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WO2025068198A1 - Measuring system - Google Patents

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Publication number
WO2025068198A1
WO2025068198A1 PCT/EP2024/076810 EP2024076810W WO2025068198A1 WO 2025068198 A1 WO2025068198 A1 WO 2025068198A1 EP 2024076810 W EP2024076810 W EP 2024076810W WO 2025068198 A1 WO2025068198 A1 WO 2025068198A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
measuring system
voltage
measurement
electrical
measured
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
PCT/EP2024/076810
Other languages
German (de)
French (fr)
Inventor
Werner Tanner
Dieter Schweizer
Martin Koch
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Endress and Hauser Flowtec AG
Original Assignee
Endress and Hauser Flowtec AG
Flowtec AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Endress and Hauser Flowtec AG, Flowtec AG filed Critical Endress and Hauser Flowtec AG
Publication of WO2025068198A1 publication Critical patent/WO2025068198A1/en
Pending legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01FMEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
    • G01F1/00Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow
    • G01F1/05Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow by using mechanical effects
    • G01F1/20Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow by using mechanical effects by detection of dynamic effects of the flow
    • G01F1/32Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow by using mechanical effects by detection of dynamic effects of the flow using swirl flowmeters
    • G01F1/3209Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow by using mechanical effects by detection of dynamic effects of the flow using swirl flowmeters using Karman vortices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01FMEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
    • G01F1/00Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow
    • G01F1/05Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow by using mechanical effects
    • G01F1/20Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow by using mechanical effects by detection of dynamic effects of the flow
    • G01F1/32Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow by using mechanical effects by detection of dynamic effects of the flow using swirl flowmeters
    • G01F1/325Means for detecting quantities used as proxy variables for swirl
    • G01F1/3287Means for detecting quantities used as proxy variables for swirl circuits therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01FMEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
    • G01F1/00Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow
    • G01F1/05Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow by using mechanical effects
    • G01F1/20Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow by using mechanical effects by detection of dynamic effects of the flow
    • G01F1/32Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow by using mechanical effects by detection of dynamic effects of the flow using swirl flowmeters
    • G01F1/325Means for detecting quantities used as proxy variables for swirl
    • G01F1/3259Means for detecting quantities used as proxy variables for swirl for detecting fluid pressure oscillations

Definitions

  • the invention relates to a measuring system for measuring two (time-varying) primary (process) measured variables of a fluid medium and/or for measuring a (time-varying) secondary (process) measured variable of the medium derived from at least one of the primary (process) measured variables.
  • measuring systems are each described for measuring a time-varying primary first (process) measured variable, here namely a time-varying, in particular at least temporarily periodic, static pressure and/or a time-varying change or rate of change of the same pressure, of a fluid measuring medium flowing in a (process) line and/or for measuring a time-varying pressure derived from the same primary (process) measured variable.
  • variable) secondary (process) measured variable here namely a flow velocity and/or a volume flow of a fluid medium conveyed in a (process) line.
  • Each of the measuring systems here embodied as a vortex flowmeter (in a compact design)—includes measuring system electronics, at least one first sensor element for detecting the first primary (process) measured variable, and at least one passive second sensor element for detecting a second primary (process) measured variable that is different from the first primary (process) measured variable (serving as an auxiliary measured variable), in this case a time-varying temperature.
  • the first and second sensor elements are each electrically connected to the respective measuring system electronics by means of electrical connecting lines (forming first and second measuring channels of the respective measuring system, respectively).
  • the first sensor element is configured (in conjunction with the measuring system electronics) to generate or set a first electrical (measurement) voltage dependent on the first primary measured variable
  • the second sensor element is configured (in conjunction with the measuring system electronics) to generate or set a second electrical (measurement) voltage dependent on the second primary measured variable.
  • the measuring system electronics of each of the aforementioned measuring systems is housed in an, for example, impact- and/or weather-resistant, electronic (protective) housing and is also each set up to generate one or more (digital) measured values for the primary and/or secondary To determine a (process) measured variable and to output it as qualified measured values of the measuring system.
  • the measuring system electronics are also particularly designed to determine, based on at least the first electrical (measurement) voltage, measured values for a frequency serving as a secondary (process) measured variable of at least temporarily periodic pressure fluctuations within the flowing medium - in this case, pressure fluctuations within a Karman vortex street formed in a flow of the medium - and to determine, based on the same (vortex) frequency and the (temperature-dependent) second electrical (measurement) voltage, measured values for a volume and/or mass flow of the medium serving as a secondary (process) measured variable.
  • the measuring system electronics can, for example, also be configured to determine, based on the first and second electrical (measurement) voltages, measured values for a (static) pressure of a (flowing) fluid medium, which serves as the first primary (process) measured variable.
  • measuring systems of the type in question are mostly designed as low-power measuring systems, for example, such that the respective measuring system electronics are at least temporarily operated with an electrical (nominal) power of less than 100 mW (milliwatts); this is particularly true if the measuring system electronics or the measuring system formed thereby is connected via a current loop interface to a (4-20 mA) two-wire line used to transmit electrical power and measured values.
  • the first sensor element can be designed, for example, as a capacitive (passive) sensor element, such that the same sensor element has an electrical (sensor) capacitance and is configured to follow a change in the first primary (process) measured variable with a change in the same capacitance, and accordingly be formed by means of a (measuring) capacitor, for example with a (capacitor) electrode geometry that changes depending on the first primary measured variable.
  • the measuring system electronics can be configured accordingly to electrically charge or maintain the aforementioned (sensor) capacitance in order to generate the first electrical (measurement) voltage, for example by means of a corresponding charge-voltage converter (charge amplifier).
  • the first sensor element is formed by at least one (measurement) capacitor - here, for example, designed as a plate capacitor - for example with a (capacitor) electrode geometry that changes depending on the first primary measurement variable.
  • the first sensor element can, for example, also be formed by a (plate) capacitor having a dielectric that changes depending on the first primary measurement variable, or can also be a piezoelectric or galvanic (active) sensor element.
  • the measuring system electronics is further configured to determine (qualified) measured values for the first primary (process) measured variable and/or for the secondary (process) measured variable based on a first (measurement) voltage detected during the first time interval, and/or to output (qualified) measured values for the first primary (process) measured variable and/or for the secondary (process) measured variable determined based on a first (measurement) voltage detected during the (energization) time interval.
  • the measuring system electronics are configured to determine (voltage) measured values representing the second (measurement) voltage, for example, to determine them and store them in a (volatile) digital data memory. Further developing this embodiment of the invention, the measuring system electronics are further configured to determine one or more measured values for the first primary (process) measured variable using one or more (voltage) measured values representing the second (measurement) voltage and/or to determine one or more measured values for the first secondary (process) measured variable using one or more (voltage) measured values representing the second (measurement) voltage and/or to determine one or more measured values for the second primary (process) measured variable using one or more (voltage) measured values representing the second (measurement) voltage.
  • each of the first and second connecting lines is at least partially, for example completely, unshielded.
  • each of the third and fourth connecting lines is formed at least partially by means of a conductor track arranged on a (flexible) printed circuit board.
  • each of the first, second, third and fourth connecting lines is formed at least partially by means of a respective conductor track arranged on one and the same (flexible) printed circuit board.
  • the first and second connecting lines run parallel to each other at least in sections.
  • the third and fourth connecting lines run parallel to each other at least in sections.
  • the first and third connecting lines run parallel to each other at least in sections.
  • the first and fourth connecting lines run parallel to each other at least in sections.
  • first, second, third and fourth connecting lines run parallel to one another at least in sections.
  • the measuring system electronics comprises at least one operational amplifier, for example, an FET or a CMOS operational amplifier, wherein the first sensor element is electrically connected to a (high-impedance) (voltage) input of the operational amplifier by means of the first and second connecting lines, for example, forming a charge-to-voltage converter of the measuring system electronics, and wherein the operational amplifier is configured to supply the first electrical (measurement) voltage at a (voltage) output (when the measuring system electronics is operating in the first operating mode).
  • the operational amplifier is configured to supply the first electrical (measurement) voltage at a (voltage) output (when the measuring system electronics is operating in the first operating mode).
  • the operational amplifier comprises a (feedback) capacitor (Cf) that feeds back its (voltage) output to its (voltage) input, for example, a switched (feedback) capacitor.
  • the (feedback) capacitor (Cf) may have a (feedback) capacitance which is not less than 0.1 pF and/or not more than 100 pF.
  • the measuring system electronics has at least one, for example switchable, (electronic) current source, wherein the second sensor element is electrically connected to a (current) output of the current source by means of the third and fourth connecting lines and wherein the current source is configured to supply the (measurement) current.
  • the measuring system electronics has at least one, for example switchable, (electronic) voltage source, wherein the second sensor element is electrically connected to an output of the voltage source by means of the third and fourth connecting lines and wherein the voltage source is configured to drive the (measurement) current.
  • the measuring system electronics are configured to determine the sensor resistance of the second sensor element based on the second (measurement) voltage.
  • the measuring system electronics have at least one (reference) resistance element having an electrical (reference) resistance, for example, at a temperature of 20°C, not less than 90 ⁇ and/or not more than 1.1 k ⁇ , which is electrically connected to the second sensor element, for example, electrically connected in series with the second sensor element.
  • the measuring system electronics are configured to detect and evaluate, for example, digitize and/or determine (digital) third voltage measurement values representing the reference voltage, a third electrical (reference) voltage dependent on a voltage drop across the (reference) resistance element during the first (energization) time interval.
  • the measuring system electronics can also be configured to determine the (sensor) resistance of the second sensor element based on the third (reference) voltage, for example based on the second and third voltages as well as the (reference) resistance and/or ratiometrically.
  • the measuring system electronics are configured to determine, based on at least the first electrical (measurement) voltage, measured values for a frequency (serving as a secondary measured variable) of at least temporarily periodic pressure fluctuations within a fluid measuring medium, for example of pressure fluctuations within a Karman vortex street formed in a flow of the measuring medium.
  • the measuring system electronics are configured to determine measured values for a (measuring substance) temperature (serving as a second primary measured variable) of a, for example, flowing, fluid measuring substance based on at least the second electrical (measuring) voltage.
  • the measuring system electronics are configured to determine measured values for a (static) pressure of a (flowing) fluid medium (serving as the first primary measured variable) based on the first and second electrical (measurement) voltages.
  • the measuring system electronics are configured to determine measured values for a volume flow of a flowing (fluid) medium (serving as a secondary measured variable) based on the first and second electrical (measurement) voltages.
  • the measuring system electronics are configured to determine measured values for a mass flow of a flowing (fluid) medium (serving as a secondary measured variable) based on the first and second electrical (measurement) voltages.
  • the first sensor element is formed by means of at least one (measuring) capacitor, for example designed as a plate capacitor, for example with a (capacitor) electrode geometry changing as a function of the first primary measured variable and/or with a dielectric changing as a function of the first primary measured variable.
  • at least one (measuring) capacitor for example designed as a plate capacitor, for example with a (capacitor) electrode geometry changing as a function of the first primary measured variable and/or with a dielectric changing as a function of the first primary measured variable.
  • the second sensor element (R1) is formed by means of at least one platinum measuring resistor, for example a Pt100 and/or a Pt1000.
  • the measuring system further comprises at least one (electrical) feedthrough, for example explosion-pressure-resistant (Ex-d) and/or compliant with the international standard IEC 60079-1:2014.
  • at least one (electrical) feedthrough for example explosion-pressure-resistant (Ex-d) and/or compliant with the international standard IEC 60079-1:2014.
  • first, second, third and fourth connecting lines are guided in sections within the bushing.
  • the feedthrough is electrically connected to the first, second, third and fourth connecting lines, for example by means of unshielded (connecting) pins.
  • the bushing is interposed between the first, second, third and fourth connecting lines.
  • the measuring system further comprises an electronics (protective) housing for the measuring system electronics, for example one that is explosion-pressure-resistant (Ex-d) and/or conforms to the international standard IEC 60079-1:2014.
  • the measuring system further comprises a (housing) connection piece, which is detachably connected to the electronics (protective) housing, for example, by means of a flange connection and/or is tubular.
  • the first, second, third, and fourth connecting lines can also be routed at least partially within the (housing) connection piece, for example, in such a way that they run parallel to each other at least in sections.
  • the measuring system further comprises a (process) coupling element, formed for example by means of a membrane and/or a sleeve and/or a plate, which is designed to be contacted by a fluid medium (during operation of the measuring system), for example to be flowed against and/or around, for example in such a way that the (process) coupling element has a (coupling element) temperature dependent on a (measured medium) temperature of the measured medium and/or that the (process) coupling element has an (elastic) expansion dependent on a (measured medium) pressure.
  • a (process) coupling element formed for example by means of a membrane and/or a sleeve and/or a plate, which is designed to be contacted by a fluid medium (during operation of the measuring system), for example to be flowed against and/or around, for example in such a way that the (process) coupling element has a (coupling element) temperature dependent on a (measured medium) temperature of the measured medium and/or that
  • the coupling element is configured to react to a change in a (measuring substance) temperature of the measuring substance with a change in a (coupling element) temperature, for example in such a way that the (coupling element) temperature of the coupling element deviates stationary from a stationary (measuring substance) temperature of the measuring substance by less than 2 K (Kelvin).
  • the coupling element is designed to react to a change in a (measuring medium) pressure of the measuring medium with an, for example, biaxial and/or elastic, expansion.
  • the coupling element is designed to be inserted at least partially into a lumen of a tube (serving to guide a fluid measuring substance), for example, namely through an opening in a tube wall enclosing the lumen into the lumen and to be fixed (removably) to the same tube wall.
  • the coupling element is designed to be inserted at least partially into a lumen of a container (serving to guide a fluid measuring substance), for example a tank, for example through an opening in a container wall enclosing the lumen into the lumen and to be fixed (removably) to the same container wall.
  • a container serving to guide a fluid measuring substance
  • the coupling element consists at least partially, for example completely, of metal, for example a (stainless) steel and/or a nickel-based alloy.
  • the coupling element and the first sensor element are at least mechanically coupled to one another, for example in such a way that the first electrical (measurement) voltage is dependent on the strain of the coupling element or that a change in the strain of the coupling element causes a change in the first electrical (measurement) voltage.
  • the first sensor element is an (integral) component of the coupling element, for example in such a way that the first electrical (measurement) voltage is dependent on the strain of the coupling element or that a change in the strain of the coupling element causes a change in the first electrical (measurement) voltage.
  • the coupling element is arranged partially within a (housing) connecting piece of the measuring system, which is detachably connected, for example, by means of a flange connection to an electronics (protective) housing of the measuring system and/or is tubular, for example, namely (mechanically) connected (at a nozzle end distal to the electronics housing) to the connecting piece.
  • the first sensor element is formed by means of at least one (measuring) capacitor, for example designed as a plate capacitor, for example with a (capacitor) electrode geometry that changes depending on the first primary measured variable and/or with a dielectric that changes depending on the first primary measured variable, wherein at least one, for example movable, (capacitor) electrode of the (measuring) capacitor is mechanically connected to the coupling element or is formed by means of the coupling element and/or wherein the coupling element and the second sensor element are at least thermally coupled to one another, for example both thermally and mechanically, for example in such a way that the second electrical (measuring) voltage is dependent on a (coupling element) temperature of the coupling element or that a change in a (coupling element) temperature of the coupling element causes a change in the electrical (sensor) resistance of the second sensor element causes.
  • at least one, for example movable, (capacitor) electrode of the (measuring) capacitor is mechanically connected to the
  • the measuring system further comprises an electronics (protective) housing for the measuring system electronics, for example one that is explosion-pressure-resistant (Ex-d) and/or conforms to the international standard IEC 60079-1:2014.
  • an electronics (protective) housing for the measuring system electronics for example one that is explosion-pressure-resistant (Ex-d) and/or conforms to the international standard IEC 60079-1:2014.
  • Fig. 1 shows a perspective side view of an embodiment of a measuring system according to the invention
  • Fig. 2 shows schematically in a partially sectioned side view a measuring system according to Fig. 1;
  • FIG. 3 schematically shows an embodiment of a measuring system electronics suitable for a measuring system according to Fig. 1;
  • 1, 2 and 3 show an embodiment of a measuring system for measuring a (time-varying) first primary (process) measured variable, in particular a (static) pressure of a fluid medium (conducted in a line and/or held in a container) and/or a temporal change in the same pressure, as well as a (time-varying) second primary (process) measured variable x2 different from the first primary (process) measured variable x1, in particular a (measured medium) temperature of a fluid medium (conducted in a line), and/or for measuring a (time-varying) secondary (process) measured variable y1 derived from at least one of the first and second primary (process) measured variables, in particular a volume or mass flow of a fluid medium conducted in a line or a fill level of a fluid medium held in a container.
  • a schematic representation of a medium to be measured for example a gas, a liquid or a dispersion.
  • the aforementioned line and/or the aforementioned container can, for example, be designed as a system component of a heat supply network or a turbine cycle; thus, the medium to be measured can, for example, be steam, in particular saturated steam or superheated steam, or, for example, condensate discharged from a steam line.
  • the medium can also be, for example, (compressed) natural gas or biogas or, for example, (drinking) water; thus, the pipeline and/or the container can, for example, also be a component of a natural gas or biogas plant or of a gas supply network or a water supply network.
  • the pipeline and/or the container can, for example, also be a component of a natural gas or biogas plant or of a gas supply network or a water supply network.
  • the measuring system can, for example, comprise a (measuring) tube 3 which can be inserted into the course of the aforementioned line, for example also designed as a (rigid) pipeline, and has a lumen 3' enclosed by a (metallic) wall 3* of the tube, wherein the tube 3 or its lumen extends from an inlet end 3+ to an outlet end 3# and is designed to guide the measuring medium flowing (in the connected line) during operation of the measuring system or to be flowed through by the same measuring medium in the direction of a main flow direction of the measuring system.
  • a (measuring) tube 3 which can be inserted into the course of the aforementioned line, for example also designed as a (rigid) pipeline, and has a lumen 3' enclosed by a (metallic) wall 3* of the tube, wherein the tube 3 or its lumen extends from an inlet end 3+ to an outlet end 3# and is designed to guide the measuring medium flowing (in the connected line) during operation of the measuring system or to be
  • a flange is further provided at the inlet end 3+ as well as at the outlet end 3#, each serving to create a leak-free flange connection with a corresponding flange on an inlet-side or outlet-side line segment of the line.
  • the tube 3, as shown in Fig. 1 or 2 can be designed to be substantially straight, for example as a hollow cylinder with at least partially circular cross-section, such that the tube 3 has an imaginary straight longitudinal axis L imaginarily connecting the inlet end 3+ and the outlet end 3#.
  • 1 or 2 is designed in particular as a (vortex counting) vortex flow meter and accordingly further comprises a bluff body 4 - for example prismatic or cylindrical - arranged within the lumen 3', which is designed to swirl the flowing medium in such a way that vortices with a vortex or shedding frequency fv (fv ⁇ u) dependent on a momentary flow velocity u of the same medium are generated in the medium flowing past it, or a Karman vortex street is formed in the medium flowing downstream of the bluff body 4.
  • a bluff body 4 for example prismatic or cylindrical - arranged within the lumen 3', which is designed to swirl the flowing medium in such a way that vortices with a vortex or shedding frequency fv (fv ⁇ u) dependent on a momentary flow velocity u of the same medium are generated in the medium flowing past it, or a Karman vortex street is formed in the medium flowing downstream of the bluff body 4.
  • the measuring system comprises at least one measuring system electronics 2, which can be operated or is operated, for example, with an energy flow of less than 360 Ws/h and/or with a maximum electrical power of less than 1 W (watt), in particular less than 0.1 W, at least one, for example capacitive and/or passive, first sensor element C1 for detecting the first primary (process) measured variable, at least one, for example resistive, passive second sensor element R1 for detecting the second primary (process) measured variable.
  • the first and second sensor elements can, for example, be provided or set up to detect the first or second primary (process) measured variables of the medium (during operation of the measuring system) downstream of the aforementioned bluff body or from a Karman vortex street formed there, for example in such a way that the first primary (process) measured variable x1 is a (static) pressure fluctuating with a (vortex) shedding rate or frequency (fv), in particular proportional to a flow velocity u of the medium, or its change over time and/or the second primary (process) measured variable y1 is a (measured medium) temperature0 of the (swirled) medium.
  • the first primary (process) measured variable x1 is a (static) pressure fluctuating with a (vortex) shedding rate or frequency (fv), in particular proportional to a flow velocity u of the medium, or its change over time
  • the second primary (process) measured variable y1 is a (measured medium) temperature0 of the (swirled) medium.
  • the measuring system electronics 2 - which can be programmed, for example - can have an interface circuit, particularly designed as a TTY interface, for both wired power supply and wired signal or measurement data transmission, by means of which the measuring system (forming a current loop 2L) can be electrically connected to higher-level evaluation and supply electronics that provide the electrical energy required by the measuring system during operation.
  • the measuring system electronics 2 can be configured to draw electrical power from the aforementioned current loop 2L and to transmit (measurement) data to the evaluation and supply electronics by means of (load) modulation of an electrical (loop) current in the current loop 2L driven by the evaluation and supply electronics, carried out by the interface circuit, for example in the form of a (4-20 mA) standard signal compliant with DIN IEC 60381-1:1985-11.
  • the measuring system electronics 2 may further comprise, for example, at least one (volatile) digital data memory (RAM).
  • the measuring system For electrically connecting the first and second sensor elements C1, R1 to the measuring system electronics 2, which may also be formed, for example, by means of at least one microprocessor (pC), the measuring system according to the invention further comprises first, second, third and fourth, in particular non-twisted, electrical connecting lines 401, 402, 403, 404.
  • each of the first and second connecting lines 401, 402 and/or each of the third and fourth connecting lines 403, 404 is at least partially, for example completely, unshielded, not least for cost reasons, and/or the connecting lines 401, 402, 403, 404 are arranged, not least for space reasons, such that a smallest distance between at least one of the first and second connecting lines 401, 402 and at least one of the third and fourth connecting lines 403, 404 is less than 5 mm.
  • the first and second connecting lines 401, 402 and/or the third and fourth connecting lines 403, 404 can, for example, also be formed at least partially by means of a conductor track arranged on a (flexible) printed circuit board.
  • the first and second connecting lines 401, 402 and/or each of the third and fourth connecting lines 403, 404 is at least partially, for example completely, unshielded, not least for cost reasons, and/or the connecting lines 401, 402, 403, 404 are arranged, not least for space reasons, such that a
  • Connecting lines 401, 402 and/or the third and fourth connecting lines 403, 404 and/or the first and third connecting lines 401, 403 and/or the first and fourth connecting lines 401, 404 run parallel to one another at least in sections, in particular in such a way that the first, second, third and fourth connecting lines 401, 402, 403, 404 run parallel to one another at least in sections.
  • the measuring system comprises an electronics (protective) housing 20, for example one that is explosion-proof (Ex-d) and/or conforms to the international standard IEC 60079-1:2014, for accommodating the measuring system electronics.
  • a mechanical connection of the electronics (protective) housing to the aforementioned cable or container or to a sensor (protective) housing of the measuring system can be established, for example, by means of a (housing) connection piece 30 of the measuring system, which itself is detachably connected to the electronics (protective) housing 20 by means of a flange connection and/or is tubular.
  • first, second, third and fourth connecting lines 401, 402, 403, 404 can also be routed at least partially within the (housing) connection piece 30, for example in such a way that they run parallel to one another at least in sections within the (housing) connection piece 30 and/or adjacent connecting lines 401, 402, 403, 404 have at least in sections only a small distance of less than 5 mm.
  • the measuring system is housed in the aforementioned electronics (protective) housing 20 and/or that the first, second, third and fourth connecting lines are routed at least partially within the (housing) connection piece 30 connected to the same electronics (protective) housing 20, the measuring system according to a further embodiment of the invention further comprises at least one, for example, explosion-pressure-resistant (Ex-d) and/or (electrical) feedthrough 50 compliant with the international standard IEC 60079-1:2014.
  • the first, second, third, and fourth connecting lines can be routed in sections within the feedthrough 50 and/or the feedthrough 50 can be interposed between the first, second, third, and fourth connecting lines 401, 402, 403, 404.
  • the feedthrough 50 has, for example, unshielded, (connection) pins, and the feedthrough 50 is electrically connected to the first, second, third, and fourth connecting lines 401, 402, 403, 404 by means of one of the (connection) pins each.
  • the first sensor element C1 is electrically connected to the measuring system electronics 2 by means of the first and second connecting lines 401, 402 (forming a first measuring channel of the measuring system) and the second sensor element R1 is electrically connected to the measuring system electronics 2 by means of the first and second connecting lines 403, 404 (forming a second measuring channel of the measuring system), for example also (in each case) with the interposition of the possibly required (housing) feedthrough 50.
  • the first sensor element C1 of the measuring system is in particular configured (in conjunction with the measuring system electronics) to generate and/or adjust a first electrical (measurement) voltage u1 dependent on the first primary (process) measured variable x1, and the measuring system electronics 2 is configured to temporarily detect and evaluate the same first electrical (measurement) voltage u1, for example to digitize it and/or to convert the first (Measurement) voltage u1 to determine (digital) first (voltage) measured values Xu1 representing.
  • the measuring system electronics 2 can also be configured, for example, to determine, based on at least the first electrical (measurement) voltage u1, measured values for a frequency (fv) (serving as a secondary measured variable) of at least temporarily periodic pressure fluctuations within the fluid measuring medium, in particular pressure fluctuations within the aforementioned Karman vortex street.
  • the first sensor element C1 is designed for this purpose as a capacitive sensor element (having at least one measuring capacitor).
  • the first sensor element C1 has an electrical (sensor) capacitance, particularly at a temperature of 20°C, of not less than 10 pF (picofarads) and/or not more than 100 pF and/or composed of two or more partial capacitances, and the first sensor element is further configured to follow a change in the first primary (process) measured variable x1 with a change in the same (sensor) capacitance.
  • the first sensor element C1 can, for example, also be formed by at least one plate capacitor, particularly with a (capacitor) electrode geometry that changes depending on the first primary measured variable x1 and/or with a dielectric that changes depending on the first primary measured variable x1.
  • the measuring system electronics are further configured to at least temporarily charge or keep charged the same capacitance of the first sensor element C1; for example, this also in such a way that the first electrical (measurement) voltage u1 is (essentially) proportional to an electrical charge of the (sensor) capacitance of the first sensor element C1.
  • the second sensor element R1 in turn, has an electrical (sensor) resistance of not less than 90 ⁇ and/or not more than 1.1 k ⁇ , in particular at a temperature of 20°C, and is further configured to follow a change in the second primary measured variable x2 with a change in the same (sensor) resistance.
  • the second sensor element R1 is formed by means of at least one platinum measuring resistor, for example a Pt100 and/or a Pt1000.
  • the measuring system electronics 2 is further configured to temporarily energize the second sensor element R1 in order to temporarily cause a voltage drop across the second sensor element R1, namely, as also shown in Fig. 4, to drive an electrical (measurement) current through the second sensor element R1 and the third and fourth connecting lines 403, 404 during a predetermined first (energization) time interval t1, for example, lasting not less than 100 ms (milliseconds), in particular an impressed and/or constant and/or having a maximum current of not less than 0.1 mA (milliampere) and/or converting a maximum electrical power of not less than 0.4 mW (milliwatt) in the second sensor element R1, as well as during a second time interval t2 preceding the first time interval t1 and a third time interval following the first (energization) time interval t1 t3 not to energize the second sensor element R1, in particular to save electrical power or energy, or not to drive any (measuring) current through the
  • t4 has a (rising) first current edge, for example with a current rise rate that is at least temporarily and/or on average (arithmetic) terms not less than 0.1 mA/ps (milliamperes per microsecond), at least during a fourth (transition) time interval t4 that (immediately) follows the second time interval t2 and (immediately) precedes the first (current supply) time interval t1, for example (not less than 1 s (microsecond), and that the (measurement) current i2 has a (rising) first current edge, for example (not less than 0.1 mA/ps (milliamperes per microsecond), at least during a fifth (transition) time interval that (immediately) follows the first (current supply) time interval t1 and (immediately) precedes the third time interval t3, for example (not less than 1 ps (microsecond), t5 has a (falling) second current edge, for example with a current decay rate
  • the measuring system electronics 2 is configured to, at least during the first (current supply) time interval t1 to detect and evaluate a second electrical (measurement) voltage u2 dependent on the voltage drop across the second sensor element R1, for example, namely to digitize it and/or to determine (digital) second (voltage) measured values Xu2 representing the second (measurement) voltage u2.
  • the measuring system electronics 2 is further configured, based on at least the first electrical (measurement) voltage u1, for example also based on both the first electrical (measurement) voltage u1 and the second electrical (measurement) voltage u2, to determine one or more (digital) measured values for the first primary (process) measured variable x1 and/or one or more (digital) measured values for the secondary (process) measured variable y1, in particular to determine them and output them as (qualified) measured values XM of the measuring system.
  • the measuring system electronics 2 is in particular also configured to electrically charge or maintain the capacitance of the first sensor element C1 at least during the second and third time intervals in order to effect the first electrical (measurement) voltage u1, and/or the measuring system electronics 2 is configured to determine the sensor resistance of the second sensor element R1 based on the second (measurement) voltage u2.
  • the measuring system electronics 2 can also be configured to (temporarily) store (voltage) measured values Xu1 representing the first (measurement) voltage u1, for example in order to (temporarily) store the same (voltage) measured values u1 in the aforementioned (volatile) digital data memory and/or to determine one or more measured values for the second primary (process) measured variable x2 using one or more of the same (voltage) measured values.
  • the measuring system electronics 2 can also be configured to determine (voltage) measured values Xu2 representing the second (measurement) voltage u2, for example in order to (temporarily) store the same (voltage) measured values Xu2 in the aforementioned (volatile) digital data memory and/or to determine one or more measured values for the first and/or second primary (process) measured variables x2 and/or for the secondary (process) measured variable y1 using one or more of the same (voltage) measured values Xu2.
  • the measuring system electronics 2 is also configured to determine one or more (digital) measured values for the second primary (process) measured variable x2 based on the second electrical (measurement) voltage u2, for example, in order to store the same measured values in the aforementioned (volatile) digital data memory and/or to serve as an auxiliary measured value for determining at least one measured value for the secondary and/or first primary (process) measured variables.
  • the measuring system electronics 2 can advantageously also be configured to determine one or more measured values for the first primary (process) measured variable x1 using one or more measured values for the second primary (process) measured variable x2.
  • the measuring system electronics 2 can, for example, be configured to determine one or more measured values for the first primary (process) measured variable x1 based on at least the second electrical (Measuring) voltage u2 to determine measured values for a (measuring material) temperature 0 of a (flowing) fluid measuring medium, which serves as a second primary measured variable x2, and/or the measuring system electronics 2 can be set up to determine, based on the first and second electrical (measuring) voltages, measured values for a volume flow v (serving as a secondary measured variable) and/or a mass flow m (serving as a secondary measured variable) of a flowing (fluid) measuring medium and/or measured values for a (static) pressure p (serving as a first primary measured variable x1) of a (flowing) fluid measuring medium.
  • the measuring system electronics 2 has at least one operational amplifier OP, for example, a FET or a CMOS operational amplifier. Furthermore, the first sensor element C1 is electrically connected to a (high-impedance) (voltage) input of the operational amplifier OP by means of the first and second connecting lines 401, 402, in particular forming a charge-to-voltage converter of the measuring system electronics 2, and the operational amplifier is configured to deliver the first electrical (measurement) voltage u1 at a (voltage) output (when the measuring system electronics is operating in the first operating mode).
  • the operational amplifier OP for example, a FET or a CMOS operational amplifier.
  • the first sensor element C1 is electrically connected to a (high-impedance) (voltage) input of the operational amplifier OP by means of the first and second connecting lines 401, 402, in particular forming a charge-to-voltage converter of the measuring system electronics 2, and the operational amplifier is configured to deliver the first electrical (measurement) voltage u1 at a (voltage) output (
  • the operational amplifier OP can, for example, also have a (feedback) capacitor Cf which feeds back its (voltage) output to its (voltage) input, in particular a switched (feedback) capacitor, for example with a (feedback) capacitance which is not less than 0.1 pF and/or not more than 100 pF.
  • a (feedback) capacitor Cf which feeds back its (voltage) output to its (voltage) input
  • a switched (feedback) capacitor for example with a (feedback) capacitance which is not less than 0.1 pF and/or not more than 100 pF.
  • the measuring system electronics 2 has at least one (electronic) current source, for example, a switchable one. Furthermore, the second sensor element R1 is electrically connected to a (current) output of the current source via the third and fourth connecting lines 403, 404, and the current source is configured to supply the (measurement) current i2, in particular such that the (measurement) current is an impressed current or a current regulated to a setpoint.
  • the measuring system electronics 2 can, for example, also have at least one, possibly also switchable (electronic) voltage source VREF, which - as also schematically shown in Fig.
  • the measuring system electronics 2 can further have at least one (reference) resistance element R2 having an electrical (reference) resistance, particularly at a temperature of 20°C, not less than 1000 ⁇ and/or not more than 10 k ⁇ , electrically connected to the second sensor element R1, particularly electrically connected in series with the second sensor element R1.
  • the measuring system electronics 2 can be configured to detect and evaluate, during the first (current supply) time interval, an electrical third (reference) voltage u3 dependent on a voltage drop across the (reference) resistance element R2, in particular to digitize it and/or to determine (digital) third voltage measured values representing the reference voltage u3.
  • the measuring system electronics can advantageously be configured to determine the (sensor) resistance of the second sensor element R1 based on the third (reference) voltage u3, for example based on the second and third voltages u2, u3 and the (reference) resistance and/or ratiometrically.
  • the connecting lines 401, 402, 403, 404 are at least partially unshielded and a smallest distance between at least one of the first and second connecting lines and at least one of the third and fourth connecting lines is less than 5 mm, at least one, in particular each, of the first and second connecting lines 401, 402 is (signal-)coupled to at least one, in particular each, of the third and fourth connecting lines 403, 404; this in particular capacitively and/or in such a way that the aforementioned, inter alia also by the third and fourth
  • the (measurement) current i2 flowing through the connecting lines 403, 404 or its temporal changes can or do cause (voltage) disturbances in the first and second measuring lines 401, 402, and thus in the first electrical (measurement) voltage u1.
  • the measuring system electronics 2 in the measuring system according to the invention is further configured not to output a (qualified) measured value XM for the secondary and/or first primary (process) measured variables determined on the basis of the first (measurement) voltage detected during the fourth and fifth (transition) time intervals, or not to determine a measured value for the secondary and/or first primary (process) measured variables based on the first electrical (measurement) voltage present during the fourth and fifth (transition) time intervals.
  • the measuring system electronics in the measuring system can also be configured to determine (qualified) measured values for the secondary and/or first primary (process) measured variables during the fourth (transition) time interval based on a first (measurement) voltage u1 previously acquired during the second time interval and/or to determine (qualified) measured values for the secondary and/or first primary (process) measured variables during the fifth (transition) time interval based on a first (measurement) voltage u1 previously acquired during the first time interval t1.
  • the measuring system electronics 2 is also configured to determine (qualified) measured values XM for the secondary and/or first primary (process) measured variables based on a first (measurement) voltage u1 previously acquired during the first time interval t1.
  • the measuring system electronics 2 can also be configured, for example, not to output a (qualified) measured value for the secondary and/or first primary (process) measured variable x1 determined based on the first (measurement) voltage u1 detected during the (current supply) time interval t1 and/or not to determine a measured value for the secondary and/or first primary (process) measured variables based on the first electrical (measurement) voltage u1 present during the (current supply) time interval.
  • the measuring system electronics 2 can advantageously also be configured to determine one or more (digital) measured values for the second primary (process) measured variable x2 based on at least the second electrical (measurement) voltage u2, in particular based on both the second electrical (measurement) voltage u2 and the first electrical (measurement) voltage u1 determined in the manner described above, in particular to output them as qualified measured values of the measuring system 2.
  • the measuring system further comprises a (process) coupling element 11, formed for example by means of a membrane and/or a sleeve and/or a plate.
  • the coupling element consists at least partially, for example completely, of metal, in particular a (stainless) steel and/or a nickel-based alloy.
  • the coupling element 11 is particularly designed to be contacted by the aforementioned medium (during operation of the measuring system), for example to be flowed against and/or around; This is particularly the case in such a way that the (process) coupling element 11 has a (coupling element) temperature dependent on a (measuring medium) temperature of the measuring medium and/or an (elastic) expansion dependent on a (measuring medium) pressure.
  • the aforementioned coupling element is also particularly configured to react to a change in a (measuring medium) pressure of the measuring medium with an expansion, for example, also biaxial and/or elastic, and to a change in a (measuring medium) temperature of the measuring medium with a change in a (coupling element) temperature, for example also in such a way that the (coupling element) temperature of the coupling element deviates from a stationary (measuring medium) temperature of the measuring medium by less than 2 K (Kelvin).
  • the coupling element 11 can be configured to be inserted at least partially into a lumen (3') of a tube (3) (serving to convey a fluid medium), in particular through an opening (3a) in a tube wall (3*) surrounding the lumen into the lumen and fixed (removably) to the same tube wall.
  • the coupling element 11 can, as also schematically shown in Fig. 2, be designed, for example, as a sensor flag protruding into the lumen 3' of the aforementioned tube 3.
  • the coupling element 11 can, for example, also be configured to be inserted at least partially into a lumen of a container (used to guide a fluid measuring substance), in particular a tank, in particular through an opening in a container wall enclosing the lumen into the lumen and to be fixed (removably) to the same container wall.
  • a container used to guide a fluid measuring substance
  • the coupling element 11 can, for example, also be arranged partially within the connecting piece and/or be (mechanically) connected to the connecting piece, for example at a piece end distal to the aforementioned electronics housing 20.
  • the coupling element 11 and the first sensor element C1 are at least mechanically coupled to one another, or the first sensor element C1 is designed as an (integral) component of the coupling element 11; this is particularly the case in such a way that (during operation of the measuring system) the first electrical (measurement) voltage u1 is dependent at least on the strain of the coupling element 11, or that a change in the strain of the coupling element 11 causes a change in the first electrical (measurement) voltage u1.
  • the first sensor element 11 is formed by means of at least one (measurement) capacitor designed as a plate capacitor
  • at least one (capacitor) electrode of the (measurement) capacitor for example a movable (capacitor) electrode, can be mechanically connected to the coupling element or formed by means of the coupling element.
  • the coupling element 11 and the second sensor element R1 can also be coupled to one another at least thermally, in particular both thermally and mechanically; this in particular also in such a way that the second electrical (measurement) voltage u2 is dependent at least on a (coupling element) temperature of the coupling element or that a change in a (coupling element) temperature of the coupling element causes a change in the electrical (sensor) resistance of the second sensor element R1.

