[go: up one dir, main page]

WO2021117273A1 - 長尺光学積層体の検査方法及び検査システム - Google Patents

長尺光学積層体の検査方法及び検査システム Download PDF

Info

Publication number
WO2021117273A1
WO2021117273A1 PCT/JP2020/024847 JP2020024847W WO2021117273A1 WO 2021117273 A1 WO2021117273 A1 WO 2021117273A1 JP 2020024847 W JP2020024847 W JP 2020024847W WO 2021117273 A1 WO2021117273 A1 WO 2021117273A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
long optical
identification information
optical film
film
printed
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/JP2020/024847
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
康之 三笠
恭平 松林
田壷　宏和
村上　洋介
剛 神丸
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nitto Denko Corp
Original Assignee
Nitto Denko Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nitto Denko Corp filed Critical Nitto Denko Corp
Publication of WO2021117273A1 publication Critical patent/WO2021117273A1/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Ceased legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/8422—Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8901—Optical details; Scanning details
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8854—Grading and classifying of flaws
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8854—Grading and classifying of flaws
    • G01N2021/888—Marking defects

Definitions

  • the present invention relates to an inspection method and inspection of a long optical laminate (for example, a polarizing film) in which a first long optical film (for example, a protective film) and a second long optical film (for example, a polarizer) are laminated.
  • a long optical laminate for example, a polarizing film
  • a first long optical film for example, a protective film
  • a second long optical film for example, a polarizer
  • the present invention can read both the first identification information printed on the first long optical film and the second identification information printed on the long optical laminate in the state of the long optical laminate.
  • the present invention relates to an inspection method and an inspection system for a long optical laminate capable of appropriately linking defect information and identification information.
  • a polarizing film used in a liquid crystal display device As a long optical laminate, for example, a polarizing film used in a liquid crystal display device is known.
  • the process from punching a long polarizing film to a polarizing film having a size suitable for the intended use is as follows, for example.
  • a long polarizing film conveyed by a roll-to-roll method is inspected to detect defects existing in the polarizing film.
  • the position of the defect is marked and the polarizing film is wound up.
  • the polarizing film as the final product comes in various sizes according to the user's specifications, but it may be commonly used as a long polarizing film (polarizing film original fabric). Since there are many, a large amount of polarizing film raw fabric is manufactured, and a polarizing film product of a required size is punched out from the polarizing film raw fabric as needed at a later date.
  • Patent Document 1 prints identification information (at least information for identifying the position of the polarizing film in the longitudinal direction) at the widthwise end of the polarizing film. Then, a method for inspecting a polarizing film that links defect information and identification information has been proposed. According to the inspection method described in Patent Document 1, it is possible to appropriately manage defect information of defects generated in the state of the polarizing film.
  • the polarizing film has not only defects generated in the state of the polarizing film in which the protective film and the polarizer are laminated, but also defects generated in the state of the protective film alone (the protective film before being laminated with the polarizer). Exists. Then, a defect generated in the state of the protective film alone may be difficult to detect even if it is inspected in the state of the polarizing film. For this reason, the protective film alone may be inspected, but conventionally, defect information of defects detected by this inspection has not been properly managed. Specifically, the identification information is not printed on the protective film alone and associated with the defect information.
  • knurling When winding the protective film, in order to prevent the occurrence of winding misalignment, loose winding, blocking, gauge band, etc., knurling may be applied to the widthwise end of the protective film to form minute irregularities by laser engraving. (See, for example, Patent Document 2).
  • the present invention has been made to solve the above-mentioned problems of the prior art, and is the first identification information printed on the first long optical film (for example, a protective film) and the long optical lamination.
  • the defect information and the identification information can be appropriately linked.
  • An object of the present invention is to provide an inspection method and an inspection system for a shaku optical laminate.
  • the present inventors have made one of the first identification information printed on the first long optical film and the second identification information printed on the long optical laminate. Is printed by the inkjet method and one of them is printed by laser engraving, or one of them is printed by the inkjet method using transparent ink and the other is printed by the inkjet method using colored ink. By doing so, even if the first identification information and the second identification information overlap, they can be read separately, and the present invention has been completed. That is, in order to solve the above-mentioned problems, the present invention includes a first step of inspecting the first long optical film and acquiring first defect information which is defect information of the first long optical film, and the first step.
  • the third step of associating and storing the defect information and the first identification information, and the inspection of the long optical laminate in which the first long optical film and the second long optical film are laminated are inspected and described.
  • the fifth step of printing the identification information and the sixth step of associating and storing the second defect information of the long optical laminate and the second identification information are included and printed in the second step.
  • the first identification information to be printed and the second identification information to be printed in the fifth step are printed by an inkjet method and the other is printed by laser engraving, or one of them is printed.
  • a method for inspecting a long optical laminate which comprises printing by an inkjet method using a transparent ink and printing one of them by an inkjet method using a colored ink.
  • defect information means information including at least the position of a defect.
  • first identification information means information including at least information for specifying the position of the first long optical film in the longitudinal direction.
  • second identification information means information including at least information for specifying the position of the long optical laminate in the longitudinal direction.
  • One of the first identification information and the second identification information is printed by an inkjet method and one of them is printed by laser engraving, or one of them is printed by an inkjet method using transparent ink. , Either one is printed by an inkjet method using colored ink.
  • the transparent ink is an ink that fluoresces when irradiated with light, and a UV ink that fluoresces when irradiated with ultraviolet rays can be exemplified.
  • the first identification information and the second identification information are printed by any of the following methods (1) to (6).
  • 1st identification information Inkjet method using transparent ink
  • 2nd identification information Inkjet method using colored ink
  • 2nd identification information Inkjet method using transparent ink
  • the present inventors have found, even if the first identification information and the second identification information overlap, they can be read separately.
  • the defect information and the identification information can be appropriately linked (the first defect information and the first identification information are linked, and the second defect information and the second identification information are linked). Therefore, for example, by reading the first identification information and using the association between the first defect information and the first identification information stored in the third step, the position of the defect generated in the state of the first long optical film It is possible to punch out the product while avoiding. Further, for example, by reading the second identification information and using the association between the second defect information and the second identification information stored in the sixth step, the position of the defect generated in the state of the long optical laminate can be determined. It is possible to avoid and punch out the product.
  • the first to sixth steps do not necessarily have to be executed in this order. For example, it is possible to execute the first step after executing the second step. It is also possible to execute the fourth step after executing the fifth step.
  • the first identification information is printed by an inkjet method using transparent ink
  • the second identification information is printed by laser engraving.
  • any of the methods (1) to (6) can be used as the printing method of the first identification information and the second identification information.
  • printing the first identification information by an inkjet method using transparent ink and printing the second identification information by laser engraving is the most first identification information and the first. 2 Easy to read by distinguishing from identification information. Therefore, according to the above-mentioned preferable method, the defect information and the identification information are more appropriately linked (the first defect information and the first identification information are linked, and the second defect information and the second identification information are linked. Can be attached).
  • a seventh step of associating and storing the first defect information of the first long optical film and the second identification information of the long optical laminate is further included.
  • the first defect information and the second defect information can be centrally managed based on the second identification information of the long optical laminate. Therefore, after the seventh step is executed, the first length optical laminate is formed by cutting the widthwise end portion of the first length optical film (for example, cutting the knurled portion of the protective film). Even if the identification information is removed, the defect information and the identification information can be appropriately linked (the first defect information, the second defect information, and the second identification information are associated).
  • the second identification information is read and the association between the second defect information and the second identification information stored in the sixth step is used, and the first defect information and the second identification information stored in the seventh step are used.
  • the link with it is possible to punch out the product while avoiding the position of the defect generated in the state of the first long optical film and the position of the defect generated in the state of the long optical laminate. That is, it is possible to save the trouble of reading the first identification information when punching the product.
  • the position of the defect is marked, so that the position of the defect can be visually specified.
  • the present invention can be suitably used when the first long optical film is a protective film, the second long optical film is a polarizer, and the long optical laminate is a polarizing film. ..
  • the present invention can also be used when the first long optical film is a retardation film and the second long optical film is a polarizing film. Further, the present invention can also be used when the first long optical film is a reflective polarizer and the second long optical film is a polarizing film.
  • the portion corresponding to the knurled portion (the portion where the knurled portion is formed, or the portion where the knurled portion is formed, or Even if the first identification information is printed by the inkjet method on the portion where the knurling processed portion is to be formed), the first identification information can be read separately from the unevenness of the knurling processed portion.
  • the second identification information is printed by laser engraving on the portion corresponding to the knurled portion, it may be difficult to distinguish the second identification information from the unevenness of the knurled portion.
  • the nerling processed portion when the nerling processed portion is formed at the widthwise end portion of the first long optical film, the portion corresponding to the nerling processed portion of the first long optical film in the second step. It is preferable to print the first identification information on the screen by an inkjet method. As a result, the effective width of the first long optical film is not narrowed by printing the first identification information, and the yield can be increased. Further, in the present invention, a nerling processed portion is formed at the widthwise end portion of the first long optical film, and in the fifth step, the narling processed portion is inside the first long optical film in the width direction. It is preferable to print the second identification information on the portion of the long optical laminate located in. As a result, the second identification information can be reliably distinguished from the unevenness of the knurled portion and read.
  • the present invention comprises a first inspection apparatus for inspecting a first long optical film and acquiring first defect information which is defect information of the first long optical film.
  • a first printing device that prints first identification information at predetermined intervals in the longitudinal direction of the first long optical film at the widthwise end of the first long optical film, and the first long optical film.
  • a first arithmetic storage device that stores the first defect information and the first identification information in association with each other, and a long optical laminate in which the first long optical film and the second long optical film are laminated.
  • a second inspection device for acquiring the second defect information, which is the defect information of the long optical laminate, and the long optical laminate at the widthwise end of the long optical laminate in the longitudinal direction of the long optical laminate.
  • a second printing device that prints the second identification information at predetermined intervals, and a second arithmetic storage device that stores the second defect information and the second identification information of the long optical laminate in association with each other.
  • One of the first identification information printed by the first printing device and the second identification information printed by the second printing device is printed by an inkjet method, and one of the other is printed by laser engraving. Or, one of them is printed by an inkjet method using transparent ink, and one of them is printed by an inkjet method using colored ink. Also provided as.
  • both the first identification information printed on the first long optical film and the second identification information printed on the long optical laminate can be read in the state of the long optical laminate.
  • the defect information and the identification information can be appropriately linked.
  • FIG. 5 is a perspective view schematically showing a schematic configuration of an inspection system for executing the first step S2 to the third step S4 shown in FIG.
  • FIG. 5 is a perspective view schematically showing a schematic configuration of an inspection system for executing the fourth step S6 to the sixth step S8 shown in FIG.
  • FIG. 5 is a perspective view schematically showing a schematic configuration of an inspection system for executing the seventh step S9 shown in FIG. 1.
  • 4 is a side view schematically showing a schematic configuration example of the first reading device 9 and the second reading device 10 shown in FIG. 4 (side view seen from the width direction of the long optical laminate F2).
  • the schematic configuration of the inspection system for executing the reading step S10, the second fourth step S11 and the sixth step S12 (the fourth step and the sixth step after the execution of the seventh step S9) shown in FIG. 1 is schematically configured. It is a perspective view which shows. It is a figure which shows the printing example of the 1st identification information M and the 2nd identification information N by the inspection method of the long optical laminate which concerns on one Embodiment of this invention. An example of the result of reading the first identification information M of the long optical laminate F2 shown in FIG. 7 by the first reading device 9 is shown. An example of the result of reading the second identification information N of the long optical laminate F2 shown in FIG. 7 by the second reading device 10 is shown.
  • the long optical laminate to be inspected by the inspection method according to the present embodiment is a film in which a first long optical film and a second long optical film are laminated.
  • the first long optical film is a protective film
  • the second long optical film is a polarizer
  • the long optical laminate is a polarizing film
  • the polarizing film as a long optical laminate includes a step of (A) drying a polyvinyl alcohol-based film that has been subjected to a dyeing treatment, a cross-linking treatment, and a stretching treatment to produce a polarizer as a second long optical film. (B) A production including a step of laminating a protective film as a first long optical film on one side or both sides of a second long optical film (polarizer), and (C) a step of heat-treating after laminating. Manufactured by the method.
  • the dyeing treatment, cross-linking treatment, and stretching treatment of the polyvinyl alcohol-based film do not necessarily have to be performed separately, but may be performed at the same time, and the order of each treatment may be arbitrary.
  • a polyvinyl alcohol-based film that has been subjected to a swelling treatment may be used.
  • a polyvinyl alcohol-based film is immersed in a solution containing iodine or a dichroic dye, dyed by adsorbing iodine or a dichroic dye, washed, and stretched in a solution containing boric acid, borax, or the like. It is uniaxially stretched at a magnification of 3 to 7 times and then dried.
  • Examples of the polyvinyl alcohol-based polymer constituting the above-mentioned polyvinyl alcohol-based film include those obtained by polymerizing vinyl acetate and then saponifying it, and vinyl acetate containing a small amount of unsaturated carboxylic acid, unsaturated sulfonic acid, cationic monomer, and the like. Examples thereof include those obtained by copolymerizing a copolymerizable monomer.
  • the average degree of polymerization of the polyvinyl alcohol-based polymer is not particularly limited and any one can be used, but it is preferably 1000 or more, and more preferably 2000 to 5000.
  • the saponification degree of the polyvinyl alcohol polymer is preferably 85 mol% or more, more preferably 98 to 100 mol%.
