DE102023126536A1 - measuring system - Google Patents
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Abstract
Das Meßsystem dient dem Messen zweier (zeitlich veränderlicher) primärer (Prozeß-)Meßgröße (x1, x2) und/oder dem Messen einer von wenigstens einer der primären (Prozeß-)Meßgrößen (x1, x2) abgeleiteten (zeitlich veränderlichen) sekundären (Prozeß-)Meßgröße (y1). Das Meßsystem umfaßt dafür eine Meßsystem-Elektronik, ein Sensorelement (C1) sowie ein passives Sensorelement (R1) zum Erfassen der primären Meßgrößen sowie elektrische Verbindungsleitungen (401, 402, 403, 404), wobei das Sensorelement (C1) mittels der Verbindungsleitungen (401, 402) und das Sensorelement (R1) mittels der Verbindungsleitungen (403, 404) an die Meßsystem-Elektronik elektrisch angeschlossen sind. Das Sensorelement (C1) ist eingerichtet eine von der primären Meßgröße (x1) abhängige elektrische (Meß-)Spannung (u1) zu generieren bzw. einzustellen. Das Sensorelement (R1) wiederum weist einen elektrischen Widerstand auf und ist eingerichtet, einer Änderung der primären Meßgröße (x2) mit einer Änderung nämlichen Widerstands zu folgen. Die Meßsystem-Elektronik wiederum ist eingerichtet, zum vorübergehenden Bewirken eines Spannungsfalls über dem Sensorelement (R1) während eines vorgegebenen (Bestromungs-)Zeitintervalls (t1) einen (Meß-)Strom durch das Sensorelement (R1) sowie die Verbindungsleitungen (403, 404) zu treiben und während eines dem Zeitintervall (t1) zeitlich vorausgehenden Zeitintervalls (t2) wie auch eines dem Zeitintervall (t1) zeitlich nachfolgenden Zeitintervalls (t3) das Sensorelement (R1) keinen (Meß-)Strom durch Sensorelement (R1) und Verbindungsleitungen (4043, 404) zu treiben, derart, daß der (Meß-)Strom zumindest während dem Zeitintervall (t1) zeitlich (unmittelbar) nachfolgenden bzw. vorausgehenden (Übergangs-)Zeitintervallen (t4, t5) steigende bzw. abfallende Stromflanken aufweist. Zudem ist die Meßsystem-Elektronik eingerichtet, die elektrische Spannung (u1) zeitweise zu erfassen und auszuwerten. Darüberhinaus ist die Meßsystem-Elektronik eingerichtet, sowohl während des Zeitintervalls (t1) eine vom Spannungsfall über dem Sensorelement (R1) abhängige elektrischen Spannung (u2) zu erfassen und auszuwerten als auch zumindest während der Zeitintervalle (t4, t5) das Erfassen und/oder das Auswerten der Spannung (u1) auszusetzen. The measuring system is used to measure two (time-varying) primary (process) measured variables (x1, x2) and/or to measure a (time-varying) secondary (process) measured variable (y1) derived from at least one of the primary (process) measured variables (x1, x2). For this purpose, the measuring system comprises measuring system electronics, a sensor element (C1), a passive sensor element (R1) for detecting the primary measured variables, and electrical connecting lines (401, 402, 403, 404). The sensor element (C1) is electrically connected to the measuring system electronics via the connecting lines (401, 402), and the sensor element (R1) is electrically connected to the measuring system electronics via the connecting lines (403, 404). The sensor element (C1) is configured to generate or adjust an electrical (measurement) voltage (u1) dependent on the primary measured variable (x1). The sensor element (R1) in turn has an electrical resistance and is designed to follow a change in the primary measured variable (x2) with a change in the same resistance. The measuring system electronics, in turn, are configured to temporarily cause a voltage drop across the sensor element (R1) during a predetermined (current supply) time interval (t1) by driving a (measurement) current through the sensor element (R1) and the connecting lines (403, 404), and to refrain from driving any (measurement) current through the sensor element (R1) and connecting lines (4043, 404) during a time interval (t2) preceding the time interval (t1) and a time interval (t3) following the time interval (t1), such that the (measurement) current has rising or falling current edges at least during the (transition) time intervals (t4, t5) immediately following or preceding the time interval (t1). In addition, the measuring system electronics are configured to temporarily detect and evaluate the electrical voltage (u1). Furthermore, the measuring system electronics are designed to detect and evaluate an electrical voltage (u2) dependent on the voltage drop across the sensor element (R1) during the time interval (t1) and to suspend the detection and/or evaluation of the voltage (u1) at least during the time intervals (t4, t5).
Description
Die Erfindung betrifft ein Meßsystem zum Messen zweier (zeitlich veränderlicher) primärer (Prozeß-)Meßgrößen eines fluiden Meßstoffs und/oder zum Messen einer von wenigstens einer der primären (Prozeß-)Meßgrößen abgeleiteten (zeitlich veränderlichen) sekundären (Prozeß-)Meßgröße des Meßstoffs.The invention relates to a measuring system for measuring two (time-varying) primary (process) measured variables of a fluid medium and/or for measuring a (time-varying) secondary (process) measured variable of the medium derived from at least one of the primary (process) measured variables.
In der
Jedes der - hier jeweils als ein Wirbel-Durchfluß-Meßgerät (in Kompaktbauweise) ausgebildeten - Meßsysteme umfaßt jeweils eine Meßsystem-Elektronik, wenigstens ein erstes Sensorelement zum Erfassen der ersten primären (Prozeß-)Meßgröße sowie wenigstens ein passives zweites Sensorelement zum Erfassen einer von der ersten primären (Prozeß-)Meßgröße verschiedenen (als Hilfs-Meßgröße dienlichen) zweiten primären (Prozeß-)Meßgröße, hier nämlich einer zeitlich veränderlichen Temperatur. Die ersten und zweiten Sensorelememente sind jeweils (unter Bildung erster bzw. zweiter Meßkanäle des jeweiligen Meßsystems) mittels elektrischer Verbindungsleitungen an die jeweilige Meßsystem-Elektronik elektrisch angeschlossen. Zudem ist das erste Sensorelemement jeweils eingerichtet, (im Verbund mit der Meßsystem-Elektronik) eine von der ersten primären Meßgröße abhängige erste elektrische (Meß-)Spannung zu generieren bzw. einzustellen, und ist das zweite Sensorelemente jeweils eingerichtet, (im Verbund mit der Meßsystem-Elektronik) eine von der zweiten primären Meßgröße abhängige zweite elektrische (Meß-)Spannung zu generieren bzw. einzustellen.Each of the measuring systems—here embodied as a vortex flowmeter (in a compact design)—includes measuring system electronics, at least one first sensor element for detecting the first primary (process) measured variable, and at least one passive second sensor element for detecting a second primary (process) measured variable that is different from the first primary (process) measured variable (serving as an auxiliary measured variable), in this case a time-varying temperature. The first and second sensor elements are each electrically connected to the respective measuring system electronics by means of electrical connecting lines (forming first and second measuring channels of the respective measuring system, respectively). In addition, the first sensor element is configured (in conjunction with the measuring system electronics) to generate or set a first electrical (measurement) voltage dependent on the first primary measured variable, and the second sensor element is configured (in conjunction with the measuring system electronics) to generate or set a second electrical (measurement) voltage dependent on the second primary measured variable.
Die Meßsystem-Elektronik jedes der vorbezeichneten Meßsysteme ist in einem, beispielsweise schlag- und/oder wetterfesten, Elektronik-(Schutz-)Gehäuse untergebracht und zudem jeweils eingerichtet, basierend auf den (zeitlich veränderlichen) ersten und zweiten elektrischen (Meß-)Spannungen einen oder mehrere (digitale) Meßwerte für die primären und/oder sekundären (Prozeß-)Meßgröße zu ermitteln und als qualifizierte Meßwerte des Meßsystems auszugeben. Bei den hier gezeigten Meßsystemen ist die Meßsystem-Elektronik zudem insb. dafür eingerichtet, basierend auf zumindest der ersten elektrischen (Meß-)Spannung Meßwerte für eine als sekundäre (Prozeß-)Meßgröße dienliche Frequenz von zumindest zeitweise periodischen Druckschwankungen innerhalb des strömenden Meßstoffs - hier nämlich von Druckschwankungen innerhalb einer in einer Strömung des Meßstoffs ausgebildeten Karmanschen Wirbelstraße - und basierend auf nämlicher (Wirbel-)Frequenz sowie der (Temperatur abhängigen) zweiten elektrischen (Meß-)Spannung Meßwerte für einen als sekundäre (Prozeß-)Meßgröße dienlichen Volumen- und/oder Massestrom des Meßstoffs zu ermitteln. Die Meßsystem-Elektronik kann beispielsweise aber auch eingerichtet sein, basierend auf den ersten und zweiten elektrischen (Meß-)Spannungen Meßwerte für einen als erste primäre (Prozeß-)Meßgröße dienliche (statischen) Druck eines (strömenden) fluiden Meßstoffs zu ermitteln. Typischerweise sind Meßsystem der in Rede stehenden Art zumeist als Niedrigleistung-Meßsysteme ausgebildet, beispielsweise derart, daß die jeweilige Meßsystem-Elektronik zumindest vorübergehend mit einer elektrischen (Nenn-)Leistung betrieben wird, die weniger als 100 mW (Milliwatt) beträgt; dies insbesondere auch für den Fall, daß die Meßsystem-Elektronik bzw. das damit gebildete Meßsystem mittels Stromschleifenschnittstelle an eine dem Übertragen von elektrischer Leistung und Meßwerten dienliche (4-20 mA-)2-Drahtleitung angeschlossen ist.The measuring system electronics of each of the aforementioned measuring systems is housed in an electronic (protective) housing, for example, a shock- and/or weather-resistant, and is also each configured to determine one or more (digital) measured values for the primary and/or secondary (process) measured variables based on the (time-varying) first and second electrical (measurement) voltages and to output them as qualified measured values of the measuring system. In the measuring systems shown here, the measuring system electronics are also particularly configured to determine, based on at least the first electrical (measurement) voltage, measured values for a frequency of at least temporarily periodic pressure fluctuations within the flowing medium, serving as a secondary (process) measured variable – in this case, pressure fluctuations within a Karman vortex street formed in a flow of the medium – and, based on the same (vortex) frequency and the (temperature-dependent) second electrical (measurement) voltage, measured values for a volume and/or mass flow of the medium serving as a secondary (process) measured variable. However, the measuring system electronics can also be configured, for example, to determine, based on the first and second electrical (measurement) voltages, measured values for a (static) pressure of a (flowing) fluid medium serving as a first primary (process) measured variable. Typically, measuring systems of the type in question are mostly designed as low-power measuring systems, for example, such that the respective measuring system electronics are operated at least temporarily with an electrical (nominal) power of less than 100 mW (milliwatts); this is particularly true if the measuring system electronics or the measuring system formed thereby is connected by means of a current loop interface to a (4-20 mA) 2-wire line used to transmit electrical power and measured values.
