WO2021024883A1 - 基板及び金属積層板 - Google Patents
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Definitions
- the present invention relates to a substrate and a metal laminate.
- the insulating layer (board) that constitutes the printed wiring board used in electronic devices has electrical characteristics such as low dielectric constant and low dielectric loss tangent, low coefficient of thermal expansion, and heat resistance. Gender etc. are required.
- the insulating layer has a low coefficient of thermal expansion.
- an insulating layer having a low coefficient of thermal expansion an insulating layer containing an inorganic filler and a resin has been proposed (Patent Documents 1 and 2).
- inorganic filler In order to reduce the coefficient of thermal expansion of the insulating layer, it is preferable to add a large amount of inorganic filler to the resin.
- the relative permittivity of the inorganic filler is higher than that of the resin, there is a problem that the relative permittivity of the insulating layer increases as the amount of the inorganic filler added increases.
- fluororesin is used as the resin, electrical characteristics such as dielectric loss tangent and relative permittivity are improved, but simply mixing fluororesin and an inorganic filler causes a problem that the mechanical strength of the insulating layer is lowered and transmission loss. There is a growing problem. If the mechanical strength of the insulating layer is low, it cannot be used for a printed wiring board used in an environment with vibration such as an automobile, and its use is limited.
- the present invention provides a substrate having low dielectric loss tangent, relative permittivity, transmission loss and coefficient of thermal expansion, and excellent mechanical strength, and a metal laminate using the same.
- a substrate containing a tetrafluoroethylene polymer and an inorganic filler A substrate having a change rate of dielectric loss tangent at 10 GHz before and after a 72-hour unsaturated pressure cooker test at 120 ° C. and 85% RH on a 127 ⁇ m-thick test piece cut out from the substrate is 30% or less. ..
- the tetrafluoroethylene-based polymer is a polymer having a unit based on tetrafluoroethylene and a unit based on perfluoro (alkyl vinyl ether) or a unit based on hexafluoropropylene.
- the tetrafluoroethylene polymer is a polymer having at least one functional group selected from the group consisting of a carbonyl group-containing group, a hydroxy group, an epoxy group, an amide group, an amino group and an isocyanate group [1]. ] Or the substrate of [2]. [4] The substrate of [3], wherein the polymer having the functional group is a polymer having a monomer unit having the functional group.
- a metal laminated plate having the substrate according to any one of [1] to [8] and a metal layer located in contact with at least one surface of the substrate.
- the substrate of the present invention has low dielectric loss tangent, relative permittivity, transmission loss and coefficient of thermal expansion, and is excellent in mechanical strength.
- the substrate provided with the metal laminate of the present invention has low dielectric loss tangent, relative permittivity, transmission loss and coefficient of thermal expansion, and is excellent in mechanical strength.
- USPCT Unsaturated Pressure Cooker Test
- HAST High Accelerated Pressure Test
- Dissipation factor change rate (%) (dielectric loss tangent of test piece after USPCT-dielectric loss tangent before USPCT) / dielectric loss tangent before USPCT x 100 (1).
- the dielectric loss tangent and the relative permittivity are the values of the dielectric loss tangent and the relative permittivity measured using a cavity resonator and a vector network analyzer according to the method specified in JIS R 1641: 2007 at 25 ° C. and 10 GHz. ..
- the ten-point average roughness (hereinafter, also referred to as "Rzjis”) is a value measured using a surf coder SE600 manufactured by Kosaka Research Institute in accordance with the method specified in Annex JA of JIS B 0601: 2013. ..
- the peel strength is a value measured by the method described in Examples described later.
- the tetrafluoroethylene-based polymer means a polymer having a unit based on tetrafluoroethylene (hereinafter, also referred to as “TFE”).
- TFE tetrafluoroethylene
- the "monomer-based unit” is also referred to as a "monomer unit”.
- unit based on TFE is also referred to as "TFE unit”.
- the dimensional ratios in FIGS. 1 and 2 are different from the actual ones for convenience of explanation.
- the substrate of the present invention (hereinafter, also referred to as “this substrate”) contains a TFE-based polymer and an inorganic filler.
- the relative permittivity of the TFE polymer is preferably 6.0 or less, more preferably 3.5 or less, and particularly preferably 3.0 or less. When the relative permittivity is not more than the upper limit value, this substrate can be suitably used for a printed wiring board or the like where a low dielectric constant is required.
- the relative permittivity of the TFE polymer is preferably 1.5 or more from the viewpoint of the electrical characteristics of the substrate.
- the TFE-based polymer is preferably a polymer that can be melt-molded. "Mold molding is possible” means that it exhibits melt fluidity. “Indicating melt fluidity” means that there is a temperature at which the melt flow rate is 0.1 to 1000 g / 10 minutes at a temperature 20 ° C. or higher higher than the melting point of the TFE polymer under the condition of a load of 49 N. means. “Melting flow rate” means the melt mass flow rate (MFR) defined in JIS K 7210: 1999 (ISO 1133: 1997). The melting point of the TFE polymer is preferably more than 260 ° C., more preferably more than 260 ° C. and 320 ° C.
- the MFR of the TFE polymer is preferably 0.5 to 100 g / 10 minutes, more preferably 1 to 30 g / 10 minutes, and particularly preferably 5 to 20 g / 10 minutes.
- the TFE polymer preferably has a temperature range of 260 ° C. or lower showing a storage elastic modulus of 0.1 to 5.0 MPa.
- the storage elastic modulus exhibited by the TFE polymer in the temperature range is preferably 0.2 to 4.4 MPa, particularly preferably 0.5 to 3.0 MPa.
- the temperature range in which the TFE-based polymer exhibits the storage elastic modulus is preferably 180 to 260 ° C., particularly preferably 200 to 260 ° C. In the temperature range, the TFE-based polymer tends to effectively develop adhesiveness based on its elasticity.
- the TFE-based polymer may be a homopolymer of TFE, or may be a copolymer of TFE and another monomer copolymerizable with TFE (hereinafter, also referred to as a comonomer).
- the TFE-based polymer preferably has 75 to 100 mol% of TFE units and 0 to 25 mol% of comonomer units with respect to all the units constituting the TFE-based polymer.
- TFE polymer examples include polytetrafluoroethylene, a copolymer having TFE units and ethylene units, a copolymer having TFE units and propylene units, and TFE units and perfluoro (alkyl vinyl ether) (hereinafter, also referred to as "PAVE”. ) Copolymers with units, copolymers with TFE units and hexafluoropropylene (hereinafter also referred to as "HFP") units, copolymers with TFE units and fluoroalkylethylene (hereinafter also referred to as "FAE”) units. , Copolymers having TFE units and chlorotrifluoroethylene units.
- HFP hexafluoropropylene
- FEE fluoroalkylethylene
- a preferred embodiment of the TFE-based polymer is a polymer having a TFE unit and a PAVE unit or an HFP unit (hereinafter, both are collectively referred to as "comonomer unit F").
- the polymer of this embodiment preferably has 90 to 99 mol% of TFE units and 0.5 to 10 mol% of comonomer units F with respect to all the units constituting the polymer.
- the polymer of this embodiment may consist only of the TFE unit and the comonomer unit F, and may further have other units.
- the TFE-based polymer As another preferable embodiment of the TFE-based polymer, at least one functional group selected from the group consisting of a carbonyl group-containing group, a hydroxy group, an epoxy group, an amide group, an amino group and an isocyanate group (hereinafter, simply "functional"). Examples thereof include a polymer having a TFE unit (hereinafter, also referred to as “polymer F1”) having a group (also referred to as “group”). If the TFE polymer has a functional group, the rate of change of the dielectric loss tangent, which will be described later, is likely to be 30% or less.
- the TFE polymer has a functional group
- the surface of the metal layer in contact with the substrate is not roughened (for example, Rzjis). (When is 2.0 ⁇ m or less), the adhesiveness between the present substrate and the metal layer tends to be good.
- the functional group may be contained in the monomer unit in the polymer F1 or may be contained in the terminal group of the main chain of the polymer F1.
- Examples of the latter polymer include polymers having a functional group as a terminal group derived from a polymerization initiator, a chain transfer agent, or the like.
- the polymer F1 a polymer having a monomer unit having a functional group and a TFE unit is preferable.
- the polymer F1 in this case preferably has still another unit, and particularly preferably has a comonomer unit F.
- a carbonyl group-containing group is preferable from the viewpoint of adhesion to an inorganic filler or a metal layer.
- the carbonyl group-containing group include carbonate group, carboxy group, haloformyl group, alkoxycarbonyl group, acid anhydride residue (-C (O) OC (O)-), fatty acid residue and the like, and carboxy group and acid.
- An anhydride residue is preferred.
- a monomer unit having a functional group a monomer unit having a carbonyl group-containing group, a monomer unit having a hydroxy group, a monomer unit having an epoxy group and a monomer unit having an isocyanate group are preferable, and a monomer unit having a carbonyl group-containing group is preferable. Especially preferable.
- a cyclic monomer having an acid anhydride residue As the monomer having a carbonyl group-containing group, a cyclic monomer having an acid anhydride residue, a monomer having a carboxy group, a vinyl ester and a (meth) acrylate are preferable, and a cyclic monomer having an acid anhydride residue is particularly preferable.
- a cyclic monomer itaconic anhydride, citraconic anhydride, 5-norbornene-2,3-dicarboxylic acid anhydride (also known as hymic anhydride, hereinafter also referred to as “NAH”) and maleic anhydride are preferable.
- a polymer containing a monomer unit having a functional group, a TFE unit, and a comonomer unit F is preferable.
- Specific examples of such a polymer F1 include the polymer (X) described in International Publication No. 2018/16644.
- the ratio of TFE units in the polymer F1 is preferably 90 to 99 mol% of all the units constituting the polymer F1.
- the ratio of the comonomer unit F in the polymer F1 is preferably 0.5 to 9.97 mol% of all the units constituting the polymer F1.
- the proportion of the monomer unit having a functional group in the polymer F1 is preferably 0.01 to 3 mol% of all the units constituting the polymer F1.
- the inorganic filler preferably has a low relative permittivity, dielectric loss tangent, and thermal expansion coefficient.
- the inorganic filler include silica, alumina, glass, stearite, beryllium oxide, aluminum nitride, clay canlan ceramics, and boron nitride.
- the inorganic filler may be porous or non-porous.
- the shape of the inorganic filler include crushed shape, spherical shape, substantially spherical shape, elliptical spherical shape, needle shape, plate shape, scaly shape, rod shape, dice shape and the like, and the crushed shape is preferable.
- the crushed inorganic filler has many surface irregularities, and strong adhesion to the TFE polymer can be expected due to the anchor effect.
- One type of inorganic filler may be used alone, or two or more types may be used in combination.
- Silica is preferable as the inorganic filler.
- silica include fused silica, fumed silica, non-porous silica, porous silica (mesoporous silica, microporous silica), hollow silica and the like.
- These silicas may be in a dry state, in a sol state or in a slurry state, or may be calcined at a temperature of 600 ° C. or higher to reduce silanol groups. ..
- Silica is preferably in the form of crushed material.
- Silica may be surface-treated with a surface treatment agent such as a silane coupling agent or a titanate coupling agent from the viewpoint of improving the dispersibility in the TFE polymer.
- the inorganic filler may be alkaline washed.
- Alkaline cleaning can remove the water adsorbed on the surface of the inorganic filler, which is effective in reducing the dielectric loss tangent.
- alkali used for alkaline cleaning include NaOH, KOH, and mixed alkalis thereof.
- silica that has been washed with alkali is preferable.
- the average particle size of the inorganic filler is preferably 100 ⁇ m or less, more preferably 60 ⁇ m or less, and particularly preferably 40 ⁇ m or less.
- the inorganic filler is less likely to protrude to the surface of the substrate when the thickness of the substrate is 500 ⁇ m or less, and stable dielectric properties can be easily obtained.
- the average particle size of the inorganic filler is a volume-based cumulative 50% diameter (D50) determined by the laser diffraction / scattering method. That is, the particle size distribution is measured by a laser diffraction / scattering method, the cumulative curve is obtained with the total volume of the particle population as 100%, and the particle diameter is the point at which the cumulative volume is 50% on the cumulative curve.
- D50 volume-based cumulative 50% diameter
- the inorganic filler When the inorganic filler is crushed, it is preferable that the inorganic filler can pass through a sieve having a mesh size of 45 ⁇ m. If the inorganic filler can pass through a sieve having a mesh size of 45 ⁇ m, the inorganic filler does not easily protrude to the surface of the substrate when the thickness of the substrate is 500 ⁇ m or less, and stable dielectric properties can be easily obtained.
- the inorganic filler may have a particle size distribution curve measured by a laser diffraction / scattering method having two or more peaks. For example, when two or more inorganic fillers having different average particle diameters are mixed and used, the particle size distribution curve has two or more peaks. When the amount of the inorganic filler added increases, the inorganic fillers come into contact with each other to form a region surrounded by the inorganic fillers. When the number of peaks is one, the variation in the size of the inorganic filler is relatively small, so that it is difficult for other inorganic fillers to pass through the gaps between the inorganic fillers constituting the region, and other inorganic fillers are contained in the region. It is difficult to fill the filler further.