  • the thickness of the second long optical film (polarizer) to be manufactured is generally 5 to 80 ⁇ m, but the thickness is not limited to this, and the thickness of the second long optical film (polarizer) is not limited to this.
  • the method for adjusting the above is not particularly limited, and ordinary methods such as tenter, roll stretching and rolling can be used.
  • the bonding of the second long optical film (polarizer) and the first long optical film (protective film) is not particularly limited, but for example, an adhesive made of a vinyl alcohol polymer or a hoe This can be done via an adhesive consisting of at least an adhesive consisting of a water-soluble cross-linking agent for vinyl alcohol-based polymers such as acid, borosand, glutaaldehyde, melamine, and oxalic acid.
  • the adhesive layer that attaches the second long optical film (polarizer) and the first long optical film (protective film) is formed as a coating and drying layer of an aqueous solution, but it is necessary when preparing the aqueous solution. Depending on the situation, other additives and catalysts such as acid can also be blended.
  • An appropriate transparent film can be used for the first long optical film (protective film) to be bonded to one side or both sides of the second long optical film (polarizer).
  • a film made of a polymer having excellent transparency, mechanical strength, thermal stability, moisture shielding property and the like is preferably used.
  • the polymer include acetate-based resins such as triacetyl cellulose, polycarbonate-based resins, polyarylates, polyester-based resins such as polyethylene terephthalate, polyimide-based resins, polysulfone-based resins, polyether sulfone-based resins, polystyrene-based resins, polyethylene, and polypropylene.
  • polyolefin-based resins such as, polyvinyl alcohol-based resins, polyvinyl chloride-based resins, polynorbornene-based resins, (meth) acrylic-based resins, polymethylmethacrylate-based resins, and liquid crystal polymers.
  • the film may be produced by a casting method, a calendar method, or an extrusion method.
  • thermoplastic resin having a substituted and / or unsubstituted imide group in the (A) side chain and a (B) side chain.
  • resin composition containing a thermoplastic resin having an unsubstituted phenyl and a nitrile group can be mentioned.
  • Specific examples include a film of a resin composition containing an alternating copolymer composed of isobutylene and N-methylmaleimide and an acrylonitrile / styrene copolymer.
  • the film a film made of a mixed extruded product of the resin composition or the like can be used. Since these films have a small phase difference and a small photoelastic coefficient, problems such as unevenness due to distortion of the long optical laminate (polarizing film) can be eliminated, and since the moisture permeability is small, humidification durability is achieved. Excellent for.
  • Rth [(nx + ny) / 2-nz] ⁇ d (where nx and ny are the main refractive indexes in the film plane, nz is the refractive index in the film thickness direction, and d is the film thickness).
  • a first long optical film (protective film) having a retardation value in the film thickness direction of ⁇ 90 nm to +75 nm is preferably used.
  • the long optical laminate By using a film having a retardation value (Rth) of -90 nm to + 75 nm in the thickness direction, the long optical laminate (polarizing film) is colored (optically) due to the first long optical film (protective film). Coloring) can be almost eliminated.
  • the phase difference value (Rth) in the thickness direction is more preferably ⁇ 80 nm to +60 nm, and particularly preferably ⁇ 70 nm to +45 nm.
  • the first long optical film (protective film) a (meth) acrylic resin is preferable from the viewpoint of polarization characteristics and durability. Further, an acetate-based resin such as triacetyl cellulose is preferable, and a triacetyl cellulose film whose surface is saponified with an alkali or the like is particularly preferable.
  • the first long optical film (protective film) is attached to both sides of the second long optical film (polarizer), the first long optical film (protective film) made of different polymers on the front and back sides is used. May be good.
  • the thickness of the first long optical film is arbitrary, but is generally 500 ⁇ m or less, preferably 1 to 300 ⁇ m, particularly for the purpose of reducing the thickness of the long optical laminate (polarizing film). It is preferably 5 to 200 ⁇ m.
  • the first long optical film (protective film) is subjected to hard coating treatment, antireflection treatment, anti-sticking treatment, diffusion, anti-glare, etc., as long as the object of the present invention is not impaired. May be good.
  • the hard coat treatment is applied for the purpose of preventing scratches on the surface of a long optical laminate (polarizing film), and is excellent in hardness and slipperiness with an appropriate ultraviolet curable resin such as silicone.
  • the cured film can be formed by a method of adding the cured film to the surface of the first long optical film (protective film).
  • the antireflection treatment is applied for the purpose of preventing the reflection of external light on the surface of the long optical laminate (polarizing film), and can be achieved by forming an antireflection film or the like according to the conventional method. it can.
  • sticking prevention aims to prevent adhesion with adjacent layers, and anti-glare treatment reflects external light on the surface of the long optical laminate (polarizing film) to visually recognize the transmitted light of the long optical laminate (polarizing film).
  • It is applied for the purpose of preventing obstruction, for example, the first long optical film (protection) by an appropriate method such as a sandblasting method, a roughening method such as an embossing method, or a method of blending transparent fine particles. It can be formed by imparting a fine concavo-convex structure to the surface of the film).
  • the transparent fine particles include silica and alumina having an average particle size of 0.5 to 20 ⁇ m, titania and zirconia, tin oxide and indium oxide, cadmium oxide and antimony oxide, and examples thereof include conductive inorganic fine particles. It may be used, or organic fine particles composed of crosslinked or uncrosslinked polymer particles or the like can be used.
  • the amount of the transparent fine particles used is generally 2 to 70 parts by mass, particularly 5 to 50 parts by mass, per 100 parts by mass of the transparent resin.
  • the anti-glare layer containing the transparent fine particles can be provided as the transparent protective layer itself, or as a coating layer on the surface of the transparent protective layer.
  • the anti-glare layer may also serve as a diffusion layer (such as a viewing angle compensation function) for diffusing the transmitted light of a long optical laminate (polarizing film) to expand the viewing angle.
  • the antireflection layer, the sticking prevention layer, the diffusion layer, the antiglare layer, and the like described above can be provided as an optical layer made of a sheet or the like provided with these layers, which is separate from the transparent protective layer.
  • FIG. 1 is a flow chart showing a schematic process of an inspection method according to the present embodiment.
  • the inspection method according to the present embodiment includes steps S1 to S4 executed in the manufacturing process of the first long optical film (protective film) and manufacturing of a long optical laminate (polarizing film). It includes steps S5 to S12 executed in the step.
  • steps S1 to S4 executed in the manufacturing process of the first long optical film (protective film) and manufacturing of a long optical laminate (polarizing film). It includes steps S5 to S12 executed in the step.
  • steps S5 to S12 executed in the step.
  • FIG. 2 is a perspective view schematically showing a schematic configuration of an inspection system for executing the first step S2 to the third step S4.
  • the first inspection device 1 included in the inspection system 100 is conveyed by the transfer roll R in a roll-to-roll manner (conveyed in the direction indicated by the thick arrow in FIG. 2).
  • the first long optical film F1 is inspected to acquire the first defect information which is the defect information of the first long optical film F1.
  • the first inspection device 1 is an image pickup means 1a arranged to face the surface of the first long optical film F1 and a first long optical film F1 electrically connected to the image pickup means 1a and acquired by the image pickup means 1a.
  • An image processing means 1b that performs appropriate image processing on a captured image on the surface is provided.
  • the image pickup means 1a a line sensor in which the image pickup elements are linearly arranged along the width direction of the first long optical film F1 or an area sensor in which the image pickup elements are arranged in a matrix can be used.
  • the field of view of the imaging means 1a is set to be equal to or larger than the effective width (width used in the product) of the first long optical film F1.
  • the image processing means 1b extracts a pixel region corresponding to a defect existing in the first long optical film F1 by performing known image processing such as binarization on the captured image.
  • the image processing means 1b specifies the position of the defect (coordinates of the pixel region corresponding to the defect) in the captured image, and acquires at least the information including the position of the specified defect as the first defect information.
  • the acquired first defect information is input to the first arithmetic storage device 4 included in the inspection system 100.
  • the first printing device 2 included in the inspection system 100 is attached to the widthwise end portion (preferably the knurling portion) of the first long optical film F1 in the longitudinal direction of the first long optical film F1.
  • the first identification information M is printed at predetermined intervals (for example, equal intervals of 1 m).
  • FIG. 2 illustrates an example in which the first identification information M1 to M3 are printed in order from the tip end side (downstream side in the transport direction) of the first long optical film F1.
  • the first identification information M is information including information for specifying at least a position in the longitudinal direction of the first long optical film F1.
  • the first identification information M is, for example, a numerical value that increases or decreases in order from the tip end side of the first long optical film F1 (the position in the longitudinal direction of the first long optical film F1 is specified by this numerical value). It is represented by a two-dimensional code or a barcode.
  • the first identification information M includes various information such as information for specifying the position of the first long optical film F1 in the longitudinal direction, the date and time of printing, the serial number of the first long optical film F1, the type of printing process, and the like. It is possible to include incidental information of.
  • the printing of the first identification information M by the first printing device 2 is controlled by the first arithmetic storage device 4.
  • the amount of movement of the first long optical film F1 in the transport direction is measured by a length measuring device 3 using a rotary encoder or the like, and is input to the first arithmetic storage device 4.
  • the first arithmetic storage device 4 transmits a control signal to the first printing device 2 at predetermined intervals based on the movement amount input from the length measuring device 3, and sends a control signal to the first printing device 2 at predetermined intervals. 1
  • the identification information M is printed.
  • the case where the first arithmetic storage device 4 also has a function of controlling the first printing device 2 has been described as an example, but the present invention is not limited to this, and the first arithmetic storage device is not limited to this. It is also possible to adopt a configuration in which a control device other than 4 controls the first printing device 2.
  • the first printing device 2 of the present embodiment prints the first identification information M by an inkjet method.
  • the first printing device 2 of the present embodiment prints the first identification information M by an inkjet method using transparent ink.
  • the first identification information M is printed by an inkjet method using UV ink that emits fluorescence by irradiating ultraviolet rays as transparent ink.
  • an inkjet printer "VJ1000 series” manufactured by Videojet and an inkjet printer "Gravis UX series” manufactured by Hitachi Industrial Equipment Systems Co., Ltd. can be used.
  • the first arithmetic storage device 4 stores the first defect information of the first long optical film F1 and the first identification information M in association with each other. Specifically, it is as follows. For example, the first inspection device 1 detects the defect D1 shown in FIG. 2, identifies the position of the defect D1 in the captured image (coordinates of the pixel region corresponding to the defect D1), and this is the first calculation as the first defect information. It is assumed that the information is input to the storage device 4.
  • the first arithmetic storage device 4 Since the amount of movement of the first long optical film F1 from the length measuring device 3 in the transport direction is input to the first arithmetic storage device 4, the first arithmetic storage device 4 detects the defect D1 (How much the first long optical film F1 is conveyed between the time when the coordinates of the pixel region corresponding to the defect D1 in the captured image are specified) and the time when the first identification information M is printed by the first printing device 2. It is possible to grasp whether or not it is moving in a direction. Based on the amount of movement of the first long optical film F1 between these two time points and the coordinates of the pixel region corresponding to the defect D1 in the captured image, the first arithmetic storage device 4 uses the predetermined first identification information M (FIG.
  • the distance X1 from the first identification information M3) to the defect D1 (distance along the longitudinal direction of the first long optical film F1) can be calculated.
  • the first arithmetic storage device 4 is a distance from the widthwise edge of the first long optical film F1 to the defect D1 (first long optical film) based on the coordinates of the pixel region corresponding to the defect D1 in the captured image.
  • the distance (distance along the width direction of F1) Y1 can be calculated.
  • the first arithmetic storage device 4 stores at least the first identification information M (M3) and the coordinates (X1, Y1) of the defect D1 based on the first identification information M (M3) in association with each other. become.
  • the first long optical film (first long optical film in which the first identification information M is printed on the nerling processing portion by an inkjet method) F1 manufactured in the above-mentioned manufacturing process is wound in a roll shape and is used as a raw material. It is said to be anti-roll.
  • the first long optical film F1 formed as a raw fabric roll is carried to the manufacturing process of the long optical laminate.
  • the original roll of the carried first long optical film F1 is used.
  • FIG. 1 step and No. Includes two steps. In the manufacturing process of the long optical laminate of the present embodiment, No.
  • the fourth step S11 and the sixth step S12 are executed in the two steps. Further, in the manufacturing process of the long optical laminate of the present embodiment, No. The bonding step S5 is executed in one step, and No. The reading step S10 is executed in two steps.
  • (Lasting step S5) No.
  • the original roll of the first long optical film (protective film) F1 is unwound, and the original roll of the second long optical film (polarizer) is unwound.
  • the bonding step S5 the first long optical film F1 is bonded to one side or both sides of the second long optical film via an adhesive or the like as described above, and the first long optical film F1 is bonded to the first long optical film F1.
  • a long optical laminate (polarizing film) F2 in which a second long optical film is laminated is obtained.
  • FIG. 3 is a perspective view schematically showing a schematic configuration of an inspection system for executing the fourth step S6 to the sixth step S8.
  • the second inspection device 5 included in the inspection system 100 is conveyed by the transfer roll R in a roll-to-roll manner (conveyed in the direction indicated by the thick arrow in FIG. 3).
  • the long optical laminate F2 is inspected to acquire the second defect information which is the defect information of the long optical laminate F2.
  • the second inspection device 5 includes an image pickup means 5a and an image processing means 5b like the first inspection device 1 shown in FIG. 2, and has the same functions as the first inspection device 1. Therefore, a detailed description thereof will be given here. Is omitted.
  • the second inspection device 5 specifies the position of the defect (coordinates of the pixel region corresponding to the defect) in the captured image, and acquires at least information including the position of the specified defect as the second defect information.
  • the acquired second defect information is input to the second arithmetic storage device 8 included in the inspection system 100.
  • the second printing device 6 included in the inspection system 100 is moved inward in the width direction from the widthwise end portion of the long optical laminate F2 (preferably, the knurled portion of the first long optical film F1).
  • the second identification information N is printed at predetermined intervals (for example, equal intervals of 1 m) in the longitudinal direction of the elongated optical laminate F2 on the portion of the elongated optical laminate F2 located).
  • FIG. 3 illustrates an example in which the second identification information N1 to N3 are printed in order from the tip end side (downstream side in the transport direction) of the long optical laminate F2.
  • the first identification information M is printed on the first long optical film F1 constituting the long optical laminate F2, but the illustration of the first identification information M is omitted in FIG. 3 for convenience.
  • the second identification information N includes at least information for specifying the position of the long optical laminate F2 in the longitudinal direction, and the first identification including information for specifying at least the position of the first long optical film F1 in the longitudinal direction. Since the other points are the same as those of the first identification information M, unlike the information M, detailed description thereof will be omitted here.
  • the second identification information N printed on the long optical laminate F2 is printed on the same first long optical film F1 on which the first identification information M is printed.
  • the invention is not limited to this.
  • the first long optical film (protective film) F1 is bonded to both sides of the second long optical film (polarizer) to form a long optical laminate (polarizing film) F2, one of the first.
  • the first identification information M is printed on one long optical film (protective film) F1, and the other first long optical film F1 (protective film, which also serves as a retardation film) on which the first identification information M is not printed. It is also possible to print the second identification information N on (good).
  • the first long optical film (protective film) F1 is bonded to both sides of the second long optical film (polarizer), and the retardation film is further bonded to one of the first long optical films.