Wie in der
Zum Anbinden der ersten und zweiten Sensorelemente bzw. des damit gebildeten Meßsystems an den jeweiligen Prozeß bzw. dessen jeweiligen Meßstoff weisen Meßsysteme der in Rede stehenden Art typischerweise ferner ein, beispielsweise mittels einer Membran und/oder einer Hülse und/oder einer Platte gebildetes, metallisches (Prozeß-)Koppelelement, daß dafür eingerichtet ist, (im Betrieb des Meßsystems) vom jeweiligen Meßstoff kontaktiert, beispielsweise nämlich an- und/oder umströmt, zu werden, insb. auch derart, daß das (Prozeß-)Koppelelement eine von einer (Meßstoff-)Temperatur des Meßstoffs abhängige (Koppelelement-)Temperatur aufweist und/oder daß das (Prozeß-)Koppelelement eine von einem (Meßstoff-)Druck abhängige (elastische) Dehnung aufweist.In order to connect the first and second sensor elements or the measuring system formed thereby to the respective process or its respective measuring medium, measuring systems of the type in question typically also have a metallic (process) coupling element, formed for example by means of a membrane and/or a sleeve and/or a plate, which is designed to be contacted by the respective measuring medium (during operation of the measuring system), for example to be flowed against and/or around, in particular in such a way that the (process) coupling element has a (coupling element) temperature that is dependent on a (measured medium) temperature of the measured medium and/or that the (process) coupling element has an (elastic) expansion that is dependent on a (measured medium) pressure.
Bei den in der
Das Koppelelement ist ferner mit dem ersten Sensorelement mechanisch gekoppelt, derart, daß die erste elektrische (Meß-)Spannung von einer Dehnung des Koppelelements abhängig ist bzw. daß eine Änderung einer Dehnung des Koppelelements eine Änderung der ersten elektrische (Meß-)Spannung bewirkt, beispielsweise indem wenigstens eine (bewegliche) Kondensator-Elektrode des (Meß-)Kondensators mit dem Koppelelement starr verbunden ist. Nicht zuletzt für den vorbezeichneten Fall, daß das erste Sensorelement mittels wenigstens eines (Meß-)Kondensators gebildet ist, kann das erste Sensorelement auch (integraler) Bestandteil des Koppelelements sein, beispielsweise derart, daß wenigstens eine (bewegliche) Kondensator-Elektrode des (Meß-)Kondensators mittels des Koppelelements gebildet ist. Darüberhinaus sind das Koppelelement und das zweite Sensorelement zumindest thermisch, insb. nämlich sowohl thermisch als auch mechanisch, aneinander gekoppelt, derart, daß die zweite elektrische (Meß-)Spannung von einer (Koppelelement-)Temperatur des Koppelelements abhängig ist bzw. daß eine Änderung einer (Koppelelement-)Temperatur des Koppelelements eine Änderung des elektrischen (Sensor-)Widerstands des zweiten Sensorelements bewirkt.The coupling element is further mechanically coupled to the first sensor element in such a way that the first electrical (measurement) voltage depends on an elongation of the coupling element or such that a change in an elongation of the coupling element causes a change in the first electrical (measurement) voltage, for example, by rigidly connecting at least one (movable) capacitor electrode of the (measurement) capacitor to the coupling element. Last but not least, in the aforementioned case where the first sensor element is formed by at least one (measurement) capacitor, the first sensor element can also be an (integral) component of the coupling element, for example, such that at least one (movable) capacitor electrode of the (measurement) capacitor is formed by the coupling element. Furthermore, the coupling element and the second sensor element are coupled to one another at least thermally, in particular both thermally and mechanically, in such a way that the second electrical (measurement) voltage is dependent on a (coupling element) temperature of the coupling element or that a change in a (coupling element) temperature of the coupling element causes a change in the electrical (sensor) resistance of the second sensor element.
Ein Nachteil bei Meßsystemen der in Rede stehenden Art besteht u.a. darin, daß die vorbezeichneten Verbindungsleitungen, nicht zuletzt im Falle von deren zumindest teilweisen Verlegung innerhalb des Anschlußstutzens, zueinander geringe Abstände von weniger als 5 mm aufweisen und damit einhergehend in einem erheblichen Ausmaß kapazitiv (signal-)gekoppelt sein können. Bedingt durch diese (Signal-)Kopplung kann auch der dem Bewirken der zweiten elektrischen (Meß-)Spannung dienliche (Meß-)Strom durch das zweite Sensorelement ein die erste elektrische (Meß-)Spannung, mithin die Meßgenauigkeit des Meßsystems insgesamt beeinflussende Störung im ersten Meßkanal verursachen; dies insb. auch dann, wenn der (Meß-)Strom sprungartig geändert, beispielsweise nämlich ein- bzw. ausgeschaltet wird. Zur Vermeidung von daraus resultierenden Meßfehlern werden bei derartigen Meßsystemen dementsprechend den jeweiligen Meßstrom beeinflussende Schaltvorgänge während der Ermittlung der Meßwerte vermieden bzw. wird der Meßstrom umgekehrt für die Ermittlung der Meßwerte möglichst konstant gehalten. Damit einhergehend kann allein eine für den Betrieb der vorbezeichneten ersten und zweiten Meßkanäle insgesamt erforderliche elektrische Leistung etwa 0,5 bis 2 mW, mithin im Falle eines Niedrigleistung-Meßsystem (gelegentlich) mehr als 1% der insgesamt verfüglichen, gleichwohl ohnehin geringen elektrischen Leistung (<100mW) betragen.One disadvantage of measuring systems of the type in question is that the aforementioned connecting lines, not least in the case of their at least partial installation within the connecting piece, have small distances of less than 5 mm from one another and can therefore be capacitively (signal-)coupled to a considerable extent. Due to this (signal) coupling, the (measurement) current through the second sensor element, which serves to generate the second electrical (measurement) voltage, can also affect the first electrical (measurement) voltage and thus the measuring accuracy of the measuring system as a whole. cause interference in the first measuring channel; this is particularly the case if the (measurement) current is changed abruptly, for example, when it is switched on or off. To avoid resulting measurement errors, switching operations that influence the respective measuring current are avoided in such measuring systems during the determination of the measured values, or conversely, the measuring current is kept as constant as possible for the determination of the measured values. As a result, the total electrical power required for the operation of the aforementioned first and second measuring channels alone can amount to approximately 0.5 to 2 mW, which in the case of a low-power measuring system (occasionally) amounts to more than 1% of the total available, albeit already low, electrical power (<100 mW).
Ausgehend vom vorbezeichneten Stand der Technik besteht eine Aufgabe der Erfindung darin, Meßsystem der in Rede stehenden Art dahingehend zu verbessern, daß die für die Ermittlung der Meßwerte benötigte elektrische Leistung regelmäßig von einem für den Betrieb der ersten und zweiten Meßkanäle insgesamt benötigte (maximale) elektrische Leistung auf eine im Vergleich dazu niedrigere (minimale) elektrische Leistung abgesenkt werden kann, bei einer dennoch ausreichend hohen Meßgenauigkeit bzw. einer dennoch ausreichend hohen Aktualisierungsrate der damit ermittelten Meßwerte.Based on the aforementioned prior art, it is an object of the invention to improve the measuring system of the type in question in such a way that the electrical power required to determine the measured values can be regularly reduced from a (maximum) electrical power required overall for the operation of the first and second measuring channels to a comparatively lower (minimum) electrical power, while still maintaining a sufficiently high measurement accuracy or a sufficiently high update rate of the measured values determined thereby.
Zur Lösung der Aufgabe besteht die Erfindung in einem Meßsystem zum Messen einer (zeitlich veränderlichen) ersten primären (Prozeß-)Meßgröße, beispielsweise eines (statischen) Drucks eines (in einer Leitung geführten und/oder einem Behälter gehaltenen) fluiden Meßstoffs und/oder einer zeitlichen Änderung nämlichen Drucks, sowie einer von der ersten primären (Prozeß-)Meßgröße verschiedenen (zeitlich veränderlichen) zweiten primären (Prozeß-)Meßgröße, beispielsweise einer Temperatur eines (in einer Leitung geführten) fluiden Meßstoffs, und/oder zum Messen einer von wenigstens einer der ersten und zweiten primären (Prozeß-)Meßgrößen abgeleiteten (zeitlich veränderlichen) sekundären (Prozeß-)Meßgröße, beispielsweise eines Massestroms eines in einer Leitung geführten fluiden Meßstoffs oder eines Füllstandes eines einem Behälter gehaltenen fluiden Meßstoffs, welches Meßsystem umfaßt:
- • eine, beispielsweise mit einer maximalen elektrischen Leistung von weniger als 1 W (Watt) betriebenen und/oder an eine (4-20 mA-)2-Drahtleitung angeschlossene, Meßsystem-Elektronik,
- • wenigstens ein, beispielsweise kapazitives und/oder passives, erstes Sensorelement (C1) zum Erfassen der ersten primären (Prozeß-)Meßgröße,
- • wenigstens ein, beispielsweise resistives, passives zweites Sensorelement (R1) zum Erfassen der zweiten primären (Prozeß-)Meßgröße,
- • sowie erste, zweite, dritte und vierte, beispielsweise jeweils (zumindest) teilweise ungeschirmte und/oder nicht miteinander verdrillter, elektrische Verbindungsleitungen,
- • wobei das erste Sensorelement mittels der ersten und zweiten Verbindungsleitungen (unter Bildung eines ersten Meßkanals des Meßsystems) an die Meßsystem-Elektronik elektrisch angeschlossen ist, beispielsweise unter Zwischenschaltung einer Durchführung,
- • wobei das zweite Sensorelement mittels der dritten und vierten Verbindungsleitungen (unter Bildung eines zweiten Meßkanals des Meßsystems) an die Meßsystem-Elektronik elektrisch angeschlossen ist, beispielsweise unter Zwischenschaltung einer Durchführung,
- • und wobei wenigstens eine, beispielsweise jede, der ersten und zweiten Verbindungsleitungen mit wenigstens einer, beispielsweise jeder, der dritten und vierten Verbindungsleitungen, beispielsweise kapazitiv, (signal-)gekoppelt ist, beispielsweise indem ein kleinster Abstand zwischen wenigstens einer der ersten und zweiten Verbindungsleitungen und wenigstens einer der dritten und vierten Verbindungsleitungen weniger als 5 mm beträgt,
- • wobei das erste Sensorelement eingerichtet ist, beispielsweise im Verbund mit der Meßsystem-Elektronik, eine von der ersten primären (Prozeß-)Meßgröße abhängige erste elektrische (Meß-)Spannung zu generieren und/oder einzustellen,
- • und wobei das zweite Sensorelement einen, beispielsweise bei einer Temperatur von 20°C nicht weniger als 90 Ω und/oder nicht mehr als 1,1 kΩ betragenden, elektrischen (Sensor-)Widerstand aufweist und eingerichtet ist, einer Änderung der zweiten primären Meßgröße mit einer Änderung nämlichen Widerstands zu folgen,
- • wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, die erste elektrische (Meß-)Spannung zeitweise zu erfassen und auszuwerten, beispielsweise nämlich zu digitalisieren und/oder die (Meß-)Spannung repräsentierende (digitale) erste (Spannungs-)Meßwerte zu ermitteln,
- • wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist,