- the size variation of the inorganic filler is relatively large, so that other inorganic fillers can easily pass through the gaps between the inorganic fillers constituting the region, and other inorganic fillers can easily pass through the region.
- Inorganic filler can be further filled, and the filling rate can be easily improved.
- the substrate may further contain a surfactant.
- the surfactant is used, for example, in order to improve the dispersibility of the resin powder and the miscibility of the inorganic filler when the dispersion liquid of the resin powder containing the TFE polymer and the inorganic filler are mixed in the production of this substrate. Used.
- the surfactant include nonionic surfactants, anionic surfactants, cationic surfactants, amphoteric surfactants and the like, and the optimum compound is appropriately selected.
- a nonionic surfactant is preferable from the viewpoint of low dielectric loss tangent.
- a surfactant having a fluorine-containing group and a hydrophilic group (hereinafter, also referred to as "fluorine-based surfactant”) is preferable.
- fluorine-based surfactant By using a fluorine-based surfactant, the surface tension of the liquid medium is lowered, the wettability of the resin powder to the surface is improved to improve the dispersibility of the resin powder, and the fluorine-containing group is a resin containing a TFE-based polymer. It is adsorbed on the surface of the powder, the hydrophilic groups extend into the liquid medium, and the steric hindrance of the hydrophilic groups prevents aggregation of the resin powder and improves dispersion stability.
- a highly hydrophobic group is preferable, and examples thereof include a fluorinated hydrocarbon group such as a perfluoroalkyl group and a perfluoroalkenyl group (hexafluoropropylene trimmer group, etc.).
- the perfluoroalkyl group and the perfluoroalkenyl group may have a linear structure or a branched structure, respectively.
- the fluorine-containing group preferably has 2 or more carbon atoms, and more preferably 4 to 20 carbon atoms.
- the hydrophilic group is a group that is relatively hydrophilic with respect to the fluorine-containing group, and may be a general hydrophilic group, or even a group that is usually regarded as a hydrophobic group, which contains fluorine. Any group may be used as long as it is relatively hydrophilic with respect to the group.
- a polyoxypropylene group is relatively hydrophobic with respect to a polyoxyethylene group, which is a hydrophilic group, and is usually regarded as a hydrophobic group, but is relatively hydrophobic with respect to a fluorine-containing group. It is a hydrophilic group in the present invention because of its low value (high hydrophilicity).
- hydrophilic group examples include a polyoxyethylene group, a polyoxypropylene group, a polyoxybutylene group, a polyoxytetramethylene group, an amino group, a ketone group, a carboxyl group and a sulfone group.
- a polyoxyalkylene group composed of an oxyalkylene group having 2 to 4 carbon atoms is preferable, and a polyoxyethylene group is particularly preferable.
- the fluorine-based surfactant may also be a copolymer of a monomer having a fluorine-containing group and a monomer having a hydrophilic group.
- a copolymer of a monomer having a fluorine-containing group and a monomer having a polyoxyalkylene group is particularly preferable.
- the weight average molecular weight of the fluorine-based surfactant is preferably 1000 to 150,000, more preferably 3000 to 100,000. 5000 to 30000 is particularly preferable.
- the fluorine-containing group is more likely to be adsorbed on the surface of the resin powder than the liquid medium, and the dispersibility and dispersion stability of the resin powder are likely to be improved.
- the dispersion liquid in which the resin powder is dispersed can be made excellent in mixability and coatability with different kinds of resin materials and their varnishes.
- the weight average molecular weight of a fluorine-based surfactant is measured by gel permeation chromatography (GPC).
- fluorine-based surfactants include Futagent M series containing perfluoroalkyl groups, Futagent F209, Futagent 222F, Futagent 208G, Futagent 218GL, Futagent 710FL, Futagent 710FM, Futagent 710FS, and Footer.
- Gent 730FL Futergent 730LM (manufactured by Neos), Megafuck F-553, Megafuck F-555, Megafuck F-556, Megafuck F-557, Megafuck F-559, Megafuck F-562, Megafuck Examples include the Mega Fvck series (manufactured by DIC) such as F-565, and the Unidyne series (manufactured by Daikin Industries) such as Unidyne DS-403N.
- Futagent 710FL, Futagent 710FM and Futagent 710FS which are surfactants in which the fluorine-containing group has a branched structure and has a three-dimensional bulkiness, are preferable.
- Two or more types of surfactants may be used in combination.
- Some of the two or more kinds of surfactants may be surfactants having no fluorine-containing group.
- the present substrate may further contain components other than the TFE-based polymer, the inorganic filler and the surfactant, as long as the effects of the present invention are not impaired.
- other components include resins other than TFE-based polymers (for example, polyimide), thickeners, and the like.
- the ratio of the volume of the inorganic filler to the total volume of the TFE polymer and the inorganic filler is preferably 40 to 90% by volume, more preferably 45 to 85% by volume, and particularly preferably 50 to 80% by volume.
- the ratio of the inorganic filler is equal to or higher than the lower limit, the coefficient of thermal expansion and the dielectric loss tangent of the substrate can be further lowered.
- the ratio of the inorganic filler is not more than the upper limit value, the relative permittivity of the substrate can be made lower and the mechanical strength can be made higher.
- the volume is a value at 25 ° C.
- the ratio of the total volume of the TFE polymer and the inorganic filler to the total volume of the present substrate is preferably 80% by volume or more, more preferably 90% by volume or more, and particularly preferably 95% by volume or more.
- the ratio of the total volume of the TFE polymer and the inorganic filler is equal to or greater than the lower limit, the dielectric loss tangent, relative permittivity, and coefficient of thermal expansion of the substrate can be made lower and the mechanical strength can be made higher.
- the content of the surfactant is preferably 1 to 30% by mass, more preferably 2 to 10% by mass, based on the total mass of the TFE polymer and the inorganic filler.
- the thickness of the present substrate is preferably 60 to 500 ⁇ m, more preferably 80 to 400 ⁇ m, and even more preferably 100 to 300 ⁇ m.
- the mountability is more excellent.
- the thickness of the substrate is at least the above lower limit value, the rigidity of the substrate is more excellent.
- This substrate has a change rate of 30% or less in dielectric loss tangent before and after USPCT at 120 ° C. and 85% RH for 72 hours on a test piece having a thickness of 127 ⁇ m cut out from the main substrate.
- the rate of change is preferably 25% or less, more preferably 20% or less.
- the rate of change in dielectric loss tangent is considered to indicate the amount of voids at the interface between the TFE polymer and the inorganic filler in the present substrate.
- This substrate can be produced, for example, by preparing a paste composition containing a TFE polymer, an inorganic filler, and a liquid medium, applying the paste composition onto an adherend, drying, and firing. As a result, the present substrate is formed on the adherend. If necessary, the substrate is peeled off from the adherend.
- a material metal foil or the like capable of forming a metal layer may be used as an adherend and used for the metal laminate without peeling the substrate.
- liquid medium examples include an inorganic solvent such as water and an organic solvent.
- organic solvent examples include the organic solvent described in International Publication No. 2018/16644.
- the liquid medium may be a mixture of two or more compatible liquid media. For example, it may be a mixture of a water-soluble organic solvent and water, or a mixture of two or more kinds of organic solvents.
- a medium capable of dissolving a TFE polymer is preferable.
- the content of the liquid medium is preferably 30 to 95 parts by mass, more preferably 40 to 90 parts by mass, and 50 to 85 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the total of the TFE polymer and the inorganic filler. Especially preferable.
- the content of the liquid medium is at least the above lower limit value, the surface smoothness of the formed substrate is more excellent.
- the content of the liquid medium is not more than the above upper limit value, the thick film coatability is more excellent.
- the paste composition can be prepared by mixing a TFE-based polymer, an inorganic filler, and a liquid medium. Surfactants and other ingredients may be mixed with these materials, if desired. More specifically, as a method for preparing the paste composition, a method of adding an inorganic filler to a solution of a TFE polymer or a dispersion of a resin powder containing a TFE polymer and mixing the mixture, a solution of the TFE polymer or a TFE polymer is used. Examples thereof include a method of mixing a dispersion of a resin powder containing the resin powder and a dispersion of an inorganic filler (let-down method). Each material can be mixed using, for example, a mixing device such as a rotary shear type stirrer, a colloid mill, a roll mill, an ultrasonic disperser, a container drive type mill, and a medium stirrer mill.
- a mixing device such as a rotary shear type stirrer, a colloid mill
- the mixing conditions when preparing the paste composition are set so that the rate of change of the dielectric loss tangent described above is 30% or less.
- the rate of change of the dielectric loss tangent can be adjusted, for example, by the strength of shear when mixing each material. By applying stronger shear and mixing, the rate of change of dielectric loss tangent can be made smaller. It is considered that this is because it is difficult for voids to be formed at the interface between the TFE polymer and the inorganic filler by applying stronger shear.
- the method of applying the paste composition is not particularly limited.
- coating can be performed using a coating device such as a spinner, screen printing, a blade coater, or a die coater.
- the method of drying the applied paste composition is also not particularly limited.
- a method of heating using a heating device such as a hot plate or an oven can be mentioned. The heating conditions need only be able to remove the liquid medium, and can be appropriately set according to the type of the liquid medium.
- the tensile strength of this substrate is preferably 7.0 MPa or more, more preferably 8.0 MPa or more, and even more preferably 10.0 MPa or more.
- the tensile elastic modulus is preferably 1.0 GPa or more, more preferably 1.5 GPa or more, and even more preferably 2.0 GPa or more.
- the substrate described above contains a TFE polymer and an inorganic filler, and the rate of change of the dielectric loss tangent under specific conditions is 30% or less. Therefore, the dielectric loss tangent, the relative permittivity, and the coefficient of thermal expansion are low, and the machine Excellent in target strength.
- the TFE-based polymer has a functional group, it is easy to obtain better mechanical strength. It also has excellent adhesion between the substrate and the metal layer.
- the metal laminate of the present invention has a present substrate and a metal layer located in contact with at least one surface of the present substrate.
- the metal laminate may have one or more substrates. When having a plurality of the main boards, each board may be the same or different.
- the metal laminate may have one or more metal layers. When having a plurality of metal layers, each metal layer may be the same or different.
- the metal laminated board may further have a substrate other than the main substrate (for example, FR4 substrate, LCP (liquid crystal polymer) substrate, PPE (polyphenylene ether) substrate) and the like.
- FR4 is an abbreviation of "Flame Retardant Type 4", and indicates a glass fiber cloth impregnated with epoxy resin and thermosetting to form a plate.
- FIG. 1 shows an example of the metal laminated plate of the present invention.
- the metal laminate 1 in this example is a single-sided metal laminate having a substrate 3 and a metal layer 5 located in contact with one surface 3a of the substrate 3.
- the substrate 3 is the present substrate.
- FIG. 2 shows another example of the metal laminate of the present invention.
- the metal laminate 1 of this example is a double-sided metal laminate having a substrate 3 and a metal layer 5 located in contact with each of one surface 3a and the other surface 3b of the substrate 3.
- Examples of the metal constituting the metal layer include copper, copper alloy, stainless steel, nickel, nickel alloy (including 42 alloy), aluminum, aluminum alloy, titanium, titanium alloy and the like. Copper is preferable because of its conductivity and chemical resistance.
- a layer made of a metal foil is preferable, and a layer made of a copper foil is particularly preferable.
- Examples of the copper foil include rolled copper foil and electrolytic copper foil.
- a rust preventive layer (oxide film such as chromate), a heat resistant layer, or the like may be formed on the surface of the metal foil.
- the thickness of the metal layer is preferably 1 to 40 ⁇ m, more preferably 10 to 30 ⁇ m.
- the surface of the metal layer may be treated with a silane coupling agent. In this case, the entire surface of the metal layer may be treated with a silane coupling agent, or a part of the surface of the metal layer may be treated with a silane coupling agent.
- the Rzjis of the surface of the metal layer in contact with the main substrate is preferably 5.0 ⁇ m or less, more preferably 3.0 ⁇ m or less, further preferably 2.0 ⁇ m or less, and particularly preferably 1.0 ⁇ m or less.
- Rzjis is not more than the upper limit value, it is easy to obtain a printed wiring board having excellent transmission characteristics.
- the peel strength at the interface between the substrate and the metal layer is preferably 5 N / cm or more, more preferably 8 N / cm or more. When the peel strength is at least the above lower limit value, the reliability is more excellent. The larger the peel strength, the more preferable, and the upper limit of the peel strength is not particularly limited.
- the metal laminate of the present invention is, for example, (1) a method of laminating a material capable of forming a metal layer on at least one surface of the present substrate and thermocompression bonding, and (2) on a material capable of forming a metal layer.
