NL194851C - Statisch geheugen van het RAM-type. - Google Patents
Statisch geheugen van het RAM-type. Download PDFInfo
- Publication number
- NL194851C NL194851C NL8802800A NL8802800A NL194851C NL 194851 C NL194851 C NL 194851C NL 8802800 A NL8802800 A NL 8802800A NL 8802800 A NL8802800 A NL 8802800A NL 194851 C NL194851 C NL 194851C
- Authority
- NL
- Netherlands
- Prior art keywords
- flash
- memory
- erase
- memory cells
- decoder
- Prior art date
Links
- 230000003068 static effect Effects 0.000 title claims description 7
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 2
- 238000012217 deletion Methods 0.000 description 1
- 230000037430 deletion Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/20—Memory cell initialisation circuits, e.g. when powering up or down, memory clear, latent image memory
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/41—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
- G11C11/413—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
- G11C11/417—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction for memory cells of the field-effect type
- G11C11/419—Read-write [R-W] circuits
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
- Dram (AREA)
- Rehabilitation Tools (AREA)
Description
1 194851
Statisch geheugen van het RAM-type
De uitvinding heeft betrekking op een statisch geheugen van het RAM-type, hierna ook wel aangeduid als ’’geheugen van het SRAM-type”, en meer in het bijzonder op een dergelijk geheugen met een flitswis-5 functie, omvattende: een geheugencellenarrangement met een aantal geheugencellen en ten minste één flitswisdecodeereenheid voor de geheugencellen van het geheugencellenarrangement om het geheugencellenarrangement voor flitswissing te bekrachtigen.
Een dergelijk geheugen is bekend uit US-A-4.567.578. Wanneer een dergelijk geheugen, dat flitswis-10 functie heeft, toevoer ontvangt van een bepaald stuursignaal van buitenaf aan het geheugen, wordt tegelijkertijd in alle geheugencellen van het geheugen een informatiewaarde ”0” ingeschreven. De flitswisfunctie dient om een geheugen van het SRAM-type terug te stellen of om een dergelijk geheugen te initialiseren wanneer een test wordt voorbereid.
Figuur 5 van de bijbehorende tekening toont bij wijze van voorbeeld een blokschema van een dergelijk 15 geheugen van het SRAM-type met een flitswisfunctie. Zoals figuur 5 laat zien, bevat het geheugen een geheugencellenarrangement a en een flitswisdecodeereenheid b. Indien vanaf de buitenzijde een flitswis-stuursignaal aan de flitswisdecodeereenheid b wordt toegevoerd, wordt een in het geheugencellenarrangement a aanwezige flitswis-”neertrek”-transistor (niet afgebeeld) bekrachtigd om het spanningsniveau van één van de bitlijnen van ieder paar bitlijnen B en B op aardniveau te brengen. Bij het in figuur 5 20 weergegeven geheugen van gebruikelijk SRAM-type vindt het flitswissen via de enkele decodeereenheid b tegelijkertijd voor het gehele geheugencellenarrangement a plaats.
Het feit, dat het geheugen volgens figuur 5 slechts één decodeereenheid b bevat en dat het flitswissen via deze enkele decodeereenheid b tegelijkertijd voor het gehele geheugencellenarrangement plaatsvindt, heeft het nadeel, dat de grootte van de elektrische stroom, welke bij het flitswissen door het geheugen-25 cellenarrangement en de decodeereenheid vloeit, een zeer hoge piekwaarde vertoont, zoals figuur 6 laat zien.
