CN203055406U - 一种基板的信号线检测装置及显示器件 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种基板的信号线检测装置及显示器件。该装置包括：用于输出测试信号的测试信号输出端，用于检测测试信号的测试信号检测端，和三极管开关元件组；各个三极管开关元件的源极分别与基板上平行设置的信号线连接；三极管开关元件组的栅极引出端与测试信号输出端连接；三极管开关元件组的漏极引出端与测试信号检测端连接；或者，各个三极管开关元件的栅极分别与基板上平行设置的信号线连接；三极管开关元件组的源极引出端与测试信号输出端连接；三极管开关元件组的漏极引出端与测试信号检测端连接。通过与基板上平行设置的信号线连接的开关元件构成传导结构。从而实现对基板的信号线断路检测，提高了测试的准确性以及检出能力。

Description

一种基板的信号线检测装置及显示器件

技术领域

本实用新型涉及显示技术领域，尤其涉及一种基板的信号线检测装置及显示器件。 

背景技术

阵列（Array）基板是在玻璃基板上沉积薄膜晶体管（TFT）像素阵列电路形成的。阵列检测设备（Array Tester，简称AT设备）对阵列基板进行检测。 

AT设备在对阵列基板进行检测，先对阵列基板上的信号线进行短路（Short）检测（ESS Test），如果发现阵列基板上的信号线短路，会调用特殊的信号继续进行检测，以提高设备测试的准确性与检出能力。完成ESS Test后，再对TFT像素进行检测。 

但现有技术中，没有针对数据线断路的测试，导致测试的准确性和检出能力较低。 

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种基板的信号线检测装置及显示器件，以解决测试的准确性和检出能力较低的问题。 

本实用新型的目的是通过以下技术方案实现的： 

一种基板的信号线检测装置，包括： 

用于输出测试信号的测试信号输出端，用于检测测试信号的测试信号检测端，和三极管开关元件组； 

所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的源极分别与基板上平行设置的信号线连接；所述三极管开关元件组的栅极引出端与所述测试信号输 出端连接；所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接；或者， 

所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的栅极分别与基板上平行设置的信号线连接；所述三极管开关元件组的源极引出端与所述测试信号输出端连接；所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接。 

如果所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的源极分别与基板上平行设置的信号线连接；所述三极管开关元件组的栅极引出端与所述测试信号输出端连接；所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接；较佳的，通过一个三极管开关元件的栅极与相邻的另一个三极管开关元件的漏极连接，实现所述三极管开关元件组中各个三极管开关元件的串接。 

对于串接的三极管开关元件，较佳的，有至少两个所述三极管开关元件组，每组三极管开关元件的源极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接；每个三极管开关元件组的栅极引出端的栅极分别与一个测试信号输出端连接；每个三极管开关元件组的漏极引出端的漏极分别与一个测试信号检测端连接；或者， 

有至少两个所述三极管开关元件组，每组三极管开关元件的源极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接；每个三极管开关元件组的栅极引出端均与同一个测试信号输出端连接；每个三极管开关元件组的漏极引出端均与同一个测试信号检测端连接。 

如果所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的栅极分别与基板上平行设置的信号线连接；所述三极管开关元件组的源极引出端与所述测试信号输出端连接；所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接；较佳的，通过一个三极管开关元件的源极与相邻的另一个三极管开关元件的漏极连接，实现所述三极管开关元件组中各个三极管开关元件的串接。 

对于串接的三极管开关元件，较佳的，有至少两个三极管开关元件组，每组三极管开关元件的栅极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接；每个三极管开关元件组的源极引出端分别与一个测试信号输出端连接；每个三极管开关元件组的漏极引出端分别与一个测试信号检测端连接；或者， 

有至少两个三极管开关元件组，每组三极管开关元件的栅极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接；每个三极管开关元件组的源极引出端均与同一个测试信号输出端连接；每个三极管开关元件组的漏极引出端均与同一个测试信号检测端连接。 

如果所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的源极分别与基板上平行设置的信号线连接；所述三极管开关元件组的栅极引出端与所述测试信号输出端连接；所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接；较佳的，所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的栅极作为所述三极管开关元件组的栅极引出端与所述测试信号输出端连接；所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的漏极作为所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接。即三极管开关元件组中的各个三极管开关元件并接。 