- the temperature at the time of thermocompression bonding is preferably equal to or higher than the melting point of the TFE polymer, preferably 10 ° C or higher than the melting point, and more preferably 20 ° C or higher than the melting point. It is preferable, and a temperature higher than the melting point by 40 ° C. or more is particularly preferable.
- the temperature during thermocompression bonding preferably does not exceed a temperature 100 ° C. higher than the melting point.
- the pressure at the time of thermocompression bonding is preferably 0.2 MPa or more, more preferably 0.5 MPa or more, and even more preferably 1.0 MPa or more.
- the pressure during thermocompression bonding is preferably 10.0 MPa or less. If the pressure at the time of thermocompression bonding is within the above range, the substrate and the metal layer can be sufficiently adhered without damaging the substrate.
- Thermocompression bonding is preferably performed in a vacuum atmosphere.
- the degree of vacuum at the time of thermocompression bonding is preferably 100 kPa or less, more preferably 50 kPa or less, and even more preferably 20 kPa or less.
- the degree of vacuum is not more than the upper limit value, it is possible to suppress the mixing of air bubbles at the interfaces of the substrate and the metal layer constituting the metal laminate, and at the same time, it is possible to suppress the deterioration of the metal layer due to oxidation. Further, it is preferable to raise the temperature after reaching the degree of vacuum. If the temperature rises before reaching the degree of vacuum, it causes bubbles.
- thermocompression bonding it is preferable to pressurize the substrate after the temperature of the substrate reaches the melting point. If thermocompression bonding is performed before reaching the melting point, voids are generated between the substrate and the metal layer, and uneven adhesion strength is generated.
- the paste composition in order to form the present substrate on a material capable of forming a metal layer, for example, as described above, a paste composition containing a TFE polymer, an inorganic filler and a liquid medium. Is prepared, the paste composition may be applied onto a material (adhesive body) capable of forming a metal layer, and dried.
- Example 1 is an example
- Example 2 is a comparative example
- the TFE polymer was press-molded to obtain a film having a thickness of 200 ⁇ m.
- the film was analyzed by infrared spectroscopy to obtain an infrared absorption spectrum.
- the absorption peak of NAH units in the TFE polymer appears at 1778 cm -1 .
- the absorbance of this absorption peak was measured, and the molar extinction coefficient of NAH 20810 mol -1 ⁇ L ⁇ cm -1 was used to determine the proportion of NAH units in the TFE polymer.
- melting point Using a differential scanning calorimeter (DSC-7020 manufactured by Seiko Instruments Inc.), record the melting peak when the temperature of the TFE polymer is raised at a rate of 10 ° C / min, and set the temperature (° C) corresponding to the maximum value. It was defined as the melting point.
- MFR melt indexer
- Relative permittivity and dielectric loss tangent Relative permittivity and dielectric loss tangent were measured on a substrate (thickness 127 ⁇ m) at 25 ° C. and 10 GHz using a cavity resonator and a vector network analyzer according to the method specified in JIS R 1641: 2007.
- the substrate was obtained by removing the copper foil of the composite CCL described later with ferric chloride (the same applies hereinafter).
- peel strength A rectangular test piece having a length of 100 mm and a width of 10 mm was cut out from the composite CCL described later.
- the copper foil was peeled from the substrate from one end in the length direction of the test piece to a position of 10 mm.
- One end of the peeled copper foil was peeled by 90 ° at a tensile speed of 50 mm / min using a tensile tester (Autograph AGS-X manufactured by Shimadzu Corporation), and the maximum load was set to the peel strength (N / cm).
- a grounded coplanar line (G-CPW) having a line length of 12.5 mm was prepared on a composite CCL described later, and the transmission loss at 80 GHz was measured.
- the impedance is 50 ⁇ .
- Polymer X which is a TFE-based polymer, was produced according to the above procedure.
- the melting point of the polymer X was 300 ° C.
- the MFR was 17.6 g / 10 minutes
- the relative permittivity (10 GHz) was 2.0
- the storage elastic modulus at 260 ° C. was 1.1 MPa.
- the obtained polymer X was granular, and its average particle size was 1554 ⁇ m.
- polymer X was pulverized under the conditions of a pulverization pressure of 0.5 MPa and a processing speed of 1 kg / hr to obtain a resin powder P-1. It was.
- the D50 of the resin powder P-1 was 2.58 ⁇ m, and the D90 was 7.1 ⁇ m.
- Example 1 Silica (manufactured by Tatsumori, crushed silica E-1, average particle size 11 ⁇ m) was fractionated using a sieve shaker ANALYSETTE3 manufactured by Fritsch, and silica that had passed through a sieve having an opening of 45 ⁇ m was recovered. The average particle size of the recovered silica was 10 ⁇ m. 100 g of resin powder P-1, 6 g of nonionic fluorine-based surfactant (Futergent 710FL manufactured by Neos Co., Ltd.), 137 g of cyclohexanone, and 151 g of silica recovered above were put into a pot, and low value manufactured by Resodyne Co., Ltd. A slurry was obtained by vibrating and mixing for 20 minutes while applying an acceleration of about 80 G with a frequency resonance acoustic mixer (LabMASII).
- LabMASII frequency resonance acoustic mixer
- the slurry was applied to a thickness of 200 ⁇ m on the surface of a copper foil (TQ-M4-VSP manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.) having a thickness of 18 ⁇ m by a doctor blade method, dried at room temperature in an air environment for 12 hours, and then dried.
- a substrate was formed by heating and drying at 350 ° C. for 20 minutes in a nitrogen atmosphere. As a result, a single-sided copper-clad laminate in which the copper foil on one surface of the substrate was laminated was obtained.
- the Rzjis of the surface of the copper foil coated with the slurry was 0.6 ⁇ m.
- composite CCL The same copper foil as above is laminated on the surface of the single-sided copper-clad laminate on the substrate side, and pressed with a vacuum hot press device at a temperature of 330 ° C. while applying a pressure of 8 MPa for 60 minutes to obtain a double-sided copper-clad laminate.
- this double-sided copper-clad laminate is referred to as "composite CCL”.
- composite CCL substrate the ratio of the volume of silica to the total volume of polymer X and silica is 60% by volume, and the ratio of the total volume of polymer X and silica to the total volume of the substrate is 100% by volume. Yes, the thickness of the substrate was 127 ⁇ m.
