DE1239562B - Belichtungsmessvorrichtung in Spiegelreflexkameras - Google Patents

Description

• Belichtungsmeßvorrichtung in Spiegelreflexkameras Die Erfindung betrifft eine Belichtungsmeßvorrichtung in photographischen Spiegelreflexkameras mit einem im Sucherstrahlengang angeordneten, den photoelektrischen Wandler ausleuchtenden Strahlenteilungskörper, der zwischen Reflexspiegel und Sucherokular angeordnet ist. Diese Belichtungsmeßvorrichtung hat den Vorteil einer geringen Bauhöhe bei Spiegelreflexkameras, und bei, Verwendung von Wechselobjektiven verschiedener Brennweite erfolgt die Lichtmessung mit immer richtigem Bildwinkel, ohne daß eine Umstellung der Meßeinrichtung notwendig ist.
• Gegenstand eines älteren Patentes ist eine Belichtungsmeßvorrichtung in Spiegelreflexkameras mit einem im Sucherstrahlengang zwischen Reflexspiegel und Sucherokular angeordneten, aus Keilprismen zusammengesetzten Strahlenteilungskörper, wovon die Fläche der Gegenkathete des Keilprismas parallel zur Sucherachse verläuft und die Hypote-nusenfläche mit einem teildurchlässigen Belag versehen ist, und mindestens einem, außerhalb des Sucherstrahlenganges angeordneten, photoelektrischen Element, wobei der Strahlenteiler aus zwei Keilprismen und einem dazwischenliegenden Lichtleitstab besteht.
• Bei dieser Belichtungsmeßvorrichtung erfolgt jedoch die Bildausmessung streifenförmig, wobei die auszumessendenBilddetai,ls nicht die Bildmitte. berücksichtigen. Weiterhin wird das schräg von oben in das Okular eindringende Falschlicht durch den objektivseitig liegenden, lichtempfindlichen Empfänger mitgemessen.
• Aufgabe der Erfindung ist es, eine bessere Mittenmessung zu gewährleisten und gleichzeitig das in das Suchersystem eindringende Falschlicht weitestgehend zu unterdrücken. Die sich hieraus ergebenden Vorteile sind genaueres Messen, bessere Wirksamkeit gegen Falschlichteinfall und geringer Aufwand an optischen und mechanischen Bauteilen.
• Gemäß der Erfindung wird die Aufgabe dadurch gelöst, daß der Strahlenteiler in unmittelbarer Nachbarschaft des Pentaprismas an einer der die Lichtstrahlen nicht reflektierenden Fläche des Pentaprismas angeordnet ist. Nach einer bevorzugten Ausführungsform ist der Strahlenteiler als Platte ausgebildet. Danach geht die teildurchlässig verspiegelte Hypotenusenfläche des Strahlenteilers über das gesamte Bildfeld, und der photoelektrische Wandler ist an der kleinen Kathetenfläche vorgesehen.
• An Hand eines Ausführungsbeispieles ist die Erfindung näher dargelegt und beschrieben. Im Strahlengang einer an sich bekannten Bildsuchereinrichtung befindet sich das Aufnahmeobjektiv 1, von dem aus die Lichtstrahlen über den Reflexspiegel 2 durch die Bildfeldlinse 3, durch zwei durchsichtige keilförnüge Prismen 4 und 5, durch das Pentadachkantprisma 6 sowie durch die Glieder 7 und 8 eines Okulars in den Augenort 9 gelangen. Das Keilprismenpaar 4 und 5 kann sowohl an der Grundfläche des Pentaprismas 6 als auch durch einen Luftraum vom Pentadachkantprisma 6 getrennt angeordnet sein. Letztere Anordnungsweise erhöht die Falschlichtunterdrückung, da das beispielsweise unter einem sehr schrägen Winkel vom Okular kommende Falschlicht an der Grundfläche des Pentadachkantprismas 6 total reflektiert und damit unwirksam wird.