对于并接的三极管开关元件，较佳的，有至少两个三极管开关元件组，每组三极管开关元件的源极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接；每个三极管开关元件组的栅极引出端分别与一个测试信号输出端连接；每个三极管开关元件组的漏极引出端分别与一个测试信号检测端连接；或者， 

有至少两个三极管开关元件组，每组开关元件的源极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接；各个三极管开关元件组的栅极引出端均与同一个测试信号输出端连接；各个三极管开关元件组的漏极引出端均与同一个测试信号检测端连接。 

如果所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的栅极分别与基板上平行设置的信号线连接；所述三极管开关元件组的源极引出端与所述测试信号输出端连接；所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接；较佳的，所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的源极作为所述 三极管开关元件组的源极引出端与所述测试信号输出端连接；所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的漏极作为所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接。即三极管开关元件组中的各个三极管开关元件并接。 

对于并接的三极管开关元件，较佳的，有至少两个三极管开关元件组，每组三极管开关元件的栅极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接；各个三极管开关元件组的源极引出端分别与一个测试信号输出端连接；各个三极管开关元件组的漏极引出端分别与一个测试信号检测端连接；或者， 

有至少两个三极管开关元件组，每组开关元件的栅极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接；各个三极管开关元件组的源极引出端均与同一个测试信号输出端连接；各个三极管开关元件组的漏极引出端均与同一个测试信号检测端连接。 

上述任一实施例中，较佳的，所述信号线为：数据线，或者，扫描线，或者，公共电极线。 

本实用新型实施例还提供一种显示器件，包括上述任一实施例所述的基板的信号线检测装置。 

本实用新型提供的技术方案，通过与基板上平行设置的信号线连接的开关元件构成传导结构。基于该结构，可以从该传导结构的一端输入测试信号，在另一端检测测试信号的电平值，如果检测到的电平值小于预先设定的阈值，则可以判断基板的信号线出现断路。从而实现对基板的信号线断路检测，提高了测试的准确性以及检出能力。 

附图说明

图1为本实用新型实施例提供的第一种装置结构示意图； 

图2为本实用新型实施例提供的第二种装置结构示意图； 

图3为本实用新型实施例提供的第三种装置结构示意图； 

图4为本实用新型实施例提供的第四种装置结构示意图。 

具体实施方式

为了实现对基板信号线进行断路测试，以提高测试的准确性和检出能力，本实用新型提供一种基板的信号线检测装置及显示器件，通过与基板上平行设置的信号线连接的开关元件构成传导结构。基于该结构，可以从该传导结构的一端输入测试信号，在另一端检测测试信号的电平值，如果检测到的电平值小于预先设定的阈值，则可以判断基板的信号线出现断路。从而实现对基板的信号线断路检测，提高了测试的准确性以及检出能力。 

下面将结合附图，对本实用新型提供的信号线检测装置进行详细说明。 

如图1所示，本实用新型提供的一种基板的信号线测试装置包括： 

用于输出测试信号的测试信号输出端1，用于检测测试信号的测试信号检测端2，和三极管开关元件组101。 

三极管开关元件组101中的各个三极管开关元件3的源极S分别与基板上平行设置的数据线100连接。 

三极管开关元件组101中的各个三极管开关元件3通过栅极G和漏极D串接。即，一个三极管开关元件3的栅极与本组中另一个三极管开关元件3的漏极连接。 

与左起第一条数据线100连接的三极管开关元件3（该三极管开关元件组101的初始端），其栅极G作为三极管开关元件组的栅极引出端与测试信号输出端1连接。图1中，该三极管开关元件3的栅极G通过信号线与测试信号输出端1连接，应当指出的是，应用中，还可以使得三极管开关元件3的栅极G与测试信号输出端1直接电连接。 

与左起最后一条数据线100连接的三极管开关元件3（该三极管开关元件组101的末端），其漏极D作为三极管开关元件组的漏极引出端与测试信号检测端2连接。图1中，该三极管开关元件3的漏极D通过信号线与测试信号检 测端2连接，应当指出的是，应用中，还可以使得三极管开关元件3的漏极D与测试信号检测端2直接电连接。 

应用图1所示的装置对数据线进行断路检测时，基板上的像素开关均开启，数据线驱动端向各条数据线均输出高电平的数据信号，通过测试信号输出端1输出一高电平信号（即Switch信号），在测试信号检测端2检测电平值，如果该电平值小于设定的阈值，则认为数据线存在断路。 