- Example 2 A commercially available composite CCL (RO3003 manufactured by Rogers) was used as the composite CCL of Example 2.
- the substrate of this composite CCL contains polytetrafluoroethylene (PTFE) and silica, and the ratio of the volume of silica to the total volume of PTFE and silica is 50% by volume, and the total volume of PTFE and silica to the total volume of the substrate. The ratio was 95% by volume, and the thickness of the substrate was 127 ⁇ m.
- the Rzjis on the surface of the copper foil in contact with the substrate was 7.0 ⁇ m.
- Table 1 shows the relative permittivity, dielectric loss tangent, CTE, transmission loss, mechanical strength, copper foil peeling strength (all before USPCT), and the rate of change of dielectric loss tangent before and after USPCT for 72 hours.
- the relative permittivity, the dielectric tangent and the rate of change of the dielectric tangent before and after the USPCT for 72 hours are values at 10 GHz.
- FIG. 3 shows the relationship between the elapsed time after charging the pressure cooker (USPCT charging time) and the rate of change of the dielectric loss tangent (USPCT charging time dependence of the rate of change of the dielectric loss tangent) in Examples 1 and 2.
- Test piece with a width of 20 mm, a length of 200 mm, and a thickness of 125 ⁇ m cut out from the substrate is clamped at a position 25 mm from the end, and a tensile tester (Autograph AGX manufactured by Shimadzu Seisakusho Co., Ltd.) is used to pull the test piece at room temperature at a tensile speed of 1 mm / min.
- a load was applied to the test piece, and the load and the elongation (strain) of the test piece were measured to obtain a stress-strain curve.
- the tensile strength is a value obtained by dividing the breaking strength or the yield strength in the stress-strain curve by the cross-sectional area of the test piece.
- the tensile elastic modulus is the slope of a region (elastic deformation region) in which the tensile strength increases linearly in proportion to the strain on the stress-strain curve.
- Table 2 shows the tensile breaking strength and the tensile elastic modulus.
- the substrate of Example 1 was excellent in mechanical strength. Moreover, since a low-roughness copper foil can be used, the transmission loss is small.
- the present invention it is possible to provide a substrate and a metal laminate having low relative permittivity, dielectric loss tangent, transmission loss and coefficient of thermal expansion, and also having high mechanical strength. Since the mechanical strength is high, by using the substrate and the metal laminate of the present invention, it is possible to form a highly reliable printed wiring board even in an environment with vibration such as an automobile.
- the entire contents of the specification, claims, abstract and drawings of Japanese Patent Application No. 2019-144495 filed on August 06, 2019 are cited here as the disclosure of the specification of the present invention. It is something to incorporate.
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Abstract
誘電正接、比誘電率、伝送損失及び熱膨張率が低く、機械的強度に優れた基板及びこれを用いた金属積層基板の提供。 テトラフルオロエチレン系ポリマーと無機フィラーとを含む基板であり、前記基板から切り出された厚さ127μmの試験片に対して120℃、85%RHで72時間の不飽和プレッシャークッカー試験を行った前後の10GHzにおける誘電正接の変化率が30%以下である、基板。
Description
本発明は、基板及び金属積層板に関する。
電子機器に対する小型化、高機能化が求められる中、電子機器に用いられるプリント配線板を構成する絶縁層(基板)には、低誘電率、低誘電正接等の電気特性、低熱膨張率、耐熱性等が要求される。特に、プリント配線板に電子部品を安定して実装するためには、実装時の熱によるプリント配線板の反りの抑制が重要になる。プリント配線板の反りを抑制するためには、絶縁層が低熱膨張率であることが重要になる。
低熱膨張率の絶縁層として、無機フィラーと樹脂とを含む絶縁層が提案されている(特許文献1~2)。
低熱膨張率の絶縁層として、無機フィラーと樹脂とを含む絶縁層が提案されている(特許文献1~2)。
絶縁層の熱膨張率を下げるためには、樹脂に無機フィラーを大量に添加することが好ましい。しかし、無機フィラーの比誘電率は樹脂に比べて高いので、無機フィラーの添加量が増えると、絶縁層の比誘電率が高くなる問題がある。
樹脂としてフッ素樹脂を用いれば、誘電正接、比誘電率等の電気特性は向上するが、単にフッ素樹脂と無機フィラーとを混合しただけでは、絶縁層の機械的強度が低くなる問題や伝送損失が大きくなる問題がある。絶縁層の機械的強度が低いと、自動車等、振動の有る環境で使用されるプリント配線板には使用できず、用途が制限される。
樹脂としてフッ素樹脂を用いれば、誘電正接、比誘電率等の電気特性は向上するが、単にフッ素樹脂と無機フィラーとを混合しただけでは、絶縁層の機械的強度が低くなる問題や伝送損失が大きくなる問題がある。絶縁層の機械的強度が低いと、自動車等、振動の有る環境で使用されるプリント配線板には使用できず、用途が制限される。
本発明は、誘電正接、比誘電率、伝送損失及び熱膨張率が低く、機械的強度に優れた基板及びこれを用いた金属積層板を提供する。
本発明は、下記の態様を有する。
[1]テトラフルオロエチレン系ポリマーと無機フィラーとを含む基板であり、
前記基板から切り出された厚さ127μmの試験片に対して120℃、85%RHで72時間の不飽和プレッシャークッカー試験を行った前後の10GHzにおける誘電正接の変化率が30%以下である、基板。
[2]前記テトラフルオロエチレン系ポリマーが、テトラフルオロエチレンに基づく単位と、ペルフルオロ(アルキルビニルエーテル)に基づく単位又はヘキサフルオロプロピレンに基づく単位とを有するポリマーである、[1]の基板。
[3]前記テトラフルオロエチレン系ポリマーが、カルボニル基含有基、ヒドロキシ基、エポキシ基、アミド基、アミノ基及びイソシアネート基からなる群から選ばれる少なくとも1種の官能基を有するポリマーである、[1]又は[2]の基板。
[4]前記官能基を有するポリマーが、前記官能基を有するモノマー単位を有するポリマーである、[3]の基板。
[1]テトラフルオロエチレン系ポリマーと無機フィラーとを含む基板であり、
前記基板から切り出された厚さ127μmの試験片に対して120℃、85%RHで72時間の不飽和プレッシャークッカー試験を行った前後の10GHzにおける誘電正接の変化率が30%以下である、基板。
[2]前記テトラフルオロエチレン系ポリマーが、テトラフルオロエチレンに基づく単位と、ペルフルオロ(アルキルビニルエーテル)に基づく単位又はヘキサフルオロプロピレンに基づく単位とを有するポリマーである、[1]の基板。
[3]前記テトラフルオロエチレン系ポリマーが、カルボニル基含有基、ヒドロキシ基、エポキシ基、アミド基、アミノ基及びイソシアネート基からなる群から選ばれる少なくとも1種の官能基を有するポリマーである、[1]又は[2]の基板。
[4]前記官能基を有するポリマーが、前記官能基を有するモノマー単位を有するポリマーである、[3]の基板。
[5]前記無機フィラーがシリカである、[1]~[4]のいずれかの基板。
[6]前記基板の厚さが60~500μmである、[1]~[5]のいずれかの基板。
[7]前記基板が界面活性剤をさらに含む、[1]~[6]のいずれかの基板。
[8]前記界面活性剤がフッ素系界面活性剤である、[7]の基板。
[6]前記基板の厚さが60~500μmである、[1]~[5]のいずれかの基板。
[7]前記基板が界面活性剤をさらに含む、[1]~[6]のいずれかの基板。
[8]前記界面活性剤がフッ素系界面活性剤である、[7]の基板。
[9]前記[1]~[8]のいずれかの基板と、前記基板の少なくとも一方の表面に接して位置する金属層とを有する、金属積層板。
[10]前記金属層が銅箔からなる層である、[9]の金属積層板。
[11]前記金属層の前記基板と接する面の十点平均粗さが、2.0μm以下である、[9]又は[10]の金属積層板。
[12]前記基板と前記金属層との界面の剥離強度が5N/cm以上である、[9]~[11]のいずれかの金属積層板。
[10]前記金属層が銅箔からなる層である、[9]の金属積層板。
[11]前記金属層の前記基板と接する面の十点平均粗さが、2.0μm以下である、[9]又は[10]の金属積層板。
[12]前記基板と前記金属層との界面の剥離強度が5N/cm以上である、[9]~[11]のいずれかの金属積層板。
本発明の基板は、誘電正接、比誘電率、伝送損失及び熱膨張率が低く、機械的強度に優れる。
本発明の金属積層板を備える基板は、誘電正接、比誘電率、伝送損失及び熱膨張率が低く、機械的強度に優れる。
本発明の金属積層板を備える基板は、誘電正接、比誘電率、伝送損失及び熱膨張率が低く、機械的強度に優れる。
下記の用語の定義は、以下の通りである。
不飽和プレッシャークッカー試験(Unsaturated Pressure Cooker Test)(以下、「USPCT」とも記す。)は、85%RHでのプレッシャークッカー試験であり、HAST(High Accelerated Stress Test)とも称される。USPCTは、IEC 60068-2-66:1994(対応JIS規格:JIS C 0096:2001)に規定されている方法に従い行われる。
厚さ127μmの試験片に対して120℃、85%RHで72時間のUSPCTを行った前後の10GHzにおける誘電正接の変化率は、下式(1)により算出される。
誘電正接の変化率(%)=(USPCT後の試験片の誘電正接-USPCT前の誘電正接)/USPCT前の誘電正接×100 (1)。
誘電正接及び比誘電率は、25℃、10GHzにおいて、JIS R 1641:2007に規定されている方法に従い、空洞共振器及びベクトルネットワークアナライザを用いて測定された誘電正接及び比誘電率の値である。
十点平均粗さ(以下、「Rzjis」とも記す。)は、JIS B 0601:2013の附属書JAに規定されている方法に従い、小坂研究所製のサーフコーダSE600を用いて測定した値である。
剥離強度は、後述する実施例に記載の方法により測定した値である。
不飽和プレッシャークッカー試験(Unsaturated Pressure Cooker Test)(以下、「USPCT」とも記す。)は、85%RHでのプレッシャークッカー試験であり、HAST(High Accelerated Stress Test)とも称される。USPCTは、IEC 60068-2-66:1994(対応JIS規格:JIS C 0096:2001)に規定されている方法に従い行われる。
厚さ127μmの試験片に対して120℃、85%RHで72時間のUSPCTを行った前後の10GHzにおける誘電正接の変化率は、下式(1)により算出される。
誘電正接の変化率(%)=(USPCT後の試験片の誘電正接-USPCT前の誘電正接)/USPCT前の誘電正接×100 (1)。
誘電正接及び比誘電率は、25℃、10GHzにおいて、JIS R 1641:2007に規定されている方法に従い、空洞共振器及びベクトルネットワークアナライザを用いて測定された誘電正接及び比誘電率の値である。
十点平均粗さ(以下、「Rzjis」とも記す。)は、JIS B 0601:2013の附属書JAに規定されている方法に従い、小坂研究所製のサーフコーダSE600を用いて測定した値である。