Aangezien de opslagcapaciteit van dergelijke geheugeninrichtingen in de laatste jaren in aanzienlijke mate is toegenomen en het waarschijnlijk is, dat dergelijke geheugencellenarrangementen nog een verdere schaalvergroting ondergaan, valt te verwachten, dat indien een dergelijk geheugencellenarrangement aan 30 flitswissing op de hiervoor beschreven wijze wordt onderworpen, de reeds genoemde stroompiek een zeer hoge waarde zal hebben. Wanneer de piekwaarde van deze stroom hoog ligt, heeft dit tot natuurlijk gevolg, dat het spanningsniveau aan de voedingsleiding of aan de aardleiding schommelingen vertoont, waardoor elektrische stoorsignalen ontstaan. Bovendien bestaat de mogelijkheid, dat de draden in een dergelijke grootschalige chip smelten, waardoor de inwendige opbouw van de chip of van het apparaat of instrument, 35 waarin de geheugeninrichting wordt toegepast, kan worden beschadigd. Het optreden van een dergelijke buitensporige hoge stroompiekwaarde bij het flitswissen vormt derhalve een probleem, waaraan niet voorbij kan worden gegaan.
De onderhavige uitvinding stelt zich ten doel, een geheugen van het SRAM-type te verschaffen, waarin de bij het flitswissen optredende stroom een lage piekwaarde vertoont.
40 Hiertoe is volgens de uitvinding een geheugen van het bovenbeschreven soort verschaft die zich onderscheidt doordat het geheugencellenarrangement is verdeeld in een aantal groepen geheugencellen dat voor elke van de groepen geheugencellen een flitswisdecodeereenheid is verschaft en dat middelen zijn verschaft voor zodanige besturing van de flitswisdecodeereenheden, dat deze op onderling verschillende tijdstippen voor flitswissing in werking treden.
45 Bij een geheugen van het SRAM-type volgens de uitvinding worden de verschillende uit de genoemde deling van het geheugencellenarrangement resulterende groepen geheugencellen de één na de ander aan flitswissing onderworpen. Als gevolg daarvan kan de grootte van de bij het flitswissen op ieder ogenblik door het geheugen vloeiende stroom worden geminimaliseerd.
50 De uitvinding zal worden verduidelijkt in de nu volgende beschrijving aan de hand van de bijbehorende tekening. Daarin tonen: figuur 1 een blokschema van een geheugen van het SRAM-type volgens een voorkeursuitvoeringsvorm van statisch geheugen, figuur 2 een detailschema van een representatief gedeelte van het geheugencellenarrangement van het 55 geheugen volgens figuur 1, figuur 3 een weergave op tijdbasis van de respectieve tijdstippen, waarop een desbetreffend stuursignaal aan de decodeereenheden van het geheugen volgens figuur 1 wordt toegevoerd, 194851 2 figuur 4 een grafiek van de golfvorm van de bij het flitswissen van het geheugen volgens figuur 1 optredende, elektrische stroom, figuur 5 een blokschema van een geheugen van gebruikelijk SRAM-type en figuur 6 een grafiek van de golfvorm van de bij het flitswissen van het in figuur 5 weergegeven geheugen 5 van gebruikelijk type optredende, elektrische stroom, waaruit een nadeel van een dergelijk geheugen van gebruikelijk SRAM-type naar voren komt.
Zoals figuur 1 laat zien, omvat een geheugen van het SRAM-type een geheugencellenarrangement, dat in een totaal van 16 groepen M0-M15 met geheugencellen is verdeeld, benevens een totaal van 16 flitswis-10 decodeereenheden DE0-DE15, welke respectievelijk aan de afzonderlijke geheugencellengroepen M0-M15 zijn toegevoegd. Bovendien is een cascadeschakeling van 15 vertragingsschakelingen DL1-DL15 aanwezig; de vertragingsschakeling DL1 aan de eerste trap ontvangt een extern stuursignaal Sc en geeft een uitgangssignaal ScT af aan de flitswisdecodeereenheid DE1. De vertragingsschakeling DL2 aan de tweede trap ontvangt het uitgangssignaal ScT van de vertragingsschakeling DL1 en levert een uitgangssignaal Sc2 15 aan de flitswisdecodeereenheid DL2. Op deze wijze voeren de vertragingsschakelingen DL1-DL15 opeenvolgend een vertraging van het externe stuursignaal Sc uit en leveren zij de aldus vertraagde signalen aan de respectieve flitswisdecodeereenheden DE1-DE15. Opgemerkt wordt, dat het externe stuursignaal Sc rechtstreeks aan de eerste decodeereenheid DEO wordt toegevoerd.