- • zum vorübergehenden Bewirken eines Spannungsfalls über dem zweiten Sensorelement das zweite Sensorelement zeitweise zu bestromen, nämlich während eines vorgegebenen, beispielsweise nicht weniger als 10ms andauernden, ersten (Bestromungs-)Zeitintervalls t1 ein, beispielsweise eingeprägten und/oder konstanten und/oder eine maximale Stromstärke von nicht weniger als 0,1 mA aufweisenden und/oder im zweiten Sensorelement eine maximale elektrische Leistung von nicht weniger als 0,4 mW umsetzenden, elektrischen (Meß-)Strom durch das zweite Sensorelement sowie die dritten und vierten Verbindungsleitungen zu treiben und während eines dem ersten Zeitintervall zeitlich vorausgehenden zweiten Zeitintervalls t2 wie auch eines dem ersten (Bestromungs-)Zeitintervalls zeitlich nachfolgenden dritten Zeitintervalls t3 das zweite Sensorelement nicht zu bestromen bzw. keinen (Meß-)Strom durch das zweite Sensorelement und die dritten und vierten Verbindungsleitungen zu treiben, derart, daß der (Meß-)Strom zumindest während eines dem zweiten Zeitintervall zeitlich (unmittelbar) nachfolgenden und dem ersten (Bestromungs-)Zeitintervall zeitlich (unmittelbar) vorausgehenden, beispielsweise nicht weniger als 1µs (Mikrosekunde) andauernden, vierten (Übergangs-)Zeitintervalls eine (steigende) erste Stromflanke, beispielsweise mit einer zumindest zeitweise und/oder im zeitlichen (arithmetischen) Mittel nicht weniger als 0,1 mA/µs betragenden Stromanstiegsgeschwindigkeit, aufweist und daß der (Meß-)Strom zumindest während eines dem ersten (Bestromungs-)Zeitintervall zeitlich (unmittelbar) nachfolgenden und dem dritten Zeitintervall zeitlich (unmittelbar) vorausgehenden, beispielsweise nicht weniger als 1µs (Mikrosekunde) andauernden, fünften (Übergangs-)Zeitintervalls eine (fallende) zweite Stromflanke, beispielsweise mit einer zumindest zeitweise und/oder im zeitlichen (arithmetischen) Mittel nicht weniger als 0,1 mA/µs betragenden Stromabfallgeschwindigkeit, aufweist,
- • und wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, während des ersten (Bestromungs-)Zeitintervalls t1 eine vom Spannungsfall über dem zweiten Sensorelement abhängige zweite elektrischen (Meß-)Spannung zu erfassen und auszuwerten, beispielsweise nämlich zu digitalisieren und/oder die (Meß-)Spannung repräsentierende (digitale) zweite (Spannungs-)Meßwerte zu ermitteln;
- • wobei die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, basierend auf zumindest der ersten elektrischen (Meß-)Spannung, beispielsweise basierend auf sowohl der ersten elektrischen (Meß-)Spannung als auch zweiten elektrischen (Meß-)Spannung, einen oder mehrere (digitale) Meßwerte für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße und/oder einen oder mehrere (digitale) Meßwerte für die sekundäre (Prozeß-)Meßgröße zu ermitteln, beispielsweise nämlich zu ermitteln und als qualifizierte Meßwerte des Meßsystems auszugeben,
- • und wobei die Meßsystem-Elektronik, beispielsweise zum Vermeiden von durch (Signal-)Einkopplung von den dritten und/oder vierten Verbindungsleitungen in die ersten und/oder zweiten Verbindungsleitungen verursachten Meßfehlern bei für die erste Meßgröße ermittelten Meßwerten, eingerichtet ist:
- keinen basierend auf der während der vierten und fünften (Übergangs-)Zeitintervalle erfassten ersten (Meß-)Spannung ermittelten (qualifizierten) Meßwert für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße auszugeben,
- und/oder keinen Meßwert für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße basierend auf der während der vierten und fünften (Übergangs-)Zeitintervalle anliegenden ersten elektrischen (Meß-)Spannung zu ermitteln,
- und/oder keinen basierend auf der während der vierten und fünften (Übergangs-)Zeitintervalle erfassten ersten (Meß-)Spannung ermittelten (qualifizierten) Meßwert für die sekundäre (Prozeß-)Meßgröße auszugeben,
- und/oder keinen Meßwert für die sekundäre (Prozeß-)Meßgröße basierend auf der während der vierten und fünften (Übergangs-)Zeitintervalle anliegenden ersten elektrischen (Meß-)Spannung zu ermitteln,
- und/oder während des vierten (Übergangs-)Zeitintervalls (qualifizierte) Meßwerte für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße und/oder für die sekundäre (Prozeß-)Meßgröße basierend auf einer zuvor während des zweiten Zeitintervalls erfassten ersten (Meß-)Spannung zu ermitteln,
- • a measuring system electronics, for example, operated with a maximum electrical power of less than 1 W (watt) and/or connected to a (4-20 mA) 2-wire line,
- • at least one, for example capacitive and/or passive, first sensor element (C1) for detecting the first primary (process) measured variable,
- • at least one, for example resistive, passive second sensor element (R1) for detecting the second primary (process) measurement variable,
- • as well as first, second, third and fourth, for example (at least) partially unshielded and/or not twisted together, electrical connecting lines,
- • wherein the first sensor element is electrically connected to the measuring system electronics by means of the first and second connecting lines (forming a first measuring channel of the measuring system), for example with the interposition of a feedthrough,
- • wherein the second sensor element is electrically connected to the measuring system electronics by means of the third and fourth connecting lines (forming a second measuring channel of the measuring system), for example with the interposition of a feedthrough,
- • and wherein at least one, for example each, of the first and second connecting lines is (signal-)coupled to at least one, for example each, of the third and fourth connecting lines, for example capacitively, for example by a smallest distance between at least one of the first and second connecting lines and at least one of the third and fourth connecting lines being less than 5 mm,
- • wherein the first sensor element is configured, for example in conjunction with the measuring system electronics, to generate and/or adjust a first electrical (measurement) voltage dependent on the first primary (process) measurement variable,
- • and wherein the second sensor element has an electrical (sensor) resistance, for example at a temperature of 20°C not less than 90 Ω and/or not more than 1.1 kΩ, and is configured to follow a change in the second primary measured variable with a change in the same resistance,
- • wherein the measuring system electronics are configured to temporarily record and evaluate the first electrical (measurement) voltage, for example, to digitize it and/or to determine (digital) first (voltage) measured values representing the (measurement) voltage,
- • the measuring system electronics are set up,
- • to temporarily cause a voltage drop across the second sensor element, to temporarily energise the second sensor element, namely during a predetermined time, for example not less than 10 ms to drive an electrical (measuring) current through the second sensor element and the third and fourth connecting lines during a first (energizing) time interval t1, for example an impressed and/or constant and/or having a maximum current of not less than 0.1 mA and/or converting a maximum electrical power of not less than 0.4 mW in the second sensor element, and to not energize the second sensor element or to drive no (measuring) current through the second sensor element and the third and fourth connecting lines during a second time interval t2 preceding the first time interval and a third time interval t3 following the first (energizing) time interval, such that the (measuring) current is maintained at least during a fourth time interval (immediately) following the second time interval and (immediately) preceding the first (energizing) time interval, for example lasting not less than 1 µs (microsecond). (Transition) time interval has a (rising) first current edge, for example with a current rise rate that is at least temporarily and/or on average (arithmetic) time, not less than 0.1 mA/µs, and that the (measurement) current has a (falling) second current edge, for example with a current fall rate that is at least temporarily and/or on average (arithmetic) time, not less than 0.1 mA/µs, at least during a fifth (transition) time interval that (immediately) follows the first (current supply) time interval and (immediately) precedes the third time interval, for example lasting not less than 1µs (microsecond),
- • and wherein the measuring system electronics are configured to detect and evaluate a second electrical (measurement) voltage dependent on the voltage drop across the second sensor element during the first (energization) time interval t1, for example to digitize it and/or to determine (digital) second (voltage) measured values representing the (measurement) voltage;
- • wherein the measuring system electronics are configured to determine, based on at least the first electrical (measurement) voltage, for example based on both the first electrical (measurement) voltage and the second electrical (measurement) voltage, one or more (digital) measured values for the first primary (process) measured variable and/or one or more (digital) measured values for the secondary (process) measured variable, for example to determine them and output them as qualified measured values of the measuring system,
- • and wherein the measuring system electronics are configured, for example, to avoid measurement errors caused by (signal) coupling from the third and/or fourth connecting lines into the first and/or second connecting lines in measured values determined for the first measured variable:
- not to output a (qualified) measured value for the first primary (process) measured variable based on the first (measurement) voltage recorded during the fourth and fifth (transition) time intervals,
- and/or not to determine a measured value for the first primary (process) measured variable based on the first electrical (measurement) voltage applied during the fourth and fifth (transition) time intervals,
- and/or not to output a (qualified) measured value for the secondary (process) measured variable based on the first (measurement) voltage recorded during the fourth and fifth (transition) time intervals,
- and/or not to determine a measured value for the secondary (process) measured variable based on the first electrical (measurement) voltage applied during the fourth and fifth (transition) time intervals,
- and/or during the fourth (transition) time interval, to determine (qualified) measured values for the first primary (process) measured variable and/or for the secondary (process) measured variable based on a first (measurement) voltage previously recorded during the second time interval,
Darüberhinaus besteht die Erfindung auch darin, ein solches Meßsystems zum Messen sowohl einer ersten primäre (Prozeß-)Meßgröße, beispielsweise eines zeitlich ändernden (statischen) Drucks, als auch einer (von der ersten Meßgröße verschiedenen) zweiten primäre (Prozeß-)Meßgröße, beispielsweise einer zeitlich ändernden Temperatur, eines (in einer Leitung geführten oder in einem Behälter gehaltenen) fluiden Meßstoffs zu verwenden.Furthermore, the invention also consists in using such a measuring system for measuring both a first primary (process) measured variable, for example a time-varying (static) pressure, and a second primary (process) measured variable (different from the first measured variable), for example a time-varying temperature, of a fluid medium (conducted in a line or held in a container).