剥離強度は、後述する実施例に記載の方法により測定した値である。
本発明において、テトラフルオロエチレン系ポリマー(以下、「TFE系ポリマー」とも記す。)とは、テトラフルオロエチレン(以下、「TFE」とも記す。)に基づく単位を有するポリマーを意味する。
本明細書においては、「モノマーに基づく単位」を「モノマー単位」とも記す。例えば、「TFEに基づく単位」を「TFE単位」とも記す。
図1~図2における寸法比は、説明の便宜上、実際のものとは異なったものである。
本明細書においては、「モノマーに基づく単位」を「モノマー単位」とも記す。例えば、「TFEに基づく単位」を「TFE単位」とも記す。
図1~図2における寸法比は、説明の便宜上、実際のものとは異なったものである。
〔基板〕
本発明の基板(以下、「本基板」とも記す。)は、TFE系ポリマーと無機フィラーとを含む。
本発明の基板(以下、「本基板」とも記す。)は、TFE系ポリマーと無機フィラーとを含む。
TFE系ポリマーの比誘電率は、6.0以下が好ましく、3.5以下がより好ましく、3.0以下が特に好ましい。比誘電率が前記上限値以下であれば、低誘電率が求められるプリント配線板等に本基板を好適に使用できる。
TFE系ポリマーの比誘電率は、基板の電気特性の点から、1.5以上が好ましい。
TFE系ポリマーの比誘電率は、基板の電気特性の点から、1.5以上が好ましい。
TFE系ポリマーは溶融成形が可能なポリマーであるのが好ましい。「溶融成形が可能」であるとは、溶融流動性を示すことを意味する。「溶融流動性を示す」とは、荷重49Nの条件下、TFE系ポリマーの融点よりも20℃以上高い温度において、溶融流れ速度が0.1~1000g/10分となる温度が存在することを意味する。「溶融流れ速度」とは、JIS K 7210:1999(ISO 1133:1997)に規定されるメルトマスフローレート(MFR)を意味する。
TFE系ポリマーの融点は、260℃超が好ましく、260℃超320℃以下がより好ましく、275~320℃が特に好ましい。TFE系ポリマーの融点が前記範囲内であれば、TFE系ポリマーが、その弾性に基づく粘着性を保持しつつ焼成されて、緻密な基板をより形成しやすい。
TFE系ポリマーのMFRは、0.5~100g/10分が好ましく、1~30g/10分がより好ましく、5~20g/10分が特に好ましい。
TFE系ポリマーの融点は、260℃超が好ましく、260℃超320℃以下がより好ましく、275~320℃が特に好ましい。TFE系ポリマーの融点が前記範囲内であれば、TFE系ポリマーが、その弾性に基づく粘着性を保持しつつ焼成されて、緻密な基板をより形成しやすい。
TFE系ポリマーのMFRは、0.5~100g/10分が好ましく、1~30g/10分がより好ましく、5~20g/10分が特に好ましい。
TFE系ポリマーは、0.1~5.0MPaの貯蔵弾性率を示す温度領域を260℃以下に有することが好ましい。前記温度領域においてTFE系ポリマーが示す貯蔵弾性率は、0.2~4.4MPaが好ましく、0.5~3.0MPaが特に好ましい。また、TFE系ポリマーがかかる貯蔵弾性率を示す温度領域は、180~260℃が好ましく、200~260℃が特に好ましい。前記温度領域においてTFE系ポリマーが、その弾性に基づく粘着性を効果的に発現しやすい。
TFE系ポリマーは、TFEのホモポリマーであってもよく、TFEと、TFEと共重合可能な他のモノマー(以下、コモノマーとも記す。)とのコポリマーであってもよい。
TFE系ポリマーは、TFE系ポリマーを構成する全単位に対して、TFE単位を75~100モル%有し、コモノマー単位を0~25モル%有するのが好ましい。
TFE系ポリマーは、TFE系ポリマーを構成する全単位に対して、TFE単位を75~100モル%有し、コモノマー単位を0~25モル%有するのが好ましい。
TFE系ポリマーとしては、例えば、ポリテトラフルオロエチレン、TFE単位とエチレン単位とを有するコポリマー、TFE単位とプロピレン単位とを有するコポリマー、TFE単位とペルフルオロ(アルキルビニルエーテル)(以下、「PAVE」とも記す。)単位とを有するコポリマー、TFE単位とヘキサフルオロプロピレン(以下、「HFP」とも記す。)単位とを有するコポリマー、TFE単位とフルオロアルキルエチレン(以下、「FAE」とも記す。)単位とを有するコポリマー、TFE単位とクロロトリフルオロエチレン単位とを有するコポリマーが挙げられる。
PAVEとしては、例えば、CF2=CFOCF3、CF2=CFOCF2CF3、CF2=CFOCF2CF2CF3(以下、「PPVE」とも記す。)、CF2=CFOCF2CF2CF2CF3、CF2=CFO(CF2)8Fが挙げられる。
FAEとしては、例えば、CH2=CH(CF2)2F、CH2=CH(CF2)3F、CH2=CH(CF2)4F、CH2=CF(CF2)3H、CH2=CF(CF2)4Hが挙げられる。
FAEとしては、例えば、CH2=CH(CF2)2F、CH2=CH(CF2)3F、CH2=CH(CF2)4F、CH2=CF(CF2)3H、CH2=CF(CF2)4Hが挙げられる。
TFE系ポリマーの好適な一態様としては、TFE単位と、PAVE単位又はHFP単位(以下、両者を総称して「コモノマー単位F」とも記す。)とを有するポリマーが挙げられる。本態様のポリマーは、ポリマーを構成する全単位に対して、TFE単位を90~99モル%有し、コモノマー単位Fを0.5~10モル%有するのが好ましい。本態様のポリマーは、TFE単位とコモノマー単位Fのみからなっていてもよく、さらに他の単位を有していてもよい。
TFE系ポリマーの好適な他の一態様としては、カルボニル基含有基、ヒドロキシ基、エポキシ基、アミド基、アミノ基及びイソシアネート基からなる群から選ばれる少なくとも1種の官能基(以下、単に「官能基」とも記す。)を有する、TFE単位を有するポリマー(以下、「ポリマーF1」とも記す。)が挙げられる。
TFE系ポリマーが官能基を有していれば、後述する誘電正接の変化率を30%以下にしやすい。また、TFE系ポリマーが官能基を有していれば、本基板の少なくとも一方の表面に金属層を積層する場合に、金属層の本基板と接する面が粗面化されていない場合(例えばRzjisが2.0μm以下の場合)でも、本基板と金属層との接着性が良好となりやすい。
TFE系ポリマーが官能基を有していれば、後述する誘電正接の変化率を30%以下にしやすい。また、TFE系ポリマーが官能基を有していれば、本基板の少なくとも一方の表面に金属層を積層する場合に、金属層の本基板と接する面が粗面化されていない場合(例えばRzjisが2.0μm以下の場合)でも、本基板と金属層との接着性が良好となりやすい。
官能基は、ポリマーF1中のモノマー単位に含まれていてもよく、ポリマーF1の主鎖の末端基に含まれていてもよい。後者のポリマーとしては、官能基を、重合開始剤、連鎖移動剤等に由来する末端基として有するポリマーが挙げられる。
ポリマーF1としては、官能基を有するモノマー単位とTFE単位とを有するポリマーが好ましい。また、この場合のポリマーF1は、さらに他の単位を有するのが好ましく、コモノマー単位Fを有するのが特に好ましい。
ポリマーF1としては、官能基を有するモノマー単位とTFE単位とを有するポリマーが好ましい。また、この場合のポリマーF1は、さらに他の単位を有するのが好ましく、コモノマー単位Fを有するのが特に好ましい。
官能基としては、無機フィラーや金属層との接着性の点から、カルボニル基含有基が好ましい。カルボニル基含有基としては、カーボネート基、カルボキシ基、ハロホルミル基、アルコキシカルボニル基、酸無水物残基(-C(O)OC(O)-)、脂肪酸残基等が挙げられ、カルボキシ基及び酸無水物残基が好ましい。
官能基を有するモノマー単位としては、カルボニル基含有基を有するモノマー単位、ヒドロキシ基を有するモノマー単位、エポキシ基を有するモノマー単位及びイソシアネート基を有するモノマー単位が好ましく、カルボニル基含有基を有するモノマー単位が特に好ましい。
官能基を有するモノマー単位としては、カルボニル基含有基を有するモノマー単位、ヒドロキシ基を有するモノマー単位、エポキシ基を有するモノマー単位及びイソシアネート基を有するモノマー単位が好ましく、カルボニル基含有基を有するモノマー単位が特に好ましい。
カルボニル基含有基を有するモノマーとしては、酸無水物残基を有する環状モノマー、カルボキシ基を有するモノマー、ビニルエステル及び(メタ)アクリレートが好ましく、酸無水物残基を有する環状モノマーが特に好ましい。
前記環状モノマーとしては、無水イタコン酸、無水シトラコン酸、5-ノルボルネン-2,3-ジカルボン酸無水物(別称:無水ハイミック酸。以下、「NAH」とも記す。)及び無水マレイン酸が好ましい。
前記環状モノマーとしては、無水イタコン酸、無水シトラコン酸、5-ノルボルネン-2,3-ジカルボン酸無水物(別称:無水ハイミック酸。以下、「NAH」とも記す。)及び無水マレイン酸が好ましい。
ポリマーF1としては、官能基を有するモノマー単位と、TFE単位と、コモノマー単位Fとを含むポリマーが好ましい。かかるポリマーF1の具体例としては、国際公開第2018/16644号に記載された重合体(X)が挙げられる。
ポリマーF1におけるTFE単位の割合は、ポリマーF1を構成する全単位のうち、90~99モル%が好ましい。
ポリマーF1におけるコモノマー単位Fの割合は、ポリマーF1を構成する全単位のうち、0.5~9.97モル%が好ましい。
ポリマーF1における官能基を有するモノマー単位の割合は、ポリマーF1を構成する全単位のうち、0.01~3モル%が好ましい。
ポリマーF1におけるTFE単位の割合は、ポリマーF1を構成する全単位のうち、90~99モル%が好ましい。
ポリマーF1におけるコモノマー単位Fの割合は、ポリマーF1を構成する全単位のうち、0.5~9.97モル%が好ましい。
ポリマーF1における官能基を有するモノマー単位の割合は、ポリマーF1を構成する全単位のうち、0.01~3モル%が好ましい。
無機フィラーとしては、比誘電率や誘電正接、熱膨張率が低いものが好ましい。該無機フィラーとしては、シリカ、アルミナ、ガラス、ステアライト、酸化ベリリウム、窒化アルミニウム、苦土カンランセラミックス及び窒化ホウ素等が挙げられる。
無機フィラーは、多孔質でも非多孔質でもよい。
無機フィラーの形状としては、破砕状、球状、略球状、楕円球状、針状、板状、鱗片状、棒状、サイコロ状等が挙げられ、破砕状が好ましい。破砕状の無機フィラーは、表面凹凸が多く、アンカー効果によりTFE系ポリマーとの強固な接着が期待できる。
無機フィラーは1種を単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
無機フィラーは、多孔質でも非多孔質でもよい。
無機フィラーの形状としては、破砕状、球状、略球状、楕円球状、針状、板状、鱗片状、棒状、サイコロ状等が挙げられ、破砕状が好ましい。破砕状の無機フィラーは、表面凹凸が多く、アンカー効果によりTFE系ポリマーとの強固な接着が期待できる。
無機フィラーは1種を単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
無機フィラーとしては、シリカが好ましい。
シリカとしては、フューズドシリカ、フュームドシリカ、無孔質シリカ、多孔質シリカ(メソポーラスシリカ、マイクロポーラスシリカ)、中空シリカ等が挙げられる。これらのシリカは、乾燥状態のものを用いてもよく、ゾル状態又はスラリー状態のものを用いてもよく、600℃以上の温度で焼成処理を行いシラノール基を減少させたものを用いてもよい。
シリカは、破砕状であることが好ましい。
シリカは、TFE系ポリマーへの分散性の向上の点から、シランカップリング剤、チタネートカップリング剤等の表面処理剤による表面処理が施されてもよい。
シリカとしては、フューズドシリカ、フュームドシリカ、無孔質シリカ、多孔質シリカ(メソポーラスシリカ、マイクロポーラスシリカ)、中空シリカ等が挙げられる。これらのシリカは、乾燥状態のものを用いてもよく、ゾル状態又はスラリー状態のものを用いてもよく、600℃以上の温度で焼成処理を行いシラノール基を減少させたものを用いてもよい。
シリカは、破砕状であることが好ましい。
シリカは、TFE系ポリマーへの分散性の向上の点から、シランカップリング剤、チタネートカップリング剤等の表面処理剤による表面処理が施されてもよい。
無機フィラーは、アルカリ洗浄されていてもよい。アルカリ洗浄により、無機フィラーの表面吸着水を除去できるので、誘電正接の低下に効果的である。
アルカリ洗浄に用いられるアルカリとしては、例えばNaOH、KOHや、これらの混合アルカリ等が挙げられる。
無機フィラーとしては、アルカリ洗浄されているシリカが好ましい。
アルカリ洗浄に用いられるアルカリとしては、例えばNaOH、KOHや、これらの混合アルカリ等が挙げられる。
無機フィラーとしては、アルカリ洗浄されているシリカが好ましい。
無機フィラーの平均粒子径は、100μm以下が好ましく、60μm以下がより好ましく、40μm以下が特に好ましい。無機フィラーの平均粒子径が前記上限値以下であれば、基板の厚さが500μm以下である場合に、無機フィラーが基板表面に突出しにくく、安定した誘電特性が得られやすい。
無機フィラーの平均粒子径は、レーザー回折・散乱法により求められる体積基準累積50%径(D50)である。すなわち、レーザー回折・散乱法により粒度分布を測定し、粒子の集団の全体積を100%として累積カーブを求め、その累積カーブ上で累積体積が50%となる点の粒子径である。
無機フィラーが破砕状である場合、無機フィラーは、目開き45μmのふるいを通過可能であることが好ましい。無機フィラーが目開き45μmのふるいを通過可能であれば、基板の厚さが500μm以下である場合に、無機フィラーが基板表面に突出しにくく、安定した誘電特性が得られやすい。
無機フィラーは、レーザー回折・散乱法により測定された粒度分布曲線が2つ以上のピークを有するものであってもよい。例えば、平均粒子径の異なる2以上の無機フィラーを混合して用いると、粒度分布曲線が2つ以上のピークを有するものとなる。
無機フィラーの添加量が増えると、無機フィラー同士が接触し、無機フィラーで囲まれた領域が生じる。ピークの数が1つである場合、無機フィラーの大きさのバラつきが比較的小さいため、該領域を構成する無機フィラー間の隙間を他の無機フィラーが通過しにくく、該領域内に他の無機フィラーをさらに充填することが難しい。ピークの数が2つ以上である場合、無機フィラーの大きさのバラつきが比較的大きいため、該領域を構成する無機フィラー間の隙間を他の無機フィラーが通過しやすく、該領域内に他の無機フィラーをさらに充填でき、充填率を向上させやすい。
無機フィラーの添加量が増えると、無機フィラー同士が接触し、無機フィラーで囲まれた領域が生じる。ピークの数が1つである場合、無機フィラーの大きさのバラつきが比較的小さいため、該領域を構成する無機フィラー間の隙間を他の無機フィラーが通過しにくく、該領域内に他の無機フィラーをさらに充填することが難しい。ピークの数が2つ以上である場合、無機フィラーの大きさのバラつきが比較的大きいため、該領域を構成する無機フィラー間の隙間を他の無機フィラーが通過しやすく、該領域内に他の無機フィラーをさらに充填でき、充填率を向上させやすい。
本基板は、界面活性剤をさらに含んでいてもよい。
界面活性剤は、例えば、本基板を製造する際に、TFE系ポリマーを含む樹脂パウダーの分散液と無機フィラーとを混合する場合に、樹脂パウダーの分散性、無機フィラーの混和性を高めるために用いられる。