Figuur 2 toont slechts het arrangement van de geheugencellen, waarbij iedere geheugencellengroep 20 M0-M15 een aantal paren belastingstransistoren QL van het MOS-type en een aantal flitswis-”trek neer”-transistoren QfaO, Qfa1, Qfa2, ... en QfbO, Qfb1, Qfb2, ... van het MOS-type bevat. Wanneer een stuursignaal Sc wordt ontvangen, ontwikkelt iedere van de decodeereenheid DE0-DE15 een stuursignaal Sa van de waarde ”1” en een ander stuursignaal Sb van de waarde ”0” voor wijziging van de spanningswaarde aan een bitlijn B van de bijbehorende geheugencellengroep M0-M15 in een waarde, welke "0”
25 vertegenwoordigt, en voor wijziging van de spanningswaarde aan de andere bitlijn B in een waarde, welke met de digitale waarde ”1” overeenkomt. Bovendien worden, wanneer flitswissen dient te worden uitgevoerd, alle woordleidingen WLO, WL1, WL2, ... in een kiestoestand gebracht. Dit kan bijvoorbeeld worden gerealiseerd door een schakeling, welke zodanig is uitgevoerd, dat een woordsignaal wordt toegevoerd aan NIET-EN-poortschakelingen NA welke afzonderlijk voor iedere van de woordleidingen aanwezig zijn, en dat 30 een signaal ”0” wordt toegevoerd aan de andere ingangsaansluitingen van de NIET-EN-poortschakelingen NA, dat wil zeggen de andere ingangsaansluitingen dan die, waaraan de NIET-EN-poortschakelingen NA
het woordsignaal ontvangen. ___
Indien nu één van de decodeereenheden DE0-DE15 een respectief stuursignaal ScO, Sc1, ... of Sc15 ontvangt, dan worden alle geheugencellen MC binnen een bijbehorende geheugencellengroep M0-M15 aan 35 flitswissing onderworpen. De aan de respectieve flitswisdecodeereenheden DEO-DE15 toe te voeren stuursignalen ScÖ-Sc15 worden ten opzichte van elkaar vertraagd door de werking van de respectieve vertragingsschakelingen DL1-DL15. Het flitswissen vindt derhalve voor de geheugencellengroepen M0-M15 op verschillende tijdstippen, welke elkaar in de genoemde volgorde opvolgen, plaats. Bij het flitswissen varieert derhalve de elektrische stroom, zoals met een volle lijn in figuur 4 is weergegeven, met als gevolg, 40 dat de piekwaarde van de stroom door het beschreven geheugen van het SRAM-type in vergelijking met de piekwaarde van de elektrische stroom door het geheugen 5 van gebruikelijk type volgens figuur 5, welke laatstgenoemde strook met een gebroken lijn in figuur 4 is weergegeven, in aanzienlijke mate is geredu-ceerd.
Opgemerkt wordt, dat hoewel het geheugencellenarrangement bij de hiervoor beschreven uitvoerings-45 vorm in een aantal geheugencellengroepen is verdeeld door alle kolommen van het geheugencellenarrangement in een aantal kolomgroepen te verdelen, een andere verdeling kan worden toegepast, waarbij bijvoorbeeld alle rijen van het geheugencellenarrangement in een aantal rijgroepen worden verdeeld. In het geval waarin het geheugencellenarrangement in rijen is verdeeld, wordt een woordsignaal toegevoerd aan afzonderlijk voor iedere van de woordleidingen aangebrachte NIET-EN-poortschakelingen NA en wordt een 50 signaal ”0” aan de andere ingangsaansluiting van de NIET-EN-poortschakelingen NA toegevoegd, dat wil zeggen aan de andere ingangsaansluitingen dan die waaraan de NIET-EN-poortschakelingen NA het woordsignaal ontvangen; deze toevoer geschiedt op soortgelijke wijze ten opzichte van elkaar verschillend gekozen tijdstippen aan de afzonderlijke rijen van het geheugencellenarrangement. Uiteraard kan het arrangement zowel wat betreft zijn kolommen als wat betreft zijn rijen in groepen zijn verdeeld.