Nach einer ersten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist:
- keinen basierend auf der während des (Bestromungs-)Zeitintervalls erfassten ersten (Meß-)Spannung ermittelten (qualifizierten) Meßwert für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße auszugeben,
- und/oder keinen Meßwert für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße basierend auf der während des (Bestromungs-)Zeitintervalls anliegenden ersten elektrischen (Meß-)Spannung zu ermitteln,
- und/oder keinen basierend auf der während des (Bestromungs-)Zeitintervalls erfassten ersten (Meß-)Spannung ermittelten (qualifizierten) Meßwert für die sekundäre (Prozeß-)Meßgröße auszugeben,
- und/oder keinen Meßwert für die sekundäre (Prozeß-)Meßgröße basierend auf der während des (Bestromungs-)Zeitintervalls anliegenden ersten elektrischen (Meß-)Spannung zu ermitteln. Diese Ausgestaltung der Erfindung weiterbildend ist die Meßsystem-Elektronik ferner eingerichtet, (qualifizierte) Meßwerte für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße und/oder für die sekundäre (Prozeß-)Meßgröße basierend auf einer während des ersten Zeitintervalls erfassten ersten (Meß-)Spannung zu ermitteln, und/oder basierend auf einer während des (Bestromungs-)Zeitintervalls erfassten ersten (Meß-)Spannung ermittelte (qualifizierte) Meßwerte für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße und/oder für die sekundäre (Prozeß-)Meßgröße auszugeben.
- not to output a (qualified) measured value for the first primary (process) measured variable based on the first (measurement) voltage recorded during the (current supply) time interval,
- and/or not to determine a measured value for the first primary (process) measured variable based on the first electrical (measurement) voltage applied during the (energization) time interval,
- and/or not to output a (qualified) measured value for the secondary (process) measured variable based on the first (measurement) voltage recorded during the (current supply) time interval,
- and/or not to determine a measured value for the secondary (process) measured variable based on the first electrical (measurement) voltage present during the (energization) time interval. Further developing this embodiment of the invention, the measuring system electronics is further configured to determine (qualified) measured values for the first primary (process) measured variable and/or for the secondary (process) measured variable based on a first (measurement) voltage detected during the first time interval, and/or to output (qualified) measured values for the first primary (process) measured variable and/or for the secondary (process) measured variable determined based on a first (measurement) voltage detected during the (energization) time interval.
Nach einer zweiten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß das erste Sensorelement eine, beispielsweise bei einer Temperatur von 20°C nicht weniger als 10pF und/oder nicht mehr als 100 pF betragende, elektrische (Sensor-)Kapazität aufweist und eingerichtet ist, einer Änderung der ersten primäre (Prozeß-)Meßgröße mit einer Änderung nämlicher (Sensor-)Kapazität zu folgen, und daß die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, zum Bewirken der ersten elektrischen (Meß-)Spannung die Kapazität des ersten Sensorelements, beispielsweise zumindest während der zweiten und dritten Zeitintervalle, elektrisch aufzuladen bzw. aufgeladen zu halten. Diese Ausgestaltung der Erfindung weiterbildend ist die Meßsystem-Elektronik ferner eingerichtet, die erste elektrische (Meß-)Spannung (im wesentlichen) proportional zu einer elektrischen Ladung der (Sensor-)Kapazität des ersten Sensorelements ist.According to a second embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that the first sensor element has an electrical (sensor) capacitance, for example, at a temperature of 20°C, of not less than 10 pF and/or not more than 100 pF, and is configured to follow a change in the first primary (process) measured variable with a change in the same (sensor) capacitance, and that the measuring system electronics are configured to electrically charge or keep charged the capacitance of the first sensor element, for example, at least during the second and third time intervals, in order to effect the first electrical (measurement) voltage. Further developing this embodiment of the invention, the measuring system electronics are further configured such that the first electrical (measurement) voltage is (substantially) proportional to an electrical charge of the (sensor) capacitance of the first sensor element.
Nach einer dritten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, die erste (Meß-)Spannung repräsentierende (Spannungs-)Meßwerte zu ermitteln, beispielsweise nämlich zu ermitteln und in einem (flüchtigen) digitalen Datenspeicher zu speichern. Diese Ausgestaltung der Erfindung weiterbildend ist die Meßsystem-Elektronik ferner eingerichtet, die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, einen oder mehrere Meßwerte für die zweite primäre (Prozeß-)Meßgröße unter Verwendung eines oder mehrerer die erste (Meß-)Spannung repräsentierende (Spannungs-)Meßwerte zu ermitteln.According to a third embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that the measuring system electronics are configured to determine (voltage) measured values representing the first (measurement) voltage, for example, to determine them and store them in a (volatile) digital data memory. Further developing this embodiment of the invention, the measuring system electronics are further configured to determine one or more measured values for the second primary (process) measured variable using one or more (voltage) measured values representing the first (measurement) voltage.
Nach einer vierten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, die zweite (Meß-)Spannung repräsentierende (Spannungs-)Meßwerte zu ermitteln, beispielsweise nämlich zu ermitteln und in einem (flüchtigen) digitalen Datenspeicher zu speichern. Diese Ausgestaltung der Erfindung weiterbildend ist die Meßsystem-Elektronik ferner eingerichtet, einen oder mehrere Meßwerte für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße unter Verwendung eines oder mehrerer die zweite (Meß-)Spannung repräsentierende (Spannungs-)Meßwerte zu ermitteln und/oder einen oder mehrere Meßwerte für die erste sekundäre (Prozeß-)Meßgröße unter Verwendung eines oder mehrerer die zweite (Meß-)Spannung repräsentierende (Spannungs-)Meßwerte zu ermitteln und/oder einen oder mehrere Meßwerte für die zweite primäre (Prozeß-)Meßgröße unter Verwendung eines oder mehrerer die zweite (Meß-)Spannung repräsentierende (Spannungs-)Meßwerte zu ermitteln.According to a fourth embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that the measuring system electronics are configured to determine (voltage) measured values representing the second (measurement) voltage, for example, to determine them and store them in a (volatile) digital data memory. Further developing this embodiment of the invention, the measuring system electronics are further configured to determine one or more measured values for the first primary (process) measured variable using one or more (voltage) measured values representing the second (measurement) voltage and/or to determine one or more measured values for the first secondary (process) measured variable using one or more (voltage) measured values representing the second (measurement) voltage and/or to determine one or more measured values for the second primary (process) measured variable using one or more (voltage) measured values representing the second (measurement) voltage.
Nach einer fünften Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, basierend auf der zweiten elektrischen (Meß-)Spannung einen oder mehrere, beispielsweise für die Ermittlung wenigstens eines Meßwerts für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße und/oder die sekundäre (Prozeß-)Meßgröße jeweils als Hilfsmeßwert dienliche, (digitale) Meßwerte für die zweite primäre (Prozeß-)Meßgröße zu ermitteln, beispielsweise nämlich zu ermitteln und in einem (flüchtigen) digitalen Datenspeicher zu speichern. Diese Ausgestaltung der Erfindung weiterbildend ist die Meßsystem-Elektronik ferner eingerichtet, einen oder mehrere Meßwerte für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße unter Verwendung eines oder mehrerer Meßwerte für die zweite primäre (Prozeß-)Meßgröße zu ermitteln.According to a fifth embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that the measuring system electronics are configured to determine, based on the second electrical (measurement) voltage, one or more (digital) measured values for the second primary (process) measured variable, for example, for determining at least one measured value for the first primary (process) measured variable and/or the secondary (process) measured variable, each serving as an auxiliary measured value, for example, to determine them and store them in a (volatile) digital data memory. Further developing this embodiment of the invention, the measuring system electronics are further configured to determine one or more measured values for the first primary (process) measured variable using one or more measured values for the second primary (process) measured variable.
Nach einer sechsten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, basierend auf zumindest der zweiten elektrischen (Meß-)Spannung, beispielsweise basierend auf sowohl der zweiten elektrischen (Meß-)Spannung als auch ersten elektrischen (Meß-)Spannung, einen oder mehrere (digitale) Meßwerte für die zweite primäre (Prozeß-)Meßgröße zu ermitteln, beispielsweise nämlich zu ermitteln und als qualifizierte Meßwerte des Meßsystems auszugeben.According to a sixth embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that the measuring system electronics are set up based on at least the second electrical (measurement) voltage, for example based on both the second electrical (measurement) voltage as well as first electrical (measurement) voltage, to determine one or more (digital) measured values for the second primary (process) measured variable, for example to determine them and output them as qualified measured values of the measuring system.
Nach einer siebenten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß jede der ersten und zweiten Verbindungsleitungen jeweils zumindest teilweise, beispielsweise vollständig, ungeschirmt sind.According to a seventh embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that each of the first and second connecting lines is at least partially, for example completely, unshielded.
Nach einer achten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß jede der dritten und vierten Verbindungsleitungen jeweils zumindest teilweise, beispielsweise vollständig, ungeschirmt sind.According to an eighth embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that each of the third and fourth connecting lines is at least partially, for example completely, unshielded.
Nach einer neunten Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß jede der ersten und zweiten Verbindungsleitungen jeweils zumindest teilweise mittels jeweils einer auf einer (flexiblen) Leiterplatte angeordneten Leiterbahn gebildet ist.According to a ninth embodiment of the invention, it is further provided that each of the first and second connecting lines is formed at least partially by means of a conductor track arranged on a (flexible) printed circuit board.
Nach einer zehnten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß jede der dritten und vierten Verbindungsleitungen jeweils zumindest teilweise mittels jeweils einer auf einer (flexiblen) Leiterplatte angeordneten Leiterbahn gebildet ist.According to a tenth embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that each of the third and fourth connecting lines is formed at least partially by means of a conductor track arranged on a (flexible) printed circuit board.
Nach einer elften Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß jede der ersten, zweiten, dritten und vierten Verbindungsleitungen jeweils zumindest teilweise mittels jeweile iner auf ein und derselben (flexiblen) Leiterplatte angeordneten Leiterbahn gebildet ist.According to an eleventh embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that each of the first, second, third and fourth connecting lines is formed at least partially by means of a respective conductor track arranged on one and the same (flexible) printed circuit board.
Nach einer zwölften Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die ersten und zweiten Verbindungsleitungen zumindest abschnittsweise zueinander parallel verlaufen.According to a twelfth embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that the first and second connecting lines run parallel to each other at least in sections.
Nach einer dreizehnten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die dritten und vierten Verbindungsleitungen zumindest abschnittsweise zueinander parallel verlaufen.According to a thirteenth embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that the third and fourth connecting lines run parallel to each other at least in sections.
Nach einer vierzehnten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die ersten und dritten Verbindungsleitungen zumindest abschnittsweise zueinander parallel verlaufen.According to a fourteenth embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that the first and third connecting lines run parallel to each other at least in sections.
Nach einer fünfzehnten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die ersten und vierten Verbindungsleitungen zumindest abschnittsweise zueinander parallel verlaufen.According to a fifteenth embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that the first and fourth connecting lines run parallel to each other at least in sections.
Nach einer sechzehnten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die ersten, zweiten, dritten und vierten Verbindungsleitungen zumindest abschnittsweise zueinander parallel verlaufen.According to a sixteenth embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that the first, second, third and fourth connecting lines run parallel to one another at least in sections.