界面活性剤としては、例えば、ノニオン性界面活性剤、アニオン性界面活性剤、カチオン性界面活性剤、両性界面活性剤等が挙げられ、適宜最適な化合物が選択される。
界面活性剤としては、低誘電正接の点から、ノニオン性界面活性剤が好ましい。
界面活性剤は、例えば、本基板を製造する際に、TFE系ポリマーを含む樹脂パウダーの分散液と無機フィラーとを混合する場合に、樹脂パウダーの分散性、無機フィラーの混和性を高めるために用いられる。
界面活性剤としては、例えば、ノニオン性界面活性剤、アニオン性界面活性剤、カチオン性界面活性剤、両性界面活性剤等が挙げられ、適宜最適な化合物が選択される。
界面活性剤としては、低誘電正接の点から、ノニオン性界面活性剤が好ましい。
界面活性剤としては、フッ素含有基と親水基とを有する界面活性剤(以下、「フッ素系界面活性剤」とも記す。)が好ましい。フッ素系界面活性剤を用いることによって、液状媒体の表面張力を低下させ、樹脂パウダーの表面に対する濡れ性を向上させて樹脂パウダーの分散性を向上させるとともに、フッ素含有基がTFE系ポリマーを含む樹脂パウダーの表面に吸着し、親水基が液状媒体中に伸長し、親水基の立体障害によって樹脂パウダーの凝集を防止して分散安定性を向上させる。
フッ素含有基としては、疎水性の高いものが好ましく、例えば、ペルフルオロアルキル基、ペルフルオロアルケニル基(ヘキサフルオロプロピレントリマー基等。)等のフッ素化炭化水素基が挙げられる。ペルフルオロアルキル基、ペルフルオロアルケニル基はそれぞれ直鎖構造でも分岐構造でもよい。フッ素含有基の炭素数は2以上が好ましく、4~20がより好ましい。
フッ素含有基としては、嵩高く吸着能に優れる点から、-CF(CF3)C(=C(CF3)2)(CF(CF3)2)等の、分岐構造を有するフッ素含有基が好ましい。
フッ素含有基としては、嵩高く吸着能に優れる点から、-CF(CF3)C(=C(CF3)2)(CF(CF3)2)等の、分岐構造を有するフッ素含有基が好ましい。
親水基は、フッ素含有基に対して相対的に親水性の基であり、一般的な親水性基であってもよく、また、通常は疎水性基とみなされる基であっても、フッ素含有基に対して相対的に親水性の基であればよい。例えば、ポリオキシプロピレン基は、親水性基であるポリオキシエチレン基に対して相対的に疎水性であり、通常疎水性基とされているが、フッ素含有基に対しては相対的に疎水性が低い(親水性が高い)ことより、本発明における親水基である。
親水基としては、ポリオキシエチレン基、ポリオキシプロピレン基、ポリオキシブチレン基、ポリオキシテトラメチレン基、アミノ基、ケトン基、カルボキシル基、スルホン基が挙げられる。親水基としては、炭素数2~4のオキシアルキレン基からなるポリオキシアルキレン基が好ましく、ポリオキシエチレン基が特に好ましい。
親水基としては、ポリオキシエチレン基、ポリオキシプロピレン基、ポリオキシブチレン基、ポリオキシテトラメチレン基、アミノ基、ケトン基、カルボキシル基、スルホン基が挙げられる。親水基としては、炭素数2~4のオキシアルキレン基からなるポリオキシアルキレン基が好ましく、ポリオキシエチレン基が特に好ましい。
フッ素系界面活性剤は、また、フッ素含有基を有するモノマーと親水基を有するモノマーとのコポリマーであってもよい。このような界面活性剤としては、特に、フッ素含有基を有するモノマーとポリオキシアルキレン基を有するモノマーとのコポリマーが好ましい。
フッ素系界面活性剤が、フッ素含有基を有するモノマーと親水基を有するモノマーとのコポリマーである場合、フッ素系界面活性剤の重量平均分子量は、1000~150000が好ましく、3000~100000がより好ましく、5000~30000が特に好ましい。この場合、フッ素含有基が液状媒体よりも樹脂パウダーの表面に対して吸着しやすくなり、樹脂パウダーの分散性及び分散安定性が向上しやすい。また、樹脂パウダーが分散した分散液を、異種の樹脂材料やそのワニスとの混合性、塗工性に優れたものにできる。
フッ素系界面活性剤の重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィ(GPC)により測定される。
フッ素系界面活性剤の重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィ(GPC)により測定される。
フッ素系界面活性剤の具体例としては、ペルフルオロアルキル基含有のフタージェントMシリーズ、フタージェントF209、フタージェント222F、フタージェント208G、フタージェント218GL、フタージェント710FL、フタージェント710FM、フタージェント710FS、フタージェント730FL、フタージェント730LM(ネオス社製)、メガファックF-553、メガファックF-555、メガファックF-556、メガファックF-557、メガファックF-559、メガファックF-562、メガファックF-565等のメガファックシリーズ(DIC社製)、ユニダインDS-403N等のユニダインシリーズ(ダイキン工業社製)等が挙げられる。なかでも、フッ素含有基が分岐構造を有し立体的な嵩高さを有する界面活性剤である、フタージェント710FL、フタージェント710FM及びフタージェント710FSが好ましい。
界面活性剤は2種以上を併用してもよい。この場合、2種以上の界面活性剤の少なくとも一部は、フッ素系界面活性剤であることが好ましい。2種以上の界面活性剤の一部は、フッ素含有基を有さない界面活性剤であってもよい。
本基板は、必要に応じて、本発明の効果を損なわない範囲で、TFE系ポリマー、無機フィラー及び界面活性剤以外の他の成分をさらに含んでいてもよい。
他の成分としては、例えば、TFE系ポリマー以外の樹脂(例えばポリイミド)、増粘剤等が挙げられる。
他の成分としては、例えば、TFE系ポリマー以外の樹脂(例えばポリイミド)、増粘剤等が挙げられる。
本基板において、TFE系ポリマーと無機フィラーとの合計体積に対する無機フィラーの体積の割合は、40~90体積%が好ましく、45~85体積%がより好ましく、50~80体積%が特に好ましい。無機フィラーの割合が前記下限値以上であれば、基板の熱膨張率、誘電正接をより低くできる。無機フィラーの割合が前記上限値以下であれば、基板の比誘電率をより低く、機械的強度をより高くできる。
体積は、25℃における値である。
体積は、25℃における値である。
本基板の全体積に対する、TFE系ポリマーと無機フィラーとの合計体積の割合は、80体積%以上が好ましく、90体積%以上がより好ましく、95体積%以上が特に好ましい。TFE系ポリマーと無機フィラーとの合計体積の割合が前記下限値以上であれば、基板の誘電正接、比誘電率、熱膨張率をより低く、機械的強度をより高くできる。
界面活性剤の含有量は、TFE系ポリマーと無機フィラーとの合計質量に対して、1~30質量%が好ましく、2~10質量%がより好ましい。
本基板の厚さは、60~500μmが好ましく、80~400μmがより好ましく、100~300μmがより好ましい。基板の厚さが前記上限値以下であれば、実装性がより優れる。基板の厚さが前記下限値以上であれば、基板剛性がより優れる。
本基板は、本基板から切り出された厚さ127μmの試験片に対して120℃、85%RHで72時間のUSPCTを行った前後の誘電正接の変化率が、30%以下である。前記変化率は、25%以下が好ましく、20%以下がより好ましい。前記変化率が前記上限値以下であれば、基板の機械的強度に優れ、基板が曲げられたり基板に振動が加えられたりしたときに破壊されにくい。したがって、本基板を用いることにより、信頼性の高いプリント配線板を得ることができる。
誘電正接の変化率は、本基板内におけるTFE系ポリマーと無機フィラーとの界面の空隙の量を示すと考えられる。前記界面に空隙が多く存在すると、USPCTの際に水分が空隙に侵入し、無機フィラーの表面に吸着する。結果、基板の水分量が増えて誘電正接が高くなる。誘電正接の変化率が前記上限値以下であれば、本基板内においてTFE系ポリマーと無機フィラーとの界面に空隙が存在しないか存在してもわずかであり、それらが充分に密着しているので、機械的強度に優れると考えられる。
誘電正接の変化率は、本基板内におけるTFE系ポリマーと無機フィラーとの界面の空隙の量を示すと考えられる。前記界面に空隙が多く存在すると、USPCTの際に水分が空隙に侵入し、無機フィラーの表面に吸着する。結果、基板の水分量が増えて誘電正接が高くなる。誘電正接の変化率が前記上限値以下であれば、本基板内においてTFE系ポリマーと無機フィラーとの界面に空隙が存在しないか存在してもわずかであり、それらが充分に密着しているので、機械的強度に優れると考えられる。
本基板は、例えば、TFE系ポリマーと無機フィラーと液状媒体とを含むペースト組成物を調製し、前記ペースト組成物を被着体上に塗布し、乾燥、焼成する方法により製造できる。これにより、被着体上に本基板が形成される。必要に応じて、本基板を被着体から剥離する。本基板を金属積層板に用いる場合、被着体として金属層を形成しうる材料(金属箔等)を用い、本基板を剥離せずに金属積層板に用いてもよい。
液状媒体としては、水等の無機質溶媒、有機溶媒等が挙げられる。有機溶媒としては、例えば、国際公開第2018/16644号に記載された有機溶媒が挙げられる。液状媒体は相溶性の2種以上の液状媒体の混合物であってもよい。例えば水溶性有機溶媒と水との混合物であってもよく、2種以上の有機溶媒の混合物であってもよい。
液状媒体としては、TFE系ポリマーを溶解可能なものが好ましい。
液状媒体としては、TFE系ポリマーを溶解可能なものが好ましい。
ペースト組成物において、液状媒体の含有量は、TFE系ポリマーと無機フィラーとの合計100質量部に対して30~95質量部が好ましく、40~90質量部がより好ましく、50~85質量部が特に好ましい。液状媒体の含有量が前記下限値以上であれば、形成される基板の表面平滑性がより優れる。液状媒体の含有量が前記上限値以下であれば、厚膜塗工性がより優れる。
ペースト組成物は、TFE系ポリマーと無機フィラーと液状媒体とを混合することによって調製できる。必要に応じて、これらの材料とともに、界面活性剤や他の成分を混合してもよい。
ペースト組成物の調製方法としてより具体的には、TFE系ポリマーの溶液又はTFE系ポリマーを含む樹脂パウダーの分散液に無機フィラーを添加し、混合する方法、TFE系ポリマーの溶液又はTFE系ポリマーを含む樹脂パウダーの分散液と無機フィラーの分散液とを混合する方法(レットダウン法)が挙げられる。各材料は、例えば、回転せん断型撹拌機、コロイドミル、ロールミル、超音波分散機、容器駆動型ミル、媒体撹拌ミル等の混合装置を用いて混合できる。
ペースト組成物の調製方法としてより具体的には、TFE系ポリマーの溶液又はTFE系ポリマーを含む樹脂パウダーの分散液に無機フィラーを添加し、混合する方法、TFE系ポリマーの溶液又はTFE系ポリマーを含む樹脂パウダーの分散液と無機フィラーの分散液とを混合する方法(レットダウン法)が挙げられる。各材料は、例えば、回転せん断型撹拌機、コロイドミル、ロールミル、超音波分散機、容器駆動型ミル、媒体撹拌ミル等の混合装置を用いて混合できる。
ペースト組成物を調製する際の混合条件は、前記した誘電正接の変化率が30%以下となるように設定する。
誘電正接の変化率は、例えば、各材料を混合する際のせん断の強弱により調整できる。より強いせん断をかけて混合することで、誘電正接の変化率をより小さくできる。これは、より強いせん断をかけることで、TFE系ポリマーと無機フィラーとの界面に空隙が形成されにくいためと考えられる。
誘電正接の変化率は、例えば、各材料を混合する際のせん断の強弱により調整できる。より強いせん断をかけて混合することで、誘電正接の変化率をより小さくできる。これは、より強いせん断をかけることで、TFE系ポリマーと無機フィラーとの界面に空隙が形成されにくいためと考えられる。
ペースト組成物の塗布方法としては、特に限定されない。例えば、スピンナー、スクリーン印刷、ブレードコーター、ダイコーター等の塗布装置を用いて塗布できる。
塗布したペースト組成物の乾燥方法も特に限定されない。例えばホットプレート、オーブン等の加熱装置を用いて加熱する方法が挙げられる。加熱条件は、液状媒体を除去できればよく、液状媒体の種類に応じて適宜設定できる。
塗布したペースト組成物の乾燥方法も特に限定されない。例えばホットプレート、オーブン等の加熱装置を用いて加熱する方法が挙げられる。加熱条件は、液状媒体を除去できればよく、液状媒体の種類に応じて適宜設定できる。
本基板の引張強度は7.0MPa以上が好ましく、8.0MPa以上がより好ましく、10.0MPa以上が更に好ましい。引張弾性率は1.0GPa以上が好ましく、1.5GPa以上がより好ましく、2.0GPa以上が更に好ましい。
以上説明した本基板にあっては、TFE系ポリマー及び無機フィラーを含むとともに特定の条件における誘電正接の変化率が30%以下であるので、誘電正接、比誘電率、熱膨張率が低く、機械的強度にも優れる。
特に、TFE系ポリマーが官能基を有していれば、より優れた機械的強度が得られやすい。本基板と金属層との接着性にも優れる。
特に、TFE系ポリマーが官能基を有していれば、より優れた機械的強度が得られやすい。本基板と金属層との接着性にも優れる。
〔金属積層板〕
本発明の金属積層板は、本基板と、本基板の少なくとも一方の表面に接して位置する金属層とを有する。
金属積層板が有する本基板は1つでも複数でもよい。複数の本基板を有する場合、各基板は同じものでも異なるものでもよい。
金属積層板が有する金属層は1つでも複数でもよい。複数の金属層を有する場合、各金属層は同じものでも異なるものでもよい。
金属積層板は、本基板及び金属層に加えて、本基板以外の他の基板(例えばFR4基板、LCP(液晶ポリマー)基板、PPE(ポリフェニレンエーテル)基板)等をさらに有していてもよい。FR4は、「Flame Retardant Type 4」の略であり、ガラス繊維の布にエポキシ樹脂をしみ込ませ熱硬化処理を施し板状にしたものを示す。
本発明の金属積層板は、本基板と、本基板の少なくとも一方の表面に接して位置する金属層とを有する。
金属積層板が有する本基板は1つでも複数でもよい。複数の本基板を有する場合、各基板は同じものでも異なるものでもよい。
金属積層板が有する金属層は1つでも複数でもよい。複数の金属層を有する場合、各金属層は同じものでも異なるものでもよい。
金属積層板は、本基板及び金属層に加えて、本基板以外の他の基板(例えばFR4基板、LCP(液晶ポリマー)基板、PPE(ポリフェニレンエーテル)基板)等をさらに有していてもよい。FR4は、「Flame Retardant Type 4」の略であり、ガラス繊維の布にエポキシ樹脂をしみ込ませ熱硬化処理を施し板状にしたものを示す。
図1に、本発明の金属積層板の一例を示す。この例の金属積層板1は、基板3と、本基板3の一方の表面3aに接して位置する金属層5とを有する片面金属積層板である。基板3は本基板である。
図2に、本発明の金属積層板の他の一例を示す。この例の金属積層板1は、基板3と、基板3の一方の表面3a及び他方の表面3bそれぞれに接して位置する金属層5とを有する両面金属積層板である。
図2に、本発明の金属積層板の他の一例を示す。この例の金属積層板1は、基板3と、基板3の一方の表面3a及び他方の表面3bそれぞれに接して位置する金属層5とを有する両面金属積層板である。