Claims (3)
1. Statisch geheugen van het RAM-type met een flitswisfunctie, omvattende: een geheugencellenarrangement met een aantal geheugencellen en 5 ten minste één flitswisdecodeereenheid voor de geheugencellen van het geheugencellenarrangement om het geheugencellenarrangement voor flitswissing te bekrachtigen, met het kenmerk, dat het geheugencellenarrangement is verdeeld in een aantal groepen geheugencellen dat voor elke van de groepen geheugencellen een flitswisdecodeereenheid is verschaft en dat middelen zijn verschaft voor zodanige besturing van de flitswisdecodeereenheden, dat deze op 10 onderling verschillende tijdstippen voor flitswissing in werking treden.
2. Statisch geheugen van het RAM-type volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat de middelen voor besturing van de flitswisdecodeereenheden eenzelfde aantal vertragingsschakelingen als het aantal groepen geheugencellen, verminderd met één, omvatten.
3. Statisch geheugen van het RAM-type volgens conclusie 1 of 2, met het kenmerk, dat de flitswis- 15 decodeereenheden en de groepen geheugencellen ten minste bestaan uit een 0de flitswisdecodeereenheid en een daarbij behorende 0de groep geheugencellen, een eerste flitswisdecodeereenheid en een daarbij behorende eerste groep geheugencellen, een tweede flitswisdecodeereenheid en een daarbij behorende tweede groep geheugencellen, enz. Tot en met een Nde flitswisdecodeereenheid en een daarbij behorende Nde groep geheugencellen, waarbij N een vooraf bepaald geheel getal is, en dat de middelen voor besturing 20 van de flitswisdecodeereenheden een aantal met elkaar in cascade geschakelde signaalvertragings- schakelingen omvatten, waarbij een eerste van de vertragingsschakelingen een ingang voor ontvangst van een van buitenaf toegevoerd flitswisstuursignaal bevat, de uitgang van de eerste vertragingsschakeling met de eerste flitswisdecodeereenheid is gekoppeld, de uitgang van een tweede vertragingsschakeling met de tweede flitswisdecodeereenheid is gekoppeld, enz., en de uitgang van de Nde vertragingsschakeling met de 25 Nde flitswisdecodeereenheid is gekoppeld. Hierbij 3 bladen tekening
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29040887 | 1987-11-17 | ||
| JP62290408A JPH01130385A (ja) | 1987-11-17 | 1987-11-17 | メモリ装置 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| NL8802800A NL8802800A (nl) | 1989-06-16 |
| NL194851B NL194851B (nl) | 2002-12-02 |
| NL194851C true NL194851C (nl) | 2003-04-03 |
Family
ID=17755629
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| NL8802800A NL194851C (nl) | 1987-11-17 | 1988-11-14 | Statisch geheugen van het RAM-type. |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4949308A (nl) |
| JP (1) | JPH01130385A (nl) |
| KR (2) | KR890008836A (nl) |
| FR (1) | FR2623321B1 (nl) |
| GB (1) | GB2212683B (nl) |
| NL (1) | NL194851C (nl) |
Families Citing this family (22)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5054000A (en) * | 1988-02-19 | 1991-10-01 | Sony Corporation | Static random access memory device having a high speed read-out and flash-clear functions |
| JP3057693B2 (ja) * | 1989-07-27 | 2000-07-04 | 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社 | 半導体メモリ |
| KR100204721B1 (ko) * | 1989-08-18 | 1999-06-15 | 가나이 쓰도무 | 메모리블럭으로 분활된 메모리셀 어레이를 갖는 전기적 소거 가능한 반도체 불휘발성 기억장치 |
