einer Zeitsteuer
schaltung (22) zum Reagieren auf das Koinzidenzsignal, um
eine Zeitsteuerung zwischen dem Schreibsteuersignal (102)
und dem Lesesteuersignal (108) zu spezifizieren,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Zeitsteuerung derart ist, daß das Lesesteuersignal
(106) mit Bezug auf das Schreibsteuersignal (102) bei Abwe
senheit des Koinzidenzsignals (107) vorausläuft, und daß
das Lesesteuersignal (102) und das Schreibsteuersignal
(106) bei Anwesenheit des Koinzidenzsignals (107) im we
sentlichen zur gleichen Zeit erzeugt werden.
2. Mehrfachanschluß-Speichervorrichtung nach Anspruch 1,
wobei das Lesesteuersignal (106) mit einer festen Zeit
steuerung in Bezug auf das Systemtaktsignal (108) unabhän
gig von einer Übereinstimmung oder einer Nichtübereinstim
mung geliefert wird.
3. Mehrfachanschluß-Speichervorrichtung nach Anspruch 1,
wobei das Schreibsteuersignal (102) mit einer festen Zeit
steuerung mit Bezug auf das Systemtaktsignal (108) unabhän
gig von der Übereinstimmung oder der Nichtübereinstimmung
geliefert wird.
4. Mehrfachanschluß-Speichervorrichtung nach Anspruch 1,
wobei die Eingabeschaltung (16) und die Ausgabeschaltung
(18) die Speicherzellenanordnung (11) zwischen sich aufneh
men.
5. Mehrfachanschluß-Speichervorrichtung nach Anspruch 1,
wobei die Mehrfachanschluß-Speichervorrichtung eine Dual-
Port-Speichervorrichtung ist.
6. Verfahren zum Steuern einer Mehrfachanschluß-Speicher
vorrichtung mit den Schritten Eingeben einer Leseadresse,
einer Schreibadresse und eines Schreibdatums, Lesen eines
Datums aus einer Speicherzelle, die durch die Leseadresse
angegeben ist, durch Antwort auf ein Lesesteuersignal (106)
und Speichern des Schreibdatums in einer Speicherzelle, die
durch das Schreibdatum angegeben ist, durch Antworten auf
ein Schreibsteuersignal (102) in einem Taktzyklus eines Sy
stemtaktsignals und Vergleichen der Leseadresse und der
Schreibadresse zur Erfassung einer Übereinstimmung zwischen
ihnen,
gekennzeichnet durch Steuern einer Zeitsteue
rung zwischen dem Schreibsteuersignal (102) und dem Lese
steuersignal (106) basierend auf der Anwesenheit oder Abwe
senheit der Übereinstimmung derart, daß das Schreibsteuer
signal (102) und das Lesesteuersignal (106) bei Anwesenheit
der Übereinstimmung gleichzeitig geliefert werden, und daß
das Schreibsteuersignal (102) mit Bezug auf das Lesesteuer
signal (106) bei Abwesenheit der Übereinstimmung verzögert
geliefert wird.
7. Verfahren nach Anspruch 6,
wobei das Lesesteuersignal (102) mit einer fixierten
Zeitsteuerung mit Bezug auf das Systemtaktsignal (100) un
abhängig von der Anwesenheit oder Abwesenheit der Überein
stimmung geliefert wird.
8. Verfahren nach Anspruch 6,
wobei das Schreibsteuersignal (102) mit einer fixierten
Zeitsteuerung mit Bezug auf das Systemtaktsignal (108) un
abhängig von der Anwesenheit oder Abwesenheit der Überein
stimmung geliefert wird.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02171299A JP3226886B2 (ja) | 1999-01-29 | 1999-01-29 | 半導体記憶装置とその制御方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE10003465A1 true DE10003465A1 (de) | 2000-08-24 |
Family
ID=12062688
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE10003465A Withdrawn DE10003465A1 (de) | 1999-01-29 | 2000-01-27 | Halbleiterspeichervorrichtung mit Mehrfachanschluß (Multiple-Port Semiconductor Memory Device) |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6181634B1 (de) |
| JP (1) | JP3226886B2 (de) |
| KR (1) | KR100335455B1 (de) |
| DE (1) | DE10003465A1 (de) |
| TW (1) | TW466494B (de) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| KR102597374B1 (ko) | 2021-12-31 | 2023-11-02 | 주식회사 새롬테크 | 역류 방지 부재 및 이를 포함하는 배수 장치 |
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1999
- 1999-01-29 JP JP02171299A patent/JP3226886B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-01-27 DE DE10003465A patent/DE10003465A1/de not_active Withdrawn
- 2000-01-28 TW TW089101590A patent/TW466494B/zh not_active IP Right Cessation
- 2000-01-28 US US09/493,155 patent/US6181634B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2000-01-29 KR KR1020000004443A patent/KR100335455B1/ko not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6181634B1 (en) | 2001-01-30 |
| JP3226886B2 (ja) | 2001-11-05 |
| KR20000053662A (ko) | 2000-08-25 |
| JP2000222880A (ja) | 2000-08-11 |
| KR100335455B1 (ko) | 2002-05-04 |
| TW466494B (en) | 2001-12-01 |
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