• Der Keilwinkel d ist so bemessen, daß wie im Hauptpatent die gespiegelten Sucherlichtstrahlen innerhalb des Keiles an der Eintrittsfläche 12 total reflektiert werden. Ein Teil der in der Nähe der Spitze des Keilprismas 4 eintretenden Lichtstrahlen gelangen je zweimal an die halbverspiegelte Fläche 11 und Eintrittsfläche 12, um von hier aus an die der Spitze gegenüberliegende kleinere Kathetenfläche des Keilprismas 4, wo sich der lichtempfindliche Empfänger 10 befindet, zu gelangen. Die im mittleren Teil des Keilprismas 4 eintretenden Sucherlichtstrahlen werden teilweise an der Fläche 11 auf die Eintrittsfläche 12 zurückgespiegelt, um von da nach der Totalreflektion direkt auf die lichtempfindliche Empfängerfläche gespiegelt zu werden.
• Die Hypotenusenflächc 11 ist in bekannter Weise halbdurchlässig verspiegelt, wobei es vorteilhaft ist, nur einen Teil der Hypotenusenfläche zu verspiegeln. Hierdurch wird erreicht, daß bei Benutzung von Auswechselobjektiven mit sehr langer Brennweite dem Objektivverhältnis - Öffnung und Schnittweite - im Hinblick auf die bei der Kamerakonstruktion einmalig festgelegte Spiegelgröße weitgehendst Rechnung getragen wird. Die sich hieraus ergebende partielle Lichtmessung des Sucherlichtes deckt sich mit den im Hauptpatent herausgestellten Vorteilen. Bei Kameras mit festem Objektiv ist die Hypotenusenfläche vollständig halbdurchlässig verspiegelt.
• Aus der ganzen Anordnungsweise der Prismen4 und 5, welche im zusammengesetzten Zustand sowohl eine planparallele wie auch eine nicht planparallele Platte sein können, geht hervor, daß Falschlicht, welches durch das Sucherokular schräg von unten in das Pentadachkantprisma eindringt, infolge Totalreflektion nicht zu den Keilen 4 und 5 gelangt. Ebenso gelangt Falschlicht, welches durch das Sucherokular schräg von oben in das Prismensystem eindringt, nicht auf die lichtempfindliche Fläche, da dieses Falschlicht bereits an der schmalen Kathetenfläche des Prismas 5, welche mattschwarz lackiert ist, vollkommen absorbiert wird.
• Paraxiale Strahlen, die durch das Sucherokular in das Suchersystem eindringen, werden an der Eintrittsfläche 12, die noch besonders entspiegelt sein kann, auf natürliche Weise reflektiert. Sofern dennoch ein sehr kleiner Teil des Falschlichtes in sehr Cre , schwächter Weise auf die lichtempfindliche Empfängerfläche 10 gelangt, übt es auf die Meßeinrichtung keinen erheblichen störenden Einfluß aus.

Claims (2)

1. Patentänsprüche: 1. Belichtungsmeßvorrichtung in photographischeu Spiegelreflexkameras mit einem im Sucherstrahlengang angeordneten, den photoclektrischen Wandler ausleuchtenden Strahlenteiler, der zwischen Reflexspiegel und Sucherokular angeordnet ist, dadurch gekennzeichnet, daß der Strahlenteiler in unmittelbarer Nachbarschaft des Pentaprismas an einer der die Lichtstrahlen nicht reflektierenden Fläche des Pentaprismas angeordnet ist.
2. 2. Belichtungsmeßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Strahlenteiler als Platte ausgebildet ist und die teildurchlässig verspiegelte Hypotenusenfläche des Strahlenteilers, dessen große Kathetenflächen rechtwinklig bzw. annähernd rechtwinklig zum Sucherstrahlengang verlaufen, über das gesamte Bildfeld geht und daß an der kleinen Kathetenfläche der photoelektrische Wandler vorgesehen ist. In Betracht gezogene Druckschriften: Französische Patentschrift Nr. 1253 935. In Betracht gezogene ältere Patente: CD Deutsches Patent Nr. 1209 875.