| JP2634916B2 (ja) * | 1989-10-04 | 1997-07-30 | 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社 | 半導体メモリ |
| JP2768383B2 (ja) * | 1989-10-30 | 1998-06-25 | 川崎製鉄株式会社 | 半導体集積回路 |
| EP0430101B1 (en) * | 1989-11-24 | 1996-01-17 | Nec Corporation | Semiconductor memory device having resettable memory cells |
| US5519654A (en) * | 1990-09-17 | 1996-05-21 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor memory device with external capacitor to charge pump in an EEPROM circuit |
| US5373466A (en) * | 1992-03-25 | 1994-12-13 | Harris Corporation | Flash-clear of ram array using partial reset mechanism |
| US5537350A (en) * | 1993-09-10 | 1996-07-16 | Intel Corporation | Method and apparatus for sequential programming of the bits in a word of a flash EEPROM memory array |
| EP0773699A1 (en) * | 1994-05-31 | 1997-05-14 | Capcom Co., Ltd. | Sound feeling device, playing device, method of controlling the playing device, playing device using light beam, and acoustic device |
| US5749090A (en) * | 1994-08-22 | 1998-05-05 | Motorola, Inc. | Cache tag RAM having separate valid bit array with multiple step invalidation and method therefor |
| FR2760286B1 (fr) * | 1997-02-28 | 1999-04-16 | Sgs Thomson Microelectronics | Procede d'effacement d'une memoire ram statique et memoire en circuit integre associe |
| JPH1186038A (ja) * | 1997-03-03 | 1999-03-30 | Sega Enterp Ltd | 画像処理装置、画像処理方法及び媒体並びにゲーム機 |
| US6144611A (en) * | 1999-09-07 | 2000-11-07 | Motorola Inc. | Method for clearing memory contents and memory array capable of performing the same |
| EP1324340A1 (en) * | 2001-12-28 | 2003-07-02 | STMicroelectronics S.r.l. | Static RAM with flash-clear function |
| KR100520273B1 (ko) * | 2003-04-02 | 2005-10-11 | 삼부크러치주식회사 | 목발 |
| US7701764B2 (en) * | 2006-05-17 | 2010-04-20 | Micron Technology, Inc. | Apparatus and method for reduced peak power consumption during common operation of multi-NAND flash memory devices |
| US7570532B1 (en) | 2007-07-26 | 2009-08-04 | Zilog, Inc. | Overwriting memory cells using low instantaneous current |
| KR200454246Y1 (ko) * | 2009-08-25 | 2011-06-23 | 전병숙 | 지팡이 겸용 목발 |
| US9715909B2 (en) | 2013-03-14 | 2017-07-25 | Micron Technology, Inc. | Apparatuses and methods for controlling data timing in a multi-memory system |
| KR101502566B1 (ko) * | 2013-10-10 | 2015-03-19 | 김진호 | 휴대가 간편한 목발 |
| US9804793B2 (en) * | 2016-03-04 | 2017-10-31 | Intel Corporation | Techniques for a write zero operation |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5819793A (ja) * | 1981-07-27 | 1983-02-04 | Toshiba Corp | 半導体メモリ装置 |
| JPS5914195A (ja) * | 1982-07-13 | 1984-01-25 | Nec Corp | 半導体装置 |
| US4567578A (en) * | 1982-09-08 | 1986-01-28 | Harris Corporation | Cache memory flush scheme |
| JPS5987695A (ja) * | 1982-11-11 | 1984-05-21 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
| US4587629A (en) * | 1983-12-30 | 1986-05-06 | International Business Machines Corporation | Random address memory with fast clear |
| EP0189700A3 (en) * | 1984-12-28 | 1988-04-27 | Thomson Components-Mostek Corporation | Static ram having a flash clear function |
| US4774691A (en) * | 1985-11-13 | 1988-09-27 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor memory device |
| US4789967A (en) * | 1986-09-16 | 1988-12-06 | Advanced Micro Devices, Inc. | Random access memory device with block reset |
-
1987
- 1987-11-17 JP JP62290408A patent/JPH01130385A/ja active Pending
-
1988
- 1988-11-14 NL NL8802800A patent/NL194851C/nl not_active IP Right Cessation
- 1988-11-15 KR KR1019880014994A patent/KR890008836A/ko active Granted
- 1988-11-15 US US07/271,619 patent/US4949308A/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-11-15 KR KR1019880014994A patent/KR0135085B1/ko not_active Expired - Lifetime
- 1988-11-16 GB GB8826773A patent/GB2212683B/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-11-17 FR FR8814959A patent/FR2623321B1/fr not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB2212683B (en) | 1992-04-15 |
| KR0135085B1 (ko) | 1998-04-25 |
| NL8802800A (nl) | 1989-06-16 |
| GB2212683A (en) | 1989-07-26 |
| JPH01130385A (ja) | 1989-05-23 |
| KR890008836A (ko) | 1989-07-12 |
| FR2623321B1 (fr) | 1993-10-01 |
| GB8826773D0 (en) | 1988-12-21 |
| KR900007388A (ko) | 1990-06-01 |
| US4949308A (en) | 1990-08-14 |
| FR2623321A1 (fr) | 1989-05-19 |
| NL194851B (nl) | 2002-12-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| NL194851C (nl) | Statisch geheugen van het RAM-type. | |
| US6055187A (en) | Sensing circuitry for reading and verifying the contents of electrically programmable/erasable non-volatile memory cells | |
| EP0293339B1 (en) | Nonvolatile memory device with a high number of cycle programming endurance | |
| US5047984A (en) | Internal synchronous static RAM | |
| EP0199501B1 (en) | Cmos current sense amplifiers | |
| KR950000757B1 (ko) | 감지 증폭기를 갖는 반도체 메모리 | |
| US5023837A (en) | Bitline segmentation in logic arrays | |
| US5243573A (en) | Sense amplifier for nonvolatile semiconductor storage devices | |
| KR970067341A (ko) | 프리차지 시간이 개선된 반도체 메모리 장치 | |
| US4710900A (en) | Non-volatile semiconductor memory device having an improved write circuit | |
| JPH02125521A (ja) | 半導体装置 | |
| EP0145488A2 (en) | Semiconductor memory device | |
| DE19755405A1 (de) | Festwert-Halbleiterspeichervorrichtung | |
| US4374430A (en) | Semiconductor PROM device | |
| US6600672B2 (en) | Semiconductor memory device | |
| US3946369A (en) | High speed MOS RAM employing depletion loads | |
| US4903237A (en) | Differential sense amplifier circuit for high speed ROMS, and flash memory devices | |
| US4901281A (en) | Semiconductor memory device having two column transfer gate transistor groups independently provided for a sense amplifier and a programmed circuit | |
| US4198700A (en) | Column decode circuit for random access memory | |
| EP0420477A2 (en) | A decoder circuit for a PROM | |
| KR0155150B1 (ko) | 반도체 기억장치 | |
| US5029142A (en) | Static memory device provided with a signal generating circuit for high-speed precharge | |
| US5825702A (en) | Synchronous storage device and method of reading out data from the same | |
| US4926379A (en) | Data read circuit for use in semiconductor memory device | |
| US5822238A (en) | Semiconductor memory |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| BA | A request for search or an international-type search has been filed | ||
| BC | A request for examination has been filed | ||
| V2 | Lapsed due to non-payment of the last due maintenance fee for the patent application |
Effective date: 20030601 |