图1所示的信号线测试装置中，三极管开关元件3的源极S与数据线100连接。作为一种可替换的实施结构，还可以是： 

三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的栅极分别与基板上平行设置的数据线连接。各个三极管开关元件通过源极和漏极串接，即一个三极管开关元件的栅极与本组中另一个三极管开关元件的漏极连接。三极管开关元件组中的初始端的三极管开关元件的源极作为三极管开关元件组的源极引出端与测试信号输出端连接。三极管开关元件组中的末端的三极管开关元件的漏极作为三极管开关元件组的漏极引出端与测试信号检测端连接。 

上述两个实施例提供的装置，可以实现对数据线的断路测试。应当指出的是，采用上述结构的检测装置，还可以实现对扫描线，或者公共电极线的测试。其装置实现结构与上述两个实施例相同，区别在于，各个三极管开关元件的源极（或栅极）分别与基板上平行设置的扫描线（或者公共电极线）连接。如果是对公共电极线的断路测试，不仅可以用于对阵列基板公共电极线的断路测试，还可以用于对彩膜基板公共电极线的断路测试。 

如图2所示，本实用新型提供的另一种基板的信号线测试装置包括： 

用于输出测试信号的测试信号输出端1，用于检测测试信号的测试信号检测端2，和三个三极管开关元件组102~104。 

每组三极管开关元件3的源极S分别与基板上一组平行设置的数据线100连接。其中，基板上的数据线100，按照输入的数据信号类型分为三组，第一组数据线100包括左起第1、4、7条数据线，传输R（红色）信号，第二组数 据线100包括左起第2、5、8条数据线，传输G（绿色）信号，第三组数据线100包括左起第3、6、9条数据线，传输B（蓝色）信号。相应的，第一组三极管开关元件3分别与第一组数据线100连接，第二组三极管开关元件3分别与第二组数据线100连接，第三组三极管开关元件3分别与第三组数据线100连接。 

每个三极管开关元件组中的各个三极管开关元件3通过栅极G和漏极D串接。即，一个三极管开关元件3的栅极与本组中另一个三极管开关元件3的漏极连接。如图2所示，假设左起第1、4、7条数据线100为同一组数据线100，传输R信号，那么，左起第1条数据线100连接的三极管开关元件3、左起第4条数据线100连接的三极管开关元件3、和左起第7条数据线100连接的开关元件3为同组中的三极管开关元件。 

第一组三极管开关元件中，与左起第1条数据线100连接的三极管开关元件3（第一个三极管开关元件组102的起始端），其栅极G作为第一个三极管开关元件组102的栅极引出端与一个测试信号输出端1连接；第二组开关元件中，与左起第4条数据线100连接的开关元件3（第二个三极管开关元件组103的起始端），其栅极G作为第二个三极管开关元件组103的栅极引出端与一个测试信号输出端1连接；第三组开关元件中，与左起第7条数据线100连接的开关元件3（第三个三极管开关元件组104的起始端），其栅极G作为第三个三极管开关元件组104的栅极引出端与一个测试信号输出端1连接。图2中，三极管开关元件3的栅极G通过信号线与测试信号输出端1连接，应当指出的是，应用中，还可以使得三极管开关元件3的栅极G与测试信号输出端1直接电连接。 

第一组三极管开关元件中，与左起第3条数据线100连接的三极管开关元件3（第一个三极管开关元件组102的末端），其漏极D作为第一个三极管开关元件组102的漏极引出端与一个测试信号检测端2连接；第二组三极管开关元件中，与左起第6条数据线100连接的三极管开关元件3（第二个三极管开 关元件组103的末端），其漏极D作为第二个三极管开关元件组103的漏极引出端与一个测试信号检测端2连接；第三组三极管开关元件中，与左起第9条数据线100连接的三极管开关元件3（第三个三极管开关元件组104的末端），其漏极D作为第三个三极管开关元件组104的漏极引出端与一个测试信号检测端2连接。图2中，三极管开关元件3的漏极D通过信号线与测试信号检测端2连接，应当指出的是，应用中，还可以使得三极管开关元件3的漏极D与测试信号检测端2直接电连接。 