  • the first identification information M is printed on the other first long optical film (protective film) F1 and the second identification information M is printed on the retardation film. It is also possible to print the information N.
  • the printing of the first identification information M by the first printing device 2 is controlled by the first arithmetic storage device 4
  • the printing of the second identification information N by the second printing device 6 is performed by the second arithmetic storage device. It is controlled by 8. Since the specific control content is the same as the control of printing the first identification information M by the first printing device 2, detailed description thereof will be omitted here.
  • the second printing device 6 of the present embodiment prints the second identification information N by laser engraving.
  • the second printing device 6 for example, various known printing devices having a function of printing by laser engraving using a CO 2 laser can be applied, and therefore detailed description thereof will be omitted here.
  • the second arithmetic storage device 8 stores the second defect information of the long optical laminate F2 and the second identification information N in association with each other. Specifically, since the procedure is the same as when the first arithmetic storage device 4 stores the first defect information and the first identification information M of the first long optical film F1 in association with each other, a detailed description thereof will be given. Although omitted, the second arithmetic storage device 8 uses at least the amount of movement of the long optical laminate F2 in the transport direction input from the length measuring device 7 having the same configuration as the length measuring device 3.
  • the second identification information N (second identification information N3 in the example shown in FIG. 3) and the coordinates (X2, Y2) of the defect D2 based on the second identification information N (N3) are associated and stored. Become.
  • FIG. 4 is a perspective view schematically showing a schematic configuration of an inspection system for executing the seventh step S9.
  • the second arithmetic storage device 8 stores the first defect information of the first long optical film F1 and the second identification information of the long optical laminate F2 in association with each other.
  • the first reading device 9 for reading the first identification information M (FIGS. 4 shows the first identification information M1 to M3) and the second identification information N (the second identification information N in FIG. 4).
  • a second reading device 10 for reading the identification information N1 to N3 (shown) is arranged, and the first identification information M read by the first reading device 9 and the second identification information N read by the second reading device 10 are arranged.
  • the second arithmetic storage device 8 the first defect information of the first long optical film F1 stored in the first arithmetic storage device 4 in advance and the first identification information M are associated (first identification).
  • the relationship between the information M and the coordinates of the defect based on the first identification information M) is input and stored.
  • the first arithmetic storage device 4 and the second arithmetic storage device 8 are electrically connected, and the first arithmetic storage device 4 to the second arithmetic operation are performed.
  • the storage device 8 may be transmitted to the storage device 8, or it may be downloaded from the first arithmetic storage device 4 and manually input to the second arithmetic storage device 8. Further, the amount of movement of the long optical laminate F2 in the transport direction from the length measuring device 11 having the same configuration as that of the length measuring device 3 is input to the second arithmetic storage device 8.
  • the second arithmetic storage device 8 reads the first identification information M by the first reading device 9 based on the amount of movement of the long optical laminate F2 input from the length measuring device 11 in the transport direction (first). The time when the identification information M was input to the second arithmetic storage device 8) and the time when the second identification information N was read by the second reading device 10 (the second identification information N was input to the second arithmetic storage device 8). It is possible to grasp how much the long optical laminate F2 is moving in the transport direction between the time point and the time point). Based on the amount of movement of the long optical laminate F2 between the two time points, the second arithmetic storage device 8 follows the longitudinal direction of the long optical laminate F2 of the first identification information M and the second identification information N.
  • the positional deviation (positional deviation dX between the first identification information M3 and the second identification information N3 in the example shown in FIG. 4) can be calculated. Therefore, the second arithmetic storage device 8 links the first defect information and the first identification information M of the first long optical film F1 stored in advance, and the calculated first identification information M and the second identification information. Based on the positional deviation from N, the first defect information of the first long optical film F1 and the second identification information N of the long optical laminate F2 can be associated and stored. In other words, the second identification information N and the coordinates of the defect based on the second identification information N can be stored in association with each other.
  • the seventh step S9 By executing the seventh step S9 in this way, the first defect information and the second defect information can be centrally managed based on the second identification information N of the long optical laminate F2.
  • the long optical laminate F2 After executing the seventh step S9, the long optical laminate F2 is wound in a roll shape to obtain No. It is carried to two processes.
  • FIG. 5 is a side view schematically showing a schematic configuration example of the first reading device 9 and the second reading device 10 (side view seen from the width direction of the long optical laminate F2).
  • FIG. 5A shows a schematic configuration example of the first reading device 9
  • FIG. 5B shows a schematic configuration example of the second reading device 10.
  • the first reading device 9 includes a UV illumination 91 that emits ultraviolet rays, and an imaging means (area sensor) 92.
  • an imaging means area sensor
  • the first identification information M in the captured image acquired by the imaging means 92 arranged on the same side as the UV illumination 91 (upper side in the example shown in FIG. 5A) with respect to the surface of the long optical laminate F2, the first identification information M
  • the pixel area corresponding to the second identification information N becomes brighter (the pixel area corresponding to the second identification information N becomes darker as in the background), and the first identification information M can be read separately from the second identification information N.
  • the UV illumination 91 for example, one that emits ultraviolet rays having a wavelength of about 200 to 400 nm, preferably ultraviolet rays having a wavelength of about 365 nm can be used.
  • an area sensor with a high-speed shutter having a shutter speed (exposure time) of about 30 to 150 ⁇ sec can be used as the imaging means 92.
  • the second reading device 10 is arranged on one side (lower side in the example shown in FIG. 5 (b)) with respect to the surface of the long optical laminate F2, and is a parallel luminous flux. Is arranged on the other side (upper side in the example shown in FIG. 5B) with respect to the surface of the long optical laminate F2 and receives the light transmitted through the long optical laminate F2.
  • An image pickup means (area sensor) 102 is provided. The parallel light flux emitted from the illumination 101 and irradiated on the surface of the long optical laminate F2 is scattered by the second identification information N printed by laser engraving.
  • the pixel area corresponding to the second identification information N becomes darker (the pixel area corresponding to the first identification information M becomes brighter as in the background), and the second identification information becomes brighter. N can be read separately from the first identification information M.
  • the illumination 101 shown in FIG. 5B is replaced with the illumination that irradiates the diffused light.
  • the reading device as a reading device for reading the first identification information M, the pixel region corresponding to the first identification information M becomes darker in the captured image acquired by the imaging means 102 (corresponding to the second identification information N).
  • the pixel region to be printed becomes bright as in the background), and the first identification information M can be read separately from the second identification information N.
  • FIG. 6 schematically illustrates a schematic configuration of an inspection system for executing the reading step S10, the second fourth step S11, and the sixth step S12 (the fourth step and the sixth step after the execution of the seventh step S9). It is a perspective view which shows. Actually, the first identification information M is printed on the first long optical film F1 constituting the long optical laminate F2, but the illustration of the first identification information M is omitted in FIG. 6 for convenience. ing. As shown in FIG. 6, in the reading step S10, the second identification information N in the second reading device 12 having the same configuration as the second reading device 10 (see FIGS. 4 and 5B) included in the inspection system 100. To read. The read second identification information N is input to the second storage device 8.
  • the second inspection device 13 (imaging means 13a and image processing means 13b) having the same configuration as the second inspection device 5 included in the inspection system 100 is roll-to-roll system by the transport roll R.
  • the long optical laminate F2 conveyed in (conveyed in the direction indicated by the thick line arrow in FIG. 6) is inspected to acquire the second defect information which is the defect information of the long optical laminate F2.
  • the acquired second defect information is input to the second arithmetic storage device 8.
  • the second arithmetic storage device 8 has the second defect information of the long optical laminate F2 acquired by the second inspection device 13 and the second identification information read by the second reading device 12.
  • the second arithmetic storage device 8 uses the amount of movement of the long optical laminate F2 input from the length measuring device 14 having the same configuration as that of the length measuring device 3 in the transport direction, and is second.
  • a long length between the time when the second identification information N is read by the reading device 12 and the time when the defect is detected by the second inspection device 13 (the time when the coordinates of the pixel region corresponding to the defect in the captured image are specified). It is possible to grasp how much the optical laminate F2 is moving in the transport direction, and at least store the second identification information N and the coordinates of the defect based on the second identification information N in association with each other.
  • the case where two inspections (inspection by the second inspection apparatus 5 and inspection by the second inspection apparatus 13) are performed in the manufacturing process of the long optical laminate F2 has been described as an example.
  • the reading step S10, the fourth step S11, and the sixth step S12 may be repeatedly executed in the second and subsequent inspections.
  • the first identification information M is printed by the inkjet method and the second identification information N is printed by laser engraving, as the present inventors have found.
  • the defect information and the identification information are appropriately linked (the first defect information and the first identification information M (and thus the second identification information N) are linked, and the second defect information and the second identification information N are linked. Can be attached).
  • the second identification information N is read, and the association between the second defect information stored in the sixth steps S8 and S12 and the second identification information N is used, and the first defect stored in the seventh step S9 is used.
  • the link between the information and the second identification information N the position of the defect generated in the state of the first long optical film F1 and the position of the defect generated in the state of the long optical laminate F2 can be avoided. It is possible to punch out the product.
  • the inspection method according to the present invention is not limited to the mode in which the first identification information M is printed by the inkjet method and the second identification information N is printed by laser engraving. Either one of the first identification information M and the second identification information N is printed by the inkjet method and the other is printed by laser engraving, or one of them is printed by the inkjet method using transparent ink. Even if printing is performed and one of the other is printed by an inkjet method using colored ink, the first identification information M and the second identification information N can be read separately.
  • the inspection method according to the present embodiment is a string of the first identification information M of the first long optical film F1 (and thus the second identification information N of the long optical laminate F2) and the first defect information.
  • Eighth step of marking the position of a defect in the long optical laminate F2 based on the attachment and the association of the second identification information N and the second defect information of the long optical laminate F2 (not shown in FIG. 1). ) Can also be included.
  • the second identification information N is read, and the positions of the defects included in the first defect information and the second defect information are marked by an inkjet method or marking using the same magic as described in Patent Document 1. It is also possible to apply.
  • the eighth step of marking the position of the defect is marked, so that the position of the defect can be visually specified.
  • FIG. 7 is a diagram showing a printing example of the first identification information M and the second identification information N by the inspection method according to the present embodiment.
  • a protective film made of triacetylcellol (TAC) and a protective film made of acrylic are used as the first long optical film F1, and both sides of the polarizer as the second long optical film are used.
  • TAC triacetylcellol
  • This is a long optical laminate (polarizing film) F2 formed by laminating these first long optical films F1.
  • the acrylic protective film and the TAC protective film are applied to both sides of the polarizer.
  • the second identification information N is printed on the protective film side made of TAC by laser engraving.
  • the circular unevenness shown in FIG. 7 is the knurled portion formed at the widthwise end portion of the acrylic protective film, and the diamond-shaped unevenness is the knurled portion formed at the widthwise end portion of the TAC protective film.
  • the long optical laminate F2 was illuminated by using both the UV illumination 91 provided by the first reading device 9 and the illumination 101 provided by the second reading device 10 at the same time. It is a captured image obtained in the case.
  • FIG. 8 shows an example of the result of reading the first identification information M of the long optical laminate F2 shown in FIG. 7 by the first reading device 9.
  • the pixel area corresponding to the first identification information M becomes brighter (the pixel area corresponding to the second identification information N becomes darker as in the background. ), It can be seen that the first identification information M can be read separately from the second identification information N.
  • FIG. 9 shows an example of the result of reading the second identification information N of the long optical laminate F2 shown in FIG. 7 by the second reading device 10.
  • the pixel area corresponding to the second identification information N becomes darker (the pixel area corresponding to the first identification information M becomes brighter as in the background. ), It can be seen that the second identification information N can be read separately from the first identification information M.
  • the first identification is made to the first long optical film F1 in the second step S2.
  • printing information M it is also possible to print the first identification information M on the part where the knurling processing portion is to be formed before forming the knurling processing portion (that is, to form the knurling processing portion after printing the first identification information M). is there.
  • the case where the inspection of the long optical laminate F2 is executed a plurality of times has been described as an example, but the present invention is not limited to this, and the inspection of the long optical laminate F2 is performed by 1. It can be executed only once.
  • the reading step S10, the fourth step (second time) S11, and the sixth step (second time) S12 shown in FIG. 1 are unnecessary.
  • the reading step S10 is necessary when performing the eighth step of marking the position.
  • the case where the inspection of the first long optical film F1 is performed only once has been described as an example, but the present invention is not limited to this, and the inspection of the long optical laminate F2 is not limited to this. Similarly, it can be executed multiple times.
  • a reading step of reading the first identification information M after the third step S4 shown in FIG. 1, a reading step of reading the first identification information M, a step of acquiring the first defect information as in the first step S2, and As in the third step S4, it is necessary to repeatedly execute the step of associating and storing the first defect information and the first identification information M.
  • the present invention is not limited to this. It is also possible to manage the first defect information based on the first identification information M and manage the second defect information based on the second identification information N without executing the seventh step S9. Specifically, for example, by reading the first identification information M and using the association between the first defect information and the first identification information M stored in the third step S4, the first long optical film F1 can be obtained.
  • the length is increased. It is also possible to punch out the product while avoiding the positions of defects generated in the state of the scale optical laminate F2.
  • the first long optical film F1 is a protective film
  • the second long optical film is a polarizer
  • the long optical laminate F2 is a polarizing film
  • the present invention is not limited to this.
  • the first long optical film F1 may be a retardation film
  • the second long optical film may be a polarizer
  • the first long optical film F1 is a conductive film such as a retardation film, a reflective polarizer, an antireflection film, and an ITO film, for example, a window film manufactured of polyimide or the like
  • the second long optical film May be a polarizing film (a laminate of a polarizer and a protective film).