金属層を構成する金属としては、銅、銅合金、ステンレス鋼、ニッケル、ニッケル合金(42合金も含む)、アルミニウム、アルミニウム合金、チタン、チタン合金等が挙げられる。導電率や耐薬品性から、銅が好ましい。
金属層としては、金属箔からなる層が好ましく、特に銅箔からなる層が好ましい。銅箔としては、圧延銅箔、電解銅箔等が挙げられる。金属箔の表面に防錆層(クロメート等の酸化物皮膜等)、耐熱層等が形成されていてもよい。
金属層としては、金属箔からなる層が好ましく、特に銅箔からなる層が好ましい。銅箔としては、圧延銅箔、電解銅箔等が挙げられる。金属箔の表面に防錆層(クロメート等の酸化物皮膜等)、耐熱層等が形成されていてもよい。
金属層の厚さは、1~40μmが好ましく、10~30μmがより好ましい。
金属層の表面はシランカップリング剤により処理されていてもよい。この場合、金属層の表面の全体がシランカップリング剤により処理されていてもよく、金属層の表面の一部がシランカップリング剤により処理されていてもよい。
金属層の表面はシランカップリング剤により処理されていてもよい。この場合、金属層の表面の全体がシランカップリング剤により処理されていてもよく、金属層の表面の一部がシランカップリング剤により処理されていてもよい。
金属層の本基板と接する面のRzjisは、5.0μm以下が好ましく、3.0μm以下がより好ましく、2.0μm以下がさらに好ましく、1.0μm以下が特に好ましい。Rzjisが前記上限値以下であれば、伝送特性に優れたプリント配線板が得られやすい。Rzjisは、伝送特性の点では小さいほど好ましく、Rzjisの下限は特に限定されないが、例えば0.1μmである。
本基板と金属層との界面の剥離強度は、5N/cm以上が好ましく、8N/cm以上がより好ましい。剥離強度が前記下限値以上であれば、信頼性がより優れる。剥離強度は大きいほど好ましく、剥離強度の上限は特に限定されない。
本発明の金属積層板は、例えば、(1)本基板の少なくとも一方の表面に、金属層を形成しうる材料を積層して熱圧着する方法、(2)金属層を形成しうる材料上に本基板を形成し、必要に応じて、形成された本基板の表面に、別の金属層を形成しうる材料を積層して熱圧着する方法、又は(3)金属層を形成しうる材料上に本基板を形成したものを2つ用意し、本基板側同士を合わせて積層して熱圧着する方法により製造できる。
金属層を形成しうる材料としては、例えば金属箔が挙げられる。
金属層を形成しうる材料としては、例えば金属箔が挙げられる。
(1)、(2)、(3)の方法において、熱圧着時の温度は、TFE系ポリマーの融点以上であり、融点より10℃以上高い温度が好ましく、融点より20℃以上高い温度がより好ましく、融点より40℃以上高い温度が特に好ましい。熱圧着時の温度は、融点より100℃高い温度を超えないことが好ましい。熱圧着時の温度が前記範囲内であれば、TFE系ポリマーの熱劣化を抑制しつつ、基板と金属層を充分に接着できる。
熱圧着時の温度は、圧着装置の熱盤の温度である。
熱圧着時の温度は、圧着装置の熱盤の温度である。
熱圧着時の圧力は、0.2MPa以上が好ましく、0.5MPa以上がより好ましく、1.0MPa以上がさらに好ましい。熱圧着時の圧力は、10.0MPa以下が好ましい。熱圧着時の圧力が前記範囲内であれば、本基板を破損することなく、本基板と金属層とを充分に接着できる。
熱圧着は真空雰囲気下で行うことが好ましい。熱圧着時の真空度は100kPa以下が好ましく、50kPa以下がより好ましく、20kPa以下がさらに好ましい。真空度が前記上限値以下であれば、金属積層板を構成する本基板及び金属層のそれぞれの界面への気泡混入を抑制できると同時に、酸化による金属層の劣化も抑制できる。
また、前記真空度に到達したのちに昇温することが好ましい。前記真空度に到達する前に昇温すると、気泡の原因となる。
熱圧着においては、本基板の温度が融点に到達したのちに加圧することが好ましい。前記融点に到達する前に熱圧着すると、本基板と金属層の間にボイドが発生したり、密着強度むらが発生したりする。
また、前記真空度に到達したのちに昇温することが好ましい。前記真空度に到達する前に昇温すると、気泡の原因となる。
熱圧着においては、本基板の温度が融点に到達したのちに加圧することが好ましい。前記融点に到達する前に熱圧着すると、本基板と金属層の間にボイドが発生したり、密着強度むらが発生したりする。
(2)、(3)の方法において、金属層を形成しうる材料上に本基板を形成するには、例えば、前記したように、TFE系ポリマーと無機フィラーと液状媒体とを含むペースト組成物を調製し、前記ペースト組成物を、金属層を形成しうる材料(被着体)上に塗布し、乾燥すればよい。
以下、実施例によって本発明を具体的に説明するが、本発明は以下の記載によっては限定されない。例1は実施例であり、例2は比較例である。
(TFE系ポリマーにおける各単位の割合)
NAH単位の割合は、赤外吸収スペクトル分析によって求めた。NAH単位以外の単位の割合は、溶融NMR分析及びフッ素含有量分析によって求めた。
NAH単位の割合は、赤外吸収スペクトル分析によって求めた。NAH単位以外の単位の割合は、溶融NMR分析及びフッ素含有量分析によって求めた。
<赤外吸収スペクトル分析>
TFE系ポリマーをプレス成形して厚さ200μmのフィルムを得た。フィルムを赤外分光法によって分析して赤外吸収スペクトルを得た。赤外吸収スペクトルにおいて、TFE系ポリマー中のNAH単位の吸収ピークは1778cm-1に現れる。この吸収ピークの吸光度を測定し、NAHのモル吸光係数20810mol-1・L・cm-1を用いて、TFE系ポリマーにおけるNAH単位の割合を求めた。
TFE系ポリマーをプレス成形して厚さ200μmのフィルムを得た。フィルムを赤外分光法によって分析して赤外吸収スペクトルを得た。赤外吸収スペクトルにおいて、TFE系ポリマー中のNAH単位の吸収ピークは1778cm-1に現れる。この吸収ピークの吸光度を測定し、NAHのモル吸光係数20810mol-1・L・cm-1を用いて、TFE系ポリマーにおけるNAH単位の割合を求めた。
(融点)
示差走査熱量計(セイコーインスツル社製、DSC-7020)を用い、TFE系ポリマーを10℃/分の速度で昇温したときの融解ピークを記録し、極大値に対応する温度(℃)を融点とした。
示差走査熱量計(セイコーインスツル社製、DSC-7020)を用い、TFE系ポリマーを10℃/分の速度で昇温したときの融解ピークを記録し、極大値に対応する温度(℃)を融点とした。
(MFR)
メルトインデクサー(テクノセブン社製)を用い、372℃、49N荷重下で、直径2mm、長さ8mmのノズルから10分間に流出するTFE系ポリマーの質量(g)を測定してMFRとした。
メルトインデクサー(テクノセブン社製)を用い、372℃、49N荷重下で、直径2mm、長さ8mmのノズルから10分間に流出するTFE系ポリマーの質量(g)を測定してMFRとした。
(貯蔵弾性率)
ISO 6721-4:1994に基づき、動的粘弾性測定装置(SIIナノテクノロジー社製、DMS6100)を用い、周波数10Hz、静的力0.98N、動的変位0.035%の条件にて、TFE系ポリマーを2℃/分の速度で20℃から昇温させ、260℃における貯蔵弾性率を測定した。
ISO 6721-4:1994に基づき、動的粘弾性測定装置(SIIナノテクノロジー社製、DMS6100)を用い、周波数10Hz、静的力0.98N、動的変位0.035%の条件にて、TFE系ポリマーを2℃/分の速度で20℃から昇温させ、260℃における貯蔵弾性率を測定した。
(粒状のポリマーの平均粒子径)
2.000メッシュ篩(目開き2.400mm)、1.410メッシュ篩(目開き1.705mm)、1.000メッシュ篩(目開き1.205mm)、0.710メッシュ篩(目開き0.855mm)、0.500メッシュ篩(目開き0.605mm)、0.250メッシュ篩(目開き0.375mm)、0.149メッシュ篩(目開き0.100mm)、及び受け皿をこの順に上から重ねた。その上から試料(ポリマー)を入れ、30分間振とう器で篩分けを行った。その後、各篩の上に残った試料の質量を測定し、各目開き値に対する通過質量の累計をグラフに表し、通過質量の累計が50%の時の粒子径を試料の平均粒子径とした。
2.000メッシュ篩(目開き2.400mm)、1.410メッシュ篩(目開き1.705mm)、1.000メッシュ篩(目開き1.205mm)、0.710メッシュ篩(目開き0.855mm)、0.500メッシュ篩(目開き0.605mm)、0.250メッシュ篩(目開き0.375mm)、0.149メッシュ篩(目開き0.100mm)、及び受け皿をこの順に上から重ねた。その上から試料(ポリマー)を入れ、30分間振とう器で篩分けを行った。その後、各篩の上に残った試料の質量を測定し、各目開き値に対する通過質量の累計をグラフに表し、通過質量の累計が50%の時の粒子径を試料の平均粒子径とした。
(樹脂パウダーのD50及びD90)
レーザー回折・散乱式粒度分布測定装置(堀場製作所社製、LA-920測定器)を用い、樹脂パウダーを水に分散させて体積基準の粒度分布を測定し、D50及びD90を求めた。
レーザー回折・散乱式粒度分布測定装置(堀場製作所社製、LA-920測定器)を用い、樹脂パウダーを水に分散させて体積基準の粒度分布を測定し、D50及びD90を求めた。
(シリカの平均粒子径)
レーザー回折・散乱式粒度分布測定装置(日機装社製、MICROTRAC HRA DHSX100)を用い、シリカを水に分散させて体積基準の粒度分布を測定し、平均粒子径(D50)を求めた。
レーザー回折・散乱式粒度分布測定装置(日機装社製、MICROTRAC HRA DHSX100)を用い、シリカを水に分散させて体積基準の粒度分布を測定し、平均粒子径(D50)を求めた。
(比誘電率及び誘電正接)
基板(厚さ127μm)について、25℃、10GHzにおいて、JIS R 1641:2007に規定されている方法に従い、空洞共振器及びベクトルネットワークアナライザを用いて比誘電率及び誘電正接を測定した。
基板は、後述するコンポジットCCLの銅箔を塩化第二鉄により除去することにより得た(以下同様)。
基板(厚さ127μm)について、25℃、10GHzにおいて、JIS R 1641:2007に規定されている方法に従い、空洞共振器及びベクトルネットワークアナライザを用いて比誘電率及び誘電正接を測定した。
基板は、後述するコンポジットCCLの銅箔を塩化第二鉄により除去することにより得た(以下同様)。
(熱膨張係数)
基板から10mm×10mmの試験片を切り出した。この試験片について、熱機械分析装置(NETZSCH社製、TMA402 F1 Hyperion)を用いて厚さ方向の線膨張係数CTE(z)を測定した。具体的には、窒素雰囲気中、荷重を19.6mNとし、測定温度が-65℃から150℃の温度範囲を2℃/分の速度でサンプルを昇温し、サンプルの厚さの変位量を測定した。測定終了後、-40℃から125℃までのサンプルの変位量から-40~125℃での線膨張係数(CTE)を求めた。
基板から10mm×10mmの試験片を切り出した。この試験片について、熱機械分析装置(NETZSCH社製、TMA402 F1 Hyperion)を用いて厚さ方向の線膨張係数CTE(z)を測定した。具体的には、窒素雰囲気中、荷重を19.6mNとし、測定温度が-65℃から150℃の温度範囲を2℃/分の速度でサンプルを昇温し、サンプルの厚さの変位量を測定した。測定終了後、-40℃から125℃までのサンプルの変位量から-40~125℃での線膨張係数(CTE)を求めた。
(USPCTによる誘電正接の変化)
基板から長さ35mm×幅35mmの試験片を切り出した。試験片を、120℃、85%RHのプレッシャークッカーに投入し、USPCTを行った。投入してから5時間後、24時間後、48時間後及び72時間後の試験片について誘電正接(tanδ)を測定し、前記式(1)により、USPCT前後の誘電正接の変化率を算出した。
基板から長さ35mm×幅35mmの試験片を切り出した。試験片を、120℃、85%RHのプレッシャークッカーに投入し、USPCTを行った。投入してから5時間後、24時間後、48時間後及び72時間後の試験片について誘電正接(tanδ)を測定し、前記式(1)により、USPCT前後の誘電正接の変化率を算出した。
(機械的強度)
基板から長さ60mm×幅5mmの試験片を切り出した。試験片を、長さ方向の一端から30mmの位置で、曲率半径2mmで180°曲げることを、順方向と反対方向で交互に100回繰り返し実施した。その後、基板を目視で観察し、以下の基準で評価した。
○(可):基板に破断が無く、亀裂やひび割れが入ることも無かった。
×(不可):基板に亀裂やひび割れが入った。
基板から長さ60mm×幅5mmの試験片を切り出した。試験片を、長さ方向の一端から30mmの位置で、曲率半径2mmで180°曲げることを、順方向と反対方向で交互に100回繰り返し実施した。その後、基板を目視で観察し、以下の基準で評価した。
○(可):基板に破断が無く、亀裂やひび割れが入ることも無かった。
×(不可):基板に亀裂やひび割れが入った。
(剥離強度)
後述するコンポジットCCLから長さ100mm×幅10mmの矩形状の試験片を切り出した。試験片の長さ方向の一端から10mmの位置まで銅箔を基板から剥離した。剥がした銅箔の一端を引張り試験機(島津製作所製オートグラフAGS-X)を用いて、引張り速度50mm/分で90°剥離を行い、最大荷重を剥離強度(N/cm)とした。
後述するコンポジットCCLから長さ100mm×幅10mmの矩形状の試験片を切り出した。試験片の長さ方向の一端から10mmの位置まで銅箔を基板から剥離した。剥がした銅箔の一端を引張り試験機(島津製作所製オートグラフAGS-X)を用いて、引張り速度50mm/分で90°剥離を行い、最大荷重を剥離強度(N/cm)とした。
(伝送損失)
後述するコンポジットCCLに線路長12.5mmのグランド付きコプレナー線路(G-CPW)を作製し、80GHzにおける伝送損失を測定した。インピーダンスは50Ωである。
後述するコンポジットCCLに線路長12.5mmのグランド付きコプレナー線路(G-CPW)を作製し、80GHzにおける伝送損失を測定した。インピーダンスは50Ωである。
(製造例1)
モノマーとしてNAH(無水ハイミック酸、日立化成社製)、TFE及びPPVE(CF2=CFO(CF2)3F、AGC社製)を用いて、国際公開第2016/017801号の[0123]に記載の手順でTFE系ポリマーであるポリマーXを製造した。
ポリマーXの共重合組成は、NAH単位/TFE単位/PPVE単位=0.1/97.9/2.0(モル%)であった。ポリマーXの融点は300℃であり、MFRは17.6g/10分であり、比誘電率(10GHz)は2.0であり、260℃における貯蔵弾性率は1.1MPaであった。また、得られたポリマーXは粒状であり、その平均粒子径は1554μmであった。
モノマーとしてNAH(無水ハイミック酸、日立化成社製)、TFE及びPPVE(CF2=CFO(CF2)3F、AGC社製)を用いて、国際公開第2016/017801号の[0123]に記載の手順でTFE系ポリマーであるポリマーXを製造した。
ポリマーXの共重合組成は、NAH単位/TFE単位/PPVE単位=0.1/97.9/2.0(モル%)であった。ポリマーXの融点は300℃であり、MFRは17.6g/10分であり、比誘電率(10GHz)は2.0であり、260℃における貯蔵弾性率は1.1MPaであった。また、得られたポリマーXは粒状であり、その平均粒子径は1554μmであった。