对各组数据线进行断路测试的工作原理可以参照上述描述，这里不再赘述。 

图2所示的信号线测试装置中，三极管开关元件3的源极S与数据线100连接。作为一种可替换的实现结构，还可以是： 

每组三极管开关元件的栅极分别与基板上一组平行设置的数据线连接。其中，基板上的数据线，按照输入的数据信号类型分为三组，第一组数据线传输R信号，第二组数据线传输G信号，第三组数据线传输B信号。相应的，第一组三极管开关元件分别与第一组数据线连接，第二组三极管开关元件分别与第二组数据线连接，第三组三极管开关元件分别与第三组数据线连接。 

每个三极管开关元件组中的各个三极管开关元件通过源极和漏极串接。即，一个三极管开关元件的源极与本组中另一个三极管开关元件的漏极连接。 

各个三极管开关元件组的源极引出端分别与一个测试信号输出端连接。 

各个三极管开关元件组的漏极引出端分别与一个测试信号检测端连接。 

上述两个实施例中，使用三个测试信号输出端和测试信号检测端分别对三组数据线进行断路测试。应当指出的是，还可以共用一个测试信号输出端和测试信号检测端分别对各组数据线进行断路测试。以三极管开关元件的源极与数据线连接为例，装置结构如下： 

有至少两个三极管开关元件组，每组三极管开关元件的源极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接。每个三极管开关元件组中，通过一个三极管 开关元件的栅极与另一个三极管开关元件的漏极连接，实现三极管开关元件组的各个三极管开关元件的串接。各个三极管开关元件组的栅极引出端均与同一个测试信号输出端连接。各个三极管开关元件组的漏极引出端均与同一个测试信号检测端连接。 

以三极管开关元件的栅极与数据线连接为例，装置结构如下： 

有至少两个三极管开关元件组，每组三极管开关元件的栅极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接。每个三极管开关元件组中，通过一个三极管开关元件的源极与另一个三极管开关元件的漏极连接，实现三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的串接。各个三极管开关元件组的源极引出端均与同一个测试信号输出端连接；各个三极管开关元件组的漏极引出端均与同一个测试信号检测端连接。 

上述各个多组三极管开关元件的实施例中，可以将数据线按照RGB信号分为三组，相应的三极管开关元件也为三组。应当指出的是，应用中，还可以根据需要对数据线分组测试。根据数据线的分组，三极管开关元件相应的可以被分为至少两组。 

上述多组三极管开关元件的各实施例中，可以实现对数据线的断路测试。应当指出的是，采用上述结构的检测装置，还可以实现对扫描线，或者公共电极线的测试。其装置实现结构与上述实施例相同，区别在于，各个三极管开关元件的源极（或栅极）分别与基板上平行设置的扫描线（或者公共电极线）连接。如果是对公共电极线的断路测试，不仅可以用于对阵列基板公共电极线的断路测试，还可以用于对彩膜基板公共电极线的断路测试。 

如图3所示，本实用新型提供的另一种基板的信号线检测装置包括： 

用于输出测试信号的测试信号输出端1，用于检测测试信号的测试信号检测端2，和三极管开关元件组101。 

三极管开关元件组101中的各个三极管开关元件3的源极S分别与基板上平行设置的数据线100连接。 

三极管开关元件组101中的各个三极管开关元件3的栅极G作为三极管开关元件组101的栅极引出端与测试信号输出端1连接。 

三极管开关元件组101中的各个三极管开关元件3的漏极D作为三极管开关元件组101的漏极引出端与测试信号检测端2连接。 

应用图3所示的装置对数据线进行断路检测时，基板上的像素开关均开启，数据线驱动端向各条数据线均输出高电平的数据信号，通过测试信号输出端1输出一高电平信号，在测试信号检测端2检测电平值，如果该电平值小于设定的阈值，则认为数据线存在断路。由于将各三极管开关元件3的栅极均与测试信号输出端1连接，漏极均与测试信号检测端2连接，各个三极管开关元件相当于并接，则较之图1所示的结构，本实施例中设定的阈值较大，且对测试精度要求较高。 

图3所示的信号线测试装置中，三极管开关元件3的源极S与数据线100连接。作为一种可替换的实施结构，还可以是： 

三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的栅极分别与基板上平行设置的数据线连接。三极管开关元件组中的各个开关元件的源极作为三极管开关元件组的源极引出端与测试信号输出端连接。三极管开关元件组中的各个开关元件的漏极作为三极管开关元件组的漏极引出端与测试信号检测端连接。 