Nach einer siebzehnten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung weist die Meßsystem-Elektronik wenigstens einen Operationsverstärker, beispielsweise einen FET- oder einen CMOS-Operationsverstärker, auf, wobei das erste Sensorelement mittels der ersten und zweiten Verbindungsleitungen, beispielsweise unter Bildung eines Ladungs-Spannungs-Wandlers der Meßsystem-Elektronik, an einen (hochohmigen) (Spannungs-)Eingang des Operationsverstärkers elektrisch angeschlossen ist und wobei der Operationsverstärker eingerichtet ist, (bei im ersten Betriebsmodus operierender Meßsystem-Elektronik) die erste elektrische (Meß-)Spannung an einem (Spannungs-)Ausgang zu liefern. Diese Ausgestaltung der Erfindung weiterbildend weist der Operationsverstärker einen dessen (Spannungs-)Ausgang auf dessen (Spannungs-)Eingang rückkoppelnden, beispielsweise geschalteten, (Rückkoppel-)Kondensator (Cf) auf. Vorteilhaft kann der (Rückkoppel-)Kondensator (Cf) eine (Rückkoppel-)Kapazität aufweisen, die nicht weniger 0,1 pF und/oder nicht mehr als 100 pF beträgt.According to a seventeenth embodiment of the measuring system of the invention, the measuring system electronics comprises at least one operational amplifier, for example, an FET or a CMOS operational amplifier, wherein the first sensor element is electrically connected to a (high-impedance) (voltage) input of the operational amplifier by means of the first and second connecting lines, for example, forming a charge-to-voltage converter of the measuring system electronics, and wherein the operational amplifier is configured to supply the first electrical (measurement) voltage at a (voltage) output (when the measuring system electronics is operating in the first operating mode). Further developing this embodiment of the invention, the operational amplifier comprises a (feedback) capacitor (Cf) that feeds back its (voltage) output to its (voltage) input, for example, a switched (feedback) capacitor. Advantageously, the (feedback) capacitor (Cf) may have a (feedback) capacitance which is not less than 0.1 pF and/or not more than 100 pF.
Nach einer achtzehnten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die Meßsystem-Elektronik wenigstens eine, beispielsweise schaltbare, (elektronische) Stromquelle aufweist, wobei das zweite Sensorelement mittels der dritten und vierten Verbindungsleitungen an einen (Strom-)Ausgang der Stromquelle elektrisch angeschlossen ist und wobei die Stromquelle eingerichtet ist, den (Meß-)Strom zu liefern.According to an eighteenth embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that the measuring system electronics has at least one, for example switchable, (electronic) current source, wherein the second sensor element is electrically connected to a (current) output of the current source by means of the third and fourth connecting lines and wherein the current source is configured to supply the (measurement) current.
Nach einer neunzehnten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die Meßsystem-Elektronik wenigstens eine, beispielsweise schaltbare, (elektronische) Spannungsquelle aufweist, wobei das zweite Sensorelement mittels der dritten und vierten Verbindungsleitungen an einen Ausgang der Spannungsquelle elektrisch angeschlossen ist und wobei die Spannungsquelle eingrichtet ist, den (Meß-)Strom zu treiben.According to a nineteenth embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that the measuring system electronics has at least one, for example switchable, (electronic) voltage source, wherein the second sensor element is electrically connected to an output of the voltage source by means of the third and fourth connecting lines and wherein the voltage source is configured to drive the (measurement) current.
Nach einer zwanzigsten Ausgestaltung des Meßsystems der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, basierend auf der zweiten (Meß-)Spannung den Sensor-Widerstand des zweiten Sensorelements zu ermitteln.According to a twentieth embodiment of the measuring system of the invention, it is further provided that the measuring system electronics are configured to determine the sensor resistance of the second sensor element based on the second (measurement) voltage.
Nach einer einundzwanzigsten Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die Meßsystem-Elektronik wenigstens ein einen, beispielsweise bei einer Temperatur von 20°C nicht weniger als 90 Ω und/oder nicht mehr als 1,1 kΩ betragenden, elektrischen (Referenz-)Widerstand aufweisendes elektrisch mit dem zweiten Sensorelement verbundenes, beispielsweise elektrisch in Reihe zum zweiten Sensorelement geschaltetes, (Referenz-)Widerstandselement aufweist. Diese Ausgestaltung der Erfindung weiterbildend ist die Meßsystem-Elektronik eingerichtet, während des ersten (Bestromungs-)Zeitintervalls eine von einem Spannungsfall über dem (Referenz-)Widerstandselement abhängige elektrische dritte (Referenz-)Spannung zu erfassen und auszuwerten, beispielsweise nämlich zu digitalisieren und/oder die Referenz-Spannung repräsentierende (digitale) dritte Spannungs-Meßwerte zu ermitteln. Vorteilhaft kann die Meßsystem-Elektronik zudem eingerichtet sein, basierend auf der dritten (Referenz-)Spannung den (Sensor-)Widerstand des zweiten Sensorelements, beispielsweise nämlich basierend auf den zweiten und dritten Spannungen sowie dem (Referenz-)Widerstand und/oder ratiometrisch, zu ermitteln.According to a twenty-first embodiment of the invention, it is further provided that the measuring system electronics have at least one, for example, at a temperature of 20°C not a (reference) resistance element having an electrical (reference) resistance of less than 90 Ω and/or not more than 1.1 kΩ, which is electrically connected to the second sensor element, for example, electrically connected in series with the second sensor element. Further developing this embodiment of the invention, the measuring system electronics are configured to detect and evaluate, for example, digitize and/or determine (digital) third voltage measurement values representing the reference voltage, an electrical third (reference) voltage that is dependent on a voltage drop across the (reference) resistance element during the first (current supply) time interval. Advantageously, the measuring system electronics can also be configured to determine the (sensor) resistance of the second sensor element based on the third (reference) voltage, for example, based on the second and third voltages as well as the (reference) resistance and/or ratiometrically.
Nach einer zweiundzwanzigsten Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, basierend auf zumindest der ersten elektrischen (Meß-)Spannung Meßwerte für eine (als sekundäre Meßgröße dienliche) Frequenz von zumindest zeitweise periodischen Druckschwankungen innerhalb eines fluiden Meßstoffs, beispielsweise von Druckschwankungen innerhalb einer in einer Strömung des Meßstoffs ausgebildten Karmanschen Wirbelstraße, zu ermitteln.According to a twenty-second embodiment of the invention, it is further provided that the measuring system electronics are configured to determine, based on at least the first electrical (measurement) voltage, measured values for a frequency (serving as a secondary measured variable) of at least temporarily periodic pressure fluctuations within a fluid measuring medium, for example of pressure fluctuations within a Karman vortex street formed in a flow of the measuring medium.
Nach einer dreiundzwanzigsten Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, basierend auf zumindest der zweiten elektrischen (Meß-)Spannung Meßwerte für eine (als zweite primäre Meßgröße dienliche) (Meßstoff-)Temperatur eines, beispielsweise strömenden, fluiden Meßstoffs zu ermitteln.According to a twenty-third embodiment of the invention, it is further provided that the measuring system electronics are configured to determine measured values for a (measuring substance) temperature (serving as a second primary measured variable) of a, for example, flowing, fluid measuring substance based on at least the second electrical (measuring) voltage.
Nach einer vierundzwanzigsten Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, basierend auf den ersten und zweiten elektrischen (Meß-)Spannungen Meßwerte für einen (als erste primäre Meßgröße dienlichen) (statischen) Druck eines (strömenden) fluiden Meßstoffs zu ermitteln.According to a twenty-fourth embodiment of the invention, it is further provided that the measuring system electronics are configured to determine measured values for a (static) pressure of a (flowing) fluid medium (serving as the first primary measured variable) based on the first and second electrical (measurement) voltages.
Nach einer fünfundzwanzigsten Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, basierend auf den ersten und zweiten elektrischen (Meß-)Spannungen Meßwerte für einen (als sekundäre Meßgröße dienlichen) Volumenstrom eines strömenden (fluiden) Meßstoffs zu ermitteln.According to a twenty-fifth embodiment of the invention, it is further provided that the measuring system electronics are configured to determine measured values for a volume flow of a flowing (fluid) medium (serving as a secondary measured variable) based on the first and second electrical (measurement) voltages.
Nach einer sechsundzwanzigsten Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß die Meßsystem-Elektronik eingerichtet ist, basierend auf den ersten und zweiten elektrischen (Meß-)Spannungen Meßwerte für einen (als sekundäre Meßgröße dienlichen) Massenstrom eines strömenden (fluiden) Meßstoffs zu ermitteln.According to a twenty-sixth embodiment of the invention, it is further provided that the measuring system electronics are configured to determine measured values for a mass flow of a flowing (fluid) medium (serving as a secondary measured variable) based on the first and second electrical (measurement) voltages.
Nach einer siebenundzwanzigsten Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß das erste Sensorelement mittels wenigstens eines, beispielsweise als Plattenkondensator ausgebildeten, (Meß-)Kondensators gebildet ist, beispielsweise mit einer in Abhängigkeit von der ersten primären Meßgröße ändernden (Kondensator-)Elektrodengeometrie und/oder mit einem in Abhängigkeit von der ersten primären Meßgröße ändernden Dielektrikum.According to a twenty-seventh embodiment of the invention, it is further provided that the first sensor element is formed by means of at least one (measuring) capacitor, for example designed as a plate capacitor, for example with a (capacitor) electrode geometry changing as a function of the first primary measured variable and/or with a dielectric changing as a function of the first primary measured variable.
Nach einer achtundzwanzigsten Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß das zweite Sensorelement (R1) mittels wenigstens eines Platin-Meßwiderstands, beispielsweise eines Pt100 und/oder eines Pt1000, gebildet ist.According to a twenty-eighth embodiment of the invention, it is further provided that the second sensor element (R1) is formed by means of at least one platinum measuring resistor, for example a Pt100 and/or a Pt1000.
Nach einer ersten Weiterbildung der Erfindung umfaßt das Meßsystem weiters wenigstens eine, beispielsweise explosionsdruckfeste (Ex-d) und/oder zum internationalen Standard IEC 60079-1:2014 konforme, (elektrische) Durchführung.According to a first development of the invention, the measuring system further comprises at least one (electrical) feedthrough, for example explosion-pressure-resistant (Ex-d) and/or compliant with the international standard IEC 60079-1:2014.
Nach einer ersten Ausgestaltung der ersten Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, daß die ersten, zweiten, dritten und vierten Verbindungsleitungen abschnittsweise innerhalb der Durchführung geführt sind.According to a first embodiment of the first further development of the invention, it is provided that the first, second, third and fourth connecting lines are guided in sections within the bushing.
Nach einer zweiten Ausgestaltung der ersten Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, daß die Durchführung, beispielsweise mittel ungeschirmter (Anschluß-)Pins, an die ersten, zweiten, dritten und vierten Verbindungsleitungen elektrisch angeschlossen ist.According to a second embodiment of the first development of the invention, it is provided that the feedthrough is electrically connected to the first, second, third and fourth connecting lines, for example by means of unshielded (connecting) pins.
Nach einer dritten Ausgestaltung der ersten Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, daß die Durchführung den ersten, zweiten, dritten und vierten Verbindungsleitungen zwischengeschaltet ist. According to a third embodiment of the first further development of the invention, it is provided that the bushing is interposed between the first, second, third and fourth connecting lines.