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Abstract

The measuring system is used to sense two temporally variable primary measured variables (x1, x2) and/or a secondary measured variable (y1) derived therefrom. It comprises measurement electronics, an active sensor element (C1), a passive sensor element (R1) and electrical connecting lines. The sensor element (C1) generates a voltage dependent on x1, while the sensor element (R1) changes its resistance depending on x2. For a defined interval (t1), the measurement electronics drive a measurement current through R1 and interrupt this before (t2) and after (t3) this interval, with the result that rising and falling current flanks arise in the transitional intervals (t-4, t5). Moreover, the measurement electronics temporarily sense and analyse the voltages (u1, u2) and implement this measurement in particular time intervals in order to allow failure-free and precise evaluation.

Description

Meßsystem measuring system

Die Erfindung betrifft ein Meßsystem zum Messen zweier (zeitlich veränderlicher) primärer (Prozeß-)Meßgrößen eines fluiden Meßstoffs und/oder zum Messen einer von wenigstens einer der primären (Prozeß-)Meßgrößen abgeleiteten (zeitlich veränderlichen) sekundären (Prozeß-)Meßgröße des Meßstoffs. The invention relates to a measuring system for measuring two (time-varying) primary (process) measured variables of a fluid medium and/or for measuring a (time-varying) secondary (process) measured variable of the medium derived from at least one of the primary (process) measured variables.

In der US-A 2003/0061887, der US-A 2004/0216532, der US-A 2009/0038406, der US-A 2022/0057240, der WO-A 2004/023081 , der WO-A 2022/128418 oder der (nicht vorveröffentlichten) deutschen Patentanmeldung 102022127160.9 sind jeweils Meßsysteme zum Messen einer zeitlich veränderlichen primären ersten (Prozeß-)Meßgröße, hier nämlich eines zeitlich ändernden, insb. zumindest zeitweise periodischen, statischen Drucks und/oder einer zeitlichen Änderung bzw. Änderungsrate nämlichen Drucks, eines in einer (Prozeß-)Leitung strömenden fluiden Meßstoffs und/oder zum Messen einer von nämlicher primären (Prozeß-)Meßgröße abgeleiteten (zeitlich veränderlichen) sekundären (Prozeß-)Meßgröße, hier nämlich einer Strömungsgeschwindigkeit und/oder eines Volumenstroms eines in einer (Prozeß-)Leitung geführten fluiden Meßstoffs. In US-A 2003/0061887, US-A 2004/0216532, US-A 2009/0038406, US-A 2022/0057240, WO-A 2004/023081, WO-A 2022/128418 or the (not pre-published) German patent application 102022127160.9, measuring systems are each described for measuring a time-varying primary first (process) measured variable, here namely a time-varying, in particular at least temporarily periodic, static pressure and/or a time-varying change or rate of change of the same pressure, of a fluid measuring medium flowing in a (process) line and/or for measuring a time-varying pressure derived from the same primary (process) measured variable. variable) secondary (process) measured variable, here namely a flow velocity and/or a volume flow of a fluid medium conveyed in a (process) line.

Jedes der - hier jeweils als ein Wirbel-Durchfluß-Meßgerät (in Kompaktbauweise) ausgebildeten - Meßsysteme umfaßt jeweils eine Meßsystem-Elektronik, wenigstens ein erstes Sensorelement zum Erfassen der ersten primären (Prozeß-)Meßgröße sowie wenigstens ein passives zweites Sensorelement zum Erfassen einer von der ersten primären (Prozeß-)Meßgröße verschiedenen (als Hilfs-Meßgröße dienlichen) zweiten primären (Prozeß-)Meßgröße, hier nämlich einer zeitlich veränderlichen Temperatur. Die ersten und zweiten Sensorelememente sind jeweils (unter Bildung erster bzw. zweiter Meßkanäle des jeweiligen Meßsystems) mittels elektrischer Verbindungsleitungen an die jeweilige Meßsystem-Elektronik elektrisch angeschlossen. Zudem ist das erste Sensorelemement jeweils eingerichtet, (im Verbund mit der Meßsystem-Elektronik) eine von der ersten primären Meßgröße abhängige erste elektrische (Meß-)Spannung zu generieren bzw. einzustellen, und ist das zweite Sensorelemente jeweils eingerichtet, (im Verbund mit der Meßsystem-Elektronik) eine von der zweiten primären Meßgröße abhängige zweite elektrische (Meß-)Spannung zu generieren bzw. einzustellen. Each of the measuring systems—here embodied as a vortex flowmeter (in a compact design)—includes measuring system electronics, at least one first sensor element for detecting the first primary (process) measured variable, and at least one passive second sensor element for detecting a second primary (process) measured variable that is different from the first primary (process) measured variable (serving as an auxiliary measured variable), in this case a time-varying temperature. The first and second sensor elements are each electrically connected to the respective measuring system electronics by means of electrical connecting lines (forming first and second measuring channels of the respective measuring system, respectively). In addition, the first sensor element is configured (in conjunction with the measuring system electronics) to generate or set a first electrical (measurement) voltage dependent on the first primary measured variable, and the second sensor element is configured (in conjunction with the measuring system electronics) to generate or set a second electrical (measurement) voltage dependent on the second primary measured variable.

Die Meßsystem-Elektronik jedes der vorbezeichneten Meßsysteme ist in einem, beispielsweise schlag- und/oder wetterfesten, Elektronik-(Schutz-)Gehäuse untergebracht und zudem jeweils eingerichtet, basierend auf den (zeitlich veränderlichen) ersten und zweiten elektrischen (Meß-)Spannungen einen oder mehrere (digitale) Meßwerte für die primären und/oder sekundären (Prozeß-)Meßgröße zu ermitteln und als qualifizierte Meßwerte des Meßsystems auszugeben. Bei den hier gezeigten Meßsystemen ist die Meßsystem-Elektronik zudem insb. dafür eingerichtet, basierend auf zumindest der ersten elektrischen (Meß-)Spannung Meßwerte für eine als sekundäre (Prozeß-)Meßgröße dienliche Frequenz von zumindest zeitweise periodischen Druckschwankungen innerhalb des strömenden Meßstoffs - hier nämlich von Druckschwankungen innerhalb einer in einer Strömung des Meßstoffs ausgebildeten Karmanschen Wirbelstraße - und basierend auf nämlicher (Wirbel-)Frequenz sowie der (Temperatur abhängigen) zweiten elektrischen (Meß-)Spannung Meßwerte für einen als sekundäre (Prozeß-)Meßgröße dienlichen Volumen- und/oder Massestrom des Meßstoffs zu ermitteln. Die Meßsystem-Elektronik kann beispielsweise aber auch eingerichtet sein, basierend auf den ersten und zweiten elektrischen (Meß-)Spannungen Meßwerte für einen als erste primäre (Prozeß-)Meßgröße dienliche (statischen) Druck eines (strömenden) fluiden Meßstoffs zu ermitteln. Typischerweise sind Meßsystem der in Rede stehenden Art zumeist als Niedrigleistung-Meßsysteme ausgebildet, beispielsweise derart, daß die jeweilige Meßsystem-Elektronik zumindest vorübergehend mit einer elektrischen (Nenn-)Leistung betrieben wird, die weniger als 100 mW (Milliwatt) beträgt; dies insbesondere auch für den Fall, daß die Meßsystem-Elektronik bzw. das damit gebildete Meßsystem mittels Stromschleifenschnittstelle an eine dem Übertragen von elektrischer Leistung und Meßwerten dienliche (4-20 mA-)2-Drahtleitung angeschlossen ist. The measuring system electronics of each of the aforementioned measuring systems is housed in an, for example, impact- and/or weather-resistant, electronic (protective) housing and is also each set up to generate one or more (digital) measured values for the primary and/or secondary To determine a (process) measured variable and to output it as qualified measured values of the measuring system. In the measuring systems shown here, the measuring system electronics are also particularly designed to determine, based on at least the first electrical (measurement) voltage, measured values for a frequency serving as a secondary (process) measured variable of at least temporarily periodic pressure fluctuations within the flowing medium - in this case, pressure fluctuations within a Karman vortex street formed in a flow of the medium - and to determine, based on the same (vortex) frequency and the (temperature-dependent) second electrical (measurement) voltage, measured values for a volume and/or mass flow of the medium serving as a secondary (process) measured variable. The measuring system electronics can, for example, also be configured to determine, based on the first and second electrical (measurement) voltages, measured values for a (static) pressure of a (flowing) fluid medium, which serves as the first primary (process) measured variable. Typically, measuring systems of the type in question are mostly designed as low-power measuring systems, for example, such that the respective measuring system electronics are at least temporarily operated with an electrical (nominal) power of less than 100 mW (milliwatts); this is particularly true if the measuring system electronics or the measuring system formed thereby is connected via a current loop interface to a (4-20 mA) two-wire line used to transmit electrical power and measured values.

Wie in der US-A 2003/0061887, der US-A 2004/0216532, der US-A 2009/0038406, der US-A 2022/0057240 jeweils gezeigt, kann das erste Sensorelemement beispielsweise als ein kapazitives (passives) Sensorelement ausgebildet sein, derart, daß nämliches Sensorelement eine elektrische (Sensor-)Kapazität aufweist und eingerichtet ist, einer Änderung der ersten primären (Prozeß-)Meßgröße mit einer Änderung nämlicher Kapazität zu folgen, und dementsprechend mittels eines (Meß-)Kondensators gebildet sein, beispielsweise mit einer in Abhängigkeit von der ersten primären Meßgröße ändernden (Kondensator-)Elektrodengeometrie. Zudem kann die Meßsystem-Elektronik jeweils entsprechend eingerichtet sein, zum Bewirken der ersten elektrischen (Meß-)Spannung die vorbezeichnete (Sensor-)Kapazität elektrisch aufzuladen bzw. aufgeladen zu halten, beispielsweise mittels eines entsprechenden Ladungs-Spannungs-Wandlers (Ladungsverstärker). Bei den vorbezeichneten Meßsystemen ist das erste Sensorelement jeweils mittels wenigstens eines - hier beispielsweise als Plattenkondensator ausgebildeten - (Meß-)Kondensators gebildet, beispielsweise mit einer in Abhängigkeit von der ersten primären Meßgröße ändernden (Kondensator-)Elektrodengeometrie. Das erste Sensorelement kann beispielsweise aber auch mittels eines ein in Abhängigkeit von der ersten primären Meßgröße änderndes Dielektrikum aufweisenden (Platten-)Kondensators gebildet oder beispielsweise auch ein piezoelektrisches oder galvanisches (aktives) Sensorelement sein. Bei dem zweiten Sensorelement wiederum kann es sich typischerweise um ein resistives passives (Temperatur-)Sensorelement handeln, derart, daß nämliches Sensorelement einen Temperatur abhängigen elektrischen (Sensor-)Widerstand, beispielsweise nämlich einem (gemäß EN IEC 60751 genormten) Platin-Meßwiderstand, aufweist und eingerichtet ist, einer Änderung der zweiten primären Meßgröße mit einer Änderung nämlichen Widerstands zu folgen. Zum Bewirken der zweiten elektrischen (Meß-)Spannung kann die Meßsystem-Elektronik zudem eingerichtet sein, das zweite Sensorelement zu bestromen, nämlich einen (eingeprägten) elektrischen (Meß-)Strom mit einer typischerweise etwa zwischen 0,05 mA und 0,5 mA liegenden Stromstärke durch das zweite Sensorelement sowie dieses mit der Meßsystem-Elektronik elektrisch verbindende Verbindungsleitungen zu treiben, beispielsweise um einen entsprechenden (zum Widerstand proportionalen) Spannungsfall über dem zweiten Sensorelement zu etablieren. As shown in US-A 2003/0061887, US-A 2004/0216532, US-A 2009/0038406, US-A 2022/0057240, the first sensor element can be designed, for example, as a capacitive (passive) sensor element, such that the same sensor element has an electrical (sensor) capacitance and is configured to follow a change in the first primary (process) measured variable with a change in the same capacitance, and accordingly be formed by means of a (measuring) capacitor, for example with a (capacitor) electrode geometry that changes depending on the first primary measured variable. In addition, the measuring system electronics can be configured accordingly to electrically charge or maintain the aforementioned (sensor) capacitance in order to generate the first electrical (measurement) voltage, for example by means of a corresponding charge-voltage converter (charge amplifier). In the aforementioned measuring systems, the first sensor element is formed by at least one (measurement) capacitor - here, for example, designed as a plate capacitor - for example with a (capacitor) electrode geometry that changes depending on the first primary measurement variable. The first sensor element can, for example, also be formed by a (plate) capacitor having a dielectric that changes depending on the first primary measurement variable, or can also be a piezoelectric or galvanic (active) sensor element. The second sensor element, in turn, can typically be a resistive passive (temperature) sensor element, such that the same sensor element has a temperature dependent electrical (sensor) resistance, for example a platinum measuring resistor (standardized according to EN IEC 60751), and is configured to follow a change in the second primary measured variable with a change in the same resistance. To effect the second electrical (measurement) voltage, the measuring system electronics can also be configured to energize the second sensor element, namely to drive an (impressed) electrical (measurement) current with a current intensity typically between approximately 0.05 mA and 0.5 mA through the second sensor element and connecting lines electrically connecting it to the measuring system electronics, for example in order to establish a corresponding voltage drop (proportional to the resistance) across the second sensor element.

Zum Anbinden der ersten und zweiten Sensorelemente bzw. des damit gebildeten Meßsystems an den jeweiligen Prozeß bzw. dessen jeweiligen Meßstoff weisen Meßsysteme der in Rede stehenden Art typischerweise ferner ein, beispielsweise mittels einer Membran und/oder einer Hülse und/oder einer Platte gebildetes, metallisches (Prozeß-)Koppelelement, daß dafür eingerichtet ist, (im Betrieb des Meßsystems) vom jeweiligen Meßstoff kontaktiert, beispielsweise nämlich an- und/oder umströmt, zu werden, insb. auch derart, daß das (Prozeß-)Koppelelement eine von einer (Meßstoff-)Temperatur des Meßstoffs abhängige (Koppelelement-)Temperatur aufweist und/oder daß das (Prozeß-)Koppelelement eine von einem (Meßstoff-)Druck abhängige (elastische) Dehnung aufweist. In order to connect the first and second sensor elements or the measuring system formed thereby to the respective process or its respective measuring medium, measuring systems of the type in question typically also have a metallic (process) coupling element, formed for example by means of a membrane and/or a sleeve and/or a plate, which is designed to be contacted by the respective measuring medium (during operation of the measuring system), for example to be flowed against and/or around, in particular in such a way that the (process) coupling element has a (coupling element) temperature that is dependent on a (measured medium) temperature of the measured medium and/or that the (process) coupling element has an (elastic) expansion that is dependent on a (measured medium) pressure.