上述两个实施例提供的装置，可以实现对数据线的断路测试。应当指出的是，采用上述结构的检测装置，还可以实现对扫描线，或者公共电极线的测试。其装置实现结构与上述两个实施例相同，区别在于，各个三极管开关元件的源极（或栅极）分别与基板上平行设置的扫描线（或者公共电极线）连接。如果是对公共电极线的断路测试，不仅可以用于对阵列基板公共电极线的断路测试，还可以用于对彩膜基板公共电极线的断路测试。 

如图4所示，本实用新型提供的另一种基板的信号线测试装置包括： 

用于输出测试信号的测试信号输出端1，用于检测测试信号的测试信号检测端2，和三个三极管开关元件组102～103。 

每组三极管开关元件3的源极S分别与基板上一组平行设置的数据线100连接。其中，基板上的数据线100，按照输入的数据信号类型分为三组，第一组数据线100包括左起第1、4、7条数据线，传输R信号，第二组数据线100包括左起第2、5、8条数据线，传输G信号，第三组数据线100包括左起第3、6、9条数据线，传输B信号。相应的，第一组三极管开关元件3的源极分别与第一组数据线100连接，第二组三极管开关元件3的源极分别与第二组数据线100连接，第三组三极管开关元件3的源极分别与第三组数据线100连接。 

各个三极管开关元件组的栅极引出端分别与一个测试信号输出端1连接。 

各个三极管开关元件组的漏极引出端分别与一个测试信号检测端2连接。 

对各组数据线进行断路测试的工作原理可以参照上述描述，这里不再赘述。 

图4所示的信号线测试装置中，三极管开关元件3的源极S与数据线100连接。作为一种可替换的实现结构，还可以是： 

每组三极管开关元件的栅极分别与基板上一组平行设置的数据线连接。其中，基板上的数据线，按照输入的数据信号类型分为3组，第一组数据线传输R信号，第二组数据线传输G信号，第三组数据线传输B信号。相应的，第一组三极管开关元件的栅极分别与第一组数据线连接，第二组三极管开关元件的栅极分别与第二组数据线连接，第三组三极管开关元件的栅极分别与第三组数据线连接。 

各个三极管开关元件组的源极引出端分别与一个测试信号输出端连接。 

各个三极管开关元件组的漏极引出端分别与一个测试信号检测端连接。 

上述两个实施例中，使用三个测试信号输出端和测试信号检测端分别对三组数据线进行断路测试。应当指出的是，还可以共用一个测试信号输出端和测试信号检测端分别对各组数据线进行断路测试。以三极管开关元件的源极与数据线连接为例，装置结构如下： 

有至少两个三极管开关元件组，每组三极管开关元件的源极分别与所述基 板上一组平行设置的信号线连接。各个三极管开关元件组的栅极引出端均与同一个测试信号输出端连接。各个三极管开关元件组的漏极引出端均与同一个测试信号检测端连接。 

以三极管开关元件的栅极与数据线连接为例，装置结构如下： 

有至少两个三极管开关元件组，每组三极管开关元件的栅极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接。各个三极管开关元件组的源极引出端均与同一个测试信号输出端连接。各个三极管开关元件组的漏极均与同一个测试信号检测端连接。 

本实用新型上述各个实施例所述的三极管开关元件，可以是TFT，也可以是其他三极管开关。 

本实用新型上述各个实施例所述的测试信号输出端，可以但不仅限于通过衬垫（PAD）实现。 

本实用新型上述各个实施例所述的测试信号检测端，可以但不仅限于通过PAD实现。 

本实用新型上述各个实施例所述的开关元件，优选地设置在信号线的末端，当然也可以设置在信号线的各个位置，只要保证使得各个信号线形成串联的传导结构即可。其中，以数据线为例，其末端是指远离数据信号源的一端。 

本实用新型实施例中，如果测试信号输出端与三极管开关元件的栅极连接，则该测试信号输出端与三极管开关元件的栅极位于同一层，即在同一次构图工艺中制作形成。如果测试信号输出端与三极管开关元件的源极连接，则该测试信号输出端与三极管开关元件的源极位于同一层，即在同一次构图工艺中制作形成。测试信号检测端与三极管开关元件的漏极连接，该测试信号检测端与三极管开关元件的漏极位于同一层，即在同一次构图工艺中制作形成。可见，本实用新型提供的实现结构并不会额外增加制作成本。 