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Polarising Elements (AREA)

Abstract

【課題】第１長尺光学フィルムに印字された第１識別情報と、長尺光学積層体に印字された第２識別情報との双方を、長尺光学積層体の状態で読み取り可能にする。 【解決手段】第１長尺光学フィルムＦ１を検査して第１欠陥情報を取得する第１工程と、第１長尺光学フィルムに第１識別情報Ｍを印字する第２工程と、第１欠陥情報と第１識別情報とを紐付けて記憶する第３工程と、第１長尺光学フィルムが積層された長尺光学積層体Ｆ２を検査して第２欠陥情報を取得する第４工程と、長尺光学積層体に第２識別情報を印字する第５工程と、第２欠陥情報と第２識別情報とを紐付けて記憶する第６工程と、を含み、第１識別情報及び第２識別情報のうち、何れか一方をインクジェット方式で印字して、何れか他方をレーザ刻印で印字するか、又は、何れか一方を透明インクを用いたインクジェット方式で印字して、何れか他方を有色インクを用いたインクジェット方式で印字する。

Description

長尺光学積層体の検査方法及び検査システム
　本発明は、第１長尺光学フィルム（例えば、保護フィルム）と第２長尺光学フィルム（例えば、偏光子）とが積層された長尺光学積層体（例えば、偏光フィルム）の検査方法及び検査システムに関する。特に、本発明は、第１長尺光学フィルムに印字された第１識別情報と、長尺光学積層体に印字された第２識別情報との双方を、長尺光学積層体の状態で読み取り可能にすることで、欠陥情報と識別情報とを適切に紐付けることができる長尺光学積層体の検査方法及び検査システムに関する。
　長尺光学積層体として、例えば、液晶表示装置に用いられる偏光フィルムが知られている。長尺の偏光フィルムから用途に応じたサイズの偏光フィルムを打ち抜くまでの工程は、例えば、以下の如くである。
　まず、ロールツーロール方式で搬送される長尺の偏光フィルムを検査して、偏光フィルムに存在する欠陥を検出する。欠陥が検出された場合には、欠陥の位置にマーキングを施して、偏光フィルムを巻き取る。
　最終製品としての偏光フィルム（打ち抜き後の偏光フィルム）には、ユーザーの仕様に応じて種々のサイズが存在するが、長尺の偏光フィルム（偏光フィルム原反）としては共通して使用できる場合が多いので、偏光フィルム原反を大量に製造しておき、後日必要に応じて、偏光フィルム原反から必要なサイズの偏光フィルム製品を打ち抜いている。偏光フィルム製品を打ち抜く際には、欠陥が存在する位置を避けるか、或いは、打ち抜き後に欠陥が存在する位置にマーキングが施された偏光フィルム製品を不良品として取り除かなければならない。
　したがい、長尺の偏光フィルムを検査する際には、欠陥を検出して、その欠陥の位置等を欠陥情報として記憶しておく必要がある。
　欠陥情報を適切に管理して、偏光フィルム製品の歩留まりを高めるため、特許文献１には、偏光フィルムの幅方向端部に識別情報（少なくとも偏光フィルムの長手方向の位置を特定する情報）を印字して、欠陥情報と識別情報とを紐付ける偏光フィルムの検査方法が提案されている。
　特許文献１に記載の検査方法によれば、偏光フィルムの状態で発生した欠陥の欠陥情報を適切に管理することが可能である。
　しかしながら、偏光フィルムには、保護フィルムと偏光子とが積層された偏光フィルムの状態で発生した欠陥のみならず、保護フィルム単体（偏光子と積層する前の保護フィルム）の状態で発生する欠陥も存在する。そして、保護フィルム単体の状態で発生した欠陥は、偏光フィルムの状態で検査しても検出し難い場合がある。
　このため、保護フィルム単体でも検査を行う場合があるが、従来、この検査によって検出した欠陥の欠陥情報は適切に管理されていない。具体的には、保護フィルム単体に識別情報を印字して、欠陥情報と紐付けることは行われていない。
　なお、保護フィルムを巻き取る際、巻きズレ、巻き緩み、ブロッキング、ゲージバンドなどの発生を防止するため、保護フィルムの幅方向端部にレーザ刻印によって微小な凹凸を形成するナーリング加工を施す場合がある（例えば、特許文献２参照）。
特許第５９２５６０９号公報 特許第５５７８７５９号公報
　本発明は、上記のような従来技術の問題点を解決するためになされたものであり、第１長尺光学フィルム（例えば、保護フィルム）に印字された第１識別情報と、長尺光学積層体（例えば、偏光フィルム）に印字された第２識別情報との双方を、長尺光学積層体の状態で読み取り可能にすることで、欠陥情報と識別情報とを適切に紐付けることができる長尺光学積層体の検査方法及び検査システムを提供することを課題とする。
　前記課題を解決するため、本発明者らは鋭意検討した結果、第１長尺光学フィルムに印字する第１識別情報と長尺光学積層体に印字する第２識別情報とのうち、何れか一方をインクジェット方式で印字して、何れか他方をレーザ刻印で印字するか、又は、何れか一方を透明インクを用いたインクジェット方式で印字して、何れか他方を有色インクを用いたインクジェット方式で印字することにより、仮に第１識別情報と第２識別情報とが重なったとしても、両者を区別して読み取ることができることを見出し、本発明を完成した。
　すなわち、前記課題を解決するため、本発明は、第１長尺光学フィルムを検査して、前記第１長尺光学フィルムの欠陥情報である第１欠陥情報を取得する第１工程と、前記第１長尺光学フィルムの幅方向端部に、前記第１長尺光学フィルムの長手方向の所定間隔毎に第１識別情報を印字する第２工程と、前記第１長尺光学フィルムの前記第１欠陥情報と前記第１識別情報とを紐付けて記憶する第３工程と、前記第１長尺光学フィルムと第２長尺光学フィルムとが積層された長尺光学積層体を検査して、前記長尺光学積層体の欠陥情報である第２欠陥情報を取得する第４工程と、前記長尺光学積層体の幅方向端部に、前記長尺光学積層体の長手方向の所定間隔毎に第２識別情報を印字する第５工程と、前記長尺光学積層体の前記第２欠陥情報と前記第２識別情報とを紐付けて記憶する第６工程と、を含み、前記第２工程において印字する前記第１識別情報及び前記第５工程において印字する前記第２識別情報のうち、何れか一方をインクジェット方式で印字して、何れか他方をレーザ刻印で印字するか、又は、何れか一方を透明インクを用いたインクジェット方式で印字して、何れか他方を有色インクを用いたインクジェット方式で印字する、ことを特徴とする長尺光学積層体の検査方法を提供する。
　本発明において、「欠陥情報」とは、少なくとも欠陥の位置を含む情報を意味する。また、「第１識別情報」とは、少なくとも第１長尺光学フィルムの長手方向の位置を特定する情報を含む情報を意味する。さらに、「第２識別情報」とは、少なくとも長尺光学積層体の長手方向の位置を特定する情報を含む情報を意味する。
　本発明によれば、第１工程で第１長尺光学フィルムの第１欠陥情報を取得し、第２工程で第１長尺光学フィルムの第１識別情報を印字し、第３工程で第１欠陥情報と第１識別情報とを紐付けて記憶する。また、第４工程で長尺光学積層体の第２欠陥情報を取得し、第５工程で長尺光学積層体の第２識別情報を印字し、第６工程で第２欠陥情報と第２識別情報とを紐付けて記憶する。
　第１識別情報及び第２識別情報のうち、何れか一方がインクジェット方式で印字され、何れか他方がレーザ刻印で印字されるか、又は、何れか一方が透明インクを用いたインクジェット方式で印字され、何れか他方が有色インクを用いたインクジェット方式で印字される。透明インクは、光を照射することで蛍光発光するインクであり、紫外線を照射することで蛍光発光するＵＶインクを例示できる。
　すなわち、本発明によれば、以下の（１）～（６）の何れかの方法で第１識別情報及び第２識別情報が印字されることになる。
　（１）第１識別情報：透明インクを用いたインクジェット方式、第２識別情報：レーザ刻印
　（２）第１識別情報：有色インクを用いたインクジェット方式、第２識別情報：レーザ刻印
　（３）第１識別情報：レーザ刻印、第２識別情報：透明インクを用いたインクジェット方式
　（４）第１識別情報：レーザ刻印、第２識別情報：有色インクを用いたインクジェット方式
　（５）第１識別情報：透明インクを用いたインクジェット方式、第２識別情報：有色インクを用いたインクジェット方式
　（６）第１識別情報：有色インクを用いたインクジェット方式、第２識別情報：透明インクを用いたインクジェット方式
　このため、本発明者らが知見したように、第１識別情報と第２識別情報とが重なったとしても、両者を区別して読み取ることができる。すなわち、欠陥情報と識別情報とを適切に紐付ける（第１欠陥情報と第１識別情報とを紐付け、第２欠陥情報と第２識別情報とを紐付ける）ことができる。
　したがい、例えば、第１識別情報を読み取って、第３工程で記憶した第１欠陥情報と第１識別情報との紐付けを用いることで、第１長尺光学フィルムの状態で発生した欠陥の位置を避けて、製品を打ち抜くことが可能である。また、例えば、第２識別情報を読み取って、第６工程で記憶した第２欠陥情報と第２識別情報との紐付けを用いることで、長尺光学積層体の状態で発生した欠陥の位置を避けて、製品を打ち抜くことが可能である。
　なお、本発明において、第１工程～第６工程は、必ずしもこの順に実行する必要はなく、例えば、第２工程を実行した後、第１工程を実行することも可能である。また、第５工程を実行した後、第４工程を実行することも可能である。
　本発明において、好ましくは、前記第２工程において、前記第１識別情報を透明インクを用いたインクジェット方式で印字し、前記第５工程において、前記第２識別情報をレーザ刻印で印字する。
　前述のように、第１識別情報及び第２識別情報の印字方法としては、（１）～（６）の何れかの方法を用いることが可能である。しかしながら、本発明者らが検討した結果によれば、第１識別情報を透明インクを用いたインクジェット方式で印字し、第２識別情報をレーザ刻印で印字するのが、最も第１識別情報と第２識別情報とを区別して読み取り易い。
　したがい、上記の好ましい方法によれば、欠陥情報と識別情報とをより一層適切に紐付ける（第１欠陥情報と第１識別情報とを紐付け、第２欠陥情報と第２識別情報とを紐付ける）ことができる。
　本発明において、好ましくは、前記第１長尺光学フィルムの前記第１欠陥情報と前記長尺光学積層体の前記第２識別情報とを紐付けて記憶する第７工程を更に含む。
　上記の好ましい方法によれば、長尺光学積層体の第２識別情報に、長尺光学積層体の第２欠陥情報が紐付けられるのみならず、第１長尺光学フィルムの第１欠陥情報も紐付けられて記憶されることになる。換言すれば、長尺光学積層体の第２識別情報に基づき、第１欠陥情報及び第２欠陥情報を一元管理することができる。
　したがい、第７工程を実行した後には、長尺光学積層体を構成する第１長尺光学フィルムの幅方向端部を切断（例えば、保護フィルムのナーリング加工部を切断）することで、第１識別情報が除去されたとしても、欠陥情報と識別情報とを適切に紐付ける（第１欠陥情報及び第２欠陥情報と第２識別情報とを紐付ける）ことができる。
　また、例えば、第２識別情報を読み取って、第６工程で記憶した第２欠陥情報と第２識別情報との紐付けを用いると共に、第７工程で記憶した第１欠陥情報と第２識別情報との紐付けを用いることで、第１長尺光学フィルムの状態で発生した欠陥の位置及び長尺光学積層体の状態で発生した欠陥の位置を避けて、製品を打ち抜くことが可能である。すなわち、製品を打ち抜く際に、第１識別情報を読み取る手間を省くことが可能である。
　本発明において、好ましくは、前記第１長尺光学フィルムの前記第１識別情報及び前記第１欠陥情報と、前記長尺光学積層体の前記第２識別情報及び前記第２欠陥情報とに基づき、前記長尺光学積層体の欠陥の位置にマーキングを施す第８工程を更に含む。
　上記の好ましい方法によれば、欠陥の位置にマーキングが施されるため、目視でも欠陥の位置を特定可能である。
　本発明は、前記第１長尺光学フィルムが保護フィルムであり、前記第２長尺光学フィルムが偏光子であり、前記長尺光学積層体が偏光フィルムである場合に、好適に用いることができる。
　また、本発明は、前記第１長尺光学フィルムが位相差フィルムであり、前記第２長尺光学フィルムが偏光フィルムである場合にも用いることができる。
　さらに、本発明は、前記第１長尺光学フィルムが反射型偏光子であり、前記第２長尺光学フィルムが偏光フィルムである場合にも用いることができる。
　本発明者らの知見によれば、第１長尺光学フィルムの幅方向端部にナーリング加工部が形成される場合、ナーリング加工部に相当する部位（ナーリング加工部が形成された部位、又は、ナーリング加工部が形成される予定の部位）にインクジェット方式で第１識別情報を印字しても、第１識別情報をナーリング加工部の凹凸と区別して読み取ることができる。一方、ナーリング加工部に相当する部位にレーザ刻印で第２識別情報を印字すると、第２識別情報をナーリング加工部の凹凸と区別して読み難い場合がある。
　したがい、本発明において、前記第１長尺光学フィルムの幅方向端部にナーリング加工部が形成される場合、前記第２工程において、前記第１長尺光学フィルムの前記ナーリング加工部に相当する部位に前記第１識別情報をインクジェット方式で印字することが好ましい。これにより、第１長尺光学フィルムの有効幅が第１識別情報を印字することによって狭まることなく、歩留まりを高めることができる。
　また、本発明において、前記第１長尺光学フィルムの幅方向端部にナーリング加工部が形成されており、前記第５工程において、前記第１長尺光学フィルムのナーリング加工部よりも幅方向内側に位置する前記長尺光学積層体の部位に、前記第２識別情報を印字することが好ましい。これにより、第２識別情報をナーリング加工部の凹凸と確実に区別して読み取ることができる。
　また、前記課題を解決するため、本発明は、第１長尺光学フィルムを検査して、前記第１長尺光学フィルムの欠陥情報である第１欠陥情報を取得する第１検査装置と、前記第１長尺光学フィルムの幅方向端部に、前記第１長尺光学フィルムの長手方向の所定間隔毎に第１識別情報を印字する第１印字装置と、前記第１長尺光学フィルムの前記第１欠陥情報と前記第１識別情報とを紐付けて記憶する第１演算記憶装置と、前記第１長尺光学フィルムと第２長尺光学フィルムとが積層された長尺光学積層体を検査して、前記長尺光学積層体の欠陥情報である第２欠陥情報を取得する第２検査装置と、前記長尺光学積層体の幅方向端部に、前記長尺光学積層体の長手方向の所定間隔毎に第２識別情報を印字する第２印字装置と、前記長尺光学積層体の前記第２欠陥情報と前記第２識別情報とを紐付けて記憶する第２演算記憶装置と、を備え、前記第１印字装置が印字する前記第１識別情報及び前記第２印字装置が印字する前記第２識別情報のうち、何れか一方がインクジェット方式で印字され、何れか他方がレーザ刻印で印字されるか、又は、何れか一方が透明インクを用いたインクジェット方式で印字され、何れか他方が有色インクを用いたインクジェット方式で印字される、ことを特徴とする長尺光学積層体の検査システムとしても提供される。
　本発明によれば、第１長尺光学フィルムに印字された第１識別情報と、長尺光学積層体に印字された第２識別情報との双方を、長尺光学積層体の状態で読み取り可能にすることで、欠陥情報と識別情報とを適切に紐付けることができる。
本発明の一実施形態に係る長尺光学積層体の検査方法の概略工程を示すフロー図である。 図１に示す第１工程Ｓ２～第３工程Ｓ４を実行するための検査システムの概略構成を模式的に示す斜視図である。 図１に示す第４工程Ｓ６～第６工程Ｓ８を実行するための検査システムの概略構成を模式的に示す斜視図である。 図１に示す第７工程Ｓ９を実行するための検査システムの概略構成を模式的に示す斜視図である。 図４に示す第１読取装置９及び第２読取装置１０の概略構成例を模式的に示す側面図（長尺光学積層体Ｆ２の幅方向から見た側面図）である。 図１に示す読み取り工程Ｓ１０、２回目の第４工程Ｓ１１及び第６工程Ｓ１２（第７工程Ｓ９実行後の第４工程及び第６工程）を実行するための検査システムの概略構成を模式的に示す斜視図である。 本発明の一実施形態に係る長尺光学積層体の検査方法による第１識別情報Ｍ及び第２識別情報Ｎの印字例を示す図である。 図７に示す長尺光学積層体Ｆ２の第１識別情報Ｍを第１読取装置９で読み取った結果の一例を示す。 図７に示す長尺光学積層体Ｆ２の第２識別情報Ｎを第２読取装置１０で読み取った結果の一例を示す。
　以下、添付図面を適宜参照しつつ、本発明の一実施形態に係る長尺光学積層体の検査方法（以下、適宜、単に「検査方法」という）及び長尺光学積層体の検査システム（以下、適宜、単に「検査システム」という）について説明する。
　本実施形態に係る検査方法の検査対象である長尺光学積層体は、第１長尺光学フィルムと第２長尺光学フィルムとが積層されたフィルムである。本実施形態では、第１長尺光学フィルムが保護フィルムであり、第２長尺光学フィルムが偏光子であり、長尺光学積層体が偏光フィルムである場合を例に挙げて説明する。最初に、長尺光学積層体（偏光フィルム）の具体例について説明する。
　＜長尺光学積層体＞
　長尺光学積層体としての偏光フィルムは、（Ａ）染色処理、架橋処理及び延伸処理を施したポリビニルアルコール系フィルムを乾燥させて、第２長尺光学フィルムとしての偏光子を製造する工程と、（Ｂ）第２長尺光学フィルム（偏光子）の片側又は両側に第１長尺光学フィルムとしての保護フィルムを貼り合わせる工程と、（Ｃ）貼り合わせた後に加熱処理する工程と、を含む製造方法により製造される。
　ポリビニルアルコール系フィルムの染色処理、架橋処理、延伸処理の各処理は、必ずしも別々に施す必要はなく、同時に施してもよく、また、各処理の順番も任意でよい。なお、ポリビニルアルコール系フィルムとして、膨潤処理を施したポリビニルアルコール系フィルムを用いてもよい。一般には、ポリビニルアルコール系フィルムを、ヨウ素や二色性色素を含む溶液に浸漬し、ヨウ素や二色性色素を吸着させて染色した後に洗浄し、ホウ酸やホウ砂等を含む溶液中で延伸倍率３倍～７倍で一軸延伸した後、乾燥させる。ヨウ素や二色性色素を含む溶液中で延伸した後、ホウ酸やホウ砂等を含む溶液中で更に延伸（二段延伸）した後、乾燥させることにより、ヨウ素の配向が高くなり、偏光度特性が良くなるため、特に好ましい。
　上記のポリビニルアルコール系フィルムを構成するポリビニルアルコール系ポリマーとしては、例えば、酢酸ビニルを重合した後にケン化したものや、酢酸ビニルに少量の不飽和カルボン酸、不飽和スルホン酸、カチオン性モノマー等の共重合可能なモノマーを共重合したもの等が挙げられる。ポリビニルアルコール系ポリマーの平均重合度は、特に制限されず任意のものを使用することができるが、１０００以上が好ましく、より好ましくは２０００～５０００である。また、ポリビニルアルコール系ポリマーのケン化度は８５モル％以上が好ましく、より好ましくは９８～１００モル％である。
　製造される第２長尺光学フィルム（偏光子）の厚みは、５～８０μｍが一般的であるが、これに限定されるものではなく、また、第２長尺光学フィルム（偏光子）の厚みを調整する方法に関しても、特に限定されるものではなく、テンター、ロール延伸や圧延等の通常の方法を用いることができる。
　第２長尺光学フィルム（偏光子）と第１長尺光学フィルム（保護フィルム）との貼り合わせは、特に限定されるものではないが、例えば、ビニルアルコール系ポリマーからなる接着剤、或いは、ホウ酸やホウ砂、グルタルアルデヒドやメラミン、シュウ酸などのビニルアルコール系ポリマーの水溶性架橋剤から少なくともなる接着剤等を介して行うことができる。第２長尺光学フィルム（偏光子）と第１長尺光学フィルム（保護フィルム）とを貼り合わせる接着層は、水溶液の塗布乾燥層等として形成されるが、その水溶液の調製に際しては、必要に応じて、他の添加剤や、酸等の触媒も配合することができる。
　第２長尺光学フィルム（偏光子）の片側又は両側に貼り合わせる第１長尺光学フィルム（保護フィルム）には、適宜の透明フィルムを用いることができる。中でも、透明性や機械的強度、熱安定性や水分遮蔽性等に優れるポリマーからなるフィルムが好ましく用いられる。そのポリマーとしては、トリアセチルセルロース等のアセテート系樹脂、ポリカーボネート系樹脂、ポリアリレート、ポリエチレンテレフタレート等のポリエステル系樹脂、ポリイミド系樹脂、ポリスルホン系樹脂、ポリエーテルスルホン系樹脂、ポリスチレン系樹脂、ポリエチレン、ポリプロピレン等のポリオレフィン系樹脂、ポリビニルアルコール系樹脂、ポリ塩化ビニル系樹脂、ポリノルボルネン系樹脂、（メタ）アクリル系樹脂、ポリメチルメタクリレート系樹脂、液晶ポリマー等が挙げられる。フィルムは、キャスティング法、カレンダー法、押出し法のいずれで製造したものでもよい。
　また、特開２００１－３４３５２９号公報（ＷＯ０１／３７００７）に記載のポリマーフィルム、例えば、（Ａ）側鎖に置換及び／又は非置換イミド基を有する熱可塑性樹脂と、（Ｂ）側鎖に置換及び／又は非置換フェニル並びにニトリル基を有する熱可塑性樹脂を含有する樹脂組成物が挙げられる。具体例としては、イソブチレンとＮ－メチルマレイミドからなる交互共重合体とアクリロニトリル・スチレン共重合体とを含有する樹脂組成物のフィルムが挙げられる。フィルムとしては、樹脂組成物の混合押出品などからなるフィルムを用いることができる。これらのフィルムは、位相差が小さく、光弾性係数が小さいため、長尺光学積層体（偏光フィルム）の歪みによるムラなどの不具合を解消することができ、また透湿度が小さいため、加湿耐久性に優れる。
　また、第１長尺光学フィルム（保護フィルム）は、できるだけ色付きがないことが好ましい。したがい、Ｒｔｈ＝［（ｎｘ＋ｎｙ）／２－ｎｚ］・ｄ（ただし、ｎｘ、ｎｙはフィルム平面内の主屈折率、ｎｚはフィルム厚み方向の屈折率、ｄはフィルム厚みである）で表されるフィルム厚み方向の位相差値が－９０ｎｍ～＋７５ｎｍである第１長尺光学フィルム（保護フィルム）が好ましく用いられる。厚み方向の位相差値（Ｒｔｈ）が－９０ｎｍ～＋７５ｎｍのものを使用することにより、第１長尺光学フィルム（保護フィルム）に起因する長尺光学積層体（偏光フィルム）の着色（光学的な着色）をほぼ解消することができる。厚み方向の位相差値（Ｒｔｈ）は、さらに好ましくは－８０ｎｍ～＋６０ｎｍであり、特に－７０ｎｍ～＋４５ｎｍが好ましい。
　第１長尺光学フィルム（保護フィルム）としては、偏光特性や耐久性などの点から、（メタ）アクリル系樹脂が好ましい。また、トリアセチルセルロース等のアセテート系樹脂が好ましく、特に表面をアルカリなどでケン化処理したトリアセチルセルロースフィルムが好ましい。なお、第２長尺光学フィルム（偏光子）の両側に第１長尺光学フィルム（保護フィルム）を貼り合わせる場合、その表裏で異なるポリマーからなる第１長尺光学フィルム（保護フィルム）を用いてもよい。
　第１長尺光学フィルム（保護フィルム）の厚みは、任意であるが、一般には、長尺光学積層体（偏光フィルム）の薄型化等を目的にして、５００μｍ以下、好ましくは１～３００μｍ、特に好ましくは５～２００μｍとされる。
　第１長尺光学フィルム（保護フィルム）は、本発明の目的を損なわない限り、ハードコート処理や反射防止処理、スティッキングの防止や拡散乃至アンチグレア等を目的とした処理等を施したものであってもよい。ハードコート処理は、長尺光学積層体（偏光フィルム）の表面の傷付き防止などを目的に施されるものであり、例えばシリコーン系などの適宜な紫外線硬化型樹脂による硬度や滑り性等に優れる硬化皮膜を第１長尺光学フィルム（保護フィルム）の表面に付加する方式などにて形成することができる。
　一方、反射防止処理は、長尺光学積層体（偏光フィルム）の表面での外光の反射防止を目的に施されるものであり、従来に準じた反射防止膜などの形成により達成することができる。また、スティッキング防止は隣接層との密着防止を目的に、アンチグレア処理は長尺光学積層体（偏光フィルム）の表面で外光が反射して長尺光学積層体（偏光フィルム）透過光の視認を阻害することの防止などを目的に施されるものであり、例えばサンドブラスト方式やエンボス加工方式等による粗面化方式や透明微粒子の配合方式などの適宜な方式にて第１長尺光学フィルム（保護フィルム）の表面に微細凹凸構造を付与することにより形成することができる。
　上記の透明微粒子には、例えば平均粒径が０．５～２０μｍのシリカやアルミナ、チタニアやジルコニア、酸化錫や酸化インジウム、酸化カドミウムや酸化アンチモン等が挙げられ、導電性を有する無機系微粒子を用いてもよく、また、架橋又は未架橋のポリマー粒状物等からなる有機系微粒子などを用いることができる。透明微粒子の使用量は、透明樹脂１００質量部あたり２～７０質量部、特に５～５０質量部が一般的である。
　さらに、透明微粒子配合のアンチグレア層は、透明保護層そのものとして、或いは透明保護層表面への塗工層などとして設けることができる。アンチグレア層は、長尺光学積層体（偏光フィルム）透過光を拡散して視角を拡大するための拡散層（視角補償機能など）を兼ねるものであってもよい。なお、上記した反射防止層やスティッキング防止層、拡散層やアンチグレア層等は、それらの層を設けたシートなどからなる光学層として透明保護層とは別体のものとして設けることもできる。
　＜本実施形態に係る検査方法＞
　以下、本実施形態に係る検査方法について説明する。
　図１は、本実施形態に係る検査方法の概略工程を示すフロー図である。図１に示すように、本実施形態に係る検査方法は、第１長尺光学フィルム（保護フィルム）の製造工程で実行される工程Ｓ１～Ｓ４と、長尺光学積層体（偏光フィルム）の製造工程で実行される工程Ｓ５～Ｓ１２と、を含んでいる。以下、各工程について、順に説明する。
　［第１長尺光学フィルムの製造工程で実行される工程］
　第１長尺光学フィルムの製造工程では、第１工程Ｓ２～第３工程Ｓ４が実行される。また、本実施形態では、ナーリング加工工程Ｓ１が実行される。
　（ナーリング加工工程Ｓ１）
　ナーリング加工工程Ｓ１では、第１長尺光学フィルムの幅方向端部にナーリング加工を施してナーリング加工部を形成する。ナーリング加工の具体的な内容については、例えば特許文献２に記載のように公知であるため、ここでは詳細な説明を省略する。
　（第１工程Ｓ２）
　図２は、第１工程Ｓ２～第３工程Ｓ４を実行するための検査システムの概略構成を模式的に示す斜視図である。
