JP4960161B2 - 検査データ処理装置及び検査データ処理方法 - Google Patents
検査データ処理装置及び検査データ処理方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4960161B2 JP4960161B2 JP2007183470A JP2007183470A JP4960161B2 JP 4960161 B2 JP4960161 B2 JP 4960161B2 JP 2007183470 A JP2007183470 A JP 2007183470A JP 2007183470 A JP2007183470 A JP 2007183470A JP 4960161 B2 JP4960161 B2 JP 4960161B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- defect
- inspection
- bright spot
- inspection data
- polarizing plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/30—Polarising elements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/20—Filters
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Polarising Elements (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
光学フィルムまたは光学フィルムを含む積層体を検査対象とした場合に、当該検査対象の表面の反射光像から得られる表面欠点に関する表面欠点検査データ及び、当該検査対象の偏光軸に対しクロスニコルになるように配置した検査用偏光フィルタを介在させて当該検査対象の透過光像から得られる輝点に関する輝点検査データに基づいて、表面欠点の位置と輝点の位置とが同一である場合に、当該同一位置の表面欠点及び輝点を欠点でないとして欠点情報を作成する欠点情報作成部を備える。
光学フィルムまたは光学フィルムを含む積層体を検査対象とした場合に、当該検査対象の表面の反射光像から得られる表面欠点に関する表面欠点検査データ及び、当該検査対象の偏光軸に対しクロスニコルになるように配置した検査用偏光フィルタを介在させて当該検査対象の透過光像から得られる輝点に関する輝点検査データに基づいて、表面欠点の位置と輝点の位置とが同一である場合に、当該同一位置の表面欠点及び輝点を欠点でないとして欠点情報を作成することを特徴とする。
本発明において扱うシート状製品の例として、偏光板原反をあげて説明する。偏光板原反は、長い帯状に形成され、フィルム状の偏光板原反から個々の大きさの偏光板を打ち抜き(又は切断)により得ることがきる。偏光板原反は、予め製造しておいたポリビニルアルコール系フィルム(偏光子)の表裏両面に例えばトリアセチルセルロースフィルム(透明の偏光子保護層)を貼り合わせることで得ることができる。この多層構造とされた偏光板原反の表面あるいは内部に存在する欠点(キズ、異物、クニック、汚れなど)を検出する必要がある。これは、後述する検出手段によって検出される。
(実施形態1)
以下で図面を用いて、本発明の検査データ処理装置の構成について説明する。図1は、検査データ処理装置の機能ブロック図である。図1の機能説明では、本発明の作用効果を奏する手段等について主に説明し、従来公知の手段についてはその説明を省略又は簡単に説明する。以下において、説明上、偏光板(TAC/PVA/TAC)の製造工程について説明するがこれに制限されない。また、製造工程中に表面に付着するが、最終の巻取り段階までにその表面付着異物が除去される欠点を、検査装置で検出することを、誤検出(又は過検出)と称することがある。
本発明の検査データ処理装置は、ソフトウエアとハードウエア(CPU、メモリ等)とを協働作用することによって実現でき、専用回路、ファームウエア等で、またはそれらの組み合わせで実現することもできる。
光学フィルムを含む積層体を検査対象とした場合に得られる表面欠点に関する表面欠点検査データ及び輝点に関する輝点検査データに基づいて、表面欠点の位置と輝点の位置とが同一である場合に、当該同一位置の表面欠点及び輝点を欠点でないとして処理するステップを実行させるためのプログラムである。
本発明は、偏光板を含むシート状製品について説明したが、本発明は、これに制限されず、偏光板と位相差板の積層体、位相差板、偏光子(PVA)のみについても適用できる。輝点検出と反射光像による欠点検出を組み合わせた検査システムの検査データ処理に適用できる。
2 データ取得部
3 第1画像処理部
4 第2画像処理部
5 第3画像処理部
6 欠点情報作成部
Claims (6)
- 光学表示装置の部材である偏光板を含む光学フィルムを少なくとも有するシート状製品を搬送しながら欠点を検査することで得られる検査データを処理する検査データ処理装置であって、
光学フィルムまたは光学フィルムを含む積層体を検査対象とした場合に、当該検査対象の表面の反射光像から得られる表面欠点に関する表面欠点検査データ及び、当該検査対象の偏光軸に対しクロスニコルになるように配置した検査用偏光フィルタを介在させて当該検査対象の透過光像から得られる輝点に関する輝点検査データに基づいて、表面欠点の位置と輝点の位置とが同一である場合に、当該同一位置の表面欠点及び輝点を欠点でないとして欠点情報を作成する欠点情報作成部を備える検査データ処理装置。 - 前記欠点情報作成部は、同一位置であって、さらに欠点と輝点のサイズ及び/又はその形状が同一又は略同一である場合に当該同一位置の表面欠点及び輝点を欠点でないとして欠点情報を作成する請求項1に記載の検査データ処理装置。
- 前記欠点情報作成部は、前記検査対象の偏光軸に対し0°より大きく10°以下になるように配置した検査用偏光フィルタを介在させて当該検査対象の透過光像を画像解析して得られる検査対象内部のクニックの位置と前記輝点の位置とが同一位置にある場合に、いずれか1種の欠点として欠点情報を作成する請求項1または2に記載の検査データ処理装置。