本实用新型实施例还提供一种显示器件，包括上述任一实施例中所述的基板的信号线检测装置。 

所述显示器件可以为：液晶面板、电子纸、OLED面板、手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。 

显然，本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。 

Claims (11)

1.一种基板的信号线检测装置，其特征在于，包括： 

用于输出测试信号的测试信号输出端，用于检测测试信号的测试信号检测端，和三极管开关元件组； 

所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的源极分别与基板上平行设置的信号线连接；所述三极管开关元件组的栅极引出端与所述测试信号输出端连接；所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接；或者， 

所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的栅极分别与基板上平行设置的信号线连接；所述三极管开关元件组的源极引出端与所述测试信号输出端连接；所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接。 

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，如果所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的源极分别与基板上平行设置的信号线连接；所述三极管开关元件组的栅极引出端与所述测试信号输出端连接；所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接；则： 

通过一个三极管开关元件的栅极与另一个三极管开关元件的漏极连接，实现所述三极管开关元件组中各个三极管开关元件的串接。 

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，有至少两个所述三极管开关元件组，每组三极管开关元件的源极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接；每个三极管开关元件组的栅极引出端分别与一个测试信号输出端连接；每个三极管开关元件组的漏极引出端分别与一个测试信号检测端连接；或者， 

有至少两个所述三极管开关元件组，每组三极管开关元件的源极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接；每个三极管开关元件组的栅极引出端均与同一个测试信号输出端连接；每个三极管开关元件组的漏极引出端均与同一个测试信号检测端连接。 

4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，如果所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的栅极分别与基板上平行设置的信号线连接；所述三极管开关元件组的源极引出端与所述测试信号输出端连接；所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接；则： 

通过一个三极管开关元件的源极与相邻的另一个三极管开关元件的漏极连接，实现所述三极管开关元件组中各个三极管开关元件的串接。 

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，有至少两个三极管开关元件组，每组三极管开关元件的栅极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接；每个三极管开关元件组的源极引出端分别与一个测试信号输出端连接；每个三极管开关元件组的漏极引出端分别与一个测试信号检测端连接；或者， 

有至少两个三极管开关元件组，每组三极管开关元件的栅极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接；每个三极管开关元件组的源极引出端均与同一个测试信号输出端连接；每个三极管开关元件组的漏极引出端均与同一个测试信号检测端连接。 

6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，如果所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的源极分别与基板上平行设置的信号线连接；所述三极管开关元件组的栅极引出端与所述测试信号输出端连接；所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接；则： 

所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的栅极作为所述三极管开关元件组的栅极引出端与所述测试信号输出端连接；所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的漏极作为所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接。 

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，有至少两个三极管开关元件组，每组三极管开关元件的源极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接；每个三极管开关元件组的栅极引出端分别与一个测试信号输出端连接；每个三极管开关元件组的漏极引出端分别与一个测试信号检测端连接；或者， 

有至少两个三极管开关元件组，每组开关元件的源极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接；各个三极管开关元件组的栅极引出端均与同一个测试信号输出端连接；各个三极管开关元件组的漏极引出端均与同一个测试信号检测端连接。 

8.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，如果所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的栅极分别与基板上平行设置的信号线连接；所述三极管开关元件组的源极引出端与所述测试信号输出端连接；所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接；则： 

所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的源极作为所述三极管开关元件组的源极引出端与所述测试信号输出端连接；所述三极管开关元件组中的各个三极管开关元件的漏极作为所述三极管开关元件组的漏极引出端与所述测试信号检测端连接。 

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，有至少两个三极管开关元件组，每组三极管开关元件的栅极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接；各个三极管开关元件组的源极引出端分别与一个测试信号输出端连接；各个三极管开关元件组的漏极引出端分别与一个测试信号检测端连接；或者， 

有至少两个三极管开关元件组，每组开关元件的栅极分别与所述基板上一组平行设置的信号线连接；各个三极管开关元件组的源极引出端均与同一个测试信号输出端连接；各个三极管开关元件组的漏极引出端均与同一个测试信号检测端连接。 

10.根据权利要求1～9任一项所述的装置，其特征在于，所述信号线为：数据线、扫描线或者公共电极线。 

11.一种显示器件，其特征在于，包括权利要求1～10任一项所述的基板的信号线检测装置。 

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