Nach einer zweiten Weiterbildung der Erfindung umfaßt das Meßsystem weiters ein, beispielsweise explosionsdruckfestes (Ex-d) und/oder zum internationalen Standard IEC 60079-1:2014 konformes, Elektronik-(Schutz-)Gehäuse für die Meßsystem-Elektronik.According to a second development of the invention, the measuring system further comprises an electronics (protective) housing for the measuring system electronics, for example one that is explosion-pressure-resistant (Ex-d) and/or conforms to the international standard IEC 60079-1:2014.
Nach einer dritten Weiterbildung der Erfindung umfaßt das Meßsystem weiters einen, beispielsweise mittels Flanschverbindung lösbar mit dem Elektronik-(Schutz-)Gehäuse verbundenen und/oder Röhren förmigen, (Gehäuse-)Anschlußstutzen. Vorteilhaft können zudem die ersten, zweiten, dritten und vierten Verbindungsleitungen zumindest anteilig innerhalb des (Gehäuse-)Anschlußstutzens geführt sein, beispielsweise auch derart, daß sie zumindest abschnittsweise zueinander parallel verlaufen.According to a third development of the invention, the measuring system further comprises a (housing) connection piece, which is detachably connected to the electronics (protective) housing, for example by means of a flange connection, and/or is tubular. Advantageously, the first, second, third, and fourth connecting lines can also be at least be guided proportionately within the (housing) connection piece, for example in such a way that they run parallel to each other at least in sections.
Nach einer vierten Weiterbildung der Erfindung umfaßt das Meßsystem weiters ein, beispielsweise mittels einer Membran und/oder einer Hülse und/oder einer Platte gebildetes, (Prozeß-)Koppelelement, das dafür eingerichtet ist, (im Betrieb des Meßsystems) von einem fluiden Meßstoff kontaktiert, beispielsweise nämlich an- und/oder umströmt, zu werden, beispielsweise derart, daß das (Prozeß-)Koppelelement eine von einer (Meßstoff-)Temperatur des Meßstoffs abhängige (Koppelelement-)Temperatur aufweist und/oder daß das (Prozeß-)Koppelelement eine von einem (Meßstoff-)Druck abhängige (elastische) Dehnung aufweist.According to a fourth development of the invention, the measuring system further comprises a (process) coupling element, formed for example by means of a membrane and/or a sleeve and/or a plate, which is designed to be contacted by a fluid medium (during operation of the measuring system), for example to be flowed against and/or around, for example in such a way that the (process) coupling element has a (coupling element) temperature dependent on a (measured medium) temperature of the measured medium and/or that the (process) coupling element has an (elastic) expansion dependent on a (measured medium) pressure.
Nach einer ersten Ausgestaltung der vierten Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, daß das Koppelelement eingerichtet ist, auf eine Änderung einer (Meßstoff-)Temperatur des Meßstoffs mit einer Änderung einer (Koppelelement-)Temperatur zu reagieren, beispielsweise derart, daß die (Koppelelement-)Temperatur des Koppelelements stationär von einer stationären (Meßstoff-)Temperatur des Meßstoffs um weniger als 2 K (Kelvin) abweicht.According to a first embodiment of the fourth development of the invention, it is provided that the coupling element is configured to react to a change in a (measuring substance) temperature of the measuring substance with a change in a (coupling element) temperature, for example in such a way that the (coupling element) temperature of the coupling element deviates stationary from a stationary (measuring substance) temperature of the measuring substance by less than 2 K (Kelvin).
Nach einer zweiten Ausgestaltung der vierten Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, daß das Koppelelement eingerichtet ist, auf eine Änderung eines (Meßstoff-)Drucks des Meßstoffs mit einer, beispielsweise biaxialen und/oder elastischen, Dehnung zu reagieren.According to a second embodiment of the fourth development of the invention, it is provided that the coupling element is designed to react to a change in a (measuring medium) pressure of the measuring medium with an, for example, biaxial and/or elastic, expansion.
Nach einer dritten Ausgestaltung der vierten Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, daß das Koppelelement eingerichtet ist, zumindest teilweise in eine Lumen eines (dem Führen eines fluiden Meßstoffs dienlichen) Rohrs eingesetzt zu werden, beispielsweise nämlich durch eine Öffnung in einer das Lumen umhüllenden Rohrwand hindurch in das Lumen eingesetzt und an nämlicher Rohrwand (wieder lösbar) fixiert zu werden.According to a third embodiment of the fourth development of the invention, it is provided that the coupling element is designed to be inserted at least partially into a lumen of a tube (serving to guide a fluid measuring substance), for example, namely through an opening in a tube wall enclosing the lumen into the lumen and to be fixed (removably) to the same tube wall.
Nach einer vierten Ausgestaltung der vierten Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, daß das Koppelelement eingerichtet ist, zumindest teilweise in ein Lumen eines (dem Führen eines fluiden Meßstoffs dienlichen) Behälters, beispielsweise einem Tank, eingesetzt zu werden, beispielsweise nämlich durch eine Öffnung in einer das Lumen umhüllenden Behälterwand hindurch in das Lumen eingesetzt und an nämlicher Behälterwand (wieder lösbar) fixiert zu werden.According to a fourth embodiment of the fourth development of the invention, it is provided that the coupling element is designed to be inserted at least partially into a lumen of a container (serving to guide a fluid measuring substance), for example a tank, for example through an opening in a container wall enclosing the lumen into the lumen and to be fixed (removably) to the same container wall.
Nach einer fünften Ausgestaltung der vierten Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, daß das Koppelelement zumindest teilweise, beispielsweise vollständig, aus Metall besteht, beispielsweise einem (Edel-)Stahl und/oder einer Nickelbasis-Legierung.According to a fifth embodiment of the fourth development of the invention, it is provided that the coupling element consists at least partially, for example completely, of metal, for example a (stainless) steel and/or a nickel-based alloy.
Nach einer sechsten Ausgestaltung der vierten Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, daß das Koppelelement und das erste Sensorelement zumindest mechanisch aneinander gekoppelt sind, beispielsweise derart, daß die erste elektrische (Meß-)Spannung von der Dehnung des Koppelelements abhängig ist bzw. daß eine Änderung einer Dehnung des Koppelelements eine Änderung der ersten elektrische (Meß-)Spannung bewirkt.According to a sixth embodiment of the fourth development of the invention, it is provided that the coupling element and the first sensor element are at least mechanically coupled to one another, for example in such a way that the first electrical (measurement) voltage is dependent on the strain of the coupling element or that a change in the strain of the coupling element causes a change in the first electrical (measurement) voltage.
Nach einer siebenten Ausgestaltung der vierten Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, daß das erste Sensorelement (integraler) Bestandteil des Koppelelements ist, beispielsweise derart, daß die erste elektrische (Meß-)Spannung von der Dehnung des Koppelelements abhängig ist bzw. daß eine Änderung einer Dehnung des Koppelelements eine Änderung der ersten elektrische (Meß-)Spannung bewirkt.According to a seventh embodiment of the fourth development of the invention, it is provided that the first sensor element is an (integral) component of the coupling element, for example in such a way that the first electrical (measurement) voltage is dependent on the strain of the coupling element or that a change in the strain of the coupling element causes a change in the first electrical (measurement) voltage.
Nach einer achten Ausgestaltung der vierten Weiterbildung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß das Koppelelement anteilig innerhalb eines, beispielsweise mittels Flanschverbindung lösbar mit einem Elektronik-(Schutz-)Gehäuse des Meßsystems verbundenen und/oder Röhren förmigen, (Gehäuse-)AnschlußstutzenAnschlußstutzen des Meßsystems angeordnet, beispielsweise nämlich (an einem zum Elektronik-Gehäuse distalen Stutzenende) mit dem Anschlußstutzen (mechanisch) verbunden ist.According to an eighth embodiment of the fourth development of the invention, it is further provided that the coupling element is arranged partially within a (housing) connecting piece of the measuring system, which is detachably connected, for example, by means of a flange connection to an electronics (protective) housing of the measuring system and/or is tubular, for example, namely (mechanically) connected (at a nozzle end distal to the electronics housing) to the connecting piece.
Nach einer neunten Ausgestaltung der vierten Weiterbildung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß das erste Sensorelement mittels wenigstens eines, beispielsweise als Plattenkondensator ausgebildeten, (Meß-)Kondensators gebildet ist, beispielsweise mit einer in Abhängigkeit von der ersten primären Meßgröße ändernden (Kondensator-)Elektrodengeometrie und/oder mit einem in Abhängigkeit von der ersten primären Meßgröße ändernden Dielektrikum, wobei wenigstens eine, beispielsweise bewegliche, (Kondensator-)Elektrode des (Meß-)Kondensators mit dem Koppelelement mechanisch verbunden bzw. mittels des Koppelelements gebildet ist und/oder wobei das Koppelelement und das zweite Sensorelement zumindest thermisch, beispielsweise nämlich sowohl thermisch als auch mechanisch, aneinander gekoppelt sind, beispielsweise derart, daß die zweite elektrische (Meß-)Spannung von einer (Koppelelement-)Temperatur des Koppelelements abhängig ist bzw. daß eine Änderung einer (Koppelelement-)Temperatur des Koppelelements eine Änderung des elektrischen (Sensor-)Widerstands des zweiten Sensorelements bewirkt.According to a ninth embodiment of the fourth development of the invention, it is further provided that the first sensor element is formed by means of at least one (measuring) capacitor, for example designed as a plate capacitor, for example with a (capacitor) electrode geometry that changes depending on the first primary measured variable and/or with a dielectric that changes depending on the first primary measured variable, wherein at least one, for example movable, (capacitor) electrode of the (measuring) capacitor is mechanically connected to the coupling element or is formed by means of the coupling element and/or wherein the coupling element and the second sensor element are at least thermally coupled to one another, for example both thermally and mechanically, for example in such a way that the second electrical (measuring) voltage is dependent on a (coupling element) temperature of the coupling element or that a change in a (coupling element) temperature of the coupling element causes a change in the electrical (sensor) resistance of the second sensor element causes.
Nach einer fünften Weiterbildung der Erfindung umfaßt das Meßsystem weiters ein, beispielsweise explosionsdruckfestes (Ex-d) und/oder zum internationalen Standard IEC 60079-1:2014 konformes, Elektronik-(Schutz-)Gehäuse für die Meßsystem-Elektronik.According to a fifth development of the invention, the measuring system further comprises an electronics (protective) housing for the measuring system electronics, for example one that is explosion-pressure-resistant (Ex-d) and/or conforms to the international standard IEC 60079-1:2014.
Ein Vorteil der Erfindung besteht darin, daß der für die Ermittlung der zweiten primären Meßgröße benötige Meß-Strom in für den Betrieb des Meßsystem-Elektronik optimierter Weise ein- bzw. ausgeschaltet werden kann, ohne die Meßgenauigkeit des Meßsystems bzw. dessen (Meßwerte-)Aktualisierungsrate zu beeinträchtigen.An advantage of the invention is that the measuring current required for determining the second primary measured variable can be switched on or off in a manner optimized for the operation of the measuring system electronics, without impairing the measuring accuracy of the measuring system or its (measured value) update rate.
Die Erfindung sowie vorteilhafte Ausgestaltungen davon werden nachfolgend anhand von Ausführungsbeispielen näher erläutert, die in den Figuren der Zeichnung dargestellt sind. Gleiche bzw. gleichwirkende oder gleichartig fungierende Teile sind in allen Figuren mit denselben Bezugszeichen versehen; wenn es die Übersichtlichkeit erfordert oder es anderweitig sinnvoll erscheint, wird auf bereits erwähnte Bezugszeichen in nachfolgenden Figuren verzichtet. Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen oder Weiterbildungen, insb. auch Kombinationen zunächst nur einzeln erläuterter Teilaspekte der Erfindung, ergeben sich ferner aus den Figuren der Zeichnung und/oder aus den Ansprüchen an sich.The invention and advantageous embodiments thereof are explained in more detail below using exemplary embodiments illustrated in the figures of the drawing. Identical or equivalent or functioning parts are provided with the same reference numerals in all figures; where clarity requires it or it otherwise seems expedient, previously mentioned reference numerals have been omitted in subsequent figures. Further advantageous embodiments or developments, in particular combinations of partial aspects of the invention initially explained only individually, will become apparent from the figures of the drawing and/or from the claims themselves.
Im einzelnen zeigen:
-
1 in einer perspektivischen Seitenansicht ein Ausführungsbeispiel für ein erfindungsgemäßes Meßsystem; -
2 schematisch in einer teilweise geschnitten Seitenansichtein Meßsystem gemäß 1 ; -
3 schematisch ein Ausführungsbeispiel für eine für ein Meßsystem gemäß1 geeignete Meßsystem-Elektronik; -
4 und in einem Zeitdiagramm Verläufe von Meßspannungen bzw. -strömen in einer Meßsystem-Elektronik gemäß 3 .
-
1 in a perspective side view an embodiment of a measuring system according to the invention; -
2 schematically in a partially sectioned side view a measuring system according to1 ; -
3 schematically an embodiment of a measuring system according to1 suitable measuring system electronics; -
4 and in a time diagram, curves of measuring voltages or currents in a measuring system electronics according to3 .
In
Das erfindungsgemäße Meßsystem umfaßt zumindest eine, beispielsweise mit einem Energiefluß von weniger als 360 Ws/h und/oder mit einer maximalen elektrischen Leistung von weniger als 1 W (Watt), insb. auch weniger als 0,1 W, betreibbare bzw. betriebenen, Meßsystem-Elektronik 2, wenigstens ein, beispielsweise kapazitives und/oder passives, erstes Sensorelement C1 zum Erfassen der ersten primären (Prozeß-)Meßgröße, wenigstens ein, beispielsweise resistives, passives zweites Sensorelement R1 zum Erfassen der zweiten primären (Prozeß-)Meßgröße. Nicht zuletzt für den vorbezeichneten Fall, daß das Meßsystem als Vortex-Durchfluß-Meßgerät ausgebildet ist, können die die ersten und zweiten Sensorelemente beispielsweise dafür vorgesehen bzw. eingerichtet sein, die ersten bzw. zweiten primären (Prozeß-)Meßgrößen des Meßstoffs (im Betrieb des Meßsystems) stromabwärts des vorbezeichnete Staukörpers bzw. von einer dort formierten Karmanschen Wirbelstrasse zu erfassen, beispielsweise nämlich derart, daß die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße x1 ein mit einer, insb. zu einer Strömungsgeschwindigkeit u des Meßstoffs proportionalen, (Wirbel-)Ablöserate bzw. -frequenz (fV) schwankender (statischer) Druck bzw. dessen zeitliche Änderung und/oder die zweite primäre (Prozeß-)Meßgröße y1 eine (Meßstoff-)Temperatur θ des (verwirbelten) Meßstoffs ist.The measuring system according to the invention comprises at least one
Die - beispielsweise programmierbare - Meßsystem-Elektronik 2 kann eine, insb. als TTY-Schnittstelle ausgebildete, Schnittstellenschaltung sowohl zur leitungsgebundenen Energiespeisung als auch zur leitungsgebundenen Signal- bzw. Meßdatenübertragung aufweisen, mittels der das Meßsystem (unter Bildung einer Stromschleife 2L) an eine übergeordnete, vom Meßsystem im Betrieb benötigte elektrische Energie bereitstellende Auswerte- und Versorgungselektronik elektrisch anschließbar ist. Beispielsweise kann die Meßsystem-Elektronik 2 eingerichtet sein, mittels einer durch die Schnittstellenschaltung ausgeführten (Last-)Modulation eines von der Auswerte- und Versorgungselektronik getriebenen elektrischen (Schleifen-)Stroms in der Stromschleife 2L sowohl elektrische Leistung aus der vorbezeichneten Stromschleife 2L zu beziehen als auch (Meß-)Daten an die Auswerte- und Versorgungselektronik zu übertragen, beispielsweise in Form eines zur DIN IEC 60381-1:1985-11 konformen (4 - 20 mA-)Einheitssignals. Zum vorübergehenden Speichern von digitalen (Meß-)Daten kann die Meßsystem-Elektronik 2 ferner beispielsweise zumindest einen (flüchtigen) digitalen Datenspeicher (RAM) aufweisen.The measuring system electronics 2 - which can be programmed, for example - can have an interface circuit, particularly designed as a TTY interface, for both wired power supply and wired signal or measurement data transmission, by means of which the measuring system (forming a
Zum elektrischen Verbinden der ersten und zweiten Sensorelemente C1, R1 mit der, beispielsweise auch mittels wenigstens eines Mikroprozessors (µC) gebildete, Meßsystem-Elektronik 2 umfaßt das erfindungsgemäße Meßsystem ferner erste, zweite, dritte und vierte, insb. nicht miteinander verdrillte, elektrische Verbindungsleitungen 401, 402, 403, 404. Nach einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung ist jede der ersten und zweiten Verbindungsleitungen 401, 402 und/oder ist jede der dritten und vierten Verbindungsleitungen 403, 404, nicht zuletzt aus Kostengründen, jeweils zumindest teilweise, beispielsweise auch vollständig, ungeschirmt und/oder sind die Verbindungsleitungen 401, 402, 403, 404, nicht zuletzt aus Platzgründen, so angeordnet, daß ein kleinster Abstand zwischen wenigstens einer der ersten und zweiten Verbindungsleitungen 401, 402 und wenigstens einer der dritten und vierten Verbindungsleitungen 403, 404 weniger als 5 mm beträgt. Die ersten und zweiten Verbindungsleitungen 401, 402 und/oder die dritten und vierten Verbindungsleitungen 403, 404 können beispielsweise auch jeweils zumindest teilweise mittels jeweils einer auf einer (flexiblen) Leiterplatte angeordneten Leiterbahn gebildet sein. Nach einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung verlaufen die ersten und zweitenFor electrically connecting the first and second sensor elements C1, R1 to the
Verbindungsleitungen 401, 402 und/oder die dritten und vierten Verbindungsleitungen 403, 404 und/oder die ersten und dritten Verbindungsleitungen 401, 403 und/oder die ersten und vierten Verbindungsleitungen 401, 404 zumindest abschnittsweise zueinander parallel, insb. derart, daß die ersten, zweiten, dritten und vierten Verbindungsleitungen 401, 402, 403, 404 zumindest abschnittsweise zueinander parallel verlaufen.
Für die Unterbringung der Meßsystem-Elektronik 2 umfaßt das Meßsystem nach einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung ein, beispielsweise explosionsdruckfestes (Ex-d) und/oder zum internationalen Standard IEC 60079-1:2014 konformes, Elektronik-(Schutz-)Gehäuse 20. Eine mechanische Verbindung des Elektronik-(Schutz-)Gehäuses mit der vorbezeichneten Leitung bzw. dem vorbezeichneten Behälter oder auch mit einem Sensor-(Schutz-)Gehäuse des Meßsystems kann beispielsweise mittels eines, beispielsweise selbst auch mittels Flanschverbindung lösbar mit dem Elektronik-(Schutz-)Gehäuse 20 verbundenen und/oder Röhren förmigen, (Gehäuse-)Anschlußstutzen 30 des Meßsystems hergestellt sein. Für diesen Fall, können die ersten, zweiten, dritten und vierten Verbindungsleitungen 401, 402, 403, 404 zumindest anteilig auch innerhalb des (Gehäuse-)Anschlußstutzens 30 geführt sein, beispielsweise derart, daß sie innerhalb des (Gehäuse-)Anschlußstutzens 30 zumindest abschnittsweise zueinander parallel verlaufen und/oder einander benachbarte Verbindungsleitungen 401, 402, 403, 404 zumindest abschnittsweise nur einen geringen Abstand von weniger als 5 mm aufweisen. Nicht zuletzt für den vorbezeichneten Fall, daß Meßsystem im vorbezeichneten Elektronik-(Schutz-)Gehäuses 20 untergebracht ist und/oder daß die ersten, zweiten, dritten und vierten Verbindungsleitungen zumindest anteilig innerhalb des mit nämlichem Elektronik-(Schutz-)Gehäuses 20 verbundenen (Gehäuse-)Anschlußstutzen 30 geführt sind umfaßt das Meßsystem nach einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung ferner wenigstens eine, beispielsweise explosionsdruckfeste (Ex-d) und/oder zum internationalen Standard IEC 60079-1:2014 konforme, (elektrische) Durchführung 50. Vorteilhaft können die ersten, zweiten, dritten und vierten Verbindungsleitungen abschnittsweise innerhalb der Durchführung 50 geführt sein und/oder kann die Durchführung 50 den ersten, zweiten, dritten und vierten Verbindungsleitungen 401, 402, 403, 404 zwischengeschaltet sein. Nach einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung weist die Durchführung 50, beispielsweise ungeschirmte, (Anschluß-)Pins auf und ist die Durchführung 50 mittels jeweils eines der (Anschluß-)Pins an die ersten, zweiten, dritten und vierten Verbindungsleitungen 401, 402, 403, 404 elektrisch angeschlossen.According to a further embodiment of the invention, the measuring system comprises an electronics (protective)
Wie u.a auch in der
Beim erfindungsgemäßen Meßsystem ist die Meßsystem-Elektronik 2 ferner eingerichtet, zum vorübergehenden Bewirken eines Spannungsfalls über dem zweiten Sensorelement R1 das zweite Sensorelement R1 zeitweise zu bestromen, nämlich, wie auch in