Bei den in der US-A 2003/0061887, der US-A 2004/0216532, der US-A 2009/0038406, der US-A 2022/0057240, der WO-A 2022/128418 gezeigten Meßsystemen ist das (Prozeß-)Koppelelement anteilig innerhalb eines dem Haltern des vorbezeichneten Elektronik-(Schutz-)Gehäuses an der (Prozeß-)Leitung oder einem darin eingegliederten Meßrohr des Meßsystems dienlichen, beispielsweise mittels Flanschverbindung lösbar mit dem Elektronik-(Schutz-)Gehäuses verbundenen und/oder Röhren förmigen, (Gehäuse-)Anschlußstutzen angeordenet und/oder an einem zum Elektronik-Gehäuse distalen Stutzenende nämlichen Anschlußstutzens damit (mechanisch) verbunden und sind die vorbezeichneten Verbindunsgleitungen zumindest anteilig innerhalb des (Gehäuse-)Anschlußstutzens geführt. Zudem ist das hier gezeigte (Prozeß-)Koppelelement jeweils mittels eines membranartigen Deformationskörpers und einer daran angeformten paddelförmigen Sensorfahne gebildet und insbesondere eingerichtet, zumindest teilweise in ein Lumen eines (dem Führen eines fluiden Meßstoffs dienlichen) Rohrs eingesetzt zu werden, beispielsweise derart, daß das das (Prozeß-)Koppelelement durch eine Öffnung in einer das Lumen umhüllenden Rohrwand hindurch in das Lumen eingesetzt und an nämlicher Rohrwand (wieder lösbar) fixiert ist. Das Koppelelement kann beispielsweise aber auch mittels einer Schwinggabel oder einem Schwingstab gebildet und eingerichtet sein, zumindest teilweise in ein Lumen eines (dem Führen eines fluiden Meßstoffs dienlichen) Behälters, beispielsweise einem Tank oder einem Silo, eingesetzt zu werden. Das Koppelelement ist ferner mit dem ersten Sensorelement mechanisch gekoppelt, derart, daß die erste elektrische (Meß-)Spannung von einer Dehnung des Koppelelements abhängig ist bzw. daß eine Änderung einer Dehnung des Koppelelements eine Änderung der ersten elektrische (Meß-)Spannung bewirkt, beispielsweise indem wenigstens eine (bewegliche) Kondensator-Elektrode des (Meß-)Kondensators mit dem Koppelelement starr verbunden ist. Nicht zuletzt für den vorbezeichneten Fall, daß das erste Sensorelement mittels wenigstens eines (Meß-)Kondensators gebildet ist, kann das erste Sensorelement auch (integraler) Bestandteil des Koppelelements sein, beispielsweise derart, daß wenigstens eine (bewegliche) Kondensator-Elektrode des (Meß-)Kondensators mittels des Koppelelements gebildet ist. Darüberhinaus sind das Koppelelement und das zweite Sensorelement zumindest thermisch, insb. nämlich sowohl thermisch als auch mechanisch, aneinander gekoppelt, derart, daß die zweite elektrische (Meß-)Spannung von einer (Koppelelement-)Temperatur des Koppelelements abhängig ist bzw. daß eine Änderung einer (Koppelelement-)Temperatur des Koppelelements eine Änderung des elektrischen (Sensor-)Widerstands des zweiten Sensorelements bewirkt. In the measuring systems shown in US-A 2003/0061887, US-A 2004/0216532, US-A 2009/0038406, US-A 2022/0057240, WO-A 2022/128418, the (process) coupling element is arranged proportionately within a (housing) connecting piece which serves to hold the aforementioned electronics (protective) housing on the (process) line or a measuring tube of the measuring system incorporated therein, for example, detachably connected to the electronics (protective) housing by means of a flange connection and/or is tubular, and/or is (mechanically) connected to it at a connecting piece end distal to the electronics housing, and the aforementioned Connecting lines are routed at least partially within the (housing) connection piece. In addition, the (process) coupling element shown here is formed by means of a membrane-like deformation body and a paddle-shaped sensor vane formed thereon and is in particular designed to be inserted at least partially into a lumen of a pipe (used to convey a fluid medium), for example in such a way that the (process) coupling element is inserted into the lumen through an opening in a pipe wall surrounding the lumen and is (removably) fixed to the same pipe wall. The coupling element can, for example, also be formed by means of a tuning fork or a tuning rod and be designed to be inserted at least partially into a lumen of a container (used to convey a fluid medium), for example a tank or a silo. The coupling element is further mechanically coupled to the first sensor element in such a way that the first electrical (measurement) voltage depends on an elongation of the coupling element or such that a change in an elongation of the coupling element causes a change in the first electrical (measurement) voltage, for example, by rigidly connecting at least one (movable) capacitor electrode of the (measurement) capacitor to the coupling element. Last but not least, in the aforementioned case where the first sensor element is formed by at least one (measurement) capacitor, the first sensor element can also be an (integral) component of the coupling element, for example, such that at least one (movable) capacitor electrode of the (measurement) capacitor is formed by the coupling element. Furthermore, the coupling element and the second sensor element are coupled to one another at least thermally, in particular both thermally and mechanically, in such a way that the second electrical (measurement) voltage is dependent on a (coupling element) temperature of the coupling element or that a change in a (coupling element) temperature of the coupling element causes a change in the electrical (sensor) resistance of the second sensor element.

Ein Nachteil bei Meßsystemen der in Rede stehenden Art besteht u.a. darin, daß die vorbezeichneten Verbindungsleitungen, nicht zuletzt im Falle von deren zumindest teilweisen Verlegung innerhalb des Anschlußstutzens, zueinander geringe Abstände von weniger als 5 mm aufweisen und damit einhergehend in einem erheblichen Ausmaß kapazitiv (signal-)gekoppelt sein können. Bedingt durch diese (Signal-)Kopplung kann auch der dem Bewirken der zweiten elektrischen (Meß-)Spannung dienliche (Meß-)Strom durch das zweite Sensorelement ein die erste elektrische (Meß-)Spannung, mithin die Meßgenauigkeit des Meßsystems insgesamt beeinflussende Störung im ersten Meßkanal verursachen; dies insb. auch dann, wenn der (Meß-)Strom sprungartig geändert, beispielsweise nämlich ein- bzw. ausgeschaltet wird. Zur Vermeidung von daraus resultierenden Meßfehlern werden bei derartigen Meßsystemen dementsprechend den jeweiligen Meßstrom beeinflussende Schaltvorgänge während der Ermittlung der Meßwerte vermieden bzw. wird der Meßstrom umgekehrt für die Ermittlung der Meßwerte möglichst konstant gehalten. Damit einhergehend kann allein eine für den Betrieb der vorbezeichneten ersten und zweiten Meßkanäle insgesamt erforderliche elektrische Leistung etwa 0,5 bis 2 mW, mithin im Falle eines Niedrigleistung-Meßsystem (gelegentlich) mehr als 1 % der insgesamt verfüglichen, gleichwohl ohnehin geringen elektrischen Leistung (<100mW) betragen. Ausgehend vom vorbezeichneten Stand der Technik besteht eine Aufgabe der Erfindung darin, Meßsystem der in Rede stehenden Art dahingehend zu verbessern, daß die für die Ermittlung der Meßwerte benötigte elektrische Leistung regelmäßig von einem für den Betrieb der ersten und zweiten Meßkanäle insgesamt benötigte (maximale) elektrische Leistung auf eine im Vergleich dazu niedrigere (minimale) elektrische Leistung abgesenkt werden kann, bei einer dennoch ausreichend hohen Meßgenauigkeit bzw. einer dennoch ausreichend hohen Aktualisierungsrate der damit ermittelten Meßwerte. One disadvantage of measuring systems of the type in question is, among other things, that the aforementioned connecting lines, not least in the case of their at least partial installation within the connecting piece, have small distances of less than 5 mm from one another and can therefore be capacitively (signal) coupled to a considerable extent. Due to this (signal) coupling, the (measurement) current through the second sensor element, which serves to generate the second electrical (measurement) voltage, can also cause a disturbance in the first measuring channel that influences the first electrical (measurement) voltage and thus the measuring accuracy of the measuring system as a whole; this is particularly the case if the (measurement) current is changed abruptly, for example, when it is switched on or off. To avoid resulting measurement errors, switching operations that influence the respective measuring current are avoided in such measuring systems during the determination of the measured values or, conversely, the measuring current is kept as constant as possible for the determination of the measured values. In conjunction with this, the total electrical power required for the operation of the aforementioned first and second measuring channels alone can be approximately 0.5 to 2 mW, which in the case of a low-power measuring system can (occasionally) amount to more than 1% of the total available, albeit already low, electrical power (<100 mW). Based on the aforementioned prior art, it is an object of the invention to improve the measuring system of the type in question in such a way that the electrical power required to determine the measured values can be regularly reduced from a (maximum) electrical power required overall for the operation of the first and second measuring channels to a comparatively lower (minimum) electrical power, while still maintaining a sufficiently high measurement accuracy or a sufficiently high update rate of the measured values determined thereby.

Zur Lösung der Aufgabe besteht die Erfindung in einem Meßsystem zum Messen einer (zeitlich veränderlichen) ersten primären (Prozeß-)Meßgröße, beispielsweise eines (statischen) Drucks eines (in einer Leitung geführten und/oder einem Behälter gehaltenen) fluiden Meßstoffs und/oder einer zeitlichen Änderung nämlichen Drucks, sowie einer von der ersten primären (Prozeß-)Meßgröße verschiedenen (zeitlich veränderlichen) zweiten primären (Prozeß-)Meßgröße, beispielsweise einer Temperatur eines (in einer Leitung geführten) fluiden Meßstoffs, und/oder zum Messen einer von wenigstens einer der ersten und zweiten primären (Prozeß-)Meßgrößen abgeleiteten (zeitlich veränderlichen) sekundären (Prozeß-)Meßgröße, beispielsweise eines Massestroms eines in einer Leitung geführten fluiden Meßstoffs oder eines Füllstandes eines einem Behälter gehaltenen fluiden Meßstoffs, welches Meßsystem umfaßt: To achieve this object, the invention consists in a measuring system for measuring a (time-varying) first primary (process) measured variable, for example a (static) pressure of a fluid medium (conducted in a line and/or held in a container) and/or a temporal change in the same pressure, as well as a (time-varying) second primary (process) measured variable different from the first primary (process) measured variable, for example a temperature of a fluid medium (conducted in a line), and/or for measuring a (time-varying) secondary (process) measured variable derived from at least one of the first and second primary (process) measured variables, for example a mass flow of a fluid medium conveyed in a line or a fill level of a fluid medium held in a container, which measuring system comprises:

• eine, beispielsweise mit einer maximalen elektrischen Leistung von weniger als 1 W (Watt) betriebenen und/oder an eine (4-20 mA-)2-Drahtleitung angeschlossene, Meßsystem-Elektronik, • a measuring system electronics, for example, operated with a maximum electrical power of less than 1 W (watt) and/or connected to a (4-20 mA) 2-wire line,

• wenigstens ein, beispielsweise kapazitives und/oder passives, erstes Sensorelement (C1) zum Erfassen der ersten primären (Prozeß-)Meßgröße, • at least one, for example capacitive and/or passive, first sensor element (C1) for detecting the first primary (process) measured variable,

• wenigstens ein, beispielsweise resistives, passives zweites Sensorelement (R1) zum Erfassen der zweiten primären (Prozeß-)Meßgröße, • at least one, for example resistive, passive second sensor element (R1) for detecting the second primary (process) measurement variable,

• sowie erste, zweite, dritte und vierte, beispielsweise jeweils (zumindest) teilweise ungeschirmte und/oder nicht miteinander verdrillter, elektrische Verbindungsleitungen, wobei das erste Sensorelement mittels der ersten und zweiten Verbindungsleitungen (unter Bildung eines ersten Meßkanals des Meßsystems) an die Meßsystem-Elektronik elektrisch angeschlossen ist, beispielsweise unter Zwischenschaltung einer Durchführung, • wobei das zweite Sensorelement mittels der dritten und vierten Verbindungsleitungen (unter Bildung eines zweiten Meßkanals des Meßsystems) an die Meßsystem-Elektronik elektrisch angeschlossen ist, beispielsweise unter Zwischenschaltung einer Durchführung, • and first, second, third and fourth, for example each (at least) partially unshielded and/or not twisted together, electrical connecting lines, wherein the first sensor element is electrically connected to the measuring system electronics by means of the first and second connecting lines (forming a first measuring channel of the measuring system), for example with the interposition of a feedthrough, • wherein the second sensor element is electrically connected to the measuring system electronics by means of the third and fourth connecting lines (forming a second measuring channel of the measuring system), for example with the interposition of a feedthrough,

• und wobei wenigstens eine, beispielsweise jede, der ersten und zweiten Verbindungsleitungen mit wenigstens einer, beispielsweise jeder, der dritten und vierten Verbindungsleitungen, beispielsweise kapazitiv, (signal-)gekoppelt ist, beispielsweise indem ein kleinster Abstand zwischen wenigstens einer der ersten und zweiten Verbindungsleitungen und wenigstens einer der dritten und vierten Verbindungsleitungen weniger als 5 mm beträgt, • and wherein at least one, for example each, of the first and second connecting lines is (signal-)coupled to at least one, for example each, of the third and fourth connecting lines, for example capacitively, for example by a smallest distance between at least one of the first and second connecting lines and at least one of the third and fourth connecting lines being less than 5 mm,

• wobei das erste Sensorelement eingerichtet ist, beispielsweise im Verbund mit der Meßsystem-Elektronik, eine von der ersten primären (Prozeß-)Meßgröße abhängige erste elektrische (Meß-)Spannung zu generieren und/oder einzustellen, • wherein the first sensor element is configured, for example in conjunction with the measuring system electronics, to generate and/or adjust a first electrical (measurement) voltage dependent on the first primary (process) measurement variable,

• und wobei das zweite Sensorelement einen, beispielsweise bei einer Temperatur von 20°C nicht weniger als 90 Q und/oder nicht mehr als 1 ,1 kQ betragenden, elektrischen (Sensor-)Widerstand aufweist und eingerichtet ist, einer Änderung der zweiten primären Meßgröße mit einer Änderung nämlichen Widerstands zu folgen, • and wherein the second sensor element has an electrical (sensor) resistance, for example at a temperature of 20°C not less than 90 Ω and/or not more than 1.1 kΩ, and is arranged to follow a change in the second primary measured variable with a change in the same resistance,

• wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, die erste elektrische (Meß-)Spannung zeitweise zu erfassen und auszuwerten, beispielsweise nämlich zu digitalisieren und/oder die (Meß-)Spannung repräsentierende (digitale) erste (Spannungs-)Meßwerte zu ermitteln, • wherein the measuring system electronics are configured to temporarily record and evaluate the first electrical (measurement) voltage, for example, to digitize it and/or to determine (digital) first (voltage) measured values representing the (measurement) voltage,

• wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, • the measuring system electronics are set up,

• zum vorübergehenden Bewirken eines Spannungsfalls über dem zweiten Sensorelement das zweite Sensorelement zeitweise zu bestromen, nämlich während eines vorgegebenen, beispielsweise nicht weniger als 10ms andauernden, ersten (Bestromungs-)Zeitintervalls t1 ein, beispielsweise eingeprägten und/oder konstanten und/oder eine maximale Stromstärke von nicht weniger als 0,1 mA aufweisenden und/oder im zweiten Sensorelement eine maximale elektrische Leistung von nicht weniger als 0,4 mW umsetzenden, elektrischen (Meß-)Strom durch das zweite Sensorelement sowie die dritten und vierten Verbindungsleitungen zu treiben und während eines dem ersten Zeitintervall zeitlich vorausgehenden zweiten Zeitintervalls t2 wie auch eines dem ersten (Bestromungs-)Zeitintervalls zeitlich nachfolgenden dritten Zeitintervalls t3 das zweite Sensorelement nicht zu bestromen bzw. keinen (Meß-)Strom durch das zweite Sensorelement und die dritten und vierten Verbindungsleitungen zu treiben, derart, daß der (Meß-)Strom zumindest während eines dem zweiten Zeitintervall zeitlich (unmittelbar) nachfolgenden und dem ersten (Bestromungs-)Zeitintervall zeitlich (unmittelbar) vorausgehenden, beispielsweise nicht weniger als 1 s (Mikrosekunde) andauernden, vierten (Übergangs-)Zeitintervalls eine (steigende) erste Stromflanke, beispielsweise mit einer zumindest zeitweise und/oder im zeitlichen (arithmetischen) Mittel nicht weniger als 0,1 mA/ps betragenden Stromanstiegsgeschwindigkeit, aufweist und daß der (Meß-)Strom zumindest während eines dem ersten (Bestromungs-)Zeitintervall zeitlich (unmittelbar) nachfolgenden und dem dritten Zeitintervall zeitlich (unmittelbar) vorausgehenden, beispielsweise nicht weniger als 1 ps (Mikrosekunde) andauernden, fünften (Übergangs-)Zeitintervalls eine (fallende) zweite Stromflanke, beispielsweise mit einer zumindest zeitweise und/oder im zeitlichen (arithmetischen) Mittel nicht weniger als 0,1 mA/ps betragenden Stromabfallgeschwindigkeit, aufweist, • to temporarily cause a voltage drop across the second sensor element, to temporarily energize the second sensor element, namely during a predetermined first (energization) time interval t1, for example lasting not less than 10 ms, to drive an electrical (measurement) current, for example impressed and/or constant and/or having a maximum current of not less than 0.1 mA and/or converting a maximum electrical power of not less than 0.4 mW in the second sensor element, through the second sensor element and the third and fourth connecting lines and during a second time interval t2 preceding the first time interval and a third time interval t3 following the first (energization) time interval, not to energize the second sensor element or to drive no (measurement) current through the second sensor element and the third and fourth connecting lines, such that the (measurement) current at least during a time interval (immediately) following the second time interval and the first (Power supply) time interval temporal (immediate) preceding, for example, not less than 1 s (microsecond), fourth (transition) time interval has a (rising) first current edge, for example with a current rise rate that is not less than 0.1 mA/ps at least temporarily and/or on average over time (arithmetic), and that the (measurement) current has a (falling) second current edge, for example with a current fall rate that is not less than 0.1 mA/ps at least temporarily and/or on average over time (arithmetic), at least during a fifth (transition) time interval that (immediately) follows the first (energization) time interval and (immediately) precedes the third time interval, for example, not less than 1 ps (microsecond),

• und wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, während des ersten (Bestromungs-)Zeitintervalls t1 eine vom Spannungsfall über dem zweiten Sensorelement abhängige zweite elektrischen (Meß-)Spannung zu erfassen und auszuwerten, beispielsweise nämlich zu digitalisieren und/oder die (Meß-)Spannung repräsentierende (digitale) zweite (Spannungs-)Meßwerte zu ermitteln; • and wherein the measuring system electronics are configured to detect and evaluate a second electrical (measurement) voltage dependent on the voltage drop across the second sensor element during the first (energization) time interval t1, for example to digitize it and/or to determine (digital) second (voltage) measured values representing the (measurement) voltage;

• wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, basierend auf zumindest der ersten elektrischen (Meß-)Spannung, beispielsweise basierend auf sowohl der ersten elektrischen (Meß-)Spannung als auch zweiten elektrischen (Meß-)Spannung, einen oder mehrere (digitale) Meßwerte für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße und/oder einen oder mehrere (digitale) Meßwerte für die sekundäre (Prozeß-)Meßgröße zu ermitteln, beispielsweise nämlich zu ermitteln und als qualifizierte Meßwerte des Meßsystems auszugeben, • wherein the measuring system electronics are configured to determine, based on at least the first electrical (measurement) voltage, for example based on both the first electrical (measurement) voltage and the second electrical (measurement) voltage, one or more (digital) measured values for the first primary (process) measured variable and/or one or more (digital) measured values for the secondary (process) measured variable, for example to determine them and output them as qualified measured values of the measuring system,

• und wobei die Meßsystem-Elektronik, beispielsweise zum Vermeiden von durch (Signal-)Einkopplung von den dritten und/oder vierten Verbindungsleitungen in die ersten und/oder zweiten Verbindungsleitungen verursachten Meßfehlern bei für die erste Meßgröße ermittelten Meßwerten, eingerichtet ist: keinen basierend auf der während der vierten und fünften (Übergangs-)Zeitintervalle erfassten ersten (Meß-)Spannung ermittelten (qualifizierten) Meßwert für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße auszugeben, und/oder keinen Meßwert für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße basierend auf der während der vierten und fünften (Übergangs-)Zeitintervalle anliegenden ersten elektrischen (Meß-)Spannung zu ermitteln, und/oder keinen basierend auf der während der vierten und fünften (Übergangs-)Zeitintervalle erfassten ersten (Meß-)Spannung ermittelten (qualifizierten) Meßwert für die sekundäre (Prozeß-)Meßgröße auszugeben, und/oder keinen Meßwert für die sekundäre (Prozeß-)Meßgröße basierend auf der während der vierten und fünften (Übergangs-)Zeitintervalle anliegenden ersten elektrischen (Meß-)Spannung zu ermitteln, und/oder während des vierten (Übergangs-)Zeitintervalls (qualifizierte) Meßwerte für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße und/oder für die sekundäre (Prozeß-)Meßgröße basierend auf einer zuvor während des zweiten Zeitintervalls erfassten ersten (Meß-)Spannung zu ermitteln, und/oder während des fünften (Übergangs-)Zeitintervalls (qualifizierte) Meßwerte für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße und/oder für die sekundäre (Prozeß-)Meßgröße basierend auf einer zuvor während des ersten Zeitintervalls erfassten ersten (Meß-)Spannung zu ermitteln. • and wherein the measuring system electronics, for example to avoid measurement errors in measured values determined for the first measured variable caused by (signal) coupling from the third and/or fourth connecting lines into the first and/or second connecting lines, are configured: not to output a (qualified) measured value for the first primary (process) measured variable determined based on the first (measurement) voltage detected during the fourth and fifth (transition) time intervals, and/or not to output a measured value for the first primary (process) measured variable based on the first electrical (measurement) voltage present during the fourth and fifth (transition) time intervals, and/or not to output a (qualified) measured value for the secondary (process) measured variable determined based on the first (measurement) voltage detected during the fourth and fifth (transition) time intervals, and/or not to determine any measured value for the secondary (process) measured variable based on the first electrical (measurement) voltage present during the fourth and fifth (transition) time intervals, and/or to determine (qualified) measured values for the first primary (process) measured variable and/or for the secondary (process) measured variable during the fourth (transition) time interval based on a first (measurement) voltage previously recorded during the second time interval, and/or to determine (qualified) measured values for the first primary (process) measured variable and/or for the secondary (process) measured variable during the fifth (transition) time interval based on a first (measurement) voltage previously recorded during the first time interval.

Darüberhinaus besteht die Erfindung auch darin, ein solches Meßsystems zum Messen sowohl einer ersten primäre (Prozeß-)Meßgröße, beispielsweise eines zeitlich ändernden (statischen) Drucks, als auch einer (von der ersten Meßgröße verschiedenen) zweiten primäre (Prozeß-)Meßgröße, beispielsweise einer zeitlich ändernden Temperatur, eines (in einer Leitung geführten oder in einem Behälter gehaltenen) fluiden Meßstoffs zu verwenden. Furthermore, the invention also consists in using such a measuring system for measuring both a first primary (process) measured variable, for example a time-varying (static) pressure, and a second primary (process) measured variable (different from the first measured variable), for example a time-varying temperature, of a fluid medium (conducted in a line or held in a container).

Nach einer ersten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist: keinen basierend auf der während des (Bestromungs-)Zeitintervalls erfassten ersten (Meß-)Spannung ermittelten (qualifizierten) Meßwert für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße auszugeben, und/oder keinen Meßwert für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße basierend auf der während des (Bestromungs-)Zeitintervalls anliegenden ersten elektrischen (Meß-)Spannung zu ermitteln, und/oder keinen basierend auf der während des (Bestromungs-)Zeitintervalls erfassten ersten (Meß-)Spannung ermittelten (qualifizierten) Meßwert für die sekundäre (Prozeß-)Meßgröße auszugeben, und/oder keinen Meßwert für die sekundäre (Prozeß-)Meßgröße basierend auf der während des (Bestromungs-)Zeitintervalls anliegenden ersten elektrischen (Meß-)Spannung zu ermitteln. Diese Ausgestaltung der Erfindung weiterbildend ist die Meßsystem-Elektronik ferner eingerichtet, (qualifizierte) Meßwerte für die erste primäre (Prozeß-) Meßgröße und/oder für die sekundäre (Prozeß-)Meßgröße basierend auf einer während des ersten Zeitintervalls erfassten ersten (Meß-)Spannung zu ermitteln, und/oder basierend auf einer während des (Bestromungs-)Zeitintervalls erfassten ersten (Meß-)Spannung ermittelte (qualifizierte) Meßwerte für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße und/oder für die sekundäre (Prozeß-)Meßgröße auszugeben. Nach einer zweiten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß das erste Sensorelement eine, beispielsweise bei einer Temperatur von 20°C nicht weniger als 10pF und/oder nicht mehr als 100 pF betragende, elektrische (Sensor-)Kapazität aufweist und eingerichtet ist, einer Änderung der ersten primäre (Prozeß-)Meßgröße mit einer Änderung nämlicher (Sensor-)Kapazität zu folgen, und daß die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, zum Bewirken der ersten elektrischen (Meß-)Spannung die Kapazität des ersten Sensorelements, beispielsweise zumindest während der zweiten und dritten Zeitintervalle, elektrisch aufzuladen bzw. aufgeladen zu halten. Diese Ausgestaltung der Erfindung weiterbildend ist die Meßsystem-Elektronik ferner eingerichtet, die erste elektrische (Meß-)Spannung (im wesentlichen) proportional zu einer elektrischen Ladung der (Sensor-) Kapazität des ersten Sensorelements ist. According to a first embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that the measuring system electronics are configured: not to output a (qualified) measured value for the first primary (process) measured variable determined on the basis of the first (measurement) voltage detected during the (current supply) time interval, and/or not to determine a measured value for the first primary (process) measured variable based on the first electrical (measurement) voltage present during the (current supply) time interval, and/or not to output a (qualified) measured value for the secondary (process) measured variable determined on the basis of the first (measurement) voltage detected during the (current supply) time interval, and/or not to determine a measured value for the secondary (process) measured variable based on the first electrical (measurement) voltage present during the (current supply) time interval. Developing this embodiment of the invention, the measuring system electronics is further configured to determine (qualified) measured values for the first primary (process) measured variable and/or for the secondary (process) measured variable based on a first (measurement) voltage detected during the first time interval, and/or to output (qualified) measured values for the first primary (process) measured variable and/or for the secondary (process) measured variable determined based on a first (measurement) voltage detected during the (energization) time interval. According to a second embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that the first sensor element has an electrical (sensor) capacitance, for example, at a temperature of 20°C, of not less than 10 pF and/or not more than 100 pF, and is configured to follow a change in the first primary (process) measured variable with a change in the same (sensor) capacitance, and that the measuring system electronics are configured to electrically charge or keep charged the capacitance of the first sensor element, for example, at least during the second and third time intervals, in order to effect the first electrical (measurement) voltage. Further developing this embodiment of the invention, the measuring system electronics are further configured such that the first electrical (measurement) voltage is (substantially) proportional to an electrical charge of the (sensor) capacitance of the first sensor element.

Nach einer dritten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, die erste (Meß-)Spannung repräsentierende (Spannungs-)Meßwerte zu ermitteln, beispielsweise nämlich zu ermitteln und in einem (flüchtigen) digitalen Datenspeicher zu speichern. Diese Ausgestaltung der Erfindung weiterbildend ist die Meßsystem-Elektronik ferner eingerichtet, die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, einen oder mehrere Meßwerte für die zweite primäre (Prozeß-)Meßgröße unter Verwendung eines oder mehrerer die erste (Meß-)Spannung repräsentierende (Spannungs-)Meßwerte zu ermitteln. According to a third embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that the measuring system electronics are configured to determine (voltage) measured values representing the first (measurement) voltage, for example, to determine them and store them in a (volatile) digital data memory. Further developing this embodiment of the invention, the measuring system electronics are further configured to determine one or more measured values for the second primary (process) measured variable using one or more (voltage) measured values representing the first (measurement) voltage.

Nach einer vierten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, die zweite (Meß-)Spannung repräsentierende (Spannungs-)Meßwerte zu ermitteln, beispielsweise nämlich zu ermitteln und in einem (flüchtigen) digitalen Datenspeicher zu speichern. Diese Ausgestaltung der Erfindung weiterbildend ist die Meßsystem-Elektronik ferner eingerichtet, einen oder mehrere Meßwerte für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße unter Verwendung eines oder mehrerer die zweite (Meß-)Spannung repräsentierende (Spannungs-)Meßwerte zu ermitteln und/oder einen oder mehrere Meßwerte für die erste sekundäre (Prozeß-)Meßgröße unter Verwendung eines oder mehrerer die zweite (Meß-)Spannung repräsentierende (Spannungs-)Meßwerte zu ermitteln und/oder einen oder mehrere Meßwerte für die zweite primäre (Prozeß-)Meßgröße unter Verwendung eines oder mehrerer die zweite (Meß-)Spannung repräsentierende (Spannungs-)Meßwerte zu ermitteln. Nach einer fünften Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, basierend auf der zweiten elektrischen (Meß-)Spannung einen oder mehrere, beispielsweise für die Ermittlung wenigstens eines Meßwerts für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße und/oder die sekundäre (Prozeß-)Meßgröße jeweils als Hilfsmeßwert dienliche, (digitale) Meßwerte für die zweite primäre (Prozeß-)Meßgröße zu ermitteln, beispielsweise nämlich zu ermitteln und in einem (flüchtigen) digitalen Datenspeicher zu speichern. Diese Ausgestaltung der Erfindung weiterbildend ist die Meßsystem-Elektronik ferner eingerichtet, einen oder mehrere Meßwerte für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße unter Verwendung eines oder mehrerer Meßwerte für die zweite primäre (Prozeß-)Meßgröße zu ermitteln. According to a fourth embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that the measuring system electronics are configured to determine (voltage) measured values representing the second (measurement) voltage, for example, to determine them and store them in a (volatile) digital data memory. Further developing this embodiment of the invention, the measuring system electronics are further configured to determine one or more measured values for the first primary (process) measured variable using one or more (voltage) measured values representing the second (measurement) voltage and/or to determine one or more measured values for the first secondary (process) measured variable using one or more (voltage) measured values representing the second (measurement) voltage and/or to determine one or more measured values for the second primary (process) measured variable using one or more (voltage) measured values representing the second (measurement) voltage. According to a fifth embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that the measuring system electronics are configured to determine, based on the second electrical (measurement) voltage, one or more (digital) measured values for the second primary (process) measured variable, for example, for determining at least one measured value for the first primary (process) measured variable and/or the secondary (process) measured variable, each serving as an auxiliary measured value, for example, to determine them and store them in a (volatile) digital data memory. Further developing this embodiment of the invention, the measuring system electronics are further configured to determine one or more measured values for the first primary (process) measured variable using one or more measured values for the second primary (process) measured variable.

Nach einer sechsten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, basierend auf zumindest der zweiten elektrischen (Meß-)Spannung, beispielsweise basierend auf sowohl der zweiten elektrischen (Meß-)Spannung als auch ersten elektrischen (Meß-)Spannung, einen oder mehrere (digitale) Meßwerte für die zweite primäre (Prozeß-)Meßgröße zu ermitteln, beispielsweise nämlich zu ermitteln und als qualifizierte Meßwerte des Meßsystems auszugeben. According to a sixth embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that the measuring system electronics are configured to determine, for example, namely to determine and output as qualified measured values of the measuring system, one or more (digital) measured values for the second primary (process) measured variable based on at least the second electrical (measurement) voltage, for example based on both the second electrical (measurement) voltage and the first electrical (measurement) voltage.

Nach einer siebenten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß jede der ersten und zweiten Verbindungsleitungen jeweils zumindest teilweise, beispielsweise vollständig, ungeschirmt sind. According to a seventh embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that each of the first and second connecting lines is at least partially, for example completely, unshielded.

Nach einer achten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß jede der dritten und vierten Verbindungsleitungen jeweils zumindest teilweise, beispielsweise vollständig, ungeschirmt sind. According to an eighth embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that each of the third and fourth connecting lines is at least partially, for example completely, unshielded.

Nach einer neunten Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß jede der ersten und zweiten Verbindungsleitungen jeweils zumindest teilweise mittels jeweils einer auf einer (flexiblen) Leiterplatte angeordneten Leiterbahn gebildet ist. According to a ninth embodiment of the invention, it is further provided that each of the first and second connecting lines is formed at least partially by means of a conductor track arranged on a (flexible) printed circuit board.

Nach einer zehnten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß jede der dritten und vierten Verbindungsleitungen jeweils zumindest teilweise mittels jeweils einer auf einer (flexiblen) Leiterplatte angeordneten Leiterbahn gebildet ist. According to a tenth embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that each of the third and fourth connecting lines is formed at least partially by means of a conductor track arranged on a (flexible) printed circuit board.

Nach einer elften Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß jede der ersten, zweiten, dritten und vierten Verbindungsleitungen jeweils zumindest teilweise mittels jeweile iner auf ein und derselben (flexiblen) Leiterplatte angeordneten Leiterbahn gebildet ist. Nach einer zwölften Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die ersten und zweiten Verbindungsleitungen zumindest abschnittsweise zueinander parallel verlaufen. According to an eleventh embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that each of the first, second, third and fourth connecting lines is formed at least partially by means of a respective conductor track arranged on one and the same (flexible) printed circuit board. According to a twelfth embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that the first and second connecting lines run parallel to each other at least in sections.

Nach einer dreizehnten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die dritten und vierten Verbindungsleitungen zumindest abschnittsweise zueinander parallel verlaufen. According to a thirteenth embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that the third and fourth connecting lines run parallel to each other at least in sections.

Nach einer vierzehnten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die ersten und dritten Verbindungsleitungen zumindest abschnittsweise zueinander parallel verlaufen. According to a fourteenth embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that the first and third connecting lines run parallel to each other at least in sections.

Nach einer fünfzehnten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die ersten und vierten Verbindungsleitungen zumindest abschnittsweise zueinander parallel verlaufen. According to a fifteenth embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that the first and fourth connecting lines run parallel to each other at least in sections.

Nach einer sechzehnten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die ersten, zweiten, dritten und vierten Verbindungsleitungen zumindest abschnittsweise zueinander parallel verlaufen. According to a sixteenth embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that the first, second, third and fourth connecting lines run parallel to one another at least in sections.

Nach einer siebzehnten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung weist die Meßsystem-Elektronik wenigstens einen Operationsverstärker, beispielsweise einen FET- oder einen CMOS-Operationsverstärker, auf, wobei das erste Sensorelement mittels der ersten und zweiten Verbindungsleitungen, beispielsweise unter Bildung eines Ladungs-Spannungs-Wandlers der Meßsystem-Elektronik, an einen (hochohmigen) (Spannungs-)Eingang des Operationsverstärkers elektrisch angeschlossen ist und wobei der Operationsverstärker eingerichtet ist, (bei im ersten Betriebsmodus operierender Meßsystem- Elektronik) die erste elektrische (Meß-)Spannung an einem (Spannungs-)Ausgang zu liefern. Diese Ausgestaltung der Erfindung weiterbildend weist der Operationsverstärker einen dessen (Spannungs-)Ausgang auf dessen (Spannungs-)Eingang rückkoppelnden, beispielsweise geschalteten, (Rückkoppel-)Kondensator (Cf) auf. Vorteilhaft kann der (Rückkoppel-)Kondensator (Cf) eine (Rückkoppel-)Kapazität aufweisen, die nicht weniger 0,1 pF und/oder nicht mehr als 100 pF beträgt. According to a seventeenth embodiment of the measuring system of the invention, the measuring system electronics comprises at least one operational amplifier, for example, an FET or a CMOS operational amplifier, wherein the first sensor element is electrically connected to a (high-impedance) (voltage) input of the operational amplifier by means of the first and second connecting lines, for example, forming a charge-to-voltage converter of the measuring system electronics, and wherein the operational amplifier is configured to supply the first electrical (measurement) voltage at a (voltage) output (when the measuring system electronics is operating in the first operating mode). Further developing this embodiment of the invention, the operational amplifier comprises a (feedback) capacitor (Cf) that feeds back its (voltage) output to its (voltage) input, for example, a switched (feedback) capacitor. Advantageously, the (feedback) capacitor (Cf) may have a (feedback) capacitance which is not less than 0.1 pF and/or not more than 100 pF.

Nach einer achtzehnten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die Meßsystem-Elektronik wenigstens eine, beispielsweise schaltbare, (elektronische) Stromquelle aufweist, wobei das zweite Sensorelement mittels der dritten und vierten Verbindungsleitungen an einen (Strom-)Ausgang der Stromquelle elektrisch angeschlossen ist und wobei die Stromquelle eingerichtet ist, den (Meß-)Strom zu liefern. Nach einer neunzehnten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die Meßsystem-Elektronik wenigstens eine, beispielsweise schaltbare, (elektronische) Spannungsquelle aufweist, wobei das zweite Sensorelement mittels der dritten und vierten Verbindungsleitungen an einen Ausgang der Spannungsquelle elektrisch angeschlossen ist und wobei die Spannungsquelle eingrichtet ist, den (Meß-)Strom zu treiben. According to an eighteenth embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that the measuring system electronics has at least one, for example switchable, (electronic) current source, wherein the second sensor element is electrically connected to a (current) output of the current source by means of the third and fourth connecting lines and wherein the current source is configured to supply the (measurement) current. According to a nineteenth embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that the measuring system electronics has at least one, for example switchable, (electronic) voltage source, wherein the second sensor element is electrically connected to an output of the voltage source by means of the third and fourth connecting lines and wherein the voltage source is configured to drive the (measurement) current.

Nach einer zwanzigsten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, basierend auf der zweiten (Meß-)Spannung den Sensor-Widerstand des zweiten Sensorelements zu ermitteln. According to a twentieth embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that the measuring system electronics are configured to determine the sensor resistance of the second sensor element based on the second (measurement) voltage.

Nach einer einundzwanzigsten Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die Meßsystem-Elektronik wenigstens ein einen, beispielsweise bei einer Temperatur von 20°C nicht weniger als 90 Q und/oder nicht mehr als 1 ,1 kQ betragenden, elektrischen (Referenz-)Widerstand aufweisendes elektrisch mit dem zweiten Sensorelement verbundenes, beispielsweise elektrisch in Reihe zum zweiten Sensorelement geschaltetes, (Referenz-)Widerstandselement aufweist. Diese Ausgestaltung der Erfindung weiterbildend ist die Meßsystem-Elektronik eingerichtet, während des ersten (Bestromungs-)Zeitintervalls eine von einem Spannungsfall über dem (Referenz-)Widerstandselement abhängige elektrische dritte (Referenz-)Spannung zu erfassen und auszuwerten, beispielsweise nämlich zu digitalisieren und/oder die Referenz-Spannung repräsentierende (digitale) dritte Spannungs-Meßwerte zu ermitteln. Vorteilhaft kann die Meßsystem-Elektronik zudem eingerichtet sein, basierend auf der dritten (Referenz-)Spannung den (Sensor-)Widerstand des zweiten Sensorelements, beispielsweise nämlich basierend auf den zweiten und dritten Spannungen sowie dem (Referenz-)Widerstand und/oder ratiometrisch, zu ermitteln. According to a twenty-first embodiment of the invention, it is further provided that the measuring system electronics have at least one (reference) resistance element having an electrical (reference) resistance, for example, at a temperature of 20°C, not less than 90 Ω and/or not more than 1.1 kΩ, which is electrically connected to the second sensor element, for example, electrically connected in series with the second sensor element. Further developing this embodiment of the invention, the measuring system electronics are configured to detect and evaluate, for example, digitize and/or determine (digital) third voltage measurement values representing the reference voltage, a third electrical (reference) voltage dependent on a voltage drop across the (reference) resistance element during the first (energization) time interval. Advantageously, the measuring system electronics can also be configured to determine the (sensor) resistance of the second sensor element based on the third (reference) voltage, for example based on the second and third voltages as well as the (reference) resistance and/or ratiometrically.

Nach einer zweiundzwanzigsten Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, basierend auf zumindest der ersten elektrischen (Meß-)Spannung Meßwerte für eine (als sekundäre Meßgröße dienliche) Frequenz von zumindest zeitweise periodischen Druckschwankungen innerhalb eines fluiden Meßstoffs, beispielsweise von Druckschwankungen innerhalb einer in einer Strömung des Meßstoffs ausgebildten Karmanschen Wirbelstraße, zu ermitteln. According to a twenty-second embodiment of the invention, it is further provided that the measuring system electronics are configured to determine, based on at least the first electrical (measurement) voltage, measured values for a frequency (serving as a secondary measured variable) of at least temporarily periodic pressure fluctuations within a fluid measuring medium, for example of pressure fluctuations within a Karman vortex street formed in a flow of the measuring medium.

Nach einer dreiundzwanzigsten Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, basierend auf zumindest der zweiten elektrischen (Meß-)Spannung Meßwerte für eine (als zweite primäre Meßgröße dienliche) (Meßstoff-)Temperatur eines, beispielsweise strömenden, fluiden Meßstoffs zu ermitteln. Nach einer vierundzwanzigsten Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, basierend auf den ersten und zweiten elektrischen (Meß-)Spannungen Meßwerte für einen (als erste primäre Meßgröße dienlichen) (statischen) Druck eines (strömenden) fluiden Meßstoffs zu ermitteln. According to a twenty-third embodiment of the invention, it is further provided that the measuring system electronics are configured to determine measured values for a (measuring substance) temperature (serving as a second primary measured variable) of a, for example, flowing, fluid measuring substance based on at least the second electrical (measuring) voltage. According to a twenty-fourth embodiment of the invention, it is further provided that the measuring system electronics are configured to determine measured values for a (static) pressure of a (flowing) fluid medium (serving as the first primary measured variable) based on the first and second electrical (measurement) voltages.

Nach einer fünfundzwanzigsten Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, basierend auf den ersten und zweiten elektrischen (Meß-)Spannungen Meßwerte für einen (als sekundäre Meßgröße dienlichen) Volumenstrom eines strömenden (fluiden) Meßstoffs zu ermitteln. According to a twenty-fifth embodiment of the invention, it is further provided that the measuring system electronics are configured to determine measured values for a volume flow of a flowing (fluid) medium (serving as a secondary measured variable) based on the first and second electrical (measurement) voltages.

Nach einer sechsundzwanzigsten Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, basierend auf den ersten und zweiten elektrischen (Meß-)Spannungen Meßwerte für einen (als sekundäre Meßgröße dienlichen) Massenstrom eines strömenden (fluiden) Meßstoffs zu ermitteln. According to a twenty-sixth embodiment of the invention, it is further provided that the measuring system electronics are configured to determine measured values for a mass flow of a flowing (fluid) medium (serving as a secondary measured variable) based on the first and second electrical (measurement) voltages.

Nach einer siebenundzwanzigsten Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß das erste Sensorelement mittels wenigstens eines, beispielsweise als Plattenkondensator ausgebildeten, (Meß-)Kondensators gebildet ist, beispielsweise mit einer in Abhängigkeit von der ersten primären Meßgröße ändernden (Kondensator-)Elektrodengeometrie und/oder mit einem in Abhängigkeit von der ersten primären Meßgröße ändernden Dielektrikum. According to a twenty-seventh embodiment of the invention, it is further provided that the first sensor element is formed by means of at least one (measuring) capacitor, for example designed as a plate capacitor, for example with a (capacitor) electrode geometry changing as a function of the first primary measured variable and/or with a dielectric changing as a function of the first primary measured variable.

Nach einer achtundzwanzigsten Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß das zweite Sensorelement (R1) mittels wenigstens eines Platin-Meßwiderstands, beispielsweise eines Pt100 und/oder eines PtlOOO, gebildet ist. According to a twenty-eighth embodiment of the invention, it is further provided that the second sensor element (R1) is formed by means of at least one platinum measuring resistor, for example a Pt100 and/or a Pt1000.

Nach einer ersten Weiterbildung der Erfindung umfaßt das Meßsystem weiters wenigstens eine, beispielsweise explosionsdruckfeste (Ex-d) und/oder zum internationalen Standard IEC 60079-1 :2014 konforme, (elektrische) Durchführung. According to a first development of the invention, the measuring system further comprises at least one (electrical) feedthrough, for example explosion-pressure-resistant (Ex-d) and/or compliant with the international standard IEC 60079-1:2014.

Nach einer ersten Ausgestaltung der ersten Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, daß die ersten, zweiten, dritten und vierten Verbindungsleitungen abschnittsweise innerhalb der Durchführung geführt sind. According to a first embodiment of the first further development of the invention, it is provided that the first, second, third and fourth connecting lines are guided in sections within the bushing.

Nach einer zweiten Ausgestaltung der ersten Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, daß die Durchführung, beispielsweise mittel ungeschirmter (Anschluß-)Pins, an die ersten, zweiten, dritten und vierten Verbindungsleitungen elektrisch angeschlossen ist. According to a second embodiment of the first development of the invention, it is provided that the feedthrough is electrically connected to the first, second, third and fourth connecting lines, for example by means of unshielded (connecting) pins.

Nach einer dritten Ausgestaltung der ersten Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, daß die Durchführung den ersten, zweiten, dritten und vierten Verbindungsleitungen zwischengeschaltet ist. Nach einer zweiten Weiterbildung der Erfindung umfaßt das Meßsystem weiters ein, beispielsweise explosionsdruckfestes (Ex-d) und/oder zum internationalen Standard IEC 60079-1 :2014 konformes, Elektronik-(Schutz-)Gehäuse für die Meßsystem-Elektronik. According to a third embodiment of the first further development of the invention, it is provided that the bushing is interposed between the first, second, third and fourth connecting lines. According to a second development of the invention, the measuring system further comprises an electronics (protective) housing for the measuring system electronics, for example one that is explosion-pressure-resistant (Ex-d) and/or conforms to the international standard IEC 60079-1:2014.

Nach einer dritten Weiterbildung der Erfindung umfaßt das Meßsystem weiters einen, beispielsweise mittels Flanschverbindung lösbar mit dem Elektronik-(Schutz-)Gehäuse verbundenen und/oder Röhren förmigen, (Gehäuse-)Anschlußstutzen. Vorteilhaft können zudem die ersten, zweiten, dritten und vierten Verbindungsleitungen zumindest anteilig innerhalb des (Gehäuse-)Anschlußstutzens geführt sein, beispielsweise auch derart, daß sie zumindest abschnittsweise zueinander parallel verlaufen. According to a third embodiment of the invention, the measuring system further comprises a (housing) connection piece, which is detachably connected to the electronics (protective) housing, for example, by means of a flange connection and/or is tubular. Advantageously, the first, second, third, and fourth connecting lines can also be routed at least partially within the (housing) connection piece, for example, in such a way that they run parallel to each other at least in sections.

Nach einer vierten Weiterbildung der Erfindung umfaßt das Meßsystem weiters ein, beispielsweise mittels einer Membran und/oder einer Hülse und/oder einer Platte gebildetes, (Prozeß-)Koppelelement, das dafür eingerichtet ist, (im Betrieb des Meßsystems) von einem fluiden Meßstoff kontaktiert, beispielsweise nämlich an- und/oder umströmt, zu werden, beispielsweise derart, daß das (Prozeß-)Koppelelement eine von einer (Meßstoff-)Temperatur des Meßstoffs abhängige (Koppelelement-)Temperatur aufweist und/oder daß das (Prozeß-)Koppelelement eine von einem (Meßstoff-)Druck abhängige (elastische) Dehnung aufweist. According to a fourth development of the invention, the measuring system further comprises a (process) coupling element, formed for example by means of a membrane and/or a sleeve and/or a plate, which is designed to be contacted by a fluid medium (during operation of the measuring system), for example to be flowed against and/or around, for example in such a way that the (process) coupling element has a (coupling element) temperature dependent on a (measured medium) temperature of the measured medium and/or that the (process) coupling element has an (elastic) expansion dependent on a (measured medium) pressure.

Nach einer ersten Ausgestaltung der vierten Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, daß das Koppelelement eingerichtet ist, auf eine Änderung einer (Meßstoff-)Temperatur des Meßstoffs mit einer Änderung einer (Koppelelement-)Temperatur zu reagieren, beispielsweise derart, daß die (Koppelelement-)Temperatur des Koppelelements stationär von einer stationären (Meßstoff-)Temperatur des Meßstoffs um weniger als 2 K (Kelvin) abweicht. According to a first embodiment of the fourth development of the invention, it is provided that the coupling element is configured to react to a change in a (measuring substance) temperature of the measuring substance with a change in a (coupling element) temperature, for example in such a way that the (coupling element) temperature of the coupling element deviates stationary from a stationary (measuring substance) temperature of the measuring substance by less than 2 K (Kelvin).

Nach einer zweiten Ausgestaltung der vierten Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, daß das Koppelelement eingerichtet ist, auf eine Änderung eines (Meßstoff-)Drucks des Meßstoffs mit einer, beispielsweise biaxialen und/oder elastischen, Dehnung zu reagieren. According to a second embodiment of the fourth development of the invention, it is provided that the coupling element is designed to react to a change in a (measuring medium) pressure of the measuring medium with an, for example, biaxial and/or elastic, expansion.

Nach einer dritten Ausgestaltung der vierten Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, daß das Koppelelement eingerichtet ist, zumindest teilweise in eine Lumen eines (dem Führen eines fluiden Meßstoffs dienlichen) Rohrs eingesetzt zu werden, beispielsweise nämlich durch eine Öffnung in einer das Lumen umhüllenden Rohrwand hindurch in das Lumen eingesetzt und an nämlicher Rohrwand (wieder lösbar) fixiert zu werden. According to a third embodiment of the fourth development of the invention, it is provided that the coupling element is designed to be inserted at least partially into a lumen of a tube (serving to guide a fluid measuring substance), for example, namely through an opening in a tube wall enclosing the lumen into the lumen and to be fixed (removably) to the same tube wall.

Nach einer vierten Ausgestaltung der vierten Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, daß das Koppelelement eingerichtet ist, zumindest teilweise in ein Lumen eines (dem Führen eines fluiden Meßstoffs dienlichen) Behälters, beispielsweise einem Tank, eingesetzt zu werden, beispielsweise nämlich durch eine Öffnung in einer das Lumen umhüllenden Behälterwand hindurch in das Lumen eingesetzt und an nämlicher Behälterwand (wieder lösbar) fixiert zu werden. Nach einer fünften Ausgestaltung der vierten Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, daß das Koppelelement zumindest teilweise, beispielsweise vollständig, aus Metall besteht, beispielsweise einem (Edel-)Stahl und/oder einer Nickelbasis-Legierung. According to a fourth embodiment of the fourth development of the invention, it is provided that the coupling element is designed to be inserted at least partially into a lumen of a container (serving to guide a fluid measuring substance), for example a tank, for example through an opening in a container wall enclosing the lumen into the lumen and to be fixed (removably) to the same container wall. According to a fifth embodiment of the fourth development of the invention, it is provided that the coupling element consists at least partially, for example completely, of metal, for example a (stainless) steel and/or a nickel-based alloy.

Nach einer sechsten Ausgestaltung der vierten Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, daß das Koppelelement und das erste Sensorelement zumindest mechanisch aneinander gekoppelt sind, beispielsweise derart, daß die erste elektrische (Meß-)Spannung von der Dehnung des Koppelelements abhängig ist bzw. daß eine Änderung einer Dehnung des Koppelelements eine Änderung der ersten elektrische (Meß-)Spannung bewirkt. According to a sixth embodiment of the fourth development of the invention, it is provided that the coupling element and the first sensor element are at least mechanically coupled to one another, for example in such a way that the first electrical (measurement) voltage is dependent on the strain of the coupling element or that a change in the strain of the coupling element causes a change in the first electrical (measurement) voltage.

Nach einer siebenten Ausgestaltung der vierten Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, daß das erste Sensorelement (integraler) Bestandteil des Koppelelements ist, beispielsweise derart, daß die erste elektrische (Meß-)Spannung von der Dehnung des Koppelelements abhängig ist bzw. daß eine Änderung einer Dehnung des Koppelelements eine Änderung der ersten elektrische (Meß-)Spannung bewirkt. According to a seventh embodiment of the fourth development of the invention, it is provided that the first sensor element is an (integral) component of the coupling element, for example in such a way that the first electrical (measurement) voltage is dependent on the strain of the coupling element or that a change in the strain of the coupling element causes a change in the first electrical (measurement) voltage.

Nach einer achten Ausgestaltung der vierten Weiterbildung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß das Koppelelement anteilig innerhalb eines, beispielsweise mittels Flanschverbindung lösbar mit einem Elektronik-(Schutz-)Gehäuse des Meßsystems verbundenen und/oder Röhren förmigen, (Gehäuse-)AnschlußstutzenAnschlußstutzen des Meßsystems angeordnet, beispielsweise nämlich (an einem zum Elektronik-Gehäuse distalen Stutzenende) mit dem Anschlußstutzen (mechanisch) verbunden ist. According to an eighth embodiment of the fourth development of the invention, it is further provided that the coupling element is arranged partially within a (housing) connecting piece of the measuring system, which is detachably connected, for example, by means of a flange connection to an electronics (protective) housing of the measuring system and/or is tubular, for example, namely (mechanically) connected (at a nozzle end distal to the electronics housing) to the connecting piece.

Nach einer neunten Ausgestaltung der vierten Weiterbildung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß das erste Sensorelement mittels wenigstens eines, beispielsweise als Plattenkondensator ausgebildeten, (Meß-)Kondensators gebildet ist, beispielsweise mit einer in Abhängigkeit von der ersten primären Meßgröße ändernden (Kondensator-)Elektrodengeometrie und/oder mit einem in Abhängigkeit von der ersten primären Meßgröße ändernden Dielektrikum, wobei wenigstens eine, beispielsweise bewegliche, (Kondensator-)Elektrode des (Meß-)Kondensators mit dem Koppelelement mechanisch verbunden bzw. mittels des Koppelelements gebildet ist und/oder wobei das Koppelelement und das zweite Sensorelement zumindest thermisch, beispielsweise nämlich sowohl thermisch als auch mechanisch, aneinander gekoppelt sind, beispielsweise derart, daß die zweite elektrische (Meß-)Spannung von einer (Koppelelement-)Temperatur des Koppelelements abhängig ist bzw. daß eine Änderung einer (Koppelelement-)Temperatur des Koppelelements eine Änderung des elektrischen (Sensor-)Widerstands des zweiten Sensorelements bewirkt. According to a ninth embodiment of the fourth development of the invention, it is further provided that the first sensor element is formed by means of at least one (measuring) capacitor, for example designed as a plate capacitor, for example with a (capacitor) electrode geometry that changes depending on the first primary measured variable and/or with a dielectric that changes depending on the first primary measured variable, wherein at least one, for example movable, (capacitor) electrode of the (measuring) capacitor is mechanically connected to the coupling element or is formed by means of the coupling element and/or wherein the coupling element and the second sensor element are at least thermally coupled to one another, for example both thermally and mechanically, for example in such a way that the second electrical (measuring) voltage is dependent on a (coupling element) temperature of the coupling element or that a change in a (coupling element) temperature of the coupling element causes a change in the electrical (sensor) resistance of the second sensor element causes.

Nach einer fünften Weiterbildung der Erfindung umfaßt das Meßsystem weiters ein, beispielsweise explosionsdruckfestes (Ex-d) und/oder zum internationalen Standard IEC 60079-1 :2014 konformes, Elektronik-(Schutz-)Gehäuse für die Meßsystem-Elektronik. Ein Vorteil der Erfindung besteht darin, daß der für die Ermittlung der zweiten primären Meßgröße benötige Meß-Strom in für den Betrieb des Meßsystem-Elektronik optimierter Weise ein- bzw. ausgeschaltet werden kann, ohne die Meßgenauigkeit des Meßsystems bzw. dessen (Meßwerte-)Aktualisierungsrate zu beeinträchtigen. According to a fifth development of the invention, the measuring system further comprises an electronics (protective) housing for the measuring system electronics, for example one that is explosion-pressure-resistant (Ex-d) and/or conforms to the international standard IEC 60079-1:2014. An advantage of the invention is that the measuring current required for determining the second primary measured variable can be switched on or off in a manner optimized for the operation of the measuring system electronics, without impairing the measuring accuracy of the measuring system or its (measured value) update rate.

Die Erfindung sowie vorteilhafte Ausgestaltungen davon werden nachfolgend anhand von Ausführungsbeispielen näher erläutert, die in den Figuren der Zeichnung dargestellt sind. Gleiche bzw. gleichwirkende oder gleichartig fungierende Teile sind in allen Figuren mit denselben Bezugszeichen versehen; wenn es die Übersichtlichkeit erfordert oder es anderweitig sinnvoll erscheint, wird auf bereits erwähnte Bezugszeichen in nachfolgenden Figuren verzichtet. Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen oder Weiterbildungen, insb. auch Kombinationen zunächst nur einzeln erläuterter Teilaspekte der Erfindung, ergeben sich ferner aus den Figuren der Zeichnung und/oder aus den Ansprüchen an sich. The invention and advantageous embodiments thereof are explained in more detail below using exemplary embodiments illustrated in the figures of the drawing. Identical or equivalent or functioning parts are provided with the same reference numerals in all figures; where clarity requires it or it otherwise seems expedient, previously mentioned reference numerals have been omitted in subsequent figures. Further advantageous embodiments or developments, in particular combinations of partial aspects of the invention initially explained only individually, will become apparent from the figures of the drawing and/or from the claims themselves.

Im einzelnen zeigen: In detail:

Fig. 1 in einer perspektivischen Seitenansicht ein Ausführungsbeispiel für ein erfindungsgemäßes Meßsystem; Fig. 1 shows a perspective side view of an embodiment of a measuring system according to the invention;

Fig. 2 schematisch in einer teilweise geschnitten Seitenansicht ein Meßsystem gemäß Fig. 1 ; Fig. 2 shows schematically in a partially sectioned side view a measuring system according to Fig. 1;

Fig. 3 schematisch ein Ausführungsbeispiel für eine für ein Meßsystem gemäß Fig. 1 geeignete Meßsystem-Elektronik; Fig. 3 schematically shows an embodiment of a measuring system electronics suitable for a measuring system according to Fig. 1;

Fig. 4 und in einem Zeitdiagramm Verläufe von Meßspannungen bzw. -strömen in einer Meßsystem-Elektronik gemäß Fig. 3. Fig. 4 and in a time diagram, curves of measuring voltages or currents in a measuring system electronics according to Fig. 3.

In Fig. 1 , 2 und 3 ist ein Ausführungsbeispiel für ein Meßsystem zum Messen einer (zeitlich veränderlichen) ersten primären (Prozeß-)Meßgröße, insb. eines (statischen) Drucks eines (in einer Leitung geführten und/oder einem Behälter gehaltenen) fluiden Meßstoffs und/oder einer zeitlichen Änderung nämlichen Drucks, sowie einer von der ersten primären (Prozeß-)Meßgröße x1 verschiedenen (zeitlich veränderlichen) zweiten primären (Prozeß-)Meßgröße x2, insb. einer (Meßstoff-)Temperatur eines (in einer Leitung geführten) fluiden Meßstoffs, und/oder zum Messen einer von wenigstens einer der ersten und zweiten primären (Prozeß-)Meßgrößen abgeleiteten (zeitlich veränderlichen) sekundären (Prozeß-)Meßgröße y1 , insb. eines Volumen- bzw. Masse-Stroms eines in einer Leitung geführten fluiden Meßstoffs oder eines Füllstandes eines einem Behälter gehaltenen fluiden Meßstoffs, beispielsweise eines Gase, einer Flüssigkeit oder einer Dispersion, schematisch dargestellt. Die vorbezeichnete Leitung und/oder der vorbezeichnete Behälter können beispielsweise jeweils als Anlagenkomponente eines Wärmeversorgungsnetzes oder eines Turbinenkreislaufes ausgebildet, mithin kann der Meßstoff beispielsweise Dampf, insb. auch gesättigter Dampf oder überhitzter Dampf, oder beispielsweise auch ein aus einer Dampfleitung abgeführtes Kondensat sein. Meßstoff kann aber beispielsweise auch ein (komprimiertes) Erd- oder ein Biogas oder beispielsweise (Trink-)Wasser sein, mithin können die Rohrleitung und/oder der Behälter beispielsweise auch Komponente einer Erd - oder einer Biogasanlage oder eines Gasversorgungsnetzes oder eines Wasserversorgungsnetzes sein. Gemäß dem in Fig. 1 bzw. 2 gezeigten Ausführungsbeispiel, kann das Meßsystem beispielsweise ein in der Verlauf der vorbezeichneten, beispielsweise auch als (starre) Rohrleitung ausgebildete, Leitung einsetzbares (Meß-)Rohr 3 mit einem von einer (metallischen) Wandung 3* des Rohrs umhüllten Lumen 3‘ umfassen, wobei das Rohr 3 bzw. dessen Lumen sich von einem Einlaßende 3+ bis zu einem Auslaßende 3# erstreckt und dafür eingerichtet ist, im Betrieb des Meßsystems den (in der angeschlossenen Leitung) strömende Meßstoff zu führen bzw. von nämlichem Meßstoff in Richtung einer Hauptströmungsrichtung des Meßsystems durchströmt zu werden. Im in Fig. 1 bzw. 2 gezeigten Ausführungsbeispiel ist am Einlaßende 3+ wie auch am Auslaßende 3# ferner jeweils ein dem Herstellen einer Leckage freien Flanschverbindung mit jeweils einem korrespondierenden Flansch an einem ein- bzw. auslaßseitigen Leitungssegment der Leitung dienender Flansch vorgesehen. Desweiteren kann das Rohr 3, wie in Fig. 1 bzw. 2 dargestellt, im wesentlichen gerade, beispielsweise nämlich als Hohlzylinder mit zumindest abschnittsweise kreisförmigem Querschnitt ausgebildet sein, derart, daß das Rohr 3 eine das Einlaßende 3+ und das Auslaßende 3# imaginär verbindende gedachte gerade Längsachse L aufweist. Das in Fig. 1 bzw. 2 beispielhaft gezeigte Meßsystem ist insb. als ein (Wirbel zählendes) Vortex-Durchfluß-Meßgerät ausgebildet und weist demenstprechende ferner einen innerhalb des Lumens 3‘ angeordneten - beispielsweise prismatischen oder zylindrischen - Stauköper 4 auf, der dafür eingerichtet ist, den strömenden Meßstoff zu verwirbeln, derart daß im daran vorbei strömenden Meßstoff Wirbel mit einer von einer momentanen Strömungsgeschwindigkeit u nämlichen Meßstoffs abhängigen Vortex- bzw. Ablösefrequenz fv (fv ~ u), generiert werden bzw. im stromabwärts des Staukörpers 4 strömenden Meßstoff eine Karmansche Wirbelstraße ausgebildet ist. Das erfindungsgemäße Meßsystem umfaßt zumindest eine, beispielsweise mit einem Energiefluß von weniger als 360 Ws/h und/oder mit einer maximalen elektrischen Leistung von weniger als 1 W (Watt), insb. auch weniger als 0,1 W, betreibbare bzw. betriebenen, Meßsystem-Elektronik 2, wenigstens ein, beispielsweise kapazitives und/oder passives, erstes Sensorelement C1 zum Erfassen der ersten primären (Prozeß-)Meßgröße, wenigstens ein, beispielsweise resistives, passives zweites Sensorelement R1 zum Erfassen der zweiten primären (Prozeß-)Meßgröße. Nicht zuletzt für den vorbezeichneten Fall, daß das Meßsystem als Vortex-Durchfluß-Meßgerät ausgebildet ist, können die die ersten und zweiten Sensorelemente beispielsweise dafür vorgesehen bzw. eingerichtet sein, die ersten bzw. zweiten primären (Prozeß-)Meßgrößen des Meßstoffs (im Betrieb des Meßsystems) stromabwärts des vorbezeichnete Staukörpers bzw. von einer dort formierten Karmanschen Wirbelstrasse zu erfassen, beispielsweise nämlich derart, daß die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße x1 ein mit einer, insb. zu einer Strömungsgeschwindigkeit u des Meßstoffs proportionalen, (Wirbel-)Ablöserate bzw. -frequenz (fv) schwankender (statischer) Druck bzw. dessen zeitliche Änderung und/oder die zweite primäre (Prozeß-)Meßgröße y1 eine (Meßstoff-)Temperatur0 des (verwirbelten) Meßstoffs ist. 1, 2 and 3 show an embodiment of a measuring system for measuring a (time-varying) first primary (process) measured variable, in particular a (static) pressure of a fluid medium (conducted in a line and/or held in a container) and/or a temporal change in the same pressure, as well as a (time-varying) second primary (process) measured variable x2 different from the first primary (process) measured variable x1, in particular a (measured medium) temperature of a fluid medium (conducted in a line), and/or for measuring a (time-varying) secondary (process) measured variable y1 derived from at least one of the first and second primary (process) measured variables, in particular a volume or mass flow of a fluid medium conducted in a line or a fill level of a fluid medium held in a container. A schematic representation of a medium to be measured, for example a gas, a liquid or a dispersion. The aforementioned line and/or the aforementioned container can, for example, be designed as a system component of a heat supply network or a turbine cycle; thus, the medium to be measured can, for example, be steam, in particular saturated steam or superheated steam, or, for example, condensate discharged from a steam line. However, the medium can also be, for example, (compressed) natural gas or biogas or, for example, (drinking) water; thus, the pipeline and/or the container can, for example, also be a component of a natural gas or biogas plant or of a gas supply network or a water supply network. According to the exemplary embodiment shown in Fig. 1 or 2, the measuring system can, for example, comprise a (measuring) tube 3 which can be inserted into the course of the aforementioned line, for example also designed as a (rigid) pipeline, and has a lumen 3' enclosed by a (metallic) wall 3* of the tube, wherein the tube 3 or its lumen extends from an inlet end 3+ to an outlet end 3# and is designed to guide the measuring medium flowing (in the connected line) during operation of the measuring system or to be flowed through by the same measuring medium in the direction of a main flow direction of the measuring system. In the exemplary embodiment shown in Fig. 1 or 2, a flange is further provided at the inlet end 3+ as well as at the outlet end 3#, each serving to create a leak-free flange connection with a corresponding flange on an inlet-side or outlet-side line segment of the line. Furthermore, the tube 3, as shown in Fig. 1 or 2, can be designed to be substantially straight, for example as a hollow cylinder with at least partially circular cross-section, such that the tube 3 has an imaginary straight longitudinal axis L imaginarily connecting the inlet end 3+ and the outlet end 3#. The measuring system shown as an example in Fig. 1 or 2 is designed in particular as a (vortex counting) vortex flow meter and accordingly further comprises a bluff body 4 - for example prismatic or cylindrical - arranged within the lumen 3', which is designed to swirl the flowing medium in such a way that vortices with a vortex or shedding frequency fv (fv ~ u) dependent on a momentary flow velocity u of the same medium are generated in the medium flowing past it, or a Karman vortex street is formed in the medium flowing downstream of the bluff body 4. The measuring system according to the invention comprises at least one measuring system electronics 2, which can be operated or is operated, for example, with an energy flow of less than 360 Ws/h and/or with a maximum electrical power of less than 1 W (watt), in particular less than 0.1 W, at least one, for example capacitive and/or passive, first sensor element C1 for detecting the first primary (process) measured variable, at least one, for example resistive, passive second sensor element R1 for detecting the second primary (process) measured variable. Not least for the aforementioned case that the measuring system is designed as a vortex flow meter, the first and second sensor elements can, for example, be provided or set up to detect the first or second primary (process) measured variables of the medium (during operation of the measuring system) downstream of the aforementioned bluff body or from a Karman vortex street formed there, for example in such a way that the first primary (process) measured variable x1 is a (static) pressure fluctuating with a (vortex) shedding rate or frequency (fv), in particular proportional to a flow velocity u of the medium, or its change over time and/or the second primary (process) measured variable y1 is a (measured medium) temperature0 of the (swirled) medium.

Die - beispielsweise programmierbare - Meßsystem-Elektronik 2 kann eine, insb. als TTY-Schnittstelle ausgebildete, Schnittstellenschaltung sowohl zur leitungsgebundenen Energiespeisung als auch zur leitungsgebundenen Signal- bzw. Meßdatenübertragung aufweisen, mittels der das Meßsystem (unter Bildung einer Stromschleife 2L) an eine übergeordnete, vom Meßsystem im Betrieb benötigte elektrische Energie bereitstellende Auswerte- und Versorgungselektronik elektrisch anschließbar ist. Beispielsweise kann die Meßsystem-Elektronik 2 eingerichtet sein, mittels einer durch die Schnittstellenschaltung ausgeführten (Last-)Modulation eines von der Auswerte- und Versorgungselektronik getriebenen elektrischen (Schleifen-)Stroms in der Stromschleife 2L sowohl elektrische Leistung aus der vorbezeichneten Stromschleife 2L zu beziehen als auch (Meß-)Daten an die Auswerte- und Versorgungselektronik zu übertragen, beispielsweise in Form eines zur DIN IEC 60381-1 :1985-11 konformen (4 - 20 mA-)Einheitssignals. Zum vorübergehenden Speichern von digitalen (Meß-)Daten kann die Meßsystem-Elektronik 2 ferner beispielsweise zumindest einen (flüchtigen) digitalen Datenspeicher (RAM) aufweisen. Zum elektrischen Verbinden der ersten und zweiten Sensorelemente C1 , R1 mit der, beispielsweise auch mittels wenigstens eines Mikroprozessors (pC) gebildete, Meßsystem-Elektronik 2 umfaßt das erfindungsgemäße Meßsystem ferner erste, zweite, dritte und vierte, insb. nicht miteinander verdrillte, elektrische Verbindungsleitungen 401 , 402, 403, 404. Nach einerweiteren Ausgestaltung der Erfindung ist jede der ersten und zweiten Verbindungsleitungen 401 , 402 und/oder ist jede der dritten und vierten Verbindungsleitungen 403, 404, nicht zuletzt aus Kostengründen, jeweils zumindest teilweise, beispielsweise auch vollständig, ungeschirmt und/oder sind die Verbindungsleitungen 401 , 402, 403, 404, nicht zuletzt aus Platzgründen, so angeordnet, daß ein kleinster Abstand zwischen wenigstens einer der ersten und zweiten Verbindungsleitungen 401 , 402 und wenigstens einer der dritten und vierten Verbindungsleitungen 403, 404 weniger als 5 mm beträgt. Die ersten und zweiten Verbindungsleitungen 401 , 402 und/oder die dritten und vierten Verbindungsleitungen 403, 404 können beispielsweise auch jeweils zumindest teilweise mittels jeweils einer auf einer (flexiblen) Leiterplatte angeordneten Leiterbahn gebildet sein. Nach einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung verlaufen die ersten und zweiten The measuring system electronics 2 - which can be programmed, for example - can have an interface circuit, particularly designed as a TTY interface, for both wired power supply and wired signal or measurement data transmission, by means of which the measuring system (forming a current loop 2L) can be electrically connected to higher-level evaluation and supply electronics that provide the electrical energy required by the measuring system during operation. For example, the measuring system electronics 2 can be configured to draw electrical power from the aforementioned current loop 2L and to transmit (measurement) data to the evaluation and supply electronics by means of (load) modulation of an electrical (loop) current in the current loop 2L driven by the evaluation and supply electronics, carried out by the interface circuit, for example in the form of a (4-20 mA) standard signal compliant with DIN IEC 60381-1:1985-11. For temporarily storing digital (measurement) data, the measuring system electronics 2 may further comprise, for example, at least one (volatile) digital data memory (RAM). For electrically connecting the first and second sensor elements C1, R1 to the measuring system electronics 2, which may also be formed, for example, by means of at least one microprocessor (pC), the measuring system according to the invention further comprises first, second, third and fourth, in particular non-twisted, electrical connecting lines 401, 402, 403, 404. According to a further embodiment of the invention, each of the first and second connecting lines 401, 402 and/or each of the third and fourth connecting lines 403, 404 is at least partially, for example completely, unshielded, not least for cost reasons, and/or the connecting lines 401, 402, 403, 404 are arranged, not least for space reasons, such that a smallest distance between at least one of the first and second connecting lines 401, 402 and at least one of the third and fourth connecting lines 403, 404 is less than 5 mm. The first and second connecting lines 401, 402 and/or the third and fourth connecting lines 403, 404 can, for example, also be formed at least partially by means of a conductor track arranged on a (flexible) printed circuit board. According to a further embodiment of the invention, the first and second

Verbindungsleitungen 401 , 402 und/oder die dritten und vierten Verbindungsleitungen 403, 404 und/oder die ersten und dritten Verbindungsleitungen 401 , 403 und/oder die ersten und vierten Verbindungsleitungen 401 , 404 zumindest abschnittsweise zueinander parallel, insb. derart, daß die ersten, zweiten, dritten und vierten Verbindungsleitungen 401 , 402, 403, 404 zumindest abschnittsweise zueinander parallel verlaufen. Connecting lines 401, 402 and/or the third and fourth connecting lines 403, 404 and/or the first and third connecting lines 401, 403 and/or the first and fourth connecting lines 401, 404 run parallel to one another at least in sections, in particular in such a way that the first, second, third and fourth connecting lines 401, 402, 403, 404 run parallel to one another at least in sections.

Für die Unterbringung der Meßsystem-Elektronik 2 umfaßt das Meßsystem nach einerweiteren Ausgestaltung der Erfindung ein, beispielsweise explosionsdruckfestes (Ex-d) und/oder zum internationalen Standard IEC 60079-1 :2014 konformes, Elektronik-(Schutz-)Gehäuse 20. Eine mechanische Verbindung des Elektronik-(Schutz-)Gehäuses mit der vorbezeichneten Leitung bzw. dem vorbezeichneten Behälter oder auch mit einem Sensor-(Schutz-)Gehäuse des Meßsystems kann beispielsweise mittels eines, beispielsweise selbst auch mittels Flanschverbindung lösbar mit dem Elektronik-(Schutz-)Gehäuse 20 verbundenen und/oder Röhren förmigen, (Gehäuse-)Anschlußstutzen 30 des Meßsystems hergestellt sein. Für diesen Fall, können die ersten, zweiten, dritten und vierten Verbindungsleitungen 401 , 402, 403, 404 zumindest anteilig auch innerhalb des (Gehäuse-)Anschlußstutzens 30 geführt sein, beispielsweise derart, daß sie innerhalb des (Gehäuse-)Anschlußstutzens 30 zumindest abschnittsweise zueinander parallel verlaufen und/oder einander benachbarte Verbindungsleitungen 401 , 402, 403, 404 zumindest abschnittsweise nur einen geringen Abstand von weniger als 5 mm aufweisen. Nicht zuletzt für den vorbezeichneten Fall, daß Meßsystem im vorbezeichneten Elektronik-(Schutz-)Gehäuses 20 untergebracht ist und/oder daß die ersten, zweiten, dritten und vierten Verbindungsleitungen zumindest anteilig innerhalb des mit nämlichem Elektronik-(Schutz-)Gehäuses 20 verbundenen (Gehäuse-)Anschlußstutzen 30 geführt sind umfaßt das Meßsystem nach einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung ferner wenigstens eine, beispielsweise explosionsdruckfeste (Ex-d) und/oder zum internationalen Standard IEC 60079-1 :2014 konforme, (elektrische) Durchführung 50. Vorteilhaft können die ersten, zweiten, dritten und vierten Verbindungsleitungen abschnittsweise innerhalb der Durchführung 50 geführt sein und/oder kann die Durchführung 50 den ersten, zweiten, dritten und vierten Verbindungsleitungen 401 , 402, 403, 404 zwischengeschaltet sein. Nach einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung weist die Durchführung 50, beispielsweise ungeschirmte, (Anschluß-)Pins auf und ist die Durchführung 50 mittels jeweils eines der (Anschluß-)Pins an die ersten, zweiten, dritten und vierten Verbindungsleitungen 401 , 402, 403, 404 elektrisch angeschlossen. According to a further embodiment of the invention, the measuring system comprises an electronics (protective) housing 20, for example one that is explosion-proof (Ex-d) and/or conforms to the international standard IEC 60079-1:2014, for accommodating the measuring system electronics. A mechanical connection of the electronics (protective) housing to the aforementioned cable or container or to a sensor (protective) housing of the measuring system can be established, for example, by means of a (housing) connection piece 30 of the measuring system, which itself is detachably connected to the electronics (protective) housing 20 by means of a flange connection and/or is tubular. In this case, the first, second, third and fourth connecting lines 401, 402, 403, 404 can also be routed at least partially within the (housing) connection piece 30, for example in such a way that they run parallel to one another at least in sections within the (housing) connection piece 30 and/or adjacent connecting lines 401, 402, 403, 404 have at least in sections only a small distance of less than 5 mm. Not least for the aforementioned case that the measuring system is housed in the aforementioned electronics (protective) housing 20 and/or that the first, second, third and fourth connecting lines are routed at least partially within the (housing) connection piece 30 connected to the same electronics (protective) housing 20, the measuring system according to a further embodiment of the invention further comprises at least one, for example, explosion-pressure-resistant (Ex-d) and/or (electrical) feedthrough 50 compliant with the international standard IEC 60079-1:2014. Advantageously, the first, second, third, and fourth connecting lines can be routed in sections within the feedthrough 50 and/or the feedthrough 50 can be interposed between the first, second, third, and fourth connecting lines 401, 402, 403, 404. According to a further embodiment of the invention, the feedthrough 50 has, for example, unshielded, (connection) pins, and the feedthrough 50 is electrically connected to the first, second, third, and fourth connecting lines 401, 402, 403, 404 by means of one of the (connection) pins each.

Wie u.a auch in der Fig. 2 oder in 3 schematisch dargestellt, sind das erste Sensorelement C1 mittels der ersten und zweiten Verbindungsleitungen 401 , 402 (unter Bildung eines ersten Meßkanals des Meßsystems) und das zweite Sensorelement R1 mittels der dritten und vierten Verbindungsleitungen 403, 404 (unter Bildung eines zweiten Meßkanals des Meßsystems) an die Meßsystem-Elektronik 2 elektrisch angeschlossen, beispielsweise auch (jeweils) unter Zwischenschaltung der ggf. erforderlichen (Gehäuse-)Durchführung 50. Zudem ist das erste Sensorelement C1 des erfindungsgemäßen Meßsystems insb. dafür eingerichtet (im Verbund mit der Meßsystem-Elektronik) eine von der ersten primären (Prozeß-)Meßgröße x1 abhängige erste elektrische (Meß-)Spannung u1 zu generieren und/oder einzustellen und die Meßsystem-Elektronik 2 ist eingerichtet, nämliche erste elektrische (Meß-)Spannung u1 zeitweise zu erfassen und auszuwerten, beispielsweise nämlich zu digitalisieren und/oder die erste (Meß-)Spannung u1 repräsentierende (digitale) erste (Spannungs-)Meßwerte Xu1 zu ermitteln. Nicht zuletzt für den vorbezeichneten Fall, daß das Meßsystem als Vortex-Durchfluß-Meßgerät ausgebildet ist, kann die Meßsystem-Elektronik ferner 2 beispielsweise auch eingerichtet sein, basierend auf zumindest der ersten elektrischen (Meß-)Spannung u1 Meßwerte für eine (als sekundäre Meßgröße dienliche) Frequenz (fv) von zumindest zeitweise periodischen Druckschwankungen innerhalb des fluiden Meßstoffs, insb. nämlich von Druckschwankungen innerhalb der vorbezeichneten Karmanschen Wirbelstraße, zu ermitteln. Nach einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung ist das erste Sensorelement C1 dafür als (wenigstens einen Meß-Kondensator aufweisendes) kapazitives Sensorelement ausgebildet. Insbesondere weist das erste Sensorelement C1 eine, insb. bei einer Temperatur von 20°C nicht weniger als 10pF (Pikofarad) und/oder nicht mehr als 100 pF betragende und/oder sich aus zwei oder mehr Teil-Kapazitäten zusammensetzende, elektrische (Sensor-)Kapazität auf und ist das erste Sensorelement zudem eingerichtet, einer Änderung der ersten primäre (Prozeß-) Meßgröße x1 mit einer Änderung nämlicher (Sensor-)Kapazität zu folgen. Das erste Sensorelement C1 kann dementsprechend beispielsweise auch mittels wenigstens eines Plattenkondensators gebildet sein, insb. mit einer in Abhängigkeit von der ersten primären Meßgröße x1 ändernden (Kondensator-)Elektrodengeometrie und/oder mit einem in Abhängigkeit von der ersten primären Meßgröße x1 ändernden Dielektrikum. Zum Bewirken der ersten elektrischen (Meß-)Spannung u1 ist die Meßsystem-Elektronik desweiteren eingerichtet, nämliche Kapazität des ersten Sensorelements C1 zumindest zeitweise aufzuladen bzw. aufgeladen zu halten; dies beispielsweise auch derart, daß die erste elektrische (Meß-)Spannung u1 (im wesentlichen) proportional zu einer elektrischen Ladung der (Sensor-) Kapazität des ersten Sensorelements C1 ist. Das zweite Sensorelement R1 wiederum weist einen, insb. bei einer Temperatur von 20°C nicht weniger als 90 Q und/oder nicht mehr als 1 ,1 kQ betragenden, elektrischen (Sensor-)Widerstand auf und ist zudem eingerichtet, einer Änderung der zweiten primären Meßgröße x2 mit einer Änderung nämlichen (Sensor-)Widerstands zu folgen. Nach einerweiteren Ausgestaltung der Erfindung ist das zweite Sensorelement R1 mittels wenigstens eines Platin-Meßwiderstands, beispielsweise nämlich einem eines Pt100 und/oder eines Pt1000, gebildet. As also schematically shown in Fig. 2 or in Fig. 3, the first sensor element C1 is electrically connected to the measuring system electronics 2 by means of the first and second connecting lines 401, 402 (forming a first measuring channel of the measuring system) and the second sensor element R1 is electrically connected to the measuring system electronics 2 by means of the first and second connecting lines 403, 404 (forming a second measuring channel of the measuring system), for example also (in each case) with the interposition of the possibly required (housing) feedthrough 50. In addition, the first sensor element C1 of the measuring system according to the invention is in particular configured (in conjunction with the measuring system electronics) to generate and/or adjust a first electrical (measurement) voltage u1 dependent on the first primary (process) measured variable x1, and the measuring system electronics 2 is configured to temporarily detect and evaluate the same first electrical (measurement) voltage u1, for example to digitize it and/or to convert the first (Measurement) voltage u1 to determine (digital) first (voltage) measured values Xu1 representing. Not least for the aforementioned case in which the measuring system is designed as a vortex flow meter, the measuring system electronics 2 can also be configured, for example, to determine, based on at least the first electrical (measurement) voltage u1, measured values for a frequency (fv) (serving as a secondary measured variable) of at least temporarily periodic pressure fluctuations within the fluid measuring medium, in particular pressure fluctuations within the aforementioned Karman vortex street. According to a further embodiment of the invention, the first sensor element C1 is designed for this purpose as a capacitive sensor element (having at least one measuring capacitor). In particular, the first sensor element C1 has an electrical (sensor) capacitance, particularly at a temperature of 20°C, of not less than 10 pF (picofarads) and/or not more than 100 pF and/or composed of two or more partial capacitances, and the first sensor element is further configured to follow a change in the first primary (process) measured variable x1 with a change in the same (sensor) capacitance. Accordingly, the first sensor element C1 can, for example, also be formed by at least one plate capacitor, particularly with a (capacitor) electrode geometry that changes depending on the first primary measured variable x1 and/or with a dielectric that changes depending on the first primary measured variable x1. To effect the first electrical (measurement) voltage u1 The measuring system electronics are further configured to at least temporarily charge or keep charged the same capacitance of the first sensor element C1; for example, this also in such a way that the first electrical (measurement) voltage u1 is (essentially) proportional to an electrical charge of the (sensor) capacitance of the first sensor element C1. The second sensor element R1, in turn, has an electrical (sensor) resistance of not less than 90 Ω and/or not more than 1.1 kΩ, in particular at a temperature of 20°C, and is further configured to follow a change in the second primary measured variable x2 with a change in the same (sensor) resistance. According to a further embodiment of the invention, the second sensor element R1 is formed by means of at least one platinum measuring resistor, for example a Pt100 and/or a Pt1000.

Beim erfindungsgemäßen Meßsystem ist die Meßsystem-Elektronik 2 ferner eingerichtet, zum vorübergehenden Bewirken eines Spannungsfalls über dem zweiten Sensorelement R1 das zweite Sensorelement R1 zeitweise zu bestromen, nämlich, wie auch in Fig. 4 gezeigt, während eines vorgegebenen, beispielsweise nicht weniger als 100 ms (Millisekunde) andauernden, ersten (Bestromungs-)Zeitintervalls t1 ein, insb. eingeprägten und/oder konstanten und/oder eine maximale Stromstärke von nicht weniger als 0,1 mA (Milliampere) aufweisenden und/oder im zweiten Sensorelement R1 eine maximale elektrische Leistung von nicht weniger als 0,4 mW (Milliwatt) umsetzenden, elektrischen (Meß-)Strom durch das zweite Sensorelement R1 sowie die dritten und vierten Verbindungsleitungen 403, 404 zu treiben sowie während eines dem ersten Zeitintervall t1 zeitlich vorausgehenden zweiten Zeitintervalls t2 wie auch eines dem ersten (Bestromungs-)Zeitintervall t1 zeitlich nachfolgenden dritten Zeitintervalls t3 das zweite Sensorelement R1 , insb. zur Einsparung elektrischer Leistung bzw. Energie, nicht zu bestromen bzw. keinen (Meß-)Strom durch das zweite Sensorelement R1 und die dritten und vierten Verbindungsleitungen 403, 404 zu treiben; dies im besonderen in der Weise, daß der (Meß-)Strom i2, wie auch in Fig. 4 schematisch dargestellt, zumindest während eines dem zweiten Zeitintervall t2 zeitlich (unmittelbar) nachfolgenden und dem ersten (Bestromungs-)Zeitintervall t1 zeitlich (unmittelbar) vorausgehenden, beispielsweise nicht weniger als 1 s (Mikrosekunde) andauernden, vierten (Übergangs-)Zeitintervalls t4 eine (steigende) erste Stromflanke, beispielsweise mit einer zumindest zeitweise und/oder im zeitlichen (arithmetischen) Mittel nicht weniger als 0,1 mA/ps (Milliampere pro Mikrosekunde) betragenden Stromanstiegsgeschwindigkeit, aufweist und daß der (Meß-)Strom i2 zumindest während eines dem ersten (Bestromungs-)Zeitintervall t1 zeitlich (unmittelbar) nachfolgenden und dem dritten Zeitintervall t3 zeitlich (unmittelbar) vorausgehenden, beispielsweise nicht weniger als 1 ps (Mikrosekunde) andauernden, fünften (Übergangs-)Zeitintervalls t5 eine (fallende) zweite Stromflanke, beispielsweise mit einer zumindest zeitweise und/oder im zeitlichen (arithmetischen) Mittel nicht weniger als 0,1 mA/ps betragenden Stromabfallgeschwindigkeit, aufweist. Zudem ist die Meßsystem-Elektronik 2 eingerichtet, zumindest während des ersten (Bestromungs-)Zeitintervalls t1 eine vom Spannungsfall über dem zweiten Sensorelement R1 abhängige zweite elektrischen (Meß-)Spannung u2 zu erfassen und auszuwerten, beispielsweise nämlich zu digitalisieren und/oder die zweite (Meß-)Spannung u2 repräsentierende (digitale) zweite (Spannungs-)Meßwerte Xu2 zu ermitteln. Darüberhinaus ist die Meßsystem-Elektronik 2 ferner eingerichtet, basierend auf zumindest der ersten elektrischen (Meß-)Spannung u1 , beispielsweise auch basierend auf sowohl der ersten elektrischen (Meß-)Spannung u1 als auch zweiten elektrischen (Meß-)Spannung u2, einen oder mehrere (digitale) Meßwerte für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße x1 und/oder einen oder mehrere (digitale) Meßwerte für die sekundäre (Prozeß-)Meßgröße y1 zu ermitteln, insb. nämlich zu ermitteln und als (qualifizierte) Meßwerte XM des Meßsystems auszugeben. Nach einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung ist die Meßsystem-Elektronik 2 insb. auch eingerichtet, zum Bewirken der ersten elektrischen (Meß-)Spannung u1 die Kapazität des ersten Sensorelements C1 zumindest während der zweiten und dritten Zeitintervalle elektrisch aufzuladen bzw. aufgeladen zu halten und/oder ist die Meßsystem-Elektronik 2 eingerichtet, basierend auf der zweiten (Meß-)Spannung u2 den Sensor-Widerstand des zweiten Sensorelements R1 zu ermitteln. Vorteilhaft kann die Meßsystem-Elektronik 2 ferner auch eingerichtet sein, die erste (Meß-)Spannung u1 repräsentierende (Spannungs-)Meßwerte Xu1 , beispielsweise um nämliche (Spannungs-)Meßwerte u1 im vorbezeichneten (flüchtigen) digitalen Datenspeicher (vorübergehend) zu speichern und/oder um einen oder mehrere Meßwerte für die zweite primäre (Prozeß-)Meßgröße x2 unter Verwendung eines oder mehrerer nämlicher (Spannungs-)Meßwerte zu ermitteln. Alternativ oder in Ergänzung kann die Meßsystem-Elektronik 2 ferner auch eingerichtet sein, die zweite (Meß-)Spannung u2 repräsentierende (Spannungs-)Meßwerte Xu2 zu ermitteln, beispielsweise um nämliche (Spannungs-)Meßwerte Xu2 im vorbezeichneten (flüchtigen) digitalen Datenspeicher (vorübergehend) zu speichern und/oder um einen oder mehrere Meßwerte für die erste und/oder zweiten primäre (Prozeß-)Meßgrößen x2 und/oder für die sekundäre (Prozeß-)Meßgröße y1 unter Verwendung eines oder mehrerer nämlicher (Spannungs-)Meßwerte Xu2 zu ermitteln. In the measuring system according to the invention, the measuring system electronics 2 is further configured to temporarily energize the second sensor element R1 in order to temporarily cause a voltage drop across the second sensor element R1, namely, as also shown in Fig. 4, to drive an electrical (measurement) current through the second sensor element R1 and the third and fourth connecting lines 403, 404 during a predetermined first (energization) time interval t1, for example, lasting not less than 100 ms (milliseconds), in particular an impressed and/or constant and/or having a maximum current of not less than 0.1 mA (milliampere) and/or converting a maximum electrical power of not less than 0.4 mW (milliwatt) in the second sensor element R1, as well as during a second time interval t2 preceding the first time interval t1 and a third time interval following the first (energization) time interval t1 t3 not to energize the second sensor element R1, in particular to save electrical power or energy, or not to drive any (measuring) current through the second sensor element R1 and the third and fourth connecting lines 403, 404; this in particular in such a way that the (measurement) current i2, as also schematically shown in Fig. 4, has a (rising) first current edge, for example with a current rise rate that is at least temporarily and/or on average (arithmetic) terms not less than 0.1 mA/ps (milliamperes per microsecond), at least during a fourth (transition) time interval t4 that (immediately) follows the second time interval t2 and (immediately) precedes the first (current supply) time interval t1, for example (not less than 1 s (microsecond), and that the (measurement) current i2 has a (rising) first current edge, for example (not less than 0.1 mA/ps (milliamperes per microsecond), at least during a fifth (transition) time interval that (immediately) follows the first (current supply) time interval t1 and (immediately) precedes the third time interval t3, for example (not less than 1 ps (microsecond), t5 has a (falling) second current edge, for example with a current decay rate that is at least temporarily and/or on average (arithmetic) basis not less than 0.1 mA/ps. Furthermore, the measuring system electronics 2 is configured to, at least during the first (current supply) time interval t1 to detect and evaluate a second electrical (measurement) voltage u2 dependent on the voltage drop across the second sensor element R1, for example, namely to digitize it and/or to determine (digital) second (voltage) measured values Xu2 representing the second (measurement) voltage u2. In addition, the measuring system electronics 2 is further configured, based on at least the first electrical (measurement) voltage u1, for example also based on both the first electrical (measurement) voltage u1 and the second electrical (measurement) voltage u2, to determine one or more (digital) measured values for the first primary (process) measured variable x1 and/or one or more (digital) measured values for the secondary (process) measured variable y1, in particular to determine them and output them as (qualified) measured values XM of the measuring system. According to a further embodiment of the invention, the measuring system electronics 2 is in particular also configured to electrically charge or maintain the capacitance of the first sensor element C1 at least during the second and third time intervals in order to effect the first electrical (measurement) voltage u1, and/or the measuring system electronics 2 is configured to determine the sensor resistance of the second sensor element R1 based on the second (measurement) voltage u2. Advantageously, the measuring system electronics 2 can also be configured to (temporarily) store (voltage) measured values Xu1 representing the first (measurement) voltage u1, for example in order to (temporarily) store the same (voltage) measured values u1 in the aforementioned (volatile) digital data memory and/or to determine one or more measured values for the second primary (process) measured variable x2 using one or more of the same (voltage) measured values. Alternatively or in addition, the measuring system electronics 2 can also be configured to determine (voltage) measured values Xu2 representing the second (measurement) voltage u2, for example in order to (temporarily) store the same (voltage) measured values Xu2 in the aforementioned (volatile) digital data memory and/or to determine one or more measured values for the first and/or second primary (process) measured variables x2 and/or for the secondary (process) measured variable y1 using one or more of the same (voltage) measured values Xu2.

Nach einerweiteren Ausgestaltung der Erfindung ist die Meßsystem-Elektronik 2 auch eingerichtet, basierend auf der zweiten elektrischen (Meß-)Spannung u2 einen oder mehrere (digitale) Meßwerte für die zweite primäre (Prozeß-)Meßgröße x2 zu ermitteln, beispielsweise um nämliche Meßwerte im vorbezeichneten (flüchtigen) digitalen Datenspeicher zu speichern und/oder um als Hilfsmeßwert für die Ermittlung wenigstens eines Meßwerts für die sekundären und/oder ersten primären (Prozeß-)Meßgrößen zu dienen. Alternativ oder in Ergänzung kann die Meßsystem-Elektronik 2 vorteilhaft ferner auch eingerichtet sein, einen oder mehrere Meßwerte für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße x1 auch unter Verwendung eines oder mehrerer Meßwerte für die zweite primäre (Prozeß-)Meßgröße x2 zu ermitteln. Nicht zuletzt für den vorbezeichneten Fall, daß das Meßsystem als Vortex-Durchfluß-Meßgerät ausgebildet ist, kann die Meßsystem-Elektronik 2 beispielsweise eingerichtet sein, basierend auf zumindest der zweiten elektrischen (Meß-)Spannung u2 Meßwerte für eine als zweite primäre Meßgröße x2 dienliche (Meßstoff-)Temperatur 0 eines (strömenden) fluiden Meßstoffs zu ermitteln und/oder kann die Meßsystem-Elektronik 2 eingerichtet sein, basierend auf den ersten und zweiten elektrischen (Meß-)Spannungen Meßwerte für einen (als sekundäre Meßgröße dienlichen) Volumenstrom v und/oder einen (als sekundäre Meßgröße dienlichen) Massestrom m eines strömenden (fluiden) Meßstoffs und/oder Meßwerte für einen (als erste primäre Meßgröße x1 dienlichen) (statischen) Druck p eines (strömenden) fluiden Meßstoffs zu ermitteln. According to a further embodiment of the invention, the measuring system electronics 2 is also configured to determine one or more (digital) measured values for the second primary (process) measured variable x2 based on the second electrical (measurement) voltage u2, for example, in order to store the same measured values in the aforementioned (volatile) digital data memory and/or to serve as an auxiliary measured value for determining at least one measured value for the secondary and/or first primary (process) measured variables. Alternatively or additionally, the measuring system electronics 2 can advantageously also be configured to determine one or more measured values for the first primary (process) measured variable x1 using one or more measured values for the second primary (process) measured variable x2. Not least for the aforementioned case in which the measuring system is designed as a vortex flowmeter, the measuring system electronics 2 can, for example, be configured to determine one or more measured values for the first primary (process) measured variable x1 based on at least the second electrical (Measuring) voltage u2 to determine measured values for a (measuring material) temperature 0 of a (flowing) fluid measuring medium, which serves as a second primary measured variable x2, and/or the measuring system electronics 2 can be set up to determine, based on the first and second electrical (measuring) voltages, measured values for a volume flow v (serving as a secondary measured variable) and/or a mass flow m (serving as a secondary measured variable) of a flowing (fluid) measuring medium and/or measured values for a (static) pressure p (serving as a first primary measured variable x1) of a (flowing) fluid measuring medium.

Zum Bereitstellen der ersten elektrische (Meß-)Spannung u1 weist die Meßsystem-Elektronik 2 nach einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung wenigstens einen Operationsverstärker OP, beispielsweise nämlich einen FET- oder einen CMOS-Operationsverstärker, auf. Zudem ist das erste Sensorelement C1 mittels der ersten und zweiten Verbindungsleitungen 401 , 402, insb. unter Bildung eines Ladungs-Spannungs-Wandlers der Meßsystem-Elektronik 2, an einen (hochohmigen) (Spannungs-)Eingang des Operationsverstärkers OP elektrisch angeschlossen und ist der Operationsverstärker eingerichtet, (bei im ersten Betriebsmodus operierender Meßsystem-Elektronik) die erste elektrische (Meß-)Spannung u1 an einem (Spannungs-)Ausgang zu liefern. Dafür kann der Operationsverstärker OP beispielsweise auch einen dessen (Spannungs-)Ausgang auf dessen (Spannungs-)Eingang rückkoppelnden, insb. nämlich geschalteten, (Rückkoppel-)Kondensator Cf aufweisen, beispielsweise mit einer (Rückkoppel-)Kapazität, die nicht weniger 0,1 pF und/oder nicht mehr als 100 pF beträgt. To provide the first electrical (measurement) voltage u1, the measuring system electronics 2, according to a further embodiment of the invention, has at least one operational amplifier OP, for example, a FET or a CMOS operational amplifier. Furthermore, the first sensor element C1 is electrically connected to a (high-impedance) (voltage) input of the operational amplifier OP by means of the first and second connecting lines 401, 402, in particular forming a charge-to-voltage converter of the measuring system electronics 2, and the operational amplifier is configured to deliver the first electrical (measurement) voltage u1 at a (voltage) output (when the measuring system electronics is operating in the first operating mode). For this purpose, the operational amplifier OP can, for example, also have a (feedback) capacitor Cf which feeds back its (voltage) output to its (voltage) input, in particular a switched (feedback) capacitor, for example with a (feedback) capacitance which is not less than 0.1 pF and/or not more than 100 pF.

Zum Bereitstellen der zweiten elektrische (Meß-)Spannung u2 wiederum weist die Meßsystem-Elektronik 2 nach einerweiteren Ausgestaltung der Erfindung wenigstens eine, beispielsweise auch schaltbare, (elektronische) Stromquelle auf. Zudem ist das zweite Sensorelement R1 mittels der dritten und vierten Verbindungsleitungen 403, 404 an einen (Strom-)Ausgang der Stromquelle elektrisch angeschlossen und ist die Stromquelle eingerichtet, den (Meß-)Strom i2 zu liefern, insb. derart, daß der (Meß-)Strom ein eingeprägter bzw. auf einen Sollwert geregelter Strom ist. Anstelle der vorbezeichneten Stromquelle kann die Meßsystem-Elektronik 2 beispielsweise auch wenigstens eine, ggf. auch schaltbare (elektronische) Spannungsquelle VREF aufweisen, die - wie auch in Fig. 3 schematisch dargestellt - mit einem Ausgang und mittels der dritten und vierten Verbindungsleitungen 403, 404 an das zweite Sensorelement R1 elektrisch angeschlossen und eingerichtet ist, den (Meß-)Strom i2 zu treiben bzw. eine den (Meß-)Strom i2 treibende (eingeprägte) Spannung zu liefern. Alternativ oder in Ergänzung kann die Meßsystem-Elektronik 2 ferner wenigstens ein einen, insb. bei einer Temperatur von 20°C nicht weniger als 1000 Q und/oder nicht mehr als 10 kQ betragenden, elektrischen (Referenz-)Widerstand aufweisendes elektrisch mit dem zweiten Sensorelement R1 verbundenes, insb. elektrisch in Reihe zum zweiten Sensorelement R1 geschaltetes, (Referenz-)Widerstandselement R2 aufweisen. Zudem kann die Meßsystem-Elektronik 2 eingerichtet sein, während des ersten (Bestromungs-)Zeitintervalls eine von einem Spannungsfall über dem (Referenz-)Widerstandselement R2 abhängige elektrische dritte (Referenz-)Spannung u3 zu erfassen und auszuwerten, insb. nämlich zu digitalisieren und/oder die Referenz-Spannung u3 repräsentierende (digitale) dritte Spannungs-Meßwerte zu ermitteln. Darüberhinaus kann die Meßsystem-Elektronik vorteilhaft dafür eingerichtet sein, basierend auf der dritten (Referenz-)Spannung u3 den (Sensor-)Widerstand des zweiten Sensorelements R1 zu ermitteln, beispielsweise nämlich basierend auf den zweiten und dritten Spannungen u2, u3 sowie dem (Referenz-) Widerstand und/oder ratiometrisch. To provide the second electrical (measurement) voltage u2, the measuring system electronics 2, according to a further embodiment of the invention, has at least one (electronic) current source, for example, a switchable one. Furthermore, the second sensor element R1 is electrically connected to a (current) output of the current source via the third and fourth connecting lines 403, 404, and the current source is configured to supply the (measurement) current i2, in particular such that the (measurement) current is an impressed current or a current regulated to a setpoint. Instead of the aforementioned current source, the measuring system electronics 2 can, for example, also have at least one, possibly also switchable (electronic) voltage source VREF, which - as also schematically shown in Fig. 3 - is electrically connected to the second sensor element R1 via an output and by means of the third and fourth connecting lines 403, 404 and is configured to drive the (measurement) current i2 or to supply an (impressed) voltage driving the (measurement) current i2. Alternatively or additionally, the measuring system electronics 2 can further have at least one (reference) resistance element R2 having an electrical (reference) resistance, particularly at a temperature of 20°C, not less than 1000 Ω and/or not more than 10 kΩ, electrically connected to the second sensor element R1, particularly electrically connected in series with the second sensor element R1. In addition, the measuring system electronics 2 can be configured to detect and evaluate, during the first (current supply) time interval, an electrical third (reference) voltage u3 dependent on a voltage drop across the (reference) resistance element R2, in particular to digitize it and/or to determine (digital) third voltage measured values representing the reference voltage u3. Furthermore, the measuring system electronics can advantageously be configured to determine the (sensor) resistance of the second sensor element R1 based on the third (reference) voltage u3, for example based on the second and third voltages u2, u3 and the (reference) resistance and/or ratiometrically.

Nicht zuletzt für den vorbezeichneten Fall, daß die Verbindungsleitungen 401 , 402, 403, 404 zumindest teilweise ungeschirmt sind und ein kleinster Abstand zwischen wenigstens einer der ersten und zweiten Verbindungsleitungen und wenigstens einer der dritten und vierten Verbindungsleitungen weniger als 5 mm beträgt, ist wenigstens eine, insb. auch jede, der ersten und zweiten Verbindungsleitungen 401 , 402 mit wenigstens einer, insb. auch jeder, der dritten und vierten Verbindungsleitungen 403, 404 (signal-)gekoppelt; dies insb. kapazitiv und/oder in der Weise, daß der vorbezeichnete, u.a. auch durch die dritten und vierten Not least for the aforementioned case that the connecting lines 401, 402, 403, 404 are at least partially unshielded and a smallest distance between at least one of the first and second connecting lines and at least one of the third and fourth connecting lines is less than 5 mm, at least one, in particular each, of the first and second connecting lines 401, 402 is (signal-)coupled to at least one, in particular each, of the third and fourth connecting lines 403, 404; this in particular capacitively and/or in such a way that the aforementioned, inter alia also by the third and fourth

Verbindungsleitungen 403, 404 fließende (Meß-)Strom i2 bzw. dessen zeitliche Änderungen (Spannungs-)Störungen in den ersten und zweiten Meßleitungen 401 , 402, mithin in der ersten elektrischen (Meß-)Spannung u1 bewirken können bzw. bewirken. Um durch eine derartige (Signal-)Einkopplung von den dritten und/oder vierten Verbindungsleitungen 403, 404 in die ersten und/oder zweiten Verbindungsleitungen 401 , 402 allfällig verursachte Störspannungen, insb. aber auch von damit einhergehenden Meßfehler bei für die erste Meßgröße x1 ermittelten Meßwerten, zu minimieren bzw. zu vermeiden ist die Meßsystem-Elektronik 2 beim erfindungsgemäßen Meßsystem ferner eingerichtet, keinen basierend auf der während der vierten und fünften (Übergangs-)Zeitintervalle erfassten ersten (Meß-)Spannung ermittelten (qualifizierten) Meßwert XM für die sekundären und/oder ersten primären (Prozeß-)Meßgrößen auszugeben bzw. keinen Meßwert für die sekundären und/oder ersten primären (Prozeß-)Meßgröße basierend auf der während der vierten und fünften (Übergangs-)Zeitintervalle anliegenden ersten elektrischen (Meß-)Spannung zu ermitteln. Alternativ oder in Ergänzung kann die Meßsystem-Elektronik beim erfindungsgemäßen Meßsystem auch eingerichtet sein, während des vierten (Übergangs-)Zeitintervalls (qualifizierte) Meßwerte für die sekundären und/oder ersten primären (Prozeß-)Meßgrößen basierend auf einer zuvor während des zweiten Zeitintervalls erfassten ersten (Meß-)Spannung u1 zu ermitteln und/oder während des fünften (Übergangs-)Zeitintervalls (qualifizierte) Meßwerte für die sekundären und/oder ersten primären (Prozeß-)Meßgrößen basierend auf einer zuvor während des ersten Zeitintervalls t1 erfassten ersten (Meß-)Spannung u1 zu ermitteln. Nach einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung ist die Meßsystem-Elektronik 2 zudem eingerichtet, (qualifizierte) Meßwerte XM für die sekundären und/oder ersten primären (Prozeß-)Meßgrößen basierend auf einer während des (Bestromungs-)Zeitintervalls t1 erfassten ersten (Meß-)Spannung u1 zu ermitteln, insb. nämlich zu ermitteln und auszugeben. Alternativ kann die Meßsystem-Elektronik 2, falls erforderlich, etwa zwecks Verringerung der umgesetzten elektrischen Leistung und/oder zwecks Vermeidung von Meßfehlern, beispielsweise auch eingerichtet sein, keinen basierend auf der während des (Bestromungs-)Zeitintervalls t1 erfassten ersten (Meß-)Spannung u1 ermittelten (qualifizierten) Meßwert für die sekundären und/oder ersten primären (Prozeß-)Meßgröße x1 auszugeben und/oder keinen Meßwert für die sekundären und/oder ersten primären (Prozeß-)Meßgrößen basierend auf der während des (Bestromungs-)Zeitintervalls anliegenden ersten elektrischen (Meß-)Spannung u1 zu ermitteln. Darüberhinaus kann die Meßsystem-Elektronik 2 vorteilhaft auch eingerichtet sein, basierend auf zumindest der zweiten elektrischen (Meß-)Spannung u2, insb. basierend auf sowohl der zweiten elektrischen (Meß-)Spannung u2 als auch der in der vorbezeichneten Weise ermittelten ersten elektrischen (Meß-)Spannung u1 , einen oder mehrere (digitale) Meßwerte für die zweite primäre (Prozeß-)Meßgröße x2 zu ermitteln, insb. nämlich auch als qualifizierte Meßwerte des Meßsystems 2 auszugeben. The (measurement) current i2 flowing through the connecting lines 403, 404 or its temporal changes can or do cause (voltage) disturbances in the first and second measuring lines 401, 402, and thus in the first electrical (measurement) voltage u1. In order to minimize or avoid any interference voltages caused by such (signal) coupling from the third and/or fourth connecting lines 403, 404 into the first and/or second connecting lines 401, 402, in particular but also any associated measurement errors in measured values determined for the first measured variable x1, the measuring system electronics 2 in the measuring system according to the invention is further configured not to output a (qualified) measured value XM for the secondary and/or first primary (process) measured variables determined on the basis of the first (measurement) voltage detected during the fourth and fifth (transition) time intervals, or not to determine a measured value for the secondary and/or first primary (process) measured variables based on the first electrical (measurement) voltage present during the fourth and fifth (transition) time intervals. Alternatively or additionally, the measuring system electronics in the measuring system according to the invention can also be configured to determine (qualified) measured values for the secondary and/or first primary (process) measured variables during the fourth (transition) time interval based on a first (measurement) voltage u1 previously acquired during the second time interval and/or to determine (qualified) measured values for the secondary and/or first primary (process) measured variables during the fifth (transition) time interval based on a first (measurement) voltage u1 previously acquired during the first time interval t1. According to a further embodiment of the invention, the measuring system electronics 2 is also configured to determine (qualified) measured values XM for the secondary and/or first primary (process) measured variables based on a first (measurement) voltage u1 previously acquired during the first time interval t1. first (measurement) voltage u1, in particular to determine and output it. Alternatively, if necessary, for example in order to reduce the converted electrical power and/or to avoid measurement errors, the measuring system electronics 2 can also be configured, for example, not to output a (qualified) measured value for the secondary and/or first primary (process) measured variable x1 determined based on the first (measurement) voltage u1 detected during the (current supply) time interval t1 and/or not to determine a measured value for the secondary and/or first primary (process) measured variables based on the first electrical (measurement) voltage u1 present during the (current supply) time interval. Furthermore, the measuring system electronics 2 can advantageously also be configured to determine one or more (digital) measured values for the second primary (process) measured variable x2 based on at least the second electrical (measurement) voltage u2, in particular based on both the second electrical (measurement) voltage u2 and the first electrical (measurement) voltage u1 determined in the manner described above, in particular to output them as qualified measured values of the measuring system 2.

Zum (Leckage freien bzw. Fluid dichten) Anbinden des Meßsystems an einen den Meßstoff enthaltenden bzw. führenden Prozeß, insb. derart, daß eine (in Meßeffekten resultierende) Wirkbeziehung zwischen dem (fluiden) Meßstoff und zumindest den ersten und zweiten Sensorelemente etabliert werden kann bzw. im Betrieb des Meßsystems etabliert ist, umfaßt das Meßsystem nach einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung weiters ein, beispielsweise mittels einer Membran und/oder einer Hülse und/oder einer Platte gebildetes, (Prozeß-)Koppelelement 11 . Nach einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung besteht das Koppelelement zumindest teilweise, bespielsweise vollständig, aus Metall, insb. einem (Edel-)Stahl und/oder einer Nickelbasis-Legierung. Das Koppelelement 11 ist im besonderen dafür eingerichtet, (im Betrieb des Meßsystems) vom vorbezeichneten Meßstoff kontaktiert, beispielsweise nämlich an- und/oder umströmt, zu werden; dies insb. in der Weise, daß das (Prozeß-)Koppelelement 11 eine von einer (Meßstoff-)Temperatur des Meßstoffs abhängige (Koppelelement-)Temperatur und/oder eine von einem (Meßstoff-)Druck abhängige (elastische) Dehnung aufweist. Dementsprechend ist das vorbezeichnete Koppelelement nach einer weiteren Ausgestaltung insb. auch eingerichtet, auf eine Änderung eines (Meßstoff-)Drucks des Meßstoffs mit einer, beispielsweise auch biaxialen und/oder elastischen, Dehnung auf eine Änderung einer (Meßstoff-)Temperatur des Meßstoffs mit einer Änderung einer (Koppelelement-)Temperatur zu reagieren, beispielsweise auch derart, daß die (Koppelelement-)Temperatur des Koppelelements stationär von einer stationären (Meßstoff-)Temperatur des Meßstoffs um weniger als 2 K (Kelvin) abweicht. Beispielsweise kann das Koppelelement 11 eingerichtet sein, zumindest teilweise in ein Lumen (3‘) eines (dem Führen eines fluiden Meßstoffs dienlichen) Rohrs (3) eingesetzt zu werden, insb. nämlich durch eine Öffnung (3a) in einer das Lumen umhüllenden Rohrwand (3*) hindurch in das Lumen eingesetzt und an nämlicher Rohrwand (wieder lösbar) fixiert zu werden. Nicht zuletzt für den vorbezeichneten Fall, daß das Meßsystem als Vortex-Durchfluß-Meßgerät ausgebildet ist, kann das Koppelelement 11 , wie auch in Fig. 2 schematisch dargestellt, beispielsweise als eine in das Lumen 3‘ des vorbezeichneten Rohrs 3 hineinragende Sensorfahne ausgebildet sein. Alternativ kann das Koppelelement 11 beispielsweise aber auch eingerichtet sein, zumindest teilweise in ein Lumen eines (dem Führen eines fluiden Meßstoffs dienlichen) Behälters, insb. eines Tanks, eingesetzt zu werden, insb. nämlich durch eine Öffnung in einer das Lumen umhüllenden Behälterwand hindurch in das Lumen eingesetzt und an nämlicher Behälterwand (wieder lösbar) fixiert zu werden. Für den vorbezeichneten Fall, daß das Meßsystem einen Anschlußstutzen 30 auweist, kann das Koppelelement 11 beispielsweise auch anteilig innerhalb des Anschlußstutzen angeordnet und/oder mit dem Anschlußstutzen (mechanisch) verbunden sein, beispielsweise nämlich an einem zum vorbezeichneten Elektronik-Gehäuse 20 distalen Stutzenende. Nach einerweiteren Ausgestaltung der Erfindung sind zudem das Koppelelement 11 und das erste Sensorelement C1 zumindest mechanisch aneinander gekoppelt bzw. ist das erste Sensorelement C1 als ein (integraler) Bestandteil des Koppelelements 11 ausgebildet; dies insb. jeweils in der Weise, daß (im Betrieb des Meßsystems) die erste elektrische (Meß-)Spannung u1 zumindest von der Dehnung des Koppelelements 11 abhängig ist bzw. daß eine Änderung einer Dehnung des Koppelelements 11 eine Änderung der ersten elektrische (Meß-)Spannung u1 bewirkt. Für den vorbezeichneten Fall, daß das erste Sensorelement 11 mittels wenigstens eines als Plattenkondensator ausgebildeten (Meß-)Kondensators gebildet ist kann wenigstens eine (Kondensator-)Elektrode des (Meß-)Kondensators, beispielsweise nämlich eine bewegliche (Kondensator-)Elektrode, mit dem Koppelelement mechanisch verbunden bzw. mittels des Koppelelements gebildet sein. Nach einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung können ferner auch das Koppelelement 11 und das zweite Sensorelement R1 zumindest thermisch, insb. nämlich sowohl thermisch als auch mechanisch, aneinander gekoppelt sein; dies insb. auch in der Weise, daß die zweite elektrische (Meß-)Spannung u2 zumindest von einer (Koppelelement-)Temperatur des Koppelelements abhängig ist bzw. daß eine Änderung einer (Koppelelement-)Temperatur des Koppelelements eine Änderung des elektrischen (Sensor-)Widerstands des zweiten Sensorelements R1 bewirkt. For the (leakage-free or fluid-tight) connection of the measuring system to a process containing or conducting the medium, in particular in such a way that an operative relationship (resulting in measuring effects) between the (fluid) medium and at least the first and second sensor elements can be established or is established during operation of the measuring system, the measuring system according to a further embodiment of the invention further comprises a (process) coupling element 11, formed for example by means of a membrane and/or a sleeve and/or a plate. According to a further embodiment of the invention, the coupling element consists at least partially, for example completely, of metal, in particular a (stainless) steel and/or a nickel-based alloy. The coupling element 11 is particularly designed to be contacted by the aforementioned medium (during operation of the measuring system), for example to be flowed against and/or around; This is particularly the case in such a way that the (process) coupling element 11 has a (coupling element) temperature dependent on a (measuring medium) temperature of the measuring medium and/or an (elastic) expansion dependent on a (measuring medium) pressure. Accordingly, according to a further embodiment, the aforementioned coupling element is also particularly configured to react to a change in a (measuring medium) pressure of the measuring medium with an expansion, for example, also biaxial and/or elastic, and to a change in a (measuring medium) temperature of the measuring medium with a change in a (coupling element) temperature, for example also in such a way that the (coupling element) temperature of the coupling element deviates from a stationary (measuring medium) temperature of the measuring medium by less than 2 K (Kelvin). For example, the coupling element 11 can be configured to be inserted at least partially into a lumen (3') of a tube (3) (serving to convey a fluid medium), in particular through an opening (3a) in a tube wall (3*) surrounding the lumen into the lumen and fixed (removably) to the same tube wall. Not least for the aforementioned case, that the measuring system is designed as a vortex flow meter, the coupling element 11 can, as also schematically shown in Fig. 2, be designed, for example, as a sensor flag protruding into the lumen 3' of the aforementioned tube 3. Alternatively, the coupling element 11 can, for example, also be configured to be inserted at least partially into a lumen of a container (used to guide a fluid measuring substance), in particular a tank, in particular through an opening in a container wall enclosing the lumen into the lumen and to be fixed (removably) to the same container wall. For the aforementioned case in which the measuring system has a connecting piece 30, the coupling element 11 can, for example, also be arranged partially within the connecting piece and/or be (mechanically) connected to the connecting piece, for example at a piece end distal to the aforementioned electronics housing 20. According to a further embodiment of the invention, the coupling element 11 and the first sensor element C1 are at least mechanically coupled to one another, or the first sensor element C1 is designed as an (integral) component of the coupling element 11; this is particularly the case in such a way that (during operation of the measuring system) the first electrical (measurement) voltage u1 is dependent at least on the strain of the coupling element 11, or that a change in the strain of the coupling element 11 causes a change in the first electrical (measurement) voltage u1. For the aforementioned case in which the first sensor element 11 is formed by means of at least one (measurement) capacitor designed as a plate capacitor, at least one (capacitor) electrode of the (measurement) capacitor, for example a movable (capacitor) electrode, can be mechanically connected to the coupling element or formed by means of the coupling element. According to a further advantageous embodiment of the invention, the coupling element 11 and the second sensor element R1 can also be coupled to one another at least thermally, in particular both thermally and mechanically; this in particular also in such a way that the second electrical (measurement) voltage u2 is dependent at least on a (coupling element) temperature of the coupling element or that a change in a (coupling element) temperature of the coupling element causes a change in the electrical (sensor) resistance of the second sensor element R1.

Claims

P A T E N T A N S P R Ü C H E PATENT CLAIMS 1. Meßsystem zum Messen einer (zeitlich veränderlichen) ersten primären (Prozeß-)Meßgröße (x1), insb. eines (statischen) Drucks eines (in einer Leitung geführten und/oder einem Behälter gehaltenen) fluiden Meßstoffs und/oder einer zeitlichen Änderung nämlichen Drucks, sowie einer von der ersten primären (Prozeß-)Meßgröße verschiedenen (zeitlich veränderlichen) zweiten primären (Prozeß-)Meßgröße (x2), insb. einer Temperatur eines (in einer Leitung geführten) fluiden Meßstoffs, und/oder zum Messen einer von wenigstens einer der ersten und zweiten primären (Prozeß-)Meßgrößen abgeleiteten (zeitlich veränderlichen) sekundären (Prozeß-)Meßgröße (y1), insb. eines Massestroms eines in einer Leitung geführten fluiden Meßstoffs oder eines Füllstandes eines einem Behälter gehaltenen fluiden Meßstoffs, welches Meßsystem umfaßt: 1. A measuring system for measuring a (time-varying) first primary (process) measured variable (x1), in particular a (static) pressure of a fluid medium (conducted in a line and/or held in a container) and/or a temporal change in the same pressure, as well as a (time-varying) second primary (process) measured variable (x2) different from the first primary (process) measured variable, in particular a temperature of a fluid medium (conducted in a line), and/or for measuring a (time-varying) secondary (process) measured variable (y1) derived from at least one of the first and second primary (process) measured variables, in particular a mass flow of a fluid medium conveyed in a line or a fill level of a fluid medium held in a container, which measuring system comprises: - eine, insb. mit einer maximalen elektrischen Leistung von weniger als 1 W (Watt) betriebenen und/oder an eine (4-20 mA-)2-Drahtleitung angeschlossene, Meßsystem-Elektronik (2); - a measuring system electronics (2), in particular one operated with a maximum electrical power of less than 1 W (watt) and/or connected to a (4-20 mA) 2-wire line; - wenigstens ein, insb. kapazitives und/oder passives, erstes Sensorelement (C1) zum Erfassen der ersten primären (Prozeß-)Meßgröße; - at least one, in particular capacitive and/or passive, first sensor element (C1) for detecting the first primary (process) measured variable; - wenigstens ein, insb. resistives, passives zweites Sensorelement (R1) zum Erfassen der zweiten primären (Prozeß-)Meßgröße; - at least one, in particular resistive, passive second sensor element (R1) for detecting the second primary (process) measured variable; - sowie erste, zweite, dritte und vierte, insb. jeweils (zumindest) teilweise ungeschirmte und/oder nicht miteinander verdrillter, elektrische Verbindungsleitungen (401 , 402, 403, 404); - and first, second, third and fourth, in particular (at least) partially unshielded and/or not twisted together, electrical connecting lines (401, 402, 403, 404); - wobei das erste Sensorelement mittels der ersten und zweiten Verbindungsleitungen (unter Bildung eines ersten Meßkanals des Meßsystems) an die Meßsystem-Elektronik (2) elektrisch angeschlossen ist, insb. unter Zwischenschaltung einer Durchführung (50); - wobei das zweite Sensorelement mittels der dritten und vierten Verbindungsleitungen (unter Bildung eines zweiten Meßkanals des Meßsystems) an die Meßsystem-Elektronik elektrisch angeschlossen ist, insb. unter Zwischenschaltung einer Durchführung (50), - wherein the first sensor element is electrically connected to the measuring system electronics (2) by means of the first and second connecting lines (forming a first measuring channel of the measuring system), in particular with the interposition of a feedthrough (50); - wherein the second sensor element is electrically connected to the measuring system electronics by means of the third and fourth connecting lines (forming a second measuring channel of the measuring system), in particular with the interposition of a feedthrough (50), - und wobei wenigstens eine, insb. jede, der ersten und zweiten Verbindungsleitungen (401 , 402) mit wenigstens einer, insb. jeder, der dritten und vierten Verbindungsleitungen (403, 404), insb. kapazitiv, (signal-)gekoppelt ist, insb. indem ein kleinster Abstand zwischen wenigstens einer der ersten und zweiten Verbindungsleitungen und wenigstens einer der dritten und vierten Verbindungsleitungen weniger als 5 mm beträgt; - and wherein at least one, in particular each, of the first and second connecting lines (401, 402) is (signal-)coupled to at least one, in particular each, of the third and fourth connecting lines (403, 404), in particular capacitively, in particular by a smallest distance between at least one of the first and second connecting lines and at least one of the third and fourth connecting lines being less than 5 mm; - wobei das erste Sensorelement (C1) eingerichtet ist, insb. im Verbund mit der Meßsystem-Elektronik, eine von der ersten primären (Prozeß-)Meßgröße (x1) abhängige erste elektrische (Meß-)Spannung (u1) zu generieren und/oder einzustellen, - wherein the first sensor element (C1) is configured, in particular in conjunction with the measuring system electronics, to generate and/or adjust a first electrical (measurement) voltage (u1) dependent on the first primary (process) measured variable (x1), - und wobei das zweite Sensorelement (R1) einen, insb. bei einer Temperatur von 20°C nicht weniger als 90 Q und/oder nicht mehr als 1 ,1 kQ betragenden, elektrischen (Sensor-)Widerstand aufweist und eingerichtet ist, einer Änderung der zweiten primären Meßgröße (x2) mit einer Änderung nämlichen Widerstands zu folgen; - and wherein the second sensor element (R1) has an electrical (sensor) resistance, in particular at a temperature of 20°C, of not less than 90 Ω and/or not more than 1.1 kΩ, and is designed to follow a change in the second primary measured variable (x2) with a change in the same resistance; - wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, die erste elektrische (Meß-)Spannung (u1) zeitweise zu erfassen und auszuwerten, insb. nämlich zu digitalisieren und/oder die (Meß-)Spannung repräsentierende (digitale) erste (Spannungs-)Meßwerte (Xu1) zu ermitteln; - wherein the measuring system electronics are configured to temporarily detect and evaluate the first electrical (measurement) voltage (u1), in particular to digitize it and/or to determine (digital) first (voltage) measured values (Xu1) representing the (measurement) voltage; - wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, - the measuring system electronics are set up, - zum vorübergehenden Bewirken eines Spannungsfalls über dem zweiten Sensorelement das zweite Sensorelement zeitweise zu bestromen, - temporarily energising the second sensor element to temporarily cause a voltage drop across the second sensor element, - nämlich während eines vorgegebenen, insb. nicht weniger als 10ms andauernden, ersten (Bestromungs-)Zeitintervalls (t1) einen, insb. eingeprägten und/oder konstanten und/oder eine maximale Stromstärke von nicht weniger als 0,1 mA aufweisenden und/oder im zweiten Sensorelement eine maximale elektrische Leistung von nicht weniger als 0,4 mW umsetzenden, elektrischen (Meß-)Strom (i2) durch das zweite Sensorelement sowie die dritten und vierten Verbindungsleitungen zu treiben - namely, during a predetermined, in particular not less than 10 ms, first (energization) time interval (t1), to drive an electrical (measurement) current (i2) through the second sensor element and the third and fourth connecting lines, in particular an impressed and/or constant and/or having a maximum current of not less than 0.1 mA and/or converting a maximum electrical power of not less than 0.4 mW in the second sensor element - und während eines dem ersten (Bestromungs-)Zeitintervall zeitlich vorausgehenden zweiten Zeitintervalls (t2) wie auch eines dem ersten (Bestromungs-)Zeitintervall zeitlich nachfolgenden dritten Zeitintervalls (t3) das zweite Sensorelement nicht zu bestromen bzw. keinen (Meß-)Strom durch das zweite Sensorelement und die dritten und vierten Verbindungsleitungen zu treiben, derart, daß der (Meß-)Strom zumindest während eines dem zweiten Zeitintervall zeitlich (unmittelbar) nachfolgenden und dem ersten (Bestromungs-)Zeitintervall zeitlich (unmittelbar) vorausgehenden, insb. nicht weniger als 1 ps (Mikrosekunde) andauernden, vierten (Übergangs-)Zeitintervalls (t4) eine (steigende) erste Stromflanke, insb. mit einer zumindest zeitweise und/oder im zeitlichen (arithmetischen) Mittel nicht weniger als 0,1 mA/ps betragenden Stromanstiegsgeschwindigkeit, aufweist und daß der (Meß-)Strom zumindest während eines dem ersten (Bestromungs-)Zeitintervall zeitlich (unmittelbar) nachfolgenden und dem dritten Zeitintervall zeitlich (unmittelbar) vorausgehenden, insb. nicht weniger als 1 ps (Mikrosekunde) andauernden, fünften (Übergangs-)Zeitintervalls (t5) eine (fallende) zweite Stromflanke, insb. mit einer zumindest zeitweise und/oder im zeitlichen (arithmetischen) Mittel nicht weniger als 0,1 mA/ps betragenden Stromabfallgeschwindigkeit, aufweist, - and during a second time interval (t2) preceding the first (energization) time interval and a third time interval (t3) following the first (energization) time interval, not to energize the second sensor element or to drive no (measurement) current through the second sensor element and the third and fourth connecting lines, such that the (measurement) current at least during a fourth time interval (immediately) following the second time interval and preceding the first (energization) time interval, in particular lasting not less than 1 ps (microsecond). (transition) time interval (t4) has a (rising) first current edge, in particular with a current rise rate that is at least temporarily and/or on average (arithmetic time) not less than 0.1 mA/ps, and that the (measurement) current has a (falling) second current edge, in particular with a current fall rate that is at least temporarily and/or on average (arithmetic time) not less than 0.1 mA/ps, at least during a fifth (transition) time interval (t5) that (immediately) follows the first (current supply) time interval and (immediately) precedes the third time interval, in particular lasting not less than 1 ps (microsecond), - und wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, während des ersten (Bestromungs-)Zeitintervalls (t1) eine vom Spannungsfall über dem zweiten Sensorelement abhängige zweite elektrischen (Meß-)Spannung (u2) zu erfassen und auszuwerten, insb. nämlich zu digitalisieren und/oder die (Meß-)Spannung repräsentierende (digitale) zweite (Spannungs-)Meßwerte (Xu2) zu ermitteln; - and wherein the measuring system electronics are configured to detect and evaluate a second electrical (measurement) voltage (u2) dependent on the voltage drop across the second sensor element during the first (current supply) time interval (t1), in particular to digitize it and/or to determine (digital) second (voltage) measured values (Xu2) representing the (measurement) voltage; - wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, basierend auf zumindest der ersten elektrischen (Meß-)Spannung (u1), insb. basierend auf sowohl der ersten elektrischen (Meß-)Spannung als auch zweiten elektrischen (Meß-)Spannung (u2), einen oder mehrere (digitale) Meßwerte für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße (x1) und/oder einen oder mehrere (digitale) Meßwerte für die sekundäre (Prozeß-)Meßgröße zu ermitteln, insb. nämlich zu ermitteln und als qualifizierte Meßwerte (XM) des Meßsystems auszugeben, - wherein the measuring system electronics are configured to determine, based on at least the first electrical (measurement) voltage (u1), in particular based on both the first electrical (measurement) voltage and the second electrical (measurement) voltage (u2), one or more (digital) measured values for the first primary (process) measured variable (x1) and/or one or more (digital) measured values for the secondary (process) measured variable, in particular to determine them and output them as qualified measured values (XM) of the measuring system, - und wobei die Meßsystem-Elektronik, insb. zum Vermeiden von durch (Signal-)Einkopplung von den dritten und/oder vierten Verbindungsleitungen in die ersten und/oder zweiten Verbindungsleitungen verursachten Meßfehlern bei für die erste Meßgröße (x1) ermittelten Meßwerten, eingerichtet ist: - and wherein the measuring system electronics, in particular to avoid measurement errors caused by (signal) coupling from the third and/or fourth connecting lines into the first and/or second connecting lines in measured values determined for the first measured variable (x1), are configured: - keinen basierend auf der während der vierten und fünften (Übergangs-)Zeitintervalle erfassten ersten (Meß-)Spannung (u1) ermittelten (qualifizierten) Meßwert für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße auszugeben, - not to output a (qualified) measured value for the first primary (process) measured variable based on the first (measurement) voltage (u1) recorded during the fourth and fifth (transition) time intervals, - und/oder keinen Meßwert für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße (x1 ) basierend auf der während der vierten und fünften (Übergangs-)Zeitintervalle anliegenden ersten elektrischen (Meß-)Spannung (u1) zu ermitteln, - and/or not to determine a measured value for the first primary (process) measured variable (x1) based on the first electrical (measurement) voltage (u1) applied during the fourth and fifth (transition) time intervals, - und/oder keinen basierend auf der während der vierten und fünften (Übergangs-)Zeitintervalle erfassten ersten (Meß-)Spannung (u1) ermittelten (qualifizierten) Meßwert für die sekundäre (Prozeß-)Meßgröße (y1) auszugeben, - and/or not to output a (qualified) measured value for the secondary (process) measured variable (y1) based on the first (measurement) voltage (u1) recorded during the fourth and fifth (transition) time intervals, - und/oder keinen Meßwert für die sekundäre (Prozeß-)Meßgröße (y1 ) basierend auf der während der vierten und fünften (Übergangs-)Zeitintervalle anliegenden ersten elektrischen (Meß-)Spannung (u1) zu ermitteln, - und/oder während des vierten (Übergangs-)Zeitintervalls (qualifizierte) Meßwerte (XM) für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße (x1) und/oder für die sekundäre (Prozeß-)Meßgröße (y1) basierend auf einer zuvor während des zweiten Zeitintervalls erfassten ersten (Meß-)Spannung zu ermitteln, - and/or not to determine a measured value for the secondary (process) measured variable (y1) based on the first electrical (measurement) voltage (u1) present during the fourth and fifth (transition) time intervals, - and/or during the fourth (transition) time interval, to determine (qualified) measured values (XM) for the first primary (process) measured variable (x1) and/or for the secondary (process) measured variable (y1) based on a first (measurement) voltage previously recorded during the second time interval, - und/oder während des fünften (Übergangs-)Zeitintervalls (qualifizierte) Meßwerte (XM) für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße (x1) und/oder für die sekundäre (Prozeß-)Meßgröße (y1) basierend auf einer zuvor während des ersten Zeitintervalls (t1) erfassten ersten (Meß-)Spannung (u1) zu ermitteln. - and/or during the fifth (transition) time interval to determine (qualified) measured values (XM) for the first primary (process) measured variable (x1) and/or for the secondary (process) measured variable (y1) based on a first (measurement) voltage (u1) previously recorded during the first time interval (t1). 2. Meßsystem nach Anspruch 1 , wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist: 2. Measuring system according to claim 1, wherein the measuring system electronics are arranged: - keinen basierend auf der während des (Bestromungs-)Zeitintervalls erfassten ersten (Meß-)Spannung ermittelten (qualifizierten) Meßwert für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße auszugeben, - not to output a (qualified) measured value for the first primary (process) measured variable based on the first (measurement) voltage recorded during the (current supply) time interval, - und/oder keinen Meßwert für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße basierend auf der während des (Bestromungs-)Zeitintervalls anliegenden ersten elektrischen (Meß-)Spannung zu ermitteln,- and/or not to determine a measured value for the first primary (process) measured variable based on the first electrical (measurement) voltage applied during the (current supply) time interval, - und/oder keinen basierend auf der während des (Bestromungs-)Zeitintervalls erfassten ersten (Meß-)Spannung ermittelten (qualifizierten) Meßwert für die sekundäre (Prozeß-)Meßgröße auszugeben, - and/or not to output a (qualified) measured value for the secondary (process) measured variable based on the first (measurement) voltage recorded during the (current supply) time interval, - und/oder keinen Meßwert für die sekundäre (Prozeß-)Meßgröße basierend auf der während des (Bestromungs-)Zeitintervalls anliegenden ersten elektrischen (Meß-)Spannung zu ermitteln. - and/or not to determine a measured value for the secondary (process) measured variable based on the first electrical (measurement) voltage applied during the (energization) time interval. 3. Meßsystem nach Anspruch 1 , wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist: 3. Measuring system according to claim 1, wherein the measuring system electronics is arranged: - (qualifizierte) Meßwerte für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße und/oder für die sekundäre (Prozeß-)Meßgröße basierend auf einer während des ersten Zeitintervalls erfassten ersten (Meß-)Spannung zu ermitteln; - to determine (qualified) measured values for the first primary (process) measured variable and/or for the secondary (process) measured variable based on a first (measurement) voltage recorded during the first time interval; - und/oder basierend auf einer während des (Bestromungs-)Zeitintervalls erfassten ersten (Meß-)Spannung ermittelte (qualifizierte) Meßwerte für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße und/oder für die sekundäre (Prozeß-)Meßgröße auszugeben. - and/or to output (qualified) measured values for the first primary (process) measured variable and/or for the secondary (process) measured variable based on a first (measurement) voltage recorded during the (current supply) time interval. 4. Meßsystem nach einem der vorherigen Ansprüche, 4. Measuring system according to one of the preceding claims, - wobei das erste Sensorelement eine, insb. bei einer Temperatur von 20°C nicht weniger als 10pF und/oder nicht mehr als 100 pF betragende, elektrische (Sensor-)Kapazität aufweist und eingerichtet ist, einer Änderung der ersten primäre (Prozeß-)Meßgröße mit einer Änderung nämlicher (Sensor-)Kapazität zu folgen, - wherein the first sensor element has an electrical (sensor) capacitance, in particular at a temperature of 20°C, of not less than 10 pF and/or not more than 100 pF, and is configured to follow a change in the first primary (process) measured variable with a change in the same (sensor) capacitance, - und wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, zum Bewirken der ersten elektrischen (Meß-)Spannung die Kapazität des ersten Sensorelements, insb. zumindest während der zweiten und dritten Zeitintervalle, elektrisch aufzuladen bzw. aufgeladen zu halten. - and wherein the measuring system electronics are configured to electrically charge or keep charged the capacitance of the first sensor element, in particular at least during the second and third time intervals, in order to effect the first electrical (measurement) voltage. 5. Meßsystem nach dem vorherigen Anspruch, wobei die erste elektrische (Meß-)Spannung (im wesentlichen) proportional zu einer elektrischen Ladung der (Sensor-)Kapazität des ersten Sensorelements ist. 5. Measuring system according to the preceding claim, wherein the first electrical (measurement) voltage is (substantially) proportional to an electrical charge of the (sensor) capacitance of the first sensor element. 6. Meßsystem nach einem der vorherigen Ansprüche, wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, die erste (Meß-)Spannung repräsentierende (Spannungs-)Meßwerte zu ermitteln, insb. nämlich zu ermitteln und in einem (flüchtigen) digitalen Datenspeicher zu speichern. 6. Measuring system according to one of the preceding claims, wherein the measuring system electronics are configured to determine (voltage) measured values representing the first (measurement) voltage, in particular to determine them and to store them in a (volatile) digital data memory. 7. Meßsystem nach dem vorherigen Anspruch, wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, einen oder mehrere Meßwerte für die zweite primäre (Prozeß-)Meßgröße unter Verwendung eines oder mehrerer die erste (Meß-)Spannung repräsentierende (Spannungs-)Meßwerte zu ermitteln. 7. Measuring system according to the preceding claim, wherein the measuring system electronics are configured to determine one or more measured values for the second primary (process) measured variable using one or more (voltage) measured values representing the first (measurement) voltage. 8. Meßsystem nach einem der vorherigen Ansprüche, wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, die zweite (Meß-)Spannung repräsentierende (Spannungs-)Meßwerte zu ermitteln, insb. nämlich zu ermitteln und in einem (flüchtigen) digitalen Datenspeicher zu speichern. 8. Measuring system according to one of the preceding claims, wherein the measuring system electronics are configured to determine (voltage) measured values representing the second (measurement) voltage, in particular to determine them and to store them in a (volatile) digital data memory. 9. Meßsystem nach dem vorherigen Anspruch, 9. Measuring system according to the previous claim, - wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, einen oder mehrere Meßwerte für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße unter Verwendung eines oder mehrerer die zweite (Meß-)Spannung repräsentierende (Spannungs-)Meßwerte zu ermitteln; und/oder - wherein the measuring system electronics are configured to determine one or more measured values for the first primary (process) measured variable using one or more (voltage) measured values representing the second (measurement) voltage; and/or - wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, einen oder mehrere Meßwerte für die erste sekundäre (Prozeß-)Meßgröße unter Verwendung eines oder mehrerer die zweite (Meß-)Spannung repräsentierende (Spannungs-)Meßwerte zu ermitteln; und/oder - wherein the measuring system electronics are configured to determine one or more measured values for the first secondary (process) measured variable using one or more (voltage) measured values representing the second (measurement) voltage; and/or - wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, einen oder mehrere Meßwerte für die zweite primäre (Prozeß-)Meßgröße unter Verwendung eines oder mehrerer die zweite (Meß-)Spannung repräsentierende (Spannungs-)Meßwerte zu ermitteln. - wherein the measuring system electronics are configured to determine one or more measured values for the second primary (process) measured variable using one or more (voltage) measured values representing the second (measurement) voltage. 10. Meßsystem nach einem der vorherigen Ansprüche, wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, basierend auf der zweiten elektrischen (Meß-)Spannung einen oder mehrere, insb. für die Ermittlung wenigstens eines Meßwerts für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße und/oder die sekundäre (Prozeß-)Meßgröße jeweils als Hilfsmeßwert dienliche, (digitale) Meßwerte für die zweite primäre (Prozeß-)Meßgröße zu ermitteln, insb. nämlich zu ermitteln und in einem (flüchtigen) digitalen Datenspeicher zu speichern. 10. Measuring system according to one of the preceding claims, wherein the measuring system electronics are configured to determine, based on the second electrical (measurement) voltage, one or more (digital) measured values for the second primary (process) measured variable, in particular for determining at least one measured value for the first primary (process) measured variable and/or the secondary (process) measured variable, each serving as an auxiliary measured value, in particular to determine and store them in a (volatile) digital data memory. 11 . Meßsystem nach dem vorherigen Anspruch, wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, einen oder mehrere Meßwerte für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße unter Verwendung eines oder mehrerer Meßwerte für die zweite primäre (Prozeß-)Meßgröße zu ermitteln. 11. Measuring system according to the preceding claim, wherein the measuring system electronics are configured to determine one or more measured values for the first primary (process) measured variable using one or more measured values for the second primary (process) measured variable. 12. Meßsystem nach einem der vorherigen Ansprüche, wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, basierend auf zumindest der zweiten elektrischen (Meß-)Spannung, insb. basierend auf sowohl der zweiten elektrischen (Meß-)Spannung als auch ersten elektrischen (Meß-)Spannung, einen oder mehrere (digitale) Meßwerte für die zweite primäre (Prozeß-)Meßgröße zu ermitteln, insb. nämlich zu ermitteln und als qualifizierte Meßwerte des Meßsystems auszugeben. 12. Measuring system according to one of the preceding claims, wherein the measuring system electronics are configured to determine one or more (digital) measured values for the second primary (process) measured variable based on at least the second electrical (measurement) voltage, in particular based on both the second electrical (measurement) voltage and the first electrical (measurement) voltage, in particular to determine them and output them as qualified measured values of the measuring system. 13. Meßsystem nach einem der vorherigen Ansprüche, 13. Measuring system according to one of the preceding claims, - wobei jede der ersten und zweiten Verbindungsleitungen jeweils zumindest teilweise, insb. vollständig, ungeschirmt sind; und/oder - wherein each of the first and second connecting lines is at least partially, in particular completely, unshielded; and/or - wobei jede der dritten und vierten Verbindungsleitungen jeweils zumindest teilweise, insb. vollständig, ungeschirmt sind; und/oder - wherein each of the third and fourth connecting lines is at least partially, in particular completely, unshielded; and/or - wobei jede der ersten und zweiten Verbindungsleitungen jeweils zumindest teilweise mittels jeweils einer auf einer (flexiblen) Leiterplatte angeordneten Leiterbahn gebildet ist; und/oder- wherein each of the first and second connecting lines is formed at least partially by means of a conductor track arranged on a (flexible) printed circuit board; and/or - wobei jede der dritten und vierten Verbindungsleitungen jeweils zumindest teilweise mittels jeweils einer auf einer (flexiblen) Leiterplatte angeordneten Leiterbahn gebildet ist; und/oder - wherein each of the third and fourth connecting lines is formed at least partially by means of a conductor track arranged on a (flexible) printed circuit board; and/or - wobei jede der ersten, zweiten, dritten und vierten Verbindungsleitungen jeweils zumindest teilweise mittels jeweils einer auf ein und derselben (flexiblen) Leiterplatte angeordneten Leiterbahn gebildet ist; und/oder - wherein each of the first, second, third and fourth connecting lines is formed at least partially by means of a conductor track arranged on one and the same (flexible) printed circuit board; and/or - wobei die ersten und zweiten Verbindungsleitungen zumindest abschnittsweise zueinander parallel verlaufen; und/oder - wherein the first and second connecting lines run parallel to each other at least in sections; and/or - wobei die dritten und vierten Verbindungsleitungen zumindest abschnittsweise zueinander parallel verlaufen; und/oder - wherein the third and fourth connecting lines run parallel to each other at least in sections; and/or - wobei die ersten und dritten Verbindungsleitungen zumindest abschnittsweise zueinander parallel verlaufen; und/oder - wherein the first and third connecting lines run parallel to each other at least in sections; and/or - wobei die ersten und vierten Verbindungsleitungen zumindest abschnittsweise zueinander parallel verlaufen; und/oder - wherein the first and fourth connecting lines run parallel to each other at least in sections; and/or - wobei die ersten, zweiten, dritten und vierten Verbindungsleitungen zumindest abschnittsweise zueinander parallel verlaufen. - wherein the first, second, third and fourth connecting lines run parallel to one another at least in sections. 14. Meßsystem nach einem der vorherigen Ansprüche, 14. Measuring system according to one of the preceding claims, - wobei die Meßsystem-Elektronik wenigstens einen Operationsverstärker, insb. einen FET- oder einen CMOS-Operationsverstärker, aufweist; - wherein the measuring system electronics comprises at least one operational amplifier, in particular a FET or a CMOS operational amplifier; - wobei das erste Sensorelement mittels der ersten und zweiten Verbindungsleitungen, insb. unter Bildung eines Ladungs-Spannungs-Wandlers der Meßsystem-Elektronik, an einen (hochohmigen) (Spannungs-)Eingang des Operationsverstärkers elektrisch angeschlossen ist; - wherein the first sensor element is electrically connected to a (high-impedance) (voltage) input of the operational amplifier by means of the first and second connecting lines, in particular by forming a charge-voltage converter of the measuring system electronics; - und wobei der Operationsverstärker eingerichtet ist, (bei im ersten Betriebsmodus operierender Meßsystem-Elektronik) die erste elektrische (Meß-)Spannung an einem (Spannungs-)Ausgang zu liefern. - and wherein the operational amplifier is configured to supply the first electrical (measurement) voltage at a (voltage) output (when the measuring system electronics are operating in the first operating mode). 15. Meßsystem nach dem vorherigen Anspruch, wobei der Operationsverstärker einen dessen (Spannungs-)Ausgang auf dessen (Spannungs-)Eingang rückkoppelnden, insb. geschalteten, (Rückkoppel-)Kondensator (Cf) aufweist. 15. Measuring system according to the preceding claim, wherein the operational amplifier has a (feedback) capacitor (Cf) which feeds back its (voltage) output to its (voltage) input, in particular a switched (feedback) capacitor. 16. Meßsystem nach dem vorherigen Anspruch, wobei der (Rückkoppel-)Kondensator (Cf) eine (Rückkoppel-)Kapazität aufweist, die nicht weniger 0,1 pF und/oder nicht mehr als 100 pF beträgt. 16. Measuring system according to the preceding claim, wherein the (feedback) capacitor (Cf) has a (feedback) capacitance which is not less than 0.1 pF and/or not more than 100 pF. 17. Meßsystem nach einem der Ansprüche 1 bis 16, 17. Measuring system according to one of claims 1 to 16, - wobei die Meßsystem-Elektronik wenigstens eine, insb. schaltbare, (elektronische) Stromquelle aufweist; - wherein the measuring system electronics comprises at least one, in particular switchable, (electronic) current source; - wobei das zweite Sensorelement mittels der dritten und vierten Verbindungsleitungen an einen (Strom-)Ausgang der Stromquelle elektrisch angeschlossen ist; - wherein the second sensor element is electrically connected to a (current) output of the current source by means of the third and fourth connecting lines; - und wobei die Stromquelle eingerichtet ist, den (Meß-)Strom zu liefern. - and wherein the current source is arranged to supply the (measuring) current. 18. Meßsystem nach einem der Ansprüche 1 bis 16, 18. Measuring system according to one of claims 1 to 16, - wobei die Meßsystem-Elektronik wenigstens eine, insb. schaltbare, (elektronische) Spannungsquelle aufweist; - wherein the measuring system electronics has at least one, in particular switchable, (electronic) voltage source; - wobei das zweite Sensorelement mittels der dritten und vierten Verbindungsleitungen an einen Ausgang der Spannungsquelle elektrisch angeschlossen ist; - wherein the second sensor element is electrically connected to an output of the voltage source by means of the third and fourth connecting lines; - und wobei die Spannungsquelle eingerichtet ist, den (Meß-)Strom zu treiben. - and wherein the voltage source is arranged to drive the (measuring) current. 19. Meßsystem nach einem der vorherigen Ansprüche, wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, basierend auf der zweiten (Meß-)Spannung den Sensor-Widerstand des zweiten Sensorelements zu ermitteln. 19. Measuring system according to one of the preceding claims, wherein the measuring system electronics are configured to determine the sensor resistance of the second sensor element based on the second (measurement) voltage. 20. Meßsystem nach einem der vorherigen Ansprüche, wobei die Meßsystem-Elektronik wenigstens ein einen, insb. bei einer Temperatur von 20°C (Grad Celsius) nicht weniger als 90 Q (Ohm) und/oder nicht mehr als 1 ,1 kQ (Kiloohm) betragenden, elektrischen (Referenz-)Widerstand aufweisendes elektrisch mit dem zweiten Sensorelement verbundenes, insb. elektrisch in Reihe zum zweiten Sensorelement geschaltetes, (Referenz-)Widerstandselement aufweist. 20. Measuring system according to one of the preceding claims, wherein the measuring system electronics comprises at least one (reference) resistance element having an electrical (reference) resistance, in particular at a temperature of 20°C (degrees Celsius) not less than 90 Ω (ohms) and/or not more than 1.1 kΩ (kiloohms), which is electrically connected to the second sensor element, in particular electrically connected in series with the second sensor element. 21 . Meßsystem nach dem vorherigen Anspruch, wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, während des ersten (Bestromungs-)Zeitintervalls eine von einem Spannungsfall über dem (Referenz-)Widerstandselement abhängige elektrische dritte (Referenz-)Spannung zu erfassen und auszuwerten, insb. nämlich zu digitalisieren und/oder die Referenz-Spannung repräsentierende (digitale) dritte Spannungs-Meßwerte zu ermitteln. 21 . Measuring system according to the preceding claim, wherein the measuring system electronics are configured to detect and evaluate, in particular to digitize and/or to determine (digital) third voltage measurement values representing the reference voltage, an electrical third (reference) voltage dependent on a voltage drop across the (reference) resistance element during the first (current supply) time interval. 22. Meßsystem nach dem vorherigen Anspruch, wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, basierend auf der dritten (Referenz-)Spannung den (Sensor-)Widerstand des zweiten Sensorelements, insb. nämlich basierend auf den zweiten und dritten Spannungen sowie dem (Referenz-)Widerstand und/oder ratiometrisch, zu ermitteln. 22. Measuring system according to the preceding claim, wherein the measuring system electronics are configured to determine the (sensor) resistance of the second sensor element based on the third (reference) voltage, in particular based on the second and third voltages and the (reference) resistance and/or ratiometrically. 23. Meßsystem nach einem der vorherigen Ansprüche, weiters umfassend: wenigstens eine, insb. explosionsdruckfeste (Ex-d) und/oder zum internationalen Standard IEC 60079-1 :2014 konforme, (elektrische) Durchführung (50). 23. Measuring system according to one of the preceding claims, further comprising: at least one (electrical) feedthrough (50), in particular explosion-pressure-resistant (Ex-d) and/or compliant with the international standard IEC 60079-1:2014. 24. Meßsystem nach dem vorherigen Anspruch, 24. Measuring system according to the previous claim, - wobei die ersten, zweiten, dritten und vierten Verbindungsleitungen abschnittsweise innerhalb der Durchführung (50) geführt sind; und/oder - wherein the first, second, third and fourth connecting lines are guided in sections within the bushing (50); and/or - wobei die Durchführung, insb. mittels ungeschirmter (Anschluß-)Pins, an die ersten, zweiten, dritten und vierten Verbindungsleitungen elektrisch angeschlossen ist; und/oder - wherein the feedthrough is electrically connected to the first, second, third and fourth connecting lines, in particular by means of unshielded (connecting) pins; and/or - wobei die Durchführung den ersten, zweiten, dritten und vierten Verbindungsleitungen zwischengeschaltet ist. - wherein the bushing is connected between the first, second, third and fourth connecting lines. 25. Meßsystem nach einem der vorherigen Ansprüche, weiters umfassend: ein, insb. explosionsdruckfestes (Ex-d) und/oder zum internationalen Standard IEC 60079-1 :2014 konformes, Elektronik-(Schutz-)Gehäuse (20) für die Meßsystem-Elektronik (2). 25. Measuring system according to one of the preceding claims, further comprising: an electronics (protective) housing (20) for the measuring system electronics (2), in particular an electronics housing which is explosion-proof (Ex-d) and/or compliant with the international standard IEC 60079-1:2014. 26. Meßsystem nach dem vorherigen Anspruch, weiters umfassend: einen, insb. mittels Flanschverbindung lösbar mit dem Elektronik-(Schutz-)Gehäuse verbundenen und/oder Röhren förmigen, (Gehäuse-)Anschlußstutzen (30). 26. Measuring system according to the preceding claim, further comprising: a (housing) connection piece (30), in particular detachably connected to the electronics (protective) housing by means of a flange connection and/or tubular. 27. Meßsystem nach dem vorherigen Anspruch, wobei die ersten, zweiten, dritten und vierten Verbindungsleitungen zumindest anteilig innerhalb des (Gehäuse-)Anschlußstutzens geführt sind, insb. zumindest abschnittsweise zueinander parallel verlaufend. 27. Measuring system according to the preceding claim, wherein the first, second, third and fourth connecting lines are guided at least partially within the (housing) connection piece, in particular running parallel to one another at least in sections. 28. Meßsystem nach einem der vorherigen Ansprüche, weiters umfassend: ein, insb. mittels einer Membran und/oder einer Hülse und/oder einer Platte gebildetes, (Prozeß-)Koppelelement (11), das dafür eingerichtet ist, (im Betrieb des Meßsystems) von einem fluiden Meßstoff kontaktiert, insb. nämlich an- und/oder umströmt, zu werden, insb. derart, daß das (Prozeß-)Koppelelement (11) eine von einer (Meßstoff-)Temperatur des Meßstoffs abhängige (Koppelelement-)Temperatur aufweist und/oder daß das (Prozeß-)Koppelelement eine von einem (Meßstoff-)Druck abhängige (elastische) Dehnung aufweist. 28. Measuring system according to one of the preceding claims, further comprising: a (process) coupling element (11), in particular formed by means of a membrane and/or a sleeve and/or a plate, which is designed to be contacted by a fluid medium (during operation of the measuring system), in particular to be flowed against and/or around, in particular in such a way that the (process) coupling element (11) has a (coupling element) temperature dependent on a (measured substance) temperature of the measured substance and/or that the (process) coupling element has an (elastic) expansion dependent on a (measured substance) pressure. 29. Meßsystem nach dem vorherigen Anspruch, 29. Measuring system according to the previous claim, - wobei das Koppelelement eingerichtet ist, auf eine Änderung einer (Meßstoff-)Temperatur des Meßstoffs mit einer Änderung einer (Koppelelement-)Temperatur zu reagieren, insb. derart, daß die (Koppelelement-)Temperatur des Koppelelements stationär von einer stationären (Meßstoff-)Temperatur des Meßstoffs um weniger als 2 K (Kelvin) abweicht; und/oder - wherein the coupling element is configured to react to a change in the (measuring medium) temperature of the measuring medium with a change in the (coupling element) temperature, in particular such that the (coupling element) temperature of the coupling element deviates from a stationary (measuring medium) temperature of the measuring medium by less than 2 K (Kelvin); and/or - wobei das Koppelelement eingerichtet ist, auf eine Änderung eines (Meßstoff-)Drucks des Meßstoffs mit einer, insb. biaxialen und/oder elastischen, Dehnung zu reagieren; und/oder- wherein the coupling element is configured to react to a change in the (measuring medium) pressure of the measuring medium with a, in particular biaxial and/or elastic, expansion; and/or - wobei das Koppelelement eingerichtet ist, zumindest teilweise in eine Lumen eines (dem Führen eines fluiden Meßstoffs dienlichen) Rohrs eingesetzt zu werden, insb. nämlich durch eine Öffnung in einer das Lumen umhüllenden Rohrwand hindurch in das Lumen eingesetzt und an nämlicher Rohrwand (wieder lösbar) fixiert zu werden; und/oder - wherein the coupling element is designed to be inserted at least partially into a lumen of a tube (serving to guide a fluid measuring substance), in particular through an opening in a tube wall surrounding the lumen into the lumen and to be fixed (removably) to the same tube wall; and/or - wobei das Koppelelement eingerichtet ist, zumindest teilweise in ein Lumen eines (dem Führen eines fluiden Meßstoffs dienlichen) Behälters, insb. einem Tank, eingesetzt zu werden, insb. nämlich durch eine Öffnung in einer das Lumen umhüllenden Behälterwand hindurch in das Lumen eingesetzt und an nämlicher Behälterwand (wieder lösbar) fixiert zu werden; und/oder- wherein the coupling element is designed to be inserted at least partially into a lumen of a container (serving to convey a fluid measuring substance), in particular a tank, in particular through an opening in a container wall surrounding the lumen into the lumen and to be fixed (removably) to the same container wall; and/or - wobei das Koppelelement zumindest teilweise, insb. vollständig, aus Metall besteht, insb. einem (Edel-)Stahl und/oder einer Nickelbasis-Legierung. - wherein the coupling element consists at least partially, in particular completely, of metal, in particular a (stainless) steel and/or a nickel-based alloy. 30. Meßsystem nach Anspruch 28 oder 29, wobei das Koppelelement und das erste Sensorelement zumindest mechanisch aneinander gekoppelt sind, insb. derart, daß die erste elektrische (Meß-)Spannung von der Dehnung des Koppelelements abhängig ist bzw. daß eine Änderung einer Dehnung des Koppelelements eine Änderung der ersten elektrische (Meß-)Spannung bewirkt. 30. Measuring system according to claim 28 or 29, wherein the coupling element and the first sensor element are at least mechanically coupled to one another, in particular in such a way that the first electrical (measurement) voltage is dependent on the strain of the coupling element or that a change in the strain of the coupling element causes a change in the first electrical (measurement) voltage. 31 . Meßsystem nach Anspruch 28 oder 29, wobei das erste Sensorelement (integraler) Bestandteil des Koppelelements ist, insb. derart, daß die erste elektrische (Meß-)Spannung von der Dehnung des Koppelelements abhängig ist bzw. daß eine Änderung einer Dehnung des Koppelelements eine Änderung der ersten elektrische (Meß-)Spannung bewirkt. 31. Measuring system according to claim 28 or 29, wherein the first sensor element is an (integral) component of the coupling element, in particular such that the first electrical (measurement) voltage is dependent on the strain of the coupling element or that a change in the strain of the coupling element causes a change in the first electrical (measurement) voltage. 32. Meßsystem nach Anspruch 26 in Verbindung mit einem der einem der Ansprüche 28 bis 31 ,32. Measuring system according to claim 26 in conjunction with one of claims 28 to 31, - wobei das Koppelelement, insb. an einem zum Elektronik-Gehäuse distalen Stutzenende, mit dem Anschlußstutzen (mechanisch) verbunden ist; und/oder - wherein the coupling element, in particular at a nozzle end distal to the electronics housing, is (mechanically) connected to the connecting nozzle; and/or - wobei das Koppelelement (11) anteilig innerhalb des Anschlußstutzens (30) angeordnet ist. - wherein the coupling element (11) is arranged partially within the connecting piece (30). 33. Meßsystem nach einem der vorherigen Ansprüche, wobei das erste Sensorelement (C1) mittels wenigstens eines, insb. als Plattenkondensator ausgebildeten, (Meß-)Kondensators gebildet ist, insb. mit einer in Abhängigkeit von der ersten primären Meßgröße ändernden (Kondensator-)Elektrodengeometrie und/oder mit einem in Abhängigkeit von der ersten primären Meßgröße ändernden Dielektrikum. 33. Measuring system according to one of the preceding claims, wherein the first sensor element (C1) is formed by means of at least one (measuring) capacitor, in particular designed as a plate capacitor, in particular with a (capacitor) electrode geometry changing as a function of the first primary measured variable and/or with a dielectric changing as a function of the first primary measured variable. 34. Meßsystem nach Anspruch 33 in Verbindung mit einem der Ansprüche 28 bis 32, wobei wenigstens eine, insb. bewegliche, (Kondensator-)Elektrode des (Meß-)Kondensators mit dem Koppelelement mechanisch verbunden bzw. mittels des Koppelelements gebildet ist. 34. Measuring system according to claim 33 in conjunction with one of claims 28 to 32, wherein at least one, in particular movable, (capacitor) electrode of the (measuring) capacitor is mechanically connected to the coupling element or is formed by means of the coupling element. 35. Meßsystem nach einem der Ansprüche 28 bis 33, wobei das Koppelelement (11) und das zweite Sensorelement (R1) zumindest thermisch, insb. nämlich sowohl thermisch als auch mechanisch, aneinander gekoppelt sind, insb. derart, daß die zweite elektrische (Meß-)Spannung von einer (Koppelelement-)Temperatur des Koppelelements abhängig ist bzw. daß eine Änderung einer (Koppelelement-)Temperatur des Koppelelements eine Änderung des elektrischen (Sensor-)Widerstands des zweiten Sensorelements bewirkt. 35. Measuring system according to one of claims 28 to 33, wherein the coupling element (11) and the second sensor element (R1) are coupled to one another at least thermally, in particular both thermally and mechanically, in particular in such a way that the second electrical (measurement) voltage is dependent on a (coupling element) temperature of the coupling element or that a change in a (coupling element) temperature of the coupling element causes a change in the electrical (sensor) resistance of the second sensor element. 36. Meßsystem nach einem der vorherigen Ansprüche, wobei das zweite Sensorelement (R1) mittels wenigstens eines Platin-Meßwiderstands, insb. eines Pt100 und/oder eines Pt1000, gebildet ist. 36. Measuring system according to one of the preceding claims, wherein the second sensor element (R1) is formed by means of at least one platinum measuring resistor, in particular a Pt100 and/or a Pt1000. 37. Meßsystem nach einem der vorherigen Ansprüche, 37. Measuring system according to one of the preceding claims, - wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, basierend auf zumindest der ersten elektrischen (Meß-)Spannung Meßwerte für eine (als sekundäre Meßgröße dienliche) Frequenz von zumindest zeitweise periodischen Druckschwankungen innerhalb eines fluiden Meßstoffs, insb. von Druckschwankungen innerhalb einer in einer Strömung des Meßstoffs ausgebildeten Karman'schen Wirbelstraße, zu ermitteln; und/oder - wherein the measuring system electronics are configured to determine, based on at least the first electrical (measurement) voltage, measured values for a frequency (serving as a secondary measured variable) of at least temporarily periodic pressure fluctuations within a fluid medium, in particular of pressure fluctuations within a Karman vortex street formed in a flow of the medium; and/or - wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, basierend auf zumindest der zweiten elektrischen (Meß-)Spannung Meßwerte für eine (als zweite primäre Meßgröße dienliche) (Meßstoff-)Temperatur eines, insb. strömenden, fluiden Meßstoffs zu ermitteln; und/oder - wherein the measuring system electronics are configured to determine measured values for a (measuring medium) temperature (serving as a second primary measured variable) of a, in particular, flowing, fluid measuring medium based on at least the second electrical (measuring) voltage; and/or - wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, basierend auf den ersten und zweiten elektrischen (Meß-)Spannungen Meßwerte für einen (als erste primäre Meßgröße dienlichen) (statischen) Druck eines (strömenden) fluiden Meßstoffs zu ermitteln; und/oder - wherein the measuring system electronics are configured to determine measured values for a (static) pressure of a (flowing) fluid medium (serving as the first primary measured variable) based on the first and second electrical (measurement) voltages; and/or - wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, basierend auf den ersten und zweiten elektrischen (Meß-)Spannungen Meßwerte für einen (als sekundäre Meßgröße dienlichen) Volumenstrom eines strömenden (fluiden) Meßstoffs zu ermitteln; und/oder - wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, basierend auf den ersten und zweiten elektrischen (Meß-)Spannungen Meßwerte für einen (als sekundäre Meßgröße dienlichen) Massenstrom eines strömenden (fluiden) Meßstoffs zu ermitteln. - wherein the measuring system electronics are configured to determine measured values for a volume flow of a flowing (fluid) medium (serving as a secondary measured variable) based on the first and second electrical (measurement) voltages; and/or - wherein the measuring system electronics are configured to determine measured values for a mass flow of a flowing (fluid) medium (serving as a secondary measured variable) based on the first and second electrical (measurement) voltages. 38. Verwenden eines Meßsystems gemäß einem der vorherigen Ansprüche zum Messen sowohl einer ersten primäre (Prozeß-)Meßgröße, insb. eines zeitlich ändernden (statischen) Drucks, als auch einer (von der ersten Meßgröße verschiedenen) zweiten primäre (Prozeß-)Meßgröße, insb. einer zeitlich ändernden Temperatur, eines (in einer Leitung geführten oder in einem Behälter gehaltenen) fluiden Meßstoffs. 38. Use of a measuring system according to one of the preceding claims for measuring both a first primary (process) measured variable, in particular a time-varying (static) pressure, and a second primary (process) measured variable (different from the first measured variable), in particular a time-varying temperature, of a fluid measuring substance (conducted in a line or held in a container).
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