次いで、ジェットミル(セイシン企業社製、シングルトラックジェットミル FS-4型)を用い、粉砕圧力0.5MPa、処理速度1kg/hrの条件で、ポリマーXを粉砕して樹脂パウダーP-1を得た。樹脂パウダーP-1のD50は2.58μmであり、D90は7.1μmであった。
(例1)
シリカ(龍森製、破砕シリカE-1、平均粒子径11μm)を、フリッチュ社製ふるい振とう機ANALYSETTE3を用いて分流し、目開き45μmのふるいを通過したシリカを回収した。回収したシリカの平均粒子径は10μmであった。
樹脂パウダーP-1の100g、ノニオン性のフッ素系界面活性剤(ネオス社製、フタージェント710FL)の6g、シクロヘキサノンの137g、及び前記で回収したシリカの151gをポットに投入し、レソダイン社製低周波共振音響ミキサー(LabMASII)で約80Gの加速度を与えながら20分間振動混合し、スラリーを得た。
シリカ(龍森製、破砕シリカE-1、平均粒子径11μm)を、フリッチュ社製ふるい振とう機ANALYSETTE3を用いて分流し、目開き45μmのふるいを通過したシリカを回収した。回収したシリカの平均粒子径は10μmであった。
樹脂パウダーP-1の100g、ノニオン性のフッ素系界面活性剤(ネオス社製、フタージェント710FL)の6g、シクロヘキサノンの137g、及び前記で回収したシリカの151gをポットに投入し、レソダイン社製低周波共振音響ミキサー(LabMASII)で約80Gの加速度を与えながら20分間振動混合し、スラリーを得た。
厚さ18μmの銅箔(三井金属鉱業社製、TQ-M4-VSP)の表面に、前記スラリーをドクターブレード法で200μmの厚さに塗布し、室温大気環境下で12時間乾燥させた後、窒素雰囲気下にて350℃で20分加熱乾燥させて基板を形成した。これにより、基板の一方の表面の銅箔が積層された片面銅張積層体を得た。前記銅箔の、スラリーを塗布した面のRzjisは0.6μmであった。
前記片面銅張積層体の基板側の表面に、前記と同じ銅箔を積層し、真空ホットプレス装置にて、330℃の温度で8MPaの圧力をかけながら60分間プレスし、両面銅張積層板を得た。以下、この両面銅張積層板を「コンポジットCCL」という。
得られたコンポジットCCLの基板において、ポリマーXとシリカとの合計体積に対するシリカの体積の割合は60体積%であり、基板の全体積に対するポリマーXとシリカとの合計体積の割合は100体積%であり、基板の厚さは127μmであった。
前記片面銅張積層体の基板側の表面に、前記と同じ銅箔を積層し、真空ホットプレス装置にて、330℃の温度で8MPaの圧力をかけながら60分間プレスし、両面銅張積層板を得た。以下、この両面銅張積層板を「コンポジットCCL」という。
得られたコンポジットCCLの基板において、ポリマーXとシリカとの合計体積に対するシリカの体積の割合は60体積%であり、基板の全体積に対するポリマーXとシリカとの合計体積の割合は100体積%であり、基板の厚さは127μmであった。
(例2)
市販のコンポジットCCL(ロジャース社製 RO3003)を例2のコンポジットCCLとした。
このコンポジットCCLの基板はポリテトラフルオロエチレン(PTFE)及びシリカを含み、PTFEとシリカとの合計体積に対するシリカの体積の割合は50体積%であり、基板の全体積に対するPTFEとシリカとの合計体積の割合は95体積%であり、基板の厚さは127μmであった。また、銅箔の基板と接する面のRzjisは7.0μmであった。
市販のコンポジットCCL(ロジャース社製 RO3003)を例2のコンポジットCCLとした。
このコンポジットCCLの基板はポリテトラフルオロエチレン(PTFE)及びシリカを含み、PTFEとシリカとの合計体積に対するシリカの体積の割合は50体積%であり、基板の全体積に対するPTFEとシリカとの合計体積の割合は95体積%であり、基板の厚さは127μmであった。また、銅箔の基板と接する面のRzjisは7.0μmであった。
各例のコンポジットCCLについて、前記の評価を行った。比誘電率、誘電正接、CTE、伝送損失、機械的強度、銅箔剥離強度(いずれもUSPCT前)、72時間のUSPCT前後の誘電正接の変化率を表1に示す。比誘電率、誘電性正接および72時間のUSPCT実施前後の誘電正接の変化率は、10GHzにおける値である。また、図3に、例1及び例2におけるプレッシャークッカー投入後の経過時間(USPCT投入時間)と誘電正接の変化率との関係(誘電正接の変化率のUSPCT投入時間依存性)を示す。
(引張強度)
基板から切り出した幅20mm、長さ200mm、厚さ125μmの試験片を端部から25mmの位置でクランプし、引張試験機(島津性製作所製オートグラフAGX)を用いて室温で引張速度1mm/分で試験片に荷重を掛け、荷重と試験片の伸び(ひずみ)を測定し、応力-ひずみ曲線を得た。引張強度は、応力-ひずみ曲線における破断強さ、もしくは降伏強さを試験片断面積で除した値である。
(引張弾性率)
引張弾性率は、応力-ひずみ曲線においてひずみに比例して直線的に引張強さが強くなる領域(弾性変形領域)の傾きである。
引張破断強度及び引張弾性率を表2に示す。
基板から切り出した幅20mm、長さ200mm、厚さ125μmの試験片を端部から25mmの位置でクランプし、引張試験機(島津性製作所製オートグラフAGX)を用いて室温で引張速度1mm/分で試験片に荷重を掛け、荷重と試験片の伸び(ひずみ)を測定し、応力-ひずみ曲線を得た。引張強度は、応力-ひずみ曲線における破断強さ、もしくは降伏強さを試験片断面積で除した値である。
(引張弾性率)
引張弾性率は、応力-ひずみ曲線においてひずみに比例して直線的に引張強さが強くなる領域(弾性変形領域)の傾きである。
引張破断強度及び引張弾性率を表2に示す。
例1の基板は、機械的強度に優れていた。また、低粗度銅箔が使用できるため伝送損失が小さかった。
72時間のUSPCTの前後の誘電正接の変化率が30%超である例2の基板は、機械的強度に劣っていた。また、低粗度銅箔が使用できないため伝送損失が大きかった。
また、例1の基板は、例2の基板に比べて引張強度、引張弾性率のいずれも優れていた。
72時間のUSPCTの前後の誘電正接の変化率が30%超である例2の基板は、機械的強度に劣っていた。また、低粗度銅箔が使用できないため伝送損失が大きかった。
また、例1の基板は、例2の基板に比べて引張強度、引張弾性率のいずれも優れていた。
本発明によれば、比誘電率、誘電正接、伝送損失及び熱膨張率が低く、さらに機械的強度も高い基板及び金属積層板を提供できる。機械的強度が高いことから、本発明の基板及び金属積層板を用いることにより、自動車等、振動の有る環境においても信頼性の高いプリント配線板を形成できる。
なお、2019年08月06日に出願された日本特許出願2019-144495号の明細書、特許請求の範囲、要約書および図面の全内容をここに引用し、本発明の明細書の開示として、取り入れるものである。
なお、2019年08月06日に出願された日本特許出願2019-144495号の明細書、特許請求の範囲、要約書および図面の全内容をここに引用し、本発明の明細書の開示として、取り入れるものである。
Claims (12)
- テトラフルオロエチレン系ポリマーと無機フィラーとを含む基板であり、
前記基板から切り出された厚さ127μmの試験片に対して120℃、85%RHで72時間の不飽和プレッシャークッカー試験を行った前後の10GHzにおける誘電正接の変化率が30%以下である、基板。 - 前記テトラフルオロエチレン系ポリマーが、テトラフルオロエチレンに基づく単位と、ペルフルオロ(アルキルビニルエーテル)に基づく単位又はヘキサフルオロプロピレンに基づく単位とを有するポリマーである、請求項1に記載の基板。
- 前記テトラフルオロエチレン系ポリマーが、カルボニル基含有基、ヒドロキシ基、エポキシ基、アミド基、アミノ基及びイソシアネート基からなる群から選ばれる少なくとも1種の官能基を有するポリマーである、請求項1又は2に記載の基板。
- 前記官能基を有するポリマーが、前記官能基を有するモノマー単位を有するポリマーである、請求項3に記載の基板。
- 前記無機フィラーがシリカである、請求項1~4のいずれか一項に記載の基板。
- 前記基板の厚さが60~500μmである、請求項1~5のいずれか一項に記載の基板。
- 前記基板が界面活性剤をさらに含む、請求項1~6のいずれか一項に記載の基板。
- 前記界面活性剤がフッ素系界面活性剤である、請求項7に記載の基板。
- 請求項1~8のいずれか一項に記載の基板と、前記基板の少なくとも一方の表面に接して位置する金属層とを有する、金属積層板。
- 前記金属層が銅箔からなる層である、請求項9に記載の金属積層板。
- 前記金属層の前記基板と接する面の十点平均粗さが、2.0μm以下である、請求項9又は10に記載の金属積層板。
- 前記基板と前記金属層との界面の剥離強度が5N/cm以上である、請求項9~11のいずれか一項に記載の金属積層板。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2021537258A JP7567794B2 (ja) | 2019-08-06 | 2020-07-29 | 基板及び金属積層板 |
| CN202080054618.XA CN114174415A (zh) | 2019-08-06 | 2020-07-29 | 基板和金属层叠板 |
| KR1020227000924A KR20220044718A (ko) | 2019-08-06 | 2020-07-29 | 기판 및 금속 적층판 |
| US17/580,798 US12012498B2 (en) | 2019-08-06 | 2022-01-21 | Substrate and metal laminate |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2019144495 | 2019-08-06 | ||
| JP2019-144495 | 2019-08-06 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| US17/580,798 Continuation US12012498B2 (en) | 2019-08-06 | 2022-01-21 | Substrate and metal laminate |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| WO2021024883A1 true WO2021024883A1 (ja) | 2021-02-11 |
Family
ID=74503546
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PCT/JP2020/029101 Ceased WO2021024883A1 (ja) | 2019-08-06 | 2020-07-29 | 基板及び金属積層板 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US12012498B2 (ja) |
| JP (1) | JP7567794B2 (ja) |
| KR (1) | KR20220044718A (ja) |
| CN (1) | CN114174415A (ja) |
| WO (1) | WO2021024883A1 (ja) |
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| EP4661604A1 (en) | 2023-02-02 | 2025-12-10 | Daikin Industries, Ltd. | Dielectric, copper-clad laminate, and methods for manufacturing same |
| EP4660222A1 (en) | 2023-02-02 | 2025-12-10 | Daikin Industries, Ltd. | Dielectric, copper-clad laminate, and production methods therefor |
| WO2026004917A1 (ja) * | 2024-06-25 | 2026-01-02 | ニチアス株式会社 | 多層構造基板用フッ素樹脂フィルム、多層構造基板用フッ素樹脂フィルムの製造方法、銅張積層板、多層構造基板、多層構造基板の製造方法および回路基板 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP7057689B2 (ja) | 2018-03-16 | 2022-04-20 | 日本ピラー工業株式会社 | 積層板 |
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2020
- 2020-07-29 JP JP2021537258A patent/JP7567794B2/ja active Active
- 2020-07-29 WO PCT/JP2020/029101 patent/WO2021024883A1/ja not_active Ceased
- 2020-07-29 KR KR1020227000924A patent/KR20220044718A/ko not_active Ceased
- 2020-07-29 CN CN202080054618.XA patent/CN114174415A/zh active Pending
-
2022
- 2022-01-21 US US17/580,798 patent/US12012498B2/en active Active
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| JP2025166513A (ja) * | 2024-04-24 | 2025-11-06 | ダイキン工業株式会社 | 固体組成物、回路基板、固体組成物の製造方法、及び提案装置 |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US12012498B2 (en) | 2024-06-18 |
| CN114174415A (zh) | 2022-03-11 |
| JPWO2021024883A1 (ja) | 2021-02-11 |
| US20220145043A1 (en) | 2022-05-12 |
| JP7567794B2 (ja) | 2024-10-16 |
| KR20220044718A (ko) | 2022-04-11 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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|
| ENP | Entry into the national phase |
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|
| NENP | Non-entry into the national phase |
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|
| 122 | Ep: pct application non-entry in european phase |
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