- 光学表示装置の部材である偏光板を含む光学フィルムを少なくとも有するシート状製品を搬送しながら欠点を検査することで得られる検査データを処理する検査データ処理方法であって、
光学フィルムまたは光学フィルムを含む積層体を検査対象とした場合に、当該検査対象の表面の反射光像から得られる表面欠点に関する表面欠点検査データ及び、当該検査対象の偏光軸に対しクロスニコルになるように配置した検査用偏光フィルタを介在させて当該検査対象の透過光像から得られる輝点に関する輝点検査データに基づいて、表面欠点の位置と輝点の位置とが同一である場合に、当該同一位置の表面欠点及び輝点を欠点でないとして欠点情報を作成することを特徴とする検査データ処理方法。 - 同一位置であって、さらに欠点と輝点のサイズ及び/又はその形状が同一又は略同一である場合に当該同一位置の表面欠点及び輝点を欠点でないとして欠点情報を作成する請求項4に記載の検査データ処理方法。
- 前記検査対象の偏光軸に対し0°より大きく10°以下になるように配置した検査用偏光フィルタを介在させて当該検査対象の透過光像を画像解析して得られる検査対象内部のクニックの位置と前記輝点の位置とが同一位置にある場合に、いずれか1種の欠点として欠点情報を作成する請求項4または5に記載の検査データ処理方法。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2007183470A JP4960161B2 (ja) | 2006-10-11 | 2007-07-12 | 検査データ処理装置及び検査データ処理方法 |
| TW096136660A TWI422815B (zh) | 2006-10-11 | 2007-09-29 | 檢查資料處理裝置及檢查資料處理方法 |
| EP07117705A EP1914539B1 (en) | 2006-10-11 | 2007-10-02 | Test data processing apparatus and test data processing method |
| US11/870,110 US8149376B2 (en) | 2006-10-11 | 2007-10-10 | Test data processing apparatus and test data processing method |
| KR1020070101902A KR101369534B1 (ko) | 2006-10-11 | 2007-10-10 | 검사 데이터 처리 장치 및 검사 데이터 처리 방법 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006277922 | 2006-10-11 | ||
| JP2006277922 | 2006-10-11 | ||
| JP2007183470A JP4960161B2 (ja) | 2006-10-11 | 2007-07-12 | 検査データ処理装置及び検査データ処理方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2008116438A JP2008116438A (ja) | 2008-05-22 |
| JP4960161B2 true JP4960161B2 (ja) | 2012-06-27 |
Family
ID=38860069
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2007183470A Expired - Fee Related JP4960161B2 (ja) | 2006-10-11 | 2007-07-12 | 検査データ処理装置及び検査データ処理方法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US8149376B2 (ja) |
| EP (1) | EP1914539B1 (ja) |
| JP (1) | JP4960161B2 (ja) |
| KR (1) | KR101369534B1 (ja) |
| TW (1) | TWI422815B (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20230058613A (ko) | 2020-08-31 | 2023-05-03 | 닛토덴코 가부시키가이샤 | 광학 적층체의 검사 방법 |
Families Citing this family (24)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20080003339A1 (en) * | 2006-06-30 | 2008-01-03 | Clinton Johnson | Seasoning and method for seasoning a food product utilizing small particle sea salt |
| US7923047B2 (en) * | 2006-06-30 | 2011-04-12 | Conagra Foods Rdm, Inc. | Seasoning and method for seasoning a food product while reducing dietary sodium intake |
| JP5248052B2 (ja) * | 2006-10-11 | 2013-07-31 | 日東電工株式会社 | 光学フィルムを有するシート状製品の欠点検査装置、その検査データ処理装置、その切断装置及びその製造システム |
| JP2009294645A (ja) * | 2008-05-07 | 2009-12-17 | Nitto Denko Corp | 光学表示装置製造システムに適用される製造管理システム及び製造管理方法 |
| SG158787A1 (en) * | 2008-07-28 | 2010-02-26 | Chan Sok Leng | Apparatus for detecting micro-cracks in wafers and method therefor |