　図２に示すように、第１工程Ｓ２では、検査システム１００が備える第１検査装置１が、搬送ロールＲによってロールツーロール方式で搬送（図２に太線矢符で示す方向に搬送）される第１長尺光学フィルムＦ１を検査して、第１長尺光学フィルムＦ１の欠陥情報である第１欠陥情報を取得する。
　第１検査装置１は、第１長尺光学フィルムＦ１の表面に対向配置された撮像手段１ａと、撮像手段１ａに電気的に接続され、撮像手段１ａで取得した第１長尺光学フィルムＦ１の表面の撮像画像に適宜の画像処理を施す画像処理手段１ｂと、を具備する。撮像手段１ａとしては、第１長尺光学フィルムＦ１の幅方向に沿って撮像素子が直線状に配置されたラインセンサや、撮像素子がマトリックス状に配置されたエリアセンサを用いることができる。撮像手段１ａの視野は、第１長尺光学フィルムＦ１の有効幅（製品に使用される幅）以上とされている。画像処理手段１ｂは、撮像画像に２値化等の公知の画像処理を施すことで、第１長尺光学フィルムＦ１に存在する欠陥に相当する画素領域を抽出する。そして、画像処理手段１ｂは、撮像画像における欠陥の位置（欠陥に相当する画素領域の座標）を特定し、少なくとも特定した欠陥の位置を含む情報を第１欠陥情報として取得する。取得した第１欠陥情報は、検査システム１００が備える第１演算記憶装置４に入力される。
　（第２工程Ｓ３）
　第２工程Ｓ３では、検査システム１００が備える第１印字装置２が、第１長尺光学フィルムＦ１の幅方向端部（好ましくは、ナーリング加工部）に、第１長尺光学フィルムＦ１の長手方向の所定間隔（例えば、１ｍの等間隔）毎に第１識別情報Ｍを印字する。図２では、第１長尺光学フィルムＦ１の先端側（搬送方向下流側）から順に第１識別情報Ｍ１～Ｍ３が印字されている例を図示している。
　第１識別情報Ｍは、少なくとも第１長尺光学フィルムＦ１の長手方向の位置を特定する情報を含む情報である。第１識別情報Ｍは、例えば、第１長尺光学フィルムＦ１の先端側から順に増加又は減少する数値（この数値によって、第１長尺光学フィルムＦ１の長手方向の位置が特定される）が、２次元コードやバーコードによって表されている。第１識別情報Ｍには、第１長尺光学フィルムＦ１の長手方向の位置を特定する情報の他、印字した日時、第１長尺光学フィルムＦ１の製造番号、印字した工程の種別など、各種の付帯情報を含ませることが可能である。
　本実施形態では、第１印字装置２による第１識別情報Ｍの印字が、第１演算記憶装置４によって制御される。具体的には、ロータリーエンコーダ等を用いた測長器３によって、第１長尺光学フィルムＦ１の搬送方向への移動量が測定され、第１演算記憶装置４に入力される。第１演算記憶装置４は、測長器３から入力された移動量に基づき、所定間隔毎に第１印字装置２に対して制御信号を送信し、第１印字装置２に所定間隔毎に第１識別情報Ｍを印字させる。
　なお、本実施形態では、第１演算記憶装置４が第１印字装置２を制御する機能も有する場合を例に挙げて説明したが、本発明はこれに限るものではなく、第１演算記憶装置４とは別の制御装置が第１印字装置２を制御する構成を採用することも可能である。
　本実施形態の第１印字装置２は、第１識別情報Ｍをインクジェット方式で印字する。本実施形態の第１印字装置２は、好ましい態様として、第１識別情報Ｍを透明インクを用いたインクジェット方式で印字する。具体的には、本実施形態では、透明インクとして紫外線を照射することで蛍光発光するＵＶインクを用いたインクジェット方式で、第１識別情報Ｍを印字する。
　第１印字装置２としては、例えば、Videojet社製インクジェットプリンタ「VJ1000シリーズ」や、日立産機社製インクジェットプリンタ「Gravis UXシリーズ」を用いることができる。
　（第３工程Ｓ４）
　第３工程Ｓ４では、第１演算記憶装置４が、第１長尺光学フィルムＦ１の第１欠陥情報と第１識別情報Ｍとを紐付けて記憶する。具体的には、以下の通りである。
　例えば、第１検査装置１が図２に示す欠陥Ｄ１を検出して、撮像画像における欠陥Ｄ１の位置（欠陥Ｄ１に相当する画素領域の座標）を特定し、これが第１欠陥情報として第１演算記憶装置４に入力されたとする。第１演算記憶装置４には、測長器３から第１長尺光学フィルムＦ１の搬送方向への移動量が入力されているため、第１演算記憶装置４は、欠陥Ｄ１を検出した時点（撮像画像における欠陥Ｄ１に相当する画素領域の座標を特定した時点）と、第１印字装置２によって第１識別情報Ｍを印字した時点との間に、第１長尺光学フィルムＦ１がどれだけ搬送方向に移動しているかを把握することができる。この両時点間の第１長尺光学フィルムＦ１の移動量と、撮像画像における欠陥Ｄ１に相当する画素領域の座標とに基づき、第１演算記憶装置４は、所定の第１識別情報Ｍ（図２に示す例では第１識別情報Ｍ３）から欠陥Ｄ１までの距離（第１長尺光学フィルムＦ１の長手方向に沿った距離）Ｘ１を算出することができる。また、第１演算記憶装置４は、撮像画像における欠陥Ｄ１に相当する画素領域の座標に基づき、第１長尺光学フィルムＦ１の幅方向のエッジから欠陥Ｄ１までの距離（第１長尺光学フィルムＦ１の幅方向に沿った距離）Ｙ１を算出することができる。第１演算記憶装置４は、少なくとも、この第１識別情報Ｍ（Ｍ３）と、第１識別情報Ｍ（Ｍ３）を基準とした欠陥Ｄ１の座標（Ｘ１、Ｙ１）とを紐付けて記憶することになる。
　［長尺光学積層体の製造工程で実行される工程］
　前述の製造工程で製造された第１長尺光学フィルム（ナーリング加工部に第１識別情報Ｍがインクジェット方式で印字された第１長尺光学フィルム）Ｆ１は、ロール状に巻回されて、原反ロールとされる。原反ロールとされた第１長尺光学フィルムＦ１は、長尺光学積層体の製造工程に運ばれる。長尺光学積層体の製造工程では、運ばれた第１長尺光学フィルムＦ１の原反ロールが用いられる。
　図１に示すように、本実施形態の長尺光学積層体の製造工程は、Ｎｏ．１工程と、Ｎｏ．２工程と、を含んでいる。本実施形態の長尺光学積層体の製造工程では、Ｎｏ．１工程で第４工程Ｓ６～第７工程Ｓ９が実行された後、再び、Ｎｏ．２工程で第４工程Ｓ１１及び第６工程Ｓ１２が実行される。また、本実施形態の長尺光学積層体の製造工程では、Ｎｏ．１工程で貼り合わせ工程Ｓ５が実行され、Ｎｏ．２工程で読み取り工程Ｓ１０が実行される。
　（貼り合わせ工程Ｓ５）
　Ｎｏ．１工程では、第１長尺光学フィルム（保護フィルム）Ｆ１の原反ロールが繰り出され、第２長尺光学フィルム（偏光子）の原反ロールが繰り出される。そして、貼り合わせ工程Ｓ５では、第２長尺光学フィルムの片側又は両側に、前述のように接着剤等を介して、第１長尺光学フィルムＦ１を貼り合わせ、第１長尺光学フィルムＦ１と第２長尺光学フィルムとが積層された長尺光学積層体（偏光フィルム）Ｆ２を得る。
　（第４工程Ｓ６）
　図３は、第４工程Ｓ６～第６工程Ｓ８を実行するための検査システムの概略構成を模式的に示す斜視図である。
　図３に示すように、第４工程Ｓ６では、検査システム１００が備える第２検査装置５が、搬送ロールＲによってロールツーロール方式で搬送（図３に太線矢符で示す方向に搬送）される長尺光学積層体Ｆ２を検査して、長尺光学積層体Ｆ２の欠陥情報である第２欠陥情報を取得する。
　第２検査装置５は、図２に示す第１検査装置１と同様に、撮像手段５ａ及び画像処理手段５ｂを具備し、第１検査装置１と同様の機能を有するため、ここでは詳細な説明を省略する。第２検査装置５は、撮像画像における欠陥の位置（欠陥に相当する画素領域の座標）を特定し、少なくとも特定した欠陥の位置を含む情報を第２欠陥情報として取得する。取得した第２欠陥情報は、検査システム１００が備える第２演算記憶装置８に入力される。
　（第５工程Ｓ７）
　第５工程Ｓ７では、検査システム１００が備える第２印字装置６が、長尺光学積層体Ｆ２の幅方向端部（好ましくは、第１長尺光学フィルムＦ１のナーリング加工部よりも幅方向内側に位置する長尺光学積層体Ｆ２の部位）に、長尺光学積層体Ｆ２の長手方向の所定間隔（例えば、１ｍの等間隔）毎に第２識別情報Ｎを印字する。図３では、長尺光学積層体Ｆ２の先端側（搬送方向下流側）から順に第２識別情報Ｎ１～Ｎ３が印字されている例を図示している。なお、実際には、長尺光学積層体Ｆ２を構成する第１長尺光学フィルムＦ１に第１識別情報Ｍが印字されているが、図３では便宜上、第１識別情報Ｍの図示を省略している。
　第２識別情報Ｎは、少なくとも長尺光学積層体Ｆ２の長手方向の位置を特定する情報を含む点が、少なくとも第１長尺光学フィルムＦ１の長手方向の位置を特定する情報を含む第１識別情報Ｍと異なり、その他の点は第１識別情報Ｍと同様であるため、ここでは詳細な説明を省略する。
　なお、本実施形態では、長尺光学積層体Ｆ２に印字される第２識別情報Ｎは、第１識別情報Ｍが印字されたのと同じ第１長尺光学フィルムＦ１に印字されるが、本発明はこれに限るものではない。
　例えば、第２長尺光学フィルム（偏光子）の両側に第１長尺光学フィルム（保護フィルム）Ｆ１を貼り合わせて長尺光学積層体（偏光フィルム）Ｆ２を形成する場合には、一方の第１長尺光学フィルム（保護フィルム）Ｆ１に第１識別情報Ｍを印字し、第１識別情報Ｍが印字されていない他方の第１長尺光学フィルムＦ１（保護フィルム。位相差フィルムを兼ねても良い）に第２識別情報Ｎを印字することも可能である。
　また、例えば、第２長尺光学フィルム（偏光子）の両側に第１長尺光学フィルム（保護フィルム）Ｆ１を貼り合わせ、更に一方の第１長尺光学フィルムに位相差フィルムを貼り合わせて長尺光学積層体（位相差機能付き偏光フィルム）Ｆ２を形成する場合には、他方の第１長尺光学フィルム（保護フィルム）Ｆ１に第１識別情報Ｍを印字し、位相差フィルムに第２識別情報Ｎを印字することも可能である。
　第１印字装置２による第１識別情報Ｍの印字が、第１演算記憶装置４によって制御されるのと同様に、第２印字装置６による第２識別情報Ｎの印字は、第２演算記憶装置８によって制御される。具体的な制御内容については、第１印字装置２による第１識別情報Ｍの印字の制御と同様であるため、ここでは詳細な説明を省略する。
　本実施形態の第２印字装置６は、第１印字装置２と異なり、第２識別情報Ｎをレーザ刻印で印字する。第２印字装置６としては、例えばＣＯ２レーザを用いてレーザ刻印で印字する機能を有する公知の種々の印字装置を適用可能であるため、ここでは詳細な説明を省略する。
　（第６工程Ｓ８）
　第６工程Ｓ８では、第２演算記憶装置８が、長尺光学積層体Ｆ２の第２欠陥情報と第２識別情報Ｎとを紐付けて記憶する。具体的には、第１演算記憶装置４が、第１長尺光学フィルムＦ１の第１欠陥情報と第１識別情報Ｍとを紐付けて記憶する場合と同様の手順であるため、詳細な説明は省略するが、第２演算記憶装置８は、測長器３と同様の構成を有する測長器７から入力された長尺光学積層体Ｆ２の搬送方向への移動量を用いて、少なくとも、第２識別情報Ｎ（図３に示す例では第２識別情報Ｎ３）と、第２識別情報Ｎ（Ｎ３）を基準とした欠陥Ｄ２の座標（Ｘ２、Ｙ２）とを紐付けて記憶することになる。
　（第７工程Ｓ９）
　図４は、第７工程Ｓ９を実行するための検査システムの概略構成を模式的に示す斜視図である。
　第７工程Ｓ９では、第２演算記憶装置８が、第１長尺光学フィルムＦ１の第１欠陥情報と長尺光学積層体Ｆ２の第２識別情報とを紐付けて記憶する。具体的には、第１識別情報Ｍ（図４には、第１識別情報Ｍ１～Ｍ３を図示）を読み取るための第１読取装置９と、第２識別情報Ｎ（図４には、第２識別情報Ｎ１～Ｎ３を図示）を読み取るための第２読取装置１０とが配置され、第１読取装置９で読み取った第１識別情報Ｍと、第２読取装置１０で読み取った第２識別情報Ｎとが、第２演算記憶装置８に入力される。ここで、第２演算記憶装置８には、予め、第１演算記憶装置４に記憶された第１長尺光学フィルムＦ１の第１欠陥情報と第１識別情報Ｍとの紐付け（第１識別情報Ｍと、第１識別情報Ｍを基準とした欠陥の座標との関係）が入力され、記憶されている。第１欠陥情報と第１識別情報Ｍとの紐付けの入力は、第１演算記憶装置４と第２演算記憶装置８とを電気的に接続して、第１演算記憶装置４から第２演算記憶装置８に送信してもよいし、第１演算記憶装置４からダウンロードして、手動で第２演算記憶装置８に入力してもよい。また、第２演算記憶装置８には、測長器３と同様の構成を有する測長器１１から長尺光学積層体Ｆ２の搬送方向への移動量が入力される。
　第２演算記憶装置８は、測長器１１から入力された長尺光学積層体Ｆ２の搬送方向への移動量に基づき、第１読取装置９で第１識別情報Ｍを読み取った時点（第１識別情報Ｍが第２演算記憶装置８に入力された時点）と、第２読取装置１０で第２識別情報Ｎを読み取った時点（第２識別情報Ｎが第２演算記憶装置８に入力された時点）との間に、長尺光学積層体Ｆ２がどれだけ搬送方向に移動しているかを把握することができる。この両時点間の長尺光学積層体Ｆ２の移動量に基づき、第２演算記憶装置８は、第１識別情報Ｍと第２識別情報Ｎとの長尺光学積層体Ｆ２の長手方向に沿った位置ズレ（図４に示す例では第１識別情報Ｍ３と第２識別情報Ｎ３との位置ズレｄＸ）を算出することができる。
　したがい、第２演算記憶装置８は、予め記憶された第１長尺光学フィルムＦ１の第１欠陥情報と第１識別情報Ｍとの紐付けと、算出した第１識別情報Ｍと第２識別情報Ｎとの位置ズレとに基づき、第１長尺光学フィルムＦ１の第１欠陥情報と長尺光学積層体Ｆ２の第２識別情報Ｎとを紐付けて記憶することができる。換言すれば、第２識別情報Ｎと、第２識別情報Ｎを基準とした欠陥の座標とを紐付けて記憶することができる。このように、第７工程Ｓ９を実行することで、長尺光学積層体Ｆ２の第２識別情報Ｎに基づき、第１欠陥情報及び第２欠陥情報を一元管理することができる。
　第７工程Ｓ９を実行した後の長尺光学積層体Ｆ２は、ロール状に巻回されて、Ｎｏ．２工程に運ばれる。
　図５は、第１読取装置９及び第２読取装置１０の概略構成例を模式的に示す側面図（長尺光学積層体Ｆ２の幅方向から見た側面図）である。図５（ａ）は第１読取装置９の概略構成例を、図５（ｂ）は第２読取装置１０の概略構成例を示す。
　図５（ａ）に示すように、第１読取装置９は、紫外線を出射するＵＶ照明９１と、撮像手段（エリアセンサ）９２と、を具備する。ＵＶ照明９１から出射した紫外線を長尺光学積層体Ｆ２の表面に照射することで、透明インク（ＵＶインク）で印字された第１識別情報Ｍが蛍光発光する。これにより、長尺光学積層体Ｆ２の表面に対してＵＶ照明９１と同じ側（図５（ａ）に示す例では上側）に配置した撮像手段９２で取得した撮像画像中、第１識別情報Ｍに相当する画素領域が明るくなり（第２識別情報Ｎに相当する画素領域は背景と同様に暗くなり）、第１識別情報Ｍを第２識別情報Ｎと区別して読み取ることができる。
　なお、ＵＶ照明９１としては、例えば、波長２００～４００ｎｍ程度の紫外線、好ましくは波長３６５ｎｍ程度の紫外線を出射するものを用いることができる。また、撮像手段９２としては、例えば、シャッタースピード（露光時間）が３０～１５０μｓｅｃ程度の高速シャッター付きのエリアセンサを用いることができる。
　図５（ｂ）に示すように、第２読取装置１０は、長尺光学積層体Ｆ２の表面に対して一方の側（図５（ｂ）に示す例では下側）に配置され、平行光束を出射する照明１０１と、長尺光学積層体Ｆ２の表面に対して他方の側（図５（ｂ）に示す例では上側）に配置され、長尺光学積層体Ｆ２を透過した光を受光する撮像手段（エリアセンサ）１０２と、を具備する。照明１０１から出射し長尺光学積層体Ｆ２の表面に照射された平行光束は、レーザ刻印で印字された第２識別情報Ｎによって散乱する。これにより、撮像手段１０２で取得した撮像画像中、第２識別情報Ｎに相当する画素領域が暗くなり（第１識別情報Ｍに相当する画素領域は背景と同様に明るくなり）、第２識別情報Ｎを第１識別情報Ｍと区別して読み取ることができる。
　なお、詳細な説明は省略するが、第１識別情報Ｍが通常の有色インクを用いて印字されている場合には、図５（ｂ）に示す照明１０１を拡散光を照射する照明に代えた読取装置を第１識別情報Ｍを読み取るための読取装置として用いることで、撮像手段１０２で取得した撮像画像中、第１識別情報Ｍに相当する画素領域が暗くなり（第２識別情報Ｎに相当する画素領域は背景と同様に明るくなり）、第１識別情報Ｍを第２識別情報Ｎと区別して読み取ることができる。
　（読み取り工程Ｓ１０）
　Ｎｏ．２工程では、ロール状に巻回された長尺光学積層体Ｆ２が繰り出される。そして、最初に読み取り工程Ｓ１０が実行される。
　図６は、読み取り工程Ｓ１０、２回目の第４工程Ｓ１１及び第６工程Ｓ１２（第７工程Ｓ９実行後の第４工程及び第６工程）を実行するための検査システムの概略構成を模式的に示す斜視図である。なお、実際には、長尺光学積層体Ｆ２を構成する第１長尺光学フィルムＦ１に第１識別情報Ｍが印字されているが、図６では便宜上、第１識別情報Ｍの図示を省略している。
　図６に示すように、読み取り工程Ｓ１０では、検査システム１００が備える第２読取装置１０（図４、図５（ｂ）参照）と同様の構成を有する第２読取装置１２で第２識別情報Ｎを読み取る。読み取った第２識別情報Ｎは、第２記憶装置８に入力される。
　（第４工程（２回目）Ｓ１１）
　２回目の第４工程Ｓ１１では、検査システム１００が備える第２検査装置５と同様の構成を有する第２検査装置１３（撮像手段１３ａ及び画像処理手段１３ｂ）が、搬送ロールＲによってロールツーロール方式で搬送（図６に太線矢符で示す方向に搬送）される長尺光学積層体Ｆ２を検査して、長尺光学積層体Ｆ２の欠陥情報である第２欠陥情報を取得する。取得した第２欠陥情報は、第２演算記憶装置８に入力される。
　（第６工程（２回目）Ｓ１２）
　２回目の第６工程Ｓ１２では、第２演算記憶装置８が、第２検査装置１３で取得した長尺光学積層体Ｆ２の第２欠陥情報と、第２読取装置１２で読み取った第２識別情報Ｎとを紐付けて記憶する。具体的には、第２演算記憶装置８は、測長器３と同様の構成を有する測長器１４から入力された長尺光学積層体Ｆ２の搬送方向への移動量を用いて、第２読取装置１２で第２識別情報Ｎを読み取った時点と、第２検査装置１３で欠陥を検出した時点（撮像画像における欠陥に相当する画素領域の座標を特定した時点）との間に、長尺光学積層体Ｆ２がどれだけ搬送方向に移動しているかを把握し、少なくとも、第２識別情報Ｎと、第２識別情報Ｎを基準とした欠陥の座標とを紐付けて記憶する。
　本実施形態では、長尺光学積層体Ｆ２の製造工程で、２回の検査（第２検査装置５による検査、第２検査装置１３による検査）を実行する場合を例に挙げて説明したが、３回以上検査する場合には、２回目以降の検査において、読み取り工程Ｓ１０、第４工程Ｓ１１及び第６工程Ｓ１２を繰り返し実行すればよい。
　以上に説明した本実施形態に係る検査方法によれば、第１識別情報Ｍがインクジェット方式で印字され、第２識別情報Ｎがレーザ刻印で印字されるため、本発明者らが知見したように、第１識別情報Ｍと第２識別情報Ｎとが重なったとしても、両者を区別して読み取ることができる。すなわち、欠陥情報と識別情報とを適切に紐付ける（第１欠陥情報と第１識別情報Ｍ（ひいては第２識別情報Ｎ）とを紐付け、第２欠陥情報と第２識別情報Ｎとを紐付ける）ことができる。
　また、例えば、第２識別情報Ｎを読み取って、第６工程Ｓ８、Ｓ１２で記憶した第２欠陥情報と第２識別情報Ｎとの紐付けを用いると共に、第７工程Ｓ９で記憶した第１欠陥情報と第２識別情報Ｎとの紐付けを用いることで、第１長尺光学フィルムＦ１の状態で発生した欠陥の位置及び長尺光学積層体Ｆ２の状態で発生した欠陥の位置を避けて、製品を打ち抜くことが可能である。
　ただし、本発明に係る検査方法は、第１識別情報Ｍがインクジェット方式で印字され、第２識別情報Ｎがレーザ刻印で印字される態様に限るものではない。第１識別情報Ｍ及び第２識別情報Ｎのうち、何れか一方をインクジェット方式で印字して、何れか他方をレーザ刻印で印字するか、又は、何れか一方を透明インクを用いたインクジェット方式で印字して、何れか他方を有色インクを用いたインクジェット方式で印字しても、第１識別情報Ｍと第２識別情報Ｎと区別して読み取ることができる。
　なお、好ましい態様として、本実施形態に係る検査方法は、第１長尺光学フィルムＦ１の第１識別情報Ｍ（ひいては長尺光学積層体Ｆ２の第２識別情報Ｎ）及び第１欠陥情報の紐付けと、長尺光学積層体Ｆ２の第２識別情報Ｎ及び第２欠陥情報の紐付けとに基づき、長尺光学積層体Ｆ２の欠陥の位置にマーキングを施す第８工程（図１では図示省略）を含むことも可能である。具体的には、第２識別情報Ｎを読み取って、第１欠陥情報及び第２欠陥情報に含まれる欠陥の位置に、インクジェット方式のマーキングや、特許文献１に記載と同様のマジックを用いたマーキングを施すことも可能である。マーキングを施す第８工程が含まれることで、欠陥の位置にマーキングが施されるため、目視でも欠陥の位置を特定可能である。
　図７は、本実施形態に係る検査方法による第１識別情報Ｍ及び第２識別情報Ｎの印字例を示す図である。図７に示す例は、第１長尺光学フィルムＦ１として、トリアセチルセルロール（ＴＡＣ）製の保護フィルムと、アクリル製の保護フィルムとを用い、第２長尺光学フィルムとしての偏光子の両側にこれらの第１長尺光学フィルムＦ１を貼り合わせて形成した長尺光学積層体（偏光フィルム）Ｆ２である。図７に示す例では、アクリル製保護フィルムに透明インク（ＵＶインク）を用いたインクジェット方式で第１識別情報Ｍを印字した後、このアクリル製保護フィルムとＴＡＣ製の保護フィルムを偏光子の両側にそれぞれ貼り合わせ、この後、ＴＡＣ製の保護フィルム側にレーザ刻印で第２識別情報Ｎを印字している。図７に示す円形の凹凸がアクリル製保護フィルムの幅方向端部に形成したナーリング加工部であり、菱形の凹凸がＴＡＣ製保護フィルムの幅方向端部に形成したナーリング加工部である。
　なお、図７に示す撮像画像は、第１読取装置９が具備するＵＶ照明９１と、第２読取装置１０が具備する照明１０１との双方を同時に用いて、長尺光学積層体Ｆ２を照明した場合に得られた撮像画像である。
　図８は、図７に示す長尺光学積層体Ｆ２の第１識別情報Ｍを第１読取装置９で読み取った結果の一例を示す。図８に示すように、第１読取装置９で取得した撮像画像中、第１識別情報Ｍに相当する画素領域が明るくなり（第２識別情報Ｎに相当する画素領域は背景と同様に暗くなり）、第１識別情報Ｍを第２識別情報Ｎと区別して読み取り可能であることが分かる。
　図９は、図７に示す長尺光学積層体Ｆ２の第２識別情報Ｎを第２読取装置１０で読み取った結果の一例を示す。図９に示すように、第２読取装置１０で取得した撮像画像中、第２識別情報Ｎに相当する画素領域が暗くなり（第１識別情報Ｍに相当する画素領域は背景と同様に明るくなり）、第２識別情報Ｎを第１識別情報Ｍと区別して読み取り可能であることが分かる。
　なお、本実施形態では、ナーリング加工工程Ｓ１を実行した後（第１長尺光学フィルムＦ１にナーリング加工部を形成した後）に、第２工程Ｓ２において第１長尺光学フィルムＦ１に第１識別情報Ｍを印字する例について説明したが、本発明はこれに限るものではない。ナーリング加工部を形成する前にナーリング加工部が形成される予定の部位に第１識別情報Ｍを印字する（すなわち、第１識別情報Ｍを印字した後にナーリング加工部を形成する）ことも可能である。
　また、本実施形態では、長尺光学積層体Ｆ２の検査を複数回実行する場合を例に挙げて説明したが、本発明はこれに限るものではなく、長尺光学積層体Ｆ２の検査を１回だけ実行することも可能である。この場合には、図１に示す読み取り工程Ｓ１０、第４工程（２回目）Ｓ１１及び第６工程（２回目）Ｓ１２は不要である。ただし、第１長尺光学フィルムＦ１の状態で発生した欠陥の位置及び長尺光学積層体Ｆ２の状態で発生した欠陥の位置を避けて製品を打ち抜くときや、長尺光学積層体Ｆ２の欠陥の位置にマーキングを施す第８工程を実行する場合には、読み取り工程Ｓ１０は必要である。
　また、本実施形態では、第１長尺光学フィルムＦ１の検査を１回だけ実行する場合を例に挙げて説明したが、本発明はこれに限るものではなく、長尺光学積層体Ｆ２の検査と同様に、複数回実行することも可能である。この場合には、２回目以降の検査において、図１に示す第３工程Ｓ４の後に、第１識別情報Ｍを読み取る読み取り工程、第１工程Ｓ２と同様に第１欠陥情報を取得する工程、及び、第３工程Ｓ４と同様に第１欠陥情報と第１識別情報Ｍとを紐付けて記憶する工程を繰り返し実行する必要がある。
　また、本実施形態では、第７工程Ｓ９を実行することで、長尺光学積層体Ｆ２の第２識別情報Ｎに基づき、第１欠陥情報及び第２欠陥情報を一元管理する場合を例に挙げて説明したが、本発明はこれに限るものではない。第７工程Ｓ９を実行することなく、第１識別情報Ｍに基づき第１欠陥情報を管理し、第２識別情報Ｎに基づき第２欠陥情報を管理することも可能である。具体的には、例えば、第１識別情報Ｍを読み取って、第３工程Ｓ４で記憶した第１欠陥情報と第１識別情報Ｍとの紐付けを用いることで、第１長尺光学フィルムＦ１の状態で発生した欠陥の位置を避けて製品を打ち抜き、第２識別情報Ｎを読み取って、第６工程Ｓ８で記憶した第２欠陥情報と第２識別情報Ｎとの紐付けを用いることで、長尺光学積層体Ｆ２の状態で発生した欠陥の位置を避けて製品を打ち抜くことも可能である。
　また、本実施形態では、第１長尺光学フィルムＦ１が保護フィルムであり、第２長尺光学フィルムが偏光子であり、長尺光学積層体Ｆ２が偏光フィルムである場合を例に挙げて説明したが、本発明はこれに限るものではない。例えば、第１長尺光学フィルムＦ１が位相差フィルムであり、第２長尺光学フィルムが偏光子であってもよい。また、第１長尺光学フィルムＦ１が位相差フィルム、反射型偏光子、反射防止フィルム、ＩＴＯフィルム等の導電性フィルム、例えばポリイミド等で製造されるウィンドウフィルム等であり、第２長尺光学フィルムが偏光フィルム（偏光子と保護フィルムとの積層体）であってもよい。
　１・・・第１検査装置
　２・・・第１印字装置
　３、７、１１、１４・・・測長器
　４・・・第１演算記憶装置
　５、１３・・・第２検査装置
　６・・・第２印字装置
　８・・・第２演算記憶装置
　９・・・第１読取装置
　１０、１２・・・第２読取装置
　１００・・・検査システム
　Ｆ１・・・第１長尺光学フィルム
　Ｆ２・・・長尺光学積層体
　Ｍ・・・第１識別情報
　Ｎ・・・第２識別情報