Nach einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung ist die Meßsystem-Elektronik 2 auch eingerichtet, basierend auf der zweiten elektrischen (Meß-)Spannung u2 einen oder mehrere (digitale) Meßwerte für die zweite primäre (Prozeß-)Meßgröße x2 zu ermitteln, beispielsweise um nämliche Meßwerte im vorbezeichneten (flüchtigen) digitalen Datenspeicher zu speichern und/oder um als Hilfsmeßwert für die Ermittlung wenigstens eines Meßwerts für die sekundären und/oder ersten primären (Prozeß-)Meßgrößen zu dienen. Alternativ oder in Ergänzung kann die Meßsystem-Elektronik 2 vorteilhaft ferner auch eingerichtet sein, einen oder mehrere Meßwerte für die erste primäre (Prozeß-)Meßgröße x1 auch unter Verwendung eines oder mehrerer Meßwerte für die zweite primäre (Prozeß-)Meßgröße x2 zu ermitteln. Nicht zuletzt für den vorbezeichneten Fall, daß das Meßsystem als Vortex-Durchfluß-Meßgerät ausgebildet ist, kann die Meßsystem-Elektronik 2 beispielsweise eingerichtet sein, basierend auf zumindest der zweiten elektrischen (Meß-)Spannung u2 Meßwerte für eine als zweite primäre Meßgröße x2 dienliche (Meßstoff-)Temperatur θ eines (strömenden) fluiden Meßstoffs zu ermitteln und/oder kann die Meßsystem-Elektronik 2 eingerichtet sein, basierend auf den ersten und zweiten elektrischen (Meß-)Spannungen Meßwerte für einen (als sekundäre Meßgröße dienlichen) Volumenstrom v und/oder einen (als sekundäre Meßgröße dienlichen) Massestrom m eines strömenden (fluiden) Meßstoffs und/oder Meßwerte für einen (als erste primäre Meßgröße x1 dienlichen) (statischen) Druck p eines (strömenden) fluiden Meßstoffs zu ermitteln.According to a further embodiment of the invention, the measuring
Zum Bereitstellen der ersten elektrische (Meß-)Spannung u1 weist die Meßsystem-Elektronik 2 nach einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung wenigstens einen Operationsverstärker OP, beispielsweise nämlich einen FET- oder einen CMOS-Operationsverstärker, auf. Zudem ist das erste Sensorelement C1 mittels der ersten und zweiten Verbindungsleitungen 401, 402, insb. unter Bildung eines Ladungs-Spannungs-Wandlers der Meßsystem-Elektronik 2, an einen (hochohmigen) (Spannungs-)Eingang des Operationsverstärkers OP elektrisch angeschlossen und ist der Operationsverstärker eingerichtet, (bei im ersten Betriebsmodus operierender Meßsystem-Elektronik) die erste elektrische (Meß-)Spannung u1 an einem (Spannungs-)Ausgang zu liefern. Dafür kann der Operationsverstärker OP beispielsweise auch einen dessen (Spannungs-)Ausgang auf dessen (Spannungs-)Eingang rückkoppelnden, insb. nämlich geschalteten, (Rückkoppel-)Kondensator Cf aufweisen, beispielsweise mit einer (Rückkoppel-)Kapazität, die nicht weniger 0,1 pF und/oder nicht mehr als 100 pF beträgt.To provide the first electrical (measurement) voltage u1, the measuring
Zum Bereitstellen der zweiten elektrische (Meß-)Spannung u2 wiederum weist die Meßsystem-Elektronik 2 nach einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung wenigstens eine, beispielsweise auch schaltbare, (elektronische) Stromquelle auf. Zudem ist das zweite Sensorelement R1 mittels der dritten und vierten Verbindungsleitungen 403, 404 an einen (Strom-)Ausgang der Stromquelle elektrisch angeschlossen und ist die Stromquelle eingerichtet, den (Meß-)Strom i2 zu liefern, insb. derart, daß der (Meß-)Strom ein eingeprägter bzw. auf einen Sollwert geregelter Strom ist. Anstelle der vorbezeichneten Stromquelle kann die Meßsystem-Elektronik 2 beispielsweise auch wenigstens eine, ggf. auch schaltbare (elektronische) Spannungsquelle VREF aufweisen, die - wie auch in
Nicht zuletzt für den vorbezeichneten Fall, daß die Verbindungsleitungen 401, 402, 403, 404 zumindest teilweise ungeschirmt sind und ein kleinster Abstand zwischen wenigstens einer der ersten und zweiten Verbindungsleitungen und wenigstens einer der dritten und vierten Verbindungsleitungen weniger als 5 mm beträgt, ist wenigstens eine, insb. auch jede, der ersten und zweiten Verbindungsleitungen 401, 402 mit wenigstens einer, insb. auch jeder, der dritten und vierten Verbindungsleitungen 403, 404 (signal-)gekoppelt; dies insb. kapazitiv und/oder in der Weise, daß der vorbezeichnete, u.a. auch durch die dritten und vierten Verbindungsleitungen 403, 404 fließende (Meß-)Strom i2 bzw. dessen zeitliche Änderungen (Spannungs-)Störungen in den ersten und zweiten Meßleitungen 401, 402, mithin in der ersten elektrischen (Meß-)Spannung u1 bewirken können bzw. bewirken. Um durch eine derartige (Signal-)Einkopplung von den dritten und/oder vierten Verbindungsleitungen 403, 404 in die ersten und/oder zweiten Verbindungsleitungen 401, 402 allfällig verursachte Störspannungen, insb. aber auch von damit einhergehenden Meßfehler bei für die erste Meßgröße x1 ermittelten Meßwerten, zu minimieren bzw. zu vermeiden ist die Meßsystem-Elektronik 2 beim erfindungsgemäßen Meßsystem ferner eingerichtet, keinen basierend auf der während der vierten und fünften (Übergangs-)Zeitintervalle erfassten ersten (Meß-)Spannung ermittelten (qualifizierten) Meßwert XM für die sekundären und/oder ersten primären (Prozeß-)Meßgrößen auszugeben bzw. keinen Meßwert für die sekundären und/oder ersten primären (Prozeß-)Meßgröße basierend auf der während der vierten und fünften (Übergangs-)Zeitintervalle anliegenden ersten elektrischen (Meß-)Spannung zu ermitteln. Alternativ oder in Ergänzung kann die Meßsystem-Elektronik beim erfindungsgemäßen Meßsystem auch eingerichtet sein, während des vierten (Übergangs-)Zeitintervalls (qualifizierte) Meßwerte für die sekundären und/oder ersten primären (Prozeß-)Meßgrößen basierend auf einer zuvor während des zweiten Zeitintervalls erfassten ersten (Meß-)Spannung u1 zu ermitteln und/oder während des fünften (Übergangs-)Zeitintervalls (qualifizierte) Meßwerte für die sekundären und/oder ersten primären (Prozeß-)Meßgrößen basierend auf einer zuvor während des ersten Zeitintervalls t1 erfassten ersten (Meß-)Spannung u1 zu ermitteln. Nach einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung ist die Meßsystem-Elektronik 2 zudem eingerichtet, (qualifizierte) Meßwerte XM für die sekundären und/oder ersten primären (Prozeß-)Meßgrößen basierend auf einer während des (Bestromungs-)Zeitintervalls t1 erfassten ersten (Meß-)Spannung u1 zu ermitteln, insb. nämlich zu ermitteln und auszugeben. Alternativ kann die Meßsystem-Elektronik 2, falls erforderlich, etwa zwecks Verringerung der umgesetzten elektrischen Leistung und/oder zwecks Vermeidung von Meßfehlern, beispielsweise auch eingerichtet sein, keinen basierend auf der während des (Bestromungs-)Zeitintervalls t1 erfassten ersten (Meß-)Spannung u1 ermittelten (qualifizierten) Meßwert für die sekundären und/oder ersten primären (Prozeß-)Meßgröße x1 auszugeben und/oder keinen Meßwert für die sekundären und/oder ersten primären (Prozeß-)Meßgrößen basierend auf der während des (Bestromungs-)Zeitintervalls anliegenden ersten elektrischen (Meß-)Spannung u1 zu ermitteln. Darüberhinaus kann die Meßsystem-Elektronik 2 vorteilhaft auch eingerichtet sein, basierend auf zumindest der zweiten elektrischen (Meß-)Spannung u2, insb. basierend auf sowohl der zweiten elektrischen (Meß-)Spannung u2 als auch der in der vorbezeichneten Weise ermittelten ersten elektrischen (Meß-)Spannung u1, einen oder mehrere (digitale) Meßwerte für die zweite primäre (Prozeß-)Meßgröße x2 zu ermitteln, insb. nämlich auch als qualifizierte Meßwerte des Meßsystems 2 auszugeben.Not least for the aforementioned case that the connecting
Zum (Leckage freien bzw. Fluid dichten) Anbinden des Meßsystems an einen den Meßstoff enthaltenden bzw. führenden Prozeß, insb. derart, daß eine (in Meßeffekten resultierende) Wirkbeziehung zwischen dem (fluiden) Meßstoff und zumindest den ersten und zweiten Sensorelemente etabliert werden kann bzw. im Betrieb des Meßsystems etabliert ist, umfaßt das Meßsystem nach einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung weiters ein, beispielsweise mittels einer Membran und/oder einer Hülse und/oder einer Platte gebildetes, (Prozeß-)Koppelelement 11. Nach einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung besteht das Koppelelement zumindest teilweise, bespielsweise vollständig, aus Metall, insb. einem (Edel-)Stahl und/oder einer Nickelbasis-Legierung. Das Koppelelement 11 ist im besonderen dafür eingerichtet, (im Betrieb des Meßsystems) vom vorbezeichneten Meßstoff kontaktiert, beispielsweise nämlich an- und/oder umströmt, zu werden; dies insb. in der Weise, daß das (Prozeß-)Koppelelement 11 eine von einer (Meßstoff-)Temperatur des Meßstoffs abhängige (Koppelelement-)Temperatur und/oder eine von einem (Meßstoff-)Druck abhängige (elastische) Dehnung aufweist. Dementsprechend ist das vorbezeichnete Koppelelement nach einer weiteren Ausgestaltung insb. auch eingerichtet, auf eine Änderung eines (Meßstoff-)Drucks des Meßstoffs mit einer, beispielsweise auch biaxialen und/oder elastischen, Dehnung auf eine Änderung einer (Meßstoff-)Temperatur des Meßstoffs mit einer Änderung einer (Koppelelement-)Temperatur zu reagieren, beispielsweise auch derart, daß die (Koppelelement-)Temperatur des Koppelelements stationär von einer stationären (Meßstoff-)Temperatur des Meßstoffs um weniger als 2 K (Kelvin) abweicht. Beispielsweise kann das Koppelelement 11 eingerichtet sein, zumindest teilweise in ein Lumen (3') eines (dem Führen eines fluiden Meßstoffs dienlichen) Rohrs (3) eingesetzt zu werden, insb. nämlich durch eine Öffnung (3a) in einer das Lumen umhüllenden Rohrwand (3*) hindurch in das Lumen eingesetzt und an nämlicher Rohrwand (wieder lösbar) fixiert zu werden. Nicht zuletzt für den vorbezeichneten Fall, daß das Meßsystem als Vortex-Durchfluß-Meßgerät ausgebildet ist, kann das Koppelelement 11, wie auch in
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