| SG158782A1 (en) * | 2008-07-28 | 2010-02-26 | Chan Sok Leng | Method and system for detecting micro-cracks in wafers |
| JP4669070B2 (ja) * | 2009-05-21 | 2011-04-13 | 日東電工株式会社 | 光学表示装置の製造システム及び製造方法 |
| JP4503693B1 (ja) * | 2009-10-13 | 2010-07-14 | 日東電工株式会社 | 連続ウェブ形態の切込線入り光学フィルム積層体の連続ロール並びにその製造方法及び製造装置 |
| KR101294218B1 (ko) * | 2010-05-10 | 2013-08-07 | 동우 화인켐 주식회사 | 편광 필름 원반의 품질 판정 시스템 및 방법 |
| JP2014071067A (ja) * | 2012-10-01 | 2014-04-21 | Dac Engineering Co Ltd | 巻き替え検品方法、巻き替え検品装置及び巻き替え検品システム |
| JP5825278B2 (ja) * | 2013-02-21 | 2015-12-02 | オムロン株式会社 | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 |
| KR101349662B1 (ko) * | 2013-05-16 | 2014-01-13 | 동우 화인켐 주식회사 | 광학 필름의 결함 판별 방법 |
| JP6182806B2 (ja) * | 2013-06-04 | 2017-08-23 | 住友化学株式会社 | 欠陥検査システム及びフィルムの製造装置 |
| JP6410413B2 (ja) * | 2013-08-02 | 2018-10-24 | 住友化学株式会社 | 欠陥検査システム及びフィルム製造装置 |
| JP6255186B2 (ja) * | 2013-08-07 | 2017-12-27 | 日東電工株式会社 | 光学部材の検査方法、光学製品の製造方法、及び、光学部材の検査装置 |
| JP2015225041A (ja) * | 2014-05-29 | 2015-12-14 | 住友化学株式会社 | 積層偏光フィルムの欠陥検査方法 |
| JP6350909B2 (ja) * | 2014-06-30 | 2018-07-04 | エリーパワー株式会社 | 電極積層体のセパレータの位置ずれ検出方法およびその装置 |
| JP6641093B2 (ja) * | 2015-03-20 | 2020-02-05 | 住友化学株式会社 | 光学フィルム及び積層光学フィルムの欠陥検査方法 |
| JP7229657B2 (ja) * | 2017-08-22 | 2023-02-28 | 王子ホールディングス株式会社 | 積層シートの欠陥検査装置及びシート製品の製造方法 |
| KR102808609B1 (ko) | 2019-02-06 | 2025-05-15 | 코닝 인코포레이티드 | 점성 리본을 처리하는 방법 |
| WO2021117274A1 (ja) * | 2019-12-10 | 2021-06-17 | 日東電工株式会社 | 機能フィルムの検査方法、検査システム及び原反ロール |
| WO2021117273A1 (ja) * | 2019-12-10 | 2021-06-17 | 日東電工株式会社 | 長尺光学積層体の検査方法及び検査システム |
| CN115950896A (zh) * | 2022-12-19 | 2023-04-11 | 广东华中科技大学工业技术研究院 | 透明构件的两级协同机器视觉检测方法 |
| TWI853522B (zh) * | 2023-04-07 | 2024-08-21 | 住華科技股份有限公司 | 光學膜缺陷檢測系統及應用其之光學膜缺陷檢測方法 |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11326224A (ja) * | 1998-03-15 | 1999-11-26 | Omron Corp | 検査方法及び検査装置 |
| JP4158227B2 (ja) * | 1998-04-27 | 2008-10-01 | 旭硝子株式会社 | 微小凹凸の検査方法および検査装置 |
| KR100420201B1 (ko) * | 1999-11-12 | 2004-02-26 | 가네가후치 가가쿠 고교 가부시키가이샤 | 투명필름 |
| JP2001343529A (ja) * | 2000-03-30 | 2001-12-14 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 偏光子保護フィルムおよびその製造方法 |
| JP2004170495A (ja) * | 2002-11-18 | 2004-06-17 | Micronics Japan Co Ltd | 表示用基板の検査方法及び装置 |
| JP2004198163A (ja) * | 2002-12-17 | 2004-07-15 | Sumitomo Chem Co Ltd | 保護フィルム粘着偏光板の欠陥検査方法 |
| JP2005062165A (ja) * | 2003-07-28 | 2005-03-10 | Nitto Denko Corp | シート状製品の検査方法、検査システム、シート状製品、及び、画像表示装置 |
| JP4396160B2 (ja) * | 2003-07-31 | 2010-01-13 | 住友化学株式会社 | 透明性フィルムの異物検査方法 |
| JP2005181070A (ja) * | 2003-12-18 | 2005-07-07 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 透明板状体の欠点検出方法及び欠点検出装置 |
| KR100955486B1 (ko) * | 2004-01-30 | 2010-04-30 | 삼성전자주식회사 | 디스플레이 패널의 검사장치 및 검사방법 |