Claims (10)

  1. 　第１長尺光学フィルムを検査して、前記第１長尺光学フィルムの欠陥情報である第１欠陥情報を取得する第１工程と、
    　前記第１長尺光学フィルムの幅方向端部に、前記第１長尺光学フィルムの長手方向の所定間隔毎に第１識別情報を印字する第２工程と、
    　前記第１長尺光学フィルムの前記第１欠陥情報と前記第１識別情報とを紐付けて記憶する第３工程と、
    　前記第１長尺光学フィルムと第２長尺光学フィルムとが積層された長尺光学積層体を検査して、前記長尺光学積層体の欠陥情報である第２欠陥情報を取得する第４工程と、
    　前記長尺光学積層体の幅方向端部に、前記長尺光学積層体の長手方向の所定間隔毎に第２識別情報を印字する第５工程と、
    　前記長尺光学積層体の前記第２欠陥情報と前記第２識別情報とを紐付けて記憶する第６工程と、を含み、
    　前記第２工程において印字する前記第１識別情報及び前記第５工程において印字する前記第２識別情報のうち、何れか一方をインクジェット方式で印字して、何れか他方をレーザ刻印で印字するか、又は、何れか一方を透明インクを用いたインクジェット方式で印字して、何れか他方を有色インクを用いたインクジェット方式で印字する、
    ことを特徴とする長尺光学積層体の検査方法。
  2. 　前記第２工程において、前記第１識別情報を透明インクを用いたインクジェット方式で印字し、
    　前記第５工程において、前記第２識別情報をレーザ刻印で印字する、
    ことを特徴とする請求項１に記載の長尺光学積層体の検査方法。
  3. 　前記第１長尺光学フィルムの前記第１欠陥情報と前記長尺光学積層体の前記第２識別情報とを紐付けて記憶する第７工程を更に含む、
    ことを特徴とする請求項１又は２に記載の長尺光学積層体の検査方法。
  4. 　前記第１長尺光学フィルムの前記第１識別情報及び前記第１欠陥情報と、前記長尺光学積層体の前記第２識別情報及び前記第２欠陥情報とに基づき、前記長尺光学積層体の欠陥の位置にマーキングを施す第８工程を更に含む、
    ことを特徴とする請求項１から３の何れかに記載の長尺光学積層体の検査方法。
  5. 　前記第１長尺光学フィルムが保護フィルムであり、
    　前記第２長尺光学フィルムが偏光子であり、
    　前記長尺光学積層体が偏光フィルムである、
    ことを特徴とする請求項１から４の何れかに記載の長尺光学積層体の検査方法。
  6. 　前記第１長尺光学フィルムが位相差フィルムであり、
    　前記第２長尺光学フィルムが偏光フィルムである、
    ことを特徴とする請求項１から４の何れかに記載の長尺光学積層体の検査方法。
  7. 　前記第１長尺光学フィルムが反射型偏光子であり、
    　前記第２長尺光学フィルムが偏光フィルムである、
    ことを特徴とする請求項１から４の何れかに記載の長尺光学積層体の検査方法。
  8. 　前記第１長尺光学フィルムの幅方向端部にナーリング加工部が形成され、
    　前記第２工程において、前記第１長尺光学フィルムの前記ナーリング加工部に相当する部位に前記第１識別情報をインクジェット方式で印字する、
    ことを特徴とする請求項５に記載の長尺光学積層体の検査方法。
  9. 　前記第１長尺光学フィルムの幅方向端部にナーリング加工部が形成されており、
    　前記第５工程において、前記第１長尺光学フィルムのナーリング加工部よりも幅方向内側に位置する前記長尺光学積層体の部位に、前記第２識別情報を印字する、
    ことを特徴とする請求項５に記載の長尺光学積層体の検査方法。
  10. 　第１長尺光学フィルムを検査して、前記第１長尺光学フィルムの欠陥情報である第１欠陥情報を取得する第１検査装置と、
    　前記第１長尺光学フィルムの幅方向端部に、前記第１長尺光学フィルムの長手方向の所定間隔毎に第１識別情報を印字する第１印字装置と、
    　前記第１長尺光学フィルムの前記第１欠陥情報と前記第１識別情報とを紐付けて記憶する第１演算記憶装置と、
    　前記第１長尺光学フィルムと第２長尺光学フィルムとが積層された長尺光学積層体を検査して、前記長尺光学積層体の欠陥情報である第２欠陥情報を取得する第２検査装置と、
    　前記長尺光学積層体の幅方向端部に、前記長尺光学積層体の長手方向の所定間隔毎に第２識別情報を印字する第２印字装置と、
    　前記長尺光学積層体の前記第２欠陥情報と前記第２識別情報とを紐付けて記憶する第２演算記憶装置と、を備え、
    　前記第１印字装置が印字する前記第１識別情報及び前記第２印字装置が印字する前記第２識別情報のうち、何れか一方がインクジェット方式で印字され、何れか他方がレーザ刻印で印字されるか、又は、何れか一方が透明インクを用いたインクジェット方式で印字され、何れか他方が有色インクを用いたインクジェット方式で印字される、
    ことを特徴とする長尺光学積層体の検査システム。
PCT/JP2020/024847 2019-12-10 2020-06-24 長尺光学積層体の検査方法及び検査システム Ceased WO2021117273A1 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019-222918 2019-12-10
JP2019222918 2019-12-10

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2021117273A1 true WO2021117273A1 (ja) 2021-06-17

Family

ID=76328979

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2020/024847 Ceased WO2021117273A1 (ja) 2019-12-10 2020-06-24 長尺光学積層体の検査方法及び検査システム
PCT/JP2020/045454 Ceased WO2021117670A1 (ja) 2019-12-10 2020-12-07 長尺光学積層体の検査方法及び検査システム

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2020/045454 Ceased WO2021117670A1 (ja) 2019-12-10 2020-12-07 長尺光学積層体の検査方法及び検査システム

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP7522763B2 (ja)
KR (1) KR20220106744A (ja)
CN (1) CN114846320A (ja)
TW (2) TWI834897B (ja)
WO (2) WO2021117273A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN117944373A (zh) * 2024-03-12 2024-04-30 合肥德瑞格光电科技有限公司 一种偏光片自动光学检测缺陷喷印系统及其喷印方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7297969B1 (en) * 2003-06-09 2007-11-20 Cognex Technology And Investment Corporation Web marking and inspection system
DE102007043408A1 (de) * 2007-09-12 2009-03-19 Leonhard Kurz Gmbh & Co. Kg Verfahren zur Detektion von Trägerfolienresten oder Trägerfehlstellen sowie Applikationsmaschine
JP2009243911A (ja) * 2008-03-28 2009-10-22 Toray Ind Inc 欠陥検査システム
JP2010534835A (ja) * 2007-07-26 2010-11-11 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー 画像検査システムでの複数プロセスの空間的同期化方法
KR101512142B1 (ko) * 2013-12-31 2015-04-14 (주)엔에스 필름 제조 장치
JP2018146580A (ja) * 2017-03-03 2018-09-20 住友化学株式会社 欠陥マーキング方法及び欠陥マーキング装置、原反の製造方法及び原反、並びにシートの製造方法及びシート

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5925609B2 (ja) 1980-02-14 1984-06-19 椿本興業株式会社 水の除鹿装置
JP3974400B2 (ja) * 2002-01-07 2007-09-12 日東電工株式会社 シート状成形体の検査結果記録方法及び検査結果記録システム及びロール状成形体
KR20050013491A (ko) * 2003-07-28 2005-02-04 닛토덴코 가부시키가이샤 시트형상 제품의 검사 방법 및 검사 시스템
JP2005114624A (ja) * 2003-10-09 2005-04-28 Nitto Denko Corp シート状製品の検査方法及びシート状製品の検査システム及びシート状製品及び枚葉物
JP4960161B2 (ja) * 2006-10-11 2012-06-27 日東電工株式会社 検査データ処理装置及び検査データ処理方法
JP2008175940A (ja) * 2007-01-17 2008-07-31 Sekisui Chem Co Ltd 光学フィルムの欠陥のマーキング方法
JP2008256852A (ja) * 2007-04-03 2008-10-23 Nitto Denko Corp 光学フィルム体および光学フィルム体の製造方法
JP5578759B2 (ja) 2007-08-10 2014-08-27 日東電工株式会社 フィルム及びその製造方法
JP2009244064A (ja) * 2008-03-31 2009-10-22 Sumitomo Chemical Co Ltd 偏光フィルムの検査方法
KR20150086633A (ko) * 2014-01-20 2015-07-29 동우 화인켐 주식회사 광학 필름의 검사 장치 및 방법
JP2015225041A (ja) * 2014-05-29 2015-12-14 住友化学株式会社 積層偏光フィルムの欠陥検査方法
JP6641093B2 (ja) * 2015-03-20 2020-02-05 住友化学株式会社 光学フィルム及び積層光学フィルムの欠陥検査方法
KR101898835B1 (ko) * 2015-04-09 2018-09-13 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 적층 광학 필름의 결함 검사 방법, 광학 필름의 결함 검사 방법 및 적층 광학 필름의 제조 방법
TWI739523B (zh) * 2015-07-17 2021-09-11 日商大日本印刷股份有限公司 光學構件用積層體及影像顯示裝置
JP7097666B2 (ja) * 2016-02-02 2022-07-08 日東電工株式会社 フィルムの製造方法および真空成膜装置
JP6970550B2 (ja) * 2017-07-24 2021-11-24 住友化学株式会社 欠陥検査システム及び欠陥検査方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7297969B1 (en) * 2003-06-09 2007-11-20 Cognex Technology And Investment Corporation Web marking and inspection system
JP2010534835A (ja) * 2007-07-26 2010-11-11 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー 画像検査システムでの複数プロセスの空間的同期化方法
DE102007043408A1 (de) * 2007-09-12 2009-03-19 Leonhard Kurz Gmbh & Co. Kg Verfahren zur Detektion von Trägerfolienresten oder Trägerfehlstellen sowie Applikationsmaschine
JP2009243911A (ja) * 2008-03-28 2009-10-22 Toray Ind Inc 欠陥検査システム
KR101512142B1 (ko) * 2013-12-31 2015-04-14 (주)엔에스 필름 제조 장치
JP2018146580A (ja) * 2017-03-03 2018-09-20 住友化学株式会社 欠陥マーキング方法及び欠陥マーキング装置、原反の製造方法及び原反、並びにシートの製造方法及びシート

Also Published As

Publication number Publication date
TW202129265A (zh) 2021-08-01
JPWO2021117670A1 (ja) 2021-06-17
WO2021117670A1 (ja) 2021-06-17
TWI868273B (zh) 2025-01-01
TW202129264A (zh) 2021-08-01
JP7522763B2 (ja) 2024-07-25
KR20220106744A (ko) 2022-07-29
CN114846320A (zh) 2022-08-02
TWI834897B (zh) 2024-03-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8078307B2 (en) Apparatus for testing defects of sheet-shaped product having optical film, apparatus for processing test data thereof, apparatus for cutting the same, and production thereof
JP2005114624A (ja) シート状製品の検査方法及びシート状製品の検査システム及びシート状製品及び枚葉物
KR101375428B1 (ko) 적층 필름의 제조 방법, 적층 필름의 결함 검출 방법, 적층필름의 결함 검출 장치, 적층 필름, 및 화상 표시 장치
US8149376B2 (en) Test data processing apparatus and test data processing method
US7850801B2 (en) Layered film fabrication method, layered film defect detection method, layered film defect detection device, layered film, and image display device
US20080193701A1 (en) Optical film products and method for producing optical film products
JP2009244064A5 (ja)
JP5671571B2 (ja) 光学フィルムを有するシート状製品の検査データ処理装置および切断装置
JP5925609B2 (ja) シート状製品の検査システム及びシート状製品の検査方法
JP7628084B2 (ja) 機能フィルムの検査方法、検査システム及び原反ロール
JP7288989B1 (ja) 長尺光学フィルムの検査方法
WO2021117273A1 (ja) 長尺光学積層体の検査方法及び検査システム
JP7299219B2 (ja) マーキング装置、マーキング方法、偏光板の製造方法および偏光板
JP2009080131A (ja) シート状製品の検査方法及びシート状製品の検査システム及びシート状製品及び枚葉物

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 20900547

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 20900547

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: JP