| EP1794577A4 (en) * | 2004-09-17 | 2010-10-06 | Wdi Wise Device Inc | OPTICAL INSPECTION OF FLAT MEDIA USING DIRECT PICTURE TECHNOLOGY |
| JP4842034B2 (ja) * | 2006-07-12 | 2011-12-21 | 株式会社日本マイクロニクス | 液晶パネルの検査方法および画像処理装置 |
-
2007
- 2007-07-12 JP JP2007183470A patent/JP4960161B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2007-09-29 TW TW096136660A patent/TWI422815B/zh not_active IP Right Cessation
- 2007-10-02 EP EP07117705A patent/EP1914539B1/en not_active Not-in-force
- 2007-10-10 KR KR1020070101902A patent/KR101369534B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 2007-10-10 US US11/870,110 patent/US8149376B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20230058613A (ko) | 2020-08-31 | 2023-05-03 | 닛토덴코 가부시키가이샤 | 광학 적층체의 검사 방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP1914539A3 (en) | 2010-01-20 |
| US8149376B2 (en) | 2012-04-03 |
| TW200834063A (en) | 2008-08-16 |
| KR20080033862A (ko) | 2008-04-17 |
| KR101369534B1 (ko) | 2014-03-04 |
| EP1914539A2 (en) | 2008-04-23 |
| JP2008116438A (ja) | 2008-05-22 |
| EP1914539B1 (en) | 2012-12-12 |
| US20080088790A1 (en) | 2008-04-17 |
| TWI422815B (zh) | 2014-01-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4960161B2 (ja) | 検査データ処理装置及び検査データ処理方法 | |
| JP5248052B2 (ja) | 光学フィルムを有するシート状製品の欠点検査装置、その検査データ処理装置、その切断装置及びその製造システム | |
| JP5051874B2 (ja) | 積層フィルムの製造方法、積層フィルムの欠陥検出方法、積層フィルムの欠陥検出装置 | |
| JP4869053B2 (ja) | 積層フィルムの製造方法、積層フィルムの欠陥検出方法、積層フィルムの欠陥検出装置、積層フィルム、及び画像表示装置 | |
| JP5529094B2 (ja) | 光学フィルムを有するシート状製品の検査データ処理装置および切断装置 | |
| JP5366339B2 (ja) | 光学表示ユニットの製造方法およびそれに用いられるロール原反 | |
| JP4775948B2 (ja) | 光学表示装置の製造システム及びその製造方法 | |
| JP2005062165A (ja) | シート状製品の検査方法、検査システム、シート状製品、及び、画像表示装置 | |
| JP2008197159A (ja) | 光学フィルム体および光学フィルム体の製造方法 | |
| KR20050034539A (ko) | 시트형상 제품의 검사 방법, 시트형상 제품의 검사시스템, 시트형상 제품, 및 시트체 및 화상 표시 장치 | |
| KR20050013491A (ko) | 시트형상 제품의 검사 방법 및 검사 시스템 | |
| JP2008256852A (ja) | 光学フィルム体および光学フィルム体の製造方法 | |
| JP2008292201A (ja) | 積層フィルムの検査方法及び積層フィルムの検査装置 | |
| JP2009115759A (ja) | 欠点検査方法およびそれを用いた光学フィルムの製造方法 | |
| JP4522614B2 (ja) | 積層光学フィルムとその製造方法及びこれを用いた液晶表示装置 | |
| US20100110432A1 (en) | Method and system for evaluating optical properties of compensation layer |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20091116 |
|
| RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20091228 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110817 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110823 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111011 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120316 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120322 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150330 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4960161 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |